DE102014203747A1 - Laser microdissection system and laser microdissection method - Google Patents

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Abstract

Lasermikrodissektionssystem (100) mit einem Mikroskop (10), das eine Aufnahmeeinrichtung (52) zur Aufnahme einer biologischen Probe (51) und eine Auflichteinrichtung (76) mit einer Laserablenkeinrichtung (73) aufweist, welche einen durch eine Lasereinheit (70) bereitgestellten Laserstrahl (77) durch ein Mikroskopobjektiv (41) des Mikroskops (10) auf einen Probenbereich (510) der biologischen Probe (51) führt und welche einen Auftreffpunkt des Laserstrahls (77) auf dem Probenbereich (510) verschiebt, wobei das Lasermikrodissektionssystem (100) mindestens eine weitere Laserablenkeinrichtung (73', 73'') zum Führen mindestens eines weiteren Laserstrahls (77', 77'') auf den Probenbereich (510) oder auf mindestens einen anderen Probenbereich (530, 540) und zum Verschieben des Auftreffpunkts des mindestens einen weiteren Laserstrahls (77', 77'') auf dem jeweiligen Probenbereich aufweist.A laser microdissection system (100) comprising a microscope (10) having a receptacle (52) for receiving a biological sample (51) and a Auflichteinrichtung (76) with a laser deflector (73) which a provided by a laser unit (70) laser beam (70). 77) through a microscope objective (41) of the microscope (10) leads to a sample area (510) of the biological sample (51) and which shifts a point of incidence of the laser beam (77) on the sample area (510), the laser microdissection system (100) at least a further laser deflection device (73 ', 73' ') for guiding at least one further laser beam (77', 77 '') on the sample area (510) or on at least one other sample area (530, 540) and for displacing the point of impact of the at least one further laser beam (77 ', 77' ') on the respective sample area.

Description

Die vorliegende Erfindung betrifft ein Lasermikrodissektionssystem und ein Lasermikrodissektionsverfahren gemäß den jeweiligen Oberbegriffen der unabhängigen Patentansprüche sowie verschiedene Verwendungen des beanspruchten Lasermikrodissektionssystems. The present invention relates to a laser microdissection system and a laser microdissection method according to the respective preambles of the independent claims as well as various uses of the claimed laser microdissection system.

Stand der Technik State of the art

Verfahren zur Bearbeitung biologischer Proben durch Lasermikrodissektion existieren bereits seit Mitte der 1970er Jahre und wurden seitdem kontinuierlich weiterentwickelt. Bei der Lasermikrodissektion können Zellen, Geweberegionen usw. aus einer biologischen Probe ("Objekt") isoliert und als sogenannte Dissektate gewonnen werden. Ein besonderer Vorteil der Lasermikrodissektion ist der kurze Kontakt der Probe mit dem Laserstrahl, durch den diese kaum verändert wird. Die Gewinnung der Dissektate kann auf unterschiedliche Weise erfolgen. Methods for processing biological samples by laser microdissection have existed since the mid-1970s and have been continuously developed since then. In laser microdissection, cells, tissue regions, etc., can be isolated from a biological sample ("object") and recovered as so-called dissectates. A particular advantage of laser microdissection is the short contact of the sample with the laser beam, by which it is hardly changed. The recovery of the dissectates can be done in different ways.

Beispielsweise kann in bekannten Verfahren aus einer Probe mittels eines Infrarot- oder Ultraviolettlaserstrahls ein Dissektat isoliert werden, das unter dem Einfluss der Schwerkraft in einen geeigneten Dissektatauffangbehälter fällt. Das Dissektat kann dabei aus der Probe auch zusammen mit einer an der Probe anheftenden Membran ausgeschnitten werden. Bei der sogenannten "Laser Capture Microdissection" wird hingegen eine thermoplastische Membran mittels eines entsprechenden Laserstrahls erwärmt. Dabei verschmilzt die Membran mit dem gewünschten Bereich der Probe und kann in einem darauffolgenden Schritt durch Reißen entfernt werden. Eine weitere Alternative besteht darin, das Dissektat mittels des Laserstrahls an einen Deckel eines Dissektatauffangbehälters anzuheften. Bei bekannten inversen Mikroskopsystemen zur Lasermikrodissektion können nach oben transportierte Dissektate auch an den Boden eines Dissektatauffangbehälters, der mit einer adhäsiven Beschichtung versehen ist, angeheftet werden. For example, in known methods, a dissectate can be isolated from a sample by means of an infrared or ultraviolet laser beam which falls under the influence of gravity into a suitable dissektate collection container. The dissectate can be cut out of the sample also together with a membrane attached to the sample. In the so-called "laser capture microdissection", however, a thermoplastic membrane is heated by means of a corresponding laser beam. The membrane fuses with the desired area of the sample and can be removed by tearing in a subsequent step. Another alternative is to attach the dissectate by means of the laser beam to a lid of a Dissektatauffangbehälters. In known inverse microscopy systems for laser microdissection, upwardly transported dissectates may also be attached to the bottom of a dissectate collection container provided with an adhesive coating.

Bekannte Mikroskopsysteme zur Lasermikrodissektion weisen eine Auflichteinrichtung auf, in deren Strahlengang ein Laserstrahl eingekoppelt wird. Der Laserstrahl wird durch das jeweils verwendete Mikroskopobjektiv auf die Probe fokussiert, die auf einem motorisch-automatisch verfahrbaren Mikroskoptisch aufliegt. Eine Schnittlinie kann dadurch erzeugt werden, dass der Mikroskoptisch beim Schneiden verfahren wird, um die Probe relativ zu dem feststehenden Laserstrahl zu bewegen. Dies hat jedoch unter Anderem den Nachteil, dass die Probe während des Erzeugens der Schnittlinie nicht ohne weiteres betrachtet werden kann, da sich die Probe im Gesichtsfeld bewegt und das Bild ohne weitere Kompensationsmaßnahmen verschwommen bzw. verschmiert erscheint. Known microscope systems for laser microdissection have a Auflichteinrichtung, in the beam path of a laser beam is coupled. The laser beam is focused by the particular microscope objective used on the sample, which rests on a motor-automatically movable microscope stage. A cutting line can be created by moving the microscope stage during cutting to move the sample relative to the fixed laser beam. However, this has, inter alia, the disadvantage that the sample can not be readily observed during the generation of the cutting line, since the sample moves in the field of vision and the image appears blurred or blurred without further compensation measures.

Vorteilhafter sind daher Lasermikrodissektionssysteme, die Laserablenk- bzw. Laserscaneinrichtungen aufweisen, die dazu eingerichtet sind, den Laserstrahl bzw. dessen Auftreffpunkt auf der zu dissektierenden feststehenden Probe zu bewegen. Derartige Lasermikrodissektionssysteme, die auch im Rahmen der vorliegenden Erfindung zum Einsatz kommen sollen und dort besondere Vorteile bieten, werden unten im Detail erläutert. Ein besonders vorteilhaftes Lasermikroskopsystem das eine Laserablenkeinrichtung mit gegeneinander verstellbaren Glaskeilen im Laserstrahlengang aufweist, ist beispielsweise in der EP 1 276 586 B1 beschrieben. Therefore, laser microdissection systems which have laser deflection or laser scanning devices which are set up to move the laser beam or its point of impact on the stationary sample to be dissected are more advantageous. Such laser microdissection systems, which are also to be used in the context of the present invention and offer special advantages there, are explained in detail below. A particularly advantageous laser microscope system which has a laser deflection device with mutually adjustable glass wedges in the laser beam path, is for example in the EP 1 276 586 B1 described.

In beiden Fällen, also in Systemen mit bewegter oder feststehender Probe, wird in der Regel mit gepulsten Lasern gearbeitet, wobei durch jeden Laserpuls ein Loch bzw. eine Vertiefung in der Probe erzeugt wird. Eine Schnittlinie entsteht durch eine Aneinanderreibung derartiger Löcher bzw. Vertiefungen, gegebenenfalls mit Überlappung. In both cases, that is to say in systems with a moving or stationary sample, pulsed lasers are generally used, a hole or depression being produced in the sample by each laser pulse. A cutting line is created by a friction of such holes or depressions, optionally with overlap.

Die Lasermikrodissektion kann zur Gewinnung von Einzelzellen oder definierten Gewebebereichen verwendet werden, die mit einem Laserstrahl vom umliegenden Gewebe separiert und anschließend beispielsweise unterschiedlichen diagnostischen Analyseverfahren unterworfen werden. In der Onkologie kann die Lasermikrodissektion beispielsweise dafür eingesetzt werden, um spezifisch Tumorzellen aus einem mikroskopischen Schnitt zu isolieren und auf spezifische Metaboliten oder Proteine zu untersuchen. The laser microdissection can be used to obtain single cells or defined areas of tissue, which are separated by a laser beam from the surrounding tissue and subsequently subjected to different diagnostic analysis methods, for example. In oncology, for example, laser microdissection can be used to specifically isolate tumor cells from a microscopic section and to examine specific metabolites or proteins.

Weiterhin kann die Lasermikrodissektion auch zur Manipulation von Einzelzellen oder definierten Gewebebereichen eingesetzt werden. Hier ist beispielsweise an eine Fluoreszenzanregung zu denken oder an die Verwendung als optische Pinzette. Furthermore, the laser microdissection can also be used for the manipulation of single cells or defined tissue areas. Here, for example, to think of a fluorescence excitation or to use as optical tweezers.

Ein Problem bei den Lasermikrodissektionstechniken ist die Geschwindigkeitsbegrenzung beim Ausschneiden eines Dissektats oder beim Manipulieren einer Zielregion auf einer Probe mit mehreren auszuschneidenden bzw. zu manipulierenden Probenabschnitten. Solche Probenabschnitte werden sequentiell abgearbeitet. One problem with laser microdissection techniques is the speed limitation of cutting out a dissectate or manipulating a target region on a sample having multiple sample sections to be trimmed. Such sample sections are processed sequentially.

Bei diesem sogenannten Serial Section Cutting (SSC) werden verschiedene Serienschnitte, die aus ein und demselben Präparat stammen, parallel bearbeitet. Ein solches Verfahren ist beispielsweise aus der US 2012/0045790 A1 bekannt. In this so-called serial section cutting (SSC), various serial sections, which originate from one and the same preparation, are processed in parallel. Such a method is for example from the US 2012/0045790 A1 known.

Gemäß dieser US 2012/0045790 A1 werden aus einem Präparat zwei insbesondere benachbarte Probenschnitte entnommen und jeweils auf einen Objektträger aufgebracht. Der erste Probenschnitt befindet sich auf einem Standardobjektträger (mit Deckglas), der zweite Probenschnitt befindet sich auf einem sogenannten Dissektions-Objektträger (ohne Deckglas). Ein Probenbereich auf dem Standardobjektträger wird mikroskopisch untersucht, wobei ein interessierender Probenabschnitt festgelegt wird. Das Bild des ersten Probenschnitts wird mit dem Bild des zweiten Probenschnitts überlagert, so dass der interessierende Probenbereich aus einem ersten Probenschnitt auf den entsprechenden Probenbereich im zweiten Probenschnitt projiziert wird. Dieser entsprechende Probenbereich kann nun mittels Lasermikrodissektion aus dem zweiten Probenschnitt herausgeschnitten und einer weiteren Analyse zugeführt werden. Auch bei diesem Lasermikrodissektionsverfahren können mehrere interessierende Probenbereiche nur sequentiell bearbeitet werden. According to this US 2012/0045790 A1 are taken from a preparation two in particular adjacent sample sections and each on applied a slide. The first sample section is on a standard slide (with coverslip), the second sample section is on a so-called dissection slide (without cover glass). A sample area on the standard slide is examined microscopically, specifying a sample section of interest. The image of the first sample section is superimposed with the image of the second sample section, so that the sample region of interest is projected from a first sample section onto the corresponding sample region in the second sample section. This corresponding sample area can now be cut out by means of laser microdissection from the second sample section and fed to a further analysis. Even with this laser microdissection method, several sample regions of interest can only be processed sequentially.

Aufgabe vorliegender Erfindung ist es daher, den Prozess der Lasermikrodissektion zu beschleunigen, wobei insbesondere gleichzeitig eine Flexibilisierung dieses Prozesses ermöglicht werden soll. It is therefore an object of the present invention to accelerate the process of laser microdissection, wherein, in particular, a flexibilization of this process is to be made possible at the same time.

Offenbarung der Erfindung Disclosure of the invention

Zur Lösung der genannten Aufgabe schlägt die vorliegende Erfindung ein Lasermikrodissektionssystem, Verwendungen dieses Systems sowie entsprechende Verfahren zur Lasermikrodissektion gemäß den unabhängigen Patentansprüchen vor. Vorteilhafte Ausgestaltungen sind Gegenstand der jeweiligen Unteransprüche sowie der nachfolgenden Beschreibung. To achieve the stated object, the present invention proposes a laser microdissection system, uses of this system and corresponding methods for laser microdissection according to the independent patent claims. Advantageous embodiments are the subject of the respective subclaims and the following description.

Die vorliegende Erfindung geht aus von einem an sich bekannten Lasermikrodissektionssystem mit einem Mikroskop, das eine Aufnahmeeinrichtung zur Aufnahme einer biologischen Probe und eine Auflichteinrichtung mit einer Laserablenkeinrichtung aufweist, welche einen durch eine Lasereinheit bereitgestellten Laserstrahl durch ein Mikroskopobjektiv des Mikroskops auf einen Probenbereich der biologischen Probe führt und welche einen Auftreffpunkt des Laserstrahls auf dem Probenbereich verschiebt. The present invention is based on a laser microdissection system known per se with a microscope which has a recording device for receiving a biological sample and an incident light device with a laser deflection device, which guides a laser beam provided by a laser unit through a microscope objective of the microscope onto a sample region of the biological sample and which shifts a point of impact of the laser beam on the sample area.

Ein entsprechendes Lasermikrodissektionssystem ist unten ausführlich unter Bezugnahme auf die 1 erläutert. Mittels der Auflichteinrichtung wird in einem solchen Lasermikrodissektionssystem der Laserstrahl aus einer Laserlichtquelle in den Beobachtungsstrahlengang des Mikroskops eingekoppelt. Der Laserstrahl wird durch das Mikroskopobjektiv, das auch zum Betrachten der Probe verwendet wird, auf diese fokussiert. Somit verläuft, mit anderen Worten, der Strahlengang des Laserstrahls der Lasereinheit durch die Auflichteinrichtung und durch das Mikroskopobjektiv und schneidet eine Objektebene des Mikroskopobjektivs an einem einstellbaren Schnittpunkt, der mittels Ansteuersignalen an die Laserablenkeinrichtung vorgegeben wird. A corresponding laser microdissection system is described in detail below with reference to FIGS 1 explained. By means of the incident light device, the laser beam from a laser light source is coupled into the observation beam path of the microscope in such a laser microdissection system. The laser beam is focused through the microscope objective, which is also used to view the sample. Thus, in other words, runs the beam path of the laser beam of the laser unit through the Auflichteinrichtung and through the microscope objective and intersects an object plane of the microscope objective at an adjustable intersection, which is predetermined by means of control signals to the laser deflection.

