Die vorliegende Erfindung betrifft eine elektronische Steuereinheit.The present invention relates to an electronic control unit.
A/D-Wandlervorrichtungen weisen auf: ein Verfahren zum Abtasten bzw. Sampeln eines analogen Signals in einem vorgegebenen Zyklus mit einer kürzestmöglichen Aufgabe (Task) im System; und ein Verfahren zum Abtasten eines analogen Signals zu einem Unterbrechungsgenerierungszeitpunkt. Diese Verfahren werden jeweils für unterschiedliche Situationen verwendet. Wenn beispielsweise Abtasten mit höherer Geschwindigkeit bzw. höher Frequenz notwendig ist, kann die A/D-Wandlungsverarbeitung beim Verwenden einer Timerunterbrechung mit Intervallen abgetastet werden, die kleiner gleich der kürzesten Aufgabe sind.A / D conversion devices include: a method of sampling an analog signal in a given cycle with a shortest possible task in the system; and a method of sampling an analog signal at an interrupt generation timing. These methods are used for different situations, respectively. For example, when higher-speed or higher-frequency sampling is necessary, the A / D conversion processing can be sampled using timer interruptions at intervals less than or equal to the shortest task.
Wenn A/D-Wandlungsdaten für die Steuerverarbeitung verwendet werden, die für den funktionalen Sicherheitsstandard ISO 26262 im Automobilbereich angewendet werden soll, kann es erforderlich sein, zu garantieren, dass das Abtastintervall der A/D-Wandlungsdaten geeignet ist. Das Kommunikationsintervall zwischen der Überwachungseinheit und dem Mikrocomputer ist so festzulegen, dass es zum Abtastintervall identisch ist, und das Kommunikationsintervall wird überwacht, um das Abtastintervall zu garantieren.When A / D conversion data is used for the control processing to be applied to the automotive safety functional standard ISO 26262, it may be necessary to guarantee that the sampling interval of the A / D conversion data is appropriate. The communication interval between the monitoring unit and the microcomputer is to be set to be identical to the sampling interval, and the communication interval is monitored to guarantee the sampling interval.
In anderen Worten, wenn der A/D-Wandler bzw. Analog-Digital-Wandler die A/D-Wandlungsdaten des Sensors mit beispielsweise einer 1 ms-Aufgabe abtastet, kommuniziert der A/D-Wandler mit dem externen Überwach-IC mit derselben 1ms-Aufgabe, um dem Überwach-IC zu erlauben, das Kommunikationsintervall zum Sicherstellen des Abtastintervalls zu überwachen. Bei einem derartigen Verfahren wird dem Überwachprozess eine Last auferlegt und ein Hochgeschwindigkeits-Abtastintervall kann nicht garantiert werden, wenn ein Hochgeschwindigkeits-Abtastintervall notwendig ist, falls eine Hochgeschwindigkeits-Kommunikation durchgeführt wird.In other words, when the A / D converter samples the A / D conversion data of the sensor with, for example, a 1 ms task, the A / D converter communicates with the external monitor IC with the same 1ms task to allow the supervisory IC to monitor the communication interval to ensure the sample interval. In such a method, a burden is imposed on the monitoring process, and a high-speed sampling interval can not be guaranteed if a high-speed sampling interval is necessary if a high-speed communication is performed.
Das in JP 2015-175676 A beschriebene Verfahren ist so konfiguriert, dass es einen Fehler eines externen Kondensators der Zeitkonstante der RC-Schaltkreis unter Verwendung des Abtastergebnisses erfasst.This in JP 2015-175676 A The described method is configured to detect a fault of an external capacitor of the time constant of the RC circuit using the sampling result.
Es ist eine Aufgabe der vorliegenden Erfindung eine elektronische Steuereinheit bereitzustellen, die Hochgeschwindigkeits-Abtastintervalle sicherstellt, ohne eine Überwachungseinheit zum Überwachen von Abtastintervallen auf Grundlage von externer Kommunikation getrennt bereitzustellen.It is an object of the present invention to provide an electronic control unit which ensures high-speed sampling intervals without separately providing a monitoring unit for monitoring sampling intervals based on external communication.
Eine elektronische Steuereinheit gemäß einem Aspekt der vorliegenden Erfindung weist einen A/D-Wandler, eine Diagnosepulssignal-Ausgabevorrichtung und eine Fehlerbestimmungsvorrichtung auf.An electronic control unit according to one aspect of the present invention includes an A / D converter, a diagnostic pulse signal output device, and a fault determination device.
Der A/D-Wandler ist so konfiguriert, dass er ein analoges Signal an einem Eingangsknoten des A/D-Wandlers empfängt und ein Abtasten des analogen Signals zu mehreren Zeiten während eines Abtastintervalls durchführt.The A / D converter is configured to receive an analog signal at an input node of the A / D converter and to sample the analog signal at multiple times during a sampling interval.
Die Diagnosepulssignal-Ausgabevorrichtung ist so konfiguriert, dass sie ein Diagnosesignal so ausgibt, dass sie das analoge Signal in den Eingangsknoten des A/D-Wandlers während eines Zeitraums, der entgegengesetzt zu einem regulären Betriebszeitraum des A/D-Wandlers ist, eingibt.The diagnostic pulse signal output device is configured to output a diagnostic signal so as to input the analog signal to the input node of the A / D converter for a period opposite to a regular operation period of the A / D converter.
Die Fehlerbestimmungsvorrichtung ist so konfiguriert, dass sie eine Abtastdiagnose durchführt, um zu bestimmen, ob ein Abtastwert, der jedes Mal erhalten wird, wenn der A/D-Wandler ein Abtasten des analogen Signals durchführt, innerhalb eines erwarteten Bereichs von einem vorgegeben erwarteten unteren Grenzwert zu einem vorgegeben erwarteten oberen Grenzwert ist, wobei beide Grenzwerte, vorgegebener erwarteter unterer Grenzwert und vorgegebener erwarteter oberer Grenzwert, bei jedem Abtasten, das durch den A/D-Wandler durchgeführt wird, bestimmt werden, und um auf Grundlage von einem oder mehreren Ergebnissen der Abtastdiagnose zu bestimmen, ob das Abtastintervall in einem Fehlerzustand oder einem normalen Zustand ist.The error determination device is configured to perform a scan diagnosis to determine whether a sample value obtained each time the A / D converter samples the analog signal falls within an expected range from a predetermined lower limit value is to a predetermined expected upper limit value, wherein both limit values, predetermined expected lower limit and predetermined upper limit expected value, are determined at every sampling performed by the A / D converter, and based on one or more results of Scan diagnostic to determine if the sample interval is in an error state or a normal state.
Falls das Abtastintervall beispielsweise vom Standardwert signifikant abweicht, fällt der Abtastwert, der bei jedem Abtasten erhalten wird, nicht in den vorgegeben erwarteten Bereich. Infolgedessen kann bestimmt werden, dass das Abtastintervall im Fehlerzustand ist. Wenn das Abtastintervall andererseits innerhalb des erlaubbaren Bereichs des Standardwerts ist, ist der Abtastwert im vorgegebenen erwarteten Bereich. Infolgedessen kann bestimmt werden, dass das Abtastintervall im normalen Zustand ist. Dementsprechend kann ein Hochgeschwindigkeits-Abtastintervall bzw. ein Abtastintervall mit einer hohen Geschwindigkeit garantiert werden, ohne eine Überwachungseinheit zum Überwachen des Abtastintervalls durch Kommunikation separat bereitzustellen.For example, if the sampling interval deviates significantly from the standard value, the sample obtained at each sampling does not fall within the predetermined expected range. As a result, it can be determined that the sampling interval is in the error state. On the other hand, if the sampling interval is within the allowable range of the standard value, the sample is in the predetermined expected range. As a result, it can be determined that the sampling interval is in the normal state. Accordingly, a high-speed sampling interval can be guaranteed at a high speed without separately providing a monitoring unit for monitoring the sampling interval by communication.
Die obigen und andere Objekte, Merkmale und Vorteile der vorliegenden Erfindung werden durch die folgende detaillierte Beschreibung unter Bezugnahme auf die beigefügten Figuren verdeutlicht. Es zeigen:
- 1 ein Blockdiagramm, das die elektrische Konfiguration einer elektronischen Steuereinheit gemäß einer ersten Ausführungsform darstellt;
- 2 ein Ablaufdiagramm, das den Ablauf einer Fehlererfassungsverarbeitung darstellt;
- 3 ein Beispiel eines Festlegens der Anzahl der Abtastdiagnosen und der Schwellwertanzahl einer Normalitätsbestimmung gemäß einer Umgebungstemperatur und einem Abtastzeitraum;
- 4 ein Ablaufdiagramm, das einen Ablauf einer Abtastdiagnoseverarbeitung zeigt;
- 5 ein Beispiel eines Festlegens eines erwarteten oberen Grenzwerts und eines erwarteten unteren Grenzwerts für jedes Abtasten;
- 6 Beispiele von Abtasterlangwerten und erlaubbaren Bereichen;
- 7 ein Ablaufdiagramm, das einen Ablauf der Fehlererfassungsverarbeitung gemäß einer zweiten Ausführungsform zeigt;
- 8 ein Beispiel zum Festlegen der Anzahl von Auftreten einer Abtastdiagnose und der Schwellwertanzahl von Auftreten einer Fehlerbestimmung gemäß einer Umgebungstemperatur und einem Abtastzeitraum; und
- 9 ein Ablaufdiagramm, das einen Ablauf einer Fehlererfassungsverarbeitung gemäß einer dritten Ausführungsform zeigt.
