DE102014118424A1 - Method and apparatus for automatically identifying a point of interest on the surface of an anomaly - Google Patents

Method and apparatus for automatically identifying a point of interest on the surface of an anomaly Download PDF

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Clark Alexander Bendall
Nicholas Stancato
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Abstract

Es sind ein Verfahren und eine Vorrichtung zur automatischen Identifizierung einer interessierenden Stelle (d.h. der tiefsten oder höchsten Stelle) auf der Oberfläche einer Anomalie auf einem betrachteten Objekt unter Verwendung einer Videoinspektionsvorrichtung offenbart. Die Videoinspektionsvorrichtung erstellt ein Bild der Oberfläche des betrachteten Objekts und zeigt dieses an. Es wird eine Bezugsoberfläche zusammen mit einer interessierenden Region bestimmt, die mehrere Punkte auf der Oberfläche der Anomalie enthält. Die Videoinspektionsvorrichtung bestimmt eine Tiefe oder Höhe für jeden von den mehreren Punkten auf der Oberfläche der Anomalie in der interessierenden Region. Der Punkt auf der Oberfläche der Anomalie (z.B. mit der größten Tiefe oder Höhe) wird als die interessierende Stelle identifiziert. Dann wird ein Profil der Objektoberfläche an der interessierenden Stelle bestimmt.There is disclosed a method and apparatus for automatically identifying a point of interest (i.e., the lowest or highest digit) of interest on the surface of an anomaly on a viewed object using a video inspection device. The video inspection device makes an image of the surface of the object under consideration and displays it. A reference surface is determined along with a region of interest containing multiple points on the surface of the anomaly. The video inspection device determines a depth or height for each of the multiple points on the surface of the anomaly in the region of interest. The point on the surface of the anomaly (e.g., the greatest depth or height) is identified as the point of interest. Then a profile of the object surface at the point of interest is determined.

Description

QUERVERWEIS ZU VERWANDTEN ANMELDUNGENCROSS-REFERENCE TO RELATED APPLICATIONS

Diese Anmeldung ist eine teilweise Fortsetzungsanmeldung der US-Patentanmeldung mit dem Aktenzeichen 14/108,976, die am 17 Dezember 2013 eingereicht wurde und den Titel „METHOD AND DEVICE FOR AUTOMATICALLY IDENTIFYING THE DEEPEST POINT ON THE SURFACE OF AN ANOMALY“ („VERFAHREN UND VORRICHTUNG ZUR AUTOMATISCHEN IDENTIFIZIERUNG DER TIEFSTEN STELLE AUF DER OBERFLÄCHE EINER ANOMALIE“) trägt und die durch Verweis in ihrer Gesamtheit hierin mit aufgenommen ist.This application is a continuation-in-part of United States Patent Application Serial No. 14 / 108,976, filed on Dec. 17, 2013, entitled "METHOD AND DEVICE FOR AUTOMATICALLY IDENTIFYING THE DEEPEST POINT ON THE SURFACE OF AN ANALYSIS" ("METHOD AND APPARATUS FOR AUTOMATIC IDENTIFICATION OF THE DEFINITELY ON THE SURFACE OF ANOMALY "), which is incorporated herein by reference in its entirety.

HINTERGRUND ZU DER ERFINDUNGBACKGROUND TO THE INVENTION

Der hierin offenbarte Gegenstand betrifft ein Verfahren und eine Vorrichtung zur automatischen Identifizierung einer interessierenden Stelle (z.B. der tiefsten oder höchsten Stelle) auf der Oberfläche einer Anomalie an einem betrachteten Objekt unter Verwendung einer Videoinspektionsvorrichtung.The subject matter disclosed herein relates to a method and apparatus for automatically identifying a point of interest (e.g., the deepest or highest digit) of interest on the surface of an anomaly on a viewed object using a video inspection device.

Videoinspektionsvorrichtungen, beispielsweise Videoendoskope oder Boreskope, können verwendet werden, um eine Oberfläche eines Objekts zu untersuchen, um Anomalien (z.B. Gruben oder Kerben) auf dem Objekt, die beispielsweise eine Folge von Beschädigung, Abnutzung, Korrosion oder unsachgemäßem Einbau sein können, zu erkennen und zu analysieren. In vielen Fällen ist die Oberfläche des Objekts nicht zugänglich und kann ohne die Verwendung der Videoinspektionsvorrichtung nicht betrachtet werden.Video inspection devices, such as video-endoscopes or borescopes, may be used to inspect a surface of an object to detect anomalies (eg, pits or notches) on the object, which may be, for example, a result of damage, wear, corrosion, or improper installation analyze. In many cases, the surface of the object is inaccessible and can not be viewed without the use of the video inspection device.

Zum Beispiel kann eine Videoinspektionsvorrichtung verwendet werden, um die Oberfläche einer Schaufel einer Turbine an einem Flugzeug oder einer Stromerzeugungseinheit zu untersuchen, um etwaige Anomalien zu erkennen, die sich auf der Oberfläche gebildet haben können, um zu bestimmen, ob irgendeine Reparatur oder eine weitere Wartungsmaßnahme nötig ist. Um die Bewertung durchführen zu können, ist es häufig nötig, hochgenaue dimensionale Messwerte der Oberfläche und der Anomalie zu erhalten, um zu verifizieren, dass die Anomalie einen Betriebsgrenzwert oder eine geforderte Spezifikation für dieses Objekt nicht überschreitet oder außerhalb davon liegt.For example, a video inspection device may be used to inspect the surface of a blade of a turbine on an aircraft or power generation unit to detect any anomalies that may have formed on the surface to determine whether there is any repair or other maintenance is necessary. In order to perform the assessment, it is often necessary to obtain highly accurate dimensional surface and anomaly readings to verify that the anomaly does not exceed or exceed an operating limit or specification for that object.

Eine Videoinspektionsvorrichtung kann verwendet werden, um ein zweidimensionales Bild der Oberfläche eines betrachteten Objekts, welches die Anomalie aufweist, zu erhalten und anzuzeigen, um die Dimensionen einer Anomalie auf der Oberfläche zu bestimmen. Dieses zweidimensionale Bild der Oberfläche kann verwendet werden, um dreidimensionale Daten von der Oberfläche zu erzeugen, welche die dreidimensionalen Koordinaten (z.B. (x, y, z)) von mehreren Punkten auf der Oberfläche, einschließlich nahe an der Anomalie, liefern. In manchen Videoinspektionsvorrichtungen kann der Anwender die Videoinspektionsvorrichtung in einem Messmodus betätigen, um in einen Messbildschirm zu gelangen, in dem der Anwender Positionsanzeiger (Cursor) auf dem zweidimensionalen Bild platziert, um geometrische Abmessungen der Anomalie zu bestimmen. In vielen Fällen lässt sich der Umriss eines betrachteten Merkmals aus dem zweidimensionalen Bild nur schwer bestimmen, wodurch eine hochgenaue Platzierung der Positionsanzeiger in der Nähe der Anomalie schwierig ist. Wenn beispielsweise versucht wird, die Tiefe einer Anomalie zu messen, kann es schwierig sein, aus dem zweidimensionalen Bild den Ort der tiefste Stelle auf der Oberfläche der Anomalie zu bestimmen und einen Positionsanzeiger darauf zu platzieren.A video inspection device may be used to obtain and display a two-dimensional image of the surface of a viewed object having the anomaly to determine the dimensions of an anomaly on the surface. This two-dimensional image of the surface can be used to generate three-dimensional data from the surface that provide the three-dimensional coordinates (e.g., (x, y, z)) of multiple points on the surface, including near the anomaly. In some video inspection devices, the user may operate the video inspection device in a metering mode to enter a metering screen in which the user places cursor on the two-dimensional image to determine geometrical dimensions of the anomaly. In many cases, it is difficult to determine the outline of a feature of interest from the two-dimensional image, which makes high-precision placement of the position indicators in the vicinity of the anomaly difficult. For example, when attempting to measure the depth of an anomaly, it may be difficult to determine from the two-dimensional image the location of the lowest point on the surface of the anomaly and to place a position indicator on it.

In manchen Videoinspektionsvorrichtungen wird die Tiefe einer Anomalie dadurch bestimmt, dass nacheinander drei Positionsanzeiger um die Anomalie herum platziert werden, um eine Bezugsebene einzurichten, und dann ein vierter Positionsanzeiger auf einem Punkt nicht auf der Ebene platziert wird, um den senkrechten Abstand zwischen der Bezugsebene und der Oberfläche an dem vierten Punkt zu bestimmen. Diese Tiefenmessung wird am häufigsten verwendet, um zu versuchen, die tiefste Stelle auf der Oberfläche der Anomalie zu messen. Nachdem jeder Positionsanzeiger unter Verwendung eines Joysticks positioniert worden ist, drückt der Anwender einen Knopf bzw. eine Schaltfläche, um anzuzeigen, dass er mit diesem Positionsanzeiger fertig und für den nächsten bereit ist, wonach der neue Positionsanzeiger zunächst einmal willkürlich in der Mitte des Bildschirms positioniert wird. Daher muss der Anwender für den vierten Positionsanzeiger einer Tiefenmessung den Positionsanzeiger aus der Mitte des Bildschirms zu dem Ort der Anomalie bewegen und muss den Positionsanzeiger dann umherbewegen, um die tiefste Stelle auf der Oberfläche der Anomalie manuell zu finden. Dieser Vorgang kann Zeit beanspruchen und hat nicht immer zum Ergebnis, dass die tiefste Stelle identifiziert wird.In some video inspection devices, the depth of an anomaly is determined by successively placing three position indicators around the anomaly to establish a reference plane and then placing a fourth position indicator on a point not on the plane by the vertical distance between the reference plane and to determine the surface at the fourth point. This depth measurement is most commonly used to try to measure the deepest point on the surface of the anomaly. After each position indicator has been positioned using a joystick, the user presses a button to indicate that he is ready with this position indicator ready for the next, after which the new position indicator is initially positioned arbitrarily in the center of the screen becomes. Therefore, for the fourth position indicator of a depth measurement, the user must move the position indicator from the center of the screen to the location of the anomaly and then move the position indicator around to manually find the lowest point on the surface of the anomaly. This process can take time and does not always result in the lowest point being identified.

Die obige Erörterung wird nur dargeboten, um allgemeine Hintergrundinformationen zu liefern, und soll nicht als eine Hilfe verwendet werden, um den Umfang des beanspruchten Gegenstands zu bestimmen.The above discussion is offered only to provide general background information and is not to be taken as an aid to determining the scope of the claimed subject matter.

KURZE BESCHREIBUNG DER ERFINDUNGBRIEF DESCRIPTION OF THE INVENTION

Es werden ein Verfahren und eine Vorrichtung zur automatischen Identifizierung einer interessierenden Stelle (z.B. der tiefsten Stelle oder höchsten Stelle) auf der Oberfläche einer Anomalie an einem betrachteten Objekt unter Verwendung einer Videoinspektionsvorrichtung offenbart. Die Videoinspektionsvorrichtung erstellt ein Bild der Oberfläche des betrachteten Objekts und zeigt dieses an. Es wird eine Bezugsoberfläche zusammen mit einer interessierenden Region bestimmt, die mehrere Punkte auf der Oberfläche der Anomalie enthält. Die Videoinspektionsvorrichtung bestimmt eine Tiefe oder Höhe für jeden von den mehreren Punkten auf der Oberfläche der Anomalie in der interessierenden Region. Der Punkt auf der Oberfläche der Anomalie (z.B. mit der größten Tiefe oder Höhe) wird als die interessierende Stelle identifiziert. Dann wird ein Profil der Objektoberfläche an der interessierenden Stelle bestimmt.There is provided a method and apparatus for automatically identifying a point of interest (eg, the lowest point or highest point) on the surface of an anomaly a viewed object using a video inspection device disclosed. The video inspection device makes an image of the surface of the object under consideration and displays it. A reference surface is determined along with a region of interest containing multiple points on the surface of the anomaly. The video inspection device determines a depth or height for each of the multiple points on the surface of the anomaly in the region of interest. The point on the surface of the anomaly (eg, the greatest depth or height) is identified as the point of interest. Then a profile of the object surface at the point of interest is determined.

Ein Vorteil, der bei der praktischen Umsetzung einiger offenbarter Ausführungsformen des Verfahrens und der Vorrichtung zur automatischen Identifizierung der interessierenden Stelle auf der Oberfläche einer Anomalie verwirklicht werden kann, besteht darin, dass die Zeit für die Durchführung der Messung verkürzt ist und die Genauigkeit der Messung verbessert ist, da der Anwender die interessierende Stelle nicht manuell identifizieren muss. Außerdem liefern die resultierenden Ansichten (Profile, Punkte-Wolke, usw.), die die interessierende Stelle zeigen, eine genauere Darstellung der interessierenden Stelle. An advantage that can be realized in practicing some disclosed embodiments of the method and apparatus for automatically identifying the point of interest on the surface of an anomaly is that the time taken to perform the measurement is shortened and the accuracy of the measurement is improved because the user does not have to manually identify the point of interest. In addition, the resulting views (profiles, dot cloud, etc.) showing the point of interest provide a more accurate representation of the site of interest.

In einer Ausführungsform ist ein Verfahren zur automatischen Identifizierung einer interessierenden Stelle auf einer Oberfläche einer Anomalie auf einer Objektoberfläche eines betrachteten Objekts offenbart. Das Verfahren enthält die Schritte: Anzeigen eines Bildes der Objektoberfläche auf einem Monitor, Bestimmen der dreidimensionalen Koordinaten mehrerer Punkte auf der Objektoberfläche unter Verwendung einer zentralen Verarbeitungseinheit, Auswählen eines ersten Bezugslinienendpunktes auf einem ersten Pixel des Bildes unter Verwendung einer Zeigevorrichtung, Auswählen eines zweiten Bezugslinienendpunktes auf einem zweiten Pixel des Bildes unter Verwendung der Zeigevorrichtung, Bestimmen der dreidimensionalen Koordinaten mehrerer Punkte auf einer ersten Bezugslinie, die sich zwischen dem ersten Bezugslinienendpunkt und dem zweiten Bezugslinienendpunkt erstreckt, unter Verwendung der zentralen Verarbeitungseinheit, Auswählen eines dritten Bezugslinienendpunktes auf einem dritten Pixel des Bildes unter Verwendung der Zeigevorrichtung, Auswählen eines vierten Bezugslinienendpunktes auf einem vierten Pixel des Bildes unter Verwendung der Zeigevorrichtung, Bestimmen der dreidimensionalen Koordinaten mehrerer Punkte auf einer zweiten Bezugslinie, die sich zwischen dem dritten Bezugslinienendpunkt und dem vierten Bezugslinienendpunkt erstreckt, unter Verwendung der zentralen Verarbeitungseinheit, Bestimmen einer Bezugsoberfläche auf der Basis der dreidimensionalen Koordinaten von wenigstens zwei der mehreren Punkte auf der ersten Bezugslinie und wenigstens einem der mehreren Punkte auf der zweiten Bezugslinie unter Verwendung der zentralen Verarbeitungseinheit, Bestimmen einer interessierenden Region für die Bezugsoberfläche, die mehrere Punkte auf der Oberfläche der Anomalie aufweist, unter Verwendung der zentralen Verarbeitungseinheit, Bestimmen der Abstände zwischen der Bezugsoberfläche und den mehreren Punkten auf der Oberfläche der Anomalie in der interessierenden Region unter Verwendung der zentralen Verarbeitungseinheit, Bestimmen der dreidimensionalen Koordinaten des interessierenden Punktes auf der Oberfläche der Anomalie in der interessierenden Region, der den größten Abstand zu der Bezugsoberfläche aufweist, unter Verwendung der zentralen Verarbeitungseinheit, Bestimmen der dreidimensionalen Koordinaten mehrerer Punkte einer Profiloberflächenkonturlinie auf der Objektoberfläche zwischen der ersten Bezugslinie und der zweiten Bezugslinie, die den interessierenden Punkt auf der Oberfläche der Anomalie enthält, unter Verwendung der zentralen Verarbeitungseinheit, und Bestimmen eines Profils der Objektoberfläche durch Bestimmung des Abstands von der Bezugsoberfläche zu den mehreren Punkten der Profiloberflächenkonturlinie auf der Objektoberfläche unter Verwendung der zentralen Verarbeitungseinheit.In one embodiment, a method for automatically identifying a point of interest on a surface of an anomaly on an object surface of a viewed object is disclosed. The method includes the steps of displaying an image of the object surface on a monitor, determining the three-dimensional coordinates of a plurality of points on the object surface using a central processing unit, selecting a first datum endpoint on a first pixel of the image using a pointing device, selecting a second datum endpoint a second pixel of the image using the pointing device, determining the three-dimensional coordinates of a plurality of points on a first reference line extending between the first reference line end point and the second reference line end point using the central processing unit, selecting a third reference line end point on a third pixel of the image below Use of the pointing device, selecting a fourth reference line end point on a fourth pixel of the image using the pointing device, determining the three-dimensional one n coordinates of a plurality of points on a second reference line extending between the third reference line end point and the fourth reference line end point, using the central processing unit, determining a reference surface based on the three-dimensional coordinates of at least two of the plurality of points on the first reference line and at least one of a plurality of points on the second reference line using the central processing unit, determining a region of interest for the reference surface having a plurality of points on the surface of the anomaly, using the central processing unit, determining the distances between the reference surface and the plurality of points on the surface of the surface Anomaly in the region of interest using the central processing unit, determining the three-dimensional coordinates of the point of interest on the surface of the anomaly in the region of interest using the central processing unit, determining the three-dimensional coordinates of a plurality of points of a profile surface contour line on the object surface between the first reference line and the second reference line containing the point of interest on the surface of the anomaly, using the central processing unit, and determining a profile of the object surface by determining the distance from the reference surface to the plurality of points of the profile surface contour line on the object surface using the central processing unit.

Der Schritt des Bestimmens der dreidimensionalen Koordinaten der mehreren Punkte auf der ersten Bezugslinie kann ein Bestimmen einer ersten Bezugslinienebene, die die Objektoberfläche schneidet und durch den ersten Bezugslinienendpunkt und den zweiten Bezugslinienendpunkt verläuft, und Bestimmen der dreidimensionalen Koordinaten mehrerer Punkte einer ersten Oberflächenkonturlinie auf der Objektoberfläche in der Nähe der ersten Bezugslinienebene aufweisen.The step of determining the three-dimensional coordinates of the plural points on the first reference line may include determining a first reference line intersecting the object surface passing through the first reference line end point and the second reference line end point, and determining the three-dimensional coordinates of a plurality of points of a first surface contour line on the object surface near the first reference line level.

In dem Verfahren einer beliebigen vorstehend erwähnten Art kann die erste Bezugslinie gerade sein.In the method of any kind mentioned above, the first reference line may be straight.

Zusätzlich oder alternativ kann die Bezugsoberfläche eine Bezugsebene sein.Additionally or alternatively, the reference surface may be a reference plane.

In einer Ausführungsform weist der Schritt des Bestimmens einer interessierenden Region für die Bezugsoberfläche ein Bestimmen eines Polygons auf der Bezugsoberfläche mit Eckpunkten auf der Basis der wenigstens zwei von den mehreren Punkten auf der ersten Bezugslinie und des wenigstens einen von den mehreren Punkten auf der zweiten Bezugslinie auf, wobei die interessierende Region mehrere Punkte auf der Oberfläche der Anomalie aufweist, die auf Linien liegen, die zu der Bezugsoberfläche senkrecht verlaufen und die die Bezugsoberfläche innerhalb des Polygons schneiden.In one embodiment, the step of determining a region of interest for the reference surface comprises determining a polygon on the reference surface having vertices based on the at least two of the plurality of points on the first reference line and the at least one of the plurality of points on the second reference line wherein the region of interest has multiple points on the surface of the anomaly that lie on lines that are perpendicular to the reference surface and that intersect the reference surface within the polygon.

In einer weiteren Ausführungsform weist der Schritt des Bestimmens einer interessierenden Region für die Bezugsoberfläche ein Bestimmen einer Ebene der interessierenden Region auf, die die Bezugsoberfläche schneidet und durch die erste Bezugslinie zwischen den wenigstens zwei von den mehreren Punkten auf der ersten Bezugslinie verläuft, wobei die interessierende Region mehrere Punkte auf der Oberfläche der Anomalie aufweist, die innerhalb eines vorbestimmten Abstands zu der Ebene der interessierenden Region liegen. In a further embodiment, the step of determining a region of interest for the reference surface comprises determining a plane of the region of interest intersecting the reference surface and passing through the first reference line between the at least two of the plurality of points on the first reference line Region has multiple points on the surface of the anomaly, which are within a predetermined distance to the plane of the region of interest.

