DE102010047832A1 - Optical element e.g. lens of microlithographic projection exposure system used in manufacture of integrated circuit, has excitation light mirror that is arranged to irradiate excitation light with respect to region of optical material - Google Patents
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Abstract
Description
HINTERGRUND UND STAND DER TECHNIKBACKGROUND AND PRIOR ART
Die Erfindung bezieht sich auf ein aktiv kühlbares optisches Element eines Objektivs oder eines anderen Strahlführungssystems einer Mikrolithographie-Projektionsbelichtungsanlage, insbesondere eine Linse oder einen Vorderflächenspiegel, sowie auf ein optisches System einer Mikrolithographie-Projektionsbelichtungsanlage mit einem solchen optischen Element.The invention relates to an actively coolable optical element of a lens or other beam guidance system of a microlithography projection exposure apparatus, in particular a lens or a front surface mirror, and to an optical system of a microlithography projection exposure apparatus with such an optical element.
Optische Elemente, wie z. B. Spiegel und Linsen, werden in Objektiven und anderen Strahlführungssystemen verwendet, um Licht abzulenken bzw. umzulenken, zu fokussieren oder zu defokussieren. Unter anderem beim Einsatz innerhalb einer Mikrolithographie-Projektionsbelichtungsanlage werden hohe Anforderungen an die Qualität und optische Stabilität der optischen Elemente und der damit aufgebauten optischen Systeme gestellt.Optical elements, such. Mirrors and lenses are used in lenses and other beam guidance systems to deflect, refocus, focus or defocus light. Among other things, when used within a microlithography projection exposure system, high demands are placed on the quality and optical stability of the optical elements and the optical systems constructed therewith.
Bei mikrolithographischen Projektionsbelichtungsanlagen, wie sie beispielsweise bei der Herstellung hochintegrierter elektrischer Schaltkreise verwendet werden, stellt die Erwärmung der optischen Elemente durch das Nutzlicht manchmal eine nicht vernachlässigbare Ursache für optische Störungen der Anlagen dar. Der Begriff „Nutzlicht” bezeichnet hierbei dasjenige von einer primären Lichtquelle (Nutzlichtquelle) bereitgestellte Licht, das durch die optischen Elemente eines optischen Systems entsprechend dem Aufbau des optischen Systems im Hinblick auf einen bestimmungsgemäßen Zweck (z. B. Abbildung oder Beleuchtung) gezielt beeinflusst und in einem Nutzlichtstrahlengang geführt wird. Bei mikrolithograpischen Anwendungen liegen die Wellenlängen des Nutzlichts typischer Weise im Bereich des Ultraviolettlichts (UV), des tiefen Ultraviolettlichts (DUV) oder des extremen Ultraviolettlichts (EUV) bis an die Grenze zum Bereich weicher Röntgenstrahlung.In microlithographic projection exposure systems, as used for example in the production of highly integrated electrical circuits, the heating of the optical elements by the useful light is sometimes a non-negligible cause of optical disturbances of the plants. The term "useful light" here refers to that of a primary light source ( Useful light source), which is selectively influenced by the optical elements of an optical system according to the structure of the optical system with regard to an intended purpose (eg imaging or illumination) and guided in a Nutzlichtstrahlengang. In microlithographic applications, the wavelengths of useful light are typically in the range of ultraviolet (UV), deep ultraviolet (DUV), or extreme ultraviolet (EUV), to the limit of the soft X-ray range.
Bei den üblicherweise verwendeten Materialien für optische Elemente kann eine Erwärmung zu einer Volumenänderung der optischen Elemente und damit zu einer Formveränderung führen, die unmittelbar die optischen Eigenschaften der optischen Elemente verändern kann. Beispielsweise kann eine optische Fläche eines optischen Elements durch thermische Einflüsse deformiert werden. Thermisch induzierte Oberflächendeformationen können bei Spiegeln und Linsen auftreten und zu schwer kontrollierbaren Störungen des Nutzlichtstrahlengangs führen.In the case of the usually used optical element materials, heating can lead to a change in volume of the optical elements and thus to a change in shape which can directly change the optical properties of the optical elements. For example, an optical surface of an optical element may be deformed by thermal influences. Thermally induced surface deformations can occur in mirrors and lenses and lead to difficult-to-control disturbances of the useful light beam path.
Außerdem gehen mit der Formveränderung meist mechanische Spannungen im Material einher, die sich auf dessen Brechungsindex auswirken können. Auf mikroskopischer Ebene führt eine stärkere Wärmebewegung unmittelbar zu einer Veränderung des Brechungsindex. Diese Einflüsse verändern die Wirkung einer Linse und können sich z. B. in Abbildungssystemen als Abbildungsfehler bemerkbar machen.In addition, usually go with the change in shape associated with mechanical stresses in the material that can affect its refractive index. At the microscopic level, a stronger thermal motion leads directly to a change in the refractive index. These influences change the effect of a lens and can, for. B. make noticeable in imaging systems as aberrations.
Sofern die Abbildungsfehler bezüglich der optischen Achse eines abbildenden optischen Systems rotationssymmetrisch sind, ist häufig eine Kompensation möglich, z. B. mittels einer Nachjustierung einzelner optischer Elemente des Systems.If the aberrations with respect to the optical axis of an imaging optical system are rotationally symmetric, compensation is often possible, for. B. by means of a readjustment of individual optical elements of the system.
Schwieriger ist die Situation bei nicht rotationssymmetrischen Abbildungsfehlern. Diese können bei Projektionsbelichtungsanlagen beispielsweise durch die Verwendung schlitzförmiger Bildfelder hervorgerufen werden. Hierzu ist beispielsweise in der
Bei optischen Systemen mit einem Spiegel oder mehreren Spiegeln, beispielsweise bei katadioptrischen oder katoptrischen Projektionsobjektiven, kann man der Erwärmung der Spiegel durch aktive Kühlung der Spiegelrückseite bzw. des Spiegelsubstrats entgegen wirken. Dies ist beispielsweise durch Kühlung mit Kühlflüssigkeiten möglich, die durch Kühlkanäle im Spiegelsubstrat geleitet werden (vgl. z. B.
Die nicht vorveröffentlichte deutsche Patentanmeldung
Ein anderer Ansatz zur Begrenzung von thermisch induzierten Störungen in optischen Systemen besteht darin, bei der Herstellung der optischen Elemente Materialien mit äußerst geringem thermischen Ausdehnungskoeffizienten zu verwenden, so dass durch thermische Ausdehnung bedingte Störungen von Beginn auf ein tolerierbares Maß reduziert werden. Bekannt ist es beispielsweise, als Substratmaterial für Spiegel bestimmte Glaskeramiken zu verwenden. Eine zur Herstellung von Spiegelsubstraten für Mikrolithographie-Systeme geeignete Glaskeramik wird unter der Markenbezeichnung ZERODUR® (Schott AG) vertrieben. Für diese Glaskeramiken werden für den Temperaturbereich zwischen 0°C und 50°C thermische Ausdehnungskoeffizienten von 0 ± 0.10 × 10–6K–1 angegeben. Noch niedrigere thermische Ausdehnungskoeffizienten werden bei bestimmten Titan-Silikatgläsern erreicht, die auch als „Ultra Low Expansion Glass” bekannt sind. Für ein solches Titan-Silikatglas, das von Corning, Inc. unter der Markenbezeichnung ULE® vertrieben wird, wird für den Temperaturbereich zwischen 5°C und 35°C ein mittlerer thermischer Ausdehnungskoeffizient von 0 ± 30·10–9K–1 angegeben.Another approach to limiting thermally-induced perturbations in optical systems is to use materials with extremely low thermal expansion coefficients in the fabrication of the optical elements so that thermal expansion-related perturbations are reduced from the beginning to a tolerable level. It is known, for example, to use glass ceramics as substrate material for mirrors. A suitable for the production of mirror substrates for microlithography systems glass ceramic is sold under the trade name ZERODUR ® (Schott AG). For these glass-ceramics, thermal expansion coefficients of 0 ± 0.10 × 10 -6 K -1 are specified for the temperature range between 0 ° C and 50 ° C. Even lower coefficients of thermal expansion are achieved with certain titanium silicate glasses, also known as "Ultra Low Expansion Glass". For such a titanium silicate glass, marketed by Corning, Inc. under the trade designation ULE ®, an average coefficient of thermal expansion of 0 ± 30 × 10 -9 K -1 is specified for the temperature range between 5 ° C and 35 ° C.
Aus
AUFGABE UND LOSUNGTASK AND SOLUTION
Es ist eine Aufgabe der Erfindung, ein aktiv kühlbares optisches Element eines Objektivs oder eines anderen Strahlführungssystems einer Mikrolithographie-Projektionsbelichtungsanlage bereitzustellen, das mittels optischer Kühlung effizient gekühlt werden kann. Es ist eine weitere Aufgabe, ein optisches System mit mindestens einem solchen optischen Element bereitzustellen.It is an object of the invention to provide an actively coolable optical element of a lens or other beam guiding system of a microlithography projection exposure apparatus which can be efficiently cooled by means of optical cooling. It is a further object to provide an optical system having at least one such optical element.
