DE102017200356A1 - Method for analyzing a measuring range and miniature spectrometer - Google Patents
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Abstract
Die Erfindung betrifft ein Verfahren (10) zur Analyse eines Messbereichs (5) unter Berücksichtigung einer spektralen Auswertung (14) mindestens einer Einzelmessung, mit den Schritten:• Bestrahlen eines Objekts des Messbereichs (5) mit elektromagnetischer Strahlung,• spektrometrische Messung einer von dem Messbereich kommenden Strahlung, wobei zur Analyse des Messbereichs (5) mindestens zwei Einzelmessungen durchgeführt werden, wobei• das Bestrahlen (110') des Objekts mit elektromagnetischer Strahlung für eine erste Einzelmessung (11') mit einer ersten Strahlungsverteilung erfolgt und durch die spektrometrische Messung (111) ein erstes spektrometrisches Detektorsignal (111') bereitgestellt wird,• das Bestrahlen (110") des Objekts mit elektromagnetischer Strahlung für eine zweite Einzelmessung (11") mit einer von der ersten Strahlungsverteilung abweichenden zweiten Strahlungsverteilung erfolgt, und durch die spektrometrische Messung (111) ein zweites spektrometrisches Detektorsignal (111") bereitgestellt wird,• durch Vergleichen (12) des ersten und zweiten spektrometrischen Detektorsignals (111', 111") ein Vergleichswert (12') ermittelt wird, der ein Indikator für ein Vorliegen einer direkte Reflexion ist und• für die spektrale Auswertung (14) eine Auswahl (13) der Detektorsignale (111', 111") zur Analyse des Messbereichs (5) in Abhängigkeit des Vergleichswerts (12') erfolgt.The invention relates to a method (10) for analyzing a measuring region (5) taking into account a spectral evaluation (14) of at least one individual measurement, comprising the steps of: irradiating an object of the measuring region (5) with electromagnetic radiation, spectrometric measurement of one of At least two individual measurements are carried out for the analysis of the measuring area (5), wherein the irradiation (110 ') of the object with electromagnetic radiation for a first individual measurement (11') takes place with a first radiation distribution and by the spectrometric measurement ( 111) is provided, the irradiation (110 ") of the object with electromagnetic radiation for a second individual measurement (11") with a second radiation distribution deviating from the first radiation distribution, and by the spectrometric measurement ( 111) a second spectrometric detector by comparing (12) the first and second spectrometric detector signals (111 ', 111 ") a comparison value (12') is determined, which is an indicator for the presence of a direct reflection and Spectral evaluation (14) a selection (13) of the detector signals (111 ', 111 ") for analyzing the measuring range (5) in dependence of the comparison value (12') takes place.
Description
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Analyse eines Messbereichs und ein Miniaturspektrometer.The invention relates to a method for analyzing a measuring range and a miniature spectrometer.
Stand der TechnikState of the art
In
In
Kern und Vorteile der ErfindungCore and advantages of the invention
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Analyse eines Messbereichs und ein Miniaturspektrometer.The invention relates to a method for analyzing a measuring range and a miniature spectrometer.
Spektrometer können dazu verwendet werden, spektrale Informationen, wie beispielsweise eine chemische Zusammensetzung eines Objekts oder das Vorkommen eines bestimmten Stoffgemischs in einem Objekt, zu ermitteln. Nicht immer ist das zu untersuchende Objekt direkt zugänglich. Das Objekt kann beispielsweise in eine Folie eingeschweißt sein oder von einem vom Objekt verschiedenen Material zumindest teilweise ummantelt sein. Abhängig vom Beleuchtungswinkel und vom Detektionswinkel des Spektrometers kann Strahlung, welche an der Folie oder dem Mantel reflektiert wird, auf einen Detektor des Spektrometers treffen. Dieser Effekt wird als direkte Reflexion bezeichnet, da die Strahlung vor einem Auftreffen auf das Objekt reflektiert wird und somit keine Informationen über das zu untersuchende Objekt enthält. Die direkte Reflexion kann die Strahlung, welche Informationen über das Objekt enthält, beispielsweise vom Objekt diffus reflektierte Strahlung, überlagern. Bei der direkten Reflexion wird Strahlung mit einer hohen Intensität reflektiert und kann somit das zu detektierende Materialspektrum des Objekts überlagern bzw. überdecken, da dieses meist eine geringere Intensität als die direkt reflektierte Strahlung aufweist. Wenn sich die Materialspektren der Folie oder der Materialoberfläche vom Material des zu untersuchenden Objekts unterscheiden und sowohl die direkt reflektierte Strahlung als auch die vom Objekt kommende Strahlung, welche Informationen über das Objekt enthält, auf den Detektor des Spektrometers treffen, so ergibt sich folglich ein überlagertes Spektrum der direkt reflektierten Strahlung und der Strahlung, welche Informationen über das Objekt enthält.Spectrometers can be used to determine spectral information, such as a chemical composition of an object or the presence of a particular substance mixture in an object. The object to be examined is not always directly accessible. The object may for example be welded into a foil or be at least partially encased by a material other than the object. Depending on the illumination angle and the detection angle of the spectrometer, radiation which is reflected on the film or the cladding can strike a detector of the spectrometer. This effect is referred to as direct reflection, as the radiation is reflected before impacting the object and thus contains no information about the object to be examined. The direct reflection can superimpose the radiation, which contains information about the object, for example, the object diffuse reflected radiation. In direct reflection, radiation is reflected with a high intensity and can thus superimpose or cover the material spectrum of the object to be detected, since this usually has a lower intensity than the directly reflected radiation. If the material spectra of the film or of the material surface differ from the material of the object to be examined, and if both the directly reflected radiation and the radiation coming from the object, which contains information about the object, strike the detector of the spectrometer, a superimposed one results Spectrum of directly reflected radiation and radiation containing information about the object.
