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Die Erfindung betrifft ein Verfahren
zur Fehlstellenüberwachung
von einer optischen Komponente, vorzugsweise eines Schutzglases,
die in einem ersten optischen System und einem zweiten optischen
System einer Laserbearbeitungsanlage, insbesondere eines Laserbearbeitungskopfes,
angeordnet ist, wobei die Laserbearbeitungsanlage derart angeordnet
wird, dass über
das erste optische System ein Bestrahlungsort auf einem Objekt mit
Laserstrahlung bestrahlbar ist, wobei eine Emissionszone am Bestrahlungsort
auf dem Objekt erzeugt wird, und wobei über das zweite optische System
ein Bild aufgenommen wird, welches aus einer Überlagerung einer Abbildung
der Emissionszone und einer Abbildung der optischen Komponente und/oder
einer Abbildung deren Fehlstellen gebildet wird,
ferner betrifft
die Erfindung
eine Überwachungsvorrichtung
mit einem bildgebenden Sensorsystem und mit einem Auswertesystem
und
weiterhin
eine Laserbearbeitungsanlage zur Bestrahlung eines Werkstücks mit
Laserstrahlung, insbesondere einen Laserbearbeitungskopf, mit Fehlstellenüberwachung von
einer in der Laseranlage angeordneten Komponente mit einem ersten
und einem zweiten optischen System, die beide die optische Komponente
umfassen, mit einem bildgebenden Sensorsystem und einem damit verbundenen
Auswertesystem, wobei das erste optische System zur Fokussierung
der Laserstrahlung auf einen Bestrahlungsort ausgebildet ist und
wobei das zweite optische System zur Abbildung des Bestrahlungsortes
auf das bildgebende Sensorsystem ausgebildet ist.
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Aus dem allgemeinen Fachwissen über die Systemtechnik
von Lasermaterialbearbeitungsanlagen sind Laserbearbeitungsköpfe bekannt,
die ein optisches System zur Strahlformung, insbesondere zur Fokussierung,
der Laserstrahlung aufweisen. Eine aus der Strahlführung stammende
Laserstrahlung wird also mittels dieses optischen Systems auf ein
Werkstück
fokussiert, so dass auf diesem Werkstück Laserbearbeitungsbedingungen
für das
jeweilige Laserverfahren vorliegen. Während der Durchführung des
Laserverfahrens entsteht eine Emissionszone am Bearbeitungsort.
Ferner ist in diesen bekannten Laserbearbeitungsköpfen oftmals
eine CCD-Kamera vorgesehen, die auf den geplanten Bearbeitungsort
gerichtet ist, um eine Justage des Laserbearbeitungskopfs relativ
zum Werkstück
zu unterstützen.
Das optische System der CCD-Kamera ist dabei derart ausgeführt, dass
der Strahlverlauf zumindest teilweise koaxial mit dem Strahlverlauf
der Laserstrahlung geführt
wird, insbesondere wird die Fokussierlinse für die Laserstrahlung auch als
ein Teil des optischen Systems der CCD-Kamera verwendet. Weiterhin
ist in derartigen Bearbeitungsköpfen
zwischen der Fokussierlinse für
die Laserstrahlung und dem Bearbeitungsort ein Schutzglas vorgesehen. Dieses
Schutzglas hat die Aufgabe die deutlich teurere Fokussierlinse vor
von der Laserbearbeitung herrührenden Prozessemissionen,
wie z. B. Spritzer, Rauch, etc., zu schützen. Nachteilig ist hierbei,
dass mit zunehmender Verschmutzung des Schutzglases die Laserstrahlung
das Schutzglas nicht mehr ungehindert transmittieren kann und für den Laserprozess entsprechend
weniger Laserleistung zur Verfügung steht.
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Zur Detektion von Verschmutzungen
oder allgemein Fehlstellen auf dem Schutzglas sind in der Systemtechnik
für die
Lasermaterialbearbeitung bislang zwei Möglichkeiten bekannt:
Die
eine Möglichkeit
sieht vor, über
berührende
Temperatursensoren die Temperatur des Schutzglases zu messen. Es
wird dabei davon ausgegangen, dass Fehlstellen auf dem Schutzglas
zu einer Absorption von Laserleistung und damit zu einer Erwärmung des Schutzglases
führen.
Es hat sich aber herausgestellt, dass diese Vorrichtung und dieses
Verfahren sehr unsensibel gegenüber
kleinflächigen,
lokalen Fehlstellen auf dem Schutzglas ist. Weiterhin kann diese Vorrichtung
und dieses Verfahrens nur Fehlstellen detektieren, die zu einer
Absorption von Laserleistung führen,
nicht aber Fehlstellen, die eine Streuung von Laserstrahlung bewirken
und somit ebenfalls den Laserprozess nachteilig beeinflussen.