Zur Vermeidung von Missverständnissen sei an dieser Stelle betont, dass das im Rahmen der vorliegenden Erfindung eingesetzte Lasermikrodissektionssystem mit Proben verwendet wird, die bereits mikroskopietauglich und laserdissizierbar (also ohne Deckgläschen oder ähnliche Abdeckung, nicht jedoch flüssigkeitsüberzogen) vorbereitet sind. Hierbei kann es sich beispielsweise um Gewebe-Dünnschnitte handeln, die mittels eines Mikrotoms aus einem größeren Gewebeblock herausgetrennt wurden, im vorliegenden Fall jedoch auch um dickere Schnitte aus einem entsprechenden Gewebeblock. Bei einem solchen Gewebeblock kann es sich beispielsweise um ein fixiertes Organ oder eine Biopsie eines entsprechenden Organs handeln. Das erfindungsgemäße Lasermikrodissektionssystem dient daher nicht zur Gewinnung von Proben, sondern zu deren Bearbeitung sowie zur Isolation von bestimmten Bereichen hiervon. Es versteht sich, dass die vorliegende Erfindung auch mit Proben, die nicht mittels eines Mikrotoms gewonnen werden, zum Einsatz kommen kann, z.B. mit Ausstrichen, Mazeraten usw. Wie erwähnt, eignet sich die Erfindung jedoch auch zur Verarbeitung dickerer Proben, die nicht mittels eines Mikrotoms vorbereitet wurden. To avoid misunderstandings, it should be emphasized here that the laser microdissection system used in the context of the present invention is used with samples which are already ready for microscopy and laser dissociable (ie without coverslip or similar cover, but not liquid-coated). These may be, for example, tissue thin sections which have been separated out of a larger tissue block by means of a microtome, but in the present case also thicker sections from a corresponding tissue block. Such a tissue block may be, for example, a fixed organ or a biopsy of a corresponding organ. The laser microdissection system according to the invention therefore does not serve to obtain samples but to process them and to isolate certain areas thereof. It is understood that the present invention may also be used with samples that are not obtained by means of a microtome, e.g. with smears, macerates, etc. As mentioned, however, the invention is also suitable for processing thicker samples which have not been prepared by means of a microtome.

Mikrotome werden ausschließlich bei der Vorbereitung von mikroskopischen Proben eingesetzt. Mikrotome können hierzu auch Laser aufweisen. Die mittels eines Mikrotoms erhaltenen Schnitte werden auf einen Objektträger, wie oben erwähnt, aufgebracht, gegebenenfalls dort befestigt, angefärbt usw. Erst dann stehen diese für einen Einsatz in dem Lasermikrodissektionssystem zur Verfügung. Ein Mikrotom unterscheidet sich in seinem Betrieb unter anderem dadurch fundamental von einem Lasermikrodissektionssystem, dass dort Schnitte mit möglichst homogener Schnittstärke gewonnen werden. Mikrotome sind daher dazu ausgebildet, eine große Anzahl an identischen Schnitten mit parallelen Schnittflächen zu erzeugen, wohingegen Lasermikrodissektionssysteme zum Heraustrennen von Dissektaten nach probenabhängigen Kriterien, beispielsweise nach visuellen morphologischen Kriterien, eingerichtet sind. Im vorliegenden Fall dient das Lasermikrodissektionssystem insbesondere zum Heraustrennen von Probenpartikeln, die anschließend in einem Suspendierfluid aufgenommen werden. Der Fachmann würde daher bei Mikrotomen eingesetzte technische Lösungen aufgrund der völlig unterschiedlichen Zielsetzung nicht auf derartige Lasermikrodissektionssysteme übertragen. Microtomes are used exclusively in the preparation of microscopic samples. Microtomes can also have lasers for this purpose. The sections obtained by means of a microtome are applied to a microscope slide as mentioned above, optionally attached there, stained, etc. Only then are these available for use in the laser microdissection system. Among other things, a microtome differs fundamentally in its operation from a laser microdissection system in that it produces cuts with as homogeneous a cutting thickness as possible. Microtomes are therefore designed to generate a large number of identical cuts with parallel cut surfaces, whereas laser microdissection systems are arranged to separate dissectates according to sample-dependent criteria, for example according to visual morphological criteria. In the present case, the laser microdissection system is used in particular for separating out sample particles, which are subsequently taken up in a suspending fluid. The person skilled in the art would therefore not transfer technical solutions used in microtomes to such laser microdissection systems due to the completely different objectives.

Zum Heraustrennen von Probenpartikel bzw. Probenbereichen, also zur Gewinnung von Dissektaten, wird ein Probenbereich entlang einer Schnittlinie vollständig durchtrennt und somit von der umgebenden Probe abgelöst. Es ist beispielsweise nicht möglich, Material unterschiedlicher, übereinander liegender Gewebeschichten getrennt voneinander zu isolieren. Ein mittels Lasermikrodissektion gewonnenes Dissektat stellt daher stets ein "Sammelprobenbereich" durch die gesamte Dicke der bearbeiteten Probe dar; eine Differenzierung in einzelne Gewebeschichten mittels Lasermikrodissektion ist nicht möglich bzw. kann nur indirekt über die Dicke des Probenbereichs geschehen. In order to separate out sample particles or sample areas, that is to say to obtain dissectates, a sample area is completely severed along a section line and thus separated from the replaced the surrounding sample. For example, it is not possible to isolate material from different superimposed layers of tissue separately. Therefore, a dissectate obtained by laser microdissection always represents a "bulk sample area" throughout the entire thickness of the processed sample; a differentiation into individual tissue layers by means of laser microdissection is not possible or can only take place indirectly over the thickness of the sample area.

Der Mikroskoptisch ist in Lasermikrodissektionssystemen mit einer Laserablenkeinrichtung, wie erfindungsgemäß eingesetzt, beim Bearbeiten der Probe gegenüber dem Mikroskopobjektiv bezüglich der x- und y-Richtung (also senkrecht zur optischen Achse des Mikroskopobjektivs) feststehend angeordnet. The microscope stage is fixedly arranged in laser microdissection systems with a laser deflection device, as used in accordance with the invention, when the sample is processed relative to the microscope objective with respect to the x and y directions (ie perpendicular to the optical axis of the microscope objective).

Im Gegensatz zu Lasermikrodissektionssystemen mit einem während des Dissektiervorgangs motorisch verfahrenen Mikroskoptisch (Scanningtisch), der insbesondere bei stark vergrößernden Objektiven eine hohe Positioniergenauigkeit besitzen muss, um präzise Schnitte zu ermöglichen, erweisen sich Lasermikrodissektionssysteme mit einer Laserablenkeinrichtung als einfacher und kostengünstiger in der Herstellung und besitzen Präzisionsvorteile. In contrast to laser microdissection systems with a microscope stage (scanning stage) moved by a motor during the dissecting process, which has to have a high positioning accuracy, in particular in the case of high-magnification objectives, in order to allow precise cuts, laser microdissection systems with a laser deflector are simpler and more cost-effective to produce and have precision advantages ,

Die Laserablenkeinrichtung weist in einer besonders vorteilhaften Ausführungsform zwei dicke, gegen eine optische Achse geneigte und unabhängig voneinander um eine optische Achse drehbare gläserne Keilplatten („Glaskeile“) auf, welche durch ihre Keilwinkel eine Strahlablenkung erzeugen. Durch die Drehung der gläsernen Keilplatten ist der resultierende Ablenkwinkel des Laserstrahls gegenüber der optischen Achse variabel. Am Ausgang der Laserablenkeinrichtung weist der Laserstrahl durch die Dicke und die Schrägstellung der gläsernen Keilplatten einen seitlichen Strahlversatz gegenüber der optischen Achse auf und trifft für alle Ablenkwinkel die Mitte der Objektivpupille des Mikroskopobjektivs. Der Schnittpunkt des Laserstrahls mit der Objektebene ist damit einstellbar. In a particularly advantageous embodiment, the laser deflection device has two thick glass wedge plates ("glass wedges") which are inclined relative to an optical axis and can rotate independently of one another about an optical axis, which beam deflections are produced by their wedge angles. Due to the rotation of the glass wedge plates, the resulting deflection angle of the laser beam relative to the optical axis is variable. At the output of the laser deflection device, the laser beam has a lateral beam offset with respect to the optical axis due to the thickness and the oblique position of the glass wedge plates and strikes the center of the objective pupil of the microscope objective for all deflection angles. The intersection of the laser beam with the object plane is thus adjustable.

Eine derartige Laserablenkeinrichtung ist insbesondere deshalb vorteilhaft gegenüber anderen Laserablenkeinrichtungen wie beispielsweise Spiegelscannern, Galvanometerscannern oder Schrittmotorscannern, weil diese nicht in einer zu der Objektivpupille konjugierten Ebene angeordnet werden muss. Damit ist auch keine sogenannte Pupillenabbildung erforderlich, um zu erreichen, dass der abgelenkte Strahl die Objektivpupille trifft. Bei der Lasermikrodissektion mit UV-Laserlicht wäre dabei beispielsweise eine UV-taugliche Pupillenabbildung erforderlich. Weitere Vorteile einer derartigen Laserablenkeinrichtung mit Keilplatten sind beispielsweise in der EP 1 276 586 B1 genannt. Such a laser deflection device is therefore particularly advantageous over other laser deflection devices such as mirror scanners, galvanometer scanners or stepper motor scanners because they do not have to be arranged in a plane conjugate to the objective pupil. Thus, no so-called pupil imaging is required in order to achieve that the deflected beam hits the objective pupil. In the case of laser microdissection with UV laser light, for example, a UV-compatible pupil image would be required. Further advantages of such a laser deflection device with wedge plates are for example in the EP 1 276 586 B1 called.

Vorteile der Erfindung Advantages of the invention

Das erfindungsgemäße Lasermikrodissektionssystem besitzt ein Mikroskop, das eine Aufnahmeeinrichtung zur Aufnahme einer biologischen Probe und eine Auflichteinrichtung mit einer Laserablenkeinrichtung aufweist, die einen durch eine Lasereinheit bereitgestellten Laserstrahl durch ein Mikroskopobjektiv des Mikroskops auf einen Probenbereich dieser biologischen Probe führt und den Auftreffpunkt des Laserstrahls auf dem bzw. innerhalb des Probenbereichs verschiebt. Dieses Lasermikrodissektionssystem weist zusätzlich mindestens eine weitere Laserablenkeinrichtung auf, die derart eingerichtet ist, dass sie mindestens einen weiteren Laserstrahl auf den genannten Probenbereich führt oder auf mindestens einen anderen Probenbereich führt und den Auftreffpunkt dieses mindestens einen weiteren Laserstrahls dort verschiebt. The laser microdissection system according to the invention has a microscope which has a recording device for receiving a biological sample and a reflected light device with a laser deflection device which guides a laser beam provided by a laser unit through a microscope objective of the microscope onto a sample region of this biological sample and detects the point of impact of the laser beam on the or within the sample area. This laser microdissection system additionally has at least one further laser deflection device, which is set up in such a way that it guides at least one further laser beam onto the mentioned sample area or leads to at least one other sample area and shifts the point of impact of this at least one further laser beam there.

Die Erfindung setzt somit zur Manipulation oder zum Schneiden einer Probe einen weiteren Laserstrahl mit zugeordneter Laserablenkeinrichtung ein. Jedem weiteren Laserstrahl ist jeweils eine entsprechende Laserablenkeinrichtung zugeordnet. Unter "Probenbereich" soll ein interessierender Teilbereich der mikroskopisch betrachteten Probe verstanden werden, wobei dieser Probenbereich mittels der auftreffenden Laserstrahlung manipuliert oder mittels eines fokussierten Laserstrahls ausgeschnitten wird. In der Regel, jedoch nicht zwingend, wird der Laserstrahl beispielsweise durch ein Mikroskopobjektiv auf den Probenbereich fokussiert, insbesondere für das Laserschneiden. The invention thus employs a further laser beam with associated laser deflection device for manipulating or cutting a sample. Each additional laser beam is assigned a respective laser deflection device. The term "sample area" is intended to mean a region of interest of the specimen under observation, wherein this specimen area is manipulated by means of the incident laser radiation or is cut out by means of a focused laser beam. As a rule, but not necessarily, the laser beam is focused, for example, by a microscope objective on the sample area, in particular for laser cutting.

Aufgrund des erfindungsgemäßen Einsatzes mehrerer (mindestens zwei) Laserstrahlen eröffnen sich drei verschiedene Möglichkeiten der Probenbearbeitung: Due to the use according to the invention of several (at least two) laser beams, three different possibilities of sample processing open up:

Erstens ist es möglich, einen einzigen Probenbereich auf einer Probe durch mehrere Laserstrahlen zu bearbeiten, beispielsweise einen Probenbereich mittels mehrerer fokussierter Laserstrahlen aus der Probe zu schneiden. First, it is possible to process a single sample area on a sample by a plurality of laser beams, for example to cut a sample area out of the sample by means of a plurality of focused laser beams.

Zweitens können zwei oder mehr Probenbereiche einer mikroskopisch untersuchten biologischen Probe parallel und insbesondere gleichzeitig mit jeweils mindestens einem Laserstrahl bearbeitet werden. Auf diese Weise können beispielsweise mehrere interessierende Probenbereiche innerhalb einer Probe gleichzeitig aus der Probe dissektiert werden. Secondly, two or more sample areas of a microscopically examined biological sample can be processed in parallel and in particular simultaneously with at least one laser beam in each case. For example, multiple sample regions of interest within a sample may be simultaneously dissected out of the sample.

