DE112017004008B4 - Single crystal manufacturing method and apparatus - Google Patents
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Abstract
Einkristall-Herstellungsverfahren, das ein Verfahren unter Verwendung des FZ-Verfahrens ist, bei dem ein Teil eines Ausgangsmaterialstabs erhitzt wird, um eine geschmolzene Zone auszubilden, und der Ausgangsmaterialstab und ein Einkristall, die jeweils oberhalb und unterhalb der geschmolzenen Zone angeordnet sind, abgesenkt werden, um den Einkristall wachsen zu lassen, wobei das Verfahren die folgenden Schritte umfasst:man lässt den Einkristall oberhalb eines Keimkristalls wachsen, während ein Kristallschaft, der das untere Ende des Keimkristalls trägt, rotiert wird;man lässt ein Tragemittel gegen eine äußere Umfangsoberfläche eines konischen Abschnitts des Einkristalls anstoßen und schaltet ein Haupttrageelement für den Einkristall von dem Kristallschaft auf das Tragemittel um, wenn der Einkristall zu einer vorgegebenen Kristallform gewachsen ist;man senkt den Kristallschaft ab, während die senkrechte Position des Tragemittels beibehalten wird und verstärkt das Einschieben des Tragemittels gegen den Einkristall nach dem Umschalten des Haupttrageelements für den Einkristall auf das Tragemittel, wobei das Ausmaß der Absenkung des Kristallschafts zur Verstärkung des Einschiebens des Tragemittels gegen den Einkristall größer als 0 mm und 0,5 mm oder kleiner ist; undman lässt den Einkristall weiter wachsen, während der Einkristall von dem Tragemittel getragen wird.A single crystal manufacturing method, which is a method using the FZ method in which a part of a raw material rod is heated to form a molten zone, and the raw material rod and a single crystal disposed above and below the molten zone, respectively, are lowered to grow the single crystal, the method comprising the steps of: growing the single crystal above a seed crystal while rotating a crystal shaft supporting the lower end of the seed crystal; leaving a supporting means against an outer peripheral surface of a conical one When the single crystal has grown into a predetermined crystal shape, the crystal shaft is lowered while maintaining the vertical position of the carrying means, and the insertion of the carrying means is increased ttels against the single crystal after switching the main supporting member for the single crystal to the supporting means, the amount of lowering of the crystal shaft for enhancing the insertion of the supporting means against the single crystal being greater than 0 mm and 0.5 mm or smaller; and the single crystal is allowed to continue to grow while the single crystal is supported by the support means.
Description
[Technisches Gebiet)[Technical area)
Die vorliegende Erfindung betrifft ein Einkristall-Herstellungsverfahren und eine Vorrichtung gemäß einem FZ (Floating Zone)-Verfahren und insbesondere ein Trageverfahren für einen Einkristall, der im Laufe des Kristallwachstums an Gewicht zunimmt.The present invention relates to a single crystal manufacturing method and an apparatus according to an FZ (floating zone) method and, more particularly, to a carrying method for a single crystal which increases in weight in the course of crystal growth.
STAND DER TECHNIKSTATE OF THE ART
Ein FZ-Verfahren ist als eines der Herstellungsverfahren für einen Silicium-Einkristall, der ein Halbleitermaterial ist, bekannt. Das FZ-Verfahren ist ein Verfahren, bei dem ein Teil eines Stabes aus polykristallinem Silicium-Ausgangsmaterial mit Hochfrequenz erhitzt wird, um eine geschmolzene Zone auszubilden, und ein Einkristall allmählich wächst, während die geschmolzene Zone bewegt wird. Anders als ein CZ (Czochralski)-Verfahren, verwendet das FZ-Verfahren keinen Quarztiegel und kann so einen Silicium-Einkristall hoher Reinheit herstellen, der frei von Verunreinigungen, wie Sauerstoff, ist.An FZ method is known as one of the manufacturing methods for a silicon single crystal which is a semiconductor material. The FZ method is a method in which part of a rod of polycrystalline silicon raw material is heated at high frequency to form a molten zone, and a single crystal gradually grows while the molten zone is moved. Unlike a CZ (Czochralski) method, the FZ method does not use a quartz crucible and can thus produce a silicon single crystal of high purity free from impurities such as oxygen.
