DE102009059054A1 - Method for generating signature for e.g. banknote, involves scanning area of surface of article, receiving scanning signal, generating signature from received scanning signal, and storing signature in form for subsequent comparison purposes - Google Patents

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Christian 51373 Roth
Walter Dr. 52351 Speth
Simon 51105 Vougioukas
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Abstract

The method involves scanning a region (7) of a surface (1) of an article using a line-shaped beam profile (6) of a radiation source e.g. LED. A scanning signal representing a part of the surface structure within the region is received. A signature is generated from the received scanning signal. The signature is linked with the article. The signature is stored in a preset form in an electronic storage medium i.e. semiconductor memory, optical storage medium i.e. compact disk, a magnetic storage medium i.e. hard disk, or radio frequency identification chip, for subsequent comparison purposes. Independent claims are also included for the following: (1) a method for identifying and/or authenticating articles (2) a sensor for scanning a surface of articles.

Description

Gegenstand der vorliegenden Erfindung ist ein Verfahren zur Identifizierung und/oder Authentifizierung von Gegenständen anhand ihrer Oberflächenbeschaffenheit. Gegenstand der vorliegenden Erfindung ist ferner ein Sensor zur Abtastung einer Oberfläche.The subject matter of the present invention is a method for identifying and / or authenticating objects based on their surface condition. The subject of the present invention is also a sensor for scanning a surface.

Die Oberflächenbeschaffenheit von Objekten spielt bei vielen technischen Produkten und Verfahren eine wichtige Rolle, beispielsweise im Formenbau und bei technischen Gleit- oder Sichtflächen. Bei Papier ist die Oberflächenstruktur ein wichtiges Qualitätsmerkmal z. B. im Zusammenhang mit der Bedruckbarkeit.The surface quality of objects plays an important role in many technical products and processes, for example in mold making and in technical sliding or visible surfaces. For paper, the surface structure is an important quality feature z. B. in connection with the printability.

Dementsprechend gibt es eine Vielzahl an Messmethoden zur Ermittlung der Oberflächenstruktur und zur Ermittlung von charakteristischen Kennzahlen für die Oberflächenbeschaffenheit. Messmethoden, deren Ergebnis die Topographie der Oberfläche ist, werden auch als direkte Methoden bezeichnet. Die indirekten Methoden liefern charakteristische Kennzahlen wie z. B. für die Rauigkeit, ohne die tatsächliche Gestalt der Oberfläche selbst zu messen. Ein Beispiel einer indirekten Methode ist die Methode nach Bekk zur Bestimmung der Rauigkeit einer Papier- oder Kartonprobe durch Vermessen eines Luftstromes, der zwischen einer Blende und der Probenoberfläche strömt.Accordingly, there are a variety of measurement methods for determining the surface structure and for determining characteristic characteristics for the surface condition. Measurement methods, the result of which is the topography of the surface, are also referred to as direct methods. The indirect methods provide characteristic indicators such. For roughness, without measuring the actual shape of the surface itself. An example of an indirect method is the Bekk method of determining the roughness of a paper or board specimen by measuring an airflow passing between a shutter and the sample surface.

Bei den direkten Methoden können taktile und optische Verfahren unterschieden werden. Mit taktilen Verfahren werden Oberflächen mit mechanischen Tastern punktweise abgetastet. Die Tasterauslenkung wird elektronisch oder optoelektronisch gemessen. Das Ergebnis ist ein über dem Tastweg aufgezeichnetes Höhensignal, das so genannte Oberflächenprofil. Durch Abtasten eng aneinander liegender Oberflächenprofile erhält man die flächige Abtastung der Topographie. Ähnliche Verfahren, die berührungslos arbeiten, sind Rasterelektronen- oder Rasterkraftmikroskopie (im so genannten non-contact mode).In the direct methods tactile and optical methods can be distinguished. With tactile methods, surfaces are scanned point by point with mechanical probes. The probe deflection is measured electronically or opto-electronically. The result is a height signal recorded over the probe path, the so-called surface profile. By scanning closely adjacent surface profiles one obtains the surface scanning of the topography. Similar methods that operate without contact are scanning electron microscopy or atomic force microscopy (in the so-called non-contact mode).

Ein Beispiel eines optischen Verfahrens zur Topographiebestimmung ist die dynamische Laserfokussierung (siehe beispielsweise Wochenblatt für Papierfabrikation, ISSN0043-7131, 117. Jahrgang, April 1989, Nr. 7; Seiten 271 bis 274 ). Bei der dynamischen Laserfokussierung wird ein Laser mittels einer Linse auf die Oberfläche fokussiert. Die Linse kann mittels eines Stellmotors senkrecht zur Oberfläche (in z-Richtung) bewegt werden. Ein Sensor ermittelt die jeweilige z-Position der Linse in fokussierter Stellung und liefert somit die Topographieinformation während die Probe durch einen xy-Tisch unter der Linse horizontal bewegt wird.An example of an optical method for topography determination is dynamic laser focusing (see, for example, US Pat Wochenblatt für Papierfabrikation, ISSN0043-7131, Volume 117, April 1989, No. 7; Pages 271 to 274 ). In the case of dynamic laser focusing, a laser is focused onto the surface by means of a lens. The lens can be moved by means of a servomotor perpendicular to the surface (in the z-direction). A sensor detects the respective z-position of the lens in a focused position and thus provides the topography information while the sample is moved horizontally through an xy-table under the lens.

Weiterhin können topographische Informationen einer Oberfläche auch beispielsweise mit einem akustischen oder einem chromatische Nahfeldsensor, mit einem Wirbelstromsensor oder einem Phasen-Weißlichtinterferometer gewonnen werden.Furthermore, topographic information of a surface can also be obtained, for example, with an acoustic or a chromatic near field sensor, with an eddy current sensor or a phase white light interferometer.

Aus den ermittelten Topographien lassen sich wiederum Kennzahlen ermitteln wie beispielsweise der Mittenrauhwert Ra oder die Rauhtiefe Rz (siehe DIN EN ISO 4287:1998 ). Die genannten Kenngrößen werden an einer Einzelmessstrecke definiert und werden in der Regel als Mittelwerte aus mehreren Einzelmessstrecken berechnet. Für Rauheitskenngrößen sind fünf Einzelmessstrecken Standard ( DIN EN ISO 4288:1998 ).From the determined topographies, key figures can be determined such as, for example, the average roughness value R a or the roughness depth R z (see DIN EN ISO 4287: 1998 ). The parameters mentioned are defined on a single measuring section and are generally calculated as mean values from several individual measuring sections. For roughness parameters, five individual measuring sections are standard ( DIN EN ISO 4288: 1998 ).

Es ist demnach üblich, die mit direkten Methoden aufgenommenen Datenmengen zur Oberflächentopographie auf wenige Kennzahlen zu verdichten. Die Verdichtung der Datenmengen auf wenige Kennzahlen erlaubt eine Klassifizierung von Objekten. Durch die Verdichtung der Datenmengen auf wenige Kennzahlen geht jedoch die Individualität des einzelnen Objekts verloren, denn aus den Kennzahlen lässt sich nur auf Materialklassen schließen, nicht jedoch auf einzelne Objekte.It is therefore customary to compress the amounts of data recorded on surface topography by direct methods to a few key figures. The compression of the data sets to a few key figures allows a classification of objects. However, compressing the data volumes to a few key figures destroys the individuality of the individual object, because the key figures only allow to deduce material classes, but not individual objects.

Die Erfassung und Wiedererkennung von Objekten spielt jedoch beispielsweise bei der Produktverfolgung und im Zusammenhang mit Produktfälschungen eine wichtige Rolle.However, capturing and recognizing objects, for example, plays an important role in product tracking and counterfeiting.

Die automatisierte Erkennung von Objekten anhand von z. B. Strichcodes ist in diesem Zusammenhang allgemein bekannt. Strichcodes (Barcodes) sind auf Waren und/oder Verpackungen aufgebracht und erlauben eine maschinelle Identifizierung der Waren zur Ermittlung z. B. des Preises. Sie bieten jedoch keinen Fälschungsschutz, da sie sich leicht kopieren und auf andere Objekte übertragen lassen.The automated detection of objects based on z. B. Barcodes is well known in this context. Barcodes (barcodes) are applied to goods and / or packaging and allow a machine identification of the goods to determine z. B. the price. However, they do not provide protection against counterfeiting, as they are easy to copy and transfer to other objects.

Ausweise, Banknoten, Produkte etc. werden heute zur Fälschungssicherung mit Elementen versehen, die nur mit Spezialwissen und/oder hohem technischen Aufwand nachgemacht werden können. Solche Elemente werden hier als Sicherheitselemente bezeichnet. Die Echtheit eines Objekts kann anhand des Vorhandenseins eines oder mehrerer Sicherheitselemente überprüft werden.Badges, banknotes, products, etc. are now provided with counterfeit protection elements that can only be imitated with special knowledge and / or high technical effort. Such elements are referred to herein as security elements. The authenticity of an object can be verified by the presence of one or more security elements.

Optische Sicherheitselemente wie z. B. Wasserzeichen, Spezialtinten, Guilloche-Muster, Mikroschriften und Hologramme sind weltweit etabliert. Eine Übersicht über optische Sicherheitselemente, die insbesondere aber nicht ausschließlich für den Dokumentenschutz geeignet sind, gibt das folgende Buch: Rudolf L. van Renesse, Optical Document Security, Third Edition, Artech House Boston/London, 2005 (S. 63–259) .Optical security elements such. Watermarks, specialty inks, guilloche patterns, micro-typefaces and holograms are well established worldwide. An overview of optical security elements, which are particularly suitable but not exclusively for document protection, is the following book: Rudolf L. van Renesse, Optical Document Security, Third Edition, Artech House Boston / London, 2005 (pp. 63-259) ,

Ein Großteil der heutzutage kommerziell erhältlichen Sicherheitselemente erlaubt jedoch keine Individualisierung, d. h. viele Objekte tragen dasselbe Sicherheitselement. Die Objekte, die dasselbe Sicherheitselement tragen, lassen sich nicht anhand des Sicherheitselements unterscheiden. However, much of today's commercially available security elements do not allow individualization, ie many objects carry the same security element. The objects bearing the same security element can not be distinguished by the security element.