Ein Vorteil der Erfindung mit den Merkmalen der unabhängigen Patentansprüche ist, dass direkte Reflexion auf einfache Weise detektiert werden kann und somit die Zuverlässigkeit von Messergebnisse zur Analyse eines Messbereichs erhöht werden kann. Insbesondere ist es vorteilhafterweise möglich die Spektren verschiedener Elemente des Messbereichs, das heißt beispielsweise des Objekts und einer das Objekt zumindest teilweise umgebenden Materialanordnung, wie ein Folie oder Verpackung, separat mit einer hohen Zuverlässigkeit auszuwerten oder nur die Spektren ausgewählter Elemente des Messbereichs auszuwerten. Somit kann beispielsweise eine spektrale Information der Verpackung ermittelt werden und separat davon das in der Verpackung angeordnete Objekt. Somit können auch verpackte oder nicht direkt zugängliche Objekte auf ihre Zusammensetzung hin überprüft werden. Die direkte Reflexion kann mit vorhandenen Mitteln bestimmt werden, sodass keine zusätzlichen Vorrichtungen zur Bestimmung der direkten Reflexion benötigt werden.An advantage of the invention with the features of the independent claims is that direct reflection can be detected in a simple manner and thus the reliability of measurement results for the analysis of a measuring range can be increased. In particular, it is advantageously possible to separately evaluate the spectra of different elements of the measuring range, that is, for example, of the object and a material arrangement at least partially surrounding the object, such as a foil or packaging, or to evaluate only the spectra of selected elements of the measuring range. Thus, for example, a spectral information of the packaging can be determined and, separately, the object arranged in the packaging. Thus, also packaged or not directly accessible objects can be checked for their composition. The direct reflection can be determined by existing means, so that no additional devices for determining the direct reflection are needed.
Weitere Vorteile sind, dass eine Erkennung einer winkelabhängigen direkten Reflexion, das heißt die Abhängigkeit der direkten Reflexion von einer Verkippung einer Messbereichsoberfläche zur optischen Achse eines Miniaturspektrometers, erfolgen kann, sofern im Spektrum der direkten Reflexion keine oder überlagernde Objektinformationen vorhanden sind. Eine nachfolgende Kompensation oder Ausblendung der direkten Reflexion kann zu einer Erhöhung der messtechnischen Robustheit bei manuellen Messsituationen z.B. im Smartphone oder bei Handheld Spektrometer Systemen führen. Des Weiteren kann die direkte Reflexion somit auch gemessen und als Nutzsignal z.B. für spezielle Oberflächeninformationen, Verpackungsidentifikation oder ähnliches verwendet werden.Further advantages are that a detection of an angle-dependent direct reflection, that is the dependence of the direct reflection of a tilting of a measuring surface surface to the optical axis of a miniature spectrometer, can take place, if no or superimposed object information is present in the spectrum of direct reflection. Subsequent compensation or suppression of the direct reflection can lead to an increase in the metrological robustness in manual measurement situations, e.g. in smartphones or handheld spectrometer systems. Furthermore, the direct reflection can thus also be measured and used as a useful signal, e.g. be used for special surface information, packaging identification or the like.
Dies wird erreicht mit einem Verfahren zu Analyse eines Messbereichs nach Anspruch 1 unter Berücksichtigung einer spektralen Auswertung mindestens einer Einzelmessung, wobei die Einzelmessung die Schritte Bestrahlen eines Objekts des Messbereichs mit elektromagnetischer Strahlung und spektrometrische Messung einer von dem Messbereich kommenden Strahlung aufweist. Das Verfahren zeichnet sich dadurch aus, dass zur Analyse des Messbereichs mindestens zwei Einzelmessungen durchgeführt werden, wobei das Bestrahlen des Objekts mit elektromagnetischer Strahlung für eine erste Einzelmessung mit einer ersten Strahlungsverteilung erfolgt und durch die spektrometrische Messung einer vom Messbereich kommenden ersten Strahlung ein erstes spektrometrisches Detektorsignal bereitgestellt wird, das Bestrahlen des Objekts mit elektromagnetischer Strahlung für eine zweite Einzelmessung mit einer zweiten Strahlungsverteilung erfolgt, welche von der ersten Strahlungsverteilung abweichend ist, und durch die spektrometrische Messung einer vom Messbereich kommenden zweiten Strahlung ein zweites spektrometrisches Detektorsignal bereitgestellt wird, durch Vergleichen des ersten spektrometrischen Detektorsignals und des zweiten spektrometrischen Detektorsignals ein Vergleichswert ermittelt wird, wobei der Vergleichswert ein Indikator für ein Vorliegen einer direkte Reflexion ist und für die spektrale Auswertung eine Auswahl der spektrometrischen Detektorsignale zur Analyse des Messbereichs in Abhängigkeit des Vergleichswerts erfolgt. Ein Vorteil ist, dass die Position des Objekts relativ zum Miniaturspektrometer in einem großen Toleranzbereich gewählt werden kann, sodass auch bei Unkenntnis der genauen Position des Objekts relativ zum Miniaturspektrometer bzw. des Winkels, unter dem die Messung durchgeführt wird, zuverlässige Messergebnisse erzielt werden können. Des Weiteren kann zuverlässig zwischen der vom Objekt kommenden Strahlung und der direkt reflektierten Strahlung unterschieden werden. Dies kann somit bei der spektralen Auswertung der Detektorsignale berücksichtigt werden. Insbesondere kann ein Einfluss der direkten Reflexion auf die spektrale Information des Objekts reduziert bzw. verhindert werden. This is achieved with a method for analyzing a measuring range according to