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Eine andere bekannte Möglichkeit
sieht vor, optische Sensoren zu verwenden, die seitlich von den
Schutzgläsern
angebracht sind. Hierbei wird davon ausgegangen, dass während der
Laserbearbeitung die Fehlstellen auf dem Schutzglas die Laserstrahlung
derart stark absorbieren, so dass sie anfangen zu glühen. Die
daraus resultierende optische Emission kann durch die optischen
Detektoren gemessen werden. Nachteilig bei dieser Vorrichtung und
bei diesem Verfahren ist es, dass großflächige Fehlstellen, die Laserstrahlung
streuen, nicht detektiert werden können.
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Die Druckschrift
DE 100 60 176 A1 offenbart einen
Laserbearbeitungskopf zur Bearbeitung eines Werkstücks. Bei
dieser Vorrichtung wird mittels einer Strahlumlenkvorrichtung die
aus der Bearbeitungszone kommende Strahlung auf Sensoren einer Sensoranordnung
umgelenkt, um über
die erfasste Strahlung die Bearbeitung des Werkstücks zu überwachen.
Ein Verfahren oder eine Vorrichtung zur Fehlstellenüberwachung
einer optischen Komponente ist nicht vorgesehen.
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Die Druckschrift WO 99/59762 beschreibt ein
Verfahren und eine Vorrichtung zur Detektion von Verschmutzungen
eines Schutzglases, das zwischen einem Werkstück und der Laseroptik einer
Laseranlage angeordnet ist. Die Detektion der Verschmutzungen erfolgt über eine
Temperaturmessung der Schutzglasaufnahme. Eine Detektion von Verschmutzungen
mittels der Aufnahme eines Bildes ist nicht beschrieben.
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Die Druckschrift
DE 101 03 255 A1 beschreibt
ein Verfahren zur Beurteilung von Laserbearbeitungsprozessen mittels
Bildverarbeitung. Ein Verfahren oder eine Vorrichtung zur Fehlstellenüberwachung
von optischen Komponenten ist nicht offenbart.
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Der nächstkommende Stand der Technik
ist die Druckschrift
JP
4118193 A , die eine Vorrichtung zur Überwachung eines Schutzglases
einer Laseranlage zum Inhalt hat. Bei dieser Vorrichtung ist ein Sensor
vorgesehen, der über
einen Umlenkspiegel und eine Fokussierlinse das Schutzglas beobachtet, um
die Verschmutzung des Schutzglases zu überwachen. Es ergibt sich aus
dieser Druckschrift kein Hinweis, eine Helligkeitsverteilung eines
aufgenommen Bildes zur Fehlstellenüberwachung einzusetzen.
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Die Aufgabe der Erfindung bestand
darin, ein Verfahren zur Fehlstellenüberwachung und eine Lasermaterialbearbeitungsanlage
mit Fehlstellenüberwachung
vorzuschlagen, die eine verbesserte Fehlstellenüberwachung von optischen Komponenten
erlauben.
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Die Lösung der Aufgabe erfolgt mit
einem Verfahren mit den Merkmalen des Anspruchs 1, einer Laserbearbeitungsanlage
mit Fehlstellenüberwachung
mit den Merkmalen des Anspruchs 16 und einer Überwachungsvorrichtung mit
den Merkmalen des Anspruchs 29.
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Der Vorteil der Erfindung liegt u.a.
darin, dass durch die Auswertung eines Bildes, auf dem sowohl die
Emissionszone als auch die optische Komponente abgebildet ist, eine
sehr zuverlässige
Aussage über
Fehlstellen auf der zu überwachenden
optischen Komponente getätigt
werden können.
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Weiterhin weist die Erfindung den
Vorteil auf, dass im Bereich der zu überwachenden Komponente keine
Sensoren angebracht werden müssen.
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Außerdem verfügen – wie beim Stand der Technik
bereits erläutert – manche
Laserbearbeitungsköpfe
oder auch Laserbearbeitungsanlagen bereits über Beobachtungskameras und
ein bestehender Laserbearbeitungskopf oder eine bestehende Lasermaterialbearbeitungsanlage
kann einfach und ohne erheblichen Aufwand nachgerüstet werden.
