DE102012109577A1

DE102012109577A1 - Anordnung zur Verwendung bei der Beleuchtung einer Probe bei der SPIM-Mikroskopie

Info

Publication number: DE102012109577A1
Application number: DE102012109577A
Authority: DE
Inventors: Werner Knebel; Bernd Widzgowski; Wernher Fouquet; Frank Sieckmann
Original assignee: Leica Microsystems CMS GmbH
Current assignee: Leica Microsystems CMS GmbH
Priority date: 2011-10-28
Filing date: 2012-10-09
Publication date: 2013-05-02
Also published as: DE202011110077U1

Abstract

Die Erfindung betrifft eine Anordnung zur Verwendung bei der Beleuchtung einer Probe bei der SPIM-Mikroskopie, mit einem Beleuchtungsobjektiv, das einen Lichtstreifen oder einen Quasi-Lichtstreifen, der aus einem in einer Lichtstreifenebene kontinuierlich hin- und her bewegtem Lichtbündel besteht, empfängt und fokussiert. Die Anordnung zeichnet sich dadurch aus, dass ein Umlenkmittel vorhanden ist, das den Lichtstreifen oder den Quasi-Lichtstreifen nachdem er das Beleuchtungsobjektiv durchlaufen hat derart umlenkt, dass er sich unter einem von Null Grad verschiedenen Winkel, insbesondere unter einem rechten Winkel, zur optischen Achse des Beleuchtungsobjektivs ausbreitet, wobei das Beleuchtungsobjektiv und die Umlenkvorrichtung relativ zueinander beweglich angeordnet sind.

Description

Die Erfindung betrifft eine Anordnung zur Verwendung bei der Beleuchtung einer Probe bei der SPIM-Mikroskopie, mit einem Beleuchtungsobjektiv, das einen Lichtstreifen oder einen Quasi-Lichtstreifen, der aus einem in einer Lichtstreifenebene kontinuierlich hin- und her bewegtem Lichtbündel besteht, empfängt und fokussiert.
Ein nach dem SPIM-Verfahren arbeitendes Mikroskop ist in DE 102 57 423 A1 beschrieben. Bei diesem Mikroskop wird eine Probe mit einem dünnen Lichtstreifen beleuchtet, während die Beobachtung senkrecht zu der Ebene des beleuchtenden Lichtstreifens erfolgt. Hierbei erfolgen die Beleuchtung und die Detektion über zwei separate optische Strahlengänge mit jeweils separater Optik, insbesondere mit zwei separaten, zueinander senkrechten Objektiven. Der Lichtstreifen wird von Beleuchtungsobjektiv und einer ihm vorgeschalteten Zylinderoptik erzeugt. Für die Bildaufnahme wird die Probe durch den bezüglich des Detektors feststehenden Lichtstreifen bewegt, um schichtweise Fluoreszenz- und/oder Streulicht mit einem flächigen Detektor aufzunehmen. Die so gewonnenen Schichtbilddaten lassen sich anschließend zu einem einer dreidimensionalen Abbildung der Probe entsprechenden Datensatz zusammensetzen. Um einen möglichst dünnen Lichtstreifen zu erzeugen, muss das Beleuchtungsobjektiv eine entsprechend hohe numerische Apertur aufweisen, wobei der freie Arbeitsabstand des Beleuchtungsobjektivs entsprechend groß sein muss, um eine Kollision mit dem Beobachtungsobjektiv zu vermeiden. Eine derartige senkrechte Anordnung der beiden Objektive kann bei der Abbildung bestimmter, insbesondere biologischer, Proben von Nachteil sein. Beispielsweise ist es häufig nicht möglich, sphärische Objekte unter einer rechtwinkligen Objektivanordnung kollisionsfrei zu platzieren. Neben den äußerst hohen Anforderungen an die Probenpräparation, kommt es zudem auch häufig zu unerwünschten Abschattungen in der Probe.
Bei einem in WO 2010/012980 A1 beschriebenen abgewandelten SPIM-Verfahren erfolgen Beleuchtung und Detektion mit ein und demselben Objektiv. Hierzu wird die Eintrittspupille des Objektivs dezentral unterleuchtet, d.h. der Beleuchtungsstrahl tritt durch einen Teil der Eintrittspupille, der quer zur optischen Achse versetzt ist. Eine vor dem Objektiv angeordnete Zylinderlinse erzeugt in der Probe ein Lichtblatt, dass zur optischen Achse des Objektivs schräg gestellt ist. Der durch dieses Lichtblatt beleuchtete Bereich der Probe wird dann wiederum durch das Objektiv auf einen Detektor abgebildet. Allerdings ist diese Vorrichtung ausschließlich für eine Schrägbeleuchtung der Probe mit einem Lichtblatt ausgelegt und ermöglicht keine davon abweichende Anwendung, insbesondere keine punktweise konfokale Abtastung der Probe oder eine Variation der räumlichen Lichtintensitätsverteilung des Lichtblatts und insbesondere mit einem senkrecht zur optischen Achse des Objektivs ausgerichteten Lichtstreifen.
Aus DE 10 2004 034 957 A1 ist eine Anordnung zur mikroskopischen Beobachtung einer Probe über ein Mikroskopobjektiv bekannt, in dessen Gehäuse außerhalb der Linsenoptik Lichtführungen für das Beleuchtungslicht der Probe vorgesehen sind. Das Beleuchtungslicht verläuft dabei zunächst parallel zur optischen Achse des Objektivs innerhalb der Lichtführung und trifft danach auf am Objektivgehäuse angebrachte Reflektoren mit geringer Apertur, die das Beleuchtungslicht mit Hilfe zusätzlicher Abbildungselemente senkrecht zur optischen Achse des Mikroskopobjektivs und damit senkrecht zur Beobachtungsrichtung in die Probe fokussieren. Auch hier erfolgt die Beleuchtung der Probe flächenartig nach dem SPIM-Prinzip. Durch Verwenden eines derart ausgebildeten Mikroskopobjektivs kann zwar auch auf den Einsatz eines weiteren Objektives für das Beleuchtungslicht verzichtet werden. Allerdings ist die spezielle Ausgestaltung dieses Spezial-Objektivs mit zusätzlichen Lichtführungen und Reflektoren technisch sehr aufwendig und teuer.
