DE102013112601A1 - Microscopic imaging device - Google Patents
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Abstract
Die Erfindung bezieht sich auf eine mikroskopische Abbildungseinrichtung mit einem Objektiv (7), das durch eine transparente Abdeckung hindurch auf einen abzubildenden Bereich einer Probe (1) gerichtet ist, insbesondere einer in einem Probenbehälter (3) befindlichen und von einem Immersionsmedium (2) umschlossenen Probe (1), wobei der Strahlengang die transparente Abdeckung, mindestens eine Wandungen des Probenbehälters (3) und das Immersionsmedium (2) durchdringt. Die Aufgabe der Erfindung besteht darin, eine mikroskopische Abbildungseinrichtung der genannten Art so weiterzubilden, dass sowohl bei senkrechter als auch schräger Durchstrahlung einer Probenbehälterwandung oder der transparenten Abdeckung Änderungen der Dicke oder Änderungen der Brechzahl der zu durchdringenden Medien oder des Immersionsmediums (2) schon während der Probenbeobachtung ausgeglichen werden. Die Aufgabe wird dadurch gelöst, dass im Strahlengang der mikroskopischen Abbildungseinrichtung zwischen der Probe (1) und dem Objektiv (7) Mittel zur Kompensation von Abbildungsfehlern schon während der Probenbeobachtung vorgesehen sind, welche die beschriebenen Ursachen haben.The invention relates to a microscopic imaging device with an objective (7) which is directed through a transparent cover onto an area of a sample (1) to be imaged, in particular one located in a sample container (3) and surrounded by an immersion medium (2) Sample (1), wherein the beam path penetrates the transparent cover, at least one wall of the sample container (3) and the immersion medium (2). The object of the invention is to develop a microscopic imaging device of the type mentioned in such a way that changes in the thickness or changes in the refractive index of the media to be penetrated or of the immersion medium (2) during both vertical and oblique irradiation of a sample container wall or the transparent cover during the Sample observation are compensated. The object is achieved in that in the beam path of the microscopic imaging device between the sample (1) and the lens (7) means for compensating aberrations are already provided during the sample observation, which have the causes described.
Description
Die Erfindung bezieht sich auf eine mikroskopische Abbildungseinrichtung mit einem Objektiv, das durch eine transparente Abdeckung hindurch auf einen abzubildenden Bereich einer Probe gerichtet ist. Vorzugsweise befindet sich die Probe in einem Probenbehälter und ist von einem Immersionsmedium umschlossenen, wobei der Strahlengang die transparente Abdeckung, das Immersionsmedium und gegebenenfalls eine Wandung des Probenbehälters und durchdringt. The invention relates to a microscopic imaging device with a lens which is directed through a transparent cover to a region of a sample to be imaged. Preferably, the sample is in a sample container and is surrounded by an immersion medium, wherein the beam path penetrates the transparent cover, the immersion medium and optionally a wall of the sample container and.
Nach Stand der Technik sind Abbildungseinrichtungen dieser Art mit sehr gut auf unendlich korrigierten Objektiven ausgestattet und bieten eine gute Abbildungsqualität. Nachteilig dabei ist jedoch, dass die Abbildungsqualität sehr empfindlich auf Veränderungen der optischen Bedingungen im Probenraum reagiert, wie zum Beispiel Änderungen der Dicke der zu durchdringenden Fenster oder Änderungen der Brechzahl des Fenstermaterials und des Immersionsmediums, insbesondere in Abhängigkeit von Temperatureinflüssen. Diese Empfindlichkeit besteht vor allem bei objektseitig sehr hoher numerischer Apertur, wie z.B. NA 1.2 in Wasser. According to the state of the art, imaging devices of this type are equipped with lenses that are very well corrected for infinity and offer good imaging quality. The disadvantage here, however, is that the imaging quality is very sensitive to changes in the optical conditions in the sample space, such as changes in the thickness of the windows to be penetrated or changes in the refractive index of the window material and the immersion medium, in particular as a function of temperature influences. This sensitivity exists above all with an object-side very high numerical aperture, such as e.g. NA 1.2 in water.