Gemäß einer Ausführungsform umfassen das erste spektrometrische Detektorsignal und das zweite spektrometrische Detektorsignal jeweils Photonenintensitäten. Weist eines der Detektorsignale eine signifikant höhere Photonenintensität auf, so ist dies ein Hinweis darauf, dass die vom Messbereich kommende Strahlung direkt reflektierte Strahlung umfasst. Bei einer Betrachtung einer zeitlich variierenden Photonenintensitätsverteilung des ersten spektrometrischen Detektorsignals gegenüber dem zweiten spektrometrischen Detektorsignal kann vorteilhafterweise ein Raumwinkel mit direkter Reflexion bestimmt werden und diese Information bei der spektralen Auswertung berücksichtigt werden, um die Zuverlässigkeit der Messergebnisse zu erhöhen.According to one embodiment, the first spectrometric detector signal and the second spectrometric detector signal each comprise photon intensities. If one of the detector signals has a significantly higher photon intensity, this is an indication that the radiation coming from the measuring range comprises directly reflected radiation. When considering a time-varying photon intensity distribution of the first spectrometric detector signal with respect to the second spectrometric detector signal, a solid angle with direct reflection can advantageously be determined and this information can be taken into account in the spectral evaluation in order to increase the reliability of the measurement results.
In einer Ausführungsform können das erste spektrometrische Detektorsignal und das zweite spektrometrische Detektorsignal zeitversetzt von einer Messeinheit aufgenommen werden. Ein Vorteil ist, dass eine Wechselwirkung zwischen den Einzelmessungen reduziert bzw. vermieden werden kann und somit die Zuverlässigkeit der Messergebnisse erhöht werden können.In an embodiment, the first spectrometric detector signal and the second spectrometric detector signal may be received by a measuring unit with a time offset. One advantage is that an interaction between the individual measurements can be reduced or avoided and thus the reliability of the measurement results can be increased.
In einer Ausführungsform kann der Vergleichswert ein auf eins normiertes, relatives Differenzsignal des ersten spektrometrischen Detektorsignals und des zweiten spektrometrischen Detektorsignals sein. Ein Vorteil ist, dass somit ein dimensionsloser Indikator vorliegt, wodurch ein Vergleich verschiedener Messreihen ermöglicht wird und der Indikator für unterschiedliche Messreihen, bei denen jeweils als spektrometrische Detektorsignale unterschiedliche physikalische Größen, wie beispielsweise ein Photostrom aus wellenlängenabhängiger Strahlungsintensität verwendet werden können, gültig sein kann.In one embodiment, the comparison value may be a normalized relative difference signal of the first spectrometric detector signal and the second spectrometric detector signal. One advantage is that there is thus a dimensionless indicator which makes it possible to compare different measurement series and the indicator can be valid for different measurement series in which different physical quantities, such as a photocurrent of wavelength-dependent radiation intensity, can be used in each case as spectrometric detector signals.
In einer Ausführungsform kann bei einem Vergleichswert, der das Vorliegen einer direkten Reflexion anzeigt, das spektrometrische Detektorsignal mit einem ersten Wert, der ein Maß für die detektierte elektromagnetische Strahlung ist, wobei der erste Wert größer als ein zweiter Wert eines weiteren Detektorsignals ist, zur Bestimmung einer spektralen Information eines Mediums, an welchem die direkte Reflexion erfolgt, ausgewertet werden und das weitere spektrometrische Detektorsignal mit einem zweiten Wert, der kleiner als der erste Wert ist, zur Bestimmung einer spektralen Information des Objekts ausgewertet werden. Ein Vorteil ist, dass somit auch bei Unkenntnis der genauen Position des Objekts relativ zum Miniaturspektrometer bzw. des Winkels, unter dem die Messung durchgeführt wird, spektrale Informationen über das das Objekt zumindest teilweise umgebende Medium und spektrale Informationen über das Objekt selbst ermittelt werden können.In one embodiment, in a comparison value indicative of the presence of direct reflection, the spectrometric detector signal having a first value that is a measure of the detected electromagnetic radiation, the first value being greater than a second value of another detector signal, for determining a spectral information of a medium, in which the direct reflection takes place, are evaluated and the further spectrometric detector signal with a second value, which is smaller than the first value, are evaluated for determining a spectral information of the object. One advantage is that even with ignorance of the exact position of the object relative to the miniature spectrometer or the angle at which the measurement is performed, spectral information about the medium at least partially surrounding the object and spectral information about the object itself can be determined.
Ergibt sich ein uneindeutiger Vergleichswert, so kann in einer Ausführungsform eine von der Detektionseinheit detektierte Strahlungsintensität ein weiterer Indikator für ein Vorliegen einer direkte Reflexion sein und die spektrale Auswertung in Abhängigkeit des weiteren Indikators erfolgen. Ein Vorteil ist, dass somit spektrale Informationen über das Objekt und/ oder das das Objekt zumindest teilweise umgebende Medium auch im Fall eines uneindeutigen Vergleichswerts zuverlässig ermittelt werden können.If an ambiguous comparison value results, then in one embodiment a radiation intensity detected by the detection unit can be a further indicator for the presence of a direct reflection and the spectral evaluation can be carried out as a function of the further indicator. One advantage is that thus spectral information about the object and / or the medium surrounding the object at least partially can be reliably determined even in the case of an ambiguous comparison value.
