DE112020006964T5 - DEVICE FOR DOUBLE-SIDED POLISHING OF A WORKPIECE - Google Patents
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Abstract
Bei einer Einrichtung zum doppelseitigen Polieren weist die obere Platte oder die untere Platte mindestens eine Durchgangsbohrung auf, die von der oberen Fläche zu der unteren Fläche der oberen Platte oder der unteren Platte durchdringt. Die Einrichtung zum doppelseitigen Polieren eines Werkstücks umfasst ferner mindestens ein Werkstückdickenmessinstrument, das eine Dicke des Werkstücks durch die mindestens eine Durchgangsbohrung in Echtzeit während des doppelseitigen Polierens des Werkstücks messen kann; eine Innenumfangsfläche, die durch die Durchgangsbohrung in der oberen Platte oder der unteren Platte definiert wird, ist mit einem zylindrischen Metallglied versehen; und entweder: ein unteres Fenster, das in einem unteren Teil des in der oberen Platte bereitgestellten zylindrischen Glieds bereitgestellt ist, und ein oberes Fenster, das in einem oberen Teil des zylindrischen Glieds bereitgestellt ist und dahingehend bereitgestellt ist, die obere Seite der in der oberen Platte bereitgestellten Durchgangsbohrung abzudecken, oder ein oberes Fenster, das in einem oberen Teil des in der unteren Platte bereitgestellten zylindrischen Glieds bereitgestellt ist, und ein unteres Fenster, das dahingehend bereitgestellt ist, die untere Seite der in der unteren Platte bereitgestellten Durchgangsbohrung abzudecken.In a double-side polishing apparatus, the top plate or the bottom plate has at least one through hole penetrating from the top surface to the bottom surface of the top plate or the bottom plate. The apparatus for double-side polishing a workpiece further comprises at least one workpiece thickness gauge capable of measuring a thickness of the workpiece through the at least one through-hole in real time during double-side polishing of the workpiece; an inner peripheral surface defined by the through hole in the top plate or the bottom plate is provided with a cylindrical metal member; and either: a lower window provided in a lower part of the cylindrical member provided in the upper plate, and an upper window provided in an upper part of the cylindrical member and provided so that the upper side of the in the upper plate provided through hole to cover, or an upper window provided in an upper part of the cylindrical member provided in the lower plate and a lower window provided to cover the lower side of the through hole provided in the lower plate.
Description
TECHNISCHES GEBIETTECHNICAL AREA
Diese Offenbarung bezieht sich auf eine Einrichtung zum doppelseitigen Polieren eines Werkstücks.This disclosure relates to an apparatus for double-sided polishing of a workpiece.
HINTERGRUNDBACKGROUND
Bei der Herstellung eines Halbleiterwafers, wie z. B. eines Siliziumwafers, bei dem es sich um ein typisches Beispiel für ein zu polierendes Werkstück handelt, wird zum Erhalt eines Wafers mit einer präziser gesteuerten Planheitsqualität oder Oberflächenrauigkeitsqualität in der Regel ein Prozess des doppelseitigen Polierens eingesetzt, bei dem die Vorder- und die Rückfläche des Wafers gleichzeitig poliert werden.In the manufacture of a semiconductor wafer such. B. a silicon wafer, which is a typical example of a workpiece to be polished, in order to obtain a wafer with a more precisely controlled flatness quality or surface roughness quality, a double-side polishing process is usually used in which the front and back surfaces of the wafer can be polished at the same time.
Besonders in den letzten Jahren sind Halbleitervorrichtungen verkleinert worden, und der Durchmesser von Halbleiterwafern ist erhöht worden, so dass die bei Halbleiterwafern erforderliche Ebenheit während der Belichtung schwerwiegender geworden ist. Vor diesem Hintergrund ist es wichtig, das Polieren zeitgemäß zu beenden, und der Zeitpunkt für das Beenden des Polierens wird von einem Bediener durch Einstellen der Polierzeit gesteuert.Especially in recent years, semiconductor devices have been downsized and the diameter of semiconductor wafers has been increased, so that the flatness required of semiconductor wafers during exposure has become more serious. In view of this, it is important to finish polishing in time, and the timing for finishing polishing is controlled by an operator by setting the polishing time.
