DE102011053003A1 - Wide field-microscope device i.e. total internal reflection-microscope device, for fluorescence measurements of flow cell, has mirror directing light beam to adjustable location of prism such that incident angle of beam on sample is changed - Google Patents
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Abstract
Description
Die vorliegende Anmeldung betrifft Verfahren und Vorrichtungen zur Weitfeld-Mikroskopie. Insbesondere betrifft sie derartige Verfahren und Vorrichtungen, bei welchen eine Probe unter einem Winkel beleuchtet wird, welcher größer ist als ein kritischer Winkel zur Totalreflexion, wobei der Einfallswinkel des Lichtes relativ zur Senkrechten gemessen wird. Eine derartige Mikroskopie wird auch TIR-Mikroskopie (vom Englischen „Total Internal Reflection”) bezeichnet.The present application relates to methods and apparatus for far-field microscopy. More particularly, it relates to such methods and apparatus in which a sample is illuminated at an angle greater than a critical angle to total reflection, wherein the angle of incidence of the light relative to the perpendicular is measured. Such microscopy is also called TIR (Total Internal Reflection) microscopy.
Derartige TIR-Mikroskopie kann beispielsweise für Fluoreszenzmessungen benutzt werden, wobei in einem derartigen Fall der an der Probe totalreflektierte Lichtstrahl die Probe lokal zur Fluoreszenz anregt und das Fluoreszenzlicht dann detektiert wird.Such TIR microscopy can be used, for example, for fluorescence measurements, in which case the light beam totally reflected on the sample locally excites the sample to fluoresce and the fluorescent light is then detected.
Bei einer derartigen Totalreflexion propagiert ein Teil des einfallenden Lichts in der Probe parallel zu der Probenoberfläche in einer Einfallsebene des einfallenden Lichts. Dieses Feld wird auch als evaneszentes Feld bezeichnet und kann z. B. zu einer Anregung von Fluoreszenz führen. Die Intensität eines derartigen evaneszenten Feldes fällt dabei bei Totalreflexion exponentiell von der Oberfläche, d. h. einer Grenzfläche, an welcher die Totalreflexion stattfindet, ab. Der genaue Verlauf dieses exponentiellen Abfalls hängt dabei von dem Einfallswinkel des einfallenden Lichts ab. Details zu derartigen Messungen sind beispielsweise in
Es ist eine Aufgabe der Erfindung, Verfahren und Vorrichtungen zur Mikroskopie, insbesondere zur Weitfeld-Mikroskopie, bereitzustellen, bei welchen eine Einstellung eines Einfallswinkels von Anregungslicht auf eine Probe einfach und präzise durchgeführt werden kann.It is an object of the invention to provide methods and apparatus for microscopy, in particular for wide-field microscopy, in which an adjustment of an angle of incidence of excitation light on a sample can be performed simply and precisely.
Diese Aufgabe wird gelöst durch eine Mikroskopvorrichtung nach Anspruch 1 und ein Verfahren nach Anspruch 13. Die Unteransprüche definieren weitere Ausführungsbeispiele.This object is achieved by a microscope device according to claim 1 and a method according to
Erfindungsgemäß wird eine Mikroskopanordnung bereitgestellt, umfassend:
eine Lichtquelle zum Erzeugen eines Lichtstrahls,
zumindest einen Abschnitt eines Paraboloid-Prismas, und
eine variable Optik zum Lenken des Lichtstrahls auf einen einstellbaren Ort des Paraboloid-Prismas derart, dass durch Veränderung des einstellbaren Ortes ein Einfallswinkel des Lichtstrahls auf eine Probe veränderbar ist.According to the invention, a microscope arrangement is provided, comprising:
a light source for generating a light beam,
at least a portion of a paraboloid prism, and
a variable optics for directing the light beam to an adjustable location of the paraboloid prism such that an angle of incidence of the light beam is changed to a sample by changing the adjustable location.
