DE102018201997B4 - Emitterstruktur und Herstellungsverfahren - Google Patents
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- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims description 14
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 claims abstract description 172
- 239000012528 membrane Substances 0.000 claims abstract description 140
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 28
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims description 23
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 11
- 238000009423 ventilation Methods 0.000 claims description 10
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 4
- 238000004867 photoacoustic spectroscopy Methods 0.000 claims description 4
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 15
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 9
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 5
- 230000005284 excitation Effects 0.000 description 4
- 239000012530 fluid Substances 0.000 description 4
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 4
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 3
- 238000013461 design Methods 0.000 description 3
- 238000001745 non-dispersive infrared spectroscopy Methods 0.000 description 3
- 229910021420 polycrystalline silicon Inorganic materials 0.000 description 3
- 229920005591 polysilicon Polymers 0.000 description 3
- 238000009623 Bosch process Methods 0.000 description 2
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 2
- 238000011161 development Methods 0.000 description 2
- 230000018109 developmental process Effects 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 2
- 239000000463 material Substances 0.000 description 2
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 2
- 238000000465 moulding Methods 0.000 description 2
- 230000004044 response Effects 0.000 description 2
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 2
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 1
- 238000003915 air pollution Methods 0.000 description 1
- 230000008859 change Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 239000012777 electrically insulating material Substances 0.000 description 1
- 230000007613 environmental effect Effects 0.000 description 1
- 230000012447 hatching Effects 0.000 description 1
- 230000006872 improvement Effects 0.000 description 1
- 238000002329 infrared spectrum Methods 0.000 description 1
- 238000009413 insulation Methods 0.000 description 1
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 1
- 230000007257 malfunction Effects 0.000 description 1
- 238000001465 metallisation Methods 0.000 description 1
- 230000035484 reaction time Effects 0.000 description 1
- 230000001105 regulatory effect Effects 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/02—Details
- G01J3/10—Arrangements of light sources specially adapted for spectrometry or colorimetry
- G01J3/108—Arrangements of light sources specially adapted for spectrometry or colorimetry for measurement in the infrared range
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- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B81—MICROSTRUCTURAL TECHNOLOGY
- B81B—MICROSTRUCTURAL DEVICES OR SYSTEMS, e.g. MICROMECHANICAL DEVICES
- B81B3/00—Devices comprising flexible or deformable elements, e.g. comprising elastic tongues or membranes
- B81B3/0064—Constitution or structural means for improving or controlling the physical properties of a device
- B81B3/0081—Thermal properties
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- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
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- B81C—PROCESSES OR APPARATUS SPECIALLY ADAPTED FOR THE MANUFACTURE OR TREATMENT OF MICROSTRUCTURAL DEVICES OR SYSTEMS
- B81C1/00—Manufacture or treatment of devices or systems in or on a substrate
- B81C1/00642—Manufacture or treatment of devices or systems in or on a substrate for improving the physical properties of a device
- B81C1/0069—Thermal properties, e.g. improve thermal insulation
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/1702—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated with opto-acoustic detection, e.g. for gases or analysing solids
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/31—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
- G01N21/35—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light
- G01N21/3504—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light for analysing gases, e.g. multi-gas analysis
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/59—Transmissivity
- G01N21/61—Non-dispersive gas analysers
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- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05B—ELECTRIC HEATING; ELECTRIC LIGHT SOURCES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; CIRCUIT ARRANGEMENTS FOR ELECTRIC LIGHT SOURCES, IN GENERAL
- H05B3/00—Ohmic-resistance heating
- H05B3/02—Details
- H05B3/03—Electrodes
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- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05B—ELECTRIC HEATING; ELECTRIC LIGHT SOURCES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; CIRCUIT ARRANGEMENTS FOR ELECTRIC LIGHT SOURCES, IN GENERAL
- H05B3/00—Ohmic-resistance heating
- H05B3/20—Heating elements having extended surface area substantially in a two-dimensional plane, e.g. plate-heater
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/1702—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated with opto-acoustic detection, e.g. for gases or analysing solids
- G01N2021/1704—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated with opto-acoustic detection, e.g. for gases or analysing solids in gases
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- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05B—ELECTRIC HEATING; ELECTRIC LIGHT SOURCES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; CIRCUIT ARRANGEMENTS FOR ELECTRIC LIGHT SOURCES, IN GENERAL
- H05B2203/00—Aspects relating to Ohmic resistive heating covered by group H05B3/00
- H05B2203/002—Heaters using a particular layout for the resistive material or resistive elements
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- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05B—ELECTRIC HEATING; ELECTRIC LIGHT SOURCES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; CIRCUIT ARRANGEMENTS FOR ELECTRIC LIGHT SOURCES, IN GENERAL
- H05B2203/00—Aspects relating to Ohmic resistive heating covered by group H05B3/00
- H05B2203/032—Heaters specially adapted for heating by radiation heating
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Abstract
Emitterstruktur (10, 10', 10'', 10''', 10'''', 10''''', 10'''''' 10''''''') mit folgenden Merkmalen:einem Substrat mit einer Membrananordnung, die zumindest eine erste Membran (12, 12', 12'', 12'''), einen ersten Heizpfad (12a, 12a', 12a'', 12a''', 12a'''', 12a''''', 12a'''''', 12a''''''' 12b', 12b'', 12b''', 12b'''', 12b''''', 12b'''''', 12b''''''') und einen zweiten Heizpfad (14a, 14a', 14a'', 14a''', 14a'''', 14a''''', 14a'''''', 14a''''''', 14b', 14b'', 14b''', 14b'''', 14b''''', 14b'''''', 14b'''''') umfasst,wobei der erste Heizpfad (12a, 12a', 12a'', 12a''', 12a'''', 12a''''', 12a'''''', 12a''''''' 12b', 12b'', 12b''', 12b'''', 12b''''', 12b'''''', 12b''''''') und der zweite Heizpfad (14a, 14a', 14a'', 14a''', 14a'''', 14a''''', 14a'''''', 14a''''''', 14b', 14b'', 14b''', 14b'''', 14b''''', 14b'''''', 14b'''''') in unterschiedlichen Substratebenen angeordnet sind und so zueinander positioniert sind, dass eine Projektion des ersten Heizpfades (12a, 12a', 12a'', 12a''', 12a'''', 12a''''', 12a'''''', 12a''''''' 12b', 12b'', 12b''', 12b'''', 12b''''', 12b'''''', 12b''''''') und eine Projektion des zweiten Heizpfades (14a, 14a', 14a'', 14a''', 14a'''', 14a''''', 14a'''''', 14a''''''', 14b', 14b'', 14b''', 14b'''', 14b''''', 14b'''''', 14b'''''') auf eine gemeinsame Ebene (GE) zumindest teilweise nebeneinander in der gemeinsamen Ebene (GE) liegen;wobei die Emitterstruktur mit einer Steuerung gekoppelt ist, die ausgebildet ist, den ersten Heizpfad (12a, 12a', 12a'', 12a''', 12a'''', 12a''''', 12a'''''', 12a''''''' 12b', 12b'', 12b''', 12b'''', 12b''''', 12b'''''', 12b''''''') und den zweiten Heizpfad (14a, 14a', 14a'', 14a''', 14a'''', 14a''''', 14a'''''', 14a''''''', 14b', 14b'', 14b''', 14b'''', 14b'''' 14b'''''', 14b'''''') einzeln zu aktivieren, zu deaktivieren und/oder zu regeln,wobei die Projektion des ersten Heizpfades (12a, 12a', 12a'', 12a''', 12a'''', 12a''''', 12a'''''', 12a''''''' 12b', 12b'', 12b''', 12b'''', 12b''''', 12b'''''', 12b''''''') und die Projektion des zweiten Heizpfades (14a, 14a', 14a'', 14a''', 14a'''', 14a''''', 14a'''''', 14a''''''', 14b', 14b'', 14b''', 14b'''', 14b''''', 14b'''''', 14b'''''') zumindest in einem Bereich entlang des ersten und zweiten Heizpfades (14a, 14a', 14a'', 14a''', 14a'''', 14a''''', 14a'''''', 14a''''''', 14b', 14b'', 14b''', 14b'''', 14b''''', 14b'''''', 14b'''''') aneinander angrenzend sind.
Description
- Ausführungsbeispiele beziehen sich auf eine Emitterstruktur mit einer Membrananordnung mit zumindest zwei Membranen, sowie auf ein entsprechendes Herstellungsverfahren. Weitere Ausführungsbeispiele beziehen sich auf ein nicht-dispersives Infrarotsensor-System sowie auf ein photoakustisches Spektroskopie-System mit einer entsprechenden Emitterstruktur.
