DE102017117512A1 - Method for producing a device for determining a density of a medium - Google Patents
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Abstract
Verfahren zum Herstellen einer Vorrichtung zum Bestimmen einer Dichte eines Mediums, aufweisend zumindest die folgenden Schritte:- Bereitstellen eines Quarzoszillators (S100) zur Erzeugung einer elektrischen Schwingung mit einer bestimmten Frequenz, ein Gehäuse, in welches der Schwingquarz, eingebracht ist und eine Schwingquarzelektronik, die dazu eingerichtet ist, den Schwingquarz zur Erzeugung der elektrischen Schwingung anzusteuern und ein von der Frequenz abhängiges Ausgangssignal bereitzustellen;- Aufbringen des Quarzoszillators auf eine Leiterplatte (S200), welche zumindest eine Auswerteeinheit aufweist, und derartig ausgebildet ist, dass der Quarzoszillator nach dem Aufbringen elektrisch mit der Auswerteeinheit verbunden ist, so dass der Auswerteeinheit das Ausgangssignal zugeführt ist;- Punktieren des Gehäuses des Quarzoszillators (S300), so dass das Medium, dessen Dichte bestimmt werden soll, in Kontakt mit dem Schwingquarz treten kann und die Frequenz des Schwingquarzes in Abhängigkeit der Dichte verändert, wobei das Gehäuse derartig punktiert wird, dass zumindest eine Öffnung in das Gehäuse eingebracht wird.A method for producing a device for determining a density of a medium, comprising at least the following steps: - providing a quartz oscillator (S100) for generating an electrical oscillation with a specific frequency, a housing into which the quartz crystal is inserted, and a quartz oscillator electronics is arranged to control the quartz oscillator for generating the electrical oscillation and to provide a frequency-dependent output signal, - applying the quartz oscillator to a printed circuit board (S200) which has at least one evaluation unit and is designed so that the quartz oscillator is electrically applied after application is connected to the evaluation unit, so that the evaluation unit is supplied with the output signal, - puncturing the housing of the quartz oscillator (S300), so that the medium whose density is to be determined, can come into contact with the quartz crystal and the frequency of the quartz crystal i n Density of the density changed, wherein the housing is punctured such that at least one opening is introduced into the housing.
Description
Die vorliegende Erfindung betrifft ein Verfahren zum Herstellen einer Vorrichtung zum Bestimmen einer Dichte eines Mediums, eine Vorrichtung zur Bestimmung einer Dichte eines Mediums, sowie die Verwendung eines Quarzoszillators zur Bestimmung einer Dichte eines Mediums.The present invention relates to a method for producing a device for determining a density of a medium, a device for determining a density of a medium, and the use of a quartz oscillator for determining a density of a medium.
Es ist bereits bekannt, dass zum Bestimmen einer Dichte eines Mediums eine Vorrichtung mit einem Stimmgabel-Schwingquarz verwendet wird. Diese Stimmgabel-Schwingquarze werden für gewöhnlich als Sensorelement ohne Gehäuse verwendet, d.h. der Stimmgabel-Schwingquarz ist zum Medium hin offen und dem Medium ausgesetzt.It is already known that a device with a tuning fork quartz crystal is used to determine a density of a medium. These tuning fork quartz crystals are commonly used as a sensor element without a housing, i. the tuning fork quartz crystal is open to the medium and exposed to the medium.
Nachteilig an der Verwendung derartiger Stimmgabel-Schwingquarze ist es, dass diese bei der Montage Umwelteinflüssen ausgesetzt sind, was zur Ablagerung und/oder Veränderung des Schwingverhaltens führen kann. Ferner ist auch nachteilig, dass aufgrund des offenen Einsatzes der Stimmgabel-Schwingquarze diese gegen mechanische Einwirkungen während des eigentlichen Messbetriebes nicht geschützt sind.A disadvantage of the use of such tuning fork quartz crystals is that they are exposed to environmental influences during assembly, which can lead to the deposition and / or change the vibration behavior. Furthermore, it is also disadvantageous that due to the open use of the tuning fork quartz crystals these are not protected against mechanical effects during the actual measurement operation.