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Die Erfindung schafft ein Verfahren
zur Fehlstellenüberwachung
von einer optischen Komponente, vorzugsweise eines Schutzglases,
die in einem ersten optischen System und einem zweiten optischen
System einer Laserbearbeitungsanlage, insbesondere eines Laserbearbeitungskopfes,
angeordnet ist. Eine derartige Laserbearbeitungsanlage kann für die Laserverfahren
Schweißen,
Schneiden, Löten,
Beschichten, Auftragsschweißen,
Sintern, Abtragen oder Löten
oder andere vorgesehen sein. Bei den Fehlstellen handelt es sich
um lokale und/oder flächige,
insbesondere großflächige, Fehlstellen.
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Die Laserbearbeitungsanlage wird
derart angeordnet, dass über
das erste optische System ein Bestrahlungsort auf einem Objekt mit
Laserstrahlung bestrahlbar ist. Die Laserbearbeitungsanlage wird also
zunächst
in eine Bearbeitungs-/Messposition relativ zu einem beliebigen Objekt,
insbesondere zu dem zu bearbeitenden Werkstück, gebracht.
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Anschließend wird eine Emissionszone
am Bestrahlungsort auf dem Objekt erzeugt. Diese Emissionszone stellt
eine Quelle optischer Emissionen dar und ist an der Position angeordnet,
an der die Laserstrahlung zur Laserbearbeitung auf das Objekt treffen
würde.
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Dann wird über das zweite optische System ein
Bild aufgenommen, welches aus einer Überlappung einer Abbildung
der Emissionszone und einer Abbildung der optischen Komponente und/oder
einer Abbildung deren Fehlstellen gebildet wird. Das zweite optische
System bildet die Emissionszone auf den Detektor eines bildgebenden
Sensorsystems ab. Auf diesem Detektor des bildgebenden Sensorsystems werden
aber gleichzeitig die optische Komponente und/oder deren Fehlstellen
abgebildet. Vorzugsweise ist dabei die Abbildung der Emissionszone
scharf und die optische Komponente und/oder deren Fehlstellen unscharf
abgebildet. Erfindungsgemäß werden
dann aus der Helligkeitsverteilung und/oder der Helligkeit des aufgenommenen
Bildes Kenngrößen zur
Charakterisierung von Fehlstellen auf der optischen Komponente berechnet
und anschließend
bewertet. Die Kenngrößen weisen
einen Zusammenhang mit dem Auftreten von Fehlstellen auf der optischen Komponente
auf. Die Bewertung der Kenngrößen kann über starre
logische Verknüpfungen
erfolgen, oder aber durch komplexere Bewertungsmethoden durchgeführt werden,
wie z.B. fuzzy logic oder die Bewertung von zeitabhängigen Übertragungsfunktionen.
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Es liegt eine bevorzugte Weiterbildung
des Verfahrens vor, wenn die Fehlstellenüberwachung kontinuierlich oder
quasi kontinuierlich mit Unterbrechungen durchgeführt wird.
Bei der kontinuierlichen Fehlstellenüberwachung werden ständig, insbesondere
im Videotakt, Bilder aufgenommen, Kenngrößen berechnet und diese Kenngrößen bewertet.
Vorzugsweise wird die Fehlstellenüberwachung durch einen Triggerbefehl
einer übergeordneten
Steuerung, insbesondere der Lasersteuerung oder der Steuerung der
Führungsmaschine,
aktiv bzw. deaktiv gesetzt. Die Fehlstellenüberwachung arbeitet dann also
in einem quasi kontinuierlichen Betrieb mit Unterbrechung. Als besonders
vorteilhaft erweist es sich, wenn bei wiederholter Ausführung der
gleichen Bearbeitungsaufgabe, also z.B. einer Schweißung oder eine
Lötung
in einer Serienfertigung, die Fehlstellenüberwachung jeweils während eines
gleichen Teilabschnitts der Bearbeitungsaufgabe aktiviert ist. Bei diesem
Teilabschnitt kann es sich um einen Messabschnitt vor der eigentlichen
Bearbeitungsaufgabe und/oder einen Teilabschnitt innerhalb der eigentlichen
Bearbeitungsaufgabe handeln. Handelt es sich um einen Teilabschnitt
innerhalb der Bearbeitungsaufgabe, so wird vorzugsweise ein Teilabschnitt
gewählt,
in dem ein sehr gleichmäßiges Prozessverhalten
bei der Laserbearbeitung erwartet wird.
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Mit diesen bevorzugten Weiterbildungen
des Verfahrens wird erreicht, dass statistische Messfehler durch
die hohe Anzahl von ausgewerteten Bildern bzw. die Aktivierung der
Fehlstellenüberwachung während eines
gleichmäßigen quasi-kontinuierlichen Prozesses
minimiert werden.