- Bereits im Stand der Technik sind einige Veröffentlichungen in diesem Bereich erfolgt. In der Patentliteratur ist beispielsweise die
US 5 237 867 A , die sich auf einen Fluidsensor mit Heizdraht und Aräometersensor bezieht zu nennen. Ferner zeigt dieUS 2012/0 267 532 A1 DE 10 2013 204 197 A1 bezieht sich auf einen mikroelektrochemischen Sensor. DieDE 43 20 326 A1 zeigt eine Vorrichtung zur Messung einer radialen Gas- oder Flüssigkeitsströmung. DieDE 10 2014 207 829 A1 bezieht sich auf einen chemischen Gassensor. DieDE 10 2017 106 593 A1 bezieht sich auf ein System und ein Verfahren mit einer MEMS-Vorrichtung. Ferner sind auch noch sehr relevant die Schrift inUS 5 804 462 A , die ein Verfahren zum Herstellen verschiedener Arten von Sensoren darstellt. DieUS 5 423 212 A beschreibt einen Durchflusssensor zum Erfassen von Wärmeleitung. - Das Detektieren von Umweltparametern, wie z. B. Lärm, Geräusche, Temperaturen oder Gase nimmt eine immer größer werdende Bedeutung bei mobilen Endgeräten, Hausautomatisierungssystemen oder Sensoren für den automobilen Sektor ein. Insbesondere Gassensoren spielen hierbei eine immer wichtiger werdende Rolle, um beispielsweise schädliche Gaskonzentrationen aufgrund von Luftverschmutzung oder Fehlfunktionen von Anlagen zu detektieren. Entsprechend dem allgemeinen Entwicklungstrend sollen derartigen Gasdetektoren günstig herzustellen sein und sich durch dauernde Verfügbarkeit und hohe Präzession auszeichnen.
- NDIR-Sensor-Systeme (nicht-dispersive Infrarotsensor-Systeme) formen ein spektroskopisches Gerät zur Gasdetektion. Dieses spektroskopische Gerät umfasst typischerweise eine Quelle für Infrarotstrahlung, eine durchstrahlte Röhre (Küvette) mit dem zu analysierenden Gas sowie einen Infrarotdetektor (und ggf. einen Wellenlängenfilter). Die Konzentration des gesuchten Gases wird elektro-optisch anhand der Absorption einer spezifischen Wellenlänge im Infrarotspektrum gemessen. Eines der Bauteile mit dem höchsten Einfluss auf die Messqualität ist die Infrarotstrahlungsquelle. Hierfür können beispielsweise Infrarotlaser, Infrarot-LEDs oder auch thermale MEMS-Infrarotquellen verwendet werden.
- Ausführungsbeispiele der vorliegenden schaffen eine Emitterstruktur mit einem Substrat, das eine Membrananordnung aufweist. Die Membrananordnung umfasst zumindest eine erste Membran, einen ersten Heizpfad und einen zweiten Heizpfad. Die zwei Heizpfade sind in (zueinander) unterschiedlichen Substratebenen angeordnet, wobei der erste und der zweite Heizpfad so zueinander (z. B. auf der Membran, wenn man von einer Membran ausgeht, oder einer jeweiligen Membran, wenn man von mehreren Membranen ausgeht) positioniert, dass eine Projektion (senkrecht zum Substrat) des ersten Heizpfades und eine (parallele) Projektion des zweiten Heizpfades auf eine gemeinsame Ebene zumindest teilweise nebeneinander in der gemeinsamen Ebene abgebildet werden. Anders ausgedrückt heißt das, dass die zwei Heizpfade also nicht oder im Wesentlichen nicht überlappend positioniert sind. Dies hat den Vorteil, dass die Emitterstruktur eine Heizstruktur im Sinne einer Temperaturquelle formt, bei der ein (möglichst) homogenes Temperaturabstrahlprofil (z. B. zur Emittieren von Infrarotstrahlung) über die Abstrahloberfläche (z. B. die oberste Membran) generiert wird.
- Ferner ist die Emitterstruktur mit einer Steuerung gekoppelt, die ausgebildet ist, den ersten Heizpfad und den zweiten Heizpfad einzeln zu aktivieren, zu deaktivieren und/oder zu regeln. Bezüglich der oben erläuterten Anordnung der Heizpfade sei angemerkt, dass die Produktion des ersten Heizpfades und die Produktion des zweiten Heizpfades zumindest in einem Bereich entlang des ersten und zweiten Heizpfades aneinander angrenzend sind.
- Um die Anordnung der zwei Heizpfade an unterschiedlichen Substratebenen zu realisieren, gibt es zwei Varianten. Entsprechend einem Ausführungsbeispiel umfasst die Membrananordnung die erste Membran, mit einem ersten Heizpfad auf einer ersten Hauptoberfläche der ersten Membran (z. B. auf einer Oberseite) und dem zweiten Heizpfad auf einer zweiten Hauptoberfläche, die zu der ersten Hauptoberfläche gegenüberliegend ausgebildet ist (d.h. z. B. der Unterseite). Hierbei ist es vorteilhaft, wenn die Membran ausreichend dick ist, so dass eine Beabstandung der zwei Heizpfade entsteht.
- Entsprechend einem zweiten Ausführungsbeispiel kann die Membrananordnung eine erste und eine zweite Membran aufweisen, die jeweils dann einen der zwei Heizpfade beherbergen. Hierbei heißt beherbergen, dass die Heizstruktur (Heizpfade) auf die Ober- oder die Unterseite aufgebracht sind bzw. direkt in diese Membran integriert sind (integriert im Sinne von eingebettet).
- Entsprechend Ausführungsbeispielen kann die Emitterstruktur in einem NDIR (nichtdispersiven Infrarotsensor-System oder in einem photoakustischen Spektroskopie-System zur Gasdetektion als Infrarot-Quelle eingesetzt werden. Folglich schaffen Ausführungsbeispiele ein nicht-dispersives Infrarotsensorsystem mit einem Infrarotsensorelement und einer entsprechenden Emitterstruktur sowie ein photoakustisches Spektroskopie-System mit einem Infrarotsensor und einer Emitterstruktur. Aufgrund der homogenen Temperaturverteilung erfolgt eine sehr genau zu steuernde und homogene Abstrahlung der Infrarotstrahlung, so dass die mittels der oben erläuterten Emitterstruktur hergestellten Messsysteme sehr genaue Ergebnisse liefern. Da solche MEMS-Emitterstrukturen auch kostengünstig herstellbar sind, vereinen die beschriebenen Systeme die Vorteile von kostengünstiger Herstellung und sehr guten messtechnischen Eigenschaften.
- Ausführungsbeispiele sind nicht auf Emitterstrukturen mit zwei Membranen und zwei Heizpfaden beschränkt, so dass entsprechend weiteren Ausführungsbeispielen eine Emitterstruktur mit der obigen Anordnung sowie einer dritten Membran in der Membrananordnung geschaffen wird. Die dritte Membran weist ebenfalls einen dritten Heizpfad auf. Der dritte Heizpfad ist so angeordnet, dass eine Projektion des dritten Heizpfades auf die gemeinsame Ebene neben der Projektion des zweiten Heizpfades und/oder neben der Projektion des ersten Heizpfades liegt. Durch die dritte oder jede weitere Membranschicht mit einem Heizelement kann die homogene Abstrahlcharakteristik weiter optimiert werden. Des Weiteren sei an dieser Stelle angemerkt, dass die Heizpfade im Regelfall parallel geschaltet sind, so dass die Gesamtanordnung der Heizelemente einen niederohmigen Betrieb ermöglicht, also vorteilhaft in Bezug auf den Leistungsbedarf ist.
- Entsprechend Ausführungsbeispielen kann die Projektion des ersten Heizpfades gegenüber der Projektion des zweiten Heizpfades zumindest in einem Bereich entlang des ersten und des zweiten Heizpfades voneinander beabstandet sein. Darüber können die Projektion des ersten Heizpfades und die Projektion des zweiten Heizpfades zumindest in einem Bereich entlang des ersten und zweiten Heizpfades auch angrenzend und überlappend sein. Wenn man beispielsweise von mäanderförmigen Heizpfaden ausgeht, verlaufen die Mäanderstrukturen in der Projektion immer parallel zueinander, so dass kein Überlapp entsteht. Wenn man allerdings von ringförmigen Strukturen ausgeht, so kann zumindest durch den Anschlussbereich des inneren Rings ein Überlapp der Projektionsflächen der zwei Heizpfade entstehen. Gemäß Ausführungsbeispielen weist - je nach gewünschtem Einsatzzweck - der erste und/oder der zweite Heizpfad eine Mäanderform und eine Ringform oder auch eine Flächenform auf. Entsprechend weiteren Ausführungsbeispielen ist jeder Heizpfad durch eine auf die Membran aufgebrachte Metallisierung, eine Dotierung oder ein anderes Widerstandselement geformt.