Schließlich können drittens mehrere Probenbereiche jeweils verschiedener Proben parallel und insbesondere gleichzeitig mit jeweils entsprechenden Laserstrahlen bearbeitet werden. Auf diese Weise ist es beispielsweise möglich, in einer Reihe von Probenschnitten korrespondierende Probenbereiche parallel aus den jeweiligen Proben zu schneiden. In dem Folgenden soll dies als "Parallel Section Cutting" (PSC) bezeichnet werden. Finally, thirdly, a plurality of sample areas of respectively different samples can be processed in parallel and in particular simultaneously with corresponding laser beams. In this way it is possible, for example, in a series of Sample sections corresponding sample areas in parallel from the respective samples to cut. In the following, this should be referred to as "Parallel Section Cutting" (PSC).

Alle drei der genannten Alternativen sind auch untereinander kombinierbar. Beispielsweise kann die zweite Alternative mit der ersten Alternative kombiniert werden, so dass mehrere Probenbereiche auf einer Probe jeweils mit zwei oder mehr Laserstrahlen parallel bearbeitet werden. Bei Kombinationen der zweiten und dritten Alternative würden beispielsweise mehrere korrespondierende Probenbereiche auf mehreren Proben mittels jeweiliger zugeordneter Laserstrahlen parallel bearbeitet werden. Dem Fachmann erschließen sich die weiteren möglichen Kombinationen der ersten mit der dritten Alternative und die aller drei Alternativen. All three of these alternatives can also be combined with each other. For example, the second alternative can be combined with the first alternative, so that several sample areas on a sample are processed in parallel with two or more laser beams in each case. In combinations of the second and third alternative, for example, a plurality of corresponding sample areas on multiple samples would be processed in parallel by means of respective associated laser beams. Those skilled in the art will be aware of the other possible combinations of the first and the third alternative and of all three alternatives.

Bevor auf die genannten Ausführungsformen näher eingegangen wird, sollen im Folgenden mögliche und bevorzugte Ausführungsformen für die Bereitstellung weiterer Laserablenkeinrichtungen mit zugeordneten Laserstrahlen erörtert werden. Allgemein kann der weitere Laserstrahl (oder die weiteren Laserstrahlen) durch zusätzliche Lasereinheiten und/oder durch einen oder mehrere Strahlteileranordnungen erzeugt werden, die einen vorhandenen Laserstrahl in zwei oder mehr Strahlen aufteilen. Before discussing the aforementioned embodiments in more detail, possible and preferred embodiments for the provision of further laser deflection devices with associated laser beams will be discussed below. In general, the further laser beam (or the further laser beams) can be generated by additional laser units and / or by one or more beam splitter arrangements which divide an existing laser beam into two or more beams.

Es kann vorteilhaft sein, wenn der mindestens einen weiteren Laserablenkeinrichtung eine weitere Lasereinheit zugeordnet ist, die einen des mindestens einen Laserstrahls bereitstellt. Somit ist mindestens eine weitere Laserablenkeinrichtung mit mindestens einer weiteren Lasereinheit vorhanden. Dies ist insbesondere dann zweckmäßig, wenn für jeden Laserstrahl die volle Laserleistung beispielsweise beim Laserschneiden benötigt wird. It may be advantageous if the at least one further laser deflection device is assigned a further laser unit which provides one of the at least one laser beam. Thus, at least one further laser deflection device with at least one further laser unit is present. This is particularly useful if the full laser power is required for example for laser cutting for each laser beam.

Es kann vorteilhaft sein, wenn der Lasereinheit eine Strahlteileranordnung nachgeordnet ist, die aus dem von der Lasereinheit bereitgestellten Laserstrahl den mindestens einen weiteren Laserstrahl durch Strahlteilung erzeugt. Es wäre somit prinzipiell ausreichend, wenn eine Lasereinheit vorhanden ist, aus der durch Strahlteilung mehrere Laserstrahlen erzeugt werden. It may be advantageous if the laser unit is followed by a beam splitter arrangement which generates the at least one further laser beam by beam splitting from the laser beam provided by the laser unit. It would therefore be sufficient in principle if a laser unit is present, from which a plurality of laser beams are generated by beam splitting.

Selbstverständlich können auch Mischformen der beiden genannten Ausgestaltungen zweckmäßig sein. So kann einer weiteren Lasereinheit eine Strahlteileranordnung nachgeordnet sein, die aus dem von dieser weiteren Lasereinheit bereitgestellten weiteren Laserstrahl wiederum mindestens einen weiteren Laserstrahl durch Strahlteilung erzeugt. Of course, mixed forms of the two embodiments mentioned may be useful. Thus, a further laser unit can be arranged downstream of a beam splitter arrangement, which in turn generates at least one further laser beam by beam splitting from the further laser beam provided by this further laser unit.

Die genannten Laserablenkeinrichtungen können die jeweiligen Laserstrahlen auf verschiedene Weise auf eine Probe führen. The aforementioned laser deflection devices can guide the respective laser beams in different ways to a sample.

Zum einen ist es möglich, alle Laserstrahlen durch dasselbe Mikroskopobjektiv des Mikroskops der Lasermikrodissektionseinrichtung zu leiten. Selbstverständlich ist es auch möglich, nur einen Teil aller zur Verfügung stehenden Laserstrahlen durch dasselbe Mikroskopobjektiv zu leiten. Hierbei ist die vorhandene Laserablenkeinrichtung und mindestens eine der (mindestens einen) weiteren Laserablenkeinrichtungen derart eingerichtet, dass die von diesen Laserablenkeinrichtungen abgelenkten Laserstrahlen durch das Mikroskopobjektiv des Mikroskops des erfindungsgemäßen Lasermikrodissektionssystems geführt werden. On the one hand, it is possible to guide all the laser beams through the same microscope objective of the microscope of the laser microdissection device. Of course, it is also possible to pass only a part of all available laser beams through the same microscope objective. In this case, the existing laser deflection device and at least one of the (at least one) further laser deflection devices are set up such that the laser beams deflected by these laser deflection devices are guided through the microscope objective of the microscope of the laser microdissection system according to the invention.

Zum Anderen kann für einen, für mehrere oder für alle der weiteren Laserstrahlen jeweils eine Laserfokussierlinse vorgesehen sein, die den jeweiligen weiteren Laserstrahl auf dieselbe oder auf eine andere Probe führt. Hierzu ist eine der mindestens einen weiteren Laserablenkeinrichtung derart eingerichtet, dass sie den von ihr abgelenkten Laserstrahl durch eine Laserfokussierlinse auf den Probenbereich oder auf einen des mindestens einen anderen Probenbereichs führt. Bei dieser Ausgestaltung würde dem Mikroskop bzw. dem Mikroskopobjektiv des Lasermikrodissektionssystems mindestens eine weitere Laserfokussierlinse zugeschaltet sein. Dies ist insbesondere dann sinnvoll, wenn Probenbereiche zu bearbeiten sind, die nicht durch das selbe Mikroskopobjektiv bearbeitet werden können, wobei zur Bearbeitung aber nicht ein weiterer Mikroskopaufbau notwendig ist. On the other hand, a laser focusing lens can be provided for one, several or all of the further laser beams, which guide the respective further laser beam to the same or to another sample. For this purpose, one of the at least one further laser deflection device is set up such that it guides the laser beam deflected by it through a laser focusing lens onto the sample area or onto one of the at least one other sample area. In this embodiment, at least one further laser focusing lens would be added to the microscope or the microscope objective of the laser microdissection system. This is particularly useful if sample areas are to be processed that can not be processed by the same microscope objective, but not another microscope setup is necessary for processing.

Schließlich kann es auch sinnvoll oder notwendig sein, wenn die genannte Laserfokussierlinse ein weiteres Mikroskopobjektiv eines weiteren Mikroskops darstellt. In diesem Fall umfasst das erfindungsgemäße Lasermikrodissektionssystem somit mehrere Mikroskope zur parallelen Bearbeitung von Probenbereichen, wie es insbesondere für das oben genannte Parallel Section Cutting von Vorteil sein kann. Finally, it can also be useful or necessary if the mentioned laser focusing lens represents another microscope objective of another microscope. In this case, the laser microdissection system according to the invention thus comprises several microscopes for the parallel processing of sample areas, as may be of advantage in particular for the above-mentioned parallel section cutting.

Selbstverständlich sind auch die oben genannten drei Ausführungsformen wiederum beliebig miteinander kombinierbar, ohne dass es hierzu näherer Erläuterungen bedürfte. Of course, the above-mentioned three embodiments are in turn arbitrarily combined with each other, without the need for further explanation.

Für das bereits erwähnte Parallel Section Cutting (dritte erfindungsgemäße Möglichkeit) ist die Laserablenkeinrichtung des erfindungsgemäßen Lasermikrodissektionssystems derart eingerichtet, dass sie den ihr zugeordneten Laserstrahl auf den Probenbereich einer ersten biologischen Probe führt, wobei mindestens eine weitere Laserablenkeinrichtung vorgesehen ist, die derart eingerichtet ist, dass sie den ihr jeweils zugeordneten weiteren Laserstrahl auf jeweils einen anderen Probenbereich einer anderen Probe führt. Hierdurch ist das parallele Betreiben mehrerer Laserstrahlen zum parallelen Schneiden oder Manipulieren von Proben möglich. Beispielsweise sind hierzu mehrere (mindestens zwei) Laserachsen parallel mit gleicher Optik aufgebaut und auf Probenbereiche beispielsweise benachbarter Serienschnitte eines Präparats gerichtet. Beispielsweise kann einer der Serienschnitte gefärbt sein, damit der interessierende Probenbereich (in bekannter Weise) identifiziert werden kann. Die weiteren eingelegten Serienschnitte können ungefärbt sein. Mit Hilfe des gefärbten Schnittes kann ein oder mehrere Zielareale (Probenbereiche) identifiziert und markiert werden. Beispielsweise können geeignete Schnittlinien um die interessierenden Probenbereiche gelegt werden, die als Dissektate gewonnen werden sollen. Die Markierungen bzw. Schnittlinien werden dann entsprechend auf die weiteren Serienschnitte übertragen, so dass korrespondierende Probenbereiche auf unterschiedlichen Serienschnitten parallel manipuliert oder dissektiert und gesammelt werden können. Das Übertragen einer Markierung oder Schnittlinie erfolgt (in bekannter Weise) über Bildverarbeitung. For the above-mentioned parallel section cutting (third possibility according to the invention), the laser deflection device of the laser microdissection system according to the invention is set up such that it guides the laser beam assigned to it to the sample area of a first biological sample, wherein at least one further laser deflection device is provided, which is set up such that she leads her each associated further laser beam to each other a different sample area of another sample. This is the parallel operation of multiple laser beams for parallel cutting or manipulating samples possible. For example, several (at least two) laser axes are constructed in parallel with the same optics and directed to sample areas, for example, adjacent serial sections of a preparation. For example, one of the serial sections may be colored so that the sample area of interest can be identified (in a known manner). The other inserted series cuts can be uncoloured. With the aid of the colored section, one or more target areas (sample areas) can be identified and marked. For example, suitable cut lines may be placed around the sample areas of interest to be obtained as dissectates. The markings or cut lines are then correspondingly transferred to the further serial cuts, so that corresponding sample areas on different serial sections can be manipulated or dissected in parallel and collected. The transfer of a mark or cut line is done (in a known manner) via image processing.

Das genannte Parallel Section Cutting, das neben der Dissektion auch die Manipulation von Probenbereichen umfassen soll, kann dadurch erfolgen, dass jeder der mindestens einen weiteren Laserablenkeinrichtung jeweils eine Laserfokussierlinse zum Führen des jeweiligen weiteren Laserstrahls auf den jeweiligen Probenbereich zugeordnet ist. In diesem Fall könnte für die weiteren Laserstrahlen auf jeweils ein weiteres Mikroskop mit Mikroskopobjektiv verzichtet werden. Dies ist insbesondere dann möglich, wenn beispielsweise die Serienschnitte perfekt kalibriert sind, so dass eine erzeugte Schnittlinie in der Referenzprobe unmittelbar auf die parallelen Serienschnitte übertragbar ist. Wenn hingegen weitere Kalibrierungsschritte notwendig sind, ist es vorteilhaft, wenn die genannten Laserfokussierlinsen weitere Mikroskopobjektive entsprechender Mikroskope darstellen. Said parallel section cutting, which is intended to include the manipulation of sample areas in addition to the dissection, can be effected by each of the at least one further laser deflection device being assigned a respective laser focusing lens for guiding the respective further laser beam onto the respective sample area. In this case, it would be possible to dispense with a further microscope with a microscope objective for the other laser beams. This is possible in particular if, for example, the serial sections are calibrated perfectly, so that a generated section line in the reference sample can be transferred directly to the parallel serial sections. If, however, further calibration steps are necessary, it is advantageous if the mentioned laser focusing lenses represent further microscope objectives of corresponding microscopes.

Für die Eingangs genannte erste erfindungsgemäße Möglichkeit des parallelen Schneidens oder Manipulierens eines Probenbereichs auf einer Probe mit mindestens zwei Laserstrahlen ist die Laserablenkeinrichtung des erfindungsgemäßen Lasermikrodissektionssystems derart eingerichtet, dass der Laserstrahl auf den Probenbereich der biologischen Probe geführt wird, und die mindestens eine weitere Laserablenkeinrichtung ist derart eingerichtet, dass sie den mindestens einen weiteren Laserstrahl auf den selben Probenbereich dieser Probe führt. Der genannte Probenbereich kann somit durch mehrere Laserstrahlen manipuliert oder geschnitten werden. Das Bearbeiten erfolgt insbesondere auf demselben Sichtfeld, wie es durch das Mikroskopobjektiv gegeben ist. Aufgrund der vorhandenen mehreren Laserablenkeinrichtungen können die Laserstrahlen bzw. Laserfoki gleichzeitig und unabhängig voneinander derart gesteuert werden, dass mehrere Markierungen bzw. Schnittlinien gleichzeitig bearbeitet werden. Hierbei ist es auch denkbar, zumindest zum Teil außerhalb des Sichtfeldes zu arbeiten. Je nach Anzahl der Laserstrahlen können entsprechend viele Markierungen oder Schnittlinien manipuliert bzw. geschnitten werden. Es ist auch möglich, eine Schnittlinie mit zwei oder mehr Laserfoki zu schneiden. For the aforementioned first inventive possibility of parallel cutting or manipulation of a sample area on a sample with at least two laser beams, the laser deflection device of the laser microdissection system according to the invention is set up such that the laser beam is guided onto the sample area of the biological sample and the at least one further laser deflection device is such arranged to guide the at least one further laser beam on the same sample area of this sample. The said sample area can thus be manipulated or cut by a plurality of laser beams. The editing is done in particular on the same field of view as given by the microscope objective. Due to the presence of several laser deflection devices, the laser beams or laser foci can be controlled simultaneously and independently of one another such that a plurality of markings or cutting lines are processed simultaneously. It is also conceivable to work at least partially outside the field of view. Depending on the number of laser beams, a corresponding number of markings or cut lines can be manipulated or cut. It is also possible to cut a cut line with two or more laser foci.

