DE102022208219A1 - Sensor system and method for operating a sensor system, electronic device - Google Patents
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- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 18
- 238000000053 physical method Methods 0.000 claims abstract description 12
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 6
- 230000001133 acceleration Effects 0.000 description 17
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 3
- 238000012937 correction Methods 0.000 description 2
- 230000005484 gravity Effects 0.000 description 2
- 238000005476 soldering Methods 0.000 description 2
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 description 1
- 238000011161 development Methods 0.000 description 1
- 230000018109 developmental process Effects 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 1
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 1
- 229910000679 solder Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000012800 visualization Methods 0.000 description 1
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01D—MEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
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- G01D18/002—Automatic recalibration
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- G01D3/00—Indicating or recording apparatus with provision for the special purposes referred to in the subgroups
- G01D3/02—Indicating or recording apparatus with provision for the special purposes referred to in the subgroups with provision for altering or correcting the law of variation
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01P—MEASURING LINEAR OR ANGULAR SPEED, ACCELERATION, DECELERATION, OR SHOCK; INDICATING PRESENCE, ABSENCE, OR DIRECTION, OF MOVEMENT
- G01P15/00—Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration
- G01P15/02—Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses
- G01P15/08—Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses with conversion into electric or magnetic values
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01P—MEASURING LINEAR OR ANGULAR SPEED, ACCELERATION, DECELERATION, OR SHOCK; INDICATING PRESENCE, ABSENCE, OR DIRECTION, OF MOVEMENT
- G01P21/00—Testing or calibrating of apparatus or devices covered by the preceding groups
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Abstract
Die Erfindung betrifft ein Sensorsystem mit einem Sensor und einer Ansteuerungselektronik. Der Sensor ist derart ausgestaltet, dass bei Einwirken einer physikalischen Messgröße auf den Sensor eine mittels Strom und/oder Spannung detektierbare Eigenschaft eines Sensorelements verändert wird. Die Ansteuerungselektronik weist einen Umsetzer auf, mit dem die Eigenschaft in einen Strom und/oder eine Spannung umgesetzt wird. Ferner weist die Ansteuerungselektronik einen Ausleseanschluss auf, mit dem der Strom und/oder die Spannung ausgegeben werden kann beziehungsweise können oder ein aus dem Strom und/oder der Spannung ermittelter Digitalwert ausgegeben werden kann. Außerdem weist die Ansteuerungselektronik ein Kalibrierelement und einen Einstellmechanismus auf, wobei das Kalibrierelement mittels des Einstellmechanismus eingestellt werden kann.The invention relates to a sensor system with a sensor and control electronics. The sensor is designed in such a way that when a physical measurement variable acts on the sensor, a property of a sensor element that can be detected by means of current and/or voltage is changed. The control electronics have a converter with which the property is converted into a current and/or a voltage. Furthermore, the control electronics has a readout connection with which the current and/or the voltage can be output or a digital value determined from the current and/or the voltage can be output. In addition, the control electronics have a calibration element and an adjustment mechanism, wherein the calibration element can be adjusted by means of the adjustment mechanism.
Description
Die Erfindung betrifft ein Sensorsystem, ein Verfahren zum Betrieb eines Sensorsystems sowie ein elektronisches Gerät.The invention relates to a sensor system, a method for operating a sensor system and an electronic device.
Stand der TechnikState of the art
Sensorsysteme können Sensoren beinhalten, bei denen bei Einwirken einer physikalischen Messgröße auf den Sensor eine mittels Strom und/oder Spannung detektierbare Eigenschaft eines Sensorelements verändert wird. Eine Ansteuerungselektronik kann mittels eines Umsetzers die Eigenschaft in einen Strom und/oder eine Spannung umsetzen. Außerdem weist die Ansteuerungselektronik einen Ausleseanschluss auf, mit dem der Strom und/oder die Spannung ausgegeben werden kann oder ein aus dem Strom und/oder der Spannung ein Digitalwert ausgegeben werden kann. Insbesondere können der Strom und/oder die Spannung auch als Analogwert ausgegeben werden, wobei dadurch ein Rückschluss auf die physikalische Messgröße möglich wird. Insbesondere können die Sensorsysteme kapazitive Beschleunigungssensoren umfassen.Sensor systems can include sensors in which a property of a sensor element that can be detected by means of current and/or voltage is changed when a physical measurement variable acts on the sensor. Control electronics can convert the property into a current and/or a voltage using a converter. In addition, the control electronics has a readout connection with which the current and/or the voltage can be output or a digital value can be output from the current and/or the voltage. In particular, the current and/or the voltage can also be output as an analog value, thereby making it possible to draw conclusions about the physical measurement variable. In particular, the sensor systems can include capacitive acceleration sensors.
