DE102019207383A1 - Interferometer device and method for manufacturing an interferometer device - Google Patents

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Abstract

Die vorliegende Erfindung schafft eine Interferometereinrichtung (10) umfassend eine Interferometereinheit (1) mit einem Basissubstrat (2), einer Fabry-Perot-Einheit (FPI), und mit einer Detektoreinrichtung (3), und einem Gehäuse (G) welches eine Bodenplatte (BP) und eine Deckelstruktur (4) umfasst, wobei die Deckelstruktur (4) auf der Bodenplatte (BP) angeordnet ist und eine zweite Kavität (K2) zwischen Deckelstruktur (4) und Bodenplatte (BP) einschließt, wobei die Bodenplatte (BP) oder die Deckelstruktur (4) eine Öffnung (5) umfasst, welche von Seitenwänden (5a) umgeben ist, die sich zu einer Oberfläche der Bodenplatte (BP) oder der Deckelstruktur (4) senkrecht erstrecken; und wobei die Interferometereinheit (1) in der zweiten Kavität (K2) und in einer Lichteinfallsrichtung (L) durch die Öffnung (5) angeordnet ist, so dass die Interferometereinheit (1) mit der Fabry-Perot-Einheit (FPI) der Öffnung (5) zugewandt ist.The present invention provides an interferometer device (10) comprising an interferometer unit (1) with a base substrate (2), a Fabry-Perot unit (FPI), and with a detector device (3), and a housing (G) which has a base plate ( BP) and a cover structure (4), the cover structure (4) being arranged on the base plate (BP) and enclosing a second cavity (K2) between the cover structure (4) and the base plate (BP), the base plate (BP) or the lid structure (4) comprises an opening (5) which is surrounded by side walls (5a) which extend perpendicular to a surface of the base plate (BP) or the lid structure (4); and wherein the interferometer unit (1) is arranged in the second cavity (K2) and in a direction of incidence of light (L) through the opening (5), so that the interferometer unit (1) with the Fabry-Perot unit (FPI) of the opening ( 5) is facing.

Description

Die vorliegende Erfindung betrifft eine Interferometereinrichtung und ein Verfahren zum Herstellen einer Interferometereinrichtung.The present invention relates to an interferometer device and a method for producing an interferometer device.

Stand der TechnikState of the art

Miniaturisierte Spektrometer mit Fabry-Perot-Interferometern (FPI) können als kompaktes Bauteil hergestellt sein und ein Gehäuse mit einem optischen Fenster umfassen, wobei üblicherweise ein Filter auf einer Innenseite mit einem Kleber fixiert sein kann. Im Inneren des Gehäuses kann ein Unterdruck oder sogar ein Vakuum vorherrschen und eine definierte Atmosphäre ausgeprägt sein, so dass im Betrieb möglichst keine Gasdämpfung auftritt und ein schnelles Verändern der Spiegelabstände im FPI (Durchstimmen über die Wellenlängen des zu transmittierenden oder zu filternden Lichts) möglich ist, um kurze Messzeiten zu erzielen. Bei Unterdruck kann allerdings eine Zugkraft auf die Klebeverbindung ausgelöst werden und die Robustheit des Spektrometers dadurch verringert sein.Miniaturized spectrometers with Fabry-Perot interferometers (FPI) can be manufactured as a compact component and comprise a housing with an optical window, whereby a filter can usually be fixed on an inside with an adhesive. A negative pressure or even a vacuum can prevail inside the housing and a defined atmosphere can be developed so that gas attenuation occurs as little as possible during operation and the mirror spacing in the FPI can be changed quickly (tuning via the wavelengths of the light to be transmitted or filtered) to achieve short measurement times. In the case of negative pressure, however, a tensile force can be triggered on the adhesive connection and the robustness of the spectrometer can be reduced as a result.

In der WO 17057372 wird ein Detektoraufbau für ein miniaturisiertes Spektrometer mit einem Fabry-Perot-Interferometer beschrieben, wobei ein Gehäuse ein optisches Fenster (light transmission unit) umfasst und dieses mit einer Bandpassfilterbeschichtung versehen sein kann und das Fenster auf einer Innenseite eines Metalldeckels mittels eines Klebers fixiert sein kann.In the WO 17057372 a detector structure for a miniaturized spectrometer with a Fabry-Perot interferometer is described, wherein a housing comprises an optical window (light transmission unit) and this can be provided with a band-pass filter coating and the window can be fixed on an inside of a metal cover by means of an adhesive .

Offenbarung der ErfindungDisclosure of the invention

Die vorliegende Erfindung schafft eine Interferometereinrichtung nach Anspruch 1 und ein Verfahren zum Herstellen einer Interferometereinrichtung nach Anspruch 13.The present invention provides an interferometer device according to claim 1 and a method for manufacturing an interferometer device according to claim 13.

Bevorzugte Weiterbildungen sind Gegenstand der Unteransprüche.Preferred further developments are the subject of the subclaims.

Vorteile der ErfindungAdvantages of the invention

Die der vorliegenden Erfindung zugrunde liegende Idee besteht darin, eine Interferometereinrichtung anzugeben, welche mittels weniger Komponenten ein kleinskaliges Bauelement, insbesondere ein Filterelement, mit geringer Bauhöhe und einer gegen Streulicht und Umwelteinflüsse abgeschirmten Detektoreinrichtung ermöglicht. Durch ein robustes optisches Fenster kann ein Einfallslicht gefiltert und/oder der Einfallswinkel eingeschränkt werden.The idea on which the present invention is based consists in specifying an interferometer device which, by means of fewer components, enables a small-scale component, in particular a filter element, with a low overall height and a detector device shielded from stray light and environmental influences. An incident light can be filtered and / or the angle of incidence can be restricted through a robust optical window.

Erfindungsgemäß umfasst die Interferometereinrichtung eine Interferometereinheit mit einem Basissubstrat, welches einen elektrischen Leiteranschluss umfasst, mit einer Fabry-Perot-Einheit, welche auf dem Basissubstrat angeordnet ist und eine erste Kavität über dem Basissubstrat bildet und mit dem elektrischen Leiteranschluss verbunden ist, und mit einer Detektoreinrichtung, welche auf dem Basissubstrat angeordnet ist und in der ersten Kavität zwischen dem Basissubstrat und der Interferometereinheit angeordnet ist und mit dem elektrischen Leiteranschluss verbunden ist; ein Gehäuse welches eine Bodenplatte und eine Deckelstruktur umfasst, wobei die Deckelstruktur auf der Bodenplatte angeordnet ist und eine zweite Kavität zwischen Deckelstruktur und Bodenplatte einschließt, wobei die Bodenplatte oder die Deckelstruktur eine Öffnung umfasst, welche von Seitenwänden umgeben ist, die sich zu einer Oberfläche der Bodenplatte oder der Deckelstruktur senkrecht erstrecken; und wobei die Interferometereinheit in der zweiten Kavität und in einer Lichteinfallsrichtung durch die Öffnung angeordnet ist, so dass die Interferometereinheit mit der Fabry-Perot-Einheit der Öffnung zugewandt ist.According to the invention, the interferometer device comprises an interferometer unit with a base substrate which comprises an electrical conductor connection, with a Fabry-Perot unit which is arranged on the base substrate and forms a first cavity over the base substrate and is connected to the electrical conductor connection, and with a detector device which is arranged on the base substrate and is arranged in the first cavity between the base substrate and the interferometer unit and is connected to the electrical conductor connection; a housing which comprises a base plate and a cover structure, wherein the cover structure is arranged on the base plate and encloses a second cavity between the cover structure and the base plate, the base plate or the cover structure comprising an opening which is surrounded by side walls that extend to a surface of the The base plate or the cover structure extend vertically; and wherein the interferometer unit is arranged in the second cavity and in a direction of incidence of light through the opening, so that the interferometer unit with the Fabry-Perot unit faces the opening.

