DE1088249B

DE1088249B - spectrometer

Info

Publication number: DE1088249B
Application number: DE1955P0014376
Authority: DE
Inventors: Albert Edward Martin
Original assignee: CA Parsons and Co Ltd
Current assignee: CA Parsons and Co Ltd
Priority date: 1954-07-01
Filing date: 1955-06-29
Publication date: 1960-09-01

Description

Spektrometer Die vorliegende Erfindung bezieht sich auf Spektrometer, bei welchen ein ebenes Beugungsgitter zur Erzeugung der Spektren verwendet wird.Spectrometers The present invention relates to spectrometers, in which a flat diffraction grating is used to generate the spectra.

Die Erfindung ist insbesondere, wenn auch nicht ausschließlich, auf Infrarot-Spektrometer anwendbar. The invention is particularly, though not exclusively, on Infrared spectrometer applicable.

Bei solchen Spektrometern läßt man eine parallele Strahlung auf ein ebenes Gitter fallen, welch letzteres entweder ein Original oder eine Nachbildung des Originals sein kann. Die Strahlen erleiden an dem Gitter eine Beugung, und zwar werden einige der gebeugten Strahlen einander verstärken, wenn die folgende Gleichung erfüllt wird: d sin i1 + d sin i2 = n. With such spectrometers a parallel radiation is allowed to enter flat lattice fall, the latter either an original or a replica of the original. The rays undergo diffraction at the grating, namely some of the diffracted rays will reinforce each other if the following equation the following is fulfilled: d sin i1 + d sin i2 = n.

In dieser Gleichung ist d der gegenseitige Abstand der auf dem Gitter eingeritzten Linien, i, ist der Einfallswinkel, i2 ist der Beugungswinkel, Ä ist die Wellenlänge der betreffenden Wellen, und n ist eine ganze Zahl, die die Ordnungszahl des Spektrums angibt. In this equation, d is the mutual distance on the grid incised lines, i, is the angle of incidence, i2 is the angle of diffraction, λ is the wavelength of the waves in question, and n is an integer which is the atomic number of the spectrum.

Diese Gleichung wird häufig als die Gittergleichung bezeichnet. This equation is often referred to as the lattice equation.

Die Fig. 1 der schematischen Zeichnungen bezieht sich auf die obige Gleichung. Figure 1 of the schematic drawings relates to the above Equation.

Bei Infrarot-Spektrometern wird im allgemeinen eine Littrow-Anordnung eines ebenen Gitters verwendet; in diesem Falle erhält die Gittergleichung die Form 2 d sin i = ni, worin il = i2 = Wird das Gitter mit konstanter Winkelgeschwindigkeit gedreht, dann ist dA di auch wegen dt dt auch d t konstant, vorausgesetzt, daß i klein ist, und man erhält eine enge Annäherung an eine lineare Wellenlängenskala. i nimmt jedoch häufig recht große Werte an - 45C oder darüber -, und dann wird, wenn man sin i durch i ersetzt, der sich daraus ergebende Fehler ganz erheblich. In the case of infrared spectrometers, a Littrow arrangement is generally used a flat grid used; in this case the lattice equation is given the form 2 d sin i = ni, where il = i2 = becomes the grid with constant angular velocity rotated, then dA di is also constant because of dt dt, provided that i is small and a close approximation of a linear wavelength scale is obtained. However, i often takes on quite large values - 45C or above - and then, if one replaces sin i by i, the resulting error is quite considerable.

Das Ziel der vorliegenden Erfindung ist die Schaffung einer Vorrichtung, durch welche das Gitter, beispielsweise durch eine Schraube, derart gedreht werden kann, daß man ein lineares Verhältnis zwischen der Wellenlänge und der Anzahl der Gewindegänge der Schraube erhält. Durch das geeignete Eichen der Schraube oder bei Verwendung einer Mikrometerschraube ist es möglich, an der Schraube selbst die Wellenlänge direkt in Mikron abzulesen, vorausgesetzt, daß die Vorrichtung zweckmäßige Abmessungen erhält. The aim of the present invention is to provide a device by which the grid, for example by a screw, can be rotated in this way can that one has a linear relationship between the wavelength and the number of Threads of the screw. With the appropriate calibration of the screw or with Using a micrometer screw it is possible to adjust the wavelength on the screw itself read directly in microns provided the device is of suitable dimensions receives.