- Wie oben bereits erwähnt, wird entsprechend Ausführungsbeispielen durch eine Membran, insbesondere die erste Membran, ein Emissionsbereich ausgebildet, der die Infrarotstrahlung emittiert. Wenn man sich diesen Emissionsbereich anschaut, ermöglicht die oben erläuterte Anordnung, dass entsprechend Ausführungsbeispielen eine Projektionsfläche des ersten Heizpfades zusammen mit einer Projektionsfläche des zweiten Heizpfades eine größere Projektionsfläche bildet als jede Projektionsfläche für sich alleine. Beispielsweise kann die Projektionsfläche
1 ,3 bzw.1 ,5 oder sogar 2,0-mal so groß sein wie eine der Projektionsflächen alleine. Bevorzugterweise bildet die gemeinsame Projektionsfläche genau die Summe der Projektionsflächen der zwei Heizpfade. Entsprechend weiteren Ausführungsbeispielen kann die Membrananordnung eine zusätzliche Membran, die für die Abstrahlung ausgelegt ist, umfassen. Diese zusätzliche Membran ist ausgebildet, um eine Wärmeenergie, welche durch den ersten und/oder den zweiten Heizpfad induziert wird, über eine laterale Fläche der weiteren Membran zu verteilen und/oder die Infrarotstrahlung entsprechend zu emittieren. Dies bietet den Vorteil, die Abstrahlcharakteristik weiter zu optimieren. - Entsprechend Ausführungsbeispielen umfasst das Substrat eine Öffnung, wie z. B. eine mittels des Bosch-Verfahrens hergestellte Öffnung, oder einen Graben (Deep Trench), in welchem die Membranen angeordnet sind. Im Falle eines Grabens bilden die Membranen zusammen mit dem Graben eine Kavität. Die Öffnung bzw. Kavität hat den Vorteil, dass diese Bereiche nicht als Wärmesenke dienen und so die Ansprechzeit und insgesamt die Heizfähigkeit verbessert werden. Entsprechend Ausführungsbeispielen sind die Membranen voneinander beabstandet, so dass zwischen den Membranen ein Zwischenraum ausgebildet wird. Entsprechend weiteren Ausführungsbeispielen kann dieser Zwischenraum beispielsweise mit einem Gas oder Fluid gefüllt sein. Diese Füllung hat den Zweck bzw. Vorteil, dass die Membranen thermisch miteinander gekoppelt werden, um das gewünschte Temperaturprofil oder Temperaturmuster auf der ersten Membran (oberste oder unterste Membran) zu erzeugen. Um entsprechend Ausführungsbeispielen das eingeschlossene Gas bei Expansion desselben aufgrund der Erwärmung entweichen zu lassen, kann die erste und/oder die zweite Membran eine Ventilationsöffnung umfassen. Alternativ kann die Ventilationsöffnung auch in dem Substrat vorgesehen sein. Diese Ventilationsöffnungen haben den Vorteil, dass die Membran nicht infolge von der Erwärmung des eingeschlossenen Gases mechanisch aufgrund der Temperaturausdehnung und Volumenänderung belastet werden.
- Entsprechend einem weiteren Ausführungsbeispiel weist die Emitterstruktur einen integrierten ASIC auf, der ausgebildet ist, den ersten und zweiten Heizpfad anzusteuern. Hierbei kann beispielsweise eine DC- oder AC-Anregung durch den ASIC induziert werden, wobei beispielsweise eine AC-Anregung im hochfrequenten Bereich (z. B. 100 Megahertz) eine Optimierung des Temperaturprofils ermöglicht. Die Heizelemente der einzelnen Membranen können entsprechend Ausführungsbeispielen auch separat voneinander angesteuert sein, um das Temperaturprofil zu variieren oder allgemein die Temperatur zu variieren. Entsprechend einer vorteilhaften Variante kann mittels des Musters aus dem Heizpfad die Temperatur der Nachbarmembran ermittelt werden, um so die Steuerung gezielter durchzuführen.
- Ein weiteres Ausführungsbeispiel schafft ein Verfahren zur Herstellung einer Emitterstruktur mit dem zentralen Schritt Ausbilden einer Membrananordnung in einem Substrat umfassend Formen einer ersten Membran mit einem ersten Heizpfad und Formen einer zweiten Membran mit einem zweiten Heizpfad, so dass die erste und die zweite Membran zueinander derart angeordnet sind, dass eine Projektion des ersten Heizpfades und eine Projektion des zweiten Heizpfades auf eine gemeinsame Ebene zumindest teilweise nebeneinanderliegen. Entsprechend einem weiteren Ausführungsbeispiel kann das Verfahren auch noch um den vorherigen Schritt des Einbringens eines Grabens oder einer Öffnung erweitert sein, wobei dann der Schritt des Ausbildens der Membrananordnung so ausgeführt wird, dass die erste und/oder die zweite Membran in der Öffnung oder dem Graben angeordnet sind. Wie bereits oben angedeutet, hat das Verfahren den Vorteil, dass mittels diesem auf eine kostengünstige Art und Weise eine Emitterstruktur hergestellt werden kann, die gegenüber sonstigen mittels MEMS-Technologien hergestellten Emitterstrukturen vorteilhafte Messeigenschaften bietet.
- Weiterbildungen sind in den Unteransprüchen definiert. Ausführungsbeispiele werden anhand der beiliegenden Zeichnungen erläutert. Es zeigen:
-
1 eine schematische Darstellung einer Emitterstruktur gemäß einem Basisausführungsbeispiel; -
2a eine schematische Schnittdarstellung einer Emitterstruktur in einem Substrat mit einem Graben gemäß einem Ausführungsbeispiel; -
2b eine schematische Schnittdarstellung einer Emitterstruktur in einem Substrat mit einer Öffnung gemäß einem weiteren Ausführungsbeispiel; -
3a-3c schematische Teilansichten von Membranen zur Illustration der Anordnung der Heizpfade gemäß Ausführungsbeispielen; -
4a u . 4b Diagramme zur Gegenüberstellung eines resultierenden Temperaturprofils bei Emitterstrukturen gemäß Ausführungsbeispielen; -
4c ein weiteres Diagramm zur Gegenüberstellung eines resultierenden Temperaturprofils gemäß Ausführungsbeispielen; und -
5a-5d Varianten der lateralen Gestaltung von Heizpfaden in Emitterstrukturen gemäß Ausführungsbeispielen. - Bevor nachfolgend Ausführungsbeispiele anhand der beiliegenden Zeichnungen im Detail erläutert werden, sei darauf hingewiesen, dass gleichwirkende Elemente und Strukturen mit gleichen Bezugszeichen versehen sind, so dass die Beschreibung derer aufeinander anwendbar bzw. austauschbar ist.
