DE102020212516A1 - DEVICE AND METHOD FOR DETERMINING THE CLEANLINESS OF COMPONENT SURFACES - Google Patents
DEVICE AND METHOD FOR DETERMINING THE CLEANLINESS OF COMPONENT SURFACES Download PDFInfo
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- G01N2015/0046—Investigating dispersion of solids in gas, e.g. smoke
Abstract
Die vorliegende Erfindung betrifft eine Vorrichtung und ein Verfahren zur Bestimmung der Sauberkeit von Bauteiloberflächen mit einer Messsonde (10a) zum Aufsetzen auf die zu untersuchende Bauteiloberfläche (18) mit einem Sondengehäuse (11), welches eine Messöffnung aufweist, die von einer Dichtung (17) umgeben ist, sodass die Messsonde (10a) mit der Öffnung unter Abdichtung gegenüber der Umgebung auf die zu untersuchende Oberfläche (18) aufsetzbar ist, sodass innerhalb des Sondengehäuses (11) ein mit der zu untersuchenden Bauteiloberfläche abgeschlossener Messraum (12,13) definiert ist, wobei die Vorrichtung weiterhin mindestens einen Partikelsensor (24) umfasst, mit dem Partikel in oder aus dem Messraum (12,13) erfasst werden können, wobei die Vorrichtung eine Vakuumerzeugungseinrichtung (19) aufweist, die mit dem Sondengehäuse (11) so verbunden ist, dass zumindest in einem Teil des Messraums (12) ein Vakuum erzeugbar ist.The present invention relates to a device and a method for determining the cleanliness of component surfaces with a measuring probe (10a) to be placed on the component surface (18) to be examined with a probe housing (11) which has a measuring opening which is surrounded by a seal (17) is surrounded, so that the opening of the measuring probe (10a) can be placed on the surface to be examined (18) with a seal against the surroundings, so that a measuring space (12, 13) closed with the component surface to be examined is defined within the probe housing (11) , wherein the device further comprises at least one particle sensor (24) with which particles can be detected in or out of the measuring space (12, 13), the device having a vacuum generating device (19) which is connected to the probe housing (11) in this way that a vacuum can be generated at least in part of the measuring space (12).
Description
HINTERGRUND DER ERFINDUNGBACKGROUND OF THE INVENTION
GEBIET DER ERFINDUNGFIELD OF THE INVENTION
Die vorliegende Erfindung betrifft eine Vorrichtung und ein Verfahren zur Bestimmung der Sauberkeit von Bauteiloberflächen.The present invention relates to a device and a method for determining the cleanliness of component surfaces.
STAND DER TECHNIKSTATE OF THE ART
Bauteile, die in Vakuumanlagen eingesetzt werden, müssen gewissen Reinheitsanforderungen genügen, da verunreinigte Bauteile, die in diesen Vakuumanlagen eingesetzt werden, dazu führen, dass die Vakuumanlage durch sich von dem Bauteil lösende Partikel und Verunreinigungen verunreinigt wird und das darin erzeugte Vakuum bzw. die Eigenschaften der Anlage beeinträchtigt werden können. Dies gilt insbesondere auch für Anlagen, die im Zusammenhang mit der Mikro - oder Nano - Lithographie Verwendung finden, wie beispielsweise Projektionsbelichtungsanlagen. Insbesondere bei Systemen, die mit extrem ultravioletten Licht (EUV - Licht) betrieben werden, können Bauteile, die den hohen Sauberkeitsanforderungen nicht entsprechen, Kontaminationen in die entsprechenden Anlagen einschleppen, sodass nicht nur das erforderliche Vakuum bzw. die entsprechend eingestellte Gasatmosphäre beeinträchtigt wird, sondern auch andere Komponenten der Anlage verunreinigt und beeinträchtigt werden können. Insbesondere können Verunreinigungen, wie Partikel, zu Transmissionsverlusten auf Grund von Streulicht führen oder, falls die Partikel im Bereich der die zu erzeugenden Strukturen tragenden Maske auftreten, entsprechende Abbildungsfehler mit Fehlproduktionen verursachen.Components that are used in vacuum systems must meet certain purity requirements, since contaminated components that are used in these vacuum systems lead to the vacuum system being contaminated by particles and impurities loosening from the component and the vacuum generated in it or the properties the system can be impaired. This also applies in particular to systems that are used in connection with micro- or nano-lithography, such as, for example, projection exposure systems. Especially in systems that are operated with extreme ultraviolet light (EUV light), components that do not meet the high cleanliness requirements can drag contaminants into the corresponding systems, so that not only the required vacuum or the correspondingly set gas atmosphere is impaired, but other components of the system can also be contaminated and impaired. In particular, impurities such as particles can lead to transmission losses due to scattered light or, if the particles occur in the area of the mask carrying the structures to be produced, cause corresponding imaging errors with defective productions.