Die vorliegende Erfindung bezieht sich demnach auf eine Vorrichtung, um einem ebenen Beugungsgitter in einem Spektrometer mit festem Kollimator oder Spaltrohr eine Drehbewegung zu erteilen, und ist dadurch gekennzeichnet, daß zur Vornahme der um eine Achse parallel zu den Gitterlinien auszuführenden Drehbewegung in an sich bekannter Weise ein am Gitter starr befestigter Hebel vorgesehen ist, der, wie an sich bekannt, mit Verstellmitteln zusammenwirkt und mit ihnen Berührung hat, wobei der Teil des Hebelarmes, der mit den Verstellmitteln direkte oder indirekte Berührung hat, einen kreisförmigen Querschnitt aufweist und die Anordnung so getroffen ist,. daß in einer Ebene senkrecht zur Drehachse des Gitters eine durch die Mitte des Kreisquerschnittes und die Drehachse des Gitters gehende Gerade (AB) einen Winkel (BAU) mit einer Geraden (AH) bildet, die in einer die Gitterachse enthaltenden und senkrecht zur Bewegungsrichtung des Teiles der Verstellmittel, der in Berührung mit dem Hebelende ist, stehenden Ebene liegt, welcher Winkel (BA H) gleich dem arithmetischen Mittel der Einfalls- und Beugungswinkel der auf das Gitter- fallenden Strahlen ist, so daß eine Verschiebung der Mitte des Kreisquerschnittes längs einer Geraden (BH) parallel zur Projektion in die Bezugsebene (senkrecht zur Drehachse des Gitters stehende Ebene) der Bewegungsgeraden des Teiles der Verstellmittel, der in Berührung mit dem Hebelende ist, proportional der Lageänderung des Verstellgliedes ist, das für eine direkte Anzeige der Wellenlänge eine gleichmäßige Teilung aufweist. The present invention therefore relates to a device around a flat diffraction grating in a spectrometer with a fixed collimator or Can give a rotary movement, and is characterized in that for Carrying out the rotary movement to be carried out around an axis parallel to the grid lines a lever rigidly attached to the grid is provided in a manner known per se, which, as is known per se, interacts with adjusting means and makes contact with them has, the part of the lever arm that is directly or indirectly connected to the adjustment means Has contact, has a circular cross-section and so made the arrangement is,. that in a plane perpendicular to the axis of rotation of the grid one through the center of the circular cross-section and the axis of rotation of the grid straight line (AB) an angle (BAU) forms with a straight line (AH) which is in a line containing the grid axis and perpendicular to the direction of movement of the part of the adjustment means that is in contact with the lever end is standing plane, which angle (BA H) is equal to the arithmetic Mean is the angle of incidence and diffraction of the rays falling on the grating, so that a shift of the center of the circular cross-section along a straight line (BH) parallel to the projection into the reference plane (perpendicular to the axis of rotation of the grid standing plane) of the straight line of movement of the part of the adjusting means that is in contact with the lever end is proportional to the change in position of the adjusting member which is evenly divided for a direct display of the wavelength.

Die Fig. 1 zeigt den Weg der einfallenden Strahlen und denjenigen der gebeugten Strahlen. Fig. 1 shows the path of the incident rays and those of the diffracted rays.

Die Fig; 2 bis 4 zeigen verschiedene Ausführungsformen der vorliegenden Erfindung. The fig; 2-4 show various embodiments of the present invention Invention.

Bei der in Fig. 2 dargestellten Ausführungsform des erfindungsgemäßen Geräts ist ein Hebel A-B starr an einem ebenen Beugungsgitter G bei A befestigt. In the embodiment of the invention shown in FIG Device, a lever A-B is rigidly attached to a flat diffraction grating G at A.

Dieser Hebel wird mittels einer Feder S mit seinem anderen Ende B in Berührung mit einem auf der Mikrometerschraube III sitzenden Bauteil gehalten.This lever is by means of a spring S with its other end B. held in contact with a component seated on the micrometer screw III.

