DE112020006521T5 - Verfahren, Vorrichtung und System zur Bewertung der verbleibenden Lebensdauer von Elementen, Funktionsmodulen und Systemen - Google Patents

Verfahren, Vorrichtung und System zur Bewertung der verbleibenden Lebensdauer von Elementen, Funktionsmodulen und Systemen Download PDF

Info

Publication number
DE112020006521T5
DE112020006521T5 DE112020006521.9T DE112020006521T DE112020006521T5 DE 112020006521 T5 DE112020006521 T5 DE 112020006521T5 DE 112020006521 T DE112020006521 T DE 112020006521T DE 112020006521 T5 DE112020006521 T5 DE 112020006521T5
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
elements
systems
functional modules
sensitive components
service life
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
DE112020006521.9T
Other languages
German (de)
English (en)
Inventor
Zhen Liu
Weigang Chen
Jianguo Pang
Yi Zhu
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Siemens AG
Original Assignee
Siemens AG
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Siemens AG filed Critical Siemens AG
Publication of DE112020006521T5 publication Critical patent/DE112020006521T5/de
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2832Specific tests of electronic circuits not provided for elsewhere
    • G01R31/2836Fault-finding or characterising
    • G01R31/2837Characterising or performance testing, e.g. of frequency response
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2832Specific tests of electronic circuits not provided for elsewhere
    • G01R31/2836Fault-finding or characterising
    • G01R31/2846Fault-finding or characterising using hard- or software simulation or using knowledge-based systems, e.g. expert systems, artificial intelligence or interactive algorithms
    • G01R31/2848Fault-finding or characterising using hard- or software simulation or using knowledge-based systems, e.g. expert systems, artificial intelligence or interactive algorithms using simulation
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/26Testing of individual semiconductor devices
    • G01R31/27Testing of devices without physical removal from the circuit of which they form part, e.g. compensating for effects surrounding elements
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/282Testing of electronic circuits specially adapted for particular applications not provided for elsewhere
    • G01R31/2827Testing of electronic protection circuits
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2832Specific tests of electronic circuits not provided for elsewhere
    • G01R31/2836Fault-finding or characterising
    • G01R31/2843In-circuit-testing
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/327Testing of circuit interrupters, switches or circuit-breakers
DE112020006521.9T 2020-12-23 2020-12-23 Verfahren, Vorrichtung und System zur Bewertung der verbleibenden Lebensdauer von Elementen, Funktionsmodulen und Systemen Pending DE112020006521T5 (de)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PCT/CN2020/138699 WO2022133825A1 (zh) 2020-12-23 2020-12-23 元件、功能模块和系统的剩余寿命评估方法、装置和系统

Publications (1)

Publication Number Publication Date
DE112020006521T5 true DE112020006521T5 (de) 2022-12-01

Family

ID=82157152

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE112020006521.9T Pending DE112020006521T5 (de) 2020-12-23 2020-12-23 Verfahren, Vorrichtung und System zur Bewertung der verbleibenden Lebensdauer von Elementen, Funktionsmodulen und Systemen

Country Status (3)

Country Link
CN (1) CN115190976A (zh)
DE (1) DE112020006521T5 (zh)
WO (1) WO2022133825A1 (zh)

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101963937B (zh) * 2010-09-29 2016-08-10 南京航空航天大学 飞控计算机系统剩余寿命预测方法
CN103019135B (zh) * 2012-11-28 2015-07-01 北京金风科创风电设备有限公司 风机部件的寿命预测方法及系统
CN202995006U (zh) * 2012-12-12 2013-06-12 国电南瑞科技股份有限公司 一种预测继电保护装置剩余寿命的电源检测电路
CN103116134B (zh) * 2013-02-07 2015-01-28 哈尔滨工业大学 双余度舵机剩余寿命预测装置及实现双余度舵机剩余寿命的预测方法
US10620621B2 (en) * 2016-03-25 2020-04-14 Hitachi, Ltd. Remaining life assessment apparatus and method as well as wind turbine generator system
CN109490765A (zh) * 2018-09-21 2019-03-19 上海电科电器科技有限公司 开关电器触点剩余寿命计算方法及检测装置、接触器

