DE102017211070A1 - Microscope with a microscope objective and with a tweezers device and method for operating a microscope - Google Patents
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Abstract
Der hier vorgestellte Ansatz betrifft eine Pinzettenvorrichtung (105), insbesondere für ein Mikroskopobjektiv (100), zum Entfernen zumindest eines Partikels (110) auf einer zu reinigenden Oberfläche (115). Die Pinzettenvorrichtung (105) umfasst eine erste Nadel (120), eine zweite Nadel (125) und eine Löseeinrichtung (130). Die erste Nadel (120) weist eine erste Nadelspitze (135) und die zweite Nadel (125) eine zweite Nadelspitze (140) auf. Die Löseeinrichtung (130) ist mit der ersten Nadel (120) und der zweiten Nadel (125) gekoppelte oder koppelbar und dazu ausgebildet, um zwischen der ersten Nadelspitze (135) und der zweiten Nadelspitze (140) eine elektrische Spannung anzulegen, um ein Entladen zwischen der ersten Nadelspitze (135) und der zweiten Nadelspitze (140) zu ermöglichen, wenn die Pinzettenvorrichtung (105) benachbart zu dem Partikel (110) angeordnet ist. The approach presented here relates to a forceps device (105), in particular for a microscope objective (100), for removing at least one particle (110) on a surface (115) to be cleaned. The tweezer device (105) comprises a first needle (120), a second needle (125) and a release device (130). The first needle (120) has a first needle tip (135) and the second needle (125) has a second needle tip (140). The release device (130) is coupled or coupleable to the first needle (120) and the second needle (125) and adapted to apply a voltage between the first needle tip (135) and the second needle tip (140) to discharge between the first needle tip (135) and the second needle tip (140) when the tweezer device (105) is positioned adjacent to the particle (110).
Description
Eine prinzipiell endgereinigte Oberfläche ist oft dennoch mit abzählbar wenigen Partikeln in einem Größenbereich von 5 µm bis 100 µm verunreinigt, die aus einem letzten Reinigungsschritt verblieben sind oder danach durch Handhabung oder Lagerung in einem nicht unendlich partikelfreien Reinraum hinzugekommen sind. Diese Partikel werden im Folgenden üblicherweise durch Abpusten mit einem makroskopischen Gasstrom, optimal mit ionisiertem Stickstoff, oder durch Abpusten mit einem lokalen Gasstrom und Impulsschaltung oder durch mechanisches Greifen mittels eines Einhaar-Pinsels entfernt.A basically finished surface is often nevertheless contaminated with countably few particles in a size range of 5 .mu.m to 100 .mu.m, which have remained from a final purification step or have subsequently been added by handling or storage in a not infinitely particle-free clean room. These particles are usually subsequently removed by blowing off with a macroscopic gas stream, optimally with ionized nitrogen, or by blowing off with a local gas stream and impulse circuit or by mechanical gripping by means of a one-hair brush.
Der vorliegende Ansatz bezieht sich auf eine Pinzettenvorrichtung für ein Mikroskopobjektiv zum Entfernen zumindest eines Partikels auf einer zu reinigenden Oberfläche, ein Mikroskopobjektiv mit einer Pinzettenvorrichtung, ein Mikroskop mit einer Pinzettenvorrichtung und ein Verfahren zum Betreiben einer Pinzettenvorrichtung sowie ein entsprechendes Steuergerät und Computerprogrammprodukt.The present approach relates to a tweezer device for a microscope objective for removing at least one particle on a surface to be cleaned, a microscope objective with a forceps device, a microscope with a forceps device and a method for operating a forceps device, and a corresponding control device and computer program product.
Offenbarung der ErfindungDisclosure of the invention
Vor diesem Hintergrund werden mit dem vorliegenden Ansatz eine Pinzettenvorrichtung für ein Mikroskopobjektiv zum Entfernen zumindest eines Partikels auf einer zu reinigenden Oberfläche, weiterhin ein Mikroskopobjektiv mit einer Pinzettenvorrichtung, ferner ein Mikroskop mit einer Pinzettenvorrichtung und ein Verfahren zum Betreiben einer Pinzettenvorrichtung gemäß den Hauptansprüchen vorgestellt. Vorteilhafte Ausgestaltungen ergeben sich aus den jeweiligen Unteransprüchen und der nachfolgenden Beschreibung.Against this background, the present approach proposes a tweezer device for a microscope objective for removing at least one particle on a surface to be cleaned, a microscope objective with a forceps device, a microscope with a forceps device and a method for operating a forceps device according to the main claims. Advantageous embodiments emerge from the respective subclaims and the following description.