The above and other objects, features and advantages of the present invention will become more apparent from the following detailed description made with reference to the accompanying drawings. Show it: - 1 10 is a block diagram illustrating the electrical configuration of an electronic control unit according to a first embodiment;
- 2 a flowchart illustrating the procedure of an error detection processing;
- 3 an example of setting the number of sampling diagnoses and the threshold number of a normality determination according to an ambient temperature and a sampling period;
- 4 a flowchart showing a flow of a scan diagnostic processing;
- 5 an example of setting an expected upper limit and an expected lower limit for each sample;
- 6 Examples of sampler lengths and permissible ranges;
- 7 FIG. 10 is a flowchart showing a flow of error detection processing according to a second embodiment; FIG.
- 8th an example for setting the number of times of a sampling diagnosis and the threshold number of occurrence of a fault determination according to an ambient temperature and a sampling period; and
- 9 FIG. 10 is a flowchart showing a flow of error detection processing according to a third embodiment. FIG.
Detaillierte BeschreibungDetailed description
Mehrere Ausführungsformen der vorliegenden Erfindung werden im Folgenden mit Bezug auf die Figuren beschrieben. In den folgenden Ausführungsformen werden dieselben oder die gleichen Bezugszeichen an dieselbe oder die gleiche Konfiguration angefügt. Folglich wird die Beschreibung derselben oder der gleichen Konfiguration, die in der ersten Ausführungsform beschrieben wird, in der nachfolgenden Ausführungsformen weggelassen.Several embodiments of the present invention will be described below with reference to the figures. In the following embodiments, the same or the same reference numerals are added to the same or the same configuration. Consequently, the description of the same or the same configuration as described in the first embodiment will be omitted in the following embodiments.
(Erste Ausführungsform)First Embodiment
Die 1 bis 6 stellen jeweils beispielhafte Ansichten der ersten Ausführungsform dar. 1 stellt ein Blockdiagram der elektrischen Konfiguration gemäß der vorliegenden Ausführungsform dar.The 1 to 6 each illustrate exemplary views of the first embodiment. 1 FIG. 12 illustrates a block diagram of the electrical configuration according to the present embodiment. FIG.
Eine Sensorvorrichtung 2 (Sens.-Vorr.) ist mit einer elektronischen Steuereinheit 1 (nachfolgend als ECU 1 bezeichnet) verbunden. Die Sensorvorrichtung 2 ist als ein Temperatursensor konfiguriert, in dem ein fester Widerstand 4 und ein Thermistor 5 in Serie mit einer Sensorenergieversorgung 3 (Sens.-EV.) verbunden sind. Die Sensorvorrichtung 2 misst die Temperatur des Temperaturmessobjekts durch Anordnen des Thermistors 5 in der Nähe des Temperaturmessobjekts.A sensor device 2 (Sens.-Vorr.) Is with an electronic control unit 1 (hereinafter referred to as ECU 1 referred). The sensor device 2 is configured as a temperature sensor in which a fixed resistor 4 and a thermistor 5 in series with a sensor power supply 3 (Sens.-EV.) are connected. The sensor device 2 Measures the temperature of the temperature measurement object by placing the thermistor 5 near the temperature object.
Der Knoten N1 zwischen dem festen Widerstand 4 und dem Thermistor 5 ist als ein Eingangsknoten bzw. Eingabeknoten zur ECU 1 konfiguriert, so dass die Temperaturinformation in die ECU 1 eingegeben wird. Ein analoger Eingangsschaltkreis 6 der ECU 1 ist mit dem Knoten N1 verbunden und ein Ausgang des analogen Eingangsschaltkreises 6 ist mit einem Eingangsknoten In1 des Mikrocomputers 7 (µC) verbunden.The knot N1 between the fixed resistor 4 and the thermistor 5 is as an input node to the ECU 1 configured so that the temperature information in the ECU 1 is entered. An analog input circuit 6 the ECU 1 is with the node N1 connected and an output of the analog input circuit 6 is with an entrance node in1 of the microcomputer 7 (μC) connected.
Der analoge Eingangsschaltkreis 6 weist einen Eingangskondensator Ci und einen Tiefpassfilter 8 auf. Der Eingangskondensator Ci ist für Gegenmaßnahmen gegen Überspannung bereitgestellt, was den Eingang der ECU 1 vor statischer Elektrizität schützt. Der Tiefpassfilter 8 ist durch Verbinden eines Widerstands 9 und eines Kondensators 10 in Serie mit dem Knoten N 1 konfiguriert. Der Tiefpassfilter 8 gibt ein Signal, das durch den Tiefpassfilter 8 verarbeitet wird, an den Eingangsanschluss In 1 des Mikrocomputers 7 aus.The analog input circuit 6 has an input capacitor Ci and a low-pass filter 8th on. The input capacitor Ci is provided for overvoltage countermeasures, which is the input of the ECU 1 protects against static electricity. The low pass filter 8th is by connecting a resistor 9 and a capacitor 10 configured in series with node N 1. The low pass filter 8th gives a signal through the low pass filter 8th is processed, to the input terminal In 1 of the microcomputer 7 out.
Der Mikrocomputer 7 weist eine CPU 11, Ausgabe-Timer 12 und 13 (Ausg.-Timer) bzw. Ausgabezeitgeber, einen A/D-Wandler 14 b (A/D-W) und einen Speicher 15 als ein nicht-transitorisches physikalisches Aufzeichnungsmedium auf. Der Eingangsanschluss In1 ist mit dem A/D-Wandler 14 im Inneren des Mikrocomputers 7 verbinden. Die CPU 11 führt die entsprechenden Funktionen der Diagnosepuls-Ausgabesteuerung 16 (Diag-Puls-Ausg.-Strg.) und der A/D-Abtastbestimmungsvorrichtung 17 (A/D-Abt.-Bestimm.-Vorr.) gemäß einem im Speicher 15 gespeicherten Programm aus.The microcomputer 7 has a CPU 11 , Output timer 12 and 13 (Output timer) or output timer, an A / D converter 14 b (A / DW) and a memory 15 as a non-transitory physical recording medium. The input connection in1 is with the A / D converter 14 inside the microcomputer 7 connect. The CPU 11 performs the corresponding functions of the diagnostic pulse output control 16 (Diag Pulse Out Ctrl.) And the A / D sample determination device 17 (A / D Dept. Determ. Pres.) According to one in memory 15 saved program.
Die Diagnosepuls-Ausgabesteuerung 16 ist so konfiguriert, dass sie ein Diagnosepulssignal zum Diagnostizieren des Abtasttriggersignals bzw. Abtastauslösesignals, das vom Ausgangsanschluss IO1 oder IO2 unter Verwendung der Ausgabetimer 12 oder 13 ausgegeben wird, ausgibt. Die CPU 11 weist einen internen Timer (nicht gezeigt) auf und ist als ein Abtasttriggergenerator 18 zum Generieren eines Abtasttriggersignals des A/D-Wandlers 14 durch den internen Timer konfiguriert. Die CPU 11 ist auch als eine A/D-Abtastbestimmungsvorrichtung 17 konfiguriert.The diagnostic pulse output control 16 is configured to receive a diagnostic pulse signal for diagnosing the sample trigger signal from the output terminal IO1 or IO2 using the output timers 12 or 13 is spent. The CPU 11 has an internal timer (not shown) and is referred to as a sample trigger generator 18 for generating a sampling trigger signal of the A / D converter 14 configured by the internal timer. The CPU 11 is also known as an A / D sampling device 17 configured.
Die A/D-Abtastbestimmungsvorrichtung 17 bezieht sich auf ein A/D-Wandlungsergebnis bzw. A/D-Umwandlungsergebnis des analogen Signals durch den A/D-Wandler 14 und bestimmt, wie nachfolgend beschrieben, ob es innerhalb eines vorgegebenen erwarteten Bereichs ist oder nicht. Die A/D-Abtastbestimmungsvorrichtung 17 ist als eine Fehlerbestimmungsvorrichtung konfiguriert, die bestimmt, ob das Abtastintervall des Triggersignals, das im Triggergenerator 18 (Trigger-Gen.) generiert wird, im Fehlerzustand ist oder nicht.The A / D sampling determining device 17 refers to an A / D conversion result of the analog signal by the A / D converter 14 and determines, as described below, whether it is within a predetermined expected range or not. The A / D sampling determining device 17 is configured as a fault determination device that determines whether the sampling interval of the trigger signal that is in the trigger generator 18 (Trigger gene.) Is generated, is in error state or not.
Der A/D-Wandler 14 ist mit einem Kondensator 14a zum Abtasten eines Signals am Eingang des A/D-Wandlers 14 bereitgestellt und ist so konfiguriert, dass er eine A/D-Wandlungsverarbeitung der akkumulierten Spannung Vc des Kondensators 14a durchführt. Der A/D-Wandler 14 empfängt ein Abtasttriggersignal, das zu jedem vorgegebenen Zeitraum durch den Abtasttriggergenerator 18 in der CPU 11 generiert wird, und tastet das analoge Signal, das am Anschluss In1 eingegeben wird, zu diesem Triggerakzeptierzeitpunkt ab. Der A/D-Wandler 14 gibt ferner das A/D-Wandlungsverarbeitungsergebnis an die CPU 11 aus.The A / D converter 14 is with a capacitor 14a for sampling a signal at the input of the A / D converter 14 and is configured to perform A / D conversion processing of the accumulated voltage Vc of the capacitor 14a performs. The A / D converter 14 receives a sample trigger signal at any given time through the sample trigger generator 18 in the CPU 11 is generated, and samples the analog signal that is present at the port in1 is entered at this Triggerakzeptierzeitpunkt. The A / D converter 14 Further, the A / D conversion processing result is sent to the CPU 11 out.