Oftmals ist es aber gewünscht, ein einzelnes Objekt aus einer Vielzahl vergleichbarer Objekte eindeutig und sicher identifizieren zu können. Das in PCT/EP/2009/002809 beschriebene Sicherheitselement ermöglicht eine Individualisierung einzelner Objekte und damit die sichere und eindeutige Identifizierung. Es wäre jedoch vorteilhaft, eine Identifizierung und/oder Authentifizierung eines Objekts auch ohne Hilfsmittel wie Sicherheitselemente vornehmen zu können.Often, however, it is desired to be able to unambiguously and reliably identify a single object from a multiplicity of comparable objects. This in PCT / EP / 2009/002809 described security element allows for individualization of individual objects and thus the secure and unambiguous identification. However, it would be advantageous to be able to identify and / or authenticate an object without aids such as security elements.

Nach dem Stand der Technik sind auch Verfahren zur Identifizierung und Authentifizierung bekannt, bei denen keine weiteren Merkmale als diejenigen verwendet werden, die das Objekt selbst bereitstellt.Also known in the art are methods of identification and authentication that do not use features other than those provided by the object itself.

In WO2005/088533(A1) ist beispielsweise ein Verfahren beschrieben, mit dem Gegenstände mittels kohärenter Strahlung identifiziert und authentifiziert werden können. Bei dem Verfahren wird kohärente Strahlung auf die Oberfläche des Gegenstands fokussiert und die Oberfläche abgetastet. Mittels Fotodetektoren wird die von der Oberfläche reflektierte Strahlung detektiert. Die erfasste reflektierte Strahlung stellt ein charakteristisches Reflexionsmuster dar, das für eine Vielzahl von unterschiedlichen Materialien einzigartig ist und sich nur sehr schwer nachahmen lässt, da es auf Zufälligkeiten bei der Herstellung und/oder Verarbeitung des Gegenstands zurückzuführen ist. Die charakteristischen Reflexionsmuster zu einzelnen Gegenständen werden in einer Datenbank gespeichert, um jeden Gegenstand zu einem späteren Zeitpunkt identifizieren und/oder authentifizieren zu können. Hierzu wird ein Gegenstand erneut vermessen und die charakteristischen Reflexionsmuster mit gespeicherten Referenzdaten verglichen.In WO2005 / 088533 (A1) For example, a method is described that allows objects to be identified and authenticated using coherent radiation. In the method, coherent radiation is focused on the surface of the article and the surface is scanned. Photodetectors detect the radiation reflected by the surface. The detected reflected radiation represents a characteristic reflection pattern that is unique to a variety of different materials and is difficult to imitate because of the randomness of manufacturing and / or processing of the article. The characteristic reflection patterns of individual objects are stored in a database in order to be able to identify and / or authenticate each object at a later time. For this purpose, an object is measured again and the characteristic reflection pattern compared with stored reference data.

In WO2005/088533(A1) wird ausgeführt, dass es sich bei dem erfassten Reflexionsmuster um eine Mischung aus Speckle-Muster und Streustrahlung handelt. Nachteilig an dem in WO2005/088533(A1) beschriebenen Verfahren ist, dass kohärente Strahlung verwendet werden muss. Dem Fachmann ist bekannt, dass Quellen für kohärente Strahlung deutlich teurer sind als nicht-kohärente Strahlenquellen.In WO2005 / 088533 (A1) it is stated that the detected reflection pattern is a mixture of speckle pattern and scattered radiation. A disadvantage of the in WO2005 / 088533 (A1) described method is that coherent radiation must be used. It is known to those skilled in the art that sources of coherent radiation are significantly more expensive than non-coherent sources of radiation.

Ferner ist das in WO2005/088533(A1) beschriebene Verfahren auf Gegenstände beschränkt, die durch Bestrahlung nicht beschädigt werden und die einen ausreichenden Teil der eingestrahlten Strahlung auch wieder reflektieren. Lichtempfindliche Gegenstände oder Gegenstände mit einem hohen Absorptionsvermögen für elektromagnetische Strahlung können nicht erfasst und später eindeutig erkannt werden.Furthermore, this is in WO2005 / 088533 (A1) described method limited to objects that are not damaged by irradiation and reflect a sufficient portion of the irradiated radiation again. Photosensitive articles or articles with a high electromagnetic radiation absorptivity can not be detected and later clearly detected.

Ausgehend vom beschriebenen Stand der Technik stellt sich damit die Aufgabe, ein Verfahren bereitzustellen, mit dem eine Vielzahl an unterschiedlichen Gegenständen identifiziert und/oder authentifiziert werden kann. Das gesuchte Verfahren soll die Unterscheidung von gleichartigen Gegenständen ermöglichen. Dabei soll das gesuchte Verfahren ohne teure Hilfsmittel, wie beispielsweise individualisierte Hologramme oder dergleichen auskommen, anhand derer eine Individualisierung von gleichartigen Gegenständen nach dem Stand der Technik erfolgt. Das gesuchte Verfahren sollte kostengünstig sein, intuitiv und einfach auszuführen sein, flexibel einsetzbar und erweiterbar sein, reproduzierbare und übertragbare Ergebnisse liefern sowie serientauglich sein.On the basis of the prior art described, the task thus arises of providing a method with which a multiplicity of different objects can be identified and / or authenticated. The sought process should allow the distinction of similar objects. In this case, the process sought to get along without expensive tools, such as individualized holograms or the like, based on which an individualization of similar objects according to the prior art. The process sought should be cost-effective, intuitive and easy to implement, flexible in use and extensible, deliver reproducible and transferable results, and be ready for mass production.

Überraschend wurde gefunden, dass Gegenstände anhand ihrer Oberflächenbeschaffenheit identifiziert und authentifiziert werden können. Dabei verfügt die Oberfläche von Gegenständen über individuelle Merkmale, die für den jeweiligen Gegenstand charakteristisch sind. Diese Merkmale erlauben die Unterscheidung von gleichartigen Gegenständen.Surprisingly, it has been found that objects can be identified and authenticated on the basis of their surface condition. The surface of objects has individual characteristics which are characteristic of the respective object. These features allow the distinction of similar objects.

Unter gleichartigen Gegenständen werden solche Gegenstände verstanden, die augenscheinlich gleich, aber nicht identisch sind, wie z. B. die einzelnen Blätter eines Stapels Papier oder einzelne Bauteile aus einer Serienfertigung.Under similar objects such objects are understood that are apparently the same, but not identical, such. As the individual sheets of a pile of paper or individual components from a mass production.

Die individuelle Oberflächenbeschaffenheit ist dabei überraschenderweise nicht auf Typen von Gegenständen oder Materialien beschränkt, sondern gilt prinzipiell für alle Gegenstände. So kann man überraschenderweise selbst bei polierten Spiegeln, bei denen man von einer glatten Oberfläche ohne nennenswerte Oberflächenstruktur sprechen würde, im atomaren Bereich eine individuelle Oberflächenbeschaffenheit ausmachen.The individual surface finish is surprisingly not limited to types of objects or materials, but applies in principle to all objects. Surprisingly, even with polished mirrors, where one would speak of a smooth surface without any appreciable surface structure, one can at the atomic level make up an individual surface finish.

Überraschend wurde gefunden, dass die Oberflächenbeschaffenheit von vielen Gegenständen so robust ist, dass sie auch nach längerer Zeit noch weitestgehend unverändert ist, sodass sie zur Identifizierung und/oder Authentifizierung des jeweiligen Gegenstandes herangezogen werden kann. Da sich die Oberflächenbeschaffenheit durch eine Vielzahl unterschiedlicher Messmethoden bestimmen lässt, können verschiedene Typen von Gegenständen sicher identifiziert und/oder authentifiziert werden. Sollte ein Gegenstand lichtempfindlich sein, so könnte die Ermittlung der Oberflächenbeschaffenheit mit einem taktilen Verfahren erfolge. Sollte ein Gegenstand druckempfindlich sein, so könnte die Ermittlung der Oberflächenbeschaffenheit berührungslos z. B. mittels eines optischen Verfahren erfolgen.Surprisingly, it has been found that the surface texture of many objects is so robust that it is largely unchanged even after a relatively long time, so that it can be used to identify and / or authenticate the respective article. Since the surface texture can be determined by a variety of different measurement methods, different types of objects can be safely identified and / or authenticated. Should an object be sensitive to light, the determination of the surface condition could be carried out by a tactile method. If an item is sensitive to pressure, the Determination of the surface condition contactless z. B. by means of an optical process.

Unter einem Gegenstand wird jeder feste Körper verstanden. Die Oberfläche des Körpers trennt ihn vom umgebenden Medium (meistens Luft).An object is understood to mean any solid body. The surface of the body separates it from the surrounding medium (mostly air).

Unter Oberflächenbeschaffenheit wird die dreidimensionale Struktur der Oberfläche eines Gegenstands (Topographie) verstanden. Die Begriffe Oberflächenbeschaffenheit und Topographie werden hier synonym verwendet. Ein Oberflächenprofil ist das Profil, das sich durch den (gedachten) Schnitt einer Oberfläche eines Gegenstands mit einer vorgegebenen Ebene ergibt (siehe z. B. DIN EN ISO 4287:1998 , Bild 2). Topographie und Oberflächenprofil werden zusammen als Oberflächenstruktur bezeichnet.Surface texture is the three-dimensional structure of the surface of an object (topography). The terms surface texture and topography are used synonymously here. A surface profile is the profile that results from the (imaginary) intersection of a surface of an object with a given plane (see, for example, FIG. DIN EN ISO 4287: 1998 , Picture 2). Topography and surface profile are collectively referred to as surface structure.

Unter Identifizierung wird ein Vorgang verstanden, der zum eindeutigen Erkennen eines Gegenstandes dient.Identification is understood to mean a process that serves to uniquely recognize an object.

Unter Authentifizierung wird der Vorgang der Überprüfung (Verifikation) einer behaupteten Identität verstanden. Die Authentifizierung von Gegenständen ist die Feststellung, dass diese authentisch sind – es sich also um unveränderte, nicht kopierte und/oder nicht gefälschte Originale handelt.Authentication is the process of verifying (verifying) an alleged identity. The authentication of objects is the statement that they are authentic - that is, they are unchanged, not copied and / or not faked originals.

Verfahren zur Erzeugung einer Signatur eines GegenstandesMethod for generating a signature of an object

Ein erster Gegenstand der vorliegenden Erfindung ist ein Verfahren zur Erzeugung einer Signatur eines Gegenstandes.A first subject of the present invention is a method for generating a signature of an article.

