DE102015119181A1

DE102015119181A1 - Tester and use of such

Info

Publication number: DE102015119181A1
Application number: DE102015119181.4A
Authority: DE
Inventors: Bernd Boscher
Original assignee: Ingun Pruefmittelbau GmbH
Current assignee: Ingun Pruefmittelbau GmbH
Priority date: 2015-11-06
Filing date: 2015-11-06
Publication date: 2017-05-11
Anticipated expiration: 2035-11-07
Also published as: DE102015119181B4

Abstract

Die Erfindung betrifft eine Prüfvorrichtung für ein eine Leiterplatte aufweisendes Prüfobjekt mit einem eine Halterung und/oder Auflage für das Prüfobjekt anbietenden ersten Träger (10), insbesondere Objektträger und einem um eine bevorzugt horizontale Schwenkachse relativ zu dem ersten Träger durch manuelle Betätigung verschwenkbaren zweiten Träger (12), insbesondere Prüfmittelträger, der zwischen einer einem Prüfkontakt mit dem Prüfobjekt ermöglichenden Prüfposition und einer ein Einsetzen oder Austauschen des Prüfobjekts ermöglichenden Öffnungsposition bewegbar an dem ersten Träger angelenkt vorgesehen ist, wobei der zweite Träger so ausgebildet und gelagert ist, dass zwei relativ zueinander beweglich geführte Abschnitte (16, 18) des zweiten Trägers während eines Verschwenkens zwischen der Öffnungsposition und der Prüfposition eine Relativbewegung zueinander durchführen, insbesondere aneinander abgleiten und/oder sich gegeneinander verschieben, wobei die Prüfposition zweistufig als eine maximal abgesenkte erste Schwenkposition und eine um einen Differenz-Schwenkhub von der ersten Schwenkposition eingerichtete zweite Schwenkposition des zweiten Trägers (12) so ausgebildet ist, dass in der ersten Schwenkposition eine erste Mehrzahl von ersten Prüfstiften und in der zweiten Schwenkposition eine insbesondere gegenüber der ersten Mehrzahl der ersten Prüfstifte verringerte Mehrzahl von zweiten Prüfstiften in einen elektrisch kontaktierenden Prüfkontakt mit dem Prüfobjekt gebracht werden kann, wobei dem zweiten Träger (12) auf die zwei relativ zueinander beweglich geführten Abschnitte wirkende Verriegelungsmittel (30–42) zugeordnet sind, die so ausgebildet sind, dass sie nach einem Verschwenken des zweiten Trägers aus der ersten Schwenkposition in die zweite Schwenkposition durch manuelle Betätigung den zweiten Träger in der zweiten Schwenkposition sperren und/oder verriegeln.The invention relates to a test device for a test object having a printed circuit board with a first support (10), in particular a slide and / or support for the test object, and a second support pivotable by manual actuation about a preferably horizontal pivot axis relative to the first support ( 12), in particular test device carrier, which is movably provided on the first carrier between a test contact enabling the test object enabling position and an insertion or replacement of the test object enabling opening position, wherein the second carrier is designed and mounted so that two movable relative to each other guided portions (16, 18) of the second carrier during a pivoting between the opening position and the test position perform a relative movement to each other, in particular slide off each other and / or move against each other, the P rüfposition two-stage as a maximum lowered first pivot position and a differential pivoting of the first pivot position furnished second pivot position of the second carrier (12) is formed so that in the first pivot position, a first plurality of first test pins and in the second pivot position in particular relative to the first plurality of the first test pins reduced plurality of second test pins can be placed in an electrically contacting test contact with the test object, wherein the second carrier (12) acting on the two relatively movably guided portions locking means (30-42) are assigned, the are formed so that they lock and / or lock after pivoting of the second carrier from the first pivot position to the second pivot position by manual operation, the second carrier in the second pivot position.

Description

Die vorliegende Erfindung betrifft eine Prüfvorrichtung für ein eine Leiterplatte aufweisendes Prüfobjekt nach dem Oberbegriff des Hauptanspruchs. Ferner betrifft die vorliegende Erfindung eine Verwendung einer derartigen Prüfvorrichtung zum Durchführen eines Leiterplattentests.The present invention relates to a test device for a circuit board having a test object according to the preamble of the main claim. Furthermore, the present invention relates to a use of such a test device for performing a printed circuit board test.

Gattungsgemäße Prüfvorrichtungen sind aus dem Stand der Technik allgemein bekannt und werden etwa mit ihrem prinzipiellen Aufbau gemäß Oberbegriff in der DE 20 2012 101 652 U1 der Anmelderin beschrieben. Bei derartigen Vorrichtungen weist der Prüfmittelträger typischerweise eine Anordnung aus einer Mehrzahl von (federnd ausgebildeten und elektrisch kontaktierbaren) Prüfstiften in einem vorbestimmten Muster auf, so, dass in der Prüfposition diese Prüfstifte auf vorbestimmte Leiterbahnkontaktstellen der das Prüfobjekt bildenden Leiterplatte gebracht werden können. Mittels einer in ansonsten bekannter Weise den Prüfstiften nachgeschalteten Auswerteelektronik wird dann die ordnungsgemäße elektrische Funktionalität des Prüfobjekts festgestellt.Generic testing devices are well known in the art and are approximately with their basic structure according to the preamble in the DE 20 2012 101 652 U1 the applicant described. In such devices, the test equipment carrier typically has an array of a plurality of (resiliently and electrically contactable) test probes in a predetermined pattern so that in the test position these test probes can be brought to predetermined interconnect pads of the test object forming circuit board. By means of an evaluation circuit connected downstream of the test probes in otherwise known manner, the proper electrical functionality of the test object is then determined.

Dabei ist es insbesondere nach dem Stand der Technik vorteilhaft und bewährt, diese Kontaktierung in der Prüfposition durch ein Verschwenken der an dem Prüfmittelträger sitzenden Prüfmittelanordnung (d. h. der Mehrzahl der Prüfstifte) auf das auf einem typischerweise plattenartigen Objektträger sitzende Prüfobjekt zu bringen. Bereits die DE 10 2011 054 260 der Anmelderin verdeutlicht, wie eine Bedienperson mit einer Hand eine Bewegung zwischen einer Öffnungs- bzw. Entnahmeposition und der Prüfposition durchführen kann, ohne dass weitergehende mechanische Antriebe oder dgl. Betätigungsmittel vorhanden sein müssen, und wobei zusätzlich dann die Bedienperson mit einer anderen Hand in der Öffnungsposition ein in einem vorangegangenen Prüfzyklus geprüftes Prüfobjekt gegen ein nachfolgend zu prüfendes Objekt austauschen kann.It is particularly advantageous and proven in the prior art to bring this contact in the test position by pivoting the seated on the Prüfmittelträger test equipment arrangement (ie, the majority of test probes) on the sitting on a typical plate-like slide test object. Already the DE 10 2011 054 260 Applicant illustrates how an operator with one hand movement between an open or removal position and the test position can perform without further mechanical drives or the like. Actuating means must be present, and in addition then the operator with another hand in the Opening position can replace a tested in a previous test cycle test object against an object to be subsequently tested.