-
1 zeigt eine Emitterstruktur10 zur Emission von Heizenergie, z. B. Infrarotstrahlung. Die Heizenergie wird in diesem Ausführungsbeispiel beispielsweise in Richtung des Pfeiles IR abgegeben. Die hier dargestellte Emitterstruktur10 ist schematisch als dreidimensionale Darstellung ohne zusätzliche Elemente wie das Substrat, in welchem die Membrananordnung eingebracht ist, illustriert. Die Emitterstruktur10 umfasst eine Membrananordnung, wie z. B. einen Membranstapel, der durch die zwei Membranen12 und14 gebildet ist. Diese Membranen12 und14 sind parallel / im Wesentlichen parallel und überlappend zueinander angeordnet, d. h. zumindest teilweise überlappend oder bevorzugterweise sogar deckungsgleich. An dieser Stelle sei angemerkt, dass auch wenn die Membranen12 und14 viereckig dargestellt sind, diese natürlich auch eine runde oder eine andere Freiform aufweisen können. Beide Membranen12 und14 sind entsprechend einem Ausführungsbeispiel voneinander beabstandet, so dass dazwischen ein Zwischenraum13 , der z. B. mit einem Gas (z. B. Luft) oder Fluid (allgemein: elektrisch isolierenden Material) gefüllt sein kann, gebildet wird. - Jede der Membranen
12 und14 weist ein Heizelement in Form eines Heizpfads12a bzw.14a auf. Der erste Heizpfad12a zugehörig zu der ersten Membran12 verläuft entlang einer beliebigen Form, wie z. B. der hier dargestellten U-Form oder entlang einer Mäanderform auf oder in der zugehörigen ersten Membran12 . Analog hierzu erstreckt sich der zweite Heizpfad14a ebenfalls entlang der Oberfläche der zugehörigen Membran14 mit einer beliebigen Form. Beide Heizpfade12a und14a sind in lateraler Sicht so geformt, dass diese nicht überlappend angeordnet sind, was nachfolgend anhand der Projektion der zwei Heizpfade12a und14a auf eine gemeinsame Ebene GE erläutert wird. - Die Projektion des Heizpfades
12a ist mittels des Bezugszeichens12a* gekennzeichnet, während die Projektion14a mit dem Bezugszeichen14a* gekennzeichnet ist. Die Projektion erfolgt senkrecht zu den Membranen12 und14 bzw. senkrecht zu dem Substrat (nicht dargestellt), das die Membrananordnung 12 + 14 der Emitterstruktur10 beherbergt. Im Resultat liegt also die Projektionsebene GE im Wesentlichen parallel zu einer Hauptoberfläche des Substrates bzw. zu den Membranen12 und14 . Wie zu erkennen ist, verlaufen die Projektionsflächen14a* und12a* im Wesentlichen nebeneinander bzw. bei diesem Ausführungsbeispiel vollständig nebeneinander. Diese Nebeneinander-Anordnung in der Projektion auf die gemeinsame Ebene GE resultiert daher, da die Heizelemente12a und14 deutlich versetzt zueinander angeordnet sind, um bei einer Aktivierung derselben an der obersten Membran eine möglichst homogene Temperaturverteilung zu erreichen, wie nachfolgend noch erläutert werden wird. - An dieser Stelle sei darauf hingewiesen, dass es entsprechend Ausführungsbeispielen ausreicht, dass die Projektionen
14a* und12a* bereichsweise nebeneinander verlaufen, so dass einzelne kleine Überlappungen oder Schnittpunkte der Projektionen12a* und14a* denkbar wären, wobei dieser Überlapp beispielsweise aus Kontaktierungsleitungen herrühren kann. Auch wenn es bei diesem Ausführungsbeispiel derart dargestellt wurde, dass zwischen den Projektionen14a* und12a* ein Abstand vorliegt, so wäre es selbstverständlich auch möglich, dass diese direkt aneinander angrenzend sind oder sich sogar teilweise überlappen. - Nachdem nun die Emitterstruktur
10 hinsichtlich ihrer Struktur erläutert wurde, wird nachfolgend auf die Funktionsweise eingegangen. - Jeder der Heizpfade
12a und14a ist leitend (z. B. metallisiert oder dotiert) und emittiert bei Anregung mit einer Spannung (DC oder AC) ein eigenes Temperaturprofil, das grundsätzlich der Form der Leiter12a und14a folgt. Dadurch, dass nicht eine Ebene, sondern mehrere Ebenen mit einzelnen Heizpfaden12a und14a vorgesehen sind und diese Heizpfade auch örtlich versetzt zueinander liegen, wird an der Abstrahloberfläche die Emitterstruktur10 , z. B. an der Oberfläche der Membran12 bei Abstrahlung in Richtung IR eine homogene Temperaturverteilung durch Überlagerung der Einzeltemperaturverteilungen erreicht. Mit derartigen Elementen kann eine Temperaturabstrahlung (direkt am Element) im Bereich von Zimmertemperaturen (ab 20 °C) bis zu 600 °C erreicht werden. - Zur gemäße Ausführungsbeispielen bevorzugten Ansteuerung: Die Emitterstruktur
10 bzw. der resultierende Schichtstapel 12 + 14 mit den Heizpfaden12a und14a bildet eine Anordnung von Widerstands- und Impedanzelementen, wobei bevorzugterweise die Elemente der unterschiedlichen Schichten parallel geschaltet werden, was eine niederohmige Ansteuerung mit einer entsprechend niedrigen Gesamtleistung ermöglicht. Die Heizelemente können beispielsweise als resistive Elemente ausgebildet sein, so dass durch eine DC- oder eine AC-Anregung eine Temperaturerhöhung bewirkt wird. Alternativ wäre auch eine Auslegung als Impedanzelement möglich, sodass eine AC-Anregung (z. B. im Megahertzbereich) eine Temperaturemission durch das Impedanzelement bewirkt. - Auch wenn bei obigen Ausführungsbeispielen davon ausgegangen wurde, dass Membrananordnung die Membranen
12 und14 umfasst, kann entsprechend weiteren Ausführungsbeispielen dasselbe Konzept auch mit einer Membran, z. B. einer dicken Membran, realisiert sein, bei welchem auf der Oberseite und auf der Unterseite jeweils eine Heizstruktur (Heizpfad12a und14a) vorgesehen ist. Dieser Ansatz der einzelnen Membran als Membrananordnung mit verschiedenen Heizstrukturen in unterschiedlichen Topologien ist aufgrund der einfachen Herstellbarkeit vorteilhaft. Des Weiteren sei angemerkt, dass entsprechend weiteren Ausführungsbeispielen diese einzelnen Membran bzw. jede Membran auch Heizstrukturen in der Membran selbst, um z.B. einen dritten Heizpfad, auszubilden. -
2a zeigt eine Emitterstruktur10' , hier mit 3 bzw. allgemein n Membranen12' ,14' und16' (Silizium- oder allgemein Halbleitermembranen), die in einem Graben22 (Trench) des Substrats20 (Bulksubstrat) angeordnet sind. Unterhalb der untersten Membran16' wird eine Kavität ausgebildet. Jede Membran12' ,14' und16' (z. B. Polysiliziummembran) umfasst Heizelemente, die hier mit dem Bezugszeichen12a' versehen sind. Wie zu erkennen ist, sind die Heizelemente12a' ,14a' und 16a' versetzt zueinander angeordnet, d. h. also die Membranelemente14a' zwischen den Membranelementen12a' und das Membranelement16a' zwischen den Membranelementen14a' . - Ein weiteres Ausführungsbeispiel wird in
2b dargestellt, das die Emitterstruktur10" zeigt. Diese hat wiederum die drei Membranen12' ,14' und16' mit den zugehörigen Heizelementen12a' ,14a' und16a' , wobei hier die Membranen12' ,14' und16' nicht in einem Graben angeordnet sind, sondern in einer Öffnung, die beispielsweise mittels des Boschprozesses in das Substrat20 eingebracht ist. Die Öffnung ist mit dem Bezugszeichen24 versehen. - Wie oben bereits angedeutet, sind die Membranen
12' ,14' und16' bevorzugterweise aus Polysilizium, da dieses Material eine hohe Emittivität aufweist. Die Heizelemente12a' ,14a' und16a' können, wie oben bereits erläutert, als dotierte Bereiche in den Membranen12' ,14' und16' geformt sein oder auch andere elektrische Elemente mit Heizeigenschaften, d. h. also mit hohem Leistungsverlust in der Struktur umfassen. D. h. also in anderen Worten, dass ein Widerstand, wie auch immer geartet, im Regelfall eingesetzt wird. - Entsprechend Ausführungsbeispielen können die Membranen
12' ,14' und16' Ventilationsöffnungen aufweisen, die hier mit dem Bezugszeichen12v' ,14v' und16v' kenntlich gemacht sind (vgl.2a und2b) . Diese Ventilationsöffnungen verbinden die Zwischenräume zwischen den Membranen12' ,14' und16' miteinander und zusätzlich auch die Zwischenräume mit dem Außenbereich, d. h. also z. B. in Richtung zu der Abstrahlfläche oder in der gegenüberliegenden Richtung zu der Kavität22 bzw. der Öffnung24 hin. Diese Ventilationsöffnungen12v' ,14v' und16v' haben den Zweck, einen Druckausgleich, insbesondere Überdruck, zu ermöglichen, indem das zwischen den Membranen12' ,14' und16' eingeschlossene Gasvolumen durch die Ventilationsöffnungen12v' ,14v' und16v' entweichen kann, wenn dieses sich aufgrund der Temperaturausdehnung ausdehnt. Ein weiterer Vorteil, den diese Öffnungen12v' ,14v' und16v' bieten ist, dass eine thermische Isolation gegenüber dem Substrat22 verbessern wird, aufgrund dessen, dass durch die Ventilationsöffnungen12v' ,14v' und16v' die Membran perforiert ist und sozusagen die Wärmebrücke verkleinert wird. - Bezugnehmend auf
