DE102010061767A1 - Verfahren und System zur Härtungsprüfung - Google Patents

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Abstract

Die Erfindung betrifft ein Verfahren und ein System zur Härtungsprüfung einer strahlungshärtenden Substratbeschichtung mit einer optischen Messstation (16) zur Erfassung des Härtungsgrades der Beschichtung (12), wobei die Messstation (16) ein zur optischen Abtastung der Beschichtung (12) mit Messlicht bei verschiedenen Wellenlängen ausgebildetes Reflektometer (18, 20) aufweist, das bei einer ersten Wellenlänge ein vom Härtungsgrad abhängiges Nutzsignal (72) und bei mindestens einer weiteren Wellenlänge ein vom Härtungsgrad im Wesentlichen unabhängiges Referenzsignal (74, 76) für eine Korrektur des Nutzsignals (72) erfasst.

Description

  • Die Erfindung betrifft ein Verfahren und ein System zur Härtungsprüfung einer strahlungshärtenden Objektbeschichtung, insbesondere einer Druckfarben- oder Lackschicht, wobei im Prozessablauf während oder nach der Strahlungshärtung der Härtungsgrad der Beschichtung an einer optischen Messstation erfasst wird.
  • Die Bedruckung und Beschichtung von Oberflächen nimmt im täglichen Leben breiten Raum ein. Umweltschutz und Qualitätsanforderungen führen immer mehr zum Einsatz von einkomponentigen Systemen, welche bei der Aushärtung keinem Massenverlust unterliegen. Auf breiter Front haben sich Härtungsmechanismen über eine Polymerisation/Vernetzung durch den Energieeintrag aus UV-Lichtquellen durchgesetzt. Durch den Einsatz von lichtaktivierten Fotoinitiatoren werden die in der flüssigen Lackphase vorhandenen Kohlenstoff-Doppelbindungen aufgebrochen und eine Polymerisationsreaktion in Gang gesetzt. Dabei werden die einzelnen Monomere und Oligomere zu langkettigen Polymeren verknüpft. Während dieser durch UV-Bestrahlung ausgelösten „Vernetzung” verfestigt der Lack zunehmend, bis er vollständig ausgehärtet ist. Nicht vollständig ausgehärtete Systeme stellen ein gesundheitliches und bei industriellen Beschichtungen ein Qualitätsproblem in Bezug auf Haftung am Untergrund, Emissionsverhalten und Langzeitstabilität dar. In der Praxis erfolgt die Überwachung der Trocknung bzw. Vernetzung von Farben und Lacken in industriellen Druck- und Lackierprozessen durch regelmäßige manuelle Entnahme von Proben aus dem Produktionsprozess und anschließende Analyse im Labor. Zur Gewähr der geforderten Oberflächenqualität müssen Parameter wie z. B. der Oberflächen-Vernetzungsgrad sowie die für Elastizität und Haftung der Farb- bzw. Lackschicht ausschlaggebende Tiefenhärtung manuell geprüft werden. Weitere, im Labor zu untersuchende Parameter sind die Lackhärte (z. B. Bleistifthärte, Pendelhärte nach König), die Abriebfestigkeit nach Taber sowie die Flecken- und Lösemittelbeständigkeit. Um manuelle Kontrollen und Produktionsausschuss auf ein vertretbares Minimum zu reduzieren, werden daher häufig Prozessparameter wie z. B. der Energieeintrag um bis zu 30% erhöht und die Gesamtanlage entsprechend überdimensioniert, so dass die geforderte Oberflächen- und Tiefentrocknung ohne Zwischenkontrolle sichergestellt werden kann. Weiter erfordert die Dosierung der für die Härtung in unterschiedlichen Lacktiefen zuständigen Strahlungsanteile von UV-A-B und -C im Zusammenspiel mit der individuellen Auftragsdicke, Pigmentierung, Fotoinitiatoranteilen, Reflexionseigenschaften usw. der zu verarbeitenden Farb- bzw. Lacksysteme beim Anfahren wie im laufenden Druck bzw. Lackierprozess viel Zeit und Erfahrung sowie regelmäßige manuelle Kontrollen, um Produktionsstillstände und Ausschuss zu vermeiden.