Bei der aus DE 10 2004 034 957 A1 bekannten Vorrichtung besteht das Problem, dass nur Objekte untersucht werden können, die zwischen den gegenüberliegenden Reflektoren, die das Beleuchtungslicht auf das Objekt umlenken, innerhalb des maximalen Bildfeldes des Objektives passen. Allerdings steht nur bei geringen Vergrößerungen ein großes Bildfeld zur Verfügung. Objektive mit hoher Vergrößerung, die in aller Regel eine große numerische Apertur aufweisen, sind nicht verwendbar, weil die Probe größer als das maximale Bildfeld ist und folglich nicht zwischen die gegenüberliegenden Spiegelflächen passt. Objektive mit niedriger Apertur erlauben nachteiliger Weise nur die Ausbildung eines relativ dicken Lichtstreifens.
Es ist die Aufgabe der vorliegenden Erfindung eine Anordnung zur Verwendung bei der Beleuchtung einer Probe bei der SPIM-Mikroskopie anzugeben, die eine zuverlässige Einstellbarkeit der Einstrahlrichtung und/oder des Einstrahlortes auf die Probe bietet und die es gleichzeitig erlaubt, ein Beleuchtungsobjektiv mit hoher numerischer Apertur verwenden zu können; dies insbesondere auch dann, wenn eine zu untersuchende Probe größer als das Bildfeld des Beleuchtungsobjektiv ist.
Die Aufgabe wird durch eine Anordnung gelöst, die dadurch gekennzeichnet ist, dass ein Umlenkmittel vorhanden ist, das den Lichtstreifen oder den Quasi-Lichtstreifen, nachdem er das Beleuchtungsobjektiv durchlaufen hat, derart umlenkt, dass er sich unter einem von Null Grad verschiedenen Winkel, insbesondere unter einem rechten Winkel, zur optischen Achse des Beleuchtungsobjektivs ausbreitet, wobei das Beleuchtungsobjektiv und die Umlenkvorrichtung relativ zueinander beweglich angeordnet sind.
Insbesondere kann vorgesehen sein, dass das Beleuchtungsobjektiv und die Umlenkvorrichtung zum Ändern der Einfallsrichtung und/oder des Einstrahlortes des Lichtstreifens oder des Quasi-Lichtstreifens auf die Probe relativ zueinander beweglich angeordnet sind.
Die Verwendbarkeit hochaperturiger Beleuchtungsobjektive hat den besonderen Vorteil, dass der Lichtstreifen oder der Quasi-Lichtstreifen, der die Probe trifft, besonders dünn ausgeformt sein kann, was das Auflösungsvermögen bei der SPIM-Untersuchung einer Probe erhöht.
Bei einer besonderen Ausführung ist vorgesehen, dass das Beleuchtungsobjektiv und die Umlenkvorrichtung relativ zueinander verschiebbar angeordnet sind. Insbesondere kann vorteilhaft vorgesehen sein, dass das Beleuchtungsobjektiv in einer Ebene senkrecht zu seiner optischen Achse relativ zu der Umlenkvorrichtung verschiebbar angeordnet ist und/oder dass das Beleuchtungsobjektiv in einer Richtung senkrecht zu seiner optischen Achse relativ zu der Umlenkvorrichtung verschiebbar angeordnet ist.
Bei einer besonderen Ausführung ist eine Ausgleichsvorrichtung vorhanden, mit der ein durch eine Bewegung des Beleuchtungsobjektivs verursachte Dejustierung des Lichtstreifens oder des Quasi-Lichtstreifens relativ zu dem Beleuchtungsobjektiv, insbesondere ein räumlicher Versatz zwischen dem Lichtstreifen oder den Quasi-Lichtstreifen und dem Beleuchtungsobjektiv ausgleichbar ist.
Beispielsweise kann vorgesehen sein, dass die Ausgleichsvorrichtung zum Ausgleichen unterschiedlicher möglicher Bewegungen des Beleuchtungsobjektivs einstellbar ausgebildet ist.
Insbesondere kann – alternativ oder zusätzlich – vorgesehen sein, dass die Ausgleichsvorrichtung mit der Bewegung des Beleuchtungsobjektivs und/oder der Umlenkvorrichtung synchronisiert einstellbar ist. Diese Ausführung hat den Vorteil, dass kein zusätzlicher Arbeitsgang zum Anpassen der Justierung an eine gewählte Relativstellung der Umlenkvorrichtung relativ zu dem Beleuchtungsobjektiv notwendig ist. Vielmehr kann so erreicht werden, dass stets und unabhängig von der Relativstellung der Umlenkvorrichtung relativ zu dem Beleuchtungsobjektiv eine korrekte Justierung des Beleuchtungsstrahlenganges gewährleistet ist, ohne dass der Benutzer eine Justierung vorzunehmen braucht.
Insbesondere kann hierbei vorgesehen sein, dass die Ausgleichsvorrichtung derart mit der Bewegung des Beleuchtungsobjektivs und/oder der Umlenkvorrichtung synchronisiert einstellbar ist, dass der Lichtstreifen oder der Quasi-Lichtstreifen automatisch in die Eintrittspupille des Beleuchtungsobjektivs gelenkt wird.
Die vorgenannten Ausführungen können beispielsweise dadurch realisiert sein, dass die Ausgleichsvorrichtung mechanisch mit der Bewegung des Beleuchtungsobjektivs und/oder der Umlenkvorrichtung verkoppelt ist. Es kann alternativ auch vorgesehen sein, dass die Ausgleichsvorrichtung eine eigene Stellmechanik aufweist, die elektronisch, vorzugsweise automatisch, in Abhängigkeit von der Relativstellung der Umlenkvorrichtung relativ zu dem Beleuchtungsobjektiv gesteuert wird.
Bei einer zuverlässig aufgebauten Ausführung, die eine präzise Einstellbarkeit des Beleuchtungsstrahlenganges erlaubt, verursacht die Ausgleichsvorrichtung einen Strahlversatz. Dieser ist vorzugsweise so bemessen und ausgerichtet, dass durch ihn eine Anpassung der Justierung des Beleuchtungsstrahlenganges an eine vom Benutzer gewählte Relativstellung der Umlenkvorrichtung relativ zu dem Beleuchtungsobjektiv bewirkt ist.
Beispielsweise kann die Ausgleichsvorrichtung eine durchsichtige, planparallele Platte aufweisen, wobei die Plattenebene unter einem von 90 Grad verschiedenen Winkel zur Ausbreitungsrichtung des Lichtstreifens oder des Quasi-Lichtstreifens angeordnet ist. Es kann – alternativ oder zusätzlich – auch vorgesehen sein, dass die Ausgleichsvorrichtung eine durchsichtige, planparallele Platte aufweist, die, insbesondere um eine zur Ausbreitungsrichtung des Lichtstreifens oder des Quasi-Lichtstreifens parallele Achse, drehbar gelagert ist.
