DE102018113443A1 - Plasma treatment apparatus with a linear microwave plasma source and a gas guiding device - Google Patents
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Abstract
Die Erfindung betrifft eine Plasmabehandlungsvorrichtung zur Plasmabehandlung einer Substratoberfläche eines Substrates mit einer linearen Mikrowellen-Plasmaquelle. Die Plasmaquelle enthält eine von einem dielektrischen Rohr umgebene Mikrowellenantenne, eine Wandung mit einer Öffnung und mindestens zwei Gaseinlässe. Der Raum der Plasmaquelle ist in einen Plasmaerzeugungsbereich und eine Plasmabehandlungszone unterteilt, wobei der Plasmaerzeugungsbereich und die Plasmabehandlungszone durch eine Verbindungszone miteinander verbunden sind. Die Plasmaquelle weist weiterhin eine Gasleitvorrichtung auf, die zwei Teile umfasst, wobei sich die zwei Teile der Gasleitvorrichtung von gegenüberliegenden Seiten der Wandung der Plasmaquelle spiegelsymmetrisch in Bezug auf eine Ebene, die entlang der Achse der Mikrowellenantenne und senkrecht zu einer Ebene der Öffnung verläuft, in den Raum der Plasmaquelle hinein und zumindest über einen Teilbereich der Ausdehnung der Plasmaquelle in Richtung entlang der Achse der Mikrowellenantenne erstrecken und die Weite der Verbindungzone in diesem Teilbereich der Ausdehnung der Plasmaquelle gegenüber einer Plasmaquelle ohne Gasleitvorrichtung verringern.The invention relates to a plasma treatment apparatus for plasma treatment of a substrate surface of a substrate with a linear microwave plasma source. The plasma source includes a microwave antenna surrounded by a dielectric tube, a wall having an opening, and at least two gas inlets. The space of the plasma source is divided into a plasma generation area and a plasma treatment area, wherein the plasma generation area and the plasma treatment area are interconnected by a connection zone. The plasma source further comprises a gas guiding device comprising two parts, the two parts of the gas guiding device being mirror-symmetrical with respect to a plane extending along the axis of the microwave antenna and perpendicular to a plane of the opening from opposite sides of the wall of the plasma source extend the space of the plasma source and at least over a portion of the extent of the plasma source in the direction along the axis of the microwave antenna and reduce the width of the connection zone in this portion of the expansion of the plasma source with respect to a plasma source without gas guide.
Description
Die Erfindung betrifft eine Plasmabehandlungsvorrichtung mit einer linearen Mikrowellen-Plasmaquelle und einer Gasleitvorrichtung.The invention relates to a plasma treatment device with a linear microwave plasma source and a gas guiding device.
Lineare Mikrowellen-Plasmaquellen bestehen aus einer stabförmigen Mikrowellenantenne, die in einem dielektrischen Rohr angeordnet ist und deshalb auch als Innenleiter einer Koaxialleiteranordnung bezeichnet wird. Der Außenleiter wird dann durch das erzeugte Plasma am dielektrischen Rohr gebildet. Diese Koaxialleiteranordnung ist von einer Wandung umgeben und bildet dadurch die eigentliche Plasmaquelle. Die Wandung der Plasmaquelle weist dabei auf einer Seite eine Öffnung auf, durch die das Plasma aus der Plasmaquelle austritt und in deren Nähe ein zu behandelndes Substrat außerhalb der Plasmaquelle angeordnet ist. Die Plasmaquelle erstreckt sich entlang der Achse der stabförmigen Mikrowellenantenne mit einer definierten Länge, wobei die Öffnung eine gegenüber der Länge der Plasmaquelle wesentlich kleinere Weite aufweist, so dass von einer linearen Plasmaquelle gesprochen wird. Solche Plasmaquellen sind bspw. in der
Plasmabehandlungen, die mit Hilfe des erzeugten Plasmas durchgeführt werden, sind vor allem schichtabscheidende Verfahren wie CVD (Chemical vapour deposition, Chemische Gasphasenabscheidung) oder schichtentfernende Verfahren wie Plasmaätzen. In beiden Fällen wird oftmals ein erstes Gas, welches einen chemisch aktiven Bestandteil des durchgeführten Verfahrens enthält, nahe einer Substratoberfläche des zu behandelnden Substrats in die Plasmaquelle eingeleitet, während ein zweites Gas, welchen keinen oder nur einen vernachlässigbaren chemisch aktiven Bestandteil des durchgeführten Verfahrens enthält, nahe der Mikrowellenantenne in die Plasmaquelle eingeleitet wird. Damit sowie mit Hilfe eines räumlich definierten Magnetfeldes, welches von einer an der Plasmaquelle angeordneten Magnetvorrichtung erzeugt wird, wird der Raum innerhalb der Plasmaquelle in zwei Bereiche unterteilt: einen Plasmaerzeugungsbereich, in dem aus dem zweiten Gas ein Plasma erzeugt wird und der sich nahe und im Wesentlichen radialsymmetrisch zur Mikrowellenantenne erstreckt, und in eine Plasmabehandlungszone, in der das im Plasmaerzeugungsbereich erzeugte Plasma das erste Gas soweit anregt, dass die gewünschte Behandlung der Substratoberfläche erfolgt. Die Plasmabehandlungszone befindet sich im Wesentlichen nahe der Substratoberfläche und kann über den eigentlichen Raum der Plasmaquelle hinausreichen. Beide Bereiche können sich auch teilweise überschneiden, wobei jedoch eine weitgehende räumliche Trennung vorteilhaft ist. Der Überschneidungsbereich bzw. ein Bereich, der den Plasmaerzeugungsbereich und die Plasmabehandlungszone miteinander verbindet, wird als Verbindungszone bezeichnet. Eine solche Plasmabehandlungsvorrichtung ist bspw. in der