Bei der Herstellung eines Silicium-Einkristalls nach dem FZ-Verfahren werden ein Ausgangsmaterialstab und ein Einkristall rotiert, um den Silicium-Einkristall wachsen zu lassen und so einen kolumnaren Ingot (Barren) zu erhalten. Insbesondere wird abwechselnde Rotation durchgeführt, bei der die Rotationsrichtung des Einkristalls zur Gleichförmigkeit der Verteilung der Dotierungsmittelkonzentration in einem Querschnitt senkrecht zu der Kristallwachstumsrichtung periodisch umgekehrt wird. Beispielsweise beschreibt das Patentdokument 1 ein abwechselndes Rotationsverfahren, bei dem eine Basisrotation, die einen Einkristall bei einem vorgegebenen Basiswinkel rotiert, und eine Gegenrotation, die den Einkristall in einer Richtung entgegensetzt zu der Basisrotation in einem Gegenwinkel kleiner als der Basiswinkel rotiert, abwechselnd wiederholt. Bei diesem Verfahren wird eine Kombination des Basiswinkels und des Gegenwinkels gemäß dem Durchmesser eines Ausgangsmaterialstabes geändert, um so die Variation des spezifischen Widerstandes innerhalb der Ebene des Einkristalls zu verringern.When a silicon single crystal is manufactured by the FZ method, a raw material rod and a single crystal are rotated to grow the silicon single crystal to obtain a columnar ingot. Specifically, alternate rotation is performed in which the direction of rotation of the single crystal is periodically reversed to make the distribution of the dopant concentration uniform in a cross section perpendicular to the crystal growth direction. For example,
Wenn ein Silicium-Einkristall in gewissem Maße gewachsen ist und sein Gewicht zugenommen hat, wird es schwierig, nur mit einem Keimkristall-Trageschaft den gesamten Silicium-Einkristall zu tragen, so dass ein Trageverfahren für den Einkristall im Verlauf des Wachstumsprozesses für den Einkristall geändert wird. Beispielsweise beschreibt das Patentdokument 2, dass ein gewachsener Silicium-Einkristall von einer Einkristall-Gewichtshalterung gehalten wird. Die Einkristall-Gewichtshalterung empfängt das meiste Gewicht des Silicium-Einkristalls und verhindert dadurch, dass das Gewicht des Silicium-Einkristalls auf den Einkristall-Trageschaft ausgeübt wird. Ferner beschreibt das Patentdokument 3 ein Verfahren zum Tragen eines gewachsenen Einkristalls, indem ein zylindrischer ringförmiger Tragekörper auf den konischen Bereich des gewachsenen Einkristalls gedrückt wird.When a silicon single crystal has grown to some extent and its weight has increased, it becomes difficult to carry the entire silicon single crystal with only a seed crystal carrying shaft, so that a carrying method for the single crystal is changed in the course of the growth process for the single crystal . For example,
Verfahren und Vorrichtungen zum Abstützen des Einkristalls bei FZ-Verfahren sind den Figuren und Ansprüchen der Patentdokumente 4 bis 8 zu entnehmen.Methods and devices for supporting the single crystal in FZ methods can be found in the figures and claims of
[Zitatliste][List of quotations]
[Patentdokumente][Patent documents]
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[Patentdokument 1] offengelegte japanische Patentanmeldung
JP 2015-229612 A JP 2015-229612 A -
[Patentdokument 2] offengelegte japanische Patentanmeldung
JP 2012-106892 A JP 2012-106892 A -
[Patentdokument 3] offengelegte japanische Patentanmeldung
JP 2016-052983 A JP 2016-052983 A -
[Patentdokument 4]
DE 23 58 300 A1 DE 23 58 300 A1 -
[Patentdokument 5]
DD 1 59 649 A1 DD 1 59 649 A1 -
[Patentdokument 6]
DE 10 2014 217 605 A1 DE 10 2014 217 605 A1 -
[Patentdokument 7]
DE 27 06 851 A1 DE 27 06 851 A1 -
[Patentdokument 8]
US 4,886,647 U.S. 4,886,647
ZUSAMMENFASSUNG DER ERFINDUNGSUMMARY OF THE INVENTION
[Von der Erfindung zu lösendes Problem][Problem to be Solved by the Invention]
In einem zwischenzeitlichen Träger für den Silicium-Einkristall unter Verwendung der Einkristall-Gewichtshalterung werden mehrere Tragestifte zu einem vorgegebenen Zeitpunkt gegen den konischen Teil des Einkristalls gedrückt, wenn der Einkristall an Gewicht zugenommen hat, und dann wird ein Antriebssystem für die Rotation und Absenkung des Einkristalls mit der Trageschaftseite der Tragestifte verbunden. Indem so das Trageelement für das Tragen des Einkristalls auf die Tragestifte umgeschaltet wird, kann der Einkristall zusammen mit den Tragestiften rotiert und abgesenkt werden, wodurch der Prozess des Wachsens des Einkristalls fortgesetzt werden kann.In an interim support for the silicon single crystal using the single crystal weight holder, a plurality of support pins are pressed against the conical portion of the single crystal at a predetermined timing when the single crystal has increased in weight, and then a drive system for rotating and lowering the single crystal becomes connected to the carrying shaft side of the carrying pins. By thus switching the supporting member for supporting the single crystal to the supporting pins, the single crystal can be rotated and lowered together with the supporting pins, whereby the process of growing the single crystal can be continued.
Beim obigen Trageverfahren unter Verwendung mehrerer Tragestifte wird jedoch die Schwingung des Kristalls groß, nachdem das Tragelement von dem Keimkristall-Trageschaft auf die mehreren Tragestifte umgeschaltet wurde und macht so das Tragen für den Einkristall instabil. Insbesondere wenn der Einkristall einer abwechselnden Rotation unterzogen wird, wird eine starke Zentrifugalkraft auf die Bereiche an den Spitzenenden der Tragestifte durch eine plötzliche Änderung der Rotationsrichtung ausgeübt. So wird das Tragen für den Einkristall ungenügend, was das Auftreten von Kristallbiegung wahrscheinlich macht.In the above carrying method using a plurality of carrying pins, however, the vibration of the crystal becomes large after the carrying member is switched from the seed crystal carrying shaft to the plurality of carrying pins, thus making the carrying unstable for the single crystal. In particular, when the single crystal is alternately rotated, a strong centrifugal force is applied to the areas at the tip ends of the support pins by a sudden change in the direction of rotation. Thus, the support becomes insufficient for the single crystal, making crystal bending likely to occur.
