DE10321806A1 - Recognizing foreign gas in optical imaging and/or beam guiding systems comprises using protective gas in investigative volume which is subjected to intensity-modulated electromagnetic analysis wave field - Google Patents
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- G01N21/1702—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated with opto-acoustic detection, e.g. for gases or analysing solids
Abstract
Description
Die Erfindung betrifft ein Verfahren und eine Anordnung zur Erkennung von Fremdgasen bzw. Verunreinigungen im Strahlengang optischer Abbildungs- oder Strahlführungssysteme gemäß dem Oberbegriff der Patentansprüche 1 und 16.The The invention relates to a method and an arrangement for detection of foreign gases or impurities in the beam path of optical imaging or beam delivery systems according to the generic term of claims 1 and 16.
Bei optischen Abbildungs- oder Strahlführungssystemen, wie sie in der Halbleiterindustrie zum Belichten von Wafern oder bei leistungsstarken Laserschneid- oder Laserschweißanlagen eingesetzt werden, wird der gesamte Strahlengang mit einem extrem reinen Gas, welches das verwendete Laserlicht oder allgemeiner die verwendeten elektromagnetischen Wellen nicht absorbiert, gefüllt. Hierdurch sollen störende Einflüsse von Fremdgasen oder anderen Verunreinigungen wie sehr feinen Aerosolen oder Rauch- oder Staubpartikeln auf die Abbildungseigenschaften ausgeschlossen werden. Kann das optische System nicht hinreichend dicht aufgebaut werden, so wird der gesamte Strahlengang mit einem extrem reinen Gas langsam durchspült. Ein Durchspülen des Strahlenganges kann aber auch dann notwendig werden, wenn einige der beim Aufbau des optischen Systems verwendeten Komponenten ausgasen und somit – meist sehr langsam und schwer vorhersehbar – Fremdgase in den Strahlengang gelangen. Der Einsatz sehr reiner Schutzgase verursacht jedoch sehr hohe Kosten.at optical imaging or beam guidance systems, as in the semiconductor industry for exposure of wafers or high-performance Laser cutting or laser welding systems are used, the entire beam path with an extreme pure gas, which is the laser light used or more generally the used electromagnetic waves are not absorbed, filled. This is supposed to disturbing influences of foreign gases or other contaminants such as very fine aerosols or Smoke or dust particles excluded on the imaging properties become. If the optical system cannot be built up sufficiently densely, the entire beam path becomes slow with an extremely pure gas flushed. A rinse the beam path may also be necessary if some outgas the components used in the construction of the optical system and therefore - mostly very slow and difficult to predict - foreign gases in the beam path reach. However, the use of very pure protective gases causes a lot high costs.
Bei Laserbearbeitungsmaschinen wird es zunehmend wichtiger den Strahlengang mit weit weniger reinen Gasen spülen zu können, da hier der Gasverbrauch aufgrund der nur bedingt möglichen Dichtheit eines solchen Strahlführungssystems, hervorgerufen durch die sehr komplexen Komponenten und auch teils sehr lange Strahlführung, naturgemäß hoch ist. Hieraus ergibt sich dann die Notwendigkeit, die verwendeten Gase genauer zu analysieren, um die Abbildungseigenschaften solcher Systeme nicht durch zu stark verunreinigte Schutzgase zu beeinflussen. Es wurde bereits vorgeschlagen, eine Gasanalyse mittels Massenspektrometer durchzuführen, doch ist diese Art der Analytik eher für den Laborbereich, nicht aber für die kontinuierliche Überwachung geeignet, da sowohl die Kosten für solch eine Messtechnik als auch der personelle Aufwand sehr hoch sind.at Laser processing machines make it increasingly important the beam path flush with far less pure gases to be able because here the gas consumption due to the limited tightness possible of such a beam guidance system, caused by the very complex components and also partly very long beam guidance, is naturally high. This then results in the need for the gases used analyze more closely to the imaging properties of such systems not influenced by protective gases that are too contaminated. It A gas analysis using a mass spectrometer has already been proposed perform, yes this type of analysis is more for the laboratory area, but not for the suitable for continuous monitoring, because both the cost of such a measuring technique and the personnel expenditure are very high.