Nicht zuletzt die konstruktive Einfachheit und mechanische Robustheit einer derartigen gattungsgemäßen Technologie hat dazu geführt, dass bekannte Prüfvorrichtungen mit einem durch manuelle Betätigung verschwenkbaren Träger, insbesondere Prüfmittelträger (wobei alternativ auch das Prüfobjekt selbst bewegt werden kann), sich in der betrieblichen und industriellen Praxis durchgesetzt haben.Not least the constructive simplicity and mechanical robustness of such a generic technology has led to known test devices having a support pivotable by manual actuation, in particular test equipment carrier (alternatively also the test object itself can be moved), have prevailed in industrial and industrial practice ,

Modernere und zunehmend komplexer gestaltete Prüfobjekte führen dazu, dass die Erfordernisse an eine derartige Prüfanordnung ansteigen; so bewirken etwa komplexere Leiterplatten und entsprechend komplexere Leiterbahnstrukturen die Notwendigkeit, eine größere Anzahl von Prüfstiften für das (gleichzeitige) Kontaktieren des Prüfobjekts zu positionieren und in der gattungsgemäßen Weise verschwenkbar zu halten. Hinzu kommt die Möglichkeit im Rahmen einer Prüfmittelanordnung mit mehreren vorbestimmten Mustern aus angeordneten Prüfstiften potenziell mehrere Tests dadurch durchzuführen, dass nicht nur verschiedene Prüfstifte zu gewissen Zeitpunkten elektrisch abgefragt werden, sondern dass auch, abhängig von einem jeweiligen Testmodus, verschiedene Prüfstifte aus einer Gesamtanordnung die Leiterplatte im Prüfbetrieb kontaktieren. Praktisch realisierbar wird dies dadurch, dass Prüfstifte mit verschiedenen wirksamen Kontakthöhen Verwendung finden, wobei dann eine abgestufte Prüfposition, nämlich das Vorsehen der Leiterplatte relativ zu den Prüfmitteln in zwei verschiedenen Relativpositionen (Höhen), jeweils das selektive oder aufeinanderfolgende Durchführen derartiger Tests ermöglicht.More modern and increasingly complex designed test objects mean that the requirements for such a test arrangement are increasing; For example, more complex printed circuit boards and correspondingly more complex printed conductor structures make it necessary to position a larger number of test probes for (simultaneous) contacting of the test object and to keep it pivotable in the manner described above. In addition, the possibility in the context of a Prüfmittelanordnung with several predetermined patterns of arranged test probes potentially perform several tests in that not only different test pins are electrically interrogated at certain times, but also, depending on a particular test mode, different test pins from an overall arrangement, the circuit board contact in test mode. This is practically feasible by using test probes with different effective contact heights, in which case a graduated test position, namely the provision of the printed circuit board relative to the test means in two different relative positions (heights), respectively enables the selective or sequential performance of such tests.

Ein typisches Beispiel für einen derartigen Vorgang besteht darin, in einer ersten Prüfposition, mit einer relativ großen Anzahl von Prüfstiften, eine entsprechend große Anzahl von Prüfpunkten auf der Leiterplatte zu testen, etwa mit dem Zweck, alle dort aufgelöteten Bauelemente zu messen. Eine demgegenüber in der relativen Höhe (also im Relativabstand von Prüfmittelträger und Prüfobjekt) abgestufte zweite Prüfposition, etwa mit weniger Prüfpunkten und entsprechend anderer Längenausgestaltung der hierfür vorgesehenen Prüfstifte, könnte dann etwa einen Funktionstest der (bestückten) Leiterplatte ermöglichen, mit dem Zweck, nach dem Feststellen der ordnungsgemäßen Bestückung nunmehr auch die Funktionsfähigkeit dieser Schaltung zu überprüfen.A typical example of such a procedure is to test a correspondingly large number of test points on the printed circuit board in a first test position, with a relatively large number of test probes, for the purpose of measuring all the components soldered there. In contrast, a graduated in the relative height (ie in the relative distance of Prüfmittelträger and test object) second test position, with fewer test points and according to other length design of the test probes provided for this purpose could then allow about a functional test of the (populated) circuit board, with the purpose of after Determining the proper assembly now to check the functionality of this circuit.

Eine konstruktive Umsetzung einer Prüfvorrichtung für ein derartiges zweistufiges Mess- und Prüfverfahren ohne zwischenzeitlichen Austausch von Prüfmittel oder Prüfobjekt ist prinzipiell möglich, bedingt jedoch eine entsprechend abgestufte Hubbewegung der Prüfmittel relativ zum Prüfobjekt. Dies ist etwa im Rahmen komplexer Hubanordnungen denkbar, welche, z. B. mittels elektrischer oder pneumatischer Antriebe und zugehörigen Positionierungs- bzw. Steuermitteln, selektiv dann diese abgestufte Relativpositionierung herbeiführen. Die als gattungsgemäß herangezogene manuell betätigbare Prüfvorrichtung eignet sich jedoch nicht ohne Weiters für ein derartiges zweistufiges Verfahren.A constructive implementation of a test apparatus for such a two-stage measuring and test method without interim replacement of test equipment or test object is possible in principle, but requires a correspondingly stepped lifting movement of the test equipment relative to the test object. This is conceivable as part of complex Hubanordnungen, which, for. B. by means of electrical or pneumatic actuators and associated positioning or control means, then selectively bring about this graded relative positioning. However, the manually operated test apparatus used as generic does not lend itself readily to such a two-stage method.

Hinzu käme das Problem einer möglichen Fehlbedienung, denn selbst eine feinfühlige Betätigung des manuell verschwenkbaren Prüfmittelträgers durch die Bedienperson in zwei Hubebenen kann nicht ausschließen, dass im Rahmen kontinuierlicher Betätigungsvorgänge ein Verschwenken in eine falsche Richtung stattfindet und entsprechend dann jeweils unbeabsichtigt anliegende Signale Negativbeeinträchtigungen hervorrufen können.Added to this would be the problem of a possible incorrect operation, because even a sensitive operation of the manually pivotable test equipment carrier by the operator in two levels can not rule out that in the context of continuous actuation operations, a pivoting takes place in the wrong direction and then each inadvertently applied signals can cause negative effects.

Aufgabe der vorliegenden Erfindung ist es daher, eine gattungsgemäße, mit einem durch manuelle Betätigung verschwenkbaren Träger für Prüfmittel und/oder ein Prüfobjekt ausgestaltete Prüfvorrichtung konstruktiv einfach und betriebssicher für ein mehrstufiges Prüfverfahren auszugestalten, bei welchem, zeitlich aufeinanderfolgend, verschiedene Kontaktvorgänge zwischen den Prüfmitteln und dem Prüfobjekt zu Prüfzwecken durchgeführt werden können, abhängig von einer (aktuellen) Relativposition zwischen dem typischerweise als Leiterplatte realisierten Prüfobjekt und den Prüfmitteln. Dabei soll insbesondere die Bedienung vereinfacht und vor Bedienfehlern geschützt sein, es soll eine hohe Kontakt- und Prüfsicherheit gewährleistet sein, und es soll nach wie vor in konstruktiv einfacher Weise und bevorzugt durch einhändige manuelle Bedienung das Durchführen des Prüfbetriebs ermöglicht sein. The object of the present invention is therefore to provide a generic, with a pivotable by manual actuation support for test equipment and / or a test object designed structurally simple and reliable for a multi-stage test method, wherein, in succession, different contact operations between the test equipment and the Test object can be performed for testing purposes, depending on a (current) relative position between the typically realized as a circuit board test object and the test equipment. In particular, the operation should be simplified and protected against operating errors, it should be guaranteed a high contact and test security, and it should still be possible in a structurally simple manner and preferably by one-handed manual operation performing the test operation.

