DE102011081388A1 - Method for determining electrical potential of electrical conductor used in e.g. voltage switchgear, involves determining free charge carriers in the irradiated surface area using determination unit - Google Patents

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Abstract

The method involves irradiating (100) electromagnetic radiation (S) with preset wavelength and intensity on a surface portion (10a) of conductor (10), using an irradiation unit (210). The free charge carriers are determined (110) in the irradiated surface area using a determination unit (220). The electrical potential in surface region of the conductor is determined (120) by a data evaluation unit (230) based on number of the determined free charge carriers. An independent claim is included for measuring device for determining electrical potential of electrical conductor.

Description

Stand der TechnikState of the art

Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Ermittlung des elektrischen Potentials eines elektrischen Leiters. Die Erfindung betrifft ferner eine Vorrichtung zur Ermittlung des elektrischen Potentials eines elektrischen Leiters. The invention relates to a method for determining the electrical potential of an electrical conductor. The invention further relates to a device for determining the electrical potential of an electrical conductor.

Konventionelle Potential- und Spannungsmessungen an elektrischen Leitern erfolgen üblicherweise über Messgeräte, deren Elektroden für den Messvorgang mechanisch und elektrisch leitend mit einem zu untersuchenden spannungsführenden Leiter zu verbinden sind. Durch das Verbinden der Messapparatur mit dem spannungsführenden Teil kommt es in der Regel zu einem Potentialausgleich über die Messapparatur, was nachteilig die Messwerte verfälscht. Insbesondere bei Potential- beziehungsweise Spannungsmessungen an Teilen mit verhältnismäßig geringer Ladungsträgeranzahl ist eine direkte Messung nicht oder nur mit unzureichender Genauigkeit möglich. Conventional potential and voltage measurements on electrical conductors are usually carried out by measuring devices, the electrodes of which are to be mechanically and electrically conductively connected to a live conductor to be examined for the measuring process. By connecting the measuring apparatus to the live part, equipotential bonding usually occurs via the measuring apparatus, which adversely affects the measured values. Particularly in the case of potential or voltage measurements on parts with a relatively small number of charge carriers, direct measurement is not possible or only possible with insufficient accuracy.

Durch das konventionelle berührende Messen ist ferner eine Bedienperson der Messeinrichtung einer mitunter erheblichen elektrischen Gefährdung ausgesetzt, da sie ein Gegenpotential zu dem elektrischen Potential des zu untersuchenden elektrischen Leiters darstellt. Furthermore, an operator of the measuring device is exposed to a sometimes considerable electrical hazard as a result of the conventional contacting measurement because it represents a counter potential to the electrical potential of the electrical conductor to be examined.

Offenbarung der ErfindungDisclosure of the invention

Demgemäß ist es Aufgabe der vorliegenden Erfindung, ein Verfahren und eine Vorrichtung der eingangs genannten Art dahingehend zu verbessern, dass eine präzisere und flexiblere elektrische Potentialmessung möglich ist, die darüberhinaus auch eine gesteigerte Sicherheit für eine die Messvorrichtung betätigende Bedienperson bietet.Accordingly, it is an object of the present invention to improve a method and a device of the type mentioned in that a more precise and flexible electrical potential measurement is possible, which also provides increased safety for an operator operating the measuring device.

Diese Aufgabe wird bei dem Verfahren der eingangs genannten Art erfindungsgemäß dadurch gelöst, dass mindestens ein Oberflächenbereich des Leiters mit elektromagnetischer Strahlung vorgebbarer Wellenlänge und/oder Intensität bestrahlt wird, wobei aus dem bestrahlten Oberflächenbereich freigesetzte Ladungsträger ermittelt werden, und wobei aus einer Anzahl der ermittelten freigesetzten Ladungsträger auf das elektrische Potential des Leiters in dem Oberflächenbereich geschlossen wird.This object is achieved in the method of the aforementioned type according to the invention in that at least one surface region of the conductor is irradiated with electromagnetic radiation of predeterminable wavelength and / or intensity, wherein released from the irradiated surface area charge carriers are determined, and wherein released from a number of the determined Charge carrier is closed to the electrical potential of the conductor in the surface region.