Ferner kann die Ebene der interessierenden Region die Bezugsoberfläche senkrecht zu der Bezugsoberfläche schneiden.Further, the plane of interest region may intersect the reference surface perpendicular to the reference surface.

Das Verfahren einer beliebigen vorstehend erwähnten Art kann ferner den Schritt des Anzeigens einer graphischen Darstellung des Profils der Objektoberfläche, die einen Querschnitt des betrachteten Objektes an der Profiloberflächenkonturlinie aufweist, auf dem Monitor aufweisen.The method of any kind mentioned above may further comprise the step of displaying on the monitor a graphical representation of the profile of the object surface having a cross-section of the object of interest on the profile surface contour line.

Zusätzlich oder alternativ kann das Verfahren ferner den Schritt des Anzeigens des Abstands zwischen der Bezugsoberfläche und dem interessierenden Punkt auf der Oberfläche der Anomalie auf dem Monitor aufweisen.Additionally or alternatively, the method may further comprise the step of displaying the distance between the reference surface and the point of interest on the surface of the anomaly on the monitor.

Weiter zusätzlich oder als eine weitere Alternative kann das Verfahren ferner den Schritt des Anzeigens eines Punkte-Wolke-Bildes, der eine dreidimensionale Darstellung der Profiloberflächenkonturlinie aufweist, auf dem Monitor aufweisen.Further additionally or as a further alternative, the method may further comprise the step of displaying on the monitor a dot cloud image having a three-dimensional representation of the tread surface contour line.

In dem Verfahren einer beliebigen vorstehend erwähnten Art kann das Bild ein zweidimensionales Bild sein.In the method of any kind mentioned above, the image may be a two-dimensional image.

In einer Ausführungsform weist der Schritt des Bestimmens der dreidimensionalen Koordinaten der mehreren Punkte auf der ersten Bezugslinie ein Durchführen einer Regression an den dreidimensionalen Koordinaten der Punkte auf der Objektoberfläche, die Pixeln des Bildes in der Nähe einer geraden Linie zwischen dem ersten Pixel und dem zweiten Pixel entsprechen, auf.In one embodiment, the step of determining the three-dimensional coordinates of the plurality of points on the first reference line comprises performing a regression on the three-dimensional coordinates of the points on the object surface, the pixels of the image in the vicinity of a straight line between the first pixel and the second pixel match, up.

In einer weiteren Ausführungsform weist der Schritt des Bestimmens der dreidimensionalen Koordinaten der mehreren Punkte auf der ersten Bezugslinie ein Durchführen einer Tiefpassfilterung an den dreidimensionalen Koordinaten der Punkte auf der Objektoberfläche, die Pixeln des Bildes in der Nähe einer geraden Linie zwischen dem ersten Pixel und dem zweiten Pixel entsprechen, auf.In another embodiment, the step of determining the three-dimensional coordinates of the plurality of points on the first reference line comprises performing low-pass filtering on the three-dimensional coordinates of the points on the object surface, the pixels of the image near a straight line between the first pixel and the second Pixels match, up.

In dem Verfahren einer beliebigen vorstehend erwähnten Art kann die Profiloberflächenkonturlinie auf der Objektoberfläche einen ersten Punkt auf oder in der Nähe der ersten Bezugslinie und einen zweiten Punkt auf oder in der Nähe der zweiten Bezugslinie aufweisen.In the method of any kind mentioned above, the tread surface contour line on the object surface may have a first point on or near the first reference line and a second point on or near the second reference line.

In einer weiteren Ausführungsform ist eine Vorrichtung zur automatischen Identifizierung einer interessierenden Stelle auf einer Oberfläche einer Anomalie an einer Objektoberfläche eines betrachteten Objektes offenbart. Die Vorrichtung weist einen Monitor zur Anzeige eines Bildes der Objektoberfläche, eine Zeigevorrichtung zur Auswahl eines ersten Bezugslinienendpunktes auf einem ersten Pixel des Bildes, zur Auswahl eines zweiten Bezugslinienendpunktes auf einem zweiten Pixel des Bildes, zur Auswahl eines dritten Bezugslinienendpunktes auf einem dritten Pixel des Bildes und zur Auswahl eines vierten Bezugslinienendpunktes auf einem vierten Pixel des Bildes und einen zentralen Prozessor zur Bestimmung der dreidimensionalen Koordinaten mehrerer Punkte auf der Objektoberfläche, zur Bestimmung der dreidimensionalen Koordinaten mehrerer Punkte auf einer ersten Bezugslinie, die sich zwischen dem ersten Bezugslinienendpunkt und dem zweiten Bezugslinienendpunkt erstreckt, zur Bestimmung der dreidimensionalen Koordinaten mehrerer Punkte auf einer zweiten Bezugslinie, die sich zwischen dem dritten Bezugslinienendpunkt und dem vierten Bezugslinienendpunkt erstreckt, zur Bestimmung einer Bezugsoberfläche auf der Basis der dreidimensionalen Koordinaten von wenigstens zwei der mehreren Punkte auf der ersten Bezugslinie und wenigstens einem der mehreren Punkte auf der zweiten Bezugslinie, zur Bestimmung einer interessierenden Region für die Bezugsoberfläche, die mehrere Punkte auf der Oberfläche der Anomalie aufweist, zur Bestimmung der Abstände zwischen der Bezugsoberfläche und den mehreren Punkten auf der Oberfläche der Anomalie in der interessierenden Region, zur Bestimmung der dreidimensionalen Koordinaten des interessierenden Punktes auf der Oberfläche der Anomalie in der interessierenden Region, der den größten Abstand zu der Bezugsoberfläche aufweist, zur Bestimmung der dreidimensionalen Koordinaten mehrerer Punkte einer Profiloberflächenkonturlinie auf der Objektoberfläche zwischen der ersten Bezugslinie und der zweiten Bezugslinie, die den interessierenden Punkt auf der Oberfläche der Anomalie enthält, und zur Bestimmung eines Profils der Objektoberfläche durch Bestimmung des Abstands von der Bezugsoberfläche zu den mehreren Punkten der Profiloberflächenkonturlinie auf der Objektoberfläche.In another embodiment, an apparatus for automatically identifying a point of interest on a surface of an anomaly on an object surface of a viewed object is disclosed. The apparatus includes a monitor for displaying an image of the object surface, a pointing device for selecting a first reference line end point on a first pixel of the image, selecting a second reference line end point on a second pixel of the image, selecting a third reference line end point on a third pixel of the image, and for selecting a fourth reference line end point on a fourth pixel of the image and a central processor for determining the three-dimensional coordinates of a plurality of points on the object surface, for determining the three-dimensional coordinates of a plurality of points on a first reference line extending between the first reference line end point and the second reference line end point, for determining the three-dimensional coordinates of a plurality of points on a second reference line extending between the third reference line end point and the fourth reference line end point for determining a reference surface on d it bases the three-dimensional coordinates of at least two of the plurality of points on the first reference line and at least one of the plurality of points on the second reference line to determine a region of interest for the reference surface having a plurality of points on the surface of the anomaly for determining the distances between the reference surface and the plurality of points on the surface of the anomaly in the region of interest, for determining the three-dimensional coordinates of the point of interest on the surface of the anomaly in the region of interest having the greatest distance to the reference surface for determining the three-dimensional coordinates of a plurality of points a profile surface contour line on the object surface between the first reference line and the second reference line containing the point of interest on the surface of the anomaly, and for determining a profile of the object surface by determining ng of the distance from the reference surface to the multiple points of the profile surface contour line on the object surface.

Diese kurze Beschreibung der Erfindung soll nur einen kurzen Überblick über den hierin offenbarten Gegenstand gemäß einer oder mehrerer erläuternder Ausführungsformen liefern und dient nicht als Leitfaden zur Interpretierung der Ansprüche oder zur Definition oder Begrenzung des Umfangs der Erfindung, der nur von den beigefügten Ansprüchen definiert wird. Diese kurze Beschreibung wird abgegeben, um in vereinfachter Form eine erläuternde Auswahl von Konzepten vorzustellen, die nachstehend in der detaillierten Beschreibung näher beschrieben sind. Diese kurze Beschreibung ist nicht dazu gedacht, die wichtigsten Merkmale oder wesentliche Merkmale des beanspruchten Gegenstands zu identifizieren, und sie soll auch nicht als Hilfsmittel verwendet werden, um den Umfang des beanspruchten Gegenstands zu bestimmen. Der beanspruchte Gegenstand ist nicht auf Implementierungen beschränkt, welche irgendwelche oder alle Nachteile, die in dem Hintergrundabschnitt erwähnt sind, lösen.This brief description of the invention is only intended to provide a brief overview of the subject matter disclosed herein in accordance with one or more illustrative embodiments, and does not serve as a guide to interpreting the claims or to defining or limiting the scope of the invention, which is to be understood solely from the appended claims is defined. This brief description is provided to introduce in simplified form an illustrative selection of concepts, which are described in more detail below in the detailed description. This brief description is not intended to identify key features or essential features of the claimed subject matter, nor is it intended to be used as a tool to determine the scope of the claimed subject matter. The claimed subject matter is not limited to implementations that solve any or all of the disadvantages mentioned in the Background section.

KURZE BESCHREIBUNG DER ZEICHNUNGENBRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS

Damit die Merkmale der Erfindung verständlich werden, kann eine detaillierte Beschreibung der Erfindung auf bestimmte Ausführungsformen Bezug nehmen, von denen einige in den beigefügten Zeichnungen veranschaulicht sind. Man beachte jedoch, dass die Zeichnungen nur bestimmten Ausführungsformen der Erfindung darstellen und daher nicht als Beschränkung ihres Umfangs aufzufassen sind, da der Umfang der Erfindung andere gleich wirksame Ausführungsformen umfasst. Die Zeichnungen sind nicht unbedingt maßstabsgetreu, wobei der Schwerpunkt allgemein auf der Verdeutlichung der Merkmale bestimmter Ausführungsformen der Erfindung liegt. In den Zeichnungen werden gleiche Bezugszahlen verwendet, um gleiche Teile in den verschiedenen Ansichten zu bezeichnen. Um die Erfindung besser verständlich zu machen, kann somit auf die folgende detaillierte Beschreibung Bezug genommen werden, die in Verbindung mit den Zeichnungen zu lesen ist, in denen zeigen:In order that the features of the invention may be understood, a detailed description of the invention may be made to certain embodiments, some of which are illustrated in the accompanying drawings. It should be understood, however, that the drawings illustrate only particular embodiments of the invention and are therefore not to be considered as limiting its scope, for the scope of the invention includes other equally effective embodiments. The drawings are not necessarily to scale, the emphasis generally being on illustrating the features of certain embodiments of the invention. In the drawings, like reference numerals are used to designate like parts throughout the several views. In order that the invention may be better understood, reference may now be made to the following detailed description taken in conjunction with the drawings, in which:

1 ein Blockdiagramm einer als Beispiel dienenden Videoinspektionsvorrichtung; 1 a block diagram of an exemplary video inspection device;

2 ein Beispiel für ein Bild, das durch die Videoinspektionsvorrichtung von der Oberfläche eines eine Anomalie aufweisenden betrachteten Objekts erhalten wird, in einem Ausführungsbeispiel der Erfindung; 2 an example of an image obtained by the video inspection device from the surface of an object having an anomaly in an embodiment of the invention;

3 ein Ablaufschema eines Beispiels für ein Verfahren und eine Vorrichtung zur automatischen Identifizierung der tiefsten Stelle auf der Oberfläche einer Anomalie an einem betrachteten Objekt, das in dem Bild von 2 gezeigt ist, in einem Ausführungsbeispiel der Erfindung ist; 3 FIG. 4 is a flowchart of an example of a method and apparatus for automatically identifying the lowest point on the surface of an anomaly on a viewed object shown in the image of FIG 2 is shown in one embodiment of the invention;

4 ein Beispiel für eine Bezugsoberfläche, die von der Videoinspektionsvorrichtung bestimmt worden ist; 4 an example of a reference surface determined by the video inspection device;

5 ein Beispiel für eine interessierende Region, die von der Videoinspektionsvorrichtung bestimmt worden ist; 5 an example of a region of interest, which has been determined by the video inspection device;

6 ein anderes Beispiel für eine interessierende Region zeigt, die von der Videoinspektionsvorrichtung bestimmt worden ist; und 6 shows another example of a region of interest, which has been determined by the video inspection device; and

7 eine grafische Darstellung eines Beispiels für ein Profil der Objektoberfläche des betrachteten Objekts, das in dem Bild von 1 gezeigt ist, in einem Ausführungsbeispiel der Erfindung; 7 5 is a graphic representation of an example of a profile of the object surface of the object under consideration, which is shown in the image of FIG 1 is shown, in one embodiment of the invention;

8 ein weiteres beispielhaftes Bild, das durch die Videoinspektionsvorrichtung von der Objektoberfläche eines betrachteten Objektes, das eine Anomalie aufweist, erstellt wird, in einem weiteren Ausführungsbeispiel der Erfindung; 8th another exemplary image created by the video inspection device from the object surface of a viewed object having an anomaly in another embodiment of the invention;

9 die Bestimmung einer beispielhaften Profiloberflächenkonturlinie auf der Objektoberfläche zwischen der ersten Bezugslinie und der zweiten Bezugslinie, einschließlich der interessierenden Stelle auf der Oberfläche der Anomalie; 9 determining an exemplary profile surface contour line on the object surface between the first reference line and the second reference line, including the point of interest on the surface of the anomaly;

10 eine graphische Darstellung eines weiteren beispielhaften Profils der Objektoberfläche des betrachteten Objektes, das in dem Bild nach 8 gezeigt ist, in einem Ausführungsbeispiel der Erfindung; und 10 a graphical representation of another exemplary profile of the object surface of the object under consideration, the in the image after 8th is shown, in one embodiment of the invention; and

11 ein Ablaufdiagramm eines weiteren beispielhaften Verfahrens zur automatischen Identifizierung einer interessierenden Stelle auf einer Oberfläche einer Anomalie auf einer Objektoberfläche eines betrachteten Objektes, das in dem Bild nach 8 gezeigt ist, in einem Ausführungsbeispiel der Erfindung. 11 5 is a flowchart of another exemplary method for automatically identifying a point of interest on a surface of an anomaly on an object surface of a viewed object following in the image 8th is shown, in one embodiment of the invention.

DETAILLIERTE BESCHREIBUNG DER ERFINDUNGDETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

1 ist ein Blockdiagramm einer als Beispiel dienenden Videoinspektionsvorrichtung 100. Es sei klargestellt, dass die in 1 gezeigte Videoinspektionsvorrichtung 100 ein Beispiel ist und dass der Umfang der Erfindung nicht auf irgendeine bestimmte Videoinspektionsvorrichtung 100 oder irgendeine bestimmte Gestaltung von Komponenten innerhalb einer Videoinspektionsvorrichtung 100 beschränkt ist. 1 Fig. 10 is a block diagram of an exemplary video inspection apparatus 100 , It should be clarified that the in 1 shown video inspection device 100 an example and that the scope of the invention is not limited to any particular video inspection device 100 or any particular design of components within a video inspection device 100 is limited.

Die Videoinspektionsvorrichtung 100 kann eine längliche Sonde 102 aufweisen, die ein Einführungsrohr 110 und eine Kopfbaugruppe 120, die am distalen Ende des Einführungsrohrs 110 angeordnet ist, umfasst. Das Einführungsrohr 110 kann ein flexibler, rohrförmiger Abschnitt sein, durch den sämtliche Verbindungen zwischen der Kopfbaugruppe 120 und einer Sondenelektronik 140 verlaufen. Die Kopfbaugruppe 120 kann eine Sondenoptik 122 aufweisen, um Licht von dem betrachteten Objekt 202 auf einen Bildgeber 124 zu lenken und zu fokussieren. Die Sondenoptik 122 kann z.B. eine Einzellinse oder eine Linse mit mehreren Komponenten umfassen. Der Bildgeber 124 kann ein Festkörper-CCD- oder CMOS-Bildsensor sein, mit dem ein Bild von dem betrachteten Objekt 202 erhalten wird.The video inspection device 100 can be an elongated probe 102 which have an insertion tube 110 and a head assembly 120 at the distal end of the insertion tube 110 is arranged comprises. The insertion tube 110 may be a flexible, tubular section through which all connections between the head assembly 120 and a probe electronics 140 run. The head assembly 120 can be a probe optics 122 to show light from the object being viewed 202 on an imager 124 to direct and focus. The probe optics 122 For example, it may comprise a single lens or a multi-component lens. Of the imager 124 may be a solid state CCD or CMOS image sensor that captures an image of the object being viewed 202 is obtained.

Eine abnehmbare Spitze oder ein Adapter 130 kann an dem distalen Ende der Kopfbaugruppe 120 angeordnet sein. Die abnehmbare Spitze 130 kann eine Spitzenbetrachtungsoptik 132 (z.B. Linsen, Fenster oder Öffnungen) aufweisen, die mit der Sondenoptik 122 zusammenwirkt, um Licht von dem betrachteten Objekt 202 auf einen Bildgeber 124 zu lenken und zu fokussieren. Die abnehmbare Spitze 130 kann auch Beleuchtungs-LEDs (nicht dargestellt) aufweisen, wenn die Lichtquelle für die Videoinspektionsvorrichtung 100 von der Spitze 130 ausgeht, oder sie kann ein lichtdurchlässiges Element (nicht dargestellt) aufweisen, das Licht von der Sonde 102 zu dem betrachteten Objekt 202 durchlässt. Die Spitze 130 kann auch die Fähigkeit zur seitlichen Betrachtung verleihen, wenn ein Wellenleiter (z.B. ein Prisma) aufgenommen wird, um den Kamerablick und die Lichtausgabe zur Seite zu drehen. Die Spitze 130 kann auch eine stereoskopische Optik oder strukturiertes Licht projizierende Elemente aufweisen, die verwendet werden, um dreidimensionale Daten der betrachteten Oberfläche zu bestimmen. Die Elemente, die in der Spitze 130 enthalten sein können, können auch in der Sonde 102 selbst enthalten sein.A removable tip or adapter 130 can be at the distal end of the head assembly 120 be arranged. The removable top 130 can be a top-viewing optic 132 (For example, lenses, windows or openings), with the probe optics 122 interacts to receive light from the object under consideration 202 on an imager 124 to direct and focus. The removable top 130 may also have illumination LEDs (not shown) when the light source for the video inspection device 100 from the top 130 or it may have a translucent element (not shown) that receives light from the probe 102 to the object under consideration 202 pass through. The summit 130 Also, it can impart the lateral viewing ability when a waveguide (eg, a prism) is picked up to turn the camera view and the light output to the side. The summit 130 may also include stereoscopic optics or structured light projecting elements used to determine three-dimensional data of the viewed surface. The elements in the top 130 may also be contained in the probe 102 to be self contained.

Der Bildgeber 134 kann mehrere Pixel aufweisen, die in mehreren Zeilen und Spalten ausgebildet sind, und kann Signale in Form von analogen Spannungen erzeugen, die Licht repräsentieren, das auf die einzelnen Pixel des Bildgebers 124 trifft. Die Bildsignale können durch eine Bildgebungshybrideinrichtung 126, die eine Elektronik für die Signalpufferung und -konditionierung bereitstellt, zu einem Kabelbaum 112 des Bildgebers übertragen werden, der Drähte für Steuer- und Videosignale zwischen der Hybrideinrichtung 126 und der Bildgeberschnittstellenelektronik 142 bereitstellt. Die Bildgeberschnittstellenelektronik 142 kann Leistungsversorgungen, einen Taktgenerator zur Erzeugung von Bildsensor-Taktsignalen, ein Analog-Frontend zum Digitalisieren des Bildgeber-Videoausgangssignals und einen Digitalsignalprozessor zum Verarbeiten der digitalisierten Bildgeber-Videodaten in ein besser geeignetes Format enthalten.The imager 134 may comprise a plurality of pixels formed in a plurality of rows and columns, and may generate signals in the form of analog voltages representing light responsive to the individual pixels of the imager 124 meets. The image signals may be transmitted through an imaging hybrid device 126 , which provides electronics for signal buffering and conditioning, to a wiring harness 112 of the imager, the wires for control and video signals between the hybrid device 126 and the imager interface electronics 142 provides. The imager interface electronics 142 may include power supplies, a clock generator for generating image sensor clock signals, an analog front end for digitizing the imager video output signal, and a digital signal processor for processing the digitized imager video data into a more suitable format.