Das erfindungsgemäße Verfahren zur Erzeugung einer Signatur eines Gegenstandes umfasst mindestens die folgenden Schritte.

  • A1: Abtastung eines ersten Bereichs einer Oberfläche des Gegenstandes und Aufnahme eines Abtastsignals, das zumindest einen Teil der Oberflächenstruktur innerhalb dieses ersten Bereichs repräsentiert,
  • A2: Generierung einer Signatur aus dem in Schritt A1 ermittelten Abtastsignal,
  • A3: Verknüpfung der Signatur mit dem Gegenstand,
  • A4: Speicherung der Signatur in einer Form, in der sie für spätere Vergleichszwecke verfügbar ist.
The inventive method for generating a signature of an article comprises at least the following steps.
  • A1: scanning a first area of a surface of the object and picking up a scanning signal representing at least a part of the surface structure within this first area,
  • A2: generation of a signature from the scanning signal determined in step A1,
  • A3: linking the signature with the object,
  • A4: storage of the signature in a form in which it is available for later comparison purposes.

Die Signatur ist eine speicherbare Information über einen Gegenstand. Sie enthält Informationen zu charakteristischen Merkmalen des Gegenstands. Dabei resultieren die charakteristischen Merkmale aus der einzigartigen Oberflächenbeschaffenheit des jeweiligen Gegenstands.The signature is a storable information about an object. It contains information about characteristic features of the object. The characteristic features result from the unique surface texture of the respective object.

Die Abtastung eines ersten Bereichs einer Oberfläche eines Gegenstands gemäß Schritt A1 kann mit einem beliebigen Verfahren durchgeführt werden, mit dem eine Oberflächenstruktur eines Gegenstands ermittelt werden kann, z. B. mit einem taktilen oder optischen Verfahren. Hier sind bereits kommerzielle Geräte auf dem Markt, die verwendet werden können. Bevorzugt werden Verfahren eingesetzt, die eine Oberflächenstruktur berührungslos erfassen. Besonders bevorzugt werden optische Methoden eingesetzt.The scanning of a first area of a surface of an object according to step A1 can be performed by any method with which a surface structure of an object can be determined, e.g. B. with a tactile or optical method. There are already commercial devices on the market that can be used. Preferably, methods are used which detect a surface structure without contact. Particular preference is given to using optical methods.

Das Ergebnis der Abtastung ist ein Abtastsignal, das die Oberflächenstruktur innerhalb des ersten Bereichs repräsentiert.The result of the scan is a scan signal representing the surface texture within the first region.

Die Abtastung kann entlang einer Linie erfolgen. In diesem Fall lässt sich aus dem Abtastsignal ein Oberflächenprofil ableiten. Ebenso ist es denkbar, eine Abtastung mäanderförmig oder entlang mehrerer, vorzugsweise parallel zueinander verlaufender Linien vorzunehmen. Die parallel verlaufenden Linien sind vorzugsweise so eng aneinanderliegend, das sich aus den Abtastsignalen eine Oberflächentopographie ableiten lässt. Dies ist beispielhaft in den , und der folgenden Veröffentlichung gezeigt: Wochenblatt für Papierfabrikation, ISSN0043-7131, 117. Jahrgang, April 1989, Nr. 7; Seiten 271 bis 274 . Jedes einzelne Oberflächenprofil, das sich aus der Abtastung entlang einer einzigen Linie ergibt, ist für sich einzigartig. Benachbarte Oberflächenprofile weisen jedoch Ähnlichkeiten auf. Es sind also kontinuierliche Übergänge von einem Oberflächenprofil zu einem benachbarten Oberflächenprofil zu erkennen. Die einzelnen Linien, entlang derer eine Abtastung erfolgt, sollten demnach so nahe beieinander liegen, dass ein solcher kontinuierlicher Übergang erkennbar ist. Damit ist es möglich, die Bereiche zwischen benachbarten Oberflächenprofilen zu interpolieren und so die gesamte Topographie aus den einzelnen abgetasteten Linienbereichen zu approximieren.The scanning can be done along a line. In this case, a surface profile can be derived from the scanning signal. Likewise, it is conceivable to make a scan meander-shaped or along several lines, preferably parallel to one another. The parallel lines are preferably so close to each other that can derive from the scanning signals a surface topography. This is exemplary in the . and shown in the following publication: Wochenblatt für Papierfabrikation, ISSN0043-7131, Volume 117, April 1989, No. 7; Pages 271 to 274 , Every single surface profile that results from scanning along a single line is unique in itself. However, adjacent surface profiles have similarities. Thus, there are continuous transitions from a surface profile to an adjacent surface profile. The individual lines along which a scan takes place should therefore be so close together that such a continuous transition is recognizable. This makes it possible to interpolate the areas between adjacent surface profiles and thus to approximate the entire topography from the individual scanned line areas.

Das Abtastsignal, das bei der Abtastung aufgenommen wird, ist von der verwendeten Messmethode abhängig. Dies soll an zwei Beispielen erläutert werden.

  • I. Es ist möglich, die Oberflächenstruktur durch punktweises Abtasten der Oberfläche mit einem mechanischen Taster zu ermitteln. Denkbar ist, dass der Taster auf die Oberfläche zubewegt wird, bis er diese berührt. In dem Punkt, wo der Taster die Oberfläche berührt, tritt ein Widerstand auf. Es müsste eine erhöhte Kraft angewendet werden, um den Taster in die vorher eingeschlagene Richtung weiterzubewegen (die Oberfläche steht dem Taster im Weg). Diese Weglänge bis zum Auftreten des Widerstands wird registriert und der Taster wird in seine Ausgangsposition zurückbewegt. Im nächsten Schritt wird der Taster oder der Gegenstand ein Stück zur Seite bewegt (senkrecht zur Richtung, in die der Taster auf den Gegenstand zubewegt wurde) und der Taster wird erneut auf die Oberfläche zubewegt. Auf diese Weise wird Punkt für Punkt die Weglänge ermittelt, bis jeweils ein Widerstand auftritt. Das Abtastsignal umfasst in diesem Fall Werte für die Weglänge als Funktion des Ortes. Hieraus lässt sich in einfacher Weise eine Oberflächenstruktur (Oberflächenprofil oder Topographie) ableiten.
  • II. Es ist auch möglich, die Oberfläche mit Hilfe eines fokussierten Laserstrahls abzutasten. Der Laserstrahl wird mittels einer Linse auf die Oberfläche fokussiert. Die Linse kann mittels eines Stellmotors senkrecht zur Oberfläche (in z-Richtung) bewegt werden. Ein Sensor ermittelt die jeweilige z-Position der Linse in fokussierter Stellung und liefert somit die Topographieinformation während die Probe durch einen xy-Tisch unter der Linse bewegt wird. Üblicherweise ist der Sensor getaktet, d. h. er nimmt mit einer konstanten Frequenz Messsignale auf. Das Abtastsignal umfasst in diesem Fall die z-Position der Linse als Funktion der Zeit (Messfrequenz). Führt der xy-Tisch eine gleichförmige Bewegung mit einer konstanten Geschwindigkeit aus, so legt er in der Zeit zwischen der Aufnahme von zwei Messwerten immer denselben Weg zurück. Es liegt also eine bekannte Korrelation zwischen der Zeit und dem Ort vor, so dass sich auch hier aus dem Abtastsignal in einer einfacher Weise die Topographie der Oberfläche ermitteln lässt. Erfolgt die Aufnahme von Messwerten taktweise mit einer gleichbleibenden Frequenz und wird eine Bewegung zwischen Abtastvorrichtung und Gegenstand vorgenommen, die nicht gleichförmig ist, so kann auch ein mechanischer Kodierer (Encoder) verwendet werden, mit dem die Zeitinformation in eine Ortsinformation transformiert werden kann. Solche Encoder sind insbesondere bei optischen Messmethoden hinreichend bekannt. Auch das in WO2005/088533(A1) beschriebene Verfahren setzt einen Encoder zur Korrelation der Zeit- mit der Ortsinformation ein (siehe dort).
The sampling signal recorded during sampling depends on the measurement method used. This will be explained with two examples.
  • I. It is possible to determine the surface structure by scanning the surface point by point with a mechanical probe. It is conceivable that the button is moved to the surface until it touches them. At the point where the button touches the surface, a resistance occurs. An increased force would have to be applied to move the button in the previously chosen direction (the surface is in the way of the button). This path length until the resistance occurs is registered and the button is moved back to its original position. In the next step, the button or the Move the object sideways (perpendicular to the direction the button was moved towards the object) and the button will move to the surface again. In this way, the path length is determined point by point until a resistance occurs in each case. The sample signal in this case includes values for the path length as a function of the location. From this, a surface structure (surface profile or topography) can be derived in a simple manner.
  • II. It is also possible to scan the surface by means of a focused laser beam. The laser beam is focused on the surface by means of a lens. The lens can be moved by means of a servomotor perpendicular to the surface (in the z-direction). A sensor detects the respective z-position of the lens in a focused position and thus provides the topography information while the sample is moved through an xy-table under the lens. The sensor is usually clocked, ie it picks up measurement signals at a constant frequency. The scanning signal in this case comprises the z position of the lens as a function of time (measuring frequency). If the xy table performs a uniform motion at a constant speed, it will always travel the same way between taking two readings. Thus, there is a known correlation between the time and the location, so that the topography of the surface can also be determined here from the scanning signal in a simple manner. If the recording of measured values takes place cyclically with a constant frequency and if a movement between scanning device and object is made which is not uniform, then a mechanical encoder (encoder) can also be used, with which the time information can be transformed into a location information. Such encoders are well known, in particular in optical measurement methods. Also in WO2005 / 088533 (A1) described method uses an encoder to correlate the time with the location information (see there).

In Schritt A2 des erfindungsgemäßen Verfahrens wird aus dem Abtastsignal eine Signatur erstellt. Die Signatur wird erfindungsgemäß dazu verwendet, den Gegenstand zu einem späteren Zeitpunkt zu identifizieren und/oder zu authentifizieren. Von jedem Gegenstand, der zu einem späteren Zeitpunkt identifiziert und/oder authentifiziert werden soll, muss also zunächst eine Signatur erstellt werden. Dieser Prozess, bei dem die Signatur eines Gegenstands zum ersten Mal ermittelt wird, wird hier auch als Ersterfassung oder Registrierung bezeichnet. Liegt die Signatur von einem Gegenstand vor, kann diese gespeichert werden. Zu einem späteren Zeitpunkt, an dem der Gegenstand erneut erfasst wird, d. h. seine Signatur erneut ermittelt wird, kann die gespeicherte Signatur als Referenz zu Vergleichszwecken eingesetzt werden.In step A2 of the method according to the invention, a signature is created from the scanning signal. The signature is used according to the invention to identify the object at a later time and / or to authenticate. For each item to be identified and / or authenticated at a later time, a signature must first be created. This process, in which the signature of an item is first determined, is also referred to herein as initial capture or registration. If the signature of an item is present, it can be saved. At a later date, when the item is recaptured, d. H. its signature is determined again, the stored signature can be used as a reference for comparison purposes.

