DE102017213800A1 - Method for generating an updated model part for components in a coordinate measurement in a production line - Google Patents
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Abstract
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Erzeugen eines aktualisierten Modellteiles für Bauteile bei einer Koordinatenmessung in einer Produktionslinie, wobei das Verfahren die Schritte aufweist:- Zuführen von wenigen defektarmen Muster-Bauteilen in die Produktionslinie,- Erstellen von Muster-Messwerten der wenigen Muster-Bauteile mittels einer Koordinatenmessmaschine,- Speichern der Muster-Messwerte zu einem Datensatz,- Erzeugen und Speichern eines ersten Modellteiles auf der Basis des Datensatzes,- Zuführen eines Untersuchungs-Bauteiles in die Produktionslinie,- Erstellen und Speichern von Untersuchungs-Messwerten von dem Untersuchungs-Bauteil mittels der Koordinatenmessmaschine in der Produktionslinie,- Vergleich der Untersuchungs-Messwerte mit dem ersten Modellteil,- Klassifizieren der Untersuchungs-Messwerte als defektarm oder defektreich,- Hinzufügen der Untersuchungs-Messwerte zu dem Datensatz und damit Erzeugen eines aktualisierten Datensatzes, wenn die Untersuchungs-Messwerte als defektarm klassifiziert wurden, und Verwerfen der Untersuchungs-Messwerte, wenn diese als defektreich klassifiziert wurden,- Erzeugen eines aktualisierten zweiten Modellteiles auf der Basis des aktualisierten Datensatzes.The invention relates to a method for producing an updated model part for components in a coordinate measurement in a production line, the method comprising the steps of: - feeding a few low-defect pattern components into the production line, - producing pattern measured values of the few sample components by means of a coordinate measuring machine, - storing the pattern measured values for a data set, - generating and storing a first model part on the basis of the data set, - feeding an examination component into the production line, - creating and storing examination measured values from the examination component by means of the coordinate measuring machine in the production line, - comparison of the examination measured values with the first model part, - classification of the examination measured values as low-defect or defect-rich, - adding the examination measured values to the dataset and thus generating an updated dataset, if the examination measurement have been classified as being low in defects, and discarding the assay measurements if they have been classified as defective, generating an updated second model based on the updated data set.
Description
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Erzeugen eines aktualisierten Modellteiles für Bauteile bei einer Koordinatenmessung in einer Produktionslinie.The invention relates to a method for producing an updated model part for components in a coordinate measurement in a production line.
Bei einer Koordinatenmessung kann ein Modellteil verwendet werden, um Defekte oder Anomalien eines zu prüfenden Bauteiles, welches nachfolgend als Untersuchungs-Bauteil bezeichnet ist, zu erkennen. Um ein Modellteil zu erzeugen, wird zunächst eine große Anzahl an defektarmen Bauteilen, welche keine oder wenige Defekte aufweisen, mittels einer Koordinatenmessmaschine vermessen. Diese Bauteile sind nachfolgend als Muster-Bauteile bezeichnet. Durch ein solches Vermessen werden von jedem Muster-Bauteil jeweilige Muster-Messwerte erstellt, die dann zu einem Datensatz gespeichert werden. Auf Basis dieses Datensatzes wird ein Modellteil erzeugt, das auch als „Golden Part“ bezeichnet wird. Dieses Modellteil ist kein tatsächlich vorhandenes Bauteil, sondern eine Datensammlung, welche ein defektarmes Bauteil mit zulässigen Toleranzen repräsentiert. Das Modellteil kann zum Beispiel durch Mittelwertbildung der Muster-Messwerte erzeugt werden, wobei die Maße des Modellteils ein Normal für die Klassifizierung von Messwerten eines Untersuchungs-Bauteiles bilden.In a coordinate measurement, a model part can be used to detect defects or anomalies of a component to be tested, which is referred to below as the examination component. In order to produce a model part, first a large number of low-defect components, which have no or few defects, are measured by means of a coordinate measuring machine. These components are hereinafter referred to as pattern components. By means of such a measurement, each pattern component is used to generate respective pattern measured values, which are then stored in a data record. On the basis of this data set, a model part is generated, which is also called "Golden Part". This model part is not actually a component, but a data collection, which represents a low-defect component with allowable tolerances. The model part can be generated, for example, by averaging the pattern measurement values, the dimensions of the model part forming a standard for the classification of measurement values of an examination component.
