DE102015203866A1 - Method and device for leakage-current compensated resistance measurement - Google Patents
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Abstract
Es ist eine schematische Darstellung eines Flussdiagramms eines Verfahrens 200 zur leckstromkompensierten Widerstandsmessung gezeigt. Das Verfahren umfasst einen Schritt 205, in dem eine erste Spannung der ersten Spannungsquelle an den ersten Anschluss des Widerstands angelegt wird, und einen Schritt 210, in dem eine zweite Spannung, die sich von der ersten Spannung unterscheidet, der zweiten Spannungsquelle an dem zweiten Anschluss des Widerstands angelegt wird. Im Anschluss wird in Schritt 215 ein erster Stromfluss zwischen der ersten Spannungsquelle und dem ersten Anschluss des Widerstands gemessen In einem Schritt 220 wird die zweite Spannungsquelle 15 nach dem Messen des ersten Stromflusses 45 derart eingestellt, dass die zweite Spannung 35' einen sich von dem vorigen Spannungswert unterscheidenden Spannungswert aufweist. In Schritt 225 wird nun ein zweiter Stromfluss zwischen der ersten Spannungsquelle und dem ersten Anschluss des Widerstands gemessen. Basierend auf den beiden Messungen wird in Schritt 230 der Widerstandswert des Widerstands basierend auf einem, durch den zweiten Stromfluss kompensierten ersten Stromfluss berechnet.A schematic representation of a flowchart of a method 200 for leakage-current-compensated resistance measurement is shown. The method comprises a step 205, in which a first voltage of the first voltage source is applied to the first terminal of the resistor, and a step 210, in which a second voltage, which differs from the first voltage, of the second voltage source at the second terminal of resistance is applied. Thereafter, in step 215, a first current flow is measured between the first voltage source and the first terminal of the resistor. In step 220, the second voltage source 15 is set after measuring the first current flow 45 such that the second voltage 35 'is different from the previous one Voltage value differing voltage value. In step 225, a second current flow is now measured between the first voltage source and the first terminal of the resistor. Based on the two measurements, in step 230, the resistance of the resistor is calculated based on a first current flow compensated by the second current flow.
Description
Die vorliegende Erfindung bezieht sich auf eine Vorrichtung und ein Verfahren zur leckstromkompensierten Widerstandsmessung. Ausführungsbeispiele zeigen eine leckstromtolerante Widerstandsmessung sowie eine CMOS-integrierte leckstromtolerante Widerstandsmessung.The present invention relates to an apparatus and method for leakage-current compensated resistance measurement. Embodiments show a leakage current tolerant resistance measurement and a CMOS integrated leakage current tolerant resistance measurement.
Der Widerstand eines Elements lässt sich mithilfe des Ohm'schen Gesetzes (U = R × I) bestimmen. Zur Bestimmung des Widerstands wird entweder ein konstanter Strom in den Widerstand eingespeist und die Spannung über dem Sensor (bzw. Widerstand) gemessen, oder der Widerstand wird mit einer konstanten Spannung beaufschlagt und es wird der Strom durch den Widerstand gemessen. Beide Messarten lassen sich auch in CMOS (Complementary Metal Oxid Semiconductor, dt.: sich ergänzender Metalloxidhalbleiter) Chips leicht integrieren. Problematisch wird die Widerstandsmessung bei sehr großen Widerständen, da hier die Leckströme größer sein können als die zu messenden Ströme durch den Widerstand und somit eine Widerstandsmessung unmöglich wird.The resistance of an element can be determined by Ohm's law (U = R × I). To determine the resistance, either a constant current is fed to the resistor and the voltage across the sensor (or resistor) is measured, or the resistor is subjected to a constant voltage and the current through the resistor is measured. Both types of measurement can also be easily integrated in CMOS (Complementary Metal Oxide Semiconductor) chips. The resistance measurement becomes problematical with very large resistances, since here the leakage currents can be greater than the currents to be measured through the resistor and thus a resistance measurement becomes impossible.