3a und3b wird nun erläutert, wie die geometrische Gestaltung der Heizelemente12a'' und14a'' der Emitterstruktur10" ausgebildet sein kann. Bei dem Ausführungsbeispiel aus3a und3b wird davon ausgegangen, dass das erste Heizelement12a'' als auch das zweite Heizelement14a'' eine Ringform aufweisen. Hierbei stellt3a eine dreidimensionale Darstellung der zwei zugehörigen Membranen12'' und14'' mit den Heizelementen12a'' und14a'' dar, während3b eine Draufsicht bzw. eine Frontalansicht auf die Projektion zeigt. - Insbesondere in der Projektionsdarstellung ist ersichtlich, dass beide Heizelemente
12a'' und14a'' ringförmig ineinander verschachtelt sind, wobei allerdings die elektrischen Kontaktierungen (vgl.12k'' und14k'' ) überlappend zueinander angeordnet sind, so dass also ein Berührbereich bzw. Überlappbereich entsteht. - Entsprechend Ausführungsbeispielen kann auch dieser Kontaktierungsbereich versetzt zueinander angeordnet sein, um hier aufgrund der Energiezufuhr Hotspots zu vermeiden. Bei derartigen Anordnungen wäre dann der Kontaktierungsbereich
12k'' an einer unterschiedlichen Position, z. B. über den Umfang der Membran12''/14'' verteilt, angeordnet als der Kontaktierungsbereich14k'' . - In
3c ist eine Schnittdarstellung durch eine Emissionsstruktur10''' gezeigt. Da die Heizelemente12a''' und14a''' und auch die Membranen12''' und14''' rotationssymmetrisch sind, ist hier nur ein Ausschnitt um die Rotationsachse12r ,14r dargestellt. Im äußeren Bereich sind die Membranen12''' und14''' von dem Substrat20''' gehalten. - Bezüglich der Dimensionierung sei exemplarisch darauf hingewiesen, dass hier davon ausgegangen wird, dass jede Membran eine Stärke im 100 nm-Bereich aufweist, , während die Höhe der Kavität sich über einen Bereich von mehrere 100 µm erstreckt. Die zwei Membranen sind voneinander wenige μm beabstandet, wobei diese einen Durchmesser von einigen 100 µm haben. Jede Leiterbahn hat in etwa eine Breite von einigen 10 µm. Alle diese Angabe sind als Wertebereiche zu verstehen, so dass also die Membran einen Durchmesser von 100 bis 3000 µm hat, und die Kavität eine Tiefe von 100 bis 1000 µm aufweisen kann. Ebenso kann die Dicke jeder Membran im Bereich von 100 nm bis 2000 nm variieren, wobei dann auch der Abstand in der Größenordnung von 1 µm bis 5 µm variieren würde. Die gewählten Durchmesser der Leiterbahnen der Heizelemente hängen im Wesentlichen von der gewünschten Impedanz ab und kann zwischen 5 und 300 µm variieren.
- Nachfolgend wird Bezug nehmend auf
4a eine mögliche Temperaturverteilung ausgehend von der Emissionsstruktur10''' diskutiert, wobei darauf hingewiesen ist, dass die Heizelemente12a''' und14a''' bei 600 °C beheizt werden. Wie dargestellt wird vorteilhaft erreicht, dass das Substrat20 eine signifikant kleinere Temperatur, z. B. Raumtemperatur von 25 °C hat (im Allgemeinen mindestens 10-mal kleiner) hat. - In
4a ist mit dem BezugszeichenT12 das Temperaturprofil ausgehend von nur der oberen Membran12''' dargestellt. Wie zu erkennen ist, hat dieses TemperaturprofilT12 das MaximumM12 im äußeren Bereich. Das mit dem BezugszeichenT14 + T12 illustrierte Temperaturprofil resultierend aus einem parallelen Betrieb der Heizelement12a''' und14''' ist im Vergleich zu dem TemperaturprofilT12 signifikant erhöht, wobei auch ein zusätzliches MaximumM14 + M12 erhalten wird. In4b ist der durch die Multi-Dualmembran10''' eingebrachte zusätzliche Energiegewinn mittels einer Schraffur kenntlich gemacht (vgl. BezugszeichenE12 + E14 ). -
4c zeigt die optische Energie, aufgetragen über die Wellenlänge für ein homogenes Heizelement (vgl. Kurve mit den Punkten), ein Standard Single Heizelement (vgl. Linie mit den Strichen) sowie das optimierte Heizelement mit den zwei bzw. den mehreren Membranen. Wie zu erkennen ist, nähert sich die optische Energie bei der Wellenlänge λ1 dem homogenen Heizelement an, so dass im Vergleich zu dem Standardheizelement eine signifikante Verbesserung erzielt werden kann. - Bezugnehmend auf
5a bis5d werden nun Muster erläutert, in welchen die Heizelemente12a bzw.14a aus1 oder auch aus den anderen Ausführungsbeispielen angeordnet sein können. -
5a zeigt die Emitterstruktur10'''' bzw. die Draufsicht auf die zugehörigen Membranen12'''' und14'''' . Wie zu erkennen ist, umfasst jede Membran einen mäanderförmigen Heizer der mit dem Bezugszeichen12a'''' bzw.14a'''' versehen ist. Die zwei mäanderförmigen Heizer12a'' und14a'' sind um 90 ° zueinander versetzt, was den Vorteil bietet, dass eine große Fläche mit dem resultierenden Abstrahlmuster erreicht wird. Des Weiteren sind auch die Anschlüsse unterschiedlich orientiert. -
5b zeigt eine Emitterstruktur10''''' mit den zwei Heizelementen14a''''' und12a''''' , wobei beide Heizelemente12a''''' und14a''''' als sogenannte Ringmäander ausgeführt sind. Hierbei ist der Ringmäander14a''''' in Bezug auf seinen Durchmesser kleiner als der Ringmäander12a''''' . Hierbei ist auch vorteilhafterweise zu erwähnen, dass die zwei Ringmäander12a''''' und14a''''' ihre Kontaktierungen jeweils auf unterschiedlichen Seiten haben, so dass hier auch keine Hotspots entstehen können. -
5c zeigt eine Emitterstruktur10'''''' mit zwei ringförmigen Elementen12a'''''' und14a''''''' , wobei in einer vergrößerten Darstellung gezeigt ist, dass das Heizelement selber durch einen niedrigdotierten Bereich gebildet ist, während der das Heizelement umgebende Bereich durch einen hochdotierten Bereich geformt werden kann. -
5d zeigt ein weiteres Ausführungsbeispiel, bei dem je Membrane zwei (oder ggf. mehr) Heizelemente14a''''''' und14b''''''' bzw.12a''''''' und12b''''''' vorgesehen sind. Bei diesem Ausführungsbeispiel wird deutlich, dass je Membran mehrere Heizelemente nebeneinander angeordnet sein können. - An dieser Stelle sei angemerkt, auch wenn bei obigen Ausführungsbeispielen immer davon ausgegangen wurde, dass die Heizbahn als Bahn ausgeführt ist, auch flächige Elemente, wie z. B. Heizplatten vorgesehen sein können.
- Entsprechend einem weiteren Ausführungsbeispiel kann zusätzlich auf der Abstrahlseite, d. h. beispielsweise bei der Emitterstruktur
10 aus1 auf der Membran12 eine zusätzliche Abstrahlmembran vorgesehen sein. Diese kann im Vergleich zu der Membran12 höhere Emissionseigenschaften aufweisen, die dann vorteilhafterweise das Abstrahlmuster noch homogener verteilen. Ein geeignetes Material für diese weitere (Abstrahl-) Membran ist Polysilizium wegen der verbesserten Abstrahleigenschaften im Vergleich zu Standardsiliziummembranen. - Auch wenn bei obigen Ausführungsbeispielen immer davon ausgegangen wurde, dass über die Membran
12 abgestrahlt wird, so kann auch über die untere Membran die Temperaturabstrahlung erfolgen. - Bezugnehmend auf die Dimensionierung der Membranen und die Wahl der Füllung für die Zwischenräume, sei angemerkt, dass über diese die Eigenschaften des Elements (thermische Kapazität und Reaktionszeit) angepasst werden können. Wenn z. B. in dem Zwischenraum ein Fluid oder ein Feststoff vorhanden ist, wird die optische Reaktionszeit reduziert, da sich auch die thermische Kapazität reduziert.
- Weitere Ausführungsbeispiele beziehen sich auf ein Sensorsystem (PAS-Sensor-System oder einen NDIR-Sensor-System mit einer Emitterstruktur, wie sie oben erläutert wurde. Ein zusätzliches Ausführungsbeispiel bezieht sich auf ein Herstellungsverfahren, das im Wesentlichen die Schritte des Anordnens der Membranen mit den Heizelementen derart, dass die Heizelemente nicht überlappen, d. h. bevorzugt nebeneinander angeordnet sind. Bei diesem Herstellungsverfahren sind herkömmliche MEMS-Herstellungstechnologien, wie sie z. B. für die Mikrophonherstellung verwendet werden, einsetzbar.