Das Basissubstrat kann vorteilhaft als Verdrahtungssubstrat ausgeformt werden.The base substrate can advantageously be shaped as a wiring substrate.

Die erste Kavität unterhalb der Fabry-Perot-Einheit kann von den lateralen Seiten her gegen Außenlicht abgeschirmt sein und nur das von der Interferometereinheit, welche als Filter für das Außenlicht wirken kann, transmittierte Licht in die erste Kavität durchlassen.The first cavity below the Fabry-Perot unit can be shielded from outside light from the lateral sides and only allow the light transmitted into the first cavity by the interferometer unit, which can act as a filter for the outside light.

Durch die erfindungsgemäße Interferometereinrichtung kann ein möglichst kostengünstiges, aber dennoch leistungsfähiges Spektrometer (Interferometereinrichtung) mit einer möglichst geringen Komponentenzahl sowie einer minimalen Anzahl an einfach/kostengünstig auszuführenden Herstellungsschritten und einer dabei möglichst geringen Baugröße erzielt werden, welches sich noch durch einen verringerten oder vollständig unterdrückten Einfall von ungefiltertem Streulicht, insbesondere von den lateralen Seiten her, auf den Detektor auszeichnen kann. Übliche Aufbauten nach dem Stand der Technik benötigen entweder sehr viele (teure) Komponenten oder (teure) Verfahrensschritte oder benötigen große Bauvolumina oder können Streulicht zulassen. Die Interferometereinrichtung kann als eine kleinskalige kompakte (Package) Detektoranordnung mit wenigen Komponenten hergestellt werden. Des Weiteren kann eine mechanisch robuste und größtenteils hermetische Abdichtung der Kavitäten über eine Deckelstruktur und ein Fensterelement zum Verschluss einer optischen Öffnung erzielt werden.With the interferometer device according to the invention, the most cost-effective, yet powerful spectrometer (interferometer device) with the smallest possible number of components and a minimum number of simple / inexpensive manufacturing steps and the smallest possible size can be achieved, which is still achieved by a reduced or completely suppressed incidence of unfiltered scattered light, in particular from the lateral sides, on the detector. Conventional structures according to the prior art either require a large number of (expensive) components or (expensive) process steps or require large structural volumes or can allow for scattered light. The interferometer device can be produced as a small-scale, compact (package) detector arrangement with few components. Furthermore, a mechanically robust and largely hermetic sealing of the cavities can be achieved via a cover structure and a window element for closing an optical opening.

Für ein Spektrometer ist es allgemein vorteilhaft, wenn der Einfallskegel des einfallenden Lichts eingeschränkt werden kann, was zu einer höheren Auflösung führen kann da schräg einfallende Strahlen abgeschirmt werden können. So können auch ungewollte Reflexionen verringert oder vermieden werden, welche an der Interferometereinheit vorbei auf den Detektor fallen könnten.For a spectrometer, it is generally advantageous if the cone of incidence of the incident light can be restricted, which can lead to a higher resolution since obliquely incident rays can be shielded. In this way, unwanted reflections can also be reduced or avoided which could fall past the interferometer unit onto the detector.

Gemäß einer bevorzugten Ausführungsform der Interferometereinrichtung umfasst diese zumindest eine Filtereinrichtung, welche die Öffnung innerhalb oder außerhalb des Gehäuses überspannt.According to a preferred embodiment of the interferometer device, it comprises at least one filter device which spans the opening inside or outside the housing.

Gemäß einer bevorzugten Ausführungsform der Interferometereinrichtung umfasst die Filtereinrichtung einen Spektralfilter für eine einfallende Strahlung und/oder ein winkelselektives Element.According to a preferred embodiment of the interferometer device, the filter device comprises a spectral filter for incident radiation and / or an angle-selective element.

Gemäß einer bevorzugten Ausführungsform der Interferometereinrichtung umfasst die Öffnung in Draufsicht aus einer Lichteinfallsrichtung einen runden oder kreisförmigen Querschnitt.According to a preferred embodiment of the interferometer device, the opening comprises a round or circular cross section when viewed from a direction of incidence of light.

Gemäß einer bevorzugten Ausführungsform der Interferometereinrichtung bildet die Öffnung mit den Seitenwänden einen Zylinder, welcher sich von der Bodenplatte oder von der Deckelstruktur senkrecht weg erstreckt.According to a preferred embodiment of the interferometer device, the opening forms a cylinder with the side walls, which cylinder extends perpendicularly away from the base plate or from the cover structure.

Gemäß einer bevorzugten Ausführungsform der Interferometereinrichtung ist das Basissubstrat auf Kontaktstiften aufgesetzt, welche in der Bodenplatte oder der Deckelstruktur befestigt sind.According to a preferred embodiment of the interferometer device, the base substrate is placed on contact pins which are fastened in the base plate or the cover structure.

Gemäß einer bevorzugten Ausführungsform der Interferometereinrichtung ist zumindest eine der Kontaktstifte elektrisch leitfähig oder umfasst eine elektrische Leiterbahn.According to a preferred embodiment of the interferometer device, at least one of the contact pins is electrically conductive or comprises an electrical conductor track.

Gemäß einer bevorzugten Ausführungsform der Interferometereinrichtung umfasst die Interferometereinheit eine Auswerteeinheit, welche auf dem Basissubstrat angeordnet ist, wobei die Detektoreinrichtung und die Fabry-Perot-Einheit auf der Auswerteeinheit angeordnet sind.According to a preferred embodiment of the interferometer device, the interferometer unit comprises an evaluation unit which is arranged on the base substrate, the detector device and the Fabry-Perot unit being arranged on the evaluation unit.

Gemäß einer bevorzugten Ausführungsform der Interferometereinrichtung sind die Detektoreinrichtung und die Fabry-Perot-Einheit mit einem elektrischen Leiteranschluss des Basissubstrats und/oder einer Auswerteeinheit verbunden und elektrisch kontaktiert.According to a preferred embodiment of the interferometer device, the detector device and the Fabry-Perot unit are connected to an electrical conductor connection of the base substrate and / or an evaluation unit and are electrically contacted.

Gemäß einer bevorzugten Ausführungsform der Interferometereinrichtung umfassen die Seitenwände auf einer der Öffnung zugewandten Seite eine lichtabsorbierende Beschichtung.According to a preferred embodiment of the interferometer device, the side walls comprise a light-absorbing coating on a side facing the opening.