Es ist deshalb unabdingbar, dass Bauteile und Komponenten, die in den entsprechenden EUV - Lithographiesystemen eingesetzt werden, einer Inspektion bezüglich des Reinheitsgrades unterzogen werden, um den definierten Partikelbelastungen zu entsprechen.It is therefore essential that parts and components that are used in the corresponding EUV lithography systems are subjected to an inspection with regard to the degree of purity in order to comply with the defined particle loads.
Hierzu können sogenannte Oberflächensonden eingesetzt werden, mit deren Hilfe der Reinheitsgrad einer zu untersuchenden Bauteiloberfläche charakterisiert werden kann. Ein rein schematisches Beispiel einer Messsonde
Bei dieser Version von Oberflächensonden werden vor allem Gehäuse mit kleinem Durchmesser der Messöffnungen eingesetzt, um so Partikel durch eingesetzte Druckluft effizient von der beaufschlagten Oberfläche lösen zu können. Aufgrund der kleinen Messöffnung entsteht beim Aufsetzen der abgedichteten Sonde auf die Bauteiloberfläche aber eine gewisse Instabilität. Zum einen kann durch die beaufschlagte Druckluft, die über die Druckluftdüse
Sitzt die Messsonde
Bei den Verfahren zur Partikelbestimmung über die beschriebenen Messsonden, die nur über das Absaugen und zeitgleiche Beaufschlagen mit Druckluft nach dem Stand der Technik arbeiten, kann es auch sein, dass nicht alle für den Einsatz des zu untersuchenden Bauteils relevanten Verunreinigungen oder Partikel von der Oberfläche gelöst werden.In the case of the method for particle determination using the measuring probes described, which only work via suction and simultaneous application of compressed air according to the state of the art, it may also be that not all of the impurities or particles relevant to the use of the component to be examined are released from the surface become.
Allerdings besteht bei einer derartigen Oberflächensonde die Problematik, dass generell Oberflächensonden mit einem kleinen Durchmesser der Messöffnung eingesetzt werden, um durch die Druckluft von der beaufschlagten Oberfläche Partikel effizient von der Oberfläche lösen zu können. Entsprechend entsteht beim Aufsetzen der Sonde auf die Dichtung eine gewisse Instabilität. Insbesondere besteht bei einer derartigen Sonde die Problematik, dass durch den hohen Druck, der auch durch die kleine Messöffnung der Oberflächensonde bedingt ist, die Oberflächensonde mit sehr hohem Kraftaufwand auf die Oberfläche gedrückt werden muss, um ein Verkippen zu verhindern. Durch den hohen Druck, der über die Druckluftdüse
OFFENBARUNG DER ERFINDUNGDISCLOSURE OF THE INVENTION
AUFGABE DER ERFINDUNGOBJECT OF THE INVENTION
Es ist es deshalb Aufgabe der vorliegenden Erfindung eine Vorrichtung und ein Verfahren zur Bestimmung der Sauberkeit vom Bauteiloberfläche bereitzustellen, bei welchen die oben geschilderten Probleme des Standes der Technik vermieden oder zumindest verringert werden. Insbesondere sollen die Vorrichtung und das Verfahren zuverlässige Ergebnisse über den Kontaminationszustand einer Bauteiloberfläche liefern, die für den Einsatz der Bauteile in den entsprechenden Anlagen relevant sind.It is therefore the object of the present invention to provide a device and a method for determining the cleanliness of the component surface in which the above-described problems of the prior art are avoided or at least reduced. In particular, the device and the method should provide reliable results on the contamination state of a component surface, which are relevant for the use of the components in the corresponding systems.