Infolge der stets wachsenden Anforderungen an die Abbildungsqualität bei mikroskopischen Abbildungseinrichtungen der beschriebenen Kategorie besteht das Bedürfnis, Abbildungsfehler, die aus den genannten Gründen während der Probenbeobachtung entstehen, zeitgleich oder zumindest zeitnah mit ihrer Entstehung zu kompensieren. Bei diesbezüglich bisher bekannten Kompensationsmitteln erfolgt der Ausgleich von Veränderungen im Probenraum, die solche Abbildungsfehler bzw. Aberrationen zur Folge haben, durch axiale Verschiebung und / oder radiale Drehung von einer oder mehreren in das Objektiv integrierten Korrekturlinsen oder Korrekturlinsengruppen. As a result of the ever-increasing demands on the imaging quality in microscopic imaging devices of the category described, there is a need to compensate for aberrations that arise during the observation of the samples at the same time or at least in a timely manner with their formation. Compensation means hitherto known in this respect compensate for changes in the sample space which result in such aberrations or aberrations by axial displacement and / or radial rotation of one or more correction lenses or correction lens groups integrated into the objective.
Ein Beispiel dafür ist in
Eine manuell zu bedienende Vorrichtung zur Einstellung oder Justierung optischer Komponenten in einem Mikroskopobjektiv ist in
Bei einer Vorrichtung zum Antreiben eines Korrekturrings nach
In
Insbesondere dann, wenn das Deckglas oder eine sonstige transparente Abdeckung schief durchstrahlt wird, der Hauptstrahl des Achsbündels also nicht parallel zur Flächennormalen der Abdeckung verläuft, werden durch Änderungen der Dicke der zu durchdringenden Medien zusätzlich auch Abbildungsfehler infolge unsymmetrischer Aberrationen verursacht, die sich mit den bisher bekannten Korrekturmitteln, nämlich durch axiale oder radiale Bewegungen von Linsen oder Linsengruppen im Objektiv, nicht kompensieren lassen. In particular, when the cover glass or other transparent cover is obliquely irradiated, so the main beam of the axis bundle is not parallel to the surface normal of the cover, are caused by changes in the thickness of the media to be penetrated additionally aberrations due to asymmetrical aberrations, which are with the previously known correction means, namely by axial or radial movements of lenses or lens groups in the lens, can not compensate.
Davon ausgehend besteht die Aufgabe der Erfindung darin, eine mikroskopische Abbildungseinrichtung der eingangs genannten Art so weiterzubilden, dass sowohl bei senkrechter als auch schräger Durchstrahlung der transparenten Abdeckung schon während der Probenbeobachtung Abbildungsfehler kompensiert werden, die ihre Ursache in Änderungen der optischen Bedingungen im Probenraum haben, wie Änderungen der Temperatur und damit Änderungen der Dicke und der Brechzahl der zu durchdringenden Medien. On this basis, the object of the invention is to further develop a microscopic imaging device of the type mentioned above, that aberrations that are caused by changes in the optical conditions in the sample space are already compensated for during vertical and oblique irradiation of the transparent cover during the observation of the sample. such as changes in temperature and thus changes in the thickness and refractive index of the media to be penetrated.
Diese Aufgabe wird dadurch gelöst, dass im Strahlengang der mikroskopischen Abbildungseinrichtung zwischen der Probe und dem Objektiv Mittel zur Kompensation solcher Abbildungsfehler vorgesehen sind, welche die vorbeschriebenen Ursachen haben. This object is achieved in that means for compensating such aberrations are provided in the beam path of the microscopic imaging device between the sample and the lens, which have the above causes.