Die mit dem vorgestellten Ansatz erreichbaren Vorteile bestehen darin, dass eine hier vorgestellte Pinzettenvorrichtung dazu ausgebildet ist, um im Bereich eines Partikels eine Spannung anzulegen, die eine notwendige sehr hohe Kraft zum Lockern oder Lösen des Partikels von einer Oberfläche bereitstellt.The advantages that can be achieved with the presented approach are that a tweezer device presented here is designed to apply a voltage in the region of a particle which provides a necessary very high force for loosening or loosening the particle from a surface.
Eine Pinzettenvorrichtung, insbesondere für ein Mikroskopobjektiv, zum Entfernen zumindest eines Partikels auf einer zu reinigenden Oberfläche umfasst eine erste Nadel, eine zweite Nadel und eine Löseeinrichtung. Die erste Nadel weist eine erste Nadelspitze und die zweite Nadel eine zweite Nadelspitze auf. Die Löseeinrichtung ist mit der ersten Nadel und der zweiten Nadel gekoppelte oder koppelbar und dazu ausgebildet, um zwischen der ersten Nadelspitze und der zweiten Nadelspitze eine elektrische Spannung anzulegen, um ein Entladen zwischen der ersten Nadelspitze und der zweiten Nadelspitze zu ermöglichen, wenn die Pinzettenvorrichtung benachbart zu dem Partikel angeordnet ist. So kann das Partikel durch das Entladen von der Oberfläche gelöst oder zumindest gelockert werden.A forceps device, in particular for a microscope objective, for removing at least one particle on a surface to be cleaned, comprises a first needle, a second needle and a release device. The first needle has a first needle tip and the second needle has a second needle tip. The release means is coupled or coupleable to the first needle and the second needle and adapted to apply an electrical voltage between the first needle tip and the second needle tip to allow discharge between the first needle tip and the second needle tip when the forceps device adjacent is arranged to the particle. Thus, the particle can be solved by unloading from the surface or at least loosened.
Hierbei ist es demnach von Vorteil, wenn die erste Nadel und die zweite Nadel elektrisch leitfähig ausgeformt sind. Bei der elektrischen Spannung kann es sich beispielsweise um eine elektrische Hochspannung von zumindest 1 kV handeln. Bei der Oberfläche kann es sich um eine Glasoberfläche handeln. Durch die hier vorgestellte Pinzettenvorrichtung ist vorteilhafterweise ein Lockern und/oder Lösen des Partikels von der Oberfläche durch eine mittels einer Spannungsentladung der elektrischen Spannung zwischen den zwei genannten Nadelspitzen ausgelöste Druckwelle und/oder entstandene Feldstärke ermöglicht.It is therefore advantageous if the first needle and the second needle are formed electrically conductive. The electrical voltage may be, for example, an electrical high voltage of at least 1 kV. The surface may be a glass surface. By means of the tweezers device presented here, it is advantageously possible to loosen and / or release the particle from the surface by means of a pressure wave triggered by means of a voltage discharge of the electrical voltage between the two mentioned needle tips and / or resulting field strength.
Um die Pinzettenvorrichtung in Verbindung mit einem Mikroskop nutzen zu können, das sehr kleine Partikel mit einer Größe von beispielsweise 5 µm bis 100 µm sichtbar macht, ist es von Vorteil, wenn die Pinzettenvorrichtung gemäß einer Ausführungsform eine Gehäuseeinrichtung aufweist, die mit einem Mikroskopobjektiv des Mikroskops koppelbar ausgeformt ist. Bei dem Mikroskopobjektiv kann es sich beispielsweise um ein Auflicht-Mikroskopobjektiv handeln. Die Gehäuseeinrichtung kann als ein aufsteckbarer Aufsatz ausgeformt sein, der auf oder an das Mikroskopobjektiv steckbar ausgeformt ist und hier beispielsweise durch eine Schraube an dem Mikroskopobjektiv fixierbar ist. Die Gehäuseeinrichtung kann außerdem dazu ausgeformt sein, um die erste Nadel und/oder die zweite Nadel aufzunehmen, beispielsweise derart, dass die zwei Nadelspitzen einander zugewandt angeordnet sind.In order to use the tweezer device in conjunction with a microscope that makes very small particles with a size of, for example, 5 microns to 100 microns visible, it is advantageous if the tweezers device according to one embodiment has a housing device with a microscope objective of the microscope is formed coupled. The microscope objective may be, for example, a reflected-light microscope objective. The housing device may be formed as a plug-on attachment, which is designed to be plug-in on or on the microscope objective and can be fixed here to the microscope objective, for example by a screw. The housing means may also be shaped to receive the first needle and / or the second needle, for example, such that the two needle tips are disposed facing each other.
