DE10246289A1 - Verfahren und Vorrichtung zur flächenhaften Messung der Abscheidung von Schichten - Google Patents

Verfahren und Vorrichtung zur flächenhaften Messung der Abscheidung von Schichten Download PDF

Info

Publication number
DE10246289A1
DE10246289A1 DE2002146289 DE10246289A DE10246289A1 DE 10246289 A1 DE10246289 A1 DE 10246289A1 DE 2002146289 DE2002146289 DE 2002146289 DE 10246289 A DE10246289 A DE 10246289A DE 10246289 A1 DE10246289 A1 DE 10246289A1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
test area
time
function
location
measurement
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
DE2002146289
Other languages
English (en)
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Individual
Original Assignee
Individual
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Individual filed Critical Individual
Priority to DE2002146289 priority Critical patent/DE10246289A1/de
Publication of DE10246289A1 publication Critical patent/DE10246289A1/de
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/59Transmissivity

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
  • Application Of Or Painting With Fluid Materials (AREA)

Abstract

Die vorliegende Erfindung betrifft ein Verfahren und eine Vorrichtung zur flächenhaften Überwachung der Abscheidung von Schichten unter Produktionsbedingungen. Die Oberfläche der Mess-Vorrichtung wird in Form, Lage, Abstand und ggf. weiteren Prozessparametern vergleichbar mit dem Produktionsprozess aufgestellt. Damit stellen sich Strömungsverhältnisse zwischen Applikationseinrichtung, zum Beispiel Spritzpistole, und Messeinrichtung wie im Produktionsprozess ein. Zur Vermessung der Abscheidung der Schichten wird die Beschichtungseinrichtung für eine fest vorgegebene, geeignete Zeitspanne gestartet. Synchron hierzu wird die Bildaufzeichnung der Kamera mit geeigneter Aufzeichnungsrate gestartet. So wird die Schwärzung der Oberfläche der Testfläche durch die Abscheidung der Schicht aufgezeichnet. Entsprechend der Bildaufnahmefrequenz wird für jeden Punkt auf der Testfläche die Helligkeit aufgezeichnet. So kann an jedem Bildpunkt mit den Koordinaten x, y die exponentielle Abnahme der Helligkeit mit der Zeit t, entsprechend dem Lambert-Beerschen Gesetz, ausgewertet werden.