Der vorliegenden Erfindung liegt somit die Aufgabe zugrunde, ein verbessertes Konzept zur Widerstandsmessung zu schaffen.The present invention is therefore based on the object to provide an improved concept for resistance measurement.
Diese Aufgabe wird durch den Gegenstand der unabhängigen Patentansprüche gelöst. Erfindungsgemäße Weiterbildungen sind in den Unteransprüchen definiert.This object is solved by the subject matter of the independent patent claims. Inventive developments are defined in the subclaims.
Ausführungsbeispiele zeigen ein Verfahren zur leckstromkompensierten Widerstandsmessung. In einem ersten Schritt wird eine erste Spannung einer ersten Spannungsquelle an einen ersten Anschluss eines Widerstands angelegt, sowie in einem zweiten Schritt eine zweite Spannung, die sich von der ersten Spannung unterscheidet, einer zweiten Spannungsquelle an einen zweiten Anschluss des Widerstands angelegt. Ferner wird ein erster Stromfluss zwischen der ersten Spannungsquelle und dem ersten Anschluss des Widerstands gemessen. Nach dem Messen des ersten Stromflusses erfolgt das Einstellen der zweiten Spannungsquelle derart, dass die zweite Spannung einen sich von dem vorigen Spannungswert unterscheidenden Spannungswert aufweist. Daraufhin wird ein zweiter Stromfluss zwischen der ersten Spannungsquelle und dem ersten Anschluss des Widerstands gemessen und ein Widerstandswert, basierend auf einem, durch den zweiten Stromfluss, kompensierten ersten Stromfluss berechnet.Exemplary embodiments show a method for leakage-current-compensated resistance measurement. In a first step, a first voltage of a first voltage source is applied to a first terminal of a resistor, and in a second step, a second voltage, which differs from the first voltage, of a second voltage source is applied to a second terminal of the resistor. Furthermore, a first current flow is measured between the first voltage source and the first terminal of the resistor. After measuring the first current flow, the second voltage source is adjusted such that the second voltage has a voltage value that differs from the previous voltage value. Then, a second current flow is measured between the first voltage source and the first terminal of the resistor and a resistance value calculated based on a first current flow compensated by the second current flow.
Der Erfindung liegt die Erkenntnis zugrunde, dass eine leckstrombehaftete Standardwiderstandsmessung mittels einer Kompensationsmessung kompensiert werden kann. Für die Standardwiderstandsmessung werden zunächst zwei Spannungsquellen an beide Enden des Widerstands angeschlossen, wobei die Spannungswerte der Spannungsquellen sich voneinander unterscheiden, so dass über dem Widerstand eine Potenzialdifferenz vorliegt, die in einen Stromfluss resultiert. Der Stromfluss wird, beispielsweise mittels eines Amperemeters, zwischen der ersten Spannungsquelle und dem Widerstand gemessen. Dabei wird die Messung der Stromstärke durch Leckströme zwischen der ersten Spannungsquelle und dem Widerstand beeinflusst. Für die Kompensationsmessung wird die Spannung der zweiten Spannungsquelle auf einen anderen als den vorher eingestellten Spannungswert geregelt. Sofern die erste Spannung konstant bleibt, kann nun aus einer messungsübergreifenden Differenz der Spannungsdifferenzen über dem Widerstand und einer Differenz der gemessenen Stromstärken der Widerstand berechnet werden. Die Leckströme bleiben in diesem Fall konstant, da die erste Spannung konstant ist und heben sich bei der Subtraktion der Stromstärken von der ersten und der zweiten Messung gegeneinander auf.The invention is based on the finding that a leakage current-based standard resistance measurement can be compensated by means of a compensation measurement. For the standard resistance measurement, two voltage sources are first connected to both ends of the resistor, the voltage values of the voltage sources differing from one another so that there is a potential difference across the resistor, which results in a current flow. The current flow is measured, for example by means of an ammeter, between the first voltage source and the resistor. The measurement of the current intensity is influenced by leakage currents between the first voltage source and the resistor. For the compensation measurement, the voltage of the second voltage source is regulated to a different voltage value than previously set. If the first voltage remains constant, the resistance can now be calculated from a cross-difference in the difference in voltage across the resistor and a difference in the measured currents. The leakage currents remain constant in this case, since the first voltage is constant and cancel each other out when subtracting the currents from the first and the second measurement.
