DE102017206039A1 - MIRROR, LITHOGRAPHIC APPARATUS AND METHOD FOR PRODUCING A LITHOGRAPHIC APPARATUS - Google Patents
MIRROR, LITHOGRAPHIC APPARATUS AND METHOD FOR PRODUCING A LITHOGRAPHIC APPARATUS Download PDFInfo
- Publication number
- DE102017206039A1 DE102017206039A1 DE102017206039.5A DE102017206039A DE102017206039A1 DE 102017206039 A1 DE102017206039 A1 DE 102017206039A1 DE 102017206039 A DE102017206039 A DE 102017206039A DE 102017206039 A1 DE102017206039 A1 DE 102017206039A1
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- mirror
- interface
- connection
- orientation
- component
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Withdrawn
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B7/00—Mountings, adjusting means, or light-tight connections, for optical elements
- G02B7/18—Mountings, adjusting means, or light-tight connections, for optical elements for prisms; for mirrors
- G02B7/182—Mountings, adjusting means, or light-tight connections, for optical elements for prisms; for mirrors for mirrors
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
- G03F7/70—Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
- G03F7/708—Construction of apparatus, e.g. environment aspects, hygiene aspects or materials
- G03F7/70808—Construction details, e.g. housing, load-lock, seals or windows for passing light in or out of apparatus
- G03F7/70825—Mounting of individual elements, e.g. mounts, holders or supports
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B5/00—Optical elements other than lenses
- G02B5/08—Mirrors
- G02B5/0891—Ultraviolet [UV] mirrors
Abstract
Es wird ein Spiegel (200) für eine Lithographieanlage (100) offenbart, welcher einen Spiegelkörper (204), und mindestens eine Anschlussanordnung (206), welche über mindestens eine Befestigungsstelle (302) mit dem Spiegelkörper (204) verbunden ist, aufweist. Die Anschlussanordnung (206) weist eine erste Schnittstelle (314) zum Verbinden des Spiegels (200) mit einem Halterahmen (400) eines Prüfturms (412) und eine zweite Schnittstelle (316) zum Verbinden des Spiegels (200) mit einem Halterahmen (500) eines optischen Systems (508) auf.A mirror (200) for a lithography system (100) is disclosed which has a mirror body (204) and at least one connection arrangement (206) which is connected to the mirror body (204) via at least one attachment point (302). The terminal arrangement (206) has a first interface (314) for connecting the mirror (200) to a holding frame (400) of a test tower (412) and a second interface (316) for connecting the mirror (200) to a holding frame (500). an optical system (508).
Description
Die vorliegende Erfindung betrifft einen Spiegel für eine Lithographieanlage, eine Lithographieanlage und ein Verfahren zum Herstellen einer Lithographieanlage.The present invention relates to a mirror for a lithography system, a lithography system and a method for producing a lithography system.
Die Lithographie wird zur Herstellung mikro- und nanostrukturierter Bauelemente, wie beispielsweise integrierter Schaltkreise, angewendet. Der Lithographieprozess wird mit einer Lithographieanlage durchgeführt, welche ein Beleuchtungssystem und ein Projektionssystem aufweist. Das Bild einer mittels des Beleuchtungssystems beleuchteten Maske (Retikel) wird hierbei mittels des Projektionssystems auf ein mit einer lichtempfindlichen Schicht (Photoresist) beschichtetes und in der Bildebene des Projektionssystems angeordnetes Substrat (z. B. ein Siliziumwafer) projiziert, um die Maskenstruktur auf die lichtempfindliche Beschichtung des Substrats zu übertragen.Lithography is used to fabricate micro- and nanostructured devices such as integrated circuits. The lithography process is performed with a lithography system having an illumination system and a projection system. The image of a mask (reticle) illuminated by means of the illumination system is projected by the projection system onto a substrate (eg a silicon wafer) coated with a photosensitive layer (photoresist) and arranged in the image plane of the projection system in order to apply the mask structure to the photosensitive layer Transfer coating of the substrate.
Getrieben durch das Streben nach immer kleineren Strukturen bei der Herstellung integrierter Schaltungen werden derzeit EUV-Lithographieanlagen entwickelt, welche Licht mit einer Wellenlänge im Bereich von 0,1 nm bis 30 nm, insbesondere 13,5 nm, verwenden. Bei solchen EUV-Lithographieanlagen müssen wegen der hohen Absorption der meisten Materialien von Licht dieser Wellenlänge reflektierende Optiken, das heißt Spiegel, anstelle von – wie bisher – brechenden Optiken, das heißt Linsen, eingesetzt werden. Driven by the quest for ever smaller structures in the manufacture of integrated circuits, EUV lithography systems are currently being developed which use light having a wavelength in the range of 0.1 nm to 30 nm, in particular 13.5 nm. In such EUV lithography equipment, because of the high absorption of most materials of light of this wavelength, reflective optics, that is, mirrors, must be used instead of - as before - refractive optics, that is, lenses.
