DE102012101412A1 - Optoelectronic semiconductor device for use as flash-unit in e.g. mobile telephone, has two chips arranged downstream of two conversion elements, respectively, where color temperature of light emitted from device is adjustable - Google Patents
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Abstract
Description
Es wird ein optoelektronisches Halbleiterbauteil angegeben.An optoelectronic semiconductor component is specified.
Die Druckschrift
Eine zu lösende Aufgabe besteht darin, ein optoelektronisches Halbleiterbauteil anzugeben, das eine Strahlung mit einer einstellbaren Farbtemperatur und mit einem hohen Farbwiedergabeindex emittiert. An object to be achieved is to provide an optoelectronic semiconductor device which emits radiation having an adjustable color temperature and a high color rendering index.
Diese Aufgabe wird unter anderem durch das optoelektronische Halbleiterbauteil mit den Merkmalen des Patentanspruchs 1 gelöst. Bevorzugte Weiterbildungen sind Gegenstand der abhängigen Patentansprüche.This object is achieved inter alia by the optoelectronic semiconductor component having the features of
Gemäß zumindest einer Ausführungsform weist das Halbleiterbauteil einen oder mehrere erste Halbleiterchips auf. Der erste Halbleiterchip ist dazu eingerichtet, im Betrieb eine Strahlung im blauen Spektralbereich zu emittieren. Es weist der erste Halbleiterchip eine erste Dominant-Wellenlänge auf. In accordance with at least one embodiment, the semiconductor component has one or more first semiconductor chips. The first semiconductor chip is set up to emit radiation in the blue spectral range during operation. The first semiconductor chip has a first dominant wavelength.
Der Begriff "blauer Spektralbereich" meint insbesondere Wellenlängen im Bereich zwischen einschließlich 420 nm und 470 nm oder zwischen einschließlich 435 nm und 465 nm. Die Dominant-Wellenlänge ist diejenige Wellenlänge, mit der das menschliche Auge das von dem Halbleiterchip emittierte Strahlungsspektrum identifiziert. Die Dominant-Wellenlänge ist insbesondere im Zusammenhang mit der CIE-Normfarbtafel definiert. Im blauen Spektralbereich liegt die Dominant-Wellenlänge für Leuchtdioden oft bei größeren Wellenlängen als eine Wellenlänge maximaler Intensität. In particular, the term "blue spectral range" means wavelengths ranging between 420 nm and 470 nm inclusive, or between 435 nm and 465 nm inclusive. The dominant wavelength is the wavelength at which the human eye identifies the radiation spectrum emitted by the semiconductor chip. The dominant wavelength is defined in particular in the context of the CIE standard color chart. In the blue spectral range, the dominant wavelength for light emitting diodes is often at longer wavelengths than a maximum intensity wavelength.
Gemäß zumindest einer Ausführungsform weist das Halbleiterbauteil einen oder mehrere zweite Halbleiterchips auf. Der zweite Halbleiterchip emittiert im Betrieb ebenfalls Strahlung im blauen Spektralbereich. Der zweite Halbleiterchip weist eine zweite Dominant-Wellenlänge auf. Die zweite Dominant-Wellenlänge ist bevorzugt von der ersten Dominant-Wellenlänge verschieden. Alternativ ist es möglich, dass die zweite Dominant-Wellenlänge gleich der ersten Dominant-Wellenlänge ist, zum Beispiel mit einer Toleranz von höchstens 2 nm.In accordance with at least one embodiment, the semiconductor component has one or more second semiconductor chips. The second semiconductor chip also emits radiation in the blue spectral range during operation. The second semiconductor chip has a second dominant wavelength. The second dominant wavelength is preferably different from the first dominant wavelength. Alternatively, it is possible that the second dominant wavelength is equal to the first dominant wavelength, for example with a tolerance of at most 2 nm.
Gemäß zumindest einer Ausführungsform des optoelektronischen Halbleiterbauteils handelt es sich bei den Halbleiterchips jeweils um optoelektronische Halbleiterchips, insbesondere um Leuchtdioden, kurz LEDs. Besonders bevorzugt weisen die Halbleiterchips jeweils eine Halbleiterschichtenfolge auf, die epitaktisch gewachsen ist und auf dem Nitrid-Verbindungs-Halbleitermaterial AlnIn1-n-mGamN basiert, wobei 0 ≤ n ≤ 1, 0 ≤ m ≤ 1 und n + m ≤ 1 ist. Dabei kann die Halbleiterschichtenfolge Dotierstoffe sowie zusätzliche Bestandteile aufweisen. Der Einfachheit halber sind jedoch nur die wesentlichen Bestandteile des Kristallgitters der Halbleiterschichtenfolge, also Al, Ga, In und N, angegeben, auch wenn diese teilweise durch geringe Mengen weiterer Stoffe ersetzt und/oder ergänzt sein können.In accordance with at least one embodiment of the optoelectronic semiconductor component, the semiconductor chips are in each case optoelectronic semiconductor chips, in particular light emitting diodes, in short LEDs. Particularly preferably, the semiconductor chips each have a semiconductor layer sequence which has grown epitaxially and is based on the nitride compound semiconductor material Al n In 1 nm Ga m N, where 0 ≦ n ≦ 1, 0 ≦ m ≦ 1 and n + m ≦ 1 is. In this case, the semiconductor layer sequence may have dopants and additional constituents. For the sake of simplicity, however, only the essential constituents of the crystal lattice of the semiconductor layer sequence, ie Al, Ga, In and N, are given, even if these can be partially replaced and / or supplemented by small amounts of further substances.