Dieser Bauteil P besitzt eine ebene Oberfläche, welche im rechten Winkel zu der Achse der Schraube steht, und auf dieser Oberfläche kann das kugelförmige Ende des Hebels AB gleiten oder sich drehen. Anstatt des dargestellten kugelförmigen Endes kann das Ende des Hebels auch zylindrisch sein oder mit einer Rolle versehen werden.This component P has a flat surface, which in the right Angle to the axis of the screw stands, and on this surface the spherical Slide or rotate end of lever AB. Instead of the spherical one shown The end of the lever can also be cylindrical or provided with a roller will.

Um eine genau lineare Skala in den Fällen zu erhalten, wo der Einfallswinkel der Strahlen gleich dem Beugungswinkel ist, wie z. B. bei der Littrow-Anordnung, ist es notwendig, den Winkel B AH gleich dem Einfallswinkel der auf das Gitter auffallenden Strahlung zu. machen, wobei AH unter einem rechten Winkel zu der Achse der Mikrometerschraube M steht. Wenn diese Winkel für die eine Einstellung des Gitters gleich sind, dann bleiben sie natürlich auch für alle anderen Einstellungen gleich, vorausgesetzt, daß das Gitter so wie dargestellt eingebaut wird, d. h., der Einbau erfolgt so, daß der Einfallswinkel und der Winkel BXH bei der Drehung des Gitters gemeinsam zunehmen bzw. abnehmen. To get an exactly linear scale in the cases where the angle of incidence the rays is equal to the diffraction angle, e.g. B. in the Littrow arrangement, it is necessary to make the angle B AH equal to the angle of incidence of the incident on the grating Radiation too. make, with AH at a right angle to the axis of the micrometer screw M stands. If these angles are the same for one setting of the grille, then of course, they remain the same for all other settings, provided that that the grille is installed as shown, d. h., the installation takes place in such a way, that the angle of incidence and the angle BXH common to the rotation of the grating increase or decrease.

Es sei angenommen, daß bei der Wellenlänge in Mikron der Einfallswinkel gleich i ist, während bei der Wellenlänge Ä +1 [] der Winkel auf i+a vergrößert und die Mikrometereinstellung um einen Betrag h größer wird, dann ist, da für die erste Ordnung sind= 31 - BH 2d AB und +1 (z'+ = n + 1 BH+h sin(i+a)= 2d = AB 1/2d = h/AB . Assume that the wavelength in microns is the angle of incidence is equal to i, while at the wavelength λ +1 [] the angle increases to i + a and the micrometer setting increases by an amount h, then there is for the first order are = 31 - BH 2d AB and +1 (z '+ = n + 1 BH + h sin (i + a) = 2d = AB 1 / 2d = h / AB.

Wenn also h = 0,1" am Mikrometer ist, dann stellt 0,1" stets das gleiche Wellenlängen-Jntervall für jede beliebige Einstellung des Gitters dar, und wenn zusätzlich AB [in Zoll] = 0,2 d [in Mikron] ist, dann stellt 0,1" genau 1 Mikron in der ersten Ordnung, 0,5 Mikron in der zweiten Ordnung usw. dar. Wenn beispielsweise das Gitter 2400 Linien pro Zoll hat, dann ist d = 10,583 Mikron und AB = 2,1167 Zoll. So if h = 0.1 "at the micrometer, then 0.1" always represents that represent equal wavelength intervals for any setting of the grating, and in addition, if AB [in inches] = 0.2 d [in microns], then 0.1 "is exactly 1 micron in the first order, 0.5 microns in the second order, etc. If, for example if the grid is 2400 lines per inch then d = 10.583 microns and AB = 2.1167 Customs.

Unter der Länge AB in der obigen Gleichung ist für die in Fig. 2 dargestellte Ausführung die Länge längs des Hebels, gemessen zwischen dem Punkt A an dem Hebel, um welchen sich das Gitter dreht, und dem Mittelpunkt des Hebelendes zu verstehen. Below the length AB in the above equation is for that in FIG The embodiment shown is the length along the lever, measured between the point A on the lever around which the grille rotates and the center of the lever end to understand.