Die Bildgeberschnittstellenelektronik 142 ist Teil der Sondenelektronik 140, die eine Reihe von Funktionen zum Betreiben der Videoinspektionsvorrichtung 10 bereitstellt. Die Sondenelektronik 140 kann außerdem einen Kalibrierungsspeicher 144 aufweisen, der die Kalibrierungsdaten für die Sonde 102 und/oder die Spitze 130 speichert. Ein Mikrocontroller 146 kann ebenfalls in der Sondenelektronik 140 enthalten sein, um mit der Bildgeberschnittstellenelektronik 142 zu kommunizieren, um Verstärkungs- und Belichtungseinstellungen zu bestimmen und einzustellen, Kalibrierungsdaten zu speichern und aus dem Kalibrierungsspeicher 144 auszulesen, das Licht, das zu dem betrachteten Objekt 202 geliefert wird, zu steuern bzw. zu regeln und mit einer zentralen Verarbeitungseinheit (CPU) 150 der Videoinspektionsvorrichtung 100 zu kommunizieren.The imager interface electronics 142 is part of the probe electronics 140 , which provides a number of functions for operating the video inspection device 10 provides. The probe electronics 140 also has a calibration memory 144 comprising the calibration data for the probe 102 and / or the top 130 stores. A microcontroller 146 can also be found in the probe electronics 140 be included with the imager interface electronics 142 to determine and adjust gain and exposure settings, to store calibration data and out of the calibration memory 144 to read out the light that belongs to the object under consideration 202 supplied, to be controlled and with a central processing unit (CPU) 150 the video inspection device 100 to communicate.

Zusätzlich zur Kommunikation mit dem Mikrocontroller 146 kann die Bildgeberschnittstellenelektronik 142 auch mit einem oder mehreren Videoprozessoren 160 kommunizieren. Der Videoprozessor 160 kann ein Videosignal von der Bildgeberschnittstellenelektronik 142 empfangen und Ausgangssignale an verschiedene Monitore 170, 172, einschließlich einer integrierten Anzeige 170 oder eines externen Monitors 172, ausgeben. Die integrierte Anzeige 170 kann ein LCD-Bildschirm sein, der in die Videoinspektionsvorrichtung 100 eingebaut ist, um einem Prüfer verschiedene Bilder oder Daten (z.B. das Bild des betrachteten Objekts 202, Menüs, Positionsanzeiger, Messergebnisse) anzuzeigen. Der externe Monitor 172 kann ein Videomonitor oder ein Computermonitor sein, der mit der Videoinspektionsvorrichtung 100 verbunden ist, um verschiedene Bilder oder Daten anzuzeigen.In addition to communication with the microcontroller 146 can the imager interface electronics 142 also with one or more video processors 160 communicate. The video processor 160 can be a video signal from the encoder interface electronics 142 receive and output signals to different monitors 170 . 172 including an integrated display 170 or an external monitor 172 , output. The integrated display 170 There may be an LCD screen in the video inspection device 100 is built to a reviewer different images or data (eg the image of the object under consideration 202 , Menus, position indicators, measurement results). The external monitor 172 may be a video monitor or a computer monitor connected to the video inspection device 100 connected to display various images or data.

Der Videoprozessor 160 kann Befehle, Zustandsinformationen, Videostreams, Videostandbilder und grafische Overlays an die CPU 150 auszugeben bzw. von dieser zu empfangen und kann aus FPGAs, DSPs oder anderen Verarbeitungselementen bestehen, die Funktionen wie Bildaufnahme, Bildverstärkung, Zusammenführen von grafischen Overlays, Korrektur von Verzerrungen, Bildmittelung, Skalierung, digitales Zoomen, Überlagern, Zusammenführen, Kippen, Bewegungserfassung und Videoformatumwandlung und -kompression bereitstellen.The video processor 160 can send commands, state information, video streams, video stills and graphical overlays to the CPU 150 and may consist of FPGAs, DSPs, or other processing elements that perform such functions as image acquisition, image enhancement, merging of graphical overlays, distortion correction, image averaging, scaling, digital zooming, overlaying, merging, tilting, motion detection, and video format conversion and compression.

Die CPU 150 kann verwendet werden, um die Anwenderschnittstelle durch den Empfang von Eingaben über einen Joystick 180, Schalter bzw. Tasten 182, eine Tastatur 184 und/oder ein Mikrofon 186 zu bewältigen, zusätzlich dazu, dass sie eine große Anzahl anderer Funktionen, einschließlich Bild-, Video- und Audiospeicherungs- und -abruffunktionen, Systemsteuerung und Messwertverarbeitung, bereitstellt. Der Joystick 180 kann vom Anwender manipuliert werden, um Operationen wie Menüauswahl, Cursorbewegung, Schieberjustierung und Bewegungssteuerung der Sonde 102 durchzuführen, und kann eine Drucktastenfunktion enthalten. Die Schalter bzw. Tasten 182 und/oder die Tastatur 184 können auch für die Menüauswahl und für die Ausgabe von Anwenderbefehlen (z.B. Einfrieren oder Speichern eines Standbildes) an die CPU 150 verwendet werden. Das Mikrofon 186 kann von dem Prüfer verwendet werden, um Sprachbefehle zum Einfrieren oder Speichern eines Standbildes auszugeben.The CPU 150 Can be used to control the user interface by receiving inputs via a joystick 180 , Switches or buttons 182 , a keyboard 184 and / or a microphone 186 in addition to providing a large number of other functions, including image, video and audio storage and retrieval functions, system control and measurement processing. The joystick 180 can be manipulated by the user to perform operations such as menu selection, cursor movement, slider adjustment, and motion control of the probe 102 and may include a push-button function. The switches or buttons 182 and / or the keyboard 184 can also be used for menu selection and for issuing user commands (eg freezing or saving a still image) to the CPU 150 be used. The microphone 186 can be used by the reviewer to issue voice commands to freeze or save a still image.

Der Videoprozessor 160 kann auch mit einem Videospeicher 162 kommunizieren, der von dem Videoprozessor 160 zum Frame-Puffern und zum Zwischenspeichern von Daten während der Verarbeitung verwendet wird. Die CPU 150 kann auch mit einem CPU-Programmspeicher 152 kommunizieren, der Programme speichert, die von der CPU 150 ausgeführt werden. Außerdem kann die CPU 150 mit einem flüchtigen Speicher 154 (z.B. einem RAM) und mit einem nicht-flüchtigen Speicher 156 (z.B. einer Flash-Speichervorrichtung, einem Festplattenlaufwerk, einer DVD oder einer EPROM-Speichervorrichtung) kommunizieren. Der nicht-flüchtige Speicher 156 ist der primäre Speicher für Videostreams und Standbilder. The video processor 160 can also use a video memory 162 communicate by the video processor 160 is used for frame buffering and caching of data during processing. The CPU 150 can also work with a CPU program memory 152 Communicate programs stored by the CPU 150 be executed. Besides, the CPU can 150 with a volatile memory 154 (eg a RAM) and with a non-volatile memory 156 (eg a flash memory device, hard disk drive, DVD or EPROM memory device). The non-volatile memory 156 is the primary storage for video streams and still images.

Die CPU 150 kann auch mit einer Computer-I/O-Schnittstelle 158 kommunizieren, die verschiedene Schnittstellen für periphere Vorrichtungen und Netze bereitstellt, wie USB, Firewire, Ethernet, Audio-I/O und drahtlose Transceiver. Diese Computer-I/O-Schnittstelle 158 kann verwendet werden, um Standbilder, Videostreams oder Audio zu speichern, abzurufen, zu übertragen und/oder zu empfangen. Zum Beispiel kann ein USB-Stick bzw. "Thumb Drive" oder eine CompactFlash-Speicherkarte in die Computer-I/O-Schnittstelle 158 gesteckt werden. Außerdem kann die Videoinspektionsvorrichtung 100 so eingerichtet sein, dass sie Frames von Bilddaten oder Videostream-Daten an einen externen Computer oder Server senden kann. Die Videoinspektionsvorrichtung 100 kann eine TCP/IP-Kommunikationsprotokollsuite enthalten und kann in einem Weitverkehrsnetzes enthalten sein, das mehrere lokale und ferne bzw. Remote-Computer enthält, wobei jeder von diesen Computern ebenfalls eine TCP/IP-Kommunikationsprotokoll-Suite enthält. Dadurch, dass sie die TCP/IP-Kommunikationsprotokoll-Suite enthält, weist die Videoinspektionsvorrichtung 100 mehrere Transportschichtprotokolle, einschließlich TCP und UDP, und mehrere andere Schichtprotokolle auf, einschließlich HTTP und FTP.The CPU 150 can also work with a computer I / O interface 158 which provides various interfaces for peripheral devices and networks, such as USB, Firewire, Ethernet, audio I / O, and wireless transceivers. This computer I / O interface 158 can be used to store, retrieve, transfer and / or receive still images, video streams or audio. For example, a USB stick or "Thumb Drive" or a CompactFlash memory card in the computer I / O interface 158 be plugged. In addition, the video inspection device 100 be configured to send frames of image data or video stream data to an external computer or server. The video inspection device 100 may include a TCP / IP communication protocol suite and may be included in a wide area network that includes multiple local and remote computers, each of which also includes a TCP / IP communication protocol suite. By including the TCP / IP communication protocol suite, the video inspection device assigns 100 multiple transport layer protocols, including TCP and UDP, and several other layer protocols, including HTTP and FTP.

Es sei klargestellt, dass in 1 bestimmte Komponenten als eine einzige Komponente dargestellt sind (z.B. die CPU 150), dass aber auch mehrere separate Komponenten verwendet werden können, um die Funktionen der Komponente auszuführen.It should be made clear that in 1 certain components are represented as a single component (eg the CPU 150 ), but several separate components can be used to perform the functions of the component.

2 ist ein Beispiel für ein Bild 200, das durch die Videoinspektionsvorrichtung 100 von der Objektoberfläche 210 eines eine Anomalie 204 aufweisenden betrachteten Objekts erhalten wird, in einem Ausführungsbeispiel der Erfindung. In diesem Beispiel ist die Anomalie 204 als eine Kerbe dargestellt, wo in der Anomalie 204 Material von der Objektoberfläche 210 des betrachteten Objekts 202 durch Beschädigung oder Abnutzung entfernt worden ist. Es sei klargestellt, dass die in diesem Ausführungsbeispiel dargestellte Anomalie 204 nur ein Beispiel ist und dass das Verfahren gemäß der Erfindung auf andere Arten von Unregelmäßigkeiten (z.B. Risse, Korrosionsgruben, Verlust einer Beschichtung, oberflächliche Anlagerungen usw.) angewendet werden kann. Sobald das Bild 200 erhalten worden ist und die Anomalie 204 erkannt worden ist, kann das Bild 200 verwendet werden, um die Abmessungen der Anomalie 204 (z.B. die Höhe oder die Tiefe, die Länge, die Breite, die Fläche, das Volumen, Punkt-zu-Linie, einen Profilschnitt usw.) zu bestimmen. In einer Ausführungsform kann das verwendete Bild 200 ein zweidimensionales Bild 200 der Objektoberfläche 210 des betrachteten Objekts 202 einschließlich der Anomalie 204 sein. 2 is an example of a picture 200 that through the video inspection device 100 from the object surface 210 one anomaly 204 having received viewed object, in one embodiment of the invention. In this example, the anomaly is 204 represented as a notch, where in the anomaly 204 Material from the object surface 210 of the considered object 202 has been removed by damage or wear. It should be understood that the anomaly illustrated in this embodiment 204 is only an example and that the method according to the invention can be applied to other types of imperfections (eg cracks, corrosion pits, loss of coating, superficial deposits, etc.). Once the picture 200 has been received and the anomaly 204 has been recognized, the picture can be 200 used to measure the dimensions of the anomaly 204 (eg height or depth, length, width, area, volume, point-to-line, profile section, etc.). In one embodiment, the image used 200 a two-dimensional picture 200 the object surface 210 of the considered object 202 including the anomaly 204 be.

3 ist ein Ablaufschema eines Beispiels für ein Verfahren 300 zur automatischen Identifizierung der tiefsten Stelle auf der Objektoberfläche 210 einer Anomalie 204 an einem betrachteten Objekt 202, das in dem Bild 200 von 2 gezeigt ist, in einem Ausführungsbeispiel der Erfindung. Es sei klargestellt, dass die in dem Ablaufschema von 3 beschriebenen Schritte in einer anderen Reihenfolge ausgeführt werden können, als in dem Ablaufschema dargestellt, und dass für manche Ausführungsformen nicht all die Schritte notwendig sind. 3 is a flowchart of an example of a method 300 for automatic identification of the lowest point on the object surface 210 an anomaly 204 on a viewed object 202 that in the picture 200 from 2 is shown, in one embodiment of the invention. It should be clarified that in the flow chart of 3 described steps can be performed in a different order than shown in the flowchart, and that for some embodiments, not all the steps are necessary.

Im Schritt 310 des Ausführungsbeispiels 300 (3), und wie in 2 dargestellt, kann der Anwender die Videoinspektionsvorrichtung 100 (z.B. den Bildgeber 124) verwenden, um mindestens ein Bild 200 der Objektoberfläche 210 eines betrachteten Objekts 202, das eine Anomalie 204 aufweist, zu erhalten und dieses auf einem Videomonitor (z.B. einer integrierten Anzeige 170 oder einem externen Monitor 172) anzuzeigen.In step 310 of the embodiment 300 ( 3 ), and as in 2 the user can view the video inspection device 100 (eg the imager 124 ) use at least one image 200 the object surface 210 of a considered object 202 That's an anomaly 204 to receive and this on a video monitor (eg an integrated display 170 or an external monitor 172 ).

Im Schritt 320 des Beispielsverfahrens 300 (3) kann die Videoinspektionsvorrichtung 100 (z.B. die CPU 150) die dreidimensionalen Koordinaten (z.B. (x, y, z)) von mehreren Oberflächenpunkten auf der Objektoberfläche 210 des betrachteten Objekts 202, einschließlich von Oberflächenpunkten der Anomalie 204, bestimmen. In einer Ausführungsform kann die Videoinspektionsvorrichtung dreidimensionale Daten von dem Bild 200 erzeugen, um die dreidimensionalen Koordinaten zu bestimmen. Es können mehrere existierende Techniken verwendet werden, um die dreidimensionalen Koordinaten der Oberflächenpunkte in dem Bild 200 (2) der Objektoberfläche 210 zu liefern (z.B. Stereo-, Abtastsysteme, Stereotriangulation, Strukturlichtverfahren, wie Phasenverschiebungsanalyse, Phasenverschiebungs-Moiré, Laserpunktprojektion usw.).In step 320 of the example procedure 300 ( 3 ), the video inspection device 100 (eg the CPU 150 ) the three-dimensional coordinates (eg, (x, y, z)) of several surface points on the object surface 210 of the considered object 202 , including surface points of the anomaly 204 , determine. In one embodiment, the video inspection device may obtain three-dimensional data from the image 200 generate to determine the three-dimensional coordinates. Several existing techniques can be used to obtain the three-dimensional coordinates of the surface points in the image 200 ( 2 ) of the object surface 210 (eg stereo, scanning, stereotriangulation, pattern light techniques, such as phase shift analysis, phase shift moire, laser spot projection, etc.).

Die meisten solchen Techniken verwenden Kalibrierungsdaten, die unter anderem Daten über optische Eigenschaften enthalten, die verwendet werden, um Fehler in den dreidimensionalen Koordinaten zu verringern, die andernfalls durch optische Verzerrungen hervorgerufen werden würden. Mit einigen Techniken können die dreidimensionalen Koordinaten unter Verwendung eines oder mehrerer Bilder, die in großer Zeitnähe aufgenommen wurden und die projizierten Muster und dergleichen enthalten können, bestimmt werden. Es sei klargestellt, dass Bezugnahmen auf dreidimensionale Koordinaten, die unter Verwendung des Bildes 200 bestimmt werden, auch dreidimensionale Koordinaten umfassen können, die unter Verwendung eines oder mehrerer in nahem zeitlichem Abstand aufgenommener Bilder 200 der Objektoberfläche 210 bestimmt werden, und dass das Bild 200, das dem Anwender während der beschriebenen Operationen angezeigt wird, bei der Bestimmung der dreidimensionalen Koordinaten tatsächlich verwendet worden sein kann, aber nicht muss.Most such techniques use calibration data that includes, among other things, optical property data used to detect errors in the three-dimensional Reduce coordinates that would otherwise be caused by optical distortions. With some techniques, the three-dimensional coordinates may be determined using one or more images taken in close proximity to time that may contain the projected patterns and the like. It should be understood that references to three-dimensional coordinates made using the image 200 may also comprise three-dimensional coordinates using one or more close-spaced images 200 the object surface 210 be determined and that the picture 200 which may be displayed to the user during the described operations, but may or may not have been used in determining the three-dimensional coordinates.

Im Schritt 330 des Beispielsverfahrens 300 (3), und wie in 4 dargestellt, kann die Videoinspektionsvorrichtung 100 (z.B. die CPU 150) eine Bezugsoberfläche 250 bestimmen. In manchen Ausführungsformen kann die Bezugsoberfläche 250 flach sein, während die Bezugsoberfläche 250 in anderen Ausführungsformen gekrümmt sein kann. Ebenso kann in einer Ausführungsform die Bezugsoberfläche 250 die Form einer Ebene aufweisen, während die Bezugsoberfläche 250 in anderen Ausführungsformen in einer anderen Form (z.B. als Zylinder, Kugel usw.) ausgebildet sein kann. Zum Beispiel kann ein Anwender den Joystick 180 (oder eine andere Zeigevorrichtung (z.B. eine Maus, einen berührungsempfindlichen Bildschirm) der Videoinspektionsvorrichtung 100 verwenden, um einen oder mehrere Bezugsoberflächenpunkte auf der Objektoberfläche 210 des betrachteten Objekts 202 in der Nähe der Anomalie 204 auszuwählen, um eine Bezugsoberfläche zu bestimmen.In step 330 of the example procedure 300 ( 3 ), and as in 4 shown, the video inspection device 100 (eg the CPU 150 ) a reference surface 250 determine. In some embodiments, the reference surface may 250 be flat while the reference surface 250 in other embodiments may be curved. Similarly, in one embodiment, the reference surface 250 have the shape of a plane while the reference surface 250 may be formed in other embodiments in a different form (eg as a cylinder, ball, etc.). For example, a user can use the joystick 180 (or another pointing device (eg, a mouse, a touch-sensitive screen) of the video inspection device 100 Use one or more reference surface points on the object surface 210 of the considered object 202 near the anomaly 204 to select a reference surface.

In einer Ausführungsform, und wie in 4 dargestellt, werden insgesamt drei Bezugsoberflächenpunkte 221, 222, 223 auf der Objektoberfläche 210 des betrachteten Objekts 202 in der Nähe der Anomalie 204 ausgewählt, um eine Tiefenmessung der Anomalie 204 durchzuführen, wobei die drei Bezugsoberflächenpunkte 221, 222, 223 auf der Objektoberfläche 210 in der Nähe der Anomalie 204 ausgewählt werden. In einer Ausführungsform können die mehreren Bezugsoberflächenpunkte 221, 222, 223 auf der Objektoberfläche 210 des betrachteten Objekts 202 dadurch ausgewählt werden, dass Bezugsoberflächen-Positionsanzeiger 231, 232, 233 (oder andere Zeigevorrichtungen) auf Pixeln 241, 242, 243 des Bildes 200 platziert werden, die den mehreren Bezugsoberflächenpunkten 221, 222, 223 auf der Objektoberfläche 210 entsprechen. In dem Beispiel für die Tiefenmessung kann die Videoinspektionsvorrichtung 100 (z.B. die CPU 150) die dreidimensionalen Koordinaten von jedem von den mehreren Bezugsoberflächenpunkten 221, 222, 223 bestimmen.In one embodiment, and as in 4 are shown, a total of three reference surface points 221 . 222 . 223 on the object surface 210 of the considered object 202 near the anomaly 204 selected to make a depth measurement of the anomaly 204 perform, with the three reference surface points 221 . 222 . 223 on the object surface 210 near the anomaly 204 to be selected. In an embodiment, the plurality of reference surface points 221 . 222 . 223 on the object surface 210 of the considered object 202 be selected by reference surface position indicator 231 . 232 . 233 (or other pointing devices) on pixels 241 . 242 . 243 of the picture 200 are placed, which are the multiple reference surface points 221 . 222 . 223 on the object surface 210 correspond. In the example of the depth measurement, the video inspection device 100 (eg the CPU 150 ) the three-dimensional coordinates of each of the plurality of reference surface points 221 . 222 . 223 determine.