Die Signatur ist also eine speicherbare und maschinell verarbeitbare Information, die aus dem Abtastsignal gewonnen und zum Zweck der Identifizierung und/oder Authentifizierung eingesetzt werden kann. Unter speicherbar wird verstanden, dass die Signatur zu einem späteren Zeitpunkt zum Beispiel für Vergleichszwecke wieder aufgegriffen werden kann. Unter maschineller Verarbeitung wird verstanden, dass die Signatur maschinell gelesen und mit einer Maschine verschiedenen Rechen- und/oder Speicheroperationen unterzogen werden kann.The signature is thus a storable and machine processable information that can be obtained from the scanning signal and used for the purpose of identification and / or authentication. The term "storable" is understood to mean that the signature can be picked up again at a later time, for example for comparison purposes. Machine processing is understood to mean that the signature can be machine read and subjected to various computational and / or memory operations with a machine.

Die Signatur enthält Informationen zu Merkmalen, die einen Gegenstand eindeutig kennzeichnen. Die Signatur kann das Abtastsignal selbst sein. Die Signatur kann auch eine Oberflächentopographie sein, die aus dem Abtastsignal abgeleitet worden ist, d. h. eine Ansammlung von Höheninformationen eines Oberflächenbereichs als Funktion der jeweiligen Oberflächenorte. Ebenso ist es denkbar, dass eine Signatur ein Oberflächenprofil gemäß der Definition aus DIN EN ISO 4287:1998 ist.The signature contains information about features that uniquely identify an item. The signature may be the scanning signal itself. The signature may also be a surface topography derived from the scanning signal, ie, a collection of height information of a surface area as a function of the respective surface locations. It is also conceivable for a signature to have a surface profile as defined DIN EN ISO 4287: 1998 is.

In der Regel wird die Signatur aus dem Abtastsignal durch verschiedene mathematische Methoden wie Filterung und/oder Untergrundabzug erzeugt. Durch diese mathematischen Methoden werden zufällige oder systematische Schwankungen, die aus Einzelmessungen resultieren, weitestgehend eliminiert. Bei papierartigen Objekten kann z. B. eine Welligkeit in einem Oberflächenprofil auftreten, die aufgrund von Benutzung des Objekts entstanden ist. Diese kann bei einer Identifizierung und/oder Authentifizierung störend sein, da sie erst im Verlauf der Zeit entstanden und somit nicht in der ursprünglichen Signatur enthalten ist. Eine solche Welligkeit kann durch geeignete Filter aus dem Abtastsignal herausgerechnet (eliminiert) werden (siehe z. B. aus DIN EN ISO 4287:1998 ).As a rule, the signature is generated from the scanning signal by various mathematical methods such as filtering and / or background subtraction. These mathematical methods eliminate as far as possible random or systematic fluctuations resulting from individual measurements. For paper-like objects z. B. a ripple in a surface profile occur, which has arisen due to use of the object. This can be annoying in an identification and / or authentication, since it emerged only in the course of time and thus is not included in the original signature. Such a ripple can be eliminated (eliminated) by suitable filters from the sampling signal (see eg DIN EN ISO 4287: 1998 ).

Ebenso ist es denkbar, das Abtastsignal oder ein gefiltertes Abtastsignal einer mathematischen Transformation zu unterziehen, um einen Datensatz zu generieren, der sich besser zum Zweck der Identifizierung und/oder Authentifizierung eignet, als das Abtastsignal oder ein gefiltertes Abtastsignal selbst. Als Beispiel einer solchen Transformation sei eine Fourier-Transformation genannt, die eine ortsunabhängige Darstellung des Abtastsignals erzeugt.It is also conceivable to mathematically transform the sample signal or a filtered sample signal to generate a data set that is better suited for identification and / or authentication purposes than the sample signal or a filtered sample signal itself. As an example of such a transformation Let us call a Fourier transformation which generates a location-independent representation of the scanning signal.

Weiterhin ist es denkbar, charakteristische Muster aus dem Abtastsignal zu extrahieren und diese extrahierten Daten als Signatur einzusetzen (Datenreduktion).Furthermore, it is conceivable to extract characteristic patterns from the scanning signal and to use these extracted data as a signature (data reduction).

In Schritt A3 des erfindungsgemäßen Verfahrens zur Erzeugung einer Signatur wird die Signatur mit dem Gegenstand verknüpft. Diese Verknüpfung kann physikalisch oder virtuell erfolgen. Bei einer physikalischen Verknüpfung kann die Signatur beispielsweise in Form eines optischen Codes (Barcode, Matrixcode, OCR-Text oder dergleichen) auf den Gegenstand aufgedruckt oder in den Gegenstand eingeritzt werden. Ebenso ist es denkbar, den Gegenstand mit einem Aufkleber, der die Signatur gespeichert enthält, zu verknüpfen Auch die Anbringung eines elektronischen Datenträgers wie beispielsweise eines RFID-Chips, auf dem die Signatur gespeichert ist, an den Gegenstand ist denkbar.In step A3 of the method according to the invention for generating a signature, the Signature linked to the item. This linkage can be physical or virtual. In the case of a physical link, the signature can be printed on the object or scratched into the object, for example in the form of an optical code (barcode, matrix code, OCR text or the like). Likewise, it is conceivable to associate the object with a sticker which contains the signature stored. The attachment of an electronic data carrier such as an RFID chip, on which the signature is stored, to the object is also conceivable.

Bei einer virtuellen Verknüpfung wird beispielsweise eine eindeutige Nummer, die dem jeweiligen Gegenstand zugeordnet ist (ID-Nummer, Chargen-Nummer oder dergleichen) in einer Datenbank mit der Signatur verknüpft. Die Signatur kann beispielsweise diese Nummer in einem so genannten Header (Metadaten am Anfang einer Datei) enthalten. Die Verknüpfung sorgt dafür, dass eine klare und eindeutige Zuordnung zwischen Signatur und Gegenstand besteht. Anhand der Signatur lässt sich eindeutig auf den zugehörigen Gegenstand schließen.In the case of a virtual link, for example, a unique number assigned to the respective object (ID number, batch number or the like) is linked to the signature in a database. For example, the signature may contain this number in a header (metadata at the beginning of a file). The link ensures that there is a clear and unambiguous association between the signature and the object. The signature clearly indicates the associated item.

In Schritt A4 des erfindungsgemäßen Verfahren erfolgt die Speicherung der Signatur in einer Form, in der sie für spätere Vergleichszwecke verfügbar ist.In step A4 of the method according to the invention, the signature is stored in a form in which it is available for later comparison purposes.

Die Speicherung kann beispielsweise auf einem elektronischen Speichermedium (Halbleiterspeicher), einem optischen Speichermedium (z. B. Compact Disk), einem magnetischen Speichermedium (z. B. Festplatte) oder einem anderen Medium zur Speicherung von Informationen erfolgen. Denkbar ist auch die Ablage der Signatur als optischer Code (Barcode, Matrixcode) auf einem Papier oder dem Gegenstand selbst oder als Hologramm.The storage can take place, for example, on an electronic storage medium (semiconductor memory), an optical storage medium (eg compact disk), a magnetic storage medium (eg hard disk) or another medium for storing information. It is also conceivable to store the signature as an optical code (barcode, matrix code) on a paper or the object itself or as a hologram.

Nachdem die Signatur erstmalig generiert und gespeichert ist, ist der jeweilige Gegenstand registriert und kann zu einem späteren Zeitpunkt anhand seiner Signatur identifiziert und/oder authentifiziert werden. Die gespeicherte Signatur wird hier auch als Referenzsignatur bezeichnet.After the signature has been generated and stored for the first time, the respective object is registered and can be identified and / or authenticated at a later time on the basis of its signature. The stored signature is also referred to here as a reference signature.

Verfahren zur Identifizierung und/oder Authentifizierung eines GegenstandsMethod for identifying and / or authenticating an item

Ein zweiter Gegenstand der vorliegenden Erfindung ist ein Verfahren zur Identifizierung und/oder Authentifizierung eines Gegenstands mindestens umfassend die folgenden Schritte:

  • B1: Abtastung eines zweiten Bereichs einer Oberfläche des Gegenstandes und Aufnahme eines Abtastsignals, das zumindest einen Teil der Oberflächenstruktur innerhalb dieses zweiten Bereichs repräsentiert,
  • B2: Generierung einer Signatur aus dem in Schritt B1 ermittelten Abtastsignal,
  • B3: Vergleich der im Schritt B2 ermittelten Signatur mit mindestens einer Referenzsignatur,
  • B4: Generierung einer Mitteilung über die Identität und/oder Authentizität des Gegenstands in Abhängigkeit des Ergebnisses des Vergleichs in Schritt B3.
A second subject of the present invention is a method for identifying and / or authenticating an article, at least comprising the following steps:
  • B1: scanning a second area of a surface of the object and picking up a scanning signal representing at least a part of the surface structure within this second area,
  • B2: generation of a signature from the sampling signal determined in step B1,
  • B3: comparison of the signature determined in step B2 with at least one reference signature,
  • B4: generation of a notification of the identity and / or authenticity of the object depending on the result of the comparison in step B3.

Das erfindungsgemäße Verfahren zur Identifizierung und/oder Authentifizierung eines Gegenstands ist zeitlich dem erfindungsgemäßen Verfahren zur Erzeugung einer Signatur nachgelagert.The method according to the invention for identifying and / or authenticating an object is temporally downstream of the inventive method for generating a signature.

Für die Schritte B1 und B2 gilt das bei den Schritten A1 und A2 jeweils beschriebene, d. h. diese Schritte erfolgen weitestgehend in derselben Weise.For steps B1 and B2, the steps described at steps A1 and A2 respectively, d. H. These steps are largely done in the same way.