Die Kompensationsmittel umfassen optische Komponenten, die für den Beleuchtungs- oder Abbildungsstrahlengang transparent sind und die zwei zu durchdringende Grenzflächen aufweisen, deren in Durchtrittsrichtung gemessener Abstand zueinander variierbar ist. Während einer Probenbeobachtung wird dieser Abstand in Abhängigkeit von auftretenden Abbildungsfehlern so eingestellt, dass diese Abbildungsfehler kompensiert werden. Die Brechzahl der optischen Komponenten ist mit der Brechzahl der sonstigen im Probenraum zu durchdringenden Medien entweder identisch oder weicht maximal um eine vorgegebene Toleranz, beispielsweise von 5%, davon ab. The compensation means comprise optical components that are transparent to the illumination or imaging beam path and the two have to be penetrated interfaces whose measured in the direction of passage distance is variable to each other. During a sample observation, this distance is set as a function of occurring aberrations, so that these aberrations are compensated. The refractive index of the optical components is either identical to the refractive index of the other media to be penetrated in the sample space or differs at most by a predetermined tolerance, for example of 5%, from it.
In einer ersten bevorzugten Ausführungsform der erfindungsgemäßen Abbildungseinrichtung sind zwei keilförmige optische Komponenten vorgesehen, bei denen der Abstand der zu durchdringenden Grenzflächen durch Verschiebung von mindestens einer dieser Komponenten senkrecht zur Durchstrahlungsrichtung relativ der zur anderen veränderbar ist. Dabei sind die optischen Komponenten sinngemäß als zwei identische Keile so im Strahlengang aufeinander folgend angeordnet, dass die zu durchdringenden Grenzflächen den äußeren Grenzflächen einer planparallelen Platte entsprechen. In unterschiedlichen Ausgestaltungen kann vorgesehen sein, dass entweder nur ein Keil relativ zu dem anderen bewegt wird oder beide Keile in entgegengesetzter Richtung bewegt werden, um den Abstand der zu durchdringenden Grenzflächen in Abhängigkeit von zu kompensierenden Abbildungsfehlern zu verändern. Vorteilhaft kann zwischen den Keilen eine Zwischenschicht aus einem flüssigen Medium vorgesehen sein, dessen Brechzahl der Brechzahl des Keilmediums entspricht oder maximal um eine Toleranz von 10% davon abweicht, so dass die Keile leicht gegeneinander beweglich sind. Dieses Medium kann insbesondere bei Numerischen Aperturen im Abbildungssystems im Bereich von 1 und > 1 zugleich dazu dienen, das Auftreten von totalen inneren Reflexionen zu verhindern. Ein solches Medium kann beispielsweise Öl oder Wasser sein. Die Keilbewegung kann in unterschiedlichen Ausgestaltungen manuell oder auch motorisch ausgelöst werden. In a first preferred embodiment of the imaging device according to the invention two wedge-shaped optical components are provided, in which the distance of the interfaces to be penetrated by displacement of at least one of these components perpendicular to the transmission direction relative to the other is variable. In this case, the optical components are mutatis mutandis arranged as two identical wedges in the beam path successively, that correspond to the interfaces to be penetrated the outer boundary surfaces of a plane-parallel plate. In various embodiments, it can be provided that either only one wedge is moved relative to the other or both wedges are moved in the opposite direction in order to change the distance of the interfaces to be penetrated as a function of aberrations to be compensated. Advantageously, an intermediate layer of a liquid medium can be provided between the wedges, whose refractive index corresponds to the refractive index of the wedge medium or deviates from it by a tolerance of 10%, so that the wedges are easily movable relative to one another. In particular, in the case of numerical apertures in the imaging system in the range of 1 and> 1, this medium can at the same time serve to prevent the occurrence of total internal reflections. Such a medium may be, for example, oil or water. The wedge movement can be triggered manually or motorized in different configurations.