Gelöst wird diese Aufgabe durch ein aktiv kühlbares optisches Element mit den Merkmalen von Anspruch 1 sowie ein optisches System mit einem solchen optischen Element mit den Merkmalen von Anspruch 10.This object is achieved by an actively coolable optical element having the features of claim 1 and an optical system having such an optical element having the features of claim 10.
Vorteilhafte Weiterbildungen sind in den abhängigen Ansprüchen angegeben. Der Wortlaut sämtlicher Ansprüche wird durch Bezugnahme zum Inhalt der Beschreibung gemacht.Advantageous developments are specified in the dependent claims. The wording of all claims is incorporated herein by reference.
Ein optisches Element gemäß der beanspruchten Erfindung hat ein Substrat, an dem mindestens eine optische Fläche ausgebildet ist. Das Substrat besteht mindestens in einem Teil des Substratvolumens aus einem optisch kühlbaren Material, welches für Anregungslicht transparent und durch Bestrahlung mit dem Anregungslicht abkühlbar ist. Eine für das Anregungslicht wirksame Verspiegelung ist in Bezug auf das optisch kühlbare Material derart angeordnet, dass Anregungslicht, welches das optisch kühlbare Material nach Durchstrahlung verlassen hat, durch die Verspiegelung mindestens einmal in dem Bereich des optisch kühlbaren Materials zurück reflektiert wird. Zwischen dem optisch kühlbaren Material und der Verspiegelung liegt ein von optisch kühlbarem Material freier Zwischenbereich bzw. ein Abstand. Hierdurch kann die Effizienz der Kühlung im Vergleich zu optischen Elementen ohne Abstand zwischen Verspiegelung und optisch kühlbarem Material gesteigert werden.An optical element according to the claimed invention has a substrate on which at least one optical surface is formed. The substrate consists at least in part of the substrate volume of an optically coolable material which is transparent to excitation light and can be cooled by irradiation with the excitation light. An effective for the excitation light mirroring is arranged with respect to the optically coolable material such that excitation light, which has left the optically coolable material after irradiation, is reflected by the mirroring at least once in the region of the optically coolable material back. Between the optically coolable material and the mirror coating is an intermediate region free from optically coolable material or a distance. As a result, the efficiency of the cooling can be increased in comparison to optical elements with no spacing between mirroring and optically coolable material.
Es wurde erkannt, dass der Austritt des Fluoreszenzlichts aus dem optisch kühlbaren Material für die Kühleffizienz eine wichtige Rolle spielt. Das Fluoreszenzlicht sollte das optisch kühlbare Material auf möglichst kurzem Wege endgültig verlassen, damit die Wahrscheinlichkeit einer Reabsorption im Substrat und damit die Wahrscheinlichkeit von wärmeerzeugenden Konkurrenzeffekten, wie beispielsweise die Generierung von Gitterschwingungen (Phononen), möglichst gering ist. Da zwischen den Wellenlängen des Anregungslichts und des Fluoreszenzlichts nur ein geringer Unterschied besteht, wirkt die Verspiegelung auch für das Fluoreszenzlicht reflektierend und kann den erwünschten Austritt des Fluoreszenzlichts blockieren. Wenn zwischen dem optisch kühlbaren Material und der Verspiegelung ein Zwischenbereich ohne optisch kühlbares Material vorgesehen wird, kann eine Reduzierung der Reabsorptionswahrscheinlichkeit erreicht werden.It has been recognized that the exit of the fluorescent light from the optically coolable material plays an important role in the cooling efficiency. The fluorescent light should finally leave the optically coolable material as short as possible, so that the probability of reabsorption in the substrate and thus the probability of heat-generating competition effects, such as the generation of lattice vibrations (phonons), is minimized. Since there is only a slight difference between the wavelengths of the excitation light and the fluorescent light, the mirror coating also has a reflective effect on the fluorescent light and can block the desired exit of the fluorescent light. If an intermediate region without optically coolable material is provided between the optically coolable material and the mirror coating, a reduction in the probability of reabsorption can be achieved.
Bei manchen Ausführungsformen besteht das optisch kühlbare Material aus einem für das Anregungslicht transparenten Basismaterial, in welchem Dotieratome aus der Klasse der Seltenen Erden (SE) verteilt sind. Der Zwischenbereich wird dadurch gebildet, dass zwischen den einer Verspiegelungsfläche am nächsten liegenden Dotieratomen und der zugehörigen Verspiegelung ein Mindestabstand ohne Dotieratome verbleibt.In some embodiments, the optically coolable material consists of a base material that is transparent to the excitation light, in which dopant atoms from the class of rare earths (SE) are distributed. The intermediate region is formed by the fact that between the doping atoms closest to a mirroring surface and the associated silvering remains a minimum distance without Dotieratome remains.
Die Größe des Mindestabstandes kann von Anwendung zu Anwendung variieren. Bei manchen Ausführungsformen hat die Verspiegelung eine ausgedehnte Reflexionsfläche, die in einer in der Reflexionsfläche liegenden Richtung eine Minimalausdehnung hat, wobei der Mindestabstand der Dotieratome von der Verspiegelung mindestens so groß wie die Minimalausdehnung ist. Der Mindestabstand kann auch mindestens doppelt oder mindestens dreifach oder mindestens viermal so groß wie die Minimalausdehnung sein. Je größer der Mindestabstand ist, desto kleiner wird der durch die Verspiegelung blockierte Raumwinkelbereich, in dem keine unmittelbare und endgültige Fluoreszenzlichtauskopplung stattfinden kann. Ein Maximalabstand sollte nicht überschritten werden, damit die gewünschte Rückreflexionswirkung für das Anregungslicht gewährleistet bleibt.The size of the minimum distance may vary from application to application. In some embodiments, the reflective coating has an extended reflection surface that has a minimum extension in a direction lying in the reflection surface, wherein the minimum distance of the doping atoms from the mirror coating is at least as large as the minimum dimension. The minimum distance may also be at least twice or at least three times or at least four times as large as the minimum extent. The larger the minimum distance, the smaller is the space angle range blocked by the mirroring, in which no immediate and final fluorescence light decoupling can take place. A maximum distance should not be exceeded so that the desired back reflection effect for the excitation light remains ensured.
Bei manchen Ausführungsformen hat das Substrat eine der Verspiegelung zugewandte Substratgrenzfläche und zwischen der Substratgrenzfläche und der Verspiegelung liegt ein von Substratmaterial freier Zwischenbereich. Dieser kann beispielsweise mit einem Gas gefüllt oder, beispielsweise bei Anwendungen im EUV-Bereich, evakuiert sein. Bei derartigen Ausführungsformen können die Dotieratome bis an den der Verspiegelung zugewandten Rand des Substrats, d. h. bis zur Substratgrenzfläche heranreichen, wodurch der gesamte Substratquerschnitt für die optische Kühlung zugänglich wird.In some embodiments, the substrate has a substrate interface facing the reflective coating, and between the substrate interface and the mirror coating is an intermediate region free of substrate material. This can for example be filled with a gas or evacuated, for example in applications in the EUV range. In such embodiments, the doping atoms may extend as far as the edge of the substrate facing the mirroring surface, i. H. reach to the substrate interface, making the entire substrate cross-section accessible for optical cooling.
Die Verspiegelung kann beispielsweise an einer Innenseite eines das Substrat umgebenden Spiegelrings angeordnet sein, der einen Innendurchmesser hat, der größer als ein Außendurchmesser des Substrats ist. Der Spiegelring kann im Wesentlichen zylindrisch geformt sein, es sind auch andere der Außenkontur des Substrats angepasste Formen möglich, beispielsweise elliptische Formen.The mirror coating may, for example, be arranged on an inner side of a mirror ring surrounding the substrate, which has an inner diameter that is larger than an outer diameter of the substrate. The mirror ring may be substantially cylindrically shaped, other shapes adapted to the outer contour of the substrate are possible, for example elliptical shapes.
Ein von optisch kühlbarem Material freier Zwischenbereich kann auch dann geschaffen werden, wenn die Verspiegelung direkt auf die der Verspiegelung zugewandte Substratgrenzfläche aufgebracht ist, beispielsweise in Form einer für das Anregungslicht reflektierenden Beschichtung einer Seitenfläche des Substrats. In solchen Fällen kann vorgesehen sein, dass die in einem Volumenbereich des Substrats verteilten Dotieratome in radialer Richtung nicht bis an die Verspiegelung heranreichen, sondern dass ein an die Verspiegelung angrenzender, beispielsweise ringförmiger Außenbereich frei von optisch kühlbarem Material bzw. frei von Dotieratomen bleibt. In dem Zwischenbereich liegt dann kein optisch kühlbares Material vor, sondern ein nicht mit Dotieratomen versehener Bereich des Basismaterials.An intermediate region which is free of optically coolable material can also be created if the mirror coating is applied directly to the substrate interface facing the silvering, for example in the form of a coating of a side surface of the substrate which is reflective for the excitation light. In such cases, it may be provided that the doping atoms distributed in a volume region of the substrate do not reach the mirroring in the radial direction, but that an annular region adjacent to the mirroring, for example, remains free of optically coolable material or free of doping atoms. In the intermediate region there is then no optically coolable material, but a region of the base material which is not provided with doping atoms.