Solche Sensorsysteme können durch eine Veränderung von äußeren Einflüssen ein durch einen Offset verursachtes verfälschtes Signal messen. Eine Stressänderung, wie sie durch Löten des Sensorsystems auf einen Träger o.Ä. auftreten kann, ist ein Beispiel für einen solchen äußeren Einfluss, der zu einem Offset führen kann. Es kann ferner vorgesehen sein, einen Offset durch Re-Kalibration zu entfernen. Dies erfolgt im Regelfall digital, da hier eine einfache Addition im Signalpfad ausreichend ist und der Prozess einfach zu handhaben ist. Die digitale Rekalibrierung des Offsets funktioniert zufriedenstellend, wenn der Offset, der durch Kalibration eliminiert werden soll, klein im Vergleich zum Messbereich des Sensorsystems ist.Such sensor systems can measure a distorted signal caused by an offset due to a change in external influences. A change in stress, such as that which can occur due to soldering the sensor system to a carrier or similar, is an example of such an external influence that can lead to an offset. Provision can also be made to remove an offset through recalibration. This is usually done digitally, as a simple addition in the signal path is sufficient and the process is easy to handle. Digital recalibration of the offset works satisfactorily if the offset to be eliminated by calibration is small compared to the measuring range of the sensor system.
Bei Sensorsystemen mit hoher Bandbreite ist der Offset gegebenenfalls nicht klein im Vergleich zum Messbereich. In solchen Sensorsystemen sind die Offsets in der Regel deutlich größer, da die höhere Bandbreite durch verringerte Empfindlichkeit realisiert wird. Bei einer großen Offset-Korrektur kann der Messbereich des Sensorsystems eingeschränkt werden.In sensor systems with a high bandwidth, the offset may not be small compared to the measuring range. In such sensor systems, the offsets are usually significantly larger because the higher bandwidth is achieved through reduced sensitivity. If the offset correction is large, the measuring range of the sensor system can be restricted.
Offenbarung der ErfindungDisclosure of the invention
Eine Aufgabe der Erfindung ist es, ein verbessertes Sensorsystem, ein verbessertes Verfahren zum Betrieb eines Sensorsystems und ein verbessertes elektronisches Gerät bereitzustellen. Diese Aufgaben werden mit den Gegenständen der unabhängigen Patentansprüche gelöst. Vorteilhafte Weiterbildungen sind in den abhängigen Patentansprüchen angegeben.An object of the invention is to provide an improved sensor system, an improved method of operating a sensor system and an improved electronic device. These tasks are solved with the subject matter of the independent patent claims. Advantageous further developments are specified in the dependent patent claims.
Ein Sensorsystem weist einen Sensor und eine Ansteuerungselektronik auf. Der Sensor ist derart ausgestaltet, dass bei Einwirken einer physikalischen Messgröße auf den Sensor eine mittels Strom und/oder Spannung detektierbare Eigenschaft eines Sensorelements verändert wird. Die Ansteuerungselektronik weist einen Umsetzer auf, mit dem die Eigenschaft in einen Strom und/oder eine Spannung umgesetzt wird. Ferner weist die Ansteuerungselektronik einen Ausleseanschluss auf, mit dem der Strom und/oder die Spannung ausgegeben werden kann beziehungsweise können oder ein aus dem Strom und/oder der Spannung ermittelter Digitalwert ausgegeben werden kann. Außerdem weist die Ansteuerungselektronik ein Kalibrierelement und einen Einstellmechanismus auf, wobei das Kalibrierelement mittels des Einstellmechanismus eingestellt werden kann.A sensor system has a sensor and control electronics. The sensor is designed in such a way that when a physical measurement variable acts on the sensor, a property of a sensor element that can be detected by means of current and/or voltage is changed. The control electronics have a converter with which the property is converted into a current and/or a voltage. Furthermore, the control electronics has a readout connection with which the current and/or the voltage can be output or a digital value determined from the current and/or the voltage can be output. In addition, the control electronics have a calibration element and an adjustment mechanism, wherein the calibration element can be adjusted by means of the adjustment mechanism.
Das Kalibrierelement kann dabei derart in der Ansteuerungselektronik angeordnet sein, dass mittels des Umsetzers bei der Umsetzung der Eigenschaft in einen Strom und/oder eine Spannung das Kalibrierelement ebenfalls berücksichtigt wird. Hierzu kann das Kalibrierelement beispielsweise in Reihe oder parallel zum Sensorelement geschaltet sein.The calibration element can be arranged in the control electronics in such a way that the calibration element is also taken into account by means of the converter when converting the property into a current and/or a voltage. For this purpose, the calibration element can be connected, for example, in series or parallel to the sensor element.
