DE1119921B

DE1119921B - Circuit arrangement for an electrical test multiplexer for telecommunications, in particular telephone systems

Info

Publication number: DE1119921B
Application number: DES56224A
Authority: DE
Inventors: Rudolf Kraust
Original assignee: Siemens AG
Current assignee: Siemens AG
Priority date: 1957-12-12
Filing date: 1957-12-12
Publication date: 1961-12-21

Description

Schaltungsanordnung für ein elektrisches Prüfvielfach für Fernmelde-, insbesondere Fernsprechanlagen Zusatz zum Patent 919 479 Das Patent 919 479 betrifft eine Schaltungsanordnung für ein elektrisches Prüfvielfach für Ferrunelde-, insbesondere Fernsprechanlagen, bei dem durch gemeinsame Anwendung einer Spannungsteilung und einer Stromverzweigung gleichzeitig aufprüfende Relais Fehlstrom erhalten.Circuit arrangement for an electrical test manifold for telecommunication systems, in particular telephone systems Addition to patent 919 479 Patent 919 479 relates to a circuit arrangement for an electrical test manifold for Ferrunelde, in particular telephone systems, in which relay testing relays receive fault current at the same time through the joint application of a voltage division and a current branch.

Prüfvielfachschaltungen dieser Art dienen zur Verhinderung von Doppelverbindungen in Anlagen, in denen jeweils eines von mehreren individuellen Gliedem an eine gemeinsame Einrichtung anzuschalten ist. Die durch das Patent 919 479 bekannten PrüMelfachschaltungen können auch in Anlagen Verwendung finden, in denen eines von mehreren individuellen Gliedern wahlweise mit einer von mehreren gemeinsamen Einrichtungen zu verbinden ist. In diesem Fall müssen dann eine der Zahl der gemeinsamen Einrichtungen oder eine der Zahl der individuellen Glieder entsprechende Anzahl von Prüfvielfachschaltungen vorgesehen werden.Test multiple circuits of this type are used to prevent double connections in systems in which one of several individual members is to be connected to a common device. The PrüMelfachschaltungen known from the patent 919 479 can also be used in systems in which one of several individual members is optionally to be connected to one of several common devices. In this case, one of the number of common devices or a number of test multiple circuits corresponding to the number of individual members must be provided.

Um den Aufwand an Prüfrelais bei Verwendung mehrerer gleichwertiger Prüfvielfachschaltungen herabzusetzen, ist es bekannt, die Prüfrelais wahlweise von einer Prüfvielfachschaltung auf andere umzuschalten. Eine derartige Anordnung erfordert neben dem bleibenden Aufwand an Prüfadern der einzelnen Prüfvielfache und den die Potentialverteilung und Verzweigung bewirkenden Widerständen innerhalb der Prüfvielfachschaltungen einen erhöhten Aufwand an Umschaltekontakten und entsprechenden Relais zur Umschaltung der Prüfrelais.To reduce the cost of testing relays when using several equivalent Reduce test multiple circuits, it is known to selectively use the test relays to switch from one test multiple circuit to another. Such an arrangement requires in addition to the remaining expenditure on test leads of the individual test multiple and the resistances within that cause the potential distribution and branching the test multiple circuits an increased expenditure on changeover contacts and corresponding Relay for switching over the test relays.

Aufgabe der vorliegenden Erfindung ist es, den Aufwand der zuletzt genannten bekannten Anordnung herabzusetzen und die Anordnung gemäß dem Patent 919479 so zu verbessern, daß auch bei Anschaltung eines von mehreren individuellen Gliedern an eine von mehreren gemeinsamen Einrichtungen Doppelverbindungen in einfacher Weise vermieden werden. Erreicht wird dies dadurch, daß der einen Art von Einrichtungen (z. B. den individuellen Einrichtungen) eine sich über alle diese erstreckende Vielfachschaltung individuell zugeordnet ist und jedes von jeder belegenden Einrichtungen aus unmittelbar einschaltbare Prüfrelais einerseits an eine Ader der gemeinsamen und je ein Prüfrelais andererseits an eine Ader jeder individuellen Vielfachschaltung angeschaltet ist und durch Anwendung einer weiteren Stromverzweigung an den die Spannungsteiler einschaltenden Kontakten die wirksame Erregung ein und desselben aufprüfenden Relais von mehreren Einrichtungen aus verhindert ist.The object of the present invention is to reduce the cost of the last-mentioned known arrangement and to improve the arrangement according to patent 919479 so that double connections are avoided in a simple manner even when one of several individual members is connected to one of several common devices. This is achieved by the fact that the one type of facilities (eg. As the individual means) an over all these extending multiple circuit is individually associated and each be allocated by any means from directly switchable test relay on the one hand to a core of the joint and each represents a test relay on the other hand is connected to one wire of each individual multiple circuit and by applying a further current branch to the contacts that switch on the voltage divider, the effective excitation of one and the same testing relay from several devices is prevented.