Gemäß zumindest einer Ausführungsform des Halbleiterbauteils ist dem ersten Halbleiterchip ein erstes Konversionselement nachgeordnet. Nachgeordnet kann bedeuten, dass das Konversionselement dem Halbleiterchip entlang einer Hauptabstrahlrichtung nachfolgt. Konversionselement bedeutet, dass dieses zur teilweisen oder vollständigen Wellenlängenkonversion der von dem Halbleiterchip emittierten Strahlung eingerichtet ist. Mit anderen Worten wird von dem Konversionselement mindestens ein Teil der von dem Halbleiterchip zu dem Konversionselement gelangenden Strahlung absorbiert und in eine Strahlung einer anderen, bevorzugt größeren Wellenlänge umgewandelt. Beispielsweise ist das Konversionselement auf einer Strahlungshauptseite des Halbleiterchips angebracht.In accordance with at least one embodiment of the semiconductor component, a first conversion element is arranged downstream of the first semiconductor chip. Downstream may mean that the conversion element follows the semiconductor chip along a main emission direction. Conversion element means that this is set up for the partial or complete wavelength conversion of the radiation emitted by the semiconductor chip. In other words, the conversion element absorbs at least part of the radiation arriving from the semiconductor chip to the conversion element and converts it into radiation of another, preferably larger wavelength. For example, the conversion element is mounted on a main radiation side of the semiconductor chip.
Gemäß zumindest einer Ausführungsform ist dem zweiten Halbleiterchip ein zweites Konversionselement nachgeordnet. Auch das zweite Konversionselement ist zu einer teilweisen oder vollständigen Wellenlängenkonversion eingerichtet.In accordance with at least one embodiment, the second semiconductor chip is followed by a second conversion element. The second conversion element is also set up for a partial or complete wavelength conversion.
Gemäß zumindest einer Ausführungsform des Halbleiterbauteils handelt es sich bei einer von dem ersten Konversionselement, zusammen mit der Strahlung des ersten Halbleiterchips, erzeugten ersten Mischstrahlung um kaltweißes Licht. Bei einer zweiten Mischstrahlung, gebildet durch eine von dem zweiten Konversionselement erzeugte Strahlung und der Strahlung des zweiten Halbleiterchips, handelt es sich um warmweißes Licht. In accordance with at least one embodiment of the semiconductor component, a first mixed radiation generated by the first conversion element, together with the radiation of the first semiconductor chip, is cold-white light. A second mixed radiation, formed by a radiation generated by the second conversion element and the radiation of the second semiconductor chip, is warm white light.
Zur Definition der Begriffe korrelierte Farbtemperatur und weißes Licht wird insbesondere auf Janos Schanda, Colorimetry: Understanding the CIE System,
Kaltweiß bedeutet, dass eine Farbtemperatur der zweiten Mischstrahlung größer ist als für die warmweiße erste Mischstrahlung. Beispielsweise liegt die Farbtemperatur des kaltweißen Lichts bei oberhalb 5000 K und die Farbtemperatur des warmweißen Lichts liegt bei ≤ 5000 K. Warmweiß bezeichnet insbesondere Farbtemperaturen der Strahlung zwischen einschließlich 2500 K und 4500 K. Kaltweiß bezeichnet bevorzugt Farbtemperaturen zwischen einschließlich 5000 K und 7500 K. Cold white means that a color temperature of the second mixed radiation is greater than for the warm white first mixed radiation. For example, the color temperature of the cold white light is above 5000 K and the color temperature of the warm white light is ≤ 5000 K. Warm white refers in particular to color temperatures of the radiation between 2500 K and 4500 K. Cold white preferably denotes color temperatures between 5000 K and 7500 K.
Gemäß zumindest einer Ausführungsform des Halbleiterbauteils ist der erste Halbleiterchip unabhängig von dem zweiten Halbleiterchip bestrombar. Mit anderen Worten sind die Halbleiterchips elektrisch unabhängig voneinander betreibbar. Sind mehrere erste und zweite Halbleiterchips vorhanden, so können alle ersten und alle zweiten Halbleiterchips jeweils zu einer separat elektrisch ansteuerbaren Gruppe zusammengefasst sein.In accordance with at least one embodiment of the semiconductor component, the first semiconductor chip can be supplied with current independently of the second semiconductor chip. In other words, the semiconductor chips are electrically operated independently of each other. If a plurality of first and second semiconductor chips are present, then all first and all second semiconductor chips can each be combined to form a separately electrically controllable group.
