DE102013212467A1 - Entfernbare beschichtung eines optischen elements - Google Patents

Entfernbare beschichtung eines optischen elements Download PDF

Info

Publication number
DE102013212467A1
DE102013212467A1 DE201310212467 DE102013212467A DE102013212467A1 DE 102013212467 A1 DE102013212467 A1 DE 102013212467A1 DE 201310212467 DE201310212467 DE 201310212467 DE 102013212467 A DE102013212467 A DE 102013212467A DE 102013212467 A1 DE102013212467 A1 DE 102013212467A1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
coating
release layer
optical element
layer
base body
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Ceased
Application number
DE201310212467
Other languages
English (en)
Inventor
Boris Bittner
Norbert Wabra
Sonja Schneider
Ricarda Schneider
Hendrik Wagner
Christian Wald
Walter Pauls
Holger Schmidt
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Carl Zeiss SMT GmbH
Original Assignee
Carl Zeiss SMT GmbH
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Carl Zeiss SMT GmbH filed Critical Carl Zeiss SMT GmbH
Priority to DE201310212467 priority Critical patent/DE102013212467A1/de
Publication of DE102013212467A1 publication Critical patent/DE102013212467A1/de
Priority to PCT/EP2014/063337 priority patent/WO2014207014A1/de
Priority to JP2016522453A priority patent/JP6487424B2/ja
Priority to US14/904,912 priority patent/US20160161852A1/en
Ceased legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B1/00Optical elements characterised by the material of which they are made; Optical coatings for optical elements
    • G02B1/10Optical coatings produced by application to, or surface treatment of, optical elements
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B27/00Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00
    • G02B27/0006Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00 with means to keep optical surfaces clean, e.g. by preventing or removing dirt, stains, contamination, condensation
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B5/00Optical elements other than lenses
    • G02B5/08Mirrors
    • G02B5/0816Multilayer mirrors, i.e. having two or more reflecting layers
    • G02B5/085Multilayer mirrors, i.e. having two or more reflecting layers at least one of the reflecting layers comprising metal
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B5/00Optical elements other than lenses
    • G02B5/08Mirrors
    • G02B5/0891Ultraviolet [UV] mirrors
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/70Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
    • G03F7/70216Mask projection systems
    • G03F7/70316Details of optical elements, e.g. of Bragg reflectors, extreme ultraviolet [EUV] multilayer or bilayer mirrors or diffractive optical elements
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/70Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
    • G03F7/708Construction of apparatus, e.g. environment aspects, hygiene aspects or materials
    • G03F7/70908Hygiene, e.g. preventing apparatus pollution, mitigating effect of pollution or removing pollutants from apparatus
    • G03F7/70925Cleaning, i.e. actively freeing apparatus from pollutants, e.g. using plasma cleaning
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/70Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
    • G03F7/708Construction of apparatus, e.g. environment aspects, hygiene aspects or materials
    • G03F7/7095Materials, e.g. materials for housing, stage or other support having particular properties, e.g. weight, strength, conductivity, thermal expansion coefficient
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/70Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
    • G03F7/708Construction of apparatus, e.g. environment aspects, hygiene aspects or materials
    • G03F7/7095Materials, e.g. materials for housing, stage or other support having particular properties, e.g. weight, strength, conductivity, thermal expansion coefficient
    • G03F7/70958Optical materials or coatings, e.g. with particular transmittance, reflectance or anti-reflection properties
    • GPHYSICS
    • G21NUCLEAR PHYSICS; NUCLEAR ENGINEERING
    • G21KTECHNIQUES FOR HANDLING PARTICLES OR IONISING RADIATION NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; IRRADIATION DEVICES; GAMMA RAY OR X-RAY MICROSCOPES
    • G21K1/00Arrangements for handling particles or ionising radiation, e.g. focusing or moderating
    • G21K1/06Arrangements for handling particles or ionising radiation, e.g. focusing or moderating using diffraction, refraction or reflection, e.g. monochromators
    • G21K1/062Devices having a multilayer structure
    • GPHYSICS
    • G21NUCLEAR PHYSICS; NUCLEAR ENGINEERING
    • G21KTECHNIQUES FOR HANDLING PARTICLES OR IONISING RADIATION NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; IRRADIATION DEVICES; GAMMA RAY OR X-RAY MICROSCOPES
    • G21K2201/00Arrangements for handling radiation or particles
    • G21K2201/06Arrangements for handling radiation or particles using diffractive, refractive or reflecting elements
    • G21K2201/067Construction details