Die Aufgabe wird durch die Prüfvorrichtung mit den Merkmalen des Hauptanspruchs gelöst; vorteilhafte Weiterbildungen der Erfindung sind in den Unteransprüchen beschrieben. Unabhängiger Schutz im Rahmen der Erfindung wird beansprucht für eine Verwendung einer derartigen Prüfvorrichtung.The object is achieved by the test apparatus having the features of the main claim; advantageous developments of the invention are described in the subclaims. Independent protection within the scope of the invention is claimed for use of such a test device.

In erfindungsgemäße vorteilhafter Weise sieht die Prüfvorrichtung eine (mindestens) zweistufig ausgestaltete Prüfposition vor, dergestalt, dass durch das Verschwenken des zweiten Trägers relativ zum ersten Träger eine maximal abgesenkte erste Schwenkposition entsteht, von welcher, um den erfindungsgemäßen Differenz-Schwenkhub, die zweite Schwenkposition beabstandet ist. Dabei ist die erfindungsgemäße Vorrichtung so ausgestaltet, dass in der ersten Schwenkposition eine erste Mehrzahl von ersten Prüfstiften und in der zweiten Schwenkposition eine zweite Mehrzahl von zweiten Prüfstiften in Kontakt mit einem auf dem ersten Träger (Objektträger) vorgesehenen Prüfobjekts gebracht wird; dabei ist es auch von der Erfindung umfasst, die Mehrzahl der zweiten Prüfstifte als Untermenge der ersten Prüfstifte vorzusehen, also etwa einen Teil der ersten Prüfstifte als zweite Prüfstifte zu betrachten, welche dann etwa, in der weiteren bevorzugten Ausgestaltung, als relativ längere Prüfstifte so realisiert sind, dass in der ersten Schwenkposition eine Gesamtheit der Prüfstifte kontaktbildend auf das Prüfobjekt wirkt, während in der (um den Differenz-Schwenkhub beabstandeten) zweiten Schwenkposition lediglich noch die längeren Prüfstifte als zweite Prüfstifte einen Prüfkontakt herbeiführen.In an advantageous manner according to the invention, the test device provides a (at least) two-stage designed test position, such that by pivoting the second carrier relative to the first carrier a maximum lowered first pivot position is formed, from which, spaced by the differential pivoting stroke according to the invention, the second pivot position is. In this case, the device according to the invention is designed such that in the first pivot position, a first plurality of first test pins and in the second pivot position, a second plurality of second test pins in contact with a provided on the first carrier (slide) test object is brought; In this case, it is also encompassed by the invention to provide the plurality of second test pins as a subset of the first test probes, ie to regard a portion of the first test probes as second test probes, which then, for example, in the further preferred embodiment, realizes them as relatively longer test probes are that in the first pivot position, an entirety of the test pins acts contact-forming on the test object, while in the (about the differential swing stroke spaced) second pivot position only the longer test pins as the second test probes cause a test contact.

Insbesondere mit dem Zweck, im Rahmen der erfindungsgemäßen rein manuellen Betätigung ein unbeabsichtigtes Zurückführen des zweiten Trägers in die erste Schwenkposition (nachdem die zweite Schwenkposition erreicht ist) zu verhindern, sind Verriegelungsmittel vorgesehen, die so ausgebildet sind, dass sie nach dem Verschwenken des zweiten Trägers aus der ersten Schwenkposition in die zweite Schwenkposition den zweiten Träger in dieser zweiten Schwenkposition sperren bzw. verriegeln. Um dann zurück in die erste Schwenkposition zu gelangen, ist es vielmehr notwendig, zuerst den zweiten Träger in die Öffnungsposition zu führen, an welcher etwa dann auch Zugriff auf das Prüfobjekt möglich ist bzw. dieses ausgetauscht werden kann.In particular for the purpose of preventing unintentional return of the second carrier to the first pivot position (after the second pivot position is reached) within the scope of the purely manual operation according to the invention, locking means are provided which are designed to act upon pivoting of the second carrier lock or lock the second carrier in this second pivot position from the first pivot position to the second pivot position. In order then to return to the first pivot position, it is necessary to first guide the second carrier in the open position at which then also access to the test object is possible or this can be replaced.

Während es zudem im Rahmen der vorliegenden Erfindung bevorzugt ist, den (unbeweglichen und etwa einen Boden bzw. Sockelabschnitt ausbildenden) ersten Träger als Objektträger auszugestalten und demgegenüber den verschwenkbaren zweiten Träger als Prüfmittelträger zu realisieren, ist die vorliegende Erfindung gleichwohl nicht auf diese Realisierungsform beschränkt. Vielmehr kann auch die Anordnung von Prüfobjekt und Prüfmitteln vertauscht sein.Moreover, while it is preferred in the context of the present invention to design the (immobile and approximately a base or base portion forming) first carrier as a slide and on the other hand to realize the pivotable second carrier as Prüfmittelträger, the present invention is nevertheless not limited to this form of realization. Rather, the arrangement of test object and test equipment can be reversed.

Die erfindungsgemäßen Verriegelungsmittel zum Verhindern des Verschwenkens aus der zweiten Schwenkposition zurück zur ersten Schwenkposition sind erfindungsgemäß vorteilhaft die Verriegelungsmittel zusätzlich so ausgebildet, dass das Lösen des gesperrten bzw. verriegelten Zustands durch manuelle Betätigung des zweiten Trägers um einen Entriegelungs-Schwenkhub aus der zweiten Schwenkposition erfolgt, bevorzugt in Richtung auf die erste Schwenkposition (d. h. mittels einer relativ zum Differenz-Schwenkhub geringen Relativbewegung, um die Verriegelungsmittel zu lösen). Dabei ist es bevorzugt selbst nach dem Lösen nicht ermöglicht, den zweiten Träger – vollständig – in die erste Schwenkposition zurückzuführen, vielmehr ermöglicht diese bevorzugte mechanische Ausgestaltung der Erfindung lediglich das Schwenken zurück in die Öffnungsposition nach dem Lösen (Entriegeln).The locking means according to the invention for preventing the pivoting from the second pivot position back to the first pivot position, the locking means are advantageously according to the invention additionally designed so that the release of the locked or locked state by manual operation of the second carrier by an unlocking Schwenkhub from the second pivot position, preferably in the direction of the first pivot position (ie, by means of a relative to the differential pivoting small relative movement to release the locking means). In this case, it is preferably not possible, even after release, to return the second carrier - completely - to the first pivoting position, but this preferred mechanical embodiment of the invention only permits pivoting back into the opening position after release (unlocking).

Konstruktiv besonders elegant und im Rahmen einer bevorzugte Weiterbildung der Erfindung sind diese Betätigungsmöglichkeiten realisiert durch Kulissenmittel, welche dem zweiten Träger zugeordnet sind, wobei bevorzugt der zweite Träger zwei relativ zueinander beweglich geführte Abschnitte aufweist, zwischen denen diese Kulissenmittel wirken. Konkret bieten diese eine Führungsbahn für ein Kulissenelement an, welches dann durch die Relativbewegung entlang der Führungsbahn verfährt, vorbestimmte Positionen entsprechend der ersten und der zweiten Schwenkposition einnimmt und insbesondere auch die erfindungsgemäßen Verriegelungsmittel an einer Kulissenelement-Verriegelungsposition innerhalb der Führungsbahn realisiert.Structurally particularly elegant and in a preferred embodiment of the invention, these actuation possibilities are realized by link means, which are associated with the second carrier, wherein preferably the second carrier has two relatively movably guided sections between which act these link means. Specifically, these offer a guideway for a link element, which then moves through the relative movement along the guideway, occupies predetermined positions corresponding to the first and second pivot positions and in particular realized the locking means according to the invention at a link element locking position within the guideway.