Bei den aus dem Stand der Technik bekannten Plasmabehandlungsvorrichtungen erfolgt jedoch eine erhebliche Diffusion von Bestandteilen des ersten Gases aus der Plasmabehandlungszone in Richtung der Plasmaquelle, was sich nachteilig auf die Standzeit der Plasmaquelle und/oder auf die Qualität der behandelten Substratoberfläche auswirkt oder zu einer Veränderung der Prozessbedingungen des durchgeführten Verfahrens führt. Außerdem wird der Raum innerhalb der Plasmaquelle fast vollständig mit Plasma ausgefüllt. So kann bspw. bei schichtabscheidenden Verfahren eine Schicht auf dem dielektrischen Rohr und/oder der Wandung der Plasmaquelle aufwachsen, die zum einen die Auskopplung der Mikrowellenleistung in das zweite Gas und damit die Erzeugung des Plasmas und die Prozessbedingungen des durchgeführten Verfahrens verändert und zum zweiten zu einer Partikelbildung und damit einer Verschlechterung der Qualität der auf der Substratoberfläche abgeschiedenen Schicht führt. Darüber hinaus ist die Schichtabscheidung auf dem dielektrischen Rohr und/oder der Wandung oftmals asymmetrisch, da aufgrund der Diffusionsrichtung mehr Bestandteile des zweiten Gases die dem Substrat zugewandten Seite des dielektrischen Rohres und der Wandung der Plasmaquelle erreichen als die dem Substrat abgewandte Seite des dielektrischen Rohres und der Wandung. Dies führt zu einer besonders schlecht ausgleichbaren asymmetrischen Veränderung der Plasmaerzeugungsbedingungen in der Plasmaquelle. Im Ergebnis ist de Standzeit der Plasmaquelle stark begrenzt, d.h. die Plasmaquelle muss häufig gereinigt werden. Dies führt zu Produktivitätsverlusten und, da die Plasmaquelle zur Reinigung oftmals aus der Plasmabehandlungsvorrichtung entfernt werden muss, zu einem erhöhten Aufwand bei der Demontage und Montage der Plasmaquelle, bspw. in Bezug auf die Vakuumdichtheit von Durchführungen von Zuleitungen etc. Ähnliche Auswirkungen können auch schichtentfernende Bestandteile des zweiten Gases haben.In the known from the prior art plasma treatment devices, however, a significant diffusion of constituents of the first gas from the plasma treatment zone in the direction of the plasma source, which adversely affects the service life of the plasma source and / or the quality of the treated substrate surface or a change in the Process conditions of the performed process leads. In addition, the space within the plasma source is almost completely filled with plasma. Thus, for example, in layer-depositing processes, a layer may grow on the dielectric tube and / or the wall of the plasma source, which on the one hand alters the coupling of the microwave power into the second gas and thus the generation of the plasma and the process conditions of the performed method, and on the other Particle formation and thus a deterioration of the quality of the deposited on the substrate surface layer leads. In addition, the layer deposition on the dielectric tube and / or the wall is often asymmetric, because due to the diffusion direction more components of the second gas reach the substrate facing side of the dielectric tube and the wall of the plasma source than the side facing away from the substrate of the dielectric tube and the wall. This leads to an asymmetric change of the plasma generation conditions in the plasma source, which is particularly difficult to compensate for. As a result, the lifetime of the plasma source is severely limited, i. the plasma source needs to be cleaned frequently. This leads to loss of productivity and, since the plasma source for cleaning often has to be removed from the plasma treatment apparatus, to an increased effort in disassembly and assembly of the plasma source, for example. With respect to the vacuum tightness of feedthroughs, etc. Similar effects can also coating removal components of the second gas.
Es ist daher Aufgabe der vorliegenden Erfindung, eine Plasmabehandlungsvorrichtung bereitzustellen, mit der die Nachteile des Standes der Technik vermieden oder verringert werden können.It is therefore an object of the present invention to provide a plasma processing apparatus with which the disadvantages of the prior art can be avoided or reduced.