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Epidemiology (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Public Health (AREA)
  • Environmental & Geological Engineering (AREA)
  • Plasma & Fusion (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Atmospheric Sciences (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • High Energy & Nuclear Physics (AREA)
  • Optical Elements Other Than Lenses (AREA)

Abstract

Die vorliegende Erfindung betrifft ein optisches Element insbesondere für eine Projektionsbelichtungsanlage mit einem Grundkörper (9) und mindestens einer optisch wirksamen Fläche (1), an welcher eine Beschichtung vorgesehen ist, wobei zwischen Grundkörper und Beschichtung eine Ablöseschicht (6) vorgesehen ist, die so ausgebildet ist, dass in einem bestimmten Temperaturbereich die Eigenschaften der Ablöseschicht die Abtrennung der Beschichtung vom Grundkörper in der Ablöseschicht oder einer Grenzschicht davon ermöglichen, sowie ein Verfahren zur Reparatur und/oder Aufbereitung von optischen Elementen, das die folgenden Schritte umfasst: Bereitstellung eines optischen Elements mit einem Grundkörper und mindestens einer optisch wirksamen Fläche, an welcher eine Beschichtung vorgesehen ist, wobei zwischen Grundkörper und Beschichtung eine Ablöseschicht vorgesehen ist; Einstellung einer vorbestimmten Temperatur für das optische Element, bei welcher die Ablöseschicht ihre Eigenschaften so verändert, dass die Haftfestigkeit der Beschichtung verringert wird; Abtrennen der Beschichtung vom Grundkörper im Bereich der Ablöseschicht oder an einer Grenzfläche der Ablöseschicht.