In Schritt A1 ist allerdings ein erster Bereich einer Oberfläche genannt während in Schritt B1 ein zweiter Bereich einer Oberfläche genannt ist.In step A1, however, a first area is called a surface while in step B1 a second area of a surface is called.

Damit eine spätere Identifizierung und/oder Authentifizierung überhaupt möglich ist, muss der Bereich, der bei der Identifizierung und/oder Authentifizierung abgetastet wird (der zweite Bereich) zumindest teilweise mit dem Bereich überlappen, der bei der Ersterfassung abgetastet worden ist (der erste Bereich). Je größer die Überlappung ist, desto höher ist die Sicherheit, mit der ein Gegenstand identifiziert und/oder authentifiziert werden kann.In order for subsequent identification and / or authentication to be possible at all, the area which is scanned in the identification and / or authentication (the second area) must at least partially overlap with the area which was scanned during the initial detection (the first area). , The greater the overlap, the higher the security with which an item can be identified and / or authenticated.

In einer bevorzugten Ausführungsform des erfindungsgemäßen Verfahren sind der erste Bereich (aus Schritt A1) und der zweite Bereich (aus Schritt B1) identisch oder zumindest weitgehend identisch. Unter „weitgehend identisch” wird verstanden, dass bei einer späteren Abtastung der Oberfläche versucht wird, denselben Bereich abzutasten, der auch bei der Ersterfassung abgetastet worden ist. Im Idealfall sind der erste und der zweite Bereich also identisch – aber in der Praxis kann es Schwierigkeiten bereiten, den Bereich der Ersterfassung bei einer späteren Erfassung exakt wiederzufinden oder exakt zu „treffen”. Dies ist eine Frage der Positioniergenauigkeit: wie genau gelingt es, einen Gegenstand gegenüber einer Vorrichtung zur Abtastung der Oberfläche des Gegenstands zu positionieren, so dass ein definierter Bereich der Oberfläche abgetastet werden kann?In a preferred embodiment of the method according to the invention, the first region (from step A1) and the second region (from step B1) are identical or at least substantially identical. By "substantially identical" is meant that in a later scan of the surface it is attempted to scan the same area as was sampled during the initial detection. In the ideal case, the first and the second area are therefore identical - but in practice, it can be difficult to exactly find the area of the initial detection in a later acquisition or exactly "hit". This is a question of positioning accuracy: how exactly is it possible to position an object with respect to a device for scanning the surface of the object so that a defined area of the surface can be scanned?

Eine Möglichkeit, die Anforderungen an die Positioniergenauigkeit zu vermindern, besteht darin, den Bereich zur Abtastung möglichst groß zu wählen. Beträgt die absolute Genauigkeit der Positionierung beispielsweise ±1 mm in einer Richtung und hat der Bereich in dieser Richtung eine Ausdehnung von 1 mm, so ist die Genauigkeit, mit der positioniert werden kann, unzureichend; es besteht die Gefahr, das der erste Bereich und der zweite Bereich überhaupt nicht übereinstimmen. Beträgt die Ausdehnung des Bereichs in der genannten Richtung jedoch 10 mm, so ist eine hinreichend genaue Positionierung sehr wahrscheinlich gegeben; erster Bereich und zweiter Bereich weichen in der genannten Richtung um maximal 10% voneinander ab.One way to reduce the positioning accuracy requirements is to maximize the range for scanning. For example, if the absolute accuracy of the positioning is ± 1 mm in one direction and the area in that direction is 1 mm, the accuracy with which it can be positioned is insufficient; there is a risk that the first area and the second area will not match at all. Is the extent of the Range in the direction mentioned but 10 mm, so a sufficiently accurate positioning is very likely given; the first area and the second area deviate from one another by a maximum of 10% in the named direction.

Eine Vergrößerung des Bereichs ist jedoch üblicherweise auch mit einem erhöhten Zeitaufwand für die Abtastung und mit einer größeren Datenmenge für das Abtastsignal und die Signatur verbunden, so dass der Bereich nicht beliebig groß gewählt werden kann.However, an increase in the range is usually associated with an increased sampling time and a larger amount of data for the sampling signal and the signature, so that the range can not be chosen arbitrarily large.

Eine weitere Möglichkeit, die Anforderungen an die Positioniergenauigkeit zu vermindern, liegt in der Verwendung eines so genannten Positionsgebers. Unter einem Positionsgeber werden Mittel verstanden, die einen Bereich einer Oberfläche abschließend kennzeichnen. Unter einer abschließenden Kennzeichnung eines Oberflächenbereichs wird verstanden, dass ein Bereich der Oberfläche eines Gegenstand so hervorgehoben und gegenüber anderen Oberflächenbereichen so abgegrenzt wird, dass dieser Oberflächenbereich eindeutig von allen anderen Oberflächenbereichen unterscheidbar ist und dass es keinen Oberflächenbereich gibt, für den eine Unklarheit darüber besteht, ob er dem gekennzeichneten Oberflächenbereich angehört oder nicht. Ein Positionsgeber kann beispielsweise ein Etikett mit einer Aussparung sein, das mit dem Gegenstand verbunden wird. Innerhalb der Aussparung liegt der Bereich, der abgetastet werden soll. Wird der Bereich optisch abgetastet, so ist die Oberfläche des Positionsgebers, die um die Aussparung angeordnet ist, vorzugsweise so gestaltet, dass sie bei Bestrahlung mit elektromagnetischer Strahlung ein anderes Verhalten zeigt, als der gekennzeichnete Oberflächenbereich des Gegenstands. Ist der Gegenstand beispielsweise ein papierartiges Objekt mit einem hohen Streuvermögen, wird die Oberfläche des Positionsgebers beispielsweise spiegelnd gestaltet. Bei einer taktilen Abtastung des Oberflächenbereichs des Gegenstandes hat ein Etikett mit einer Aussparung als Positionsgeber den Vorteil, dass Kanten rund um den Oberflächenbereich des Gegenstandes vorliegen, die bei einer taktilen Abtastung ein definiertes und gut erkennbares Abtastsignal liefern, das anzeigt, wo der Oberflächenbereich des Gegenstandes beginnt und wo er endet. Ein Positionsgeber verhilft also, den Bereich, der bei der Ersterfassung abgetastet worden ist, bei jeder späteren Abtastung zum Zweck der Identifizierung und/oder Authentifizierung „wiederzufinden”.Another way to reduce the requirements for the positioning accuracy, lies in the use of a so-called position encoder. A position transmitter is understood to mean means which conclusively mark a region of a surface. A final labeling of a surface area means that one area of the surface of an object is so highlighted and delimited from other surface areas that this surface area is clearly distinguishable from all other surface areas and that there is no surface area for which there is a lack of clarity; whether it belongs to the designated surface area or not. For example, a locator may be a label having a recess that connects to the article. Within the recess is the area to be scanned. If the region is scanned optically, then the surface of the position sensor, which is arranged around the recess, is preferably designed so that it behaves differently when irradiated with electromagnetic radiation than the marked surface region of the article. If, for example, the object is a paper-like object with a high scattering power, the surface of the position sensor is made, for example, mirror-like. In a tactile scan of the surface area of the article, a label having a recess as a position sensor has the advantage of having edges around the surface area of the article which, in a tactile scan, provide a defined and well-recognizable scanning signal indicating where the surface area of the article starts and where it ends. A positioner thus helps to "find" the area scanned in the initial detection at each later scan for identification and / or authentication purposes.

Es wurde bereits darauf hingewiesen, dass es vorteilhaft sein kann, den Bereich zur Abtastung möglichst klein zu gestalten. Je kleiner der Bereich ist, desto schneller kann eine Abtastung erfolgen, desto geringer sind die Datenmengen, die als Abtastsignal oder Signatur anfallen und desto geringer ist die Rechenzeit für den Vergleich einer aktuellen Signatur mit einer oder mehreren Referenzsignaturen. Es hätte damit Vorteile, wenn die Oberfläche des Gegenstands nur entlang einer einzigen Linie abgetastet werden müsste, um eine Signatur zu erzeugen. Es wurde jedoch auch bereits erläutert, dass eine Verkleinerung des Bereichs mit einer Erhöhung der Anforderungen an die Positioniergenauigkeit einhergeht. Ist die Signatur ein Oberflächenprofil, d. h. die Höheninformation einer Oberfläche entlang einer einzigen Linie auf der Oberfläche, so kann es schwierig sein, diese eine Linie bei einer späteren Erfassung wiederzufinden.It has already been pointed out that it can be advantageous to make the area for scanning as small as possible. The smaller the range, the faster a scan can be made, the lower the amount of data that accumulates as a sample signal or signature and the lower the computation time for comparing a current signature to one or more reference signatures. It would therefore be advantageous if the surface of the object would only have to be scanned along a single line to produce a signature. However, it has already been explained that a reduction of the range is accompanied by an increase of the positioning accuracy requirements. If the signature is a surface profile, i. H. the height information of a surface along a single line on the surface, it may be difficult to retrieve that one line in a later acquisition.

Überraschend wurde gefunden, dass dieses Problem der steigenden Anforderungen an die Positioniergenauigkeit bei Verkleinerung des Bereichs zur Abtastung dadurch gelöst werden kann, dass der zweite Bereich kleiner als der erste Bereich ist und der zweite Bereich innerhalb des ersten Bereichs liegt.Surprisingly, it has been found that this problem of increasing positioning accuracy requirements can be solved by reducing the area for scanning by virtue of the fact that the second area is smaller than the first area and the second area lies within the first area.

Eine bevorzugte Ausführungsform des erfindungsgemäßen Verfahrens zur Identifizierung und/oder Authentifizierung ist demnach dadurch gekennzeichnet, dass der zweite Bereich kleiner als der erste Bereich ist und innerhalb dieses ersten Bereichs liegt.A preferred embodiment of the method according to the invention for identification and / or authentication is accordingly characterized in that the second area is smaller than the first area and lies within this first area.