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Bei einer bevorzugten Ausführung des
Verfahrens wird das aufgenommene Bild derart digitalisiert, dass
die Bildinformation als Matrix in Form von Pixeln mit zugeordneten
Helligkeitswerten vorliegt. Auf Grundlage dieser digitalisierten
Information können
dann u.a. die nachfolgenden verschiedenen Kenngrößen errechnet werden:
Eine
erste mögliche
Kenngröße ist der
durchschnittliche Helligkeitswert aller Pixel. Diese Kenngröße wird durch
die Summation aller Helligkeitswerte und anschließender Division
durch die Anzahl der Pixel berechnet.
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Weitere Kenngrößen können abgeleitet werden, wenn
zunächst
die Verteilung „Anzahl
der Pixel" pro „Helligkeitswert" – nachfolgend Verteilungsfunktion
genannt – ermittelt
wird.
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Weitere mögliche Kenngröße sind
der Schwerpunkt dieser Verteilungsfunktion oder der Helligkeitswert,
für den
gilt, daß in
der Verteilungsfunktion jeweils unterhalb und oberhalb des Helligkeitswertes
die gleiche Anzahl Pixel vorgesehen sind.
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Zur Berechnung von weiteren Kenngrößen kann
die Verteilungsfunktion in drei Bereiche eingeteilt werden:
Der
erste Bereich mit den niedrigsten Helligkeitswerten entspricht bei
Verwendung einer optischen Komponente ohne Fehlstellen im Bild dem
zu der Abbildung der Emissionszone komplementären Bildbereich.
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Ein zweiter Bereich mit hohen Helligkeitswerten
entspricht dem Bildbereich mit der Abbildung der Emissionszone.
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Ein dritter Bereich ist der Zwischenbereich zwischen
dem ersten und dem zweiten Bereich. In diesem Zwischenbereich liegen
im ungestörten
Betrieb der Komponente, d.h. bei einer optischen Komponente ohne
Fehlstellen, sehr wenige Pixel, da das Bild entweder die Emissionszone
mit sehr hohen Helligkeitswerten oder den lichtschwachen Hintergrund zeigt.
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Aus dem Kurvenverlauf der Verteilungsfunktion
in diesen drei Bereichen können
weitere Kenngrößen ermittelt
werden.
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Bei bevorzugten Weiterbildungen des
Verfahrens werden Referenzen für
eine oder mehrere Kenngrößen durch
einen Bediener vorzugsweise manuell eingegeben. Bei anderen Ausführungen werden
diese Referenzen durch automatische Kalibrierung, z. B. durch Referenzmessungen
ermittelt. Bei besonders vorteilhaften Verfahren werden Werte für Kenngrößen verwendet,
die bei früheren
Fehlstellenüberwachungen
berechnet wurden.
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Das Verfahren ist vorteilhaft weitergebildet, wenn
als Emissionszone die optische Prozessemission – also die Prozessstrahlung – während der
Laserbearbeitung verwendet wird. Die Abnahme der Helligkeit der
Abbildung der Emissionszone wird dann als ein Indikator für eine verringerte
eingekoppelte Laserleistung in den Prozess und somit als ein Indikator
für eine
Streuung oder Absorption der Laserstrahlung an der optischen Komponente
durch insbesondere großflächige Fehlstellen
verwendet. Weiterhin werden durch den hochenergetischen Laserstrahl,
der die zu überwachende
optische Komponente transmittiert, lokale Fehlstellen, wie z.B.
Spritzer, derart aufgeheizt, dass sie zu leuchten beginnen. Diese
optische Emission erhöht
die Helligkeitswerte des Bildbereichs, der komplementär zu dem
Bereich mit der Abbildung der Emissionszone ist. Eine Erhöhung der
Helligkeitswerte der Pixel in diesem Bereich kann somit als ein
Indikator für
lokale Fehlstellen auf der optischen Komponente verwendet werden.
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Eine andere vorteilhafte Ausführung des
Verfahrens liegt vor, wenn die Emissionszone durch einen Pilotlaserstrahl
der Laserbearbeitungsanlage erzeugt wird. Die Helligkeitswerte der
Pixel mit der Abbildung der Emissionszone sind bei großflächigen Fehlstellen
der optischen Komponente ebenfalls verringert. Lokale Fehlstellen
reflektieren den Pilotlaserstrahl in Richtung der Kamera und tragen
ebenfalls zur Erhöhung
der Helligkeitswerte der Pixel in dem zu der Abbildung der Emissionszone
komplementären Bereich
bei.
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Weiterhin wird die Aufgabe der Erfindung durch
eine gattungsgemäße Laserbearbeitungsanlage
mit Fehlstellenüberwachung
mit den Merkmalen des Anspruchs 16 gelöst.