Das Einstellen der Polierzeit, das von einem Bediener durchgeführt wird, wird jedoch beträchtlich durch die Polierbedingungen, wie z. B. den Wechselzeitraum für die indirekten Materialien für das Polieren und die Unterschiede beim Zeitpunkt der Einrichtungsdeaktivierung, beeinflusst. Demzufolge kann das Polierausmaß nicht immer genau gesteuert werden, so dass es größtenteils von der Erfahrung des Bedieners abhängig ist.However, the adjustment of the polishing time performed by an operator is greatly affected by the polishing conditions such as e.g. B. the change period for the indirect materials for polishing and the differences in the timing of facility deactivation. Accordingly, the amount of polishing cannot always be accurately controlled, so it largely depends on the operator's experience.
Um dieses Problem anzugehen, hat die vorliegende Anmelderin eine Methode des Vorsehens einer Durchgangsbohrung in einer oberen Platte (oder einer unteren Platte) und Messen der Dicke eines Werkstücks durch die Durchgangsbohrung unter Verwendung eines Messsystems in Echtzeit während des Polierens vorgeschlagen (beispielsweise
LISTE BEKANNTER SCHRIFTENLIST OF KNOWN WRITINGS
Patentliteraturpatent literature
PTL 1:
KURZDARSTELLUNGEXECUTIVE SUMMARY
(Technisches Problem)(Technical problem)
Bei der in PTL 1 offenbarten Methode würde jedoch durch das Vorsehen einer Durchgangsbohrung die Messgenauigkeit reduziert, beispielsweise aufgrund von an der Oberfläche eines Fensters anhaftendem Schmutz, und somit wäre eine Säuberung erforderlich, um dieses zu verhindern, wodurch die Betriebskosten erhöht werden.However, in the method disclosed in PTL 1, providing a through hole would reduce the measurement accuracy due to dirt adhering to the surface of a window, for example, and thus cleaning would be required to prevent it, thereby increasing the running cost.
Es könnte also hilfreich sein, eine Einrichtung zum doppelseitigen Polieren eines Werkstücks bereitzustellen, bei der das Anhaften von Schmutz in einem Pfad zum Messen der Dicke eines Werkstücks reduziert werden kann.Thus, it might be helpful to provide a device for double-side polishing a work, which can reduce dirt adhesion in a path for measuring the thickness of a work.
(Lösung des Problems)(The solution of the problem)
Diese Offenbarung umfasst hauptsächlich die folgenden Merkmale.
