DE102021110609A1 - Power semiconductor module and method for producing a power semiconductor module - Google Patents
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- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims abstract description 102
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims description 14
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims abstract description 82
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims abstract description 82
- 239000004020 conductor Substances 0.000 claims abstract description 54
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 41
- 238000000034 method Methods 0.000 claims abstract description 36
- 238000009413 insulation Methods 0.000 claims abstract description 16
- 239000004033 plastic Substances 0.000 claims description 113
- 239000002470 thermal conductor Substances 0.000 claims description 22
- 238000001746 injection moulding Methods 0.000 claims description 13
- 239000000463 material Substances 0.000 description 4
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 3
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical group [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000004734 Polyphenylene sulfide Substances 0.000 description 2
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 2
- -1 polybutylene terephthalate Polymers 0.000 description 2
- 229920001707 polybutylene terephthalate Polymers 0.000 description 2
- 229920000069 polyphenylene sulfide Polymers 0.000 description 2
- BUHVIAUBTBOHAG-FOYDDCNASA-N (2r,3r,4s,5r)-2-[6-[[2-(3,5-dimethoxyphenyl)-2-(2-methylphenyl)ethyl]amino]purin-9-yl]-5-(hydroxymethyl)oxolane-3,4-diol Chemical compound COC1=CC(OC)=CC(C(CNC=2C=3N=CN(C=3N=CN=2)[C@H]2[C@@H]([C@H](O)[C@@H](CO)O2)O)C=2C(=CC=CC=2)C)=C1 BUHVIAUBTBOHAG-FOYDDCNASA-N 0.000 description 1
- 229910000881 Cu alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000005219 brazing Methods 0.000 description 1
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 1
- 238000011109 contamination Methods 0.000 description 1
- 230000006378 damage Effects 0.000 description 1
- 230000005669 field effect Effects 0.000 description 1
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 1
- 230000007257 malfunction Effects 0.000 description 1
- 229910044991 metal oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000004706 metal oxides Chemical class 0.000 description 1
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 1
- 238000005245 sintering Methods 0.000 description 1
- 238000005476 soldering Methods 0.000 description 1
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- H01L21/04—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
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- H01L21/50—Assembly of semiconductor devices using processes or apparatus not provided for in a single one of the subgroups H01L21/06 - H01L21/326, e.g. sealing of a cap to a base of a container
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- H01L25/16—Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof the devices being of types provided for in two or more different main groups of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. forming hybrid circuits
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- H01L2224/32225—Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
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- H01L2224/39—Structure, shape, material or disposition of the strap connectors after the connecting process
- H01L2224/40—Structure, shape, material or disposition of the strap connectors after the connecting process of an individual strap connector
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- H01L2224/40135—Connecting between different semiconductor or solid-state bodies, i.e. chip-to-chip
- H01L2224/40137—Connecting between different semiconductor or solid-state bodies, i.e. chip-to-chip the bodies being arranged next to each other, e.g. on a common substrate
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- H01L2224/34—Strap connectors, e.g. copper straps for grounding power devices; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/39—Structure, shape, material or disposition of the strap connectors after the connecting process
- H01L2224/40—Structure, shape, material or disposition of the strap connectors after the connecting process of an individual strap connector
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- H01L2224/40221—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
- H01L2224/40225—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
- H01L2224/40227—Connecting the strap to a bond pad of the item
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- H01L2224/48137—Connecting between different semiconductor or solid-state bodies, i.e. chip-to-chip the bodies being arranged next to each other, e.g. on a common substrate
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- H01L2224/48221—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
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- H01L2224/73201—Location after the connecting process on the same surface
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- H01L2224/73251—Location after the connecting process on different surfaces
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- H01L25/072—Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes the devices not having separate containers the devices being of a type provided for in group H01L29/00 the devices being arranged next to each other
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Abstract
Die Erfindung betrifft ein Leistungshalbleitermodul ein Leistungshalbleitermodul mit einem Substrat, das eine elektrisch nicht leitende Isolationsschicht und eine auf der Isolationsschicht angeordnete zu Leiterbahnen strukturierte Metallschicht aufweist, mit auf der Metallschicht angeordneten und mit der Metallschicht elektrisch leitend verbundenen Leistungshalbleiterbauelementen, mit einem Gehäuseelement, und mit einer Temperaturmesseinrichtung, die einen Temperatursensor mit einem elektrischen ersten und zweiten Temperatursensoranschluss und ein mit der Metallschicht und mit dem Temperatursensor thermisch leitend verbundenes, von der Metallschicht weg verlaufendes, thermisch leitendes, erstes Flachwärmeleiterelement und ein mit dem ersten Temperatursensoranschluss elektrisch leitend verbundenes erstes Anschlusselement und ein mit dem zweiten Temperatursensoranschluss elektrisch leitend verbundenes zweites Anschlusselement aufweist. Weiterhin betrifft die Erfindung Verfahren zur Herstellung eines Leistungshalbleitermoduls.The invention relates to a power semiconductor module, a power semiconductor module with a substrate, which has an electrically non-conductive insulation layer and a metal layer arranged on the insulation layer structured to form conductor tracks, with power semiconductor components arranged on the metal layer and electrically conductively connected to the metal layer, with a housing element, and with a Temperature measuring device, which has a temperature sensor with an electrical first and second temperature sensor connection and a thermally conductive first flat heat-conducting element which is thermally conductively connected to the metal layer and to the temperature sensor and runs away from the metal layer, and a first connection element which is electrically conductively connected to the first temperature sensor connection and a the second temperature sensor connection has an electrically conductively connected second connection element. Furthermore, the invention relates to methods for producing a power semiconductor module.
Description
Die Erfindung betrifft ein Leistungshalbleitermodul und ein Verfahren zur Herstellung eines Leistungshalbleitermoduls.The invention relates to a power semiconductor module and a method for producing a power semiconductor module.
Beim Betrieb eines Leistungshalbleiterschalters fallen elektrische Verluste in Form von Wärme an, die zu einer Erwärmung des Leistungshalbleiterschalters führen. Überschreitet im Betrieb des Leistungshalbleiterschalters die Temperatur des Leistungshalbleiterschalters einen zulässigen Grenzwert, z.B. infolge einer dynamischen oder stationären Überlastung, kann dies zu Fehlfunktionen und im Extremfall zur Zerstörung des Leistungshalbleiterschalters führen.During the operation of a power semiconductor switch, electrical losses occur in the form of heat, which lead to the power semiconductor switch heating up. If the temperature of the power semiconductor switch exceeds a permissible limit value during operation, e.g. as a result of a dynamic or stationary overload, this can lead to malfunctions and, in extreme cases, to the destruction of the power semiconductor switch.
Um dies zu verhindern ist es aus der
Die Substrattemperatur bzw. die Temperatur des Leistungshalbleiterschalters kann somit überwacht werden.The substrate temperature or the temperature of the power semiconductor switch can thus be monitored.