Wenn die Gehäuseeinrichtung hierbei beispielsweise gemäß einer weiteren vorteilhaften Ausführungsform im Wesentlichen ringförmig ausgeformt ist, können die Nadeln jeweils schräg in der ringförmig ausgeformten Gehäuseeinrichtung aufgenommen sein, insbesondere wobei die erste Nadelspitze und/oder die zweite Nadelspitze angeordnet sein können, um in einen Bereich einer Öffnung der ringförmig ausgeformten Gehäuseeinrichtung zu ragen. In diese Öffnung wiederum kann das Mikroskopobjektiv aufgenommen sein oder werden. Der genannte Bereich kann in einem montierten Zustand der Pinzettenvorrichtung an dem Mikroskopobjektiv und/oder dem Mikroskop einem Bereich unterhalb der Öffnung entsprechen.In this case, if the housing device is formed in a substantially annular manner, for example, according to a further advantageous embodiment, the needles can each be received obliquely in the annular housing device, in particular wherein the first needle tip and / or the second needle tip can be arranged to be in a region of an opening to protrude the annular shaped housing device. In turn, the microscope objective can be included in this opening. Said region may correspond to a region below the opening in an assembled state of the tweezer device on the microscope objective and / or the microscope.
Die Löseeinrichtung kann zumindest eine Piezozündereinrichtung umfassen, um eine notwendige elektrische Spannung erzeugen zu können. So kann die Löseeinrichtung vorteilhafterweise dazu ausgebildet sein, um zwischen der ersten Nadelspitze und der zweiten Nadelspitze eine elektrische Hochspannungsentladung von 5 kV innerhalb eines Toleranzbereichs von 20 % zu bewirken, um eine sehr hohe Kraft zum Lösen des Partikels bereitstellen zu können.The release device may comprise at least one Piezozündereinrichtung to generate a necessary electrical voltage can. Thus, the release device can advantageously be designed to effect a high-voltage electrical discharge of 5 kV within a tolerance range of 20% between the first needle tip and the second needle tip to be able to provide very high force for dissolving the particle.
Die Pinzettenvorrichtung kann außerdem eine Gasdüseneinrichtung aufweisen, die dazu ausgebildet ist, um ein Zuführen eines Gasstroms zu ermöglichen. So kann der gelockerte und/oder gelöste Partikel von der Oberfläche weggeblasen werden.The tweezer device may also include a gas jet device configured to allow delivery of a gas stream. Thus, the loosened and / or dissolved particles can be blown away from the surface.
Ein Mikroskopobjektiv, insbesondere ein Auflicht-Mikroskopobjektiv, weist eine Pinzettenvorrichtung auf, die in einer der vorgestellten Varianten ausgeführt ist. Die Pinzettenvorrichtung ist dabei an das Mikroskopobjektiv gekoppelt oder an das Mikroskopobjektiv koppelbar ausgeformt.A microscope objective, in particular a reflected light microscope objective, has a tweezer device which is embodied in one of the presented variants. The tweezer device is coupled to the microscope objective or coupled to the microscope objective.
Alternativ kann die Pinzettenvorrichtung auch ohne Mikroskopobjektiv benutzt werden, falls die Pinzettenvorrichtung nicht an das Mikroskopobjektiv koppelbar ist. In dieser Ausführungsform kann mittels des Mikroskopobjektivs und/ oder einer geeigneten Defekterkennungsvorrichtung der zumindest eine Partikel auf der zu reinigenden Oberfläche detektiert und die jeweilige Position des Partikels auf der Oberfläche gespeichert werden. Mittels der Pinzettenvorrichtung kann die jeweilige Position angefahren und das zumindest eine Partikel mittels der Pinzettenvorrichtung entfernt werden.Alternatively, the tweezer device can also be used without a microscope objective if the tweezer device can not be coupled to the microscope objective. In this embodiment, by means of the microscope objective and / or a suitable defect detection device, the at least one particle can be detected on the surface to be cleaned and the respective position of the particle can be stored on the surface. By means of the tweezer device, the respective position can be approached and the at least one particle can be removed by means of the tweezer device.