Gemäß einer bevorzugten Ausführungsform der Interferometereinrichtung weist der Spektralfilter in lateraler Richtung Bereiche mit unterschiedlicher Filterwirkung und/oder das winkelselektive Element in lateraler Richtung Bereiche mit unterschiedlicher winkelselektiver Wirkung auf.According to a preferred embodiment of the interferometer device, the spectral filter has areas with different filter effects in the lateral direction and / or the angle-selective element has areas with different angle-selective effects in the lateral direction.

Gemäß einer bevorzugten Ausführungsform der Interferometereinrichtung umfasst die Detektoreinrichtung mehrere Detektorkanäle, welche jeweils nach den Bereichen unterschiedlicher Filterwirkung ausgerichtet sind und getrennt auslesbar sind.According to a preferred embodiment of the interferometer device, the detector device comprises several detector channels which are each aligned with the areas of different filter effects and can be read out separately.

Gemäß einer bevorzugten Ausführungsform der Interferometereinrichtung umfasst die Interferometereinheit ein Fabry-Perot-Interferometer.According to a preferred embodiment of the interferometer device, the interferometer unit comprises a Fabry-Perot interferometer.

Das Fabry-Perot-Interferometer kann für bestimmte Spiegelabstände der Spiegel im Fabry-Perot-Interferometer nur Licht einer bestimmten Wellenlänge transmittieren. Durch die direkte Anordnung des Fabry-Perot-Interferometers und/oder der Detektoreinrichtung oder zumindest des Fabry-Perot-Interferometers auf dem Basissubstrat kann die Bauhöhe der Interferometereinrichtung vorteilhaft verringert werden, da auch die elektrische Verdrahtung über das Basissubstrat erfolgen kann, beispielsweise mit einem leitenden Kleber und /oder mit Bonddrähten.The Fabry-Perot interferometer can only transmit light of a certain wavelength for certain distances between the mirrors in the Fabry-Perot interferometer. By arranging the Fabry-Perot interferometer and / or the detector device or at least the Fabry-Perot interferometer directly on the base substrate, the overall height of the interferometer device can advantageously be reduced, since the electrical wiring can also be carried out via the base substrate, for example with a conductive one Glue and / or with bond wires.

Gemäß einer bevorzugten Ausführungsform der Interferometereinrichtung sind die Detektoreinrichtung und/oder die Interferometereinheit mit einem Kontaktdraht mit dem elektrischen Leiteranschluss verbunden.According to a preferred embodiment of the interferometer device, the detector device and / or the interferometer unit are connected to the electrical conductor connection with a contact wire.

Gemäß einer bevorzugten Ausführungsform der Interferometereinrichtung umfasst die Deckelstruktur laterale Seitenwände und ein Metall.According to a preferred embodiment of the interferometer device, the cover structure comprises lateral side walls and a metal.

Erfindungsgemäß erfolgt bei dem Verfahren zum Herstellen einer Interferometereinrichtung ein Bereitstellen eines Basissubstrats, welches zumindest einen elektrischen Leiteranschluss umfasst; ein Anordnen einer Detektoreinrichtung auf dem Basissubstrat; ein Anordnen einer Fabry-Perot-Einheit auf dem Basissubstrat derart, dass eine erste Kavität über dem Basissubstrat gebildet wird und sich die Detektoreinrichtung in der ersten Kavität zwischen dem Basissubstrat und der Fabry-Perot-Einheit befindet, wobei das Basissubstrat, die Detektoreinrichtung und die Fabry-Perot-Einheit eine Interferometereinheit bilden; ein Bereitstellen einer Bodenplatte und einer Deckelstruktur und Befestigen der Deckelstruktur auf der Bodenplatte derart, dass eine zweite Kavität zwischen Deckelstruktur und Bodenplatte eingeschlossen wird und beide ein Gehäuse bilden, wobei die Bodenplatte oder die Deckelstruktur eine Öffnung umfasst, welche von Seitenwänden umgeben ist, die sich zu einer Oberfläche der Bodenplatte oder der Deckelstruktur senkrecht erstrecken; und wobei die Interferometereinheit in der zweiten Kavität und in einer Lichteinfallsrichtung durch die Öffnung angeordnet wird, so dass die Interferometereinheit mit der Fabry-Perot-Einheit der Öffnung zugewandt ist.According to the invention, in the method for producing an interferometer device, a base substrate is provided which comprises at least one electrical conductor connection; arranging a detector device on the base substrate; arranging a Fabry-Perot unit on the base substrate such that a first cavity is formed over the base substrate and the detector device is located in the first cavity between the base substrate and the Fabry-Perot unit, the base substrate, the detector device and the Fabry-Perot unit form an interferometer unit; providing a base plate and a cover structure and securing the cover structure on the base plate in such a way that a second cavity is enclosed between the cover structure and the base plate and both form a housing, the base plate or the cover structure comprising an opening which is surrounded by side walls which extend extend perpendicular to a surface of the base plate or the lid structure; and wherein the interferometer unit is arranged in the second cavity and in a direction of incidence of light through the opening, so that the interferometer unit with the Fabry-Perot unit faces the opening.

Das Verfahren kann sich auch durch die bereits in Verbindung mit der Interferometereinrichtung genannten Merkmale und deren Vorteile auszeichnen und umgekehrt.The method can also be used in conjunction with the interferometer device features mentioned and their advantages and vice versa.

Gemäß einer bevorzugten Ausführungsform des Verfahrens wird die Interferometereinheit mit dem Basissubstrat an Kontaktstiften befestigt, welche in der Bodenplatte oder der Deckelstruktur befestigt werden.According to a preferred embodiment of the method, the interferometer unit is fastened with the base substrate to contact pins which are fastened in the base plate or the cover structure.

Gemäß einer bevorzugten Ausführungsform des Verfahrens wird eine Filtereinrichtung innerhalb oder außerhalb des Gehäuses auf der Öffnung, diese überspannend, angeordnet.According to a preferred embodiment of the method, a filter device is arranged inside or outside the housing on the opening, spanning it.

Weitere Merkmale und Vorteile von Ausführungsformen der Erfindung ergeben sich aus der nachfolgenden Beschreibung mit Bezug auf die beigefügten Zeichnungen.Further features and advantages of embodiments of the invention emerge from the following description with reference to the accompanying drawings.

FigurenlisteFigure list

Die vorliegende Erfindung wird nachfolgend anhand der in den schematischen Figuren der Zeichnung angegebenen Ausführungsbeispiele näher erläutert.The present invention is explained in more detail below with reference to the exemplary embodiments specified in the schematic figures of the drawing.

Es zeigen:

  • 1 eine schematische Seitenansicht einer Interferometereinrichtung gemäß eines Ausführungsbeispiels der vorliegenden Erfindung; und
  • 2 eine Darstellung von Verfahrensschritten eines Verfahrens zum Herstellen einer Interferometereinrichtung gemäß eines Ausführungsbeispiels der vorliegenden Erfindung.
Show it:
  • 1 a schematic side view of an interferometer device according to an embodiment of the present invention; and
  • 2 a representation of method steps of a method for producing an interferometer device according to an embodiment of the present invention.

In den Figuren bezeichnen gleiche Bezugszeichen gleiche bzw. funktionsgleiche Elemente.In the figures, the same reference symbols denote identical or functionally identical elements.

1 zeigt eine schematische Seitenansicht einer Interferometereinrichtung gemäß eines Ausführungsbeispiels der vorliegenden Erfindung. 1 shows a schematic side view of an interferometer device according to an embodiment of the present invention.