Untersuchungen der Anmelderin zufolge weisen spannungsführende Teile ein definiertes Oberflächenpotential auf, was sich aus dem Vorhandensein von beweglichen Ladungsträgern ergibt. Das bedeutet, die Elektronen eines elektrischen Leiters, wie beispielsweise eines metallischen Körpers, befinden sich energetisch betrachtet im Leitungsband. Erfindungsgemäß ist es vorteilhaft möglich, die Ladungsträger unter definierten Bedingungen aus der Oberfläche des elektrischen Leiters freizusetzen, wodurch sie weiter erfindungsgemäß detektiert werden können. Bei einer Bestrahlung des Leiters mit einer definierten Wellenlänge und/oder Intensität kann aufgrund der Anzahl der detektierten freigesetzten Ladungsträger vorteilhaft darauf geschlossen werden, welche Energie notwendig war, um die Ladungsträger aus der Oberfläche des elektrischen Leiters freizusetzen. Diese Energie ist Untersuchungen der Anmelderin zufolge ein Maß für das Potential des elektrischen Leiters wie z.B. eines spannungsführenden Teils einer Schaltanlage, da die Energie umso kleiner ist, je höher das Potential des spannungsführenden Teils ist. According to the Applicant, live parts have a defined surface potential, which results from the presence of mobile charge carriers. This means that the electrons of an electrical conductor, such as a metallic body, are energetically in the conduction band. According to the invention, it is advantageously possible to release the charge carriers from the surface of the electrical conductor under defined conditions, as a result of which they can be detected further according to the invention. Upon irradiation of the conductor with a defined wavelength and / or intensity, it can advantageously be concluded, on the basis of the number of released charge carriers detected, what energy was necessary in order to release the charge carriers from the surface of the electrical conductor. According to Applicant's study, this energy is a measure of the potential of the electrical conductor, e.g. a live part of a switchgear, because the higher the potential of the live part, the smaller the energy.

Bei einer bevorzugten Ausführungsform wird der Schritt des Ermittelns ausgeführt, ohne den elektrischen Leiter, insbesondere den bestrahlten Oberflächenbereich, mechanisch und/oder galvanisch mit einer Ermittlungseinheit zur Ermittlung der freigesetzten Ladungsträger zu verbinden. Das heißt, das erfindungsgemäße Prinzip ermöglicht vorteilhaft eine berührungslose Messung des elektrischen Potentials des elektrischen Leiters, wobei die vorstehend genannten Nachteile der bekannten Messprinzipien vermieden werden. In a preferred embodiment, the step of determining is carried out without mechanically and / or galvanically connecting the electrical conductor, in particular the irradiated surface area, to a detection unit for determining the released charge carriers. That is, the inventive principle advantageously allows a non-contact measurement of the electrical potential of the electrical conductor, wherein the above-mentioned disadvantages of the known measuring principles are avoided.

Bei einer weiteren vorteilhaften Ausführungsform ist vorgesehen, dass das Verfahren für mehrere verschiedene Oberflächenbereiche des Leiters ausgeführt wird, wobei aus den sich hierbei für die verschiedenen Oberflächenbereiche ergebenden Potentialen mindestens eine zwischen den Oberflächenbereichen herrschende Potentialdifferenz ermittelt wird. Auf diese Weise können Spannungsabfälle innerhalb eines elektrischen Leiters durch die Auswertung mehrerer erfindungsgemäßer berührungsloser Potentialmessungen ermittelt werden. In a further advantageous embodiment, it is provided that the method is carried out for a plurality of different surface regions of the conductor, wherein at least one potential difference prevailing between the surface regions is determined from the potentials resulting for the different surface regions. In this way, voltage drops within an electrical conductor can be determined by evaluating a plurality of non-contact potential measurements according to the invention.

Bei einer weiteren vorteilhaften Ausführungsform ist vorgesehen, dass mindestens einer der Schritte des Bestrahlens und/oder des Ermittelns und/oder des Schließens auf das Potential gleichzeitig für mindestens zwei verschiedene Oberflächenbereiche ausgeführt wird, wodurch eine besonders effiziente Spannungsmessung ermöglicht ist.In a further advantageous embodiment, it is provided that at least one of the steps of irradiating and / or determining and / or closing to the potential is performed simultaneously for at least two different surface areas, whereby a particularly efficient voltage measurement is made possible.

Als eine weitere Lösung der Aufgabe der vorliegenden Erfindung ist eine Vorrichtung gemäß Patentanspruch 5 angegeben. As a further solution of the object of the present invention, a device according to claim 5 is given.