Diese Ausführungsform führt zu einer enormen Beschleunigung bisheriger Lasermikrodissektionsverfahren. This embodiment leads to a tremendous acceleration of previous laser microdissection methods.

Schließlich können gemäß der eingangs genannten zweiten erfindungsgemäßen Möglichkeit auch mehrere Probenbereiche auf einer Probe parallel bearbeitet werden. Hierzu weist das erfindungsgemäße Lasermikrodissektionssystem die Laserablenkeinrichtung auf, die derart eingerichtet ist, dass der Laserstrahl auf den Probenbereich der biologischen Probe geführt wird, sowie die mindestens eine weitere Laserablenkeinrichtung, die derart eingerichtet ist, dass sie den mindestens einen weiteren Laserstrahl auf den mindestens einen anderen Probenbereich derselben biologischen Probe führt. Bezügliche Ausgestaltungen und Vorteile dieser Ausführungsform sei auf die gerade eben besprochene vorherige Ausführungsform verwiesen. Finally, according to the aforementioned second possibility according to the invention, it is also possible to process a plurality of sample areas in parallel on a sample. For this purpose, the laser microdissection system according to the invention has the laser deflection device, which is set up in such a way that the laser beam is guided onto the sample area of the biological sample, and the at least one further laser deflection device, which is set up such that it projects the at least one further laser beam onto the at least one other Sample area of the same biological sample leads. Concerning embodiments and advantages of this embodiment, reference is made to the previous embodiment just discussed.

Bei den letztgenannten beiden Ausführungsformen (eingangs genannte erste und zweite erfindungsgemäße Möglichkeit) ist es möglich und vorteilhaft, die Laserstrahlen über das Mikroskopobjektiv des Mikroskops zu führen und mittels der jeweiligen Laserablenkeinrichtungen in den jeweiligen Probenbereichen zu verschieben. Selbstverständlich kann es auch wiederum zweckmäßig sein, neben dem vorhandenen Mikroskopobjektiv eine oder mehrere weitere Laserfokussierlinsen einzusetzen, wie bereits oben im Zusammenhang mit dem Parallel Section Cutting erläutert. Auch Mischformen sind denkbar. Insofern sei auf die obigen Erläuterungen verwiesen. In the latter two embodiments (initially mentioned first and second inventive possibilities), it is possible and advantageous to guide the laser beams over the microscope objective of the microscope and to move them by means of the respective laser deflection devices in the respective sample areas. Of course, it may in turn be useful to use one or more other Laserfokussierlinsen next to the existing microscope objective, as already explained above in connection with the Parallel Section Cutting. Mixed forms are also conceivable. In this respect, reference is made to the above explanations.

Die Erfindung betrifft weiterhin Verwendungen entsprechend eingerichteter Lasermikrodissektionssysteme zum parallelen Schneiden oder Manipulieren eines Probenbereichs bzw. mehrerer Probenbereiche gemäß der oben geschilderten ersten, zweiten oder dritten erfindungsgemäßen Möglichkeit sowie entsprechende Lasermikrodissektionsverfahren. Zur Vermeidung von Wiederholungen seien die entsprechenden Verwendungen und Lasermikrodissektionsverfahren im Folgenden gemeinsam dargestellt. Nähere Details ergeben sich aus den Ausführungsbeispielen. Der Einfachheit halber soll nachfolgend Bezug auf die erfindungsgemäßen Lasermikrodissektionsverfahren genommen werden, wobei die Ausführungen völlig analog auf die erfindungsgemäßen Verwendungen zu lesen sind. The invention further relates to uses according to established laser microdissection systems for the parallel cutting or manipulation of a sample area or several sample areas according to the above-described first, second or third inventive option as well as corresponding laser microdissection methods. To avoid repetition, the corresponding uses and laser microdissection methods are shown together below. Further details emerge from the embodiments. For the sake of simplicity, reference shall be made below to the laser microdissection method according to the invention, the statements being read completely analogously to the uses according to the invention.

Beim erfindungsgemäßen Lasermikrodissektionsverfahren wird zunächst mindestens ein weiterer Laserstrahl bereitgestellt. In bekannter Weise wird ein Probenbereich einer biologischen Probe mittels eines (ersten) Laserstrahls bearbeitet. Durch parallelen Betrieb des mindestens einen weiteren Laserstrahls kann mindestens ein weiterer Probenbereich jeweils einer oder mehrerer anderer Proben parallel und insbesondere gleichzeitig bearbeitet werden. Unter "Bearbeiten" sei, wie bereits erwähnt, das Schneiden eines Probenbereichs mittels eines Laserstrahls oder das Manipulieren eines Probenbereichs mittels eines Laserstrahls verstanden. In the laser microdissection method according to the invention, at least one further laser beam is initially provided. In known manner, a sample area of a biological sample is processed by means of a (first) laser beam. By parallel operation of the at least one further laser beam, at least one further sample area of one or more other samples can be processed in parallel and in particular simultaneously. As already mentioned, "machining" is understood to mean the cutting of a sample area by means of a laser beam or the manipulation of a sample area by means of a laser beam.

Die (dritte) erfindungsgemäße Möglichkeit des Parallel Section Cutting wurde bereits oben im Zusammenhang mit dem erfindungsgemäßen Lasermikrodissektionssystem behandelt. Bei dem vorliegenden entsprechenden Verfahren kann insbesondere ein Probenbereich einer Referenzprobe als Referenzprobenbereich ausgewählt und weitere Probenbereiche jeweils verschiedener Proben mittels jeweils zugeordneter Laserstrahlen bearbeitet werden. Diese Art der parallelen Manipulation oder des parallelen Schneidens von Probenbereichen ist insbesondere sinnvoll, wenn der Referenzprobenbereich und die weiteren Probenbereiche Bestandteile von Proben eines Serienschnitts desselben Präparats sind. Das Auswählen eines Referenzprobenbereichs erfolgt in an sich bekannter Weise beispielsweise durch Färbung oder andere Kontrastiermethoden. Die Koordinaten des Referenzprobenbereichs können auf entsprechende Probenbereiche der anderen Proben übertragen werden, wobei insbesondere bei einem Serienschnitt davon auszugehen ist, dass sich die Eigenschaften des Referenzprobenbereichs und der auf diese Weise bestimmten weiteren Probenbereiche nicht oder nicht wesentlich unterscheiden. Der Referenzprobenbereich wird folglich mittels eines Mikroskops bzw. mittels des Mikroskops des Lasermikrodissektionssystems mikroskopisch visualisiert und markiert und anschließend wird die Markierung auf die weiteren Probenbereiche übertragen. Das Markieren und das Übertragen der Markierung erfolgt in an sich bekannter Weise mittels Bildverarbeitung. The (third) inventive possibility of parallel section cutting has already been discussed above in connection with the laser microdissection system according to the invention. In the present corresponding method, in particular a sample area of a reference sample can be selected as the reference sample area and further sample areas of respectively different samples can be processed by means of respectively assigned laser beams. This type of parallel manipulation or parallel cutting of sample areas is particularly useful if the reference sample area and the other sample areas are components of samples of a serial section of the same preparation. The selection of a reference sample region is carried out in a manner known per se, for example by staining or other contrasting methods. The coordinates of the reference sample area can be transferred to corresponding sample areas of the other samples, wherein, in particular in a serial section, it is to be assumed that the properties of the reference sample area and of the further sample areas determined in this way do not differ or do not differ significantly. The reference sample area is therefore microscopically visualized and marked by means of a microscope or by means of the microscope of the laser microdissection system and then the marking is transferred to the further sample areas. The marking and the transmission of the marking takes place in a manner known per se by means of image processing.

Das genannte Verfahren des Parallel Section Cutting ist insbesondere für das parallele Schneiden von einander entsprechenden Probenbereichen vorteilhaft, da das Schneiden in erheblich höherer Geschwindigkeit erfolgen kann als beim bisher bekannten Serial Section Cutting. The mentioned method of parallel section cutting is advantageous in particular for the parallel cutting of sample areas corresponding to one another, since the cutting can take place at a significantly higher speed than in the previously known serial section cutting.

Ein Lasermikrodissektionsverfahren gemäß bereits erwähnter erster erfindungsgemäßer Möglichkeit des parallelen Schneidens oder Manipulierens betrifft die parallele Bearbeitung eines einzigen Probenbereichs mittels mehrerer Laserstrahlen. Wiederum kann das Bearbeiten mittels des Laserstrahls das Schneiden des Probenbereichs entlang einer vorgegebenen Schnittlinie umfassen. Verfahren zum Bestimmen geeigneter Schnittlinien sind aus dem Stand der Technik zahlreich bekannt. Das erfindungsgemäße Verfahren ermöglicht nicht nur das parallele Schneiden mittels mehrerer Laserstrahlen entlang einer solchen Schnittlinie, sondern auch insbesondere das Schneiden von dicken Proben, wobei hierfür insbesondere zumindest ein Laserstrahl auf die Oberseite des Probenbereichs und zumindest ein anderer Laserstrahl auf die Unterseite des Probenbereichs geführt bzw. gelenkt wird. Die Laserablenkeinrichtungen der entsprechenden Laserstrahlen sind zu diesem Zweck entsprechend eingerichtet. Dazu können entsprechende Laserfokussierlinsen ober- und unterhalb des zu schneidenden Probenbereichs angeordnet sein. Alternativ können alle Laserfokussierlinsen auf einer Seite des Probenbereichs angeordnet sein, wobei mittels Umlenkeinrichtungen zumindest ein Laserstrahl auf die andere Seite des Probenbereichs gelenkt wird. A laser microdissection method according to the first possibility of parallel cutting or manipulation according to the invention mentioned above involves the parallel processing of a single sample area by means of a plurality of laser beams. Again, machining by the laser beam may involve cutting the sample area along a predetermined cutting line. Methods for determining suitable cut lines are well known in the art. The inventive method not only allows the parallel cutting by means of several laser beams along such a cutting line, but also in particular the cutting of thick samples, in which case in particular at least one laser beam to the top of the sample area and at least one other laser beam guided to the underside of the sample area or is steered. The laser deflection devices of the corresponding laser beams are set up accordingly for this purpose. For this purpose, corresponding laser focusing lenses can be arranged above and below the sample area to be cut. Alternatively, all laser focusing lenses can be arranged on one side of the sample area, wherein at least one laser beam is deflected to the other side of the sample area by means of deflection devices.

Schließlich ermöglicht das Lasermikrodissektionsverfahren gemäß oben erwähnter zweiter erfindungsgemäßer Möglichkeit des parallelen Schneidens oder Manipulierens das parallele Bearbeiten von mehreren Probenbereichen einer einzigen Probe mittels mehrerer parallel betriebener Laserstrahlen. Finally, the laser microdissection method according to the above-mentioned second possibility according to the invention of parallel cutting or manipulation enables the parallel processing of several sample areas of a single sample by means of a plurality of laser beams operated in parallel.

Figurenbeschreibung figure description

1 zeigt ein Lasermikrodissektionssystem, das vorzugsweise den Ausgangspunkt der vorliegenden Erfindung darstellt, in schematischer Darstellung. 1 shows a laser microdissection system, which preferably represents the starting point of the present invention, in a schematic representation.

2 zeigt schematisch eine erfindungsgemäße Möglichkeit zum parallelen Bearbeiten von Probenbereichen auf verschiedenen Proben. 2 shows schematically a possibility according to the invention for the parallel processing of sample areas on different samples.

3 zeigt schematisch eine erfindungsgemäße Möglichkeit des parallelen Bearbeitens eines Probenbereichs auf einer Probe. 3 schematically shows a possibility according to the invention of the parallel processing of a sample area on a sample.

4 zeigt schematisch eine erfindungsgemäße Möglichkeit des parallelen Bearbeitens eines oder mehrerer Probenbereiche auf einer Probe. 4 schematically shows a possibility according to the invention of the parallel processing of one or more sample areas on a sample.

5 zeigt schematisch eine erfindungsgemäße Möglichkeit des parallelen Bearbeitens eines oder mehrerer Probenbereiche auf einer Probe. 5 schematically shows a possibility according to the invention of the parallel processing of one or more sample areas on a sample.

6 zeigt schematisch eine Möglichkeit der Bereitstellung weiterer Laserstrahlen durch weitere Lasereinheiten. 6 schematically shows a possibility of providing additional laser beams by further laser units.

7 zeigt schematisch die Bereitstellung weiterer Laserstrahlen mittels einer Strahlteileranordnung, und 7 shows schematically the provision of further laser beams by means of a beam splitter arrangement, and

8 zeigt schematisch eine Kombinationsmöglichkeit aus den Beispielen der 5 und 6. 8th schematically shows a combination possibility of the examples of 5 and 6 ,

In den Figuren sind einander entsprechende Elemente mit identischen Bezugszeichen angegeben und werden nicht wiederholt erläutert. In the figures, corresponding elements are given identical reference numerals and will not be explained repeatedly.

In 1 ist ein Lasermikrodissektionssystem, das zur Durchführung der Erfindung verwendet werden kann, schematisch dargestellt und insgesamt mit 100 bezeichnet. Das Lasermikrodissektionssystem 100 entspricht in wesentlichen Teilen jenem, das in der EP 1 276 586 B1 offenbart ist, auf die hier ausdrücklich Bezug genommen wird. Ein Koordinatensystem, anhand dessen die nachfolgend erwähnten Achsen bzw. Richtungen x, y und z veranschaulicht sind, ist in der 1 mit 200 bezeichnet. In 1 For example, a laser microdissection system that can be used to practice the invention is shown schematically and collectively with FIG 100 designated. The laser microdissection system 100 corresponds in essential parts to that in the EP 1 276 586 B1 is disclosed, which is incorporated herein by reference. A coordinate system, by means of which the axes or directions x, y and z mentioned below are illustrated, is shown in FIG 1 With 200 designated.