Die dreidimensionalen Koordinaten von drei oder mehreren Oberflächenpunkten in der Nähe von einem oder mehreren von den drei Bezugsoberflächenpunkten 221, 222, 223, die auf der Objektoberfläche 210 in der Nähe der Anomalie 204 ausgewählt worden sind, können verwendet werden, um eine Bezugsoberfläche 250 (z.B. eine Ebene) zu bestimmen. In einer Ausführungsform kann die Videoinspektionsvorrichtung 100 (z.B. die CPU 150) eine Kurvenanpassung der dreidimensionalen Koordinaten der drei Bezugsoberflächenpunkte 221, 222, 223 durchführen, um eine Gleichung für die Bezugsoberfläche 250 (z.B. für eine Ebene) zu bestimmen, welche die folgende Form aufweist: k0RS + k1RS1·xiRS + k2RS·yiRS1 = ziRS (1) worin (xiRS, yiRS, ziRS) Koordinaten von irgendwelchen drei Dimensionspunkten auf der definierten Bezugsoberfläche 250 sind und k0RS, k1RS und k2RS Koeffizienten sind, die durch eine Kurvenanpassung der dreidimensionalen Koordinaten erhalten werden.The three-dimensional coordinates of three or more surface points near one or more of the three reference surface points 221 . 222 . 223 on the object surface 210 near the anomaly 204 can be used to make a reference surface 250 (eg a level). In an embodiment, the video inspection device 100 (eg the CPU 150 ) a curve fit of the three-dimensional coordinates of the three reference surface points 221 . 222 . 223 Perform an equation for the reference surface 250 (eg for a plane), which has the following form: k 0RS + k 1RS1 · x iRS + k 2RS · y iRS1 = z iRS (1) where (x iRS , y iRS , z iRS ) coordinates of any three dimension points on the defined reference surface 250 and k are 0RS , k is 1RS and k is 2RS coefficients obtained by a curve fitting of the three-dimensional coordinates.

Es sei klargestellt, dass mehrere Bezugsoberflächenpunkte (d.h. mindestens so viele Punkte wie die Anzahl der k Koeffizienten) verwendet werden, um die Kurvenanpassung durchzuführen. Die Kurvenanpassung findet die k Koeffizienten, die den besten Fit für die verwendeten Punkte liefern (z.B. die Methode der kleinsten Quadrate). Die k Koeffizienten definieren dann die Ebene oder andere Bezugsoberfläche 250, welche die verwendeten dreidimensionalen Punkte approximiert. Werden in der Kurvenanpassung jedoch mehr Punkte verwendet, als k Koeffizienten vorhanden sind, so stimmen allerdings, wenn man die x- und y-Koordinaten der verwendeten Punkte in die Ebenengleichung (1) einsetzt, die z-Ergebnisse wegen des Rauschens und etwaiger Abweichungen von einer Ebene, die tatsächlich existieren können, im Allgemeinen nicht exakt mit den z-Koordinaten der Punkte überein. Somit können xiRS1 und yiRS1 arbiträre Werte sein, und der resultierende ziRS verrät einem, was z in der definierten Ebene bei xiRS, yiRS ist. Somit können die Koordinaten, die in diesen Gleichungen dargestellt sind, für arbiträre Punkte gelten, die exakt auf der definierten Oberfläche liegen, aber nicht notwendigerweise für die Punkte, die bei der Anpassung verwendet werden, um die k Koeffizienten zu bestimmen.It should be understood that multiple reference surface points (ie, at least as many points as the number of k coefficients) are used to perform the curve fit. The curve fit finds the k coefficients that provide the best fit for the points used (eg the least squares method). The k coefficients then define the plane or other reference surface 250 which approximates the three-dimensional points used. However, if more points are used in the curve fitting than k coefficients are present, then the x and y coordinates of the points used in the plane equation ( 1 ), the z-results due to noise and any deviations from a plane that can actually exist generally do not exactly match the z-coordinates of the points. Thus, x iRS1 and y iRS1 may be arbitrary values, and the resulting z iRS reveals what z is in the defined plane at x iRS , y iRS . Thus, the coordinates represented in these equations may apply to arbitrary points that are exactly on the defined surface, but not necessarily to the points used in the fitting to determine the k coefficients.

In anderen Ausführungsformen wird nur einer oder werden nur zwei Bezugsoberflächenpunkte ausgewählt, wodurch die Verwendung der Kurvenanpassung lediglich auf Basis von dreidimensionalen Koordinaten für diese Bezugsoberflächenpunkte nicht in Frage kommt, da drei Punkte benötigt werden, um k0RS, k1RS und k2RS zu bestimmen. In diesem Fall kann die Videoinspektionsvorrichtung 100 (z.B. die CPU 150) mehrere Pixel in der Nähe der einzelnen Pixel des Bildes identifizieren, die mehreren Punkten auf der Objektoberfläche 210 in der Nähe des bzw. der Bezugsoberflächenpunkt(e) entsprechen, und die dreidimensionalen Koordinaten des nahen Punkts bzw. der nahen Punkte bestimmen, wodurch eine Kurvenanpassung zur Bestimmung einer Bezugsoberfläche 250 ermöglicht wird.In other embodiments, only one or only two reference surface points are selected, which eliminates the use of curve fitting based solely on three-dimensional coordinates for these reference surface points, since three points are needed to determine k 0RS , k 1RS, and k 2RS . In In this case, the video inspection device 100 (eg the CPU 150 ) identify multiple pixels near the individual pixels of the image, the multiple points on the object surface 210 in the vicinity of the reference surface point (s), and determine the three-dimensional coordinates of the near point (s), thereby providing curve fitting for determining a reference surface 250 is possible.

Obwohl das Beispiel für eine Bezugsoberfläche 250 auf Basis von Bezugsoberflächenpunkten 221, 222, 223 beschrieben wurde, die durch Bezugsoberflächen-Positionsanzeiger 231, 232, 233 ausgewählt werden, kann die Bezugsoberfläche 250 in anderen Ausführungsformen unter Verwendung einer Zeigevorrichtung ausgebildet werden, mit der eine Bezugsoberflächenform (z.B. ein Kreis, ein Quadrat, ein Rechteck, ein Dreieck usw.) in die Nähe der Anomalie platziert wird und die Bezugsoberflächenpunkte 261, 262, 263, 264 der Form 260 verwendet werden, um die Bezugsoberfläche 250 zu bestimmen. Es sei klargestellt, dass die Bezugsoberflächenpunkte 261, 262, 263, 264 der Form 260 Punkte, die durch die Zeigevorrichtung ausgewählt werden, oder andere Punkte sein können, die auf oder in der Nähe der Umfangslinie der Form liegen, die so bemessen sein kann, dass sie die Anomalie 204 umschließt.Although the example of a reference surface 250 based on reference surface points 221 . 222 . 223 by reference surface position indicator 231 . 232 . 233 can be selected, the reference surface 250 in other embodiments, using a pointing device with which a reference surface shape (eg, a circle, a square, a rectangle, a triangle, etc.) is placed in the vicinity of the anomaly and the reference surface points 261 . 262 . 263 . 264 the form 260 used to cover the reference surface 250 to determine. It should be understood that the reference surface points 261 . 262 . 263 . 264 the form 260 Points selected by the pointing device or may be other points lying on or near the perimeter of the shape, which may be sized to be the anomaly 204 encloses.

Im Schritt 340 des Beispielsverfahrens 300 (3), und wie in 5 dargestellt, bestimmt die Videoinspektionsvorrichtung 100 (z.B. die CPU 150) eine interessierende Region 270 in der Nähe der Anomalie 204 auf Basis der Bezugsoberflächenpunkte der Bezugsoberfläche 250. Die interessierende Region 270 enthält mehrere Oberflächenpunkte der Anomalie 204. In einer Ausführungsform wird eine interessierende Region 270 durch Ausbilden einer Form der interessierenden Region 271 (z.B. eines Kreises) auf Basis von zwei oder mehreren von den Bezugsoberflächenpunkten 221, 222, 223 gebildet. In einer anderen Ausführungsform kann die interessierende Region 270 dadurch gebildet werden, dass man einen Zylinder senkrecht zu der Bezugsoberfläche 260 ausbildet und ihn durch oder in die Nähe von zwei oder mehreren von den Bezugsoberflächenpunkten 221, 222, 223 führt. Indem erneut auf 4 Bezug genommen wird, könnte eine interessierende Region innerhalb der Bezugsoberflächenform 260 und der Bezugsoberflächenpunkte 261, 262, 263, 264 gebildet werden.In step 340 of the example procedure 300 ( 3 ), and as in 5 shown determines the video inspection device 100 (eg the CPU 150 ) a region of interest 270 near the anomaly 204 based on the reference surface points of the reference surface 250 , The region of interest 270 contains several surface points of the anomaly 204 , In one embodiment, a region of interest becomes 270 by forming a shape of the region of interest 271 (eg, a circle) based on two or more of the reference surface points 221 . 222 . 223 educated. In another embodiment, the region of interest may be 270 be formed by a cylinder perpendicular to the reference surface 260 and train it through or near two or more of the reference surface points 221 . 222 . 223 leads. By again on 4 Reference may be made to a region of interest within the reference surface shape 260 and the reference surface points 261 . 262 . 263 . 264 be formed.

Obwohl das Beispiel für die Form 271 der interessierenden Region in 5 so gebildet wird, dass sie durch die Bezugsoberflächenpunkte 221, 222, 223 verläuft, kann in einer anderen Ausführungsform eine Bezugsoberflächenform mit kleinerem Durchmesser so gebildet werden, dass sie nur in der Nähe der Bezugsoberflächenpunkte verläuft. Wie in 6 dargestellt ist, wird beispielsweise eine interessierende Region 280 dadurch gebildet, dass man eine Form 281 der interessierenden Region (z.B. einen Kreis) so anordnet, dass er in der Nähe von zwei der Bezugsoberflächenpunkte 221, 222 verläuft, wobei der Durchmesser des Kreises 281 kleiner ist als der Abstand zwischen den beiden Bezugsoberflächenpunkten 221, 222 ist. Es sei klargestellt, dass die Formen 271, 281 der interessierenden Region und die Regionen von Interesse 270, 280 auf dem Bild 200 dargestellt werden können, aber nicht müssen.Although the example of the form 271 the region of interest in 5 is formed so that it passes through the reference surface points 221 . 222 . 223 In another embodiment, a smaller diameter reference surface shape may be formed to extend only near the reference surface points. As in 6 is a region of interest, for example 280 formed by having a shape 281 of the region of interest (eg, a circle) so that it is near two of the reference surface points 221 . 222 runs, with the diameter of the circle 281 is less than the distance between the two reference surface points 221 . 222 is. It should be made clear that the forms 271 . 281 the region of interest and the regions of interest 270 . 280 in the picture 200 can be represented, but not necessarily.

Nachdem die interessierende Region 270, 280 bestimmt worden ist, bestimmt die Videoinspektionsvorrichtung 100 (z.B. die CPU 150) im Schritt 350 des Beispielsverfahrens 300 (3) den Abstand (d.h. die Tiefe) von jedem von den mehreren Oberflächenpunkten in der interessierenden Region zu der Bezugsoberfläche 250. In einer Ausführungsform bestimmt die Videoinspektionsvorrichtung 100 (z.B. die CPU 150) die Länge einer Linie, die zwischen der Bezugsoberfläche 250 und jedem von den mehreren Oberflächenpunkten in der interessierenden Region 270, 280 verläuft, wobei die Linie die Bezugsoberfläche 250 senkrecht schneidet.After the region of interest 270 . 280 has been determined determines the video inspection device 100 (eg the CPU 150 ) in step 350 of the example procedure 300 ( 3 ) the distance (ie the depth) of each of the multiple surface points in the region of interest to the reference surface 250 , In one embodiment, the video inspection device determines 100 (eg the CPU 150 ) the length of a line between the reference surface 250 and each of the multiple surface points in the region of interest 270 . 280 runs, the line being the reference surface 250 vertical cuts.

Im Schritt 360 des Beispielsverfahrens 300 (3) bestimmt die Videoinspektionsvorrichtung den Ort der tiefsten Oberflächenstelle 224 in der interessierenden Region 270, 280 durch Bestimmung des Oberflächenpunktes, der am weitesten von der Bezugsoberfläche 250 entfernt ist (z.B. durch Auswählen des Oberflächenpunktes mit der längsten Linie, die zu der Bezugsoberfläche 250 verläuft). Es sei klargestellt, dass die "tiefste Stelle" (bzw. der "tiefste Punkt") oder die "tiefste Oberflächenstelle" (bzw. der "tiefste Oberflächenpunkt") eine am weitesten entfernte Stelle, die in Bezug auf die Bezugsoberfläche 250 zurückgesetzt ist, oder eine am weitesten entfernte Stelle sein (d.h. der höchste Punkt) sein kann, die von der Bezugsoberfläche 250 vorsteht. Die Videoinspektionsvorrichtung 100 kann die tiefste Oberflächenstelle 224 in der interessierenden Region 270, 280 auf dem Bild durch Anzeigen z.B. eines Positionsanzeigers 234 (5) oder einer anderen grafischen Kennzeichnung 282 (6) auf der tiefsten Oberflächenstelle 224 kennzeichnen. Außerdem kann die Videoinspektionsvorrichtung 100, wie in 5 und 6 dargestellt ist, die Tiefe 290 der tiefsten Oberflächenstelle 224 in der interessierenden Region 270, 280 (z.B. die Länge der senkrechten Linie, die von der tiefsten Oberflächenstelle 224 zu der Bezugsoberfläche 250 verläuft) auf dem Bild 200 (in Zoll oder Millimeter) anzeigen. Dadurch, dass der Positionsanzeiger 234 oder die andere grafische Kennzeichnung 282 (6) automatisch an der tiefsten Oberflächenstelle 224 in der interessierenden Region 270, 280 angezeigt wird, verkürzt die Videoinspektionsvorrichtung 100 die Zeit, die nötig ist, um die Tiefenmessung durchzuführen, und sie verbessert die Genauigkeit der Tiefenmessung, da der Anwender die tiefste Oberflächenstelle 224 in der Anomalie 204 nicht manuell kennzeichnen muss.In step 360 of the example procedure 300 ( 3 ), the video inspection device determines the location of the deepest surface location 224 in the region of interest 270 . 280 by determining the surface point farthest from the reference surface 250 is removed (eg by selecting the surface point with the longest line to the reference surface 250 runs). It should be understood that the "lowest point" (or "deepest point") or "deepest surface point" (or "deepest surface point") is a farthest point relative to the reference surface 250 is reset, or can be the farthest point (ie the highest point) from the reference surface 250 protrudes. The video inspection device 100 can be the deepest surface area 224 in the region of interest 270 . 280 in the picture by displaying eg a position indicator 234 ( 5 ) or other graphic designation 282 ( 6 ) on the deepest surface 224 mark. In addition, the video inspection device 100 , as in 5 and 6 is shown, the depth 290 the deepest surface area 224 in the region of interest 270 . 280 (eg, the length of the vertical line from the deepest surface point 224 to the reference surface 250 runs) in the picture 200 (in inches or millimeters). Because of the position indicator 234 or the other graphic designation 282 ( 6 ) automatically at the deepest surface 224 in the region of interest 270 . 280 is displayed, shortens the video inspection device 100 The time it takes to perform the depth measurement and improves the accuracy of the depth measurement, as the Users the deepest surface area 224 in the anomaly 204 do not have to mark manually.

Sobald der Positionsanzeiger 234 an der tiefsten Oberflächenstelle 224 in der interessierenden Region 270, 280 angezeigt wird, kann der Anwender diesen Punkt auswählen und eine Tiefenmessung vornehmen und speichern. Der Anwender kann außerdem den Positionsanzeiger 234 in der interessierenden Region 270, 280 bewegen, um die Tiefe anderer Oberflächenpunkte in der interessierenden Region 270, 280 zu bestimmen. In einer Ausführungsform kann die Videoinspektionsvorrichtung 100 (z.B. die CPU 150) die Bewegung des Positionsanzeigers 234 überwachen und erfassen, wenn der Positionsanzeiger 234 aufgehört hat sich zu bewegen. Wenn sich der Positionsanzeiger 234 über eine vorgegebene Zeit (z.B. 1 Sekunde) nicht mehr bewegt hat, kann die Videoinspektionsvorrichtung 100 (z.B. die CPU 150) die tiefste Oberflächenstelle in der Nähe des Positionsanzeigers 234 (z.B. in einem vorgegebenen Kreis mit dem Positionsanzeiger 234 als Mittelpunkt) bestimmen und den Positionsanzeiger 234 automatisch in diese Position überführen.Once the cursor 234 at the deepest surface 224 in the region of interest 270 . 280 is displayed, the user can select this point and make a depth measurement and save. The user can also see the cursor 234 in the region of interest 270 . 280 move to the depth of other surface points in the region of interest 270 . 280 to determine. In an embodiment, the video inspection device 100 (eg the CPU 150 ) the movement of the position indicator 234 monitor and record when the cursor is 234 has stopped moving. When the cursor is 234 has not moved for a predetermined time (eg 1 second), the video inspection device 100 (eg the CPU 150 ) the deepest surface location near the cursor 234 (eg in a given circle with the cursor 234 as the center point) and the position indicator 234 automatically transfer to this position.

7 ist eine grafische Darstellung eines Beispielsprofils 400 der Objektoberfläche 210 des betrachteten Objekts 202, das in dem Bild 200 von 1 gezeigt ist. In diesem Beispielsprofil 400 ist die Bezugsoberfläche 250 veranschaulicht, wie sie sich zwischen zwei Bezugsoberflächenpunkten 221, 222 und ihren jeweiligen Bezugsoberflächen-Positionsanzeigern 231, 232 erstreckt. Der Ort und die Tiefe 290 der tiefsten Oberflächenstelle 224 in der interessierenden Region sind in der grafischen Darstellung ebenfalls gezeigt. In einer anderen Ausführungsform kann auch eine Punkte-Wolke-Ansicht verwendet werden, um die tiefste Oberflächenstelle 224 zu zeigen. 7 is a graphical representation of a sample profile 400 the object surface 210 of the considered object 202 that in the picture 200 from 1 is shown. In this example profile 400 is the reference surface 250 illustrates how it relates between two reference surface points 221 . 222 and their respective reference surface position indicators 231 . 232 extends. The place and the depth 290 the deepest surface area 224 in the region of interest are also shown in the graph. In another embodiment, a point-cloud view may also be used to determine the deepest surface location 224 to show.

8 zeigt ein weiteres beispielhaftes Bild 500, das durch die Videoinspektionsvorrichtung 100 von der Objektoberfläche 210 eines betrachteten Objektes 202, das eine Anomalie 204 aufweist, in einer weiteren beispielhaften Ausführungsform der Erfindung erstellt wurde. In diesem Beispiel ist die Anomalie 204 wiederum als eine Kerbe veranschaulicht, an der Material von der Objektoberfläche 210 des betrachteten Objektes 202 in der Anomalie 204 durch Beschädigung oder Verschleiß entfernt worden ist. Es wird verstanden, dass die in diesem Ausführungsbeispiel veranschaulichte Anomalie 204 nur ein Beispiel darstellt und dass das erfindungsgemäße Verfahren für andere Arten von Unregelmäßigkeiten (z.B. Risse, Korrosionsgruben, Verlust einer Beschichtung, oberflächliche Anlagerungen, usw.) gilt. Sobald das Bild 500 erhalten worden ist und die Anomalie 204 identifiziert ist, kann das Bild 500 verwendet werden, um die Abmessungen der Anomalie 204 (z.B. die Höhe oder Tiefe, Länge, Weite, Fläche, das Volumen, Punkt-zu-Linie, einen Profilschnitt, usw.) zu bestimmen. In einer Ausführungsform kann das verwendete Bild 500 ein zweidimensionales Bild 500 von der Objektoberfläche 210 des betrachteten Objektes 202 einschließlich der Anomalie 204 sein. In einer weiteren Ausführungsform kann das Bild 500 eine Punkte-Wolke oder eine andere dreidimensionale Darstellung der Objektoberfläche 210 des betrachteten Objektes 202 einschließlich der Anomalie 204 sein. 8th shows another example picture 500 that through the video inspection device 100 from the object surface 210 of a considered object 202 That's an anomaly 204 has been created in a further exemplary embodiment of the invention. In this example, the anomaly is 204 again illustrated as a notch, on the material from the object surface 210 of the considered object 202 in the anomaly 204 has been removed by damage or wear. It will be understood that the anomaly illustrated in this embodiment 204 represents only an example and that the method according to the invention applies to other types of irregularities (eg cracks, corrosion pits, loss of coating, superficial deposits, etc.). Once the picture 500 has been received and the anomaly 204 is identified, the picture may be 500 used to measure the dimensions of the anomaly 204 (eg height or depth, length, width, area, volume, point-to-line, profile section, etc.). In one embodiment, the image used 500 a two-dimensional picture 500 from the object surface 210 of the considered object 202 including the anomaly 204 be. In a further embodiment, the image 500 a point cloud or other three-dimensional representation of the object surface 210 of the considered object 202 including the anomaly 204 be.