Also Published As

Publication number Publication date
WO2022133825A1 (zh) 2022-06-30
CN115190976A (zh) 2022-10-14

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE102005018123B4 (de) Verfahren zur Bewertung von Messwerten zur Erkennung einer Materialermüdung
EP1231476B1 (de) Verfahren und Anordnung zur Bestimmung des Alterungszustands einer Batterie
DE112016006946T5 (de) Vorrichtung zur bewertung der priorität von anomaliedaten und verfahren zur bewertung der priorität von anomaliedaten
EP1429152A1 (de) Verfahren zur Vorhersage des Innenwiderstands einer Speicherbatterie und Überwachungseinrichtung für Speicherbatterien
DE102012103652A1 (de) Verfahren, Computerprogramm und System zur Durchführung der Interpolation bei Sensordaten zur Erzielung einer hohen Systemverfügbarkeit
DE102018116472A1 (de) Verfahren, Computerprogrammprodukt und Prognosesystem zur Bestimmung der Lebensdauer einer Antriebsbatterie eines Fahrzeugs, insbesondere eines Boots
DE112017002798T5 (de) Überwachungsvorrichtung, Verfahren zur Überwachung von Zielvorrichtung und Programm
DE102018115155A1 (de) Verfahren zum Vorhersagen von Anlagendaten und Vorrichtung, die es verwendet
EP3414582A1 (de) Verfahren und system zur bewertung einer elektrochemischen speichereinheit
DE102020117609B4 (de) Verarbeitung von Zustandsdaten einer Batterie zur Alterungsschätzung
DE112017002477T5 (de) Rotordiagnosevorrichtung, Rotordiagnoseverfahren und Rotordiagnoseprogramm
Pourhassan et al. A simulation approach on reliability assessment of complex system subject to stochastic degradation and random shock
DE102020111788A1 (de) Verfahren und vorrichtung zur erkennung defekter zellen innerhalb einer batterie
DE112019003222T5 (de) Zustandsschätzverfahren und Zustandsschätzvorrichtung
DE102019217538A1 (de) Verfahren und systeme zur durchführung von diagnoseprozessen mit verringerter verarbeitungszeit
DE102019123801A1 (de) Prüfvorrichtung und Maschinenlernverfahren
DE102019123800A1 (de) Prüfgerät und Maschinenlernverfahren
DE112020006521T5 (de) Verfahren, Vorrichtung und System zur Bewertung der verbleibenden Lebensdauer von Elementen, Funktionsmodulen und Systemen
DE102020200051A1 (de) Verfahren zum Bestimmen von Restnutzungszyklen, Restnutzungszyklusbestimmungsschaltung, Restnutzungszyklusbestimmungsvorrichtung
DE112016004038T5 (de) Referenzstundenüberwachung für maschinenwartung
EP2388602B1 (de) Verfahren zur Diagnose von Kontakten einer Photovoltaikanlage und Vorrichtung
DE102022109528A1 (de) Vorrichtung zum bestimmen von unregelmässigkeiten, verfahren zum bestimmen von unregelmässigkeiten, programm und system zum bestimmen von unregelmässigkeiten
DE102019134113A1 (de) Datensortiervorrichtung und datensortierverfahren und überwachungs- und diagnosevorrichtung
DE112020006580T5 (de) Riss-schätzeinrichtung, riss-schätzverfahren, riss-überprüfungsverfahren und defekt-diagnoseverfahren
CN111931407A (zh) 一种基于长期监测数据的结构可靠度评估预测方法及系统

Legal Events

Date Code Title Description
R012 Request for examination validly filed