In einer Ausführungsform können bei einem uneindeutigen Vergleichswert beide spektrometrischen Detektorsignale zur Ermittlung einer spektralen Information des Objekts geeignet sein, wenn die Strahlungsintensität einen geringen Wert, insbesondere einen Wert von 0,2% oder 5% oder einen Wert zwischen 0,2% und 5% der Intensität der auf den Messbereich eingestrahlten elektromagnetischen Strahlung, annimmt oder beide spektrometrischen Detektorsignale verworfen werden, wenn die Strahlungsintensität einen hohen Wert annimmt, insbesondere einen Wert von 10% oder 100% oder einen Wert zwischen 10% und 100% der Intensität der auf den Messbereich eingestrahlten elektromagnetischen Strahlung. Ein Vorteil ist, dass somit eine zuverlässige Auswahl der spektrometrischen Detektorsignale erfolgen kann und damit auch im Fall eines uneindeutigen Vergleichswerts eine spektrale Auswertung stattfinden kann. Somit ergibt sich ein sehr robustes Verfahren zur Analyse des Messbereichs. In an embodiment, in the case of an ambiguous comparison value, both spectrometric detector signals may be suitable for determining a spectral information of the object if the radiation intensity has a low value, in particular a value of 0.2% or 5% or a value between 0.2% and 5%. the intensity of the electromagnetic radiation irradiated on the measuring range, or both spectrometric detector signals are discarded when the radiation intensity assumes a high value, in particular a value of 10% or 100% or a value between 10% and 100% of the intensity of the measuring range radiated electromagnetic radiation. One advantage is that thus a reliable selection of the spectrometric detector signals can take place and thus a spectral evaluation can take place even in the case of an ambiguous comparison value. This results in a very robust method for analyzing the measuring range.
In einer Ausführungsform kann eine Auswertung des spektrometrischen Detektorsignals, bei dem keine direkte Reflexion vorliegt, zur Ermittlung einer spektralen Information des Objekts und ein Verwerfen des spektrometrischen Detektorsignals, bei dem direkte Reflexion vorliegt, erfolgen. Vorteilhafterweise kann somit kann auch bei Unkenntnis der genauen Position des Objekts relativ zum Miniaturspektrometer bzw. des Winkels, unter dem die Messung durchgeführt wird, zuverlässig eine spektrale Information des Objekts ermittelt werden.In one embodiment, an evaluation of the spectrometric detector signal, in which there is no direct reflection, for determining a spectral information of the object and discarding the spectrometric detector signal, in which there is direct reflection, take place. Advantageously, even if the exact position of the object relative to the miniature spectrometer or the angle at which the measurement is carried out can therefore be reliably determined, a spectral information of the object can be reliably determined.
In einer Ausführungsform kann eine Auswertung des spektrometrischen Detektorsignals, bei dem direkte Reflexion vorliegt, zur Ermittlung einer spektralen Information eines Mediums, an welchem die direkte Reflexion stattfindet, erfolgen und eine Auswertung des spektrometrischen Detektorsignals, bei dem keine direkte Reflexion vorliegt, zur Ermittlung einer spektralen Information des Objekts erfolgen. Ein Vorteil ist, dass somit aus den spektrometrischen Detektorsignalen ohne Verändern der Position des Objekts relativ zum Miniaturspektrometer bzw. des Winkels, unter dem die Messung durchgeführt wird, sowohl spektrale Informationen über das Objekt als auch spektrale Informationen über das das Objekt zumindest teilweise umgebende Medium ermittelt werden können.In one embodiment, an evaluation of the spectrometric detector signal, in which there is direct reflection, for determining a spectral information of a medium on which the direct reflection takes place, and an evaluation of the spectrometric detector signal, in which there is no direct reflection, to determine a spectral Information of the object take place. One advantage is that, thus, spectral information about the object as well as spectral information about the medium at least partially surrounding the object are determined from the spectrometric detector signals without changing the position of the object relative to the miniature spectrometer or the angle at which the measurement is carried out can be.
In einer Ausführungsform kann eine Auswertung des spektrometrischen Detektorsignals, bei dem direkte Reflexion vorliegt, zur Ermittlung einer spektralen Information eines das Objekt zumindest teilweise umgebende Mediums, an welchem die direkte Reflexion erfolgen und ein Verwerfen des spektrometrischen Detektorsignals, bei dem keine direkte Reflexion vorliegt, erfolgen. Vorteilhafterweise kann somit gezielt ein Bereich zur Analyse aus dem Messbereich ausgewählt werden.In one embodiment, an evaluation of the spectrometric detector signal, in which there is direct reflection, for determining a spectral information of a medium at least partially surrounding the object, on which the direct reflection takes place and discarding the spectrometric detector signal, in which there is no direct reflection, take place , Advantageously, a range for analysis can thus be selected from the measuring range.