Es ist somit eine Aufgabe der Erfindung, eine Vorrichtung zum Bestimmen einer Dichte eines Mediums vorzuschlagen, die sowohl während der Herstellung bzw. Montage als auch im Messbetrieb vor Umwelteinflüssen und vor mechanischen Einwirkungen geschützt ist.It is therefore an object of the invention to provide a device for determining a density of a medium, which is protected both during manufacture and assembly as well as in measuring operation from environmental influences and against mechanical effects.
Die Aufgabe wird erfindungsgemäß durch ein Verfahren zum Herstellen einer Vorrichtung zum Bestimmen einer Dichte eines Mediums, einer Vorrichtung zur Bestimmung einer Dichte eines Mediums, sowie der Verwendung eines Quarzoszillators zur Bestimmung einer Dichte eines Mediums gelöst.The object is achieved by a method for producing a device for determining a density of a medium, a device for determining a density of a medium, and the use of a quartz oscillator for determining a density of a medium.
Hinsichtlich des Verfahrens wird die Aufgabe durch Verfahren zum Herstellen einer Vorrichtung zum Bestimmen einer Dichte eines Mediums, insbesondere eines Gases, gelöst, wobei das Verfahren zumindest die folgenden Schritte aufweist:
- - Bereitstellen eines Quarzoszillators, vorzugsweise in Form eines Uhrenquarzes, umfassend einen Schwingquarz, zur Erzeugung einer elektrischen Schwingung mit einer bestimmten Frequenz, vorzugsweise mit einer Frequenz von ca. 32,768 kHz, ein Gehäuse, in welches der Schwingquarz, vorzugsweise im Vakuum hermetisch, eingebracht ist und eine Schwingquarzelektronik, die dazu eingerichtet ist, den Schwingquarz zur Erzeugung der elektrischen Schwingung entsprechend anzusteuern und ein von der Frequenz abhängiges Ausgangssignal bereitzustellen;
- - Aufbringen, vorzugsweise in Form eines Lötschrittes, des Quarzoszillators auf eine Leiterplatte, welche zumindest eine Auswerteeinheit aufweist, und derartig ausgebildet ist, dass der Quarzoszillator nach dem Aufbringen elektrisch mit der Auswerteeinheit verbunden ist, so dass der Auswerteeinheit das Ausgangssignal zugeführt ist;
- - Punktieren des Gehäuses des Quarzoszillators, so dass das Medium, dessen Dichte bestimmt werden soll, in Kontakt mit dem Schwingquarz treten kann und die Frequenz des Schwingquarzes in Abhängigkeit der Dichte verändert, wobei das Gehäuse derartig punktiert wird, dass zumindest eine Öffnung in das Gehäuse eingebracht wird.
- - Providing a quartz oscillator, preferably in the form of a quartz watch, comprising a quartz crystal, for generating an electrical oscillation with a certain frequency, preferably with a frequency of about 32.768 kHz, a housing in which the quartz crystal, preferably hermetically introduced in a vacuum and a quartz crystal electronics configured to appropriately drive the crystal for generating the electric oscillation and to provide a frequency dependent output signal;
- Applying, preferably in the form of a soldering step, the quartz oscillator to a printed circuit board which has at least one evaluation unit, and is designed such that the quartz oscillator is electrically connected to the evaluation unit after application, so that the evaluation unit is supplied with the output signal;
- - Dotting the housing of the quartz oscillator, so that the medium whose density is to be determined, can come into contact with the quartz crystal and the frequency of the quartz oscillator in dependence of the density is changed, wherein the housing is punctured such that at least one opening in the housing is introduced.