Ein techniküblicher Temperatursensor, wie z.B. ein NTC-Widerstand oder ein PTC-Wiederstand, wird hierzu techniküblich mit dem Substrat, z.B. mittels einer Löt- oder Sinterverbindung, stoffschlüssig verbunden und weist einen elektrischen ersten und einen elektrischen zweiten Temperatursensoranschluss auf, die mittels Bonddrähten mit einem jeweiligen zugeordneten Anschlusselement des Leistungshalbleitermoduls elektrisch leitend verbunden werden. Über die Anschlusselemente wird eine z.B. auf einer Leiterplatte angeordnete Auswerteschaltung an das Leistungshalbleitermodul, genauer ausgedrückt an die Temperatursensoranschlüsse des Leistungshalbleitermoduls, elektrisch leitend verbunden. Insbesondere bedingt durch die unterschiedlichen Verbindungstechniken (Löt- / Sinterverbindung und Bonddrahtverbindung) ist die Herstellung eines solchen mit einem Temperatursensor versehenen Leistungshalbleitermoduls aufwendig.A conventional temperature sensor, such as an NTC resistor or a PTC resistor, is connected to the substrate, e.g. by means of a soldered or sintered connection, and has an electrical first and an electrical second temperature sensor connection, which are connected by means of bonding wires to a respective associated connection element of the power semiconductor module are electrically conductively connected. An evaluation circuit arranged on a printed circuit board, for example, is electrically conductively connected to the power semiconductor module, more precisely to the temperature sensor connections of the power semiconductor module, via the connection elements. Due in particular to the different connection techniques (soldering/sintering connection and bonding wire connection), the production of such a power semiconductor module provided with a temperature sensor is complex.
Es ist Aufgabe der Erfindung ein rationell herstellbares Leistungshalbleitermodul, das einen Temperatursensor aufweist, zu schaffen.It is the object of the invention to create a power semiconductor module that can be produced efficiently and has a temperature sensor.
Diese Aufgabe wird gelöst durch ein Leistungshalbleitermodul mit einem Substrat, das eine elektrisch nicht leitende Isolationsschicht und eine auf der Isolationsschicht angeordnete zu Leiterbahnen strukturierte Metallschicht aufweist, mit auf der Metallschicht angeordneten und mit der Metallschicht elektrisch leitend verbundenen Leistungshalbleiterbauelementen, mit einem Gehäuseelement, und mit einer Temperaturmesseinrichtung, die einen Temperatursensor mit einem elektrischen ersten und zweiten Temperatursensoranschluss und ein mit der Metallschicht und mit dem Temperatursensor thermisch leitend verbundenes, von der Metallschicht weg verlaufendes, thermisch leitendes, erstes Flachwärmeleiterelement und ein mit dem ersten Temperatursensoranschluss elektrisch leitend verbundenes erstes Anschlusselement und ein mit dem zweiten Temperatursensoranschluss elektrisch leitend verbundenes zweites Anschlusselement aufweist.This object is achieved by a power semiconductor module with a substrate, which has an electrically non-conductive insulation layer and a metal layer arranged on the insulation layer structured to form conductor tracks, with power semiconductor components arranged on the metal layer and electrically conductively connected to the metal layer, with a housing element, and with a Temperature measuring device, which has a temperature sensor with an electrical first and second temperature sensor connection and a thermally conductive first flat heat-conducting element which is thermally conductively connected to the metal layer and to the temperature sensor and runs away from the metal layer, and a first connection element which is electrically conductively connected to the first temperature sensor connection and a the second temperature sensor connection has an electrically conductively connected second connection element.
Es erweist sich als vorteilhaft, wenn ein Abschnitt des jeweiligen Anschlusselements über eine dem Substrat abgewandte Seite des Gehäuseelements hinausragt. Hierdurch kann das jeweilige Anschlusselement rationell mit einem jeweiligen elektrischen Anschluss einer Auswerteeinrichtung zur Auswertung des Signals von dem Temperatursensor elektrisch leitend kontaktiert werden.It proves to be advantageous if a section of the respective connection element protrudes beyond a side of the housing element that faces away from the substrate. As a result, the respective connection element can be efficiently contacted in an electrically conductive manner with a respective electrical connection of an evaluation device for evaluating the signal from the temperature sensor.
Weiterhin erweist es sich als vorteilhaft, wenn die Temperaturmesseinrichtung ein mit der Metallschicht und mit dem Temperatursensor thermisch leitend verbundenes, von der Metallschicht weg verlaufendes, thermisch leitendes, zweites Flachwärmeleiterelement aufweist, wobei das erste Flachwärmeleiterelement mit dem ersten Temperatursensoranschluss thermisch leitend verbunden ist und das zweite Flachwärmeleiterelement mit dem zweiten Temperatursensoranschluss thermisch leitend verbunden ist. Hierdurch wird eine besonders gute thermische Anbindung des Temperatursensors an das Substrat erzielt.Furthermore, it has proven to be advantageous if the temperature measuring device has a thermally conductive, second flat heat conductor element which is thermally conductively connected to the metal layer and to the temperature sensor and runs away from the metal layer, the first flat heat conductor element being thermally conductively connected to the first temperature sensor connection and the second Flat heat conductor element is thermally conductively connected to the second temperature sensor terminal. This achieves a particularly good thermal connection of the temperature sensor to the substrate.
Ferner erweist es sich als vorteilhaft, wenn das jeweilige Flachwärmeleiterelement mit der Metallschicht thermisch leitend verbunden ist, indem das jeweilige Flachwärmeleiterelement mit der Metallschicht stoffschlüssig, insbesondere mittels einer Schweiß-, Löt-, oder Sinterverbindung, elektrisch leitend kontaktiert ist. Hierdurch wird eine besonders gute thermische Anbindung des Temperatursensors an das Substrat erzielt.It also proves to be advantageous if the respective flat heat-conducting element is thermally conductively connected to the metal layer in that the respective flat heat-conducting element is electrically conductively contacted with the metal layer, in particular by means of a welded, soldered or sintered connection. This achieves a particularly good thermal connection of the temperature sensor to the substrate.
Weiterhin erweist es sich als vorteilhaft, wenn das Gehäuseelement das Substrat lateral umläuft. Hierdurch sind die Leistungshalbleiterbauelemente gegen Verschmutzung geschützt.Furthermore, it proves to be advantageous if the housing element runs laterally around the substrate. As a result, the power semiconductor components are protected against contamination.