Bei Ausführungsformen für makroskopische Optik, z. B. bei optischen Elementen für optische Systeme einer Mikrolithographie-Projektionsbelichtungsanlage, beträgt der Abstand der Dotieratome zur nächstliegenden Verspiegelung (gemessen senkrecht zur Reflexionsfläche) vorzugsweise in der Regel mindestens 100 μm, häufig auch 500 μm oder mehr und/oder 1 mm oder mehr. Entsprechende Mindestwerte gelten auch für die Breite bzw. die Ausdehnung des von optisch kühlbarem Material freien Zwischenbereichs. Bei Einhaltung dieser Abstandswerte ist in der Regel eine effiziente Rückreflexion des Anregungslichts ohne zu starke Blockierung des Austritts des Fluoreszenzlichts möglich.In embodiments for macroscopic optics, z. Example, in optical elements for optical systems of a microlithography projection exposure system, the distance of the doping atoms to the nearest reflective coating (measured perpendicular to the reflection surface) is preferably at least 100 microns, often 500 microns or more and / or 1 mm or more. Corresponding minimum values also apply to the width or the extent of the intermediate region which is free of optically coolable material. By adhering to these distance values, an efficient back reflection of the excitation light is generally possible without excessive blocking of the exit of the fluorescent light.
Eine Kombination von mehreren im Hinblick auf die Effizienz der Fluoreszenzlichtauskopplung günstige Maßnahmen ist möglich. Beispielsweise kann eine von einer äußeren Substratgrenzfläche beabstandete Verspiegelung vorgesehen sein und gleichzeitig können Dotieratome innerhalb des Basismaterials noch einen radialen Abstand von der Substratgrenzfläche haben, so dass derjenige Raumwinkelbereich, in welchem die Verspiegelung eine störende Blockierung gegen die Auskopplung von Fluoreszenzlicht darstellt, besonders klein gehalten werden kann.A combination of several measures which are favorable with regard to the efficiency of the fluorescent light extraction is possible. For example, a mirroring spaced from an outer substrate interface may be provided, and at the same time doping atoms within the base material may still have a radial distance from the substrate interface, so that the solid angle region in which the silvering constitutes a disturbing blockage against the outcoupling of fluorescent light, be kept particularly small can.
Die hier vorgestellten Maßnahmen der Steigerung der Fluoreszenzlichtauskopplung können bei optischen Elementen unterschiedlicher optischer Funktion vorgesehen sein. Bei einem optischen Element kann es sich beispielsweise um eine Linse oder um einen Vorderflächenspiegel handeln.The measures presented here for increasing the fluorescence light decoupling can be provided with optical elements of different optical function. An optical element may, for example, be a lens or a front surface mirror.
Die Maßnahmen sind auch unabhängig von der Art des optisch kühlbaren Materials. Als Substratmaterialien können alle in der vorliegenden Anmeldung näher beschriebenen Substratmaterialien, insbesondere solche mit extrem geringen thermischen Ausdehnungskoeffizienten, genutzt werden. Beispielsweise kann es sich bei dem Basismaterial für das Substrat um ein Titan-Silikatglas oder um eine Glaskeramik handeln. Diese Materialien sind besonders für Spiegelsubstrate interessant.The measures are also independent of the type of optically coolable material. As substrate materials, all of the substrate materials described in more detail in the present application, in particular those with extremely low thermal expansion coefficients, can be used. For example, the base material for the substrate may be a titanium silicate glass or a glass ceramic. These materials are particularly interesting for mirror substrates.
Als optisch kühlbare Substratmaterialien für Linsen oder Spiegel können aber auch mit seltenen Erden dotierte Gläser oder mit seltenen Erden dotierte Kristalle genutzt werden, beispielsweise die Materialien ZBLANP:Yb3+, ZBLAN:Yb3+, CNBZn:Yb3+, BIG:Yb3+, KGd(WO4):Yb3+, KY(WO4)2:Yb3+, YAG:Yb3+, Y2SiO5:Yb3+, KPb2Cl5:Yb3+, BaY2F8:Yb3+, ZBLANP:Tm3+, BaY2F8:Tm3+, CNBZn:Er3+, oder KPb2Cl5:Er3+, die in der
Die beschriebenen Maßnahmen zur Steigerung der Effizienz der Fluoreszenzlichtauskopplung können weiterhin unabhängig davon vorgesehen sein, wie die räumliche Konzentrationsverteilung der Dotieratome innerhalb des Basismaterials ist. Die räumliche Konzentrationsverteilung kann homogen oder inhomogen sein.The measures described to increase the efficiency of Fluorescent light decoupling can furthermore be provided independently of how the spatial concentration distribution of the doping atoms is within the base material. The spatial concentration distribution can be homogeneous or inhomogeneous.
Die Erfindung bezieht sich auch auf ein optisches System mit mindestens einem optischen Element gemäß der beanspruchten Erfindung und mindestens einer Vorrichtung zum Einleiten von Anregungslicht in einen aus einem optisch kühlbaren Material bestehenden Teil des Substratvolumens.The invention also relates to an optical system having at least one optical element according to the claimed invention and at least one device for introducing excitation light into a part of the substrate volume consisting of an optically coolable material.
Die vorstehenden und weitere Merkmale gehen außer aus den Ansprüchen auch aus der Beschreibung und den Zeichnungen hervor. Dabei können die einzelnen Merkmale jeweils für sich alleine oder zu mehreren in Form von Unterkombinationen bei einer Ausführungsform der Erfindung und auf anderen Gebieten verwirklicht sein und vorteilhafte Ausführungsformen darstellen. Bevorzugte Ausführungsformen werden an Hand der beigefügten Zeichnungen erläutert.The foregoing and other features will become apparent from the claims and from the description and drawings. In this case, the individual features may be implemented individually or in the form of subcombinations in one embodiment of the invention and in other areas, and may represent advantageous embodiments. Preferred embodiments will be explained with reference to the accompanying drawings.
KURZBESCHREIBUNG DER ZEICHNUNSFIGURENBRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS
DETAILLIERTE BESCHREIBUNG BEVORZUGTER AUSFÜHRUNGSBEISPIELEDETAILED DESCRIPTION OF PREFERRED EMBODIMENTS
Anhand von
Werden Phononen dieser Frequenz (entsprechend einer Photonenenergie hνL) absorbiert, dann werden die oberen Niveaus im energetisch tiefer liegenden Energieband E1 entleert und die untersten Niveaus im energetisch höheren Energieband E2 gefüllt. Dadurch ist das Gleichgewicht der Verteilung in den Bändern gestört. Dieses Gleichgewicht wird durch Phononenabsorption in beiden Bändern wieder hergestellt.If phonons of this frequency are absorbed (corresponding to a photon energy hν L ), then the upper levels in the energetically lower energy band E1 are emptied and the lowest levels are filled in the energy higher energy band E2. This disturbs the balance of distribution in the bands. This balance is restored by phonon absorption in both bands.
Ein angeregter Zustand kann mit einer gewissen Wahrscheinlichkeit durch einen strahlenden Übergang unter Aussendung eines Fluoreszenzphotons, entsprechend einer Anti-Stokes-Emission, wieder in den Grundzustand übergehen. Die Energie hνL des Fluoreszenzphotons (hνf = hν + kT), ist dabei größer als die zur Anregung nötige Photonenenergie hν des Anregungslichts. Da in diesem Elementarprozess mehr Energie abgegeben als aufgenommen wird, ergibt sich eine optische Kühlung.An excited state can, with a certain probability, return to the ground state by a radiating transition with the emission of a fluorescence photon, corresponding to an anti-Stokes emission. The energy hν L of the fluorescence photon (hν f = hν + kT) is greater than the photon energy hν of the excitation light required for the excitation. Since more energy is emitted in this elementary process than is absorbed, optical cooling results.
Es besteht jedoch auch die Möglichkeit eines nicht-strahlenden (nicht-radiativen) Übergangs durch Multi-Phononen(MP)-Relaxation. Diese MP-Relaxation ist umso wahrscheinlicher, je größer die maximale Phononenenergie des Materials im Vergleich zur Energielücke des Übergangs ist, also je weniger Phononen für den Übergang benötigt werden. Ein strahlender Relaxationsübergang kann das Material um die Energie eines oder mehrerer Phononen kühlen, ein MP-Relaxationsübergang würde das Material hingegen um die volle Energie der Bandlücke erwärmen.However, there is also the possibility of a non-radiative (non-radiative) transition through multi-phonon (MP) relaxation. This MP relaxation is all the more likely the greater the maximum phonon energy of the material compared to the energy gap of the transition, that is, the fewer phonons needed for the transition. A bright relaxation transition can cool the material by the energy of one or more phonons, whereas an MP relaxation transition would heat the material by the full energy of the band gap.
In einem realen System sind die Bedingungen, unter denen eine effektive Kühlung stattfinden kann, wesentlich komplexer. Unter anderem besteht eine gewisse Wahrscheinlichkeit, dass Fluoreszenzphotonen nicht entweichen, sondern im Material reabsorbiert werden und dass andere Absorptionsprozesse den potentiellen Kühleffekt verringern. Um eine Kühlung zu erreichen, muss der Anteil (ηabs·ηext) an absorbierten Photonen des Anregungslichts, die als Fluoreszenzphoton dem zu kühlenden Körper entweichen, größer sein als (1 – kB·T/hνf), d. h.