Die Fig. 3 stellt eine wahlweise Ausführungsform der vorliegenden Erfindung dar, wobei ABCD ein Parallelogramm ist, gebildet aus den starr angelenkten Gliedern AB, BC, CD und DA, und dieses letztgenannte Glied in seiner Lage fest ist. Wenn also der Winkel DA B geändert wird, ist BC stets parallel zu A D. G ist das Gitter, welches so angebracht ist, daß es starr mit AB verbunden ist und der Drehpunkt der Gittervorderseite sich bei A befindet. Das Verbindungsglied AD D ist nicht jeweils erforderlich, da A und D am Sockel des Spektrometers fest angebrachte Drehzapfen sind. An dem Glied B C ist ein Querstück E F unter rechtem Winkel zu dem ersteren befestigt. Figure 3 illustrates an optional embodiment of the present invention Invention represent, where ABCD is a parallelogram, formed from the rigidly hinged Links AB, BC, CD and DA, and this latter link is fixed in its position. So when the angle DA B is changed, BC is always parallel to A D. G is that Grid, which is attached so that it is rigidly connected to AB and the pivot point the front of the grille is at A. The link AD D is not each required because A and D are fixed pivot pins on the base of the spectrometer are. On link B C is a cross piece E F at right angles to the former attached.

Dieses Querstück ruht auf dem vorzugsweise kugelförmig gestalteten (hier nicht dargestellt) Ende einer Mikrometerschraube M.This cross piece rests on the preferably spherical (not shown here) end of a micrometer screw M.

Eine Feder S ist vorgesehen, um zwischen EF und der Mikrometerschraube eine dauernde Berührung aufrechtzuerhalten. A spring S is provided to between EF and the micrometer screw to maintain constant contact.

Wie zuvor wird auch hier der Winkel BAH gleich dem Einfallswinkel gemacht, und AB in Zoll wird zahlenmäßig gleichgesetzt 0,2d Mikron, mit dem Ergebnis, daß 0,1 Zoll genau 1 Mikron in der ersten Ordnung usw. darstellt. As before, the angle BAH here also becomes equal to the angle of incidence made, and AB in inches is numbered equal to 0.2d microns, with the result, that 0.1 inch represents exactly 1 micron in the first order, and so on.

Die Fig. 4 stellt eine wahlweise Form der Übertragung der Mikrometerbewegung auf das Glied B C nach Fig. 3 dar. Das Querstück EF trägt hier eine in geeigneter Weise angebrachte Rolle J, welche so angeordnet ist, daß sie sich an die Oberfläche einer flachen Scheibe P, die auf der Mikrometerschraube M sitzt, anlegt. Die Achse der Mikrometerschraube M steht parallel zu B C. Die Oberfläche der Scheibe steht genau unter rechtem Winkel zu der Achse der Mikrometerschraube und ist groß genug, um bei der Drehung der Schraube die seitliche Bewegung der Rolle zu gestatten. Figure 4 illustrates an optional form of transmission of micrometer motion on the link B C according to FIG. 3. The crosspiece EF carries a suitable one here Wisely attached roller J, which is arranged so that it rises to the surface a flat washer P, which sits on the micrometer screw M, applies. The axis the micrometer screw M is parallel to B C. The surface of the disk is exactly at right angles to the axis of the micrometer screw and is large enough to allow the roller to move sideways as the screw rotates.

Das Ende des Querstücks könnte natürlich kugelförmig sein. The end of the crosspiece could of course be spherical.

Für den allgemeineren Fall, wo Einfalls- und Beugungswinkel verschieden voneinander sind, kann man die Gleichung aufstellen: d [sin i1 + sin (i1 + #) ] = n#. For the more general case where the angles of incidence and diffraction are different are from each other, one can set up the equation: d [sin i1 + sin (i1 + #)] = n #.

Hierin ist <3= 8 - i1 und für ein gegebenes Spektrometer eine Konstante. Herein <3 = 8 - i1 and for a given spectrometer one Constant.