Zusätzlich weiterbildend und vorteilhaft weist zu diesem Zweck das Kulissenelement mindestens eine Sperrnut oder dgl. Vertiefung auf, welche zum Zusammenwirken mit mindestens einem Vorsprung oder einer Klinke an einer vorbestimmten Position der Führungsbahn ausgebildet ist, so dass, etwa analog zur Realisierung des sogenannten Kugelschreiber-Prinzips, ein Abgleiten entlang Schrägen dieser Abschnitte durch aufeinanderfolgende Hubbetätigung dann die erfindungsgemäße Hub-, Bewegungs- und Sperr- bzw. Verriegelungsfunktionalität umsetzt.In addition, further development and advantageous, for this purpose, the link element at least one locking groove or the like. Well, which cooperate with at least one projection or a pawl is formed at a predetermined position of the guide track, so that, analogous to the realization of the so-called ballpoint pen principle, sliding along slopes of these sections by successive Hubbetätigung then implement the lifting, movement and locking or locking functionality of the invention.

Dabei ist es zusätzlich bevorzugt, dass entlang der Führungsbahn beweg- und verfahrbar vorgesehene Kulissenelement selbst schwenk- und/oder drehbar auszugestalten.It is additionally preferred that along the guideway movably and movably provided gate element itself self-pivoting and / or rotatable design.

Konstruktiv ist es zudem im Rahmen bevorzugter Weiterbildungen der Erfindung vorteilhaft, die Kulissenmittel zwischen zwei gegeneinander verschiebbare Rahmen-, Holm- und/oder Armabschnitten des zweiten Trägers vorzusehen, wobei dann das Verschwenken des zweiten Trägers durch manuelle Betätigung die Relativbewegung in Form der Relativverschiebung ausführt. Wird dann weiterbildungsgemäß einer dieser Abschnitte mit der Führungsbahn und der andere mit dem Kulissenelement verbunden, ist in eleganter und konstruktiv einfacher Weise die erfindungsgemäße Kulissensteuerung zum Bewirken des Bewegungs- und Sperr- bzw. Verriegelungsverhaltens ermöglicht. Zudem eignet sich eine solche Anordnung auch günstig für das Nachrüsten existierender, etwa gattungsgemäßer Prüfvorrichtungen mit der erfindungsgemäßen Technologie, insbesondere mit den erfindungsgemäßen Kulissenmitteln, welche dann durch etwa seitliches Aufbringen auf diese Anordnung gegeneinander verschiebbarer Abschnitte die vorliegende Erfindung realisieren.Structurally, it is also advantageous in the context of preferred developments of the invention to provide the sliding means between two mutually displaceable frame, spar and / or arm portions of the second carrier, in which case the pivoting of the second carrier by manual operation performs the relative movement in the form of relative displacement. If then further training one of these sections connected to the guideway and the other with the link element, the gate control according to the invention for effecting the movement and locking or locking behavior is possible in an elegant and structurally simple way. In addition, such an arrangement is also suitable for retrofitting existing, approximately generic testing devices with the technology according to the invention, in particular with the sliding means according to the invention, which then implement the present invention by approximately lateral application to this arrangement of mutually displaceable sections.

Im Ergebnis erreicht die vorliegende Erfindung damit vorteilhaft, dass ausschließlich durch manuelle Betätigung und insbesondere damit ohne die Notwendigkeit weiterer Bewegungsaggregate, wie etwa elektrischer, elektromechanischer oder pneumatischer Aktuatoren, die beabsichtigte komplexe und mehrstufige Realisierung der Prüfposition ermöglicht ist. Dabei eignet sich wiederum weiterbildungsgemäß insbesondere ein vom zweiten Träger vorspringender oder auf andere Weise dort ausgebildeter Griffabschnitt, um der Bedienperson den manuellen Zugriff zu erleichtern.As a result, the present invention thus advantageously achieves that the intended complex and multi-stage realization of the test position is made possible only by manual actuation and in particular thus without the need for further movement units, such as electrical, electromechanical or pneumatic actuators. In turn, according to further development, in particular a handle section protruding from the second carrier or otherwise formed there is suitable for facilitating manual access to the operator.

Während sich zudem die vorliegende Erfindung in herausragender Weise für Leiterplatten als Prüfobjekt eignet, welche im Rahmen der Erfindung mit selbst wiederum federnd ausgestalteten Prüfstiften als Prüfmittel in Kontakt gebracht werden, ist die vorliegende Erfindung prinzipiell nicht auf diese bevorzugte Ausgestaltung beschränkt, vielmehr sind auch andere Prüfobjekte, wie etwa Dickschicht- oder Hybridanordnungen denkbar, wie auch die Prüfmittel als Anordnung von über Prüfstifte hinausgehenden Objekten realisiert sein können, eingeschlossen etwa Prüfmitteln für die Hochfrequenztechnik oder andere spezielle elektrische Prüfaufgaben.In addition, while the present invention is outstandingly suitable for printed circuit boards as a test object, which in the context of the invention are in turn brought into contact with spring probes designed as test means, the present invention is in principle not limited to this preferred embodiment, but rather also other test objects such as thick-film or hybrid arrangements are conceivable, as well as the test means may be implemented as an arrangement of objects beyond test pins, including, for example, test equipment for high-frequency engineering or other special electrical testing tasks.

Weiter Vorteile, Merkmale und Einzelheiten der Erfindung ergeben sich aus der nachfolgenden Beschreibung bevorzugter Ausführungsbeispiele sowie anhand der Zeichnungen.Further advantages, features and details of the invention will become apparent from the following description of preferred embodiments and from the drawings.

Diese zeigen in:These show in:

1 bis 4 schematische Seitenansichten des zweiten Trägers in verschiedenen Schwenkzuständen (Teilfiguren (a)) sowie, in den Teilfiguren (b), jeweils eine vergrößerte Darstellung des Kulissenzustands der dem Träger zugeordneten Kulissenmittel; 1 to 4 schematic side views of the second carrier in different pivot states (sub-figures (a)) and, in the sub-figures (b), respectively an enlarged view of the backdrop state of the carrier associated with the guide means;

5 in Teilbildern (a) bis (e) eine Abfolge des Bewegungs- und Betriebszustands der Kulissenmittel im Zusammenwirken mit Kulissenelement und Vorsprung bzw. Klinke beim Entriegeln aus der zweiten Schwenkbewegung; 5 in sub-images (a) to (e) a sequence of the movement and operating state of the link means in cooperation with link element and projection or pawl when unlocking from the second pivoting movement;

6 eine perspektivische Detailansicht auf ein Paar von eine Seite des zweiten Trägers ausbildenden Armabschnitten samt Betätigungshebel und in Explosionsdarstellung dazu angeordneten Kulissenmitteln; 6 a detailed perspective view of a pair of arms forming a side of the second carrier together with actuating lever and in exploded view arranged thereto crank means;

7 eine Perspektivansicht auf die Gesamtanordnung der Prüfvorrichtung gemäß einem ersten bevorzugten Ausführungsbeispiel (mit Details gemäß 1 bis 6); und 7 a perspective view of the overall arrangement of the test apparatus according to a first preferred embodiment (with details according to FIG 1 to 6 ); and

8 eine Seitenansicht auf die Anordnung der 7 in dem geöffnetem Zustand. 8th a side view of the arrangement of 7 in the open state.