Der Mikrocomputer 7 weist eine Vielzahl von Anschlüssen IO1 und IO2 auf, und diese Anschlüsse IO1 und IO2 sind mit einem Eingangsanschluss In1, das heißt einem Ausgangsknoten N2 des Tiefpassfilters 8 über jeweilige Widerstände 19 und 20 verbunden.The microcomputer 7 has a variety of connections IO1 and IO2 on, and these connections IO1 and IO2 are with an input connection in1 that is an output node N2 the low-pass filter 8th about respective resistances 19 and 20 connected.
Die CPU 11 ist so konfiguriert, dass sie die jeweiligen Funktionen der Diagnosepuls-Ausgabesteuerung 16 und der A/D-Abtastbestimmungsvorrichtung 17 gemäß dem im Speicher 15 gespeicherten Programm ausführt. Die Diagnosepuls-Ausgabesteuerung 16 ist so konfiguriert, dass sie jeweils einen einmaligen Trigger als ein Diagnosepulssignal jeweils an den Anschlüssen IO1 und IO2 durch die Timer 12 und 13 ausgibt. Aus diesem Grund sind die Diagnosepuls-Ausgabesteuerung 16 und die Timer 12 und 13 als die Diagnosepulssignal-Ausgabevorrichtung 22 konfiguriert.The CPU 11 is configured to perform the respective functions of the diagnostic pulse output control 16 and the A / D sampling device 17 according to the in the store 15 stored program executes. The diagnostic pulse output control 16 is configured to each have a unique trigger as a diagnostic pulse signal at each of the ports IO1 and IO2 through the timers 12 and 13 outputs. For this reason, the diagnostic pulse output control 16 and the timers 12 and 13 as the diagnostic pulse signal output device 22 configured.
Die Anschlüsse IO1 und IO2 sind zwischen einem Eingangsmodus und einem Ausgangsmodus, die durch den Mikrocomputer 7 gesteuert werden, umschaltbar. Die Widerstände 19 und 20 werden zum Einstellen einer Zeitkonstante verwendet. Dadurch wird ein RC-Tiefpassfilterschaltkreis 21 durch Widerstand 19 oder 20 und den Kondensator 10 konfiguriert, und der RC-Tiefpassfilter 21 ist zwischen den Ausgangsknoten der Anschlüsse IO1 und IO2 und dem Eingangsknoten des A/D-Wandlers 14 angeordnet.The connections IO1 and IO2 are between an input mode and an output mode by the microcomputer 7 be controlled, switchable. The resistors 19 and 20 are used to set a time constant. This will become an RC low pass filter circuit 21 through resistance 19 or 20 and the capacitor 10 configured, and the RC low-pass filter 21 is between the output nodes of the connectors IO1 and IO2 and the input node of the A / D converter 14 arranged.
Der Betrieb der oben beschriebenen Konfiguration wird im Folgenden beschrieben.The operation of the above-described configuration will be described below.
<Fehlererfassungsverarbeitung><Error detection processing>
2 zeigt ein Ablaufdiagramm, das den Fehlererfassungsprozess während eines Abtastintervalls zeigt. In der Fehlererfassungsverarbeitung wird, wie in den Schritten S1 bis S10 von 2 gezeigt, die Abtastdiagnoseverarbeitung zum Überprüfen, ob der Abtastwert innerhalb des erlaubbaren Bereichs ist oder nicht, und dann zum Überprüfen, ob die Anzahl von Auftreten eines Erlangens eines zurückgegebenen Werts, der den normalen Zustand anzeigt (in anderen Worten ein positives Diagnoseergebnis), die Schwellwertanzahl von Auftreten einer Normalitätsbestimmung übersteigt oder nicht, für die Anzahl von Auftreten der Abtastdiagnose wiederholt durchgeführt, um zu bestimmen, ob das Abtastintervall im normalen Zustand oder im Fehlerzustand ist. 2 FIG. 10 is a flowchart showing the error detection process during a sampling interval. FIG. In the error detection processing, as in the steps S1 to S10 from 2 5, the scan diagnostic processing for checking whether the sample is within the allowable range or not and then checking whether the number of occurrences of obtaining a returned value indicating the normal state (in other words, a positive diagnosis result), the threshold number from occurrence of normality determination or not, repeatedly performed for the number of times of the sampling diagnosis to determine whether the sampling interval is in the normal state or in the error state.
Die Anzahl von Auftreten einer Abtastdiagnose zeigt die Anzahl von Auftreten der Abtastdiagnoseverarbeitung, die durchgeführt wurde, an. Die Schwellwertanzahl von Auftreten einer Normalitätsbestimmung zeigt die Schwellwertanzahl von Auftreten einer Normalitätsbestimmung an, um zu bestimmen, dass ein Abtastfehler in der Anzahl von Auftreten einer Abtastdiagnose nicht vorhanden ist.The number of occurrences of scan diagnosis indicates the number of occurrences of scan diagnostic processing that has been performed. The threshold number of occurrences of a normality determination indicates the threshold number of occurrences of a normality determination to determine that a sampling error is not present in the number of times of sampling diagnosis.
Die Anzahl von Auftreten einer Abtastdiagnose und die Schwellwertanzahl von Auftreten einer Normalitätsbestimmung sind Werte, die gemäß dem Abtastzeitraum und der Umgebungstemperatur festgelegt werden. Die CPU 11 legt die Anzahl von Auftreten einer Abtastdiagnose und die Schwellwertanzahl von Auftreten einer Normalitätsbestimmung in Schritt S1 von 2 fest.The number of occurrence of a scan diagnosis and the threshold number of occurrences of a normality determination are values set according to the sampling period and the ambient temperature. The CPU 11 sets the number of occurrence of scan diagnosis and the threshold number of occurrence of normality determination in step S1 from 2 firmly.
3 zeigt ein Beispiel der festgelegten Werte. Im Speicher 15 des Mikrocomputers 7 werden die Anzahl von Auftreten einer Abtastdiagnose und die Schwellwertanzahl von Auftreten einer Normalitätsbestimmung entsprechend dem Abtastzeitraum und der Umgebungstemperatur, wie in 3 gezeigt, als eine Tabelle gespeichert. Dabei zeigt die erste Reihe der Tabelle (in einer horizontalen Richtung) die Abtastzeiträume an und die erste Spalte der Tabelle (in einer vertikalen Richtung) zeigt die Umgebungstemperatur an. Ein Beispiel zum Festlegen der Anzahl von Auftreten der Abtastdiagnose und der Schwellwertanzahl von Auftreten einer Normalitätsbestimmung gemäß der Kombination des Abtastzeitraums und der Umgebungstemperatur ist in 3 gezeigt. 3 shows an example of the set values. In the storage room 15 of the microcomputer 7 will be the number of occurrences of a scan diagnosis and the threshold number of occurrence of a normality determination corresponding to the sampling period and the ambient temperature, as in FIG 3 shown saved as a table. Here, the first row of the table indicates (in a horizontal direction) the sampling periods, and the first column of the table (in a vertical direction) indicates the ambient temperature. An example for setting the number of occurrence of the sampling diagnosis and the threshold number of occurrences of a normality determination according to the combination of the sampling period and the ambient temperature is in FIG 3 shown.
Es ist, wie in 3 gezeigt, vorteilhaft die Schwellwertanzahl einer Normalitätsbestimmung so festzulegen, dass sie eine Hälfte der Anzahl von Auftreten einer Abtastdiagnose oder mehr ist. Die Anzahl von Auftreten einer Abtastdiagnose wird beispielsweise auf 3 festgelegt, und die Schwellwertanzahl von Auftreten einer Normalitätsbestimmung kann auf 2 festlegten werden.It's like in 3 5, it is preferable to set the threshold number of a normality determination to be one half of the number of times of sampling diagnosis or more. The number of times a scan diagnosis occurs, for example 3 and the threshold number of occurrence of a normality determination may be set to 2 be determined.
Es ist auch vorteilhaft, die Schwellwertanzahl der Normalitätsbestimmung auf eine Hälfte der Anzahl von Auftreten der Abtastdiagnose oder weniger festzulegen. Zwei Anschlüsse, IO1 und IO2, sind als Diagnoseanschlüsse in dieser Ausführungsform bereitgestellt. Wenn ein Fehler bei einer an einem der Anschlüsse durchgeführten Diagnoseverarbeitung auftritt, kann der andere Anschluss im normalen Zustand zum Weiterführen der Diagnoseverarbeitung unter der feststehenden Bedingung, dass die Hardware in einem normalen Zustand ist, verwendet werden.It is also preferable to set the threshold number of the normality determination to one half of the number of times of sampling diagnosis or less. Two connections, IO1 and IO2 are provided as diagnostic ports in this embodiment. If an error occurs at a one of the terminals, the other terminal may be used in the normal state to continue the diagnosis processing under the fixed condition that the hardware is in a normal state.
Da die Umgebungstemperatur ansteigt, kann die Umgebungstemperatur eine größere Ungleichmäßigkeit der Eigenschaft des RC-Schaltkreises, der zwischen dem Anschluss IO1 oder IO2 und dem Eingangsanschluss In1 bereitgestellt ist, verursachen. Wenn die Umgebungstemperatur ansteigt, steigt dementsprechend die Anzahl von Auftreten einer Abtastdiagnose zum Erhöhen der Erfassungsgenauigkeit.As the ambient temperature rises, the ambient temperature may have a greater unevenness in the property of the RC circuit that is between the terminal IO1 or IO2 and the input terminal in1 is caused. Accordingly, when the ambient temperature rises, the number of times of occurrence of scan diagnosis for increasing the detection accuracy increases.