Nunmehr ist also und wiederum kann man wie bei der Formgebung nach den Fig. 2 und 3 eine genaue lineare Skala erhalten, wenn der Winkel BAH gleich ii + 6 wird, und a wenn AB B zahlenmäßig gleichgesetzt wird 2 d h cos-2, dann entspricht eine Differenz in der Mikrometerablesung von »h« einer Wellenlängendifferenz von 1 Mikron. -Ist beispielsweise h = 0,1 Zoll und soll es 1 Mikron darstellen, dann muß die Länge von AB in Zoll gleich 0,2d d cos 2 sein. Wie zuvor stellt auch hier das Maß 0,1 Zoll am Mikrometer den Wert von 0,5 Mikron in der zweiten Ordnung dar, usw.So now is and again, as with the shaping according to FIGS. 2 and 3, a precise linear scale can be obtained if the angle BAH is equal to ii + 6, and a if AB B is numerically equated to 2, ie cos-2, then a difference corresponds to in the micrometer reading of "h" with a wavelength difference of 1 micron. -If, for example, h = 0.1 inch and you want it to be 1 micron, then the length of AB in inches must be 0.2d d cos 2. As before, the 0.1 in. Micrometer dimension represents the second order value of 0.5 microns, and so on.

Bei allen oben angeführten Beispielen für die Erfindung wurde angenommen, daß der Hebel, die Mikrometerschraube und die einfallende Strahlung alle in der gleichen Ebene gelegen sind, d. h. also in einer Ebene, welche im rechten Winkel zu der Ebene der Gitterlinien gelegen ist. In all of the above examples for the invention, it was assumed that the lever, the micrometer and the incident radiation are all in the are located on the same level, d. H. so in a plane which is at right angles is located to the plane of the grid lines.

Falls jedoch die Mikrometerschraube und der Hebel in verschiedenen Ebenen gelegen sind, gelten die Gleichungen immer noch, vorausgesetzt, daß die verwendeten Winkel bezogen werden auf die Projektionen der Drehachse der Mikrometerschraube oder des Hebels oder auch beider in eine Ebene, die rechtwinklig auf der der Ebene der Gitterlinien steht. In gleicher Weise muß bei den Gleichungen für die Länge des Betätigungshebels die Länge der Projektion des Betätigungshebels in eine Ebene, die rechtwinklig auf der Ebene der Gitterlinien steht, genommen werden. However, if the micrometer screw and the lever are in different Planes are located, the equations still hold, provided that the used Angles are related to the projections of the axis of rotation of the micrometer screw or the lever or both in a plane that is at right angles to that of the plane of the grid lines. In must be the same with the equations for the length of the operating lever, the length of the projection of the operating lever in a plane which is at right angles to the plane of the grid lines.

Der in den Ansprüchen enthaltene Winkel B ist der Winkel, den eine den Angriffspunkt des Betätigungshebels an der Drehachse des Gitters und die Mitte des kreisförmigen Querschnittes des Hebelendes verbindende Gerade mit einer Ebene bildet, die rechtwinklig auf der Ebene der Gitterlinien steht. The angle B contained in the claims is the angle that one the point of application of the operating lever on the axis of rotation of the grid and the center of the circular cross-section of the lever end connecting straight line with a plane forms, which is at right angles to the plane of the grid lines.

Wenn die Achse der Mikrometerschraube einen Winkel mit der rechtwinklig auf der Ebene der Gitterlinien stehenden Ebene einschließt, dann lautet die entsprechende Gleichung für die Länge des Hebelarms oder von dessen Projektion AB in die Ebene, die rechtwinklig zu der Ebene der Gitterlinien steht: AB = dh sec 0 cos 8, und zwar für den Fall, daß das Anbauteil der Mikrometerschraube unter rechtem Winkel zu deren Achse angebracht ist und daß sich dieses Anbauteil in Berührung mit dem Hebel bzw. dem Hebelbetätigungsmittel nach den Fig. 2 und 4 befindet. Dabei bedeutet 0 den Winkel zwischen der Achse der Mikrometerschraube und einer Ebene, die senkrecht auf der Ebene der Gitterlinien steht. If the axis of the micrometer screw is at an angle with the right angle includes the plane standing on the plane of the grid lines, then the corresponding one reads Equation for the length of the lever arm or its projection AB into the plane, which is perpendicular to the plane of the grid lines: AB = ie sec 0 cos 8, namely in the event that the attachment of the micrometer screw is at right angles to their Axle is attached and that this attachment is in contact with the lever or the lever actuating means according to FIGS. 2 and 4 is located. 0 means the Angle between the axis of the micrometer screw and a plane that is perpendicular stands at the level of the grid lines.