Weitere vorteilhafte Ausgestaltungen sind Gegenstand der Unteransprüche.Further advantageous embodiments are the subject of the dependent claims.

Nachfolgend werden beispielhafte Ausführungsformen der Erfindung unter Bezugnahme auf die Zeichnung erläutert. In der Zeichnung zeigt: Hereinafter, exemplary embodiments of the invention will be explained with reference to the drawings. In the drawing shows:

1 schematisch ein Blockdiagramm einer ersten Ausführungsform der erfindungsgemäßen Vorrichtung, und 1 schematically a block diagram of a first embodiment of the device according to the invention, and

2 ein vereinfachtes Flussdiagramm einer Ausführungsform des erfindungsgemäßen Verfahrens. 2 a simplified flow diagram of an embodiment of the method according to the invention.

1 zeigt schematisch einen elektrischen Leiter 10, bei dem es sich beispielsweise um einen spannungsführenden Teil einer Schaltanlage, z.B. einer Mittelspannungsschaltanlage, oder einer elektrischen Maschine handeln kann. 1 schematically shows an electrical conductor 10 , which may be, for example, a live part of a switchgear, such as a medium-voltage switchgear, or an electric machine.

Zur berührungslosen Messung des elektrischen Potentials des elektrischen Leiters 10 ist die nachfolgend unter Bezugnahme auf 1 näher beschriebene erfindungsgemäße Messvorrichtung 200 vorgesehen.For non-contact measurement of the electrical potential of the electrical conductor 10 is the following with reference to 1 closer described measuring device according to the invention 200 intended.

Die Messvorrichtung 200 weist eine Bestrahlungseinheit 210 zur Bestrahlung mindestens eines Oberflächenbereichs 10a des elektrischen Leiters 10 mit elektromagnetischer Strahlung S auf. Die Bestrahlungseinheit 210 ist bevorzugt so ausgebildet, dass der Oberflächenbereich 10a des Leiters 10 mit elektromagnetischer Strahlung einer vorgebbaren Wellenlänge und/oder vorgebbarer Intensität bestrahlt werden kann. The measuring device 200 has an irradiation unit 210 for irradiation of at least one surface area 10a of the electrical conductor 10 with electromagnetic radiation S on. The irradiation unit 210 is preferably formed so that the surface area 10a of the leader 10 can be irradiated with electromagnetic radiation of a predetermined wavelength and / or predetermined intensity.

Erfindungsgemäß ist erkannt worden, dass bei geeigneter Auswahl der Wellenlänge und/oder Intensität der Strahlung S aus dem bestrahlten Oberflächenbereich 10a Ladungsträger, vorliegend Elektronen, freigesetzt werden. Erfindungsgemäß erfolgt durch Verwendung einer geeigneten Wellenlänge und/oder Intensität somit eine erzwungene Emission von Ladungsträgern aus dem Oberflächenbereich 10a unter definierten Bedingungen, die durch die Wellenlänge und Intensität vorgegeben sind.According to the invention, it has been recognized that with suitable selection of the wavelength and / or intensity of the radiation S from the irradiated surface area 10a Charge carriers, in this case electrons, are released. According to the invention, by using a suitable wavelength and / or intensity, there is thus a forced emission of charge carriers from the surface region 10a under defined conditions, which are given by the wavelength and intensity.

Zur Detektion der infolge der Bestrahlung S definiert aus dem Oberflächenbereich 10a des Leiters 10 freigesetzten Elektronen F verfügt die Vorrichtung 200 ferner über eine Ermittlungseinheit 220. Die Ermittlungseinheit 220 kann zur Detektion freigesetzter bzw. freier Elektronen F ausgebildet sein und einen dem Fachmann bekannten Aufbau aufweisen. For detection of the due to the irradiation S defined from the surface area 10a of the leader 10 released electrons F has the device 200 also via a determination unit 220 , The determination unit 220 can be designed for the detection of released or free electrons F and have a structure known in the art.