Zur Erfüllung einer ausreichenden Positioniergenauigkeit in Schritt B1 muss der Gegenstand in Bezug zur Abtastvorrichtung so positioniert werden, dass der Abtastbereich (zweiter Bereich) innerhalb eines definierten größeren Bereichs (erster Bereich) liegt. Die Anforderungen an die Positioniergenauigkeit nimmt entsprechend mit zunehmender Größe des ersten Bereichs und mit abnehmender Größe des zweiten Bereichs ab. Mit abnehmender Größe des zweiten Bereichs nimmt natürlich auch die Datenmenge ab, die für einen Vergleich zur Verfügung steht. Generell gilt, dass eine Aussage über die Identität und/oder Authentizität eines Gegenstand mit höherer Sicherheit getroffen werden kann, je größer die Datenmenge ist, welche die Identität des jeweiligen Gegenstands beschreibt. Hier muss also eine sinnvolle Abwägung zwischen vereinfachter Positionierung und Sicherheit bei der Identifizierung und/oder Authentifizierung getroffen werden.To satisfy sufficient positioning accuracy in step B1, the object must be positioned with respect to the scanning device so that the scanning area (second area) is within a defined larger area (first area). The positioning accuracy requirements decrease accordingly with increasing size of the first area and decreasing size of the second area. As the size of the second area decreases, so does the amount of data available for comparison. In general, a statement about the identity and / or authenticity of an object can be made with greater certainty, the larger the amount of data that describes the identity of the respective item. Here, therefore, a sensible balance must be made between simplified positioning and security in the identification and / or authentication.

Die Signatur, die sich aus der Abtastung des ersten, größeren Bereichs ergibt und als Referenzsignatur gespeichert wird, ist entsprechend größer als jede Signatur, die bei einer späteren Erfassung zum Zwecke der Identifizierung und/oder Authentifizierung bei Abtastung des zweiten, kleineren Bereichs generiert wird. In dem Schritt B3 des erfindungsgemäßen Verfahrens zur Identifizierung und/oder Authentifizierung wird dementsprechend geprüft, ob die aktuelle Signatur innerhalb der Referenzsignatur vorhanden ist. Konkret könnte das so aussehen, dass bei der Ersterfassung ein erster Bereich der Oberfläche entlang einer Vielzahl an eng aneinander liegenden Linien abgetastet und so die Topographie dieses ersten Bereichs ermittelt und als Referenzsignatur gespeichert wird. Bei der Identifizierung und/oder Authentifizierung wird dann zu einem späteren Zeitpunkt beispielsweise nur das Höhenprofil entlang einer einzigen Linie (Oberflächenprofil), die sich innerhalb des ersten Bereichs befindet, aufgenommen. In Schritt B3 wird geprüft, ob die Oberflächentopographie des ersten Bereichs an irgendeiner Stelle ein entsprechendes Oberflächenprofil aufweist. Dabei ist es nicht erforderlich, dass die Linie, entlang der bei der Identifizierung und/oder Authentifizierung eine Abtastung erfolgt ist, auch genau eine der Linien ist, die bei der Ermittlung der Topographie im Rahmen der Ersterfassung zur Abtastung herangezogen worden ist. Wie oben bereits festgestellt, liegen die einzelnen Linien bei der Ermittlung der Topographie vorzugsweise so eng beieinander, dass zwischen ihnen ein kontinuierlicher Übergang erkennbar ist. Es reicht demnach aus, dass die einzelne Linie innerhalb des Bereichs der Vielzahl an Linien liegt. Aus entsprechenden Gründen ist es auch nicht erforderlich, dass die einzelne Linie exakt parallel zu der Vielzahl an Linien verläuft. Durch den kontinuierlichen Übergang der einzelnen Oberflächenprofile, die die Topographie bilden, lässt sich mit bekannten mathematischen Verfahren die gesamte Topographie approximieren und somit jedes beliebige Oberflächenprofil innerhalb der Topographie berechnen.The signature resulting from the scanning of the first, larger area and stored as a reference signature is correspondingly larger than any signature that is generated in a later detection for the purpose of identification and / or authentication when scanning the second, smaller area. In step B3 of the inventive method for identification and / or authentication, it is accordingly checked whether the current signature is present within the reference signature. Specifically, this could look like that in the first detection, a first area of the surface is scanned along a plurality of closely spaced lines to determine the topography of that first area and store it as a reference signature. For example, in the identification and / or authentication, only the height profile along a single line (surface profile) located within the first region will be recorded at a later time. In step B3 it is checked whether the surface topography of the first region has a corresponding surface profile at any point. It is not necessary that the line along which a scan was made in the identification and / or authentication is also exactly one of the lines that was used in the determination of the topography in the context of the initial sampling. As already stated above, the individual lines are preferably so close together in determining the topography that a continuous transition is recognizable between them. It is therefore sufficient that the single line lies within the range of the plurality of lines. For corresponding reasons, it is also not necessary for the individual line to run exactly parallel to the multiplicity of lines. Through the continuous transition of the individual surface profiles, which form the topography, the entire topography can be approximated with known mathematical methods and thus any surface profile within the topography can be calculated.

Die bevorzugte Ausführungsform des erfindungsgemäßen Verfahrens zur Identifizierung und/oder Authentifizierung eines Gegenstands, bei dem der zweite Bereich kleiner ist als der erste Bereich, lässt sich dort vorteilhaft einsetzen, wo genügend Zeit zur Ersterfassung besteht, während die Zeit zur Identifizierung und/oder Authentifizierung im Vergleich hierzu beschränkt ist.The preferred embodiment of the method according to the invention for identifying and / or authenticating an item in which the second area is smaller than the first area can be advantageously used where there is sufficient time for initial capture while the time for identification and / or authentication in the Comparison is limited.

Als Beispiele seien Kunstgegenstände oder Schmuck genannt. Diese werden oftmals in Handfertigung erstellt. Die Handfertigung benötigt im Vergleich zu maschinellen Herstellungsverfahren mehr Zeit. Daher fällt es nicht ins Gewicht, wenn zur Erstellung der Referenzsignatur ein entsprechender Zeitaufwand betrieben wird, indem ein großer (erster) Bereich abgetastet wird. Die spätere Identifizierung und/oder Authentifizierung z. B. zur Routineüberprüfung anhand eines kleineren Bereichs kann entsprechend schneller erfolgen.Examples include works of art or jewelry. These are often created by hand. Hand manufacturing takes more time compared to mechanical manufacturing processes. Therefore, it does not matter if a sufficient amount of time is spent to generate the reference signature by scanning a large (first) range. The later identification and / or authentication z. B. for routine inspection based on a smaller area can be done accordingly faster.

Überraschend wurde gefunden, dass der erste und zweite Bereich auch so gestaltet werden können, dass der zweite Bereich größer als der erste Bereich ist und diesen ersten Bereich vollständig umfasst.Surprisingly, it has been found that the first and second regions can also be designed such that the second region is larger than the first region and completely encompasses this first region.

Eine weitere bevorzugte Ausführungsform des erfindungsgemäßen Verfahrens zur Identifizierung und/oder Authentifizierung eines Gegenstands ist daher dadurch gekennzeichnet, dass der zweite Bereich größer ist als der erste Bereich und diesen ersten Bereich vollständig umfasst.A further preferred embodiment of the method according to the invention for identifying and / or authenticating an object is therefore characterized in that the second area is larger than the first area and completely encompasses this first area.

Bei der Ersterfassung wird also eine Referenzsignatur erzeugt, die aus einem vergleichsweise kleinen Abtastbereich resultiert. Bei einer späteren Erzeugung einer Signatur zum Zweck der Identifizierung und/oder Authentifizierung wird ein entsprechend größerer Bereich abgetastet, eine Signatur erzeugt und in Schritt B3 untersucht, inwieweit eine Referenzsignatur in der aktuellen Signatur vorhanden ist.In the first detection, therefore, a reference signature is generated which results from a comparatively small scanning range. In a later generation of a signature for the purpose of identification and / or authentication, a correspondingly larger area is scanned, a signature is generated, and in step B3 it is examined to what extent a reference signature is present in the current signature.

Durch diese bevorzugte Ausführungsform ergeben sich dieselben Vorteile hinsichtlich Positioniergenauigkeit und verringerten Datenmengen wie in dem Fall, bei dem der zweite Bereich innerhalb des ersten Bereichs liegt (siehe oben). Eine solche Ausführungsform ist dann vorteilhaft, wenn die Ersterfassung im Vergleich zur späteren Identifizierung und/oder Authentifizierung zeitkritisch ist. Dies kann zum Beispiel bei einer maschinellen Fertigung der Fall sein, wo die gefertigten Gegenstände in großer Zahl anfallen und mit großer Geschwindigkeit auf einem Fließband transportiert werden. Hier ist es vorteilhaft, nur einen kleinen Bereich des jeweiligen Gegenstands in kürzester Zeit abzutasten (Schritt A1), um den jeweiligen Gegenstand erstmalig zu erfassen und eine entsprechende Referenzsignatur zu erzeugen. Bei der späteren Identifizierung und/oder Authentifizierung fallen die Gegenstände gegebenenfalls in geringer Zahl an und es besteht mehr Zeit, einen größeren Bereich in Schritt B1 abzutasten, um sicherzustellen, dass der erste Bereich (aus Schritt A1) umfasst wird.This preferred embodiment provides the same advantages in terms of positioning accuracy and reduced data volumes as in the case where the second range is within the first range (see above). Such an embodiment is advantageous if the initial detection is time-critical in comparison to later identification and / or authentication. This can be the case, for example, in a mechanical production, where the manufactured articles are produced in large numbers and are transported on a conveyor belt at high speed. Here, it is advantageous to scan only a small area of the respective object in a very short time (step A1) in order to detect the respective object for the first time and to generate a corresponding reference signature. In the event of subsequent identification and / or authentication, the items may be incurred in small numbers, and there is more time to scan a larger area in step B1 to ensure that the first area (from step A1) is included.

In Schritt B3 des erfindungsgemäßen Verfahrens zur Identifizierung und/oder Authentifizierung eines Gegenstands erfolgt, wie bereits angesprochen, der Vergleich der aktuell erzeugten Signatur mit einer oder mehreren Referenzsignaturen. Hierbei kann zwischen einem so genannten 1:1-Abgleich und einem so genannten 1:n-Abgleich unterschieden werden. Bei einem 1:1-Abgleich erfolgt lediglich der Vergleich von zwei Signaturen. Dies ist beispielsweise der Fall, wenn bereits Informationen zur vermeintlichen Identität des Gegenstands vorliegen, die noch überprüft werden sollen (Authentifizierung). Es ist beispielsweise denkbar, dass der Gegenstand einen Barcode trägt, der auf die Identität des Gegenstands hinweist. Anhand der vermeintlichen Identität kann die Referenzsignatur ermittelt werden, die dem jeweiligen Gegenstand zugeordnet ist. Diese wird dann mit der aktuell generierten Signatur verglichen.In step B3 of the inventive method for identifying and / or authenticating an object, as already mentioned, the comparison of the currently generated signature with one or more reference signatures takes place. Here, a distinction can be made between a so-called 1: 1 adjustment and a so-called 1: n comparison. In a 1: 1 comparison, only the comparison of two signatures takes place. This is the case, for example, if there is already information on the supposed identity of the object that is still to be verified (authentication). For example, it is conceivable that the item bears a bar code which indicates the identity of the item. On the basis of the supposed identity, the reference signature can be determined, which is assigned to the respective object. This is then compared with the currently generated signature.

