DE102014211488A1 - Integrated circuit with a thermally sprayed housing body - Google Patents
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Abstract
Die Erfindung betrifft einen integrierten, elektronischen Schaltkreis. Der Schaltkreis weist einen Körper auf und wenigstens einen elektronischen Halbleiter, insbesondere Halbleiterschaltkreis, welcher in den Körper eingebettet ist. Erfindungsgemäß ist der Körper ein thermisch gespritzter Keramikkörper.The invention relates to an integrated electronic circuit. The circuit has a body and at least one electronic semiconductor, in particular semiconductor circuit, which is embedded in the body. According to the invention, the body is a thermally sprayed ceramic body.
Description
Stand der Technik State of the art
Die Erfindung betrifft einen integrierten, elektronischen Schaltkreis. Der Schaltkreis weist einen Körper, insbesondere einen ein Gehäuse des Schaltkreises bildenden Gehäusekörper auf und wenigstens einen elektronischen Halbleiter, insbesondere Halbleiterschaltkreis, welcher in den Körper eingebettet ist. The invention relates to an integrated electronic circuit. The circuit has a body, in particular a housing body forming a housing of the circuit, and at least one electronic semiconductor, in particular semiconductor circuit, which is embedded in the body.
Bei elektronischen Schaltkreisen, insbesondere bei Halbleitermodulen, insbesondere Leistungsmodulen, besteht das Problem, dass die von dem elektronischen Halbleiter erzeugbare Verlustwärme begrenzt ist, insoweit das Gehäuse des integrierten Schaltkreises, insbesondere ein Kunststoffgehäuse, nur eine begrenzte Wärmeleitfähigkeit aufweist und weiter bei hohen Temperaturen zerstört werden könnte. In electronic circuits, in particular in semiconductor modules, in particular power modules, there is the problem that the loss of heat generated by the electronic semiconductor is limited, as far as the housing of the integrated circuit, in particular a plastic housing, has only a limited thermal conductivity and could be destroyed at high temperatures ,
Offenbarung der Erfindung Disclosure of the invention
Erfindungsgemäß ist der Körper ein thermisch gespritzter Körper. Der thermisch gespritzte Körper ist bevorzugt mittels thermischen Spritzens, bevorzugt mittels einer thermischen Spritzvorrichtung, insbesondere einer Plasmaspritzvorrichtung erzeugt. Das Körpermaterial ist bevorzugt ein Keramikmaterial. According to the invention, the body is a thermally sprayed body. The thermally sprayed body is preferably produced by thermal spraying, preferably by means of a thermal spraying device, in particular a plasma spraying device. The body material is preferably a ceramic material.
Dadurch kann vorteilhaft ein Schaltkreis mit einem thermisch gut leitfähigen Körper und weiter einem Körper mit einer hohen elektrischen Durchschlagfestigkeit erzeugt werden. As a result, a circuit with a thermally good conductive body and further a body with a high dielectric strength can be advantageously produced.
Es wurde nämlich erkannt, dass mittels herkömmlicher Sinterverfahren zum Erzeugen von keramischen Körpern der in dem Sintermaterial eingebettete Halbleiter zerstört werden kann. Mit dem erfindungsgemäßen thermischen Spritzverfahren lässt sich vorteilhaft das keramische Material mit einem geringen Wärmeeintrag in den Halbleiter, insbesondere Halbleiterbaustein, auftragen und so ein integrierter elektronischer Schaltkreis mit einem Körper erzeugen, welcher durch ein keramisches Material gebildet ist. It has been recognized that by means of conventional sintering methods for producing ceramic bodies, the semiconductor embedded in the sintered material can be destroyed. With the thermal spraying method according to the invention can advantageously be the ceramic material with a low heat input in the semiconductor, in particular semiconductor device, apply and thus produce an integrated electronic circuit with a body, which is formed by a ceramic material.