TECHNISCHE LÖSUNGTECHNICAL SOLUTION
Diese Aufgabe wird gelöst durch eine Vorrichtung mit den Merkmalen des Anspruchs 1 sowie ein Verfahren mit den Merkmalen des Anspruchs 13. Vorteilhafte Ausgestaltungen sind Gegenstand der abhängigen Ansprüche.This object is achieved by a device with the features of
Zur Lösung der Aufgabenstellung schlägt die Erfindung vor, bei einer Messsonde einer Vorrichtung zur Bestimmung der Sauberkeit von Bauteiloberflächen zumindest in einem Teil des Messraums ein Vakuum zu erzeugen, sodass das Sondengehäuse mit seiner Messöffnung zuverlässig an die zu untersuchende Bauteiloberfläche gedrückt wird und somit ein abgedichteter Messraum definiert ist, sodass keine Verfälschungen des Messergebnisses durch Entweichen von Partikeln aus dem Messraum auftreten können. Darüber hinaus wird durch die Erzeugung eines Unterdrucks bzw. Vakuums auch der spätere Einsatz in einer Vakuumanlage bzw. einer EUV - Projektionsbelichtungsanlage oder einem sonstigen EUV - System simuliert, sodass das Messergebnis die realen Verhältnisse beim Einsatz in der entsprechenden Anlage, insbesondere beim Evakuieren und Entlüften, besser wiedergibt.To solve the problem, the invention proposes to create a vacuum in a measuring probe of a device for determining the cleanliness of component surfaces at least in part of the measuring space, so that the probe housing with its measuring opening is reliably pressed against the component surface to be examined and thus a sealed measuring space is defined so that no falsifications of the measurement result due to the escape of particles from the measurement room can occur. In addition, the generation of a negative pressure or vacuum also simulates the subsequent use in a vacuum system or an EUV projection exposure system or another EUV system, so that the measurement result reflects the real conditions when used in the corresponding system, in particular when evacuating and venting , better reproduces.
Entsprechend können neben den Einrichtungen für die Erzeugung von Druckluft bzw. Druckgas und entsprechenden Düsenvorrichtungen, wie dies bei den Oberflächensonden im Stand der Technik bereits bekannt ist, weitere Einrichtungen zur Simulation der späteren Einsatzbedingungen vorgesehen werden. Beispielsweise kann in dem Sondengehäuse eine Gaszuführungseinrichtung vorgesehen werden, um nach einer Erzeugung eines Vakuums im Messraum auch die Zufuhr von Gas, also das Belüften, simulieren zu können.Correspondingly, in addition to the devices for generating compressed air or compressed gas and corresponding nozzle devices, as is already known in the prior art for the surface probes, further devices for simulating the later operating conditions can be provided. For example, a gas supply device can be provided in the probe housing in order to be able to simulate the supply of gas, that is to say ventilation, after a vacuum has been generated in the measuring space.
Zu diesem Zweck kann auch eine Plasmaerzeugungseinrichtung zur Erzeugung eines Plasmas im Messraum vorgesehen werden, um das Ablösen von Partikel under Systembedingungen zu simulieren.For this purpose, a plasma generating device for generating a plasma can also be provided in the measuring room in order to simulate the detachment of particles under system conditions.
Darüber hinaus können auch weitere Einrichtungen vorgesehen sein, die zum Lösen von Partikeln und / oder zum Simulieren der Einsatzbedingungen beitragen können, wie beispielsweise eine Heizeinrichtung zur Erwärmung des Messraums bzw. der Bauteiloberfläche.In addition, further devices can also be provided which can contribute to the loosening of particles and / or to the simulation of the operating conditions, such as, for example, a heating device for heating the measuring space or the component surface.
Entsprechend kann auch eine Vibrationseinrichtung vorgesehen sein, um durch Erschütterungen der zu untersuchenden Bauteiloberfläche ebenfalls ein Loslösen der Partikel bzw. Kontaminationen zu erreichen.Correspondingly, a vibration device can also be provided in order to also achieve detachment of the particles or contaminants by vibrations of the component surface to be examined.