Vorliegend soll unter einem Quarzoszillator ein als ein Frequenznormal in diversen elektrischen bzw. elektronischen Schaltungen zu verwendendes Bauelement verstanden werden. Ein derartiger Quarzoszillator umfasst eine in ein Gehäuse eingebrachte elektronische Schaltung zum Erzeugen von Schwingungen, die als frequenzbestimmendes Bauelement einen in einer Schutzumgebung, insbesondere eine ein Vakuum aufweisende Schutzumgebung, befindlichen Schwingquarz enthält. Es handelt sich somit bei dem Quarzoszillator um eine fertig aufgebaute Oszillatorschaltung, die zusammen mit dem frequenzbestimmenden Schwingquarz als Standardbauteil erhältlich ist. Unter den Begriff des Quarzoszillators sollen vorliegenden insbesondere auch sogenannte Uhrenquarze fallen, welche eine Quarzfrequenz von 32,768 kHz oder ein ganzzahliges Vielfaches bzw. einen ganzzahligen Bruchteil dieser Frequenz erzeugen. Die durch den Schwingquarz des Uhrenquarzs erzeugten Sinusschwingungen werden durch eine Oszillatorschaltung in Rechtecksignale dergleichen Frequenz umgesetzt.In the present case, a quartz oscillator is to be understood as a component to be used as a frequency standard in various electrical or electronic circuits. Such a quartz oscillator comprises an electronic circuit, which is introduced into a housing, for generating oscillations, which as a frequency-determining component contains an oscillating quartz located in a protective environment, in particular a protective environment having a vacuum. Thus, the quartz oscillator is a completely constructed oscillator circuit, which is available together with the frequency-determining oscillating quartz as a standard component. The term quartz oscillator is also intended to include so-called clock crystals, which produce a quartz frequency of 32.768 kHz or an integer multiple or an integral fraction of this frequency. The sine waves generated by the quartz crystal of the quartz watch are converted into square wave signals of the same frequency by an oscillator circuit.
Erfindungsgemäß wird vorgeschlagen, dass ein solches Standardbauteil zur Bestimmung der Dichte des Mediums verwendet wird und dass das Standardbauteil dazu nach der Montage bzw. nach dem Aufbringen auf die Leiterplatte punktiert wird, so dass das zu messende Medium mit dem Schwingquarz in Berührung kommt bzw. interagieren kann.According to the invention, it is proposed that such a standard component is used to determine the density of the medium and that the standard component is punctured after assembly or after application to the printed circuit board, so that the medium to be measured comes into contact or interact with the quartz crystal can.
Die erfindungsgemäße Lösung bietet den Vorteil, dass während der Montage des Quarzoszillators auf die Leiterplatte der Schwingquarz noch durch das zu diesem Zeitpunkt noch nicht punktierte Gehäuse geschützt ist. Nach der Montage wird das Gehäuse punktiert und dient während des eigentlichen Messbetriebes dem Schutz des Schwingquarzes vor mechanischen Einflüssen, welche den Schwingquarz beschädigen bzw. beeinflussen könnten. Ferner bietet die erfindungsgemäße Lösung den Vorteil, dass durch einfache Modifikation eines Standardbauteils, welches aufgrund der hohen Stückzahlen in denen es gefertigt wird kostengünstig erwerbbar ist, die Dichte des Mediums bestimmt werden kann.The solution according to the invention has the advantage that during the mounting of the quartz oscillator on the circuit board of the quartz crystal is still protected by the not yet punctured at this time housing. After assembly, the housing is punctured and serves during the actual measurement operation the protection of the quartz crystal from mechanical influences, which could damage or influence the quartz crystal. Furthermore, the solution according to the invention has the advantage that by simple modification of a standard component, which due to the high quantities in which it is manufactured inexpensively acquirable, the density of the medium can be determined.
Eine vorteilhafte Ausführungsform des Verfahrens sieht vor, dass das Gehäuse derartig punktiert wird, dass weitere Öffnungen in das Gehäuse eingebracht werden. Insbesondere kann die Ausführungsform vorsehen, dass das Gehäuse derartig punktiert wird, dass zumindest die weiteren Öffnungen so ausgebildet sind, dass Partikel mit einem geometrischen Äquivalentdurchmesser kleiner 35 µm, bevorzugt kleiner 30 µm, besonders bevorzugt kleiner 25 µm nicht in das Gehäuse durch die weiteren Öffnungen eindringen können, so dass zumindest die weiteren Öffnungen als ein Partikelfilter dienen. Durch die weiteren Öffnungen die durch das weitere Punktieren erzeugt werden, entsteht ein Filter, welcher den darunter liegenden Schwingquarz vor mechanischen Einwirkungen, wie bspw. Partikeln, schützt.An advantageous embodiment of the method provides that the housing is punctured in such a way that further openings are introduced into the housing. In particular, the embodiment can provide that the housing is punctured such that at least the further openings are formed so that particles with a geometric equivalent diameter smaller than 35 microns, preferably less than 30 microns, more preferably less than 25 microns in the housing through the other openings can penetrate, so that at least the other openings serve as a particulate filter. Through the further openings which are generated by the further puncturing, a filter is formed, which protects the underlying quartz crystal against mechanical effects, such as. Particles.