Bevor eine Lithographieanlage in Betrieb genommen wird, werden die Spiegel genau vermessen. Dabei werden die Spiegel in der Einbaulage in unterschiedlichen Prüftürmen vermessen, d.h. die Ausrichtung der Spiegel in den Prüftürmen ist die gleiche wie im Betrieb der Lithographieanlage. Nachdem ein Spiegel vermessen wurde, kann die Spiegeloberfläche nachbearbeitet werden. Dieses Vorgehen wird teils als aufwendig empfunden.Before a lithography system is put into operation, the mirrors are precisely measured. The mirrors are measured in the installation position in different test towers, i. The orientation of the mirrors in the test towers is the same as in the operation of the lithography system. After a mirror has been measured, the mirror surface can be reworked. This procedure is sometimes perceived as consuming.
Vor diesem Hintergrund besteht eine Aufgabe der vorliegenden Erfindung darin, demgegenüber eine Verbesserung zu schaffen.Against this background, an object of the present invention is to provide an improvement on the other hand.
Demgemäß wird ein Spiegel für eine Lithographieanlage bereitgestellt, aufweisend einen Spiegelkörper, und mindestens eine Anschlussanordnung, welche über mindestens eine Befestigungsstelle mit dem Spiegelkörper verbunden ist, wobei die Anschlussanordnung eine erste Schnittstelle zum Verbinden des Spiegels mit einem Halterahmen eines Prüfturms und eine zweite Schnittstelle zum Verbinden des Spiegels mit einem Halterahmen eines optischen Systems aufweist.Accordingly, a mirror is provided for a lithography system, comprising a mirror body, and at least one connection arrangement, which is connected to the mirror body via at least one attachment location, wherein the connection arrangement has a first interface for connecting the mirror to a support frame of a test tower and a second interface for connecting of the mirror having a holding frame of an optical system.
Dadurch, dass der Spiegel die Anschlussanordnung mit der ersten Schnittstelle und der zweiten Schnittstelle aufweist, kann der Spiegel in einem Prüfturm vermessen werden, bei dem die Ausrichtung des Spiegels von der Einbaulage in dem optischen System der Lithographieanlage abweicht. Diese Vermessung kann insbesondere bei Spiegeln angewendet werden, bei denen die Oberflächendeformation weniger kritisch ist, wie beispielsweise Spiegel mit streifendem Lichteinfall (Engl.: gracing incidence mirror). Bei den Spiegeln mit streifendem Lichteinfall ist der Winkel zwischen dem Lichteinfall und der Normalen der optischen Fläche des Spiegels insbesondere größer 50°, größer 60°, größer 70° oder größer 80°. Die Ausrichtung des Spiegels in einem Prüfturm kann sich demnach von der Ausrichtung des Spiegels in dem optischen System unterscheiden.Because the mirror has the connection arrangement with the first interface and the second interface, the mirror can be measured in a test tower, in which the orientation of the mirror deviates from the mounting position in the optical system of the lithography system. This measurement can be applied particularly to mirrors where surface deformation is less critical, such as grazing incidence mirror. In the case of the grazing light mirrors, the angle between the light incidence and the normal of the optical surface of the mirror is in particular greater than 50 °, greater than 60 °, greater than 70 ° or greater than 80 °. The orientation of the mirror in a test tower may thus differ from the orientation of the mirror in the optical system.
Vorteilhaft wird so ermöglicht, dass verschiedene Spiegel mit unterschiedlicher Einbaulage in der Lithographieanlage in einem einzigen Prüfturm vermessen werden können, weil jeder Spiegel eine für diesen Prüfturm passende Schnittstelle aufweist. Alternativ können auch nur weniger Prüftürme, beispielsweise zwei oder drei Prüftürme, verwendet werden. Insgesamt lässt sich die Anzahl der zur Vermessung der Spiegel benötigten Prüftürme verringern.Advantageously, it is thus made possible that different mirrors with different mounting position can be measured in the lithography system in a single test tower, because each mirror has an interface suitable for this test tower. Alternatively, only a few test towers, for example two or three test towers, can be used. Overall, it is possible to reduce the number of test towers needed to measure the mirrors.
Bei dem optischen System kann es sich beispielsweise um eine Projektionsoptik oder ein Beleuchtungssystem handeln.The optical system can be, for example, a projection optics or a lighting system.
In einem Bereich des Spiegels kann lediglich eine Anschlussanordnung vorgesehen sein. Auf eine weitere Anschlussanordnung im gleichen Bereich des Spiegelkörpers kann verzichtet werden. Dadurch kann die Herstellung des Spiegels vereinfacht werden, da jede Anschlussanordnung am Spiegelkörper befestigt wird, und jede Befestigung zu zusätzlichen Deformationen des Spiegels führen kann. Demnach kann eine möglichst geringe Zahl an Anschlussanordnungen zu einer Fertigungsvereinfachung führen. Zusätzlich kann eine möglichst geringe Zahl an Anschlussanordnungen zu einer Performanceverbesserung (Performanceverbesserung in Bezug auf die Passedeformation) führen, da weniger Anschlussanordnungen zu einer geringeren Deformation im Spiegelkörper führen können.In one area of the mirror, only one connection arrangement can be provided. On a further connection arrangement in the same region of the mirror body can be omitted. Thereby, the manufacture of the mirror can be simplified, since each terminal assembly is attached to the mirror body, and each attachment can lead to additional deformation of the mirror. Accordingly, the smallest possible number of connection arrangements can lead to a simplification of production. In addition, the smallest possible number of connection arrangements can lead to a performance improvement (performance improvement with regard to the pass deformation), since fewer connection arrangements can lead to a smaller deformation in the mirror body.