Im Falle der in der Fig. 3 dargestellten Formgebunz errechnet sich jedoch die Länge von AB nach der Formel PATENTANSPROCEXE: 1. Vorrichtung, um einem ebenen Beugungsgitter in einem Spektrometer mit festem Kollimator oder Spaltrohr eine Drehbewegung zu erteilen, dadurch gekennzeichnet, daß zur Vornahme der um eine Achse parallel zu den Gitterlinien auszuführenden Drehbewegung in an sich bekannter Weise ein am Gitter starr befestigter Hebelvorgesehen ist, der, wie an sich bekannt, mit Verstellmitteln zusammenwirkt und mit ihnen Berührung hat, wobei der Teil des Hebelarmes, der mit den Verstellmitteln direkte oder indirekte Berührung hat, einen kreisförmigen Querschnitt aufweist und die Anordnung so getroffen ist, daß in einer Ebene senkrecht zur Drehachse des Gitters eine durch die Mitte des Kreisquerschnittes und die Drehachse des Gitters gehende Gerade (AB) einen Winkel (BAH) mit einer Geraden (AH) bildet, die in einer die Gitterachse enthaltenden und senkrecht zur Bewegungsrichtung des Teiles der Verstellmittel, der in Berührung mit dem Hebelende ist, stehenden Ebene liegt, welcher Winkel (B AH) gleich dem arithmetischen Mittel der Einfalls- und Beugungswinkel der auf das Gitter fallenden Strahlen ist, so daß eine Verschiebung der Mitte des Kreisquerschnittes längs einer Geraden (BH) parallel zur Projektion in die Bezugsebene (senkrecht zur Drehachse des Gitters stehende Ebene) der Bewegungsgeraden des Teiles der Verstellmittel, der in Berührung mit dem Hebelende ist, proportional der Lageänderung des Verstellgliedes ist, das für eine direkte Anzeige der Wellenlänge eine gleichmäßige Teilung aufweist.In the case of the shape shown in FIG. 3, however, the length of AB is calculated according to the formula PATENTANSPROCEXE: 1. Device to give a flat diffraction grating in a spectrometer with a fixed collimator or can a rotary movement, characterized in that a lever rigidly attached to the grating is provided in a known manner to perform the rotary movement to be carried out about an axis parallel to the grating lines which, as known per se, cooperates with adjusting means and has contact with them, the part of the lever arm which has direct or indirect contact with the adjusting means has a circular cross-section and the arrangement is made so that perpendicular in a plane to the axis of rotation of the grid, a straight line (AB) passing through the center of the circular cross-section and the axis of rotation of the grid forms an angle (BAH) with a straight line (AH) in a line containing the grid axis and perpendicular to the direction of movement of the part of the adjusting means, which in Contact with the end of the lever is standing plane, which angle (B AH) is equal to the arithmetic mean of the angles of incidence and diffraction of the rays falling on the grating, so that a shift of the center of the circular cross-section along a straight line (BH) parallel to the projection into the reference plane (plane perpendicular to the axis of rotation of the grating) the straight line of movement of the part of the adjusting means which is in contact with the lever end is proportional to the change in position of the adjusting member, which has a uniform division for a direct display of the wavelength.

Claims

2. Apparatus according to claim 1, characterized in that the Actuator is a screw.

3. Apparatus according to claim 2, characterized in that the Screw moves a component with a flat surface, with the latter always remains parallel to a fixed plane and the end of the remote from the grid Lever is kept in contact with the flat surface and has a circular cross-section having.

4. Apparatus according to claim 3, characterized in that the End of the lever which is in contact with the flat surface, spherical is.