Die Interferometereinrichtung 10 umfasst eine Interferometereinheit 1 mit einem Basissubstrat 2, welches einen elektrischen Leiteranschluss La umfasst, mit einer Fabry-Perot-Einheit FPI, welche auf dem Basissubstrat 2 angeordnet ist und eine erste Kavität K1 über dem Basissubstrat 2 bildet und mit dem elektrischen Leiteranschluss La verbunden ist, und mit einer Detektoreinrichtung 3, welche auf dem Basissubstrat 2 angeordnet ist und in der ersten Kavität K1 zwischen dem Basissubstrat 2 und der Interferometereinheit 1 angeordnet ist und mit dem elektrischen Leiteranschluss La verbunden ist. Des Weiteren umfasst die Interferometereinrichtung 10 ein Gehäuse G welches eine Bodenplatte BP und eine Deckelstruktur 4 umfasst, wobei die Deckelstruktur 4 auf der Bodenplatte BP angeordnet ist und eine zweite Kavität K2 zwischen Deckelstruktur 4 und Bodenplatte BP einschließt, wobei die Bodenplatte BP oder die Deckelstruktur 4 eine Öffnung 5 umfasst, welche von Seitenwänden 5a umgeben ist, die sich zu einer Oberfläche der Bodenplatte BP oder der Deckelstruktur 4 senkrecht erstrecken; und wobei die Interferometereinheit 1 in der zweiten Kavität K2 und in einer Lichteinfallsrichtung L durch die Öffnung 5, etwa entlang einer optischen Achse AA, angeordnet ist, so dass die Interferometereinheit 1 mit der Fabry-Perot-Einheit FPI der Öffnung 5 zugewandt ist.The interferometer device 10 comprises an interferometer unit 1 with a base substrate 2 , which comprises an electrical conductor connection La, with a Fabry-Perot unit FPI, which is on the base substrate 2 is arranged and a first cavity K1 above the base substrate 2 forms and is connected to the electrical conductor connection La, and with a detector device 3 which are on the base substrate 2 is arranged and in the first cavity K1 between the base substrate 2 and the interferometer unit 1 is arranged and is connected to the electrical conductor connection La. The interferometer device also includes 10 a case G which has a bottom plate BP and a lid structure 4th comprises, wherein the lid structure 4th is arranged on the bottom plate BP and a second cavity K2 between lid structure 4th and bottom plate BP, wherein the bottom plate BP or the lid structure 4th an opening 5 includes which of side walls 5a is surrounded, which becomes a surface of the base plate BP or the cover structure 4th extend vertically; and wherein the interferometer unit 1 in the second cavity K2 and in a light incidence direction L through the opening 5 , is arranged approximately along an optical axis AA, so that the interferometer unit 1 with the Fabry-Perot unit FPI of the opening 5 is facing.

Eine Filtereinrichtung 6 kann die Öffnung 5 innerhalb oder außerhalb des Gehäuses überspannen, vorteilhaft vollständig. Die Öffnung 5 kann in Draufsicht aus einer Lichteinfallsrichtung L einen runden oder kreisförmigen Querschnitt umfassen, kann jedoch auch davon abweichen. Wenn die Öffnung 5 kreisrund ist, kann diese mit deren Seitenwänden 5a einen Zylinder bilden, welcher sich von der Bodenplatte BP oder von der Deckelstruktur 4 senkrecht weg erstrecken kann. Die Öffnung mit den Seitenwänden wirkt selbst als winkeleinschränkend für Einfallsstrahlen, da Lichtstrahlen mit großen Einfallswinkeln bezüglich der Normalen, also optischen Achse AA, auf die Seitenwand auftreffen anstatt auf das FPI. An der Seitenwand 5a kann dann eine Reflexion unterbunden werden, etwa durch Absorption. Dadurch kann verhindert werden, dass gleichzeitig Lichtstrahlen mit unterschiedlichen Einfallswinkeln auf das FPI auftreffen, welche eine mögliche Wellenlängenauflösung des FPIs verringern könnten. Wären solche Verteilungen von Licht um einen bestimmten Winkel abseits der Achse AA zentriert, könnte das gesamte Spektrum am Detektor verschoben werden, also einen sogenannten Offset-Fehler erzeugen. Diese Verschiebungen können durch die Öffnung mit den Seitenwänden verringert oder sogar vermieden werden.A filter device 6th can the opening 5 span inside or outside the housing, advantageously completely. The opening 5 can comprise a round or circular cross section in plan view from a direction of incidence of light L, but can also deviate therefrom. When the opening 5 is circular, this can with its side walls 5a form a cylinder extending from the bottom plate BP or from the lid structure 4th can extend away vertically. The opening with the side walls itself acts as an angle-limiting for incident rays, since light rays with large angles of incidence with respect to the normal, that is to say optical axis AA, strike the side wall instead of the FPI. On the side wall 5a a reflection can then be suppressed, for example by absorption. This prevents light beams from simultaneously striking the FPI with different angles of incidence, which could reduce a possible wavelength resolution of the FPI. If such distributions of light were centered at a certain angle off the axis AA, the entire spectrum could be shifted at the detector, thus creating a so-called offset error. These shifts can be reduced or even avoided through the opening with the side walls.

Die Seitenwände 5a können auf einer der Öffnung 5 zugewandten Seite eine lichtabsorbierende Beschichtung 9 umfassen.The side walls 5a can on one of the opening 5 facing side a light-absorbing coating 9 include.

Das Basissubstrat 2 kann auf Kontaktstiften ST aufgesetzt sein, etwa zumindest zwei, welche in der Bodenplatte BP oder der Deckelstruktur 4 (nicht gezeigt) befestigt sein können. Zumindest einer der Kontaktstifte ST kann elektrisch leitfähig sein oder eine elektrische Leiterbahn umfassen, wodurch das Basissubstrat und/oder anderen Bauteile elektrisch kontaktierbar sein können. Die Kontaktstifte können beispielsweise in Ausnehmungen in dem Basissubstrat gesteckt sein und mit Verbindungsbereichen t1 gehalten oder fixiert sein. Die Verbindungsbereichen t1 können elektrisch leitfähig sein und vorteilhaft flexibel um sich an die hineingesteckten Kontaktstiften bündig anpassen zu können. Die Kontaktstiften ST können durch Ausnehmungen in der Bodenplatte BP geführt werden, und dort mit Abdichtelementen ml gehalten werden, welche sich bündig an die Kontaktstiften ST anschmiegen können und vorteilhaft lichtundurchlässig und elektrisch isolierend sein können. Durch die bündige Anbindung kann ein dichtes Gehäuse G gebildet werden.The base substrate 2 can be placed on contact pins ST, for example at least two, which are in the base plate BP or the cover structure 4th (not shown) can be attached. At least one of the contact pins ST can be electrically conductive or comprise an electrical conductor track, whereby the base substrate and / or other components can be electrically contacted. The contact pins can, for example, be inserted into recesses in the base substrate and held or fixed with connection areas t1. The connection areas t1 can be electrically conductive and advantageously flexible in order to be able to adapt flush to the inserted contact pins. The contact pins ST can be guided through recesses in the base plate BP and held there with sealing elements ml, which can nestle flush against the contact pins ST and are advantageous can be opaque and electrically insulating. A tight housing G can be formed by the flush connection.