Weiterhin erweist es sich als vorteilhaft, wenn das erste Flachwärmeleiterelement mit dem ersten Anschlusselement einstückig ausgebildet ist und/oder falls das zweite Flachwärmeleiterelement vorhanden ist, erweist es sich als vorteilhaft, wenn das zweite Flachwärmeleiterelement mit dem zweiten Anschlusselement einstückig ausgebildet ist. Hierdurch ist die Temperaturmesseinrichtung rationell herstellbar und mechanisch besonders stabil ausgebildet.Furthermore, it proves to be advantageous if the first flat heat conductor element is formed in one piece with the first connection element and/or if the second flat heat conductor element is present, it proves advantageous if the second flat heat conductor element is connected to the second Connecting element is formed in one piece. As a result, the temperature measuring device can be produced efficiently and is mechanically particularly stable.
Ferner erweist es sich als vorteilhaft, wenn die Temperaturmesseinrichtung von einem Kunststoffelement derartig ummantelt und mit dem Kunststoffelement stoffschlüssig verbunden ist, dass ein Teil des jeweiligen Flachwärmeleiterelements und ein Teil des jeweiligen Anschlusselements aus dem Kunststoffelement herausragen. Durch das Kunststoffelement ist die Temperaturmesseinrichtung vor mechanischen Einwirkungen und Schmutzpartikel geschützt.Furthermore, it proves to be advantageous if the temperature measuring device is encased by a plastic element and is materially connected to the plastic element in such a way that a part of the respective flat heat conductor element and a part of the respective connection element protrude from the plastic element. The plastic element protects the temperature measuring device from mechanical influences and dirt particles.
In diesem Zusammenhang erweist es sich als vorteilhaft, wenn die Temperaturmesseinrichtung mit dem Kunststoffelement stoffschlüssig verbunden ist, indem die Temperaturmesseinrichtung mit dem Kunststoffelement spritztechnisch stoffschlüssig verbunden ist, insbesondere in das Kunststoffelement eingespritzt ist. Hierdurch ist die Temperaturmesseinrichtung besonders zuverlässig mit dem Kunststoffelement verbunden.In this context, it proves to be advantageous if the temperature measuring device is integrally connected to the plastic element by the temperature measuring device being integrally connected to the plastic element by injection molding, in particular being injected into the plastic element. As a result, the temperature measuring device is connected to the plastic element in a particularly reliable manner.
Weiterhin erweist es sich als vorteilhaft, wenn das Gehäuseelement eine Aufnahme zum Verbinden des Kunststoffelements mit dem Gehäuseelement aufweist, wobei zumindest ein Teil des Kunststoffelements in der Aufnahme angeordnet ist, wobei die Aufnahme und das Kunststoffelement derartig zueinander korrespondierende Formen aufweisen, dass das Kunststoffelement in mindestens zwei Raumrichtungen mit der Aufnahme formschlüssig verbunden ist. Hierdurch sind das Kunststoffelement und somit die Temperaturmesseinrichtung auf einfache Art und Weise mechanisch stabil mit dem Gehäuseelement verbunden. Falls das Gehäuseelement mehrere entlang des Gehäuseelements angerordnete Aufnahmen aufweist, kann die Temperaturmesseinrichtung an unterschiedliche Orten mit dem Gehäuseelement verbunden werden und somit an unterschiedlichen Orten des Substrats dessen Temperatur messen.Furthermore, it has proven to be advantageous if the housing element has a receptacle for connecting the plastic element to the housing element, with at least a part of the plastic element being arranged in the receptacle, with the receptacle and the plastic element having shapes that correspond to one another in such a way that the plastic element is in at least is positively connected in two spatial directions with the recording. As a result, the plastic element and thus the temperature measuring device are connected to the housing element in a mechanically stable manner in a simple manner. If the housing element has a plurality of receptacles arranged along the housing element, the temperature measuring device can be connected to the housing element at different locations and thus measure its temperature at different locations on the substrate.
Weiterhin erweist es sich als vorteilhaft, wenn das Kunststoffelement mit dem Gehäuseelement stoffschlüssig verbunden ist. Hierdurch ist das Kunststoffelement mit dem Gehäuseelement zuverlässig verbunden.Furthermore, it proves to be advantageous if the plastic element is materially connected to the housing element. As a result, the plastic element is reliably connected to the housing element.
In diesem Zusammenhang erweist es sich als vorteilhaft, wenn das Gehäuseelement aus einem Kunststoff ausgebildet ist, und das Kunststoffelement stoffschlüssig mit dem Gehäuseelement verbunden ist, indem das Kunststoffelement mit dem Gehäuseelement spritztechnisch stoffschlüssig verbunden ist, insbesondere in das Gehäuseelement eingespritzt ist. Hierdurch ist das Kunststoffelement mit dem Gehäuseelement besonders zuverlässig verbunden.In this context, it proves to be advantageous if the housing element is made of a plastic and the plastic element is integrally connected to the housing element by the plastic element being integrally connected to the housing element by injection molding, in particular being injected into the housing element. As a result, the plastic element is connected to the housing element in a particularly reliable manner.
Ferner erweist es sich als vorteilhaft, wenn die Temperaturmesseinrichtung von dem Gehäuseelement derartig ummantelt und mit dem Gehäuseelement stoffschlüssig verbunden ist, dass ein Teil des jeweiligen Flachwärmeleiterelements und ein Teil des jeweiligen Anschlusselements aus dem Gehäuseelement herausragen. Hierdurch ist das Leistungshalbleitermodul besonders einfach ausgebildet, da das Kunststoffelement entfällt.It also proves to be advantageous if the temperature measuring device is encased by the housing element and is materially connected to the housing element in such a way that a part of the respective flat heat conductor element and a part of the respective connection element protrude from the housing element. As a result, the power semiconductor module is of particularly simple design, since the plastic element is omitted.
In diesem Zusammenhang erweist es sich als vorteilhaft, wenn die Temperaturmesseinrichtung mit dem Gehäuseelement stoffschlüssig verbunden ist, indem die Temperaturmesseinrichtung mit dem Gehäuseelement spritztechnisch stoffschlüssig verbunden ist, insbesondere in das Gehäuseelement eingespritzt ist. Hierdurch ist die Temperaturmesseinrichtung mit dem Gehäuseelement besonders zuverlässig verbunden.In this context, it proves to be advantageous if the temperature measuring device is integrally connected to the housing element by the temperature measuring device being integrally connected to the housing element by injection molding, in particular being injected into the housing element. As a result, the temperature measuring device is connected to the housing element in a particularly reliable manner.
Weiterhin erweist es sich als vorteilhaft, wenn das jeweilige Flachwärmeleiterelement als Metallblech, insbesondere mit einer Dicke von bevorzugt 250 µm bis 2000 µm, insbesondere von bevorzugt 500 µm bis 1500 µm,ausgebildet ist. Hierdurch weist das jeweilige Flachwärmeleiterelement eine gute Wärmeleitfähigkeit auf.Furthermore, it proves to be advantageous if the respective flat thermal conductor element is designed as a metal sheet, in particular with a thickness of preferably 250 μm to 2000 μm, in particular preferably 500 μm to 1500 μm. As a result, the respective flat thermal conductor element has good thermal conductivity.