Das thermische Spritzen ist in einer bevorzugten Ausführungsform Plasmaspritzen. Dadurch können die Keramikpartikel effizient aufgeschmolzen werden und auf dem Halbleiter und/oder dem Substrat aufwachsen. Ein Wärmeeintrag in den Halbleiter ist dabei vorteilhaft klein. The thermal spraying is in a preferred embodiment plasma spraying. As a result, the ceramic particles can be melted efficiently and grown on the semiconductor and / or the substrate. A heat input into the semiconductor is advantageously small.
In einer anderen Ausführungsform ist das thermische Spritzen Flammspritzen, weiter bevorzugt Hochgeschindigkeits-Flammspritzen, auch HVOF genannt (HVOF = High-Velocity-Oxy-Fuel). Dadurch können vorteilhaft Keramikkörper mit einer hohen Dichte erzeugt werden. In another embodiment, thermal spraying is flame spraying, more preferably high velocity flame spraying, also called HVOF (HVOF = High Velocity Oxy-Fuel). As a result, it is possible with advantage to produce ceramic bodies with a high density.
In einer bevorzugten Ausführungsform weist der Schaltkreis wenigstens einen elektrischen Anschluss auf, welcher aus dem Körper herausragt. So kann der elektrische Schaltkreis vorteilhaft von außen elektrisch kontaktiert werden. In a preferred embodiment, the circuit has at least one electrical connection which protrudes from the body. Thus, the electrical circuit can be advantageously contacted electrically from the outside.
In einer bevorzugten Ausführungsform weist die Keramik eine Oxidkeramik, insbesondere Aluminiumoxid, Titandioxid, Magnesiumoxid, Chromoxid, Bariumoxid oder Zirkonoxid auf. Weitere vorteilhafte Varianten für eine Keramik sind Silikate, insbesondere Alumosilikat. Weiter vorteilhaft kann die Keramik ein Titanat, insbesondere Aluminiumtitanat oder Bariumtitanat aufweisen. In a preferred embodiment, the ceramic has an oxide ceramic, in particular aluminum oxide, titanium dioxide, magnesium oxide, chromium oxide, barium oxide or zirconium oxide. Further advantageous variants for a ceramic are silicates, in particular aluminosilicate. Further advantageously, the ceramic may comprise a titanate, in particular aluminum titanate or barium titanate.
Mittels des thermischen Spritzverfahrens, insbesondere Plasmaspritzen, lassen sich vorteilhaft Keramikpulver mit zueinander verschiedenen Zusammensetzungen in dem Plasma aufschmelzen und weiter beim Abscheiden zu dem Körper aufwachsen und so den elektronischen Halbleiter einschließen. By means of the thermal spraying method, in particular plasma spraying, ceramic powders with mutually different compositions can advantageously be melted in the plasma and continue to grow on deposition to the body and thus enclose the electronic semiconductor.
In einer bevorzugten Ausführungsform weist die Keramik ein Nitrid, insbesondere Bornitrid, Aluminiumnitrid oder Siliziumnitrid auf. So kann vorteilhaft eine gute Wärmeleitfähigkeit des Körpers des elektronischen Schaltkreises bewirkt werden. In a preferred embodiment, the ceramic has a nitride, in particular boron nitride, aluminum nitride or silicon nitride. Thus, advantageously, a good thermal conductivity of the body of the electronic circuit can be effected.
Mittels der zuvor genannten Oxide, insbesondere Aluminiumoxid, lässt sich vorteilhaft ein aufwandsgünstig bereitzustellender Körper erzeugen. By means of the abovementioned oxides, in particular aluminum oxide, it is advantageously possible to produce a body which is inexpensive to dispose of.
In einer bevorzugten Ausführungsform weist die Keramik ein Silizid, insbesondere Molybdändisilizid, auf. Mittels des Molybdändisilizids können vorteilhaft elektrisch leitfähige Strukturen, beispielsweise eine Abschirmung oder eine elektrische Verbindungsleitung gebildet sein. Zusätzlich oder unabhängig davon können elektrische Verbindungen oder eine Abschirmung durch eine Metallschicht gebildet sein. Die Metallschicht umfasst beispielsweise Kupfer, Nickel, Gold, Silber, Zinn, Zink, Aluminium oder eine Kombination aus diesen. In a preferred embodiment, the ceramic has a silicide, in particular molybdenum disilicide. By means of the molybdenum disilicide, electrically conductive structures, for example a shield or an electrical connection line, can be advantageously formed. Additionally or independently, electrical connections or shielding may be formed by a metal layer. The metal layer includes, for example, copper, nickel, gold, silver, tin, zinc, aluminum or a combination of these.