Die Filtereinrichtung 6 kann einen Spektralfilter 6a für eine einfallende Strahlung und/oder ein winkelselektives Element 6b umfassen.The filter device 6th can use a spectral filter 6a for an incident radiation and / or an angle-selective element 6b include.

Wenn gleichzeitig Lichtstrahlen aus unterschiedlichen Einfallswinkeln auf das Fabry-Perot-Interferometer treffen, kann dies eine mögliche Wellenlängenauflösung verringern. Das winkelselektive Element kann vorteilhaft den Einfallswinkel des einfallenden Lichts einschränken. Wenn die Verteilung der Einfallswinkel noch um einen bestimmten Winkel gegen eine Normale auf die Spiegeloberfläche der Interferometereinheit zentriert ist, kann dies zu einer Verschiebung des kompletten von der Interferometereinheit erzeugten Spektrums führen, also einen Wellenlängen-Offsetfehler erzeugen. Durch das winkelselektive Element 6b kann auch dieser Effekt verringert oder vermieden werden.If light rays from different angles of incidence hit the Fabry-Perot interferometer at the same time, this can reduce possible wavelength resolution. The angle-selective element can advantageously restrict the angle of incidence of the incident light. If the distribution of the angles of incidence is still centered by a certain angle relative to a normal on the mirror surface of the interferometer unit, this can lead to a shift in the entire spectrum generated by the interferometer unit, that is to say to a wavelength offset error. Through the angle-selective element 6b this effect can also be reduced or avoided.

Die Öffnung kann selbst auch eine winkelselektive Wirkung haben, wobei das winkelselektive Element diese unterstützen kann oder weggelassen werden kann.The opening itself can also have an angle-selective effect, wherein the angle-selective element can support this or can be omitted.

Der Spektralfilter 6a kann auch auf einer Innenseite oder Außenseite über der Öffnung 5 angeordnet sein oder beides und das winkelselektive Element 6b kann auf einer Innenseite oder Außenseite über der Öffnung 5 angeordnet sein, etwa verschieden voneinander oder als gleiches Element ausgeformt sein, und beide können die Öffnung 5 überspannen, vorzugsweise vollständig. Alternativ können der Spektralfilter 6a und das winkelselektive Element 6b auch umgekehrt an der Öffnung 4 angeordnet sein, beide vorhanden sein oder nur eines von beiden. Der Spektralfilter 6a und/oder das winkelselektive Element 6b können mit einem Kleber KL, beispielsweise elektrisch nichtleitend, im lateralen Randbereich um die Öffnung 5 herum befestigt sein. Anstatt des Klebers kann die Verbindung KL eine Lotverbindung, etwa eine metallische Lotverbindung umfassen, welche eine bessere Langzeitstabilität hinsichtlich der Hermetizität aufweisen kann als Klebeverbindungen.The spectral filter 6a can also be on an inside or outside over the opening 5 be arranged or both and the angle-selective element 6b can be on an inside or outside over the opening 5 be arranged, for example different from one another or shaped as the same element, and both can be the opening 5 span, preferably completely. Alternatively, you can use the spectral filter 6a and the angle selective element 6b also vice versa at the opening 4th be arranged, both present or only one of the two. The spectral filter 6a and / or the angle-selective element 6b can with an adhesive KL, for example electrically non-conductive, in the lateral edge area around the opening 5 be attached around. Instead of the adhesive, the connection KL can comprise a solder connection, for example a metallic solder connection, which can have better long-term stability with regard to the hermeticity than adhesive connections.

Der Spektralfilter 6a kann dazu dienen, das durch die Öffnung 5 zu transmittierende Licht betreffend unterschiedlicher Ordnungen (Oberwellen) zu filtern. Somit kann der Spektralfilter 6a dazu eingerichtet sein, nur bestimmte Ordnungen oder Wellenlängenbereiche des Außenlichts AL in das Innere der ersten Kavität K1 (und zweiter Kavität) durchzulassen. Bei mehreren Öffnungen 5 können die entsprechenden Spektralfilter auf unterschiedliche Wellenlängen ausgelegt sein.The spectral filter 6a can serve that through the opening 5 to filter transmitted light with regard to different orders (harmonics). Thus the spectral filter can 6a be set up to only certain orders or wavelength ranges of the outside light AL into the interior of the first cavity K1 (and second cavity) to pass. With several openings 5 the corresponding spectral filters can be designed for different wavelengths.

Die Interferometereinheit 1 kann eine Auswerteeinheit 7 umfassen, welche auf dem Basissubstrat 2 angeordnet sein kann, wobei die Detektoreinrichtung 3 und die Fabry-Perot-Einheit FPI auf der Auswerteeinheit 7 angeordnet sein können.The interferometer unit 1 can be an evaluation unit 7th include those on the base substrate 2 can be arranged, wherein the detector device 3 and the Fabry-Perot unit FPI on the evaluation unit 7th can be arranged.

Die Deckelstruktur 4 kann laterale Seitenwände 4a umfassen und ein Metall umfassen, wobei die Seitenwände 4a mit einer Lot- oder Schweißverbindung KL auf der Bodenplatte BP befestigt sein können.The lid structure 4th can have lateral sidewalls 4a and comprise a metal, the side walls 4a can be attached to the base plate BP with a solder or weld connection KL.

Das Basissubstrat 2 kann ein Verdrahtungssubstrat, etwa eine Leiterplatte (oder LTCC) umfassen. Der elektrische Leiteranschluss La kann vorteilhaft eine oder mehrere Leiterbahnen, beispielsweise jeweils als eine Metallisierung, umfassen und auf dem Basissubstrat 2 auf dessen Vorder- und/oder Rückseite aufgebracht sein und/oder in das Basissubstrat 2 integriert (eingebettet) sein. Von der Leiterbahn kann mittels eines Drahtkontakts DB eine direkte elektrische Kontaktierung zur Detektoreinrichtung 3 und/oder zur Fabry-Perot-Einheit FPI und/oder zur Auswerteeinrichtung 7 hergestellt sein. Alternativ könnte auch auf die Auswerteeinheit in der Interferometereinrichtung verzichtet werden und diese extern angeschlossen sein (nicht gezeigt).The base substrate 2 may comprise a wiring substrate such as a printed circuit board (or LTCC). The electrical conductor connection La can advantageously comprise one or more conductor tracks, for example each as a metallization, and on the base substrate 2 be applied to its front and / or back and / or in the base substrate 2 be integrated (embedded). Direct electrical contact can be made from the conductor track to the detector device by means of a wire contact DB 3 and / or to the Fabry-Perot unit FPI and / or to the evaluation device 7th be made. Alternatively, the evaluation unit in the interferometer device could also be dispensed with and this could be connected externally (not shown).

Die Detektoreinrichtung 3 kann einen oder mehrere Detektoren, welche aufeinander oder nebeneinander angeordnet sein können, umfassen, beispielsweise solche, die in unterschiedlichen Wellenlängenbereichen sensibel sein können.The detector device 3 can include one or more detectors which can be arranged on top of one another or next to one another, for example those which can be sensitive in different wavelength ranges.