Wenn der Abtastzeitraum zusätzlich während der Diagnose ansteigt, steigt auch die Abweichung des Erfassungswerts, der durch die technische Toleranz beim Wert eines Elements verursacht wird, auch an. Es ist folglich vorteilhaft, die geforderte Genauigkeit zu verringern, und die Schwellwertanzahl der Normalitätsbestimmung zu verringern. Die CPU 11 kann durch Festlegen der jeweiligen Werte auf diese Weise diagnostizieren, ob die Abtastverarbeitung innerhalb eines Bereichs geeignet ist, ohne eine fehlerhafte Erfassung aufzuweisen, oder nicht.In addition, if the sampling period increases during the diagnosis, the deviation of the detection value caused by the technical tolerance in the value of an element also increases. It is therefore advantageous to reduce the required accuracy and to reduce the threshold number of normality determination. The CPU 11 For example, by setting the respective values in this way, it can diagnose whether or not the scan processing within a range is appropriate without having erroneous detection.
Nach Durchführen der Verarbeitung in Schritt S1 von 2 initialisiert die CPU 11 eine Variable i zum Durchführen einer Iterationsverarbeitung (nachfolgend als die Variable i bezeichnet) auf 0 in Schritt S2. Die CPU 11 wiederholt die Verarbeitung der Schritte S4 bis S7 bis die Variable i die Anzahl von Auftreten einer Abtastdiagnose erreicht. In Schritt S4 führt die CPU 11 eine Abtastdiagnose durch. In Schritt S5 wird die Variable i inkrementiert.After performing the processing in step S1 from 2 initializes the CPU 11 a variable i for performing iteration processing (hereinafter referred to as the variable i) at 0 in step S2 , The CPU 11 repeats the processing of the steps S4 to S7 until the variable i reaches the number of times of sampling diagnosis. In step S4 leads the CPU 11 a scan diagnostics. In step S5 the variable i is incremented.
In Schritt S6 wird bestimmt, ob der zurückgegebene Wert, der bei der Abtastdiagnoseverarbeitung erlangt wird, den normalen Zustand anzeigt oder nicht. Falls der zurückgegebene Wert den normalen Zustand anzeigt, zeigt die CPU 11 ein positives bzw. affirmatives Ergebnis (beispielsweise JA in Schritt S6) an und inkrementiert den Normalitätszähler in Schritt S7. Falls der zurückgegebene Wert, der bei der Abtastdiagnoseverarbeitung erlangt wird, andererseits einen Fehlerzustand in Schritt S6 anzeigt, zeigt die CPU 11 ein Fehlerergebnis (beispielsweise NEIN in S6) an und führt die Verarbeitung zu Schritt S3 zurück und wiederholt dann die Diagnoseverarbeitung.In step S6 It is determined whether or not the returned value obtained in the scan diagnostic processing indicates the normal state. If the returned value indicates the normal state, the CPU shows 11 a positive or affirmative result (for example YES in step S6 ) and increments the normality counter in step S7 , On the other hand, if the returned value obtained in the scan diagnostic processing is an error state in step S6 indicates, shows the CPU 11 an error result (for example, NO in S6 ) and leads the processing to step S3 and then repeat the diagnostic processing.
Wenn die Variable i die Anzahl von Auftreten einer Abtastdiagnose erreicht, vervollständigt die CPU 11 die iterative Verarbeitung in Schritt S3 und überprüft in Schritt S8, ob das Ergebnis des Normalitätszählers kleiner oder gleich der Schwellwertanzahl von Auftreten einer Normalitätsbestimmung ist. Falls das Ergebnis des Normalitätszählers in diesem Moment größer als die Schwellwertanzahl von Auftreten einer Normalitätsbestimmung ist, zeigt die CPU 11 ein Fehlerergebnis (beispielsweise NEIN in Schritt S8) an und bestimmt in Schritt S9, dass das Abtastintervall im normalen Zustand ist; und falls es kleiner oder gleich der Schwellwertanzahl von Auftreten einer Normalitätsbestimmung ist, zeigt die CPU 11 ein positives Ergebnis (beispielsweise JA in Schritt S8) an und bestimmt in Schritt S10, dass das Abtastintervall der Fehlerzustand ist.When the variable i reaches the number of times of a scan diagnosis, the CPU completes 11 the iterative processing in step S3 and checked in step S8 whether the result of the normality counter is less than or equal to the threshold number of occurrence of a normality determination. If the result of the normality counter at this moment is greater than the threshold number of occurrence of a normality determination, the CPU shows 11 an error result (for example, NO in step S8 ) and determined in step S9 in that the sampling interval is in the normal state; and if it is less than or equal to the threshold number of occurrence of a normality determination, the CPU shows 11 a positive result (for example YES in step S8 ) and determined in step S10 in that the sampling interval is the error state.
<Abtastdiagnoseverarbeitung><Abtastdiagnoseverarbeitung>
4 zeigt ein Ablaufdiagramm, das die Abtastdiagnose in Schritt S4 von 2 im Detail zeigt. Nach Festlegen des Initialwerts des Rückgabewerts auf den normalen Zustand in Schritt S21, legt die CPU 11, wie in 4 gezeigt, den Anschluss IO1 oder IO2 (beispielsweise IO1) als den Ausgangsanschluss in Schritt S22 fest und die Ausgabe für eine Diagnose für den Anschluss IO1 wird dann in Schritt S23 gestartet, und das Abtasten für eine Diagnose wird in Schritt S24 gestartet. 4 FIG. 12 is a flowchart showing the scan diagnostics in step. FIG S4 from 2 in detail shows. After setting the initial value of the return value to the normal state in step S21 , puts the CPU 11 , as in 4 shown the connection IO1 or IO2 (for example IO1 ) as the output terminal in step S22 fixed and the output for a diagnosis for connection IO1 will then step in S23 is started, and the sampling for a diagnosis is made in step S24 started.
Die CPU 11 initialisiert in Schritt S25 die Variable j für eine wiederholte Verarbeitung (nachfolgend als die Variable j bezeichnet) auf 0, vergleicht in Schritt S26 die Variable j mit der vorgegeben Anzahl von Abtastungen bzw. Samples und wiederholt die Verarbeitung von Schritt S27 zu Schritt S30 bis die Anzahl von Abtastungen sichergestellt werden kann. Wenn die Variable j kleiner als die Abtastungsanzahl ist, wird in Schritt S27 bestimmt, ob der Diagnoseabtastwert kleiner als der erwartete untere Grenzwert Min ist oder nicht, und in Schritt S28 wird bestimmt, ob der Diagnoseabtastwert den erwarteten oberen Grenzwert Max überschreitet oder nicht.The CPU 11 initialized in step S25 the variable j for repeated processing (hereinafter referred to as the variable j) at 0, compares in step S26 the variable j with the predetermined number of samples and repeats the processing of step S27 to step S30 until the number of samples can be ensured. If the variable j is smaller than the sampling number, in step S27 determines whether the diagnostic sample is less than the expected lower limit Min or not, and in step S28 It is determined whether the diagnostic sample exceeds the expected upper limit Max or not.
5 stellt ein Verfahren zum Festlegen von Parametern für den erwarteten oberen Abtastgrenzwert Max und den erwarteten unteren Abtastgrenzwert Min dar. In 5 zeigen „Abtastung 1“, „Abtastung 2“, „Abtastung 3“... jeweils Abtastzeitpunkte bzw. Abtasttimings nach einem vorgegeben Zeitintervall vom Zeitpunkt eines Eingangs des Diagnosepulssignals an und sind im Speicher 15 des Mikrocomputers 7 gespeichert. Die erwartete obere Grenze Max und die erwartete unteren Grenze Min des Abtastens, die in 5 gezeigt sind, werden als eine Tabelle gespeichert. Die CPU 11 bezieht sich auf die im Speicher 15 gespeicherte Tabelle. Die Tabelle legt individuelle Abtastzeitpunkte in der horizontalen Richtung (in anderen Worten der ersten Reihe der Tabelle) fest, und legt den erwarteten oberen Grenzwert Max und den erwarteten unteren Grenzwert Min für die jeweiligen Diagnoseeingänge in der vertikalen Richtung (in anderen Worten der ersten Spalte der Tabelle) fest. Die jeweiligen Parameter werden für den erwarteten oberen Grenzwert Max und den erwarteten unteren Grenzwert Min auf Grundlage der Kombination des Abtastzeitpunkts und des erwarteten oberen Grenzwerts oder des erwarteten unteren Grenzwerts festgelegt. 5 FIG. 12 illustrates a method for setting parameters for the expected upper sample threshold Max and the expected lower sample threshold Min. In 5 "Sampling 1", "Sampling 2", "Sampling 3"... each indicate sampling timings after a predetermined time interval from the time of an input of the diagnosis pulse signal and are in memory 15 of the microcomputer 7 saved. The expected upper limit Max and the expected lower limit Min of the sampling, which in 5 are stored as a table. The CPU 11 refers to those in the store 15 saved table. The table sets individual sampling times in the horizontal direction (in other words, the first row of the table), and sets the expected upper limit Max and the expected lower limit Min for the respective diagnostic inputs in the vertical direction (in other words, the first column of FIG Table). The respective parameters are for the expected upper limit Max and the expected lower limit Min based on the combination of the sampling instant and the expected upper limit or the expected lower limit.