Dadurch, dass nur wenige Anschlussanordnungen vorgesehen sind, kann ein kleiner Spiegel-Rohling vorgesehen werden. Dadurch können Materialkosten eingespart werden.Because only a few connection arrangements are provided, a small mirror blank can be provided. This can save material costs.
Ein Prüfturm weist eine Halterung für den Spiegel (wird auch als Fassung bezeichnet) und eine Messtechnik auf. Dabei kann die Messtechnik ein Interferometer umfassen. Mit einem Prüfturm kann die Spiegelpasse, d.h. die Form der optischen Fläche, vermessen werden. Aufgrund des Unterschieds in der Ausrichtung des Spiegels in dem optischen System im Vergleich zur Messung in dem Prüfturm, wird der Gravitationseffekt als Vorhalt in die Spiegelpasse mit eingerechnet, wenn die optische Fläche überarbeitet wird.A test tower has a holder for the mirror (also called socket) and a measuring technique. The measurement technique may include an interferometer. With a test tower, the mirror mount, ie the shape of the optical Surface, to be measured. Due to the difference in the orientation of the mirror in the optical system compared to the measurement in the test tower, the gravitational effect is taken into account as a derivative in the mirror alignment when the optical surface is revised.
Weiter können mehrere Schnittstellen, insbesondere zwei, drei, vier oder fünf Schnittstellen, in einer Anschlussanordnung vorgesehen werden. Dadurch ist es möglich die Anschlussanordnung zur Verbindung des Spiegels in mehreren unterschiedlichen Ausrichtungen zu verwenden, z.B. wenn der Spiegel in mehreren Prüftürmen vermessen wird.Furthermore, a plurality of interfaces, in particular two, three, four or five interfaces, can be provided in a connection arrangement. This makes it possible to use the connection arrangement for connecting the mirror in several different orientations, e.g. when the mirror is measured in several test towers.
Gemäß einer Ausführungsform des Spiegels weist eine Verbindungsrichtung der ersten Schnittstelle in Gravitationsrichtung, wenn der Spiegel mit dem Halterahmen des Prüfturms verbunden ist, und eine Verbindungsrichtung der zweiten Schnittstelle weist in Gravitationsrichtung, wenn der Spiegel mit dem Halterahmen des optischen Systems verbunden ist. Der Spiegel ist immer so ausgerichtet, dass die Verbindungsrichtung der Schnittstelle an der der Spiegel befestigt ist, in Gravitationsrichtung weist. Vorteilhafterweise kann die Schnittstelle, an der der Spiegel gerade befestigt ist, senkrecht zur Gravitationsrichtung weich ausgelegt sein. Dabei bedeutet weich, dass die Schnittstelle senkrecht zur Gravitationsrichtung eine gewisse Flexibilität aufweist. Im Gegensatz dazu weist die Schnittstelle in Gravitationsrichtung eine wesentlich geringere Flexibilität auf.According to an embodiment of the mirror, a connecting direction of the first interface in the direction of gravity when the mirror is connected to the holding frame of the test tower, and a connecting direction of the second interface points in the direction of gravity when the mirror is connected to the holding frame of the optical system. The mirror is always oriented in such a way that the direction of connection of the interface to which the mirror is mounted points in the direction of gravity. Advantageously, the interface to which the mirror is just attached may be designed to be soft perpendicular to the direction of gravity. Soft means that the interface has some flexibility perpendicular to the direction of gravity. In contrast, the interface in the direction of gravity has a much lower flexibility.
Dabei kann die Verbindungsrichtung einer Schnittstelle diejenige Richtung sein, mit der ein Gegenkopplungsstück mit einem Kopplungsstück der Schnittstelle in Eingriff gebracht wird.In this case, the connection direction of an interface may be that direction with which a negative feedback piece is brought into engagement with a coupling piece of the interface.
Gemäß einer weiteren Ausführungsform des Spiegels weist die Verbindungsrichtung der ersten Schnittstelle einen Winkel zu der Verbindungsrichtung der zweiten Schnittstelle auf. Vorteilhafterweise können dadurch mit einer Anschlussanordnung zwei Verbindungsrichtungen realisiert werden. Dabei kann der Winkel zwischen der Verbindungsrichtung der ersten Schnittstelle und der Verbindungsrichtung der zweiten Schnittstelle größer 15°, größer 30° oder größer 45° sein.According to a further embodiment of the mirror, the connecting direction of the first interface has an angle to the connecting direction of the second interface. Advantageously, two connection directions can thereby be realized with one connection arrangement. In this case, the angle between the connection direction of the first interface and the connection direction of the second interface can be greater than 15 °, greater than 30 ° or greater than 45 °.