Alternativ oder ergänzend kann aus den Einzelmessungen ein Haupteinfallswinkel der elektromagnetischen Strahlung auf den Messbereich ermittelt werden. Ein Vorteil ist, dass somit eine Korrektur eines Spektrenoffsets vorgenommen werden kann. Solche Spektrenoffsets treten beispielsweise bei der Verwendung von Fabry-Pérot Interferometern als spektrales Element für spektrometrische Messungen auf. Bei Fabry-Pérot Interferometern bewirkt eine Variation des Einfallswinkels der elektromagnetischen Strahlung auf das Fabry-Pérot Interferometer eine Verschiebung der Wellenlänge, welche mittels des Interferometers gemessen werden soll. Die Verteilung der Einfallswinkel kann um einen Winkel zentriert sein, welcher von der Normalen auf das Fabry-Pérot Interferometer abweicht. Dieser Winkel, um den die Einfallswinkel zentriert sind, wird als Haupteinfallswinkel bezeichnet. Weicht der Haupteinfallswinkel von der Normalen ab, so kommt es zu einer Verschiebung des gesamten Spektrums, einem sogenannten Spektrenoffset. Ist die Haupteinfallswinkel bekannt, so kann dieser Spektrenoffset bestimmt werden und das Spektrum entsprechend korrigiert werden. Dadurch können die spektralen Informationen des Messbereichs zuverlässig bestimmt werden, auch wenn der Haupteinfallswinkel von der Normalen abweicht. Folglich kann die Benutzerfreundlichkeit erhöht werden, da der Nutzer bei der Durchführung der Analyse des Messbereichs nicht auf den Haupteinfallswinkel achten muss und dennoch Messergebnisse mit einer hohen Genauigkeit erhält.Alternatively or additionally, a main angle of incidence of the electromagnetic radiation on the measuring range can be determined from the individual measurements. One advantage is that thus a correction of a spectral offset can be made. Such spectral offsets occur, for example, when using Fabry-Pérot interferometers as a spectral element for spectrometric measurements. In Fabry-Pérot interferometers, varying the angle of incidence of the electromagnetic radiation on the Fabry-Pérot interferometer causes a shift in the wavelength to be measured by the interferometer. The distribution of the angles of incidence may be centered at an angle which deviates from the normal to the Fabry-Pérot interferometer. This angle, around which the angles of incidence are centered, is called the main angle of incidence. If the main angle of incidence deviates from the normal, the entire spectrum is shifted, a so-called spectral offset. If the main angle of incidence is known, this spectral offset can be determined and the spectrum corrected accordingly. As a result, the spectral information of the measuring range can be reliably determined, even if the main angle of incidence deviates from the normal. As a result, user-friendliness can be increased because the user does not have to pay attention to the main incident angle when performing the analysis of the measurement area and still obtain measurement results with high accuracy.
Ein Miniaturspektrometer zur Durchführung der Analyse des Messbereichs umfasst eine Beleuchtungseinheit, aufweisend mindestens zwei Beleuchtungselemente zur Beleuchtung eines Messbereichs mit elektromagnetischer Strahlung aus unterschiedlichen Beleuchtungswinkeln, eine Detektionseinheit, ein spektrales Element, welches im Strahlengang zwischen dem Messbereich und der Detektionseinheit angeordnet ist und eine Auswerteeinheit, welche dazu ausgebildet ist, die Beleuchtungselemente der Beleuchtungseinheit zeitlich unabhängig voneinander anzusteuern. Das Miniaturspektrometer zeichnet sich dadurch aus, dass die Auswerteeinheit eine Vergleichseinheit, eine Signalauswahleinheit und eine Recheneinheit umfasst, wobei die Vergleichseinheit zu einer Bestimmung des Vergleichswerts aus den Ergebnissen der Einzelmessungen eingerichtet ist, die Signalauswahleinheit zu einer Auswahl der Detektorsignale zur Analyse des Messbereichs in Abhängigkeit des Vergleichswerts eingerichtet ist und die Recheneinheit zur Ermittlung einer spektralen Information aus dem mindestens einen ausgewählten spektrometrischen Detektorsignal eingerichtet ist. Ein Vorteil ist, dass somit die Analyse des Messbereichs vereinfacht wird, da auch Messungen, bei denen direkten Reflexion vorliegt zur Analyse des Messbereichs verwendet werden können und gleichzeitig eine hohe Zuverlässigkeit der Messung erreicht wird. Des Weiteren können sowohl Informationen über das Objekt als auch Informationen über eine Oberfläche des Objekts bzw. das das Objekt umgebende Medium, wie beispielsweise ein Verpackungsmaterial, gewonnen werden. Des Weiteren kann die Robustheit der Messungen erhöht werden, da die spektrometrischen Detektorsignale, welche spektrale Informationen der direkt reflektierten Strahlung umfassen, erkannt, kompensiert, ausgeblendet und/ oder separat ausgewertet werden können. Somit weist das Miniaturspektrometer eine hohe Fehlertoleranz bezüglich der Position des Objekts relativ zum Miniaturspektrometer bzw. des Winkels, unter dem die Messung durchgeführt wird, auf.A miniature spectrometer for carrying out the analysis of the measuring range comprises a lighting unit, comprising at least two lighting elements for illuminating a measuring range with electromagnetic radiation from different illumination angles, a detection unit, a spectral element which is arranged in the beam path between the measuring range and the detection unit and an evaluation unit, which is designed to control the lighting elements of the lighting unit temporally independent of each other. The miniature spectrometer is characterized in that the evaluation unit comprises a comparison unit, a signal selection unit and a calculation unit, wherein the comparison unit is set up to determine the comparison value from the results of the individual measurements, the signal selection unit selects the detector signals for analysis of the measurement area as a function of Reference value is set up and the arithmetic unit is arranged to determine a spectral information from the at least one selected spectrometric detector signal. One advantage is that it simplifies the analysis of the measuring range, as well as measurements in which direct Reflection is available to analyze the measuring range can be used while high reliability of the measurement is achieved. Furthermore, both information about the object and information about a surface of the object or the medium surrounding the object, such as a packaging material, can be obtained. Furthermore, the robustness of the measurements can be increased since the spectrometric detector signals, which comprise spectral information of the directly reflected radiation, can be detected, compensated, hidden and / or evaluated separately. Thus, the miniature spectrometer has a high fault tolerance with respect to the position of the object relative to the miniature spectrometer or the angle at which the measurement is carried out.