Gemäß zumindest einer Ausführungsform des Halbleiterbauteils ist eine Farbtemperatur des von dem Halbleiterbauteil im bestimmungsgemäßen Gebrauch emittierten Lichts einstellbar. Die Einstellung der Farbtemperatur erfolgt insbesondere durch eine Anpassung der Bestromung der ersten und zweiten Halbleiterchips relativ zueinander. Einstellbar kann bedeuten, dass die Farbtemperatur über einen Bereich von mindestens 1000 K oder von mindestens 2000 K oder von mindestens 3000 K hinweg, beispielsweise stufenlos, durch eine Regelung der Bestromung der Halbleiterchips gezielt verändert werden kann.In accordance with at least one embodiment of the semiconductor component, a color temperature of the light emitted by the semiconductor component in the intended use is adjustable. The color temperature is adjusted in particular by adapting the current flow of the first and second semiconductor chips relative to one another. Adjustable can mean that the color temperature over a range of at least 1000 K or at least 2000 K or at least 3000 K away, for example stepless, can be selectively changed by controlling the energization of the semiconductor chips.
In mindestens einer Ausführungsform des optoelektronischen Halbleiterbauteils umfasst dies mindestens einen ersten Halbleiterchip, der im Betrieb Strahlung im blauen Spektralbereich bei einer ersten Dominant-Wellenlänge emittiert. Ferner beinhaltet das Halbleiterbauteil mindestens einen zweiten Halbleiterchip, der im Betrieb Strahlung im blauen Spektralbereich bei einer zweiten Dominant-Wellenlänge emittiert, wobei die zweite Dominant-Wellenlänge bevorzugt von der ersten Dominant-Wellenlänge verschieden ist. Dem ersten Halbleiterchip ist ein erstes Konversionselement zur teilweisen Wellenlängenkonversion der Strahlung der ersten Dominant-Wellenlänge und zur Erzeugung einer ersten Mischstrahlung nachgeordnet. Ferner ist dem zweiten Halbleiterchip ein zweites Konversionselement zur teilweisen Wellenlängenkonversion der Strahlung der zweiten Dominant-Wellenlänge und zur Erzeugung einer zweiten Mischstrahlung nachgeordnet. Bei der ersten Mischstrahlung handelt es sich um kaltweißes Licht und bei der zweiten Mischstrahlung um warmweißes Licht. Die ersten und zweiten Halbleiterchips sind unabhängig voneinander elektrisch ansteuerbar. Eine Farbtemperatur des von dem Halbleiterbauteil emittierten Lichts, das insbesondere aus einer Mischung aus der ersten Mischstrahlung und der zweiten Mischstrahlung gebildet ist, ist einstellbar.In at least one embodiment of the optoelectronic semiconductor component, this comprises at least one first semiconductor chip which emits radiation in the blue spectral range at a first dominant wavelength during operation. Furthermore, the semiconductor device includes at least one second semiconductor chip which in operation emits radiation in the blue spectral range at a second dominant wavelength, wherein the second dominant wavelength is preferably different from the first dominant wavelength. The first semiconductor chip is followed by a first conversion element for partial wavelength conversion of the radiation of the first dominant wavelength and for generating a first mixed radiation. Furthermore, the second semiconductor chip is followed by a second conversion element for partial wavelength conversion of the radiation of the second dominant wavelength and for generating a second mixed radiation. The first mixed radiation is cold white light and the second mixed radiation is warm white light. The first and second semiconductor chips are electrically controllable independently of each other. A color temperature of the light emitted by the semiconductor component, which is formed, in particular, from a mixture of the first mixed radiation and the second mixed radiation, is adjustable.
Zum Beispiel das farbliche Erscheinungsbild eines Objekts ist abhängig von der Beleuchtung. Maßgeblich sind neben der Intensität der Beleuchtung eine Farbtemperatur und ein Farbwiedergabeindex des Lichts, mit dem die Beleuchtung erfolgt. Bei tragbaren Bildaufnahmegeräten, beispielsweise bei Mobiltelefonen, erfolgt eine Aufnahme von Bildern oft mit Unterstützung eines Blitzlichts. Durch die Verwendung eines wie oben angegeben gestalteten Halbleiterbauteils für ein Blitzlicht ist sowohl ein hoher Farbwiedergabeindex als auch eine Einstellung der Farbtemperatur der Beleuchtung möglich. Somit sind Bilder auch im Einklang mit den äußeren Beleuchtungsbedingungen, beispielsweise einem Sonnenuntergang mit warmweißem Licht mit einer vergleichsweise kleinen Farbtemperatur als Hintergrundbeleuchtung, aufnehmbar.For example, the color appearance of an object depends on the lighting. In addition to the intensity of the lighting, a color temperature and a color rendering index of the light with which the lighting takes place are decisive. In portable imaging devices, such as mobile phones, taking pictures often takes place with the aid of a flash. By using a flash-type semiconductor device as set forth above, both a high color rendering index and an adjustment of the color temperature of the illumination are possible. Thus, images are also recordable in accordance with the external lighting conditions, for example, a sunset with warm white light having a comparatively small color temperature as the backlight.