Die Aufgabe wird gelöst durch eine Plasmabehandlungsvorrichtung gemäß Anspruch 1. Bevorzugte Ausführungsformen finden sich in den Unteransprüchen.The object is achieved by a plasma treatment apparatus according to
Die erfindungsgemäße Plasmabehandlungsvorrichtung zur Plasmabehandlung einer Substratoberfläche eines Substrates weist eine lineare Mikrowellen-Plasmaquelle auf. Die Plasmaquelle enthält eine von einem dielektrischen Rohr umgebene Mikrowellenantenne, eine Wandung mit einer Öffnung und mindestens zwei Gaseinlässe, wobei die Öffnung auf der der Substratoberfläche zugewandten Seite der Plasmaquelle angeordnet ist. Von den mindestens zwei Gaseinlässen ist ein erster Gaseinlass in der Nähe der Öffnung angeordnet, während ein zweiter Gaseinlass von den mindestens zwei Gaseinlässen an einer der Öffnung gegenüberliegenden Seite der Plasmaquelle angeordnet ist. Selbstverständlich können auch mehrere erste und/oder mehrere zweite Gaseinlässe vorhanden sein, wobei die Anordnung der Gaseinlässe jeweils wie oben beschrieben ist. Der Raum der Plasmaquelle ist in einen Plasmaerzeugungsbereich und eine Plasmabehandlungszone unterteilt, wobei der Plasmaerzeugungsbereich und die Plasmabehandlungszone durch eine Verbindungszone miteinander verbunden sind. Während des Betriebs der Plasmabehandlungsvorrichtung wird mit Hilfe des ersten Gaseinlasses ein erstes Gas in die Plasmabehandlungszone eingeleitet wobei das erste Gas Bestandteile enthält, die in einem angeregten Zustand zu einer Schichtabscheidung oder einer Schichtentfernung auf bzw. von der Substratoberfläche geeignet sind, während mit Hilfe des zweiten Gaseinlasses ein zweites Gas in den Plasmaerzeugungsbereich eingeleitet wird, welches vorwiegend zur Erzeugung eines Plasmas mit Hilfe einer an die Mikrowellenantenne angelegten Spannung mit einer Frequenz im Mikrowellenbereich geeignet ist, jedoch keine oder nur vernachlässigbare Bestandteile enthält, die in einem angeregten Zustand zu einer Schichtabscheidung oder einer Schichtentfernung auf bzw. von dem dielektrischen Rohr oder der Wandung der Plasmaquelle geeignet sind. The plasma treatment device according to the invention for the plasma treatment of a substrate surface of a substrate has a linear microwave plasma source. The plasma source includes a microwave antenna surrounded by a dielectric tube, a wall having an opening and at least two gas inlets, wherein the opening is arranged on the side of the plasma source facing the substrate surface. Of the at least two gas inlets, a first gas inlet is arranged in the vicinity of the opening, while a second gas inlet of the at least two gas inlets is arranged on a side of the plasma source opposite the opening. Of course, a plurality of first and / or a plurality of second gas inlets may be present, wherein the arrangement of the gas inlets is in each case as described above. The space of the plasma source is divided into a plasma generation area and a plasma treatment area, wherein the plasma generation area and the plasma treatment area are interconnected by a connection zone. During operation of the plasma processing apparatus, a first gas is introduced into the plasma processing zone by means of the first gas inlet, wherein the first gas contains components which are in an excited state for a layer deposition or a layer removal on or from the substrate surface, while using the second Gas inlet a second gas is introduced into the plasma generation region, which is mainly for the production of a plasma by means of a voltage applied to the microwave antenna voltage at a frequency in the microwave range suitable, but no or only negligible components containing in an excited state to a layer deposition or a Layer removal on or from the dielectric tube or the wall of the plasma source are suitable.
Darüber hinaus weist die erfindungsgemäße Plasmaquelle eine Gasleitvorrichtung auf, die zwei Teile umfasst, wobei sich die zwei Teile der Gasleitvorrichtung von gegenüberliegenden Seiten der Wandung der Plasmaquelle spiegelsymmetrisch in Bezug auf eine Ebene, die entlang der Achse der Mikrowellenantenne und senkrechtzu einer Ebene der Öffnung der Wandung verläuft, in den Raum der Plasmaquelle hinein und zumindest über einen Teilbereich der Ausdehnung der Plasmaquelle in Richtung entlang der Achse der Mikrowellenantenne erstrecken. Dabei verringern die zwei Teile der Gasleitvorrichtung die Weite der Verbindungzone in diesem Teilbereich der Ausdehnung der Plasmaquelle gegenüber einer Plasmaquelle ohne Gasleitvorrichtung. Dadurch können im Wesentlichen zwei Effekte erzielt werden. Zum Ersten kann die Plasmaausbreitung selbst und damit der Transport von Ladungsträgern in Richtung der Plasmabehandlungszone beeinflusst werden und Zweitens kann durch die Gasleitvorrichtung auch der Transport von Gasteilchen zwischen dem Plasmaerzeugungsbereich und der Plasmabehandlungszone angepasst werden. Durch die Gasleitvorrichtung wird der Strömungsleitwert für das zweite Gas und das daraus erzeugte Plasma aus dem Plasmaerzeugungsbereich in die Plasmabehandlungszone derart verändert, dass zum einen das zweite Gas und das daraus erzeugte Plasma das dielektrische Rohr im Wesentlichen vollständig umhüllt und die Diffusion des ersten Gases aus der Plasmaanregungszone in den Plasmaerzeugungsbereich gegenüber einer Plasmaquelle ohne Gasleitvorrichtung verringert oder nahezu unterbunden wird. Damit wird eine Schichtabscheidung oder ein schichtentfernender Angriff des ersten Gases auf das dielektrische Rohr und die Wandung der Plasmaquelle im Bereich des Plasmaerzeugungsbereichs stark reduziert oder vollständig verhindert. Zum zweiten wird die Plasmabehandlungszone in ihrer Weite, gemessen quer zur Achse der Mikrowellenantenne, verringert, wodurch eine geringere Menge des angeregten ersten Gases bis zur Wandung der Plasmaquelle im Bereich der Plasmabehandlungszone gelangt und die Wandung in diesem Bereich damit weniger stark einer Schichtabscheidung oder einem schichtentfernenden Angriff unterliegt. Im Ergebnis beider Effekte wird die Standzeit der Plasmaquelle erhöht und die Steuerbarkeit der Plasmabehandlung sowie die Qualität der Schichtabscheidung oder Schichtentfernung verbessert.Moreover, the plasma source according to the invention comprises a gas guiding device comprising two parts, the two parts of the gas guiding device being mirror-symmetrical from opposite sides of the wall of the plasma source with respect to a plane which is along the axis of the microwave antenna and perpendicular to a plane of the opening of the wall extends into the space of the plasma source and extend at least over a portion of the extent of the plasma source in the direction along the axis of the microwave antenna. In this case, the two parts of the gas guiding device reduce the width of the connection zone in this partial area of the extent of the plasma source with respect to a plasma source without a gas guiding device. As a result, essentially two effects can be achieved. First, the plasma propagation itself and thus the transport of charge carriers in the direction of the plasma treatment zone can be influenced. Secondly, the gas conduction device can also be used to adapt the transport of gas particles between the plasma generation region and the plasma treatment zone. By the Gasleitvorrichtung the Strömungsleitwert for the second gas and the plasma generated therefrom from the plasma generation region is changed in the plasma treatment zone such that on the one hand, the second gas and the plasma generated therefrom substantially completely surrounds the dielectric tube and the diffusion of the first gas from the Plasma excitation zone is reduced or almost suppressed in the plasma generation region with respect to a plasma source without gas guide. Thus, a layer deposition or a layer-removing attack of the first gas on the dielectric tube and the wall of the plasma source in the region of the plasma generation region is greatly reduced or completely prevented. Secondly, the plasma treatment zone is reduced in width as measured transverse to the axis of the microwave antenna, whereby a smaller amount of the excited first gas reaches the plasma source wall in the plasma treatment zone and the wall in that region is less liable to become coated or stratified Attack is subject. As a result of both effects, the service life of the plasma source is increased and the controllability of the plasma treatment and the quality of the layer deposition or layer removal improved.