Nachdem die Ermittlungseinheit 220 die infolge der Bestrahlung S von der bestrahlten Oberfläche 10a freigesetzten Elektronen, vergleiche den Pfeil F, ermittelt hat, kann durch die Auswerteeinheit 230 beispielsweise aus einer Anzahl der ermittelten freigesetzten Elektronen F auf das elektrische Potential des Leiters 10 in dem Oberflächenbereich 10a geschlossen werden.After the investigation unit 220 the due to the irradiation S from the irradiated surface 10a released electrons, compare the arrow F, has determined, can by the evaluation unit 230 for example, from a number of detected released electrons F to the electrical potential of the conductor 10 in the surface area 10a getting closed.

2 zeigt ein vereinfachtes Flussdiagramm einer Ausführungsform des erfindungsgemäßen Verfahrens. In einem ersten Schritt 100 wird der interessierende Oberflächenbereich 10a (1) des elektrischen Leiters 10 mit der elektromagnetischen Strahlung S definierter Wellenlänge und/oder Intensität beaufschlagt. Infolge der Beaufschlagung 100 werden wie bereits erwähnt Elektronen freigesetzt, welche in dem nachfolgenden Schritt 110 durch die Ermittlungseinheit 220 (1) der erfindungsgemäßen Messvorrichtung 200 ermittelt, beispielsweise gezählt, werden. 2 shows a simplified flowchart of an embodiment of the method according to the invention. In a first step 100 becomes the surface area of interest 10a ( 1 ) of the electrical conductor 10 subjected to the electromagnetic radiation S defined wavelength and / or intensity. As a result of the admission 100 As already mentioned, electrons are released which in the subsequent step 110 through the investigative unit 220 ( 1 ) of the measuring device according to the invention 200 determined, for example, counted.

Bei der Bestrahlung 100 des Oberflächenbereichs 10a mit einer definierten Intensität und Wellenlänge beziehungsweise Frequenz der elektromagnetischen Strahlung S kann Untersuchungen der Anmelderin zufolge aufgrund der Anzahl der detektierten Elektronen darauf geschlossen werden, welche Energie notwendig war, die Elektronen aus der Oberfläche des elektrischen Leiters 10 freizusetzten beziehungsweise zu emittieren. Diese Energie ist ein Maß für das elektrische Potential des Leiters 10 in dem Oberflächenbereich 10a, da die für die Freisetzung der Elektronen erforderliche Energie umso kleiner ist, je höher das elektrische Potential des Leiters 10 in dem interessierenden Oberflächenbereich 10a ist. Eine entsprechende Auswertung erfolgt in Schritt 120.At the radiation 100 of the surface area 10a With a defined intensity and wavelength or frequency of the electromagnetic radiation S, it can be concluded by the applicant according to the number of detected electrons, which energy was necessary, the electrons from the surface of the electrical conductor 10 to release or to emit. This energy is a measure of the electrical potential of the conductor 10 in the surface area 10a Since the energy required for the release of the electrons is smaller, the higher the electrical potential of the conductor 10 in the surface area of interest 10a is. A corresponding evaluation is made in step 120 ,

Das erfindungsgemäße Prinzip ermöglicht vorteilhaft die berührungslose Messung des elektrischen Potentials eines elektrischen Leiters 10. Bei der mehrfachen Ausführung des erfindungsgemäßen Verfahrens in unterschiedlichen Oberflächenbereichen 10a, 10b (1) des elektrischen Leiters 10 kann nach der Ermittlung der betreffenden Potentiale vorteilhaft auch eine entsprechende Potentialdifferenz, also eine elektrische Spannung, wie sie zwischen den Oberflächenbereichen 10a, 10b vorliegt, ermittelt werden. The inventive principle advantageously allows the non-contact measurement of the electrical potential of an electrical conductor 10 , In the multiple execution of the method according to the invention in different surface areas 10a . 10b ( 1 ) of the electrical conductor 10 can after the determination of the respective potentials advantageous also a corresponding potential difference, ie an electrical voltage, as they are between the surface areas 10a . 10b present, be determined.

Durch das erfindungsgemäße Prinzip ist eine Potential- beziehungsweise Spannungsmessung vorteilhaft auch an solchen Teilen möglich, die mittels einer direkten Messung unter Anwendung konventioneller Verfahren aufgrund der Größe des elektrischen Potentials nicht oder nur mit einer unverhältnismäßig großen elektrischen Gefährdung einer Bedienperson der Messvorrichtung beziehungsweise mit unzureichender Präzision (geringe Anzahl von Ladungsträgern) zu untersuchen sind.Due to the principle of the invention, a potential or voltage measurement is advantageously also possible on those parts which by means of a direct measurement using conventional methods due to the size of the electrical potential or only with a disproportionate electrical hazard to an operator of the measuring device or with insufficient precision ( low number of charge carriers) are to be examined.