- (1) Einrichtung zum doppelseitigen Polieren eines Werkstücks, die Rotationsflächenplatten mit einer oberen Platte und einer unteren Platte, ein Sonnenrad, das an einem mittigen Abschnitt der Rotationsflächenplatten bereitgestellt ist, ein Hohlrad, das um die Rotationsflächenplatten herum bereitgestellt ist, und eine Trägerplatte, die zwischen der oberen Platte und der unteren Platte bereitgestellt und mit mindestens einer Öffnung zum Halten eines Werkstücks versehen ist, umfasst,
wobei die obere Platte oder die untere Platte mindestens eine Durchgangsbohrung aufweist, die von der oberen Fläche zu der unteren Fläche der oberen Platte oder der unteren Platte durchdringt,
die Einrichtung zum doppelseitigen Polieren eines Werkstücks ferner mindestens ein Werkstückdickenmessinstrument umfasst, das eine Dicke des Werkstücks durch die mindestens eine Durchgangsbohrung in Echtzeit während des doppelseitigen Polierens des Werkstücks messen kann,
eine Innenumfangsfläche, die durch die Durchgangsbohrung in der oberen Platte oder der unteren Platte definiert wird, mit einem zylindrischen Metallglied versehen ist, und die Einrichtung zum doppelseitigen Polieren eines Werkstücks ferner entweder:
- ein unteres Fenster, das in einem unteren Teil des in der oberen Platte bereitgestellten zylindrischen Glieds bereitgestellt ist, und ein oberes Fenster, das in einem oberen Teil des zylindrischen Glieds bereitgestellt ist und dahingehend bereitgestellt ist, die obere Seite der in der oberen Platte bereitgestellten Durchgangsbohrung abzudecken, oder
- ein oberes Fenster, das in einem oberen Teil des in der unteren Platte bereitgestellten zylindrischen Glieds bereitgestellt ist, und ein unteres Fenster, das dahingehend bereitgestellt ist, die untere Seite der in der unteren Platte bereitgestellten Durchgangsbohrung abzudecken,
- (2) Einrichtung zum doppelseitigen Polieren eines Werkstücks nach (1) oben, die ferner ein oberes Glied, das an einem oberen Abschnitt der oberen Platte fixiert ist, oder ein unteres Glied, das an einem unteren Abschnitt der unteren Platte fixiert ist, umfasst.
- (3) Einrichtung zum doppelseitigen Polieren eines Werkstücks nach (2) oben, wobei das obere Glied und das untere Glied aus Edelstahl hergestellt sind.
- (4) Einrichtung zum doppelseitigen Polieren eines Werkstücks nach (2) oder (3) oben, wobei ein Teil des oberen Glieds auf einer oberen Fläche des zylindrischen Glieds platziert ist und das obere Fenster an dem oberen Glied bereitgestellt ist; oder ein Teil des unteren Glieds auf einer unteren Fläche des zylindrischen Glieds platziert ist und das untere Fenster an dem unteren Glied bereitgestellt ist.
- (5) Einrichtung zum doppelseitigen Polieren eines Werkstücks nach einem von (1) bis (4) oben, wobei mindestens eine Entlüftungsöffnung bereitgestellt ist, die dafür sorgt, dass die Durchgangsbohrung mit der Außenumgebung in Verbindung steht.
- (6) Einrichtung zum doppelseitigen Polieren eines Werkstücks nach einem von (1) bis (5) oben, wobei das untere Fenster unter Verwendung einer aus einem Haftmittel hergestellten Haftschicht mit dem unteren Teil des in der oberen Platte bereitgestellten zylindrischen Glieds verklebt ist; oder das obere Fenster unter Verwendung einer aus einem Haftmittel hergestellten Haftschicht mit dem oberen Teil des in der unteren Platte bereitgestellten zylindrischen Glieds verklebt ist.
- (7) Einrichtung zum doppelseitigen Polieren eines Werkstücks nach einem von (1) bis (6) oben, wobei ein vertiefter Teil in der Außenumfangsfläche des an der Innenumfangsfläche der oberen Platte bereitgestellten zylindrischen Glieds bereitgestellt ist und ein O-Ring in dem vertieften Teil platziert ist, oder ein vertiefter Teil in der Außenumfangsfläche des an der Innenumfangsfläche der unteren Platte bereitgestellten zylindrischen Glieds bereitgestellt ist.