Description

  • Die vorliegende Erfindung betrifft ein Verfahren und eine Vorrichtung zur Überwachung der Abscheidung von Schichten unter Produktionsbedingungen. Dabei wird durch Auswertung der optischen Absorption der abgeschiedenen Schicht als Funktion der Zeit und des Ortes auf einer Testfläche das Abscheideverhalten einer Beschichtungseinrichtung vermessen.
  • Die Veredelung von Oberflächen unterschiedlichster Produkte durch Beschichtung mit funktions-sichernden oder farbgebenden Schichten definierter Qualität stellt eine wichtige Aufgabe dar. Hierbei ist die Qualität der Beschichtung durch kontinuierliche Überwachung des Beschichtungsprozesses sicher zu stellen. Das vorliegende Verfahren überwacht durch Auswertung der Absorption sichtbaren Lichtes als Funktion der Zeit und des Applikationsortes das Schichtwachstum. Die Vorrichtung ist für den Einsatz an Produktionslinien ausgelegt. So können Abweichungen vom Sollverhalten zeitnah erkannt werden.
  • Bisheriger Stand der Technik
  • In der Lackiertechnik ist es bisher üblich, das Abscheideverhalten der Lackiereinrichtung, oder speziell der Spritzpistole, durch die Anfertigung eines Spritzbildes zu prüfen. Das Spritzbild entsteht durch kurzzeitiges Aktivieren der Lackiereinrichtung unter definierten Bedingungen. Meist geschieht das in einer Labor- oder Testumgebung. Die Untersuchung des Spritzbildes erfolgt im ersten Schritt visuell. Nach Trocknung der Schicht können weitere Untersuchungen, wie zum Beispiel die Schichtdickenmessung, durchgeführt werden.
  • Um diese aufwändige Prozedur zu vereinfachen, werden zum Teil bereits Messeinrichtungen eingesetzt, die die räumliche Verteilung des Luftstroms zum Beispiel vor Spritzpistolen vermessen, um daraus die applizierte Schichtdicke zu errechnen. Dieses Verfahren ist jedoch nur bedingt einsatzfähig, da es auf der Annahme beruht, dass das applizierte Material gleichmäßig durch den Luftstrom getragen wird.
  • Bei der Herstellung dünner Schichten in Vakuum-Anlagen ist es seit längerer Zeit üblich das Schichtwachstum optisch zu überwachen und gegebenenfalls auch zu steuern. Hierbei ist eine punktuelle Abtastung in Reflexion oder Transmission üblich.
  • Der Erfindung liegt somit die Aufgabe zugrunde, ein Verfahren und eine Vorrichtung zur Verfügung zu stellen, welche eine schnelle, flächenhafte Überwachung der Abscheideeigenschaften einer Beschichtungseinrichtung unter Produktionsbedingungen ermöglicht.
  • Beschreibung
  • Erfindungsgemäß wird diese Aufgabe dadurch gelöst, dass der Beschichtungseinrichtung die Oberfläche der Mess-Vorrichtung in Form, Lage, Abstand und ggf. weiteren Prozessparametern vergleichbar mit den Produktionsprozess dargeboten wird. Damit stellen sich Strömungsverhältnisse zwischen Applikationseinrichung, zum Beispiel Spritzpistole, und Messeinrichtung wie im Produktionsprozess ein.
  • Wie in Zeichnung 1 dargestellt, wird die Beschichtungseinrichtung (1), zum Beispiel eine Spritzpistole, über der Testfläche (2) im Arbeitsabstand positioniert. Das Test- oder Messfeld kann durch eine transparente Platte, zum Beispiel eine Glasplatte gebildet werden. Das Testfeld der Mess-Vorrichtung ist durch eine transparente Folie (3) geschützt, welche nach dem Messprozess als Verschleißteil entfernt bzw. abtransportiert wird. Als Transporteinrichtung (4) kann zum Beispiel eine Ab- bzw. Aufrolleinrichtung zum Einsatz kommen. Das Testfeld wird durch eine Kamera (5) beobachtet. Die Kamera befindet sich zum Schutz gegen Verschmutzung im inneren einer gasdichten Box (6). Das Testfeld wird durch geeignete Lichtquellen (7), welche in ausreichender Entfernung hinter der Beschichtungseinrichtung angeordnet sind, beleuchtet.
  • Zur Vermessung der Abscheidung der Schichten wird die Beschichtungseinrichtung für eine fest vorgegebene, geeignete Zeitspanne gestartet. Synchron hierzu wird die Bildaufzeichnung der Kamera mit geeigneter Aufzeichnungsrate gestartet. So wird die Schwärzung der Oberfläche der Testfläche durch die Abscheidung der Schicht aufgezeichnet. Entsprechend der Bildaufnahmefrequenz wird für jeden Punkt auf der Testfläche die Helligkeit aufgezeichnet. So kann an jedem Bildpunkt mit den Koordinaten x,y die exponentielle Abnahme der Helligkeit mit der Zeit t, entsprechend dem Lambert-Beerschen Gesetz, ausgewertet werden. I[x,y,t] = I0[x,y] Exp(– α r[x,y,t] t)
  • Die Abscheiderate als Funktion des Ortes x,y und der Zeit t ist mit r[x,y,t] bezeichnet. Ohne Kalibrierung auf die Absorption α, des applizierten Materials, kann eine relative Schichtdicke als Funktion des Ortes und der Zeit bestimmt werden. Mit Kalibrierung ist eine absolute Bestimmung der Schichtdicke als Funktion der Zeit und des Ortes möglich.
  • Zur Funktions- bzw. Qualitätskontrolle von Luftkappen an Spritzpistolen werden diese typischerweise 1 – 2 Sekunden ohne Bewegung im Arbeitsabstand über der Mess-Vorrichtung in Betrieb gesetzt. Der abgeschiedene Lack führt typischerweise in dieser Zeit zu einer Schwärzung des Testfeldes. Aus der Form der Helligkeitsverteilung, auch Schwärzungsbild oder Spritzbild genannt, kann sofort die korrekte Funktion der Luftkappe erkannt werden. So können Fehlfunktionen durch Alterung oder Verstopfung von Düsen prozessnah erkannt werden.
  • 1
    Beschichtungseinrichtung z. B. Spritzpistole
    2
    Testfläche
    3
    Transparente Folie
    4
    Transporteinrichtung
    5
    Bildgebendes System z.B. Kamera
    6
    Gasdichte Box
    7
    Lichtquellen
    I[x,y,t]
    Intensitätsverteilung als Funktion des Ortes x,y und der Zeit t
    I0[x,y]
    Intensitätsverteilung zu Beginn der Beschichtung
    Exp
    Exponentialfunktion zur Basis e
    α
    Absorptionskoeffizient
    r[x,y,t]
    Abscheiderate als Funktion des Ortes und der Zeit
    t
    Zeit