In einer zweiten bevorzugten Ausführungsform der erfindungsgemäßen Abbildungseinrichtung erfolgt die Komponentenverschiebung hydraulisch indem ein Druckmedium, vorzugsweise ein Öl, aus einem Reservoir zwischen die Komponenten gedrückt wird, so dass sich der Abstand der Komponenten und damit auch der Abstand der zu durchdringenden Grenzflächen zueinander vergrößert, oder umgekehrt das Druckmedium aus dem Komponentenzwischenraum in das Reservoir gesaugt wird, so dass sich der Abstand verringert. Die Brechzahl des Öls ist mit der Brechzahl der zu durchdringenden Medien identisch oder weicht lediglich um eine vorgegebene Toleranz davon ab. Im Rahmen der Erfindung liegt es dagegen auch, zur Verschiebung einer Komponente einen elektromechanischen Antrieb vorzusehen, etwa auf der Basis eines hochauflösenden Schrittmotors oder von Piezoelementen. In a second preferred embodiment of the imaging device according to the invention, the component displacement is performed hydraulically by a pressure medium, preferably an oil, is pressed from a reservoir between the components, so that the distance between the components and thus the distance of the interfaces to be penetrated increases, or vice versa the pressure medium from the component gap is sucked into the reservoir, so that the distance is reduced. The refractive index of the oil is identical to the refractive index of the media to be penetrated or differs only by a predetermined tolerance thereof. In the context of the invention, on the other hand, it is also necessary to provide an electromechanical drive for displacing a component, for example on the basis of a high-resolution stepping motor or of piezoelectric elements.
In beiden dargestellten Fällen bilden die beiden optischen Komponenten aufgrund ihrer miteinander kommunizierenden Funktionsweise einen Kompensator zum Ausgleich von Abbildungsfehlern. In both illustrated cases, the two optical components form a compensator for compensating aberrations due to their communication with each other.
Vorteilhaft kann in drei weiteren unterschiedlichen Ausführungsformen der Erfindung vorgesehen sein, dass die optische Achse des Objektivs
- – zu der Flächennormalen der zu durchdringenden Grenzflächen parallel ausgerichtet ist,
- – mit der Flächennormalen der zu durchdringenden Grenzflächen einen von Null verschiedenen Winkel δ einschließt, oder
- – mit der Flächennormalen der zu durchdringenden Grenzflächen einen von Null verschiedenen Winkel δ einschließt und ein zusätzliches Korrekturelement vorgesehen ist.
- - is aligned parallel to the surface normal of the interfaces to be penetrated,
- - Includes with the surface normal of the interfaces to be penetrated a nonzero angle δ, or
- - Includes with the surface normal of the interfaces to be penetrated a non-zero angle δ and an additional correction element is provided.
Im vorgenannten ersten bewirken die oben beschriebenen Kompensationsmittel die Kompensation der Abbildungsfehler, die während der Probenbeobachtung aufgrund von Änderungen der Dicke und der Brechzahlen der zu durchdringenden Medien entstehen. In the aforesaid first, the compensation means described above cause the compensation of the aberrations which occur during the observation of the sample due to changes in the thickness and the refractive indices of the media to be penetrated.
Im zweiten Fall werden wiederum die Abbildungsfehler, die während der Probenbeobachtung aufgrund von Änderungen der Dicke und der Brechzahlen der zu durchdringenden Medien entstehen, mit den oben beschriebenen Kompensationsmitteln kompensiert. Mittel für eine Korrektur von Aberrationen, die aufgrund des schiefen Durchgangs entstehend, sind hier nicht vorgesehen. Diese Korrektur könnte beispielsweise außerhalb des Probenraumes mit einer entsprechend ausgelegten Abbildungsoptik vorgenommen werden. In the second case, in turn, the aberrations that occur during the sample observation due to changes in the thickness and the refractive indices of the media to be penetrated, compensated with the compensation means described above. Means for correcting aberrations due to the oblique passage are not provided here. This correction could, for example, be made outside the sample space with a correspondingly designed imaging optics.