Gemäß einer weiteren Ausführungsform des Spiegels ist der Winkel zwischen der Verbindungsrichtung der ersten Schnittstelle und der Verbindungsrichtung der zweiten Schnittstelle gleich einem Winkel zwischen einer ersten Ausrichtung des Spiegels in dem Prüfturm und einer zweiten Ausrichtung des Spiegels in dem optischen System. Die Verbindungsrichtung einer Schnittstelle und die Ausrichtung des Spiegels hängen zusammen. Deswegen können die möglichen Ausrichtungen des Spiegels über die Anordnung der Schnittstellen in der Anschlussanordnung bestimmt werden.According to another embodiment of the mirror, the angle between the connection direction of the first interface and the connection direction of the second interface is equal to an angle between a first orientation of the mirror in the test tower and a second orientation of the mirror in the optical system. The connection direction of an interface and the orientation of the mirror are related. Therefore, the possible orientations of the mirror can be determined via the arrangement of the interfaces in the terminal arrangement.
Gemäß einer weiteren Ausführungsform des Spiegels weist die erste Schnittstelle und/oder die zweite Schnittstelle eine Basis, ein Gelenk und ein Kopplungsstück auf, das Gelenk ist mit der Basis und das Kopplungsstück ist mit dem Gelenk verbunden, und das Kopplungsstück ist eingerichtet, mit einem Gegenkopplungsstück in Verbindungsrichtung in Eingriff gebracht zu werden. Das Gegenkopplungsstück kann mit dem Halterahmen eines Prüfturms oder eines optischen Systems verbunden sein. Weiter können das Kopplungsstück und das Gegenkopplungsstück miteinander lösbar verbunden werden.According to a further embodiment of the mirror, the first interface and / or the second interface comprises a base, a hinge and a coupling piece, the hinge is connected to the base and the coupling piece is connected to the hinge, and the coupling piece is set up with a counter-coupling piece to be engaged in the connecting direction. The negative feedback piece may be connected to the support frame of a test tower or an optical system. Further, the coupling piece and the counter coupling piece can be detachably connected to each other.
Gemäß einer weiteren Ausführungsform des Spiegels weisen die erste Schnittstelle und/oder die zweite Schnittstelle ein Festkörpergelenk und/oder ein Kardangelenk auf. Vorteilhafterweise kann eine Schnittstelle mit einem Festkörpergelenk oder mit einem Kardangelenk so ausgeführt werden, dass sie senkrecht zu der Verbindungsrichtung weich ausgebildet ist, d.h. eine gewisse Flexibilität aufweist.According to a further embodiment of the mirror, the first interface and / or the second interface have a solid-state joint and / or a universal joint. Advantageously, an interface with a solid-state joint or with a universal joint can be made to be soft perpendicular to the connecting direction, i. has a certain flexibility.
Gemäß einer weiteren Ausführungsform des Spiegels weist die Anschlussanordnung ein einteiliges und/oder einstückiges Bauteil auf, welches die erste Schnittstelle und die zweite Schnittstelle umfasst. Dabei ist ein einteiliges Bauteil ein Bauteil, welches nur aus einem Teil besteht. Das Teil kann aus einem Stück gefertigt sein oder aus mehreren Teilstücken zusammengebaut sein, wobei die mehreren Teilstücke miteinander verbunden sind. Ein einstückiges Bauteil ist dagegen ein Bauteil, welches aus einem Stück hergestellt wurde.According to a further embodiment of the mirror, the connection arrangement has a one-part and / or one-piece component which comprises the first interface and the second interface. Here, a one-piece component is a component which consists of only one part. The part may be made in one piece or assembled from a plurality of sections, the plurality of sections being connected together. By contrast, a one-piece component is a component that has been produced in one piece.
Die Anschlussanordnung umfasst die Schnittstellen. Genauer umfasst die Anschlussanordnung die Basis einer Schnittstelle. Das Gelenk und das Kopplungsstück der Schnittstelle können dagegen lösbar mit der Basis der Schnittstelle verbunden sein. Demnach weist das Bauteil der Anschlussanordnung nur die Basis der Schnittstelle auf.The connection arrangement comprises the interfaces. More specifically, the terminal arrangement comprises the base of an interface. The joint and the coupling piece of the interface, however, can be detachably connected to the base of the interface. Accordingly, the component of the connection arrangement has only the basis of the interface.