Es kann auch vorgesehen sein, dass die Ausgleichsvorrichtung eine Strahlablenkeinrichtung verschiebt, die einen Quasi-Lichtstreifen durch hin- und her-Ablenkung erzeugt. Insbesondere kann vorgesehen sein, dass die Strahlablenkeinrichtung synchron zusammen mit der Umlenkvorrichtung relativ zu dem Beleuchtungsobjektiv verschoben wird.
Bei einer besonderen Ausführung weist die Umlenkvorrichtung zum Umlenken des Lichtstreifens oder des Quasi-Lichtstreifens wenigstens eine zumindest teilweise reflektierende Fläche auf. Insbesondere kann zusätzlich vorgesehen sein, dass die reflektierende Fläche als Teil eines planen Spiegels ausgebildet ist oder dass die reflektierende Fläche zumindest teilweise auf der Innenseite eines Konus ausgebildet ist.
Bei einer anderen Ausführung ist vorgesehen, dass die Umlenkvorrichtung mehrere reflektierende Flächen aufweist und dass jeder Fläche eine Sollposition für das Beleuchtungsobjektiv derart zugeordnet ist, dass der aus dem in einer Sollposition befindlichem Beleuchtungsobjektiv austretende Lichtstreifen oder der aus dem Beleuchtungsobjektiv austretende Quasi-Lichtstreifen auf die dieser Sollposition zugeordnete reflektierende Fläche trifft.
Wie bereits oben angedeutet kann vorteilhaft vorgesehen sein, dass durch eine Relativbewegung zwischen dem Beleuchtungsobjektiv und der Umlenkvorrichtung die Einfallsrichtung des Lichtstreifens oder des Quasi-Lichtstreifens auf eine Probe und/oder der Auftreffort des Lichtstreifens oder des Quasi-Lichtstreifens auf eine Probe einstellbar ist.
Die Auswahl einer Relativstellung der Umlenkvorrichtung relativ zu dem Beleuchtungsobjektiv kann bei einer speziellen Ausführung von Benutzer, beispielsweise durch Betätigen geeignet angeordneter Stellschrauben, eingestellt werden. Es kann jedoch auch vorgesehen sein, dass der Benutzer beispielsweise an einem PC oder einem anderen Eingabegerät – vorzugsweise auf der Basis einer graphischen Darstellung einer Voransicht des zu untersuchenden Objektes oder auf der Basis einer graphischen Darstellung eines Platzhalters des zu untersuchenden Objektes – lediglich die gewünschte Einstrahlrichtung auf die Probe und den Auftreffort vorgibt. Eine Steuerungselektronik kann die zur Umsetzung dieser Vorgaben nötigen Steuerungsparameter errechnen und auf der Basis der errechneten Steuerungsparameter geeignet angeordnete Stellmotoren steuern, um die nötige Relativstellung und vorzugsweise auch die nötige Einstellung der Ausgleichsvorrichtung zu bewirken.
Bei einer vorteilhaften Ausführung ist die Umlenkvorrichtung dazu ausgebildet und bestimmt, relativ zu einer zu untersuchenden Probe ortsfest angeordnet zu sein, während das Beleuchtungsobjektiv zum Ändern der Einfallsrichtung des Lichtstreifens oder des Quasi-Lichtstreifens auf die Probe relativ zu der Umlenkvorrichtung beweglich, insbesondere verschiebbar, angeordnet ist. Beispielsweise kann die Umlenkvorrichtung ortsfest an einem Mikroskopstativ und/oder an einem Probentisch angeordnet sein.
Insbesondere kann auch vorgesehen sein, dass die Umlenkvorrichtung ortsfest relativ zu einer zu untersuchenden Probe angeordnet ist. Beispielsweise können sowohl die zu untersuchende Probe, als auch die Umlenkvorrichtung gemeinsam von einem gemeinsamen Probentisch getragen und/oder gehalten sein. Bei einer besonderen Ausführung ist die Umlenkvorrichtung an dem Probentisch eines inversen Mikroskops angeordnet.
Es ist auch möglich, dass die Umlenkvorrichtung beweglich an dem Beleuchtungsobjektiv befestigt ist.
Bei einer besonderen Ausführung ist das Beleuchtungsobjektiv ein Eintauchobjektiv. Es kann auch vorgesehen sein, dass das Beleuchtungsobjektiv ein Eintauchobjektiv ist und dass das Beleuchtungsobjektiv dazu ausgebildet und bestimmt ist, insbesondere zusammen mit der Umlenkvorrichtung in eine Probenkammer oder in ein Probengefäß einzutauchen, die mit einem optischen Medium gefüllt ist, das eine zu beleuchtende Probe umgibt.
Bei einer vorteilhaften Ausführung ist vorgesehen, dass der in die Eintrittspupille des Beleuchtungsobjektivs eintretende Lichtstreifen oder der in die Eintrittspupille des Beleuchtungsobjektivs eintretende Quasi-Lichtstreifen wenigstens genauso breit ist, wie der Durchmesser der Eintrittspupille und/oder dass der Lichtstreifen oder der Quasi-Lichtstreifen zentral in das Beleuchtungsobjektiv eingekoppelt ist. Auf diese Weise ist vorteilhaft ein Verlust an Beleuchtungslichtleistung vermieden. Außerdem ist so erreicht, dass die Abbildungsfähigkeit des Beleuchtungsobjektivs vollständig ausgenutzt wird, um die Probe mit einem möglichst dünnen Lichtstreifen oder Quasi-Lichtstreifen beleuchten zu können.
Bei einer besonderen Ausführung der Anordnung zur Verwendung bei der Beleuchtung einer Probe ist eine Strahlformungseinrichtung vorhanden, die den Lichtstreifen oder den Quasi-Lichtstreifen aus einem Lichtbündel erzeugt.
Beispielsweise kann vorgesehen sein, dass zunächst ein im Querschnitt weitgehend rundes Lichtbündel erzeugt wird, den die Strahlformungseinrichtung derart schnell hin- und her wedelt, dass dieser einen Quasi-Lichtstreifen bildet. Insbesondere kann vorgesehen sein, dass die Strahlformungseinrichtung das Lichtbündel derart schnell hin- und her wedelt, dass die das Detektionslicht empfangenden Detektoren weitgehend die gleichen Detektionssignale erzeugen, wie bei einer Beleuchtung mit einem beispielsweise mit einer Zylinderoptik erzeugten Lichtstreifen.
Beispielsweise kann vorgesehen sein, dass die Strahlformungseinrichtung eine Strahlablenkeinrichtung, insbesondere ein Schwingspiegel, aufweist, die durch Hin- und Her-Wedeln eines Lichtbündels in einer Lichtstreifenebene den Quasi-Lichtstreifen erzeugt.