Claims (7)

  1. Verfahren zur flächenhaften Messung des Abscheideverhaltens einer Beschichtungseinrichtung durch Messung der Transmission von Licht durch eine optisch transparente Testfläche, dadurch gekennzeichnet, dass die Testfläche durch Aktivieren der Beschichtungseinrichtung beschichtet wird und zeitgleich die Veränderung der Transmission als Funktion des Ortes und der Zeit gemessen wird.
  2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass die Testfläche durch eine Folie geschützt ist, die als Verbrauchsmaterial nach der Messung entfernt oder abtransportiert wird.
  3. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass die Aufzeichnung der Transmission durch die Testfläche durch ein Bildgebendes System erfolgt, welches auf der Rückseite der Testfläche in einem Behälter zum Schutz vor Verschmutzung untergebracht ist.
  4. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass für die gleichmäßige Beleuchtung der Testfläche Lichtquellen zum Einsatz kommen, die in ausreichendem Abstand hinter der Beschichtungseinrichtung angebracht sind, um eine Verschmutzung zu vermeiden.
  5. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass für die gleichmäßige Beleuchtung der Testfläche Lichtquellen zum Einsatz kommen, die Ihrerseits durch Folien oder vergleichbare Einrichtungen geschützt sind.
  6. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass zur Beleuchtung der Testfläche bereits vorhandenes Umgebungslicht genutzt wird. Eine eventuell ungleichmäßige Beleuchtung wird mit dem ersten Bild zu Beginn der Messung aufgezeichnet. Der Messprozess wird durch Quotientenbildung mit dem ersten Bild I0[x,y] korrigiert.
  7. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass im Steuerrechner Soll-Spritzbilder hinterlegt sind, ein Vergleich mit den Soll-Spritzbildern erfolgt und direkt ein Signal zur Qualifizierung der Anlage an eine übergeordnete Steuerung gesendet wird.
DE2002146289 2002-10-02 2002-10-02 Verfahren und Vorrichtung zur flächenhaften Messung der Abscheidung von Schichten Withdrawn DE10246289A1 (de)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE2002146289 DE10246289A1 (de) 2002-10-02 2002-10-02 Verfahren und Vorrichtung zur flächenhaften Messung der Abscheidung von Schichten

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE2002146289 DE10246289A1 (de) 2002-10-02 2002-10-02 Verfahren und Vorrichtung zur flächenhaften Messung der Abscheidung von Schichten

Publications (1)

Publication Number Publication Date
DE10246289A1 true DE10246289A1 (de) 2004-04-15

Family

ID=32010199

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE2002146289 Withdrawn DE10246289A1 (de) 2002-10-02 2002-10-02 Verfahren und Vorrichtung zur flächenhaften Messung der Abscheidung von Schichten

Country Status (1)

Country Link
DE (1) DE10246289A1 (de)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2005100958A1 (de) * 2004-04-02 2005-10-27 Optoprecision Gmbh Verfahren und überwachung des abscheideverhaltens einer beschichtungsvorrichtung einer beschichtungsanlage und vorrichtung zur durchführung desselben
WO2019201360A1 (en) * 2018-04-16 2019-10-24 Ns Coating Technologies S.R.O. Device for spray pattern scanning from examined samples, spray pattern detection system and spray pattern evaluation method