Durch die Benutzung eines Paraboloid-Prismas oder eines Abschnitts hiervon kann somit ein Einfallswinkel auf einfache Weise eingestellt werden, wobei dabei ein Ort, an welchem der Lichtstrahl auf die Probe fällt, bei einer Variation des Einfallswinkels konstant gehalten werden kann.Thus, by using a paraboloid prism or a portion thereof, an angle of incidence can be easily adjusted while keeping a location at which the light beam is incident on the sample constant with a variation in the angle of incidence.
Unter einem Paraboloid-Prisma ist dabei ein Prisma zu verstehen, dessen Form im Wesentlichen einem Rotationsparaboloid entspricht, dessen Spitze abgeschnitten ist. „Im Wesentlichen” bedeutet dabei, dass die Form um nicht mehr als 10% bezogen auf die jeweilige Abmessung, bevorzugt nicht mehr als 1%, noch bevorzugter nicht mehr als 0,1%, von einem derartigen Rotationsparaboloid mit abgeschnittener Spitze aufweist. Falls durch Variation der variablen Optik der Lichtstrahl nur in einem Abschnitt des Paraboloid-Prismas lenkbar ist, ist es dabei ausreichend, nur diesen Abschnitt bereitzustellen.A paraboloid prism is to be understood as meaning a prism whose shape substantially corresponds to a paraboloid of revolution whose tip is cut off. "Substantially" means that the mold does not have more than 10% of the respective dimension, preferably not more than 1%, more preferably not more than 0.1%, of such a truncated tip paraboloid of revolution. If, by varying the variable optics, the light beam can only be steered in a section of the paraboloid prism, then it is sufficient to provide only this section.
Insbesondere kann das Paraboloid-Prisma eine erste Fläche, eine optional zu der ersten Fläche parallele zweite Fläche sowie eine Seitenfläche aufweisen, wobei die Seitenfläche einem Abschnitt einer Fläche eines Rotationsparaboloids entspricht. Die erste Fläche kann dabei größer als die zweite Fläche und der variablen Optik zugewandt sein, während die zweite Fläche bei einem Ausführungsbeispiel der Probe zugewandt ist.In particular, the paraboloid prism may have a first surface, a second surface optionally parallel to the first surface, and a side surface, the side surface corresponding to a portion of a surface of a paraboloid of revolution. The first surface may be larger than the second surface and the variable optics facing, while the second surface faces in one embodiment of the sample.
Die variable Optik kann insbesondere einen verschiebbaren Spiegel umfassen, welcher den Lichtstrahl näherungsweise senkrecht, beispielsweise unter einem Einfallswinkel von 0° ± 10°, bevorzugt 0° ± 5°, noch bevorzugter 0° ± 1°, auf die erste Fläche lenkt, wobei Einfallswinkel wie in der Optik üblich zur Senkrechten gemessen werden, so dass ein Einfallswinkel von 0° einem senkrechten Einfall entspricht.The variable optics may in particular comprise a displaceable mirror which directs the light beam approximately perpendicularly, for example at an angle of incidence of 0 ° ± 10 °, preferably 0 ° ± 5 °, more preferably 0 ° ± 1 °, to the first surface, wherein angles of incidence As usual in optics are measured to the vertical, so that an angle of incidence of 0 ° corresponds to a vertical incidence.
Die Probe kann dabei insbesondere als sogenannte Fließzelle (Flow Cell), d. h. als in einer Flüssigkeit befindliche zu untersuchende Partikel, eingerichtet sein. Zwischen der Fließzelle und dem Paraboloid-Prisma kann eine Schicht mit geeignetem Brechungsindex, insbesondere eine (Öl) Immersionsschicht, und/oder eine transparente Platte, angeordnet sein. Das Paraboloid-Prisma und die transparente Platte können dabei insbesondere aus Quarzglas gefertigt sein.The sample can be used in particular as a so-called flow cell, d. H. be as in a liquid to be examined particles, be furnished. Between the flow cell and the paraboloid prism, a layer with a suitable refractive index, in particular an (oil) immersion layer, and / or a transparent plate can be arranged. The paraboloid prism and the transparent plate can be made of quartz glass in particular.