Description

  • HINTERGRUND DER ERFINDUNG
  • GEBIET DER ERFINDUNG
  • Die vorliegende Erfindung betrifft ein optisches Element, insbesondere für eine Projektionsbelichtungsanlage, mit einem Grundkörper und mindestens einer optisch wirksamen Fläche, an welcher eine Beschichtung vorgesehen ist, sowie ein Verfahren zur Reparatur und/oder Aufbereitung von derartigen optischen Elementen.
  • STAND DER TECHNIK
  • Zur Herstellung von nano- oder mikrostrukturierten Bauteilen der Elektrotechnik oder der Mikrosystemtechnik werden mikrolithographische Verfahren eingesetzt, bei welchen die zu erzeugenden Strukturen über eine Projektionsbelichtungsanlage auf einem geeigneten Substrat abgebildet werden. Durch die fortschreitende Miniaturisierung der abzubildenden Strukturen kommen Projektionsbelichtungsanlagen zum Einsatz, die mit Licht mit immer kleineren Wellenlängen arbeiten, wie beispielsweise EUV-Projektionsbelichtungsanlagen, die mit Arbeitslicht im Wellenlängenspektrum des extrem ultravioletten (EUV) Lichts zwischen ca. 5 nm und 30 nm arbeiten.
  • Bei derartigen Projektionsbelichtungsanlagen kommen als optische Elemente Spiegel zum Einsatz, die aufwändige und komplexe Beschichtungen in Form von Stapeln aus dünnen Reflexionsschichten aufweisen. Durch die Strahlungsbelastung während des Betriebs der Projektionsbelichtungsanlage können derartige Beschichtungen degradieren und sich insbesondere in ihren optischen Eigenschaften verändern, sodass eine Erneuerung der Beschichtung erforderlich ist. Zudem können Beschichtungen durch Kratzer, lokale Fehlstellen und dergleichen beschädigt werden, sodass auch hier eine Erneuerung der Beschichtung erforderlich wird.
  • Gemäß dem Stand der Technik kann versucht werden, durch Abtragen der Beschichtung, beispielsweise mittels Ionenstrahlbearbeitung, und Überbeschichten des so vorbereiteten Spiegels beschädigte Spiegel zu reparieren. Allerdings entstehen Schwierigkeiten beim Abtragen von Schichtstapeln, beispielsweise durch Ionenstrahlbearbeitung, da durch die verschiedenen Materialien unterschiedliche Abtragsraten zu beobachten sind und somit der Abtrag der Beschichtung schwer kontrollierbar ist. So bleibt häufig als einzige Möglichkeit nur, den Spiegel komplett zu ersetzen, was jedoch aufwändig und teuer ist.
  • OFFENBARUNG DER ERFINDUNG
  • AUFGABE DER ERFINDUNG
  • Es ist deshalb Aufgabe der vorliegenden Erfindung, ein Verfahren und entsprechende optische Elemente bereitzustellen, die eine einfache und effektive Reparatur von optischen Elementen mit Beschichtungen ermöglichen.
  • TECHNISCHE LÖSUNG
  • Diese Aufgabe wird gelöst durch ein optisches Element mit den Merkmalen des Anspruchs 1 sowie ein Verfahren zur Reparatur und/oder Aufbereitung von optischen Elementen mit den Merkmalen des Anspruchs 9. Vorteilhafte Ausgestaltungen sind Gegenstand der abhängigen Ansprüche.
  • Die Erfindung schlägt vor, zwischen dem Grundkörper eines optischen Elements und der Beschichtung eine Ablöseschicht vorzusehen, die es ermöglicht, die Beschichtung von einem Grundkörper bei Bedarf zu entfernen. Dazu wird die Ablöseschicht so ausgebildet, dass die Ablöseschicht in einem bestimmten Temperaturbereich Eigenschaften aufweist, die die Abtrennung der darüber liegenden Beschichtungen vom Grundkörper ermöglicht.
  • Hierzu kann die Ablöseschicht aus einem Material gebildet sein, welches im vorbestimmten Temperaturbereich einen Festigkeitsabfall unter einen bestimmten Schwellwert aufweist, sodass durch die verringerte Festigkeit ein Ablösen der darüber liegenden Beschichtung möglich wird.
  • Das Material der Ablöseschicht kann so gewählt werden, dass es in einem vorbestimmten Temperaturbereich, der für die Ablösung bzw. Abtrennung der Beschichtung von dem Grundkörper des optischen Elements vorgesehen ist, eine Phasenumwandlung durchläuft.
  • Die Phasenumwandlung kann von fest nach flüssig oder von fest nach gasförmig stattfinden. Durch die Phasenumwandlung wird eine deutliche Veränderung der Haftung bewirkt, sodass über der Ablöseschicht liegende Schichten einfach abgetrennt, insbesondere abgeschert bzw. abgezogen werden können.
  • Der vorbestimmte Temperaturbereich, in dem die Ablöseschicht die Abtrennung der Beschichtung vom Grundkörper ermöglicht, kann so gewählt werden, dass sie unterhalb einer für die Beschichtung und/oder den Grundkörper zulässigen Maximaltemperatur und oberhalb einer für das optische Element üblichen und/oder zulässigen Betriebstemperatur liegt. Damit wird einerseits gewährleistet, dass das optische Element während des Betriebs in einem stabilen Zustand vorliegt und dass beim Abtrennen der Beschichtung weder der Grundkörper des optischen Elements, der weiter verwendet werden soll, zerstört wird noch die Ablösung oder Abtrennung durch Auflösung der Beschichtung erschwert wird.
  • Zwischen Ablöseschicht und Beschichtung bzw. zwischen Ablöseschicht und Grundkörper können weitere Schichten, wie Diffusionsbarrieren und/oder Haftvermittlerschichten und/oder Spannungsvermittlungsschichten vorgesehen sein.