Mit einer Anordnung gemäß der Erfindung kann eines von mehreren individuellen Gliedern unter geringstmöglichem Aufwand wahlweise an eine von mehreren gemeinsamen Einrichtungen angeschaltet werden. Eine Umschaltung der Prüfrelais ist bei einer erfindungsgemäßen Anordnung nicht erforderlich.With an arrangement according to the invention, one of several individual Linking with the least possible effort to one of several common ones Facilities are switched on. A switchover of the test relays is possible with a Arrangement according to the invention is not required.

Es sind Prüfvielfachschaltungen bekannt, bei denen in Abhängigkeit von dem Zustand durch eine von dem Spannungsteiler abgegriffene Teilspannung beeinflußter Schaltmittel die Einschaltestromkreise für die prüfenden Relais niederohmig oder hochohmig geschaltet sind. Anordnungen dieser Art werden gemäß weiterer Ausbildung der Erfindung dadurch verbessert, daß bei Einschaltung ein und desselben Relais von mehreren Einrichtungen aus über letzteren zugeordnete Widerstände die vom Spannungsteiler abgreifbare Teilspannung derart beeinflußt wird, daß die an den Spannungsteiler angeschalteten Schaltmittel den Einschaltestromkreis für das genannte Relais hochohmig schalten.There are test multiple circuits are known in which depending influenced by the state by a partial voltage tapped off by the voltage divider Switching means the switch-on circuits for the testing relays low-resistance or are switched to high resistance. Arrangements of this kind are subject to further training the invention is improved in that when one and the same relay is switched on from several devices via the resistors assigned to the latter, those from the voltage divider The partial voltage that can be tapped off is influenced in such a way that the voltage applied to the voltage divider connected switching means the switch-on circuit for the said relay is high-resistance switch.

In den Fig. 1 bis 3 sind drei Ausführungsbeispiele der Erfindung dargestellt, gezeigt sind jedoch nur die für dieErfindung wesentlichenSchaltungseinzelheiten. So wurde z. B. auf die ausführliche Darstellung der individuellen Glieder und der gemeinsamen Einrichtungen verzichtet.Three embodiments of the invention are shown in FIGS. 1 to 3 , but only the circuit details which are essential for the invention are shown. So was z. B. omitted the detailed representation of the individual members and the common facilities.

Zwei von mehreren individuellen Gliedem f 1, f 2 und zwei von mehreren gemeinsamen Einrichtungen Gl, G2 sind angedeutet. Es soll angenommen werden, daß die Verbindungsherstellung, die von den individuellen Gliedern angefordert wird, durch Schaltmittel der gemeinsamen Einrichtungen eingeleitet wird. Diese Schaltmittel können Relais oder Tasten sein. In den gemeinsamen EinrichtungenG1 bzw. G2 sind Kontakte c11, c12 bzw. c21, c22 dieser dieVerbindungsherstellung einleitendenSchaltmittel dargestellt.Two of several individual members f 1, f 2 and two of several common devices Gl, G2 are indicated. Let it be assumed that the connection establishment requested by the individual members is initiated by switching means of the common facilities. These switching means can be relays or buttons. Contacts c11, c12 and c21, c22 of these switching means which initiate the establishment of the connection are shown in the common devices G1 and G2.

Will man auf eine sehr leicht mit Fehlerquellen behaftete Kontaktkette für die Bereitstellung von gemeinsamen Einrichtungen verzichten, so kann es vorkommen, daß bei Anforderung einer gemeinsamen Einrichtung durch ein individuelles Glied gleichzeitig zwei von mehreren gemeinsamen Einrichtungen eine Verbindungsherstellung einleiten.If you want to have a contact chain that is easily fraught with sources of error for the provision of common facilities, it may happen that when a common facility is requested by an individual member at the same time two of several common facilities establish a connection initiate.

Fordert z. B. das individuelle Glied J 1 der Ausführungsbeispiele gemäß Fig. 1 und 2 eine Verbindung herstellung zu einer gemeinsamen Einrichtung "s an, so kann es vorkommen, daß bei Freisein der gemeinsamen Einrichtungen Gl und G2 in beiden durch gleichzeitiges Schließen der Kontakte lell, 2c11 mit den Kontakten le21, 2c21 eine Verbindungsherstellung zum individuellen Glied fl eingeleitet wird. In diesem Fall liegen die in den gemeinsamen Einrichtungen angeordneten Widerstände R 11, R 12 parallel zueinander und in Reihe mit den Widerständen R 21, Rg. Der Spannungsabfall am gemeinsamen Widerstand Rg ist dadurch so groß, daß das Relais Pl bei dem in der Fig. 1 dargestellten Ausführungsbeispiel unmittelbar und bei dem in der Fig. 2 dargestellten Ausführungsbeispiel dadurch Fehlstrom erhalten, daß der Transistor T2 leitend und, durch letzteren beeinflußt, der Transistor Tl gesperrt wird.Requires z. B. the individual member J 1 of the embodiments according to FIGS. 1 and 2 establishing a connection to a common device "s, it can happen that when the common devices Gl and G2 are free in both by simultaneous closing of the contacts lell, 2c11 a connection to the individual member fl is initiated with the contacts le21, 2c21. In this case, the resistors R 11, R 12 arranged in the common devices are parallel to one another and in series with the resistors R 21, Rg is so large that the relay Pl in the embodiment shown in FIG. 1 immediately and in the embodiment shown in FIG. 2, the fault current is obtained in that the transistor T2 is conductive and, influenced by the latter, the transistor Tl is blocked.