Gemäß Ausführungsbeispielen wird die zweite Spannungsquelle nach dem Messen des ersten Stromflusses derart eingestellt, dass die zweite Spannung den Spannungswert der ersten Spannung aufweist. Über dem Widerstand liegt somit keine Potenzialdifferenz mehr vor bzw. die Potentialdifferenz beträgt 0 V. Die nun gemessene Stromstärke zwischen der ersten Spannungsquelle und dem Widerstand weist nun den Wert der Leckströme zwischen der ersten Spannungsquelle und dem Widerstand auf. Leckströme zwischen der zweiten Spannungsquelle und dem Widerstand werden von der Spannungsquelle, die als geregelte Spannungsquelle ausgeführt sein kann, bereits kompensiert. Ferner hat auch die Höhe der Leckströme keine Auswirkung auf die vorgestellte Messung, da die Leckströme nochmals separat gemessen werden und zur Berechnung des Widerstands den Stromfluss der ersten Messung kompensieren.According to embodiments, the second voltage source is adjusted after measuring the first current flow such that the second voltage has the voltage value of the first voltage. Thus, there is no potential difference across the resistor or the potential difference is 0 V. The now measured current intensity between the first voltage source and the resistor now has the value of the leakage currents between the first voltage source and the resistor. Leakage currents between the second voltage source and the resistor are already compensated by the voltage source, which may be designed as a regulated voltage source. Furthermore, the magnitude of the leakage currents has no effect on the presented measurement, since the leakage currents are again measured separately and compensate for the current flow of the first measurement to calculate the resistance.
Ausführungsbeispiele beschreiben ferner das Berechnen des Widerstandswerts, wobei der zweite Stromfluss von dem ersten Stromfluss subtrahiert wird, um den kompensierten ersten Stromfluss zu erhalten, und die Spannungsdifferenz, die beim Messen des ersten Stromflusses über dem Widerstand anliegt, durch den kompensierten Stromfluss dividiert wird. Dies ist vorteilhaft, da so der reale Stromfluss durch den Widerstand, unabhängig von den auftretenden Leckströmen, zur Berechnung des Widerstandswerts herangezogen werden kann, und die Berechnung, insbesondere bei hohen Leckströmen, deutlich präzisiert.Embodiments further describe calculating the resistance value, subtracting the second current flow from the first current flow to obtain the compensated first current flow, and dividing the voltage difference across the resistor when measuring the first current flow by the compensated current flow. This is advantageous since the real current flow through the resistor, irrespective of the leakage currents that occur, can be used to calculate the resistance value, and the calculation, in particular at high leakage currents, can be made more precise.
Ausführungsbeispiele beschreiben ferner, dass der Anschluss des Widerstands an einem Anschlusselement kontaktiert bzw. elektrisch angeschlossen ist. Das Anschlusselement kann ein Anschlusspad sein, wie es beispielsweise bei der Fertigung von CMOS-Bauelementen verwendet wird. Dies ermöglicht die Herstellung einer integrierten Schaltung bzw. eines Chips oder eines Bauteils, das die integrierte Schaltung umfasst, wobei das Anschlusselement einen Kontakt der integrierten Schaltung zur Außenwelt darstellt, an der ein Widerstand zur Widerstandsmessung angeschlossen werden kann. Standardanschlusselemente bzw. handelsübliche Anschlusspads können selber einen hohen Leckstrom aufweisen, der durch die gezeigte Messung ebenfalls kompensiert wird. Embodiments further describe that the connection of the resistor is contacted or electrically connected to a connection element. The connection element may be a connection pad, as used for example in the manufacture of CMOS components. This makes it possible to produce an integrated circuit or a chip or a component which comprises the integrated circuit, wherein the connection element represents a contact of the integrated circuit to the outside world, to which a resistor for resistance measurement can be connected. Standard connection elements or commercially available connection pads can themselves have a high leakage current, which is also compensated by the measurement shown.