Ein Mikroskop weist eine Pinzettenvorrichtung auf, die in einer der vorgestellten Varianten ausgeführt ist, insbesondere wobei die Pinzettenvorrichtung zwischen dem Mikroskopobjektiv des Mikroskops und einer Objektebene des Mikroskops angeordnet oder anordenbar ist. Als die Objektebene kann eine Ebene verstanden werden, in der ein zu untersuchendes Objekt anordenbar ist.A microscope has a tweezers device, which is designed in one of the variants presented, in particular wherein the tweezers device between the microscope objective of the microscope and an object plane of the microscope is arranged or arranged. The object plane can be understood as a plane in which an object to be examined can be arranged.
Ein Verfahren zum Betreiben einer der vorgestellten Pinzettenvorrichtungen umfasst zumindest einen Schritt des Erzeugens. Im Schritt des Erzeugens wird eine elektrische Spannungsentladung zwischen der ersten Nadelspitze der ersten Nadel und der zweiten Nadelspitze der zweiten Nadel erzeugt, wobei die erste Nadelspitze und die zweite Nadelspitze benachbart zu dem Partikel angeordnet sind. Bei der Spannungsentladung kann es sich um eine Spannungsentladung in einem Hochspannungsbereich handeln. So ist ein Lockern und/oder Lösen des Partikels durch eine ausgelöste Druckwelle und/oder entstandene Feldstärke von der Oberfläche ermöglicht.A method of operating one of the presented tweezer devices comprises at least one step of generating. In the step of generating, an electrical voltage discharge is created between the first needle tip of the first needle and the second needle tip of the second needle, wherein the first needle tip and the second needle tip are disposed adjacent to the particle. The voltage discharge may be a voltage discharge in a high voltage range. Thus, a loosening and / or loosening of the particle is made possible by a triggered pressure wave and / or resulting field strength of the surface.
Wenn das Verfahren zudem einen Schritt des Bereitstellens eines Gasstroms benachbart zu dem Partikel aufweist, kann der gelockerte und/oder gelöste Partikel von der Oberfläche weggeblasen werden. Der Schritt des Bereitstellens kann beispielsweise ansprechend auf den Schritt des Erzeugens ausgeführt werden.Additionally, if the method includes a step of providing a gas flow adjacent to the particle, the loosened and / or dissolved particle may be blown away from the surface. The provisioning step may be performed, for example, in response to the step of generating.
Ein Steuergerät ist ausgebildet, um die Schritte einer Variante eines hier vorgestellten Verfahrens in entsprechenden Einrichtungen durchzuführen beziehungsweise umzusetzen. Auch durch diese Ausführungsvariante des Ansatzes in Form eines Steuergeräts kann die dem Ansatz zugrunde liegende Aufgabe schnell und effizient gelöst werden.A control unit is designed to implement or implement the steps of a variant of a method presented here in corresponding devices. Also by this embodiment of the approach in the form of a controller, the task underlying the approach can be solved quickly and efficiently.
Unter einem Steuergerät kann vorliegend ein elektrisches Gerät verstanden werden, das Sensorsignale verarbeitet und in Abhängigkeit davon Steuer- und/oder Datensignale ausgibt. Das Steuergerät kann eine Schnittstelle aufweisen, die hard- und/oder softwaremäßig ausgebildet sein kann. Bei einer hardwaremäßigen Ausbildung können die Schnittstellen beispielsweise Teil eines sogenannten System-ASICs sein, der verschiedenste Funktionen des Steuergeräts beinhaltet. Es ist jedoch auch möglich, dass die Schnittstellen eigene, integrierte Schaltkreise sind oder zumindest teilweise aus diskreten Bauelementen bestehen. Bei einer softwaremäßigen Ausbildung können die Schnittstellen Softwaremodule sein, die beispielsweise auf einem Mikrocontroller neben anderen Softwaremodulen vorhanden sind.In the present case, a control device can be understood as meaning an electrical device which processes sensor signals and outputs control and / or data signals in dependence thereon. The control unit may have an interface, which may be formed in hardware and / or software. In the case of a hardware-based design, the interfaces can be part of a so-called system ASIC, for example, which contains various functions of the control unit. However, it is also possible that the interfaces are their own integrated circuits or at least partially consist of discrete components. In a software training, the interfaces may be software modules that are present, for example, on a microcontroller in addition to other software modules.