Die jeweiligen Parameter des erwarteten oberen Grenzwerts Max und des erwarteten unteren Grenzwerts Min werden in Hinblick auf die Ungleichmäßigkeit, die beispielsweise durch die Zeitkonstante des RC-Schaltkreises, die technische Toleranz bei den Werten der Elemente, die für den RC-Schaltkreis konfiguriert sind, den Quantisierungsfehler bei einer A/D-Wandlung und die Temperatureigenschaft verursacht werden, festgelegt. Der RC-Schaltkreis weist den Kondensator 10 im Filter 8, den Kondensator 14a für eine Abtast- und Halteverarbeitung bzw. Sample-Hold-Verarbeitung im A/D-Wandler 14 und den Widerstand 19 oder 20 auf.The respective parameters of the expected upper limit value Max and the expected lower limit value Min, in view of the unevenness caused by, for example, the time constant of the RC circuit, the technical tolerance in the values of the elements configured for the RC circuit Quantization error in an A / D conversion and the temperature property are caused to be fixed. The RC circuit has the capacitor 10 in the filter 8th , the condenser 14a for sample and hold processing or sample-hold processing in the A / D converter 14 and the resistance 19 or 20 on.
Beispielsweise zeigen der erwartete obere Grenzwert Max und der erwartete untere Grenzwert Min des Diagnoseeingangs 1 den oberen Grenzwert und den unteren Grenzwert an, wenn das Diagnosepulssignal vom Anschluss IO1 zum Eingangsanschluss In1 ausgegeben wird, und der erwartete obere Grenzwert Max und der erwartete untere Grenzwert Min zeigen den oberen Grenzwert und den unteren Grenzwert an, wenn das Diagnosepulssignal vom Anschluss IO2 zum Eingangsanschluss In1 ausgegeben wird. Diese Werte werden aber auf unterschiedliche Werte gemäß den Schaltkreisen in den jeweiligen Leitungspfaden festgelegt.For example, the expected upper limit is Max and the expected lower limit is Min of the diagnostic input 1 the upper limit and the lower limit when the diagnostic pulse signal from the port IO1 to the input terminal in1 and the expected upper limit Max and the expected lower limit Min indicate the upper limit and the lower limit when the diagnostic pulse signal from the port IO2 to the input terminal in1 is issued. However, these values are set to different values according to the circuits in the respective line paths.
Wenn beispielsweise der Widerstandswert des Widerstands 19 größer als der Widerstandswert des Widerstands 20 ist, wird die Zeitkonstante des RC-Schaltkreises, der den Widerstand 19 und den Kondensator 10 aufweist, größer als die Zeitkonstante des RC-Schaltkreises, der den Widerstand 20 und den Kondensator 10 aufweist. Der erwartete obere Grenzwert Max und der erwartete untere Grenzwert Min des Diagnoseeingangs 1 sind, wie in 5 gezeigt, jeweils niedriger als der erwartete obere Grenzwert Max und der erwartete untere Grenzwert Min des Diagnoseeingangs 2.For example, if the resistance of the resistor 19 greater than the resistance of the resistor 20 is, the time constant of the RC circuit, the resistance 19 and the capacitor 10 has, greater than the time constant of the RC circuit, the resistance 20 and the capacitor 10 having. The expected upper limit Max and the expected lower limit Min of the diagnostic input 1 are, as in 5 each lower than the expected upper limit Max and the expected lower limit Min of the diagnostic input 2 ,
Wenn der Diagnoseabtastwert innerhalb des erwarteten Bereichs vom erwarteten unteren Grenzwert Min zum erwarteten oberen Grenzwert Max ist, zeigt die CPU 11 ein Fehlerergebnis (beispielsweise NEIN in beiden Schritten S27 und S28 von 4) an und führt die Verarbeitung direkt zu Schritt S30.If the diagnostic sample is within the expected range from the expected lower limit Min to the expected upper limit Max, the CPU displays 11 an error result (for example, NO in both steps S27 and S28 from 4 ) and leads the processing directly to step S30 ,
Wenn der Diagnoseabtastwert im Gegensatz dazu außerhalb des erwarteten Bereichs vom erwarteten unteren Grenzwert Min zum erwarteten oberen Grenzwert Max ist, zeigt die CPU 11 ein positives Ergebnis (beispielsweise JA in einem der Schritt S27 oder Schritt S28) an. Nachfolgend legt die CPU 11 den zurückgegebenen Wert als den Fehlerzustand in Schritt S29 fest und führt dann die Verarbeitung zu Schritt S30.Conversely, if the diagnostic sample is outside of the expected range from the expected lower limit Min to the expected upper limit Max, the CPU displays 11 a positive result (for example YES in one of the steps S27 or step S28 ) at. Below is the CPU 11 the returned value as the error condition in step S29 and then bring the processing to step S30 ,
Die CPU 11 inkrementiert dann die Variable j in Schritt S30 und führt die Verarbeitung zu Schritt S26 zum Wiederholen der Verarbeitung zurück, um zu bestätigen, ob die Anzahl der Abtastungen sichergestellt ist. Wenn die Variable j die vorgegeben Anzahl von Abtastungen erreicht, bestimmt die CPU 11, dass die vorgegeben Anzahl von Abtastungen sichergestellt ist und beendet das Abtasten in Schritt S31. Die CPU 31 beendet das Ausgeben von zurückgegebenen Werten in Schritt S32 und gibt die zurückgegebenen Werte zurück.The CPU 11 then increment the variable j in step S30 and leads the processing to step S26 to repeat the processing to confirm whether the number of samples is ensured. When the variable j reaches the predetermined number of samples, the CPU determines 11 in that the predetermined number of samples is ensured and stops the sampling in step S31 , The CPU 31 stops issuing returned values in step S32 and returns the returned values.
<Beispiel eines detaillierten Betriebs><Example of detailed operation>
6 zeigt eine Veränderung einer jeweiligen Spannung, wenn die Abtastdiagnoseverarbeitung einmal an den jeweiligen Anschlüssen IO1 und IO2 durchgeführt wird, in einem Zeitdiagramm. Die Anschlüsse IO1 und IO2 zum Diagnostizieren sind, wie in 6 gezeigt, so konfiguriert, dass sie in einer durch die CPU 11 durchgeführten Eingangskonfiguration während des regulären Steuerzeitraums T1 in einem Hochimpedanz-Zustand bzw. einem Zustand mit einer hohen Impedanz sind. Das „X“, das in den Ausgangsanschlüssen IO1 und IO2 in 6 dargestellt ist, zeigt den Hochimpedanz-Zustand an. In diesem Moment wird das Ausgabesignal der Sensorvorrichtung 2 in den Eingangsanschluss In1 eingegeben, und der A/D-Wandler 14 tastet dann den Ausgabewert der Sensorvorrichtung 2 gemäß einem im Abtasttriggergenerator 18 generierten Triggersignal ab. Folglich sind keine Einflüsse, die durch Widerstände 19 und 20, die jeweils den Ausgangsanschlüssen IO1 und IO2 in Serie verbunden sind, vorhanden. 6 shows a change of a respective voltage when the scan diagnostic processing once at the respective terminals IO1 and IO2 is performed in a time chart. The connections IO1 and IO2 to diagnose, as in 6 shown, configured in one by the CPU 11 input configuration during the regular tax period T1 are in a high-impedance state and a high-impedance state, respectively. The "X" in the output ports IO1 and IO2 in 6 is shown, indicates the high-impedance state. At this moment, the output signal of the sensor device 2 in the input connection in1 entered, and the A / D converter 14 then samples the output value of the sensor device 2 according to a sampling trigger generator 18 generated trigger signal. Consequently, there are no influences caused by resistances 19 and 20 , respectively the output terminals IO1 and IO2 connected in series, available.
Wenn die CPU 11 die in 2 dargestellte Fehlererfassungsverarbeitung startet, konfiguriert die CPU 11 den Ausgangsanschluss (beispielsweise IO1) als einen Ausgang in Schritt S22 von 4 und gibt 0 V über einen vorgegebene Zeit durch den Timer 12 aus. Dementsprechend wird die akkumulierte Ladung, die im Kondensator 14a für eine Abtast-und Halteverarbeitung im A/D-Wandler 14 gespeichert ist, entladen, so dass die akkumulierte Spannung Vc im Kondensator auf 0 V im Intervall Ti, das in 6 gezeigt ist, abgesenkt wird.If the CPU 11 in the 2 illustrated fault detection processing starts, configures the CPU 11 the output terminal (for example IO1 ) as an exit in step S22 from 4 and gives 0V for a given time by the timer 12 out. Accordingly, the accumulated charge in the capacitor 14a for sample and hold processing in the A / D converter 14 is stored, discharged, so that the accumulated voltage Vc in the capacitor to 0 V in the interval Ti, which in 6 is shown lowered.