  • Die Ablöseschicht kann durch jedes geeignete Verfahren, mit dem die Ablöseschicht in einer gleichmäßigen und definierten Weise auf dem Grundkörper des optischen Elements abgeschieden werden kann, aufgebracht werden. Die Ablöseschicht kann zur Vermeidung von Temperatureinflüssen auf das optische Element in einer vollständigen und gleichmäßigen Schicht auf dem Grundkörper aufgebracht werden und insbesondere aus einem Material gebildet werden, welches unter den Betriebsbedingungen des optischen Elements wenig Einfluss auf die Eigenschaften des optischen Elements nimmt, wie beispielsweise durch thermische Ausdehnung.
  • Beim Abtrennen der Beschichtung vom Grundkörper des optischen Elements wird das gesamte optische Element oder lediglich die Ablöseschicht auf die vorbestimmte Temperatur gebracht, in der die Ablöseschicht ihre Eigenschaften so verändert, dass die Haftfestigkeit der Beschichtung verringert wird. Die Einstellung der Temperatur kann durch Aufheizen mit entsprechend geeigneten Heizquellen, wie Strahlungs- oder Kontaktheizquelle erfolgen. Insbesondere können Infrarotstrahler, Heizplatten oder elektrische Widerstandsheizungen zum Einsatz kommen. Auch eine direkte elektrische Heizung durch Stromleitung durch die Ablöseschicht ist denkbar.
  • Nach der Einstellung der vorbestimmten Temperatur wird die Beschichtung oberhalb der Ablöseschicht entfernt, indem sie beispielsweise durch ein entsprechend geeignetes Greifwerkzeug ergriffen und vom Grundkörper abgelöst wird, beispielsweise durch Abstreifen, tangentiales Abziehen oder dergleichen.
  • Um eine definierte Krafteinwirkung zum Abziehen oder Abtrennen der Beschichtung auf die Beschichtung ausüben zu können, können Klebstoffe und/oder Beschichtungsstoffe zur Verbindung mit einem entsprechenden Werkzeug eingesetzt werden, die zur Erleichterung des Abtrennens bzw. Abziehens auf der optischen Fläche der Beschichtung angeordnet werden können.
  • Nach dem Abtrennen der Beschichtung kann die Ablöseschicht vollständig entfernt werden, und zwar durch verschiedene geeignete Maßnahmen, wie Spülen mit flüssigen oder gasförmigen Medien, mechanisches Abstreifen, Verdampfen oder sonstige thermische Entfernung der Rückstände der Ablöseschicht.
  • KURZBESCHREIBUNG DER FIGUR
  • Die beigefügte Figur zeigt in einer rein schematischen Weise eine teilweise Schnittansicht durch ein optisches Element gemäß der vorliegenden Erfindung.
  • AUSFÜHRUNGSBEISPIELE
  • Weitere Vorteile, Kennzeichen und Merkmale der vorliegenden Erfindung werden bei der nachfolgenden detaillierten Beschreibung der Ausführungsbeispiele deutlich. Allerdings ist die Erfindung nicht auf diese Ausführungsbeispiele beschränkt.
  • Die beigefügte Figur zeigt eine rein schematische Darstellung eines Aufbaus eines Oberflächenbereichs eines erfindungsgemäßen optischen Elements. Bei der Darstellung der Figur handelt es sich um ein Spiegelelement, wie es beispielsweise in einer Projektionsbelichtungsanlage für die Mikrolithographie, insbesondere einer EUV-Projektionsbelichtungsanlage, eingesetzt werden kann. Somit kann der Spiegel ein Kollektorspiegel, ein Spiegel des Beleuchtungssystems oder ein Spiegel des Projektionsobjektives sein.
  • Ein entsprechender Spiegel weist einen Grundkörper 9 auf, der beispielsweise aus einem Material mit geringer Wärmeausdehnung gebildet ist, wie beispielsweise aus dem Material ULE (eingetragene Marke der Firma Corning) oder Zerodur (Marke der Schott AG).
  • Das optische Element weist eine optische Fläche 1 auf, die beispielsweise zur Reflexion des Arbeitslichts einer EUV-Projektionsbelichtungsanlage eingesetzt wird. Hierzu ist auf dem Grundkörper 9 eine Beschichtung 2 in Form eines Stapels dünner Reflexionsschichten vorgesehen, der aus einer Vielzahl von dünnen Schichten zusammengesetzt sein kann, wobei die Schichten beispielsweise alternierend aus zwei Materialien gebildet sein können. Ein Beispiel sind Molybdän- und Siliziumschichten, die abwechselnd in einem derartigen Beschichtungsstapel vorgesehen sein können.
  • Zwischen der Beschichtung 2, die die optisch funktionale Beschichtung darstellt, und dem Grundkörper 9 ist eine Ablöseschicht 6 gemäß der vorliegenden Erfindung ausgebildet, die eine Abtrennung der Beschichtung 2 von dem Grundkörper 9 ermöglicht, falls die Beschichtung 2 ausgetauscht werden muss.
  • Bei dem gezeigten Ausführungsbeispiel sind zusätzliche Schichten vorgesehen, die jedoch unter Umständen weggelassen werden können. In gleicher Weise können oberhalb oder unterhalb der Beschichtung 2 oder als Bestandteil der Beschichtung 2 weitere Schichten vorgesehen sein, die hier nicht dargestellt sind.
  • Beispielsweise kann auch eine Cap-Layer, besispielsweise aus Ru, Rh, Si3N4, oder eine Strahlungsschutzschicht (NiSi) vorhanden sein.