Werden von einem Untersuchungs-Bauteil zugehörige Untersuchungs-Messwerte erstellt, können diese mit dem Modellteil verglichen werden. Dabei lässt sich feststellen, ob die Untersuchungs-Messwerte mit dem Modellteil übereinstimmen oder nicht. Dies bedeutet, dass mittels des Modellteiles eine Klassifizierung des Untersuchungs-Bauteiles als „gut“ oder „schlecht“ vorgenommen werden kann.If test data associated with an examination component are created, these can be compared with the model part. It can be determined whether or not the examination measured values match the model part. This means that by means of the model part, a classification of the examination component as "good" or "bad" can be made.
Ein Nachteil bei diesem Verfahren besteht darin, dass für das Erzeugen eines guten Modellteiles mehrere hundert Muster-Bauteile erforderlich sind. Das Vermessen von einer so großen Zahl von Muster-Bauteilen erfordert sehr viel Zeit. Je nach Komplexität des Muster-Bauteiles kann dies mehrere Tage Messzeit bedeuten, an denen die Koordinatenmessmaschine für andere Aufgaben nicht zur Verfügung steht. Nach einem solchen Vermessen ist es erforderlich, die dadurch erstellten Muster-Messwerte an einen Zulieferer zu senden, der mittels dieser Muster-Messwerte einen Datensatz erstellt, aus welchem sich ein Modellteil erzeugen lässt. Der Datensatz für dieses Modellteil muss daraufhin der Koordinatenmessmaschine zugeführt werden, sodass anschließend ein Vergleich des Modellteiles mit Untersuchungs-Messwerten erfolgen kann. Dies nimmt ebenfalls mehrere Tage in Anspruch, sodass in einer Fertigungsumgebung insgesamt mindestens zwei Wochen eingeplant werden müssen, bis ein Modellteil in einer Koordinatenmessmaschine verfügbar ist.A disadvantage with this method is that several hundred pattern components are required to produce a good model part. Measuring such a large number of sample components requires a lot of time. Depending on the complexity of the sample component, this can mean several days of measuring time at which the coordinate measuring machine is not available for other tasks. After such a measurement, it is necessary to send the pattern measured values created thereby to a supplier who uses these pattern measured values to create a data record from which a model part can be generated. The data set for this model part must then be fed to the coordinate measuring machine, so that subsequently a comparison of the model part with examination measured values can take place. This also takes several days, so that in a manufacturing environment a total of at least two weeks must be scheduled until a model part is available in a coordinate measuring machine.
Falls geänderte oder neue Untersuchungs-Bauteile zu vermessen sind, muss dies also mindestens zwei Wochen vorher bekannt sein, um einen Stillstand der Koordinatenmessmaschine zu vermeiden. Eine solche Situation ist sehr nachteilig, wenn eine schnelle Reaktion auf Bauteiländerungen erfolgen soll oder kurzfristig entschieden wird, dass ein anderes Bauteil zu vermessen ist. Dieser Umstand ist besonders nachteilig, wenn die Koordinatenmessmaschine in einer Produktionslinie eingesetzt wird und nur für die Messaufgabe in dieser Produktionslinie verwendet werden kann. Der große Zeitaufwand für das Erzeugen des Modellteiles bedeutet somit einen Produktionsstillstand. In einer Produktion mit einer Taktrate von wenigen Minuten oder Sekunden ist ein solcher Zustand ein großes Ärgernis.If changed or new inspection components are to be measured, this must therefore be known at least two weeks in advance in order to avoid a standstill of the coordinate measuring machine. Such a situation is very disadvantageous if a quick reaction to component changes is to take place or it is decided at short notice that another component is to be measured. This circumstance is particularly disadvantageous if the coordinate measuring machine is used in a production line and can only be used for the measuring task in this production line. The large amount of time required to produce the model part thus means a production standstill. In a production with a clock rate of a few minutes or seconds, such a condition is a great annoyance.