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2005100958A1 (de) * 2004-04-02 2005-10-27 Optoprecision Gmbh Verfahren und überwachung des abscheideverhaltens einer beschichtungsvorrichtung einer beschichtungsanlage und vorrichtung zur durchführung desselben
WO2019201360A1 (en) * 2018-04-16 2019-10-24 Ns Coating Technologies S.R.O. Device for spray pattern scanning from examined samples, spray pattern detection system and spray pattern evaluation method

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE102007018877B4 (de) Verfahren und Materialauftragseinrichtung mit einer Prüfvorrichtung zur Gütemessung des Auftragsbildes einer Sprühdüse sowie Verwendung eines Testfelds
US6832550B2 (en) Ink and dampening solution determination in offset printing
DE102009040642B3 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Messung von optischen Kenngrößen transparenter, streuender Messobjekte
DE102015111889B4 (de) Verfahren zur Prüfung einer landwirtschaftlichen Sprüheinrichtung
JP2016535258A (ja) 材料のマルチスケール均一性分析
DE102011101416B4 (de) Dickenmessung einer Beschichtung eines rotierenden Bauteils unter Berücksichtigung der Wärmeausdehnung
WO2003040649A1 (de) Verfahren und vorrichtung zur messung physikalischer kenngrössen von dünnen, optisch transparenten schichten
EP1914538A1 (de) Verfahren und Vorrichtung zum Erfassen der Sauberkeit oder der Verschmutzung einer Teileoberfläche
DE202016103570U1 (de) lnspektionsvorrichtung zum Inspizieren von Klebstoffmustern auf einem Substrat
DE19946080C2 (de) Testflasche und Verfahren zu ihrer Herstellung
EP0598757A1 (de) Verfahren und vorrichtung zur quantifizierten bewertung des physiologischen eindruckes von reflektionsfähigen oberflächen.
DE102016109406A1 (de) Spritzeinrichtung, Zugfahrzeug mit Spritzeinrichtung und Verfahren zum Betreiben einer Spritzeinrichtung
EP0874213B1 (de) Messsystem zur Beurteilung der Oberflächenqualität
DE10246289A1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur flächenhaften Messung der Abscheidung von Schichten
EP3158323B1 (de) Anordnung zur bestimmung von eigenschaften und/oder parametern einer probe und/oder mindestens einer auf oder an einer oberfläche einer probe ausgebildeten schicht
DE19605520C1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Charakterisierung lackierter Oberflächen
DE19528519A1 (de) Vorrichtung zur Detektion streifenförmiger Oberflächenfehler
DE102018110931B3 (de) Verfahren und System zum Erfassen der Oberflächenbelegung einer Beschichtung auf einer Oberfläche eines bandförmigen Prüflings
DE19741824C2 (de) Verfahren zur Überwachung des Aufbringens einer Innensilikonisierung bei einem transparenten Behältnis und zugehörige Vorrichtung
DE102016116201B4 (de) Verfahren zum Auftragen von Pastenmaterial auf ein Substrat und zum ergänzenden Auftragen von Pastenmaterial auf ein Pastendepot des Substrats, Steuergerät, Computerprogrammprodukt und Siebdrucker
AT514553B1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur optischen Untersuchung einer Oberfläche eines Körpers
DE19515172C1 (de) Verfahren zur Abscheidung von farbigen Schichten auf Substrate und Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens
DE102017006969A1 (de) Anordnung und Verfahren zur Prüfung der Funktion eines Sprühwerkzeugs
EP2539671B1 (de) Verfahren und vorrichtung zur kontrolle des auftrags einer eine flüchtige verbindung enthaltenden flüssigkeit auf eine oberfläche
DE102004042155B4 (de) Verfahren zur Überwachung der Schichtdicke und des Tiefenprofils der chemischen Zusammensetzung einer Beschichtung von sich bewegenden Werkstücken

Legal Events

Date Code Title Description
8181 Inventor (new situation)

Inventor name: INVENTOR IS APPLICANT

8139 Disposal/non-payment of the annual fee