Alternativ zur Erzeugung eines Quasi-Lichtstreifens kann vorgesehen sein, dass aus einem ursprünglich im Querschnitt runden Lichtbündel mittels einer Zylinderoptik, beispielsweise einem oder mehreren Zylinderlinsen und/oder Zylinderspiegeln, der Lichtstreifen geformt wird.
Bei einer besonderen Ausführung ist eine Lichtquelle, insbesondere ein Laser, vorgesehen, die den Lichtstreifen emittiert oder die ein Lichtbündel zur Erzeugung des Lichtstreifens oder des Quasi-Lichtstreifens emittiert.
In vorteilhafter Weise kann die oben in Bezug auf unterschiedliche Details und Ausführungsformen beschriebene Anordnung zur Beleuchtung als, insbesondere weltraumtaugliches, Modul ausgebildet sein. Die Ausbildung als Modul kann vorteilhaft derart ausgeführt sein, dass der Benutzer ein vorhandenes Mikroskop oder Mikroskopstativ durch einfaches Ankoppeln des Moduls für eine SPIM-Untersuchung einer Probe umrüsten kann. Vorzugsweise sind die einzelnen Komponenten des Moduls vorjustiert.
Insbesondere kann vorgesehen sein, dass die Anordnung als, insbesondere weltraumtaugliches, Modul ausgebildet ist, wobei wenigstens ein Ankoppelmittel, insbesondere ein Führungs- und/oder Festlegmittel, vorhanden sind, das ein positionsgenaues Ankoppeln an ein, insbesondere inverses, Mikroskop oder an ein Mikroskopstativ ermöglicht.
Bei einer ganz besonders vielseitig einsetzbaren Ausführung der Anordnung als Modul ist eine Strahlformungseinrichtung integriert, die den Lichtstreifen oder den Quasi-Lichtstreifen aus einem Lichtbündel erzeugt. Es kann – alternativ oder zusätzlich auch vorgesehen sein, dass in das Modul eine Lichtquelle, insbesondere ein Laser, integriert ist, die den Lichtstreifen emittiert oder die ein Lichtbündel zur Erzeugung des Lichtstreifens oder des Quasi-Lichtstreifens emittiert. Diese Ausführungsformen haben den besonderen Vorteil, dass der Benutzer nicht auf die eigentlich für andere Anwendungen gedachte Lichtquelle oder die eigentlich für andere Anwendungen gedachte Strahlablenkeinrichtung eines Mikroskops angewiesen ist. Vielmehr kann das Modul einfach angeflanscht und verwendet werden, ohne dass besondere Anpassungen an den übrigen Strahlengang des Mikroskops bzw. Mikroskopstativs vorgenommen werden müssen. Außerdem ist so auch ermöglicht, das Modul an Mikroskopen oder Mikroskopstativen einzusetzen, die keine eigene Lichtquelle oder Strahlablenkeinrichtung aufweisen oder zur Verfügung stellen können.
Unter Verwendung der erfindungsgemäßen Anordnung zur Beleuchtung kann ein Mikroskop bereitgestellt werden, das eine SPIM-Untersuchung auch größerer Proben unter Verwendung eines dünnen Lichtstreifens und damit mit hohem Auflösungsvermögen erlaubt.
Zur Realisierung eines solchen Mikroskops kann beispielsweise ein Mikroskop verwendet werden, das eigentlich als konfokales Scanmikroskop oder als Multiphotonenmikroskop konzipiert ist. Die hierfür erforderliche Umrüstung kann sogar von dem Endanwender vorgenommen werden. Dies insbesondere, wenn die nötigen Bauelemente, vorjustiert und/oder in Modulbauweise bereitgestellt werden. Insbesondere kann vorgesehen sein, dass die Strahlablenkeinrichtung eines Scanmikroskops zur Erzeugung des Quasi-Lichtstreifens verwendet wird.
Bei einem Mikroskop mit der erfindungsgemäßen Anordnung zur Beleuchtung kann ein von dem Beleuchtungsobjektiv separates Beobachtungsobjektiv vorhanden sein. Insbesondere kann vorgesehen sein, dass ein Beobachtungsobjektiv vorhanden ist, durch das von einer Probe ausgehende Detektionslicht zu einem Detektor geleitet wird und/oder dass ein Beobachtungsobjektiv vorhanden ist, dessen optische Achse parallel oder koaxial zur optischen Achse des Beleuchtungsobjektivs angeordnet ist.
Durch das Beobachtungsobjektiv hindurch kann von der mittels des Lichtstreifens bzw. des Quasi-Lichtstreifens beleuchteten Schicht der Probe ausgehendes Detektionslicht zu einer Detektionsvorrichtung, beispielsweise einer CCD-Kamera geleitet werden. Vorzugsweise bildet das Beobachtungsobjektiv ggf. zusammen mit nachfolgenden, weiteren optischen Bauteilen die mittels des Lichtstreifens bzw. des Quasi-Lichtstreifens beleuchtete Schicht der Probe auf die lichtempfindliche Fläche eines Flächendetektors ab. Alternativ ist es auch möglich, die die mittels des Lichtstreifens bzw. des Quasi-Lichtstreifens beleuchtete Schicht der Probe Punkt für Punkt, insbesondere in einer konfokalen Anordnung, abzutasten.
Das Mikroskop kann vorteilhaft eine Ausgleichsvorrichtung aufweisen, mit der der Strahlengang des Mikroskops an die jeweils aktuelle Relativstellung von Beleuchtungsobjektiv und Umlenkvorrichtung anpassbar ist. Die Ausgleichsvorrichtung kann, wie bereits ausführlich beschrieben, Teil der Anordnung zur Beleuchtung sein. Es ist jedoch – alternativ oder zusätzlich – auch möglich, dass das Mikroskop außerhalb der Anordnung zur Beleuchtung eine Ausgleichsvorrichtung aufweist, mit der der Strahlengang des Mikroskops an die jeweils aktuelle Relativstellung von Beleuchtungsobjektiv und Umlenkvorrichtung anpassbar ist.
Insbesondere kann eine Ausgleichsvorrichtung vorhanden sein, mit der speziell der Beobachtungsstrahlengang des Mikroskops an die jeweils aktuelle Relativstellung von Beleuchtungsobjektiv und Umlenkvorrichtung anpassbar ist.