Es ist eine Aufgabe der Erfindung, ein Verfahren anzugeben, mit dem ein Modellteil für Bauteile bei einer Koordinatenmessung in einer Produktionslinie in kurzer Zeit von wenigen Stunden oder Minuten auf einfache Weise erzeugt werden kann.It is an object of the invention to provide a method by which a model part for components in a coordinate measurement in a production line in a short time of a few hours or minutes can be generated in a simple manner.
Die Aufgabe wird durch den Gegenstand des unabhängigen Anspruchs gelöst. Vorteilhafte Weiterbildungen sind Gegenstand der abhängigen Ansprüche.The object is solved by the subject matter of the independent claim. Advantageous developments are the subject of the dependent claims.
Das erfindungsgemäße Verfahren zum Erzeugen eines aktualisierten Modellteiles für Bauteile bei einer Koordinatenmessung in einer Produktionslinie weist die folgenden Schritte auf:
- - Zuführen von wenigen defektarmen Muster-Bauteilen in die Produktionslinie,
- - Erstellen von Muster-Messwerten der wenigen Muster-Bauteile mittels einer Koordinatenmessmaschine,
- - Speichern der Muster-Messwerte zu einem Datensatz,
- - Erzeugen und Speichern eines ersten Modellteiles auf der Basis des Datensatzes,
- - Zuführen eines Untersuchungs-Bauteiles in die Produktionslinie,
- - Erstellen und Speichern von Untersuchungs-Messwerten von dem Untersuchungs-Bauteil mittels der Koordinatenmessmaschine in der Produktionslinie,
- - Vergleich der Untersuchungs-Messwerte mit dem ersten Modellteil,
- - Klassifizieren der Untersuchungs-Messwerte als defektarm oder defektreich,
- - Hinzufügen der Untersuchungs-Messwerte zu dem Datensatz und damit Erzeugen eines aktualisierten Datensatzes, wenn die Untersuchungs-Messwerte als defektarm klassifiziert wurden, und Verwerfen der Untersuchungs-Messwerte, wenn diese als defektreich klassifiziert wurden,
- - Erzeugen eines aktualisierten zweiten Modellteiles auf der Basis des aktualisierten Datensatzes.
- Feeding a few low-defect sample components into the production line,
- Creating pattern measurements of the few sample components by means of a coordinate measuring machine,
- Saving the pattern measured values to a data record
- Generating and storing a first model part on the basis of the data set,
- Feeding a test component into the production line,
- Creation and storage of examination measured values from the examination component by means of the coordinate measuring machine in the production line,
- Comparison of the examination measured values with the first model part,
- Classifying the test measurement values as low-defect or defective,
- Add the exam measurements to the dataset and thus generate a updated record, if the test measurements were classified as low in defects, and discarding the test measurements if they were classified as defective,
- Generating an updated second model part based on the updated data set.
Es werden also zunächst wenige defektarme Muster-Bauteile in die Produktionslinie zugeführt, um diese dort mittels einer Koordinatenmessmaschine zu vermessen. Bei den wenigen Muster-Bauteilen handelt es sich bevorzugt um weniger als 100 Muster-Bauteile, besonders bevorzugt um weniger als 50 Muster-Bauteile und ganz besonders bevorzugt um weniger als 20 Muster-Bauteile. Die wenigen Muster-Bauteile genügen zunächst, um ein erstes Modellteil zu erzeugen.Thus, firstly a few low-defect sample components are fed into the production line in order to measure them there by means of a coordinate measuring machine. The few sample components are preferably less than 100 sample components, more preferably less than 50 sample components, and most preferably less than 20 sample components. The few sample components are initially enough to produce a first model part.