Bei dem dritten Fall bewirken wiederum die erfindungsgemäßen Kompensationsmittel die Kompensation der Abbildungsfehler, die während der Probenbeobachtung aufgrund von Änderungen der Dicke und der Brechzahlen der zu durchdringenden Medien entstehen, während mit dem zusätzlichen Korrekturelement nun dafür gesorgt ist, dass die aufgrund des schiefen Durchgangs entstehenden Aberrationen nun bereits im Probenraum korrigiert werden, und zwar je nach Ausgestaltung des Korrekturelementes entweder für eine bestimmte Objektebene oder für ein ganzes Objektvolumen. In the third case, in turn, the compensation means according to the invention cause the compensation of the aberrations that arise during the sample observation due to changes in the thickness and the refractive indices of the media to be penetrated, while the additional correction element now ensures that the aberrations resulting from the oblique passage now already be corrected in the sample space, depending on the design of the correction element either for a certain object level or for a whole object volume.
Soll die Korrektur nur für eine bestimmte Objektebene vorgenommen werden, umfasst das Korrekturelement eine optische Baugruppe, die nur diese Objektebene abbildet und dabei zugleich die Aberrationen korrigiert, die aufgrund des schiefen Durchgangs bei der Abbildung der betreffenden Objektebene entstehen. Die Korrektur dieser Aberrationen ist mit mindestens einem sphärischen, asphärischen oder optischen Freiformelement vorgesehen. If the correction is to be made only for a specific object plane, the correction element comprises an optical assembly which only images this object plane and at the same time corrects the aberrations that result from the oblique passage when imaging the relevant object plane. The correction of these aberrations is provided with at least one spherical, aspherical or optical free-form element.
Sollen dagegen die beim schiefen Durchgang entstehenden Aberrationen für ein ganzes Objektvolumen korrigiert werden, umfasst das Korrekturelement eine optische Baugruppe, die das Objektvolumen abbildet und dabei zugleich die Aberrationen korrigiert, die aufgrund des schiefen Durchgangs bei der Abbildung des betreffenden Objektvolumens entstehen. Die Korrektur dieser Aberrationen ist ebenfalls mit mindestens einem sphärischen, asphärischen oder optischen Freiformelement vorgesehen. Eine Volumenabbildung erfolgt, wenn die Vergrößerung durch die optische Baugruppe die Bedingung M=|n/n‘| erfüllt, mit M der Vergrößerung, n der Brechzahl des zu passierenden Mediums vor dem Korrekturelement und n‘ der Brechzahl des zu passierenden Mediums nach dem Korrekturelement. Eine solche Baugruppe wird in der Fachsprache als virtuelles Relay bezeichnet. If, on the other hand, the aberrations arising during the oblique passage are to be corrected for an entire object volume, the correction element comprises an optical module which images the object volume and at the same time corrects the aberrations that arise due to the oblique passage in the imaging of the relevant object volume. The correction of these aberrations is also provided with at least one spherical, aspheric or optical free-form element. A volume map occurs when the magnification through the optical assembly satisfies the condition M = | n / n '| satisfies, with M the magnification, n of the refractive index of the medium to be passed before the correction element and n 'the refractive index of the medium to be passed after the correction element. Such an assembly is referred to in the jargon as a virtual relay.
In zwei weiteren Ausführungsformen
- – befindet sich die Probe in einem Probenbehälter, das mit einem Deckglas abgedeckt ist, durch das hindurch die Probe abzubilden ist, und die Kompensationsmittel sind zwischen dem Deckglas und dem Objektiv angeordnet, oder
- – die Probe befindet sich in einem Probenbehälter, die Kompensationsmittel sind als Abdeckung des Probenbehälters ausgebildet und die Abbildung der Probe ist durch die Kompensationsmittel hindurch vorgesehen.