  • Ausgehend hiervon liegt der Erfindung die Aufgabe zugrunde, ein Verfahren und ein Prüfsystem zu entwickeln, das auch bei hohen Prozessgeschwindigkeiten und dünnen Beschichtungen eine qualitative Bestimmung des Härtungsgrades kontinuierlich und zuverlässig ermöglicht.
  • Zur Lösung dieser Aufgabe wird die im Patentanspruch 1 bzw. 9 angegebene Merkmalskombination vorgeschlagen. Vorteilhafte Ausgestaltungen und Weiterbildungen der Erfindung ergeben sich aus den abhängigen Ansprüchen.
  • Die Erfindung geht von dem Gedanken aus, ein zerstörungsfreies spektrometrisches Verfahren direkt im Prozessablauf zu verwenden. Dementsprechend wird erfindungsgemäß vorgeschlagen, dass die Beschichtung an der Messstation mit Messlicht bei verschiedenen Wellenlängen reflektometrisch abgetastet wird, wobei bei einer ersten Wellenlänge ein vom Härtungsgrad abhängiges Nutzsignal und bei mindestens einer weiteren Wellenlänge ein vom Härtungsgrad im Wesentlichen unabhängiges Referenzsignal für eine Korrektur des Nutzsignals erfasst wird. Dadurch kann die Veränderung der Menge an vernetzungsreaktiven Molekülgruppen in der Beschichtung quantitativ bestimmt werden, ohne dass für jedes Beschichtungsszenario eine aufwändige Kalibration vorzuschalten wäre. Mit der Erfindung lassen sich somit die relevante Qualitätskriterien und Produktmerkmale bereits im laufenden Fertigungsprozess ohne Zeitverlust erfassen, überwachen und bei Bedarf einer übergeordneten Steuerung für die Fertigungskorrektur bzw. Prozessoptimierung zur Verfügung stellen. Auf eine manuelle Stichprobenkontrolle und Überdimensionierung von Anlagen und Prozessen kann somit verzichtet werden.
  • Eine besonders bevorzugte Ausgestaltung der Erfindung sieht vor, dass zwei Referenzsignale im Wellenlängenabstand voneinander und außerhalb eines für die Härtung sensitiven, vorzugsweise für Kohlenstoff-Doppelbindungen charakteristischen Absorptionsbereichs erfasst werden, und dass mittels der beiden Referenzsignale eine Grundlinienkorrektur des im Absorptionsbereich liegenden Nutzsignals durchgeführt wird. Auf diese Weise wird eine von Prozessparametern weitgehend unabhängige Härtungsprüfung möglich.
  • Eine weitere Verbesserung sieht vor, dass eine Grundlinie als Gerade im Spektralverlauf durch die beiden Referenzsignale bestimmt wird, und dass das Nutzsignal mit dem Ordinatenwert der Geraden bei der ersten Wellenlänge korrigiert wird.
  • Besonders in der industriellen Fertigung ist es für einen hohen Durchsatz vorteilhaft, wenn der Strahlungshärtung ein beschichtetes Objekt relativ zu einer Strahlungsquelle, insbesondere einem UV-Strahler bewegt wird und der Härtungszustand in dem Bestrahlungsbereich oder direkt daran anschließend im Prozessablauf gemessen wird.
  • Hierbei ist es günstig, wenn ein beschichtetes Objekt in einer Transportstrecke durch einen Bestrahlungsraum transportiert wird, und wenn der Härtungsgrad im Zuge des Objekttransports in Echtzeit, d. h. innerhalb eines vorgegebenen Zeitrahmens ohne Unterbrechung des Prozessablaufs erfasst wird.
  • Vorteilhafterweise wird die Beschichtung punkt-, linien- oder zonenweise gegebenenfalls intermittierend abgetastet und der Härtungsgrad über einen entsprechenden Abtastbereich gegebenenfalls integral bestimmt.
  • Eine weitere vorteilhafte Ausführung sieht vor, dass an der Messstation monochromatisches Messlicht mittels Laser eingestrahlt wird und an der Beschichtung zurückgeworfenes Licht in einem Photodetektor erfasst wird. Dadurch kann im Gegensatz zu einer breitbandigen Erfassung der Spektralinformation auch mit geringen Lichtintensitäten zuverlässig gemessen werden.
  • Eine weitere Verbesserung auch im Hinblick auf das Signal-Rausch-Verhältnis sieht vor, dass moduliertes Messlicht bei mehreren Wellenlängen zeitgleich eingestrahlt wird und in einem vorzugsweise mit einem Lock-in-Verstärker versehenen Detektor wellenlängenselektiv erfasst wird.