Die Gasleitvorrichtung kann aus einem elektrisch leitfähigen oder elektrisch isolierenden Material oder aus mehreren verschiedenen Materialien, die über- oder nebeneinander vorliegen können, bestehen. Bevorzugte Materialien sind Edelstahl, Aluminium und Titanblech. Es können aber auch Keramiken wie Aluminiumoxid, Zirkonoxid usw. oder verschiedene Gläser oder Glaskeramiken bzw. auch Quarzglas eingesetzt werden. In einigen Anwendungsfällen werden auch Trägermaterialien eingesetzt, die mit unterschiedlichen Funktionsschichten überzogen sind. Vorzugsweise ist die Gasleitvorrichtung aus demselben Material und mit derselben Dicke wie die Wandung der Plasmaquelle gefertigt.The gas-conducting device may consist of an electrically conductive or electrically insulating material or of a plurality of different materials, which may be present above or next to one another. Preferred materials are stainless steel, aluminum and titanium sheet. However, it is also possible to use ceramics such as aluminum oxide, zirconium oxide, etc. or various glasses or glass ceramics or even quartz glass. In some applications, carrier materials are used which are coated with different functional layers. Preferably, the gas guiding device is made of the same material and with the same thickness as the wall of the plasma source.
Die Plasmaquelle kann in einem Querschnitt durch die Plasmaquelle quer zur Achse der Mikrowellenantenne verschiedene Formen aufweisen. Beispielsweise kann die Plasmaquelle trapezförmig ausgebildet sein, wobei eine obere Seite der Wandung, die der Öffnung der Plasmaquelle gegenüberliegt, parallel zur Ebene der Öffnung verläuft und die Wandung der Plasmaquelle ebene Seitenflächen zwischen der oberen Seite und der Öffnung aufweist. Andere Ausführungsformen der Plasmaquelle sind glockenförmig mit einer teilweise runden Wandung ausgebildet, wobei die Rundung der Wandung auf der der Öffnung der Plasmaquelle gegenüberliegenden Seite der Wandung angeordnet ist und einen halbkreisförmigen Kreisbogen oder einen anderen Teilbereich eines Kreisbogens abbildet oder oval, elliptisch oder anders rund, d.h. nicht eckig, verläuft.The plasma source may have different shapes in a cross section through the plasma source transverse to the axis of the microwave antenna. For example, the plasma source may be trapezoidal, with an upper side of the wall opposite the opening of the plasma source parallel to the plane of the opening and the plasma source wall having flat side surfaces between the upper side and the opening. Other embodiments of the plasma source are bell-shaped with a partially circular wall, wherein the rounding of the wall is arranged on the side opposite the opening of the plasma source side of the wall and a semicircular arc or another portion of a circular arc or oval, elliptical or otherwise round, ie non-angular, runs.
Die Plasmabehandlungsvorrichtung kann eine Durchlaufvorrichtung sein, bei der ein Substrat kontinuierlich und linear und unidirektional, d.h. entlang einer Linie von einem Eingang zu einem Ausgang, durch eine Plasmabehandlungskammer hindurch- und an der Öffnung der Plasmaquelle vorbeibewegt wird, oder eine geschlossene Vorrichtung, bei der ein Substrat in eine Plasmabehandlungskammer eingeschleust, in dieser stationär oder quasistationär behandelt und anschließend wieder ausgeschleust wird. Unter quasistationär soll eine Bewegung des Substrats in Bezug auf die Plasmaquelle verstanden werden, wobei das Substrat jedoch nicht kontinuierlich und linear sowie unidirektional von einem Eingang zu einem Ausgang der Plasmabehandlungskammer bewegt wird. Diese quasistationäre Bewegung kann rotierend, linear, oszillierend oder anders oder eine Kombination verschiedener Bewegungen sen.The plasma processing apparatus may be a continuous type apparatus in which a substrate is continuously and linearly and unidirectionally, i. along a line from an entrance to an exit, through a plasma treatment chamber and past the opening of the plasma source, or a closed device, in which a substrate is introduced into a plasma treatment chamber, treated stationary or quasi-stationary therein and then discharged again. By quasi-stationary is meant a movement of the substrate with respect to the plasma source, but the substrate is not moved continuously and linearly and unidirectionally from an input to an output of the plasma processing chamber. This quasi-stationary movement can be rotating, linear, oscillating or otherwise or a combination of different movements.