Die 7 und 8 zeigen in der Perspektiv- bzw. Seitenansicht die erfindungsgemäße Prüfvorrichtung gemäß einem ersten bevorzugten Ausführungsbeispiel, beschränkt auf die wesentlichen Funktionskomponenten und ohne ein eingesetztes Prüfobjekt sowie ohne konkrete gezeigte Prüfmittel.The 7 and 8th show in the perspective and side view of the test device according to the invention according to a first preferred embodiment, limited to the essential functional components and without an inserted test object and without specific test means shown.

Prinzipiell analog zur als gattungsbildend herangezogenen DE 20 2012 101 652 U1 ist ein zum Aufnehmen bzw. Halten einer (nicht gezeigten) Leiterplatte als Prüfobjekt ausgebildeter erster Träger 10 mit einem demgegenüber schwenkbar angelenkten zweiten Träger 12 so verbunden, dass in der in den 7, 8 gezeigten Öffnungsposition der zweite Träger 12 (hier als Prüfmittelträger ausgebildet) aufrecht steht und insbesondere einen durch den ersten Träger 10 gebildeten bzw. umspannten Aufnahmeraum 14 für das Prüfobjekt (Leiterplatte) zum manuellen Zugriff bereitstellt.In principle analogous to used as generic DE 20 2012 101 652 U1 is a first carrier adapted to receive a printed circuit board (not shown) as a test object 10 with a pivotally hinged second carrier 12 so connected in that in the 7 . 8th shown opening position of the second carrier 12 (designed here as Prüfmittelträger) upright and in particular one through the first carrier 10 formed or spanned receiving space 14 for the test object (circuit board) for manual access.

Der gegenüber dem ersten, etwa auf einer unterliegenden Arbeitsplatte od. dgl. positionierbaren Träger verschwenkt gezeigte zweite Träger 12 weist seitlich ein Paar von gegeneinander verschieblich gehaltenen Leisten 16, 18 auf, welche einends, nämlich im rückwärtigen Lager- bzw. Anlenkbereich zum ersten Träger 10, mit einem Lagerblock 20 zusammenwirken und anderenends von einem eine Griffbügelanordnung 22 ausbildenden Bügelabschnitt 24 verbunden sind. Genauer gesagt ist der – bezogen auf den zweiten Träger 12 beidseits seitlich vorgesehene – Abschnitt 24 so an den Leistenelementen 16, 18 angelenkt, dass in Abhängigkeit von einer Schwenk- bzw. Betätigungsposition der Griffbügeleinheit 22 bezogen auf den zweiten Träger 12 eine Relativverschiebung der Leistenelemente 16, 18 zueinander bewirkt wird. Dies wird nachfolgend unter Bezug auf die 1 bis 4 im Detail erläutert.The second carrier, which can be positioned relative to the first, for example on an underlying worktop or the like, pivots 12 has laterally a pair of mutually displaceably held strips 16 . 18 on, which at one end, namely in the rear bearing or articulation area to the first carrier 10 , with a storage block 20 cooperate and the other end of a handlebar assembly 22 forming strap section 24 are connected. More specifically, the - is relative to the second carrier 12 laterally provided on both sides - section 24 so on the inguinal elements 16 . 18 hinged that in response to a pivoting or actuating position of the handlebar unit 22 based on the second carrier 12 a relative displacement of the bar elements 16 . 18 is effected to each other. This will be explained below with reference to 1 to 4 explained in detail.

Zusätzlich lassen insbesondere die 6 bis 8 erkennen, dass der Griffbügelabschnitt 24 mit einem dem ersten Träger 10 zugeordneten bzw. auf diesem befestigten Verriegelungsabschnitt 26 zusammenwirkt, dergestalt, dass insbesondere in einem abgesenkten Zustand des zweiten Trägers 12 auf dem ersten Träger 10 (insoweit auch entsprechend 2) eine tiefste relative Schwenkposition, entsprechend der erfindungsgemäßen ersten Schwenkposition mit maximaler Absenkung, definiert und verriegelbar ist. In dieser Position liegt ein zur manuellen Handhabung vorgesehener die beidseitigen Abschnitte 24 verbindender mittlerer Bügelabschnitt 28 in einer Ebene mit den Leisten 16, 18. Dagegen bewirkt ein Anheben der Griffbügelanordnung 22, etwa entsprechend der Darstellungen in 6, 3, ein Lösen und nachfolgendes Anheben des zweiten Trägers 12 vom ersten Träger 10 in weitere Verschwenkpositionen, bis hin zur Öffnungsposition der 7, 8.In addition, let in particular the 6 to 8th recognize that the handlebar section 24 with a first carrier 10 assigned or attached to this locking portion 26 cooperates, such that in particular in a lowered state of the second carrier 12 on the first carrier 10 (as far as appropriate 2 ) a deepest relative pivot position, according to the first pivot position according to the invention with maximum lowering, defined and lockable. In this position is provided for manual handling the two-sided sections 24 connecting middle strap section 28 in a plane with the bars 16 . 18 , In contrast, causes a lifting of the handle assembly 22 , approximately according to the illustrations in 6 . 3 , a release and subsequent lifting of the second carrier 12 from the first carrier 10 in further pivoting positions, up to the opening position of 7 . 8th ,

Insbesondere die im gezeigten Ausführungsbeispiel zweistufig mit definiertem Differenz-Schwenkhub ausgestaltete Prüfposition mit zusätzlicher Sperrfunktionalität wird realisiert durch Kulissenmittel, welche gemäß Explosionsdarstellung der 6 ein an der Leiste 16 schwenkbar vorgesehenes, X-förmiges Kulissenelement 30 aufweisen, welches innerhalb einer von einem Kulissengehäuse 32 ausgebildeten Kulissenbahn (im Detail in den Teilfiguren (b) von 1 bis 4 gezeigt) geführt und u. a. mit einer federnd und schwenkbar gelagerten Sperrklinke 34 (und dann mit weiteren Vorsprüngen bzw. Abschnitten der Führungsbahn) zusammenwirken kann.In particular, in the embodiment shown in two stages with defined differential pivoting stroke designed test position with additional blocking functionality is realized by sliding means, which according to exploded view of 6 one at the bar 16 pivotally provided, X-shaped gate element 30 which is within one of a gate housing 32 trained slide track (in detail in the subfigures (b) of 1 to 4 shown) and, inter alia, with a resiliently and pivotally mounted pawl 34 (And then with other projections or sections of the guideway) can cooperate.

Diese Funktionalität wird nachfolgend unter Bezug auf die 1 bis 4 beschrieben, wobei jeweils die Teilfiguren (a) schematisch die Position des den Prüfmittelträger ausbildenden zweiten Trägers mit dem relativen Verschiebungszustand der Seitenleisten 16, 18 und dem zugehörigen Griffabschnitt 24 in Beziehung setzen zu einem aktuellen Funktionszustand der Kulissenmittel im jeweiligen Teilbild (b).This functionality will be described below with reference to 1 to 4 each of the sub-figures (a) schematically shows the position of the second carrier forming the test means carrier with the relative displacement state of the sidebars 16 . 18 and the associated handle portion 24 in relation to a current functional state of the sliding means in the respective partial image (b).