  • Hinsichtlich eines Systems zur Härtungsprüfung einer strahlungshärtenden Substratbeschichtung wird zur Lösung der eingangs genannten Aufgabe vorgeschlagen, dass die Messstation ein zur optischen Abtastung der Beschichtung mit Messlicht bei verschiedenen Wellenlängen ausgebildetes Reflektometer aufweist, das bei einer ersten Wellenlänge ein vom Härtungsgrad abhängiges Nutzsignal und bei mindestens einer weiteren Wellenlänge ein vom Härtungsgrad im Wesentlichen unabhängiges Referenzsignal für eine Korrektur des Nutzsignals erfasst.
  • Für eine besonders hohe Messgenauigkeit ist es vorteilhaft, wenn das Reflektometer zur optischen Abtastung bei drei verschiedenen Wellenlängen ausgebildet ist, und dass in einer Signalverarbeitungseinheit aus zwei bei einer zweiten und dritten Wellenlänge erfassten Referenzsignalen ein Grundlinienwert für eine Grundlinienkorrektur des Nutzsignals bestimmbar ist.
  • In apparativer Hinsicht lassen sich besondere Vorteile dadurch erreichen, dass das Reflektometer einen Optikkopf zum Aus- und Einkoppeln von Messlicht und eine über Lichtleiter mit dem Optikkopf verbundene, einen Lichtsender und einen Lichtempfänger umfassende Instrumenteneinheit aufweist. Auf diese Weise kann die Beschichtung gezielt abgetastet werden, ohne dass empfindliche Instrumentenkomponenten durch die Produktions- bzw. Bestrahlungsumgebung beeinträchtigt werden.
  • Für eine weitere Unterdrückung von Störeinflüssen ist es vorteilhaft, wenn das Reflektometer mehrere bei voneinander verschiedenen Wellenlängen arbeitende und in einen gemeinsamen optischen Pfad eingekoppelte Laser- oder LED-Lichtquellen als Lichtsender aufweist.
  • Eine zentrale Signalerfassung lässt sich vorteilhaft dadurch realisieren, dass das Reflektometer einen über eine Empfangsoptik auf eine Einstrahlstelle des Messlichts ausgerichteten Photodetektor als Lichtempfänger aufweist.
  • Günstig ist es auch, wenn im Strahlengang des Messlichts ein Lochspiegel angeordnet ist, der ein Loch zum Einstrahlen von Messlicht vorzugsweise in Richtung einer Flächennormalen auf die Beschichtung und eine das Loch umgebende Spiegelfläche zum Umlenken von an der Beschichtung zurückgeworfenem Messlicht auf einen Photodetektor aufweist. Dadurch kann an der Beschichtungsoberfläche spiegelnd reflektiertes Licht einfach eliminiert werden und das Nutzsignal in einem großen Raumwinkelbereich erfasst werden.
  • Im Folgenden wird die Erfindung anhand der in der Zeichnung in schematischer Weise dargestellten Ausführungsbeispiele näher erläutert. Es zeigen:
  • 1 ein Blockschaltbild eines Messsystems zur Echtzeit-Erfassung des Härtungs- bzw. Trocknungsgrades einer Substratbeschichtung;
  • 2 einen Messkopf des Messsystems in einer schaubildlichen Darstellung; und
  • 3 ein Absorptionsspektrum der Substratbeschichtung im Bereich der Messwellenlängen des Messsystems.
  • Das in 1 symbolisch dargestellte Messsystem 10 ermöglicht die Härtungsprüfung von Beschichtungen 12 auf Objekten 14 im Prozessablauf einer Strahlungshärtung bzw. -vernetzung der Beschichtung. Das System 10 umfasst hierfür eine berührungslos arbeitende Messstation 16, die ein zur optischen Abtastung der Beschichtung 12 mit Messlicht bei diskreten Wellenlängen ausgebildetes Reflektometer 18, 20 aufweist.
  • Das Reflektometer 18, 20 besteht aus einer Instrumenteneinheit 18 und einem damit über Lichtleiter 22, 24 verbundenen, relativ zu dem Objekt 14 positionierbaren Optikkopf 20.