Gemäß einem weiteren Ausführungsbeispiel werden die beschriebenen Verfahrensschritte mittels einer Steuerungseinheit ausgeführt, wobei die Steuerungseinheit programmiert sein kann, die Verfahrensschritte automatisch auszuführen. Dies ist vorteilhaft, da somit eine automatische und präzise Messung in Abwesenheit von Testpersonal oder zumindest ohne manuelle Eingriffe vorgenommen werden kann.According to a further embodiment, the described method steps are carried out by means of a control unit, wherein the control unit can be programmed to execute the method steps automatically. This is advantageous, since thus an automatic and precise measurement in the absence of test personnel or at least without manual intervention can be made.
Ferner zeigen Ausführungsbeispiele eine Vorrichtung zur leckstromkompensierten Widerstandsmessung mit einer ersten Spannungsquelle, die ausgebildet ist, eine erste Spannung, unabhängig von einem Stromfluss, an einen ersten Anschluss eines Widerstands bereitzustellen, sowie einer zweiten Spannungsquelle, die ausgebildet ist, eine zweite Spannung, unabhängig von einem Stromfluss, an einen zweiten Anschluss des Widerstands bereitzustellen. Ferner umfasst die Vorrichtung eine Strommessvorrichtung, die ausgebildet ist, einen Stromfluss zwischen der ersten Spannungsquelle und dem Widerstand zu messen. Wird die Widerstandsmessung mit Gleichstrom ausgeführt, so ist es vorteilhaft, die Spannung an dem ersten und dem zweiten Anschluss des Widerstands konstant zu halten, so dass ein konstanter Stromfluss durch den Widerstand gewährleistet ist. Ferner ist der Einsatz von zwei unabhängigen Spannungsquellen vorteilhaft, da somit die Potenziale an dem Widerstand bekannt sind und sich separat einstellen lassen, so dass Spannungsänderungen nur in dem Teil der Messschaltung vorgenommen werden brauchen, in dem keine Strommessung stattfindet. Da somit der Zweig, in dem die Strommessung stattfindet, konstant bleibt, ist somit auch die Höhe der Leckströme in der ersten Messung und der zweiten Messung unverändert.Furthermore, embodiments show a device for leakage-compensated resistance measurement with a first voltage source, which is designed to provide a first voltage, independent of a current flow, to a first terminal of a resistor, and a second voltage source, which is formed, a second voltage, independent of one Current flow to provide to a second terminal of the resistor. Furthermore, the device comprises a current measuring device, which is designed to measure a current flow between the first voltage source and the resistor. If the resistance measurement is carried out with direct current, it is advantageous to keep the voltage at the first and the second terminal of the resistor constant, so that a constant current flow through the resistor is ensured. Furthermore, the use of two independent voltage sources is advantageous, since thus the potentials at the resistor are known and can be adjusted separately, so that voltage changes need only be made in the part of the measuring circuit in which no current measurement takes place. Thus, since the branch in which the current measurement takes place remains constant, the magnitude of the leakage currents in the first measurement and the second measurement is therefore also unchanged.