Folglich ist es das Ziel der vorliegenden Erfindung, ein Einkristall-Herstellungsverfahren und eine Vorrichtung zur Verfügung zu stellen, die den Einkristall mit den mehreren Tragestiften stabil tragen können, selbst wenn der Einkristall einer abwechselnden Rotation unterzogen wird, und das Auftreten von Kristallbiegung nach dem Umschalten des Trageverfahrens auf das Vielpunkttragen unter Verwendung der mehreren Tragestifte zu vermeiden.Accordingly, the object of the present invention is to provide a single crystal manufacturing method and apparatus which can stably support the single crystal with the plurality of support pins even when the single crystal is subjected to alternate rotation and occurrence of crystal bending after switching of the carrying method to avoid multi-point carrying using the multiple carrying pins.
[Mittel zur Lösung der Aufgabe][Means of solving the problem]
Die obige Aufgabe wird durch ein Einkristall-Herstellungsverfahren gemäß der vorliegenden Erfindung gelöst, welches ein Verfahren unter Verwendung des FZ-Verfahrens ist, bei dem ein Teil eines Ausgangsmaterialstabs erhitzt wird, um eine geschmolzene Zone auszubilden, und der Ausgangsmaterialstab und ein Einkristall, die jeweils oberhalb und unterhalb der geschmolzenen Zone positioniert sind, abgesenkt werden, um den Einkristall wachsen zu lassen, wobei das Verfahren die folgenden Schritte umfasst: man lässt den Einkristall oberhalb eines Keimkristalls wachsen, während ein Kristallschaft, der das untere Ende des Keimkristalls trägt, rotiert wird; man lässt ein Tragemittel gegen eine äußere Umfangsoberfläche eines konischen Abschnitts des Einkristalls, der zu einer vorgegebenen Kristallform gewachsen ist, anstoßen, um ein Haupttrageelement für den Einkristall von dem Kristallschaft auf das Tragemittel umzuschalten; man senkt den Kristallschaft nach dem Umschalten des Haupttrageelements für den Einkristall auf das Tragemittel um mehr als 0 mm und 0,5 mm oder weniger ab, wobei die senkrechte Position des Tragemittels fixiert ist, um das Einschieben des Tragemittels gegen den Einkristall zu verstärken; und man lässt den Einkristall weiter wachsen, während der Einkristall von dem Tragemittel getragen wird.The above object is achieved by a single crystal manufacturing method according to the present invention, which is a method using the FZ method in which a part of a raw material rod is heated to form a molten zone, and the raw material rod and a single crystal, respectively positioned above and below the molten zone, are lowered to grow the single crystal, the method comprising the steps of: growing the single crystal above a seed crystal while rotating a crystal shaft supporting the lower end of the seed crystal ; a support means is abutted against an outer peripheral surface of a conical portion of the single crystal which has grown into a predetermined crystal shape to switch a main support member for the single crystal from the crystal shaft to the support means; the crystal shaft is lowered by more than 0 mm and 0.5 mm or less after switching the main supporting member for the single crystal to the supporting means, with the vertical position of the supporting means being fixed to enhance the insertion of the supporting means against the single crystal; and the single crystal is allowed to continue to grow while the single crystal is supported by the supporting means.
Ferner schließt eine Einkristall-Herstellungsvorrichtung gemäß der vorliegenden Erfindung ein: einen Ausgangsmaterialschaft, der einen Ausgangsmaterialstab trägt; einen Mechanismus zur Zufuhr von Ausgangsmaterial, der den Ausgangsmaterialschaft anhebt/absenkt und rotiert; einen Kristallschaft, der das untere Ende eines Keimkristalls trägt; eine Induktionsheizspule, die den Ausgangsmaterialstab erhitzt; ein Tragemittel, das gegen die äußere Umfangsoberfläche eines konischen Abschnitts des Einkristalls anstößt und so den Einkristall trägt; einen Kristallzufuhr-Mechanismus, der den Kristallschaft oder das Tragemittel anhebt/absenkt und rotiert; und eine Steuereinheit, die das Umschalten eines Haupttrageelements für den Einkristall von dem Kristallschaft auf das Tragemittel steuert. Die Steuereinheit verwendet einen Arretierungsmechanismus, um die Bewegung des Tragemittels in einem Zustand zu arretieren, in dem man das Tragemittel gegen die äußere Umfangsoberfläche des konischen Abschnitts des zu einer vorgegebenen Kristallform gewachsenen Einkristalls anstoßen lässt, um das Haupttrageelement für den Einkristall von dem Kristallschaft auf das Tragemittel umzuschalten und nach dem Umschalten den Kristallschaft um mehr als 0 mm und 0,5 mm oder weniger absenkt, wobei die senkrechte Position des Tragmittels fixiert ist, um das Einschieben des Tragemittels gegen den Einkristall zu verstärken und so den Einkristall weiter wachsen zu lassen, während er von dem Tragemittel getragen wird.Further, a single crystal manufacturing apparatus according to the present invention includes: a raw material shaft that supports a raw material rod; a raw material supply mechanism that raises / lowers and rotates the raw material shaft; a crystal shaft supporting the lower end of a seed crystal; an induction heating coil that heats the raw material rod; a support means abutting the outer peripheral surface of a conical portion of the single crystal to support the single crystal; a crystal supply mechanism that raises / lowers and rotates the crystal shaft or the support means; and a control unit that controls switching of a main supporting member for the single crystal from the crystal shaft to the supporting means. The control unit uses a lock mechanism to lock the movement of the support means in a state in which the support means can be abutted against the outer peripheral surface of the conical portion of the single crystal grown into a predetermined crystal shape to move the main support member for the single crystal from the crystal shaft to the To switch the carrying means and after switching the crystal shaft by more than 0 mm and 0.5 mm or less, whereby the vertical position of the carrying means is fixed in order to reinforce the insertion of the carrying means against the single crystal and thus allow the single crystal to grow further, while being carried by the carrying means.