Die Mikroskopanordnung kann weiterhin ein Objektiv zum Sammeln von von der Probe ausgehendem Licht, insbesondere Streulicht oder Fluoreszenzlicht, aufweisen.The microscope arrangement can furthermore have an objective for collecting light emitted by the sample, in particular scattered light or fluorescent light.
Die Mikroskopvorrichtung kann zudem einen Polarisator zum Polarisieren des Lichtstrahls umfassen.The microscope apparatus may further include a polarizer for polarizing the light beam.
Die Mikroskopvorrichtung kann weiterhin einen Strahlteiler zum Aufspalten des Lichtstrahls in zwei Teilstrahlen umfassen, welche beispielsweise um 90° versetzt an zwei Teilorten des Ortes auf das Paraboloid-Prisma fallen können. Auf diese Weise kann eine Polarisationsabhängigkeit der Beleuchtung der Probe mit dem Lichtstrahl reduziert werden. Auch andere optische Elemente wie z. B. ein Axikon können zum entsprechenden Formen des Lichtstrahls benutzt werden. The microscope device may further comprise a beam splitter for splitting the light beam into two sub-beams, which may, for example, be offset by 90 ° at two partial locations of the location on the paraboloid prism. In this way, a polarization dependence of the illumination of the sample with the light beam can be reduced. Other optical elements such. As an axicon can be used for corresponding shapes of the light beam.
Ein erfindungsgemäßes Verfahren kann insbesondere ein Lenken eines Lichtstrahls auf ein Paraboloid-Prisma zur Beleuchtung einer Probe, ein Variieren des Beleuchtungsortes des Paraboloid-Prismas zur Variation eines Einfallswinkels auf der Probe und ein Reflektieren von von der Probe ausgehendem Licht umfassen. Der Einfallswinkel auf der Probe ist dabei bevorzugt größer als ein Winkel der Totalreflexion.In particular, a method of the invention may include directing a beam of light onto a paraboloid prism to illuminate a sample, varying the illumination location of the paraboloid prism to vary an angle of incidence on the sample, and reflecting light emanating from the sample. The angle of incidence on the sample is preferably greater than an angle of total reflection.
Die Erfindung wird nachfolgend anhand von Ausführungsbeispielen näher erläutert. Es zeigen:The invention will be explained in more detail with reference to embodiments. Show it:
Im Folgenden werden Ausführungsbeispiele der Erfindung detailliert erläutert. Es ist zu bemerken, dass Merkmale verschiedener Ausführungsbeispiele miteinander kombiniert werden können, sofern nichts anderes angegeben ist. Auf der anderen Seite ist eine Beschreibung eines Ausführungsbeispiels mit einer Vielzahl von Merkmalen nicht dahingehend auszulegen, dass alle diese Merkmale zur Ausführung der Erfindung nötig sind. Insbesondere können andere Ausführungsbeispiele weniger Merkmale und/oder alternative Merkmale aufweisen.In the following, embodiments of the invention will be explained in detail. It should be noted that features of various embodiments may be combined with each other unless otherwise specified. On the other hand, a description of an embodiment having a plurality of features is not to be construed as requiring all of these features to practice the invention. In particular, other embodiments may have fewer features and / or alternative features.
Die im Folgenden dargestellten Ausführungsbeispiele beziehen sich insbesondere auf Verfahren und Vorrichtungen zur Weitfeld-Mikroskopie, wobei eine Probe unter einem Einfallswinkel beleuchtet wird, welcher größer ist als der Winkel der Totalreflexion an der entsprechenden Grenzfläche zwischen der Probe und einem die Probe umgebenden Medium ist. Somit kann die Probe wie bereits in der Beschreibungseinleitung beschrieben durch das sogenannte evaneszente Feld angeregt werden.The exemplary embodiments presented below relate in particular to methods and devices for wide-field microscopy, wherein a sample is illuminated at an angle of incidence which is greater than the angle of the total reflection at the corresponding interface between the sample and a medium surrounding the sample. Thus, the sample can be excited by the so-called evanescent field as already described in the introduction to the description.