So beschreibt etwa die 1 mit den Teilfiguren 1a und 1b den Öffnungszustand (Öffnungsposition) des zweiten Trägers relativ zum ersten Träger, von welchem in den Schemadarstellungen der 1 bis 4 lediglich jeweils schematisch die Abschnitte 26 und 32 gezeigt sind. Die Griffbaugruppe 22 befindet sich in der (relativ zum zweiten Träger 12) angehobenen, ausgelenkten Position, damit befindet sich die obere Leiste 18 relativ zur unteren Leiste 16 in einer maximal zurückgeschobenen Relativposition. Die 1 verdeutlicht damit die Öffnungsposition der Gesamtvorrichtung, in welcher eine Bedienperson einerseits Zugriff auf den unteren Träger mit einem dort vorsehbaren Prüfobjekt hat, andererseits stehen Prüfstifte einer in der Rahmenanordnung des zweiten Trägers 12 vorsehbaren Prüfmittelanordnung gleichermaßen zum freien Zugriff hervor, etwa auch mit der Möglichkeit, in dieser Position einzelne oder alle der die Prüfmittel ausbildenden Prüfstifte auszutauschen, zu justieren oder auf andere Art und Weise Einrichtearbeiten vorzunehmen.This is how the 1 with the subfigures 1a and 1b the opening state (opening position) of the second carrier relative to the first carrier, of which in the schematics of the 1 to 4 only in each case schematically the sections 26 and 32 are shown. The handle assembly 22 located in the (relative to the second carrier 12 ) raised, deflected position, so that is the top bar 18 relative to the bottom bar 16 in a maximum pushed back relative position. The 1 thus illustrates the opening position of the overall device, in which an operator on the one hand has access to the lower carrier with a test object to be provided there, on the other hand are test pins one in the frame assembly of the second carrier 12 Foreseeable test equipment arrangement equally for free access, as well as the possibility to exchange in this position, some or all of the test means forming test probes exchange, adjust or make any other way set-up.

Die 1b verdeutlicht die zugehörigen Relativpositionen des Kulissenelements 30 innerhalb einer im Kulissenkörper 32 ausgebildeten Kulissenbahn 38: Das Kulissenelement 30 liegt in einem endseitigen Taschenabschnitt, steht damit außer Eingriff mit der Klinke 34 sowie Vorsprungsabschnitten 40, 41, 42, welche in die Nutenbahn 38 hineinragen bzw. eine innere Verlaufskontur dieser Nutenbahn 38 beschreiben.The 1b illustrates the associated relative positions of the link element 30 within one in the gate body 32 trained slide track 38 : The backdrop element 30 lies in an end-side pocket portion, is thus out of engagement with the pawl 34 and protrusion sections 40 . 41 . 42 , which in the Nutenbahn 38 protrude or an inner contour contour of this groove track 38 describe.

Durch manuellen Zugriff auf die Verbindungsstange 38 senkt die Bedienperson, aus dem Betriebszustand der 1, den Prüfmittelträger 12 auf den Objektträger 10 ab, bis die maximal abgesenkte Position der 2 erreicht ist. Die Griffeinheit 22 ragt in Verlängerung der Leistenanordnung 16, 18, welche, im Vergleich zu 1, eine Relativverschiebung entlang ihrer Längsrichtung zueinander durchgeführt haben, über diese in Verlängerung hinaus, gleichzeitig greift der jeweilige seitliche Abschnitt 24 mit nicht im Detail gezeigten Vorsprüngen in die Baugruppe 26 verriegelnd ein.By manual access to the connecting rod 38 lowers the operator, from the operating state of 1 , the test agent carrier 12 on the slide 10 from, until the maximum lowered position of the 2 is reached. The handle unit 22 protrudes in extension of the last arrangement 16 . 18 which, compared to 1 , Have carried out a relative displacement along their longitudinal direction to each other beyond this in extension, simultaneously engages the respective lateral portion 24 with projections not shown in detail in the assembly 26 locking one.

Die in 2 gezeigte, maximal abgesenkte (und im Rahmen der Erfindung als erste Schwenkposition vorgesehene) Messposition eignet sich damit insbesondere, das Prüfobjekt mit allen Prüfstiften der Prüfmittelanordnung zusammenzuführen. Ein typisches Beispiel für einen derartigen Prüfbetrieb ist ein sogenannter In-Circiut-Test, bei welchem etwa Prüfstifte zum Prüfen der bestückten Komponenten der Leiterplatte als Prüfobjekt viele Prüfpositionen auf der Leiterplatte kontaktieren. Entsprechend diesem Prüfmodus werden daher in ansonsten bekannter Weise die geeignet mit nachgeschalteter Prüfelektronik verbundenen Prüfstifte im Hinblick auf die Korrektheit der jeweiligen zu messenden elektrischen Eigenschaften zwischen den Prüfstiften ausgewertet.In the 2 shown, maximum lowered (and provided in the context of the invention as the first pivot position) measuring position is thus particularly suitable to merge the test object with all test pins of the test equipment arrangement. A typical example of such a test operation is a so-called in-circuit test in which, for example, test probes for checking the assembled components of the printed circuit board as test object contact many test positions on the printed circuit board. In accordance with this test mode, the test probes, which are suitably connected to downstream test electronics, are therefore in an otherwise known manner with respect to the test probes Correctness of the respective electrical properties to be measured between the test pins evaluated.

Die Teilfigur 2b, insoweit entsprechend wiederum einer Ausschnittsvergrößerung der Kulissenmittel im Betriebszustand der 2a, verdeutlichen die gegenüber der 1b geänderte Relativposition des Kulissenelements 30 innerhalb der Kulissen-Führungsbahn 38: Das X-förmige Kulissenelement 30 steht auf dem in die Führungsbahn 38 hineinragenden Vorsprung 42 auf, wobei der Vorsprung 42 in dieser Kulissenposition von zwei Armen des Kulissenelements 30 eingefasst ist. Gegenüber der 1b hat das Element 30 eine Teildrehung im Uhrzeigersinn vollführt.The partial figure 2 B , inasmuch as turn corresponding to an enlarged detail of the sliding means in the operating state of 2a , clarify the opposite of the 1b changed relative position of the link element 30 within the scenery guideway 38 : The X-shaped gate element 30 stands on the in the guideway 38 protruding projection 42 on, with the projection 42 in this setting position of two arms of the link element 30 is enclosed. Opposite the 1b has the element 30 performs a partial rotation in a clockwise direction.