- (1) Apparatus for double-side polishing a workpiece, the rotary surface plates having an upper plate and a lower plate, a sun gear provided at a central portion of the rotary surface plates, a ring gear provided around the rotary surface plates, and a backing plate which provided between the top plate and the bottom plate and provided with at least one opening for holding a workpiece, wherein the top plate or the bottom plate has at least one through hole extending from the top surface to the bottom surface of the top plate or the bottom plate, the apparatus for double-side polishing a workpiece further comprises at least one workpiece thickness gauge capable of measuring a thickness of the workpiece through the at least one through-hole in real time during double-side polishing of the workpiece, an inner peripheral surface defined by the through-hole bore is defined in the upper plate or the lower plate is provided with a cylindrical metal member, and the device for double-side polishing a workpiece further either:
- a lower window provided in a lower part of the cylindrical member provided in the top plate, and an upper window provided in an upper part of the cylindrical member and provided to the upper side of the through hole provided in the top plate to cover, or
- an upper window provided in an upper part of the cylindrical member provided in the lower plate and a lower window provided to cover the lower side of the through hole provided in the lower plate,
- (2) The apparatus for double-side polishing a workpiece according to (1) above, further comprising an upper member fixed to an upper portion of the upper platen or a lower member fixed to a lower portion of the lower platen.
- (3) Apparatus for double-side polishing a workpiece according to (2) above, wherein the upper member and the lower member are made of stainless steel.
- (4) The apparatus for double-side polishing a workpiece according to (2) or (3) above, wherein a part of the upper member is placed on an upper surface of the cylindrical member and the upper window is provided on the upper member; or a part of the lower member is placed on a lower surface of the cylindrical member and the lower window is provided on the lower member.
- (5) The apparatus for double-side polishing a workpiece according to any one of (1) to (4) above, wherein at least one air vent is provided for making the through hole communicate with the outside.
- (6) The apparatus for double-side polishing a workpiece according to any one of (1) to (5) above, wherein the lower window is bonded to the lower part of the cylindrical member provided in the upper platen using an adhesive layer made of an adhesive; or the upper window is bonded to the upper part of the cylindrical member provided in the lower plate using an adhesive layer made of an adhesive.
- (7) Apparatus for double-side polishing a workpiece according to any one of (1) to (6) above, wherein a recessed part is provided in the outer peripheral surface of the cylindrical member provided on the inner peripheral surface of the top plate and an O-ring is placed in the recessed part or a recessed part is provided in the outer peripheral surface of the cylindrical member provided on the inner peripheral surface of the lower plate.
(Vorteilhafte Wirkung)(beneficial effect)
Diese Offenbarung kann eine Einrichtung zum doppelseitigen Polieren eines Werkstücks bereitstellen, bei der das Anhaften von Schmutz in einem Pfad zum Messen der Dicke eines Werkstücks reduziert werden kann.This disclosure can provide a device for double-side polishing a workpiece, in which dirt adhesion in a path for measuring the thickness of a workpiece can be reduced.
Figurenlistecharacter list
In den beiliegenden Zeichnungen zeigen:
-
1 ein Schaubild, das ein Beispiel für eine Einrichtung zum doppelseitigen Polieren eines Werkstücks gemäß einer Ausführungsform dieser Offenbarung darstellt; -
2 ein Schaubild, das den Hauptteil der Einrichtung zum doppelseitigen Polieren von1 darstellt; und -
3 ein Schaubild, das den Hauptteil eines Beispiels für eine Einrichtung zum doppelseitigen Polieren eines Werkstücks gemäß einer weiteren Ausführungsform dieser Offenbarung darstellt.
-
1 12 is a diagram illustrating an example of an apparatus for double-side polishing a workpiece according to an embodiment of this disclosure; -
2 Fig. 12 is a diagram showing the main part of the double-side polishing facility1 represents; and -
3 12 is a diagram showing the main part of an example of an apparatus for double-side polishing a workpiece according to another embodiment of this disclosure.
DETAILLIERTE BESCHREIBUNGDETAILED DESCRIPTION
Es werden nun Ausführungsformen der Einrichtung zum doppelseitigen Polieren eines Werkstücks gemäß dieser Offenbarung unter Bezugnahme auf die Zeichnungen genauer beschrieben.Now, embodiments of the device for double-side polishing of a workpiece according to this disclosure will be described in detail with reference to the drawings.