- The sample is in a sample container covered with a cover glass through which the sample is to be imaged, and the compensation means are arranged between the cover glass and the objective, or
- - The sample is located in a sample container, the compensation means are formed as a cover of the sample container and the image of the sample is provided through the compensation means.
In der ersten der vorgenannten Ausführungsformen wird eine Abweichung der Deckglasdicke durch eine Änderung der Dicke des Kompensators mit gleichem Betrag, aber umgekehrtem Vorzeichen kompensiert, so dass die Gesamtdicke von Deckglas und Kompensator wieder dem vorgegebenen optischen Designwert entspricht. In beiden Ausführungsformen ist es vorteilhaft, ein für die Dicke des Paketes aus Deckglas und Kompensator bzw. für die Dicke des Kompensators korrigiertes Objektiv zu verwenden. In the first of the aforementioned embodiments, a deviation of the cover glass thickness is compensated by a change in the thickness of the compensator with the same amount, but opposite sign, so that the total thickness of cover glass and compensator again corresponds to the predetermined optical design value. In both embodiments it is advantageous to use an objective corrected for the thickness of the cover glass and compensator package or for the thickness of the compensator.
Weiterhin kann die erfindungsgemäße Abbildungseinrichtung entweder ausgebildet sein
- – zur Lichtmikroskopie, wobei eine Beleuchtungsoptik zur Beleuchtung der Probe mit einem rotationssymmetrisch um die optische Achse der Beleuchtungsoptik ausgebreiteten Strahlengang im Auflicht oder Durchlicht vorgesehen ist, oder
- – zur Lichtblattmikroskopie, umfassend eine Beleuchtungsoptik zur Beleuchtung der Probe im Auflicht mit einem Lichtblatt, das mit der optischen Achse der Beleuchtungsoptik in einer Ebene liegt, wobei die Beleuchtungsoptik und das Objektiv in Schwerkraftrichtung gesehen unterhalb des Probenbehälters angeordnet sind.
- - For light microscopy, wherein an illumination optical system for illuminating the sample with a rotationally symmetric spread around the optical axis of the illumination optical system is provided in incident or transmitted light, or
- - For light sheet microscopy, comprising an illumination optical system for illuminating the sample in incident light with a light sheet, which lies with the optical axis of the illumination optics in a plane, the illumination optics and the lens are arranged in the direction of gravity below the sample container.
Als Immersionsflüssigkeit kann Wasser, als Material für die zu durchdringende Probenbehälterwandung, für das Deckglas und / oder für die optischen Komponenten des Kompensators kann ein optisches Glas, PTFE, CYTOP®, FEP, Teflon® AF oder ein Polymer vorgesehen sein. As immersion liquid, water, as material for the sample container wall to be penetrated, for the cover glass and / or for the optical components of the compensator, an optical glass, PTFE, CYTOP ® , FEP, Teflon ® AF or a polymer may be provided.
In einer weiteren vorteilhaften Ausführung kann die erfindungsgemäße Abbildungseinrichtung eine Regeleinrichtung zur Variation des Abstandes der zu durchdringenden Grenzflächen der optischen Komponenten in Abhängigkeit von Abbildungsfehlern umfassen, die während der Probenbeobachtung aufgrund von Änderungen der Dicke und der Brechzahlen der zu durchdringenden Medien auftreten, so dass diese automatisch zeitnah zu ihrer Entstehung kompensiert werden. Dabei werden die Abbildungsfehler messtechnisch erfasst, aus dem Messergebnis wird eine Stellgröße ermittelt, und unter Vorgabe dieser Stellgröße wird die automatische Korrektur durch Veränderung des Abstandes der zu durchdringenden Grenzflächen der optischen Komponenten veranlasst. Regeleinrichtungen an sich sind prinzipiell aus dem Stand der Technik bekannt und müssen deshalb an dieser Stelle nicht näher erläutert werden. In a further advantageous embodiment, the imaging device according to the invention may comprise a control device for varying the distance of the interfaces to be penetrated of the optical components as a function of aberrations that occur during sample observation due to changes in thickness and refractive indices of the media to be penetrated, so that they automatically be compensated promptly for their emergence. The aberrations are detected by measurement, from the measurement result, a manipulated variable is determined, and under specification of this manipulated variable, the automatic correction is caused by changing the distance of the interfaces to be penetrated of the optical components. Control devices are in principle known from the prior art and therefore need not be explained in detail at this point.