  • Als zusätzliche Schichten können eine Diffusionsbarriere 8 sowie eine Haftvermittlerschicht 7 zwischen der Ablöseschicht 6 und dem Grundkörper 9 sowie eine Haftvermittlerschicht 5 und eine Diffusionsbarriere 4 zwischen der Ablöseschicht 6 und der Beschichtung 2 vorgesehen sein. Zusätzlich kann zwischen der Ablöseschicht 6 und der Beschichtung 2 eine Spannungsvermittlungsschicht 3 vorgesehen sein, die im vorliegenden Ausführungsbeispiel zwischen der Diffusionsbarriere 4 und dem Schichtstapel der Beschichtung 2 angeordnet ist.
  • Selbstverständlich können die verschiedenen Teilschichten, wie Haftvermittlerschichten 7, 5 und Diffusionsbarrieren 4, 8 sowie Spannungsvermittlungsschicht 3 auch in anderer Reihenfolge vorgesehen werden oder teilweise weggelassen werden.
  • Sobald die Beschichtung 2 von dem Grundkörper 9 abgetrennt werden soll, wird das optische Element insgesamt oder speziell die Ablöseschicht auf eine vorbestimmte Temperatur gebracht, die es ermöglicht, die Beschichtung 2 von dem Grundkörper 9 abzutrennen, indem eine Trennung innerhalb der Ablöseschicht 6 oder an einer Grenzfläche der Ablöseschicht 6, also der Grenzfläche zur Haftvermittlerschicht 5 oder zur Haftvermittlerschicht 7 erfolgt.
  • Nach einem Ausführungsbeispiel kann die Ablöseschicht 6 auf eine Temperatur gebracht werden, in der die Ablöseschicht 6 von einem festen in einen flüssigen Zustand übergeht, sodass die darüber liegenden Schichten und insbesondere die Beschichtung 2 durch ein Reinigungstuch abgewischt oder mit einem entsprechenden Greifwerkzeug abgezogen werden können. Die Abziehrichtung kann insbesondere tangential zur Oberfläche erfolgen, da üblicherweise Scherkräfte leichter zu einem Ablösen führen, als Zugkräfte, die gegen Adhäsionskräfte wirken müssen. Zum leichteren Greifen der abzulösenden Beschichtung kann die optische Fläche 1 mit Klebestreifen, sonstigen Klebemitteln oder einer Beschichtung versehen werden.
  • Die Ablöseschicht 6 kann auch verdampft werden, sodass dadurch eine Abtrennung der darüber liegenden Schichten erfolgt.
  • Nach dem Ablösen der Beschichtung 2 und eventuell zwischen der Ablöseschicht 6 und der Beschichtung 2 liegender Schichten, wie Spannungsvermittlungsschicht 3, Diffusionsbarriere 4 und Haftvermittlerschicht 5, wird der Rest der Ablöseschicht 6 vollständig entfernt, beispielsweise durch eine geeignete Spülung im flüssigen oder gasförmigen Medium oder durch thermische Behandlung, bei der entsprechende Rückstände verdampft werden können. Darüber hinaus können auch mechanische oder nasschemische Verfahren zur Entfernung der Ablöseschicht 6 eingesetzt werden.
  • Danach kann sich eine Oberflächenbehandlung der verbliebenen Schichten oder des Grundkörpers 9, beispielsweise durch Ionenstrahlbearbeitung und eine erneute Beschichtung anschließen.
  • Als Ablöseschicht kann das sogenannte Fieldssche Metall, das z. B. ca. 51 Gew.-% Indium, 32,5 Gew.-% Bismut und 16,5 Gew.-% Zinn umfasst, eingesetzt werden, wobei dessen Schmelztemperatur bei 62°C liegt. Als weitere Alternative kann beispielsweise Roses Metall Verwendung finden, das 50 Gew.-% Bismut, 25 Gew.-% Blei und 25 Gew.-% Zinn umfasst und eine Schmelztemperatur bei 98°C aufweist. Bei derartigen Ablöseschichten kann beispielsweise Borkarbid als Diffusionsbarriere gegenüber einem Grundkörper aus ULE oder Zerodur eingesetzt werden.
  • Die oben genannten Materialien für die Ablöseschicht 6 können insbesondere bei Spiegeln in Projektionssystemen eingesetzt werden, da die Schmelztemperaturen der genannten Legierungen oberhalb der Betriebstemperatur eines Spiegels im Projektionssystem liegen, aber deutlich unterhalb der entsprechenden Schmelztemperaturen der Spiegelbeschichtung 2. Für Spiegel, die im Beleuchtungssystem einer Projektionsbelichtungsanlage oder als Kollektor eingesetzt werden, können die Betriebstemperaturen deutlich höher liegen, sodass dort als Ablöseschicht beispielsweise Messinglote oder andere Lote, insbesondere Hartlote, eingesetzt werden können, deren Schmelztemperatur im Bereich von 800°C bis 1.000°C liegt. Je nach Anwendungsfall können somit die entsprechenden Materialien für die Ablöseschicht bestimmt werden.
  • Die Ablöseschicht, die vorzugsweise über die gesamte oder einen Teil der optische wirksamen Fläche angeordnet wird, kann mit einer Dicke im Bereich von wenigen Nanometern bis zu einigen Mikrometern aufgebracht werden.
  • Durch das erfindungsgemäße Verfahren und die erfindungsgemäßen optischen Elemente ist somit eine einfache Möglichkeit gegeben, eine Reparatur an einem optischen Element durchzuführen, indem eine entsprechende Beschichtung erneuert wird.
  • Obwohl die vorliegende Erfindung anhand der Ausführungsbeispiele detailliert beschrieben worden ist, ist für den Fachmann selbstverständlich, dass die Erfindung nicht auf diese Ausführungsbeispiele beschränkt ist, sondern dass vielmehr Abwandlungen in der Weise möglich sind, dass einzelne Merkmale weggelassen oder andersartige Kombinationen der Merkmale verwirklicht werden können, solange der Schutzbereich der beigefügten Ansprüche nicht verlassen wird. Die vorliegende Offenbarung schließt sämtliche Kombinationen der vorgestellten Einzelmerkmale mit ein.