Ist die Identität nicht bekannt und soll diese anhand der aktuell generierten Signatur ermittelt werden, so wird die aktuell generierte Signatur mit einer Anzahl n an in Frage kommenden Referenzsignaturen verglichen (1:n-Abgleich), um diejenige Referenzsignatur zu finden, die mit der aktuell generierten Signatur übereinstimmt (Identifizierung). If the identity is not known and should be determined on the basis of the currently generated signature, the currently generated signature is compared with a number n of candidate reference signatures (1: n matching) in order to find the reference signature that matches the current signature generated signature matches (identification).

Der Vergleich selbst kann mit mathematischen Methoden, die dem Fachmann hinlänglich bekannt sind, erfolgen. Es können z. B. bekannte Verfahren des Pattern Matching eingesetzt werden, bei denen nach Ähnlichkeiten zwischen Datensätzen gesucht wird (siehe z. B. Image Analysis and Processing: 8th International Conference, ICIAP '95, San Remo, Italy, September 13–15, 1995 . Proceedings (Lecture Notes in Computer Science), WO 2005088533(A1) , WO2006016114(A1) , C. Demant, B. Streicher-Abel, P. Waszkewitz, Industrielle Bildverarbeitung, Springer-Verlag, 1998, S. 133 ff , J. Rosenbaum, Barcode, Verlag Technik Berlin, 2000, S. 84 ff , US 7333641 B2 , DE10260642 A1 , DE10260638 A1 , EP1435586B1 ). Auch optische Korrelationsmethoden sind denkbar.The comparison itself can be done with mathematical methods that are well known to those skilled in the art. It can z. For example, known methods of pattern matching may be used in which similarities between data sets are searched for (see, for example, US Pat. Image Analysis and Processing: 8th International Conference, ICIAP '95, San Remo, Italy, September 13-15, 1995 , Proceedings (Lecture Notes in Computer Science), WO 2005088533 (A1) . WO2006016114 (A1) . C. Demant, B. Streicher-Abel, P. Waszkewitz, Industrial Image Processing, Springer-Verlag, 1998, p. 133 ff . J. Rosenbaum, Barcode, Verlag Technik Berlin, 2000, p. 84 ff . US 7333641 B2 . DE10260642 A1 . DE10260638 A1 . EP1435586B1 ). Also optical correlation methods are conceivable.

Das Ergebnis des Vergleichs, z. B. der Grad der Übereinstimmung zwischen den verglichenen Signaturen, wird dann in Schritt B4 an einen Benutzer einer entsprechenden Vorrichtung in Form einer sicht- oder hörbaren Mitteilung ausgegeben (Monitor, Drucker, Lautsprecher, o. ä.).The result of the comparison, z. The degree of correspondence between the compared signatures is then output in step B4 to a user of a corresponding device in the form of a visual or audible message (monitor, printer, speaker, or the like).

Nachdem die erfindungsgemäßen Verfahren in allgemeiner Form vorgestellt worden sind, soll nun näher auf konkrete Ausführungsformen eingegangen werden, ohne die Erfindung jedoch hierauf zu beschränken.After the methods according to the invention have been presented in a general form, reference will now be made to concrete embodiments without, however, limiting the invention thereto.

Es zeigen:Show it:

1(a), (b): Schematische Darstellung zur optischen Abtastung einer Oberfläche 1 (a) , (b): Schematic representation for the optical scanning of a surface

2: Schematische Darstellung zur optischen Abtastung einer Oberfläche mit einem linienförmigen Strahlprofil 2 : Schematic representation for the optical scanning of a surface with a linear beam profile

3: Schematische Darstellung eines erfindungsgemäßen Sensors zur Abtastung von Oberflächen 3 : Schematic representation of a sensor according to the invention for scanning surfaces

4a4c: Abtastsignale von einer Oberfläche 4a - 4c : Scanning signals from a surface

Die Abtastung eines Oberflächenbereichs erfolgt bevorzugt optisch, das heißt unter Verwendung einer Quelle für elektromagnetische Strahlung und mindestens einem Detektor für elektromagnetische Strahlung (auch als Fotodetektor bezeichnet). Vorzugsweise wird als Strahlenquelle eine Quelle eingesetzt, die elektromagnetische Strahlung mit einer hohen Intensität erzeugen kann. Zum Beispiel weist Laserstrahlung bekanntlich eine hohe Leistungsdichte auf und sie lässt sich gut bündeln, so dass die Ausmaße des fokussierten Laserstrahls in der Fokusebene entsprechend gering gehalten werden können. Je geringer die Ausmaße des Abtaststrahls in der Fokusebene sind, desto höher ist die Genauigkeit, mit der die Oberfläche abgetastet werden kann.The scanning of a surface area is preferably carried out optically, that is, using a source of electromagnetic radiation and at least one detector for electromagnetic radiation (also referred to as a photodetector). Preferably, a source is used as the radiation source, which can generate electromagnetic radiation with a high intensity. For example, as is known, laser radiation has a high power density and can be bundled well, so that the dimensions of the focused laser beam in the focal plane can be kept correspondingly low. The smaller the dimensions of the scanning beam in the focal plane, the higher the accuracy with which the surface can be scanned.

Das Querschnittsprofil des Abtaststrahls in der Fokusebene sollte bei den Abtastungen gemäß der Schritte A1 und B1 weitestgehend gleich sein, damit bei dem späteren Vergleich von Signaturen gemäß Schritt B3 keine zu großen Unterschiede zwischen den Signaturen infolge von unterschiedlichen Auflösungen bei der Abtastung vorliegen. Unter dem Querschnittsprofil wird die zweidimensionale Intensitätsverteilung der Strahlung in der Fokusebene verstanden.The cross-sectional profile of the scanning beam in the focal plane should be largely the same for the samples according to steps A1 and B1, so that in the later comparison of signatures according to step B3, there are no too large differences between the signatures due to different resolutions in the scan. The cross-sectional profile is understood to mean the two-dimensional intensity distribution of the radiation in the focal plane.

In 1 ist schematisch dargestellt wie die Abtastung eines Oberflächenbereichs mit Hilfe eines Abtaststrahls vollzogen werden kann.In 1 is shown schematically how the scanning of a surface area can be accomplished by means of a scanning beam.

Die Figur zeigt die Oberfläche 1 eines Gegenstands sowie eine Anordnung umfassend eine Quelle für elektromagnetische Strahlung 2 und eine Vielzahl von Detektoren 5 für elektromagnetische Strahlung. Die Oberfläche 1 ist aus Gründen der besseren Anschaulichkeit im Vergleich zu der Strahlenquelle 2 und den Detektoren 5 stark vergrößert dargestellt.The figure shows the surface 1 an article and an assembly comprising a source of electromagnetic radiation 2 and a variety of detectors 5 for electromagnetic radiation. The surface 1 is for better clarity in comparison to the radiation source 2 and the detectors 5 shown greatly enlarged.

Von der Strahlenquelle kann ein Abtaststrahl 3 auf die Oberfläche 1 des Gegenstands gesandt werden. Der Gegenstand wird in Bezug zur Anordnung aus Strahlenquelle und Detektoren bewegt (gekennzeichnet durch den dicken schwarzen Pfeil). Dabei überstreift der Abtaststrahl die Oberfläche. Der Abtaststrahl wird von der Oberfläche entsprechend dem Reflexionsgesetz reflektiert. Je nach Krümmung der Oberfläche gelangt die reflektierte Strahlung 4 in einen der Detektoren. Auf diese Weise kann die Oberfläche abgetastet und ein Abtastsignal aufgenommen werden. Aus dem Abtastsignal kann die Oberflächenstruktur ermittelt werden.From the radiation source, a scanning beam 3 on the surface 1 of the subject. The object is moved relative to the array of radiation source and detectors (indicated by the thick black arrow). The scanning beam passes over the surface. The scanning beam is reflected by the surface in accordance with the law of reflection. Depending on the curvature of the surface reaches the reflected radiation 4 into one of the detectors. In this way, the surface can be scanned and a scanning signal recorded. The surface structure can be determined from the scanning signal.

An Stelle der Vielzahl an einzelnen Detektoren ist es auch denkbar, einen entsprechend großen Detektor (CCD-, CMOS-Kamera) einzusetzen. Im Gegensatz zur dynamischen Laserfokussierung (siehe oben) ist es bei der hier beschriebenen Methode nicht notwendig, eine mechanisch verstellbare Linse einzusetzen. Überraschend wurde gefunden, dass es ausreicht, wenn der Abtaststrahl auf einen Punkt auf der Oberfläche fokussiert wird. Die Bewegung zwischen Gegenstand und Anordnung aus Strahlenquelle und Detektoren erfolgt dann mit konstantem Abstand zwischen Gegenstand und Anordnung. Aufgrund der Höhenunterschiede auf der Oberfläche liegen nicht alle Punkte, in denen der Abtaststrahl auf die Oberfläche trifft, exakt in der Fokusebene. Überraschenderweise kann trotzdem aus dem Abtastsignal eine Topographie abgeleitet werden. Vorzugsweise werden daher Strahlquellen eingesetzt, die eine große Fokustiefe aufweisen.Instead of the large number of individual detectors, it is also conceivable to use a correspondingly large detector (CCD, CMOS camera). In contrast to dynamic laser focusing (see above), the method described here does not require the use of a mechanically adjustable lens. Surprisingly, it has been found that it is sufficient if the scanning beam is focused on a point on the surface. The movement between object and arrangement of radiation source and detectors then takes place with a constant distance between the object and the arrangement. Due to the height differences on the Surface are not all points in which the scanning beam hits the surface, exactly in the focal plane. Surprisingly, nevertheless, a topography can be derived from the scanning signal. Preferably, therefore, beam sources are used which have a large depth of focus.