Gemäß einer weiteren Ausführungsform des Spiegels weist die Anschlussanordnung ein erstes Bauteil und ein zweites Bauteil, welches von dem ersten Bauteil getrennt vorgesehen ist, auf. Jedes der Bauteile weist eine Befestigungsstelle zum Verbinden mit dem Spiegelkörper auf. Das erste Bauteil umfasst die erste Schnittstelle und das zweite Bauteil umfasst die zweite Schnittstelle. Vorteilhafterweise weist jedes der Bauteile eine Schnittstelle auf, wobei jede Schnittstelle eine unterschiedliche Verbindungsrichtung vorsieht. Dadurch kann der Spiegel entsprechend der Verbindungsrichtung der jeweiligen Schnittstelle unterschiedlich ausgerichtet an einem Halterahmen befestigt werden. According to a further embodiment of the mirror, the connection arrangement has a first component and a second component, which is provided separately from the first component. Each of the components has an attachment point for connection to the mirror body. The first component comprises the first interface and the second component comprises the second interface. Advantageously, each of the components has an interface, wherein each interface provides a different connection direction. As a result, the mirror can be fastened differently aligned with a holding frame in accordance with the connection direction of the respective interface.
Gemäß einer weiteren Ausführungsform des Spiegels weist der Spiegel drei Anschlussanordnungen auf. Mittels drei Anschlussanordnungen kann der Spiegel stabil gelagert werden. Jede der Anschlussanordnungen kann mit einem oder mehreren Aktoren verbunden sein. Alternativ kann der Spiegel auch mehr als drei Anschlussanordnungen aufweisen. Prinzipiell kann der Spiegel so gelagert werden, dass er in bis zu sechs Freiheitsgraden, d.h. in drei translatorischen Freiheitsgraden und drei rotatorischen Freiheitsgraden, ausgerichtet werden kann.According to a further embodiment of the mirror, the mirror has three connection arrangements. By means of three connection arrangements, the mirror can be stably stored. Each of the terminal assemblies may be connected to one or more actuators. Alternatively, the mirror may also have more than three terminal arrangements. In principle, the mirror can be stored so that it can be used in up to six degrees of freedom, i. in three translational degrees of freedom and three rotational degrees of freedom, can be aligned.
Gemäß einer weiteren Ausführungsform des Spiegels ist mindestens eine Befestigungsstelle mit dem Spiegelkörper verklebt oder verlötet. Vorteilhafterweise kann die Anschlussanordnung mittels Kleben oder Löten geeignet an dem Spiegelkörper befestigt werden. Dabei verursacht eine stoffschlüssige Verbindung weniger Spannungen im Spiegelkörper als eine mechanische Verbindung. According to a further embodiment of the mirror, at least one fastening point is glued or soldered to the mirror body. Advantageously, the connection arrangement can be suitably fixed to the mirror body by means of gluing or soldering. In this case, a cohesive connection causes less stress in the mirror body than a mechanical connection.
Gemäß einer weiteren Ausführungsform des Spiegels weist der Spiegel zu jeder Anschlussanordnung zumindest eine Aufnahmegeometrie am Spiegelkörper auf, welche mit einer Befestigungsstelle der Anschlussanordnung verbunden ist. Dabei ist eine Aufnahmegeometrie ein Bereich des Spiegelkörpers, welcher mit einer Anschlussanordnung verbunden sein kann. Die Aufnahmegeometrie kann eine Ausnehmung aufweisen, welche Spannungen, die aufgrund der Verbindung von Spiegelkörper und Anschlussanordnung entstehen, ausgleichen kann. Alternativ kann eine Aufnahmegeometrie auch mehrere Ausnehmungen, insbesondere zwei, drei, vier oder fünf Ausnehmungen aufweisen.According to a further embodiment of the mirror, the mirror has, for each connection arrangement, at least one receiving geometry on the mirror body, which is connected to an attachment point of the connection arrangement. In this case, a receiving geometry is a region of the mirror body, which can be connected to a connection arrangement. The receiving geometry may have a recess which can compensate for stresses that arise due to the connection of mirror body and connection arrangement. Alternatively, a receiving geometry can also have a plurality of recesses, in particular two, three, four or five recesses.
Gemäß einer weiteren Ausführungsform des Spiegels weist der Spiegel zumindest eine weitere Aufnahmegeometrie zum Ableiten von Wärme, zum Verbinden mit einem Aktor, zum Begrenzen der Auslenkung des Spiegels und/oder zum Arretieren des Spiegels beim Transportieren des Spiegels auf. Vorteilhafterweise kann eine Aufnahmegeometrie des Spiegelkörpers, welche nicht mit einer Anschlussanordnung verbunden ist, auch anderweitig genutzt werden.According to a further embodiment of the mirror, the mirror has at least one further receiving geometry for dissipating heat, for connecting to an actuator, for limiting the deflection of the mirror and / or for locking the mirror when transporting the mirror. Advantageously, a receiving geometry of the mirror body, which is not connected to a connection arrangement, also be used elsewhere.
Ferner wird eine Lithographieanlage, insbesondere EUV- oder DUV-Lithographieanlage, mit einem Spiegel, wie vorstehend beschrieben, bereitgestellt. EUV steht für „extreme ultraviolet“ und bezeichnet eine Wellenlänge des Arbeitslichts zwischen 0,1 und 30 nm. DUV steht für „deep ultraviolet“ und bezeichnet eine Wellenlänge des Arbeitslichts zwischen 30 und 250 nm.Furthermore, a lithography system, in particular EUV or DUV lithography system, with a mirror, as described above, provided. EUV stands for "extreme ultraviolet" and denotes a working light wavelength between 0.1 and 30 nm. DUV stands for "deep ultraviolet" and denotes a working light wavelength between 30 and 250 nm.