Dadurch kann ein größerer Offset ausgeglichen werden als mittels einer digitalen Rekalibrierung. Im Idealfall kann ein Offset ohne Einschränkung des Messbereichs ausgeglichen werden. Der Einstellmechanismus kann dabei eine analoge oder digitale Vorgabe zum Einstellen des Kalibrierelements umfassen.This means that a larger offset can be compensated for than with digital recalibration. Ideally, an offset can be compensated for without restricting the measuring range. The adjustment mechanism can include an analog or digital specification for adjusting the calibration element.
In einer Ausführungsform des Sensorsystems weist das Sensorelement eine durch die physikalische Messgröße veränderliche Kapazität und das Kalibrierelement eine einstellbare Kapazität auf. In einer alternativen Ausführungsform des Sensorsystems weist das Sensorelement einen durch die physikalische Messgröße veränderlichen Widerstand und das Kalibrierelement einen einstellbaren Widerstand auf. Mittels des Einstellmechanismus können die einstellbare Kapazität beziehungsweise der einstellbare Widerstand eingestellt werden.In one embodiment of the sensor system, the sensor element has a capacitance that can be changed by the physical measured variable and the calibration element has an adjustable capacitance. In an alternative embodiment of the sensor system, the sensor element has a resistance that can be changed by the physical measurement variable and the calibration element has an adjustable resistance. The adjustable capacity or the adjustable resistance can be adjusted using the adjustment mechanism.
In einer Ausführungsform des Sensorsystems weist der Einstellmechanismus einen Datenspeicher und einen Dateneingang auf. Zumindest ein Kalibrierwert kann über den Dateneingang empfangen und im Datenspeicher gespeichert werden. Die Ansteuerungselektronik ist eingerichtet, das Kalibrierelement anhand des Kalibrierwerts einzustellen. Dies kann beispielsweise mittels eines TRIM-Registers realisiert sein, wobei der Kalibrierwert im TRIM-Register abgelegt wird und das Kalibrierelement anhand des im TRIM-Register abgelegten Kalibrierwerts eingestellt wird. Der Datenspeicher kann insbesondere als nicht-flüchtiger Speicher ausgestaltet sein. Bei einer Kalibrierung des Sensorsystems kann dann der Kalibrierwert ermittelt und im Datenspeicher abgelegt werden. Ein TRIM-Register kann dabei einen nichtflüchtigen Datenspeicher umfassen, in dem der Kalibrierwert abgelegt ist. Ferner kann das TRIM-Register ein flüchtiges Register umfassen, in das der Wert nach einer Sensorsysteminitialisierung geladen werden kann.In one embodiment of the sensor system, the adjustment mechanism has a data memory and a data input. At least one calibration value can be received via the data input and stored in the data memory. The control electronics are set up to adjust the calibration element based on the calibration value. This can be implemented, for example, using a TRIM register, with the calibration value is stored in the TRIM register and the calibration element is set based on the calibration value stored in the TRIM register. The data memory can in particular be designed as a non-volatile memory. When the sensor system is calibrated, the calibration value can then be determined and stored in the data memory. A TRIM register can include a non-volatile data memory in which the calibration value is stored. Furthermore, the TRIM register may include a volatile register into which the value can be loaded after sensor system initialization.
In einer Ausführungsform des Sensorsystems ist zumindest ein Kalibrierwert ein Erstkalibrierwert und die Ansteuerungselektronik eingerichtet, das Kalibrierelement anhand des Erstkalibrierwerts einzustellen. Dies kann beispielsweise dazu genutzt werden, das Sensorsystem bei der Herstellung zu kalibrieren und das Kalibrierelement anhand des Erstkalibrierwerts mittels des Einstellmechanismus einzustellen. Zusätzlich besteht die Möglichkeit, das in ein größeres System eingebaute Sensorsystem erneut mittels eines weiteren Kalibrierwerts zu kalibrieren, beispielsweise dann, wenn durch den Einbau des Sensorsystems ein Offset verursacht wird, beispielsweise aufgrund einer Stressänderung, wie sie durch Löten des Sensorsystems auf einen Träger o.Ä. auftreten kann. Der Erstkalibrierwert kann beispielsweise im Datenspeicher abgelegt werden.In one embodiment of the sensor system, at least one calibration value is an initial calibration value and the control electronics are set up to adjust the calibration element based on the initial calibration value. This can be used, for example, to calibrate the sensor system during production and to adjust the calibration element based on the initial calibration value using the adjustment mechanism. In addition, it is possible to calibrate the sensor system installed in a larger system again using a further calibration value, for example if an offset is caused by the installation of the sensor system, for example due to a change in stress, such as that caused by soldering the sensor system to a carrier or the like. Ä. can occur. The initial calibration value can, for example, be stored in the data memory.