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Die Laserbearbeitungsanlage ist bevorzugt weitergebildet,
wenn die optische Komponente als ein Schutzglas und/oder eine Fokussiereinrichtung, insbesondere
eine Fokussierlinse oder einen Fokussierspiegel, und/oder ein Strahlauskoppelelement ausgebildet
ist. Die Erfindung bezieht sich also nicht nur auf ein Schutzglas,
sondern es können
auch andere optische Komponenten überwacht werden. Dies ist insbesondere
vorteilhaft, wenn – wie
im Fall des CO2-Lasers – keine geeigneten Schutzgläser verfügbar sind
und das letzte optische Element der Strahlformung der Gefahr der
Verschmutzung ausgesetzt ist.
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Bei bevorzugten Ausführungsformen
der Laserbearbeitungsanlage ist zur Trennung der Strahlengänge der
optischen Systeme ein Strahlteiler, insbesondere ein dichroitischer
Strahlteiler, oder ein Ringspiegel vorgesehen. Diese optischen Elemente erlauben,
die Strahlengänge
im Bereich des zu überwachenden
optischen Elements überlappend,
insbesondere koaxial zueinander, anzuordnen.
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Bei weiteren bevorzugten Ausführungsformen
ist im zweiten optischen System ein wellenlängenselektives Element vorgesehen.
Dieses wellenlängenselektive
Element blockiert die Wellenlänge der
Laserstrahlung und/oder transmittiert nur einen ausgewählten Wellenlängenbereich,
insbesondere den sichtbaren Bereich ohne UV, die Wellenlänge eines
Pilotlaserstrahls oder einer Referenzlichtquelle oder einen Wellenlängenbereich
nahe an Infrarot.
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Die Aufgabe der Erfindung wird auch
durch ein Überwachungssystem
mit den Merkmalen des Anspruchs 29 gelöst.
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Weitere Merkmale, Vorteile und Einzelheiten der
Erfindung ergeben sich aus den beigefügten Zeichnungen sowie der
nachfolgenden Beschreibung einer bevorzugten Ausführungsform
der Erfindung.
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Es zeigen:
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1 eine
schematische Darstellung eines Laserbearbeitungskopfes mit Schutzglasüberwachung,
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2a,b jeweils eine schematische Darstellung
des Schutzglases in 1 mit
verschiedenen Fehlstellen in Draufsicht,
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3a, b c jeweils
links ein schematisiertes Bild wie es durch die CCD-Kamera in 1 aufgenommen wird und jeweils
rechts eine Darstellung der zu dem Bild gehörigen Verteilungsfunktion „Anzahl der
Pixel" pro „Helligkeitswert".
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Die 1 zeigt
einen Laserbearbeitungskopf mit Schutzglasüberwachung, der in Bearbeitungsposition
oberhalb eines Werkstücks 12 angeordnet
ist, wobei die Laserstrahlung 13 auf der Oberfläche des
Werkstücks 12 fokussiert
ist. Weiterhin zeigt 1 eine
an den Laserbearbeitungskopf angeschlossene CCD-Kamera 8 mit
einem Bildauswertesystem 9 und einer Signalleuchte 10.
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Der Laserbearbeitungskopf weist eine
Kollimierlinse 4 und eine dazu fluchtend angeordnete Fokussierlinse 2 auf,
die unterhalb der Kollimierlinse 4 positioniert ist. Zwischen
Kollimierlinse 4 und Fokussierlinse ist ein Strahlteiler 3 vorgesehen.
Unterhalb der Fokussierlinse 2 und fluchtend zur Kollimierlinse 4 und
der Fokussierlinse 2 ist ein Schutzglas 1 angeordnet.
Kollimierlinse 4, Strahlteiler 3, Fokussierlinse 2 und
Schutzglas 1 bilden ein optisches System zur Formung der
Laserstrahlung 13.
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Die Laserstrahlung 13 tritt
von oben divergierend in den Laserbearbeitungskopf ein und trifft auf die
Kollimierlinse 4. Nach der Kollimierlinse 4 ist
die Laserstrahlung 13 als Parallelstrahlung ausgebildet und
transmittiert den in einem 45°-Winkel
zur Ausbreitungsrichtung der Laserstrahlung 13 angeordneten
Strahlteiler 3. Im weiteren Strahlenverlauf wird sie durch
die Fokussierlinse 2 fokussiert. Nach der Fokussierlinse 2 durchquert
die Laserstrahlung 13 das Schutzglas 1, und trifft
dann auf das Werkstück 12. Die
Laserstrahlung 13 wird auf dem Werkstück 12 unter Ausbildung
einer Wechselwirkungszone 11, z.B. einem Schweißbad, absorbiert.