Gemäß der vorliegenden Erfindung kann die Tragekraft des Tragemittels für den Einkristall erhöht werden. Somit kann, selbst wenn der Einkristall der abwechselnden Rotation unterzogen wird, der Einkristall von dem Tragemittel stabil getragen werden und dadurch das Auftreten von Kristallbiegung oder das Verschütten von Schmelze nach dem Umschalten des Trägers vermieden werden.According to the present invention, the supporting force of the single crystal supporting means can be increased. Thus, even if the single crystal is subjected to the alternate rotation, the single crystal of the carrying means can be stably carried, thereby avoiding the occurrence of crystal bending or the spillage of melt after the carrier has been switched over.
Erfindungsgemäß ist das Ausmaß der Absenkung des Kristallschafts für das Verstärken des Einschiebens des Tragemittels gegen den Einkristall größer als 0 mm und
0,5 mm oder kleiner und bevorzugt 0,1 mm oder größer und 0,5 mm oder kleiner. Wenn das Ausmaß der Absenkung des Kristallschafts größer als 0 mm ist, kann die Tragekraft des Tragemittels, die für das Tragen des Einkristalls erforderlich ist, sichergestellt werden. Wenn das Ausmaß der Absenkung des Kristallschafts 0,5 mm oder kleiner ist, kann ein Risiko, dass ein Riss oder Sprung in der Nähe des Verbindungspunkts zwischen dem Keimkristall und dem Kristallschaft auftritt, vermieden werden. Wenn das Ausmaß der Absenkung des Kristallschafts 0,1 mm oder größer ist, kann die Tragekraft des Tragemittels für den Einkristall verlässlich sichergestellt werden.According to the invention, the extent of the lowering of the crystal shaft for strengthening the insertion of the support means against the single crystal is greater than 0 mm and
0.5 mm or smaller and preferably 0.1 mm or larger and 0.5 mm or smaller. When the amount of lowering of the crystal shaft is greater than 0 mm, the supporting force of the supporting means required for supporting the single crystal can be ensured. When the sagging amount of the crystal stem is 0.5 mm or less, a risk that a crack occurs in the vicinity of the connection point between the seed crystal and the crystal stem can be avoided. When the amount of depression of the crystal shaft is 0.1 mm or more, the supporting force of the supporting means for the single crystal can be reliably ensured.
Das Einkristall-Herstellungsverfahren und die Vorrichtung gemäß der vorliegenden Erfindung lassen den Einkristall vorzugsweise weiter wachsen, während die abwechselnde Rotation auf den von dem Tragemittel getragenen Einkristall ausgeübt wird. Wenn der Einkristall der abwechselnden Rotation unterzogen wird, wird er erschüttert, wenn die Rotationsrichtung umgekehrt wird, so dass die Verschiebung der Zentralachse des Einkristalls größer wird, wenn man nicht das Tragemittel, das man seitlich gegen den Einkristall anstoßen lässt, den Einkristall greifen lässt, was eine Neigung der Zentralachse hervorruft, die zu Kristallbiegung oder Verschütten der Schmelze an dem Einkristall führen kann. Erfindungsgemäß ist es jedoch möglich, die Verringerung einer Ausbeute oder Beschädigung der Kristallwachstumseinrichtung aufgrund des Auftretens von Kristallbiegung in dem anschließenden Kristallwachstumsprozess zu verhindern.The single crystal manufacturing method and apparatus according to the present invention preferably further grow the single crystal while the alternate rotation is applied to the single crystal carried by the supporting means. If the single crystal is subjected to the alternating rotation, it will be shaken when the direction of rotation is reversed, so that the displacement of the central axis of the single crystal becomes larger unless the support means, which is laterally abutted against the single crystal, is allowed to grip the single crystal, causing the central axis to tilt, which can lead to crystal bending or spillage of the melt on the single crystal. According to the present invention, however, it is possible to prevent the decrease in yield or damage to the crystal growing device due to occurrence of crystal bending in the subsequent crystal growing process.