11 zeigt ein Flussdiagramm eines weiteren beispielhaften Verfahrens 700 zur automatischen Identifizierung einer interessierenden Stelle 502 auf einer Oberfläche einer Anomalie 204 auf einer Objektoberfläche 210 eines betrachteten Objektes 202, das in dem Bild 500 nach 8 gezeigt ist, in einer beispielhaften Ausführungsform der Erfindung. Es wird verstanden, dass die in dem Ablaufdiagramm nach 11 beschriebenen Schritte in einer anderen Reihenfolge, als in dem Ablaufdiagramm dargestellt, durchgeführt werden können und dass für manche Ausführungsformen nicht all die Schritte erforderlich sind. 11 shows a flowchart of another exemplary method 700 for automatically identifying a point of interest 502 on a surface of an anomaly 204 on an object surface 210 of a considered object 202 that in the picture 500 to 8th is shown in an exemplary embodiment of the invention. It is understood that the in the flowchart 11 described steps can be performed in a different order than shown in the flowchart and that for some embodiments not all the steps are required.

Im Schritt 710 des beispielhaften Verfahrens 700 (11), und wie in 8 veranschaulicht, kann der Anwender die Videoinspektionsvorrichtung 100 (z.B. den Bildgeber 124) verwenden, um wenigstens ein Bild 500 von der Objektoberfläche 210 eines betrachteten Objektes 202, das eine Anomalie 204 aufweist, zu erstellen und dieses auf einem Videomonitor (z.B. einer integrierten Anzeige 170 oder einem externen Monitor 172) anzuzeigen. In einer Ausführungsform kann das Bild 500 in einem Messmodus der Videoinspektionsvorrichtung 100 angezeigt werden.In step 710 of the exemplary method 700 ( 11 ), and as in 8th illustrates, the user can the video inspection device 100 (eg the imager 124 ) use at least one picture 500 from the object surface 210 of a considered object 202 That's an anomaly 204 and to create this on a video monitor (eg an integrated display 170 or an external monitor 172 ). In one embodiment, the image 500 in a measuring mode of the video inspection device 100 are displayed.

Im Schritt 720 des beispielhaften Verfahrens 700 (11) bestimmt die Videoinspektionsvorrichtung 100 (z.B. die CPU 150) die dreidimensionalen Koordinaten (z.B. (x, y, z)) von mehreren Oberflächenpunkten auf der Objektoberfläche 210 des betrachteten Objektes 202, einschließlich der Oberflächenpunkte 501, 502, 503 der Anomalie 204. In einer Ausführungsform kann die Videoinspektionsvorrichtung dreidimensionale Daten aus dem Bild 500 generieren, um die dreidimensionalen Koordinaten zu bestimmen. Es können mehrere verschiedene existierende Techniken verwendet werden, um die dreidimensionalen Koordinaten der Oberflächenpunkte in dem Bild 500 (8) der Objektoberfläche 210 zu liefern (z.B. Stereo-, Abstastsysteme, Stereotriangulation, Strukturlichtverfahren, wie Phasenverschiebungsanalyse, Phasenverschiebungs-Moiré, Laserpunktprojektion, usw.).In step 720 of the exemplary method 700 ( 11 ) determines the video inspection device 100 (eg the CPU 150 ) the three-dimensional coordinates (eg, (x, y, z)) of several surface points on the object surface 210 of the considered object 202 , including the surface points 501 . 502 . 503 the anomaly 204 , In an embodiment, the video inspection device may obtain three-dimensional data from the image 500 generate to determine the three-dimensional coordinates. Several different existing techniques can be used to obtain the three-dimensional coordinates of the surface points in the image 500 ( 8th ) of the object surface 210 (eg, stereo, scanning systems, stereotriangulation, pattern light techniques, such as phase shift analysis, phase shift moire, laser spot projection, etc.).

Erneut umfassen die meisten derartigen Techniken die Verwendung von Kalibrierungsdaten, die unter anderem Daten über optische Eigenschaften enthalten, die verwendet werden, um Fehler in den dreidimensionalen Koordinaten zu verringern, die andernfalls durch optische Verzerrungen hervorgerufen werden würden. Mit einigen Techniken können die dreidimensionalen Koordinaten unter Verwendung eines oder mehrerer Bilder, die in großer Zeitnähe aufgenommen wurden und die projizierten Muster und dergleichen enthalten können, bestimmt werden. Es wird verstanden, dass Bezugnahmen auf dreidimensionale Koordinaten, die unter Verwendung des Bildes 500 bestimmt werden, auch dreidimensionale Koordinaten umfassen können, die unter Verwendung eines oder mehrerer in nahem zeitlichen Abstand aufgenommene Bilder 500 der Objektoberfläche 210 bestimmt werden, und dass das Bild 500, das dem Anwender während der beschriebenen Operationen angezeigt wird, bei der Bestimmung der dreidimensionalen Koordinaten tatsächlich verwendet werden kann, aber nicht muss.Again, most such techniques involve the use of calibration data that includes, among other things, optical data Contain properties that are used to reduce errors in the three-dimensional coordinates that would otherwise be caused by optical distortions. With some techniques, the three-dimensional coordinates may be determined using one or more images taken in close proximity to time that may contain the projected patterns and the like. It is understood that references to three-dimensional coordinates using the image 500 may also comprise three-dimensional coordinates obtained using one or more near-temporal images 500 the object surface 210 be determined and that the picture 500 which is displayed to the user during the described operations, can actually be used in determining the three-dimensional coordinates, but need not.

Im Schritt 730 des beispielhaften Verfahrens 700 (11), und wie in 8 veranschaulicht, erstellt der Anwender eine erste Bezugslinie 510 durch die Auswahl eines ersten Bezugslinienendpunktes 511 auf einem ersten Pixel 561 des Bildes 500 und durch die Auswahl eines zweiten Bezugslinienendpunktes 512 auf einem zweiten Pixel 562 des Bildes 500 unter Verwendung einer Zeigevorrichtung (z.B. eines Joysticks, einer Maus, eines berührungsempfindlichen Bildschirms), um Positionsanzeiger auf dem Bild 500 zu positionieren. Der erste Betriebslinienendpunkt 511 und der zweite Bezugslinienendpunkt 512 können in der Nähe zu oder auf einer ersten Seite der Anomalie 204 ausgewählt werden. Im Schritt 732 des beispielhaften Verfahrens 700 (11) kann die Videoinspektionsvorrichtung 100 (z.B. die CPU 150) die dreidimensionalen Koordinaten mehrerer Punkte auf der ersten Bezugslinie 510 bestimmen, die sich zwischen dem ersten Bezugslinienendpunkt 511 und dem zweiten Bezugslinienendpunkt 512 erstreckt.In step 730 of the exemplary method 700 ( 11 ), and as in 8th illustrates, the user creates a first reference line 510 by selecting a first datum endpoint 511 on a first pixel 561 of the picture 500 and by selecting a second reference line endpoint 512 on a second pixel 562 of the picture 500 using a pointing device (eg, a joystick, a mouse, a touch-sensitive screen) to position indicators on the image 500 to position. The first operating line endpoint 511 and the second reference line endpoint 512 can close to or on a first page of anomaly 204 to be selected. In step 732 of the exemplary method 700 ( 11 ), the video inspection device 100 (eg the CPU 150 ) the three-dimensional coordinates of several points on the first reference line 510 determine that is between the first datum endpoint 511 and the second reference line endpoint 512 extends.

In ähnlicher Weise erstellt der Anwender im Schritt 734 des beispielhaften Verfahrens 700 (11), und wie in 8 veranschaulicht, eine zweite Bezugslinie 520 durch die Auswahl eines dritten Bezugslinienendpunktes 521 auf einem dritten Pixel 563 des Bildes 500 und durch die Auswahl eines vierten Bezugslinienendpunktes 522 auf einem vierten Pixel 564 des Bildes 500 unter Verwendung einer Zeigevorrichtung, um Positionsanzeiger auf dem Bild 500 zu positionieren. Der dritte Bezugslinienendpunkt 521 und der vierte Bezugslinienendpunkt 522 können in der Nähe zu oder auf einer zweiten Seite der Anomalie 204 ausgewählt werden. Im Schritt 736 des beispielhaften Verfahrens 700 (11) kann die Videoinspektionsvorrichtung 100 (z.B. die CPU 150) die dreidimensionalen Koordinaten mehrerer Punkte auf der zweiten Bezugslinie 520 bestimmen, die sich zwischen dem dritten Bezugslinienendpunkt 521 und dem vierten Bezugslinienendpunkt 522 erstreckt. Wie in 8 ersehen werden kann, können die erste Bezugslinie 510 und die zweite Bezugslinie 520 positioniert werden, um die Anomalie 204 zu überspannen oder zu umgeben.Similarly, the user creates in step 734 of the exemplary method 700 ( 11 ), and as in 8th illustrates a second reference line 520 by selecting a third reference line endpoint 521 on a third pixel 563 of the picture 500 and by selecting a fourth reference line endpoint 522 on a fourth pixel 564 of the picture 500 using a pointing device to position indicators on the image 500 to position. The third baseline endpoint 521 and the fourth reference line endpoint 522 can close to or on a second side of the anomaly 204 to be selected. In step 736 of the exemplary method 700 ( 11 ), the video inspection device 100 (eg the CPU 150 ) the three-dimensional coordinates of several points on the second reference line 520 determine that is between the third reference line endpoint 521 and the fourth reference line endpoint 522 extends. As in 8th can be seen, the first reference line 510 and the second reference line 520 be positioned to the anomaly 204 to span or surround.

In einer Ausführungsform kann die Videoinspektionsvorrichtung 100 (z.B. die CPU 150) die Kleinste-Quadrate-Regression (zur Reduktion der Auswirkungen von Rauschen) auf die dreidimensionalen Koordinaten der Pixel zwischen dem ersten Bezugslinienendpunkt 511 und dem zweiten Bezugslinienendpunkt 512 anwenden, um die folgenden Gleichungen für die erste Bezugslinie 510 zu bestimmen: x(d1) = kx0 + kx1·d1 + kx2·d1 2 (2) y(d1) = ky0 + ky1·d1 + ky2·d1 2 (3) z(d1) = kz0 + kz1·d1 + kz2·d1 2 (4), wobei d1 der Bruchteil entlang der ersten Bezugslinie 510 im Bereich von z.B. 0,0 bis 1,0 ist. Z.B. wird die erste Bezugslinie 510, wie in 8 veranschaulicht, in acht Segmente (d1 = 0,0, 0,10, 0,20, ... 0,90, 1,00) aufgebrochen. Für die erste Bezugslinie 510 wird ein Satz von konstanten (k) Größen bestimmt. Der gleiche Prozess wird für die zweite Bezugslinie 520 mit der gleichen Anzahl von Segmenten (d.h. d2 = 0,0, 0,10, 0,20, ... 0,90, 1,00) durchgeführt. Obwohl in der beispielhaften Ausführungsform die erste Bezugslinie 510 und die zweite Bezugslinie 520 mit der gleichen Länge, mit der gleichen Anzahl von Segmenten veranschaulicht sind, können die Bezugslinien 510, 520 in anderen Ausführungsformen unterschiedliche Längen und/oder eine unterschiedliche Anzahl von Segmenten aufweisen.In an embodiment, the video inspection device 100 (eg the CPU 150 ) the least-squares regression (to reduce the effects of noise) on the three-dimensional coordinates of the pixels between the first datum endpoint 511 and the second reference line endpoint 512 Apply to the following equations for the first reference line 510 to determine: x (d 1 ) = kx 0 + kx 1 * d 1 + kx 2 * d 1 2 (2) y (d 1 ) = ky 0 + ky 1 * d 1 + ky 2 * d 1 2 (3) z (d 1 ) = kz 0 + kz 1 * d 1 + kz 2 * d 1 2 (4) where d 1 is the fraction along the first reference line 510 in the range of, for example, 0.0 to 1.0. For example, the first reference line 510 , as in 8th , broken into eight segments (d 1 = 0.0, 0.10, 0.20, ... 0.90, 1.00). For the first reference line 510 a set of constant (k) quantities is determined. The same process is used for the second reference line 520 with the same number of segments (ie d 2 = 0.0, 0.10, 0.20, ... 0.90, 1.00). Although in the exemplary embodiment, the first reference line 510 and the second reference line 520 are illustrated with the same length, with the same number of segments, the reference lines 510 . 520 in other embodiments have different lengths and / or a different number of segments.

In der in 8 veranschaulichten Ausführungsform sind die erste Bezugslinie 510 und die zweite Bezugslinie 520 gerade Linien. In einer Ausführungsform führt die Videoinspektionsvorrichtung 100 (z.B. die CPU 150) eine Regression an den dreidimensionalen Koordinaten der Punkte auf der Objektoberfläche 210, die Pixeln des Bildes 500 in der Nähe einer geraden Linie zwischen dem ersten Pixel 561 und dem zweiten Pixel 562 entsprechen, durch. In einer weiteren Ausführungsform führt die Videoinspektionsvorrichtung 100 (z.B. die CPU 150) eine Tiefpassfilterung an den dreidimensionalen Koordinaten der Punkte auf der Objektoberfläche 210, die Pixeln des Bildes 500 in der Nähe einer geraden Linie zwischen dem ersten Pixel 561 und dem zweiten Pixel 562 entsprechen, durch.In the in 8th illustrated embodiment are the first reference line 510 and the second reference line 520 straight lines. In one embodiment, the video inspection device performs 100 (eg the CPU 150 ) a regression on the three-dimensional coordinates of the points on the object surface 210 , the pixels of the picture 500 near a straight line between the first pixel 561 and the second pixel 562 correspond, by. In another embodiment, the video inspection device performs 100 (eg the CPU 150 ) low-pass filtering at the three-dimensional coordinates of the points on the object surface 210 , the pixels of the picture 500 near a straight line between the first pixel 561 and the second pixel 562 correspond, by.

In einer weiteren Ausführungsform (wenn z.B. die Objektoberfläche 210 komplexer oder gekrümmt ist) bestimmt die Videoinspektionsvorrichtung 100 (z.B. die CPU 150) für den Schritt des Bestimmens der dreidimensionalen Koordinaten der mehreren Punkte auf der ersten Bezugslinie 510 eine erste Bezugslinienebene 581, die die Objektoberfläche 210 (z.B. senkrecht zu dieser) schneidet und durch den ersten Bezugslinienendpunkt 511 und den zweiten Bezugslinienendpunkt 512 verläuft. Die Videoinspektionsvorrichtung 100 bestimmt dann die dreidimensionalen Koordinaten mehrerer Punkte einer ersten Oberflächenkonturlinie 591 auf der Objektoberfläche 210 in der Nähe der ersten Bezugslinienebene 581 (z.B. auf der ersten Bezugslinienebene 581 oder innerhalb eines vorbestimmten Abstandes zu dieser). In ähnlicher Weise bestimmt die Videoinspektionsvorrichtung 100 (z.B. die CPU 150) für den Schritt des Bestimmens der dreidimensionalen Koordinaten der mehreren Punkte auf der zweiten Bezugslinie 520 eine zweite Bezugslinienebene 582, die die Objektoberfläche 210 (z.B. senkrecht zu dieser) schneidet und durch den dritten Bezugslinienendpunkt 521 und den vierten Bezugslinienendpunkt 522 verläuft. Die Videoinspektionsvorrichtung 100 bestimmt dann die dreidimensionalen Koordinaten mehrerer Punkte einer zweiten Oberflächenkonturlinie 592 auf der Objektoberfläche 210 in der Nähe der zweiten Bezugslinienebene 582 (z.B. auf der zweiten Bezugslinienebene 582 oder innerhalb eines vorbestimmten Abstandes zu dieser). In dieser Ausführungsform würde, wenn die Bezugslinien gekrümmt sein können, ein anderer Satz von Konstanten (k) für die Gleichungen und der Werte d entlang der Bezugslinien bestimmt werden.In a further embodiment (if, for example, the object surface 210 more complex or curved) determines the video inspection device 100 (eg the CPU 150 ) for the step of determining the three-dimensional coordinates of several points on the first reference line 510 a first reference line level 581 that the object surface 210 (eg perpendicular to this) and cuts through the first datum endpoint 511 and the second reference line endpoint 512 runs. The video inspection device 100 then determines the three-dimensional coordinates of a plurality of points of a first surface contour line 591 on the object surface 210 near the first reference line level 581 (eg at the first reference level 581 or within a predetermined distance therefrom). Similarly, the video inspection device determines 100 (eg the CPU 150 ) for the step of determining the three-dimensional coordinates of the plurality of points on the second reference line 520 a second reference line level 582 that the object surface 210 (eg perpendicular to this) intersects and through the third reference line endpoint 521 and the fourth reference line endpoint 522 runs. The video inspection device 100 then determines the three-dimensional coordinates of multiple points of a second surface contour line 592 on the object surface 210 near the second reference line level 582 (eg on the second reference level 582 or within a predetermined distance therefrom). In this embodiment, if the reference lines may be curved, another set of constants (k) for the equations and the values d along the reference lines would be determined.

Im Schritt 740 des beispielhaften Verfahrens 700 (11), und wie in 8 veranschaulicht, bestimmt die Videoinspektionsvorrichtung (z.B. die CPU 150) eine Bezugsoberfläche 550 unter Verwendung der dreidimensionalen Koordinaten von wenigstens zwei der mehreren Punkte (z.B. 514, 515, 516) auf der ersten Bezugslinie 510 und wenigstens einem der mehreren Punkte (z.B. 524, 525, 526) auf der zweiten Bezugslinie 520. Der Übersichtlichkeit wegen zeigt 8 nur die Bestimmung einer einzelnen Bezugsoberfläche 550 für eine einzelne Gruppe von Punkten entlang der ersten Bezugslinie 510 und der zweiten Bezugslinie 520. Jedoch werden in dem beispielhaften Verfahren mehrere Bezugsoberflächen für verschiedene Gruppen von Punkten entlang der ersten Bezugslinie 510 und der zweiten Bezugslinie 520 erzeugt. Während z.B. die veranschaulichte Bezugsoberfläche 550 auf der Basis der Punkte in der Nähe von d1 = d2 = 0,50 bestimmt werden kann, können z.B. andere Bezugsoberflächen auf der Basis der Punkte in der Nähe von d1 = d2 = 0,00, 0,10, 0,20, 0,30, 0,40, 0,60, 0,70, 0,80, 0,90, 1,00 bestimmt werden.In step 740 of the exemplary method 700 ( 11 ), and as in 8th illustrates, determines the video inspection device (eg, the CPU 150 ) a reference surface 550 using the three-dimensional coordinates of at least two of the plurality of points (eg 514 . 515 . 516 ) on the first reference line 510 and at least one of the several points (eg 524 . 525 . 526 ) on the second reference line 520 , For the sake of clarity shows 8th only the determination of a single reference surface 550 for a single group of points along the first reference line 510 and the second reference line 520 , However, in the exemplary method, multiple reference surfaces for different groups of points along the first reference line 510 and the second reference line 520 generated. For example, while the illustrated reference surface 550 On the basis of the points near d 1 = d 2 = 0.50, other reference surfaces may be determined on the basis of the points near d 1 = d 2 = 0.00, 0.10, 0, for example , 20, 0.30, 0.40, 0.60, 0.70, 0.80, 0.90, 1.00.