  • Die Instrumenteneinheit 18 umfasst einen Lichtsender 26, einen Lichtempfänger 28 und eine nachgeschaltete Signalverarbeitungseinrichtung 30. Der Lichtsender 26 ist durch drei Laserlichtquellen 32, 34, 36 gebildet, die bei verschiedenen Wellenlängen monochromatisch arbeiten und über einen Strahlkombinierer 38 in einen gemeinsamen optischen Sendepfad 40 einkoppelbar sind.
  • Der über den Empfangslichtleiter 24 mit Messlicht beaufschlagbare Lichtempfänger 28 erzeugt über einen Photodetektor 42 ein elektrisches Ausgangssignal, das in einen Lock-in-Verstärker 44 eingespeist wird. Der Lock-in-Verstärker 44 ist über einen Referenzeingang mit einem Frequenzgenerator 46 gekoppelt und ausgangsseitig an eine Prozessoreinheit 48, insbesondere einen Personalcomputer angeschlossen. Um ein moduliertes Messsignal zu erzeugen, ist der Frequenzgenerator 46 auch mit dem Lichtsender 26 gekoppelt.
  • 2 veranschaulicht den Optikkopf 20 und den Strahlengang des Messlichts. Das über den Sendelichtleiter 22 eingespeiste Messlicht wird über einen Auskoppler 50 als Strahlenbündel 52 ausgestrahlt. Das Strahlenbündel 52 durchstrahlt die Öffnung 54 eines Lochspiegels 56 und fällt in Richtung der Flächennormalen auf die Beschichtung 12 des Objekts 14. Dort wird das Messlicht aus verschiedenen Schichttiefen zurückgestreut. Die Streulichtkeule 58 wird über die Spiegelfläche 60 des Lochspiegels 56 auf eine Sammellinse 62 umgelenkt und damit in den Einkoppler 64 des Empfangslichtleiters 24 gebündelt eingestrahlt. Das geprüfte Objekt 14 kann in einer Transportstrecke 66 im Zuge des Vorbeitransports an dem Messkopf 20 abgetastet werden.
  • Das Objekt 14 kann beispielsweise durch eine Bedruckstoffbahn gebildet sein, die in einer Druckmaschine mit einer Druckfarbe oder einem Lack ggf. nur bereichsweise beschichtet wird, wobei diese Beschichtung 12 durch Vorbeitransport an einem nicht gezeigten Bestrahlungsaggregat mit elektromagnetischer Strahlung, insbesondere UV-Licht ausgehärtet/getrocknet wird und während dieses Prozessablaufs der Härtungs-/Trocknungsgrad in Echtzeit bzw. „inline” gemessen wird.
  • Bei der UV-Bestrahlung werden Kohlenstoff-Doppelbindungen in der Beschichtung bzw. Druck- oder Lackschicht 12 aufgebrochen und die betreffenden Monomere/Oligomere zu langkettigen Polymeren vernetzt. Das Messverfahren mit Hilfe der oben beschriebenen Messeinrichtung 10 beruht auf dem Absorptionsverhalten der C=C-Doppelbindungen, deren spektrale Absorption mit zunehmender Polymerisation anteilig abnimmt, d. h. es wird weniger Messlicht absorbiert.
  • 3 zeigt ein typisches Absorptionsspektrum mit einem Signalabfall bzw. Absorptionsdip 68 der Signalintensität J über der Wellenlänge λ in dem für C=C-Doppelbindungen empfindlichen Wellenlängenbereich oberhalb von etwa 1600 nm. Der Absorptionsdip 68 wird von einer mit zunehmender Wellenlänge ansteigenden Grundlinie 70 überlagert. In der „nassen” Beschichtung sind noch viele Kohlenstoff-Doppelbindungen vorhanden, während mit zunehmender Zahl von Einfachbindungen der Absorptionsdip 68 nach oben auf die Grundlinie 70 zurückgeht. Der Verlauf der Grundlinie 70 ist allerdings nicht universell definiert, sondern hängt vom jeweiligen Beschichtungssystem, insbesondere der Beschichtungs- und Substratdicke und -art sowie von der Messanordnung ab.