Die Fabry-Perot-Einheit kann zumindest zwei Spiegeleinrichtungen SP1 und SP2 umfassen, welche parallel ausgerichtet sein können und wobei deren Abstand variabel sein kann. Je nach Abstand zwischen den Spiegeleinrichtungen kann eine bestimmte Wellenlänge des Lichts, welches durch die Öffnung 5 einfällt und durch den Spektralfilter gefiltert und vorteilhaft durch die Öffnung und/oder das winkelselektive Element selektiert wurde, in Richtung der Detektoreinrichtung 3 propagieren.The Fabry-Perot unit can comprise at least two mirror devices SP1 and SP2, which can be aligned in parallel and their spacing can be variable. Depending on the distance between the mirror devices, a certain wavelength of the light which passes through the opening 5 incident and filtered through the spectral filter and advantageously selected through the opening and / or the angle-selective element, in the direction of the detector device 3 propagate.

Die Spiegeleinrichtungen SP1 und/oder SP2 können jeweils einen dielektrischen Spiegel mit zwei hochbrechenden Schichten (etwa aus Silizium oder einer Verbindung mit Silizium) und einer dazwischen befindlichen niedrigbrechenden Schicht (etwa Luft oder Vakuum) umfassen.The mirror devices SP1 and / or SP2 can each include a dielectric mirror with two high-index layers (for example made of silicon or a compound with silicon) and a low-index layer located in between (for example air or vacuum).

Je nach Einstellung (Abstand der Spiegeleinrichtungen, wobei der Abstand und somit die transmittierte Wellenlänge variabel sein kann) der Fabry-Perot-Einheit kann Außenlicht nur in einer bestimmten Wellenlänge in die erste Kavität hinein transmittiert werden. Das Fabry-Perot-Interferometer kann mehrere Wellenlängen verschiedener Ordnungen (Moden) gleichzeitig transmittieren.Depending on the setting (distance between the mirror devices, the distance and thus the transmitted wavelength being variable) of the Fabry-Perot unit, external light can only be transmitted into the first cavity at a specific wavelength. The Fabry-Perot interferometer can transmit several wavelengths of different orders (modes) at the same time.

Da ungefilterte Strahlung größtenteils oder vollständig von der ersten Kavität K1 ferngehalten werden kann, kann sich dies vorteilhaft auf ein Signal-zu-Rausch-Verhältnis an der Detektoreinrichtung 3 auswirken.Because unfiltered radiation mostly or completely from the first cavity K1 can be kept away, this can advantageously affect a signal-to-noise ratio at the detector device 3 impact.

Es kann weiterhin möglich sein, dass in der Deckelstruktur 4 oder Bodenplatte BP mehrere Öffnungen 5 vorhanden sein können, welchen jeweils eigene Interferometereinheiten zugeordnet sein können, wodurch unterschiedliche Spektren (Wellenlängen) gleichzeitig gemessen werden können.It may still be possible that in the lid structure 4th or bottom plate BP multiple openings 5 can be present, each of which can be assigned its own interferometer units, whereby different spectra (wavelengths) can be measured simultaneously.

Die Interferometereinrichtung 10 kann als ein Modul (mit Modulgehäuse) für ein größeres Bauelement ausgeformt sein, beispielsweise als ein mikroelektromechanisches Spektrometermodul.The interferometer device 10 can be designed as a module (with module housing) for a larger component, for example as a microelectromechanical spectrometer module.

Da sowohl die Detektoreinrichtung 3 als auch die Interferometereinheit 1 auf dem Basissubstrat 2 aufgebracht werden können, vorteilhaft direkt, kann eine Bauhöhe vertikal über und unter dem Basissubstrat verringert werden. Die Interferometereinrichtung 10 kann somit in wenigen Schritten (wenige kostenaufwändige Schritte) und mit verringerten Kosten als kleinskaliges Bauelement realisiert werden, welches selbst mit einer verringerten Zahl von Komponenten herstellbar sein kann. Die Interferometereinrichtung 10, und/oder insbesondere die Interferometereinheit 1 kann als mikromechanisches Bauelement ausgeformt sein.Since both the detector device 3 as well as the interferometer unit 1 on the base substrate 2 can be applied, advantageously directly, an overall height can be reduced vertically above and below the base substrate. The interferometer device 10 can thus be implemented in a few steps (a few costly steps) and at reduced costs as a small-scale component which can be produced even with a reduced number of components. The interferometer device 10 , and / or in particular the interferometer unit 1 can be formed as a micromechanical component.

Der Spektralfilter 6a kann in lateraler Richtung Bereiche mit unterschiedlicher Filterwirkung und/oder das winkelselektive Element 6b kann in lateraler Richtung Bereiche mit unterschiedlicher winkelselektiver Wirkung aufweisen. Dementsprechend kann die Detektoreinrichtung 3 relativ zu diesen Bereichen des Spektralfilters und/oder des winkelselektiven Elements ausgerichtete oder angeordnete (mehrere) Detektorkanäle umfassen, welche jeweils nach den Bereichen unterschiedlicher Filterwirkung ausgerichtet sind und getrennt auslesbar sind, etwa durch eine Auswerteeinrichtung (nicht gezeigt).The spectral filter 6a can in the lateral direction areas with different filter effects and / or the angle-selective element 6b can have areas with different angle-selective effects in the lateral direction. Accordingly, the detector device 3 comprise (several) detector channels aligned or arranged relative to these areas of the spectral filter and / or the angle-selective element, which are each aligned according to the areas of different filter action and can be read out separately, for example by an evaluation device (not shown).

Durch eine Faltung der Detektorkanäle können verschiedene Informationen zur spektralen Verteilung einer betrachteten Probe gewonnen werden und auf weitere Eigenschaften rückgeschlossen werden.By folding the detector channels, various information about the spectral distribution of a sample can be obtained and conclusions can be drawn about other properties.

Durch die Interferometereinrichtung kann eine hohe spektrale Auflösung und ein vermindertes Signal-Rausch-Verhältnis erzielt werden. Des Weiteren kann sich die Interferometereinrichtung durch eine geringe Streuung der Wirkungsweise von Modul zu Modul auszeichnen.The interferometer device enables a high spectral resolution and a reduced signal-to-noise ratio to be achieved. Furthermore, the interferometer device can be distinguished by a low scatter of the mode of operation from module to module.

2 zeigt eine Darstellung von Verfahrensschritten eines Verfahrens zum Herstellen einer Interferometereinrichtung gemäß eines Ausführungsbeispiels der vorliegenden Erfindung. 2 shows a representation of method steps of a method for producing an interferometer device according to an embodiment of the present invention.