Erfindungsgemäß schließt das Tragemittel vorzugsweise mehrere Tragestifte ein, die so angeordnet sind, dass sie entlang der radialen Richtung des Einkristalls frei gleitbar sind, und mehrere feste Teile sind vorzugsweise rückwärtig von mehreren der entsprechenden beweglichen Teile angeordnet, die frei gleitbar die entsprechenden Tragestifte entlang der radialen Richtung des Einkristalls tragen, um die Bewegung der Tragestifte entlang der radialen Richtung des Einkristalls zu arretieren. Mit diesem Aufbau kann ein Einkristall mit erhöhtem Gewicht verlässlich getragen werden. In diesem Fall ist es möglich, das Tragemittel verlässlich gegen den Einkristall anstoßen zu lassen und den Zustand des Anstoßens des Tragemittels mit einem einfachen Aufbau zu arretieren.According to the invention, the support means preferably includes a plurality of support pins which are arranged so that they are freely slidable along the radial direction of the single crystal, and a plurality of fixed parts are preferably arranged rearward of a plurality of the respective movable parts that are freely slidable the respective support pins along the radial Wear direction of the single crystal to lock the movement of the support pins along the radial direction of the single crystal. With this structure, a single crystal with an increased weight can be reliably supported. In this case, it is possible to reliably abut the support means against the single crystal and lock the state of abutment of the support means with a simple structure.
Erfindungsgemäß hat das bewegliche Teil vorzugsweise eine abgeschrägte Oberfläche mit einem Neigungswinkel von 20° bis 25° relativ zu einer senkrechten Oberfläche, das feste Teil hat vorzugsweise eine umgekehrt-abgeschrägte Oberfläche mit demselben Neigungswinkel wie die abgeschrägte Oberfläche des beweglichen Teils, und man lässt die umgekehrt-abgeschrägte Oberfläche des festen Teils vorzugsweise gegen die abgeschrägte Oberfläche des beweglichen Teils anstoßen, um die mehreren Tragestifte zu arretieren. Mit diesem Aufbau kann das feste Teil an einer geeigneten Position in Bezug auf jegliche Position des beweglichen Teils angeordnet sein. Ferner kann die Druckkraft des festen Teils gegen das bewegliche Teil gesteigert werden. Somit können die Tragestifte verlässlich fixiert werden und dadurch die Tragekraft der Tragestifte gegen die Zentrifugalkraft während der Rotation des Einkristalls erhöht werden.According to the invention, the movable part preferably has a tapered surface with an inclination angle of 20 ° to 25 ° relative to a perpendicular surface, the fixed part preferably has an inverse-tapered surface with the same inclination angle as the inclined surface of the movable part, and the reverse is allowed -The beveled surface of the fixed part preferably abut against the beveled surface of the movable part in order to lock the plurality of support pins. With this structure, the fixed part can be arranged at an appropriate position with respect to any position of the movable part. Furthermore, the pressing force of the fixed part against the movable part can be increased. Thus, the support pins can be reliably fixed and the support force of the support pins against the centrifugal force during the rotation of the single crystal can thereby be increased.
Erfindungsgemäß kann das Tragemittel einen Tragering einschließen, der im Wesentlichen gegen die gesamte äußere Umfangsoberfläche des konischen Abschnitts des Einkristalls anstößt. In diesem Fall schließt der Tragering vorzugsweise ein inneres Ringbauteil, das aus einem ersten Material hergestellt ist und so gestaltet ist, dass es gegen die äußere Umfangsoberfläche des konischen Abschnitts des Einkristalls anstößt, und ein äußeres Ringbauteil, das aus einem zweiten Material hergestellt ist und an der äußeren Umfangsseite des inneren Ringbauteils angeordnet ist, ein. Selbst mit diesem Aufbau ist es möglich, einen Einkristall mit erhöhtem Gewicht verlässlich zu tragen. Ferner ist es möglich, das Tragemittel verlässlich gegen den Einkristall anstoßen zu lassen und den Zustand des Anstoßens des Tragemittels mit einem einfachen Aufbau zu arretieren.According to the invention, the support means can include a support ring which abuts substantially against the entire outer circumferential surface of the conical section of the single crystal. In this case, the support ring preferably includes an inner ring member made of a first material and configured to abut the outer peripheral surface of the conical portion of the single crystal and an outer ring member made of a second material and on disposed on the outer peripheral side of the inner ring member. Even with this structure, it is possible to reliably support a single crystal with an increased weight. Furthermore, it is possible to reliably abut the support means against the single crystal and to lock the state of abutment of the support means with a simple structure.
Das Einkristall-Herstellungsverfahren und die Vorrichtung gemäß der vorliegenden Erfindung fotografieren vorzugsweise einen Bereich um die Kontaktposition zwischen dem Tragemittel und der äußeren Umfangsoberfläche des konischen Abschnitts des Einkristalls herum unter Verwendung einer Kamera und legen auf Basis eines von der Kamera aufgenommenen Bildes fest, ob das Tragemittel die äußere Umfangsoberfläche des konischen Abschnitts des Einkristalls berührt oder nicht. Dies erlaubt es, das Haupttrageelement für den Einkristall automatisch umzuschalten.The single crystal manufacturing method and apparatus according to the present invention preferably photograph an area around the contact position between the support means and the outer peripheral surface of the conical portion of the single crystal using a camera and lay out based on an image picked up by the camera determines whether or not the supporting means contacts the outer peripheral surface of the conical portion of the single crystal. This allows the main support element for the single crystal to be switched over automatically.