In einer Ausführungsform kann das spektrale Element mindestens ein Fabry-Perot Interferometer umfassen, mit dem vorteilhafterweise eine geringe Baugröße für ein „Handheld Device“ erreicht werden kann.In one embodiment, the spectral element may comprise at least one Fabry-Perot interferometer, with which advantageously a small size for a "handheld device" can be achieved.
Figurenlistelist of figures
Ausführungsbeispiele der Erfindung sind in den Zeichnungen dargestellt und werden in der nachfolgenden Beschreibung näher erläutert. Gleiche Bezugszeichen in den Figuren bezeichnen gleiche oder gleichwirkende Elemente.Embodiments of the invention are illustrated in the drawings and are explained in more detail in the following description. Like reference numerals in the figures indicate the same or equivalent elements.
Es zeigen
-
1 ein Ablaufdiagramm eines Verfahrens zur Analyse eines Messbereichs, -
2 zeigt einen Querschnitt eines Messbereichs, umfassend ein Objekt und ein das Objekt teilweise umgebendes Medium, -
3 zeigt einen Querschnitt eines Messbereichs, umfassend ein Objekt und ein das Objekt umgebendes Medium, -
4 zeigt einen Querschnitt eines Messbereichs, umfassend ein Objekt und ein das Objekt umgebendes Medium, wobei zwischen dem Objekt und dem Medium ein Hohlraum ausgebildet ist, -
5 zeigt ein Ablaufdiagramm eines Verfahrens zur Analyse eines Messbereichs, wobei eine spektrale Information eines Objekts und eines das Objekt zumindest teilweise umgebenden Mediums ermittelt wird, -
6 zeigt ein Ablaufdiagramm eines Verfahrens zur Analyse eines Messbereichs, wobei eine spektrale Information eines Objekts ermittelt wird, -
7 zeigt ein Ablaufdiagramm eines Verfahrens zur Analyse eines Messbereichs, wobei die Durchführung neuer Einzelmessungen angesteuert wird, -
8 zeigt ein Ablaufdiagramm eines Verfahrens zur Analyse eines Messbereichs, wobei eine spektrale Information eines Objekts ermittelt wird und ein spektrometrisches Detektorsignal, welches spektrale Informationen des das Objekt zumindest teilweise umgebenden Mediums umfasst, verworfen wird, -
9 zeigt ein Ablaufdiagramm eines Verfahrens zur Analyse eines Messbereichs, wobei eine spektrale Information eines das Objekt umgebenden Mediums ermittelt wird und ein spektrometrisches Detektorsignal, welches spektrale Informationen des Objekts umfasst, verworfen wird, -
10 zeigt ein Ablaufdiagramm eines Verfahrens zur Analyse eines Messbereichs, wobei ein Haupteinfallswinkel zur Korrektur eines spektrometrischen Detektorsignals ermittelt wird, -
11 zeigt einen Querschnitt eines Miniaturspektrometers zur Analyse eines Messbereichs, wobei keine direkt reflektierte Strahlung von einer Detektionseinheit des Miniaturspektrometers aufgenommen wird und -
12 zeigt einen Querschnitt eines Miniaturspektrometers zur Analyse eines Messbereichs, wobei direkt reflektierte Strahlung und vom Objekt kommende Strahlung auf von einer Detektionseinheit des Miniaturspektrometers aufgenommen wird.
-
1 a flowchart of a method for analyzing a measuring range, -
2 shows a cross-section of a measuring area comprising an object and a medium partially surrounding the object, -
3 shows a cross section of a measuring area comprising an object and a medium surrounding the object, -
4 shows a cross section of a measuring area, comprising an object and a medium surrounding the object, wherein a cavity is formed between the object and the medium, -
5 shows a flow chart of a method for analyzing a measuring range, wherein a spectral information of an object and of the object at least partially surrounding medium is determined, -
6 shows a flowchart of a method for analyzing a measuring range, wherein a spectral information of an object is determined, -
7 1 shows a flow diagram of a method for analyzing a measuring range, wherein the execution of new individual measurements is controlled, -
8th shows a flow chart of a method for analyzing a measuring range, wherein a spectral information of an object is determined and a spectrometric detector signal, which spectral information of the object at least partially surrounding the medium, is discarded, -
9 shows a flowchart of a method for analyzing a measuring range, wherein a spectral information of a medium surrounding the object is determined and a spectrometric detector signal, which comprises spectral information of the object, is discarded, -
10 1 shows a flow chart of a method for analyzing a measuring range, wherein a main angle of incidence for correcting a spectrometric detector signal is determined, -
11 shows a cross section of a miniature spectrometer for analyzing a measuring range, wherein no directly reflected radiation is received by a detection unit of the miniature spectrometer and -
12 shows a cross section of a miniature spectrometer for analyzing a measuring range, wherein directly reflected radiation and radiation coming from the object is recorded by a detection unit of the miniature spectrometer.