In einer ersten Ausführungsform weisen die zwei Teile der Gasleitvorrichtung jeweils einen ersten Bereich, der sich in einer Ebene parallel zu der Ebene der Öffnung der Wandung erstreckt, auf, wobei ein erstes Ende des ersten Bereiches an die Wandung der Plasmaquelle angrenzt.In a first embodiment, the two parts of the gas guiding device each have a first region which extends in a plane parallel to the plane of the opening of the wall, wherein a first end of the first region adjoins the wall of the plasma source.
In einer ersten Ausgestaltung der ersten Ausführungsform weisen die zwei Teile der Gasleitvorrichtung jeweils einen zweiten Bereich auf, der sich von einem zweiten Ende des ersten Bereiches aus geradlinig in einem Winkel größer oder gleich 90° und kleiner 180° in Richtung der Ebene der Öffnung der Wandung erstreckt, wobei das zweite Ende des ersten Bereiches dem ersten Ende des ersten Bereiches gegenüberliegt.In a first embodiment of the first embodiment, the two parts of the Gasleitvorrichtung each have a second region extending from a second end of the first region of straight at an angle greater than or equal to 90 ° and less than 180 ° in the direction of the plane of the opening of the wall extends, wherein the second end of the first region opposite to the first end of the first region.
In einer zweiten Ausgestaltung der ersten Ausführungsform weisen die zwei Teile der Gasleitvorrichtung jeweils einen zweiten Bereich auf, der sich von einem zweiten Ende des ersten Bereiches aus kreisbogenförmig in Richtung der Ebene der Öffnung der Wandung erstreckt, wobei das zweite Ende des ersten Bereiches dem ersten Ende des ersten Bereiches gegenüberliegt und wobei der Radius des Kreisbogens des zweiten Bereiches größer als der Radius des dielektrischen Rohres ist.In a second embodiment of the first embodiment, the two parts of the gas guiding device each have a second region which extends from a second end of the first region of a circular arc in the direction of the plane of the opening of the wall, wherein the second end of the first region of the first end of the first region and wherein the radius of the circular arc of the second region is greater than the radius of the dielectric tube.
In einer besonderen Ausgestaltung der zweiten Ausgestaltung der ersten Ausführungsform ist die Wandung der Plasmaquelle in einem Bereich, der sich von einer Ebene, die parallel zur Ebene der Öffnung der Wandung durch die Achse der Mikrowellenantenne verläuft, in Richtung der der Öffnung gegenüberliegenden Seite der Plasmaquelle erstreckt, als hohler Halbzylinder ausgebildet, wobei der Radius des Halbzylinders größer als der Radius des Kreisbogens des zweiten Bereiches der Gasleitvorrichtung ist.In a particular embodiment of the second embodiment of the first embodiment, the wall of the plasma source is in a region extending from a plane parallel to the plane of the opening of the wall through the axis of the microwave antenna towards the side of the plasma source opposite the opening formed as a hollow half-cylinder, wherein the radius of the half-cylinder is greater than the radius of the circular arc of the second region of the gas guide.
In einer besonderen Ausgestaltung der ersten oder der zweiten Ausgestaltung der ersten Ausführungsform weisen die zwei Teile der Gasleitvorrichtung jeweils einen dritten Bereich auf, der sich von dem zweiten Ende des ersten Bereiches aus geradlinig in einem Winkel größeroder gleich 90° und kleiner 180° in Richtung der der Öffnung gegenüberliegenden Seite der Plasmaquelle erstreckt.In a particular embodiment of the first or second embodiment of the first embodiment, the two parts of the Gasleitvorrichtung each have a third region extending from the second end of the first region of straight at an angle greater than or equal to 90 ° and less than 180 ° in the direction of the opening opposite side of the plasma source extends.
In einer besonderen Ausgestaltung der ersten oder der zweiten Ausgestaltung der ersten Ausführungsform weisen die zwei Teile der Gasleitvorrichtung jeweils einen dritten Bereich auf, der sich von dem zweiten Ende des ersten Bereiches aus kreisbogenförmig in Richtung der der Öffnung gegenüberliegenden Seite der Plasmaquelle erstreckt, wobei der Radius des Kreisbogens des zweiten Bereiches größer als der Radius des dielektrischen Rohres ist. Liegt die zweite Ausgestaltung der ersten Ausführungsform vor, d.h. sind auch die zweiten Bereiche kreisbogenförmig ausgebildet, so ist vorzugsweise der Radius des Kreisbogens des dritten Bereiches gleich dem Radius des Kreisbogens des zweiten Bereiches.In a particular embodiment of the first or second embodiment of the first embodiment, the two parts of the Gasleitvorrichtung each have a third region which extends from the second end of the first region of a circular arc in the direction of the opening opposite side of the plasma source, wherein the radius of the arc of the second region is greater than the radius of the dielectric tube. If the second embodiment of the first embodiment is present, i. If the second regions are also circular-arc-shaped, the radius of the circular arc of the third region is preferably equal to the radius of the circular arc of the second region.