Unter dem Äquivalentdurchmesser ist hierbei ein Maß für die Größe eines unregelmäßig geformten Partikels wie beispielsweise eines Sandkorns zu verstehen. Er berechnet sich aus dem Vergleich einer Eigenschaft des unregelmäßigen Teilchens mit einer Eigenschaft eines regelmäßig geformten Teilchens. Den geometrischen Äquivalentdurchmesser erhält man durch Bestimmung des Durchmessers einer Kugel oder eines Kreises mit gleicher geometrischer Eigenschaft (Oberfläche, Volumen oder Projektionsfläche) wie das unregelmäßig geformte Partikel.By the equivalent diameter is meant a measure of the size of an irregularly shaped particle such as a grain of sand. It is calculated by comparing a property of the irregular particle with a property of a regularly shaped particle. The geometric equivalent diameter is obtained by determining the diameter of a sphere or circle with the same geometric property (surface area, volume or projection area) as the irregularly shaped particle.
Eine weitere vorteilhafte Ausführungsform des Verfahrens sieht vor, dass das Gehäuse derartig punktiert wird, dass zumindest die eine Öffnung mittels eines mechanischen Werkzeuges, insbesondere eines Stanzeisens, in das Gehäuse eingebracht wird. Insbesondere kann die Ausführungsform vorsehen, dass das Gehäuse derartig punktiert wird, dass die weiteren Öffnungen, vorzugsweise mittels eines Lasers, in das Gehäuse eingebracht werden, nachdem die zumindest eine Öffnung mittels des mechanischen Werkzeuges eingebracht wurde und/oder dass die mittels des mechanischen Werkzeuges eingebrachte zumindest eine Öffnung nach dem Einbringen der weiteren Öffnungen mittels des Lasers wieder verschlossen wird.A further advantageous embodiment of the method provides that the housing is punctured such that at least one opening by means of a mechanical tool, in particular a punching iron, is introduced into the housing. In particular, the embodiment can provide that the housing is punctured such that the further openings, preferably by means of a laser, are introduced into the housing after the at least one opening has been introduced by means of the mechanical tool and / or that introduced by means of the mechanical tool at least one opening after the introduction of the further openings is closed again by means of the laser.
Eine weitere vorteilhafte Ausführungsform des Verfahrens sieht vor, dass das Gehäuse derartig punktiert wird, dass die zumindest eine Öffnung und/oder die weiteren Öffnungen mittels eines gepulsten Lasers, insbesondere eines Pikosekunden- oder höher gepulsten Lasers, in das Gehäuse eingebracht wird bzw. werden.A further advantageous embodiment of the method provides that the housing is punctured in such a way that the at least one opening and / or the further openings are introduced into the housing by means of a pulsed laser, in particular a picosecond or higher pulsed laser.
Hinsichtlich der Vorrichtung wird die Aufgabe durch eine Vorrichtung zur Bestimmung einer Dichte eines Mediums, insbesondere eines Gases, gelöst, welche zumindest folgendes aufweist:
- - einen Quarzoszillator, umfassend einen Schwingquarz, vorzugsweise in Form eines Uhrenquarzes, zur Erzeugung einer elektrischen Schwingung mit einer bestimmten Frequenz, vorzugsweise mit einer Frequenz von ca. 32,768 kHz, ein Gehäuse, in welches der Schwingquarz eingebracht ist und eine Schwingquarzelektronik, die dazu eingerichtet ist, den Schwingquarz zur Erzeugung der elektrischen Schwingung entsprechend anzusteuern und ein von der Frequenz abhängiges Ausgangssignal (Sout) bereitzustellen;
- - einen Leiterplatte, umfassend zumindest eine Auswerteeinheit, wobei der Quarzoszillator auf der Leiterplatte aufgebracht ist und elektrisch mit der Auswerteeinheit verbunden ist, so dass der Auswerteeinheit das Ausgangssignal der Schwingquarzelektronik zugeführt ist;
- - A quartz oscillator, comprising a quartz crystal, preferably in the form of a quartz watch, for generating an electrical oscillation with a certain frequency, preferably with a frequency of about 32.768 kHz, a housing in which the quartz crystal is introduced and a quartz crystal electronics, which set up is to drive the oscillating crystal to generate the electrical oscillation and to provide a frequency dependent output signal (Sout);
- a printed circuit board comprising at least one evaluation unit, wherein the quartz oscillator is mounted on the printed circuit board and is electrically connected to the evaluation unit, so that the evaluation unit is supplied with the output signal of the quartz crystal electronics;
Eine vorteilhafte Ausgestaltung der Vorrichtung sieht vor, dass in das Gehäuse weitere Öffnungen eingebracht sind. Insbesondere kann die Ausgestaltung vorsehen, dass zumindest die weiteren Öffnungen so ausgebildet sind, dass keine Partikel mit einem geometrischen Äquivalentdurchmesser kleiner 35 µm, bevorzugt kleiner 30 µm, besonders bevorzugt kleiner 25 µm in das Gehäuse durch die weiteren Öffnungen eindringen können, so dass zumindest die weiteren Öffnungen als ein Partikelfilter dienen.An advantageous embodiment of the device provides that in the housing further openings are introduced. In particular, the embodiment can provide that at least the further openings are formed so that no particles with a geometric equivalent diameter smaller than 35 microns, preferably less than 30 microns, more preferably less than 25 microns can penetrate into the housing through the other openings, so that at least the serve further openings as a particle filter.