Daraufhin wird ein Untersuchungs-Bauteil in die Produktionslinie zugeführt, um mittels der Koordinatenmessmaschine Untersuchungs-Messwerte zu erstellen und zu speichern. Die Untersuchungs-Messwerte werden dann mit dem ersten Modellteil verglichen und eine Klassifizierung der Untersuchungs-Messwerte als defektarm oder defektreich vorgenommen. Diese Klassifizierung erfolgt durch einen Algorithmus, der zum Beispiel eine Differenz zwischen den jeweiligen Messwerten bildet. Wenn zum Beispiel die Differenz für eine vorbestimmte Zahl von Messwerten unterhalb eines definierten Betrages liegt, können die Untersuchungs-Messwerte insgesamt als „defektarm‟ klassifiziert werden. Wenn die Untersuchungs-Messwerte als defektarm klassifiziert werden, ist das Untersuchungs-Bauteil somit „gut“ oder „in Ordnung“, woraufhin diese Untersuchungs-Messwerte zu dem vorhandenen Datensatz hinzugefügt werden, sodass ein aktualisierter Datensatz gebildet wird. Damit erhöht sich die Anzahl der Messwerte, die eine Grundlage für das Erzeugen eines aktualisierten Datensatzes bilden, woraufhin ein aktualisiertes Modellteil erzeugt werden kann.Subsequently, an examination component is fed into the production line in order to create and store examination measured values by means of the coordinate measuring machine. The examination measured values are then compared with the first model part and a classification of the examination measured values is carried out as low-defect or defective. This classification is carried out by an algorithm which, for example, forms a difference between the respective measured values. For example, if the difference for a predetermined number of readings is below a defined amount, the test readings may be classified as "low-defect" overall. Thus, if the assay measurements are classified as low in defect, then the assay component is "good" or "okay", after which these assay measurements are added to the existing data set, forming an updated data set. This increases the number of measured values which form the basis for generating an updated data record, whereupon an updated model part can be generated.
Wird ein weiteres Untersuchungs-Bauteil in die Produktionslinie zugeführt und vermessen, werden weitere Untersuchungs-Messwerte erstellt und gespeichert, welche mit dem aktualisierten Modellteil verglichen werden können. Wird bei der Klassifizierung der Untersuchungs-Messwerte festgestellt, dass die Untersuchungs-Messwerte als defektarm klassifiziert werden können, werden auch diese weiteren Untersuchungs-Messwerte zu dem zuvor aktualisierten Datensatz hinzugefügt, sodass ein erneut aktualisierter Datensatz erstellt wird. Damit kann ein erneut aktualisiertes Modellteil erzeugt werden.If a further examination component is fed into the production line and measured, further examination measured values are created and stored, which can be compared with the updated model part. If it is determined during the classification of the test measurement values that the test measurement values can be classified as having low defects, these further test measurement values are also added to the previously updated data record so that a newly updated data record is created. This allows a newly updated model part to be generated.
Sollte jedoch bei der Klassifizierung festgestellt werden, dass die Untersuchungs-Messwerte nicht als defektarm, sondern als defektreich bewertet werden müssen, werden die Untersuchungs-Messwerte verworfen und nicht mehr zu dem vorhandenen Datensatz hinzugefügt.However, if it should be determined during the classification that the test measurement values must be evaluated as defective rather than having low defects, the test measurement values are discarded and no longer added to the existing data set.
Durch das erfindungsgemäße Verfahren wird somit erreicht, dass nach relativ kurzer Zeit von nur wenigen Stunden oder Minuten ein Vermessen von Untersuchungs-Bauteilen in einer Produktionslinie möglich ist, wobei das einer Klassifizierung zugrunde liegende Modellteil mit zunehmender Anzahl von Untersuchungs-Bauteilen immer mehr aktualisiert wird, falls die Untersuchungs-Messwerte als defektarm klassifiziert wurden. Damit kann das Modellteil während der Produktion und Vermessung von Untersuchungs-Bauteilen immer genauer werden.The inventive method is thus achieved that after a relatively short time of only a few hours or minutes measuring of test components in a production line is possible, the model part underlying a classification is increasingly updated with increasing number of examination components, if the test measurements were classified as low in defects. This allows the model part to become more and more accurate during the production and measurement of inspection components.
Die Erfindung basiert somit auf dem Gedanken, dass nicht mehrere hundert Untersuchungs-Bauteile vermessen werden müssen, um ein gutes Modellteil zu erzeugen. Stattdessen genügt es, wenige defektarme Muster-Bauteile für das Erzeugen eines ersten Modellteiles zu verwenden und sukzessive mit jedem daraufhin der Produktionslinie zugeführten Untersuchungs-Bauteil den Datensatz zu aktualisieren und zu verfeinern, der für das Erzeugen eines aktualisierten Modellteiles erforderlich ist.The invention is thus based on the idea that not several hundred inspection components must be measured in order to produce a good model part. Instead, it is sufficient to use a few low-defect pattern components for the production of a first model part, and to successively update and refine the data set required for generating an updated model part with each examination component subsequently fed to the production line.