Für das Verständnis dieser „Kühlbedingung” gelten im Rahmen dieser Anmeldung folgende Definitionen:
- (1) Wrad ist der Anteil an Fluoreszenzphotonen.
- (2) Wnr ist der Anteil an nicht-radiativen Zerfällen.
- (3) Die Extraktionseffizienz (extraktion efficiency) ηe beschreibt den Anteil der Fluoreszenzphotonen, die dem Körper komplett entweichen können. Dieser Parameter hängt u. a. von der Geometrie und der Reabsorptionswahrscheinlichkeit ab.
- (4) Die Quanteneffizienz (quantum efficiency) Wrad/(Wrad + Wnr) beschreibt den Anteil der angeregten Zustände, die als Fluoreszenzphotonen zerfallen. Dieser Parameter hängt u. a. von der maximalen Phononenenergie des Trägermaterial und der Energie des Fluoreszenzübergangs ab
- (5) Die externe Quanteneffizienz (external quantum efficiency) ηext = ηeWrad (ηeWrad + Wnr) beschreibt den Anteil der Fluoreszenzphotonen, die dem Körper komplett entweichen können, an den insgesamt zerfallenden angeregten Zuständen
- (6) Die Absorptionseffizienz (absoption efficiency) ηabs = αr/(αr + αp) ist das Verhältnis zwischen der resonanten/gewünschten Absorption und der gesamten Absorption. Dieser Parameter hängt vom resonanten Absorptionskoeffizienten αr und vom parasitären Absorptionskoeffizienten αp ab.
- (7) Die Kühleffizienz (cooling efficiency) ηcool = Pkühl/Pabs beschreibt das Verhältnis zwischen der Kühlleistung und der absorbierten Leistung des Anregungslichts.
- (1) rad is the proportion of fluorescence photons.
- (2) W nr is the proportion of non-radiative decays.
- (3) The extraction efficiency η e describes the proportion of fluorescence photons that can completely escape the body. This parameter depends, among other things, on the geometry and the probability of reabsorption.
- (4) The quantum efficiency Wrad / (W rad + W nr ) describes the proportion of excited states that decay as fluorescence photons. This parameter depends inter alia on the maximum phonon energy of the carrier material and the energy of the fluorescence transition
- (5) External quantum efficiency η ext = η e W rad (η e W rad + W nr ) describes the proportion of fluorescence photons that can completely escape the body from the total decaying excited states
- (6) The absoption efficiency η abs = α r / (α r + α p ) is the ratio between the resonant / desired absorption and the total absorption. This parameter depends on the resonant absorption coefficient α r and on the parasitic absorption coefficient α p .
- (7) The cooling efficiency η cool = P cool / P abs describes the relationship between the cooling power and the absorbed power of the excitation light.
Die Kühlbedingung für einen idealen Fall ohne unerwünschte Effekte kann dann wie folgt angegeben werden:
Da aber unter anderem (i) nicht das gesamte Anregungslicht zur Anregung der Dotieratome führt, sondern ein Teil ungewünscht absorbiert wird, (ii) nicht alle angeregten Dotieratome durch Fluoreszenz sondern auch durch MP Prozesse zerfallen und (iii) auch nicht alle Fluoreszenzphotonen den zu kühlenden Körper verlassen, reduziert sich die Kühleffizienz auf
Da weiterhin die Frequenz des Anregungslichts zur effektiven Absorption nicht zu weit unter der mittleren Fluoreszenzfrequenz verstimmt sein sollte gilt hνL hνf – kB·T. Mit ηcool > 0 erhält man dann die oben angesprochene Kühlbedingung
Dies vorausgeschickt werden nun vorteilhafte Möglichkeiten zur Nutzung des optischen Kühlens im Bereich der Optik am Beispiel optischer Elemente für optische Systeme einer Mikrolithographie-Projektionsbelichtungsanlage erläutert.With this in mind, advantageous possibilities for the use of optical cooling in the field of optics are explained using the example of optical elements for optical systems of a microlithography projection exposure apparatus.
Das optisch kühlbare Material ist dabei jeweils ein für Anregungslicht aus dem Infrarotbereich (IR) transparentes Basismaterial, in welchem durch das Anregungslicht zu einer Anti-Stokes-Emission anregbare Dotieratome in geeigneter räumlicher Konzentrationsverteilung vorliegen. Obwohl die Dotieratome im Basismaterial in ionisierter Form vorliegen und daher auch als Dotierionen bezeichnet werden können, wird hier aus Gründen der Übersichtlichkeit durchgängig der Begriff „Dotieratome” verwendet. Der Begriff „transparent” bedeutet in diesem Zusammenhang, dass das Basismaterial für das Anregungslicht so durchlässig ist, dass das Anregungslicht unter möglichst geringer Abschwächung zu den Dotieratomen gelangen und die Dotieratome anregen kann. Durch die Anregung der Dotieratome ist eine gewisse Absorption des Anregungslichts gegeben, so dass das optisch kühlbare Material nicht zu 100% transparent ist, sondern eine Teilabsorption zumindest aufgrund der Dotieratome zeigt.The optically coolable material is in each case a base material which is transparent to excitation light from the infrared range (IR) and in which doping atoms which can be excited by the excitation light to give an anti-Stokes emission are present in a suitable spatial concentration distribution. Although the doping atoms in the base material are in ionized form and therefore can also be referred to as doping ions, the term "doping atoms" is used here for reasons of clarity. The term "transparent" in this context means that the base material for the excitation light is so permeable that the excitation light can reach the doping atoms with as little attenuation as possible and can excite the doping atoms. By the excitation of the doping atoms a certain absorption of the excitation light is given, so that the optically coolable material is not 100% transparent, but shows a partial absorption at least due to the doping atoms.
Das EUV-Nutzlicht
Das Substrat
Beim Ausführungsbeispiel besteht das Substrat im Wesentlichen aus einem Titan-Silikatglas-Basiswerkstoff mit einem hohen Anteil von mindestens 90 Gew.-% SiO2 und einem überwiegend aus Titanoxid (TiO2) bestehenden Restanteil (z. B. ca. 7 Gew.-%). Als Basismaterial geeignete Glaswerkstoffe sind z. B. unter der Marke ULE®-Glas (Corning, Inc) erhältlich. In dieser Anmeldung wird der Basiswerkstoff aus Titan-Silikatglas auch mit (SiO2-TiO2)-Glas bezeichnet. Für den Temperaturbereich zwischen 5°C und 35°C wird ein mittlerer thermischer Ausdehnungskoeffizient von 0 ± 30·10–9K–1 angegeben.In the exemplary embodiment, the substrate consists essentially of a titanium-silicate glass base material with a high proportion of at least 90% by weight of SiO 2 and a predominant proportion of titanium oxide (TiO 2 ) (for example about 7% by weight). ). As base material suitable glass materials are z. B. branded ULE ® glass (Corning, Inc) available. In this application, the base material of titanium-silicate glass is also referred to as (SiO 2 -TiO 2 ) glass. For the temperature range between 5 ° C and 35 ° C, a mean thermal expansion coefficient of 0 ± 30 · 10 -9 K -1 is given.
Bei einer nicht bildlich dargestellten Ausführungsform ist das Basismaterial des Substrats eine Glaskeramik, die in einer Glasmatrix verteilte, kristalline Phasenanteile enthält. Durch Kombination der thermischen Charakteristika der unterschiedlichen Phasen können extrem geringe thermische Ausdehnungskoeffizienten erzielt werden, die in einigen Temperaturbereichen sogar null oder leicht negativ werden können.In a non-illustrated embodiment, the base material of the substrate is a glass-ceramic containing crystalline phase portions distributed in a glass matrix. By combining the thermal characteristics of the different phases extremely low coefficients of thermal expansion can be achieved, which in some temperature ranges can even be zero or slightly negative.
Das Substrat
Das optische System
Die Seitenfläche
Am äußeren Rand des Volumenbereichs
Das optische System
Das auftreffende Nutzlicht
Die Fluoreszenzstrahlung wird dabei in alle Richtungen abgegeben. Damit die Fluoreszenzstrahlung nicht wieder zur Erwärmung des optischen Elements oder anderer im Nutzstrahlengang vorausgehender oder nachfolgender optischen Elemente führt, ist es vorteilhaft, wenn die Fluoreszenzstrahlung mit geeigneten Maßnahmen wie z. B. Absorptionsfallen außerhalb des Nutzstrahlengangs so weitgehend wie möglich eliminiert wird.The fluorescence radiation is emitted in all directions. So that the fluorescence radiation does not lead again to the heating of the optical element or other in the useful beam path preceding or subsequent optical elements, it is advantageous if the fluorescent radiation with suitable measures such. B. absorption traps outside the Nutzstrahlengangs is eliminated as much as possible.