Auch eine Ausgleichsvorrichtung des Mikroskops, die außerhalb der Anordnung zur Beleuchtung angeordnet ist, kann vorteilhaft zum Ausgleichen unterschiedlicher möglicher Bewegungen des Beleuchtungsobjektivs und/oder der Umlenkvorrichtung einstellbar ausgebildet sein. Es kann auch vorgesehen sein, dass eine solche Ausgleichsvorrichtung mit der Bewegung des Beleuchtungsobjektivs und/oder der Umlenkvorrichtung synchronisiert einstellbar ist und/oder dass die Ausgleichsvorrichtung derart mit der Bewegung des Beleuchtungsobjektivs und/oder der Umlenkvorrichtung synchronisiert einstellbar ist, dass das vom dem Beobachtungsobjektiv kommende Detektionslicht zu einem Detektor gelenkt wird. Es kann – alternativ oder zusätzlich auch vorgesehen sein, das eine solche Ausgleichsvorrichtung mechanisch mit der Bewegung des Beleuchtungsobjektivs und/oder der Umlenkvorrichtung verkoppelt ist. Insbesondere kann auch vorgesehen sein, dass eine solche Ausgleichsvorrichtung im Detektionsstrahlengang des Mikroskops angeordnet ist.
Analog wie in Bezug auf die Ausgleichsvorrichtung der Anordnung zur Beleuchtung beschrieben kann auch für eine Ausgleichsvorrichtung des Mikroskops, die außerhalb der Anordnung zur Beleuchtung angeordnet ist, vorgesehen sein, dass eine solche Ausgleichsvorrichtung einen Strahlversatz verursacht und/oder dass eine solche Ausgleichsvorrichtung eine durchsichtige, planparallele Platte aufweist, wobei die Plattenebene unter einem von 90 Grad verschiedenen Winkel zur Ausbreitungsrichtung des Detektionslichtes angeordnet ist. Durch den von Null Grad verschiedenen Einfallswinkel kommt es zu einem Strahlversatz, der zur Kompensation ausgenutzt werden kann.
Insbesondere kann vorteilhaft vorgesehen sein, dass die Ausgleichsvorrichtung eine durchsichtige, planparallele Platte aufweist, die, insbesondere um eine zur Ausbreitungsrichtung des Detektionslichtes parallele Achse, drehbar gelagert ist.
Weitere Ziele, Vorteile, Merkmale und Anwendungsmöglichkeiten der vorliegenden Erfindung ergeben sich aus der nachfolgenden Beschreibung eines Ausführungsbeispieles anhand der Zeichnung. Dabei bilden alle beschriebenen und/oder bildlich dargestellten Merkmale für sich oder in beliebiger sinnvoller Kombination den Gegenstand der vorliegenden Erfindung, auch unabhängig von ihrer Zusammenfassung in den Ansprüchen oder deren Rückbeziehung.
Es zeigen:
1 ein Ausführungsbeispiel einer erfindungsgemäßen Anordnung zur Verwendung bei der Beleuchtung einer Probe bei der SPIM-Mikroskopie,
2 das Ausführungsbeispiel bei dem eine andere Einstrahlrichtung eingestellt ist,
3 ein anderes Ausführungsbeispiel einer erfindungsgemäßen Anordnung mit einer Strahlablenkeinrichtung zur Erzeugung eines Quasi-Lichtstreifens,
4 das andere Ausführungsbeispiel bei dem eine andere Einstrahlrichtung eingestellt ist,
5 ein weiteres Ausführungsbeispiel einer erfindungsgemäßen Anordnung mit einer Strahlablenkeinrichtung zur Erzeugung eines Quasi-Lichtstreifens,
6 das weitere Ausführungsbeispiel bei dem eine andere Einstrahlrichtung eingestellt ist,
7 ein viertes Ausführungsbeispiel einer erfindungsgemäßen Anordnung mit einer Zylinderoptik zur Erzeugung eines Quasi-Lichtstreifens,
8 das vierte Ausführungsbeispiel bei dem eine andere Einstrahlrichtung eingestellt ist,
9 ein fünftes Ausführungsbeispiel einer erfindungsgemäßen Anordnung mit einer Ausgleichsvorrichtung, die eine planparallele Platte aufweist,
10 das fünfte Ausführungsbeispiel, bei dem eine andere Einstrahlrichtung eingestellt ist, und
11 eine Detailansicht eines Ausführungsbeispiels eines erfindungsgemäßen Mikroskops mit einer Ausgleichsvorrichtung im Detektionsstrahlengang.
1 zeigt ein Ausführungsbeispiel einer erfindungsgemäßen Anordnung zur Verwendung bei der Beleuchtung einer Probe bei der SPIM-Mikroskopie. Die Anordnung weist ein Beleuchtungsobjektiv 1 auf, das einen Lichtstreifen 2 empfängt und fokussiert. Es könnte sich statt des Lichtstreifens 2 auch um einen Quasi-Lichtstreifen 3 handeln, der aus einem in einer Lichtstreifenebene kontinuierlich hin- und her bewegtem Lichtbündel besteht.
Der empfangene Lichtstreifen 2 wird von dem Beleuchtungsobjektiv 1 fokussiert und tritt aus der Frontlinse des Beleuchtungsobjektiv 1 aus. Anschließend trifft der Lichtstreifen 2 auf eine erste Reflexionsfläche 4 einer Umlenkvorrichtung 10 und wird von dieser um ca. 90 Grad umgelenkt, so dass er sich unter einem von Null Grad verschiedenen Winkel, insbesondere unter einem rechten Winkel, zur optischen Achse des Beleuchtungsobjektivs 1 weiter ausbreitet. Er trifft anschließend auf die zu untersuchende Probe 5, die sich auf einem Probentisch 6 in einer Immersionsflüssigkeit 7 befindet, in die auch die Frontlinse des Beleuchtungsobjektivs 1 eingetaucht ist.
Das von der Probe ausgehende Detektionslicht 8 (nur schematisch angedeutet) wird mittels eines von dem Beleuchtungsobjektiv 1 separaten Beobachtungsobjektiv 9 zu einem in dieser Figur nicht dargestellten Detektor geleitet.
Die optische Achse des Beobachtungsobjektivs 9 ist parallel zur optischen Achse des Beleuchtungsobjektivs angeordnet.
Das Beleuchtungsobjektiv 1 und die Umlenkvorrichtung 10 sind relativ zueinander beweglich angeordnet. Zum Verändern der Einfallsrichtung des Lichtstreifens 2 auf die Probe 5 wird das Beleuchtungsobjektiv 1 senkrecht zu seiner optischen Achse linear verschoben, so dass der aus der Frontlinse des Beleuchtungsobjektiv 1 austretende Lichtstreifen 2 statt auf die erste Reflexionsfläche 4 auf eine zweite Reflexionsfläche 11 der Umlenkvorrichtung 10 trifft. Diese Situation ist in 2 dargestellt.