Ferner umfasst die Einrichtung 1 zum doppelseitigen Polieren gemäß der Darstellung in
Die Einrichtung 1 zum doppelseitigen Polieren kann nun das Sonnenrad 5 und das Hohlrad 6 dahingehend drehen, eine Planetenbewegung, die die Orbitalbewegung und die Drehbewegung der Trägerplatte 9 beinhaltet, zu bewirken. Insbesondere wird, wie oben beschrieben, dafür gesorgt, dass die Trägerplatte 9 beim Zuführen einer Polierslurry eine Planetenbewegung durchführt, und gleichzeitig werden die obere Platte 2 und die untere Platte 3 bezüglich der Trägerplatte 9 relativ gedreht, wodurch dafür gesorgt wird, dass die an der oberen und der unteren Rotationsflächenplatte 4 angebrachten Polierpads 7 an den Flächen des in der Halteöffnung 8 in der Trägerplatte 9 gehaltenen Wafers W gerieben werden; somit können beide Flächen des Wafers W gleichzeitig poliert werden.The device 1 for double-sided polishing can now rotate the
Ferner ist gemäß der Darstellung in
Ferner ist ein Werkstückdickenmessinstrument 12 über der Durchgangsbohrung 10 bereitgestellt, und die Dicke des Wafers W kann in Echtzeit durch die Durchgangsbohrung 10 und die Öffnung 11 hindurch während des doppelseitigen Polierens des Wafers W gemessen werden. Das Werkstückdickenmessinstrument 12 kann beispielsweise ein Infrarotlasermessinstrument mit einstellbarer Wellenlänge sein. Solch ein Messinstrument kann die Dicke des Wafers W durch Auswerten der Interferenz zwischen von der Vorderfläche des Wafers W reflektiertem Licht und dem von dessen Rückfläche reflektiertem Licht messen.Further, a
Gemäß der Darstellung in
Ferner umfasst gemäß der Darstellung in
Ferner umfasst die Einrichtung 1 zum doppelseitigen Polieren gemäß der Darstellung in
Ferner weist die obere Platte 2 in diesem Beispiel gemäß der Darstellung in
Die Betriebsweise und Wirkung der Einrichtung zum doppelseitigen Polieren dieser Ausführungsform wird nachstehend beschrieben.The operation and effect of the double-sided polishing device of this embodiment will be described below.
Die Einrichtung 1 zum doppelseitigen Polieren dieser Ausführungsform ist hauptsächlich mit der Durchgangsbohrung 10 in der oberen Platte 2, der Öffnung 11 in dem Polierpad 7, dem unteren Fenster 16 und dem oberen Fenster 18 gemäß obiger Beschreibung versehen und umfasst das Werkstückdickenmessinstrument 12, so dass die Dicke des Werkstücks (in diesem Beispiel des Wafers) in Echtzeit durch das Werkstückdickenmessinstrument 12 durch das obere Fenster 18, die Durchgangsbohrung 10 in der oberen Platte 2, die Öffnung 11 in dem Polierpad 7 und das untere Fenster 16 während des doppelseitigen Polierens gemessen werden kann. Da die Einrichtung 1 zum doppelseitigen Polieren dieser Ausführungsform mit dem oberen Fenster 18 versehen ist, kann das Anhaften von Schmutz (beispielsweise Staub usw.) an dem unteren Fenster 16 in einem Pfad zum Messen der Dicke eines Werkstücks reduziert werden.The double-side polishing apparatus 1 of this embodiment is mainly provided with the through