Bei Besetztsein der Einrichtung G2 werden nur die Kontakte 1 c 11 und 2 c 11 in der Einrichtung G 1 geschlossen, so daß der am Widerstand R,-, auftretende Spannungsabfall geringer ist und dementsprechend das Relais P 1 anziehen kann. Bei dem in der Fig. 2 dargestellten Ausführungsbeispiel wird der Transistor Tl mit Schließen des Kontaktes IM leitend, so daß das Relais P 1 über den Kontakt 2 c 11 und den genannten Transistor ansprechen kann.When the device G2 is occupied , only the contacts 1 c 11 and 2 c 11 in the device G 1 are closed, so that the voltage drop occurring across the resistor R, -, is lower and the relay P 1 can accordingly attract. In the embodiment shown in Fig. 2, the transistor Tl is conductive when the contact IM is closed, so that the relay P 1 can respond via the contact 2 c 11 and the transistor mentioned.

Der Spannungsabfall am Widerstand Rg verhindert selbstverständlich auch immer dann eine wirksame Erregung von Relais, wenn von einer gemeinsamen Einrichtung aus eine Verbindungsherstellung zu zwei individuellen Gliedern oder wenn von zwei gemeinsamen Einrichtungen aus eine Verbindungsherstellung zu je einem individuellen Glied eingeleitet wird, d. h. also immer dann, wenn der Spannungsabfall am gemeinsamen Widerstand Rg durch ParalleIschaltung zweler oder mehrerer individueller Widerstände R 11, R 12 bzw. R 21, R 22 vergrößert wird.The voltage drop at the resistor Rg prevented course always an effective excitation of the relay when, d by a common means of a connecting to two individual links or when ever an individual member is introduced from two common means of a connecting to. H. that is, whenever the voltage drop across the common resistor Rg is increased by connecting two or more individual resistors R 11, R 12 or R 21, R 22 in parallel.

Bei dem in der Fig. 3 dargestellten Ausführungsbeispiel erfolgt die Einschaltung der Relais über die Kontakte, die den Stromfluß über den Spannungsteiler herstellen, wodurch nicht nur die Einsparung von Kontakten, sondern auch die von Adern zwischen den individuellen Gliedem und den gemeinsamen Einrichtungen ermöglicht wird. Die Wirkungsweise der in der Fig. 3 dargestellten Anordnung entspricht der der Fig. 2.In the embodiment shown in FIG. 3 , the relays are switched on via the contacts which produce the flow of current via the voltage divider, which enables not only the saving of contacts, but also that of wires between the individual members and the common devices. The mode of operation of the arrangement shown in FIG. 3 corresponds to that of FIG. 2.

Claims

PATENT CLAIMS: 1. Circuit arrangement for an electrical test multiple for telecommunications, in particular telephone systems, in which a first type of device (e.g. individual members) are to be connected to a second type of device (e.g. common devices) and double connections This can be prevented by simultaneously checking relays by jointly using a voltage division and a current branching in a two-wire multiple circuit receiving fault current, according to patent 919479, characterized in that one type of device (e.g. the individual devices Jl, J2) one over all of these (fl, f2) extending multiple circuit according a to (z. B. common devices Gl, G) in common and all the facilities of the second type extending multiple circuit is assigned individually and each z from each occupying means (., G 1, G 2) from directly switchable test relays (P1, P2) on the one hand to a wire d he joint and each represents a test relay (eg. B. Pl) on the other hand is connected to a wire of each individual multiple circuit and by applying a further current branch to the contacts that switch on the voltage dividers (R 21, Rg) (e.g. 1 c 11, le21) the effective excitation of one and the same checking relay (e.g. P1) is prevented by several devices (G1, G2).

2. Circuit arrangement for an electrical test multiple, in which, depending on the state of the switching means influenced by a partial voltage tapped off by the voltage divider, the switch-on circuits for the relay testing are switched to low or high resistance, according to spoke 1, characterized in that when one and the same relay is switched on ( z. B. Pl) from several devices (G1, G2) via the latter assigned resistors (R 11, R12) the voltage divider (at the resistor Rg) tapped off partial voltage is influenced in such a way that the switching means connected to the voltage divider (T1, T2 ) switch the switch-on circuit for the said relay (P1) to high resistance. 3. Circuit arrangement according to claim 2, characterized in that the resistors (Rll, R12) assigned to the devices (G1, G2) are in the switch-on circuits of the relays (P1, P2). Documents considered: German Patent No. 939 515.