In einigen Ausführungsformen kann die Bezugsoberfläche 550 flach (z.B. eine Ebene) sein, während in anderen Ausführungsformen die Bezugsoberfläche 550 gekrümmt sein oder in Form einer anderen Gestalt (z.B. eines Zylinders, einer Kugel, usw.) vorliegen kann. In einer Ausführungsform, in der die erste Bezugslinie 510 und/oder die zweite Bezugslinie 520 gekrümmt ist/ sind, können die Bezugsoberflächen 550 entlang jeder von der ersten Bezugslinie 510 und/oder der zweiten Bezugslinie 520 Bezugsoberflächen enthalten, wobei wenigstens zwei von diesen nicht parallel zueinander sind.In some embodiments, the reference surface may 550 flat (eg, a plane) while in other embodiments the reference surface 550 curved or in the form of another shape (eg a cylinder, a ball, etc.) may be present. In an embodiment in which the first reference line 510 and / or the second reference line 520 is curved, the reference surfaces can 550 along each of the first reference line 510 and / or the second reference line 520 Contain reference surfaces, at least two of which are not parallel to each other.

Zurückkehrend zu 8 werden die beispielhafte Bezugsoberfläche 550, die der Position auf der ersten Bezugslinie 510 und der zweiten Bezugslinie 520 entspricht, wo d1 = d2 = 0,50, die dreidimensionalen Koordinaten eines Satzes von zwei Punkten 514, 516 (d1 = 0,50 ± 0,05) auf der ersten Bezugslinie 510 und eines Satzes von zwei Punkten 524, 526 (d2 = 0,50 ± 0,05) auf der zweiten Bezugslinie 520 verwendet, um die Bezugsoberfläche 550 als eine Bezugsebene zu bestimmen. In einer Ausführungsform kann die Videoinspektionsvorrichtung 100 (z.B. die CPU 150) eine Anpassung der dreidimensionalen Koordinaten von wenigstens drei der vier Punkte 514, 516, 525, 526 durchführen, um eine Gleichung für die Bezugsoberfläche 550 zu bestimmen, die die folgende Form aufweist: z(x, y) = a0 + a1·x + a2·y (5), wobei (x, y, z) Koordinaten von beliebigen drei Dimensionspunkten auf der definierten Bezugsoberfläche 550 sind und a0, a1 und a2 Koeffizienten sind, die durch eine Anpassung der dreidimensionalen Koordinaten erhalten werden. Während in der beispielhaften Ausführungsform die Bezugsoberfläche 550 auf der Basis von Punkten von zwei entsprechenden Segmenten der Bezugslinien 510, 520 (d.h. d1 = d2) bestimmt wurde, könnte die Bezugsoberfläche 550 in anderen Ausführungsformen auf der Basis von zwei Segmenten bestimmt werden, die nicht einander entsprechen (d.h. d1 ≠ d2).Returning to 8th become the exemplary reference surface 550 that the position on the first reference line 510 and the second reference line 520 where d 1 = d 2 = 0.50, the three-dimensional coordinates of a set of two points 514 . 516 (d 1 = 0.50 ± 0.05) on the first reference line 510 and a sentence of two points 524 . 526 (d 2 = 0.50 ± 0.05) on the second reference line 520 used the reference surface 550 as a reference plane. In an embodiment, the video inspection device 100 (eg the CPU 150 ) an adaptation of the three-dimensional coordinates of at least three of the four points 514 . 516 . 525 . 526 Perform an equation for the reference surface 550 to be determined, which has the following form: z (x, y) = a 0 + a 1 · x + a 2 · y (5), where (x, y, z) are coordinates of any three dimension points on the defined reference surface 550 and a 0 , a 1 and a 2 are coefficients obtained by fitting the three-dimensional coordinates. While in the exemplary embodiment, the reference surface 550 based on points from two corresponding segments of the reference lines 510 . 520 (ie d 1 = d 2 ) was determined, the reference surface could 550 in other embodiments, may be determined based on two segments that do not correspond to each other (ie, d 1 ≠ d 2 ).

Im Schritt 750 des beispielhaften Verfahrens 700 (in 11), und wie in 8 veranschaulicht, bestimmt die Videoinspektionsvorrichtung 100 (z.B. die CPU 150) eine interessierende Region 570 für jede Bezugsoberfläche 550, die mehrere Punkte 501, 502, 503 auf der Oberfläche der Anomalie 204 aufweist. In einer Ausführungsform wird die interessierende Region 570 durch Bestimmung eines Polygons 571 auf der Bezugsoberfläche 550 mit Eckpunkten auf der Basis der wenigstens zwei der mehreren Punkte 514, 516 auf der ersten Bezugslinie 510 und des wenigstens einen der mehreren Punkte 524, 526 auf der zweiten Bezugslinie 520 erzeugt. Die interessierende Region 570 enthält mehrere Punkte 501, 502, 503 auf der Oberfläche der Anomalie 204, die auf Linien liegen, die zu der Bezugsoberfläche 550 senkrecht verlaufen und die die Bezugsoberfläche 550 innerhalb des Polygons 571 schneiden.In step 750 of the exemplary method 700 (in 11 ), and as in 8th illustrates determines the video inspection device 100 (eg the CPU 150 ) a region of interest 570 for each reference surface 550 that have multiple points 501 . 502 . 503 on the surface of the anomaly 204 having. In one embodiment, the region of interest becomes 570 by determining a polygon 571 on the reference surface 550 with vertices based on the at least two of the multiple points 514 . 516 on the first reference line 510 and at least one of the multiple points 524 . 526 on the second reference line 520 generated. The region of interest 570 contains several points 501 . 502 . 503 on the surface of the anomaly 204 lying on lines leading to the reference surface 550 run vertically and the reference surface 550 within the polygon 571 to cut.

In einer weiteren Ausführungsform wird die interessierende Region 570 erzeugt, indem eine Ebene 580 der interessierenden Region bestimmt wird, die die Bezugsoberfläche 550 (z.B. senkrecht zu dieser) schneidet und durch die erste Bezugslinie 510 zwischen wenigstens zwei der mehreren Punkte 514, 516 auf der ersten Bezugslinie 510 verläuft. Die interessierende Region 570 weist mehrere Punkte 501, 502, 503 auf der Oberfläche der Anomalie 204 auf, die innerhalb eines vorbestimmten Abstandes 571, 572 zu der Ebene 580 der interessierenden Region liegen. In a further embodiment, the region of interest becomes 570 generated by a plane 580 of the region of interest, which determines the reference surface 550 (eg perpendicular to this) intersects and through the first reference line 510 between at least two of the several points 514 . 516 on the first reference line 510 runs. The region of interest 570 has several points 501 . 502 . 503 on the surface of the anomaly 204 which are within a predetermined distance 571 . 572 to the plane 580 of the region of interest.

Im Schritt 760 des beispielhaften Verfahrens 700 (11), und wie in 8 veranschaulicht, bestimmt die Videoinspektionsvorrichtung 100 (z.B. die CPU 150) die Abstände zwischen den Bezugsoberflächen 550 und den mehreren Punkten 501, 502, 503 auf der Oberfläche der Anomalie 204 in jeder der interessierenden Regionen 570. Im Schritt 770 des beispielhaften Verfahrens 700 (11), und wie in 8 veranschaulicht, bestimmt die Videoinspektionsvorrichtung 100 (z.B. die CPU 150) die dreidimensionalen Koordinaten des interessierenden Punktes 502 auf der Oberfläche der Anomalie 204 in der interessierenden Region 570, der den größten Abstand zu der Bezugsoberfläche aufweist (z.B. den tiefsten Punkt in einer Vertiefung oder den höchsten Punkt auf einem Vorsprung). Sobald der interessierende Punkt 502 identifiziert worden ist, versucht die Videoinspektionsvorrichtung 100 (z.B. die CPU 150), das Profil (oder einen Profilschnitt) zu finden, der durch den interessierenden Punkt 502 verläuft.In step 760 of the exemplary method 700 ( 11 ), and as in 8th illustrates determines the video inspection device 100 (eg the CPU 150 ) the distances between the reference surfaces 550 and the multiple points 501 . 502 . 503 on the surface of the anomaly 204 in each of the regions of interest 570 , In step 770 of the exemplary method 700 ( 11 ), and as in 8th illustrates determines the video inspection device 100 (eg the CPU 150 ) the three-dimensional coordinates of the point of interest 502 on the surface of the anomaly 204 in the region of interest 570 which has the greatest distance to the reference surface (eg the lowest point in a depression or the highest point on a projection). Once the point of interest 502 has been identified, the video inspection device attempts 100 (eg the CPU 150 ), to find the profile (or a profile section), by the point of interest 502 runs.

Im Schritt 780 des beispielhaften Verfahrens 700 (11), und wie in 9 veranschaulicht, bestimmt die Videoinspektionsvorrichtung (z.B. die CPU 150) eine Profiloberflächenkonturlinie 594 auf der Objektoberfläche 210 zwischen der ersten Bezugslinie 510 und der zweiten Bezugslinie 520, die den interessierenden Punkt 502 auf der Oberfläche der Anomalie 204 enthält, wie in 9 veranschaulicht. In einer Ausführungsform weist die Profiloberflächenkonturlinie 594 einen ersten Punkt 518 auf oder in der Nähe der ersten Bezugslinie 510, einen zweiten Punkt 528 auf oder in der Nähe der zweiten Bezugslinie 520 und den interessierenden Punkt 502 auf der Oberfläche der Anomalie 204 auf, wie in 9 veranschaulicht. In einer Ausführungsform kann die Videoinspektionsvorrichtung 100 (z.B. die CPU 150), um eine Profiloberflächenkonturlinie 594 zu bestimmen, die durch die interessierende Stelle 502 (den tiefsten oder höchsten Punkt) verläuft, einen iterativen Prozess in dem bestimmten Segment der ersten Bezugslinie 510 und der zweiten Bezugslinie 520 durchführen, wo der interessierende Punkt 502 gefunden wurde. Z.B., und wie in 9 veranschaulicht, kann die Videoinspektionsvorrichtung 100, da der interessierende Punkt 502 in dem Segment gefunden wurde, das d1 = d2 = 0,50 entspricht, mehrere Bezugsoberflächenebenen 583, 584 bestimmen, die die Bezugsoberfläche 550 (z.B. senkrecht zu dieser) schneiden und durch entsprechende Punkte auf den Bezugslinien 510, 520 (z.B. wo d1 = d2) verlaufen. Während in der beispielhaften Ausführungsform die mehreren Bezugsoberflächenebenen 583, 584 auf der Basis von Punkten von zwei entsprechenden Segmenten der Bezugslinie 510, 520 (d.h. d1 = d2) bestimmt werden, könnten die Bezugsoberflächenebenen 583, 584 in anderen Ausführungsformen auf der Basis von zwei Segmenten bestimmt werden, die nicht einander entsprechen (d.h. d1 ≠ d2).In step 780 of the exemplary method 700 ( 11 ), and as in 9 illustrates, determines the video inspection device (eg, the CPU 150 ) a profile surface contour line 594 on the object surface 210 between the first reference line 510 and the second reference line 520 that the point of interest 502 on the surface of the anomaly 204 contains, as in 9 illustrated. In one embodiment, the profile surface contour line 594 a first point 518 on or near the first reference line 510 , a second point 528 on or near the second reference line 520 and the point of interest 502 on the surface of the anomaly 204 on, like in 9 illustrated. In an embodiment, the video inspection device 100 (eg the CPU 150 ) to a profile surface contour line 594 to be determined by the body of interest 502 (the lowest or highest point), an iterative process in the particular segment of the first reference line 510 and the second reference line 520 perform where the point of interest 502 was found. For example, and as in 9 illustrates, the video inspection device 100 because the point of interest 502 was found in the segment corresponding to d 1 = d 2 = 0.50, several reference surface planes 583 . 584 determine which the reference surface 550 (eg perpendicular to this) and cut through corresponding points on the reference lines 510 . 520 (eg where d 1 = d 2 ). While in the exemplary embodiment, the plurality of reference surface planes 583 . 584 based on points from two corresponding segments of the reference line 510 . 520 (ie d 1 = d 2 ), the reference surface planes could be 583 . 584 in other embodiments, may be determined based on two segments that do not correspond to each other (ie, d 1 ≠ d 2 ).

Z.B. kann die Videoinspektionsvorrichtung 100 (z.B. die CPU 150) den Abstand zwischen dem interessierenden Punkt 502 und der Ebene 580 der interessierenden Region für d1 = d2 = 0,50 bestimmen. Wie in 9 ersehen werden kann, ist der interessierende Punkt 520 in einem Abstand 574 von der Ebene 580 der interessierenden Region entfernt angeordnet, so dass das Profil (oder der Profilschnitt), das an der Ebene 580 der interessierenden Region genommen wird, den interessierenden Punkt 502 nicht enthalten würde.For example, the video inspection device 100 (eg the CPU 150 ) the distance between the point of interest 502 and the plane 580 of the region of interest for d 1 = d 2 = 0.50. As in 9 can be seen is the point of interest 520 at a distance 574 from the plane 580 located away from the region of interest so that the profile (or profile section) attached to the plane 580 the region of interest is taken, the point of interest 502 would not contain.

Als nächstes kann die Videoinspektionsvorrichtung 100 (z.B. die CPU 150) eine Bezugsoberflächenebene 583 bestimmen, die die ursprüngliche Bezugsoberfläche 550 oder eine neue Bezugsoberfläche (die unter Verwendung von Punkten auf den Bezugslinien 510, 520 in der Nähe von d1 = d2 = 0,52 erzeugt werden) (z.B. senkrecht zu dieser) schneidet und durch einen Bezugslinienpunkt 517 auf der ersten Bezugslinie 510 und einen entsprechenden Bezugslinienpunkt 527 auf der zweiten Bezugslinie 520 für d1 = d2 = 0,52 verläuft. Die Videoinspektionsvorrichtung 100 kann dann den Abstand zwischen dem interessierenden Punkt 502 und der Bezugsoberflächenebene 583 für d1 = d2 = 0,52 bestimmen. Wie in 9 ersehen werden kann, ist der interessierende Punkt 502 in einem Abstand 575 von der Bezugsoberflächenebene 583 entfernt angeordnet, so dass ein Profil (oder ein Profilschnitt), der an der Bezugsoberflächenebene 583 genommen wird, den interessierenden Punkt 502 nicht enthalten würde.Next, the video inspection device 100 (eg the CPU 150 ) a reference surface plane 583 determine the original reference surface 550 or a new reference surface (using points on the reference lines 510 . 520 in the vicinity of d 1 = d 2 = 0.52) (eg perpendicular to this) intersects and by a reference line point 517 on the first reference line 510 and a corresponding reference line point 527 on the second reference line 520 for d 1 = d 2 = 0.52 runs. The video inspection device 100 then can the distance between the point of interest 502 and the reference surface plane 583 for d 1 = d 2 = 0.52 determine. As in 9 can be seen is the point of interest 502 at a distance 575 from the reference surface plane 583 arranged away, leaving a profile (or a profile cut) at the reference surface level 583 is taken, the point of interest 502 would not contain.

Weiter wiederholend kann die Videoinspektionsvorrichtung 100 (z.B. die CPU 150) eine Bezugsoberflächenebene 584 bestimmen, die die Bezugsoberfläche 550 oder eine neue Bezugsoberfläche (die unter Verwendung von Punkten auf den Bezugslinien 510, 520 in der Nähe von d1 = d2 = 0,53 erzeugt wird) (z.B. senkrecht zu dieser) schneidet und durch einen Bezugslinienpunkt 518 auf oder in der Nähe der ersten Bezugslinie 510 und einen entsprechenden Bezugslinienpunkt 528 auf oder in der Nähe der zweiten Bezugslinie 520 für d1 = d2 = 0,53 verläuft. Die Videoinspektionsvorrichtung 100 kann dann den Abstand zwischen dem interessierenden Punkt 502 und der Bezugsoberflächenebene 584 für d1 = d2 = 0,53 bestimmen. Wie in 9 ersehen werden kann, ist der interessierende Punkt 502 auf der Bezugsoberflächenebene 584 angeordnet, so dass ein Profil (oder Profilschnitt), der an der Bezugsoberflächenebene 584 aufgenommen wird, den interessierenden Punkt 502 enthalten würde. Die Videoinspektionsvorrichtung 100 kann dann die dreidimensionalen Koordinaten mehrerer Punkte einer Profiloberflächenkonturlinie 594 auf der Objektoberfläche 210 in der Nähe der Bezugsoberflächenebene 584 (z.B. auf oder innerhalb eines vorbestimmten Abstandes zu der Bezugsoberflächenebene 584) bestimmen. Die Profiloberflächenkonturlinie 594 weist den Punkt 518 auf oder in der Nähe der ersten Bezugslinie 510, den Punkt 528 auf oder in der Nähe der zweiten Bezugslinie 520 und den interessierenden Punkt 502 auf der Oberfläche der Anomalie 204 auf, wie in 9 veranschaulicht.Continuing to repeat, the video inspection device 100 (eg the CPU 150 ) a reference surface plane 584 determine which the reference surface 550 or a new reference surface (using points on the reference lines 510 . 520 is generated near d 1 = d 2 = 0.53) (eg perpendicular to this) and cuts through a reference line point 518 on or near the first reference line 510 and a corresponding reference line point 528 on or near the second reference line 520 for d 1 = d 2 = 0.53 runs. The video inspection device 100 then can the distance between the point of interest 502 and the reference surface plane 584 for d 1 = Determine d 2 = 0.53. As in 9 can be seen is the point of interest 502 at the reference surface level 584 arranged so that a profile (or profile section), which is at the reference surface level 584 is taken, the point of interest 502 would contain. The video inspection device 100 Then, the three-dimensional coordinates of a plurality of points of a profile surface contour line 594 on the object surface 210 near the reference surface plane 584 (eg, at or within a predetermined distance from the reference surface plane 584 ). The profile surface contour line 594 points the point 518 on or near the first reference line 510 , the point 528 on or near the second reference line 520 and the point of interest 502 on the surface of the anomaly 204 on, like in 9 illustrated.

Im Schritt 790 des beispielhaften Verfahrens 700 (11) bestimmt die Videoinspektionsvorrichtung 100 (z.B. die CPU 150) ein Profil der Objektoberfläche 210, die den interessierenden Punkt 502 enthält, durch Bestimmung des Abstandes von der Bezugsoberfläche 550 zu den mehreren Punkte der Profiloberflächenkonturlinie 594 auf der Objektoberfläche 210. 10 zeigt ein Bild 600 der graphischen Darstellung des Profils der Objektoberfläche 210 des betrachteten Objektes 202, das in dem Bild 500 nach 8 veranschaulicht ist. Die graphische Darstellung des Profils, die einen Querschnitt des betrachteten Objektes 210 an der Profiloberflächenkonturlinie 594 zeigt, kann auf dem Videomonitor (z.B. einer integrierten Anzeige 170 oder einem externen Monitor 172) angezeigt werden. Das Profil enthält den Punkt 518 auf oder in der Nähe der ersten Bezugslinie 510, den Punkt 528 auf oder in der Nähe der zweiten Bezugslinie 520 und den interessierenden Punkt 502 auf der Oberfläche der Anomalie 204. Die graphische Darstellung des Profils zeigt ferner den Abstand 602 zwischen der Bezugsoberfläche 550 und dem interessierenden Punkt 502 auf der Oberfläche an. In einer weiteren Ausführungsform kann ein Punkte-Wolke-Bild, das z.B. eine dreidimensionale Darstellung der Bezugsoberfläche 550 und die Profiloberflächenkonturlinie 594, einschließlich des Punktes 518 auf oder in der Nähe der ersten Bezugslinie 510, des Punktes 528 auf oder in der Nähe der zweiten Bezugslinie 520 und des interessierenden Punktes 502 auf der Oberfläche der Anomalie 204 aufweist, auf dem Videomonitor (z.B. einer integrierten Anzeige 170 oder einem externen Monitor 172) angezeigt werden. In step 790 of the exemplary method 700 ( 11 ) determines the video inspection device 100 (eg the CPU 150 ) a profile of the object surface 210 that the point of interest 502 contains, by determining the distance from the reference surface 550 to the multiple points of the profile surface contour line 594 on the object surface 210 , 10 shows a picture 600 the graphical representation of the profile of the object surface 210 of the considered object 202 that in the picture 500 to 8th is illustrated. The graphic representation of the profile, which is a cross section of the object considered 210 at the profile surface contour line 594 can be displayed on the video monitor (eg an integrated display 170 or an external monitor 172 ) are displayed. The profile contains the point 518 on or near the first reference line 510 , the point 528 on or near the second reference line 520 and the point of interest 502 on the surface of the anomaly 204 , The graphical representation of the profile also shows the distance 602 between the reference surface 550 and the point of interest 502 on the surface. In another embodiment, a dot-cloud image may, for example, be a three-dimensional representation of the reference surface 550 and the profile surface contour line 594 including the point 518 on or near the first reference line 510 , the point 528 on or near the second reference line 520 and the point of interest 502 on the surface of the anomaly 204 on the video monitor (eg an integrated display 170 or an external monitor 172 ) are displayed.