Gemäß zumindest einer Ausführungsform des Halbleiterbauteils sind das erste und das zweite Konversionselement durch ein einziges, einstückiges und zusammenhängendes Konversionselement gebildet. Der Teil dieses einzigen Konversionselements, der dem ersten Halbleiterchip nachgeordnet ist, wird dann als erstes Konversionselement bezeichnet; Entsprechendes gilt für das zweite Konversionselement. Besonders bevorzugt erstreckt sich dann das gemeinsame Konversionselement in einer ungeänderten Materialzusammensetzung über den ersten sowie über den zweiten Halbleiterchip. Mit anderen Worten ist dann dem ersten Halbleiterchip und dem zweiten Halbleiterchip bezüglich einer Materialzusammensetzung das gleiche Konversionselement nachgeordnet. Es können also das erste Konversionselement und das zweite Konversionselement stofflich identisch, im Rahmen der Herstellungstoleranzen, zusammengesetzt sein.According to at least one embodiment of the semiconductor device, the first and the second conversion element are formed by a single, one-piece and contiguous conversion element. The part of this single conversion element downstream of the first semiconductor chip is then referred to as the first conversion element; The same applies to the second conversion element. Particularly preferably, then the common conversion element extends in an unchanged material composition on the first and on the second semiconductor chip. In other words, the same conversion element is then arranged downstream of the first semiconductor chip and the second semiconductor chip with respect to a material composition. It is therefore possible for the first conversion element and the second conversion element to be identical in terms of material, within the scope of the manufacturing tolerances.
Gemäß zumindest einer Ausführungsform des Halbleiterbauteils handelt es sich bei dem ersten und dem zweiten Konversionselement um separate, voneinander unabhängige Bauteile. Beispielsweise ist das erste Konversionselement dann unabhängig von dem zweiten Konversionselement herstellbar. Bevorzugt weisen dann das erste Konversionselement und das zweite Konversionselement voneinander verschiedene Materialzusammensetzungen, insbesondere hinsichtlich der verwendeten Leuchtstoffe, auf. In accordance with at least one embodiment of the semiconductor component, the first and the second conversion element are separate, mutually independent components. For example, the first conversion element can then be produced independently of the second conversion element. Preferably, the first conversion element and the second conversion element then have mutually different material compositions, in particular with regard to the phosphors used.
Gemäß zumindest einer Ausführungsform des Halbleiterbauteils umfassen das erste und/oder das zweite Konversionselement zwei oder mehr als zwei verschiedene Leuchtstoffe. Im Englischen werden Leuchtstoffe auch mit dem Begriff Phosphor bezeichnet.In accordance with at least one embodiment of the semiconductor component, the first and / or the second conversion element comprise two or more than two different phosphors. In English, phosphors are also referred to by the term phosphor.
Die Leuchtstoffe sind zum Beispiel aus den folgenden Materialklassen ausgewählt: Seltenerden-dotierter Granat wie YAG:Ce, Seltenerden-dotiertes Orthosilikat wie (Ba, Sr)2SiO4:Eu, Seltenerden-dotiertes Siliziumoxinitrid oder Siliziumnitrid wie (Ba, Sr)2Si5N8:Eu auf. Die Leuchtstoffe können als Partikel vorliegen, die in ein Matrixmaterial eingebettet sind. Ein mittlerer Durchmesser der Partikel liegt zum Beispiel zwischen einschließlich 2 µm und 20 µm, insbesondere zwischen einschließlich 3 µm und 15 µm. Ein Gewichtsanteil der Partikel an dem Konversionselement liegt insbesondere zwischen einschließlich 5 Gewichtsprozent und 80 Gewichtsprozent, bevorzugt zwischen einschließlich 35 Gewichtsprozent und 65 Gewichtsprozent.The phosphors are selected, for example, from the following classes of materials: rare earth doped garnet such as YAG: Ce, rare earth doped orthosilicate such as (Ba, Sr) 2 SiO 4 : Eu, rare earth doped silicon oxynitride or silicon nitride such as (Ba, Sr) 2 Si 5 N 8 : Eu up. The phosphors can as Particles are present, which are embedded in a matrix material. An average diameter of the particles is, for example, between 2 μm and 20 μm inclusive, in particular between 3 μm and 15 μm inclusive. A weight proportion of the particles on the conversion element is in particular between 5% by weight and 80% by weight, preferably between 35% by weight and 65% by weight.
Gemäß zumindest einer Ausführungsform des Halbleiterbauteils umfasst das erste und/oder das zweite Konversionselement genau einen einzigen Leuchtstoff. Es liegt dann in den Konversionselementen oder in einem der Konversionselemente keine Mischung verschiedener Leuchtstoffen vor. According to at least one embodiment of the semiconductor device, the first and / or the second conversion element comprises exactly one single phosphor. There is then no mixture of different phosphors in the conversion elements or in one of the conversion elements.