In Abhängigkeit von seiner Anordnung im Strahlengang eines optischen Systems und von Strahleigenschaften des verwendeten Nutzlichts (z. B. Intensitätsprofil) kann ein optisches Element, wie z. B. der Spiegel
Bei Substratmaterialien mit extrem niedrigem thermischen Ausdehnungskoeffizienten sind die Absolutgrößen von Dimensionsänderungen zwar in der Regel sehr gering. Da insbesondere im EUV-Bereich Genauigkeitsanforderungen an die Oberflächen der optischen Elemente im sub-Nanometerbereich liegen können, können sich dennoch störende Aberrationen aufgrund inhomogener Erwärmung ergeben.For substrate materials with extremely low coefficients of thermal expansion, the absolute values of dimensional changes are usually very small. Since precision requirements can be placed on the surfaces of the optical elements in the sub-nanometer range, in particular in the EUV range, disturbing aberrations due to inhomogeneous heating can still result.
Eine Analyse auf Basis teils verfügbarer, teils geschätzter Parameter zeigt, dass eine thermische Umverteilung zur wirksamen Eliminierung bzw. Verringerung von thermischen Gradienten mit Hilfe des optischen Kühlens möglich ist. Die Abschätzung wurde für einen zylindrischen Körper aus (SiO2-TiO2)-Glas mit 20 cm Radius und 5 cm Dicke durchgeführt. Diese Werte entsprechen typischen Größenordnungen von Spiegelsubstraten in EUV-Systemen.An analysis based on partly available, partly estimated parameters shows that a thermal redistribution is possible for the effective elimination or reduction of thermal gradients with the help of optical cooling. The estimation was made for a cylindrical body of (SiO 2 -TiO 2 ) glass with 20 cm radius and 5 cm thickness. These values correspond to typical magnitudes of mirror substrates in EUV systems.
Bei der Anti-Stokes-Emission ist die Energie des emittierten Fluoreszenzphotons größer als die zur Anregung nötige Photonenenergie des Anregungslichts. Dadurch ergibt sich ein Kühleffekt. Als für die Kühlung schädlicher konkurrierender Prozess kommt vor allem die Multi-Phononrelaxation in Betracht, die umso wahrscheinlicher ist, je größer die maximale Phononenenergie des Materials im Vergleich zur Energielücke des Übergangs ist.In the case of anti-Stokes emission, the energy of the emitted fluorescence photon is greater than the photon energy of the excitation light necessary for the excitation. This results in a cooling effect. In particular, multi-phonon relaxation, which is more likely the greater the maximum phonon energy of the material compared to the energy gap of the transition, is considered as a detrimental competitive process for cooling.
Für (SiO2-TiO2) lagen keine Angaben zur maximalen Phononenenergie vor. Daher wurde als Näherung SiO2 als Majoritätskomponente des Basismaterials betrachtet. SiO2 hat eine max. Phononenenergie von ca. 1100 cm–1. Weiterhin wurde davon ausgegangen, dass bei Erfüllung der Bedingung: Bandlücke < 8·max. Phononenenergie eine Multi-Phononen-Relaxation eine so hohe Wahrscheinlichkeit hat, dass praktische kein effektives Kühlen mehr zu erreichen ist.For (SiO 2 TiO 2) No information on the maximum phonon energy were available. Therefore, as an approximation, SiO 2 was considered as a majority component of the base material. SiO 2 has a max. Phonon energy of about 1100 cm -1 . Furthermore, it was assumed that if the condition was fulfilled: band gap <8 · max. Phonon energy a multi-phonon relaxation has such a high probability that practical no effective cooling can be achieved anymore.
Bei Beurteilung der als Dotieratome besonders in Frage kommenden Seltenen Erden Holmium (Ho), Thulium (Tm), Erbium (Er) und Ytterbium (Yb) bzw. deren Ionen hat sich Ytterbium wegen seiner relativ zur maximalen Phononenenergie des Basismaterials großen Bandlücke als geeignetes Dotieratom herausgestellt. Eventuell sind auch Thulium oder Erbium noch geeignet.When evaluating the rare earths holmium (Ho), thulium (Tm), erbium (Er) and ytterbium (Yb) or their ions, which are particularly suitable as doping atoms, ytterbium has a suitable doping atom because of its large band gap relative to the maximum phonon energy of the base material exposed. Maybe Thulium or Erbium are still suitable.
Bei einer Abschätzung von Einflüssen, die zu einer unerwünschten Reabsorption führen können, wurde unter anderem simuliert, welcher Teil der Fluoreszenzphotonen aufgrund von Totalreflexion an Substratgrenzflächen das Substrat nicht direkt bzw. nicht nach einer endlichen Zahl interner Reflexionen verlassen kann. Dadurch kann die Wahrscheinlichkeit für eine Reabsorption abgeschätzt werden. Für die Reabsorption spielt auch die Reinheit des Materials eine Rolle. Diese sollte möglicht hoch sein.In an estimation of influences that can lead to an undesired reabsorption, it was simulated, among other things, which part of the fluorescence photons can not leave the substrate directly or not after a finite number of internal reflections due to total reflection at substrate interfaces. This can be used to estimate the probability of reabsorption. For Reabsorption also plays a role in the purity of the material. This should be as high as possible.
Weiterhin sollte bei einem Spiegel die reflektive Beschichtung so dick ausgelegt werden, dass praktisch kein Nutzlicht durch diese Beschichtung hindurch in das Substratmaterial gelangt.Furthermore, in the case of a mirror, the reflective coating should be designed so thick that virtually no useful light passes through this coating into the substrate material.
Eine Abschätzung, bei der für die oben genannten Parameter Wrad, Wnr, ηe, αr und αp realistische Schätzwerte angenommen wurden, ergab für 1 W Leistung des Anregungslichts unter der Annahme vollständiger Absorption des Anregungslichtes eine Kühlleistung von ca. 58 mW.An estimate assuming realistic estimates for the above-mentioned parameters W rad , W nr , η e , α r and α p gave a cooling power of about 58 mW for 1 W power of the excitation light assuming complete absorption of the excitation light ,
Für eine Kühlung des gesamten Substrats wären danach bei dem optisch kühlbaren Material (SiO2-TiO2):Yb3+ extrem hohe Leistungen des Anregungslichts erforderlich. Bei geringeren Anregungslichtleistungen sind aber Kühlleistungen erzielbar, die mit Hilfe lokal unterschiedlich starker Kühlung eine effektive Umverteilung thermischer Energie im optischen Element bewirken können. Insbesondere für die Minimierung von Abbildungsfehlern, die durch Temperatur- und deshalb Volumen- bzw. Brechungsindexgradienten an Linsen oder Spiegeln auftreten können, kann eine optische Kühlung effektiv sein, auch wenn diese insgesamt, über den ganzen Körper integriert, fast keine Kühlwirkung verursacht.For cooling the entire substrate, extremely high powers of the excitation light would then be required for the optically coolable material (SiO 2 -TiO 2 ): Yb 3+ . At lower excitation light powers, however, cooling capacities can be achieved which, with the aid of locally different degrees of cooling, can effect an effective redistribution of thermal energy in the optical element. In particular, for the minimization of aberrations that can occur due to temperature and therefore volume or refractive index gradients on lenses or mirrors, an optical cooling can be effective, even if this total, integrated over the entire body, causing almost no cooling effect.
Der Wirkungsgrad der Kühlung kann ggf. durch Maßnahmen zur Senkung der Phononenenergie des Basismaterials verstärkt werden. Beispielsweise kann das Basismaterial noch mit Elementen versetzt werden, die die lokale Umgebung der Dotieratome im Sinne einer Senkung des Phononenenergie des Basismaterials verändern (vgl. z. B.
Ein erstes Beispiel für eine räumlich inhomogene optische Kühlung ist in
Je nach Anwendungsfall und Aufbau eines optischen Systems kann es sein, dass sich an einem optischen Element aufgrund von Wärmeentwicklung bestimmte charakteristische Fehler, beispielsweise Fehler an der Oberflächenform einer optischen Fläche (Linsenfläche oder Spiegelfläche), ergeben. Solche charakteristischen Fehler können manchmal, ähnlich wie die Aberrationen einer Wellenfront, mit Hilfe von Zernike-Polynomen oder einem anderen, idealer Weise vollständigen Polynomensatz beschrieben werden, welcher die betrachtende Optik beschreibt. Im Betrieb einer Projektionsbelichtungsanlage können sich auch zeitliche Veränderungen von thermisch induzierten Fehlern ergeben, beispielsweise durch Änderungen beim sogenannten Beleuchtungssetting.Depending on the application and the construction of an optical system, it is possible that certain characteristic defects, for example defects on the surface shape of an optical surface (lens surface or mirror surface), result on an optical element due to heat generation. Such characteristic errors can sometimes, like the aberrations of a wavefront, be described by means of Zernike polynomials or another ideally complete polynomial set describing the viewing optics. During operation of a projection exposure apparatus, temporal changes of thermally induced errors may also result, for example due to changes in the so-called illumination setting.
Beispielsweise kann ein optisches System je nach Anwendung einen mehr oder weniger stark störenden Astigmatismus aufweisen, eventuell mit zeitlich veränderlicher Symmetrieausrichtung. Mit Hilfe einer variablen ortsabhängig wirksamen optischen Kühlung kann diesen Störungen entgegengewirkt werden.For example, depending on the application, an optical system may have a more or less disturbing astigmatism, possibly with temporally variable symmetry alignment. With the help of a variable location-dependent effective optical cooling can be counteracted these disorders.