Nachfolgend gibt die CPU 11 einen Einmalpuls, der 5 V aufweist, als ein Pulssignal für eine Diagnose durch den Timer 12 aus, der durch die Pulsausgabesteuerung 16 für eine Diagnose gesteuert wird, und die CPU 11 führt dann eine Abtastdiagnose durch die A/D-Abtastbestimmungsvorrichtung 17 durch. In diesem Moment geben die CPU 11 und der Timer 12 eine 0-V-Spannungswellenform über eine vorgegebene Zeit und einen Einmalpuls (eine 5-V-Spannungswellenform) aus, und starten ein in 4 gezeigtes Ausgeben vom Ausgangsanschluss IO1 in Schritt S23 während des in 6 gezeigten Steuerzeitraums T2.Below is the CPU 11 a one-shot pulse having 5V as a pulse signal for diagnosis by the timer 12 out by the pulse output control 16 is controlled for a diagnosis, and the CPU 11 then performs a scan diagnosis by the A / D scan determination device 17 by. At this moment give the CPU 11 and the timer 12 a 0V voltage waveform over a predetermined time and a one-time pulse (a 5V voltage waveform), and start in 4 shown output from the output terminal IO1 in step S23 during the in 6 tax period shown T2 ,
Wenn der Mikrocomputer 7 einen Einmalpuls für eine Diagnose vom Ausgangsanschluss IO1 ausgibt, wird eine Spannung, die aufgrund der RC-Zeitkonstante nicht augenblicklich ansteigt, in den Kondensator 14a für die Abtast- und Halteverarbeitung in den A/D-Wandler 14 eingegeben. Der Mikrocomputer 7 führt eine Diagnoseverarbeitung durch Vergleichen des Diagnoseabtastwerts, der durch Abtasten einer Eingangssignalspannung erhalten wird, mit beiden Grenzwerten, erwarteter oberer Grenzwert Max und erwarteter unterer Grenzwert Min, in den Schritts S27 bis S30 von 4 durch.If the microcomputer 7 a one-time pulse for a diagnosis from the output terminal IO1 outputs, a voltage which does not increase instantaneously due to the RC time constant, in the capacitor 14a for sample and hold processing in the A / D converter 14 entered. The microcomputer 7 performs a diagnostic processing by comparing the diagnostic sample obtained by sampling an input signal voltage with both limit values, expected upper limit value Max and expected lower limit value Min, into the step S27 to S30 from 4 by.
In einem Fall der in 4 gezeigten Ablaufprozedur wird der Initialwert des zurückgegebenen Werts als der normale Zustand beibehalten, wenn der Diagnoseabtastwert in den erwarteten Bereich zwischen den erwarteten oberen Grenzwert Max und den erwarteten unteren Grenzwert Min fällt.In a case of in 4 As shown, when the diagnostic sample falls within the expected range between the expected upper limit value Max and the expected lower limit value Min, the initial value of the returned value is kept as the normal state.
Wenn der Abtastdiagnosewert jedoch außerhalb des erwarteten Bereichs ist, ist der zurückgegebene Wert so konfiguriert, dass er vom normalen Zustand, der als der Initialwert festgelegt ist, in den Fehlerzustand geändert wird. Der Mikrocomputer 7 wiederholt die Verarbeitung der Schritte S27 bis S30 von 4 durch mehrmaliges Wiederholen der Anzahl von Abtastungen des Einmalpulses im Diagnosepulssignal, und beendet nach Wiederholen der Verarbeitung nachfolgend die Abtastverarbeitung in Schritt S31. Nachfolgend beendet der Mikrocomputer 7 das Ausgeben vom Ausgangsanschluss in Schritt S32.However, if the sample diagnostic value is out of the expected range, the returned value is configured to change from the normal state set as the initial value to the error state. The microcomputer 7 repeats the processing of the steps S27 to S30 from 4 by repeating the number of times of the one-shot pulse in the diagnostic pulse signal a plurality of times, and after repeating the processing, subsequently terminate the scan processing in step S31 , Subsequently, the microcomputer ends 7 outputting from the output terminal in step S32 ,
Der Mikrocomputer 7 führt die Verarbeitung aus, die gleich der in 4 gezeigten Verarbeitung ist, nachdem der Mikrocomputer 7 die Anschlusskonfiguration vom Ausgangsanschluss IO1 zum Ausgangsanschluss IO2 im in 6 gezeigten Zeitraum T3 ändert.The microcomputer 7 performs the processing equal to the one in 4 shown processing is after the microcomputer 7 the connection configuration from the output terminal IO1 to the output terminal IO2 in the 6 shown period T3 changes.
Falls die Zeitkonstante des im Leitungspfad vom Ausgangsanschluss IO2 zum Eingangsanschluss In1 bereitgestellten RC-Tiefpassfilterschaltkreises 21 zur Zeitkonstante des im Leitungspfad vom Ausgangsanschluss IO1 zum Eingangsanschluss In1 bereitgestellten RC-Tiefpassfilterschaltkreises 21 unterschiedlich ist, werden beide Grenzwerte, erwarteter oberen Grenzwert Max und erwarteter unterer Grenzwert Min, geändert. Die am Ausgangsanschluss IO2 durchgeführte Verarbeitung ist, wie in 4 gezeigt, gleich der am Ausgangsanschluss IO1 durchgeführten Verarbeitung. Der zurückgegebene Wert nach Vervollständigen des Abtastens ist auch in der am Ausgangsanschluss IO2 durchgeführten Verarbeitung bereitgestellt. Der Parameter wird in dieser Situation so geändert, dass der Fehlerzustand/normale Zustand des Abtastintervalls bestimmt werden kann. Folglich wird die Zuverlässigkeit einer Bestimmung des Fehlerzustands verbessert.If the time constant of the in-line path from the output terminal IO2 to the input terminal in1 provided RC low-pass filter circuit 21 to the time constant of the in-line path from the output terminal IO1 to the input terminal in1 provided RC low-pass filter circuit 21 is different, both limits, expected upper limit Max and expected lower limit Min, are changed. The at the output terminal IO2 performed processing is as in 4 shown, the same at the output terminal IO1 carried out processing. The value returned after completing the scan is also in the output port IO2 carried out processing. The parameter is changed in this situation so that the error state / normal state of the sampling interval can be determined. Consequently, the reliability of a determination of the error condition is improved.
Der Mikrocomputer 7 wiederholt, wie in 2 gezeigt, die Verarbeitung bis die Anzahl von Auftreten einer Abtastdiagnose erreicht wird. Falls die Anzahl von Auftreten, in denen der zurückgegebene Wert den normalen Zustand anzeigt, den Schwellwert von Auftreten einer Normalitätsbestimmung übersteigt, bestimmt der Mikrocomputer 7 dann, dass das Abtastintervall im normalen Zustand ist, oder bestimmt andererseits, dass das Abtastintervall im Fehlerzustand ist.The microcomputer 7 repeated, as in 2 shown processing until the number of occurrence of a scan diagnosis is achieved. If the number of occurrences in which the returned value indicates the normal state exceeds the threshold value of occurrence of normality determination, the microcomputer determines 7 then that the sampling interval is in the normal state, or otherwise determines that the sampling interval is in the error state.
In der in 2 dargestellten Verarbeitung legt der Mikrocomputer 7 beispielsweise die Schwellwertanzahl von Auftreten einer Normalitätsbestimmung auf „1“ fest. Falls der Mikrocomputer 7 bestimmt, dass eine oder mehrere der Abtastdiagnoseergebnisse den normalen Zustand anzeigen, kann der Mikrocomputer 7 bestimmen, dass das Abtastintervall im normalen Zustand ist, in anderen Worten, nicht im Fehlerzustand ist. In dieser Situation wird die Verarbeitung vereinfacht.In the in 2 illustrated processing sets the microcomputer 7 For example, the threshold number of occurrence of a normality determination to "1" fixed. If the microcomputer 7 determines that one or more of the scan diagnostic results indicate the normal state, the microcomputer may 7 determine that the sample interval is in the normal state, in other words, not in the error state. In this situation, the processing is simplified.
<Beschreibung eines Vergleichsbeispiels><Description of Comparative Example>
Eine externe Überwachvorrichtung wird, verglichen mit dem Mikrocomputer, im Allgemeinen wahrscheinlich einen Fehler aufweisen. Zusätzlich steigt die Unsicherheit, ob der RC-Schaltkreis richtig arbeiten kann oder nicht, in Hinblick auf den Einfluss an, der beispielsweise durch eine Ungleichmäßigkeit, die bei Elementen, die für einen Schaltkreis konfiguriert sind, auftritt, und die Temperatureigenschaft der Elemente, die für den Schaltkreis konfiguriert sind, verursacht wird. Die Diagnose für ein Abtastintervall kann nicht genau ausgeführt werden, falls das in JP 2015-175676 A offenbarte Verfahren angewendet wird.An external monitor will generally be likely to have an error compared to the microcomputer. In addition, the uncertainty of whether the RC circuit can operate properly or not increases in view of the influence that occurs, for example, by unevenness in elements configured for a circuit, and the temperature characteristic of the elements used for the circuit is configured. The scan interval diagnostics can not be performed accurately if the in JP 2015-175676 A disclosed method is applied.
<Die konzeptionelle Zusammenfassung und Effekt der vorliegenden Ausführungsform ><The conceptual summary and effect of the present embodiment>
Gemäß der vorliegenden Ausführungsform gibt die CPU 11 des Mikrocomputers 7 einen Diagnosepuls durch einen Einmaltrigger aus und überträgt ein analoges Signal an den Eingang des A/D-Wandlers 14 während des Zeitraums T2 oder T3, der zum regulären Betriebszeitraum T1 des A/D-Wandlers 14 unterschiedlich ist. Zusätzlich führt der Mikrocomputer 7 die Abtastdiagnose zum Bestimmen, ob ein Abtastwert in einen Bereich zwischen dem vorgegebenen erwarteten oberen Grenzwert Max und dem erwarteten unteren Grenzwert Min fällt, die jeweils beim Abtasten bestimmt werden, durch.According to the present embodiment, the CPU outputs 11 of the microcomputer 7 a diagnostic pulse by a single trigger and transmits an analog signal to the input of the A / D converter 14 during the period T2 or T3 , the regular operating period T1 of the A / D converter 14 is different. In addition, the microcomputer leads 7 the scan diagnostic for determining whether a sample falls within a range between the predetermined expected upper limit value Max and the expected lower limit value Min, which are respectively determined during sampling.