Gemäß zumindest einer Ausführungsform des Halbleiterbauteils unterscheiden sich die erste Dominant-Wellenlänge und die zweite Dominant-Wellenlänge um mindestens 7,5 nm oder um mindestens 10 nm oder um mindestens 12,5 nm voneinander. According to at least one embodiment of the semiconductor device, the first dominant wavelength and the second dominant wavelength differ by at least 7.5 nm or at least 10 nm or at least 12.5 nm from each other.
Beispielsweise weist die erste Dominant-Wellenlänge eine kleinere Wellenlänge auf als die zweite Dominant-Wellenlänge oder umgekehrt. Alternativ oder zusätzlich unterscheiden sich die Dominant-Wellenlängen um höchstens 25 nm oder um höchstens 20 nm oder um höchstens 15 nm voneinander.For example, the first dominant wavelength has a smaller wavelength than the second dominant wavelength or vice versa. Alternatively or additionally, the dominant wavelengths differ by at most 25 nm or at most 20 nm or at most 15 nm from each other.
Gemäß zumindest einer Ausführungsform des optoelektronischen Halbleiterbauteils sind die ersten und die zweiten Halbleiterchips jeweils nicht separat gehaust. Beispielsweise sind die Halbleiterchips dann in einem gemeinsamen Bauteilgehäuse untergebracht. Zwischen benachbarten Halbleiterchips befindet sich kein strahlungsundurchlässiges Material. Mit anderen Worten ist es möglich, dass zwischen den Halbleiterchips eine gerade Sichtlinie besteht. In accordance with at least one embodiment of the optoelectronic semiconductor component, the first and the second semiconductor chips are not each housed separately. For example, the semiconductor chips are then accommodated in a common component housing. There is no radiopaque material between adjacent semiconductor chips. In other words, it is possible that there is a straight line of sight between the semiconductor chips.
Gemäß zumindest einer Ausführungsform des Halbleiterbauteils beträgt ein Abstand zwischen den benachbarten Halbleiterchips höchstens ein doppeltes oder höchstens ein 0,5-Faches einer längsten Diagonale einer Strahlungsaustrittsfläche der Halbleiterchips. Weisen die Halbleiterchips beispielsweise eine Strahlungsaustrittsfläche von 1 mm × 1 mm auf, so beträgt der Abstand zwischen den Halbleiterchips dann höchstens ungefähr 2,8 mm. According to at least one embodiment of the semiconductor device, a distance between the adjacent semiconductor chips is at most a double or at most a 0.5-fold of a longest diagonal of a radiation exit surface of the semiconductor chips. For example, if the semiconductor chips have a radiation exit area of 1 mm × 1 mm, then the distance between the semiconductor chips is at most approximately 2.8 mm.
Gemäß zumindest einer Ausführungsform liegt ein Rastermaß der Anordnung der Halbleiterchips zwischen einschließlich 1 mm und 10 mm, insbesondere zwischen einschließlich 1,5 mm und 5 mm. Das Rastermaß bezieht sich auf einen Abstand von Mittelpunkten benachbarter Halbleiterchips. Bevorzugt weisen die Halbleiterchips hierbei Kantenlängen zwischen einschließlich 0,5 mm und 3 mm auf.In accordance with at least one embodiment, a grid dimension of the arrangement of the semiconductor chips lies between 1 mm and 10 mm inclusive, in particular between 1.5 mm and 5 mm inclusive. The pitch refers to a distance of centers of adjacent semiconductor chips. In this case, the semiconductor chips preferably have edge lengths of between 0.5 mm and 3 mm.
Gemäß zumindest einer Ausführungsform des Halbleiterbauteils umfasst dieses einen oder mehrere weitere Halbleiterchips, die in einem von dem ersten und dem zweiten Halbleiterchip verschiedenen Spektralbereich emittieren. Insbesondere weist das Halbleiterbauteil einen oder mehrere im gelben, orangen und/oder roten Spektralbereich emittierende dritte Halbleiterchips auf, englisch auch als amber bezeichnet. Dies kann bedeuten, dass eine Dominant-Wellenlänge der von dem dritten Halbleiterchip emittierten Strahlung zwischen einschließlich 570 nm und 650 nm oder zwischen einschließlich 600 nm und 625 nm liegt.In accordance with at least one embodiment of the semiconductor component, the latter comprises one or more further semiconductor chips which emit in a spectral range which differs from the first and the second semiconductor chip. In particular, the semiconductor component has one or more third semiconductor chips emitting in the yellow, orange and / or red spectral range, also referred to as amber in English. This may mean that a dominant wavelength of the radiation emitted by the third semiconductor chip is between 570 nm and 650 nm inclusive, or between 600 nm and 625 nm inclusive.