In einer anderen Ausführungsform kann mittels des Molybdändisilizids, insbesondere einer thermisch gespritzten Schicht umfassend Molybdändisilizid, ein Heizelement gebildet sein. So kann vorteilhaft eine Elektronik, welche den integrierten Schaltkreis umfasst, vor einem Betauen geschützt werden. In another embodiment, a heating element may be formed by means of the molybdenum disilicide, in particular a thermally sprayed layer comprising molybdenum disilicide. Thus, advantageously, an electronic system which comprises the integrated circuit can be protected against condensation.
In einer bevorzugten Ausführungsform weist der Schaltkreis ein QFN-Gehäuse (QFN = Quad flat no leads package) auf. Das QFN-Gehäuse weist bevorzugt eine Dicke zwischen 0,05 und 5 Millimeter auf. In a preferred embodiment, the circuit has a QFN package (QFN = Quad flat no leads package). The QFN package preferably has a thickness between 0.05 and 5 millimeters.
Das QFN-Gehäuse kann vorteilhaft mittels des thermischen Spritzverfahrens, insbesondere mittels Plasmaspritzen oder Flammspritzen, aufwandsgünstig bereitgestellt werden. The QFN housing can be advantageously provided by means of the thermal spraying method, in particular by means of plasma spraying or flame spraying.
In einer bevorzugten Ausführungsform weist der Körper aufeinanderfolgende Keramik-Einzelschichten auf, welche miteinander verbunden sind. Die Verbindung zwischen den Einzelschichten ist bevorzugt eine stoffschlüssige Verbindung. Die stoffschlüssige Verbindung ist bevorzugt beim Aufspritzen einer Folgeschicht erzeugt. Dabei können die aufgeschmolzenen Keramikpartikel auf der Oberfläche miteinander verzahnen und/oder verkrallen. In a preferred embodiment, the body has successive ceramic monolayers joined together. The connection between the individual layers is preferably a cohesive connection. The cohesive connection is preferably produced during the spraying of a subsequent layer. The melted ceramic particles can interlock and / or dig on the surface.
So können vorteilhaft keramische Materialien mit zueinander verschiedenen Wärmeausdehnungskoeffizienten in dem integrierten Schaltkreis ausgebildet sein. So kann vorteilhaft eine stufenweise Adaption eines Wärmeausdehnungskoeffizienten von einem Halbleitermaterial, beispielsweise Silizium, bis hin zu weiteren Schichten in dem keramischen Körper, erzeugt werden. Vorteilhaft kann so eine Lebensdauer des Schaltkreises verbessert sein. Vorteilhaft kann durch den so thermisch angepassten keramischen Körper effizient Wärme von dem Halbleiter abgeführt werden. Beispielsweise kann ein quaderförmiger Körper umfassend eine Oberfläche mit sechs Facetten zur Ableitung von Verlustwärme von mehr als einer Facette thermisch an einen oder mehrere Kühlkörper angebunden sein. Thus, advantageous ceramic materials with mutually different thermal expansion coefficients may be formed in the integrated circuit. Thus, advantageously, a stepwise adaptation of a coefficient of thermal expansion of a semiconductor material, for example silicon, up to further layers in the ceramic body, are generated. Advantageously, such a lifetime of the circuit can be improved. Advantageously, heat can be efficiently dissipated from the semiconductor by the thus thermally adapted ceramic body. For example, a cuboid body comprising a six facet surface for dissipating heat loss from more than one facet may be thermally bonded to one or more heat sinks.