Wie aus den obigen Ausführungen hervorgeht, bestimmen Ausführungsformen der Erfindung automatisch die Tiefe oder Höhe eines Punktes auf einer Anomalie auf einer Oberfläche. Eine technische Wirkung besteht darin, dass die Zeit, die nötig ist, um die Messung durchzuführen, verkürzt ist und außerdem die Genauigkeit der Messung verbessert ist, da der Anwender die interessierende Stelle (den tiefsten oder höchsten Punkt) nicht manuell kennzeichnen muss.As apparent from the above, embodiments of the invention automatically determine the depth or height of a spot on an anomaly on a surface. A technical effect is that the time required to perform the measurement is shortened and, in addition, the accuracy of the measurement is improved because the user does not have to manually mark the point of interest (the deepest or highest point).

Wie ein Fachmann erkennen wird, können Aspekte der vorliegenden Erfindung als ein System, Verfahren oder Computerprogrammprodukt verkörpert werden. Demgemäß können Aspekte der vorliegenden Erfindung die Form einer ganz und gar aus Hardware bestehenden Ausführungsform, einer ganz und gar aus Software bestehenden Ausführungsform (was auch Firmware, residente Software, Mikro-Code usw. einschließt) oder einer Ausführungsform, die Software- und Hardware-Aspekte kombiniert, annehmen, die hierin alle als "Dienst", "Stromkreis", "Schaltung", "Modul" und/oder "System" bezeichnet werden können. Ferner können Aspekte der vorliegenden Erfindung die Form eines Computerprogrammprodukts annehmen, das in einem computerlesbaren Medium oder mehreren computerlesbaren Medien verkörpert sein kann, in dem bzw. denen computerlesbarer Code verkörpert ist.As one skilled in the art will appreciate, aspects of the present invention may be embodied as a system, method, or computer program product. Accordingly, aspects of the present invention may take the form of an all-hardware embodiment, an all-software embodiment (including firmware, resident software, micro-code, etc.) or an embodiment, software and hardware. Aspects combined, all of which may be referred to herein as "service", "circuit", "circuit", "module" and / or "system". Further, aspects of the present invention may take the form of a computer program product that may be embodied in a computer-readable medium or multiple computer-readable media in which computer-readable code is embodied.

Es können beliebige Kombinationen aus einem computerlesbaren Medium oder mehreren computerlesbaren Medien verwendet werden. Das computerlesbare Medium kann ein computerlesbares Signalmedium oder ein computerlesbares Speichermedium sein. Ein computerlesbares Speichermedium kann z.B. ein elektronisches, magnetisches, optisches, elektromagnetisches, Infrarot- oder Halbleitersystem, -gerät oder -element oder jede geeignete Kombination der genannten sein, ohne darauf beschränkt zu sein. Spezifischere Beispiele (eine nicht erschöpfende Liste) für das computerlesbare Speichermedium würden die folgenden enthalten: eine elektrische Verbindung mit einem oder mehreren Drähten, eine tragbare Computerdiskette, eine Festplatte, einen Schreib-Lese-Speicher (RAM), einen Festwertspeicher (ROM), einen löschbaren programmierbaren Festwertspeicher (EPROM oder Flash-Speicher), eine optische Faser, einen tragbaren, nicht wiederbeschreibbaren CD-Speicher (CD-ROM), eine optische Speichervorrichtung, eine magnetische Speichervorrichtung oder jede geeignete Kombination der oben genannten. Im Kontext dieses Dokuments kann ein computerlesbares Speichermedium jedes materielle Medium sein, das ein Programm zur Verwendung durch oder in Verbindung mit einem Befehlsausführungssystem, -apparat oder -element enthalten oder speichern kann.Any combination of a computer-readable medium or multiple computer-readable media may be used. The computer readable medium may be a computer readable signal medium or a computer readable storage medium. A computer-readable storage medium may e.g. an electronic, magnetic, optical, electromagnetic, infrared or semiconductor system, device or element, or any suitable combination of the foregoing, without being limited thereto. More specific examples (a non-exhaustive list) of the computer readable storage medium would include the following: electrical connection to one or more wires, a portable computer diskette, a hard disk, random access memory (RAM), read only memory (ROM) erasable programmable read-only memory (EPROM or flash memory), an optical fiber, a portable, non-rewritable CD-ROM (CD-ROM), an optical storage device, a magnetic storage device, or any suitable combination of the above. In the context of this document, a computer-readable storage medium may be any tangible medium that may contain or store a program for use by or in connection with an instruction execution system, apparatus, or item.

Ein Programmcode und/oder ausführbare Befehle, der bzw. die auf einem computerlesbaren Medium verkörpert ist bzw. sind, kann bzw. können mittels eines beliebigen geeigneten Mediums übertragen werden, was drahtlos, über Drahtleitung, optisches Faserkabel, HF usw. oder irgendeine geeignete Kombination der genannten einschließt, ohne darauf beschränkt zu sein.Program code and / or executable instructions embodied on a computer readable medium may be transmitted by any suitable means, including wireless, wireline, fiber optic cable, RF, etc., or any of the above suitable combination of said includes, but is not limited to.

Ein Computerprogrammcode zur Durchführung von Arbeitsschritten für Aspekte der vorliegenden Erfindung kann in einer beliebigen Kombination einer oder mehrerer Programmiersprachen geschrieben sein, wozu eine objektorientierte Programmiersprache, wie Java, Smalltalk, C++ oder dergleichen, und herkömmliche prozedurale Programmiersprachen, wie die "C"-Programmiersprache oder ähnliche Programmiersprachen, gehören. Der Programmcode kann vollständig auf dem Computer (der Vorrichtung) des Anwenders, teilweise auf dem Computer des Anwenders, als eigenständiges Softwarepaket, zum Teil auf dem Computer des Anwenders und zum Teil auf einem Remote-Computer oder ganz und gar auf dem Remote-Computer oder einem Server ausgeführt werden. Im letztgenannten Szenario kann der Remote-Computer über irgendeine Art von Netz mit dem Computer des Anwenders verbunden sein, was unter anderem ein lokales Netz (LAN) oder ein Weitverkehrsnetz (WAN) umfasst, oder die Verbindung kann mit einem externen Computer (beispielsweise über das Internet unter Nutzung eines Internetdienstanbieters) hergestellt werden.Computer program code for performing operations for aspects of the present invention may be written in any combination of one or more programming languages, including an object-oriented programming language such as Java, Smalltalk, C ++ or the like, and conventional procedural programming languages such as the "C" programming language or similar programming languages. The program code may be stored completely on the user's computer (the device), partly on the user's computer, as a stand-alone software package, partly on the user's computer and partly on a remote computer or entirely on the remote computer or a server. In the latter scenario, the remote computer may be connected to the user's computer via some type of network including, but not limited to, a local area network (LAN) or wide area network (WAN), or the connection may be to an external computer (e.g. Internet using an Internet service provider) are produced.

Aspekte der vorliegenden Erfindung sind hierin mit Bezug auf Darstellungen von Ablaufschemata und/oder Blockdiagramme von Verfahren, Apparaten (Systemen) und Computerprogrammprodukten gemäß Ausführungsformen der Erfindung beschrieben. Es sei klargestellt, dass jeder Block der dargestellten Ablaufschemata und/oder Blockdiagramme und Kombinationen von Blöcken in den dargestellten Ablaufschemata und/oder Blockdiagrammen durch Computerprogrammbefehle implementiert werden kann. Die Computerprogrammbefehle können an einen Prozessor eines Universalcomputers, eines Spezialcomputers oder einer anderen programmierbaren Datenverarbeitungsvorrichtung geliefert werden, um eine Maschine hervorzubringen, so dass die Befehle, die über den Prozessor des Computers oder der anderen programmierbaren Datenverarbeitungsvorrichtung ausgeführt werden, eine Einrichtung zur Implementierung der Funktionen/Aspekte erzeugen, welche in dem Ablaufschema und/oder in dem Block oder den Blöcken des Blockschemas angegeben sind.Aspects of the present invention are described herein with reference to flowchart illustrations and / or block diagrams of methods, apparatus (systems) and computer program products according to embodiments of the invention. It should be understood that each block of the illustrated flowcharts and / or block diagrams and combinations of blocks in the illustrated flowcharts and / or block diagrams may be implemented by computer program instructions. The computer program instructions may be provided to a processor of a general-purpose computer, a special purpose computer, or other programmable data processing device to spawn a machine such that the instructions executed via the processor of the computer or other programmable data processing device include means for implementing the functions. Create aspects that are specified in the flowchart and / or in the block or blocks of the block schema.

Diese Computerprogrammbefehle können auch in einem computerlesbaren Medium gespeichert werden, das einen Computer, eine andere programmierbare Datenverarbeitungsvorrichtung oder andere Vorrichtungen anweisen kann, auf eine bestimmte Art zu funktionieren, so dass die Befehle, die in dem computerlesbaren Medium gespeichert sind, ein Erzeugnis hervorbringen, das Befehle enthält, welche die Funktion/Aktion implementieren, die in dem Ablaufschema und/der in dem Block oder in den Blöcken des Blockdiagramms angegeben ist. These computer program instructions may also be stored in a computer-readable medium that may instruct a computer, other programmable computing device, or other devices to function in a particular manner so that the instructions stored in the computer-readable medium produce a product Contains instructions that implement the function / action specified in the flowchart and / or in the block or blocks of the block diagram.

Die Computerprogrammbefehle können auch auf einen Computer, eine andere programmierbare Datenverarbeitungsvorrichtung oder andere Vorrichtungen geladen werden, um zu bewirken, dass auf dem Computer, der anderen programmierbaren Vorrichtung oder den anderen Vorrichtungen eine Reihe von Arbeitsschritten ausgeführt werden, um einen computerimplementierten Prozess zu erzeugen, so dass die Befehle, die auf dem Computer oder der anderen programmierbaren Vorrichtung ausgeführt werden, Prozesse zur Implementierung der Funktionen/Aktionen, die in dem Ablaufschema und/oder in dem Block oder in den Blöcken des Blockdiagramms angegeben sind, bereitstellen. The computer program instructions may also be loaded onto a computer, other programmable computing device, or other device to cause a number of operations to be performed on the computer, other programmable device, or other devices to produce a computer-implemented process the instructions executed on the computer or other programmable device provide processes for implementing the functions / actions indicated in the flowchart and / or in the block or blocks of the block diagram.

Diese schriftliche Beschreibung verwendet Beispiele, um die Erfindung, einschließlich der besten Weise zu ihrer Ausführung, zu beschreiben und um den Fachmann in die Lage zu versetzen, die Erfindung in die Praxis umzusetzen, wozu auch die Herstellung und Verwendung von Vorrichtungen und Systemen und die Ausführung enthaltener Verfahren gehören. Der schutzwürdige Umfang der Erfindung wird von den Ansprüchen definiert und kann andere Beispiele einschließen, die für den Fachmann naheliegend sein mögen. Diese anderen Beispiele sollen in dem Umfang der Ansprüche liegen, wenn sie strukturelle Elemnte aufweisen, die sich vom Wortsinn der Ansprüche nicht unterscheiden, oder wenn sie gleichwertige strukturelle Elemente aufweisen, die sich vom Wortsinn der Ansprüche nur unerheblich unterscheiden.This written description uses examples to describe the invention, including the best mode for carrying it out, and to enable one skilled in the art to practice the invention, including the manufacture and use of devices and systems and the practice included in the procedure. The scope of the invention which is to be protected is defined by the claims and may include other examples which may be obvious to those skilled in the art. These other examples are intended to be within the scope of the claims if they have structural elements that do not differ from the literal language of the claims, or if they have equivalent structural elements that differ only insubstantially from the literal language of the claims.

Es sind ein Verfahren und eine Vorrichtung zur automatischen Identifizierung einer interessierenden Stelle (d.h. der tiefsten oder höchsten Stelle) auf der Oberfläche einer Anomalie auf einem betrachteten Objekt unter Verwendung einer Videoinspektionsvorrichtung offenbart. Die Videoinspektionsvorrichtung erstellt ein Bild der Oberfläche des betrachteten Objekts und zeigt dieses an. Es wird eine Bezugsoberfläche zusammen mit einer interessierenden Region bestimmt, die mehrere Punkte auf der Oberfläche der Anomalie enthält. Die Videoinspektionsvorrichtung bestimmt eine Tiefe oder Höhe für jeden von den mehreren Punkten auf der Oberfläche der Anomalie in der interessierenden Region. Der Punkt auf der Oberfläche der Anomalie (z.B. mit der größten Tiefe oder Höhe) wird als die interessierende Stelle identifiziert. Dann wird ein Profil der Objektoberfläche an der interessierenden Stelle bestimmt.There is disclosed a method and apparatus for automatically identifying a point of interest (i.e., the lowest or highest digit) of interest on the surface of an anomaly on a viewed object using a video inspection device. The video inspection device makes an image of the surface of the object under consideration and displays it. A reference surface is determined along with a region of interest containing multiple points on the surface of the anomaly. The video inspection device determines a depth or height for each of the multiple points on the surface of the anomaly in the region of interest. The point on the surface of the anomaly (e.g., the greatest depth or height) is identified as the point of interest. Then a profile of the object surface at the point of interest is determined.

Bezugszeichenliste LIST OF REFERENCE NUMBERS

100100
Videoinspektionsvorrichtung Video inspection device
102102
Sonde probe
110110
Einführungsrohr insertion tube
112112
Bildgeberkabelbaum Imager harness
120120
Kopfbaugruppe head assembly
122122
Sondenoptik special optics
124124
Bildgeber imager
126126
Bildgeberhybrideinrichtung Imager hybrid device
130130
lösbare Spitze  detachable tip
132132
Spitzenbetrachtungsoptik Peak viewing optics
140140
Sondenelektronik probe electronics
142142
Bildgeberschnittstellenelektronik Imager interface electronics
144144
Kalibrierungsspeicher calibration memory
146146
Mikrocontroller microcontroller
150150
CPU  CPU
152152
CPU-Programmspeicher CPU program memory
154154
flüchtiger Speicher volatile memory
156156
nicht-flüchtiger Speicher non-volatile memory
158158
Computer-I/O-Schnittstelle Computer I / O interface
160160
Videoprozessor video processor
162162
Videospeicher video memory
170170
integrierte Anzeige integrated display
172172
externer Monitor external monitor
180180
Joystick joystick
182182
Tasten Keys
184184
Tastatur keyboard
186186
Mikrofon microphone
200200
Bild  image
202202
betrachtetes Objekt viewed object
204204
Anomalie  anomaly
210210
Oberfläche surface
221221
Bezugsoberflächenpunkt Reference surface point
222222
Bezugsoberflächenpunkt Reference surface point
223223
Bezugsoberflächenpunkt Reference surface point
224224
tiefster Oberflächenpunkt deepest surface point
231231
Bezugsoberflächen-Positionsanzeiger Reference surface position indicator
232232
Bezugsoberflächen-Positionsanzeiger Reference surface position indicator
233233
Bezugsoberflächen-Positionsanzeiger Reference surface position indicator
234234
Positionsanzeiger für die tiefste Stelle Position indicator for the lowest point
241241
Pixel pixel
242242
Pixel pixel
243243
Pixel pixel
250250
Bezugsoberfläche reference surface
260260
Bezugsoberflächenform Reference surface shape
261261
Bezugsoberflächenpunkt Reference surface point
262262
Bezugsoberflächenpunkt Reference surface point
263263
Bezugsoberflächenpunkt Reference surface point
264264
Bezugsoberflächenpunkt Reference surface point
270270
interessierende Region region of interest
271271
Form einer interessierenden Region Shape of a region of interest
280280
interessierende Region region of interest
281281
Form einer interessierenden Region Shape of a region of interest
282282
grafischer Anzeiger der tiefsten Stelle graphical indicator of the lowest point
290290
Tiefe  depth
300300
Verfahren method
310310
Bild der Oberfläche (Schritt) Image of the surface (step)
320320
3D von Oberflächenpunkten (Schritt) 3D of surface points (step)
330330
Bezugsoberflächen (Schritt) Reference surfaces (step)
340340
interessierende Region (Schritt) region of interest (step)
350350
Tiefe der Oberflächenpunkte in der interessierenden Region (Schritt) Depth of surface points in the region of interest (step)
360360
Ort und Tiefe der tiefsten Oberflächenstelle (Schritt) Location and depth of the deepest surface location (step)
400400
Profil profile
500500
Bild image
501501
Objektoberflächenpunkt Object surface point
502502
Objektoberflächenpunkt (interessierender Punkt) Object surface point (point of interest)
503503
Objektoberflächenpunkt Object surface point
510510
erste Bezugslinie first reference line
511511
erster Bezugslinienendpunkt (erste Bezugslinie) first reference line endpoint (first reference line)
512512
zweiter Bezugslinienendpunkt (erste Bezugslinie) second reference line endpoint (first reference line)
514514
Bezugslinienpunkt (erste Bezugslinie) Reference point (first reference line)
515515
Bezugslinienpunkt (erste Bezugslinie) Reference point (first reference line)
516516
Bezugslinienpunkt (erste Bezugslinie) Reference point (first reference line)
517517
Bezugslinienpunkt (erste Bezugslinie) Reference point (first reference line)
518518
Bezugslinienpunkt (erste Bezugslinie) Reference point (first reference line)
520520
zweite Bezugslinie second reference line
521521
dritter Bezugslinienendpunkt (zweite Bezugslinie) third reference line endpoint (second reference line)
522522
vierter Bezugslinienendpunkt (zweite Bezugslinie) fourth reference line endpoint (second reference line)
524524
Bezugslinienpunkt (zweite Bezugslinie) Reference line point (second reference line)
525525
Bezugslinienpunkt (zweite Bezugslinie) Reference line point (second reference line)
526526
Bezugslinienpunkt (zweite Bezugslinie) Reference line point (second reference line)
527527
Bezugslinienpunkt (zweite Bezugslinie) Reference line point (second reference line)
528528
Bezugslinienpunkt (zweite Bezugslinie) Reference line point (second reference line)
550550
Bezugsoberfläche reference surface
561561
erstes Pixel (erster Bezugspositionsanzeiger) first pixel (first reference position indicator)
562562
zweites Pixel (zweiter Bezugspositionsanzeiger) second pixel (second reference position indicator)
563563
drittes Pixel (dritter Bezugspositionsanzeiger) third pixel (third reference position indicator)
564564
viertes Pixel (vierter Bezugspositionsanzeiger) fourth pixel (fourth reference position indicator)
570570
interessierende Region region of interest
571571
Form der interessierenden Region Shape of the region of interest
572572
erster Abstand der interessierenden Region first distance of the region of interest
573573
zweiter Abstand der interessierenden Region second distance of the region of interest
574574
Abstand vom Oberflächenpunkt zur Ebene Distance from the surface point to the plane
575575
Abstand vom Oberflächenpunkt zur Ebene Distance from the surface point to the plane
580580
Ebene der interessierenden Region (Ebene für die Bezugsoberfläche) Level of the region of interest (plane for the reference surface)
581581
erste Bezugslinienebene (Ebene für die Objektoberfläche) first reference line level (plane for the object surface)
582582
zweite Bezugslinienebene (Ebene für die Objektoberfläche) second reference line level (plane for the object surface)
583583
Ebene für die Bezugsoberfläche Plane for the reference surface
584584
Ebene für die Bezugsoberfläche  Plane for the reference surface
591591
erste Oberflächenkonturlinie first surface contour line
592592
zweite Oberflächenkonturlinie second surface contour line
594594
Profiloberflächenkonturlinie Profile Surface Contour
600600
Profil profile
602602
Tiefenmessung depth measurement
604604
Anzeige der Tiefenmessung Display of depth measurement
700700
Verfahren method
710710
Bild der Objektoberfläche (Schritt) Image of the object surface (step)
720720
3D der Objektoberflächenpunkte (Schritt) 3D of object surface points (step)
730730
erste Bezugslinie (Schritt) first reference line (step)
732732
3D der ersten Bezugslinienpunkte (Schritt) 3D of the first reference points (step)
734734
zweite Bezugslinie (Schritt)  second reference line (step)
736736
3D der zweiten Bezugslinienpunkte (Schritt) 3D of the second reference line points (step)
740740
Bezugsoberfläche(n) (Schritt) Reference surface (s) (step)
750750
interessierende Region(en) (Schritt) region of interest (s) (step)
760760
Abstände der Anomalieoberflächenpunkte (Schritt) Distances of anomaly surface points (step)
770770
3D der interessierenden Stelle (Schritt) 3D of the point of interest (step)
780780
3D der Profiloberflächenkonturlinie (Schritt) 3D of the profile surface contour line (step)
790790
Profil der Objektoberfläche (Schritt) Profile of the object surface (step)