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In der 1 ist
weiterhin ein Abbildungsstrahlengang 14 eingezeichnet, über den
die Wechselwirkungszone 11 auf den Detektor der CCD-Kamera 8 abgebildet
wird. Dieser Abbildungsstrahlengang 14 beginnt bei der
Wechselwirkungszone 11, führt dann durch das Schutzglas 1 und
die Fokussierlinse 2. Im weiteren wird der Abbildungsstrahlengang 14 durch
den Strahlteiler 3 senkrecht abgelenkt. Dieser Strahlteiler 3 weist
die Eigenschaft auf, das Licht mit der Wellenlänge der Laserstrahlung ungehindert transmittieren
zu lassen und Licht anderer Wellenlängen zu reflektieren. Der Abbildungsstrahlengang 14 durchquert
dann im weiteren Verlauf nach dem Strahlteiler 3 eine optionale
Blende 5, eine Abbildungslinse 6 und wird über einen
Umlenkspiegel 7 auf den Detektor der CCD-Kamera 8 gerichtet.
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Bei dem Abbildungsstrahlengang 14 ist
die Oberfläche
des Werkstücks 12 in
der Gegenstandsebene, der Detektor der CCD-Kamera 8 in
der Bildebene und die Fokussierlinse 2 im Bereich der gegenstandsseitigen
Hauptebene angeordnet. Das Schutzglas 1 ist als Teil des
Abbildungsstrahlengangs 14 zwischen Gegenstandsebene und
gegenstandsseitiger Hauptebene angeordnet.
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Die CCD-Kamera 8 ist über ein
Kabel mit dem Bildauswertesystem 9 verbunden, in dem das aufgenommene
Bild digitalisiert wird, Kenngrößen berechnet
werden und eine Bewertung der Kenngrößen hinsichtlich Fehlstellen
auf dem Schutzglas 1 durchgeführt wird. CCD-Kamera 8 und
Bildauswertesystem bilden eine Überwachungsvorrichtung.
Das Ergebnis der Bewertung ist eine i.O./n.i.O. (in Ordnung/nicht
in Ordnung)-Entscheidung, wobei bei einer n.i.O.-Entscheidung die mit dem Auswertesystem 9 verbundene
Signalleuchte 10 aktiviert wird. Anstelle der Aktivierung
der Signalleuchte 10 kann auch ein Signal zur übergeordneten
Steuerung der Laseranlage gesendet werden.
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Bei der Bearbeitung des Werkstücks 12 mit der
Laserstrahlung 13 kann das Schutzglas 1 durch verschiedene
Mechanismen verschmutzt werden.
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2a,b zeigen das Schutzglas 1 aus
der 1 in Draufsicht
mit verschiedenen Fehlstellen.
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In der 2a ist
als eine mögliche
Verschmutzung eine Schmauchablagerung 20 gezeigt, die eine
großflächige Fehlstelle
bildet. Weist das Schutzglas 1 in der 1 eine derartige Schmauchablagerung 20 auf,
wird die Laserstrahlung 13 teilweise absorbiert oder gestreut.
Für den
eigentlichen Laserprozess auf dem Werkstück 12 steht dann nur eine
in der Leistungsdichte verminderte Laserstrahlung 13 zur
Verfügung.
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In der 2b sind
Spritzer 21, lokale Aufschmelzungen 23 oder Risse 22 des
Schutzglases 1 als Beispiele für lokale Fehlstellen gezeigt.
Weist das Schutzglas 1 in 1 derartige
lokale Fehlstellen auf, so wird die Laserstrahlung 13 an
diesen Fehlstellen lokal vollständig
absorbiert. Die lokalen Fehlstellen erwärmen sich dann sehr stark und
beginnen zu glühen.
Für den
eigentlichen Laserprozess auf dem Werkstück 12 steht nur eine
leistungsverminderte Laserstrahlung 13 zur Verfügung. Weiterhin
kann als Folge der Erwärmung
und daraus resultierenden thermischen Spannungen das Schutzglas 1 zerspringen.
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Sämtliche
der in 2a und 2b vorgestellten Fehlstellenarten
können
durch die in der 1 gezeigten
Schutzglasüberwachung
erkannt werden:
Eine großflächige Fehlstelle,
wie die Schmauchablagerung 20 in 2a , wird erkannt, indem eine Verringerung
der Helligkeit der Abbildung der Wechselwirkungszone 11 detektiert
wird. Einerseits wird nämlich – wie oben
erläutert – die zu
Verfügung
stehende Laserstrahlung 13 abgeschwächt und andererseits die Helligkeit
der Abbildung der Wechselwirkungszone 11 im Abbildungsstrahlengang 14 durch
die erneute Durchquerung des verschmutzten Schutzglases 1 weiter
verringert.