Hiervon ausgehend liegt der Erfindung die Aufgabe zugrunde, bei einem Verfahren und einer Anordnung der eingangs genannten Art die Einflüsse von im Schutzgas befindlichen Fremdstoffen auch unter rauen Einsatzbedingungen rasch und zuverlässig zu erfassen bzw. zu bewerten.Of these, based on the object of the invention, in a method and an arrangement of the type mentioned the influences of Foreign substances in the protective gas, even under harsh operating conditions quickly and reliably to record or evaluate.
Zur Lösung dieser Aufgabe werden die in den unabhängigen Patentansprüchen an gegebenen Merkmalskombinationen vorgeschlagen. Vorteilhafte Ausgestaltungen und Weiterbildungen der Erfindung ergeben sich aus den jeweils abhängigen Ansprüchen.to solution this task will be the combinations of features given in the independent claims proposed. Advantageous refinements and developments the invention result from the respective dependent claims.
Die Erfindung geht von der Erkenntnis aus, daß bei optischen Systemen, die zwischen den einzelnen optischen Komponenten (wie etwa Spiegeln, Strahlteilern, Linsen, optischen Gittern oder Prismen) Gase enthalten, die optischen Eigenschaften vom Brechungsindex des verwendeten Gases abhängen. Der wesentliche Einfluss von Fremdgasen oder anderen Verunreinigungen, welche diese, das optische System durchstrahlenden, elektromagnetischen Nutzwellenfelder absorbieren, ist dann darin zu sehen, daß diese Fremdgase oder Verunreinigungen lokal oder auch im gesamten Strahlengang des Nutzwellenfeldes zu einer Erwärmung des verwendeten Schutzgases führen und damit den Brechungsindex des Gases und somit die Abbildungseigenschaften verändern.The Invention is based on the knowledge that in optical systems that between the individual optical components (such as mirrors, beam splitters, Lenses, optical gratings or prisms) contain gases that are optical Properties depend on the refractive index of the gas used. The significant influence of foreign gases or other impurities, which these electromagnetic useful wave fields radiating through the optical system absorb, it can then be seen in the fact that these foreign gases or impurities are local or in the entire beam path of the useful wave field to one warming of the shielding gas used and thus the refractive index of the gas and thus the imaging properties change.
Um diese Einflüsse von Fremdgasen oder Verunreinigungen auf die optischen Eigenschaften optischer Systeme sicher erkennen zu können, wird gemäß der Erfindung vorgeschlagen, daß das den Strahlengang und meist auch die optischen Komponenten umgebende Schutzgas mittels des photoakustischen Effektes auf solche Fremdgase oder Verunreinigungen hin untersucht wird. Hierbei wird das zu untersuchende Schutzgas in einem Untersuchungsvolumen einem von einer Strahlquelle (beispielsweise von einem Laser) emittierten, intensitätsmodulierten elektromagnetischen Analysewellenfeld ausgesetzt. Wird dieses Wellenfeld so gewählt, daß zumindest Frequenzanteile dieser Wellen von den Fremdgasen oder Verunreinigungen absorbiert werden können, so wird ein Teil der Moleküle und/oder Atome der Fremdgase oder Verunreinigungen durch Absorption der elektromagnetischen Wellen in einen energetisch angeregten Zustand gebracht. Durch Stöße mit anderen Molekülen oder Atomen in dem Untersuchungsvolumen können die angeregten Moleküle oder Atome ihre Anregungsenergie ganz oder teilweise abgeben und beispielsweise in Translations-, Rotations-, und Schwingungsenergie der Stoßpartner umwandeln. Die Erhöhung der Translationsenergie der im Untersuchungsvolumen vorhandenen Moleküle oder Atome bedeutet eine Temperaturerhöhung und damit einen Druckanstieg (photoakustischer Effekt). Durch das in das Untersuchungsvolumen eingestrahlte, periodisch in der Intensität veränderte Wellenfeld, ergeben sich periodische Druckschwankungen. Der große Vorteil dieser Art der Ermittlung der Einflüsse von Fremdgasen oder Verunreinigungen ist in dem direkten Zusammenhang zwischen Erwärmung des Schutzgases und dem der Erkennung dieser Einflüsse dienenden photoakustischen Signale zu sehen. Wollte man hingegen mit Massenspektrometern arbeiten, müßten hierzu erst alle in Betracht kommenden Fremdgase oder Verunrei nigungen erkannt und eindeutig identifiziert werden, deren Konzentration ermittelt werden und über ein umfangreiches Tabellenwerk die daraus zu erwartenden thermischen Einflüsse errechnet werden.In order to be able to reliably recognize these influences of foreign gases or impurities on the optical properties of optical systems, it is proposed according to the invention that the protective gas surrounding the beam path and usually also the optical components is examined for such foreign gases or impurities by means of the photoacoustic effect. In this case, the shielding