Ferner ist die Einrichtung 1 zum doppelseitigen Polieren dieser Ausführungsform mit dem zylindrischen Glied 13, das aus Metall (in diesem Beispiel Edelstahl) hergestellt ist, auf der Innenumfangsfläche 2a, die von der Durchgangsbohrung 10 in der oberen Platte 2 definiert wird, versehen und ist mit dem unteren Fenster 16, das in einem unteren Teil des in der oberen Platte 2 bereitgestellten zylindrischen Glieds 13 bereitgestellt ist, und dem oberen Fenster 18, das dahingehend bereitgestellt ist, die obere Seite der in der oberen Platte 2 bereitgestellten Durchgangsbohrung 10 abzudecken, versehen. Wie oben beschrieben wird, können, da das untere Fenster 16 und das obere Fenster 18 an dem zylindrischen Glied 13, jedoch nicht an der Flächenplatte bereitgestellt sind, die Fenster ohne Weiteres gewechselt werden, wodurch die Betriebskosten, einschließlich der Reinigungskosten, reduziert werden können; darüber hinaus kann das Zurückströmen der Polierslurry in stärkerem Maße behindert werden, und das Ablösen der Fenster kann unter Verwendung eines Haftmittels, beispielsweise eines starken Haftmittels, wie z. B. eines Haftmittels auf Silikonbasis oder auf Basis von modifiziertem Silikon, verhindert werden. Ferner wird, da das zylindrische Glied 13 aus Metall (in diesem Beispiel Edelstahl) hergestellt ist, eine vorteilhafte Verarbeitungsgenauigkeit erzielt, und eine genaue Verarbeitung, durch die die Messgenauigkeit verbessert wird (beispielsweise horizontale Platzierung des Fensters), kann durchgeführt werden.Further, the device 1 for double-sided polishing of this embodiment is provided with the
In der Darstellung ist das obere Fenster 18, das eine Plattenform aufweist, in einem vertieften Teil platziert, der so ausgebildet ist, dass er eine Ringform an dem oberen Ende des oberen Glieds 20 aufweist. Die untere Fläche des oberen Fensters 18 und die obere Fläche des oberen Glieds 20 (Teil 20b), die durch den vertieften Teil definiert wird, sind unter Verwendung einer Haftschicht 23 miteinander verklebt. Wie im Fall von
Die Einrichtung zum doppelseitigen Polieren dieser alternativen Ausführungsform ist auch hauptsächlich mit der Durchgangsbohrung 10 in der oberen Platte 2, der Öffnung 11 in dem Polierpad 7, dem unteren Fenster 16 und dem oberen Fenster 18 gemäß obiger Beschreibung versehen und umfasst das Werkstückdickenmessinstrument 12, so dass die Dicke des Werkstücks (in diesem Beispiel des Wafers) in Echtzeit durch das Werkstückdickenmessinstrument 12 durch das obere Fenster 18, die Durchgangsbohrung 10 in der oberen Platte 2, die Öffnung 11 in dem Polierpad 7 und das untere Fenster 16 während des doppelseitigen Polierens gemessen werden kann. Da die Einrichtung 1 zum doppelseitigen Polieren dieser alternativen Ausführungsform auch mit dem oberen Fenster 18 versehen ist, kann das Anhaften von Schmutz (beispielsweise Staub usw.) an dem unteren Fenster 16 in einem Pfad zum Messen der Dicke eines Werkstücks reduziert werden.The double-sided polishing device of this alternative embodiment is also mainly provided with the through
Auch bei der in
Nun zeigten von den vorliegenden Erfindern durchgeführte Studien, dass es bei den Strukturen mit dem oberen Fenster 18 und dem unteren Fenster 16 gemäß der Darstellung in
Um dies anzugehen, wie bei der in
Die Einrichtung 1 zum doppelseitigen Polieren umfasst ferner vorzugsweise das obere Glied 20, das an einem oberen Abschnitt der oberen Platte 2 fixiert ist, oder ein unteres Glied, das einem unteren Abschnitt der unteren Platte 3 fixiert ist. In den Beispielen, die in