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Lokale Fehlstellen, wie sie in 2b dargestellt sind, beginnen – wie oben
erläutert – durch
die Absorption der Laserstrahlung 13 zu glühen. Diese glühenden Bereiche
werden über
den Abbildungsstrahlengang 14 auf den Detektor der CCD – Kamera 8 abgebildet.
Die Abbildung der glühenden
Bereiche auf den Detektor der CCD-Kamera 8 ist allerdings nicht
scharf, sondern eher wie ein unscharfer Schleier ausgebildet, da
das Schutzglas 1 nicht in der Gegenstandsebene des Abbildungsstrahlengangs 14 sondern
zwischen der Gegenstandsebene und der ersten Hauptebene angeordnet
ist.
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Lokale Fehlstellen werden durch die
Schutzglasüberwachung
erkannt, indem auf dem mit der CCD-Kamera 8 aufgenommenen
Bild der beschriebene Schleierbereich detektiert wird.
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3a, b, c zeigen
auf der linken Seite jeweils schematisiert ein Bild 17 a, b, c wie
es von der CCD-Kamera 8 in 1 während aktivierter
Laserstrahlung 13 aufgenommen wird, wenn das Schutzglas 1 keine
Fehlstellen (3a), flächige Fehlstellen
(3b) und lokale Fehlstellen
(3c) aufweist.
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Die Bilder 17 a, b, c liegen in dem
Bildauswertesystem 9 in 1 in
8 Bit-Graustufendarstellung
vor, d.h. jedem Bildpunkt – auch
Pixel genannt – ist
ein Helligkeitswert zwischen 0 und 255 zugeordnet. Dem Helligkeitswert 0 entspricht
dabei die Farbe Schwarz, dem Wert 255 entspricht die Farbe Weiß und den
dazwischenliegenden Werten sind Grautöne zugeordnet.
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Jeweils rechts neben den Bildern 17a,
b, c sind deren jeweilige Verteilungsfunktionen 17a', b', c' „Anzahl
der Pixel" pro „Helligkeitswert" in kartesischer
Koordinatendarstellung gezeigt. Auf der X-Achse sind Helligkeitswerte
von Bildpixeln zwischen 0 und 255 und auf der Y-Achse die Anzahl
der Pixel mit dem jeweiligen Helligkeitswert aufgetragen.
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Das Bild 17a in 3a weist in der Mitte einen kreisrunden
weißen
Bildbereich 11a auf, der die Abbildung der Wechselwirkungszone 11 in 1 zeigt. Der zu dem Bildbereich
komplementäre
Hintergrundbereich 15 ist weitgehend schwarz ausgebildet.
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Rechts neben dem Bild 17a ist dessen
Verteilungsfunktion 17a' dargestellt.
Der Kurvenverlauf der Verteilungsfunktion 17a' weist drei
Bereiche auf:
Der Bereich I ist bei den niedrigen Helligkeitswerte der
Verteilungsfunktion 17a' angeordnet.
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In diesem Bereich I befindet sich
ein erstes lokales Maximum 15', das dem Hintergrundbereich 15 des
Bildes 17a entspricht.
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Der Bereich III befindet sich bei
den hohen Helligkeitswerte. Darin liegt ein weiteres lokales Maximum 11a', das zu dem
Bildbereich 11a des Bildes 17a korrespondiert.
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Zwischen den Bereichen I und III
ist ein Zwischenbereich II angeordnet, der durchgehend nur sehr
niedrige Werte für
die Größe „ Anzahl
der Pixel" aufweist.
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Die Höhe des ersten lokalen Maximums 15' im Bereich
I ist mit a, die Höhe
des weiteren lokalen Maximums 11a' im Bereich III mit b bezeichnet.
Der mittlere Helligkeitswert des lokalen Maximums 11a' im Bereich
III ist mit e benannt.
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Die Änderungen des Bildes 17a für den Fall eines
großflächig verschmutzen
Schutzglases 1 in 1 zeigt
das Bild 17b in 3b.
Der Hintergrundbereich 15 in Bild 17b ist unverändert weitgehend schwarz.
Der Bildbereich 11b, der wieder die Abbildung der Wechselwirkungszone 11 in 1 darstellt, ist in der
Helligkeit gegenüber
dem Bildbereich 11a in 3a deutlich
verringert.