In einer erweiterten Ausführungsform kann eine Einrichtung zum Ausgleichen eines Keilfehlers des Deckglases vorgesehen sein, wobei als Keilfehler des Deckglases eine Parallelitätsabweichung zwischen einer Normalen der erste Fläche zu der Normalen der zweite Fläche des Deckglases verstanden werden soll. Diesbezüglich können erfindungsgemäß der Kompensator bzw. die zu durchdringenden Grenzflächen des Kompensators mit einer dem Keilfehler des Deckglases entgegengesetzten Keilneigung versehen sein. In an extended embodiment, a device for compensating for a wedge error of the cover glass may be provided, wherein a wedge error of the cover glass is to be understood as a parallelism deviation between a normal of the first surface to the normal of the second surface of the cover glass. In this regard, according to the invention, the compensator or the interfaces of the compensator to be penetrated may be provided with a wedge inclination opposite to the wedge error of the cover glass.
Es versteht sich, dass die vorstehend genannten und die nachstehend noch zu erläuternden Merkmale nicht nur in den angegebenen Kombinationen, sondern auch in anderen Kombinationen oder in Alleinstellung einsetzbar sind, ohne dass der Umfang der vorliegenden Erfindung verlassen wird. It is understood that the features mentioned above and those yet to be explained below can be used not only in the specified combinations but also in other combinations or alone, without departing from the scope of the present invention.
Nachfolgend wird die Erfindung beispielsweise anhand der beigefügten Zeichnungen, die auch erfindungswesentliche Merkmale offenbaren können, noch näher erläutert. Es zeigen: The invention will be explained in more detail for example with reference to the accompanying drawings, which may disclose features essential to the invention. Show it:
In
Das vom Beleuchtungsobjektiv
Ändern sich während der Probenbeobachtung die Deckglasdicke und/oder die Brechzahlen der zu durchdringenden Medien, so hat dies Abbildungsfehler zur Folge. Das trifft sowohl dann zu, wenn die optische Achse
Um dem abzuhelfen, ist erfindungsgemäß folgendes vorgesehen. In den zur Erläuterung dienenden Zeichnungen
In der in
Die Komponenten
Das optische Design dieser Anordnung sieht für das Deckglas
Kommt es im Probenraum während der Probenbeobachtung zu Temperaturänderungen, ändern sich aufgrund ihrer Temperaturabhängigkeit die Dicken und die Brechzahlen von durchstrahlten Medien, und es treten Abbildungsfehler bzw. Aberrationen auf. If temperature changes occur in the sample space during sample observation, the thicknesses and refractive indices of irradiated media change due to their temperature dependence, and aberrations occur.