Relativ zur 2 beschreibt die 3 mit den Teilfiguren (a) und (b) eine zweite Prüfposition, welche gegenüber der ersten Prüfposition der 2 um einen typischen Differenz-Schwenkhub von ca. 5 mm bis 6 mm bei der Leiterplattenprüfung angehoben und gleichermaßen verriegelt ist. Durch Anheben der Bügelanordnung 22 in die in 3a gezeigte Position löst sich der zweite Träger 12 vom ersten Träger und verschwenkt um einen den Differenz-Schwenkhub entsprechenden Betrag, gleichzeitig sorgt die in 3b wiederum im Detail gezeigte Kulissenfunktionalität dafür, dass die Anordnung nicht vollständig zurück in die geöffnete Position (1) ausschwenken kann: Es wird deutlich, dass durch die mittels der Baugruppe 24 bewirkte relative Längsverschiebung der Leisten 16, 18 zueinander das Kulissenelement 30 sich aus der Position der 2b entlang der Führungsbahn 38 in eine in 3b gezeigte Verriegelungsposition bewegt (und wiederum sich im Uhrzeigersinn weiterdreht): Ein oberer Abschnitt der am Kulissengehäuse 32 angelenkten Klinke 34 greift zwischen ein Arm-(Flügel-)Paar des X-förmigen Kulissenelements 30, gegenüberliegend übergreift dieses den Vorsprung 40, so dass die in 3b gezeigte Verriegelungsposition entsteht, welche ein weiteres Öffnen der Anordnung sperrt bzw. verhindert. Dabei blockiert der Vorsprung 41 eine Bewegung des Elements 30 durch Ausbilden eines Anschlags für den linken oberen Arm. Es sorgt insbesondere die federnde Lagerordnung der fingerartigen Klinke 34 dafür, dass ein unterer Arm des sich drehenden Kulissenelements 30 über diese schnappend hinweggleiten kann, während anderenends die Führungsbahnkontur 38 mit den Vorsprüngen 40, 41 und der zwischenliegenden Nut einen Anschlag für einen gegenüberliegenden Arm des Kulissenelements anbietet.Relative to 2 describes the 3 with the subfigures (a) and (b) a second test position, which compared to the first test position of 2 is raised by a typical differential swing stroke of about 5 mm to 6 mm in the circuit board test and locked in the same way. By lifting the bracket assembly 22 in the in 3a shown position dissolves the second carrier 12 from the first carrier and pivoted by an amount corresponding to the difference swing stroke, at the same time provides in 3b again shown in detail gate functionality that the arrangement is not fully back to the open position ( 1 ) It can be seen that by means of the assembly 24 caused relative longitudinal displacement of the strips 16 . 18 each other the backdrop element 30 from the position of 2 B along the guideway 38 in an in 3b shown locking position moves (and in turn continues to turn clockwise): An upper section of the scenery housing 32 hinged latch 34 engages between an arm (wing) pair of the X-shaped gate element 30 Opposite, this overlaps the lead 40 so that the in 3b shown locked position, which blocks or prevents further opening of the arrangement. The projection blocks 41 a movement of the element 30 by forming a stop for the left upper arm. It provides in particular the resilient bearing arrangement of the finger-like latch 34 for having a lower arm of the rotating gate element 30 slipping over this snapping, while at the other end the guideway contour 38 with the projections 40 . 41 and the intermediate groove offers a stop for an opposite arm of the link element.

Die auf diese Weise gesperrte bzw. verriegelte Position der 3 als zweite Schwenkposition bildet, gegenüber der ersten Schwenkposition der 2, einen um den Differenz-Schwenkhub vergrößerten Relativabstand zwischen Leiterplatte (als Prüfobjekt) und Prüfstiften (als Prüfmittel). Typischerweise würde in dieser zweiten Schwenkposition ein alternativer Testbetrieb mit längeren Prüfstiften der Prüfmittel durchgeführt, nämlich mit solchen verlängerten Prüfstiften, welche noch in dieser zweiten Schwenkposition kontaktbildend auf die Leiterplatte greifen, während nicht benötigte (nämlich nur für die erste Schwenkposition der 2 vorgesehene) der Prüfstifte aufgrund ihrer kürzen Länge nicht mehr kontaktbildend wirken. Die Prüfposition der 3 ist damit typischerweise geeignet, eine Funktionsprüfung od. dgl. Prüfaufgaben durchzuführen, bei welchen es nicht auf eine große Anzahl von Kontakten bzw. Prüfstiftzugriffen auf die Leiterplatte ankommt, vielmehr durch gezieltes Kontaktieren von Ein- und Ausgangsanschlüssen sowie Stromversorgungen eine elektrische Funktionalität einer Gesamtbaugruppe, wie durch die bestückte Leiterplatte realisiert, geprüft werden kann.The thus locked or locked position of the 3 forms as the second pivot position, compared to the first pivot position of the 2 , An increased relative to the difference Schwenkhub relative distance between the circuit board (as a test object) and test pins (as a test means). Typically, in this second pivot position, an alternative test operation would be performed with longer test pins of the test means, namely with such extended test pins, which still engage the printed circuit board in this second pivot position, while not required (namely only for the first pivot position of 2 provided) of the test pins no longer have a contact-forming effect due to their shorter length. The test position of 3 is thus typically suitable to perform a functional test or the like. Testing tasks in which it does not depend on a large number of contacts or Prüfstiftzugriffen on the circuit board, but rather by targeted contacting of input and output terminals and power supplies an electrical functionality of a whole assembly, such as realized by the assembled printed circuit board, can be tested.

Aus der Detailbeschreibung zum Öffnungszustand der 3 und der zugehörigen Kulissenfunktionalität gemäß 3b wird zudem deutlich, dass die so bestimmte zweite Schwenkposition sowohl in Richtung einer weiteren Öffnung der Prüfvorrichtung, also ein Aufwärtsbewegen des zweiten Trägers 12, gesperrt ist, als auch ein (erneutes) Absenken des zweiten Trägers relativ zum ersten Träger (also zurück in die Position der 2) verriegelt ist. Dies hat insbesondere die vorteilhafte Wirkung, dass bei manuellem Betrieb stets mögliche Fehlbedienungen nicht etwa nunmehr erneut die Prüfmittelanordnung (Prüfstifte) auf die Leiterplatte bringen und so potentiell Beschädigungen oder unbestimmte Prüfzustände vermieden werden können.From the detailed description of the opening state of 3 and the associated gate functionality according to 3b In addition, it becomes clear that the thus determined second pivot position both in the direction of a further opening of the test apparatus, ie an upward movement of the second carrier 12 is, as well as a (re) lowering the second carrier relative to the first carrier (ie back to the position of 2 ) is locked. This has in particular the advantageous effect that in manual operation always possible incorrect operations not now again bring the test equipment arrangement (test pins) on the circuit board and so potentially damage or indeterminate test conditions can be avoided.

Vielmehr ist es, zum Ermöglichen einer Aufwärtsbewegung des zweiten Trägers 12 zurück in die Öffnungsposition (1), notwendig, mit der Griffanordnung 22 zunächst eine Entriegelungsbewegung durchzuführen, um den verriegelten Zustand der 3 (insbesondere 3b) zu entriegeln: Insbesondere wird dieses Entriegeln bewirkt durch einen Druck auf das Griffelement 28 in Abwärtsrichtung, damit in Richtung auf den ersten Träger 10. Die 4b in Verbindung mit der Abfolge der Teilfiguren (a) bis (e) von 5 verdeutlicht diese Funktionalität. Das Profilelement führt weiter eine teilweise Linksdrehung durch; der linke obere Armabschnitt gleitet in die benachbart dem Vorsprung 40 in der Führungsbahn gebildete Nut, während der rechte untere Armabschnitt an der federnden Klinke 34 abgleitet, bis der entsperrte Zustand von 5(e) erreicht ist. Dabei bildet der Vorsprung 41 einen Lagerpunkt für diese Drehung. Nachfolgend kann dann das Kulissenelement in den linken oberen Taschenabschnitt der Führungsbahn 38 gleiten, bis die oberste Öffnungsposition (1b) erreicht ist. 5 zeigt zusätzlich eine dem Vorsprung 41 zugeordnete Kugeldruckbaugruppe, die bodenseitig vorgesehen ist und die Bewegung des Elements 30 am Vorsprung 41 unterstützt.Rather, it is to allow an upward movement of the second carrier 12 back to the opening position ( 1 ), necessary, with the handle assembly 22 first perform an unlocking movement to the locked state of 3 (especially 3b ): In particular, this unlocking is effected by a pressure on the handle element 28 in the downward direction, thus towards the first carrier 10 , The 4b in connection with the sequence of subfigures (a) to (e) of 5 clarifies this functionality. The profile element continues to perform a partial left-hand rotation; the left upper arm portion slides in the adjacent the projection 40 Groove formed in the guideway, while the right lower arm portion of the resilient latch 34 slips off until the unlocked state of 5 (e) is reached. This is the lead 41 a bearing point for this rotation. Subsequently, then the link element in the upper left pocket portion of the guideway 38 slide until the topmost opening position ( 1b ) is reached. 5 additionally shows the lead 41 associated ball pressure assembly, which is provided on the bottom side and the movement of the element 30 at the lead 41 supported.