Nach einer Ausgestaltung der Erfindung kann das Sondengehäuse so ausgebildet sein, dass mindestens 2 Teilmessräume vorhanden sind, wobei jeder Teilmessraum einen Teilmessöffnung umfasst, die insbesondere gegeneinander abgedichtet sind.According to one embodiment of the invention, the probe housing can be designed in such a way that at least 2 partial measuring spaces are present, each partial measuring space comprising a partial measuring opening which are in particular sealed off from one another.
In dem einen Teilmessraum kann ein Anschluss für eine Vakuumerzeugungseinrichtung vorgesehen sein, sodass in dem ersten Teilmessraum ein Vakuum erzeugbar ist. In dem zweiten Teilmessraum kann eine Düsenvorrichtung zur Aufbringung von Druckgas bzw. Druckluft vorgesehen sein. Durch die mindestens zwei Teilmessräume, von denen einer davon mit Unterdruck bzw. unter Vakuumbedingungen betrieben wird, kann sichergestellt werden, dass das Sondengehäuse sicher auf der zu untersuchenden Bauteiloberfläche aufgesetzt ist, ohne dass die Gefahr einer Leckage gegeben ist.A connection for a vacuum generating device can be provided in the one part measuring space, so that a vacuum can be generated in the first part measuring space. A nozzle device for applying compressed gas or compressed air can be provided in the second partial measuring chamber. The at least two partial measuring rooms, one of which is operated with negative pressure or under vacuum conditions, can ensure that the probe housing is securely placed on the component surface to be examined without the risk of leakage.
Nach einer anderen Ausführungsform kann lediglich ein Messraum vorgesehen sein, der an eine Vakuumerzeugungseinrichtung angeschlossen werden kann, wobei dann in dem Messraum nacheinander ein Vakuum und eine Gasatmosphäre nach dem Belüften eingestellt werden können.According to another embodiment, only one measuring space can be provided, which can be connected to a vacuum generating device, wherein a vacuum and a gas atmosphere can then be set in the measuring space one after the other after venting.
Entsprechende Partikelsensoren können im oder am Messraum oder einem Teilmessraum angeordnet sein, sodass die Partikel unmittelbar im Messraum erfasst werden können. Alternativ können entsprechende Partikelsensoren auch entfernt von der Messsonde bzw. dem Sondengehäuse und dem Messraum angeordnet sein, wenn der Messraum bzw. Teilmessraum über eine Leitung mit dem Partikelsensor verbunden ist.Corresponding particle sensors can be arranged in or on the measuring room or a partial measuring room, so that the particles can be detected directly in the measuring room. Alternatively, corresponding particle sensors can also be arranged remotely from the measuring probe or the probe housing and the measuring space if the measuring space or partial measuring space is connected to the particle sensor via a line.
In einer entsprechenden Absaugleitung aus dem Messraum oder Teilmessraum kann auch ein Partikelfilter zur Entnahme von Partikeln angeordnet sein, sodass über den Partikelfilter und die dort entnommenen Partikel nicht nur Aussagen über die Menge der Partikel und Verunreinigungen getroffen werden können, sondern die Partikel auch analysiert werden können, sodass über die Art der Kontaminationen und gegebenenfalls über ihren Ursprung Informationen gewonnen werden können.A particle filter for removing particles can also be arranged in a corresponding suction line from the measuring room or partial measuring room, so that not only statements can be made about the amount of particles and impurities via the particle filter and the particles removed there, but the particles can also be analyzed so about the type of Contaminations and, if necessary, information about their origin can be obtained.
Als Vakuumerzeugungseinrichtung kann eine Strahlpumpe verwendet werden, die beispielsweise mit Druckluft betrieben werden kann, wobei sich insbesondere die Verwendung von extrem reiner, trockener Luft, Stickstoff, Edelgasen oder dergleichen hierfür anbieten. Auch die Druckgaserzeugungseinrichtung bzw. Düsenvorrichtung kann mit diesen Gasen betrieben werden, genauso wie die Gaszuführungseinrichtung zum Befüllen bzw. Belüften des Messraums.A jet pump, which can be operated with compressed air, for example, can be used as the vacuum generating device, the use of extremely pure, dry air, nitrogen, noble gases or the like being particularly suitable for this purpose. The compressed gas generating device or nozzle device can also be operated with these gases, as can the gas supply device for filling or ventilating the measuring space.