Ferner wird durch die erfindungsgemäße berührungslose Potentialmessung das elektrische Potential des zu messenden Teils in einem vernachlässigbar kleinen Maß beeinflusst, wodurch eine besonders hohe Präzision erzielbar ist. Bei einer weiteren besonders vorteilhaften Ausführungsform ist vorgesehen, dass mindestens einer der Schritte des Bestrahlens 100 und/oder des Ermittelns 110 und/oder des Schließens 120 auf das Potential gleichzeitig für mindestens zwei verschiedene Oberflächenbereiche 10a, 10b ausgeführt wird. In diesem Fall können Spannungsmessungen noch effizienter ausgeführt werden. Eine gleichzeitige Bestrahlung der betreffenden Oberflächenbereiche 10a, 10b kann beispielsweise unter Vorsehung mehrerer geeigneter Quellen für die elektromagnetische Strahlung S erfolgen. Die Strahlungsquellen beziehungsweise die entsprechende Bestrahlungseinheit 210 kann beispielsweise durch einen Mikrokontroller oder einen digitalen Signalprozessor gesteuert werden, der auch die Funktionalität der Auswerteeinheit 230 realisiert. Furthermore, the contactless potential measurement according to the invention influences the electrical potential of the part to be measured to a negligibly small extent, as a result of which a particularly high precision can be achieved. In a further particularly advantageous embodiment it is provided that at least one of the steps of irradiation 100 and / or determining 110 and / or closing 120 to the potential at the same time for at least two different surface areas 10a . 10b is performed. In this case, voltage measurements can be made even more efficient. A simultaneous irradiation of the relevant surface areas 10a . 10b can be done, for example, under the provision of several suitable sources for the electromagnetic radiation S. The radiation sources or the corresponding irradiation unit 210 For example, it can be controlled by a microcontroller or a digital signal processor, which also controls the functionality of the evaluation unit 230 realized.

Claims (8)