In einer Ausführungsform des Sensorsystems umfasst der Kalibrierwert einen Nachkalibrierwert. Dieser kann dem oben bereits erwähnten weiteren Kalibrierwert entsprechen. Der Nachkalibrierwert kann beispielsweise anhand eines Messergebnisses des Sensors und eines weiteren Sensors ermittelt werden. Ferner sind auch Ausgestaltungen denkbar, bei denen der Nachkalibrierwert anhand eines Messergebnisses des Sensors ermittelt wird, ohne einen weiteren Sensor zu benötigen. Der weitere Sensor kann dabei dem Sensorsystem zugeordnet sein oder als externer Sensor ausgestaltet sein. Im letzteren Fall kann das Sensorsystem einen Sensordateneingang für Daten des weiteren Sensors aufweisen.In one embodiment of the sensor system, the calibration value includes a recalibration value. This can correspond to the additional calibration value already mentioned above. The recalibration value can be determined, for example, based on a measurement result from the sensor and another sensor. Furthermore, configurations are also conceivable in which the recalibration value is determined based on a measurement result from the sensor without requiring an additional sensor. The further sensor can be assigned to the sensor system or can be designed as an external sensor. In the latter case, the sensor system can have a sensor data input for data from the further sensor.
In einer Ausführungsform des Sensorsystems ist der Erstkalibrierwert in einem weiteren Datenspeicher abgelegt. Dies kann beispielsweise dazu dienen, eine Kalibrierung während der Herstellung im weiteren Datenspeicher abzulegen, wobei der weitere Datenspeicher ein Nur-Lese-Speicher sein kann und dadurch ein Nachweis einer Kalibrierung während der Herstellung geführt werden kann. Ein Anwender, der das Sensorsystem in ein größeres System einbaut, kann dann eine weitere Kalibrierung vornehmen, und den Nachkalibrierwert im Datenspeicher ablegen, so dass sowohl der Nachkalibrierwert als auch der Erstkalibrierwert zur Verfügung stehen. Ferner kann der Nachkalibrierwert auch erst im Betrieb des Sensorsystems ermittelt werden.In one embodiment of the sensor system, the initial calibration value is stored in another data memory. This can be used, for example, to store a calibration during production in the further data memory, whereby the further data memory can be a read-only memory and thereby proof of a calibration can be kept during production. A user who installs the sensor system in a larger system can then carry out a further calibration and store the recalibration value in the data memory so that both the recalibration value and the initial calibration value are available. Furthermore, the recalibration value can only be determined during operation of the sensor system.
In einer Ausführungsform des Sensorsystems ist die Ansteuerungselektronik eingerichtet, in vorgegebenen Zeitintervallen eine Kalibrierung des Sensorsystems vorzunehmen und dabei den Kalibrierwert im Datenspeicher gegebenenfalls zu überschreiben. Dies kann insbesondere bei der Anordnung des Sensorsystems in einem elektronischen Gerät mit Akkumulator zur Energieversorgung dann erfolgen, wenn der Akkumulator gerade geladen wird, da zu diesen Zeiten ausreichend elektrische Energie zur Verfügung steht, die nicht dem Akkumulator entnommen werden muss beziehungsweise direkt wieder dem Akkumulator zugeführt werden kann. Ferner kann, wenn der Sensor beispielsweise einen Beschleunigungssensor umfasst, während des Ladens angenommen werden, dass der Sensor ausschließlich eine Erdbeschleunigung misst und so gegebenenfalls eine Ermittlung des Nachkalibrierwerts anhand eines Messergebnisses des Sensors möglich werden.In one embodiment of the sensor system, the control electronics are set up to calibrate the sensor system at predetermined time intervals and, if necessary, overwrite the calibration value in the data memory. This can be done in particular when the sensor system is arranged in an electronic device with an accumulator for energy supply when the accumulator is currently being charged, since at these times there is sufficient electrical energy available that does not have to be taken from the accumulator or fed directly back to the accumulator can be. Furthermore, if the sensor comprises, for example, an acceleration sensor, it can be assumed during charging that the sensor only measures gravitational acceleration and thus, if necessary, a determination of the recalibration value based on a measurement result from the sensor becomes possible.