Das Lasermikrodissektionssystem 100 umfasst ein Mikroskop 10. In einem Mikroskopfuß 11 des Mikroskops 10 kann eine hier nur teilweise dargestellte Beleuchtungseinrichtung 12 vorgesehen sein. Diese kann beispielsweise eine (nicht dargestellte) Lichtquelle und geeignete Mittel zur Beeinflussung des durch die Lichtquelle bereitgestellten Beleuchtungslichts umfassen, beispielsweise Filter und/oder Blenden. Zur Durchlichtbeleuchtung und zur Einstellung geeigneter Kontrast- bzw. Beobachtungsverfahren kann eine Kondensoreinheit 90 vorgesehen sein. The laser microdissection system 100 includes a microscope 10 , In a microscope head 11 of the microscope 10 may be a partially illustrated illumination device 12 be provided. This may, for example, comprise a light source (not shown) and suitable means for influencing the illumination light provided by the light source, for example filters and / or diaphragms. For transmitted light illumination and for setting suitable contrast or observation methods, a condenser unit 90 be provided.

Das Mikroskop 10 kann als Konfokal-, insbesondere als Spinning-Disk-Mikroskop ausgebildet sein und verfügt in diesem Fall über entsprechende weitere oder alternative Mittel (in 1 nicht dargestellt). The microscope 10 may be designed as a confocal, in particular as a spinning disk microscope and in this case has corresponding further or alternative means (in 1 not shown).

Am Mikroskopfuß 11 kann beispielsweise auch eine Benutzereingabe- und/oder Benutzerinformationseinheit 13 angeordnet sein, die beispielsweise als Touchscreen ausgebildet sein kann, und über die der Benutzer beispielsweise Betrachtungs- und/oder Bearbeitungsparameter eingeben und/oder auslesen kann. At the microscope head 11 For example, also a user input and / or user information unit 13 arranged, which may be formed, for example, as a touch screen, and via which the user can enter and / or read, for example, viewing and / or editing parameters.

Ferner ist ein Triebknopf 14 vorgesehen. Dieser dient zur Bedienung eines Grob- und eines Feintriebs zur Einstellung einer Höhe eines Mikroskoptischs 30. Eine Probe 51, beispielsweise eine in einer entsprechenden Aufnahmeeinrichtung bzw. Halterung 52 angebrachte Gewebeprobe, kann hierdurch in eine Objektebene eines Objektivs 41 gebracht werden. Das Objektiv 41 ist neben weiteren Objektiven 42 in einem Objektivrevolver 40 befestigt. Zum Schutz vor Laserstrahlung kann eine Schutzhaube 15 vorgesehen sein. Furthermore, a drive knob 14 intended. This serves to operate a coarse and a fine drive for setting a height of a microscope stage 30 , A sample 51 , For example, one in a corresponding receiving device or holder 52 attached tissue sample, can thereby into an object plane of a lens 41 to be brought. The objective 41 is next to other lenses 42 in a nosepiece 40 attached. To protect against laser radiation, a protective hood 15 be provided.

Von der Probe 51 ausgehendes Beobachtungslicht verläuft entlang eines Beobachtungsstrahlengangs a. In einer Tubuseinheit 60 mit geeigneten Auskoppeleinrichtungen 61 kann ein vorzugsweise variabler Anteil des Beobachtungslichts, beispielsweise um 60°, ausgekoppelt und mittels eines Okularpaars 62 einem Benutzer dargeboten werden. Ein weiterer Anteil des Beobachtungslichts kann in eine digitale Bilderfassungseinheit 63 eingekoppelt und bildgebend erfasst werden. Der Bilderfassungseinheit 63 kann, vor Ort, in einer Steuereinheit 82 oder einem Steuerrechner 81 (siehe unten), oder in anderer räumlicher Anordnung, ein Bildauswertungsmodul 64 zugeordnet sein. From the sample 51 outgoing observation light runs along an observation beam path a. In a tube unit 60 with suitable decoupling devices 61 a preferably variable portion of the observation light, for example, by 60 °, and coupled by means of an eyepiece pair 62 presented to a user. Another portion of the observation light may be in a digital imaging unit 63 coupled and recorded by imaging. The image capture unit 63 can, on site, in a control unit 82 or a control computer 81 (see below), or in a different spatial arrangement, an image evaluation module 64 be assigned.

Das Lasermikrodissektionssystem 100 weist eine Lasereinheit 70 mit einer Laserlichtquelle 75 auf. Ein durch die Laserlichtquelle 75, bei der es sich beispielsweise um eine UV-Laserlichtquelle handeln kann, bereitgestellter Laserstrahl 77 mit Laserstrahlachse b wird in einer Auflichteinheit, die hier insgesamt mit 76 angegeben ist, an einem ersten Umlenkspiegel 71 und einem zweiten Umlenkspiegel 72 umgelenkt und durch das Objektiv 41 auf die Probe 51 in dem Probenbereich 50 fokussiert. The laser microdissection system 100 has a laser unit 70 with a laser light source 75 on. A through the laser light source 75 , which may be, for example, a UV laser light source, provided laser beam 77 with laser beam axis b is in a Auflichteinheit, here with a total of 76 is indicated at a first deflection mirror 71 and a second deflecting mirror 72 deflected and through the lens 41 to the test 51 in the sample area 50 focused.

Bei dem Lasermikrodissektionssystem 100 kann der Ort, an dem der Laserstrahl 77 auf die Probe 51 in der Objektebene, und damit auch in dem Probenbereich 50 auftrifft, grundsätzlich auf unterschiedliche Weise eingestellt werden. Einerseits kann eine manuelle Verstelleinrichtung 31 vorgesehen sein, mittels derer der als Kreuztisch ausgebildete Mikroskoptisch 30 in x- und y-Richtung (also hier senkrecht bzw. parallel zur Papierebene) verstellt werden kann. Neben der Verstelleinrichtung 31 können auch elektromechanische Stellmittel vorgesehen sein, die beispielsweise durch eine Steuereinheit 82 angesteuert bzw. deren Position durch die Steuereinheit 82 erfasst werden kann. In the laser microdissection system 100 may be the location where the laser beam 77 to the test 51 in the object plane, and thus also in the sample area 50 impinges, basically be set in different ways. On the one hand, a manual adjustment 31 be provided by means of which designed as a cross table microscope stage 30 in x- and y-direction (ie here perpendicular or parallel to the paper plane) can be adjusted. In addition to the adjustment 31 can also be provided electromechanical actuating means, for example, by a control unit 82 controlled or their position by the control unit 82 can be detected.

Die Steuereinheit 82 kann auch beliebige weitere motorisierte Funktionen des Lasermikrodissektionssystems 100 steuern und insbesondere eine Schnittstelle zu einem externen Steuerrechner 81, der über entsprechende Verbindungen 83 angebunden sein kann, bereitstellen. Die Steuereinheit 82 oder der Steuerrechner 81 kann auch beispielsweise mittels des Bildauswertungsmoduls 64 erhaltene Daten auswerten. Beispielsweise kann hierdurch eine Abfolge von Gewebeschichten oder anderer Strukturen der Probe 51 erkannt werden. The control unit 82 can also be any other motorized functions of the laser microdissection system 100 control and in particular an interface to an external control computer 81 who has appropriate connections 83 be tethered. The control unit 82 or the control computer 81 can also, for example, by means of the image evaluation module 64 evaluate received data. For example, this may result in a sequence of tissue layers or other structures of the sample 51 be recognized.

Für die Lasermikrodissektion kann insbesondere eine Laserablenkeinrichtung 73 vorgesehen sein. Mittels der Laserablenkeinrichtung 73 kann der Laserstrahl 77 gegenüber einer zwischen dem ersten Umlenkspiegel 71 und dem zweiten Umlenkspiegel 72 verlaufenden optischen Achse c abgelenkt werden. Der Laserstrahl kann daher an unterschiedlichen Positionen auf den zweiten Umlenkspiegel 72 auftreffen, der beispielsweise als dichromatischer Teiler ausgebildet sein kann, und wird damit auch an unterschiedlichen Positionen auf die Probe 51 in der Objektebene fokussiert. Eine Ablenkung mittels einer Laserablenkeinrichtung 73 ist im Detail in der EP 1 276 586 B1 gezeigt. Es sei betont, dass hier unterschiedliche Möglichkeiten zur Ablenkung eines Laserstrahls 77 bzw. zur Positionierung der Probe 51 in der Objektebene gegenüber dem Laserstrahl 77 zum Einsatz kommen können. Die Erfindung ist nicht auf das dargestellte Beispiel beschränkt. For laser microdissection, in particular a laser deflection device can be used 73 be provided. By means of the laser deflection device 73 can the laser beam 77 opposite one between the first deflecting mirror 71 and the second deflecting mirror 72 extending optical axis c are deflected. The laser beam can therefore at different positions on the second deflection mirror 72 impact, which may be formed, for example, as a dichromatic divider, and is therefore also in different positions to the test 51 focused in the object plane. A deflection by means of a laser deflecting device 73 is in the detail in the EP 1 276 586 B1 shown. It should be stressed that here are different ways to deflect a laser beam 77 or for positioning the sample 51 in the object plane opposite to the laser beam 77 can be used. The invention is not limited to the illustrated example.

Im dargestellten Beispiel weist die Laserablenkeinrichtung 73 zwei massive gläserne Keilplatten 731 auf, die gegen die optische Achse c geneigt und unabhängig voneinander um die optische Achse c drehbar sind. Hierzu sind die Keilplatten 731 mit Kugellagern 732 gelagert. Jede der Keilplatten ist mit einem Zahnrad 733 verbunden. Die Zahnräder 733 können jeweils mittels Aktoren 734 gedreht werden, die mit entsprechenden Ansteuersignalen beaufschlagt werden können und entsprechend die Zahnräder 733 antreiben. Die Rotationseinrichtungen können über Positonsgeber 735 verfügen (hier nur an dem rechten Aktor 734 gezeigt). Eine durch die Positonsgeber 735 erfasste Position kann an die Steuereinheit 82 übermittelt werden. In the example shown, the laser deflection device 73 two massive glass wedge plates 731 which are inclined against the optical axis c and are rotatable independently of each other about the optical axis c. These are the wedge plates 731 with ball bearings 732 stored. Each of the wedge plates is with a gear 733 connected. The gears 733 can each by means of actuators 734 are rotated, which can be acted upon by corresponding drive signals and correspondingly the gears 733 drive. The rotation devices can via position sensors 735 have (here only on the right actuator 734 shown). One by the posers 735 detected position can be sent to the control unit 82 be transmitted.

2 zeigt eine erfindungsgemäße Möglichkeit des parallelen Bearbeitens von Probenbereichen auf verschiedenen Proben. Ohne Beschränkung der Allgemeinheit sei im Folgenden von einem Schneiden der Probenbereiche mittels eines fokussierten Laserstrahls zur Erzeugung von Dissektaten ausgegangen. Das in 2 beschriebene Ausführungsbeispiel stellt eine Ausführungsform des in der Beschreibung diskutierten Parallel Section Cutting dar. 2 shows a possibility according to the invention of the parallel processing of sample areas on different samples. Without restricting generality, it will be assumed below that the sample areas are intersected by means of a focused laser beam in order to generate dissected data. This in 2 described embodiment represents an embodiment of the discussed in the description Parallel Section Cutting.

2 zeigt ein Objektiv 41, das einen Laserstrahl 77 auf eine Probe 51 fokussiert. Der Laserstrahl 77 wird mittels einer auf der optischen Achse c angeordneten Laserablenkeinrichtung 73 in x-y-Richtung innerhalb eines Probenbereichs 510 der Probe 51 verschoben. Zu näheren Erläuterungen dieses Systems sei vollumfänglich auf die Erläuterungen zur 1 verwiesen. Der Einfachheit halber ist in 2 das Lasermikrodissektionssystem 100 aus 1 nicht in Gänze dargestellt. Es sind lediglich die zum Verständnis der Erfindung notwendigen Komponenten dargestellt und im Folgenden beschrieben. 2 shows a lens 41 that has a laser beam 77 on a sample 51 focused. The laser beam 77 is by means of a arranged on the optical axis c laser deflection device 73 in the xy direction within a sample area 510 the sample 51 postponed. For a more detailed explanation of this system, see the Explanatory Notes to the full text 1 directed. For the sake of simplicity, is in 2 the laser microdissection system 100 out 1 not shown in full. Only the components necessary for understanding the invention are shown and described below.

Die Probe 51 ist auf einer geeigneten Halterung 52 aufgebracht, die eine Laserdissektion erlaubt. Der Probenbereich, der mittels des fokussierten Laserstrahls 77 ausgeschnitten wird, ist mit 510 bezeichnet. Der Probenbereich 510 bildet einen Teilbereich der Probe 51, wobei der Probenbereich in an sich bekannter Weise als interessierender Probenbereich identifiziert wird. Dies geschieht üblicherweise anhand einer mikroskopischen Visualisierung der Probe 51 und des Probenbereichs 510, wobei durch eine Einfärbung der Probe 51 und mittels geeigneter (Fluoreszenz-)Untersuchung der Probe 51 der interessierende Probenbereich 510 ermittelt werden kann. In ebenfalls an sich bekannter Weise wird um diesen Probenbereich 510 eine beispielsweise individuelle Schnittlinie gelegt. Dieser Vorgang kann manuell oder bevorzugt mittels Bildverarbeitung erfolgen. Das Ergebnis kann beispielsweise am externen Steuerrechner 81 (vgl. 1) überprüft werden. Ergeht der Befehl zum Schneiden der Probe 51, steuert die Steuereinheit 82 die Laserablenkeinrichtung 73 derart an, dass der Laserstrahlfokus auf der Probe 51 die Schnittlinie beschreibt und auf diese Weise den Probenbereich 510 von der übrigen Probe trennt. The sample 51 is on a suitable bracket 52 applied, which allows a laser dissection. The sample area, which by means of the focused laser beam 77 is cut out, is with 510 designated. The sample area 510 forms a portion of the sample 51 in which the sample area is identified in a manner known per se as a sample area of interest. This is usually done by microscopic visualization of the sample 51 and the sample area 510 , wherein by coloring the sample 51 and by appropriate (fluorescence) examination of the sample 51 the sample area of interest 510 can be determined. In a manner which is also known per se, this sample area is formed 510 put an example individual cutting line. This process can be done manually or preferably by means of image processing. The result can be, for example, on the external control computer 81 (see. 1 ). The command for cutting the sample is issued 51 , controls the control unit 82 the laser deflector 73 such that the laser beam focus on the sample 51 the section line describes and in this way the sample area 510 separates from the rest of the sample.