- Entsprechend einem weiteren Ausführungsbeispiel kann die Struktur mit einem ASIC verbunden sein bzw. allgemein mit einer Steuerung, über die die einzelnen Elemente aktiviert und deaktiviert oder geregelt werden können. Durch Anpassung der Leistung je Heizelement kann das thermische Profil und damit auch die optische Abstrahlcharakteristik/Abstrahlmuster angepasst werden. Hierbei ist es beispielsweise denkbar, dass die unterschiedlichen Heizelemente in unterschiedlichen Ebenen unterschiedlich angesteuert werden oder auch, dass ausgehend von einem Temperatursensor auf einer Ebene die Temperatur des Heizers der anderen Ebene überwacht wird, um so eine Steuerung durchzuführen.
- Obwohl manche Aspekte im Zusammenhang mit einer Vorrichtung beschrieben wurden, versteht es sich, dass diese Aspekte auch eine Beschreibung des entsprechenden Verfahrens darstellen, sodass ein Block oder ein Bauelement einer Vorrichtung auch als ein entsprechender Verfahrensschritt oder als ein Merkmal eines Verfahrensschrittes zu verstehen ist. Analog dazu stellen Aspekte, die im Zusammenhang mit einem oder als ein Verfahrensschritt beschrieben wurden, auch eine Beschreibung eines entsprechenden Blocks oder Details oder Merkmals einer entsprechenden Vorrichtung dar. Einige oder alle der Verfahrensschritte können durch einen Hardware-Apparat (oder unter Verwendung eines Hardware-Apparats), wie zum Beispiel einen Mikroprozessor, einen programmierbaren Computer oder eine elektronische Schaltung ausgeführt werden. Bei einigen Ausführungsbeispielen können einige oder mehrere der wichtigsten Verfahrensschritte durch einen solchen Apparat ausgeführt werden.
Claims (22)
- Emitterstruktur (10, 10', 10'', 10''', 10'''', 10''''', 10'''''' 10''''''') mit folgenden Merkmalen: einem Substrat mit einer Membrananordnung, die zumindest eine erste Membran (12, 12', 12'', 12'''), einen ersten Heizpfad (12a, 12a', 12a'', 12a''', 12a'''', 12a''''', 12a'''''', 12a''''''' 12b', 12b'', 12b''', 12b'''', 12b''''', 12b'''''', 12b''''''') und einen zweiten Heizpfad (14a, 14a', 14a'', 14a''', 14a'''', 14a''''', 14a'''''', 14a''''''', 14b', 14b'', 14b''', 14b'''', 14b''''', 14b'''''', 14b'''''') umfasst, wobei der erste Heizpfad (12a, 12a', 12a'', 12a''', 12a'''', 12a''''', 12a'''''', 12a''''''' 12b', 12b'', 12b''', 12b'''', 12b''''', 12b'''''', 12b''''''') und der zweite Heizpfad (14a, 14a', 14a'', 14a''', 14a'''', 14a''''', 14a'''''', 14a''''''', 14b', 14b'', 14b''', 14b'''', 14b''''', 14b'''''', 14b'''''') in unterschiedlichen Substratebenen angeordnet sind und so zueinander positioniert sind, dass eine Projektion des ersten Heizpfades (12a, 12a', 12a'', 12a''', 12a'''', 12a''''', 12a'''''', 12a''''''' 12b', 12b'', 12b''', 12b'''', 12b''''', 12b'''''', 12b''''''') und eine Projektion des zweiten Heizpfades (14a, 14a', 14a'', 14a''', 14a'''', 14a''''', 14a'''''', 14a''''''', 14b', 14b'', 14b''', 14b'''', 14b''''', 14b'''''', 14b'''''') auf eine gemeinsame Ebene (GE) zumindest teilweise nebeneinander in der gemeinsamen Ebene (GE) liegen; wobei die Emitterstruktur mit einer Steuerung gekoppelt ist, die ausgebildet ist, den ersten Heizpfad (12a, 12a', 12a'', 12a''', 12a'''', 12a''''', 12a'''''', 12a''''''' 12b', 12b'', 12b''', 12b'''', 12b''''', 12b'''''', 12b''''''') und den zweiten Heizpfad (14a, 14a', 14a'', 14a''', 14a'''', 14a''''', 14a'''''', 14a''''''', 14b', 14b'', 14b''', 14b'''', 14b'''' 14b'''''', 14b'''''') einzeln zu aktivieren, zu deaktivieren und/oder zu regeln, wobei die Projektion des ersten Heizpfades (12a, 12a', 12a'', 12a''', 12a'''', 12a''''', 12a'''''', 12a''''''' 12b', 12b'', 12b''', 12b'''', 12b''''', 12b'''''', 12b''''''') und die Projektion des zweiten Heizpfades (14a, 14a', 14a'', 14a''', 14a'''', 14a''''', 14a'''''', 14a''''''', 14b', 14b'', 14b''', 14b'''', 14b''''', 14b'''''', 14b'''''') zumindest in einem Bereich entlang des ersten und zweiten Heizpfades (14a, 14a', 14a'', 14a''', 14a'''', 14a''''', 14a'''''', 14a''''''', 14b', 14b'', 14b''', 14b'''', 14b''''', 14b'''''', 14b'''''') aneinander angrenzend sind.
- Emitterstruktur (10, 10', 10'', 10''', 10'''', 10''''', 10'''''' 10''''''') gemäß
Anspruch 1 , wobei die Membrananordnung die erste Membran (12, 12', 12'', 12''') mit dem ersten Heizpfad (12a, 12a', 12a'', 12a''', 12a'''', 12a''''', 12a'''''', 12a''''''' 12b', 12b'', 12b''', 12b'''', 12b''''', 12b'''''', 12b''''''') auf einer ersten Hauptoberfläche der ersten Membran (12, 12', 12'', 12''') und dem zweiten Heizpfad (14a, 14a', 14a'', 14a''', 14a'''', 14a''''', 14a'''''', 14a''''''', 14b', 14b'', 14b''', 14b'''', 14b''''', 14b'''''', 14b'''''') auf einer zweiten, zu der ersten Hauptoberfläche gegenüberliegenden Hauptoberfläche der erste Membran (12, 12', 12'', 12''') aufweist. - Emitterstruktur (10, 10', 10'', 10''', 10'''', 10''''', 10'''''' 10''''''') gemäß
Anspruch 1 , wobei die Membrananordnung die erste Membran (12, 12', 12'', 12''') mit dem ersten Heizpfad (12a, 12a', 12a'', 12a''', 12a'''', 12a'''', 12a'''''', 12a''''''' 12b', 12b'', 12b''', 12b'''', 12b'''', 12b'''''', 12b''''''') und eine zweite Membran (14, 14', 14'', 14''') mit einen zweiten Heizpfad (14a, 14a', 14a'', 14a''', 14a'''', 14a''''', 14a'''''', 14a''''''', 14b', 14b'', 14b''', 14b'''', 14b''''', 14b''''', 14b'''''') aufweist, wobei die erste Membran (12, 12', 12'', 12''') und die zweite Membran (14, 14', 14'', 14''') in unterschiedlichen Substratebenen angeordnet sind, um den ersten Heizpfad (12a, 12a', 12a'', 12a''', 12a'''', 12a''''', 12a'''''', 12a''''''', 12b', 12b'', 12b''' 12b'''', 12b''''' 12b'''''', 12b''''''') und den zweiten Heizpfad (14a, 14a', 14a'', 14a''', 14a'''', 14a''''', 14a'''''', 14a''''''', 14b', 14b'', 14b''', 14b'''', 14b''''', 14b'''''', 14b'''''') in unterschiedlichen Substratebenen anzuordnen. - Emitterstruktur (10, 10', 10'', 10''', 10'''', 10''''', 10'''''' 10''''''') gemäß einem der
Ansprüche 1 bis3 , wobei die Projektion des ersten Heizpfades (12a, 12a', 12a'', 12a''', 12a'''', 12a''''', 12a'''''', 12a''''''', 12b', 12b'', 12b''' 12b'''', 12b''''', 12b'''''', 12b''''''') gegenüber der Projektion des zweiten Heizpfades (14a, 14a', 14a'', 14a''', 14a'''', 14a''''', 14a'''''', 14a''''''', 14b', 14b'', 14b''', 14b'''', 14b'''', 14b'''''', 14b'''''') zumindest in einem Bereich entlang des ersten und zweiten Heizpfades (14a, 14a', 14a''. 14a'''. 14a'''', 14a''''', 14a'''''', 14a''''''', 14b', 14b'', 14b''', 14b'''', 14b''''', 14b'''''', 14b'''''') voneinander beabstandet ist. - Emitterstruktur (10, 10', 10'', 10''', 10'''', 10''''', 10'''''' 10''''''') gemäß einem der vorherigen Ansprüche, wobei die Projektion des ersten Heizpfades (12a, 12a', 12a'', 12a''', 12a'''', 12a''''', 12a'''''', 12a''''''', 12b', 12b'', 12b''' 12b'''', 12b''''', 12b'''''', 12b''''''') und die Projektion des zweiten Heizpfades (14a, 14a', 14a'', 14a''', 14a'''', 14a''''', 14a'''''', 14a''''''', 14b', 14b'', 14b''', 14b'''', 14b''''', 14b'''''', 14b''''''') zumindest in einem weiteren Bereich entlang des ersten und zweiten Heizpfades (14a, 14a', 14a'', 14a''', 14a'''', 14a''''', 14a'''''', 14a''''''', 14b', 14b'', 14b''', 14b'''', 14b''''', 14b'''''', 14b''''''') einander überlappend sind.