In einer Ausführungsform ist das Sensorsystem in einem Gehäuse angeordnet. Das Gehäuse kann dabei beispielsweise Lötkontakte aufweisen, mit denen das Sensorsystem auf einem Träger o.Ä. verlötet werden kann. Eine Stressänderung, wie sie durch Löten des Sensorsystems auf einen Träger o.Ä. auftreten kann, kann so mittels den beschriebenen Methoden ausgeglichen werden.In one embodiment, the sensor system is arranged in a housing. The housing can, for example, have solder contacts with which the sensor system can be soldered to a carrier or similar. A change in stress, such as that which can occur when the sensor system is soldered to a carrier or similar, can be compensated for using the methods described.
In einer Ausführungsform des Sensorsystems weist die Ansteuerungselektronik ferner einen Analog-Digital-Wandler auf, wobei der Analog-Digital-Wandler eingerichtet ist, den Digitalwert aus dem Strom und/oder der Spannung zu ermitteln. In dieser Ausführungsform wird der Digitalwert über den Ausleseanschluss ausgegeben.In one embodiment of the sensor system, the control electronics further has an analog-digital converter, wherein the analog-digital converter is set up to determine the digital value from the current and/or the voltage. In this embodiment, the digital value is output via the readout connection.
In einer Ausführungsform des Sensorsystems weist die Ansteuerungselektronik ferner eine Kalibriereinheit auf, wobei die Kalibriereinheit eingerichtet ist, das Kalibrierelement mittels des Einstellmechanismus einzustellen. Die Kalibriereinheit kann insbesondere eingerichtet sein, den zumindest einen Kalibrierwert in den Datenspeicher zu schreiben. Ferner kann die Kalibriereinheit optional ein weiteres Sensorelement aufweisen, so dass ein Vergleich der mit dem Sensorelement und dem weiteren Sensorelement ermittelte physikalische Messgröße zur Kalibrierung verwendet werden kann. Alternativ oder zusätzlich kann die Kalibriereinheit einen Eingang für Daten eines weiteren Sensorelements umfassen, so dass ebenfalls ein Vergleich der mit dem Sensorelement und dem weiteren Sensorelement ermittelte physikalische Messgröße zur Kalibrierung verwendet werden kann. Insbesondere kann die Kalibriereinheit eingerichtet sein, den Nachkalibrierwert zu ermitteln, beispielsweise anhand von Messdaten des Sensors und gegebenenfalls des weiteren Sensors.In one embodiment of the sensor system, the control electronics further has a calibration unit, wherein the calibration unit is set up to adjust the calibration element by means of the adjustment mechanism. The calibration unit can in particular be set up to write the at least one calibration value into the data memory. Furthermore, the calibration unit can optionally have a further sensor element, so that a comparison of the physical measurement variable determined with the sensor element and the further sensor element can be used for calibration. Alternatively or additionally, the calibration unit can include an input for data from a further sensor element, so that a comparison of the physical measurement variable determined with the sensor element and the further sensor element can also be used for calibration. In particular The calibration unit can be set up to determine the recalibration value, for example based on measurement data from the sensor and possibly the other sensor.
In einer Ausführungsform des Sensorsystems ist die Kalibriereinheit eingerichtet, eine Information zur Einstellung des Kalibrierelements anhand eines Algorithmus zu ermitteln. Dabei kann vorgesehen sein, dass die Information zur Einstellung des Kalibrierelements anhand eines Algorithmus iterativ ermittelt wird. Mittels des Algorithmus kann das Kalibrierelement anhand eines Abbruchkriteriums eingestellt werden. Dabei kann vorgesehen sein, dass das Kalibrierelement anhand des Abbruchkriteriums final eingestellt wird. Ferner ist die Kalibriereinheit eingerichtet, das Kalibrierelement mittels des Einstellmechanismus anhand der Information einzustellen. Dadurch kann die Kalibrierung verbessert werden.In one embodiment of the sensor system, the calibration unit is set up to determine information for setting the calibration element using an algorithm. It can be provided that the information for setting the calibration element is determined iteratively using an algorithm. Using the algorithm, the calibration element can be set based on a termination criterion. It can be provided that the calibration element is finally adjusted based on the termination criterion. Furthermore, the calibration unit is set up to adjust the calibration element using the adjustment mechanism based on the information. This can improve calibration.