gas to be examined is exposed in an examination volume to an intensity-modulated electromagnetic analysis wave field emitted by a beam source (for example by a laser). If this wave field is chosen so that at least frequency components of these waves can be absorbed by the foreign gases or contaminants, then a part of the molecules and / or atoms of the foreign gases or contaminants is brought into an energetically excited state by absorption of the electromagnetic waves. Due to collisions with other molecules or atoms in the examination volume, the excited molecules or atoms can release all or part of their excitation energy and convert it, for example, into translation, rotation and vibration energy of the collision partners. The increase in the translation energy of the molecules or atoms present in the examination volume means an increase in temperature and thus an increase in pressure (photoacoustic effect). The periodic pressure fluctuations result from the wave field radiated into the examination volume, which periodically changes in intensity. The great advantage of this type of determination of the influences of foreign gases or impurities lies in the direct connection between the heating of the protective gas and the photoacoustic used to detect these influences see signals. If, on the other hand, you wanted to work with mass spectrometers, you would first have to identify and clearly identify all foreign gases or impurities in question, their concentration will be determined and the expected thermal influences can be calculated using a comprehensive table.
Vorteilhafterweise wird das photoakustische Signal als Maß für die veränderten Abbildungseigenschaften des optischen Systems und/oder für die Konzentration der Fremdstoffe herangezogen.advantageously, the photoacoustic signal is used as a measure of the changed imaging properties of the optical system and / or for the concentration of foreign substances is used.
Die spektrale Zusammensetzung kann vorteilhafterweise so gewählt werden, daß das Analysewellenfeld alle oder zumindest einige Frequenzanteile des Nutzwellenfeldes enthält und/oder das Nutzwellenfeld alle und/oder einige Frequenzanteile des Analysewellenfeldes enthält. Eine bevorzugte Ausgestaltung der Erfindung sieht vor, daß die spektrale Zusammensetzung des Nutzwellenfeldes und des Analysewellenfeldes übereinstimmen.The spectral composition can advantageously be chosen so that this Analysis wave field all or at least some frequency components of the Contains useful wave field and / or the useful wave field all and / or some frequency components of the Contains analysis wave field. A preferred embodiment of the invention provides that the spectral The composition of the useful wave field and the analysis wave field match.
Wird beispielsweise bei einer Laserschneidanlage ein CO2-Laser eingesetzt und der Laser im 10,6 μm Bereich so betrieben, daß das emittierte Laserlicht nur die P(16), P(18), P(20), P(22), P(24) und P(30) Linien enthält, so kann zur Abschätzung des Einflusses von Fremdgasen oder Verunreinigungen auf die Abbildungseigenschaften der Laserschneidanlage (und damit auf die Schneidqualität) ein Analyselaserstrahl verwendet werden, der vorzugsweise nur eine, mehrere oder alle dieser Laserlinien oder noch weitere zusätzliche Laserlinien enthält. Enthält der Analyselaserstrahl alle Laserlinien des Nutzlaserstrahls, aber keine weiteren, so kann vorteilhafterweise die Intensitätsverteilung der einzelnen Linien des Analyselaserstrahls gleich der Intensitätsverteilung der Linien des Nutzlaserstrahls (mit welchem geschnitten wird) gewählt werden. Analog kann natürlich auch bei Abbildungssystemen von Belichtungssystemen die Lichtquellen im UV-Bereich einsetzen, oder auch bei Laserfusionsanordnungen usw. verfahren werden.If, for example, a CO 2 laser is used in a laser cutting system and the laser is operated in the 10.6 μm range in such a way that the emitted laser light only the P (16), P (18), P (20), P (22), P (24) and P (30) lines, an analysis laser beam can be used to estimate the influence of foreign gases or impurities on the imaging properties of the laser cutting system (and thus on the cutting quality), which preferably only one, several or all of these laser lines or still contains additional laser lines. If the analysis laser beam contains all laser lines of the useful laser beam, but no further ones, then the intensity distribution of the individual lines of the analysis laser beam can advantageously be selected to be equal to the intensity distribution of the lines of the useful laser beam (with which the cut is made). Analogously, of course, the light sources in the UV range can also be used in imaging systems of exposure systems, or the procedure can also be used in laser fusion arrangements, etc.