Von Vorteil ist auch ein Computerprogrammprodukt mit Programmcode, der auf einem maschinenlesbaren Träger wie einem Halbleiterspeicher, einem Festplattenspeicher oder einem optischen Speicher gespeichert sein kann und zur Durchführung des Verfahrens nach einer der vorstehend beschriebenen Ausführungsformen verwendet wird, wenn das Programmprodukt auf einem Computer oder einem Steuergerät ausgeführt wird.A computer program product with program code which can be stored on a machine-readable carrier such as a semiconductor memory, a hard disk memory or an optical memory and is used to carry out the method according to one of the embodiments described above if the program product is installed on a computer or a control unit is also of advantage is performed.
Der Ansatz wird nachstehend anhand der beigefügten Zeichnungen beispielhaft näher erläutert. Es zeigen:
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1 eine schematische Querschnittsdarstellung eines Mikroskopobjektivs mit einer Pinzettenvorrichtung zum Entfernen zumindest eines Partikels auf einer zu reinigenden Oberfläche gemäß einem Ausführungsbeispiel; -
2 eine perspektivische Seitenansicht einer Pinzettenvorrichtung gemäß einem Ausführungsbeispiel; und -
3 ein Ablaufdiagramm eines Verfahrens zum Betreiben einer Pinzettenvorrichtung gemäß einem Ausführungsbeispiel.
-
1 a schematic cross-sectional view of a microscope objective with a tweezers device for removing at least one particle on a surface to be cleaned according to an embodiment; -
2 a side perspective view of a forceps device according to an embodiment; and -
3 a flowchart of a method for operating a tweezers device according to an embodiment.
In der nachfolgenden Beschreibung günstiger Ausführungsbeispiele des vorliegenden Ansatzes werden für die in den verschiedenen Figuren dargestellten und ähnlich wirkenden Elemente gleiche oder ähnliche Bezugszeichen verwendet, wobei auf eine wiederholte Beschreibung dieser Elemente verzichtet wird.In the following description of favorable embodiments of the present approach, the same or similar reference numerals are used for the elements shown in the various figures and similar acting, with a repeated description of these elements is omitted.
Umfasst ein Ausführungsbeispiel eine „und/oder“-Verknüpfung zwischen einem ersten Merkmal und einem zweiten Merkmal, so ist dies so zu lesen, dass das Ausführungsbeispiel gemäß einer Ausführungsform sowohl das erste Merkmal als auch das zweite Merkmal und gemäß einer weiteren Ausführungsform entweder nur das erste Merkmal oder nur das zweite Merkmal aufweist. If an exemplary embodiment comprises a "and / or" link between a first feature and a second feature, then this is to be read so that the embodiment according to one embodiment, both the first feature and the second feature and according to another embodiment either only first feature or only the second feature.
Die Pinzettenvorrichtung
Die Pinzettenvorrichtung
Die im Folgenden beschriebenen Details der Pinzettenvorrichtung
Gemäß diesem Ausführungsbeispiel weist die Pinzettenvorrichtung
Die Gehäuseeinrichtung
Die Löseeinrichtung
Gemäß diesem Ausführungsbeispiel weist die Pinzettenvorrichtung
Im Folgenden wird die Pinzettenvorrichtung
Die hier vorgestellte Pinzettenvorrichtung
Bereits endgereinigte Oberflächen werden üblicherweise, sofern sie nicht einer neuerlichen Komplettreinigung unterzogen sollen oder dürfen, mittels einer Stickstoff-Pistole abgepustet. Sind Partikel auf der Oberfläche jedoch sehr klein oder fest gebunden, dann versagt dieses Abpusten aufgrund der endlichen Kräfte, die auf die Partikel übertragen werden können und die Partikel werden manuell unter mikroskopischer Beobachtung mit einer Sonde, z. B. mit einem Pinsel mit einem angespitzten Haar, zeitaufwendig weggetupft.Already finished surfaces are usually, unless they are not allowed to undergo a new complete cleaning, or by means of a nitrogen gun blown off. However, if particles on the surface are very small or tightly bound, then they will fail to blow off due to the finite forces that can be transferred to the particles and the particles are manually observed under microscopic observation with a probe, e.g. B. with a brush with a sharpened hair, time-consuming dabbed away.