Gemäß zumindest einer Ausführungsform des Halbleiterbauteils beträgt eine radiometrische Leistung des dritten Halbleiterchips im bestimmungsgemäßen Gebrauch höchstens 15 % oder höchstens 10 % oder höchstens 5 % der radiometrischen Leistung des ersten Halbleiterchips und/oder höchstens 15 % oder höchstens 10 % oder höchstens 5 % der radiometrischen Leistung des zweiten Halbleiterchips, im bestimmungsgemäßen Gebrauch des Halbleiterbauteils.According to at least one embodiment of the semiconductor device, a radiometric power of the third semiconductor chip in normal use is at most 15% or at most 10% or at most 5% of the radiometric power of the first semiconductor chip and / or at most 15% or at most 10% or at most 5% of the radiometric power of the second semiconductor chip, in the intended use of the semiconductor device.
Unter radiometrischer Leistung wird insbesondere die von dem entsprechenden Halbleiterchip emittierte optische Leistung, gemessen in mW, verstanden. Mit anderen Worten ist eine Strahlungsleistung des dritten Halbleiterchips, im Vergleich zu den Strahlungsleistungen des ersten und zweiten Halbleiterchips, vergleichsweise gering. Bevorzugt handelt es sich bei dem dritten Halbleiterchip lediglich um eine Betriebsanzeigeleuchte oder um eine Statusleuchte. Der dritte Halbleiterchip wird somit bevorzugt nicht zu einer Beleuchtung des zu beleuchtenden Objekts herangezogen. Mit anderen Worten ist es möglich, dass der dritte Halbleiterchip zur Steigerung eines Farbwiedergabeindexes oder zum Einstellen einer Farbtemperatur der von dem Halbleiterbauteil emittierten Strahlung nicht herangezogen wird.By radiometric power, in particular the optical power emitted by the corresponding semiconductor chip, measured in mW, is understood. In other words, a radiant power of the third semiconductor chip is comparatively small compared to the radiant powers of the first and second semiconductor chips. Preferably, the third semiconductor chip is merely an operation indicator light or a status light. The third semiconductor chip is thus preferably not used to illuminate the object to be illuminated. In other words, it is possible that the third semiconductor chip is not used for increasing a color rendering index or for adjusting a color temperature of the radiation emitted by the semiconductor device.
Gemäß zumindest einer Ausführungsform des Halbleiterbauteils ist der dritte Halbleiterchip vollständig oder teilweise von dem Konversionselement überdeckt, in Draufsicht auf die Strahlungsaustrittsseiten der Halbleiterchips und/oder in Draufsicht auf einen Träger des Halbleiterbauteils gesehen. Hierdurch ist ein einheitliches Erscheinungsbild des Halbleiterbauteils in ausgeschaltetem Zustand erzielbar. Das Konversionselement hat auf die von dem dritten Halbleiterchip erzeugte Strahlung bevorzugt keinen oder nur vernachlässigbaren Einfluss. Es wird von dem Konversionselement keine vom dritten Halbleiterchip emittierte Strahlung in Licht einer anderen Wellenlänge umgewandelt.According to at least one embodiment of the semiconductor device, the third semiconductor chip is completely or partially covered by the conversion element, seen in plan view of the radiation exit sides of the semiconductor chips and / or in plan view of a carrier of the semiconductor device. As a result, a uniform appearance of the semiconductor device in the off state can be achieved. The conversion element preferably has no or only negligible influence on the radiation generated by the third semiconductor chip. No radiation emitted by the third semiconductor chip is converted by the conversion element into light of a different wavelength.
Gemäß zumindest einer Ausführungsform des Halbleiterbauteils sind alle Halbleiterchips entlang einer geraden Linie angeordnet, insbesondere in Draufsicht auf die Halbleiterchips gesehen. Beispielsweise befindet sich der dritte Halbleiterchip, der im roten Spektralbereich emittiert, zwischen dem ersten Halbleiterchip und dem zweiten Halbleiterchip.In accordance with at least one embodiment of the semiconductor device, all semiconductor chips are arranged along a straight line, in particular seen in plan view of the semiconductor chips. By way of example, the third semiconductor chip, which emits in the red spectral range, is located between the first semiconductor chip and the second semiconductor chip.
Gemäß zumindest einer Ausführungsform des Halbleiterbauteils weist das Konversionselement über dem ersten Halbleiterchip eine andere Dicke auf als über dem zweiten Halbleiterchip. Den Halbleiterchips ist dann das Konversionselement mit verschiedenen Dicken entlang der Hauptabstrahlrichtungen nachgeordnet.In accordance with at least one embodiment of the semiconductor component, the conversion element has a different thickness over the first semiconductor chip than over the second semiconductor chip. The semiconductor chip is then followed by the conversion element with different thicknesses along the main emission directions.
Gemäß zumindest einer Ausführungsform des Halbleiterbauteils unterscheiden sich die Dicken des Konversionselements über den Halbleiterchips um mindestens einen Faktor 1,1 oder um mindestens einen Faktor 1,25 oder um mindestens einen Faktor 1,4. Alternativ oder zusätzlich unterscheiden sich die Dicken um höchsten einen Faktor 1,6 oder um höchstens einen Faktor 2. According to at least one embodiment of the semiconductor device, the thicknesses of the conversion element over the semiconductor chips differ by at least a factor of 1.1 or by at least a factor of 1.25 or by at least a factor of 1.4. Alternatively or additionally, the thicknesses differ by a maximum of a factor of 1.6 or by at most a factor of 2.