  • Das nachstehend beschriebene Messverfahren beruht auf einer intrinsischen Kalibrierung durch eine gleichzeitige Messung bei einer für die Umsetzung der Kohlenstoff-Doppelbindungen sensitiven Wellenlänge λ3 im Bereich des Absorptionsdips 68 und bei zwei weiteren nicht-sensitiven Wellenlängen λ1 und λ2 außerhalb davon. λ1 und λ2 liegen unterhalb von 1600 nm in einem Wellenlängenabstand Δλ von mehr als 20 nm, bevorzugt etwa 40 nm voneinander.
  • Die genannten Wellenlängen λ1, λ2, λ3 werden durch die Laserlichtquellen 32, 34, 36 gleichzeitig eingestrahlt, wobei aufgrund der Ansteuerung mittels des digitalen Frequenzgenerators 46 eine jeweils unterschiedliche Trägerfrequenz aufgeprägt wird. Entsprechend kann das Eingangssignal durch den Lock-in-Verstärker mit einem in Frequenz und Phase bekannten Modulationssignal korreliert bzw. multipliziert werden, so dass das eigentliche Messsignal äußerst schmalbandig und mit hohem Signal-Rausch-Verhältnis erfasst wird. Einzelheiten der Lock-in-Technik sind dem Fachmann bekannt, so dass sich hierzu detaillierte Beschreibungen erübrigen.
  • Wie aus 3 ersichtlich, können somit ein Nutzsignal 72 selektiv bei der Wellenlänge λ3 sowie zwei Referenzsignale 74, 76 bei den Wellenlängen λ1 und λ2 bestimmt werden. Durch die beiden Referenzsignale 74, 76 kann sodann eine Grundlinienkorrektur des Nutzsignals 72 durchgeführt werden. Zweckmäßig wird hierfür die Grundlinie 70 als in 3 gestrichelt gezeigte Gerade durch die beiden Referenzsignale 74, 76 Die Höhe des Nutzsignals 72 wird dann auf den Ordinatenwert 78 der Geraden bei der Wellenlänge λ3 bezogen. Auf diese Weise können unterschiedliche Steigungen der Grundlinie aufgrund verschiedener Randbedingungen für eine exakte Nutzsignalkorrektur berücksichtigt werden. Der Härtungsgrad lässt sich dann beispielsweise als Kehrwert aus dem Betrag des Nutzsignals berechnen.
  • Grundsätzlich ist es bei Verzicht auf eine genaue Steigungskorrektur denkbar, nur eine Referenzwellenlänge für eine Signalkorrektur des Nutzsignals heranzuziehen. Möglich ist es auch, ein bewegtes Objekt 14 gegebenenfalls intermittierend abzutasten und einen integralen Messwert für den Abtastbereich auszuwerten. Der im Prozessablauf ermittelte Härtungsgrad kann einer Bedienperson beispielsweise durch Ampelfarben vereinfacht signalisiert werden, um ggf. eine Qualitätsanpassung durchzuführen. Möglich wäre es auch, den gewonnenen Messwert für eine rückgekoppelte automatische Anlagensteuerung zu nutzen.

Claims (14)

  1. Verfahren zur Härtungsprüfung einer strahlungshärtenden Objektbeschichtung, insbesondere einer Druckfarben- oder Lackschicht, bei welchem im Prozessablauf während oder nach der Strahlungshärtung der Härtungsgrad der Beschichtung (12) an einer optischen Messstation (16) erfasst wird, dadurch gekennzeichnet, dass die Beschichtung (12) an der Messstation (16) mit Messlicht bei verschiedenen Wellenlängen reflektometrisch abgetastet wird, wobei bei einer ersten Wellenlänge ein vom Härtungsgrad abhängiges Nutzsignal (72) und bei mindestens einer weiteren Wellenlänge ein vom Härtungsgrad im Wesentlichen unabhängiges Referenzsignal (74, 76) für eine Korrektur des Nutzsignals (72) erfasst wird.
  2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass zwei Referenzsignale (74, 76) im Wellenlängenabstand voneinander und außerhalb eines für die Härtung sensitiven, vorzugsweise für Kohlenstoff-Doppelbindungen charakteristischen Absorptionsbereichs (68) erfasst werden, und dass mittels der beiden Referenzsignale (74, 76) eine Grundlinienkorrektur des im Absorptionsbereich (68) liegenden Nutzsignals (72) durchgeführt wird.
  3. Verfahren nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, dass eine Grundlinie (70) als Gerade im Spektralverlauf durch die beiden Referenzsignale (74, 76) bestimmt wird, und dass das Nutzsignal (72) mit dem Ordinatenwert (78) der Geraden bei der ersten Wellenlänge korrigiert wird.