Eine weitere vorteilhafte Ausgestaltung der Vorrichtung sieht vor, dass die zumindest eine Öffnung und/oder die weiteren Öffnungen im Wesentlichen als kreisrunde Öffnungen ausgebildet ist bzw. sind.A further advantageous embodiment of the device provides that the at least one opening and / or the further openings is or are designed essentially as circular openings.
Wiederum eine weitere vorteilhafte Ausgestaltung der Vorrichtung sieht vor, dass die Leiterplatte einen ersten Bereich und einen zweiten Bereich aufweist, wobei der Quarzoszillator in dem ersten Bereich und die Auswerteeinheit in dem zweiten Bereich angeordnet sind, wobei die Vorrichtung ferner einer Glasdurchführung umfasst, die zwischen dem ersten und zweiten Bereich vorgesehen ist und der Quarzoszillator über die Glasdurchführung elektrisch mit der Auswerteeinheit verbunden ist.Yet another advantageous embodiment of the device provides that the printed circuit board has a first region and a second region, wherein the quartz oscillator in the first region and the evaluation are arranged in the second region, wherein the device further comprises a glass feedthrough, which between the the first and second region is provided and the quartz oscillator is electrically connected via the glass feedthrough to the evaluation unit.
Eine letzte vorteilhafte Ausgestaltung der Vorrichtung sieht vor, dass der Quarzoszillator bestimmungsgemäß als ein Frequenznormal dient und durch die zumindest eine Öffnung in dem Gehäuse zur Messung der Dichte des Mediums, welches durch die zumindest eine Öffnung eindringen kann, zweckentfremdet wird. A last advantageous embodiment of the device provides that the quartz oscillator as intended serves as a frequency normal and by the at least one opening in the housing for measuring the density of the medium, which can penetrate through the at least one opening, is misused.
Hinsichtlich der Verwendung wird die Aufgabe durch die Verwendung eines Quarzoszillator zur Bestimmung einer Dichte eines Mediums, wobei der Quarzoszillator umfassend einen Schwingquarz, vorzugsweise in Form eines Uhrenquarzes, zur Erzeugung einer elektrischen Schwingung mit einer bestimmten Frequenz, vorzugsweise mit einer Frequenz von ca. 32,768 kHz, ein Gehäuse, in welches der Schwingquarz eingebracht ist und eine Schwingquarzelektronik, die dazu eingerichtet ist, den Schwingquarz zur Erzeugung der elektrischen Schwingung entsprechend anzusteuern und ein von der Frequenz abhängiges Ausgangssignal bereitzustellen, wobei zur Verwendung des Quarzoszillator zur Bestimmung der Dichte des Mediums das Gehäuse derartig punktiert wird, dass zumindest eine Öffnung in das Gehäuse eingebracht ist und der Quarzoszillator dem Medium ausgesetzt wird, so dass die Dichte die Frequenz und entsprechend das Ausgangssignal verändert.With regard to the use, the object is achieved by the use of a quartz oscillator for determining a density of a medium, the quartz oscillator comprising a quartz crystal, preferably in the form of a quartz crystal, for generating an electrical oscillation with a specific frequency, preferably with a frequency of about 32.768 kHz , a housing in which the quartz crystal is incorporated, and a quartz crystal electronic device adapted to drive the oscillating crystal to generate the electrical oscillation and to provide a frequency dependent output signal, wherein the housing is used to determine the density of the medium for use with the quartz oscillator is punctured such that at least one opening is introduced into the housing and the quartz oscillator is exposed to the medium, so that the density changes the frequency and, correspondingly, the output signal.