Ferner wird auch bevorzugt, dass ein Teil des oberen Glieds 20 auf der oberen Fläche des zylindrischen Glieds 13 platziert ist und das obere Fenster 18 an dem oberen Glied bereitgestellt ist, oder ein Teil des unteren Glieds auf der unteren Fläche des zylindrischen Glieds 13 platziert ist und das untere Fenster 16 an dem unteren Glied bereitgestellt ist.Further, it is also preferable that part of the
Ferner ist vorzugsweise mindestens eine Entlüftungsöffnung 22 bereitgestellt, die dafür sorgt, dass die Durchgangsbohrung 10 mit der Außenumgebung in Verbindung steht. Dies kann Anlaufen in dem Durchgangsloch 10 verhindern. Die Entlüftungsöffnung 22 ist in dem oberen Glied 20 in
Ferner wird bevorzugt, dass das untere Fenster 16 mit einem unteren Teil des an der oberen Platte 2 bereitgestellten zylindrischen Glieds 13 unter Verwendung eines Haftmittels (beispielsweise eines Haftmittels auf Silikonbasis oder auf Basis von modifiziertem Silikon) verklebt ist oder das obere Fenster 18 mit einem oberen Teil des an der unteren Platte 3 bereitgestellten zylindrischen Teils 13 unter Verwendung eines Haftmittels (beispielsweise eines Haftmittels auf Silikonbasis oder auf Basis von modifiziertem Silikon) verklebt ist. Wenn ein Haftmittel (insbesondere ein starkes Haftmittel, wie z. B. ein Haftmittel auf Silikonbasis oder auf Basis von modifiziertem Silikon) an den Flächenplatten verwendet wird, ist der Ablöseschritt besonders schwierig; jedoch kann das zylindrische Glied jeglicher wesentlicher Auswirkung auf die Durchführbarkeit während des Ablösens vorbeugen, selbst wenn ein Haftmittel (ein Haftmittel auf Silikonbasis oder auf Basis von modifiziertem Silikon) verwendet wird. Beispiele für das Haftmittel auf Silikonbasis oder auf Basis von modifiziertem Silikon umfassen beispielsweise unter anderem Super Seal, hergestellt von CEMEDINE CO., LTD. Alternativ dazu ist es möglich, dass wie nachstehend kein Haftmittel verwendet wird. Spezifisch, insbesondere wenn das zylindrische Glied 13 und das obere Glied 20 (untere Glied) aus Edelstahl hergestellt sind, werden aufgrund der leichten Bearbeitbarkeit das zylindrische Glied 13 und das obere Glied 20 (untere Glied) beispielsweise so bearbeitet, dass sie auf die Fenster abgestimmt sind; also können dadurch, dass dafür gesorgt wird, dass das zylindrische Glied und das obere Glied (untere Glied) auf die Fenster abgestimmt sind, die Fenster fixiert werden, während dabei ein leichter Wechsel gestattet wird.Further, it is preferable that the
Ferner wird auch bevorzugt, dass der vertiefte Teil 14 an der Außenumfangsfläche des an der Innenumfangsfläche der oberen Platte 2 bereitgestellten zylindrischen Glieds 13 bereitgestellt ist und der O-Ring 15 in dem vertieften Teil platziert ist, oder der vertiefte Teil 14 an der Außenumfangsfläche des an der Innenumfangsfläche der unteren Platte 3 bereitgestellten zylindrischen Glieds 13 bereitgestellt ist und der O-Ring 15 in dem vertieften Teil 14 platziert ist. Der Raum zwischen der Innenumfangsfläche der Flächenplatte 2(3) und dem zylindrischen Glied 13 wird mit dem O-Ring 15 eingeschlossen, wodurch das Zurückströmen der Polierslurry verhindert werden kann.Further, it is also preferable that the recessed part 14 is provided on the outer peripheral surface of the
Ausführungsformen dieser Offenbarung sind oben beschrieben worden; diese Offenbarung ist jedoch keineswegs auf die obigen Ausführungsformen beschränkt.