Gemäß einer Weiterbildung der Erfindung wird nach dem Verwerfen der Untersuchungs-Messwerte eine erneute Klassifizierung als defektarm oder defektreich durch einen Benutzer ermöglicht. An einer grafischen Benutzerschnittstelle (graphical user interface) kann der Benutzer somit überprüfen, ob die angeblich defektreichen Untersuchungs-Messwerte tatsächlich als defektreich klassifiziert werden müssen. Dies ist vorteilhaft, wenn bei einer noch geringen Anzahl von Untersuchungs-Messwerten, die eine Aktualisierung des Datensatzes bewirkt haben, das vorhandene Modellteil noch nicht die hohe Qualität aufweist, die der Benutzer benötigt.According to a development of the invention, after discarding the examination measured values, a new classification as a low-defect or defect-rich by a user is made possible. On a graphical user interface (graphical user interface), the user can thus check whether the alleged defect-rich examination measured values must indeed be classified as defective. This is advantageous if, with a still small number of examination readings which have effected an update of the data record, the existing model part does not yet have the high quality that the user requires.
Bevorzugt werden dann die Untersuchungs-Messwerte zu dem Datensatz hinzugefügt und damit ein aktualisierter Datensatz erzeugt und gespeichert, wenn die Untersuchungs-Messwerte vom Benutzer als defektarm klassifiziert wurden. Wenn der Benutzer die Untersuchungs-Messwerte jedoch als defektreich klassifiziert, werden die Untersuchungs-Messwerte verworfen. Durch eine solche manuelle vom Benutzer vorgenommene Klassifizierung ist eine schnellere Steigerung der Qualität des Modellteiles erreichbar.Preferably, the examination measured values are then added to the data set and thus an updated data record is generated and stored if the examination measured values have been classified by the user as being low in defects. However, if the user classifies the examination measurements as defective, the examination measurements are discarded. By such a manual classification made by the user, a faster increase in the quality of the model part can be achieved.
Bevorzugt ist die Koordinatenmessung eine Messung mittels eines Computertomographen. Bei einer Messung mittels eines Computertomographen werden sehr viele Daten aufgenommen, sodass durch das erfindungsgemäße Verfahren eine große Zeitersparnis erreichbar ist.The coordinate measurement is preferably a measurement by means of a computer tomograph. In a measurement by means of a computed tomography device, a large amount of data is recorded, so that a great saving of time can be achieved by the method according to the invention.
Weitere Vorteile und Merkmale der Erfindung werden mit Bezug auf die nachfolgende Zeichnung erklärt, in welcher zeigt:
-
1 eine schematische Darstellung von Schritten gemäß einer bevorzugten Ausführungsform des erfindungsgemäßen Verfahrens.
-
1 a schematic representation of steps according to a preferred embodiment of the method according to the invention.
Gemäß Schritt
In einem Schritt
In Schritt
Wenn die Untersuchungs-Messwerte als defektarm klassifiziert werden, erfolgt in Schritt
Wenn in Schritt
Gemäß einer weiteren Ausführungsform kann nach dem Vermessen von einer vorbestimmten Zahl von Untersuchungs-Bauteilen, wie zum Beispiel von 300 Untersuchungs-Bauteilen, auf den Schritt
Claims (5)
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DE102017213800.9A DE102017213800A1 (en) | 2017-08-08 | 2017-08-08 | Method for generating an updated model part for components in a coordinate measurement in a production line |
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DE102017213800A1 true DE102017213800A1 (en) | 2019-02-14 |
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DE102017213800.9A Ceased DE102017213800A1 (en) | 2017-08-08 | 2017-08-08 | Method for generating an updated model part for components in a coordinate measurement in a production line |
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2017
- 2017-08-08 DE DE102017213800.9A patent/DE102017213800A1/en not_active Ceased
Non-Patent Citations (3)
Title |
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R002 | Refusal decision in examination/registration proceedings | ||
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