In einem Verfahren zum Betreiben eines erfindungsgemäßen Sensorsystems wird eine Information zur Einstellung des Kalibrierelements ermittelt und das Kalibrierelement mittels des Einstellmechanismus anhand der Information eingestellt.In a method for operating a sensor system according to the invention, information for setting the calibration element is determined and the calibration element is adjusted using the adjustment mechanism based on the information.
In einer Ausführungsform des Verfahrens wird die Information anhand eines Algorithmus erstellt, wobei der Algorithmus das Kalibrierelement anhand eines Abbruchkriteriums eingestellt.In one embodiment of the method, the information is created using an algorithm, the algorithm setting the calibration element based on a termination criterion.
In einer Ausführungsform des Verfahrens wird die Information mittels eines weiteren Sensorelements gewonnen.In one embodiment of the method, the information is obtained using a further sensor element.
Ein elektronisches Gerät weist ein erfindungsgemäßes Sensorsystem und optional einen Akkumulator sowie optional ein weiteres Sensorelement auf.An electronic device has a sensor system according to the invention and optionally an accumulator and optionally a further sensor element.
Ausführungsbeispiele der Erfindung werden anhand der folgenden Zeichnungen erläutert. In der schematischen Zeichnung zeigen:
-
1 ein Sensorsystem; -
2 ein weiteres Sensorsystem; -
3 einen Signalpfad in einem Sensorsystem; -
4 einen weiteren Signalpfad in einem Sensorsystem; -
5 ein weiteres Sensorsystem; -
6 ein weiteres Sensorsystem; -
7 ein elektronisches Gerät; und -
8 eine Visualisierung eines Kalibrierverfahrens.
-
1 a sensor system; -
2 another sensor system; -
3 a signal path in a sensor system; -
4 another signal path in a sensor system; -
5 another sensor system; -
6 another sensor system; -
7 an electronic device; and -
8th a visualization of a calibration procedure.
Im Folgenden können für identische beziehungsweise identisch wirkende Merkmale gleiche Bezugszeichen verwendet sein. Ferner können gegebenenfalls nicht zwingend erforderliche Merkmale in den Figuren dargestellt sein.In the following, the same reference numerals can be used for identical or identically appearing features. Furthermore, features that are not absolutely necessary may be shown in the figures.
Das Kalibrierelement 124 kann dabei parallel oder in Reihe zum Sensorelement 111 geschaltet sein. Das Kalibrierelement 124 kann dabei derart in der Ansteuerungselektronik 120 angeordnet sein, dass mittels des Umsetzers 121 bei der Umsetzung der Eigenschaft in einen Strom und/oder eine Spannung das Kalibrierelement 124 ebenfalls berücksichtigt wird.The
Dadurch kann ein größerer Offset, insbesondere ohne Einschränkung des Messbereichs, ausgeglichen werden als mittels einer digitalen Rekalibrierung. Der Einstellmechanismus 125 kann dabei eine analoge oder digitale Vorgabe zum Einstellen des Kalibrierelements 124 umfassen.This means that a larger offset can be compensated for, in particular without restricting the measuring range, than by means of digital recalibration. The
In einem Ausführungsbeispiel des Sensorsystems 100 weist das Sensorelement 111 eine durch die physikalische Messgröße veränderliche Kapazität und das Kalibrierelement 124 eine einstellbare Kapazität auf. In einer alternativen Ausführungsform des Sensorsystems 100 weist das Sensorelement 111 einen durch die physikalische Messgröße veränderlichen Widerstand und das Kalibrierelement 124 einen einstellbaren Widerstand auf. Mittels des Einstellmechanismus 125 können die einstellbare Kapazität beziehungsweise der einstellbare Widerstand eingestellt werden.In an exemplary embodiment of the
Insbesondere kann das Sensorelement 111 eine Kapazität einer mikroelektromechanischen Struktur (MEMS) umfassen. Der Sensor 110 kann dann beispielsweise ein Beschleunigungssensor sein, mit dem Beschleunigungen in alle drei Raumrichtungen gemessen werden können. Ferner kann vorgesehen sein, dass der Sensor 110 mehr als ein Sensorelement 111 umfasst. In diesem Fall kann vorgesehen sein, die Sensorelemente 111 differentiell auszuwerten und ein Kalibrierelement 124 zu verwenden. Alternativ kann auch jedem Sensorelement 111 ein eigenes Kalibrierelement 124 zugeordnet sein, jeweils mit einem eigenen Einstellmechanismus 125.In particular, the
In