5. Apparatus according to claim 3, characterized in that the End of the lever, which is in contact with the flat surface, from a Role exists.

6. Device according to any one of claims 3 to 5, characterized in that that the distance between the pivot point of the grid and the second fixed point the lever on a perpendicular to that through the screw through the point of contact moving flat surface in case the flat surface is under at any time is held at a right angle to the axis of rotation of the screw, equated numerically is measured to a value of 2d h cos-2 sec ç sec B, where d is the lattice constant in microns, 8 is the difference between the angle of diffraction and the angle of incidence of the rays falling on the grid, h is the movement of the screw in the direction its axis of rotation is corresponding to a wavelength difference of 1 micron Angle is what the axis of rotation of the screw is with a perpendicular to the grid lines lying plane, and fl is the angle at which the line forms the center point the rotation of the grid and the mentioned second fixed point on the lever with each other connects, includes with the same plane.

7. The device according to claim 2, characterized in that the Lever is one of four rigid structural elements, all arranged in the same plane and are hinged to each other so that they form a parallelogram, the rigid Components consist of a first component, which is spatially fixed, a second and third element, which are hinged to said first element are, as well as a fourth element, which is attached to the second and the third element is articulated, said fourth element being actuated by the screw and the diffraction grating is attached to the second element directly next to the point where the latter is hinged to the first component.

8. The device according to claim 2, characterized in that the Lever is one of four rigid structural elements that are hinged together in such a way are that they form a framework, its projection on a plane that is in the right Angle to the grid lines is a parallelogram, whereby the framework mentioned consists of a first component, which is spatially fixed, and a second and third element hinged to said first element, as well as a fourth element, which is articulated to the second and the third element, said fourth element being actuated by the screw and the diffraction grating is attached to the second element, namely right next to the point where the latter is hinged to the first component.

9. Apparatus according to claim 7 or 8, characterized in that the solid component, d. H. so the first of the components mentioned is replaced by means of two fixed pivot pins around which the second and third structural elements are rotated can turn.

10. Device according to any one of claims 7 to 9, characterized in that that the fourth component has a part protruding at a right angle, which is held in direct contact with the end of the screw.

11. The device according to claim 10, characterized in that the protruding part of the fourth component in permanent contact with a component is held, which is moved by the screw, said component presents a flat surface that always remains parallel to a solid plane and thereby touching the protruding part, the latter being further shaped is that the distance between a fixed point on the mentioned part, on a Perpendiculars erected on the flat surface through the point of contact and the point of contact remains constant.

12. The device according to claim 11, characterized in that the protruding part has a spherical or cylindrical surface, which with the flat surface of the component moved by the screw stands.

13. The device according to claim 11 or 12, characterized in that that the length of the second component in the case where the flat surface at any time is held at a right angle to the axis of rotation of the screw, numerical moderate is set equal to a value of 2 d h - cos 82 seci sec, S, where d is the lattice con-2 ' constant in microns, 8 equal to the difference between the angle of diffraction and the angle of incidence of the rays falling on the grid, h the movement of the screw in the direction of its Axis of rotation corresponding to a wavelength difference of 1 micron, 0 the angle which the axis of rotation of the screw with a perpendicular to the grid lines Includes plane, and ß is the angle which the mentioned second component includes with the same level.

14. The device according to claim 10, characterized in that the protruding part of the fourth component, which is in contact with the screw stands, is flat.

15. The device according to claim 14, characterized in that the The length of the second component is numerically equated to a value of 2 d h 2d, tcos-2 cos 2 sec 0 sec β, where d is the lattice constant in microns, 8 equal to that Difference between the diffraction angle and the angle of incidence on the grating falling rays, the movement of the screw in the direction of its axis of rotation is accordingly a wavelength difference of 1 micron, 0 is the angle made by the axis of rotation of the Includes screw with a plane perpendicular to the grid lines, and fl is the angle which the mentioned second building element with the same plane includes.

16. Device according to any one of claims 1 to 15, characterized characterized in that the screw is a micrometer screw.

Documents considered: British Patent Specification No. 631 748, 731 943; U.S. Patent No. 2,330,694.