Weiterhin wird diese Aufgabe gelöst durch ein Verfahren zur Herstellung eines erfindungsgemäßen Leistungshalbleitermoduls, wobei das Gehäuseelement eine Aufnahme zum Verbinden des Kunststoffelements mit dem Gehäuseelement aufweist, wobei zumindest ein Teil des Kunststoffelements in der Aufnahme angeordnet ist, wobei die Aufnahme und das Kunststoffelement derartig zueinander korrespondierende Formen aufweisen, dass das Kunststoffelement in mindestens zwei Raumrichtungen mit der Aufnahme formschlüssig verbunden ist, mit folgenden Verfahrensschritten, wobei Verfahrensschritt d) vor Verfahrensschritt e) oder Verfahrensschritt e) vor Verfahrensschritt d) ausgeführt wird:
- a) Bereitstellen eines Substrats, das eine elektrisch nicht leitende Isolationsschicht und eine auf der Isolationsschicht angeordnete zu Leiterbahnen strukturierte Metallschicht aufweist und von auf der Metallschicht angeordneten und mit der Metallschicht elektrisch leitend verbundenen Leistungshalbleiterbauelementen,
- b) Bereitstellen einer Temperaturmesseinrichtung, die einen Temperatursensor mit einem elektrischen ersten und zweiten Temperatursensoranschluss und ein mit dem Temperatursensor thermisch leitend verbundenes, thermisch leitendes, erstes Flachwärmeleiterelement und ein mit dem ersten Temperatursensoranschluss elektrisch leitend verbundenes erstes Anschlusselement und ein mit dem zweiten Temperatursensoranschluss elektrisch leitend verbundenes zweites Anschlusselement aufweist, wobei die Temperaturmesseinrichtung von einem Kunststoffelement derartig ummantelt und mit dem Kunststoffelement stoffschlüssig verbunden ist, dass ein Teil des ersten Flachwärmeleiterelements und ein Teil des jeweiligen Anschlusselements aus dem Kunststoffelement herausragen,
- c) Bereitstellen eines Gehäuseelements, das eine Aufnahme zum Verbinden des Kunststoffelements mit dem Gehäuseelement aufweist, wobei die Aufnahme und das Kunststoffelement derartig zueinander korrespondierende Formen aufweisen, dass das Kunststoffelement in mindestens zwei Raumrichtungen mit der Aufnahme formschlüssig verbindbar ist,
- d) Anordnen von zumindest eines Teils des Kunststoffelements in der Aufnahme und damit einhergehend formschlüssiges Verbinden des Kunststoffelements in mindestens zwei Raumrichtungen mit der Aufnahme,
- e) Thermisch leitfähiges Verbinden des ersten Flachwärmeleiterelements mit der Metallschicht.
- a) providing a substrate which has an electrically non-conductive insulation layer and a metal layer arranged on the insulation layer structured to form conductor tracks and power semiconductor components arranged on the metal layer and electrically conductively connected to the metal layer,
- b) providing a temperature measuring device, which has a temperature sensor with an electrical first and second temperature sensor connection and a thermally conductive, first flat heat-conducting element connected to the temperature sensor in a thermally conductive manner and with the first temperature sensor connection electrically conductively connected first connection element and a second connection element electrically conductively connected to the second temperature sensor connection, wherein the temperature measuring device is encased by a plastic element and is materially connected to the plastic element in such a way that a part of the first flat heat conductor element and a part of the respective connection element protrude from the plastic element ,
- c) providing a housing element that has a receptacle for connecting the plastic element to the housing element, the receptacle and the plastic element having shapes that correspond to one another in such a way that the plastic element can be positively connected to the receptacle in at least two spatial directions,
- d) arranging at least a part of the plastic element in the receptacle and associated positive connection of the plastic element in at least two spatial directions with the receptacle,
- e) Thermally conductive connection of the first flat thermal conductor element to the metal layer.
Weiterhin wird diese Aufgabe gelöst durch ein Verfahren zur Herstellung eines erfindungsgemäßen Leistungshalbleitermoduls, wobei das Kunststoffelement mit dem Gehäuseelement stoffschlüssig verbunden ist, mit folgenden Verfahrensschritten:
- a) Bereitstellen eines Substrats, das eine elektrisch nicht leitende Isolationsschicht und eine auf der Isolationsschicht angeordnete zu Leiterbahnen strukturierte Metallschicht aufweist und von auf der Metallschicht angeordneten und mit der Metallschicht elektrisch leitend verbundenen Leistungshalbleiterbauelementen,
- b) Bereitstellen einer Temperaturmesseinrichtung, die einen Temperatursensor mit einem elektrischen ersten und zweiten Temperatursensoranschluss und ein mit dem Temperatursensor thermisch leitend verbundenes, thermisch leitendes, erstes Flachwärmeleiterelement und ein mit dem ersten Temperatursensoranschluss elektrisch leitend verbundenes erstes Anschlusselement und ein mit dem zweiten Temperatursensoranschluss elektrisch leitend verbundenes zweites Anschlusselement aufweist, wobei die Temperaturmesseinrichtung von einem Kunststoffelement derartig ummantelt und mit dem Kunststoffelement stoffschlüssig verbunden ist, dass ein Teil des ersten Flachwärmeleiterelements und ein Teil des jeweiligen Anschlusselements aus dem Kunststoffelement herausragen, wobei das Kunststoffelement mit einem Gehäuseelement des Leistungshalbleitermoduls stoffschlüssig verbunden ist,
- c) Thermisch leitfähiges Verbinden des ersten Flachwärmeleiterelements mit der Metallschicht.
- a) providing a substrate which has an electrically non-conductive insulation layer and a metal layer arranged on the insulation layer structured to form conductor tracks and power semiconductor components arranged on the metal layer and electrically conductively connected to the metal layer,
- b) providing a temperature measuring device, which has a temperature sensor with an electrical first and second temperature sensor connection and a thermally conductive, first flat heat conductor element that is thermally conductively connected to the temperature sensor and a first connection element that is electrically conductively connected to the first temperature sensor connection and a first connection element that is electrically conductively connected to the second temperature sensor connection has a second connection element, wherein the temperature measuring device is encased by a plastic element and is bonded to the plastic element in such a way that a part of the first flat heat conductor element and a part of the respective connection element protrude from the plastic element, the plastic element being bonded to a housing element of the power semiconductor module,
- c) Thermally conductive connection of the first flat thermal conductor element to the metal layer.