Das Einkristall-Herstellungsverfahren und die Vorrichtung gemäß der vorliegenden Erfindung legen vorzugsweise auf Basis einer Veränderung der Last, die auf den Kristallschaft oder das Tragemittel einwirkt, fest, ob das Tragemittel die äußere Umfangsoberfläche des konischen Abschnitts des Einkristalls berührt oder nicht. Dies ermöglicht es, das Haupttrageelement für den Einkristall automatisch umzuschalten.The single crystal manufacturing method and apparatus according to the present invention preferably determine whether or not the supporting means contacts the outer peripheral surface of the conical portion of the single crystal based on a change in the load applied to the crystal shaft or the supporting means. This makes it possible to switch over the main supporting element for the single crystal automatically.
[Vorteilhafte Effekte der Erfindung][Advantageous Effects of Invention]
Erfindungsgemäß kann ein Einkristall-Herstellungsverfahren und eine Vorrichtung zur Verfügung gestellt werden, die den Einkristall mit dem Tragemittel stabil tragen können und das Auftreten von Kristallbiegung nach dem Umschalten des Tragens auch dann vermeiden können, wenn der Einkristall der abwechselnden Rotation unterzogen wird.According to the present invention, there can be provided a single crystal manufacturing method and apparatus which can stably support the single crystal with the supporting means and prevent crystal bending from occurring after the switching of the supporting even when the single crystal is subjected to the alternate rotation.
FigurenlisteFigure list
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1 ist eine schematische Ansicht, die den Aufbau einer Einkristall-Herstellungsvorrichtung (10 ) gemäß einer bevorzugten Ausführungsform der vorliegenden Erfindung veranschaulicht.1 Fig. 13 is a schematic view showing the structure of a single crystal manufacturing apparatus (10 ) according to a preferred embodiment of the present invention. -
2 ist eine Draufsicht, die den Aufbau der Einkristall-Gewichtshalterung (16 ) gemäß einer ersten Ausführungsform veranschaulicht.2 Fig. 13 is a plan view showing the structure of the single crystal weight holder (16 ) illustrated according to a first embodiment. -
3A bis3C sind Seitenansichten, die jeweils den Aufbau des Arretierungsmechanismus (16L ) für jeden Tragestift (16a ) veranschaulichen.3A until3C are side views each showing the structure of the locking mechanism (16L ) for each carrying pin (16a ) illustrate. -
4 ist ein Flussdiagramm, das ein Herstellungsverfahren für den Einkristall (3 ) unter Verwendung des FZ-Verfahrens schematisch illustriert.4th is a flowchart showing a manufacturing method for the single crystal (3 ) is illustrated schematically using the FZ method. -
5 ist eine schematische Ansicht zur Erläuterung des Herstellungsverfahrens für den Einkristall (3 ) zusammen mit4 .5 Fig. 13 is a schematic view for explaining the manufacturing process for the single crystal (3 ) along with4th . -
6 ist eine Seitenansicht, die die Form eines Einkristall-Ingots (31 ) veranschaulicht, der unter Verwendung des FZ-Verfahrens hergestellt wurde.6th is a side view showing the shape of a single crystal ingot (31 ) made using the FZ process. -
7A und7B sind Seitenansichten zur Erläuterung einer Methode zum Umschalten des Trägers für den Einkristall (3 ).7A and7B are side views for explaining a method of switching the carrier for the single crystal (3 ). -
8A und8B sind Seitenansichten zur Erläuterung der Methode zum Umschalten des Trägers für den Einkristall (3 ).8A and8B are side views to explain the method of switching the carrier for the single crystal (3 ). -
9 ist eine schematische Querschnittsansicht, die die Einkristall-Gewichtshalterung (16 ) gemäß einer zweiten Ausführungsform illustriert.9 Fig. 3 is a schematic cross-sectional view showing the single crystal weight holder (16 ) illustrated according to a second embodiment. -
10A bis10C sind Ansichten, die den Aufbau des Tragerings (16r) veranschaulichen, wobei10A eine Draufsicht ist,10B eine Querschnittsansicht ist und10C eine Querschnittsansicht ist, die einen Zustand veranschaulicht, in dem der Einkristall (3 ) getragen wird.10A until10C are views illustrating the structure of the support ring (16r), wherein10A is a plan view,10B FIG. 8 is a cross-sectional view and FIG10C is a cross-sectional view illustrating a state in which the single crystal (3 ) will be carried.
AUSFÜHRLICHE BESCHREIBUNG DER AUSFÜHRUNGSFORMENDETAILED DESCRIPTION OF THE EMBODIMENTS
Bevorzugte Ausführungsformen der vorliegenden Erfindung werden nachstehend ausführlich mit Bezug auf die beigefügten Zeichnungen beschrieben.Preferred embodiments of the present invention will be described in detail below with reference to the accompanying drawings.