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Die rechts neben dem Bild 17b angeordnete Verteilungsfunktion 17b' zeigt, dass
die Verteilungsfunktion 17b' im
Bereich I gegenüber
der Verteilungsfunktion 17a' in 3a unverändert ist. Das zum lokalen
Maximum 11a' in 3a korrespondierende lokale
Maximum 11b' in 3b ist aber im Vergleich
zu diesem in Richtung geringerer Helligkeitswerte verschoben. Der
mittlere Helligkeitswert des lokalen Maximums 11b' in 3b ist f, wobei f < e ist.
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Durch die Verschiebung des lokalen
Maximums 11a' nach 11b' ist eine großflächige Verschmutzung
zu detektieren.
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In der 3c links
ist schematisiert das von der CCD-Kamera 8 aufgenommene
Bild 17 c für
den Fall gezeigt, dass das Schutzglas 1 lokale Fehlstellen,
wie z.B. Spritzer 21, Risse 22 und Aufschmelzung 23 in 2b, aufweist. Das Bild 17c
zeigt gegenüber
Bild 17a einen nahezu unveränderten
Bildbereich 11a. Zusätzlich
ist aber ein Schleierbereich 16 erkennbar, der einer unscharfen
Abbildung der durch die Laserstrahlung 13 aufgeheizten
und somit optisch emittierenden lokalen Fehlstellen entspricht. Der
Schleierbereich 16 ist oval ausgebildet und überlappt
den Bildbereich 11a und teilweise den Hintergrundbereich 15a.
Bei der zugehörigen
Verteilungsfunktion 17c' ist
die Höhe
des ersten Maximums 15a' im
Gegensatz zum ersten Maximum 15' in 3a auf einen
Wert c verringert, so dass c < a
ist. In dem Zwischenbereich II ist der Kurvenverlauf im Bereich 16', der dem Schleierbereich 16 entspricht,
deutlich höher
als bei der Verteilungsfunktion 17a' in der 3a.
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Eine Veränderung des ersten Maximums 15' und eine Erhöhung der
Anzahl der Pixel im Bereich II kann also eine Verschmutzung des
Schutzglases mit lokalen Fehlstellen interpretiert werden.
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Nachfolgend ist eine nicht-abschließende Liste
von Bewertungsrelationen zur Bewertung des Auftretens von Fehlstellen
auf dem Schutzglas angeführt:
- 1. durchschnittlicher Helligkeitswert aller
Pixel größer als
Referenz – wird
bewertet als – lokale Fehlstellen
auf der optischen Komponente
- 2. durchschnittliche Helligkeitswert aller Pixel kleiner als
Referenz – wird
bewertet als – flächige Fehlstellen
auf der optischen Komponente
- 3. Schwerpunkt der Verteilungsfunktion größer als Referenz – wird bewertet
als – lokale
Fehlstellen auf der optischen Komponente
- 4. Schwerpunkt der Verteilungsfunktion kleiner als Referenz – wird bewertet
als – flächige Fehlstellen auf
der optischen Komponente
- 5. Höhe
des ersten Maximums kleiner als Referenz – wird bewertet als – lokale
Fehlstellen auf der optischen Komponente
- 6. Höhe
des zweiten Maximums kleiner als Referenz – wird bewertet als – flächige Fehlstellen
auf der optischen Komponente
- 7. mittlerer Helligkeitswert des zweiten Maximums kleiner als
Referenz – wird
bewertet als – flächige Fehlstellen
auf der optischen Komponente
- 8. Fläche
des Zwischenbereichs größer als
Referenz – wird
bewertet als – lokale
Fehlstellen auf der optischen Komponente.
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Die Schutzglasüberwachung wird nun durchgeführt, indem
zunächst
der Bearbeitungskopf relativ zum Werkstück 12 in seiner Bearbeitungsposition
positioniert wird und die Bearbeitung begonnen wird. Durch ein Triggersignal
wird die Schutzglasüberwachung
aktiviert. Während
der Schutzglasüberwachung
werden kontinuierlich Bilder von der CCD- Kamera 8 aufgenommen und an
das Bildauswertesystem 9 weitergeleitet. Ebenfalls kontinuierlich
und parallel zur Aufnahme der Bilder werden die Kenngrößen berechnet
und mittels einer oder mehrere der in der Liste gezeigten Relationen
bewertet. Die einzelnen Ergebnisse werden über Bewertungsfunktion, Fuzzy
Logic o.ä.
zu einem Ergebnis zusammengefasst. Führt die Bewertung zu dem Ergebnis,
dass das Schutzglas Fehlstellen aufweist, so wird ein Signal an
die Signalleuchte 10 ausgegeben.