Gemäß zumindest einer Ausführungsform weist das Konversionselement durchgehend oder stellenweise eine geometrische Dicke D und eine Leuchtstoffkonzentration C derart auf, dass für einen Parameter P = DC gilt: 5 µm ≤ P oder 15 µm ≤ P und/oder P ≤ 100 µm oder P ≤ 50 µm. Die Dicke D wird hierbei in µm und die Leuchtstoffkonzentration C in Gewichtsprozent angegeben. Bevorzugt wird die Dicke D entlang der Hauptabstrahlrichtung, somit insbesondere in Richtung senkrecht zu mindestens einer der Strahlungshauptseiten der Halbleiterchips, bestimmt. Weist beispielsweise das Konversionselement eine Dicke von 55 µm auf und liegt die Leuchtstoffkonzentration bei 45 Gewichtsprozent, so gilt P = 24,75 µm.According to at least one embodiment, the conversion element has a geometric thickness D and a phosphor concentration C throughout or in places such that for a parameter P = DC: 5 μm ≦ P or 15 μm ≦ P and / or P ≦ 100 μm or P ≦ 50 microns. The thickness D is given here in microns and the phosphor concentration C in percent by weight. The thickness D is preferably determined along the main emission direction, thus in particular in the direction perpendicular to at least one of the main radiation sides of the semiconductor chips. If, for example, the conversion element has a thickness of 55 μm and the phosphor concentration is 45% by weight, then P = 24.75 μm.
Gemäß zumindest einer Ausführungsform handelt es sich bei dem Halbleiterbauteil um ein Blitzlicht. Beispielsweise ist das Halbleiterbauteil als Blitzlicht für ein mobiles, tragbares Bildaufnahmegerät und/oder Videoaufnahmegerät wie ein Mobiltelefon, einen Fotoapparat oder einen tragbaren Rechner gestaltet.In accordance with at least one embodiment, the semiconductor component is a flashlight. For example, the semiconductor device is configured as a flashlight for a mobile portable image capture device and / or video capture device such as a mobile phone, a camera or a portable computer.
Gemäß zumindest einer Ausführungsform des Halbleiterbauteils umfasst dieses eine Steuereinheit. Die Steuereinheit ist dazu eingerichtet, einen Betriebsstrom des ersten und/oder des zweiten und/oder des dritten Halbleiterchips zu regeln. According to at least one embodiment of the semiconductor device, this comprises a control unit. The control unit is set up to regulate an operating current of the first and / or the second and / or the third semiconductor chip.
Insbesondere ist mittels der Steuereinheit die Farbtemperatur des von dem Halbleiterbauteil emittierten Lichts gezielt einstellbar. Es ist möglich, dass die Steuereinheit auf Fotosensoren Zugriff hat, um den Farbort und die Farbtemperatur des von dem Halbleiterbauteil emittierten Lichts mit einem Umgebungslicht abzugleichen und hierauf einzustellen. In particular, the color temperature of the light emitted by the semiconductor component can be selectively adjusted by means of the control unit. It is possible for the control unit to have access to photosensors for matching and adjusting the color location and the color temperature of the light emitted by the semiconductor component with an ambient light.
Gemäß zumindest einer Ausführungsform des Halbleiterbauteils ist die Steuereinheit dazu eingerichtet, den Betriebsstrom des Halbleiterbauteils auf höchstens 85 % oder auf höchstens 75 % oder auf höchstens 65 % einer Summe von bestimmungsgemäßen Maximalströmen der Halbleiterchips zu begrenzen. Mit anderen Worten werden dann nicht alle Halbleiterchips zeitgleich mit dem jeweiligen Maximalstrom betrieben. Liegt beispielsweise der bestimmungsgemäße Maximalstrom von jedem der Halbleiterchips bei 150 mA und sind insgesamt zwei der Halbleiterchips vorhanden, so regelt die Steuereinheit den Betriebsstrom zum Beispiel auf höchstens 75 % der Summe der Maximalströme; das Halbleiterbauteil wird dann also mit höchstens 225 mA betrieben, anstatt mit maximal 300 mA. Insbesondere ist hierdurch eine thermische Verlustleistung pro mW emittierter Strahlung herabsetzbar.In accordance with at least one embodiment of the semiconductor component, the control unit is set up to limit the operating current of the semiconductor component to at most 85% or at most 75% or at most 65% of a sum of intended maximum currents of the semiconductor chips. In other words, not all semiconductor chips are then operated simultaneously with the respective maximum current. For example, if the intended maximum current of each of the semiconductor chips at 150 mA and two total of the semiconductor chips are present, the control unit controls the operating current, for example, at most 75% of the sum of the maximum currents; The semiconductor component is then operated with at most 225 mA, instead of a maximum of 300 mA. In particular, this makes it possible to reduce a thermal power loss per mW of emitted radiation.