- Emitterstruktur (10, 10', 10'', 10''', 10'''', 10''''', 10'''''' 10''''''') gemäß einem der vorherigen Ansprüche, wobei die erste Membran (12, 12', 12'' 12''') einen Emissionsbereich bildet, der ausgebildet ist, um Infrarotstrahlung zu emittieren.
- Emitterstruktur (10, 10', 10'', 10''', 10'''', 10''''', 10'''''', 10''''''') gemäß einem der vorherigen Ansprüche, wobei eine Projektionsfläche des ersten Heizpfades (12a, 12a', 12a'', 12a''', 12a'''', 12a''''', 12a'''''', 12a''''''' 12b', 12b'', 12b''', 12b'''', 12b''''', 12b'''''', 12b''''''') zusammen mit einer Projektionsfläche des zweiten Heizpfades (14a, 14a', 14a'', 14a''', 14a''', 14a''''', 14a'''''', 14a''''''', 14b', 14b'', 14b''', 14b'''', 14b''''', 14b'''''', 14b'''''') eine größere Projektionsfläche bildet als die Projektionsfläche des ersten oder des zweiten Heizpfades (14a, 14a', 14a'', 14a''', 14a'''', 14a''''', 14a'''''', 14a'''''''. 14b', 14b'', 14b''', 14b'''', 14b''''', 14b'''''', 14b'''''') alleine.
- Emitterstruktur (10, 10', 10'', 10''', 10'''', 10''''', 10'''''' 10''''''') gemäß
Anspruch 7 , wobei eine Projektionsfläche des ersten und zweiten Heizpfades (14a, 14a', 14a'', 14a'''. 14a'''', 14a''''', 14a'''''', 14a''''''', 14b', 14b'', 14b''', 14b'''', 14b''''' 14b'''''', 14b'''''') auf die gemeinsame Ebene (GE) zusammen 1,3-mal, 1,5-mal oder 2,0-mal so groß ist, wie eine Projektionsfläche des ersten Heizpfades (12a, 12a', 12a'', 12a''', 12a'''', 12a''''', 12a'''''', 12a''''''' 12b', 12b'', 12b''' 12b'''', 12b''''', 12b'''''', 12b''''''') oder eine Projektionsfläche des zweiten Heizpfades (14a, 14a', 14a'', 14a'''. 14a'''', 14a''''', 14a'''''', 14a''''''', 14b', 14b'', 14b''', 14b'''', 14b''''' 14b'''''', 14b'''''''). - Emitterstruktur (10, 10', 10'', 10''', 10'''', 10''''', 10'''''' 10''''''') gemäß einem der
Ansprüche 1 bis8 , wobei das Substrat (20, 20''') eine Öffnung (24) umfasst, in welcher die Membrananordnung angeordnet ist. - Emitterstruktur (10, 10', 10'', 10''', 10'''', 10''''', 10'''''' 10''''''') gemäß einem der
Ansprüche 1 bis8 , wobei das Substrat (20, 20''') einen Graben (22) umfasst, in welchem die Membrananordnung angeordnet ist, wobei die die zweite Membran (12, 12', 12'', 12'''; 14, 14', 14'', 14''') zusammen mit dem Graben (22) eine Kavität bilden. - Emitterstruktur (10, 10', 10'', 10''', 10'''', 10''''', 10'''''' 10''''''') gemäß einem der
Ansprüche 3 bis10 , wobei die erste Membran (12, 12', 12'', 12''') und die zweite Membran (14, 14', 14'', 14''') voneinander beabstandet sind, so dass ein Zwischenraum (13) zwischen der ersten Membran (12, 12', 12'', 12''') und der zweiten Membran (14, 14', 14'', 14''') geformt wird. - Emitterstruktur (10, 10', 10'', 10''', 10'''', 10''''', 10'''''' 10''''''') gemäß
Anspruch 11 , wobei der Zwischenraum (13) mit einem Gas gefüllt ist. - Emitterstruktur (10, 10', 10'', 10''', 10'''', 10''''', 10'''''' 10''''''') gemäß
Anspruch 11 oder12 , wobei zumindest eine der ersten und der zweiten Membran (12, 12', 12'', 12'''; 14, 14', 14'', 14''') eine Ventilationsöffnung umfassen, so dass ein im Zwischenraum (13) eingeschlossenes Gasvolumen bei Expansion desselben nach außen entweichen kann; und/oder wobei das Substrat (20, 20''') eine Ventilationsöffnung für den Zwischenraum (13) umfasst, so dass ein eingeschlossenes Gasvolumen bei Expansion desselben nach außen entweichen kann. - Emitterstruktur (10, 10', 10'', 10''', 10'''', 10''''', 10'''''' 10''''''') gemäß einem der
Ansprüche 3 bis13 , wobei die Emitterstruktur eine dritte Membran mit einem dritten Heizpfad aufweist, wobei der dritte Heizpfad gegenüber zumindest einem der ersten und der zweiten Heizpfade (14a, 14a', 14a'', 14a''', 14a'''', 14a''''', 14a'''''', 14a''''''', 14b', 14b'', 14b''', 14b'''', 14b''''', 14b'''''', 14b'''''') so angeordnet ist, dass eine Projektion des dritten Heizpfades auf die gemeinsame Ebene (GE) neben der Projektion des zweiten Heizpfades (14a, 14a', 14a'', 14a''', 14a'''', 14a''''', 14a'''''', 14a''''''', 14b', 14b'', 14b''', 14b'''', 14b''''', 14b'''''', 14b'''''') und/oder neben der Projektion des ersten Heizpfades (12a, 12a', 12a'', 12a''', 12a'''', 12a''''', 12a'''''', 12a''''''' 12b', 12b'', 12b''', 12b'''', 12b''''', 12b'''''', 12b''''''') liegt. - Emitterstruktur (10, 10', 10'', 10''', 10'''', 10''''', 10'''''' 10''''''') gemäß einem der vorherigen Ansprüche, wobei der erste Heizpfad (12a, 12a', 12a'', 12a''', 12a'''', 12a''''', 12a'''''', 12a''''''' 12b', 12b'', 12b''', 12b'''', 12b''''', 12b'''''', 12b''''''') und/oder zweite Heizpfad (14a, 14a', 14a'', 14a''', 14a'''', 14a''''', 14a'''''', 14a''''''', 14b', 14b'', 14b''', 14b'''', 14b''''', 14b'''''', 14b'''''') eine Ringform aufweist; oder wobei der erste Heizpfad (12a, 12a', 12a'', 12a''', 12a'''', 12a''''', 12a'''''', 12a''''''' 12b', 12b'', 12b''', 12b'''', 12b''''', 12b'''''', 12b''''''') und/oder der zweite Heizpfad (14a, 14a', 14a'', 14a''', 14a'''', 14a''''', 14a'''''', 14a''''''' 14b', 14b'', 14b''', 14b'''', 14b''''', 14b'''''', 14b'''''') eine Mäanderform aufweist.
- Emitterstruktur (10, 10', 10'', 10''', 10'''', 10''''', 10'''''' 10''''''') gemäß einem der vorherigen Ansprüche, wobei die Membrananordnung eine weitere Membran aufweist, die ausgebildet ist, um eine Wärmeenergie, welche durch den ersten und/oder den zweiten Heizpfad (14a, 14a', 14a'', 14a''', 14a'''', 14a''''', 14a''''''', 14a''''''', 14b', 14b'', 14b''', 14b'''', 14b''''', 14b'''''', 14b'''''') induziert ist, über eine laterale Fläche der weiteren Membran zu verteilen und Infrarotstrahlung zu emittieren.