Es kann versucht werden, durch geeignete Steuerung der Winkelverteilung und/oder Intensitätsverteilung des von einem oder mehreren Lasern eingestrahlten Anregungslichtes eine räumlich variierende Leistung des Anregungslichtes einzukoppeln. Dies wird aber in der Regel relativ aufwendig sein und es können möglicherweise nicht alle nützlichen ortsabhängigen Kühlenergieverteilungen erzeugt werden. Anhand der nachfolgenden Figuren wird am Beispiel der Kompensation einer astigmatischen Deformation erläutert, wie eine kompensierende ortsabhängige Kühlung mit Hilfe inhomogen verteilter Dotieratome möglich ist.It can be attempted to couple a spatially varying power of the excitation light by suitable control of the angular distribution and / or intensity distribution of the excitation light irradiated by one or more lasers. However, this will usually be relatively expensive and it may not be possible to generate all the useful location-dependent cooling energy distributions. Based on the following figures, the example of the compensation of an astigmatic deformation explains how a compensating location-dependent cooling with the aid of inhomogeneously distributed doping atoms is possible.
Eine Besonderheit besteht darin, dass die im Basismaterial vorhandenen Dotieratome, die für die optische Kühlung genutzt werden, in zwei (bezogen auf die Elementachse
Eine erste Vorrichtung
Auch bei dieser Ausführungsform ist eine Verspiegelung
Für eine typische Anwendung eines EUV-Spiegels können beispielsweise folgende typischen Dimensionen gelten: Spiegeldurchmesser 20 cm; Mittenhöhe 5 cm; axialer Abstand der „Dotierebene” mit den ersten Dotieratome zur Reflexbeschichtung 5 mm; Abstand zwischen den Dotierebenen 5 mm. Der Begriff „Dotierebene” bezeichnet hierbei keine mathematischen Ebene, sondern einen schichtartigen ebenen Volumenteilbereich, der im Vergleich zu seiner lateralen Ausdehnung sehr flach ist. Die Dotierebenen können beispielsweise in vertikaler Richtung weniger als 1 mm dick sein, so dass Licht, welches in vertikaler Richtung ausgestrahlt wird, sie maximal zweimal durchläuft und so mit vernachlässigbarer Wahrscheinlichkeit absorbiert wird. Der Ringspiegel bzw. Spiegelring kann beispielsweise einen Abstand von 4 cm von der Seitenfläche des Substrats haben. Ein einziger Spiegelring kann beide Dotierbereiche abdecken. Es können jedoch auch zwei mit Abstand übereinander liegende Spiegelbänder vorgesehen sein, die beispielsweise jeweils 3 mm breit sein können. Zwar würde geometrisch optisch eine Breite in der Größenordnung von 1 mm genügen, aufgrund der Beugung ist aber eine größere Spiegelbreite vorteilhaft.For example, for a typical application of an EUV mirror, the following typical dimensions may apply: mirror diameter 20 cm; Center height 5 cm; axial distance of the "doping plane" with the first doping atoms to the reflective coating 5 mm; Distance between the doping planes 5 mm. The term "doping plane" does not refer to a mathematical plane, but to a layer-like, planar, voluminous part region which is very flat in comparison to its lateral extent. The doping planes may, for example, be less than 1 mm thick in the vertical direction, so that light emitted in the vertical direction passes through it a maximum of twice and is thus absorbed with negligible probability. The ring mirror or mirror ring may, for example, have a distance of 4 cm from the side surface of the substrate. A single mirror ring can cover both doping regions. However, it can also be provided with two spaced apart superimposed mirror bands, which may be, for example, each 3 mm wide. Although geometrically optically a width in the order of 1 mm would be sufficient, but due to the diffraction, a larger mirror width is advantageous.
Sowohl die ersten Dotieratome, als auch die zweiten Dotieratome sind in ihrem Volumenbereich bzw. ihrer Dotierebene nicht homogen, sondern inhomogen räumlich verteilt. Dabei unterscheidet sich die inhomogene erste Ortsverteilung der ersten Dotieratome
Die ersten Dotieratome
Die zweiten Dotieratome
In beiden Volumenbereichen kann die ortsabhängige Verteilungsdichte bzw. Konzentration der Dotieratome (z. B. Ytterbiumionen) somit mit einer Funktion beschrieben werden, die innerhalb der jeweils mit Dotieratomen versehenen dünnen Schichten eine Winkelabhängigkeit (in Umfangsrichtung) und eine radiale Abhängigkeit aufweisen. Für die oberen ersten Dotieratome sei die Funktion durch A·r2cos(2θ) gegeben. Für die unteren zweiten Dotieratome durch A·r2sin (2θ). Hierbei stellt r den normierten Radius dar, A ist die maximale Dichte bei Radius 1 und θ ist der Winkel in Azimutalrichtung. Die erste und die zweite Ortsverteilung haben somit in Bezug auf die Symmetrieachse
Wird nun einer dieser Volumenbereiche weitgehend homogen mit Anregungslicht bestrahlt, so ergibt sich eine von der Ortsverteilung der Dotieratome abhängige räumlich inhomogene Kühlleistung, die als astigmatische Kühlverteilung bezeichnet werden kann. Bei homogener Beleuchtung der ersten Dotieratome
Wird dagegen nur die untere, zweite Dotierebene bestrahlt, würde die Achse der Kühlgeometrie bei θ = 90° liegen. Durch Einstellung geeigneter Verhältnisse der Intensitäten des Anregungslichtes für die ersten und zweiten Dotieratome kann der effektive Kühlwinkel bzw. die Ausrichtung der Achse der Kühlgeometrie zwischen diesen Extremwerten stufenlos um die Symmetrieachse
Nach dem beispielhaft erläuterten Grundprinzip der Überlagerung der inhomogenen Kühlwirkung mehrerer Gruppen angeregter Dotieratome können auch andere charakteristische thermisch induzierte Deformationen korrigiert werden. Wenn sich beispielsweise durch die Bestrahlung mit Nutzlicht am optischen Element ein globaler Temperaturgradient ergibt, der quer über den ausgeleuchteten Bereich von einer zu anderen Seite der Elementachse verläuft, so können beispielsweise die erste Ortsverteilung und/oder die zweite Ortsverteilung in einer Richtung senkrecht zur Symmetrieachse einen Konzentrationsgradienten der Dotieratome aufweisen. Damit können charakteristische Deformationen vom Kipptyp (tilt) kompensiert werden. Entsprechend könnten auch andere einachsige Symmetriefehler korrigiert werden, beispielsweise komaartiger Fehler.According to the basic principle of the superposition of the inhomogeneous cooling effect of a plurality of groups of excited doping atoms, other characteristic thermally induced deformations can also be corrected. If, for example, the irradiation with useful light on the optical element yields a global temperature gradient that extends across the illuminated area from one side to the other of the element axis, the first spatial distribution and / or the second spatial distribution may, for example, be in a direction perpendicular to the axis of symmetry Have concentration gradient of the doping atoms. In this way, characteristic tilt-type deformations can be compensated. Correspondingly, other uniaxial symmetry errors could also be corrected, for example coma-type errors.
Im Folgenden werden einige, bei Ausführungsformen realisierte Maßnahmen erläutert, die dazu beitragen, die Effizienz der optischen Kühlung durch Steigerung der Fluoreszenzlichtauskopplung zu verbessern. Diese Maßnahmen können unabhängig von der Art des optisch kühlbaren Materials und/oder von der Verteilung von Dotieratomen innerhalb dieses Materials bei allen in dieser Anmeldung genannten optisch kühlbaren Materialien, aber auch bei anderen Materialien, z. B. den in der
Eine wichtige Rolle beim optischen Kühlen spielt der Austritt des Fluoreszenzlichtes aus dem Festkörper. Das in das Substrat eingestrahlte Anregungslicht sollte idealer Weise zu 100% vom Substratmaterial absorbiert werden. Dazu ist bei den Ausführungsformen eine für das Anregungslicht wirksame Verspiegelung vorgesehen, die in Bezug auf das optisch kühlbare Material derart angeordnet ist, dass das Anregungslicht vor Austritt aus dem Substrat durch die Verspiegelung mindestens einmal in den Bereich des optisch kühlbaren Materials zurückreflektiert wird. Diese Mehrfachreflexion ist in
Es wurde erkannt, dass die im Hinblick auf Steigerung der Absorptionsrate für das Anregungslicht vorteilhafte Verspiegelung im Hinblick auf die Reabsorptionswahrscheinlichkeit nachteilig sein kann. Da die Wellenlänge des Anregungslichts und des Fluoreszenzlichts einander sehr ähnlich sind, wirkt die Verspiegelung auch für das Fluoreszenzlicht reflektierend und kann den erwünschten Austritt des Fluoreszenzlichts blockieren.It has been recognized that the mirroring advantageous in terms of increasing the absorption rate for the excitation light may be disadvantageous in terms of the reabsorption probability. Since the wavelengths of the excitation light and the fluorescent light are very similar to each other, the reflective coating also has a reflective effect on the fluorescent light and can block the desired exit of the fluorescent light.