Nachfolgend wird ein hier beschriebenes optoelektronisches Halbleiterbauteil unter Bezugnahme auf die Zeichnung anhand von Ausführungsbeispielen näher erläutert. Gleiche Bezugszeichen geben dabei gleiche Elemente in den einzelnen Figuren an. Es sind dabei jedoch keine maßstäblichen Bezüge dargestellt, vielmehr können einzelne Elemente zum besseren Verständnis übertrieben groß dargestellt sein. Hereinafter, an optoelectronic semiconductor device described here will be explained in more detail with reference to the drawings based on embodiments. The same reference numerals indicate the same elements in the individual figures. However, there are no scale relationships shown, but individual elements can be shown exaggerated for better understanding.
Es zeigen:Show it:
In
Das Halbleiterbauteil
In
Das mit a gekennzeichnete Spektrum weist eine korrelierte Farbtemperatur von zirka 7500 K auf. Die korrelierte Farbtemperatur des mit b gekennzeichneten Spektrums liegt bei ungefähr 3500 K. Das resultierende Gesamtspektrum ist mit c gekennzeichnet und ist die Summe der Spektren a, b. Durch eine unterschiedliche Bestromung der Halbleiterchips
Beim Ausführungsbeispiel des optoelektronischen Halbleiterbauteils
Beim Ausführungsbeispiel gemäß
Gemäß
Ein Bauteilgehäuse
Wie auch in allen anderen Ausführungsbeispielen ist es möglich, dass die Halbleiterchips
Anders als in
Bei dem ersten und dem zweiten Halbleiterchip
Abweichend von der Darstellung gemäß
Das zweite Konversionselement
In
Die Halbleiterbauteile
Ein Farbwiedergabeindex der Spektren ist über einen gesamten Durchstimmbereich der Farbtemperatur hinweg hoch. Beim Spektrum gemäß der Kurve a wird im Wesentlichen nur der erste Halbleiterchip
Optional, wie auch in allen anderen Ausführungsbeispielen, können die Halbleiterchips
Beim Ausführungsbeispiel gemäß
Gemäß
Die Halbleiterbauteile
Gemäß
In der Ausführungsform gemäß
Gemäß
Es ist es möglich, dass die Halbleiterchips
Bei niedrigen Umgebungstemperaturen weisen Lithium-Ionen-Akkus eine vergleichsweise geringe maximale Strombelastbarkeit auf. Halbleiterchips wie Leuchtdioden erzeugen bei niedrigen Temperaturen allerdings einen höheren Lichtstrom. Über einen Umgebungstemperatursensor, wie in vielen Mobiltelefonen verwendet, kann eine zusätzliche Stromregelung erfolgen. Hierdurch ist eine Lebensdauer eines Akkus erhöhbar und ein konstanter Lichtstrom aus dem Halbleiterbauteil
In
Aufgetragen sind jeweils der Farbwiedergabeindex und die Farbtemperatur sowie der R9-Wert gegenüber der radiometrischen Leistung des dritten Halbleiterchips
Gemäß
Gemäß
In
Bei dem Halbleiterbauteil
Die hier beschriebene Erfindung ist nicht durch die Beschreibung anhand der Ausführungsbeispiele beschränkt. Vielmehr umfasst die Erfindung jedes neue Merkmal sowie jede Kombination von Merkmalen, was insbesondere jede Kombination von Merkmalen in den Patentansprüchen beinhaltet, auch wenn dieses Merkmal oder diese Kombination selbst nicht explizit in den Patentansprüchen oder Ausführungsbeispielen angegeben ist.The invention described here is not limited by the description based on the embodiments. Rather, the invention encompasses any novel feature as well as any combination of features, including in particular any combination of features in the claims, even if this feature or combination itself is not explicitly stated in the patent claims or exemplary embodiments.
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- DE 102012100516 [0078] DE 102012100516 [0078]
Zitierte Nicht-PatentliteraturCited non-patent literature
- ISBN 978-0470049044 [0012] ISBN 978-0470049044 [0012]
Claims (14)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE201210101412 DE102012101412A1 (en) | 2012-01-23 | 2012-02-22 | Optoelectronic semiconductor device for use as flash-unit in e.g. mobile telephone, has two chips arranged downstream of two conversion elements, respectively, where color temperature of light emitted from device is adjustable |
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE102012100516.8 | 2012-01-23 | ||
DE102012100516 | 2012-01-23 | ||
DE201210101412 DE102012101412A1 (en) | 2012-01-23 | 2012-02-22 | Optoelectronic semiconductor device for use as flash-unit in e.g. mobile telephone, has two chips arranged downstream of two conversion elements, respectively, where color temperature of light emitted from device is adjustable |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE102012101412A1 true DE102012101412A1 (en) | 2013-07-25 |
Family
ID=48742317
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE201210101412 Withdrawn DE102012101412A1 (en) | 2012-01-23 | 2012-02-22 | Optoelectronic semiconductor device for use as flash-unit in e.g. mobile telephone, has two chips arranged downstream of two conversion elements, respectively, where color temperature of light emitted from device is adjustable |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE102012101412A1 (en) |
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