Claims (12)

  1. Optisches Element, insbesondere für eine Projektionsbelichtungsanlage mit einem Grundkörper (9) und mindestens einer optisch wirksamen Fläche (1), an welcher eine Beschichtung (2) vorgesehen ist, dadurch gekennzeichnet, dass zwischen Grundkörper und Beschichtung eine Ablöseschicht (6) vorgesehen ist, die so ausgebildet ist, dass in einem bestimmten Temperaturbereich die Eigenschaften der Ablöseschicht die Abtrennung der Beschichtung vom Grundkörper in der Ablöseschicht oder einer Grenzschicht davon ermöglichen.
  2. Optisches Element nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass die Ablöseschicht (6) aus einem Material gebildet ist, welches im vorbestimmten Temperaturbereich einen Festigkeitsabfall unter einen bestimmten Schwellwert aufweist und/oder eine Phasenumwandlung durchläuft.
  3. Optisches Element nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, dass die Ablöseschicht (6) aus einem Material gebildet ist, welches im vorbestimmten Temperaturbereich eine Phasenumwandlung von fest nach flüssig und/oder gasförmig durchläuft.
  4. Optisches Element nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass der vorbestimmte Temperaturbereich unterhalb einer für die Beschichtung und/oder den Grundkörper zulässigen Maximaltemperatur und oberhalb einer für das optische Element üblichen und/oder zulässigen Betriebstemperatur liegt.
  5. Optisches Element nach einem der ovhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass die Ablöseschicht eine chemische Zusammensetzung von 51 Gew.-% Indium, 32,5 Gew.-% Bismut und 16,5 Gew.-% Zinn oder 50 Gew.-% Bismut, 25 Gew.-% Blei und 25 Gew.-% Zinn aufweist.
  6. Optisches Element nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass zwischen Ablöseschicht (6) und Beschichtung (2) und/oder zwischen Ablöseschicht (6) und Grundkörper (9) eine Diffusionsbarriere (4, 8) und/oder Haftvermittlerschicht (5, 7) angeordnet ist.
  7. Optisches Element nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass das optische Element ein Spiegel ist und die Beschichtung (2) aus einem Stapel dünner Reflexionsschichten gebildet ist.
  8. Optisches Element nach Anspruch 6 oder 7, dadurch gekennzeichnet, dass zwischen Ablöseschicht oder Diffusionsbarriere und Beschichtung eine Spannungsvermittlungsschicht (3) angeordnet ist.
  9. Verfahren zur Reparatur und/oder Aufbereitung von optischen Elementen, insbesondere von optischen Elementen nach einem der vorhergehenden Ansprüche, das die folgenden Schritte umfasst: Bereitstellung eines optischen Elements mit einem Grundkörper (9) und mindestens einer optisch wirksamen Fläche (1), an welcher eine Beschichtung (2) vorgesehen ist, wobei zwischen Grundkörper und Beschichtung eine Ablöseschicht vorgesehen ist; Einstellung einer vorbestimmten Temperatur für das optische Element, bei welcher die Ablöseschicht ihre Eigenschaften so verändert, dass die Haftfestigkeit der Beschichtung verringert wird; Abtrennen der Beschichtung vom Grundkörper im Bereich der Ablöseschicht oder an einer Grenzfläche der Ablöseschicht.
  10. Verfahren nach Anspruch 9, dadurch gekennzeichnet, dass die Einstellung der vorbestimmten Temperatur durch Aufheizen, insbesondere mittels Kontakt- oder Strahlungsheizung, vorzugsweise durch eine Heizplatte, einen Infrarotstrahler oder durch elektrische Widerstandsheizung erfolgt.
  11. Verfahren nach Anspruch 9 oder 10, dadurch gekennzeichnet, dass die Beschichtung zum Abtrennen mit einem Greifwerkzeug ergriffen wird und/oder mit einem Klebstoff und/oder Beschichtungsstoff zur Bildung einer Adhäsionsschicht versehen wird.
  12. Verfahren nach einem der Ansprüche 9 bis 11, dadurch gekennzeichnet, dass die Ablöseschicht nach Abtrennung der Beschichtung vollständig entfernt wird.
DE201310212467 2013-06-27 2013-06-27 Entfernbare beschichtung eines optischen elements Ceased DE102013212467A1 (de)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE201310212467 DE102013212467A1 (de) 2013-06-27 2013-06-27 Entfernbare beschichtung eines optischen elements
PCT/EP2014/063337 WO2014207014A1 (de) 2013-06-27 2014-06-25 Spiegel für eine mikrolithographische projektionsbelichtungsanlage sowie verfahren zur bearbeitung eines spiegels
JP2016522453A JP6487424B2 (ja) 2013-06-27 2014-06-25 マイクロリソグラフィ投影露光システムのミラー及びミラーを加工する方法
US14/904,912 US20160161852A1 (en) 2013-06-27 2016-01-13 Mirror for a microlithographic projection exposure system and method for processing a mirror