Weitere Ausführungsbeispiele beschreiben die erste und/oder die zweite Spannungsquelle als geregelte Spannungsquelle. Dies ist vorteilhaft, da eine geregelte Spannungsquelle ausgebildet ist, konstante und genaue Spannungspegel an dem ersten und dem zweiten Anschluss des Widerstands anzulegen. Insbesondere zwischen der zweiten Spannungsquelle und dem zweiten Anschluss des Widerstands ist somit sichergestellt, dass Leckströme, die in diesem Abschnitt auftreten, die Spannung am zweiten Anschluss des Widerstands nicht beeinflussen.Further exemplary embodiments describe the first and / or the second voltage source as a regulated voltage source. This is advantageous because a regulated voltage source is configured to apply constant and accurate voltage levels to the first and second terminals of the resistor. In particular, between the second voltage source and the second terminal of the resistor is thus ensured that leakage currents that occur in this section, do not affect the voltage at the second terminal of the resistor.
Weitere Ausführungsbeispiele zeigen die Vorrichtung als integrierte Schaltung. Dies ist vorteilhaft, da somit die gesamte Vorrichtung auf einem Chip bzw. einem Substrat ausgeführt und optional in einem Gehäuse angeordnet werden kann. Die Anschlusselemente stellen dann Kontakte zur Außenwelt, d. h. beispielsweise zu einem extern angeschlossenen Widerstandselement, dessen Widerstandswert gemessen werden soll, dar.Further embodiments show the device as an integrated circuit. This is advantageous since the entire device can thus be embodied on a chip or a substrate and can optionally be arranged in a housing. The connection elements then make contacts with the outside world, i. H. For example, to an externally connected resistance element whose resistance value is to be measured, is.
Gemäß Ausführungsbeispielen ist der erste Anschluss des Widerstands an zwei Anschlusselemente und der zweite Anschluss des Widerstands an zwei weitere Anschlusselemente kontaktiert bzw. angeschlossen. Dies ermöglicht eine Vierspitzenmessung, die eine Spannungsmessung weitgehend unabhängig vom Übergangswiderstand zwischen den Messspitzen und dem Widerstand erlaubt und eine exakt eingestellte Spannung an dem Widerstand bereitstellt.According to embodiments, the first terminal of the resistor is contacted or connected to two connection elements and the second connection of the resistor to two further connection elements. This allows a four-point measurement, which allows a voltage measurement largely independent of the contact resistance between the measuring tips and the resistor and provides an exactly set voltage to the resistor.
Gemäß einem Ausführungsbeispiel weist die Vorrichtung einen Operationsverstärker, einen Transistor, einen Widerstand, einen Messwiderstand sowie die Anschlusselemente auf. Der Operationsverstärker, der Transistor und der Widerstand können zu einer gesteuerten Spannungsquelle kombiniert bzw. verschaltet werden, der Messwiderstand bietet die Möglichkeit zur Stromstärkemessung und die Anschlusselemente stellen einen Kontakt zur Außenwelt bereit. Die gezeigte Anordnung ist vorteilhaft, da diese in einer integrierten Schaltung ausgeführt werden kann.According to one embodiment, the device has an operational amplifier, a transistor, a resistor, a measuring resistor and the connection elements. The operational amplifier, the transistor and the resistor can be combined or interconnected to a controlled voltage source, the measuring resistor provides the opportunity for current measurement and the connection elements provide a contact to the outside world. The arrangement shown is advantageous because it can be implemented in an integrated circuit.
Gemäß einem weiteren Ausführungsbeispiel weist die Vorrichtung eine Steuerung auf, die ausgebildet ist, die Verfahrensschritte zur Widerstandsmessung auszuführen, wobei die Ausführung voll automatisch erfolgen kann.According to a further embodiment, the device has a controller which is designed to carry out the method steps for resistance measurement, wherein the execution can be fully automatic.
Bevorzugte Ausführungsbeispiele der vorliegenden Anmeldung werden nachfolgend Bezug nehmend auf die beiliegenden Zeichnungen näher erläutert. Es zeigen:Preferred embodiments of the present application will be explained in more detail below with reference to the accompanying drawings. Show it:
In der nachfolgenden Beschreibung der Figuren werden gleiche oder gleichwirkende Elemente mit den gleichen Bezugszeichen versehen, so dass deren Beschreibung in den unterschiedlichen Ausführungsbeispielen untereinander austauschbar ist.In the following description of the figures, identical or equivalent elements are provided with the same reference numerals, so that their description in the different embodiments is interchangeable.