Aus der obigen Beschreibung wird deutlich, dass das beschriebene Ausführungsbeispiel die komplexe Relativpositionierung des ersten und des zweiten Trägers zum Erreichen einer vorbestimmten Abfolge verschiedener Prüfpositionen mechanisch elegant und mit niedrigem mechanischem Aufwand erreicht, damit betriebssicher eine vollständig manuelle Betätigung ermöglicht, ohne dass etwa aufwendige elektrische und/oder mechanische Betätigungsmechanismen eingesetzt und angesteuert werden müssen. Im Hinblick auf die vorteilhaft im Seitenbereich des zweiten Trägers vorgesehene Kulissensteuerung wird zudem deutlich, dass sich die Erfindung insbesondere auch vorteilhaft für das einfache und kostengünstige Nachrüsten von solchen Prüfvorrichtungen eignet, welche bereits in der in den Figuren gezeigten Art eine durch einen Hebemechanismus betätigte Relativverschiebung zweier Rahmenleisten (16, 18 am Ausführungsbeispiel) vorsehen. From the above description it is clear that the described embodiment achieves the complex relative positioning of the first and the second carrier to achieve a predetermined sequence of different test positions mechanically elegant and with low mechanical effort, so reliable full manual operation allows without elaborate electrical and / or mechanical actuation mechanisms must be used and controlled. In view of the advantageously provided in the side region of the second support slide control is also clear that the invention is particularly advantageous for the simple and inexpensive retrofitting of such testing devices, which already in the manner shown in the figures a actuated by a lifting mechanism relative displacement of two Frame strips ( 16 . 18 on the embodiment).

Auch sollte deutlich werden, dass die exemplarisch beschriebene Zuordnung des zweiten Trägers zu den Prüfmitteln, also etwa eine dort geeignet vorgesehene Anordnung aus einer Mehrzahl von Prüfstiften, weiter bevorzugt entsprechend den relativen Schwenkpositionen verschiedener Längen, genauso exemplarisch ist wie die Vorsehbarkeit des idealerweise als eine oder mehrere Leiterplatten ausgestalteten Prüfobjekts am ersten Träger 10 als Objektträger. Diese Anordnung kann genauso vertauscht sein, wie Mischformen, etwa bei einer Mehrzahl vorgesehener Einheiten, denkbar sind.It should also be clear that the exemplary described assignment of the second carrier to the test means, that is to say a suitable arrangement of a plurality of test pins, more preferably corresponding to the relative pivot positions of different lengths, is just as exemplary as the predictability of the ideal as a or a plurality of printed circuit boards designed test object on the first carrier 10 as a slide. This arrangement can be just as reversed, as mixed forms, such as a plurality of proposed units, are conceivable.

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Zitierte PatentliteraturCited patent literature

DE 202012101652 U1 [0002, 0029]
DE 102011054260 [0003]

Claims

Test device for a test object having a printed circuit board with a first support (a support and / or support for the test object) ( 10 ), in particular a slide and a second support pivotable about a preferably horizontal pivot axis relative to the first support by manual actuation ( 12 ), in particular test equipment carrier, which is provided between a check contact with the test object enabling test position and an insertion or replacement of the test object enabling opening position articulated hinged to the first carrier, wherein the second carrier is designed and mounted so that two relatively movably guided Sections ( 16 . 18 ) of the second carrier perform during a pivoting between the opening position and the test position a relative movement to each other, in particular slip off against each other and / or move against each other, characterized in that the test position two stages as a maximum lowered first pivot position and a difference pivoting of the first pivot position established second pivotal position of the second carrier ( 12 ) is formed so that in the first pivot position, a first plurality of first test pins and in the second pivot position, in particular a comparison with the first plurality of the first test pins reduced plurality of second test pins can be brought into an electrically contacting test contact with the test object, wherein the second Carrier ( 12 ) acting on the two relatively movably guided portions locking means ( 30 - 42 are assigned, which are designed so that they lock and / or lock after pivoting of the second carrier from the first pivot position to the second pivot position by manual operation, the second carrier in the second pivot position.

Apparatus according to claim 1, characterized in that the Verrieglungsmittel are formed so that a release of the locked or locked state of the second carrier in the second pivot position by a manual operation of the second carrier by an unlocking movement, in particular an unlocking Schwenkhub from the second Pivoting position in the direction of the first pivot position, and / or a manually operated relative movement between the two sections of the second carrier can take place.

Apparatus according to claim 2, characterized in that the locking means are formed so that when manually operated by the unlocking pivoting stroke or in the manually operated relative movement to release the locked or locked state, a movement of the second carrier in the first pivot position locked is.

Device according to one of claims 1 to 3, characterized in that the locking means by a between the two relatively movably guided sections ( 16 . 18 ) of the second carrier ( 12 ) provided scenery ( 30 . 38 ) are realized so that a one guideway ( 38 ) for a gate element ( 30 ) offering backdrop on a first of the sections and the link element is attached to the second of the sections so that the link element moves at least in sections along the guide track by the relative movement.

Apparatus according to claim 4, characterized in that the link element with at least one locking groove for cooperating with a / r formed at a predetermined position on the guideway / r projection ( 40 . 41 . 42 ) and / or latch ( 34 ) is trained.

Apparatus according to claim 4 or 5, characterized in that the two relatively movably guided sections ( 16 . 18 ) for carrying out a longitudinal relative movement, in particular by sliding two longitudinal sections against each other, are formed and the link element ( 30 ) is mounted pivotably and / or rotatably.

Apparatus according to claim 6, characterized in that the sliding means on a preferably common inner or outer surface of two mutually displaceable frame, spar and / or arm sections ( 16 . 18 ) of the second carrier ( 12 ) are formed fastened, which perform the relative movement in response to the pivoting and / or a manual operation of the frame, spar or arm sections.

Device according to one of claims 1 to 7, characterized in that an unloaded Prüfstiftlänge the first test pins, based on a support surface for the test pins, is shorter than an unloaded Prüfstiftlänge the second test pins. and / or the first and the second test pins have a common reference and / or support surface.

Device according to one of claims 1 to 8, characterized in that the exclusively mechanical actuation by a provided on the second support and / or projecting from this, preferably bow-shaped handle portion ( 24 . 28 ) is possible.

Use of the test device according to one of claims 1 to 9 for successively carrying out a two-stage printed circuit board test of the same circuit board as the test object with the first and the second test pins without intermediate transfer of trained as Prüfmittelträger second carrier in the open position and / or without changing a position of the circuit board relative to the first carrier formed as a slide.