Verfahren zur Ermittlung des elektrischen Potentials eines elektrischen Leiters (10), wobei mindestens ein Oberflächenbereich (10a) des Leiters (10) mit elektromagnetischer Strahlung (S) vorgebbarer Wellenlänge und/oder Intensität bestrahlt (100) wird, wobei aus dem bestrahlten Oberflächenbereich (10a) freigesetzte Ladungsträger ermittelt werden (110), und wobei aus einer Anzahl der ermittelten freigesetzten Ladungsträger auf das elektrische Potential des Leiters (10) in dem Oberflächenbereich (10a) geschlossen wird (120).Method for determining the electrical potential of an electrical conductor ( 10 ), wherein at least one surface area ( 10a ) of the leader ( 10 ) is irradiated with electromagnetic radiation (S) of predeterminable wavelength and / or intensity ( 100 ), wherein from the irradiated surface area ( 10a ) released charge carriers are determined ( 110 ), and wherein from a number of the released charge carriers determined on the electrical potential of the conductor ( 10 ) in the surface area ( 10a ) is closed ( 120 ). Verfahren nach Anspruch 1, wobei der Schritt des Ermittelns (110) ausgeführt wird, ohne den elektrischen Leiter (10), insbesondere den bestrahlten Oberflächenbereich (10a), mechanisch und/oder galvanisch mit einer Ermittlungseinheit (220) zur Ermittlung der freigesetzten Ladungsträger zu verbinden.The method of claim 1, wherein the step of determining ( 110 ) is carried out without the electrical conductor ( 10 ), in particular the irradiated surface area ( 10a ), mechanically and / or galvanically with a determination unit ( 220 ) to determine the released charge carriers. Verfahren nach einem der vorstehenden Ansprüche, wobei das Verfahren für mehrere verschiedene Oberflächenbereiche (10a, 10b) des Leiters (10) ausgeführt wird, und wobei aus den sich hierbei für die verschiedenen Oberflächenbereiche (10a, 10b) ergebenden Potentialen mindestens eine zwischen den Oberflächenbereichen (10a, 10b) herrschende Potentialdifferenz ermittelt wird.Method according to one of the preceding claims, wherein the method for a plurality of different surface areas ( 10a . 10b ) of the leader ( 10 ) is carried out, and wherein from here for the different surface areas ( 10a . 10b ) potentials at least one between the surface areas ( 10a . 10b ) prevailing potential difference is determined. Verfahren nach Anspruch 3, wobei mindestens einer der Schritte des Bestrahlens (100), und/oder des Ermittelns (110) und/oder des Schließens (120) auf das Potential gleichzeitig für mindestens zwei verschiedene Oberflächenbereiche (10a, 10b) ausgeführt wird.Method according to claim 3, wherein at least one of the steps of irradiation ( 100 ), and / or determining ( 110 ) and / or closing ( 120 ) to the potential simultaneously for at least two different surface areas ( 10a . 10b ) is performed. Vorrichtung (200) zur Ermittlung des elektrischen Potentials eines elektrischen Leiters (10), wobei die Vorrichtung (200) eine Bestrahlungseinheit (210) zur Bestrahlung (100) mindestens eines Oberflächenbereichs (10a) des Leiters (10) mit elektromagnetischer Strahlung (S) vorgebbarer Wellenlänge und/oder Intensität aufweist, eine Ermittlungseinheit (220) zum Ermitteln (110) von aus dem bestrahlten Oberflächenbereich (10a) freigesetzten Ladungsträgern, und eine Auswerteeinheit (230), die dazu ausgebildet ist, aus einer Anzahl der ermittelten freigesetzten Ladungsträger auf das elektrische Potential des Leiters (10) in dem Oberflächenbereich (10a) zu schließen (120).Contraption ( 200 ) for determining the electrical potential of an electrical conductor ( 10 ), the device ( 200 ) an irradiation unit ( 210 ) for irradiation ( 100 ) at least one surface area ( 10a ) of the leader ( 10 ) with electromagnetic radiation (S) of predeterminable wavelength and / or intensity, a determination unit ( 220 ) for determining ( 110 ) from the irradiated surface area ( 10a ) released charge carriers, and an evaluation unit ( 230 ), which is adapted from a number of the released charge carriers determined to the electrical potential of the conductor ( 10 ) in the surface area ( 10a ) close ( 120 ). Vorrichtung (200) nach Anspruch 5, wobei die Ermittlungseinheit (220) dazu ausgebildet ist, freigesetzte Ladungsträger ohne eine mechanische und/oder galvanische Verbindung mit dem elektrischen Leiter (10), insbesondere dem bestrahlten Oberflächenbereich (10a), zu ermitteln.Contraption ( 200 ) according to claim 5, wherein the determination unit ( 220 ) is adapted to released charge carriers without a mechanical and / or galvanic connection with the electrical conductor ( 10 ), in particular the irradiated surface area ( 10a ), to investigate. Vorrichtung (200) nach einem der Ansprüche 5 bis 6, wobei die Vorrichtung (200) dazu ausgebildet ist, das Verfahren gemäß mindestens einem der Ansprüche 1 bis 4 für mehrere verschiedene Oberflächenbereiche (10a, 10b) des Leiters (10) auszuführen, und aus den sich hierbei für die verschiedenen Oberflächenbereiche (10a, 10b) ergebenden Potentialen mindestens eine zwischen den Oberflächenbereichen (10a, 10b) herrschende Potentialdifferenz zu ermitteln.Contraption ( 200 ) according to any one of claims 5 to 6, wherein the device ( 200 ) is adapted to the method according to at least one of claims 1 to 4 for a plurality of different surface areas ( 10a . 10b ) of the leader ( 10 ), and from here for the different surface areas ( 10a . 10b ) potentials at least one between the surface areas ( 10a . 10b ) to determine the prevailing potential difference. Vorrichtung (200) nach einem der Ansprüche 5 bis 7, wobei die Vorrichtung (200) dazu ausgebildet ist, mindestens einen der Schritte des Bestrahlens (100), und/oder des Ermittelns (110) und/oder des Schließens (120) auf das Potential gleichzeitig für mindestens zwei verschiedene Oberflächenbereiche (10a, 10b) auszuführen.Contraption ( 200 ) according to one of claims 5 to 7, wherein the device ( 200 ) is adapted to carry out at least one of the steps of irradiation ( 100 ), and / or determining ( 110 ) and / or closing ( 120 ) to the potential simultaneously for at least two different surface areas ( 10a . 10b ).
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