Eine erhebliche Verbesserung im Hinblick auf eine effizientere Fluoreszenzlichtauskopplung wird bei Ausführungsformen dadurch erreicht, dass zwischen dem optischen kühlbaren Material und der Verspiegelung ein von optisch kühlbarem Material freier Zwischenbereich bzw. ein Abstand liegt. Bei den Ausführungsformen besteht das optisch kühlbare Material aus dem für Anregungslicht transparenten Basismaterial, welches mit Seltenen Erden (SE) Atomen dotiert ist. Der genannte Zwischenbereich kann dann dadurch geschaffen werden, dass zwischen den einer Verspiegelungsfläche am nächsten liegenden Dotieratomen und der zugehörigen Verspiegelung ein geeigneter Mindestabstand ohne Dotieratome verbleibt.A significant improvement in terms of a more efficient extraction of fluorescent light is achieved in embodiments by the fact that between the optically coolable material and the mirroring is an intermediate region free of optically coolable material or a distance. In the embodiments, the optically coolable material is made of the excitation light transparent base material doped with rare earth (SE) atoms. The said intermediate region can then be created by leaving a suitable minimum distance without doping atoms between the doping atoms closest to a silvering surface and the associated silvering.
Wenn nämlich das Fluoreszenzlicht aus den im Zusammenhang mit
Eine Verspiegelung habe beispielsweise eine ebene, eindimensional oder zweidimensional gekrümmte Reflexionsfläche, die in einer in der Fläche liegenden Richtung eine Minimalausdehnung habe. Beispielsweise kann die Reflexionsfläche die Form eines flachen Zylindermantels haben, dessen Höhe der Minimalausdehnung entspricht. Bei manchen Ausführungsformen ist der Mindestabstand der Dotieratome von der Verspiegelung mindestens so groß wie die Minimalausdehnung der Verspiegelung. Der Mindestabstand kann z. B. mindestens doppelt so groß oder mindestens dreimal so groß oder mindestens viermal so groß sein wie die Minimalausdehnung. Ein Maximalabstand sollte nicht überschritten werden, damit die gewünschte Rückreflexionswirkung für das Anregungslicht gewährleistet bleibt. Je größerer der Abstand bzw. je breiter der Zwischenbereich ist, desto kleiner wird der durch die Verspiegelung blockierte Raumwinkelbereich, in dem keine unmittelbare und endgültige Fluoreszenzlichtauskopplung stattfinden kann.For example, a reflective coating has a flat, one-dimensionally or two-dimensionally curved reflection surface which has a minimum extent in a direction lying in the surface. For example, the reflection surface may have the shape of a flat cylinder jacket whose height corresponds to the minimum extent. In some embodiments, the minimum distance of the doping atoms from the silver coating is at least as great as the minimum extent of the silver coating. The minimum distance can z. B. at least twice as large or at least three times as large or at least four times as large as the minimum extent. A maximum distance should not be exceeded so that the desired back reflection effect for the excitation light remains ensured. The larger the distance or the wider the intermediate area, the smaller the solid angle area blocked by the mirroring, in which no immediate and final fluorescence light decoupling can take place.
Anhand der
Für das untere Dotieratom B sind ebenfalls ausgezeichnete Strahlen B1 bis B4 gezeigt. Die Strahlen B1 und B2 treffen auf die Verspiegelung
Bei den Ausführungsformen sind vor allem zwei Maßnahmen realisiert, die die Effizienz der Kühlung aufgrund der Fluoreszenzauskopplung im Vergleich zu Ausführungsformen erhöhen, bei denen die Dotieratome bis direkt zur Verspiegelung heranreichen.In the embodiments, in particular two measures are implemented, which increase the efficiency of the cooling due to the fluorescence decoupling in comparison to embodiments in which the doping atoms come close to directly to the mirroring.
Bei der Ausführungsform gemäß
Bei der Ausführungsform von
Bei der Ausführungsform von
Um die Wirksamkeit dieser Maßnahmen qualitativ zu ermitteln, wurde mit einer Simulation des geometrisch optischen Strahlverlaufs ermittelt, nach welcher Weglänge lF im Substratmaterial ein Strahl des Fluoreszenzlichts, der in eine beliebigen Richtung von einem Dotieratom emittiert wurde, mit einer vorgebbaren Wahrscheinlichkeit, z. B. 95%, den Festkörper verlassen hat. Dabei wurde von einer isotropen Emission ausgegangen. Es wurden Simulationen für viele Dotieratome mit unterschiedlichen Positionen relativ zu den Außenflächen des Substrats (unter Beachtung von Totalreflexion) und relativ zu einer an einer Seitenfläche vorhandenen Verspiegelung durchgeführt, um quantitativ zu erfassen, um wie viel schlechter Dotieratome in der Nähe der Verspiegelung das Fluoreszenzlicht im Vergleich zu weiter entfernten Dotieratomen auskoppeln können. Unter Verwendung von Daten für Materialeigenschaften, wie dem Absorptionskoeffizienten für die Fluoreszenzwellenlänge, wurde jeweils ein Schwellwert für die Weglänge lF ermittelt, nach der beispielsweise 95% der Strahlung den Festkörper verlassen haben müssen, damit noch ein Kühleffekt vorliegt. Damit wurden dann diejenigen Positionen für Dotieratome berechnet, die diese Bedingung nicht erfüllen. An diesen Orten sollte der Festkörper dann dotierungsfrei bleiben.In order to qualitatively determine the effectiveness of these measures, it was determined by a simulation of the geometric optical beam path, according to which path length l F in the substrate material a beam of the fluorescence light emitted in any direction by a doping atom, with a predetermined probability, for. B. 95%, the solid has left. It was assumed that an isotropic emission. Simulations were performed on many dopant atoms with different positions relative to the outer surfaces of the substrate (considering total reflection) and relative to a mirror coating present on a side surface to quantify how much inferior dopant atoms near the mirror image the fluorescent light in the Can decouple compared to more distant Dotieratomen. Using data for material properties such as the absorption coefficient for the wavelength of fluorescence, a threshold for the path l F was determined in each case, according to the example, 95% of the radiation must have left the solids so that a cooling effect is still present. Thus, those positions were calculated for dopant atoms that do not fulfill this condition. At these locations, the solid should then remain free of doping.
Bei einer Beispielsimulation wurde als Festkörper (Substrat) ein flacher Zylinder mit Radius 10 cm und Dicke 3 cm angenommen, dessen zylindrische Seitenfläche (Mantelfläche) und eine Deckfläche verspiegelt sind. Positionen für Dotieratome befinden sich in einer dünnen ebenen Schicht in der Mitte der Zylinderhöhe. Für den Absorptionskoeffizient der Reabsorption des Fluoreszenzlichts wurde angenommen, dass dieser so klein ist, dass 100 interne Pfade oder 99 interne Spiegelungen (entsprechend einer Weglänge von ungefähr 7 m) toleriert werden können, so dass noch effektiv gekühlt werden kann. Die Simulation zeigte, dass der Zylinder nur bis zu einer Zylinderradius von ca. 6,5 cm dotiert werden sollte, um ungünstige hohe Reabsorptionsraten zu vermeiden. Die radiale Breite des von optisch kühlbarem Material freien Zwischenbereiches beträgt in diesem Beispielsfall somit 35% des Radius des Zylinders.In an example simulation, a flat cylinder with a radius of 10 cm and a thickness of 3 cm was assumed as the solid (substrate), whose cylindrical side surface (lateral surface) and a top surface are mirrored. Positions for dopant atoms are in a thin planar layer in the Middle of the cylinder height. The absorption coefficient of the reabsorption of the fluorescent light was assumed to be so small that 100 internal paths or 99 internal reflections (corresponding to a path length of about 7 m) can be tolerated, so that it is still possible to effectively cool. The simulation showed that the cylinder should only be doped up to a cylinder radius of approx. 6.5 cm to avoid unfavorable high reabsorption rates. The radial width of the intermediate region which is free of optically coolable material is thus 35% of the radius of the cylinder in this example case.
Die Abschätzung des Extraktionskoeffizienten μe wurde durch Simulationen unterstützt. Ausgegangen wurde von einem Konkavspiegel ähnlich
Die Fluoreszenz der seltenen Erd-Dotieratome wurde ebenfalls simuliert. Wesentliche Ergebnisse können wie folgt zusammengefasst werden.The fluorescence of the rare earth dopant atoms was also simulated. Key results can be summarized as follows.