- Emitterstruktur (10, 10', 10'', 10''', 10'''', 10''''', 10'''''' 10''''''') gemäß einem der vorherigen Ansprüche, wobei der erste und/oder der zweite Heizpfad (14a, 14a', 14a'', 14a''', 14a'''', 14a''''', 14a'''''', 14a''''''', 14b', 14b'', 14b''', 14b'''', 14b''''', 14b'''''', 14b'''''') eine Dotierung umfassen.
- Emitterstruktur (10, 10', 10'', 10''', 10'''', 10''''', 10'''''' 10''''''') gemäß einem der vorherigen Ansprüche, wobei die Steuerung einen ASIC umfasst.
- Nicht-dispersiver Infrarotsensor-System mit einem Infrarotsensorelement und einer Emitterstruktur (10, 10', 10'', 10''', 10'''', 10''''', 10'''''' 10''''''') gemäß einem der vorherigen Ansprüche, die ausgebildet ist, um eine Infrarotstrahlung zu emittieren.
- Photoakustisches Spektroskopie-System zur Gasdetektion mit einem Infrarotsensorelement und einer Emitterstruktur (10, 10', 10'', 10''', 10'''', 10''''', 10'''''' 10''''''') gemäß einem der vorherigen Ansprüche, die ausgebildet ist, um eine Infrarotstrahlung zu emittieren.
- Verfahren zur Herstellung einer Emitterstruktur (10, 10', 10'', 10''', 10'''', 10''''', 10'''''' 10'''''''), mit folgenden Merkmalen: Ausbilden einer Membrananordnung in einem Substrat (20, 20''') umfassend zumindest eine erste Membran (12, 12', 12'', 12'''), einen ersten Heizpfad (12a, 12a', 12a'', 12a''', 12a'''', 12a''''', 12a'''''', 12a''''''' 12b', 12b'', 12b''', 12b'''', 12b''''', 12b'''''', 12b''''''') und einen zweiten Heizpfad (14a, 14a', 14a'', 14a''', 14a'''', 14a''''', 14a'''', 14a''''''', 14b', 14b'', 14b''', 14b'''', 14b''''' 14b'''''', 14b'''''''), wobei der erste Heizpfad (12a, 12a', 12a'', 12a''', 12a'''', 12a''''', 12a'''''', 12a''''''' 12b', 12b'', 12b''', 12b'''', 12b''''', 12b, 12b''''''') und der zweite Heizpfad (14a, 14a', 14a'', 14a''', 14a'''', 14a''''', 14a'''''', 14a''''''', 14b', 14b'', 14b''', 14b'''', 14b''''', 14b'''''', 14b'''''') in unterschiedlichen Substratebenen angeordnet sind und so zueinander positioniert sind, dass eine Projektion des ersten Heizpfades (12a, 12a', 12a'', 12a''', 12a'''', 12a''''', 12a'''''', 12a''''''', 12b', 12b'', 12b''' 12b'''', 12b''''', 12b'''''', 12b''''''') und eine Projektion des zweiten Heizpfades (14a, 14a', 14a'', 14a'''. 14a'''', 14a''''', 14a'''''', 14a''''''', 14b', 14b'', 14b''', 14b'''', 14b''''' 14b'''''', 14b'''''') auf eine gemeinsame Ebene (GE) zumindest teilweise nebeneinander in der gemeinsamen Ebene (GE) liegen; wobei die Emitterstruktur mit einer Steuerung gekoppelt ist, die den ersten Heizpfad (12a, 12a', 12a'', 12a''', 12a'''', 12a''''', 12a'''''', 12a''''''' 12b', 12b'', 12b''', 12b'''', 12b''''', 12b'''''', 12b''''''') und den zweiten Heizpfad (14a, 14a', 14a'', 14a''', 14a'''', 14a''''', 14a'''''', 14a''''''', 14b', 14b'', 14b''', 14b'''', 14b''''', 14b'''''', 14b'''''') einzeln aktiviert, deaktiviert und/oder regelt, wobei die Projektion des ersten Heizpfades (12a, 12a', 12a'', 12a''', 12a'''', 12a''''', 12a'''''', 12a''''''' 12b', 12b'', 12b''', 12b'''', 12b''''', 12b'''''', 12b''''''') und die Projektion des zweiten Heizpfades (14a, 14a', 14a'', 14a''', 14a'''', 14a''''', 14a'''''', 14a''''''', 14b', 14b'', 14b''', 14b'''', 14b''''', 14b'''''', 14b'''''') zumindest in einem Bereich entlang des ersten und zweiten Heizpfades (14a, 14a', 14a'', 14a''', 14a'''', 14a''''', 14a'''''', 14a''''''', 14b', 14b'', 14b''', 14b'''', 14b''''', 14b'''''', 14b'''''') aneinander angrenzend sind.
- Verfahren gemäß
Anspruch 21 , wobei das Verfahren den Schritt des Einbringens eines Grabens (22) oder einer Öffnung (24) vor dem Ausbilden der Membrananordnung umfasst, wobei der Schritt des Ausbildens der Membrananordnung so ausgeführt ist, dass die Membrananordnung in der Öffnung (24) oder dem Graben (22) angeordnet ist.
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE102018201997.5A DE102018201997B4 (de) | 2018-02-08 | 2018-02-08 | Emitterstruktur und Herstellungsverfahren |
US16/251,713 US11490460B2 (en) | 2018-02-08 | 2019-01-18 | Emitter structure and production method |
CN201910107760.5A CN110132848B (zh) | 2018-02-08 | 2019-02-02 | 发射器结构和制造方法 |
US17/817,155 US11617232B2 (en) | 2018-02-08 | 2022-08-03 | Emitter structure and production method |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE102018201997.5A DE102018201997B4 (de) | 2018-02-08 | 2018-02-08 | Emitterstruktur und Herstellungsverfahren |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE102018201997A1 DE102018201997A1 (de) | 2019-08-08 |
DE102018201997B4 true DE102018201997B4 (de) | 2021-07-15 |
Family
ID=67308745
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE102018201997.5A Active DE102018201997B4 (de) | 2018-02-08 | 2018-02-08 | Emitterstruktur und Herstellungsverfahren |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (2) | US11490460B2 (de) |
CN (1) | CN110132848B (de) |
DE (1) | DE102018201997B4 (de) |
Families Citing this family (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE112019005007T5 (de) | 2018-10-05 | 2021-07-15 | Knowles Electronics, Llc | Akustikwandler mit einer Niederdruckzone und Membranen, die eine erhöhte Nachgiebigkeit aufweisen |
US11206494B2 (en) | 2018-10-05 | 2021-12-21 | Knowles Electronics, Llc | Microphone device with ingress protection |
WO2020072938A1 (en) | 2018-10-05 | 2020-04-09 | Knowles Electronics, Llc | Methods of forming mems diaphragms including corrugations |
DE102019134279B3 (de) * | 2019-12-13 | 2021-05-27 | Infineon Technologies Ag | Photoakustische Sensoren und MEMS-Bauelemente |
EP3904846A1 (de) | 2020-04-29 | 2021-11-03 | Infineon Technologies AG | Wärmestrahler mit eingebettetem heizelement |
US11528546B2 (en) | 2021-04-05 | 2022-12-13 | Knowles Electronics, Llc | Sealed vacuum MEMS die |
US11540048B2 (en) | 2021-04-16 | 2022-12-27 | Knowles Electronics, Llc | Reduced noise MEMS device with force feedback |
US11649161B2 (en) | 2021-07-26 | 2023-05-16 | Knowles Electronics, Llc | Diaphragm assembly with non-uniform pillar distribution |
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US11780726B2 (en) | 2021-11-03 | 2023-10-10 | Knowles Electronics, Llc | Dual-diaphragm assembly having center constraint |
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- 2019-02-02 CN CN201910107760.5A patent/CN110132848B/zh active Active
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2022
- 2022-08-03 US US17/817,155 patent/US11617232B2/en active Active
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Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN110132848A (zh) | 2019-08-16 |
US11490460B2 (en) | 2022-11-01 |
US11617232B2 (en) | 2023-03-28 |
CN110132848B (zh) | 2023-12-05 |
DE102018201997A1 (de) | 2019-08-08 |
US20190246459A1 (en) | 2019-08-08 |
US20220377851A1 (en) | 2022-11-24 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
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R012 | Request for examination validly filed | ||
R016 | Response to examination communication | ||
R016 | Response to examination communication | ||
R016 | Response to examination communication | ||
R018 | Grant decision by examination section/examining division | ||
R020 | Patent grant now final | ||
R082 | Change of representative |