Die zweite Reflexionsfläche 11 ist in einer Ebene angeordnet, die unter einem Winkel von 90 Grad zu der Ebene steht, in der die erste Reflexionsfläche 4 angeordnet ist. Der Lichtstreifen 2 wird von der zweiten Reflexionsfläche 11 der Umlenkvorrichtung 10 um ca. 90 Grad umgelenkt, so dass er sich unter einem von Null Grad verschiedenen Winkel, insbesondere unter einem rechten Winkel, zur optischen Achse des Beleuchtungsobjektivs 1 weiter ausbreitet. Allerdings ist die Ausbreitungsrichtung der vorherigen Ausbreitungsrichtung gegengesetzt. Die Stellung der Probe 5, der Umlenkvorrichtung 10 und des Beobachtungsobjektivs 9 bleiben vorzugsweise unverändert.
3 zeigt ein anderes Ausführungsbeispiel einer erfindungsgemäßen Anordnung mit einer Strahlablenkeinrichtung 22 zur Erzeugung eines Quasi-Lichtstreifens 3. Es wird von einer Lichtquelle 12 zunächst ein im Querschnitt weitgehend rundes Lichtbündel 13 erzeugt, das nach dem Transport durch eine Lichtleitfaser 14, an deren Ende ein Faserkoppler 15 angeordnet ist, auf den von einem Galvanometer 16 angetriebenen Schwingspiegel 17 der Strahlablenkeinrichtung 22 trifft. Das Lichtbündel 12 wird derart schnell hin- und her gewedelt, dass dieses den Quasi-Lichtstreifen 3 bildet.
Wie bereits in Bezug auf das in 1 dargestellte Ausführungsbeispiel beschrieben, wird das Beleuchtungsobjektiv 1 zum Verändern der Einfallsrichtung des Lichtstreifens 2 auf die Probe 5 senkrecht zu seiner optischen Achse linear verschoben. Diese Situation ist in 4 dargestellt.
Zum Bewirken des Strahlversatzes des von der Strahlablenkeinrichtung 22 kommenden Lichtstreifens 3 ist vorgesehen, dass die (nicht dargestellte) Ausgleichsvorrichtung die Strahlablenkeinrichtung 22 – vorzugsweise automatisch – synchron mit dem Beleuchtungsobjektiv 1 in dieselbe Richtung bewegt.
Die 3 bis 10 zeigen schematisch einen Flächendetektor 23, der das von der Probe 5 ausgehende Detektionslicht 8 empfängt. Die von dem Quasi-Lichtstreifen 3 beleuchtete Probenebene wird mittels des Beobachtungsobjektivs 9 einer weiteren Optik 18 auf die Detektorfläche des Flächendetektors 23 abgebildet. Der Detektionsstrahlengang ist mittels eines Spiegels 19 gefaltet.
Das in den 5 und 6 dargestellte weitere Ausführungsbeispiel unterscheidet sich von dem in den 3 und 4 dargestellten Ausführungsbeispiel dadurch, dass von der Ausgleichsvorrichtung zusätzlich auch der Faserkoppler 15 mit dem angekoppelten Ende der Faser 14 verschoben wird. Diese Ausführung ist hinsichtlich einer Dejustierung besonders unempfindlich.
Die 7 und 8 zeigen ein viertes Ausführungsbeispiel einer erfindungsgemäßen Anordnung mit einer Zylinderoptik 20 zur Erzeugung eines Lichtstreifens 2. Es wird von einer Lichtquelle 12 zunächst ein im Querschnitt weitgehend rundes Lichtbündel 13 erzeugt, das nach dem Transport durch eine Lichtleitfaser 14, an deren Ende ein Faserkoppler 15 angeordnet ist, auf die Zylinderoptik 20 trifft.
Auch bei dieser Ausführung wird von der Ausgleichsvorrichtung sowohl Faserkoppler 15, als auch die Zylinderoptik 20 synchron mit dem Beleuchtungsobjektiv 1 verschoben, wenn die Beleuchtungsrichtung geändert werden soll.
Die 9 und 10 zeigen ein fünftes Ausführungsbeispiel einer erfindungsgemäßen Anordnung mit einer Ausgleichsvorrichtung, die eine planparallele Platte 21 aufweist. Bei dieser Ausführung wird die planparallele Platte 21 – vorzugsweise automatisch um 180 Grad um die optische Achse gedreht, wenn das Beleuchtungsobjektiv wie zuvor geschildert zur Änderung der Beleuchtungsrichtung verschoben wird.
11 zeigt eine Detailansicht eines Ausführungsbeispiels eines erfindungsgemäßen Mikroskops mit einer Ausgleichsvorrichtung im Detektionsstrahlengang.
Die Vorrichtung zur Beleuchtung weist eine Strahlablenkeinrichtung 22 zur Erzeugung eines Quasi-Lichtstreifens 3 auf. Es wird von einer Lichtquelle 12 zunächst ein im Querschnitt weitgehend rundes Lichtbündel 13 erzeugt, das nach dem Transport durch eine Lichtleitfaser 14, an deren Ende ein Faserkoppler 15 angeordnet ist, auf den von einem Galvanometer 16 angetriebenen Schwingspiegel 17 der Strahlablenkeinrichtung 22 trifft. Das Lichtbündel 12 wird derart schnell hin- und her gewedelt, dass dieses den Quasi-Lichtstreifen 3 bildet.
Bei diesem Ausführungsbeispiel eines Mikroskops weist die Anordnung zur Beleuchtung keine Ausgleichsvorrichtung auf. Stattdessen ist im Detektionsstrahlengang als Ausgleichsvorrichtung eine planparallele Platte 21 vorgesehen, die um die optische Achse – vorzugsweise synchron zu einer Relativbewegung von Beleuchtungsobjektiv und Umlenkvorrichtung – gedreht werden kann. Die Drehstellung wird stets so gewählt, dass das Detektionslicht 8 zum Detektor 23 gelangt. Gewissermaßen wird der Versatz zwischen dem Beleuchtungsobjektiv und dem Beobachtungsobjektiv bei diesem Ausführungsbeispiel mittels eines Strahlversatzes des Detektionslichtes kompensiert, den die Ausgleichsvorrichtung, nämlich die schräg gestellte Ausgleichsplatte 21, bewirkt. Das Maß und die Richtung des Strahlversatzes kann durch – vorzugsweise automatisches – Wahl der Schrägstellung und der Drehstellung der Ausgleichsplatte 21 eingestellt werden.