Bei Vorliegen von dritten Bereichen der Gasleitvorrichtung ist vorzugsweise der Abstand zwischen zwei ersten Enden der dritten Bereiche größer 0, aber kleiner als der Abstand zwischen zwei ersten Enden der zweiten Bereiche der zwei Teile der Gasleitvorrichtung. Dabei sind die ersten Enden der zweiten Bereiche und die ersten Enden der dritten Bereiche, jeweils die Enden, die einem zweiten Ende des jeweiligen Bereiches, welches an den ersten Bereich angrenzt, gegenüberliegen.In the presence of third regions of the gas-conducting device, the distance between two first ends of the third regions is preferably greater than 0, but smaller than the distance between two first ends of the second regions of the two parts of the gas-conducting device. In this case, the first ends of the second regions and the first ends of the third regions, in each case the ends, which are opposite to a second end of the respective region which adjoins the first region.
In der ersten Ausführungsform verläuft die Ebene, in der sich die ersten Bereiche erstrecken, vorzugsweise durch die Achse der Mikrowellenantenne.In the first embodiment, the plane in which the first regions extend preferably passes through the axis of the microwave antenna.
In einer anderen bevorzugten Ausgestaltung der ersten Ausführungsform ist die Ebene, in der sich die ersten Bereiche erstrecken, zwischen der Achse der Mikrowellenantenne und der Ebene der Öffnung der Wandung angeordnet.In another preferred embodiment of the first embodiment, the plane in which the first regions extend is arranged between the axis of the microwave antenna and the plane of the opening of the wall.
In einer zweiten Ausführungsform der erfindungsgemäßen Plasmabehandlungsvorrichtung weisen die zwei Teile der Gasleitvorrichtung jeweils einen ersten Bereich auf, der sich von der Wandung aus geradlinig in einem Winkel größer 0 und kleiner 90° in Bezug auf die Ebene der Öffnung der Wandung in Richtung der Ebene der Öffnung der Wandung erstreckt.In a second embodiment of the plasma treatment apparatus according to the invention, the two parts of the gas guiding device each have a first region extending from the wall straight at an angle greater than 0 and less than 90 ° with respect to the plane of the opening of the wall in the direction of the plane of the opening the wall extends.
In einer dritten Ausführungsform der erfindungsgemäßen Plasmabehandlungsvorrichtung ist die Wandung der Plasmaquelle in einem Bereich, der sich von einer Ebene, die parallel zur Ebene der Öffnung der Wandung durch die Achse der Mikrowellenantenne verläuft, in Richtung der der Öffnung gegenüberliegenden Seite der Plasmaquelle erstreckt, als hohler Halbzylinder ausgebildet und die zwei Teile der Gasleitvorrichtung weisen jeweils einen ersten Bereich auf, der sich von der Wandung der Plasmaquelle aus kreisbogenförmig in Richtung der Substratoberfläche erstreckt. Dabei ist der Radius des Halbzylinders gleich den Radien der Kreisbögen der ersten Bereiche der Gasleitvorrichtung und die Mittelpunkte des Halbzylinders und der Kreisbögen der ersten Bereiche fallen mit der Achse der Mikrowellenantenne zusammen. Auch in der zweiten und der dritten Ausführungsform können die zwei Teile der Gasleitvorrichtung wieder zweite Bereiche aufweisen, die sich ähnlich wie mit Bezug auf die erste Ausführungsform beschrieben, von einem zweiten Ende des ersten Bereiches aus erstrecken. Das zweite Ende des ersten Bereiches liegt wieder einem ersten Ende des ersten Bereiches, welches an die Wandung angrenzt, gegenüber. In a third embodiment of the plasma processing apparatus according to the invention, the wall of the plasma source in a region extending from a plane parallel to the plane of the opening of the wall through the axis of the microwave antenna in the direction of the opposite side of the plasma source, as hollow Half cylinder formed and the two parts of the gas guide device each have a first region which extends in a circular arc from the wall of the plasma source in the direction of the substrate surface. The radius of the half-cylinder is equal to the radii of the circular arcs of the first regions of the gas guiding device and the centers of the half-cylinder and the arcs of the first regions coincide with the axis of the microwave antenna. Also in the second and third embodiments, the two parts of the gas guiding device may again have second portions which extend from a second end of the first portion similarly as described with respect to the first embodiment. The second end of the first region is again opposite a first end of the first region which adjoins the wall.
Vorzugsweise liegen in allen Ausführungsformen die Verbindungspunkte der Gasleitvorrichtung mit der Wandung der Plasmaquelle, d.h. die ersten Enden der ersten Bereiche, weiter von der Ebene der Öffnung der Wandung entfernt als der erste Gaseinlass.Preferably, in all embodiments, the connection points of the gas directing device to the wall of the plasma source, i. the first ends of the first regions farther from the plane of the opening of the wall than the first gas inlet.
Vorzugsweise ist die Gasleitvorrichtung in allen Ausführungsformen beweglich an der Wandung der Plasmaquelle angeordnet. Damit kann die Gasleitvorrichtung vorteilhafterweise in ihrer Ausrichtung bezüglich der Ebene der Öffnung der Wandung verändert oder zum Entfernen der Wandung der Plasmaquelle weggeklappt werden.In all embodiments, the gas-conducting device is preferably arranged movably on the wall of the plasma source. Thus, the gas guiding device can advantageously be changed in its orientation with respect to the plane of the opening of the wall or be folded away to remove the wall of the plasma source.