Die vorliegende Erfindung zeichnet sich dadurch aus, dass mit Hilfe eines bestimmten Schaltungskonzepts und der dazugehörigen Messroutine Widerstände unabhängig vom Leckstrom gemessen werden können, selbst wenn dieser größer ist als der Strom durch den Widerstand selbst.
Die Strommessvorrichtung
Allgemein fließt durch das Amperemeter
Das Berechnen des Widerstandswerts in Schritt
Gemäß Ausführungsbeispielen wird der erste Anschluss
In anderen Worten wird die Spannung über dem Widerstand
Auch in integrierten Schaltungen spielt der Leckstrom eine entscheidende Rolle. Eine Möglichkeit, zwei geregelte Spannungsquellen und einen Amperemeter CMOS integriert zu realisieren, ist in den folgenden
Die
Die Ausführung der Spannungsquellen
Ausführungsbeispiele, wie auch geeignete Modifikationen derselben, können vorteilhafter als integrierte Schaltung ausgeführt sein. Somit kann die Vorrichtung
Die Anschlusselemente
Über die zwei geregelten Operationsverstärker
Bezüglich
Dies wird erreicht, indem die Werte bzw. der Anschluss
Da die Spannung über dem Widerstand nun null Volt beträgt, fließt somit kein Strom durch den Widerstand und der Strom durch den Shunt
Mit dem erfindungsgemäßen Schaltungskonzept und der dazugehörigen Messroutine können Widerstände unabhängig vom Leckstrom der Schaltung gemessen werden. Dies gelingt selbst, wenn der Leckstrom größer ist als der Strom durch den Widerstand. With the circuit concept according to the invention and the associated measuring routine, resistances can be measured independently of the leakage current of the circuit. This is possible even if the leakage current is greater than the current through the resistor.
Obwohl manche Aspekte im Zusammenhang mit einer Vorrichtung beschrieben wurden, versteht es sich, dass diese Aspekte auch eine Beschreibung des entsprechenden Verfahrens darstellen, sodass ein Block oder ein Bauelement einer Vorrichtung auch als ein entsprechender Verfahrensschritt oder als ein Merkmal eines Verfahrensschrittes zu verstehen ist. Analog dazu stellen Aspekte, die im Zusammenhang mit einem oder als ein Verfahrensschritt beschrieben wurden, auch eine Beschreibung eines entsprechenden Blocks oder Details oder Merkmals einer entsprechenden Vorrichtung dar. Einige oder alle der Verfahrensschritte können durch einen Hardware-Apparat (oder unter Verwendung eines Hardware-Apparats), wie zum Beispiel einen Mikroprozessor, einen programmierbaren Computer oder einer elektronischen Schaltung durchgeführt werden. Bei einigen Ausführungsbeispielen können einige oder mehrere der wichtigsten Verfahrensschritte durch einen solchen Apparat ausgeführt werden.Although some aspects have been described in the context of a device, it will be understood that these aspects also constitute a description of the corresponding method, so that a block or a component of a device is also to be understood as a corresponding method step or as a feature of a method step. Similarly, aspects described in connection with or as a method step also represent a description of a corresponding block or detail or feature of a corresponding device. Some or all of the method steps may be performed by a hardware device (or using a hardware device). Apparatus), such as a microprocessor, a programmable computer or an electronic circuit. In some embodiments, some or more of the most important method steps may be performed by such an apparatus.