Weiterhin wird diese Aufgabe gelöst durch ein Verfahren zur Herstellung eines erfindungsgemäßen Leistungshalbleitermoduls, wobei die Temperaturmesseinrichtung von dem Gehäuseelement derartig ummantelt und mit dem Gehäuseelement stoffschlüssig verbunden ist, dass ein Teil des jeweiligen Flachwärmeleiterelements und ein Teil des jeweiligen Anschlusselements aus dem Gehäuseelement herausragen, mit folgenden Verfahrensschritten:
- a) Bereitstellen eines Substrats, das eine elektrisch nicht leitende Isolationsschicht und eine auf der Isolationsschicht angeordnete zu Leiterbahnen strukturierte Metallschicht aufweist und von auf der Metallschicht angeordneten und mit der Metallschicht elektrisch leitend verbundenen Leistungshalbleiterbauelementen,
- b) Bereitstellen einer Temperaturmesseinrichtung, die einen Temperatursensor mit einem elektrischen ersten und zweiten Temperatursensoranschluss und ein mit dem Temperatursensor thermisch leitend verbundenes, thermisch leitendes, erstes Flachwärmeleiterelement und ein mit dem ersten Temperatursensoranschluss elektrisch leitend verbundenes erstes Anschlusselement und ein mit dem zweiten Temperatursensoranschluss elektrisch leitend verbundenes zweites Anschlusselement aufweist, wobei die Temperaturmesseinrichtung mit einem Gehäuseelement des Leistungshalbleitermoduls stoffschlüssig verbunden ist,
- c) Thermisch leitfähiges Verbinden des ersten Flachwärmeleiterelements mit der Metallschicht.
- a) providing a substrate which has an electrically non-conductive insulation layer and a metal layer arranged on the insulation layer structured to form conductor tracks and power semiconductor components arranged on the metal layer and electrically conductively connected to the metal layer,
- b) providing a temperature measuring device, which has a temperature sensor with an electrical first and second temperature sensor connection and a thermally conductive, first flat heat conductor element that is thermally conductively connected to the temperature sensor and a first connection element that is electrically conductively connected to the first temperature sensor connection and a first connection element that is electrically conductively connected to the second temperature sensor connection has a second connection element, wherein the temperature measuring device is materially connected to a housing element of the power semiconductor module,
- c) Thermally conductive connection of the first flat thermal conductor element to the metal layer.
Vorteilhafte Ausbildungen der Verfahren ergeben sich analog zu vorteilhaften Ausbildungen des Leistungshalbleitermoduls und umgekehrt.Advantageous configurations of the method result analogously to advantageous configurations of the power semiconductor module and vice versa.
Ausführungsbeispiele der Erfindung werden nachfolgend unter Bezugnahme auf die unten stehenden Figuren erläutert. Dabei zeigen:
-
1 eine perspektivische Ansicht einer Ausbildung eines erfindungsgemäßen Leistungshalbleitermoduls, -
2 eine Detailansicht eines Bereichs Avon 1 , -
3 eine perspektivische Ansicht einer Temperaturmesseinrichtung eines erfindungsgemäßen Leistungshalbleitermoduls, -
4 eine perspektivische Ansicht einer von einem Kunststoffelement ummantelten Temperaturmesseinrichtung eines erfindungsgemäßen Leistungshalbleitermoduls, -
5 eine perspektivische Detailansicht eines erfindungsgemäßen Leistungshalbleitermoduls in einem noch nicht fertig hergestellten Zustand, -
6 eine perspektivische Ansicht einer Ausbildung eines weiteren erfindungsgemäßen Leistungshalbleitermoduls, -
7 eine Detailansicht eines Bereichs B von6 , -
8 eine perspektivische Ansicht einer Ausbildung eines weiteren erfindungsgemäßen Leistungshalbleitermoduls und -
9 eine Detailansicht einesBereichs C von 8 .
-
1 a perspective view of an embodiment of a power semiconductor module according to the invention, -
2 a detailed view of an area A of1 , -
3 a perspective view of a temperature measuring device of a power semiconductor module according to the invention, -
4 a perspective view of a plastic element encased temperature measuring device of a power semiconductor module according to the invention, -
5 a perspective detailed view of a power semiconductor module according to the invention in a not yet finished state, -
6 a perspective view of an embodiment of a further power semiconductor module according to the invention, -
7 a detailed view of an area B of6 , -
8th a perspective view of an embodiment of a further power semiconductor module according to the invention and -
9 a detailed view of an area C of8th .
In
Das erfindungsgemäße Leistungshalbleitermodul 1 weist ein Substrat 5 auf, das eine elektrisch nicht leitende Isolationsschicht 5a und eine auf der Isolationsschicht 5a angeordnete zu Leiterbahnen 5ba, 5bb und 5bc strukturierte Metallschicht 5b aufweist. Vorzugsweise weist das Substrat 5 eine elektrisch leitende, vorzugsweise unstrukturierte weitere Metallschicht 5c auf, wobei die Isolationsschicht 5a zwischen der Metallschicht 5b und der weiteren Metallschicht 5c angeordnet ist. Die Isolationsschicht 5a kann z.B. als Keramikplatte ausgebildet sein. Das Substrat 5 kann z.B. als Direct Copper Bonded Substrat (DCB-Substrat), als Active Metal Brazing Substrat (AMB-Substrat) oder als Insulated Metal Substrat (IMS) ausgebildet sein.The
Das Leistungshalbleitermodul 1 weist weiterhin auf der Metallschicht 5b angeordnete und mit der Metallschicht 5b elektrisch leitend verbundene Leistungshalbleiterbauelemente 6 auf. Die Leistungshalbleiterbauelemente 6 sind, vorzugsweise mittels einer Löt- oder Sinterverbindung, mit der Metallschicht 5b elektrisch leitend kontaktiert. Das jeweilige Leistungshalbleiterbauelement 6 liegt vorzugsweise in Form eines Leistungshalbleiterschalters oder einer Diode vor. Die Leistungshalbleiterschalter 6 liegen dabei im Allgemeinen in Form von Transistoren, wie z.B. IGBTs (Insulated Gate Bipolar Transistor) oder MOSFETs (Metal Oxide Semiconductor Field Effect Transistor), oder in Form von Thyristoren vor.The