Vorzugsweise weist die Plasmaquelle mehrere Gasleitvorrichtungen auf, wobei jede der Gasleitvorrichtungen in einem Teilbereich der Ausdehnung der Plasmaquelle in Richtung entlang der Achse der Mikrowellenantenne angeordnet ist, der verschieden ist von anderen Teilbereichen, in denen eine andere der Gasleitvorrichtungen angeordnet ist. Mit anderen Worten: Entlang der Ausdehnung der Plasmaquelle entlang der Achse der Mikrowellenantenne können verschiedene Gasleitvorrichtungen angeordnet sein, die jeweils in ihrer Ausgestaltung an die Besonderheiten des jeweiligen Teilbereichs angepasst sind.Preferably, the plasma source comprises a plurality of gas guiding devices, each of the gas guiding devices being arranged in a partial area of the extent of the plasma source in the direction along the axis of the microwave antenna, which is different from other partial areas in which another of the gas guiding devices is arranged. In other words, along the extent of the plasma source along the axis of the microwave antenna, different gas guiding devices can be arranged, each of which is adapted in its design to the peculiarities of the respective subarea.
Nachfolgend wird die Erfindung anhand der Figuren näher erläutert. Dabei sind die Größen der einzelnen Komponenten sowie die Abstände zwischen ihnen nicht maßstabsgerecht abgebildet.The invention will be explained in more detail with reference to the figures. The sizes of the individual components as well as the distances between them are not shown to scale.
Es zeigen:
-
1 eine erfindungsgemäße Plasmabehandlungsvorrichtung mit einer ersten Ausgestaltung einer ersten Ausführungsform der Gasleitvorrichtung und einer ersten Form der Plasmaquelle, -
2 eine erfindungsgemäße Plasmabehandlungsvorrichtung mit der ersten Ausgestaltung der ersten Ausführungsform der Gasleitvorrichtung und einer zweiten Form der Plasmaquelle, -
3 eine erfindungsgemäße Plasmabehandlungsvorrichtung mit einer zweiten Ausgestaltung der ersten Ausführungsform der Gasleitvorrichtung und der ersten Form der Plasmaquelle, -
4 eine erfindungsgemäße Plasmabehandlungsvorrichtung mit einer dritten Ausgestaltung der ersten Ausführungsform der Gasleitvorrichtung und der ersten Form der Plasmaquelle, -
5 eine erfindungsgemäße Plasmabehandlungsvorrichtung mit der dritten Ausgestaltung der ersten Ausführungsform der Gasleitvorrichtung und der zweiten Form der Plasmaquelle, -
6 eine erfindungsgemäße Plasmabehandlungsvorrichtung mit einer vierten Ausgestaltung der ersten Ausführungsform der Gasleitvorrichtung und der ersten Form der Plasmaquelle, -
7 eine erfindungsgemäße Plasmabehandlungsvorrichtung mit einer fünften Ausgestaltung der ersten Ausführungsform der Gasleitvorrichtung und der ersten Form der Plasmaquelle, -
8 eine erfindungsgemäße Plasmabehandlungsvorrichtung mit einer sechsten Ausgestaltung der ersten Ausführungsform der Gasleitvorrichtung und der ersten Form der Plasmaquelle, -
9 eine erfindungsgemäße Plasmabehandlungsvorrichtung mit einer siebten Ausgestaltung der ersten Ausführungsform der Gasleitvorrichtung und der ersten Form der Plasmaquelle, -
10 eine erfindungsgemäße Plasmabehandlungsvorrichtung mit einer zweiten Ausführungsform der Gasleitvorrichtung und der ersten Form der Plasmaquelle und -
11 eine erfindungsgemäße Plasmabehandlungsvorrichtung mit deiner dritten Ausführungsform der Gasleitvorrichtung und der zweiten Form der Plasmaquelle.
-
1 a plasma treatment apparatus according to the invention with a first embodiment of a first embodiment of the gas guiding device and a first form of the plasma source, -
2 a plasma treatment apparatus according to the invention with the first embodiment of the first embodiment of the gas guide device and a second form of the plasma source, -
3 a plasma treatment apparatus according to the invention with a second embodiment of the first embodiment of the gas guiding device and the first form of the plasma source, -
4 a plasma treatment apparatus according to the invention with a third embodiment of the first embodiment of the gas guiding device and the first form of the plasma source, -
5 a plasma treatment apparatus according to the invention with the third embodiment of the first embodiment of the gas guide device and the second form of the plasma source, -
6 a plasma treatment apparatus according to the invention with a fourth embodiment of the first embodiment of the gas guiding device and the first form of the plasma source, -
7 a plasma treatment apparatus according to the invention with a fifth embodiment of the first embodiment of the gas guiding device and the first form of the plasma source, -
8th a plasma treatment apparatus according to the invention with a sixth embodiment of the first embodiment of the gas guiding device and the first form of the plasma source, -
9 FIG. 2 shows a plasma treatment device according to the invention with a seventh embodiment of the first embodiment of the gas-conducting device and the first form of the plasma source, FIG. -
10 a plasma treatment apparatus according to the invention with a second embodiment of the gas guide and the first form of the plasma source and -
11 a plasma treatment apparatus according to the invention with your third embodiment of the gas guide and the second form of the plasma source.
Dabei sind jeweils Querschnitte quer zur Achse einer Mikrowellenantenne dargestellt.In each case, cross sections are shown transversely to the axis of a microwave antenna.