Der Abtastwert wird jedes Mal erhalten, wenn der A/D-Wandler 14 das analoge Signal mehrere Male abtastet. Der Mikrocomputer 7 bestimmt auf Grundlage des Abtastdiagnoseergebnisses, ob das Abtastintervall im Fehlerzustand ist. The sample is obtained each time the A / D converter 14 the analog signal is sampled several times. The microcomputer 7 determines whether the sampling interval is in the error state based on the scan diagnostic result.
Durch Durchführen einer derartigen Verarbeitung kann sichergestellt werden, dass das Abtastintervall, das durch die Timerunterbrechung, die durch den Abtasttriggergenerator 18 generiert wird, richtig ist, wenn bestimmt wird, dass das Abtastintervall im normalen Zustand ist.By performing such processing, it is possible to ensure that the sampling interval caused by the timer interrupt caused by the sampling trigger generator 18 is correct when it is determined that the sampling interval is in the normal state.
Es kann sogar insbesondere in dem Fall, in dem A/D-Wandlungsdaten für die Steuerverarbeitung verwendet werden, die für den funktionalen Sicherheitsstandard ISO 26262 im Automobilbereich angewendet werden soll, sichergestellt werden, dass das Abtastintervall durch die Timingunterbrechung, die durch den Abtasttriggergenerator 18 generiert wird, richtig ist.In particular, even in the case where A / D conversion data is used for the control processing to be applied to the automotive safety standard ISO 26262, it can be ensured that the sampling interval by the timing interrupt generated by the sampling trigger generator 18 is generated, is correct.
Da der Mikrocomputer 7 die Anzahl von Auftreten einer Abtastdiagnose und die Schwellwertanzahl von Auftreten einer Normalitätsbestimmung auf Grundlage der Parameter festlegt, die eine oder mehrere Eigenschaften eines Eingangspfades des A/D-Wandlers 14 variieren, kann der Mikrocomputer 7 auf Grundlage der festgelegten Werte, die gemäß dem Parameter modifiziert werden, bestimmen, ob das Abtastintervall im Fehlerzustand ist.Because the microcomputer 7 determines the number of occurrences of scan diagnosis and the threshold number of occurrences of normality determination based on the parameters representing one or more characteristics of an input path of the A / D converter 14 vary, the microcomputer can 7 based on the set values modified according to the parameter, determine if the sample interval is in the error state.
Infolgedessen wird die Erfassungsleistung bzw. Erfassungsperformance verbessert, so dass die Möglichkeit einer Fehlerfassung verringert wird. Darüber hinaus wird die Zeitkonstante des RC-Tiefpassfilterschaltkreises 21 geändert und der Mikrocomputer 7 kann bestimmen, ob das Abtastintervall im normalen Zustand oder im Fehlerzustand ist. Dementsprechend wird die Zuverlässigkeit beim Bestimmen eines Fehlerzustandes/normalen Zustandes verbessert.As a result, the detection performance is improved, so that the possibility of error detection is reduced. In addition, the time constant of the RC low-pass filter circuit 21 changed and the microcomputer 7 can determine if the sampling interval is in the normal state or in the error state. Accordingly, reliability in determining an error condition / normal condition is improved.
(Zweite Ausführungsform)Second Embodiment
Die 7 und 8 zeigen zusätzliche beispielhafte Diagramme gemäß einer zweiten Ausführungsform. 7, die 2 ersetzt, zeigt ein Ablaufdiagramm, das eine Fehlererfassungsverarbeitung zeigt; und 8, die ein Ersatz von 3 ist, zeigt ein Verfahren zum Festlegen der Anzahl von Auftreten einer Abtastdiagnose und der Schwellwertanzahl von Auftreten einer Fehlerbestimmung.The 7 and 8th show additional exemplary diagrams according to a second embodiment. 7 , the 2 Fig. 12 is a flowchart showing an error detection processing; and 8th that is a substitute of 3 FIG. 14 shows a method of setting the number of occurrences of a scan diagnosis and the threshold number of occurrence of a failure determination.
Es wird mit Hinblick auf die Fehlererfassungsverarbeitung in 2 gemäß der ersten Ausführungsform auf Grundlage des Vergleichs zwischen dem Ergebnis des Normalitätszählers und der Schwellwertanzahl von Auftreten einer Normalitätsbestimmung bestimmt, dass das Abtastintervall im normalen Zustand oder im Fehlerzustand ist.It is discussed with regard to the error detection processing in 2 According to the first embodiment, based on the comparison between the result of the normality counter and the threshold number of occurrence of a normality determination, it is determined that the sampling interval is in the normal state or in the error state.
Im Gegensatz dazu wird mit Hinblick auf 7 gemäß der zweiten Ausführungsform ein Fehlerzähler, der den Normalitätszähler ersetzt, separat bereitgestellt. Es wird in der Fehlererfassungsverarbeitung gemäß der zweiten Ausführungsform auf Grundlage des Vergleichs zwischen dem Ergebnis des Fehlerzählers und der Schwellwertanzahl von Auftreten einer Fehlerbestimmung bestimmt, dass das Abtastintervall im normalen Zustand oder im Fehlerzustand ist.In contrast, with regard to 7 According to the second embodiment, an error counter that replaces the normality counter is provided separately. It is determined in the error detection processing according to the second embodiment based on the comparison between the result of the error counter and the threshold number of occurrence of an error determination that the sampling interval is in the normal state or in the error state.
Der Mikrocomputer 7 führt beispielsweise die in 4 gezeigte Abtastdiagnoseverarbeitung aus, um den Fehlerzähler in Schritt S7a zu inkrementieren, falls der zurückgegebene Wert den Fehlerzustand anzeigt und wiederholt die Verarbeitung bis die Anzahl von Diagnosen die Anzahl von Auftreten einer Abtastdiagnose erreicht. Der Mikrocomputer 7 bestimmt in Schritt S10, dass das Abtastintervall im Fehlerzustand ist, falls das Ergebnis des Fehlerzählers in Schritt S8a größer gleich der Schwellwertanzahl von Auftreten einer Fehlerbestimmung ist.The microcomputer 7 leads, for example, the in 4 shown scan diagnostic processing to the error counter in step S 7 to increment if the returned value indicates the error condition and repeats the processing until the number of diagnoses reaches the number of occurrences of a scan diagnostic. The microcomputer 7 determined in step S10 in that the sampling interval is in the error state if the result of the error counter in step S8a greater than or equal to the threshold number of occurrence of a fault determination.
Dementsprechend wird bestimmt, dass das Abtastintervall im Fehlerzustand ist, wenn die Anzahl von Auftreten einer Fehlerbestimmung größer wird. Wenn in der in 7 gezeigten Verarbeitung die Schwellwertanzahl von Auftreten einer Fehlerbestimmung so festgelegt wird, dass sie gleich der Anzahl von Auftreten einer Abtastdiagnose ist, bestimmt der Mikrocomputer 7, dass das Abtastintervall im Fehlerzustand ist, falls alle Abtastdiagnoseergebnisse nicht im normalen Zustand sind.Accordingly, it is determined that the sampling interval is in the error state as the number of occurrence of a failure determination becomes larger. If in the in 7 As shown, when the threshold number of occurrences of failure determination is set to be equal to the number of occurrences of scan diagnosis, the microcomputer determines 7 in that the sampling interval is in the error state if all the scan diagnostic results are not in the normal state.
Zusätzlich kann es derart konfiguriert sein, dass bestimmt wird, dass das Abtastintervall im Fehlerzustand ist, wenn eins oder mehrere aller Abtastdiagnoseergebnisse nicht den normalen Zustand anzeigen. Durch Durchführen einer derartigen Diagnoseverarbeitung kann die Diagnose einfacher gemacht werden.In addition, it may be configured to determine that the sampling interval is in the error state if one or more of all the scan diagnostic results does not indicate the normal state. By performing such diagnostic processing, the diagnosis can be made easier.
Es ist in der ersten Ausführungsform vorteilhaft, eine Schwellwertanzahl von Auftreten einer Normalitätsbestimmung so festlegten, dass sie eine Hälfte der Anzahl einer Abtastdiagnose oder weniger ist.It is advantageous in the first embodiment to set a threshold number of occurrences of a normality determination to be one-half the number of one scan diagnosis or less.
Es ist in der vorliegenden Ausführungsform, wie in 8 gezeigt, auch vorteilhaft, die Schwellwertanzahl von Auftreten einer Fehlerbestimmung so festzulegen, dass sie eine Hälfte der Anzahl einer Abtastdiagnose oder mehr ist. Sogar obwohl der Schaltkreis für eine Diagnose im Fehlerzustand ist, wird die Diagnoseverarbeitung unter Verwendung eines anderen Schaltkreises für eine Diagnose immer noch weitergeführt.It is in the present embodiment, as in 8th It is also preferable to set the threshold number of occurrences of error determination to be one-half of the number of one scan diagnosis or more. Even though the diagnostic circuit is in the error state, the diagnostic processing is still continued using another circuit for diagnosis.