Der Datenspeicher 126 kann beispielsweise als TRIM-Register realisiert sein, wobei der zumindest eine Kalibrierwert im TRIM-Register abgelegt wird und das Kalibrierelement 124 anhand des im TRIM-Register abgelegten Kalibrierwerts eingestellt wird. Der Datenspeicher 126 kann insbesondere als nicht-flüchtiger Speicher ausgestaltet sein.The
Ist ein Offset des Sensorsystems 100 beziehungsweise des Sensorelements 111 klein gegenüber dem zweiten Wertebereich 142, kann eine digitale Eliminierung des Offsets durchgeführt werden. Dies kann im gezeigten Ausführungsbeispiel dann der Fall sein, wenn der Offset kleiner als der Unterschied zwischen erstem Wertebereich 141 und zweitem Wertebereich 142, im gezeigten Fall also kleiner als plusminus 2 G ist. Ist der Offset größer, kann auf die erfindungsgemäße Offset-Korrektur mittels Kalibrierelement 124 zurückgegriffen werden.If an offset of the
Die Ansteuerungselektronik 120 ist eingerichtet, das Kalibrierelement 124 anhand eines weiteren Kalibrierwerts, insbesondere eines Erstkalibrierwerts, einzustellen. Der Erstkalibrierwerts kann dabei über Eingabeschnittstelle 128 und den Dateneingang 127 im weiteren Datenspeicher 131 abgelegt werden. Dies kann beispielsweise während einer Kalibrierung durch den Hersteller erfolgen, und der weitere Datenspeicher 131 kann ein Nur-Lese-Speicher sein. Dies ermöglicht, die ursprüngliche Kalibrierung des Herstellers nachzuvollziehen, selbst wenn mittels des weiteren Sensors 115 eine weitere Kalibrierung vorgenommen wurde. Eine Auswahleinheit 132 kann dann den Nachkalibrierwert aus dem Datenspeicher 126 oder den Erstkalibrierwert aus dem weiteren Datenspeicher 131 auswählen. Die Auswahleinheit 132 kann analog zum Multiplexer 143 der
Unabhängig vom Gehäuse 101 ist auch der Einstellmechanismus 125 des Sensorsystems der
Im Gegensatz zu den Darstellungen der
Der durch die Kalibriereinheit 129 durchgeführte Algorithmus muss den im Datenspeicher 126 abzulegenden Nachkalibrierwert finden, der zu einem minimalen oder zumindest ausreichend kleinem resultierenden Offset führt. Für den Algorithmus kann ein Abbruchkriterium definiert werden. Das Abbruchkriterium kann ein finales Abbruchkriterium sein. Dieses kann umfassen, dass der Offset unter einer vordefinierten Schwelle liegt oder alternativ, dass sich das Vorzeichen des resultierenden Offsets ändert zwischen zwei nacheinander gesetzten Werten für das Kalibrierelement 124. Diese Schwelle kann größer oder gleich der Hälfte der maximal möglichen Offset-Änderung sein, die auftritt, wenn der Nachkalibrierwert inkrementiert wird.The algorithm carried out by the
Mathematisch handelt es sich hierbei um die Suche der Nullstelle für den resultierenden Offset in Abhängigkeit von Werten zur Einstellung des Kalibrierelements 124. Dazu sind verschiedene Verfahren denkbar, beispielsweise ein Brute-Force-Algorithmus, bei dem alle möglichen Werte für das Kalibrierelement 124 ausprobiert werden, eine sukzessive Approximation, bei der der Wert für das Kalibrierelement 124 schrittweise inkrementiert und dekrementiert wird abhängig vom Vorzeichen des resultierenden Offsets bis das Abbruchkriterium erreicht ist. Eine weitere Möglichkeit stellt das Intervall-Halbierungsverfahren dar. Dieses kann durchgeführt werden, wenn der resultierende Offsets an den Extremen (also Maximum und Minimum) des Wertebereichs für das Kalibrierelement 124 ein ungleiches Vorzeichen besitzt, was jedoch in der Regel erfüllt ist. In diesem Fall werden die Vorzeichen des resultierenden Offsets an den Extremen und das Vorzeichen in der Mitte des Wertebereichs für das Kalibrierelement 124 ermittelt. Der Wertebereich wird daraufhin von der Mitte zu der Extremseite eingeschränkt, die das gegenteilige Vorzeichen zur Mitte aufweist. Dieser Prozess wird nun iteriert bis die Abbruchbedingung erfüllt ist. Ferner kann vorgesehen sein, den Algorithmus iterativ durchzuführen.Mathematically, this involves searching for the zero point for the resulting offset depending on values for setting the
Der Algorithmus kann alternativ auch auf einer externen Kontrolleinheit implementiert werden, wobei die Kontrolleinheit dann nicht Teil des Sensorsystems 100 ist. Die externe Kontrolleinheit kann dazu eingerichtet sein, Daten über den Ausleseanschluss 122 auszulesen, die im Zusammenhang mit der Kalibriereinheit 129 erläuterten Verfahrensschritte durchzuführen und dann den Nachkalibrierwert über die Eingabeschnittstelle 128 zur Verfügung zu stellen. In diesem Fall kann das Einstellen des Kalibrierelements 124 anhand des über die Eingabeschnittstelle zur Verfügung gestellten Nachkalibrierwerts erfolgen. Wird der Algorithmus auf der Kalibriereinheit 129 implementiert, ist die Komplexität der Anschlüsse des Sensorsystems 100 vergleichbar zu einer digitalen Kompensation.Alternatively, the algorithm can also be implemented on an external control unit, in which case the control unit is then not part of the