Bei dem dargestellten Parallel Section Cutting sind weitere Proben 53, 54 auf entsprechenden Halterungen aufgenommen, um parallel bearbeitet werden zu können. Hierzu sind weitere Laserstrahlen 77' und 77'' vorgesehen. Jedem dieser weiteren Laserstrahlen ist jeweils eine weitere Laserablenkeinrichtung 73', 73'' zugeordnet. Die optischen Achsen sind mit c' bzw. c'' bezeichnet. Bei den Proben 53 und 54 handelt es sich zweckmäßigerweise um insbesondere benachbarte Schnitte eines Serienschnitts aus einem Präparat. Die Proben 53 und 54 müssen nicht zwingend gefärbt sein. Es ist im Gegenteil günstig, mit ungefärbten Proben zu arbeiten, da Färbungen die Eigenschaften oder die biologischen Prozesse der Probe beeinflussen können. In the illustrated Parallel Section Cutting are other samples 53 . 54 taken on appropriate brackets to be processed in parallel. These are other laser beams 77 ' and 77 '' intended. Each of these further laser beams is in each case a further laser deflection device 73 ' . 73 '' assigned. The optical axes are denoted by c 'and c'', respectively. For the samples 53 and 54 are expediently in particular adjacent sections of a serial section of a preparation. Samples 53 and 54 do not necessarily have to be colored. On the contrary, it is beneficial to work with unstained samples, as staining may affect the properties or biological processes of the sample.

Die um den Probenbereich 510 der Probe 51 festgelegte Schnittlinie wird auf die ungefärbten Probenbereiche 530 und 540 übertragen, so dass die Probenbereiche 530 und 540 dem Referenzprobenbereich 510 entsprechen. Unter "Übertragen der Schnittlinie" soll verstanden werden, dass Steuerbefehle an entsprechende Steuereinheiten der Laserablenkeinrichtungen 73', 73'' übertragen werden, um den Laserstrahl 77' bzw. 77'' entsprechend der festgelegten Schnittlinie auf der Probe 53 bzw. 54 zu führen. The around the sample area 510 the sample 51 fixed cutting line is on the unstained sample areas 530 and 540 transferred so that the sample areas 530 and 540 the reference sample area 510 correspond. The term "transfer of the cutting line" should be understood to mean that control commands are sent to corresponding control units of the laser deflection devices 73 ' . 73 '' be transferred to the laser beam 77 ' respectively. 77 '' according to the specified cutting line on the sample 53 respectively. 54 respectively.

Auf diese Weise ist es folglich möglich, entsprechend der einmal festgelegten Schnittlinie um den Referenzprobenbereich 510 parallel und insbesondere gleichzeitig mehrere entsprechende Probenbereiche 530, 540 aus weiteren Proben 53, 54 herauszuschneiden. Hierbei besteht die Option, auch den Laserstrahl 77 entsprechend abzulenken, so dass sein Fokus entlang der Schnittlinie verschoben wird, um den Referenzprobenbereich 510 zu dissektieren. Dies muss aber nicht zwangsläufig der Fall sein, wenn etwa der gefärbte Referenzprobenbereich als Dissektat für die weitere Analyse weniger brauchbar oder ganz unbrauchbar sein sollte. Aus diesem Grund ist der Laserstrahl 77 nur gestrichelt gezeichnet. In this way, it is thus possible, according to the once defined cutting line around the reference sample area 510 parallel and in particular simultaneously several corresponding sample areas 530 . 540 from further samples 53 . 54 cut out. Here is the option, even the laser beam 77 deflect accordingly so that its focus is shifted along the cut line to the reference sample area 510 to dissect. However, this need not necessarily be the case if, for example, the colored reference sample area should be less useful or completely useless as a dissectate for further analysis. Because of this, the laser beam is 77 drawn only dashed.

Das Ausführungsbeispiel gemäß 2 ist selbstverständlich nicht nur auf die dort dargestellte Anzahl von Proben beschränkt. Wie außerdem bereits erwähnt, können auch andere Markierungen als Schnittlinien für das Parallel Section Cutting eingesetzt werden. Beispielsweise können Zielareale als Probenbereiche identifiziert, markiert und anschließend manipuliert werden. Auf die Möglichkeiten zur Erzeugung von weiteren Laserstrahlen 77', 77'' wird weiter unten näher eingegangen werden. In 2 sind lediglich die entsprechenden Laserablenkeinrichtungen 73', 73'' dargestellt. Die Laserfokussierlinsen 41', 41'' sorgen in 2 für die Fokussierung der entsprechend zugeordneten Laserstrahlen 77', 77'' auf die jeweilige Probe 53, 54. Wenn diese Proben 53, 54 exakt kalibriert sind, kann es bei der Verwendung von Laserfokussierlinsen 41', 41'' bleiben. Sind jedoch Kalibrierungen notwendig, um sicherzustellen, dass einander korrespondierende Probenbereiche gleiche Koordinaten besitzen, ist es vorteilhaft, wenn die dargestellten Laserfokussierlinsen 41', 41'' Mikroskopobjektive weiterer Mikroskope (nicht dargestellt) darstellen. Solch weitere "Mikroskope" werden die wesentlichen Komponenten des in 1 dargestellten Systems beinhalten müssen, soweit durch diese Komponenten eine Kalibrierung und eine anschließende Dissektion ermöglicht wird, nämlich im Wesentlichen Lasereinheit, Laserablenkeinrichtung, Objektiv und Aufnahmeeinrichtung für die Probe. The embodiment according to 2 is of course not limited to the number of samples shown there. As well as already mentioned, other markings can also be used as cutting lines for parallel section cutting. For example, target areas can be identified as sample areas, marked and then manipulated. On the possibilities for the production of further laser beams 77 ' . 77 '' will be discussed in more detail below. In 2 are only the corresponding Laserablenkeinrichtungen 73 ' . 73 '' shown. The laser focusing lenses 41 ' . 41 '' care in 2 for focusing the correspondingly assigned laser beams 77 ' . 77 '' to the respective sample 53 . 54 , If these samples 53 . 54 Precisely calibrated, it may be when using laser focusing lenses 41 ' . 41 '' stay. However, if calibrations are necessary to ensure that corresponding sample areas have the same coordinates, it is advantageous if the illustrated laser focusing lenses 41 ' . 41 '' Microscope lenses of other microscopes (not shown) represent. Such more "microscopes" will be the essential components of the 1 as far as these components enable calibration and subsequent dissection, namely essentially the laser unit, laser deflecting device, lens and recording device for the sample.

3 zeigt schematisch eine Möglichkeit des parallelen Bearbeitens eines Probenbereichs auf einer Probe. Ohne Beschränkung der Allgemeinheit soll hier wiederum von einem Schneiden der Probe ausgegangen werden. Wie anhand von 2 oben bereits erläutert, wird hierzu ein Laserstrahl 77 auf eine Probe 51 mittels eines Mikroskopobjektivs 41 fokussiert. Die Position des Fokus des Laserstrahls 77 auf der Probe 51 wird mit Hilfe einer Laserablenkeinrichtung 73 gesteuert. 3 schematically shows a possibility of processing a sample area in parallel on a sample. Without limiting the generality, it should again be assumed that the sample is cut. As based on 2 already explained above, this is a laser beam 77 on a sample 51 by means of a microscope objective 41 focused. The position of the focus of the laser beam 77 on the test 51 is using a laser deflector 73 controlled.

Mittels eines weiteren Laserstrahls 77' mit zugeordneter weiterer Laserablenkeinrichtung 73' kann derselbe Probenbereich 510 der Probe 51 bearbeitet werden. Insbesondere können beide Laserstrahlen 77 und 77' parallel und insbesondere gleichzeitig den Probenbereich 510 entlang einer Schnittlinie schneiden. Auf diese Weise kann die Geschwindigkeit des Dissektierens erhöht werden. Die parallelen Laser 77, 77' können also entlang derselben Schnittlinie an unterschiedlichen Koordinaten gleichzeitig schneiden, aber prinzipiell auch an gleichen Koordinaten, etwa bei dicken Proben. Hierbei können die Foki der Laser 77, 77' in unterschiedlichen Probentiefen liegen, um dicke Proben schneller und effektiver zu schneiden. By means of another laser beam 77 ' with associated further laser deflection device 73 ' can the same sample area 510 the sample 51 to be edited. In particular, both laser beams 77 and 77 ' parallel and in particular at the same time the sample area 510 cut along a cutting line. In this way, the speed of dissecting can be increased. The parallel lasers 77 . 77 ' So you can cut along the same cutting line at different coordinates at the same time, but in principle also at the same coordinates, for example with thick samples. Here are the foci of the laser 77 . 77 ' in different sample depths to cut thick samples faster and more effectively.

Mittels entsprechender Umlenkspiegel 72, 72' können die Achsen b, b' der Laserstrahlen 77, 77' in die optische Achse c des Objektivs 41 eingekoppelt werden. By means of corresponding deflection mirrors 72 . 72 ' can the axes b, b 'of the laser beams 77 . 77 ' in the optical axis c of the lens 41 be coupled.

4 zeigt schematisch eine erfindungsgemäße Möglichkeit zum parallelen Bearbeiten eines oder mehrerer Probenbereiche auf einer Probe. Gleiche Bezugszeichen bezeichnen wiederum gleiche Elemente wie in den vorangegangen Figuren. 4 schematically shows a possibility according to the invention for the parallel processing of one or more sample areas on a sample. Like reference numerals again designate like elements as in the preceding figures.

Die Ausführungsform gemäß 4 kann als weitere Ausgestaltung des parallelen Bearbeitens eines Probenbereichs 510 auf einer Probe 51 (vgl. 3) verstanden werden. Im Gegensatz zu der Ausführungsform gemäß 3 sind in 4 aber zwei Fokussierlinsen 41, 41' bzw. ein Mikroskopobjektiv 41 und eine Fokussierlinse 41' bzw. zwei Mikroskopobjektive 41, 41' vorgesehen. Somit werden die beiden Laserstrahlen 77, 77' nicht durch eine einzige Fokussierlinse bzw. ein einziges Mikroskopobjektiv 41 geführt, sondern durch jeweils ein zugeordnetes Mikroskopobjektiv oder eine zugeordnete Fokussierlinse 41 bzw. 41'. Dies ermöglicht beispielsweise nicht nur innerhalb des Sichtfelds eines Mikroskopobjektivs, sondern auch außerhalb dieses Sichtfelds und schließlich innerhalb der Sichtfelder zweier Mikroskopobjektive zu arbeiten, je nachdem ob 41 und 41' eine Fokussierlinse und ein Mikroskopobjektiv oder zwei Mikroskopobjektive bezeichnet. The embodiment according to 4 can as a further embodiment of the parallel processing of a sample area 510 on a sample 51 (see. 3 ). In contrast to the embodiment according to 3 are in 4 but two focusing lenses 41 . 41 ' or a microscope objective 41 and a focusing lens 41 ' or two microscope lenses 41 . 41 ' intended. Thus, the two laser beams become 77 . 77 ' not by a single focusing lens or a single microscope objective 41 guided, but by a respective associated microscope objective or an associated focusing lens 41 respectively. 41 ' , This allows, for example, not only within the field of view of a microscope objective, but also outside of this field of view and finally to work within the fields of view of two microscope objectives, depending on whether 41 and 41 ' a focusing lens and a microscope objective or two microscope lenses.

In einer anderen Ausführungsform des Beispiels gemäß 4 treffen die Laserstrahlen 77, 77' auf zwei voneinander unterschiedliche Probenbereiche (nicht gesondert bezeichnet). Auf diese Weise ist es möglich, verschiedene Probenbereiche einer Probe 51 parallel und insbesondere gleichzeitig zu schneiden oder zu manipulieren. Somit können etwa mehrere markierte interessierende Probenbereiche gleichzeitig aus einer Probe 51 geschnitten werden, was den Vorgang der Lasermikrodissektion enorm beschleunigt. Bzgl. weiterer Einzelheiten zu diesen Vorgängen sei auf die vorangehenden Ausführungsbeispiele verwiesen. In another embodiment of the example according to 4 hit the laser beams 77 . 77 ' to two different sample areas (not separately indicated). In this way it is possible to have different sample areas of a sample 51 parallel and in particular at the same time to cut or manipulate. Thus, for example, a plurality of labeled sample regions of interest can be simultaneously extracted from a sample 51 be cut, which accelerates the process of laser microdissection enormously. Concerning. For further details of these operations, reference is made to the preceding embodiments.

5 zeigt eine weitere Ausgestaltung der Anordnung gemäß 4. Hierbei ist ein zusätzlicher dritter Laserstrahl 77'' vorgesehen, der in der Darstellung gemäß 5 auf die Unterseite der Probe 51 gerichtet ist, während die beiden Laserstrahlen 77, 77' auf die Oberseite dieser Probe 51 gerichtet sind. Der auf die Unterseite der Probe 51 gerichtete Laserstrahl 77'' besitzt eine ihm zugeordnete Laserablenkeinrichtung 73''. Die in 5 dargestellte Vorrichtung eignet sich wiederum zum Schneiden (oder sonstigen Bearbeiten) eines einzigen Probenbereichs 510 auf der Probe 51 oder aber mehrerer Probenbereiche (nicht gesondert bezeichnet) auf der Probe 51. Hierzu sei auf die Erläuterungen im Zusammenhang mit 4 verwiesen. 5 shows a further embodiment of the arrangement according to 4 , Here is an additional third laser beam 77 '' provided in the representation according to 5 on the bottom of the sample 51 is directed while the two laser beams 77 . 77 ' on top of this sample 51 are directed. The on the bottom of the sample 51 directed laser beam 77 '' has an associated laser deflection device 73 '' , In the 5 shown device is in turn suitable for cutting (or other editing) of a single sample area 510 on the test 51 or several sample areas (not separately indicated) on the sample 51 , In this regard, reference should be made to the explanatory notes 4 directed.

Der auf die Unterseite gerichtete Laserstrahl 77'' gemäß 5 kann insbesondere zum Schneiden dicker Probenbereiche eingesetzt werden. Beispielsweise kann der Laserstrahl 77' von oben auf die Schnittlinie geführt werden, während der Laserstrahl 77'' von unten auf dieselbe Schnittlinie geführt wird, so dass die Schnittlinie von zwei Seiten geschnitten wird. Auf diese Weise kann ein dicker Probenbereich schonender geschnitten werden, als wenn mit einem einzigen Laserstrahl entsprechend hoher Energie nur von einer Seite aus geschnitten würde. The laser beam directed at the underside 77 '' according to 5 can be used in particular for cutting thicker sample areas. For example, the laser beam 77 ' from above on the Cutting line are guided while the laser beam 77 '' from below on the same cutting line, so that the cutting line is cut from two sides. In this way, a thicker sample area can be cut more gently than if a single laser beam of correspondingly high energy were cut from one side only.