Bei dem Verfahren zum Herstellen einer Interferometereinrichtung erfolgt ein Bereitstellen S1a eines Basissubstrats, welches zumindest einen elektrischen Leiteranschluss umfasst; ein Anordnen S1b einer Detektoreinrichtung auf dem Basissubstrat; ein Anordnen Sic einer Fabry-Perot-Einheit auf dem Basissubstrat derart, dass eine erste Kavität über dem Basissubstrat gebildet wird und sich die Detektoreinrichtung in der ersten Kavität zwischen dem Basissubstrat und der Fabry-Perot-Einheit befindet, wobei das Basissubstrats, die Detektoreinrichtung und die Fabry-Perot-Einheit eine Interferometereinheit bilden; ein Bereitstellen S2a einer, vorteilhaft mit einer Filtereinrichtung bestückten, Bodenplatte und einer Deckelstruktur und Befestigen S2b der Deckelstruktur auf der Bodenplatte derart, dass eine zweite Kavität zwischen Deckelstruktur und Bodenplatte eingeschlossen wird und beide ein Gehäuse bilden, wobei die Bodenplatte oder die Deckelstruktur eine Öffnung umfasst, welche von Seitenwänden umgeben ist, die sich zu einer Oberfläche der Bodenplatte oder der Deckelstruktur senkrecht erstrecken; und wobei die Interferometereinheit in der zweiten Kavität und in einer Lichteinfallsrichtung durch die Öffnung angeordnet wird, so dass die Interferometereinheit mit der Fabry-Perot-Einheit der Öffnung zugewandt ist. Die Schritte S1a bis S1c können zur Ausformung der Interferometereinheit 1 erfolgen. Parallel dazu können die Schritte S2a und S2b unter Aufnahme der Interferometereinheit 1 erfolgen, um das Gehäuse G um die Interferometereinheit 1 herum zu formen und insgesamt die Interferometereinrichtung 10 zu formen.In the method for producing an interferometer device, a base substrate is provided S1a which comprises at least one electrical conductor connection; arranging S1b a detector device on the base substrate; Arranging Sic a Fabry-Perot unit on the base substrate in such a way that a first cavity is formed over the base substrate and the detector device is located in the first cavity between the base substrate and the Fabry-Perot unit, the base substrate, the detector device and the Fabry-Perot unit form an interferometer unit; providing S2a a base plate, advantageously equipped with a filter device, and a cover structure, and securing S2b the cover structure on the base plate in such a way that a second cavity is enclosed between the cover structure and the base plate and both form a housing, the base plate or the cover structure including an opening which is surrounded by side walls which extend perpendicular to a surface of the bottom plate or the lid structure; and wherein the interferometer unit is arranged in the second cavity and in a direction of incidence of light through the opening, so that the interferometer unit with the Fabry-Perot unit faces the opening. Steps S1a to S1c can be used to form the interferometer unit 1 respectively. At the same time, steps S2a and S2b can be performed with the inclusion of the interferometer unit 1 done to the housing G around the interferometer unit 1 to shape around and overall the interferometer device 10 to shape.

Obwohl die vorliegende Erfindung anhand des bevorzugten Ausführungsbeispiels vorstehend vollständig beschrieben wurde, ist sie darauf nicht beschränkt, sondern auf vielfältige Art und Weise modifizierbar.Although the present invention has been fully described above on the basis of the preferred exemplary embodiment, it is not restricted thereto, but rather can be modified in many different ways.

ZITATE ENTHALTEN IN DER BESCHREIBUNGQUOTES INCLUDED IN THE DESCRIPTION

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Zitierte PatentliteraturPatent literature cited

  • WO 17057372 [0003]WO 17057372 [0003]

Claims (15)