Beschreibung der AusführungsbeispieleDescription of the embodiments
Von einem Objekt kommende Strahlung kann beispielsweise vom Objekt reflektierte, transmittierte, gestreute und/ oder emittierte Strahlung umfassen.Radiation from an object may comprise, for example, radiation reflected, transmitted, scattered and / or emitted by the object.
Zwischen dem Objekt und einer Detektionseinheit, welche die vom Objekt kommende Strahlung für eine spektrale Auswertung der Strahlung detektieren kann, kann beispielsweise ein zumindest teilweise reflektierendes Medium angeordnet sein. Ein solches Medium kann beispielsweise eine Verpackungsfolie, eine teilreflektierende Oberfläche des Objekts, welche eine andere chemische Zusammensetzung als das Objekt aufweisen kann und/oder eine Flüssigkeit, wie beispielsweise Wassertropfen, welche auf einer Oberfläche des Objekts angeordnet sein können, sein. Das Objekt kann zusammen mit dem Medium einen Messbereich bilden. Der Messbereich umfasst das Objekt und das Medium. Elektromagnetische Strahlung, welche von dem Medium vor Auftreffen auf das Objekt reflektiert wird, enthält keine Informationen über das Objekt. Allerdings enthält die vom Medium reflektierte Strahlung Informationen über das Medium. Die vom Medium reflektierte Strahlung ist eine elektromagnetische Strahlung, welche mit einer hohen Intensität reflektiert wird, bevor sie auf das Objekt trifft. Dieser Effekt wird als direkte Reflexion bezeichnet.For example, one may be at least partially between the object and a detection unit, which can detect the radiation coming from the object for a spectral evaluation of the radiation be arranged reflective medium. Such a medium may be, for example, a packaging film, a partially reflecting surface of the object, which may have a different chemical composition than the object, and / or a liquid, such as water drops, which may be disposed on a surface of the object. The object can form a measuring range together with the medium. The measuring range covers the object and the medium. Electromagnetic radiation, which is reflected from the medium before hitting the object, does not contain any information about the object. However, the radiation reflected by the medium contains information about the medium. The radiation reflected by the medium is electromagnetic radiation that is reflected at a high intensity before it strikes the object. This effect is called direct reflection.
Vom Messbereich kommende Strahlung kann die vom Objekt kommende Strahlung und/ oder die vorstehend beschriebene vom Medium direkt reflektierte elektromagnetische Strahlung umfassen.Radiation coming from the measuring area may comprise the radiation coming from the object and / or the electromagnetic radiation directly reflected by the medium as described above.
Eine Strahlungsverteilung beschreibt eine von einer Lichtquelle abgegebene elektromagnetische Strahlung. Die Strahlungsverteilung kann beispielsweise durch eine Winkelverteilung der elektromagnetischen Strahlung, einen Haupteinfallswinkel, eine spektrale Zusammensetzung und/oder durch eine Periodizität einer Lichtabgabe, beispielsweise bei zeitlich gepulsten Beleuchtungselementen oder eine Kombination der oben angegebenen Strahlverteilung, charakterisiert sein. Ein Winkel, um welchen die Einfallswinkel der von einem Beleuchtungselement kommenden elektromagnetischen Strahlung bezüglich der Oberfläche des Messbereichs zentriert sind, wird als Haupteinfallswinkel bezeichnet. Verlaufen beispielweise alle Lichtstrahlen der Lichtquelle beim Auftreffen auf die Oberfläche parallel zueinander, so treffen alle Lichtstrahlen mit einem Einfallswinkel, der dem Haupteinfallswinkel entspricht, auf die Oberfläche auf.A radiation distribution describes an electromagnetic radiation emitted by a light source. The radiation distribution can be characterized, for example, by an angular distribution of the electromagnetic radiation, a main angle of incidence, a spectral composition and / or by a periodicity of a light output, for example in the case of temporally pulsed illumination elements or a combination of the beam distribution specified above. An angle by which the angles of incidence of the electromagnetic radiation coming from a lighting element are centered with respect to the surface of the measuring area is referred to as the main angle of incidence. For example, if all the light rays of the light source run parallel to one another when hitting the surface, then all the light rays strike the surface at an angle of incidence which corresponds to the main angle of incidence.
Ein Miniaturspektrometer ist ein Spektrometer mit Abmessungen im Zentimeterbereich, wobei auch geringere Abmessungen unterhalb des Zentimeterbereichs eingeschlossen sind.A miniature spectrometer is a centimeter scale spectrometer, including smaller dimensions below the centimeter range.
Spektrale Informationen können beispielsweise eine chemische Zusammensetzung, das heißt ein Spektrum oder das Vorkommen eines bestimmten Stoffgemischs in einem Objekt umfassen.Spectral information may include, for example, a chemical composition, that is, a spectrum or the occurrence of a particular substance mixture in an object.