Vergrößert sich die Dicke d1 des Deckglases
Etwaige Veränderungen der Höhe d2, zum Beispiel aufgrund von Materialausdehnungen der Komponenten
Änderungen der Brechzahlen der durchstrahlten Medien können, insbesondere bei der Lichtmikroskopie, sphärische Aberrationen zur Folge haben. Erfindungsgemäß werden die daraus resultierenden Abbildungsfehler – zumindest in erster Näherung – durch Variation der Höhe d des Paketes aus Deckglas
Um die Gleitreibung zwischen den Komponenten
Vom Umfang der Erfindung eingeschlossen sind selbstverständlich Ausgestaltungsvarianten, bei denen nicht die Komponente
In der beschriebenen Weise bilden die optischen Komponenten
Die vorstehend beschriebe Korrekturmöglichkeit gilt sowohl für Abbildungsfehler, die von Dickenabweichungen des Deckglases
Veränderungen der Höhe d2, zum Beispiel aufgrund von Materialausdehnungen der Komponenten
In
Die Verbindung der Komponente
Die Komponenten
Das optische Design dieser Anordnung sieht für das Deckglas
Kommt es im Probenraum während der Probenbeobachtung zu Temperaturänderungen, ändern sich – wie auch im bereits beschriebenen Ausführungsbeispiel nach
Im Falle von Abbildungsfehlern, die ihren Ursprung in einer Vergrößerung der Dicke d1 des Deckglases
Abbildungsfehler, die aus sphärischen Aberrationen aufgrund von Änderungen der Brechzahlen der durchstrahlten Medien resultieren, werden – wiederum zumindest in erster Näherung – durch Variation der Höhe d des Paketes aus Deckglas
Etwaige Veränderungen des Abstandes d2, zum Beispiel aufgrund von Materialausdehnungen der Komponenten
Die Verschiebung der Komponente
Die optischen Komponenten
Die vorstehend beschriebene Korrekturmöglichkeit gilt auch hier sowohl für Abbildungsfehler, die von Dickenabweichungen des Deckglases
Vergleichbar zu
Veränderungen des Abstandes d2, zum Beispiel aufgrund von Materialausdehnungen der Komponenten
Anders als bei den anhand
Mit einem aus zwei keilförmigen optischen Komponenten
Abbildungsfehler, die in diesem Fall aufgrund von Änderungen der Dicke und der Brechzahlen der zu durchdringenden Medien entstehen, werden ebenso wie in den anhand
Dagegen müssen Aberrationen, die aufgrund des schiefen Durchgangs entstehen, mit anderen als den anhand
In
Das Korrekturelement
In beiden Fällen befindet sich im Zwischenraum
Im Spezialfall ξ = 1 erzeugt das Korrekturelement
Für die Fokussierung muss im Falle der Verwendung eines virtuellen Relais das Korrekturelement
Zu den Ausführungsformen nach
Hierbei erfolgt die sowohl die Beleuchtung als auch die Probenbeobachtung durch den Boden des Probenbehälters
Die Beleuchtungsoptik
Die Ausführungsform nach
Bei der Beleuchtungsoptik
BezugszeichenlisteLIST OF REFERENCE NUMBERS
- 11
- Probe sample
- 22
- Immersionsmedium Immersion medium
- 33
- Probenbehälter sample container
- 44
- Deckglas cover glass
- 55
- Probentisch sample table
- 66
- Beleuchtungsoptik illumination optics
- 7 7
- Objektiv lens
- 88th
- optische Achse optical axis
- 99
- optische Achse optical axis
- 10 10
- Objektiv lens
- 11 11
- optische Achse optical axis
- 12 12
- optische Komponente optical component
- 13 13
- optische Komponente optical component
- 14 14
- Grenzfläche interface
- 15 15
- Grenzfläche interface
- 16 16
- Zwischenschicht interlayer
- 17 17
- optische Komponente optical component
- 18 18
- optische Komponente optical component
- 19 19
- Steg web
- 20 20
- Steg web
- 21 21
- Innenraum inner space
- 22 22
- Leitung management
- 23 23
- Reservoir reservoir
- 24 24
- Korrekturelement correction element
- 25 25
- Zwischenraum gap
- 26 26
- Linse lens
- 27 27
- Linse lens
- 28 28
- Luftspalt air gap
ZITATE ENTHALTEN IN DER BESCHREIBUNG QUOTES INCLUDE IN THE DESCRIPTION
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Zitierte PatentliteraturCited patent literature
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