Je nach bestimmten Implementierungsanforderungen können Ausführungsbeispiele der Erfindung in Hardware oder in Software implementiert sein. Die Implementierung kann unter Verwendung eines digitalen Speichermediums, beispielsweise einer Floppy-Disk, einer DVD, einer BluRay Disc, einer CD, eines ROM, eines PROM, eines EPROM, eines EEPROM oder eines FLASH-Speichers, einer Festplatte oder eines anderen magnetischen oder optischen Speichers durchgeführt werden, auf dem elektronisch lesbare Steuersignale gespeichert sind, die mit einem programmierbaren Computersystem derart zusammenwirken können oder zusammenwirken, dass das jeweilige Verfahren durchgeführt wird. Deshalb kann das digitale Speichermedium computerlesbar sein.Depending on particular implementation requirements, embodiments of the invention may be implemented in hardware or in software. The implementation may be performed using a digital storage medium such as a floppy disk, a DVD, a BluRay disc, a CD, a ROM, a PROM, an EPROM, an EEPROM or FLASH memory, a hard disk, or other magnetic or optical Memory are stored on the electronically readable control signals are stored, which can cooperate with a programmable computer system or cooperate such that the respective method is performed. Therefore, the digital storage medium can be computer readable.
Manche Ausführungsbeispiele gemäß der Erfindung umfassen also einen Datenträger, der elektronisch lesbare Steuersignale aufweist, die in der Lage sind, mit einem programmier-baren Computersystem derart zusammenzuwirken, dass eines der hierin beschriebenen Verfahren durchgeführt wird.Thus, some embodiments according to the invention include a data carrier having electronically readable control signals capable of interacting with a programmable computer system such that one of the methods described herein is performed.
Allgemein können Ausführungsbeispiele der vorliegenden Erfindung als Computerprogrammprodukt mit einem Programmcode implementiert sein, wobei der Programmcode dahin gehend wirksam ist, eines der Verfahren durchzuführen, wenn das Computerprogrammprodukt auf einem Computer abläuft.In general, embodiments of the present invention may be implemented as a computer program product having a program code, wherein the program code is operable to perform one of the methods when the computer program product runs on a computer.
Der Programmcode kann beispielsweise auch auf einem maschinenlesbaren Träger gespeichert sein.The program code can also be stored, for example, on a machine-readable carrier.
Andere Ausführungsbeispiele umfassen das Computerprogramm zum Durchführen eines der hierin beschriebenen Verfahren, wobei das Computerprogramm auf einem maschinen-lesbaren Träger gespeichert ist. Mit anderen Worten ist ein Ausführungsbeispiel des erfindungsgemäßen Verfahrens somit ein Computerprogramm, das einen Programmcode zum Durchführen eines der hierin beschriebenen Verfahren aufweist, wenn das Computerprogramm auf einem Computer abläuft.Other embodiments include the computer program for performing any of the methods described herein, wherein the computer program is stored on a machine-readable medium. In other words, an embodiment of the method according to the invention is thus a computer program which has a program code for performing one of the methods described herein when the computer program runs on a computer.
Ein weiteres Ausführungsbeispiel der erfindungsgemäßen Verfahren ist somit ein Datenträger (oder ein digitales Speichermedium oder ein computerlesbares Medium), auf dem das Computerprogramm zum Durchführen eines der hierin beschriebenen Verfahren aufgezeichnet ist.A further embodiment of the inventive method is thus a data carrier (or a digital storage medium or a computer-readable medium) on which the computer program is recorded for carrying out one of the methods described herein.
Ein weiteres Ausführungsbeispiel des erfindungsgemäßen Verfahrens ist somit ein Datenstrom oder eine Sequenz von Signalen, der bzw. die das Computerprogramm zum Durchführen eines der hierin beschriebenen Verfahren darstellt bzw. darstellen. Der Datenstrom oder die Sequenz von Signalen kann bzw. können beispielsweise dahin gehend konfiguriert sein, über eine Datenkommunikationsverbindung, beispielsweise über das Internet, transferiert zu werden.A further embodiment of the method according to the invention is thus a data stream or a sequence of signals, which represent the computer program for performing one of the methods described herein. The data stream or the sequence of signals may be configured, for example, to be transferred via a data communication connection, for example via the Internet.