Weiter wird ein Verfahren zum Herstellen einer Lithographieanlage bereitgestellt. Das Verfahren weist die folgenden Schritte auf: a) Vermessen einer optischen Fläche eines Spiegels in einem Prüfturm in einer ersten Ausrichtung des Spiegels, b) Bearbeiten der optischen Fläche des Spiegels entsprechend den Ergebnissen der Vermessung, und c) Einbauen des Spiegels in ein optisches System in einer zweiten Ausrichtung des Spiegels, wobei sich die erste Ausrichtung von der zweiten Ausrichtung unterscheidet.Furthermore, a method for producing a lithography system is provided. The method comprises the following steps: a) measuring an optical surface of a mirror in a test tower in a first orientation of the mirror, b) processing the optical surface of the mirror according to the results of the measurement, and c) incorporating the mirror into an optical system in a second orientation of the mirror, wherein the first orientation is different from the second orientation.
Dadurch, dass ein solcher Spiegel in einem Prüfturm eine unterschiedliche Ausrichtung als in einem optischen System aufweisen kann, ist es möglich mehrere Spiegel der Lithographieanlage in nur einem Prüfturm oder in nur wenigen Prüftürmen zu vermessen. Damit lässt sich die Anzahl der benötigten Prüftürme reduzieren.Because such a mirror can have a different orientation in a test tower than in an optical system, it is possible to measure several mirrors of the lithography system in only one test tower or in only a few test towers. This reduces the number of required test towers.
Nachdem der Spiegel vermessen wurde, kann die optische Fläche des Spiegels nachbearbeitet werden. Dabei wird vorteilhaft die Gravitation als Deformationstreiber bei unterschiedlichen Ausrichtungen des Spiegels bei der Nachbearbeitung der optischen Fläche berücksichtigt.After the mirror has been measured, the optical surface of the mirror can be reworked. In this case, gravitation is advantageously taken into account as a deformation driver in the case of different orientations of the mirror in the subsequent processing of the optical surface.
In dem Prüfturm kann insbesondere die Wellenfront der vom Spiegel reflektierten Strahlung mit einer Soll-Wellenfront verglichen werden. Die Abweichung der Wellenfront der vom Spiegel reflektierten Strahlung zur Soll-Wellenfront lässt Rückschlüsse auf die Oberflächendeformation des Spiegels zu.In particular, the wavefront of the radiation reflected by the mirror can be compared to a desired wavefront in the test tower. The deviation of the wavefront of the reflected radiation from the mirror to the desired wavefront allows conclusions about the surface deformation of the mirror.
Gemäß einer Ausführungsform des Verfahrens wird der Spiegel mit einer ersten Schnittstelle an einem Halterahmen des Prüfturms befestigt und mit einer zweiten Schnittstelle an einem Halterahmen des optischen Systems befestigt. Vorteilhafterweise sind zwei verschiedenen Schnittstellen vorgesehen, so dass der Spiegel mit jeder Schnittstelle in einer anderen Ausrichtung gehalten werden kann.According to one embodiment of the method, the mirror is fastened with a first interface to a holding frame of the test tower and fastened with a second interface to a holding frame of the optical system. Advantageously, two different interfaces are provided so that the mirror can be held in a different orientation with each interface.
Die für den vorgeschlagenen Spiegel und die vorgeschlagene Lithographieanlage beschriebenen Ausführungsformen und Merkmale gelten für das vorgeschlagene Verfahren entsprechend und umgekehrt.The embodiments and features described for the proposed mirror and the proposed lithography system apply accordingly to the proposed method and vice versa.
Weitere mögliche Implementierungen der Erfindung umfassen auch nicht explizit genannte Kombinationen von zuvor oder im Folgenden bezüglich der Ausführungsbeispiele beschriebenen Merkmale oder Ausführungsformen. Dabei wird der Fachmann auch Einzelaspekte als Verbesserungen oder Ergänzungen zu der jeweiligen Grundform der Erfindung hinzufügen.Further possible implementations of the invention also include not explicitly mentioned combinations of features or embodiments described above or below with regard to the exemplary embodiments. The skilled person will also add individual aspects as improvements or additions to the respective basic form of the invention.
Weitere vorteilhafte Ausgestaltungen und Aspekte der Erfindung sind Gegenstand der Unteransprüche sowie der im Folgenden beschriebenen Ausführungsbeispiele der Erfindung. Im Weiteren wird die Erfindung anhand von bevorzugten Ausführungsformen unter Bezugnahme auf die beigelegten Figuren näher erläutert.Further advantageous embodiments and aspects of the invention are the subject of the dependent claims and the embodiments of the invention described below. Furthermore, the invention will be explained in more detail by means of preferred embodiments with reference to the attached figures.