Bei der Weitfeld-Mikroskopie wird eine Probe allgemein über eine gewisse Fläche beleuchtet und mittels eines Objektivs abgebildet, während im Gegensatz dazu bei konfokaler Mikroskopie Anregungslicht in eine Probe hinein fokussiert wird und Licht aus diesem Fokus im Regelfall durch das gleiche Objektiv auf eine Lochblende abgebildet wird. Anregungs- und Detektionsfokus liegen hier also stets konfokal, während dies bei einer Weitfeld-Mikroskopie nicht der Fall sein muss.In far-field microscopy, a sample is generally illuminated over a certain area and imaged by means of a lens, whereas in confocal microscopy excitation light is focused into a sample and light from that focus is typically imaged through the same objective onto a pinhole , Excitation and detection foci are always confocal, whereas in wide-field microscopy this is not the case.
Einfallswinkel werden im Folgenden generell wie in der Optik üblich relativ zur Senkrechten auf der entsprechenden Fläche angegeben. Ein kritischer Winkel ΘC berechnet sich dabei nach dem Snelliusschen-Gesetz zu:
Zu bemerken ist, dass, auch wenn im Folgenden Anwendungen beschrieben werden, bei welchen Totalreflexion auftritt, grundsätzlich die im Nachfolgenden beschriebenen Ausführungsbeispiele auch geeignet sind, Lichtstrahlen unter Winkeln auf Proben zu lenken, bei welchen keine Totalreflexion erfolgt.It should be noted that although applications in the following are described in which total reflection occurs, in principle the embodiments described below are also suitable for directing light beams at angles to specimens in which no total reflection takes place.
In
Die Mikroskopvorrichtung der
Optional umfasst die Mikroskopvorrichtung der
Zudem durchläuft der Lichtstrahl
Der Lichtstrahl
Das Paraboloid-Prisma
Zu bemerken ist, dass bei manchen Ausführungsbeispielen auch nur ein Abschnitt, d. h. ein Teil, eines derartigen Paraboloid-Prismas bereitgestellt sein kann. Wenn beispielsweise eine Probe
Der Spiegel
Zu bemerken ist, dass bei anderen Ausführungsbeispielen die Flächen
Bevorzugt ist dabei ein Brennpunkt des dem Paraboloid-Prisma
Der an der Grenzfläche zwischen Deckplatte
Von der Probe
Zu bemerken ist, dass die in
Bei manchen Ausführungsbeispielen kann das Paraboloid-Prisma
Wie bereits erwähnt kann das Paraboloid-Prisma
Bei manchen Ausführungsbeispielen wird die Größe des Beleuchtungsflecks derart gewählt, dass sie einem Gesichtsfeld (Field of View) der Immersionsschicht
Bei dem dargestellten Ausführungsbeispiel erfolgt die Detektion des Lichtes
Das Paraboloid-Prisma
Durch die Verwendung des Polarisators
Die die Fließzelle
Zusätzlich zu den dargestellten optischen Elementen können auch weitere optische Elemente vorhanden sein. Beispielsweise kann das Paraboloid-Prisma
Alternativ kann zur Minimierung von Polarisationseffekten beispielsweise ein Strahlteiler eingesetzt werden, welcher in
Bei derartigen Möglichkeiten, bei welchen eine Beleuchtung an mehreren zusammenhängenden oder unzusammenhängenden Teilorten erfolgt, weisen die Teilorte insbesondere bei einer Anordnung mit parallelen Flächen
Zusätzlich oder alternativ können ein oder mehrere optische Elemente vorhanden sein, welche chromatische Aberrationen zumindest kompensieren, so dass mit Licht mehrerer Wellenlängen, welche beispielsweise durch mehrere separate Lichtquellen
Es ist zu bemerken, dass neben einem Paraboloid-Prisma
Bei manchen Ausführungsbeispielen kann die Fläche
Bei manchen Ausführungsbeispielen kann die paraboloidförmige Seitenfläche des Paraboloid-Prismas
In
In Schritt
In Schritt
In Schritt
Es ist zu bemerken, dass die Schritte
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