In einem Verfahren zum Betreiben eines Sensorsystems 100 kann also eine Information zur Einstellung des Kalibrierelements 124 ermittelt werden und das Kalibrierelement 124 mittels des Einstellmechanismus 125 anhand der Information eingestellt werden. Dabei kann die Information anhand eines Algorithmus erstellt werden, wobei der Algorithmus das Kalibrierelement 124 anhand eines Abbruchkriteriums einstellt. Die Information kann insbesondere mittels eines weiteren Sensors 115 gewonnen werden.In a method for operating a
Obwohl die Erfindung im Detail durch die bevorzugten Ausführungsbeispiele beschrieben wurde, ist die Erfindung nicht auf die offenbarten Beispiele eingeschränkt und andere Variationen hieraus können vom Fachmann abgeleitet werden, ohne den Schutzumfang der Erfindung zu verlassen.Although the invention has been described in detail by the preferred embodiments, the invention is not limited to the examples disclosed and other variations may be derived therefrom by those skilled in the art without departing from the scope of the invention.
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Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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DE102022208219.2A Pending DE102022208219A1 (en) | 2022-08-08 | 2022-08-08 | Sensor system and method for operating a sensor system, electronic device |
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Country | Link |
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DE (1) | DE102022208219A1 (en) |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20040070495A1 (en) | 2002-10-15 | 2004-04-15 | Advanced Custom Sensors, Inc. | Sensor signal conditioner |
DE102005020199B3 (en) | 2005-04-28 | 2006-09-21 | Peter Wieninger | Water level sensor system calibrating method, e.g. for industrial water tank, involves detecting signal line`s impedance, and temporarily changing impedance between display device`s calibration and normal modes, based on detected impedance |
DE10138799B4 (en) | 2001-08-13 | 2006-10-26 | Michael N. Rosenheimer | Device for signal conditioning for medical sensors |
WO2007090643A2 (en) | 2006-02-08 | 2007-08-16 | Logicdata Electronic & Software Entwicklungs Gmbh | Circuit arrangement and method for calibration of a sensor arrangement in particular for motor-adjusted furniture and measurement amplifier and sensor arrangement |
DE102007028335A1 (en) | 2007-06-15 | 2008-12-24 | Rechner Industrie-Elektronik Gmbh | Capacitive measuring system for use with three electrode measuring principle for generator, has electronic evaluation unit, and switching device is provided, which is arranged and adapted in switching structure for processing input signal |
-
2022
- 2022-08-08 DE DE102022208219.2A patent/DE102022208219A1/en active Pending
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE10138799B4 (en) | 2001-08-13 | 2006-10-26 | Michael N. Rosenheimer | Device for signal conditioning for medical sensors |
US20040070495A1 (en) | 2002-10-15 | 2004-04-15 | Advanced Custom Sensors, Inc. | Sensor signal conditioner |
DE102005020199B3 (en) | 2005-04-28 | 2006-09-21 | Peter Wieninger | Water level sensor system calibrating method, e.g. for industrial water tank, involves detecting signal line`s impedance, and temporarily changing impedance between display device`s calibration and normal modes, based on detected impedance |
WO2007090643A2 (en) | 2006-02-08 | 2007-08-16 | Logicdata Electronic & Software Entwicklungs Gmbh | Circuit arrangement and method for calibration of a sensor arrangement in particular for motor-adjusted furniture and measurement amplifier and sensor arrangement |
DE102007028335A1 (en) | 2007-06-15 | 2008-12-24 | Rechner Industrie-Elektronik Gmbh | Capacitive measuring system for use with three electrode measuring principle for generator, has electronic evaluation unit, and switching device is provided, which is arranged and adapted in switching structure for processing input signal |
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