  4. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, dass bei der Strahlungshärtung ein beschichtetes Objekt (14) relativ zu einer Strahlungsquelle, insbesondere einem UV-Strahler bewegt wird und der Härtungszustand in dem Bestrahlungsbereich oder direkt daran anschließend im Prozessablauf gemessen wird.
  5. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet, dass ein beschichtetes Objekt (14) in einer Transportstrecke (66) durch einen Bestrahlungsraum transportiert wird, und dass der Härtungsgrad im Zuge des Objekttransports in Echtzeit erfasst wird.
  6. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 5, dadurch gekennzeichnet, dass die Beschichtung (12) punkt-, linien- oder zonenweise gegebenenfalls intermittierend abgetastet wird und der Härtungsgrad über einen entsprechenden Abtastbereich gegebenenfalls integral bestimmt wird.
  7. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 6, dadurch gekennzeichnet, dass an der Messstation (16) monochromatisches Messlicht mittels Laser (26) eingestrahlt wird und an der Beschichtung (12) zurückgeworfenes Licht in einem Photodetektor (42) erfasst wird.
  8. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 7, dadurch gekennzeichnet, dass moduliertes Messlicht bei mehreren Wellenlängen zeitgleich eingestrahlt wird und in einem vorzugsweise mit einem Lock-in-Verstärker (44) versehenen Detektor (28) wellenlängenselektiv erfasst wird.
  9. System zur Härtungsprüfung einer strahlungshärtenden Substratbeschichtung, insbesondere einer Druckfarben- oder Lackschicht, mit einer optischen Messstation (16) zur Erfassung des Härtungsgrades der Beschichtung (12), dadurch gekennzeichnet, dass die Messstation (16) ein zur optischen Abtastung der Beschichtung (12) mit Messlicht bei verschiedenen Wellenlängen ausgebildetes Reflektometer (18, 20) aufweist, das bei einer ersten Wellenlänge ein vom Härtungsgrad abhängiges Nutzsignal (72) und bei mindestens einer weiteren Wellenlänge ein vom Härtungsgrad im Wesentlichen unabhängiges Referenzsignal (74, 76) für eine Korrektur des Nutzsignals (72) erfasst.
  10. System nach Anspruch 9, dadurch gekennzeichnet, dass das Reflektometer (18, 20) zur optischen Abtastung bei drei verschiedenen Wellenlängen ausgebildet ist, und dass in einer Signalverarbeitungseinheit (48) aus zwei bei einer zweiten und dritten Wellenlänge erfassten Referenzsignalen ein Grundlinienwert für eine Grundlinienkorrektur des Nutzsignals (72) bestimmbar ist.
  11. System nach Anspruch 9 oder 10, dadurch gekennzeichnet, dass das Reflektometer (18, 20) einen Optikkopf (20) zum Aus- und Einkoppeln von Messlicht und eine über Lichtleiter (22, 24) mit dem Optikkopf (20) verbundene, einen Lichtsender (26) und einen Lichtempfänger (28) umfassende Instrumenteneinheit (18) aufweist.
  12. System nach einem der Ansprüche 9 bis 11, dadurch gekennzeichnet, dass das Reflektometer (18, 20) mehrere bei voneinander verschiedenen Wellenlängen arbeitende und in einen gemeinsamen optischen Pfad eingekoppelte Laser- oder LED-Lichtquellen (32, 34, 36) als Lichtsender aufweist.
  13. System nach einem der Ansprüche 9 bis 12, dadurch gekennzeichnet, dass das Reflektometer (18, 20) einen über eine Empfangsoptik (62) auf eine Einstrahlstelle des Messlichts ausgerichteten Photodetektor (42) als Lichtempfänger (28) aufweist.
  14. System nach einem der Ansprüche 9 bis 13, dadurch gekennzeichnet, dass im Strahlengang des Messlichts ein Lochspiegel (56) angeordnet ist, der ein Loch (54) zum Einstrahlen von Messlicht vorzugsweise in Richtung einer Flächennormalen auf die Beschichtung (12) und eine das Loch (54) umgebende Spiegelfläche (60) zum Umlenken von an der Beschichtung (12) zurückgeworfenem Messlicht aufweist.
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