Eine hier vorgestellte Pinzettenvorrichtung
In einer hier gezeigten Anordnung wurde ein Auslösen einer mikroskopischen Druckwelle
Optional oder zusätzlich ist es auch möglich, dass eine Applikation einer hohen elektrischen Feldstärke in der Nähe des Partikels
Die Pinzettenvorrichtung
In
Bei dem Mikroskopobjektiv
Es folgt eine genauere Beschreibung eines hier gezeigten Ausführungsbeispiels der Pinzettenvorrichtung
Die Gehäuseeinrichtung
Die so vorbereitete Pinzettenvorrichtung
Die an die Nadeln
Mit einem solchermaßen ausgestatteten Mikroskop lassen sich nun auf zweierlei Arten Partikel von Oberflächen entfernen:With a microscope equipped in this way, it is now possible to remove particles from surfaces in two ways:
Wie bereits in
Bei einer zweiten Variante kann eine der Nadeln
Das Verfahren
Im Schritt
Die beschriebenen und in den Figuren gezeigten Ausführungsbeispiele sind nur beispielhaft gewählt. Unterschiedliche Ausführungsbeispiele können vollständig oder in Bezug auf einzelne Merkmale miteinander kombiniert werden. Auch kann ein Ausführungsbeispiel durch Merkmale eines weiteren Ausführungsbeispiels ergänzt werden.The embodiments described and shown in the figures are chosen only by way of example. Different embodiments may be combined together or in relation to individual features. Also, an embodiment can be supplemented by features of another embodiment.
Ferner können Verfahrensschritte des Ansatzes wiederholt sowie in einer anderen als in der beschriebenen Reihenfolge ausgeführt werden.Furthermore, method steps of the approach can be repeated as well as carried out in a sequence other than that described.
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Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE102022102825A1 (en) | 2022-02-07 | 2023-08-10 | Audi Aktiengesellschaft | Cleaning device, method for cleaning a surface of a battery component and method for manufacturing a battery |
Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE19804800A1 (en) * | 1998-02-08 | 1999-08-12 | Malte Dr Med Boehm | Method for automated mechanical retrieval of planar object |
DE69735920T2 (en) * | 1996-11-05 | 2007-02-08 | Ebara Corp. | Method and apparatus for removing particles from an article surface |
JP2008218138A (en) * | 2007-03-02 | 2008-09-18 | Kasuga Electric Works Ltd | Needle-like discharge electrode, and discharge device |
US20080223118A1 (en) * | 2007-03-16 | 2008-09-18 | International Business Machines Corporation | Scanning probe apparatus with in-situ measurement probe tip cleaning capability |
JP2011255358A (en) * | 2010-06-11 | 2011-12-22 | Ntn Corp | Foreign matter removing apparatus and foreign matter removing method |
DE102011007472A1 (en) * | 2011-04-15 | 2012-10-18 | Aktiebolaget Skf | Apparatus and method for cleaning a surface |
-
2017
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Patent Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE69735920T2 (en) * | 1996-11-05 | 2007-02-08 | Ebara Corp. | Method and apparatus for removing particles from an article surface |
DE19804800A1 (en) * | 1998-02-08 | 1999-08-12 | Malte Dr Med Boehm | Method for automated mechanical retrieval of planar object |
JP2008218138A (en) * | 2007-03-02 | 2008-09-18 | Kasuga Electric Works Ltd | Needle-like discharge electrode, and discharge device |
US20080223118A1 (en) * | 2007-03-16 | 2008-09-18 | International Business Machines Corporation | Scanning probe apparatus with in-situ measurement probe tip cleaning capability |
JP2011255358A (en) * | 2010-06-11 | 2011-12-22 | Ntn Corp | Foreign matter removing apparatus and foreign matter removing method |
DE102011007472A1 (en) * | 2011-04-15 | 2012-10-18 | Aktiebolaget Skf | Apparatus and method for cleaning a surface |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE102022102825A1 (en) | 2022-02-07 | 2023-08-10 | Audi Aktiengesellschaft | Cleaning device, method for cleaning a surface of a battery component and method for manufacturing a battery |
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Legal Events
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R016 | Response to examination communication | ||
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R020 | Patent grant now final |