In einer bevorzugten Ausführungsform weist die Keramik ein Carbid, insbesondere Borcarbid, Wolframcarbid oder Siliziumcarbid auf. Vorteilhaft kann so der keramisch ausgebildete Körper eine gute Wärmeleitfähigkeit aufweisen. Weiter vorteilhaft kann mittels einer Schicht von Siliziumkarbid eine Substratschicht für den Halbleiter, insbesondere einen gehäuselosen Halbleiterbaustein, auch Bare-Die genannt, gebildet sein. In a preferred embodiment, the ceramic has a carbide, in particular boron carbide, tungsten carbide or silicon carbide. Advantageously, the ceramic body can thus have a good thermal conductivity. Further advantageously, by means of a layer of silicon carbide, a substrate layer for the semiconductor, in particular a housing-less semiconductor component, also called bare die, may be formed.
Der zuvor genannte Halbleiter, insbesondere Halbleiter-Baustein, ist bevorzugt ein Halbleiterschalter. Der Halbleiterschalter ist bevorzugt ein Transistor, insbesondere ein Feldeffekttransistor. Andere Ausführungsformen für den Halbleiter sind ein integrierter Logikschaltkreis, insbesondere ein Mikrocontroller, ein Mikroprozessor oder ein ASIC (ASIC = Application-Specific-Integrated-Circuit). The aforementioned semiconductor, in particular semiconductor component, is preferably a semiconductor switch. The semiconductor switch is preferably a transistor, in particular a field effect transistor. Other embodiments for the semiconductor are an integrated logic circuit, in particular a microcontroller, a microprocessor or an ASIC (Application Specific Integrated Circuit).
Der integrierte Schaltkreis ist beispielsweise ein Halbleitermodul, insbesondere ein Inverter. Der Inverter umfasst bevorzugt wenigstens zwei, drei, oder mehrere Halbleiterschalter-Halbbrücken, welche jeweils zwei Halbleiterschalter, insbesondere Feldeffekttransistoren, oder IGBT-Transistoren (IGBT = Insulated-Gate-Bipolar-Transitor) aufweisen. Beispielsweise umfasst der Inverter eine B6-Brücke oder wenigstens zwei H-Brücken. The integrated circuit is for example a semiconductor module, in particular an inverter. The inverter preferably comprises at least two, three, or a plurality of semiconductor switch half bridges, each of which has two semiconductor switches, in particular field effect transistors, or IGBT transistors (IGBT = Insulated Gate Bipolar Transitor). For example, the inverter comprises a B6 bridge or at least two H-bridges.
Die Erfindung betrifft auch ein Verfahren zum Erzeugen eines integrierten Schaltkreises. Bei dem Verfahren zum Erzeugen eines integrierten Schaltkreises wird wenigstens ein elektronisches Halbleiterbauteil mit in ein Körpermaterial eingebettet und so ein elektronisches Bauteil erzeugt. The invention also relates to a method for producing an integrated circuit. In the method for producing an integrated circuit, at least one electronic semiconductor device is embedded in a body material, thus producing an electronic component.
Das Verfahren umfasst die Schritte:
- – Aufschmelzen von Keramikpulver in einem Plasma oder einer Flamme;
- – Aufspritzen der geschmolzenen Keramikpartikel auf das den Halbleiter, insbesondere Halbleiterbaustein, oder zusätzlich wenigstens einen Teil von elektrischen Anschlüssen des Halbleiterbauteils, bis der Halbleiter mit Keramikmaterial wenigstens teilweise oder vollständig eingebettet ist.
- - melting ceramic powder in a plasma or a flame;
- - Spraying the molten ceramic particles on the semiconductor, in particular semiconductor device, or additionally at least a portion of electrical connections of the semiconductor device until the semiconductor is at least partially or completely embedded with ceramic material.
Bevorzugt werden die Keramikpartikel durch eine Maske hindurch gespritzt. Die Maske weist eine Öffnung und einen die Öffnung begrenzenden Rand auf, wobei der Rand ausgebildet ist, eine insbesondere laterale Ausdehnung des Keramikpartikel-Spritzstrahles zu begrenzen. Preferably, the ceramic particles are injected through a mask. The mask has an opening and an edge delimiting the opening, wherein the edge is designed to limit a particular lateral extent of the ceramic particle spray jet.