Ein weiteres Ausführungsbeispiel umfasst eine Verarbeitungseinrichtung, beispielsweise einen Computer oder ein programmierbares Logikbauelement, die dahin gehend konfiguriert oder angepasst ist, eines der hierin beschriebenen Verfahren durchzuführen.Another embodiment includes a processing device, such as a computer or a programmable logic device, that is configured or adapted to perform one of the methods described herein.
Ein weiteres Ausführungsbeispiel umfasst einen Computer, auf dem das Computerprogramm zum Durchführen eines der hierin beschriebenen Verfahren installiert ist.Another embodiment includes a computer on which the computer program is installed to perform one of the methods described herein.
Ein weiteres Ausführungsbeispiel gemäß der Erfindung umfasst eine Vorrichtung oder ein System, die bzw. das ausgelegt ist, um ein Computerprogramm zur Durchführung zumindest eines der hierin beschriebenen Verfahren zu einem Empfänger zu übertragen. Die Übertragung kann beispielsweise elektronisch oder optisch erfolgen. Der Empfänger kann beispielsweise ein Computer, ein Mobilgerät, ein Speichergerät oder eine ähnliche Vorrichtung sein. Die Vorrichtung oder das System kann beispielsweise einen Datei-Server zur Übertragung des Computerprogramms zu dem Empfänger umfassen.Another embodiment according to the invention comprises a device or system adapted to transmit a computer program for performing at least one of the methods described herein to a receiver. The transmission can be done for example electronically or optically. The receiver may be, for example, a computer, a mobile device, a storage device or a similar device. For example, the device or system may include a file server for transmitting the computer program to the recipient.
Bei manchen Ausführungsbeispielen kann ein programmierbares Logikbauelement (beispielsweise ein feldprogrammierbares Gatterarray, ein FPGA) dazu verwendet werden, manche oder alle Funktionalitäten der hierin beschriebenen Verfahren durchzuführen. Bei manchen Ausführungsbeispielen kann ein feldprogrammierbares Gatterarray mit einem Mikroprozessor zusammenwirken, um eines der hierin beschriebenen Verfahren durchzuführen. Allgemein werden die Verfahren bei einigen Ausführungsbeispielen seitens einer beliebigen Hardwarevorrichtung durchgeführt. Diese kann eine universell einsetzbare Hardware wie ein Computerprozessor (CPU) sein oder für das Verfahren spezifische Hardware, wie beispielsweise ein ASIC.In some embodiments, a programmable logic device (eg, a field programmable gate array, an FPGA) may be used to perform some or all of the functionality of the methods described herein. In some embodiments, a field programmable gate array may cooperate with a microprocessor to perform one of the methods described herein. In general, in some embodiments, the methods are performed by any hardware device. This may be a universal hardware such as a computer processor (CPU) or hardware specific to the process, such as an ASIC.
Die oben beschriebenen Ausführungsbeispiele stellen lediglich eine Veranschaulichung der Prinzipien der vorliegenden Erfindung dar. Es versteht sich, dass Modifikationen und Variationen der hierin beschriebenen Anordnungen und Einzelheiten anderen Fachleuten einleuchten werden. Deshalb ist beabsichtigt, dass die Erfindung lediglich durch den Schutzumfang der nachstehenden Patentansprüche und nicht durch die spezifischen Einzelheiten, die anhand der Beschreibung und der Erläuterung der Ausführungsbeispiele hierin präsentiert wurden, beschränkt sei.The embodiments described above are merely illustrative of the principles of the present invention. It will be understood that modifications and variations of the arrangements and details described herein will be apparent to others of ordinary skill in the art. Therefore, it is intended that the invention be limited only by the scope of the appended claims and not by the specific details presented in the description and explanation of the embodiments herein.
Claims (12)
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2016
- 2016-03-03 WO PCT/EP2016/054572 patent/WO2016139314A1/en active Application Filing
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Also Published As
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WO2016139314A1 (en) | 2016-09-09 |
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