Falls nichts anderes angegeben ist, bezeichnen gleiche Bezugszeichen in den Figuren gleiche oder funktionsgleiche Elemente. Ferner sollte beachtet werden, dass die Darstellungen in den Figuren nicht notwendigerweise maßstabsgerecht sind.Unless otherwise indicated, like reference numerals in the figures denote like or functionally identical elements. It should also be noted that the illustrations in the figures are not necessarily to scale.
Die EUV-Lithographieanlage
Das in
Das Projektionssystem
Die DUV-Lithographieanlage
Das in
Das Projektionssystem
Im Folgenden wird ein Spiegel
Das entsprechende Projektionssystem
Der Spiegel
Wie in
Die Anschlussanordnung
Die in
Wie in
Die erste Schnittstelle
Mittels des Prüfturms
Die Anschlussanordnung
Die zweite Schnittstelle
Die Verbindungsrichtung
Da die Anschlussanordnung
Sowohl die erste Schnittstelle
Prinzipiell kann durch die Anschlussanordnungen
Weiter können auch mehr als zwei Schnittstellen
Das Kopplungsstück
Das Gelenk
Die zweite Schnittstelle
Weiter weist das erste Bauteil
In einem zweiten Schritt S2 wird die optische Fläche
In einem dritten Schritt S3 wird der Spiegel
Zuvor wurden die Spiegel
Obwohl die Erfindung anhand verschiedener Ausführungsbeispiele beschrieben wurde, ist sie darauf keineswegs beschränkt, sondern vielfältig modifizierbar.Although the invention has been described with reference to various embodiments, it is by no means limited thereto, but variously modifiable.
BezugszeichenlisteLIST OF REFERENCE NUMBERS
- 100100
- Lithographieanlage lithography system
- 100A100A
- EUV-Lithographieanlage EUV lithography system
- 100B100B
- DUV-Lithographieanlage DUV lithography system
- 102102
- Strahlformungs- und Beleuchtungssystem Beam shaping and lighting system
- 104104
- Projektionssystem projection system
- 106A106A
- EUV-Lichtquelle EUV-light source
- 106B106B
- DUV-Lichtquelle DUV light source
- 108A108A
- EUV-Strahlung EUV radiation
- 108B108B
- DUV-Strahlung DUV radiation
- 110110
- Spiegel mirror
- 112112
- Spiegel mirror
- 114114
- Spiegel mirror
- 116116
- Spiegel mirror
- 118118
- Spiegel mirror
- 120120
- Photomaske photomask
- 122122
- Wafer wafer
- 124124
- optische Achse des Projektionssystems optical axis of the projection system
- 126126
- Steuereinrichtung control device
- 128128
- Halterung der Photomaske Holder of the photomask
- 130130
- Halterung des Wafers Holder of the wafer
- 132132
- Linse lens
- 134134
- Spiegel mirror
- 136136
- Spiegel mirror
- 200200
- Spiegel mirror
- 202202
- Spiegelrückseite Mirror back
- 204204
- Spiegelkörper mirror body
- 206206
- Anschlussanordnung terminal assembly
- 300300
- optische Fläche optical surface
- 302302
- Befestigungsstelle fastening point
- 304304
- Kleber Glue
- 306306
- Lot solder
- 308308
- Aufnahmegeometrie recording geometry
- 310310
- Ausnehmung recess
- 312312
- Bereich der Anschlussanordnung Area of the connection arrangement
- 314314
- erste Schnittstelle first interface
- 316316
- zweite Schnittstelle second interface
- 318318
- Bauteil component
- 320320
- Spiegelmantelfläche Mirror casing surface
- 400400
- Halterahmen eines Prüfturms Holding frame of a test tower
- 402402
- Gegenkopplungsstück Negative feedback piece
- 404404
- Verbindungsrichtung der ersten Schnittstelle Connection direction of the first interface
- 406406
- Gravitationsrichtung gravity direction
- 408408
- erste Ausrichtung first orientation
- 410410
- Begrenzung limit
- 412412
- Prüfturm test tower
- 500500
- Halterahmen einer Projektionsoptik Holding frame of a projection optics
- 502502
- Verbindungsrichtung der zweiten Schnittstelle Connection direction of the second interface
- 504504
- zweite Ausrichtung second alignment
- 506506
- Begrenzung limit
- 508508
- Projektionsoptik projection optics
- 600600
- Basis Base
- 602602
- Gelenk joint
- 604604
- Kopplungsstück coupling piece
- 700700
- erste Schwenkachse first pivot axis
- 702702
- zweite Schwenkachse second pivot axis
- 800800
- erstes Bauteil first component
- 802802
- zweites Bauteil second component
- M1–M6M1-M6
- Spiegel mirror
- α, βα, β
- Winkel angle
- S1–S3S1-S3
- Verfahrensschritte steps
Claims (15)
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE102016206113.5 | 2016-04-13 | ||
DE102016206113.5A DE102016206113A1 (en) | 2016-04-13 | 2016-04-13 | MIRROR, LITHOGRAPHIC APPARATUS AND METHOD FOR PRODUCING A LITHOGRAPHIC APPARATUS |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE102017206039A1 true DE102017206039A1 (en) | 2017-10-19 |
Family
ID=58282037
Family Applications (2)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE102016206113.5A Withdrawn DE102016206113A1 (en) | 2016-04-13 | 2016-04-13 | MIRROR, LITHOGRAPHIC APPARATUS AND METHOD FOR PRODUCING A LITHOGRAPHIC APPARATUS |