In einer anderen Ausführungsform werden die Keramikpartikel in eine Form gespritzt, wobei der Halbleiter in der Form angeordnet ist und so in Keramikmaterial eingebettet wird. In another embodiment, the ceramic particles are injected into a mold, wherein the semiconductor is arranged in the mold and thus embedded in ceramic material.
Bevorzugt wird der Körper in aufeinanderfolgenden Einzelschichten schichtweise erzeugt. The body is preferably produced in layers in successive individual layers.
Weiter bevorzugt wird beim Erzeugen der Einzelschicht von der Einzelschicht emittierte Wärmestrahlen erfasst und ein Partikelstrom der gespritzten Keramikpartikel beim Aufspritzen in Abhängigkeit der Wärmestrahlen erzeugt. More preferably, heat rays emitted by the single layer are detected during the production of the single layer and a particle flow of the sprayed ceramic particles is produced during spraying in dependence on the heat rays.
Bevorzugt wird eine Schichtdicke der Einzelschicht in Abhängigkeit der erfassten Wärmestrahlen, insbesondere in Abhängigkeit eines die Wärmestrahlen repräsentierenden, von einem Infrarotsensor erzeugten Ausgangssignals erzeugt. Preferably, a layer thickness of the single layer is generated as a function of the detected heat rays, in particular as a function of an output signal representing the heat rays generated by an infrared sensor.
Dadurch kann vorteilhaft verhindert werden, dass eine Temperatur des während des Spritzvorganges wachsenden Keramikkörpers derart ansteigt, dass der Halbleiter beschädigt oder zerstört werden kann. As a result, it can be advantageously prevented that a temperature of the ceramic body growing during the injection process increases in such a way that the semiconductor can be damaged or destroyed.
In einer bevorzugten Ausführungsform wird der gespritzte Körper, insbesondere das gespritzte Keramikgehäuse mittels einer Polymerschicht, insbesondere eine Lackschicht als Oberflächenschicht beschichtet. So kann vorteilhaft keine Feuchtigkeit in den Schaltkreis eindringen. In a preferred embodiment, the sprayed body, in particular the sprayed ceramic housing by means of a polymer layer, in particular a coating layer is coated as a surface layer. Thus, no moisture can advantageously penetrate into the circuit.
Die Erfindung wird nun im Folgenden anhand von Figuren und weiteren Ausführungsbeispielen beschrieben. Weitere vorteilhafte Ausführungsvarianten ergeben sich aus den in den Figuren und in den abhängigen Ansprüchen beschriebenen Merkmalen. The invention will now be described below with reference to figures and further embodiments. Further advantageous embodiments will become apparent from the features described in the figures and in the dependent claims.
Das Substrat
Mit dem Halbleiter
In den weiteren Verfahrensschritten wird das Gehäuse des integrierten Schaltkreises
Weiter werden weitere Keramikschichten erzeugt, welche auf die bereits erzeugten Keramikschichten aufgespritzt werden. In diesem Ausführungsbeispiel ist auf die Keramikschicht
Dazu kann beispielsweise die von den Keramikschichten, in diesem Ausführungsbeispiel der Keramikschicht
Der Infrarot-Sensor
Der Halbleiter
Anstelle der Plasmasprayvorrichtung
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Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE102014211488.8A DE102014211488A1 (en) | 2014-06-16 | 2014-06-16 | Integrated circuit with a thermally sprayed housing body |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE102014211488.8A DE102014211488A1 (en) | 2014-06-16 | 2014-06-16 | Integrated circuit with a thermally sprayed housing body |
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Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE102014211488A1 true DE102014211488A1 (en) | 2015-12-17 |
Family
ID=54706684
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Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE102014211488.8A Withdrawn DE102014211488A1 (en) | 2014-06-16 | 2014-06-16 | Integrated circuit with a thermally sprayed housing body |
Country Status (1)
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---|---|
DE (1) | DE102014211488A1 (en) |
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2014
- 2014-06-16 DE DE102014211488.8A patent/DE102014211488A1/en not_active Withdrawn
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