Es sei angemerkt, dass die Leistungshalbleiterbauelemente 6 an Ihrer dem Substrat 5 abgewandten Seite, mittels z.B. Bonddrähten und/oder einem elektrisch leitenden Folienverbund, miteinander und mit den Leiterbahnen 5ba, 5bb und 5bc des Substrats 5, entsprechend der gewünschten elektrischen Schaltung, z.B. einer Halbbrückenschaltung, welche das Leistungshalbleitermodul 1 realisieren soll, elektrisch leitend miteinander verbunden sind. Der Übersichtlichkeit halber sind diese elektrischen Verbindungen in den Figuren nicht dargestellt.It should be noted that the power semiconductor components 6 on their side facing away from the substrate 5 are connected to one another and to the conductor tracks 5ba, 5bb and 5bc of the substrate 5 by means of e.g , which is to realize the
Das Leistungshalbleitermodul 1 weist ein Gehäuseelement 2 und eine Temperaturmesseinrichtung 3 auf. Das Gehäuseelement 2 umläuft vorzugsweise lateral das Substrat 5. Das Gehäuseelement 2 ist vorzugsweise aus Polyphenylensulfid oder Polybutylenterephthalat ausgebildet. Die Temperaturmesseinrichtung 3 weist einen Temperatursensor 4 mit einem elektrischen ersten und zweiten Temperatursensoranschluss 4a und 4b und ein mit der Metallschicht 5b und mit dem Temperatursensor 4 thermisch leitend verbundenes, von der Metallschicht 5b weg verlaufendes, thermisch leitendes, vorzugsweise gebogenes, erstes Flachwärmeleiterelement 6a auf. Das erste Flachwärmeleiterelement 6a ist vorzugsweise mit dem ersten Temperatursensoranschluss 4a thermisch leitend verbunden. Der Temperatursensor 4 ist vorzugsweise als elektrischer NTC-Widerstand oder als PTC-Widerstand ausgebildet, d.h. als einen Widerstand mit einem negativen Temperaturkoeffizienten oder als ein Widerstand mit einem gegenüber normalen Widerständen höheren positiven Temperaturkoeffizienten. Der Temperatursensor 4 dient zur Messung der Temperatur des Substrats 5. Anhand der Temperatur des Substrats 5, kann die Temperatur mindestens eines der Leistungshalbleiterbauelemente 9 ermittelt werden.The
Die Temperaturmesseinrichtung 3 weist weiterhin vorzugsweise ein mit der Metallschicht 5b und mit dem Temperatursensor 4 thermisch leitend verbundenes, von der Metallschicht 5b weg verlaufendes, thermisch leitendes, vorzugsweise gebogenes, zweites Flachwärmeleiterelement 6b auf, wobei das erste Flachwärmeleiterelement 6a mit dem ersten Temperatursensoranschluss 4a thermisch leitend verbunden ist und das zweite Flachwärmeleiterelement 6b mit dem zweiten Temperatursensoranschluss 4b thermisch leitend verbunden ist.The
Das jeweilige Flachwärmeleiterelement 6a bzw. 6b ist mit der Metallschicht 5b vorzugsweise thermisch leitend verbunden, indem das jeweilige Flachwärmeleiterelement 6a bzw. 6b mit der Metallschicht 5b stoffschlüssig, insbesondere mittels einer Schweiß-, Löt-, oder Sinterverbindung, kontaktiert ist. Falls das erste Flachwärmeleiterelement 6a mit dem ersten Temperatursensoranschluss 4a und das zweite Flachwärmeleiterelement 6b mit dem ersten Temperatursensoranschluss 4b nicht nur thermisch leitend, sondern, insbesondere mittels einer Schweiß-, Löt-, oder Sinterverbindung, auch elektrisch leitend verbunden sind, dann sind die Flachwärmeleiterelemente 6a und 6b mit unterschiedlichen Leiterbahnen 5ba, 5bb der Metallschicht 5b elektrisch leitend kontaktiert. Das erste Flachwärmeleiterelement 6a ist mit dem ersten Anschlusselement 7a vorzugsweise einstückig ausgebildet. Falls das zweite Flachwärmeleiterelement 6b vorhanden ist, dann ist das zweite Flachwärmeleiterelement 6b mit dem zweiten Anschlusselement 7b vorzugsweise einstückig ausgebildet.The respective flat
Das jeweilige Flachwärmeleiterelement 6a bzw. 6b ist vorzugsweise als Metallblech, insbesondere mit einer Dicke von bevorzugt 250 µm bis 2000 µm, insbesondere von bevorzugt 500 µm bis 1500 µm, ausgebildet.The respective flat
Das jeweilige Flachwärmeleiterelement 6a bzw. 6b ist vorzugsweise aus Kupfer oder aus einer Kupferlegierung ausgebildet.The respective flat
Die Temperaturmesseinrichtung 3 weist weiterhin ein mit dem ersten Temperatursensoranschluss 4a elektrisch leitend verbundenes erstes Anschlusselement 7a und ein mit dem zweiten Temperatursensoranschluss 4b elektrisch leitend verbundenes zweites Anschlusselement 7b auf. Die Anschlusselemente 7a und 7b dienen vorzugsweise zum elektrischen Anschluss einer Auswerteeinrichtung zur Auswertung des Signals von dem Temperatursensor 4. Ein Abschnitt 7a' bzw. 7b' des jeweiligen Anschlusselements 7a bzw. 7b ragt vorzugsweise über eine dem Substrat 5 abgewandte Seite 2a bzw. 2b des Gehäuseelements 2 hinaus.The
Das erste und zweite Anschlusselement 7a und 7b weisen vorzugsweise mindestens einen stiftförmigen Abschnitt auf. Das erste und zweite Anschlusselement 7a und 7b können insbesondere als Pressfitelemente ausgebildet sein.The first and
Dadurch, dass die elektrischen leitenden Verbindungen der Anschlusselement 7a und 7b mit den Temperatursensoranschluss 4a nicht als Bonddrahtverbindungen realisiert sind und der Temperatursensor 4 nicht mehr auf dem Substrat 5 angeordnet ist, ist das erfindungsgemäße Leistungshalbleitermodul 1 rationell herstellbar. Dadurch, dass der Temperatursensor 4 nicht mehr auf den Substrat 5 angeordnet ist, sondern die Wärme des Substrats 5 mittels des jeweiligen Flachwärmeleiterelement 6a bzw. 6b zum Temperatursensor 4 geleitet wird, kann der Temperatursensor 4 an einem beliebigen Ort des Leistungshalbleitermodul 1 angeordnet sein. Die Temperaturmesseinrichtung 3 bildet vorzugsweise eine bauliche Einheit aus, so dass die Temperaturmesseinrichtung 3 bei der Herstellung des Leistungshalbleitermoduls 1 bereits als vorgefertigte Einheit vorliegt.Due to the fact that the electrically conductive connections of the
Die Temperaturmesseinrichtung 4 ist von einem Kunststoffelement 8 vorzugsweise derartig ummantelt und mit dem Kunststoffelement 8 stoffschlüssig verbunden, dass ein Teil 6a' bzw. 6b' des jeweiligen Flachwärmeleiterelements 6a bzw. 6b und ein Teil 7ac bzw. 7bc des jeweiligen Anschlusselements 7a bzw. 7b aus dem Kunststoffelement 8 herausragen. Die Temperaturmesseinrichtung 4 bildet zusammen mit dem Kunststoffelement 8 vorzugsweise eine bauliche Einheit aus, so dass die Temperaturmesseinrichtung 3 zusammen mit dem Kunststoffelement 8 bei der Herstellung des Leistungshalbleitermoduls 1 bereits als vorgefertigte Einheit vorliegen.The temperature measuring device 4 is preferably encased by a
Das Kunststoffelement 4 ist vorzugsweise aus Polyphenylensulfid oder Polybutylenterephthalat ausgebildet.The plastic element 4 is preferably formed from polyphenylene sulfide or polybutylene terephthalate.