Eine bevorzugte Ausgestaltung der Erfindung sieht vor, daß das intensitätsmodulierte Analysewellenfeld dadurch erzeugt wird, daß vorzugsweise mittels eines Strahlteilers oder eines teildurchlässigen Spiegels oder eines mit einer Bohrung versehenen Spiegels oder durch einen Streukörper, wie etwa ein dünner Draht ein geringer Intensitätsanteil aus dem Nutzwellenfeld ausgekoppelt wird.A preferred embodiment of the invention provides that the intensity-modulated Analysis wave field is generated in that preferably by means of a Beam splitter or a partially transparent mirror or one with a drilled mirror or by a diffuser such as a thin one Wire a small amount of intensity the useful wave field is decoupled.
Eine weitere vorteilhafte Ausgestaltung der Erfindung sieht vor, daß das Analysewellenfeld durch ein Pulsen der Anregungsleistung der Strahlquelle oder durch periodisches Ausblenden vorzugsweise mittels eines mechanischen Unterbrecherrades in der Intensität moduliert wird.A Another advantageous embodiment of the invention provides that the analysis wave field by pulsing the excitation power of the beam source or by periodic fading out, preferably by means of a mechanical one Breaker wheel is modulated in intensity.
Bei einigen Lasern, insbesondere bei vielen Eximerlasern, die im UV-Bereich emittieren, kann auch ein zweiter Laserstrahl sehr einfach aus dem Laser ausgekoppelt werden, indem man nicht nur an dem Auskoppelfenster, an welchem der Nutzlaserstrahl aus dem Laser austritt, Laserleistung aus dem Laserresonator auskoppelt, sondern auch an einem Resonatorspiegel oder einem anderen im Resonator befindlichen Bauteil, wie etwa einem Etalon, einen weiteren Laserstrahl mit geringer Laserleistung auskoppelt.at some lasers, especially many eximer lasers that are in the UV range can also emit a second laser beam very easily from the laser be decoupled by not only looking at the decoupling window, at which the useful laser beam emerges from the laser, laser power decouples from the laser resonator, but also on a resonator mirror or another component in the resonator, such as one Etalon, another laser beam with low laser power.
Eine weitere vorteilhafte Ausgestaltung der Erfindung sieht vor, daß das Untersuchungsvolumen innerhalb des Abbildungs- und/oder Strahlführungssystems so angeordnet wird, daß ohne große zeitliche Verzögerungen ein Gasaustausch möglich ist.A Another advantageous embodiment of the invention provides that the examination volume within of the imaging and / or beam guidance system is arranged so that without size time delays gas exchange possible is.
Die in dem Untersuchungsvolumen photoakustisch erzeugten Signale werden vorteilhafterweise in einem beispielsweise als Mikrofon ausgebildeten Schallsensor in elektrische Ausganssignale umgewandelt und unter Bestimmung ihrer Intensität ausgewertet.The signals generated in the examination volume advantageously in a microphone, for example Sound sensor converted into electrical output signals and below Determination of their intensity evaluated.