DE102017206039.5A Withdrawn DE102017206039A1 (en) | 2016-04-13 | 2017-04-07 | MIRROR, LITHOGRAPHIC APPARATUS AND METHOD FOR PRODUCING A LITHOGRAPHIC APPARATUS |
Family Applications Before (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE102016206113.5A Withdrawn DE102016206113A1 (en) | 2016-04-13 | 2016-04-13 | MIRROR, LITHOGRAPHIC APPARATUS AND METHOD FOR PRODUCING A LITHOGRAPHIC APPARATUS |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (2) | DE102016206113A1 (en) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE102017216458A1 (en) * | 2017-09-18 | 2019-03-21 | Carl Zeiss Smt Gmbh | A method for producing a mirror as an optical component for an optical system of a projection exposure apparatus for projection lithography |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE102009029471A1 (en) | 2009-09-15 | 2011-03-31 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Mirror for use in a microlithography projection exposure apparatus |
WO2012084675A1 (en) | 2010-12-20 | 2012-06-28 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Arrangement for mounting an optical element |
DE102012209412A1 (en) | 2012-06-04 | 2013-12-05 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Optical method for measuring angular position of facet of facet mirror for extreme UV (EUV) lithography, involves detecting actual angular positions of facets in preset spectrum of angular positions with respect to reference axis |
DE102014208984A1 (en) | 2014-05-13 | 2014-10-02 | Carl Zeiss Smt Gmbh | module |
-
2016
- 2016-04-13 DE DE102016206113.5A patent/DE102016206113A1/en not_active Withdrawn
-
2017
- 2017-04-07 DE DE102017206039.5A patent/DE102017206039A1/en not_active Withdrawn
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE102016206113A1 (en) | 2017-03-30 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE60317088T2 (en) | Optical device, exposure apparatus, and manufacturing method for semiconductor devices | |
WO2016203020A1 (en) | Optical system | |
DE102018220565A1 (en) | Projection exposure system for semiconductor lithography with a semi-active spacer and method for using the semi-active spacer | |
DE102012206153A1 (en) | Optical system of a microlithographic projection exposure apparatus | |
DE102017219754A1 (en) | Optical system and lithography system | |
WO2024061905A1 (en) | Optical assembly, optical system and projection exposure apparatus | |
DE102017206039A1 (en) | MIRROR, LITHOGRAPHIC APPARATUS AND METHOD FOR PRODUCING A LITHOGRAPHIC APPARATUS | |
WO2024008674A1 (en) | Base element for an optical element with a linking shape and method for producing a base element of an optical element and projection exposure system | |
WO2024017836A1 (en) | Optical system and projection exposure apparatus | |
DE102019209610A1 (en) | Method and device for producing an adhesive connection between a first component and a second component | |
DE102011006003A1 (en) | Illumination optics for use in extreme UV-projection exposure system to illuminate illuminating field in reticle plane for manufacturing microstructured component, has aperture diaphragm adapting main beam direction relative to field | |
DE102022209902A1 (en) | BIPOD, OPTICAL SYSTEM AND PROJECTION EXPOSURE SYSTEM | |
DE102022200400A1 (en) | CONNECTION OF COMPONENTS OF AN OPTICAL DEVICE | |
WO2022058106A1 (en) | Optical system and lithography apparatus | |
DE102015220144A1 (en) | Optical system and lithography system | |
DE102012200736A1 (en) | Mirror arrangement, in particular for use in a microlithographic projection exposure apparatus | |
WO2017029383A1 (en) | Euv lithography system and method | |
DE102020205306A1 (en) | Assembly, especially in a microlithographic projection exposure system | |
WO2021094048A1 (en) | Method for aligning an interferometer, and projection exposure apparatus for semiconductor technology | |
DE102019201150A1 (en) | LITHOGRAPHY SYSTEM | |
DE102016219332A1 (en) | BLADE ASSEMBLY, LITHOGRAPHIC SYSTEM AND METHOD | |
DE102020212229B3 (en) | Aperture device for delimiting a beam path between a light source and an illumination optics of a projection exposure system for projection lithography | |
DE102021205278B4 (en) | Adjustable spacer, optical system, projection exposure apparatus and method | |
DE102011077315A1 (en) | Optical arrangement for projection lens of extreme UV (EUV) projection exposure system for manufacturing e.g. LCD, has diaphragm that is arranged outside workspace of projecting lens, based on operating position of positioning device | |
DE102022212397A1 (en) | POSITIONING SYSTEM, POLISHING ARRANGEMENT, METHOD OF POSITIONING AN OPTICAL ELEMENT AND METHOD OF POLISHING AN OPTICAL ELEMENT |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
R119 | Application deemed withdrawn, or ip right lapsed, due to non-payment of renewal fee |