Die Temperaturmesseinrichtung 3 ist mit dem Kunststoffelement 8 vorzugsweise stoffschlüssig verbunden ist, indem die Temperaturmesseinrichtung 3 mit dem Kunststoffelement 8 spritztechnisch stoffschlüssig verbunden ist, insbesondere in das Kunststoffelement 8 eingespritzt ist.The
Das Gehäuseelement 2 weist vorzugsweise eine Aufnahme 10a zum Verbinden des Kunststoffelements 8 mit dem Gehäuseelement 2 auf, wobei zumindest ein Teil 8a des Kunststoffelements 8 in der Aufnahme 10a angeordnet ist, wobei die Aufnahme 10 und das Kunststoffelement 8 derartig zueinander korrespondierende Formen aufweisen, dass das Kunststoffelement 8 in mindestens zwei Raumrichtungen X und Y mit der Aufnahme 10 formschlüssig verbunden ist. Im Rahmen des Ausführungsbeispiels weist das Gehäuseelement 2 vorzugsweise eine weitere Aufnahme 10b zum Verbinden des Kunststoffelements 8 mit dem Gehäuseelement 2 auf, wobei zumindest ein Teil 8b des Kunststoffelements 8 in der weiteren Aufnahme 10b angeordnet ist, wobei die Aufnahme 10 und das Kunststoffelement 8 derartig zueinander korrespondierende Formen aufweisen, dass das Kunststoffelement 8 in mindestens zwei Raumrichtungen X und Y mit der Aufnahme 10 formschlüssig verbunden ist.The
Im Folgenden wird ein Verfahren zur Herstellung des Leistungshalbleitermoduls 1 beschrieben, wobei das Leistungshalbleitermoduls 1 eine Aufnahme 10a zum Verbinden des Kunststoffelements 8 mit dem Gehäuseelement 2 aufweist, wobei zumindest ein Teil 8a des Kunststoffelements 8 in der Aufnahme 10a angeordnet ist, wobei die Aufnahme 10 und das Kunststoffelement 8 derartig zueinander korrespondierende Formen aufweisen, dass das Kunststoffelement 8 in mindestens zwei Raumrichtungen X und Y mit der Aufnahme 10 formschlüssig verbunden ist.A method for producing the
In einem Verfahrensschritt a) erfolgt ein Bereitstellen eines Substrats 5, das eine elektrisch nicht leitende Isolationsschicht 5a und eine auf der Isolationsschicht 5a angeordnete zu Leiterbahnen 5ba, 5bb bzw. 5bc strukturierte Metallschicht 5b aufweist und von auf der Metallschicht 5b angeordneten und mit der Metallschicht 5b elektrisch leitend verbundenen Leistungshalbleiterbauelementen 9.In a method step a), a substrate 5 is provided, which has an electrically non-conductive insulating
In einem weiteren Verfahrensschritt b) erfolgt ein Bereitstellen einer Temperaturmesseinrichtung 3, die einen Temperatursensor 4 mit einem elektrischen ersten und zweiten Temperatursensoranschluss 4a und 4b und ein mit dem Temperatursensor 4 thermisch leitend verbundenes, thermisch leitendes, erstes Flachwärmeleiterelement 6a und ein mit dem ersten Temperatursensoranschluss 4a elektrisch leitend verbundenes erstes Anschlusselement 7a und ein mit dem zweiten Temperatursensoranschluss 4b elektrisch leitend verbundenes zweites Anschlusselement 7b aufweist. Die Temperaturmesseinrichtung 3 ist von einem Kunststoffelement 8 derartig ummantelt und mit dem Kunststoffelement 8 stoffschlüssig verbunden, dass ein Teil 6a' des ersten Flachwärmeleiterelements 6a und ein Teil 7ac bzw. 7bc des jeweiligen Anschlusselements 7a bzw. 7b aus dem Kunststoffelement 8 herausragen. Die Temperaturmesseinrichtung 3 bildet zusammen mit dem Kunststoffelement 8 eine bauliche Einheit aus.In a further method step b), a
In einem weiteren Verfahrensschritt c) erfolgt ein Bereitstellen eines Gehäuseelements 2, das eine Aufnahme 10 zum Verbinden des Kunststoffelements 8 mit dem Gehäuseelement 2 aufweist, wobei die Aufnahme 10 und das Kunststoffelement 8 derartig zueinander korrespondierende Formen aufweisen, dass das Kunststoffelement 8 in mindestens zwei Raumrichtungen X und Y mit der Aufnahme 10 formschlüssig verbindbar ist.In a further method step c), a
In einem weiteren Verfahrensschritt d) erfolgt ein Anordnen von zumindest eines Teils 8a bzw. 8b des Kunststoffelements 8 in der Aufnahme 10a bzw. 10b und damit einhergehend ein formschlüssiges Verbinden des Kunststoffelements 8 in mindestens zwei Raumrichtungen X und Y mit der Aufnahme 10. Im Rahmen des Ausführungsbeispiels wird hierzu, wie beispielhaft in
In einem weiteren Verfahrensschritt e) erfolgt ein thermisch leitfähiges Verbinden des ersten Flachwärmeleiterelements 6a mit der Metallschicht 5b. Hierzu wird das erste Flachwärmeleiterelement 6a mit der Metallschicht 5b vorzugsweise stoffschlüssig, insbesondere mittels einer Schweiß-, Löt-, oder Sinterverbindung, mit der Metallschicht 5b, genauer ausgedrückt mit der Leiterbahn 5ba kontaktiert.In a further method step e), a thermally conductive connection of the first flat
Die Durchführung von Verfahrensschritt d) erfolgt vorzugsweise vor der Durchführung von Verfahrensschritt e). Es kann aber auch die Durchführung von Verfahrensschritt e) vor der Durchführung von Verfahrensschritt d) erfolgen.Method step d) is preferably carried out before method step e) is carried out. However, process step e) can also be carried out before process step d) is carried out.
In
Im Folgenden wird ein Verfahren zur Herstellung des erfindungsgemäßen Leistungshalbleitermoduls 1' beschrieben.A method for producing the power semiconductor module 1' according to the invention is described below.