Interferometereinrichtung (10) umfassend - eine Interferometereinheit (1) mit einem Basissubstrat (2), welches einen elektrischen Leiteranschluss (La) umfasst, mit einer Fabry-Perot-Einheit (FPI), welche auf dem Basissubstrat (2) angeordnet ist und eine erste Kavität (K1) über dem Basissubstrat (2) bildet und mit dem elektrischen Leiteranschluss (La) verbunden ist, und mit einer Detektoreinrichtung (3), welche auf dem Basissubstrat (2) angeordnet ist und in der ersten Kavität (K1) zwischen dem Basissubstrat (2) und der Interferometereinheit (1) angeordnet ist und mit dem elektrischen Leiteranschluss (La) verbunden ist; - ein Gehäuse (G) welches eine Bodenplatte (BP) und eine Deckelstruktur (4) umfasst, wobei die Deckelstruktur (4) auf der Bodenplatte (BP) angeordnet ist und eine zweite Kavität (K2) zwischen Deckelstruktur (4) und Bodenplatte (BP) einschließt, wobei die Bodenplatte (BP) oder die Deckelstruktur (4) eine Öffnung (5) umfasst, welche von Seitenwänden (5a) umgeben ist, die sich zu einer Oberfläche der Bodenplatte (BP) oder der Deckelstruktur (4) senkrecht erstrecken; und wobei die Interferometereinheit (1) in der zweiten Kavität (K2) und in einer Lichteinfallsrichtung (L) durch die Öffnung (5) angeordnet ist, so dass die Interferometereinheit (1) mit der Fabry-Perot-Einheit (FPI) der Öffnung (5) zugewandt ist.Interferometer device (10) comprising - An interferometer unit (1) with a base substrate (2), which comprises an electrical conductor connection (La), with a Fabry-Perot unit (FPI) which is arranged on the base substrate (2) and a first cavity (K1) the base substrate (2) and is connected to the electrical conductor connection (La), and with a detector device (3) which is arranged on the base substrate (2) and in the first cavity (K1) between the base substrate (2) and the Interferometer unit (1) is arranged and connected to the electrical conductor connection (La); - A housing (G) which comprises a base plate (BP) and a cover structure (4), the cover structure (4) being arranged on the base plate (BP) and a second cavity (K2) between the cover structure (4) and the base plate (BP ), wherein the base plate (BP) or the lid structure (4) comprises an opening (5) which is surrounded by side walls (5a) which extend perpendicular to a surface of the base plate (BP) or the lid structure (4); and wherein the interferometer unit (1) is arranged in the second cavity (K2) and in a direction of incidence of light (L) through the opening (5), so that the interferometer unit (1) with the Fabry-Perot unit (FPI) of the opening ( 5) is facing. Interferometereinrichtung (10) nach Anspruch 1, welche zumindest eine Filtereinrichtung (6) umfasst, welche die Öffnung (5) innerhalb oder außerhalb des Gehäuses überspannt.Interferometer device (10) according to Claim 1 which comprises at least one filter device (6) which spans the opening (5) inside or outside the housing. Interferometereinrichtung (10) nach Anspruch 1 oder 2, bei welcher die Filtereinrichtung (6) einen Spektralfilter (6a) für eine einfallende Strahlung und/oder ein winkelselektives Element (6b) umfasst.Interferometer device (10) according to Claim 1 or 2 , in which the filter device (6) comprises a spectral filter (6a) for incident radiation and / or an angle-selective element (6b). Interferometereinrichtung (10) nach einem der Ansprüche 1 bis 3, bei welcher die Öffnung (5) in Draufsicht aus einer Lichteinfallsrichtung (L) einen runden oder kreisförmigen Querschnitt umfasst.Interferometer device (10) according to one of the Claims 1 to 3 , in which the opening (5) comprises a round or circular cross-section in plan view from a direction of incidence of light (L). Interferometereinrichtung (10) nach Anspruch 4, bei welcher die Öffnung (5) mit den Seitenwänden (5a) einen Zylinder bildet, welcher sich von der Bodenplatte (BP) oder von der Deckelstruktur (4) senkrecht weg erstreckt.Interferometer device (10) according to Claim 4 , in which the opening (5) with the side walls (5a) forms a cylinder which extends perpendicularly away from the base plate (BP) or from the cover structure (4). Interferometereinrichtung (10) nach einem der Ansprüche 1 bis 4, bei welcher das Basissubstrat (2) auf Kontaktstiften (ST) aufgesetzt ist, welche in der Bodenplatte (BP) oder der Deckelstruktur (4) befestigt sind.Interferometer device (10) according to one of the Claims 1 to 4th , in which the base substrate (2) is placed on contact pins (ST) which are fastened in the base plate (BP) or the cover structure (4). Interferometereinrichtung (10) nach Anspruch 6, bei welchem zumindest einer der Kontaktstifte (ST) elektrisch leitfähig ist oder eine elektrische Leiterbahn umfasst.Interferometer device (10) according to Claim 6 , in which at least one of the contact pins (ST) is electrically conductive or comprises an electrical conductor track. Interferometereinrichtung (10) nach einem der Ansprüche 1 bis 7, bei welcher die Interferometereinheit (1) eine Auswerteeinheit (7) umfasst, welche auf dem Basissubstrat (2) angeordnet ist, wobei die Detektoreinrichtung (3) und die Fabry-Perot-Einheit (FPI) auf der Auswerteeinheit (7) angeordnet sind.Interferometer device (10) according to one of the Claims 1 to 7th , in which the interferometer unit (1) comprises an evaluation unit (7) which is arranged on the base substrate (2), the detector device (3) and the Fabry-Perot unit (FPI) being arranged on the evaluation unit (7). Interferometereinrichtung (10) nach einem der Ansprüche 1 bis 8, bei welcher die Detektoreinrichtung (3) und die Fabry-Perot-Einheit (FPI) mit einem elektrischen Leiteranschluss (La) des Basissubstrats (2) und/ oder einer Auswerteeinheit verbunden und elektrisch kontaktiert sind.Interferometer device (10) according to one of the Claims 1 to 8th , in which the detector device (3) and the Fabry-Perot unit (FPI) are connected and electrically contacted to an electrical conductor connection (La) of the base substrate (2) and / or an evaluation unit. Interferometereinrichtung (10) nach einem der Ansprüche 1 bis 9, bei welcher die Seitenwände (5a) auf einer der Öffnung (5) zugewandten Seite eine lichtabsorbierende Beschichtung (9) umfassen.Interferometer device (10) according to one of the Claims 1 to 9 , in which the side walls (5a) comprise a light-absorbing coating (9) on a side facing the opening (5). Interferometereinrichtung (10) nach einem der Ansprüche 1 bis 10, soweit rückbezogen auf Anspruch 3, bei welchem der Spektralfilter (6a) in lateraler Richtung Bereiche mit unterschiedlicher Filterwirkung und/oder das winkelselektive Element (6b) in lateraler Richtung Bereiche mit unterschiedlicher winkelselektiver Wirkung aufweist.Interferometer device (10) according to one of the Claims 1 to 10 , as far as referenced Claim 3 , in which the spectral filter (6a) has areas with different filter effects in the lateral direction and / or the angle-selective element (6b) has areas with different angle-selective effects in the lateral direction. Interferometereinrichtung (10) nach Anspruch 11, bei welcher die Detektoreinrichtung (3) mehrere Detektorkanäle (3a) umfasst, welche jeweils nach den Bereichen unterschiedlicher Filterwirkung ausgerichtet sind und getrennt auslesbar sind.Interferometer device (10) according to Claim 11 , in which the detector device (3) comprises several detector channels (3a) which are each aligned with the areas of different filter effects and can be read out separately. Verfahren zum Herstellen einer Interferometereinrichtung (10) umfassend die Schritte: - Bereitstellen (Sla) eines Basissubstrats (2), welches zumindest einen elektrischen Leiteranschluss (La) umfasst; - Anordnen (S1b) einer Detektoreinrichtung (3) auf dem Basissubstrat (2); - Anordnen (S1c) einer Fabry-Perot-Einheit (FPI) auf dem Basissubstrat (2) derart, dass eine erste Kavität (K1) über dem Basissubstrat (2) gebildet wird und sich die Detektoreinrichtung (3) in der ersten Kavität (K1) zwischen dem Basissubstrat (2) und der Fabry-Perot-Einheit (FPI) befindet, wobei das Basissubstrat (2), die Detektoreinrichtung (3) und die Fabry-Perot-Einheit (FPI) eine Interferometereinheit (1) bilden; - Bereitstellen (S2a) einer Bodenplatte (BP) und einer Deckelstruktur (4) und Befestigen (S2b) der Deckelstruktur (4) auf der Bodenplatte (BP) derart, dass eine zweite Kavität (K2) zwischen Deckelstruktur (4) und Bodenplatte (BP) eingeschlossen wird und beide ein Gehäuse (G) bilden, wobei die Bodenplatte (BP) oder die Deckelstruktur (4) eine Öffnung (5) umfasst, welche von Seitenwänden (5a) umgeben ist, die sich zu einer Oberfläche der Bodenplatte (BP) oder der Deckelstruktur (4) senkrecht erstrecken; und wobei die Interferometereinheit (1) in der zweiten Kavität (K2) und in einer Lichteinfallsrichtung (L) durch die Öffnung (5) angeordnet wird, so dass die Interferometereinheit (1) mit der Fabry-Perot-Einheit (FPI) der Öffnung (5) zugewandt ist.A method for producing an interferometer device (10) comprising the steps: - providing (Sla) a base substrate (2) which comprises at least one electrical conductor connection (La); - Arranging (S1b) a detector device (3) on the base substrate (2); - Arranging (S1c) a Fabry-Perot unit (FPI) on the base substrate (2) such that a first cavity (K1) is formed above the base substrate (2) and the detector device (3) is located in the first cavity (K1 ) is located between the base substrate (2) and the Fabry-Perot unit (FPI), the base substrate (2), the detector device (3) and the Fabry-Perot unit (FPI) forming an interferometer unit (1); - Providing (S2a) a base plate (BP) and a cover structure (4) and fastening (S2b) the cover structure (4) on the base plate (BP) in such a way that a second cavity (K2) between the cover structure (4) and the base plate (BP ) is enclosed and both form a housing (G), wherein the base plate (BP) or the cover structure (4) comprises an opening (5) which is surrounded by side walls (5a) which extend to a surface of the base plate (BP) or the Cover structure (4) extend vertically; and wherein the interferometer unit (1) is arranged in the second cavity (K2) and in a direction of incidence of light (L) through the opening (5), so that the interferometer unit (1) with the Fabry-Perot unit (FPI) of the opening ( 5) is facing. Verfahren nach Anspruch 13, bei welchem die Interferometereinheit (1) mit dem Basissubstrat (2) auf Kontaktstiften (6) befestigt wird, welche in der Bodenplatte (BP) oder der Deckelstruktur (4) befestigt werden.Procedure according to Claim 13 , in which the interferometer unit (1) is fastened to the base substrate (2) on contact pins (6) which are fastened in the base plate (BP) or the cover structure (4). Verfahren nach Anspruch 13 oder 14, bei welchem eine Filtereinrichtung (6) innerhalb oder außerhalb des Gehäuses (G) auf der Öffnung (5), diese überspannend, angeordnet wird.Procedure according to Claim 13 or 14th , in which a filter device (6) inside or outside the housing (G) on the opening (5), spanning this, is arranged.
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