Claims (10)

Verfahren (700) zur automatischen Identifizierung einer interessierenden Stelle (502) auf einer Oberfläche einer Anomalie (204) auf einer Objektoberfläche (210) eines betrachteten Objekts (202) (202), wobei das Verfahren (700) die Schritte aufweist: Anzeigen eines Bildes (500) der Objektoberfläche (210) (210) auf einem Monitor (170/172); Bestimmen der dreidimensionalen Koordinaten von mehreren Punkten auf der Objektoberfläche (210) unter Verwendung einer zentralen Verarbeitungseinheit (150); Auswählen eines ersten Bezugslinienendpunktes (511) auf einem ersten Pixel (561) des Bildes (500) unter Verwendung einer Zeigevorrichtung (180); Auswählen eines zweiten Bezugslinienendpunktes (512) auf einem zweiten Pixel (562) des Bildes (500) unter Verwendung der Zeigevorrichtung (180); Bestimmen der dreidimensionalen Koordinaten mehrerer Punkte auf einer ersten Bezugslinie (510), die sich zwischen dem ersten Bezugslinienendpunkt (511) und dem zweiten Bezugslinienendpunkt (512) erstreckt, unter Verwendung der zentralen Verarbeitungseinheit (150); Auswählen eines dritten Bezugslinienendpunktes (521) auf einem dritten Pixel (563) des Bildes (500) unter Verwendung der Zeigevorrichtung (180); Auswählen eines vierten Bezugslinienendpunktes (522) auf einem vierten Pixel (564) des Bildes (500) untere Verwendung der Zeigevorrichtung (180); Bestimmen der dreidimensionalen Koordinaten mehrerer Punkte auf einer zweiten Bezugslinie (520), die sich zwischen dem dritten Bezugslinienendpunkt (521) und dem vierten Bezugslinienendpunkt (522) erstreckt, unter Verwendung der zentralen Verarbeitungseinheit (150); Bestimmen einer Bezugsoberfläche (550) auf der Basis der dreidimensionalen Koordinaten von wenigstens zwei der mehreren Punkte auf der ersten Bezugslinie (510) und wenigstens einem der mehreren Punkte auf der zweiten Bezugslinie (520) unter Verwendung der zentralen Verarbeitungseinheit (150); Bestimmen einer interessierenden Region (570) für die Bezugsoberfläche (550), die mehrere Punkte auf der Oberfläche der Anomalie (204) aufweist, unter Verwendung der zentralen Verarbeitungseinheit (150); Bestimmen der Abstände zwischen der Bezugsoberfläche (550) und den mehreren Punkten auf der Oberfläche der Anomalie (204) in der interessierenden Region (570) unter Verwendung der zentralen Verarbeitungseinheit (150); Bestimmen der dreidimensionalen Koordinaten des interessierenden Punktes (502) auf der Oberfläche der Anomalie (204) in der interessierenden Region (570), der den größten Abstand zu der Bezugsoberfläche (550) aufweist, unter Verwendung der zentralen Verarbeitungseinheit (150); Bestimmen der dreidimensionalen Koordinaten mehrerer Punkte einer Profiloberflächenkonturlinie (594) auf der Objektoberfläche (210) zwischen der ersten Bezugslinie (510) und der zweiten Bezugslinie (520), die den interessierenden Punkt (502) auf der Oberfläche der Anomalie (204) enthält, unter Verwendung der zentralen Verarbeitungseinheit (150); und Bestimmen eines Profils (600) der Objektoberfläche (210) durch Bestimmung des Abstands von der Bezugsoberfläche (550) zu den mehreren Punkten der Profiloberflächenkonturlinie (594) auf der Objektoberfläche (210) unter Verwendung der zentralen Verarbeitungseinheit (150).Procedure ( 700 ) for automatically identifying a point of interest ( 502 ) on a surface of an anomaly ( 204 ) on an object surface ( 210 ) of a viewed object ( 202 ) ( 202 ), the process ( 700 ) comprises the steps of: displaying an image ( 500 ) of the object surface ( 210 ) ( 210 ) on a monitor ( 170 / 172 ); Determining the three-dimensional coordinates of several points on the object surface ( 210 ) using a central processing unit ( 150 ); Selecting a first reference line end point ( 511 ) on a first pixel ( 561 ) of the picture ( 500 ) using a pointing device ( 180 ); Selecting a second reference line endpoint ( 512 ) on a second pixel ( 562 ) of the picture ( 500 ) using the pointing device ( 180 ); Determining the three-dimensional coordinates of several points on a first reference line ( 510 ) extending between the first reference line end point ( 511 ) and the second reference line endpoint ( 512 ) using the central processing unit ( 150 ); Select a third reference line endpoint ( 521 ) on a third pixel ( 563 ) of the picture ( 500 ) using the pointing device ( 180 ); Selecting a fourth reference line endpoint ( 522 ) on a fourth pixel ( 564 ) of the picture ( 500 ) lower use of the pointing device ( 180 ); Determining the three-dimensional coordinates of several points on a second reference line ( 520 ) extending between the third reference line end point ( 521 ) and the fourth reference line end point ( 522 ) using the central processing unit ( 150 ); Determining a reference surface ( 550 ) based on the three-dimensional coordinates of at least two of the plurality of points on the first reference line (FIG. 510 ) and at least one of the several points on the second reference line ( 520 ) using the central processing unit ( 150 ); Determining a region of interest ( 570 ) for the reference surface ( 550 ), which has several points on the surface of the anomaly ( 204 ) using the central processing unit ( 150 ); Determining the distances between the reference surface ( 550 ) and the multiple points on the surface of the anomaly ( 204 ) in the region of interest ( 570 ) using the central processing unit ( 150 ); Determining the three-dimensional coordinates of the point of interest ( 502 ) on the surface of the anomaly ( 204 ) in the region of interest ( 570 ), which is the largest distance to the reference surface ( 550 ) using the central processing unit ( 150 ); Determining the three-dimensional coordinates of a plurality of points of a profile surface contour line ( 594 ) on the object surface ( 210 ) between the first reference line ( 510 ) and the second reference line ( 520 ) containing the point of interest ( 502 ) on the surface of the anomaly ( 204 ) using the central processing unit ( 150 ); and determining a profile ( 600 ) of the object surface ( 210 ) by determining the distance from the reference surface ( 550 ) to the multiple points of the profile surface contour line ( 594 ) on the object surface ( 210 ) using the central processing unit ( 150 ). Verfahren (700) nach Anspruch 1, wobei der Schritt des Bestimmens der dreidimensionalen Koordinaten der mehreren Punkte auf der ersten Bezugslinie aufweist: Bestimmen einer ersten Bezugslinienebene (581), die die Objektoberfläche (210) schneidet und durch den ersten Bezugslinienendpunkt (511) und den zweiten Bezugslinienendpunkt (521) verläuft; und Bestimmen der dreidimensionalen Koordinaten mehrerer Punkte einer ersten Oberflächenkonturlinie (591) auf der Objektoberfläche (210) in der Nähe der ersten Bezugslinienebene (581).Procedure ( 700 ) according to claim 1, wherein the step of determining the three-dimensional coordinates of the plurality of points on the first reference line comprises: determining a first reference line level ( 581 ), the object surface ( 210 ) and through the first datum endpoint ( 511 ) and the second reference line endpoint ( 521 ) runs; and determining the three-dimensional coordinates of a plurality of points of a first surface contour line ( 591 ) on the object surface ( 210 ) near the first reference level ( 581 ). Verfahren (700) nach Anspruch 1 oder 2, wobei die erste Bezugslinie (510) gerade ist; und/oder wobei die Bezugsoberfläche (550) eine Bezugsebene ist.Procedure ( 700 ) according to claim 1 or 2, wherein the first reference line ( 510 ) is straight; and / or wherein the reference surface ( 550 ) is a reference plane. Verfahren (700) nach einem beliebigen der vorhergehenden Ansprüche, wobei der Schritt des Bestimmens einer interessierenden Region (570) für die Bezugsoberfläche ein Bestimmen eines Polygons (571) auf der Bezugsoberfläche (550) mit Eckpunkten auf der Basis der wenigstens zwei von den mehreren Punkten auf der ersten Bezugslinie (510) und des wenigstens eines der mehreren Punkte auf der zweiten Bezugslinie (520) aufweist, wobei die interessierende Region (570) mehrere Punkte auf der Oberfläche der Anomalie (204) aufweist, die auf Linien liegen, die zu der Bezugsoberfläche (550) senkrecht verlaufen und die die Bezugsoberfläche (550) innerhalb des Polygons (571) schneiden.Procedure ( 700 ) according to any one of the preceding claims, wherein the step of determining a region of interest ( 570 ) determining a polygon for the reference surface ( 571 ) on the reference surface ( 550 ) with vertices based on the at least two of the plurality of points on the first reference line ( 510 ) and the at least one of the plurality of points on the second reference line ( 520 ), the interesting one Region ( 570 ) several points on the surface of the anomaly ( 204 ) lying on lines leading to the reference surface ( 550 ) are perpendicular and the reference surface ( 550 ) within the polygon ( 571 ) to cut. Verfahren (700) nach einem beliebigen der vorhergehenden Ansprüche, wobei der Schritt des Bestimmens einer interessierenden Region (570) für die Bezugsoberfläche (550) ein Bestimmen einer Ebene (580) der interessierenden Region aufweist, die die Bezugsoberfläche (550) schneidet und durch die erste Bezugslinie (510) zwischen den wenigstens zwei der mehreren Punkte auf der ersten Bezugslinie (510) verläuft, wobei die interessierende Region (570) mehrere Punkte auf der Oberfläche der Anomalie (204) aufweist, die innerhalb eines vorbestimmten Abstandes zu der Ebene (580) der interessierenden Region liegen; wobei die Ebene (580) der interessierenden Region vorzugsweise die Bezugsoberfläche (550) senkrecht zu der Bezugsoberfläche (550) schneidet.Procedure ( 700 ) according to any one of the preceding claims, wherein the step of determining a region of interest ( 570 ) for the reference surface ( 550 ) determining a plane ( 580 ) of the region of interest comprising the reference surface ( 550 ) and through the first reference line ( 510 ) between the at least two of the plurality of points on the first reference line ( 510 ), the region of interest ( 570 ) several points on the surface of the anomaly ( 204 ) which is within a predetermined distance to the plane ( 580 ) of the region of interest; where the plane ( 580 ) of the region of interest, preferably the reference surface ( 550 ) perpendicular to the reference surface ( 550 ) cuts. Verfahren (700) nach einem beliebigen der vorhergehenden Ansprüche, das ferner wenigstens einen der Schritte aufweist: Anzeigen einer graphischen Darstellung des Profils (600) der Objektoberfläche (210), das einen Querschnitt des betrachteten Objektes (202) auf der Profiloberflächenkonturlinie (594) aufweist, auf dem Monitor (170/172); Anzeigen des Abstandes (602/604) zwischen der Bezugsoberfläche (550) und dem interessierenden Punkt (502) auf der Oberfläche der Anomalie (204) auf dem Monitor (170/172); und Anzeigen eines Punkte-Wolke-Bildes, das eine dreidimensionale Darstellung der Profiloberflächenkonturlinie (594) aufweist, auf dem Monitor (170/172).Procedure ( 700 ) according to any one of the preceding claims, further comprising at least one of the steps of: displaying a graphical representation of the profile ( 600 ) of the object surface ( 210 ), which is a cross-section of the object under consideration ( 202 ) on the profile surface contour line ( 594 ), on the monitor ( 170 / 172 ); Displaying the distance ( 602 / 604 ) between the reference surface ( 550 ) and the point of interest ( 502 ) on the surface of the anomaly ( 204 ) on the monitor ( 170 / 172 ); and displaying a dot cloud image that is a three-dimensional representation of the profile surface contour line ( 594 ), on the monitor ( 170 / 172 ). Verfahren (700) nach einem beliebigen der vorhergehenden Ansprüche, wobei das Bild (500) ein zweidimensionales Bild ist.Procedure ( 700 ) according to any one of the preceding claims, wherein the image ( 500 ) is a two-dimensional image. Verfahren (700) nach einem beliebigen der vorhergehenden Ansprüche, wobei der Schritt des Bestimmens der dreidimensionalen Koordinaten der mehreren Punkte auf der ersten Bezugslinie (510) ein Durchführen einer Regression an den dreidimensionalen Koordinaten der Punkte auf der Objektoberfläche (210) aufweist, die Pixeln des Bildes (500) in der Nähe einer geraden Linie zwischen dem ersten Pixel (561) und dem zweiten Pixel (562) entsprechen; und/oder wobei der Schritt des Bestimmens der dreidimensionalen Koordinaten der mehreren Punkte auf der ersten Bezugslinie (510) ein Durchführen einer Tiefpassfilterung an den dreidimensionalen Koordinaten der Punkte auf der Objektoberfläche (210) aufweist, die Pixeln des Bildes (500) in der Nähe einer geraden Linie zwischen dem ersten Pixel (561) und dem zweiten Pixel (562) entsprechen.Procedure ( 700 ) according to any one of the preceding claims, wherein the step of determining the three-dimensional coordinates of the plurality of points on the first reference line ( 510 ) performing a regression on the three-dimensional coordinates of the points on the object surface ( 210 ), the pixels of the image ( 500 ) near a straight line between the first pixel ( 561 ) and the second pixel ( 562 ) correspond; and / or wherein the step of determining the three-dimensional coordinates of the plurality of points on the first reference line ( 510 ) performing a low-pass filtering on the three-dimensional coordinates of the points on the object surface ( 210 ), the pixels of the image ( 500 ) near a straight line between the first pixel ( 561 ) and the second pixel ( 562 ) correspond. Verfahren (700) nach einem beliebigen der vorhergehenden Ansprüche, wobei die Profiloberflächenkonturlinie (594) auf der Objektoberfläche (210) einen ersten Punkt (518) auf oder in der Nähe der ersten Bezugslinie (510) und einen zweiten Punkt (528) auf oder in der Nähe der zweiten Bezugslinie (520) aufweist.Procedure ( 700 ) according to any one of the preceding claims, wherein the profile surface contour line ( 594 ) on the object surface ( 210 ) a first point ( 518 ) on or near the first reference line ( 510 ) and a second point ( 528 ) on or near the second reference line ( 520 ) having. Vorrichtung zur automatischen Identifizierung einer interessierenden Stelle (502) auf einer Oberfläche einer Anomalie (204) auf einer Objektoberfläche (210) eines betrachteten Objektes (202), wobei die Vorrichtung aufweist: einen Monitor (170/172) zur Anzeige eines Bildes (500) der Objektoberfläche (210); eine Zeigevorrichtung (180) zur Auswahl eines ersten Bezugslinienendpunktes (511) auf einem ersten Pixel (561) des Bildes (500), Auswahl eines zweiten Bezugslinienendpunktes (512) auf einem zweiten Pixel (562) des Bildes (500), Auswahl eines dritten Bezugslinienendpunktes (521) auf einem dritten Pixel (563) des Bildes (500) und Auswahl eines vierten Bezugslinienendpunktes (522) auf einem vierten Pixel (564) des Bildes (500); und eine zentralen Verarbeitungseinheit (150) zur Bestimmung der dreidimensionalen Koordinaten mehrerer Punkte auf der Objektoberfläche (210); Bestimmung der dreidimensionalen Koordinaten mehrerer Punkte auf einer ersten Bezugslinie (510), die sich zwischen dem ersten Bezugslinienendpunkt (511) und dem zweiten Bezugslinienendpunkt (512) erstreckt, Bestimmung der dreidimensionalen Koordinaten mehrerer Punkte auf einer zweiten Bezugslinie (520), die sich zwischen dem dritten Bezugslinienendpunkt (521) und dem vierten Bezugslinienendpunkt (522) erstreckt, Bestimmung einer Bezugsoberfläche (550) auf der Basis der dreidimensionalen Koordinaten von wenigstens zwei der mehreren Punkte auf der ersten Bezugslinie (510) und wenigstens einem der mehreren Punkte auf der zweiten Bezugslinie (520), Bestimmung einer interessierenden Region (570) für die Bezugsoberfläche (550), die mehrere Punkte auf der Oberfläche der Anomalie (204) aufweist, Bestimmung der Abstände zwischen der Bezugsoberfläche (550) und den mehreren Punkten auf der Oberfläche der Anomalie (204) in der interessierenden Region (570), Bestimmung der dreidimensionalen Koordinaten des interessierenden Punktes (502) auf der Oberfläche der Anomalie (204) in der interessierenden Region (570), der den größten Abstand zu der Bezugsoberfläche (550) aufweist, Bestimmung der dreidimensionalen Koordinaten mehrerer Punkte einer Profiloberflächenkonturlinie (594) auf der Objektoberfläche (210) zwischen der ersten Bezugslinie (510) und der zweiten Bezugslinie (520), die den interessierenden Punkt (502) auf der Oberfläche der Anomalie (204) aufweist, und Bestimmung eines Profils (600) der Objektoberfläche (210) durch Bestimmung des Abstands von der Bezugsoberfläche (550) zu den mehreren Punkten der Profiloberflächenkonturlinie (594) auf der Objektoberfläche (210).Device for automatically identifying a point of interest ( 502 ) on a surface of an anomaly ( 204 ) on an object surface ( 210 ) of a considered object ( 202 ), the device comprising: a monitor ( 170 / 172 ) for displaying an image ( 500 ) of the object surface ( 210 ); a pointing device ( 180 ) for selecting a first reference line end point ( 511 ) on a first pixel ( 561 ) of the picture ( 500 ), Selection of a second reference line end point ( 512 ) on a second pixel ( 562 ) of the picture ( 500 ), Selection of a third reference line end point ( 521 ) on a third pixel ( 563 ) of the picture ( 500 ) and selection of a fourth reference line end point ( 522 ) on a fourth pixel ( 564 ) of the picture ( 500 ); and a central processing unit ( 150 ) for determining the three-dimensional coordinates of a plurality of points on the object surface ( 210 ); Determining the three-dimensional coordinates of several points on a first reference line ( 510 ) extending between the first reference line end point ( 511 ) and the second reference line endpoint ( 512 ), determining the three-dimensional coordinates of a plurality of points on a second reference line ( 520 ) extending between the third reference line end point ( 521 ) and the fourth reference line end point ( 522 ), determination of a reference surface ( 550 ) based on the three-dimensional coordinates of at least two of the plurality of points on the first reference line (FIG. 510 ) and at least one of the several points on the second reference line ( 520 ), Determination of a region of interest ( 570 ) for the reference surface ( 550 ), which has several points on the surface of the anomaly ( 204 ), determination of the distances between the reference surface ( 550 ) and the multiple points on the surface of the anomaly ( 204 ) in the region of interest ( 570 ), Determination of the three-dimensional coordinates of the point of interest ( 502 ) on the surface of the anomaly ( 204 ) in the region of interest ( 570 ), which is the largest distance to the reference surface ( 550 determining three-dimensional coordinates of a plurality of points of a profile surface contour line ( 594 ) on the object surface ( 210 ) between the first reference line ( 510 ) and the second reference line ( 520 ) containing the point of interest ( 502 ) on the surface of the anomaly ( 204 ), and Determination of a profile ( 600 ) of the object surface ( 210 ) by determining the distance from the reference surface ( 550 ) to the multiple points of the profile surface contour line ( 594 ) on the object surface ( 210 ).
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