Wie in
Der Mechanismus (
Der Mechanismus (
Ein Rotationstrageschaft (
Alternativ kann der Mechanismus (
Wie in
Die Position des Bereichs am Spitzenende jedes der Tragestifte (
Wie in
Wie in
Wie in
Der Tragestift (
Wenn auf Basis der Ausgabe des Resolvers (
Die Seitenoberfläche des beweglichen Teils (
Wie in den
In dem Vereinigungsschritt (
Auf diese Weise wird ein Einkristall-Ingot (
Wie in
Wie in
Wie in
Wie in
Das Maß der Absenkung (d) des Kristallschafts (
Nachdem der Kristallschaft (
Danach wird, wie in
Wie oben beschrieben, wird in dem Einkristall-Herstellungsverfahren gemäß der vorliegenden Ausführungsform nach Beendigung des Umschalten des Trägers für den Einkristall (
Wie in
Wie in den
Der Tragering (16r) kann ein inneres Ringbauteil, das aus einem ersten Material hergestellt ist und so gestaltet ist, dass es gegen die äußere Umfangsoberfläche des konischen Abschnitts (
Wie oben beschrieben, wird in der vorliegenden Ausführungsform der Tragering (16r) als das Tragemittel für den Einkristall (
Während die bevorzugten Ausführungsformen der vorliegenden Erfindung beschrieben wurden, ist die vorliegende Erfindung nicht auf die obigen Ausführungsformen beschränkt und unterschiedliche Modifizierungen können innerhalb des Bereichs der vorliegenden Erfindung durchgeführt werden, und sämtliche Modifikationen sind in den Bereich der vorliegenden Erfindung eingeschlossen.While the preferred embodiments of the present invention have been described, the present invention is not limited to the above embodiments, and various modifications can be made within the scope of the present invention, and all modifications are included within the scope of the present invention.
Beispielsweise werden in der ersten Ausführungsform das bewegliche Teil (
Ferner kann, obwohl das Umschalten der Tragemethode für den Einkristall (
Die Detektion des Zeitpunkts für das Umschalten der Tragemethode für den Einkristall (
Ein erfindungsgemäß hergestellter Einkristall ist nicht auf einen Silicium-Einkristall beschränkt, sondern kann unterschiedliche Einkristalle sein, die unter Verwendung des FZ-Verfahrens gewachsen sind.A single crystal produced according to the present invention is not limited to a silicon single crystal, but can be various single crystals grown using the FZ method.
BEISPIELEXAMPLE
Bei der Herstellung eines Silicium-Einkristalls mit einem Durchmesser von 200 mm mit dem FZ-Verfahren wurde der Einfluss bewertet, den die Anwesenheit/Abwesenheit des Kristall-Einschubprozesses, durchgeführt nach Beendigung des Umschaltens des Trägers von dem Kristallschaft auf die Tragestifte, auf die Qualität des Einkristalls hatte. Bei dieser Bewertung wurden sechs Silicium-Einkristall-Probenstücke unter jeweils unterschiedlichen Herstellungsbedingungen hergestellt.In the production of a silicon single crystal having a diameter of 200 mm by the FZ method, the influence that the presence / absence of the crystal insertion process carried out after the completion of switching the carrier from the crystal shaft to the support pins on the quality was evaluated of the single crystal had. In this evaluation, six silicon single crystal test pieces were manufactured under different manufacturing conditions, respectively.
Erste und zweite Probenstücke T1 und T2 (Vergleichsbeispiel 1) des Silicium-Einkristalls wurden unter den Bedingungen hergestellt, dass der Einkristall mit einer Rotationsgeschwindigkeit von 20 U/min in einer Richtung rotiert wurde, und der Prozess des Einschiebens der Tragestifte durch Absenkung des Silicium-Einkristalls nicht durchgeführt wurde.First and second specimens T1 and T2 (Comparative Example 1) of the silicon single crystal were produced under the conditions that the single crystal was rotated in one direction at a rotational speed of 20 rpm and the process of inserting the support pins by lowering the silicon Single crystal was not performed.
Dritte und vierte Probenstücke T3 und T4 (Vergleichsbeispiel 2) wurden unter den Bedingungen hergestellt, dass der Einkristall der abwechselnden Rotation mit einer Rotationsgeschwindigkeit von 20 U/min unterzogen wurde, und der Prozess des Einschiebens der Tragestifte durch Absenkung des Silicium-Einkristalls nicht durchgeführt wurde.Third and fourth test pieces T3 and T4 (Comparative Example 2) were manufactured under the conditions that the single crystal was subjected to alternate rotation at a rotation speed of 20 rpm and the process of inserting the support pins by lowering the silicon single crystal was not performed .
Fünfte und sechste Probenstücke T5 und T6 (Beispiel) wurden unter den Bedingungen hergestellt, dass der Einkristall der wechselnden Rotation unterzogen wurde, und der Prozess des Einschiebens der Tragestifte durchgeführt wurde, indem der Einkristall zusammen mit dem Kristallschaft um 0,1 mm abgesenkt wurde.Fifth and sixth test pieces T5 and T6 (Example) were manufactured under the conditions that the single crystal was subjected to the alternating rotation and the process of inserting the support pins was performed by lowering the single crystal together with the crystal shaft by 0.1 mm.
Die so hergestellten Silicium-Einkristall-Probenstücke T1 bis T6 wurden durch visuelle Beobachtung im Hinblick auf ihre Kristallform bewertet. Die Resultate sind in Tabelle 1 gezeigt.The silicon single crystal specimens T1 to T6 thus prepared were evaluated for their crystal shape by visual observation. The results are shown in Table 1.