Bei der Bestimmung der Sauberkeit von Bauteiloberfläche kann somit gemäß dem Verfahren vor und / oder während der Erfassung der Partikel mit einem Partikelsensor ein Vakuum erzeugt werden, sodass einerseits die Messsonde sicher auf der zu untersuchenden Bauteiloberfläche gehalten wird und andererseits die späteren Einsatzbedingungen des zu untersuchenden Bauteils besser simuliert werden.When determining the cleanliness of the component surface, a vacuum can thus be generated according to the method before and / or during the detection of the particles with a particle sensor, so that, on the one hand, the measuring probe is securely held on the component surface to be examined and, on the other hand, the subsequent operating conditions of the component to be examined can be simulated better.
FigurenlisteFigure list
Die beigefügten Zeichnungen zeigen in rein schematischer Weise in
-
1 eine Vorrichtung zur Bestimmung der Sauberkeit von Bauteiloberflächen mit einer Messsonde nach dem Stand der Technik, -
2 eine Darstellung einer Vorrichtung zur Bestimmung der Sauberkeit vom Bauteiloberfläche mit einer Messsonde gemäß einem ersten Ausführungsbeispiel der Erfindung, -
3 eine Darstellung einer Vorrichtung zur Bestimmung der Sauberkeit von Bauteiloberflächen mit einer Messsonde gemäß einem zweiten Ausführungsbeispiel der Erfindung und in -
4 eine Darstellung einer Vorrichtung zur Bestimmung der Sauberkeit von Bauteiloberfläche mit einer Messsonde gemäß einem dritten Ausführungsbeispiel der Erfindung.
-
1 a device for determining the cleanliness of component surfaces with a measuring probe according to the state of the art, -
2 a representation of a device for determining the cleanliness of the component surface with a measuring probe according to a first embodiment of the invention, -
3 a representation of a device for determining the cleanliness of component surfaces with a measuring probe according to a second embodiment of the invention and in -
4th a representation of a device for determining the cleanliness of component surfaces with a measuring probe according to a third embodiment of the invention.
AUSFÜHRUNGSBEISPIELEEXEMPLARY EMBODIMENTS
Weitere Vorteile, Kennzeichen und Merkmale der vorliegenden Erfindung werden bei der nachfolgenden detaillierten Beschreibung der Ausführungsbeispiele ersichtlich. Allerdings ist die Erfindung nicht auf diese Ausführungsbeispiele beschränkt.Further advantages, characteristics and features of the present invention will become apparent in the following detailed description of the exemplary embodiments. However, the invention is not restricted to these exemplary embodiments.
Die
Wie sich ebenfalls aus der
An der Oberseite des Sondengehäuses
Im Bereich des zweiten Teilmessraums
Über die Absaugung
Mit der gezeigten Messsonde
Die
Die Strahlpumpe
Die
Die Ausführungsform der
An der Oberseite des Sondengehäuses
In der Verbindungsleitung zwischen dem Sondengehäuse
Bei der Ausführungsform der
Darüber hinaus weist die Messsonde
Neben der Heizeinrichtung
Schließlich weist die Messsonde
Mit der Messsonde
Obwohl die vorliegende Erfindung anhand der Ausführungsbeispiele detailliert beschrieben worden ist, ist für den Fachmann selbstverständlich, dass die Erfindung nicht auf diese Ausführungsbeispiele beschränkt ist, sondern dass vielmehr Abwandlungen in der Weise möglich sind, dass einzelne Merkmale weggelassen oder andersartige Kombinationen von Merkmalen verwirklicht werden können, ohne dass der Schutzbereich der beigefügten Ansprüche verlassen wird. Insbesondere schließt die vorliegende Offenbarung sämtliche Kombinationen der in den verschiedenen Ausführungsbeispielen gezeigten Einzelmerkmale mit ein, sodass einzelne Merkmale, die nur in Zusammenhang mit einem Ausführungsbeispiel beschrieben sind, auch bei anderen Ausführungsbeispielen oder nicht explizit dargestellten Kombinationen von Einzelmerkmalen eingesetzt werden können.Although the present invention has been described in detail on the basis of the exemplary embodiments, it is obvious to a person skilled in the art that the invention is not limited to these exemplary embodiments, but rather that modifications are possible in such a way that individual features can be omitted or other types of combinations of features can be implemented without departing from the scope of protection of the appended claims. In particular, the present disclosure includes all combinations of the individual features shown in the various exemplary embodiments, so that individual features that are only described in connection with one exemplary embodiment can also be used in other exemplary embodiments or combinations of individual features that are not explicitly shown.