Die Erfindung wird anhand der nachfolgenden Zeichnungen näher erläutert. Es zeigt:
-
1 : einen schematischen Ablauf eines erfindungsgemäßen Herstellungsverfahrens, -
2 : ein Draufsicht auf einen Quarzoszillator, dessen Gehäuse derartig punktiert ist, dass die Öffnungen einen Partikelfilter ausbilden, und -
3 : eine erfindungsgemäße Vorrichtung zur Bestimmung einer Dichte eines Mediums. -
1 zeigt einen schematischen Ablauf des erfindungsgemäßen Herstellungsverfahrens, welches im Wesentlichen aus drei Verfahrensschritten besteht.
-
1 : a schematic sequence of a production method according to the invention, -
2 FIG. 2: a plan view of a quartz oscillator whose housing is punctured in such a way that the openings form a particle filter, and FIG -
3 A device according to the invention for determining a density of a medium. -
1 shows a schematic sequence of the manufacturing method according to the invention, which consists essentially of three process steps.
In einem ersten Verfahrensschritt
In einem zweiten Verfahrensschritt
In einem dritten Verfahrensschritt
In dem dritten Verfahrensschritt kann weiterhin vorgesehen sein, dass das Gehäuse
Dementsprechend sind zumindest die weiteren Öffnungen
Eine entsprechend dem zuvor beschriebenen Verfahren hergestellte Vorrichtung kann zur Bestimmung der Dichte eines Mediums, insbesondere eines Gases, eingesetzt werden. Hierzu muss der punktierte Quarzoszillator
Als vorteilhaft hat es sich erwiesen, wenn in dem Mittenabschnitt
Ferner kann die Leiterplatte
BezugszeichenlisteLIST OF REFERENCE NUMBERS
- S100S100
- Bereitstellen eines Quarzoszillators in Form eines Standard BauteilesProviding a quartz oscillator in the form of a standard component
- S200S200
- Auflöten des Quarzoszillators auf eine Leiterplatte bzw. PCBSoldering the quartz oscillator on a PCB or PCB
- S300S300
- Punktierung eines Gehäuses des QuarzoszillatorsDotting of a housing of the quartz oscillator
- S300aS300A
- Punktierung einer Initialöffnung in das Gehäuse mittels eines mechanischen WerkzeugesDotting an initial opening in the housing by means of a mechanical tool
- S300bS300b
- Punktierung einer Initialöffnung in das Gehäuse mittels eines gepulsten LasersDotting an initial opening in the housing by means of a pulsed laser
- S301S301
- Punktierung weiterer Öffnungen in das Gehäuse mittels eines LasersDotting further openings in the housing by means of a laser
- S400S400
- Verschließen der InitialöffnungClosing the initial opening
- 11
- Vorrichtung zur Bestimmung einer Dichte eines MediumsDevice for determining a density of a medium
- 22
- Mediummedium
- 33
- Quarzoszillatorcrystal oscillator
- 44
- Schwingquarzquartz crystal
- 55
- Gehäuse des QuarzoszillatorsHousing of the quartz oscillator
- 66
- SchwingquarzelektronikQuartz crystal electronics
- 77
- Auswerteeinheitevaluation
- 88th
- Leiterplattecircuit board
- 99
- Öffnung bzw. InitialöffnungOpening or initial opening
- 1010
- weitere Öffnungenmore openings
- 1111
- Partikelfilterparticulate Filter
- 1212
- erster Bereich der Leiterplattefirst area of the circuit board
- 1313
- zweiter Bereich der Leiterplattesecond area of the circuit board
- 1414
- Mittenabschnittmid section
- 1515
- GlasdurchführungGlass bushing
- 1616
- Ausgangspinoutput pin
- 1717
- Vorrichtungsgehäusedevice housing
- SoutSout
- Ausgangssignal des QuarzoszillatorsOutput signal of the quartz oscillator
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2018
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