Eine
weitere vorteilhafte Ausgestaltung der Erfindung sieht vor, daß der Laserstrahl
(Nutzwellenfeld) einer CO2-Laserbearbeitungsanlage,
so wie er beispielsweise im Betrieb aus dem Schneid- oder Schweißkopf (
Im Folgenden wird die Erfindung anhand der zwei Zeichnungen näher erläutert. Die erste Figur zeigt eine schematische Darstellung einer Anordnung zur Erkennung von Fremdgasen oder Verunreinigungen im Strahlengang eines optischen Strahlführungssystems nach dem photoakustischen Prinzip. Die zweite Figur zeigt die Nachweiskammer mit einer Blendenanordnung zur Ausrichtung und/oder Begrenzung des Nutzwellenfeldes.in the The invention is explained in more detail below with reference to the two drawings. The first figure shows a schematic representation of an arrangement for the detection of foreign gases or impurities in the beam path an optical beam guidance system according to the photoacoustic principle. The second figure shows the detection chamber with an aperture arrangement for aligning and / or limiting the Nutzwellenfeldes.
Bei
dem in der ersten Figur dargestellten Laserbearbeitungsgerät emittiert
die als Laser ausgebildete Strahlquelle
Die
Nachweiskammer
Der
Befüllanschluß
Der
Evakuieranschluß
Die Analyse des Schutzgases auf Fremdgase und/oder Verunreinigungen hin wird wie folgt durchgeführt:
- – Evakuierventil
23' wird geöffnet, bis sich ein hinreichend tiefes Vakuum in der Nachweiskammer3 einstellt und/oder unterschritten wird. Das Vakuum kann vorzugsweise mittels eines in der Leitung23 zwischen Evakuierventil23' und Nachweiskammer3 angebrachten Drucksensors gemessen werden; - – sodann
wird das Befüllventil
22' in der Leitung22 geöffnet, um eine Probe des in dem Strahlführungssystem vorhandenen Schutzgases entnehmen zu können; - – sodann
wird nach einer kurzen Wartezeit, vorzugsweise ein bis zwei Sekunden,
in denen die Leitungen
22 ,23 und die Nachweiskammer durchspült werden, das Evakuierventil23' geschlossen. Sobald der in der Leitung23 zwischen Evakuierventil23' und Nachweiskammer3 angebrachte Drucksensor den gewünschten Druck, vorzugsweise Atmosphärendruck anzeigt, wird das Befüllventil22' geschlossen und danach das Schutzgas auf eventuell enthaltene Fremdgase oder Verunreinigungen hin analysiert.
- - evacuation valve
23 ' is opened until there is a sufficiently deep vacuum in the detection chamber3 is set and / or undercut. The vacuum can preferably be by means of a in the line23 between evacuation valve23 ' and detection chamber3 attached pressure sensor can be measured; - - Then the filling valve
22 ' on the line22 opened in order to be able to take a sample of the protective gas present in the beam guidance system; - - Then after a short waiting time, preferably one to two seconds, in which the lines
22 .23 and the detection chamber are flushed, the evacuation valve23 ' closed. Once the on the line23 between evacuation valve23 ' and detection chamber3 attached pressure sensor indicates the desired pressure, preferably atmospheric pressure, the filling valve22 ' closed and then the protective gas is analyzed for any foreign gases or impurities.
Die
Reinigung der Nachweiskammer
Alternativ
hierzu kann durch Anbringen einer Drossel in der Leitung zwischen
Vakuumpumpe
Claims (24)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE2003121806 DE10321806A1 (en) | 2003-05-14 | 2003-05-14 | Recognizing foreign gas in optical imaging and/or beam guiding systems comprises using protective gas in investigative volume which is subjected to intensity-modulated electromagnetic analysis wave field |
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DE2003121806 Withdrawn DE10321806A1 (en) | 2003-05-14 | 2003-05-14 | Recognizing foreign gas in optical imaging and/or beam guiding systems comprises using protective gas in investigative volume which is subjected to intensity-modulated electromagnetic analysis wave field |
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DE (1) | DE10321806A1 (en) |
Cited By (3)
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---|---|---|---|---|
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US8040516B2 (en) | 2006-11-10 | 2011-10-18 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Oscillator element for photo acoustic detector |
WO2021160463A1 (en) | 2020-02-11 | 2021-08-19 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Projection lens of a lithography system and method for monitoring a projection lens of a lithography system |
-
2003
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US8040516B2 (en) | 2006-11-10 | 2011-10-18 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Oscillator element for photo acoustic detector |
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Legal Events
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