Die Umgebungstemperatur kann eine größere Ungleichmäßigkeit der Eigenschaften des RC-Schaltkreises verursachen, da die Umgebungstemperatur ansteigt. Es ist dementsprechend auch vorteilhaft, die Anzahl einer Abtastdiagnose zum Erhöhen der Erfassungsgenauigkeit zu steigern, wenn die Umgebungstemperatur ansteigt. The ambient temperature may cause greater unevenness in the characteristics of the RC circuit as the ambient temperature increases. Accordingly, it is also advantageous to increase the number of scan diagnostics for increasing the detection accuracy as the ambient temperature increases.
Wenn zusätzlich der Abtastzeitraum während der Diagnose ansteigt, steigt die Abweichung des Erfassungswerts, die durch die technische Toleranz des Werts eines Elements, das für einen Schaltkreis konfiguriert ist, auch an. Es ist folglich auch vorteilhaft, die erforderliche Genauigkeit zu verringern und die Schwellwertanzahl von Auftreten einer Fehlerbestimmung zu erhöhen. Es kann dementsprechend diagnostiziert werden, ob die Abtastverarbeitung innerhalb eines Bereichs, in dem keine Fehlererfassung vorhanden ist, richtig ist.In addition, if the sampling period increases during the diagnosis, the deviation of the detection value, which increases by the technical tolerance of the value of an element configured for a circuit, also increases. It is therefore also advantageous to reduce the required accuracy and to increase the threshold number of occurrence of a fault determination. It can be diagnosed accordingly whether the scan processing is correct within a range in which no error detection is present.
Gemäß der vorliegenden Ausführungsform können die Effekte, die gleich denen in der ersten Ausführungsform sind, auch erzielt werden, sogar wenn der Fehlerzähler den Normalitätszähler ersetzt.According to the present embodiment, the effects that are the same as those in the first embodiment can be achieved even when the error counter replaces the normality counter.
(Dritte Ausführungsform)Third Embodiment
9 zeigt ein zusätzliches beispielhaftes Diagramm gemäß einer dritten Ausführungsform. 9, die 2 oder 7 ersetzt, zeigt ein Ablaufdiagramm, das den Ablauf der Fehlererfassungsverarbeitung anzeigt. 9 shows an additional exemplary diagram according to a third embodiment. 9 , the 2 or 7 Fig. 10 shows a flowchart indicating the procedure of error detection processing.
Es wird mit Hinblick auf die Fehlererfassungsverarbeitung in 2 gemäß der ersten Ausführungsform auf Grundlage des Vergleichs zwischen dem Ergebnis des Normalitätszählers und der Schwellwertanzahl von Auftreten einer Normalitätsbestimmung bestimmt, dass das Abtastintervall im normalen Zustand oder im Fehlerzustand ist.It is discussed with regard to the error detection processing in 2 According to the first embodiment, based on the comparison between the result of the normality counter and the threshold number of occurrence of a normality determination, it is determined that the sampling interval is in the normal state or in the error state.
Im Gegensatz dazu sind mit Hinblick auf die Fehlererfassungsverarbeitung in 9 gemäß der dritten Ausführungsform beide Zähler, Normalitätszähler und Fehlerzähler, bereitgestellt, und der Mikrocomputer 7 bestimmt auf Grundlage des Vergleichs zwischen dem Ergebnis des Normalitätszählers und dem Ergebnis des Fehlerzähler, ob das Abtasten im normalen Zustand oder im Fehlerzustand ist.In contrast, with respect to the error detection processing in FIG 9 According to the third embodiment, both counters, normality counters and error counters are provided, and the microcomputer 7 determines, based on the comparison between the result of the normality counter and the result of the error counter, whether the sampling is in the normal state or in the error state.
Es wird in Schritt S9 bestimmt, dass das Abtastintervall im normalen Zustand ist, wenn das Ergebnis des Normalitätszählers größer als das Ergebnis des Fehlerzählers ist, nachdem die CPU 11 die Verarbeitung von Schritt S1b bis S7a wiederholt, bis die Anzahl einer Abtastdiagnose erreicht ist; und wenn das Ergebnis des Normalitätszählers kleiner gleich dem Ergebnis des Fehlerzählers ist, wird in Schritt S10 bestimmt, dass das Abtastintervall im Fehlerzustand ist.It will be in step S9 determines that the sampling interval is in the normal state if the result of the normality counter is greater than the result of the error counter after the CPU 11 the processing of step S1b to S 7 repeatedly until the number of scan diagnostics is reached; and if the result of the normality counter is less than or equal to the result of the error counter, in step S10 determines that the sampling interval is in the error state.
In anderen Worten, falls die Anzahl von Abtastdiagnoseergebnissen, die den normalen Zustand anzeigen, größer als die Anzahl von Abtastdiagnoseergebnissen, die den Fehlerzustand anzeigen, ist, wird bestimmt, dass das Abtastintervall im normalen Zustand ist. Dementsprechend können die Effekte der vorhergehenden Ausführungsformen auch in der vorliegenden Ausführungsform erzielt werden.In other words, if the number of scan diagnostic results indicating the normal state is greater than the number of scan diagnostic results indicating the error state, it is determined that the scan interval is in the normal state. Accordingly, the effects of the foregoing embodiments can also be achieved in the present embodiment.
(Andere Ausführungsformen)Other Embodiments
Während die vorliegende Erfindung mit Bezug auf Ausführungsformen davon beschrieben wurde, ist es zu verstehen, dass der Offenbarungsgehalt nicht auf die Ausführungsformen und Konstruktionen begrenzt ist. Die vorliegende Erfindung ist dafür vorgesehen, verschiedene Modifikationen und äquivalente Anordnungen abzudecken. Die verschiedenen Kombinationen und Konfigurationen, andere Kombinationen und Konfigurationen, die mehr, weniger oder nur ein einziges Element aufweisen, sind zusätzlich auch innerhalb des Geistes und des Umfangs der vorliegenden Erfindung.While the present invention has been described with respect to embodiments thereof, it is to be understood that the disclosure is not limited to the embodiments and constructions. The present invention is intended to cover various modifications and equivalent arrangements. In addition, the various combinations and configurations, other combinations and configurations having more, less or only a single element are also within the spirit and scope of the present invention.
Diese Offenbarung zeigt beispielsweise, dass der Schaltkreis vom Ausgangsanschluss IO1 oder IO2 zum Eingangsanschluss In1 als der RC-Tiefpassfilterschaltkreis 21 konfiguriert ist. Der Schaltkreis vom Ausgangsanschluss IO1 oder IO2 zum Eingangsanschluss In1 kann jedoch auch durch irgendeinen Typ eines Schaltkreises (beispielsweise einen passiven Schaltkreis) konfiguriert sein.This disclosure shows, for example, that the circuit is from the output terminal IO1 or IO2 to the input terminal in1 as the RC low-pass filter circuit 21 is configured. The circuit from the output terminal IO1 or IO2 to the input terminal in1 however, it may also be configured by any type of circuit (eg, a passive circuit).
Wenn der RC-Tiefpassfilterschaltkreis 21 als ein Schaltkreis von einer Vielzahl von den Ausgangsanschlüssen IO1, IO2 zum Eingangsanschluss In1 verwendet wird, können die Zeitkonstanten davon dieselben sein oder sich unterscheiden. Die vorliegende Erfindung zeigt, dass ein Pulstrigger zum Ausgeben eines Diagnosepulssignals verwendet wird. Das Diagnosepulssignal, das während des Zeitraums T2 oder T3 in 6 ausgegeben werden soll, kann jedoch eine Vielzahl von Pulsen anstatt eines einzigen Pulses sein.When the RC low-pass filter circuit 21 as a circuit of a plurality of the output terminals IO1 . IO2 to the input terminal in1 used, the time constants thereof may be the same or different. The present invention demonstrates that a pulse trigger is used to output a diagnostic pulse signal. The diagnostic pulse signal during the period T2 or T3 in 6 but may be a plurality of pulses rather than a single pulse.
Es wird zusätzlich mit Hinblick auf das Bestimmungsverfahren einer Abtastdiagnose von 4 bestimmt, dass das Abtastintervall im Fehlerzustand ist, sogar falls eins oder mehrere Abtastergebnisse außerhalb des erwarteten Bereichs sind. Es kann jedoch erlaubt sein, vom erwarteten Bereich bis zu einer vorgegeben Anzahl von Malen, die größer gleich eins ist, nach oben abzuweichen.In addition, with respect to the determination method, a scan diagnosis of 4 determines that the sample interval is in the error state, even if one or more sample results are out of the expected range. However, it may be allowed to deviate upward from the expected range up to a predetermined number of times greater than or equal to one.
Es ist anzumerken, dass ein Ablaufdiagramm oder die Verarbeitung des Ablaufdiagramms in der vorliegenden Anwendung Abschnitte (auch als Schritte bezeichnet) aufweist, die jeweils beispielsweise als S1 dargestellt werden. Ferner können alle Abschnitte in mehrere Unterabschnitte aufgeteilt werden, während mehrere Abschnitte in einen einzigen Abschnitt kombiniert werden können. Des Weiteren können alle diese konfigurierten Abschnitte auch als Vorrichtung, Modul oder Einheit bezeichnet werden.It should be noted that a flowchart or the processing of the flowchart in the present application has sections (also referred to as steps), each of which is referred to as a S1 being represented. Furthermore, all sections can be divided into several subsections while several sections can be combined into a single section. Furthermore, all of these configured sections may also be referred to as a device, module or unit.
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Zitierte PatentliteraturCited patent literature
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JP 2015175676 A [0005, 0056]JP 2015175676 A [0005, 0056]