In einem Verfahrensschritt a) erfolgt ein Bereitstellen eines Substrats 5, das eine elektrisch nicht leitende Isolationsschicht 5a und eine auf der Isolationsschicht 5a angeordnete zu Leiterbahnen 5ba, 5bb und 5bc strukturierte Metallschicht 5b aufweist und von auf der Metallschicht 5b angeordneten und mit der Metallschicht 5b elektrisch leitend verbundenen Leistungshalbleiterbauelementen 9.In a method step a), a substrate 5 is provided, which has an electrically non-conductive insulating
In einem weiteren Verfahrensschritt b) erfolgt ein Bereitstellen einer Temperaturmesseinrichtung 3, die einen Temperatursensor 4 mit einem elektrischen ersten und zweiten Temperatursensoranschluss 4a und 4b und ein mit dem Temperatursensor 4 thermisch leitend verbundenes, thermisch leitendes, erstes Flachwärmeleiterelement 6a und ein mit dem ersten Temperatursensoranschluss 4a elektrisch leitend verbundenes erstes Anschlusselement 7a und ein mit dem zweiten Temperatursensoranschluss 4b elektrisch leitend verbundenes zweites Anschlusselement 7b aufweist. Die Temperaturmesseinrichtung 3 ist von einem Kunststoffelement 8 derartig ummantelt und mit dem Kunststoffelement 8 stoffschlüssig verbunden, dass ein Teil 6a' des ersten Flachwärmeleiterelements 6a und ein Teil 7ac bzw. 7bc des jeweiligen Anschlusselements 7a bzw. 7b aus dem Kunststoffelement 8 herausragen, wobei das Kunststoffelement 8 mit einem Gehäuseelement 2 des Leistungshalbleitermoduls 1 ` stoffschlüssig verbunden ist. Die Temperaturmesseinrichtung 3 bildet zusammen mit dem Kunststoffelement 8 und dem Gehäuseelement 2 eine bauliche Einheit aus. Beim Verfahrensschritts b) ist das Gehäuseelement 2 vorzugsweise aus einem Kunststoff ausgebildet ist, und das Kunststoffelement 8 ist vorzugsweise stoffschlüssig mit dem Gehäuseelement 2 verbunden, indem das Kunststoffelement 8 mit dem Gehäuseelement 2 spritztechnisch stoffschlüssig verbunden ist, insbesondere in das Gehäuseelement 2 eingespritzt ist.In a further method step b), a
In einem weiteren Verfahrensschritt c) erfolgt ein thermisch leitfähiges Verbinden des ersten Flachwärmeleiterelements 6a mit der Metallschicht 5b. Hierzu wird das erste Flachwärmeleiterelements 6a mit der Metallschicht 5b vorzugsweise stoffschlüssig, insbesondere mittels einer Schweiß-, Löt-, oder Sinterverbindung, mit der Metallschicht 5b, genauer ausgedrückt mit der Leiterbahn 5ba kontaktiert.In a further method step c), a thermally conductive connection of the first flat
In
Im Folgenden wird ein Verfahren zur Herstellung des erfindungsgemäßen Leistungshalbleitermoduls 1" beschrieben.A method for producing the
In einem Verfahrensschritt a) erfolgt ein Bereitstellen eines Substrats 5, das eine elektrisch nicht leitende Isolationsschicht 5a und eine auf der Isolationsschicht 5a angeordnete zu Leiterbahnen 5ba, 5bb und 5bc strukturierte Metallschicht 5b aufweist und von auf der Metallschicht 5b angeordneten und mit der Metallschicht 5b elektrisch leitend verbundenen Leistungshalbleiterbauelementen 9.In a method step a), a substrate 5 is provided, which has an electrically non-conductive insulating
In einem weiteren Verfahrensschritt b) erfolgt ein Bereitstellen einer Temperaturmesseinrichtung 3, die einen Temperatursensor 4 mit einem elektrischen ersten und zweiten Temperatursensoranschluss 4a und 4b und ein mit dem Temperatursensor 4 thermisch leitend verbundenes, thermisch leitendes, erstes Flachwärmeleiterelement 6a und ein mit dem ersten Temperatursensoranschluss 4a elektrisch leitend verbundenes erstes Anschlusselement 7a und ein mit dem zweiten Temperatursensoranschluss 4b elektrisch leitend verbundenes zweites Anschlusselement 7b aufweist, wobei die Temperaturmesseinrichtung 3 mit einem Gehäuseelement 2 des Leistungshalbleitermoduls 1" stoffschlüssig verbunden ist. Die Temperaturmesseinrichtung 3 bildet zusammen mit dem Gehäuseelement 2 eine bauliche Einheit aus. Beim Verfahrensschritt b) ist die Temperaturmesseinrichtung 3 mit dem Gehäuseelement 2 vorzugsweise stoffschlüssig verbunden, indem die Temperaturmesseinrichtung 3 mit dem Gehäuseelement 2 spritztechnisch stoffschlüssig verbunden ist, insbesondere in das Gehäuseelement 2 eingespritzt ist.In a further method step b), a
In einem weiteren Verfahrensschritt c) erfolgt ein thermisch leitfähiges Verbinden des ersten Flachwärmeleiterelements 6a mit der Metallschicht 5b. Hierzu wird das erste Flachwärmeleiterelements 6a mit der Metallschicht 5b vorzugsweise stoffschlüssig, insbesondere mittels einer Schweiß-, Löt-, oder Sinterverbindung, mit der Metallschicht 5b, genauer ausgedrückt mit der Leiterbahn 5ba kontaktiert.In a further method step c), a thermally conductive connection of the first flat
Es sei an dieser Stelle angemerkt, dass selbstverständlich Merkmale von verschiedenen Ausführungsbeispielen der Erfindung, sofern sich die Merkmale nicht gegenseitig ausschließen, beliebig miteinander kombiniert werden können, ohne den Rahmen der Erfindung zu verlassen.It should be noted at this point that, of course, features of different exemplary embodiments of the invention can be combined with one another as desired, provided the features are not mutually exclusive, without departing from the scope of the invention.
ZITATE ENTHALTEN IN DER BESCHREIBUNGQUOTES INCLUDED IN DESCRIPTION
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Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE102021110609.5A DE102021110609A1 (en) | 2021-04-26 | 2021-04-26 | Power semiconductor module and method for producing a power semiconductor module |
CN202210426447.XA CN115249670A (en) | 2021-04-26 | 2022-04-22 | Power semiconductor module and method for producing a power semiconductor module |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
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Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
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DE102021110609A1 true DE102021110609A1 (en) | 2022-10-27 |
Family
ID=83508276
Family Applications (1)
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DE102021110609.5A Pending DE102021110609A1 (en) | 2021-04-26 | 2021-04-26 | Power semiconductor module and method for producing a power semiconductor module |
Country Status (2)
Country | Link |
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CN (1) | CN115249670A (en) |
DE (1) | DE102021110609A1 (en) |
Citations (4)
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2021
- 2021-04-26 DE DE102021110609.5A patent/DE102021110609A1/en active Pending
-
2022
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