Bzgl. der 4 und 5 sei weiterhin betont, dass die dort dargestellte Schrägstellung der Laserachsen nicht unbedingt nur durch die dargestellte Schrägstellung der optischen Achsen der Mikroskopobjektive bzw. Laserfokussierlinsen erreicht werden kann. Ein entsprechender Auftreffwinkel des Laserstrahls auf die Probe kann, wie anhand der 1 und 3 erläutert, auch und vorzugsweise mit Objektiven bzw. Laserfokussierlinsen erzielt werden, deren optische Achsen senkrecht auf die Probe stehen, wobei die Schrägstellungen der Laserachsen dann allein durch die zugeordneten Laserablenkeinrichtungen bewirkt werden. Die Schrägstellungen der Achsen in den 4 und 5 dienen somit eher der leichteren Verständlichkeit. Concerning. of the 4 and 5 It should also be emphasized that the oblique position of the laser axes shown there can not necessarily be achieved only by the illustrated oblique position of the optical axes of the microscope objectives or laser focusing lenses. An appropriate angle of incidence of the laser beam on the sample, as shown by the 1 and 3 explained, also and preferably achieved with lenses or Laserfokussierlinsen whose optical axes are perpendicular to the sample, wherein the inclinations of the laser axes are then caused solely by the associated Laserablenkeinrichtungen. The inclinations of the axes in the 4 and 5 thus serve the easier understanding.

6 zeigt schematisch eine Möglichkeit der Bereitstellung weiterer Laserstrahlen durch weitere Lasereinheiten. Hierbei sind zwei Lasereinheiten 70 und 70' in einem Lasermikrodissektionssystem 100 vorhanden (vgl. 1). Die Lasereinheiten 70, 70' erzeugen entsprechende Laserstrahlen 77, 77', die durch ihnen zugeordnete Laserablenkeinheiten 73, 73' auf einem Probenbereich geführt und dort verschoben werden. 6 schematically shows a possibility of providing additional laser beams by further laser units. Here are two laser units 70 and 70 ' in a laser microdissection system 100 available (cf. 1 ). The laser units 70 . 70 ' generate corresponding laser beams 77 . 77 ' , the laser deflection units associated therewith 73 . 73 ' be guided on a sample area and moved there.

7 zeigt schematisch die Bereitstellung weiterer Laserstrahlen mittels einer Strahlteileranordnung. Die Lasereinheit 70 erzeugt einen Laserstrahl, der eine Strahlteileranordnung 78 durchläuft. Hierbei wird der Laserstrahl in zwei Strahlen geteilt, wobei einer der beiden Strahlen mit 77 bezeichnet ist. Der andere der beiden geteilten Strahlen sei mit 77' bezeichnet. Auf diese Weise können zwei Laserstrahlen 77, 77' erzeugt werden, deren Intensität entsprechend geringer ist als die des ursprünglichen Laserstrahls 77. Beispielsweise kann der Laserstrahl 77' an einem Umlenkspiegel 74 reflektiert und einer ihm zugeordneten Laserablenkeinrichtung 73' zugeführt werden. 7 shows schematically the provision of further laser beams by means of a beam splitter arrangement. The laser unit 70 generates a laser beam, which is a beam splitter arrangement 78 passes. Here, the laser beam is divided into two beams, with one of the two beams 77 is designated. The other of the two divided beams is with 77 ' designated. This allows two laser beams 77 . 77 ' be generated, the intensity of which is correspondingly lower than that of the original laser beam 77 , For example, the laser beam 77 ' on a deflecting mirror 74 reflected and a laser deflecting device associated with it 73 ' be supplied.

Während die Ausführungsform gemäß 6 insbesondere für Schneidprozesse sinnvoll ist, bei denen die volle Laserintensität benötigt wird, ist die Ausführungsform gemäß 7 für Prozesse wie Manipulationen vorteilhaft, für die ein Teil der ursprünglichen Laserleistung ausreichend ist. While the embodiment according to 6 is particularly useful for cutting processes in which the full laser intensity is needed, the embodiment according to 7 advantageous for processes such as manipulations, for which a portion of the original laser power is sufficient.

Schließlich zeigt 8 eine Kombinationsmöglichkeit der Ausführungsformen von den 6 und 7. Hierbei wird der von der Lasereinheit 70 erzeugte Laserstrahl 77 einer Laserablenkeinrichtung 73 zugeführt. Ein weiterer Laserstrahl wird durch eine weitere Lasereinheit 70' erzeugt. Dieser weitere Laserstrahl wird in zwei Laserstrahlen aufgespalten, wobei wiederum einer der beiden aufgespaltenen Laserstrahlen mit 77', der andere hingegen mit 77'' bezeichnet werden soll. Die Aufspaltung erfolgt wiederum in einer Strahlteileranordnung 78'. Die auf diese Weise erzeugten Teilstrahlen 77' und 77'' werden dann jeweils entsprechenden Laserablenkeinrichtungen 73' und 73'' zugeführt, wobei für den Laserstrahl 77'' wiederum ein Umlenkspiegel 74 zum Einsatz kommen kann. Eine Anordnung, wie sie in 8 gezeigt ist, kann beispielsweise zum parallelen Schneiden von dicken Proben bzw. Probenbereichen (mit Laserstrahl 77) und dünnen Proben bzw. Probenbereichen (mit den Laserstrahlen 77' und 77'') verwendet werden. Dem Fachmann erschließen sich aus den 6 bis 8 weitere Kombinationsmöglichkeiten. Finally shows 8th a combination possibility of the embodiments of the 6 and 7 , This is the one of the laser unit 70 generated laser beam 77 a laser deflector 73 fed. Another laser beam is transmitted through another laser unit 70 ' generated. This further laser beam is split into two laser beams, again with one of the two split laser beams 77 ' the other with 77 '' should be designated. The splitting takes place again in a beam splitter arrangement 78 ' , The partial beams generated in this way 77 ' and 77 '' then each corresponding laser deflection devices 73 ' and 73 '' fed, being for the laser beam 77 '' turn a deflection mirror 74 can be used. An arrangement, as in 8th can be shown, for example, for the parallel cutting of thick samples or sample areas (with laser beam 77 ) and thin samples or sample areas (with the laser beams 77 ' and 77 '' ) be used. The skilled person will be apparent from the 6 to 8th further combination possibilities.

BezugszeichenlisteLIST OF REFERENCE NUMBERS

10 10
Mikroskop microscope
11 11
Mikroskopfußthe microscope
12 12
Beleuchtungseinrichtung lighting device
13 13
Benutzereingabe-/informationseinheit User input / information unit
14 14
Triebknopf drive knob
15 15
Schutzhaube guard
30 30
Mikroskoptisch microscope stage
31 31
manuelle Verstelleinrichtung manual adjusting device
40 40
Objektivrevolver nosepiece
41 41
Objektiv lens
41', 41'' 41 ', 41' '
Laserfokussierlinse, Objektiv Laser focusing lens, objective
42 42
Objektiv lens
51 51
Probe sample
52 52
Aufnahmeeinrichtung recording device
53 53
Probe sample
54 54
Probe sample
510 510
Probenbereich, Referenzprobenbereich Sample area, reference sample area
530 530
Probenbereich sample area
540 540
Probenbereich sample area
60 60
Tubuseinheit barrel unit
61 61
Auskoppeleinrichtungen Auskoppeleinrichtungen
62 62
Okularpaar eyepieces
63 63
Bilderfassungseinheit Image capture unit
64 64
Bildauswertungsmodul Image analysis module
70, 70' 70, 70 '
Lasereinheit laser unit
71 71
Umlenkspiegel deflecting
72, 72' 72, 72 '
Umlenkspiegel deflecting
73, 73', 73'' 73, 73 ', 73' '
Laserablenkeinrichtung Laser deflector
74 74
Umlenkspiegel deflecting
75 75
Laserlichtquelle Laser light source
76 76
Auflichteinheit incident-light
77, 77', 77'' 77, 77 ', 77' '
Laserstrahl laser beam
78, 78' 78, 78 '
Strahlteileranordnung Beam splitter arrangement
731 731
Keilplatten wedge plates
732 732
Kugellager ball-bearing
733 733
Zahnrad gear
734 734
Aktor actuator
735 735
Positionsgeber locator
81 81
Steuerrechner tax calculator
82 82
Steuereinheit control unit
83 83
Verbindungen links
90 90
Kondensoreinheit condenser unit
100 100
Lasermikrodissektionssystem laser microdissection system
aa
Beobachtungsstrahlengang Observation beam path
bb
Laserstrahlachse laser beam axis
cc
optische Achse optical axis

ZITATE ENTHALTEN IN DER BESCHREIBUNG QUOTES INCLUDE IN THE DESCRIPTION

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Zitierte PatentliteraturCited patent literature

  • EP 1276586 B1 [0005, 0022, 0061, 0070] EP 1276586 B1 [0005, 0022, 0061, 0070]
  • US 2012/0045790 A1 [0010, 0011] US 2012/0045790 A1 [0010, 0011]

Claims (35)