Innerhalb der Wandung
Nahe der Öffnung
An einer oberen Seite der Wandung
Erfindungsgemäß enthält die Plasmaquelle
Die konkrete Dimensionierung des Abstandes
Die Plasmaquelle
In den folgenden Figuren ist jeweils nur noch die Plasmaquelle
Die Magnetvorrichtungen
In
Die in
Durch die Wahl der Abstände
In ähnlicher Weise kann auch die in
Selbstverständlich können auch Ausgestaltungen der Gasleitvorrichtung ausgebildet werden, bei der kreisbogenförmige zweite Bereiche mit ebenen dritten Bereichen und ggf. einem Verbindungsbereich oder ebene zweite Bereiche mit kreisförmigen dritten Bereichen kombiniert sind. Auch eine Ausbildung von weiteren Bereichen, die an den ersten Enden der zweiten oder dritten Bereiche angrenzen, kreisbogenförmig oder eben ausgebildet sind und damit eine weitere definierte Gestaltung des Strömungswegs des zweiten Gases ermöglichen, sind möglich. Allen bisher dargestellten Ausgestaltungen der ersten Ausführungsform der Gasleitvorrichtung
Auch die Gasleitvorrichtung
Die angegebenen Werte für Abstände und Breiten von Öffnungen sind für alle Ausgestaltungen ähnlich (soweit sie vorkommen) und können entsprechend der konkreten Anforderungen an die Plasmabehandlung, bspw. mit Hilfe von Simulationen, ausgewählt werden. Die Öffnung der Gasleitvorrichtung
Um eine Entfernung der Wandung
Vorzugsweise ist die Plasmaquelle
Komponenten der genannten Möglichkeiten zur Ausgestaltung der Gasleitvorrichtung
BezugszeichenlisteLIST OF REFERENCE NUMBERS
- 11
- PlasmabehandlungsvorrichtungThe plasma processing apparatus
- 1010
- PlasmabehandlungskammerPlasma processing chamber
- 1111
- Wand der PlasmakammerWall of the plasma chamber
- 12, 1312, 13
- Öffnungen zum Ein- und Ausbringen eines SubstratsOpenings for insertion and removal of a substrate
- 1414
- GasabpumpöffnungGasabpumpöffnung
- 22
- Substratträgersubstrate carrier
- 2121
- Substratsubstratum
- 2222
- Substratoberflächesubstrate surface
- 33
- Plasmaquelleplasma source
- 3030
- Wandung der PlasmaquelleWall of the plasma source
- 30a 30a
- Unterer Teilbereich der WandungLower part of the wall
- 3131
- Öffnung der WandungOpening of the wall
- 3232
- Mikrowellenantennemicrowave antenna
- 3333
- Dielektrisches RohrDielectric pipe
- 3434
- Magnetvorrichtungmagnetic device
- 35a, 35b35a, 35b
- Erster GaseinlassFirst gas inlet
- 3636
- Zweiter GaseinlassSecond gas inlet
- 3737
- PlasmaerzeugungsbereichPlasma generation region
- 3838
- PlasmabehandlungszonePlasma treatment zone
- 3939
- Verbindungzoneconnecting zone
- 4040
- Gasleitvorrichtunggas guide
- 40a, 40b40a, 40b
- Teile der GasleitvorrichtungParts of the gas guiding device
- 41, 41', 41"41, 41 ', 41 "
- Erster Bereich der GasleitvorrichtungFirst area of the gas guiding device
- 411411
- Erstes Ende des ersten BereichesFirst end of the first area
- 412412
- Zweites Ende des ersten BereichesSecond end of the first area
- 4242
- Zweiter Bereich der GasleitvorrichtungSecond area of the gas guiding device
- 421421
- Erstes Ende des zweiten BereichesFirst end of the second area
- 422422
- Zweites Ende des zweiten BereichesSecond end of the second area
- 4343
- Dritter Bereich der GasleitvorrichtungThird area of the gas guiding device
- 431431
- Erstes Ende des dritten BereichesFirst end of the third area
- 432432
- Zweites Ende des dritten BereichesSecond end of the third area
- 4444
- Verbindungsbereich zwischen den dritten Bereichen der GasleitvorrichtungConnecting region between the third regions of the gas guiding device
- DaThere
- Durchmesser des dielektrischen RohresDiameter of the dielectric tube
- Didi
- Durchmesser der MikrowellenantenneDiameter of the microwave antenna
- HH
- Abstand zwischen Öffnung der Wandung und Achse der MikrowellenantenneDistance between the opening of the wall and the axis of the microwave antenna
- H0H0
- Abstand zwischen Substratoberfläche und Öffnung der WandungDistance between substrate surface and opening of the wall
- H1H1
- Abstand zwischen Öffnung der Gasleitvorrichtung zur Substratoberfläche und Achse der MikrowellenantenneDistance between opening of the gas guide device to the substrate surface and axis of the microwave antenna
- H2H2
- Abstand zwischen Ebene der ersten Bereiche und Achse der MikrowellenantenneDistance between plane of the first regions and axis of the microwave antenna
- H3H3
- Abstand zwischen Ebene der ersten Enden der dritten Bereiche und der Achse der MikrowellenantenneDistance between the plane of the first ends of the third regions and the axis of the microwave antenna
- RR
- Radius des WandungRadius of the wall
- R1R1
- Radius des Kreisbogens der zweiten BereicheRadius of the arc of the second areas
- SS
- Breite der Öffnung der Gasleitvorrichtung zur Öffnung der WandungWidth of the opening of the gas guiding device for opening the wall
- S0S0
- Breite der Öffnung der WandungWidth of the opening of the wall
- S1S1
- Abstand zwischen zweiten Enden der ersten BereicheDistance between second ends of the first areas
- S2S2
- Abstand zwischen ersten Enden der dritten BereicheDistance between first ends of the third areas
ZITATE ENTHALTEN IN DER BESCHREIBUNG QUOTES INCLUDE IN THE DESCRIPTION
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Zitierte PatentliteraturCited patent literature
- DE 19812558 B4 [0002]DE 19812558 B4 [0002]
- EP 3309815 A1 [0003]EP 3309815 A1 [0003]
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Legal Events
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