BezugszeichenlisteReference List
- 11
- Einrichtung zum doppelseitigen PolierenDevice for double-sided polishing
- 22
- Obere Plattetop plate
- 33
- Untere PlatteLower plate
- 44
- Rotationsflächenplattesurface of revolution plate
- 55
- Sonnenradsun gear
- 66
- Hohlradring gear
- 77
- Polierpadpolishing pad
- 88th
- Halteöffnungholding hole
- 99
- Trägerplattebacking plate
- 1010
- Durchgangsbohrungthrough hole
- 1111
- Öffnungopening
- 1212
- Werkstückdickenmessinstrumentworkpiece thickness gauge
- 1313
- Zylindrisches GliedCylindrical limb
- 1414
- Vertiefter Teilrecessed part
- 1515
- O-RingO ring
- 1616
- Unteres Fensterlower window
- 1717
- Haftschichtadhesive layer
- 1818
- Oberes Fensterupper window
- 1919
- Dichtungpoetry
- 2020
- Oberes GliedUpper limb
- 2121
- Unterlegscheibewasher
- 2222
- Entlüftungsöffnungvent hole
- 2323
- Haftschichtadhesive layer
ZITATE ENTHALTEN IN DER BESCHREIBUNGQUOTES INCLUDED IN DESCRIPTION
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Zitierte PatentliteraturPatent Literature Cited
- JP 2019181632 A [0005, 0006]JP 2019181632 A [0005, 0006]
Claims (7)
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2020050736A JP7435113B2 (en) | 2020-03-23 | 2020-03-23 | Double-sided polishing device for workpieces |
JP2020-050736 | 2020-03-23 | ||
PCT/JP2020/049078 WO2021192477A1 (en) | 2020-03-23 | 2020-12-28 | Double-side polishing device for workpiece |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE112020006964T5 true DE112020006964T5 (en) | 2023-01-05 |
Family
ID=77850711
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE112020006964.8T Pending DE112020006964T5 (en) | 2020-03-23 | 2020-12-28 | DEVICE FOR DOUBLE-SIDED POLISHING OF A WORKPIECE |
Country Status (7)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US20230106784A1 (en) |
JP (1) | JP7435113B2 (en) |
KR (1) | KR20220121890A (en) |
CN (1) | CN115297997A (en) |
DE (1) | DE112020006964T5 (en) |
TW (1) | TWI751860B (en) |
WO (1) | WO2021192477A1 (en) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JP7168109B1 (en) * | 2022-01-24 | 2022-11-09 | 信越半導体株式会社 | Double-sided polishing machine |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JP2019181632A (en) | 2018-04-11 | 2019-10-24 | 株式会社Sumco | Double side polishing device for workpiece |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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-
2020
- 2020-03-23 JP JP2020050736A patent/JP7435113B2/en active Active
- 2020-12-25 TW TW109146177A patent/TWI751860B/en active
- 2020-12-28 KR KR1020227027863A patent/KR20220121890A/en not_active Application Discontinuation
- 2020-12-28 CN CN202080098991.5A patent/CN115297997A/en active Pending
- 2020-12-28 DE DE112020006964.8T patent/DE112020006964T5/en active Pending
- 2020-12-28 WO PCT/JP2020/049078 patent/WO2021192477A1/en active Application Filing
- 2020-12-28 US US17/913,558 patent/US20230106784A1/en active Pending
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2019181632A (en) | 2018-04-11 | 2019-10-24 | 株式会社Sumco | Double side polishing device for workpiece |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR20220121890A (en) | 2022-09-01 |
JP2021146475A (en) | 2021-09-27 |
TWI751860B (en) | 2022-01-01 |
JP7435113B2 (en) | 2024-02-21 |
US20230106784A1 (en) | 2023-04-06 |
CN115297997A (en) | 2022-11-04 |
WO2021192477A1 (en) | 2021-09-30 |
TW202135980A (en) | 2021-10-01 |
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Date | Code | Title | Description |
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