[Tabelle 1]
Tabelle 1 zeigt, dass sogar in der Tragemethode ohne das Einschieben der Tragestifte, bei dem bei Durchführung der Rotation in einer Richtung Kristallbiegung nicht auftrat, Kristallbiegung auftrat, wenn abwechselnde Rotation durchgeführt wurde. Ferner trat, wenn das Einschieben der Tragestifte durchgeführt wird, Kristallbiegung auch dann nicht auf, wenn die abwechselnde Rotation durchgeführt wurde.Table 1 shows that even in the carrying method without inserting the carrying pins, in which crystal bending did not occur when rotation was performed in one direction, crystal bending occurred when alternate rotation was performed. Further, when the insertion of the support pins is performed, crystal bending did not occur even when the alternate rotation was performed.
Als nächstes wurden sechs Silicium-Einkristall-Probenstücke T7 bis T12 unter der Bedingung hergestellt, dass sie jeweils unterschiedlich waren im Hinblick auf das Maß der Absenkung des Einkristalls bei dem Einschieben der Tragestifte. Bei dieser Bewertung wurden sämtliche Einkristall-Probenstücke T7 bis T12 der abwechselnden Rotation mit einer Rotationsgeschwindigkeit von 20 U/min unterzogen. Das Ausmaß der Absenkung für das Einschieben der Tragestifte wurde für die Einkristall-Probenstücke T7, T8, T9, T10, T11 und T12 jeweils auf 0,1 mm, 0,2 mm,
0,3 mm, 0,4 mm, 0,5 mm bzw. 0,6 mm eingestellt. Die so hergestellten Silicium-Einkristall-Probenstücke T7 bis T12 wurden durch visuelle Beobachtung im Hinblick auf Kristallform und Kristallbruch bewertet. Die Resultate sind in Tabelle 2 gezeigt.Next, six silicon single crystal test pieces T7 to T12 were prepared on the condition that they were each different in terms of the amount of sag of the single crystal when the support pins were inserted. In this evaluation, all of the single crystal specimens T7 to T12 were subjected to alternate rotation at a rotation speed of 20 rpm. The extent of the lowering for the insertion of the support pins was determined to be 0.1 mm, 0.2 mm,
0.3 mm, 0.4 mm, 0.5 mm and 0.6 mm respectively. The silicon single crystal specimens T7 to T12 thus prepared were evaluated for crystal shape and crystal breakage by visual observation. The results are shown in Table 2.
[Tabelle 2]
Tabelle 2 zeigt, dass der Kristallbruch des Einkristalls nicht auftritt, wenn das Ausmaß der Absenkung auf den Bereich von 0,1 mm bis 0,5 mm eingestellt ist, während er auftritt, wenn das Ausmaß der Absenkung auf 0,6 mm eingestellt ist.Table 2 shows that the crystal breakage of the single crystal does not occur when the amount of depression is set in the range of 0.1 mm to 0.5 mm, while it occurs when the amount of depression is set to 0.6 mm.
BezugszeichenlisteList of reference symbols
- 11
- AusgangsmaterialstabRaw material rod
- 22
- KeimkristallSeed crystal
- 33
- EinkristallSingle crystal
- 3131
- Einkristall-IngotSingle crystal ingot
- 3a3a
- verengter Abschnittnarrowed section
- 3b3b
- konischer Abschnittconical section
- 3c3c
- gerader Körperabschnittstraight body section
- 3d3d
- BodenabschnittFloor section
- 44th
- geschmolzene Zonemolten zone
- 1010
- Einkristall-HerstellungsvorrichtungSingle crystal manufacturing apparatus
- 1111
- AusgangsmaterialschaftRaw material stock
- 1212th
- Mechanismus zur Zufuhr von AusgangsmaterialMechanism for feeding raw material
- 1414th
- Kristall-ZufuhrmechanismusCrystal feeding mechanism
- 1313th
- KristallschaftCrystal shaft
- 14a14a
- ResolverResolver
- 1515th
- InduktionsheizspuleInduction heating coil
- 1616
- Einkristall-GewichtshalterungSingle crystal weight holder
- 16L16L
- ArretierungsmechanismusLocking mechanism
- 16a16a
- TragestiftCarrying pin
- 16b16b
- bewegliches Teilmoving part
- 16c16c
- BasisBase
- 16d16d
- festes Teilfixed part
- 16e16e
- Pfostenpost
- 16f16f
- Platteplate
- 16y16y
- Kupplungcoupling
- 16z16z
- RotationstrageschaftRotating shaft
- 1717th
- CCD-KameraCCD camera
- 1818th
- BildverarbeitungseinheitImage processing unit
- 1919th
- SteuereinheitControl unit
- 2020th
- LastsensorLoad sensor
- R1R1
- Durchmesser des konischen AbschnittsDiameter of the conical section
- R2R2
- Durchmesser des geraden KörperabschnittsDiameter of the straight body section
- S1S1
- VereinigungsschrittUnification step
- S2S2
- Schritt des VerengensStep of narrowing
- S3S3
- Schritt des Wachsens des konischen AbschnittsStep of growing the conical section
- S4S4
- Schritt des Wachsens des geraden KörperabschnittsStep of growing the straight body section
- S5S5
- Schritt des Wachsens des BodenabschnittsStep of growing the soil section
- S6S6
- AbkühlschrittCooling step
- SbSb
- abgeschrägte Oberflächebeveled surface
- SdSd
- umgekehrt-abgeschrägte Oberflächereverse-beveled surface
- θθ
- Neigungswinkel der abgeschrägten Oberfläche und der umgekehrt-abgeschrägten OberflächeInclination angles of the beveled surface and the reverse-beveled surface
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