Für Dotieratome, die sich radial betrachtet im Zentrum der Dotierschicht befinden, zeigte sich qualitativ, dass der größte Teil der Strahlung (99.995%) nach spätestens 100 Reflexionen dem optischen Element entweichen kann. Für Dotieratome, die sich näher an der zylindrischen Seitenfläche befinden, fällt der Anteil der Fluroszenphotonen, der entweichen kann, zur Mantelfläche hin stark ab. Während noch 92,9% der Fluoreszenzstrahlung von Dotieratome, die sich 3 cm weit weg von der Mantelfläche befinden, nach spätestens 100 Reflexionen entweichen, sind es bei Dotieratomen, die sich nur 5 mm entfernt von der Mantelfläche befinden, nur noch 66.9% der Fluoreszenzphotonen.For doping atoms, which are located radially in the center of the doping layer, it was qualitatively shown that most of the radiation (99.995%) can escape the optical element after a maximum of 100 reflections. For dopant atoms, which are closer to the cylindrical side surface, the proportion of fluroszene photons, which can escape, falls sharply towards the lateral surface. While 92.9% of the fluorescence radiation of doping atoms located 3 cm away from the lateral surface escape after a maximum of 100 reflections, only 66.9% of the fluorescence photons are located at doping atoms which are only 5 mm away from the lateral surface ,
Diese simulierten Werte ergeben sich unter der Annahme verschwindender Absorption im Substratmaterial. Wird die Absorption im Substratmaterial mit berücksichtigt, ergeben sich leichte Veränderungen. Für einen Aborptionskoeffizienten von 0.005 cm–1 des Fluoreszenzlichts im Substratmaterial reduzieren sich die oben genannten Werte um den Faktor 0.995, für die Dotieratome aus dem Mittelbereich der Dotierschicht beispielsweise auf 99.49%.These simulated values are given assuming vanishing absorption in the substrate material. If the absorption in the substrate material is taken into account, slight changes occur. For an absorption coefficient of 0.005 cm -1 of the fluorescent light in the substrate material, the abovementioned values are reduced by the factor 0.995, for the doping atoms from the middle region of the doping layer, for example to 99.49%.
Die von der Lichtquelle
Einzelne Spiegel der Mikrolithograpie-Projektionsbelichtungsanlage, insbesondere mindestens ein Spiegel des Beleuchtungssystems
Kritische Komponenten sind insbesondere die Spiegel der Projektionsobjektiv
Die Erwärmung der Spiegel des Projektionsobjektives
Des Weiteren erfolgt die Erwärmung der Spiegel nicht immer homogen über die Spiegelfläche. So wird insbesondere der in Lichtrichtung zweite Spiegel M2 des Projektionsobjektives
Bei einem Dipol-Beleuchtungs-Setting ist die Ausleuchtung einer Pupillenebene durch zwei diametral gegenüberliegende, außerhalb der Referenzachse des optischen Systems liegende Intensitätsmaxima charakterisiert. Damit wird der in der Pupillenebene angeordnete Spiegel M2 durch Absorption in der Viellagen-Beschichtung hauptsächlich in zwei diametral gegenüberliegenden Bereichen erwärmt. Hierdurch kann sich eine astigmatische Deformation der Spiegeloberfläche ergeben, bei der die Orientierung der Verbindungslinie der besonders warmen Zonen von der Orientierung des Dipols abhängt. Die Wärmeverteilung kann daher im Wesentlichen eine 2-zählige Drehsymmetrie aufweisen.In a dipole illumination setting, the illumination of a pupil plane is characterized by two diametrically opposed intensity maxima lying outside the reference axis of the optical system. Thus, the mirror M2 arranged in the pupil plane is heated by absorption in the multilayer coating mainly in two diametrically opposite regions. This can result in an astigmatic deformation of the mirror surface, in which the orientation of the connecting line of the particularly warm zones depends on the orientation of the dipole. The heat distribution can therefore essentially have a 2-fold rotational symmetry.
Der Spiegel M2 kann prinzipiell ähnlich wie in
Stellt sich nach einem Wechsel des Beleuchtungs-Settings eine andere oder anders orientierte inhomogene Wärmebelastung der Spiegeloberfläche ein, so kann durch Änderung der Verhältnisse der Leistungen des Anregungslichts in den Volumenbereichen die Achse maximaler Kühlung im Substrat gedreht und der neuen Ausrichtung angepasst werden.If a different or differently oriented inhomogeneous heat load on the mirror surface occurs after a change in the illumination setting, the axis of maximum cooling in the substrate can be rotated in the substrate by changing the ratios of the powers of the excitation light in the volume regions and adapted to the new alignment.
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Zitierte PatentliteraturCited patent literature
- US 6781668 B2 [0007] US 6781668 B2 [0007]
- WO 2007051638 A1 [0008] WO 2007051638 A1 [0008]
- DE 102009028776 [0009, 0009, 0058, 0076, 0088] DE 102009028776 [0009, 0009, 0058, 0076, 0088]
- US 6378321 [0011] US 6378321 [0011]
- WO 2009/018558 [0011] WO 2009/018558 [0011]
- DE 102009028777 [0026] DE 102009028777 [0026]
- US 7003981 B2 [0071] US 7003981 B2 [0071]
Zitierte Nicht-PatentliteraturCited non-patent literature
- „Optical Refrigeration” von Mansoor Sheik-Bahae und Richard I. Epstein, erschienen in Nature Photonics, VOL 1, Dezember 2007 [0009] "Optical Refrigeration" by Mansoor Sheik-Bahae and Richard I. Epstein, published in Nature Photonics, VOL 1, December 2007 [0009]
- „Laser cooling of solids” von Mansoor Sheik-Bahae und Richard I. Epstein in: Laser & Photon. Rev. (2008) Seiten 1–18 [0009] "Laser cooling of solids" by Mansoor Sheik-Bahae and Richard I. Epstein in: Laser & Photon. Rev. (2008) pp. 1-18 [0009]
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Citations (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2000042683A1 (en) * | 1999-01-14 | 2000-07-20 | Thomson-Csf | High-performance laser cooling device |
US6378321B1 (en) | 2001-03-02 | 2002-04-30 | The Regents Of The University Of California | Semiconductor-based optical refrigerator |
US6781668B2 (en) | 1999-12-29 | 2004-08-24 | Carl-Zeiss-Stiftung | Optical arrangement |
US7003981B2 (en) | 2001-10-02 | 2006-02-28 | University Of Southhampton | Low phonon energy gain medium and related active devices |
WO2007051638A1 (en) | 2005-11-04 | 2007-05-10 | Carl Zeiss Laser Optics Gmbh | Optical component, inparticular collector for use in euv lithography |
WO2009018558A2 (en) | 2007-08-02 | 2009-02-05 | Cree, Inc. | Optoelectronic device with upconverting luminophoric medium |
DE102008023238A1 (en) * | 2008-05-10 | 2009-12-10 | Schott Ag | Apparatus and method for increasing the light transmittance of optical elements for light having wavelengths near the absorption edge |
DE102009029776B3 (en) * | 2009-06-18 | 2010-12-02 | Carl Zeiss Smt Ag | Optical element |
DE102009028777A1 (en) | 2009-08-21 | 2011-02-24 | BSH Bosch und Siemens Hausgeräte GmbH | Refrigeration device i.e. household refrigeration device, for cooling wine bottles, has closing unit provided in wireless signal connection with remote control device and activated for locking and unlocking door using control device |
DE102009028776A1 (en) | 2009-08-21 | 2011-02-24 | BSH Bosch und Siemens Hausgeräte GmbH | Water valve arrangement for controlling water inflow to e.g. water dispenser of household refrigerator, has water valves, where one valve formed as safety valve has outlet flange section connected with inlet flange sections of other valves |
-
2010
- 2010-09-28 DE DE201010047832 patent/DE102010047832A1/en not_active Withdrawn
Patent Citations (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2000042683A1 (en) * | 1999-01-14 | 2000-07-20 | Thomson-Csf | High-performance laser cooling device |
US6781668B2 (en) | 1999-12-29 | 2004-08-24 | Carl-Zeiss-Stiftung | Optical arrangement |
US6378321B1 (en) | 2001-03-02 | 2002-04-30 | The Regents Of The University Of California | Semiconductor-based optical refrigerator |
US7003981B2 (en) | 2001-10-02 | 2006-02-28 | University Of Southhampton | Low phonon energy gain medium and related active devices |
WO2007051638A1 (en) | 2005-11-04 | 2007-05-10 | Carl Zeiss Laser Optics Gmbh | Optical component, inparticular collector for use in euv lithography |
WO2009018558A2 (en) | 2007-08-02 | 2009-02-05 | Cree, Inc. | Optoelectronic device with upconverting luminophoric medium |
DE102008023238A1 (en) * | 2008-05-10 | 2009-12-10 | Schott Ag | Apparatus and method for increasing the light transmittance of optical elements for light having wavelengths near the absorption edge |
DE102009029776B3 (en) * | 2009-06-18 | 2010-12-02 | Carl Zeiss Smt Ag | Optical element |
DE102009028777A1 (en) | 2009-08-21 | 2011-02-24 | BSH Bosch und Siemens Hausgeräte GmbH | Refrigeration device i.e. household refrigeration device, for cooling wine bottles, has closing unit provided in wireless signal connection with remote control device and activated for locking and unlocking door using control device |
DE102009028776A1 (en) | 2009-08-21 | 2011-02-24 | BSH Bosch und Siemens Hausgeräte GmbH | Water valve arrangement for controlling water inflow to e.g. water dispenser of household refrigerator, has water valves, where one valve formed as safety valve has outlet flange section connected with inlet flange sections of other valves |
Non-Patent Citations (2)
Title |
---|
"Laser cooling of solids" von Mansoor Sheik-Bahae und Richard I. Epstein in: Laser & Photon. Rev. (2008) Seiten 1-18 |
"Optical Refrigeration" von Mansoor Sheik-Bahae und Richard I. Epstein, erschienen in Nature Photonics, VOL 1, Dezember 2007 |
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