Falls mindestens eines der spektrometrischen Detektorsignale
Falls keines der spektrometrischen Detektorsignale
Alternativ oder ergänzend kann beispielsweise eine optische, haptische oder akustische Ausgabe über eine Ausgabeeinheit
In einem Ausführungsbeispiel kann der Vergleichswert
Der Vergleichswert
In
Ein Vergleichswert
Bei Vorliegen eines uneindeutigen Vergleichswerts
Bei Vorliegen eines uneindeutigen Vergleichswerts
Es kann somit anhand des weiteren Indikators
In
Ein Unterschied des Verfahrens in
In
In
ZITATE ENTHALTEN IN DER BESCHREIBUNG QUOTES INCLUDE IN THE DESCRIPTION
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Zitierte PatentliteraturCited patent literature
- DE 102007007040 A1 [0002]DE 102007007040 A1 [0002]
- DE 102011076677 A1 [0003]DE 102011076677 A1 [0003]
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Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2021122964A1 (en) * | 2019-12-18 | 2021-06-24 | Robert Bosch Gmbh | Method for ascertaining a spectrum of a sample, and optical analysis device |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE102007007040A1 (en) | 2007-02-07 | 2008-08-14 | Carl Zeiss Microlmaging Gmbh | Measuring device for the optical and spectroscopic examination of a sample |
DE102011076677A1 (en) | 2011-05-30 | 2012-12-06 | Carl Zeiss Microimaging Gmbh | Spectroscopic measuring device |
Family Cites Families (18)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
FR2579884B1 (en) * | 1985-04-09 | 1988-12-02 | Sanofi Sa | |
JPS6463842A (en) * | 1987-09-03 | 1989-03-09 | Terumo Corp | Method and apparatus for measuring concentration of optical material |
US5909280A (en) * | 1992-01-22 | 1999-06-01 | Maxam, Inc. | Method of monolithically fabricating a microspectrometer with integrated detector |
IL121279A (en) * | 1996-07-16 | 2001-05-20 | Roche Diagnostics Gmbh | Analytical system with means for detecting too small sample volumes |
DE60032136T2 (en) * | 1999-03-19 | 2007-10-25 | Titech Visionsort As | MATERIAL INSPECTION |
JP3779636B2 (en) * | 2002-03-27 | 2006-05-31 | 株式会社東芝 | Determination method of residual film by optical measurement |
ATE446500T1 (en) * | 2007-09-10 | 2009-11-15 | Hoffmann La Roche | METHOD AND DEVICE FOR EVALUATION OF A DRY CHEMICAL TEST ELEMENT |
DE102008033214A1 (en) * | 2008-07-15 | 2010-01-21 | Endress + Hauser Conducta Gesellschaft für Mess- und Regeltechnik mbH + Co. KG | Method for optically determining a measured variable of a measuring medium |
EP2223650A1 (en) * | 2009-02-25 | 2010-09-01 | The Provost, Fellows and Scholars of the College of the Holy and Undivided Trinity of Queen Elizabeth near Dublin | Method and apparatus for imaging tissue topography |
CN103026203A (en) * | 2010-07-27 | 2013-04-03 | 柯尼卡美能达先进多层薄膜株式会社 | Detection device and detection method for intermolecular interaction |
JP2012220359A (en) * | 2011-04-11 | 2012-11-12 | Tokyo Electron Ltd | Process monitoring device used for substrate processing apparatus, process monitoring method, and substrate processing apparatus |
EP2745098A4 (en) * | 2011-08-19 | 2015-04-01 | Ind Machinex Inc | Apparatus and method for inspecting matter and use thereof for sorting recyclable matter |
JP6146955B2 (en) * | 2012-03-13 | 2017-06-14 | キヤノン株式会社 | Apparatus, display control method, and program |
JP5732120B2 (en) * | 2013-09-13 | 2015-06-10 | 株式会社神戸製鋼所 | Evaluation equipment for oxide semiconductor thin films |
CN103759661B (en) * | 2013-11-04 | 2016-06-29 | 北京理工大学 | A kind of device for measuring film thickness and refractive index in medium |
JP6279399B2 (en) * | 2014-05-23 | 2018-02-14 | 浜松ホトニクス株式会社 | Optical measuring device and optical measuring method |
CN105510238B (en) * | 2014-09-28 | 2019-04-05 | 天津先阳科技发展有限公司 | Processing, modeling, prediction technique and the processing unit of multiposition diffusion spectroscopic data |
US9739661B2 (en) * | 2015-06-30 | 2017-08-22 | Agilent Technologies, Inc. | Infrared imaging system with automatic referencing |
-
2017
- 2017-01-11 DE DE102017200356.1A patent/DE102017200356A1/en not_active Withdrawn
-
2018
- 2018-01-10 CN CN201810023301.4A patent/CN108303387B/en not_active Expired - Fee Related
- 2018-01-10 FR FR1850193A patent/FR3061772A1/en not_active Withdrawn
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE102007007040A1 (en) | 2007-02-07 | 2008-08-14 | Carl Zeiss Microlmaging Gmbh | Measuring device for the optical and spectroscopic examination of a sample |
DE102011076677A1 (en) | 2011-05-30 | 2012-12-06 | Carl Zeiss Microimaging Gmbh | Spectroscopic measuring device |
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
TOMINAGA, Shoji; TANAKA, Norihiro: Spectral image acquisition, analysis, and rendering for art paintings. In: Journal of Electronic Imaging, Vol. 17, 2008, No. 4, S. 043022-1 – 043022-13. |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2021122964A1 (en) * | 2019-12-18 | 2021-06-24 | Robert Bosch Gmbh | Method for ascertaining a spectrum of a sample, and optical analysis device |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
FR3061772A1 (en) | 2018-07-13 |
CN108303387B (en) | 2022-03-15 |
CN108303387A (en) | 2018-07-20 |
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