ZITATE ENTHALTEN IN DER BESCHREIBUNG
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Zitierte Patentliteratur

DE 10257423 A1 [0002]
WO 2010/012980 A1 [0003]
DE 102004034957 A1 [0004, 0005]

Claims

Anordnung zur Verwendung bei der Beleuchtung einer Probe bei der SPIM-Mikroskopie, mit einem Beleuchtungsobjektiv, das einen Lichtstreifen oder einen Quasi-Lichtstreifen, der aus einem in einer Lichtstreifenebene kontinuierlich hin- und her bewegtem Lichtbündel besteht, empfängt und fokussiert, dadurch gekennzeichnet, dass ein Umlenkmittel vorhanden ist, das den Lichtstreifen oder den Quasi-Lichtstreifen, nachdem er das Beleuchtungsobjektiv durchlaufen hat, derart umlenkt, dass er sich unter einem von Null Grad verschiedenen Winkel, insbesondere unter einem rechten Winkel, zur optischen Achse des Beleuchtungsobjektivs ausbreitet, wobei das Beleuchtungsobjektiv und die Umlenkvorrichtung relativ zueinander beweglich angeordnet sind.
Anordnung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass a. das Beleuchtungsobjektiv und die Umlenkvorrichtung relativ zueinander verschiebbar angeordnet sind und/oder dass b. das Beleuchtungsobjektiv in einer Ebene senkrecht zu seiner optischen Achse relativ zu der Umlenkvorrichtung verschiebbar angeordnet ist und/oder dass c. das Beleuchtungsobjektiv in einer Richtung senkrecht zu seiner optischen Achse relativ zu der Umlenkvorrichtung verschiebbar angeordnet ist.
Anordnung nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, dass a. eine Ausgleichsvorrichtung vorhanden ist, mit der der Strahlengang der Anordnung an die jeweils aktuelle Relativstellung von Beleuchtungsobjektiv und Umlenkvorrichtung anpassbar ist und/oder dass b. eine Ausgleichsvorrichtung vorhanden ist, mit der eine durch eine Bewegung des Beleuchtungsobjektivs verursachte Dejustierung des Lichtstreifens oder des Quasi-Lichtstreifens relativ zu dem Beleuchtungsobjektiv, insbesondere ein räumlicher Versatz zwischen dem Lichtstreifen oder den Quasi-Lichtstreifen, ausgleichbar ist.
Anordnung nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, dass a. die Ausgleichsvorrichtung zum Ausgleichen unterschiedlicher möglicher Bewegungen des Beleuchtungsobjektivs und/oder der Umlenkvorrichtung einstellbar ausgebildet ist und/oder dass b. die Ausgleichsvorrichtung mit der Bewegung des Beleuchtungsobjektivs und/oder der Umlenkvorrichtung synchronisiert einstellbar ist und/oder dass c. die Ausgleichsvorrichtung derart mit der Bewegung des Beleuchtungsobjektivs und/oder der Umlenkvorrichtung synchronisiert einstellbar ist, dass der Lichtstreifen oder den Quasi-Lichtstreifen automatisch in die Eintrittspupille des Beleuchtungsobjektivs gelenkt wird und/oder dass d. die Ausgleichsvorrichtung mechanisch mit der Bewegung des Beleuchtungsobjektivs und/oder der Umlenkvorrichtung verkoppelt ist.
Anordnung nach Anspruch 3 oder 4, dadurch gekennzeichnet, dass a. die Ausgleichsvorrichtung einen Strahlversatz verursacht und/oder dass b. die Ausgleichsvorrichtung eine durchsichtige, planparallele Platte aufweist, wobei die Plattenebene unter einem von 90 Grad verschiedenen Winkel zur Ausbreitungsrichtung des Lichtstreifens oder des Quasi-Lichtstreifens angeordnet ist und/oder dass c. die Ausgleichsvorrichtung eine durchsichtige, planparallele Platte aufweist, wobei die Plattenebene unter einem von 90 Grad verschiedenen Winkel zur optischen Achse des Lichtstreifens oder des Quasi-Lichtstreifens angeordnet ist und/oder dass d. die Ausgleichsvorrichtung eine durchsichtige, planparallele Platte aufweist, die, insbesondere um eine zur Ausbreitungsrichtung des Lichtstreifens oder des Quasi-Lichtstreifens parallele Achse, drehbar gelagert ist und/oder dass e. die Ausgleichsvorrichtung eine Strahlablenkeinrichtung verschiebt, die einen Quasi-Lichtstreifen durch hin- und her-Ablenkung erzeugt.
Anordnung nach einem der Ansprüche 1 bis 5, dadurch gekennzeichnet, dass a. die Umlenkvorrichtung zum Umlenken des Lichtstreifens oder des Quasi-Lichtstreifens wenigstens eine zumindest teilweise reflektierende Fläche aufweist und/oder dass b. die Umlenkvorrichtung zum Umlenken des Lichtstreifens oder des Quasi-Lichtstreifens wenigstens eine zumindest teilweise reflektierende Fläche aufweist, wobei die reflektierende Fläche als Teil eines planen Spiegels ausgebildet ist oder wobei die reflektierende Fläche zumindest teilweise auf der Innenseite eines Konus ausgebildet ist.
Anordnung nach einem der Ansprüche 1 bis 6, dadurch gekennzeichnet, dass die Umlenkvorrichtung mehrere reflektierende Flächen und dass jeder Fläche eine Sollposition für das Beleuchtungsobjektiv derart zugeordnet ist, dass der aus dem in einer Sollposition befindlichem Beleuchtungsobjektiv austretende Lichtstreifen oder der aus dem Beleuchtungsobjektiv austretende Quasi-Lichtstreifen auf die dieser Sollposition zugeordnete reflektierende Fläche trifft.
Anordnung nach einem der Ansprüche 1 bis 7, dadurch gekennzeichnet, dass durch eine Relativbewegung zwischen dem Beleuchtungsobjektiv und der Umlenkvorrichtung die Einfallsrichtung des Lichtstreifens oder des Quasi-Lichtstreifens auf eine Probe und/oder der Auftreffort des Lichtstreifens oder des Quasi-Lichtstreifens auf eine Probe einstellbar ist.
Anordnung nach einem der Ansprüche 1 bis 8, dadurch gekennzeichnet, dass die Umlenkvorrichtung dazu ausgebildet und bestimmt ist, relativ zu einer zu untersuchenden Probe ortsfest angeordnet zu sein, während das Beleuchtungsobjektiv zum Ändern der Einfallsrichtung des Lichtstreifens oder des Quasi-Lichtstreifens auf die Probe relativ zu der Umlenkvorrichtung beweglich, insbesondere verschiebbar, angeordnet ist.