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE201310212467 DE102013212467A1 (de) 2013-06-27 2013-06-27 Entfernbare beschichtung eines optischen elements

Publications (1)

Publication Number Publication Date
DE102013212467A1 true DE102013212467A1 (de) 2014-04-24

Family

ID=50437195

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE201310212467 Ceased DE102013212467A1 (de) 2013-06-27 2013-06-27 Entfernbare beschichtung eines optischen elements

Country Status (1)

Country Link
DE (1) DE102013212467A1 (de)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102017217077A1 (de) 2017-09-26 2018-08-02 Carl Zeiss Smt Gmbh Verfahren und vorrichtung zur entschichtung von bauteilen optischer anordnungen
WO2022161942A1 (de) * 2021-01-28 2022-08-04 Carl Zeiss Smt Gmbh Reflektives optisches element und verfahren zur reparatur und/oder aufbereitung eines reflektiven optischen elements

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20030214735A1 (en) * 2002-05-17 2003-11-20 Fumitaro Masaki Optical element, and light source unit and exposure apparatus having the same
DE102011080409A1 (de) * 2011-08-04 2012-12-06 Carl Zeiss Smt Gmbh Entfernen von Schichten einer EUV-Strahlung reflektierenden Beschichtung von einem Substrat
DE102012200454A1 (de) * 2012-01-13 2013-01-03 Carl Zeiss Smt Gmbh Verfahren zur Herstellung eines reflektiven optischen Elements und reflektives optisches Element