Lasermikrodissektionssystem (100) mit einem Mikroskop (10), das eine Aufnahmeeinrichtung (52) zur Aufnahme einer biologischen Probe (51) und eine Auflichteinrichtung (76) mit einer Laserablenkeinrichtung (73) aufweist, welche einen durch eine Lasereinheit (70) bereitgestellten Laserstrahl (77) durch ein Mikroskopobjektiv (41) des Mikroskops (10) auf einen Probenbereich (510) der biologischen Probe (51) führt und welche einen Auftreffpunkt des Laserstrahls (77) auf dem Probenbereich (510) verschiebt, dadurch gekennzeichnet, dass das Lasermikrodissektionssystem (100) mindestens eine weitere Laserablenkeinrichtung (73', 73'') zum Führen mindestens eines weiteren Laserstrahls (77', 77'') auf den Probenbereich (510) oder auf mindestens einen anderen Probenbereich (530, 540) und zum Verschieben des Auftreffpunkts des mindestens einen weiteren Laserstrahls (77', 77'') auf dem jeweiligen Probenbereich aufweist. Laser microdissection system ( 100 ) with a microscope ( 10 ) having a receiving device ( 52 ) for receiving a biological sample ( 51 ) and a Auflichteinrichtung ( 76 ) with a laser deflection device ( 73 ), which one through a laser unit ( 70 ) provided laser beam ( 77 ) through a microscope objective ( 41 ) of the microscope ( 10 ) on a sample area ( 510 ) of the biological sample ( 51 ) and which an impact point of the laser beam ( 77 ) on the sample area ( 510 ), characterized in that the laser microdissection system ( 100 ) at least one further laser deflection device ( 73 ' . 73 '' ) for guiding at least one further laser beam ( 77 ' . 77 '' ) on the sample area ( 510 ) or at least one other sample area ( 530 . 540 ) and for displacing the point of impact of the at least one further laser beam ( 77 ' . 77 '' ) on the respective sample area. Lasermikrodissektionssystem (100) nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass der mindestens einen weiteren Laserablenkeinrichtung (73') eine weitere Lasereinheit (70') zugeordnet ist, die einen des mindestens einen Laserstrahls (77') bereitstellt. Laser microdissection system ( 100 ) according to claim 1, characterized in that the at least one further laser deflection device ( 73 ' ) another laser unit ( 70 ' ) associated with one of the at least one laser beam ( 77 ' ). Lasermikrodissektionssystem (100) nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass der Lasereinheit (70) eine Strahlteileranordnung (78) nachgeordnet ist, die aus dem von der Lasereinheit (70) bereitgestellten Laserstrahl (77) den mindestens einen weiteren Laserstrahl (77') durch Strahlteilung erzeugt. Laser microdissection system ( 100 ) according to claim 1, characterized in that the laser unit ( 70 ) a beam splitter arrangement ( 78 ), which from the laser unit ( 70 ) provided laser beam ( 77 ) the at least one further laser beam ( 77 ' ) generated by beam splitting. Lasermikrodissektionssystem (100) nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, dass der weiteren Lasereinheit (70') eine Strahlteileranordnung (78') nachgeordnet ist, die aus dem von der weiteren Lasereinheit (70') bereitgestellten weiteren Laserstrahl (77') mindestens einen weiteren Laserstrahl (77'') durch Strahlteilung erzeugt. Laser microdissection system ( 100 ) according to claim 2, characterized in that the further laser unit ( 70 ' ) a beam splitter arrangement ( 78 ' ), which consists of that of the further laser unit ( 70 ' ) provided further laser beam ( 77 ' ) at least one further laser beam ( 77 '' ) generated by beam splitting. Lasermikrodissektionssystem (100) nach einem der Ansprüche 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet, dass die Laserablenkeinrichtung (73) und eine der mindestens einen weiteren Laserablenkeinrichtung (73') derart eingerichtet sind, dass die von diesen Laserablenkeinrichtungen abgelenkten Laserstrahlen (77, 77') durch das Mikroskopobjektiv (41) des Mikroskops (10) geführt werden. Laser microdissection system ( 100 ) according to one of claims 1 to 4, characterized in that the laser deflection device ( 73 ) and one of the at least one further laser deflection device ( 73 ' ) are arranged such that the laser beams deflected by these laser deflection devices ( 77 . 77 ' ) through the microscope objective ( 41 ) of the microscope ( 10 ). Lasermikrodissektionssystem (100) nach einem der Ansprüche 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet, dass eine der mindestens einen weiteren Laserablenkeinrichtung (73') derart eingerichtet ist, dass sie den von ihr abgelenkten Laserstrahl (77') durch eine Laserfokussierlinse (41') auf den Probenbereich (510) oder auf einen des mindestens einen anderen Probenbereichs (530, 540) führt. Laser microdissection system ( 100 ) according to one of claims 1 to 4, characterized in that one of the at least one further laser deflection device ( 73 ' ) is set up in such a way that it deflects the laser beam deflected by it ( 77 ' ) by a laser focusing lens ( 41 ' ) on the sample area ( 510 ) or one of the at least one other sample area ( 530 . 540 ) leads. Lasermikrodissektionssystem (100) nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, dass die Laserfokussierlinse ein weiteres Mikroskopobjektiv (41') eines weiteren Mikroskops darstellt. Laser microdissection system ( 100 ) according to claim 6, characterized in that the Laserfokussierlinse another microscope objective ( 41 ' ) represents another microscope. Lasermikrodissektionssystem (100) nach einem der Ansprüche 1 bis 7, dadurch gekennzeichnet, dass der andere Probenbereich ein anderer Probenbereich der selben Probe (51) oder ein weiterer Probenbereich (530, 540) einer anderen Probe (53, 54) darstellt. Laser microdissection system ( 100 ) according to one of claims 1 to 7, characterized in that the other sample area another sample area of the same sample ( 51 ) or another sample area ( 530 . 540 ) of another sample ( 53 . 54 ). Lasermikrodissektionssystem (100) nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass das Lasermikrodissektionssystem (100) die Laserablenkeinrichtung (73) zum Führen des Laserstrahls (77) auf den Probenbereich (510) einer ersten biologischen Probe (51) aufweist und die mindestens eine weitere Laserablenkeinrichtung (73', 73'') zum Führen des mindestens einen weiteren Laserstrahls (77', 77'') auf einen des mindestens einen anderen Probenbereichs (530, 540) einer anderen Probe (53, 54) oder – soweit auf Anspruch 8 zurückbezogen – der anderen Probe (53, 53) aufweist. Laser microdissection system ( 100 ) according to one of the preceding claims, characterized in that the laser microdissection system ( 100 ) the laser deflection device ( 73 ) for guiding the laser beam ( 77 ) on the sample area ( 510 ) a first biological sample ( 51 ) and the at least one further laser deflection device ( 73 ' . 73 '' ) for guiding the at least one further laser beam ( 77 ' . 77 '' ) to one of the at least one other sample area ( 530 . 540 ) of another sample ( 53 . 54 ) or, as far as dependent on claim 8, the other sample ( 53 . 53 ) having. Lasermikrodissektionssystem (100) nach einem der Ansprüche 1 bis 8, dadurch gekennzeichnet, dass das Lasermikrodissektionssystem (100) die Laserablenkeinrichtung (73) zum Führen des Laserstrahls (77) auf den Probenbereich (510) der biologischen Probe (51) und die mindestens eine weitere Laserablenkeinrichtung (73', 73'') zum Führen des mindestens einen weiteren Laserstrahls (77', 77'') auf denselben Probenbereich (510) dieser biologischen Probe (51) aufweist. Laser microdissection system ( 100 ) according to one of claims 1 to 8, characterized in that the laser microdissection system ( 100 ) the laser deflection device ( 73 ) for guiding the laser beam ( 77 ) on the sample area ( 510 ) of the biological sample ( 51 ) and the at least one further laser deflection device ( 73 ' . 73 '' ) for guiding the at least one further laser beam ( 77 ' . 77 '' ) on the same sample area ( 510 ) of this biological sample ( 51 ) having. Lasermikrodissektionssystem (100) nach einem der Ansprüche 1 bis 8, dadurch gekennzeichnet, dass das Lasermikrodissektionssystem (100) die Laserablenkeinrichtung (73) zum Führen des Laserstrahls (77) auf den Probenbereich (510) der biologischen Probe (51) aufweist und die mindestens eine weitere Laserablenkeinrichtung (73', 73'') zum Führen des mindestens einen weiteren Laserstrahls (77', 77'') auf den mindestens einen anderen Probenbereich der selben biologischen Probe (51) aufweist. Laser microdissection system ( 100 ) according to one of claims 1 to 8, characterized in that the laser microdissection system ( 100 ) the laser deflection device ( 73 ) for guiding the laser beam ( 77 ) on the sample area ( 510 ) of the biological sample ( 51 ) and the at least one further laser deflection device ( 73 ' . 73 '' ) for guiding the at least one further laser beam ( 77 ' . 77 '' ) on the at least one other sample area of the same biological sample ( 51 ) having. Lasermikrodissektionssystem (100) nach Anspruch 9, 10 oder 11, dadurch gekennzeichnet, dass jeder der mindestens einen weiteren Laserablenkeinrichtung (73', 73'') jeweils eine Laserfokussierlinse (41', 41'') zum Führen des jeweiligen weiteren Laserstrahls (77', 77'') auf den jeweiligen Probenbereich zugeordnet ist. Laser microdissection system ( 100 ) according to claim 9, 10 or 11, characterized in that each of the at least one further laser deflection device ( 73 ' . 73 '' ) each have a laser focusing lens ( 41 ' . 41 '' ) for guiding the respective further laser beam ( 77 ' . 77 '' ) is assigned to the respective sample area. Lasermikrodissektionssystem (100) nach Anspruch 12, dadurch gekennzeichnet, dass mindestens eine der Laserfokussierlinsen ein weiteres Mikroskopobjektiv (41', 41'') eines weiteren Mikroskops darstellt. Laser microdissection system ( 100 ) according to claim 12, characterized in that at least one of the Laserfokussierlinsen another microscope objective ( 41 ' . 41 '' ) represents another microscope. Verwendung eines Lasermikrodissektionssystems (100) nach Anspruch 9 zum parallelen Bearbeiten von Probenbereichen (510, 530, 540) jeweils verschiedener Proben (51, 53, 54) mittels jeweils zugeordneter Laserstrahlen (77, 77', 77''). Use of a laser microdissection system ( 100 ) according to claim 9 for the parallel processing of sample areas ( 510 . 530 . 540 ) of different samples ( 51 . 53 . 54 ) by means of respectively assigned laser beams ( 77 . 77 ' . 77 '' ). Verwendung nach Anspruch 14, wobei ein Probenbereich (510)einer Referenzprobe (51)als Referenzprobenbereich ausgewählt wird und weitere Probenbereiche (530, 540) jeweils verschiedener Proben (53, 54) mittels jeweils zugeordneter Laserstrahlen (77', 77'') bearbeitet werden. Use according to claim 14, wherein a sample area ( 510 ) a reference sample ( 51 ) is selected as reference sample area and further sample areas ( 530 . 540 ) of different samples ( 53 . 54 ) by means of respectively assigned laser beams ( 77 ' . 77 '' ) to be edited. Verwendung nach Anspruch 15, wobei der Referenzprobenbereich (510) und die weiteren Probenbereiche (530, 540) Bestandteile von Proben (51, 53, 54) eines Serienschnitts desselben Präparats sind. Use according to claim 15, wherein the reference sample area ( 510 ) and the other sample areas ( 530 . 540 ) Constituents of samples ( 51 . 53 . 54 ) of a serial section of the same preparation. Verwendung nach Anspruch 15 oder 16, wobei der Referenzprobenbereich (540) mittels des Mikroskops (10) des Lasermikrodissektionssystems (100) mikroskopisch visualisiert und markiert wird und die Markierung auf die weiteren Probenbereiche (530, 540) übertragen wird. Use according to claim 15 or 16, wherein the reference sample area ( 540 ) by means of the microscope ( 10 ) of the laser microdissection system ( 100 ) is visualized and marked microscopically and the marking on the further sample areas ( 530 . 540 ) is transmitted. Verwendung nach Anspruch 17, wobei die Markierung eine Schnittlinie darstellt, die den Referenzprobenbereich (510) umgibt. Use according to claim 17, wherein the mark represents a cut line representing the reference sample area ( 510 ) surrounds. Verwendung nach Anspruch 18, wobei nach Übertragung der Schnittlinie die weiteren Probenbereiche (530, 540) mittels der zugeordneten parallel betriebenen Laserstrahlen (77', 77'') aus den jeweiligen Proben (53, 54) geschnitten werden. Use according to claim 18, wherein after transfer of the cutting line the further sample areas ( 530 . 540 ) by means of the associated parallel-operated laser beams ( 77 ' . 77 '' ) from the respective samples ( 53 . 54 ) get cut. Verwendung eines Lasermikrodissektionssystems nach Anspruch 10 zum parallelen Bearbeiten eines Probenbereichs (510) der Probe (51) mittels mehrerer Laserstrahlen. Use of a laser microdissection system according to claim 10 for parallel processing of a sample area ( 510 ) of the sample ( 51 ) by means of several laser beams. Verwendung nach Anspruch 20, wobei das Bearbeiten das Schneiden des Probenbereichs (510) entlang einer Schnittlinie umfasst. Use according to claim 20, wherein the machining comprises cutting the sample area ( 510 ) along a cutting line. Verwendung nach Anspruch 21, wobei zumindest ein Laserstrahl (77') auf die Oberseite des Probenbereichs (510) und zumindest ein anderer Laserstrahl (77'') auf die Unterseite des Probenbereichs (510) geführt wird. Use according to claim 21, wherein at least one laser beam ( 77 ' ) on top of the sample area ( 510 ) and at least one other laser beam ( 77 '' ) on the underside of the sample area ( 510 ) to be led. Verwendung eines Lasermikrodissektionssystems nach Anspruch 11 zum parallelen Bearbeiten von mehreren Probenbereichen einer Probe (51) mittels den Probenbereichen jeweils zugeordneter Laserstrahlen (77', 77''). Use of a laser microdissection system according to claim 11 for parallel processing of a plurality of sample areas of a sample ( 51 ) by means of the sample areas of respectively associated laser beams ( 77 ' . 77 '' ). Verwendung nach Anspruch 23, wobei das Bearbeiten das Schneiden der Probenbereiche entlang jeweiliger Schnittlinien umfasst.  Use according to claim 23, wherein the machining comprises cutting the sample areas along respective cut lines. Lasermikrodissektionsverfahren zum Bearbeiten eines Probenbereichs (510) einer biologischen Probe (51) mittels eines Laserstrahls (77), dadurch gekennzeichnet, dass mindestens ein weiterer Laserstrahl (77', 77'') bereitgestellt wird und mindestens ein weiterer Probenbereich (530, 540) jeweils verschiedener Proben (53, 54) sowie optional der Probenbereich (510) der Probe (51) mittels des mindestens einen weiteren Laserstrahls (77', 77'') bzw. optional des Laserstrahls (77) parallel bearbeitet werden. Laser microdissection method for processing a sample area ( 510 ) a biological sample ( 51 ) by means of a laser beam ( 77 ), characterized in that at least one further laser beam ( 77 ' . 77 '' ) and at least one further sample area ( 530 . 540 ) of different samples ( 53 . 54 ) as well as optionally the sample area ( 510 ) of the sample ( 51 ) by means of the at least one further laser beam ( 77 ' . 77 '' ) or optionally the laser beam ( 77 ) are processed in parallel. Verfahren nach Anspruch 25, wobei ein Probenbereich (510) einer Referenzprobe (51) als Referenzprobenbereich ausgewählt wird und weitere Probenbereiche (530, 540) jeweils verschiedener Proben (53, 54) mittels jeweils zugeordneter Laserstrahlen (77', 77'') bearbeitet werden. The method of claim 25, wherein a sample area ( 510 ) a reference sample ( 51 ) is selected as reference sample area and further sample areas ( 530 . 540 ) of different samples ( 53 . 54 ) by means of respectively assigned laser beams ( 77 ' . 77 '' ) to be edited. Verfahren nach Anspruch 26, wobei der Referenzprobenbereich (510) und die weiteren Probenbereiche (530, 540) Bestandteile von Proben (51, 53, 54) eines Serienschnitts des selben Präparats sind. The method of claim 26, wherein the reference sample area ( 510 ) and the other sample areas ( 530 . 540 ) Constituents of samples ( 51 . 53 . 54 ) of a serial section of the same preparation. Verfahren nach Anspruch 26 oder 27, wobei der Referenzprobenbereich (510) mittels eines Mikroskops (10) mikroskopisch visualisiert und markiert wird und die Markierung auf die weiteren Probenbereiche (530, 540) übertragen wird. A method according to claim 26 or 27, wherein the reference sample area ( 510 ) by means of a microscope ( 10 ) is visualized and marked microscopically and the marking on the further sample areas ( 530 . 540 ) is transmitted. Verfahren nach Anspruch 28, wobei die Markierung eine Schnittlinie darstellt, die den Referenzprobenbereich (510) umgibt. The method of claim 28 wherein the marker is a cut line representing the reference sample area ( 510 ) surrounds. Verfahren nach Anspruch 29, wobei nach Übertragung der Schnittlinie die weiteren Probenbereiche (530, 540) mittels der zugeordneten parallel betriebenen Laserstrahlen (77', 77'') aus den jeweiligen Proben (53, 54) geschnitten werden. The method of claim 29, wherein after transmission of the cut line the further sample areas ( 530 . 540 ) by means of the associated parallel-operated laser beams ( 77 ' . 77 '' ) from the respective samples ( 53 . 54 ) get cut. Lasermikrodissektionsverfahren zum Bearbeiten eines Probenbereichs (510) einer biologischen Probe (51) mittels eines Laserstrahls (77), dadurch gekennzeichnet, dass zumindest ein weiterer Laserstrahl (77') bereitgestellt wird und der Probenbereich (510) mittels des Laserstrahls (77) sowie des mindestens einen weiteren Laserstrahls (77') parallel bearbeitet wird. Laser microdissection method for processing a sample area ( 510 ) a biological sample ( 51 ) by means of a laser beam ( 77 ), characterized in that at least one further laser beam ( 77 ' ) and the sample area ( 510 ) by means of the laser beam ( 77 ) and the at least one further laser beam ( 77 ' ) is processed in parallel. Verfahren nach Anspruch 31, wobei das Bearbeiten das Schneiden des Probenbereichs (510) entlang einer Schnittlinie umfasst. The method of claim 31, wherein the machining comprises cutting the sample area ( 510 ) along a cutting line. Verfahren nach Anspruch 32, wobei zumindest ein Laserstrahl (77') auf die Oberseite des Probenbereichs (510) und zumindest ein anderer Laserstrahl (77'') auf die Unterseite des Probenbereichs (510) geführt wird. Method according to claim 32, wherein at least one laser beam ( 77 ' ) on top of the sample area ( 510 ) and at least one other laser beam ( 77 '' ) on the underside of the sample area ( 510 ) to be led. Lasermikrodissektionsverfahren zum Bearbeiten eines Probenbereichs (510) einer biologischen Probe (51) mittels eines Laserstrahls (77), dadurch gekennzeichnet, dass mindestens ein weiterer Laserstrahl (77') bereitgestellt wird und mindestens ein weiterer Probenbereich der Probe (51) mittels des mindestens einen weiteren Laserstrahls (77') parallel bearbeitet wird. Laser microdissection method for processing a sample area ( 510 ) a biological sample ( 51 ) by means of a laser beam ( 77 ), characterized in that at least one further laser beam ( 77 ' ) and at least one further sample area of the sample ( 51 ) by means of the at least one further laser beam ( 77 ' ) is processed in parallel. Verfahren nach Anspruch 34, wobei das Bearbeiten das Schneiden der Probenbereiche entlang jeweiliger Schnittlinien umfasst.  The method of claim 34, wherein the machining comprises cutting the sample areas along respective cut lines.
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