BezugszeichenlisteList of reference symbols
- 11
- MesssondeMeasuring probe
- 22
- SondengehäuseProbe housing
- 33
- DruckluftdüseCompressed air nozzle
- 44th
- Absaugung zum PartikelzählerExtraction to the particle counter
- 55
- Dichtungpoetry
- 66th
- BauteiloberflächeComponent surface
- 10, 10a, 10b10, 10a, 10b
- MesssondenMeasuring probes
- 1111
- SondengehäuseProbe housing
- 1212th
- erster Teilraum des Messeraumsfirst sub-room of the exhibition room
- 1313th
- zweiter Teilraum des Messraumssecond sub-space of the measuring room
- 1414th
- DruckgaszuführungCompressed gas supply
- 1515th
- Absaugung zum PartikelzählerExtraction to the particle counter
- 1616
- Anschluss für VakuumerzeugungseinrichtungConnection for vacuum generator
- 1717th
- Dichtungpoetry
- 1818th
- zu reinigende Bauteiloberflächecomponent surface to be cleaned
- 1919th
- StrahlpumpeJet pump
- 2020th
- 2 - Wege - Ventil2 - way valve
- 2121
- SondengehäuseProbe housing
- 2222nd
- Anschluss für DrucklufterzeugungseinrichtungConnection for compressed air generating device
- 2323
- GaszufuhrGas supply
- 2424
- StreulichtsensorScattered light sensor
- 2525th
- HeizeinrichtungHeating device
- 2626th
- PlasmaquellePlasma source
- 2727
- PartikelfilterParticle filter
- 2828
- MessraumMeasuring room
- 2929
- DruckluftdüseCompressed air nozzle
- 3030th
- VibrationseinrichtungVibration device
Claims (15)
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE102019217786.7A DE102019217786A1 (en) | 2019-11-19 | 2019-11-19 | Device and method for determining the cleanliness of component surfaces |
DE102019217786.7 | 2019-11-19 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE102020212516A1 true DE102020212516A1 (en) | 2021-05-20 |
Family
ID=69226682
Family Applications (2)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE102019217786.7A Withdrawn DE102019217786A1 (en) | 2019-11-19 | 2019-11-19 | Device and method for determining the cleanliness of component surfaces |
DE102020212516.3A Pending DE102020212516A1 (en) | 2019-11-19 | 2020-10-05 | DEVICE AND METHOD FOR DETERMINING THE CLEANLINESS OF COMPONENT SURFACES |
Family Applications Before (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE102019217786.7A Withdrawn DE102019217786A1 (en) | 2019-11-19 | 2019-11-19 | Device and method for determining the cleanliness of component surfaces |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (2) | DE102019217786A1 (en) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE102023108780A1 (en) | 2023-04-05 | 2023-07-20 | Carl Zeiss Smt Gmbh | DEVICE AND METHOD FOR DETERMINING THE CLEANLINESS OF COMPONENT SURFACES USING A FLEXIBLE MEASURING PROBE |
-
2019
- 2019-11-19 DE DE102019217786.7A patent/DE102019217786A1/en not_active Withdrawn
-
2020
- 2020-10-05 DE DE102020212516.3A patent/DE102020212516A1/en active Pending
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE102023108780A1 (en) | 2023-04-05 | 2023-07-20 | Carl Zeiss Smt Gmbh | DEVICE AND METHOD FOR DETERMINING THE CLEANLINESS OF COMPONENT SURFACES USING A FLEXIBLE MEASURING PROBE |
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Publication number | Publication date |
---|---|
DE102019217786A1 (en) | 2020-01-16 |
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Legal Events
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---|---|---|---|
R079 | Amendment of ipc main class |
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