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20030214735A1 (en) * 2002-05-17 2003-11-20 Fumitaro Masaki Optical element, and light source unit and exposure apparatus having the same
DE102011080409A1 (de) * 2011-08-04 2012-12-06 Carl Zeiss Smt Gmbh Entfernen von Schichten einer EUV-Strahlung reflektierenden Beschichtung von einem Substrat
DE102012200454A1 (de) * 2012-01-13 2013-01-03 Carl Zeiss Smt Gmbh Verfahren zur Herstellung eines reflektiven optischen Elements und reflektives optisches Element

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102017217077A1 (de) 2017-09-26 2018-08-02 Carl Zeiss Smt Gmbh Verfahren und vorrichtung zur entschichtung von bauteilen optischer anordnungen
WO2022161942A1 (de) * 2021-01-28 2022-08-04 Carl Zeiss Smt Gmbh Reflektives optisches element und verfahren zur reparatur und/oder aufbereitung eines reflektiven optischen elements

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE102011015141A1 (de) Verfahren zum Herstellen eines reflektiven optischen Bauelements für eine EUV-Projektionsbelichtungsanlage und derartiges Bauelement
DE102011076845B4 (de) Niedrigtemperaturbindeverfahren und Heterostruktur
EP2130213B1 (de) Verfahren zum laser-gestützten bonden, und deren verwendung
EP1384255B1 (de) Verfahren zum rückseitenschleifen von wafern
DE102011077983A1 (de) Verfahren zur Herstellung eines reflektiven optischen Elements für die EUV-Lithographie
EP2678287B1 (de) Verfahren zum fügen von substraten
EP2422364B1 (de) Vorrichtung zur ausrichtung und vorfixierung eines wafers
DE102013212467A1 (de) Entfernbare beschichtung eines optischen elements
DE102008040964A1 (de) Entfernen reflektierender Schichten von EUV-Spiegeln
DE112016005340T5 (de) Befestigen von Halbleiter-auf-Diamant-Wafern zur Bauteilverarbeitung
DE102011080409A1 (de) Entfernen von Schichten einer EUV-Strahlung reflektierenden Beschichtung von einem Substrat
DE102015200328A1 (de) Verfahren zum Herstellen eines optischen Elements für ein optisches System, insbesondere für einemikrolithographische Projektionsbelichtungsanlage
DE102015208831B4 (de) Verfahren zum Herstellen eines EUV-Moduls, EUV-Modul und EUV-Lithographiesystem
DE102014202842A1 (de) Verfahren zum Herstellen eines mikromechanischen Bauteils und mikromechanisches Bauteil
DE102008054882A1 (de) Reparaturverfahren für optische Elemente mit Beschichtung und entsprechende optische Elemente
DE102013215541A1 (de) Spiegel, insbesondere für eine mikrolithographische Projektionsbelichtungsanlage
WO2014207014A1 (de) Spiegel für eine mikrolithographische projektionsbelichtungsanlage sowie verfahren zur bearbeitung eines spiegels
DE102006011973B4 (de) Spiegel mit einer Silberschicht
DE102012207141A1 (de) Verfahren zur Reparatur von optischen Elementen sowie optisches Element
DE102012200454A1 (de) Verfahren zur Herstellung eines reflektiven optischen Elements und reflektives optisches Element
DE102015212281A1 (de) Verfahren zum Verbinden mit einer Silberpaste
DE102004060184A1 (de) EUV-Spiegelanordnung
DE102017216128A1 (de) Verfahren zum Bearbeiten eines Werkstücks bei der Herstellung eines optischen Elements
DE102021200748A1 (de) Reflektives optisches Element und Verfahren zur Reparatur und/oder Aufbereitung eines reflektiven optischen Elements
DE10220045A1 (de) Verfahren zur Herstellung eines optischen Elementes aus Quarzsubstrat

Legal Events

Date Code Title Description
R012 Request for examination validly filed
R230 Request for early publication
R002 Refusal decision in examination/registration proceedings
R003 Refusal decision now final