Anordnung nach einem der Ansprüche 1 bis 9, dadurch gekennzeichnet, dass die Umlenkvorrichtung beweglich an dem Beleuchtungsobjektiv befestigt ist.
Anordnung nach einem der Ansprüche 1 bis 10, dadurch gekennzeichnet, dass a. das Beleuchtungsobjektiv ein Eintauchobjektiv ist oder dass b. das Beleuchtungsobjektiv ein Eintauchobjektiv ist und dass das Beleuchtungsobjektiv dazu ausgebildet und bestimmt ist, insbesondere zusammen mit der Umlenkvorrichtung in eine Probenkammer oder in ein Probengefäß einzutauchen, die mit einem optischen Medium gefüllt ist, das eine zu beleuchtende Probe umgibt.
Anordnung nach einem der Ansprüche 1 bis 11, dadurch gekennzeichnet, dass a. der in die Eintrittspupille des Beleuchtungsobjektivs eintretende Lichtstreifen oder der in die Eintrittspupille des Beleuchtungsobjektivs eintretende Quasi-Lichtstreifen wenigstens genauso breit ist, wie der Durchmesser der Eintrittspupille und/oder dass b. der Lichtstreifen oder der Quasi-Lichtstreifen zentral in das Beleuchtungsobjektiv eingekoppelt ist.
Anordnung nach einem der Ansprüche 1 bis 12, dadurch gekennzeichnet, dass eine Strahlformungseinrichtung vorhanden ist, die den Lichtstreifen oder den Quasi-Lichtstreifen aus einem Lichtbündel erzeugt.
Anordnung nach Anspruch 13, dadurch gekennzeichnet, dass die Strahlformungseinrichtung a. eine Strahlablenkeinrichtung, insbesondere ein Schwingspiegel, aufweist, die durch Hin- und Her-Wedeln eines Lichtbündels in einer Lichtstreifenebene den Quasi-Lichtstreifen erzeugt oder dass b. eine Zylinderoptik aufweist, die aus einem Lichtbündel den Lichtstreifen formt.
Anordnung nach einem der Ansprüche 1 bis 13, dadurch gekennzeichnet, dass eine Lichtquelle, insbesondere ein Laser, vorhanden ist, die den Lichtstreifen emittiert oder die ein Lichtbündel zur Erzeugung des Lichtstreifens oder des Quasi-Lichtstreifens emittiert.
Anordnung nach einem der Ansprüche 1 bis 14, dadurch gekennzeichnet, dass a. die Anordnung als, insbesondere weltraumtaugliches, Modul ausgebildet ist und/oder dass b. die Anordnung als, insbesondere weltraumtaugliches, Modul ausgebildet ist, wobei wenigstens ein Ankoppelmittel, insbesondere ein Führungs- und/oder Festlegmittel, vorhanden sind, das ein positionsgenaues Ankoppeln an ein, insbesondere inverses, Mikroskop oder an ein Mikroskopstativ ermöglicht und/oder dass c. die Anordnung als, insbesondere weltraumtaugliches, Modul ausgebildet ist, in das eine Strahlformungseinrichtung integriert ist, die den Lichtstreifen oder den Quasi-Lichtstreifen aus einem Lichtbündel erzeugt und/oder dass d. die Anordnung als, insbesondere weltraumtaugliches, Modul ausgebildet ist, in das eine Lichtquelle, insbesondere ein Laser, integriert ist, die den Lichtstreifen emittiert oder die ein Lichtbündel zur Erzeugung des Lichtstreifens oder des Quasi-Lichtstreifens emittiert.
Mikroskop mit einer Anordnung nach einem der Ansprüche 1 bis 16.
Mikroskop nach Anspruch 17, dadurch gekennzeichnet, dass a. ein von dem Beleuchtungsobjektiv separates Beobachtungsobjektiv vorhanden ist und/oder dass b. ein Beobachtungsobjektiv vorhanden ist, durch das hindurch von einer Probe ausgehendes Detektionslicht zu einem Detektor geleitet wird und/oder dass c. ein Beobachtungsobjektiv vorhanden ist, dessen optische Achse parallel oder koaxial zur optischen Achse des Beleuchtungsobjektivs angeordnet ist.
Mikroskop nach Anspruch 17 oder 18, dadurch gekennzeichnet, dass a. eine Ausgleichsvorrichtung vorhanden ist, mit der der Strahlengang des Mikroskops an die jeweils aktuelle Relativstellung von Beleuchtungsobjektiv und Umlenkvorrichtung anpassbar ist und/oder dass b. eine Ausgleichsvorrichtung vorhanden ist, mit der der Beobachtungsstrahlengang des Mikroskops an die jeweils aktuelle Relativstellung von Beleuchtungsobjektiv und Umlenkvorrichtung anpassbar ist.
Mikroskop nach Anspruch 19, dadurch gekennzeichnet, dass a. die Ausgleichsvorrichtung zum Ausgleichen unterschiedlicher möglicher Bewegungen des Beleuchtungsobjektivs und/oder der Umlenkvorrichtung einstellbar ausgebildet ist und/oder dass b. die Ausgleichsvorrichtung mit der Bewegung des Beleuchtungsobjektivs und/oder der Umlenkvorrichtung synchronisiert einstellbar ist und/oder dass c. die Ausgleichsvorrichtung derart mit der Bewegung des Beleuchtungsobjektivs und/oder der Umlenkvorrichtung synchronisiert einstellbar ist, dass das vom dem Beobachtungsobjektiv kommende Detektionslicht zu einem Detektor gelenkt wird und/oder dass d. die Ausgleichsvorrichtung mechanisch mit der Bewegung des Beleuchtungsobjektivs und/oder der Umlenkvorrichtung verkoppelt ist.
Mikroskop nach Anspruch 20 oder 21, dadurch gekennzeichnet, dass a. die Ausgleichsvorrichtung einen Strahlversatz verursacht und/oder dass b. die Ausgleichsvorrichtung im Detektionsstrahlengang des Mikroskops angeordnet ist und/oder dass c. die Ausgleichsvorrichtung eine durchsichtige, planparallele Platte aufweist, wobei die Plattenebene unter einem von 90 Grad verschiedenen Winkel zur Ausbreitungsrichtung des Detektionslichtes angeordnet ist und/oder dass d. die Ausgleichsvorrichtung eine durchsichtige, planparallele Platte aufweist, wobei die Plattenebene unter einem von 90 Grad verschiedenen Winkel zur optischen Achse des Detektionslichtes angeordnet ist und/oder dass e. die Ausgleichsvorrichtung eine durchsichtige, planparallele Platte aufweist, die, insbesondere um eine zur Ausbreitungsrichtung des Detektionslichtes parallele Achse, drehbar gelagert ist.