Die Bestrahlung (Abtastung) der Oberfläche kann in einem beliebigen Winkel von nahezu 0° (sofern noch Reflexion auftritt) bis 90° bezogen auf die mittlere Oberflächenebene erfolgen. Die Detektion der reflektierten Strahlung kann ebenso in einem beliebigen Winkel von nahezu 0° bis 90° bezogen auf die mittlere Oberflächenebene erfolgen.The irradiation (scanning) of the surface can take place at an arbitrary angle of almost 0 ° (if reflection still occurs) up to 90 ° relative to the mean surface level. The detection of the reflected radiation can also be carried out at an arbitrary angle of almost 0 ° to 90 ° relative to the mean surface level.

Die Verwendung einer Vorrichtung gemäß 1 hat den Vorteil, dass im Gegensatz zu den bekannten Vorrichtungen zur dynamischen Laserfokussierung keine mechanisch verstellbaren Linsen notwendig sind. Dementsprechend ist eine Vorrichtung gemäß 1 weniger komplex und damit kostengünstiger und weniger fehleranfällig. Zudem kann mit einer Vorrichtung gemäß 1 die Abtastung wesentlich schneller erfolgen als mit einer Vorrichtung zur dynamischen Laserfokussierung, da keine Zeit für die mechanische Nachstellung einer Linse anfällt.The use of a device according to 1 has the advantage that, in contrast to the known devices for dynamic laser focusing no mechanically adjustable lenses are necessary. Accordingly, an apparatus according to 1 less complex and thus less expensive and less error-prone. In addition, with a device according to 1 the scanning is much faster than with a device for dynamic laser focusing, since no time is required for the mechanical adjustment of a lens.

Weiterhin wurde überraschend gefunden, dass zur Ermittlung einer Signatur nicht die vollständige Oberflächenstruktur bei der Abtastung erfasst werden muss. Die Oberflächenbeschaffenheit von vielen Gegenständen ist so reich an charakteristischen Merkmalen, dass zu einer Identifizierung und/oder Authentifizierung ein Bruchteil davon ausreicht. Das bedeutet, dass in der Anordnung in 1 anstelle der Vielzahl an Detektoren prinzipiell ein einziger ausreicht. Dieser eine Detektor erfasst dann nicht mehr jede Krümmung der Oberfläche sondern nur die Signale, die von der Oberfläche in Richtung des Detektors gesandt werden. Das mittels des Detektors erfasste Abtastsignal ist jedoch überraschenderweise ausreichend, um eine Signatur zum Zweck der Identifizierung und/oder Authentifizierung zu erzeugen.Furthermore, it was surprisingly found that the determination of a signature does not have to cover the complete surface structure during the scan. The surface texture of many objects is so rich in features that a fraction of it suffices for identification and / or authentication. That means that in the arrangement in 1 in principle, a single sufficient instead of the large number of detectors. This one detector then no longer detects any curvature of the surface but only the signals that are sent from the surface towards the detector. Surprisingly, however, the scanning signal detected by the detector is sufficient to generate a signature for the purpose of identification and / or authentication.

Die auf die Oberfläche gesandte Strahlung ist vorzugsweise nicht kohärent, um störende Interferenzerscheinungen auszuschließen. Kohärente Strahlung, die auf eine raue Oberfläche fällt, erzeugt bekanntlich Specklemuster. Die Specklemuster sind u. a. abhängig von dem Einstrahlwinkel und dem Abstand zwischen Strahlungsquelle und Oberfläche. Daher sind die Specklemuster üblicherweise nur schwer reproduzierbar. Die Specklemuster überlagern die reproduzierbaren Abtastsignale, die auf die direkte Oberflächenstruktur zurückzuführen sind, und führen zu einer Verminderung des Signal-Rausch-Verhältnisses.The radiation sent to the surface is preferably not coherent in order to exclude interfering interference phenomena. Coherent radiation falling on a rough surface is known to produce speckle patterns. The speckle patterns are u. a. depending on the angle of incidence and the distance between the radiation source and the surface. Therefore, the speckle patterns are usually difficult to reproduce. The speckle patterns superimpose the reproducible scanning signals due to the direct surface structure and result in a reduction of the signal-to-noise ratio.

Laserstrahlen weisen zwar eine hohe Intensität auf und sie lassen sich sehr gut bündeln, sie sind jedoch kohärent und fuhren zu den unerwünschten Specklemustern.Although laser beams are highly intense and can be bundled very well, they are coherent and lead to the unwanted speckle patterns.

Vorzugsweise wird als Strahlenquelle daher ein so genannter Speckle-reduzierter Laser oder eine nicht-kohärente Strahlungsquelle wie beispielsweise eine LED (LED = light emitting diode) verwendet. Verfahren zur Reduktion von Speckleerscheinungen bei kohärenter Strahlung sind dem Fachmann bekannt (siehe z. B. DE102004062418B4 ). Besonders bevorzugt wird eine so genannte High Power LED verwendet. Es ist auch denkbar, LED-Arrays zu verwenden, d. h. eine Anordnung von mehreren LEDs.Preferably, therefore, a so-called speckle-reduced laser or a non-coherent radiation source such as an LED (LED = light emitting diode) is used as the radiation source. Methods for reducing speckle emissions in the case of coherent radiation are known to the person skilled in the art (see, for example, US Pat. DE102004062418B4 ). Particularly preferred is a so-called high power LED is used. It is also conceivable to use LED arrays, ie an arrangement of several LEDs.

In einer bevorzugten Ausführungsform wird in Schritt A1 und/oder in Schritt B1 die Abtastung nur entlang einer Linie vorgenommen. Besonders bevorzugt wird sowohl in Schritt A1 als auch in Schritt B1 die Abtastung nur entlang einer Linie vorgenommen. Dies bedeutet, dass im Fall der Verwendung eines Abtaststrahls gemäß 1 dieser nur einmal in einer Richtung (entlang einer einzigen Linie) über die Oberfläche eines Gegenstands geführt wird, um ein Abtastsignal aufzunehmen. Die Abtastung entlang einer einzigen Linie kann wesentlich schneller erfolgen als eine Abtastung entlang mehrerer, beispielsweise parallel zueinander angeordneter Linien. Wenn sowohl in Schritt A1 als auch in Schritt B1 eine Abtastung entlang einer einzigen Linie erfolgt, ist der Zeitaufwand minimal.In a preferred embodiment, in step A1 and / or in step B1, the scanning is performed only along one line. Particularly preferably, both in step A1 and in step B1 the scanning is performed only along one line. This means that in the case of using a scanning beam according to 1 it is guided only once in one direction (along a single line) over the surface of an object to pick up a scanning signal. Scanning along a single line can be much faster than scanning along multiple lines, for example, parallel to each other. If both step A1 and step B1 scan along a single line, the time required is minimal.

Wie bereits oben erläutert ist es jedoch mit abnehmender Größe des Abtastbereichs zunehmend schwieriger bei einer späteren Abtastung den Bereich wiederzufinden, der bei der ersten Abtastung erfasst worden ist. Erfindungsgemäß wird dieses Problem dadurch gelöst, dass zur Abtastung ein linienförmiges Strahlprofil verwendet wird. Überraschend wurde nämlich gefunden, dass sich auch dann ein Abtastsignal und eine Signatur zum Zweck der Identifizierung und/oder Authentifizierung eines Gegenstands ermitteln lässt, wenn das Strahlprofil quer zur Bewegungsrichtung ausgeweitet ist. Dies ist schematisch in 2 dargestellt. Ein Bereich 7 einer Oberfläche 1 eines Gegenstandes wird mittels einer Quelle für elektromagnetische Strahlung 2 bestrahlt. Ein Teil der reflektierten Strahlung 4 wird mit Hilfe eines Detektors aufgefangen, um ein Abtastsignal aufzunehmen. Der Gegenstand wird in Bezug zur Anordnung aus Strahlenquelle und Detektor bewegt (dargestellt durch den dicken schwarzen Pfeil). In der Oberflächenebene liegt ein linienförmiges Strahlprofil vor, dessen längere Ausdehnung quer zur Bewegungsrichtung liegt.However, as explained above, as the size of the scan area decreases, it becomes increasingly difficult to retrieve the area detected in the first scan on a later scan. According to the invention this problem is solved in that a linear beam profile is used for scanning. Surprisingly, it has been found that even then a scanning signal and a signature for the purpose of identifying and / or authenticating an object can be determined if the beam profile is extended transversely to the direction of movement. This is schematically in 2 shown. An area 7 a surface 1 an object is by means of a source of electromagnetic radiation 2 irradiated. Part of the reflected radiation 4 is picked up by a detector to pick up a sample signal. The object is moved relative to the radiation source and detector assembly (represented by the thick black arrow). In the surface plane is a line-shaped beam profile, the longer extension is transverse to the direction of movement.

Durch die Ausweitung des Strahlprofils in die Richtung quer zur Bewegungsrichtung wird das Problem der Positionierung gelöst. Anstelle einer dünnen Linie (mit einer Breite, die der Ausdehnung des punktförmigen Strahlprofils entspricht) wird ein breiter Bereich (mit einer Breite, die der längeren Ausdehnung des linienförmigen Strahlprofils entspricht) abgetastet. Dieser breite Bereich kann bei einer späteren Abtastung entsprechend einfacher wiedergefunden werden.By extending the beam profile in the direction transverse to the direction of movement, the problem of positioning is solved. Instead of a thin line (having a width corresponding to the extension of the dot-shaped beam profile) becomes scanned wide area (with a width corresponding to the longer extension of the linear beam profile). This wide range can be found correspondingly easier in a later scan.

Die Abtastung mit einem linienförmigen Strahlprofil gemäß 2 entspricht quasi einer Mittelung über eine Vielzahl von Abtastsignalen, die aus der Abtastung mit einem punktförmigen Strahlprofil entlang einer Vielzahl an eng aneinander liegenden und parallel verlaufenden Linien resultieren. Es ist überraschend, dass aus dieser Mittelung über einen breiten Bereich auch eine Signatur erzeugt werden kann, mit der ein Gegenstand identifiziert und/oder authentifiziert werden kann.The scanning with a linear beam profile according to 2 is more like an averaging over a plurality of scanning signals resulting from scanning with a point beam profile along a plurality of closely spaced and parallel lines. It is surprising that a signature can be generated from this averaging over a wide range, with which an object can be identified and / or authenticated.

Ein linienförmiges Strahlprofil wird hier wie folgt definiert: Üblicherweise ist die Intensität im Querschnittszentrum der Strahlung am höchsten und nimmt nach außen hin ab. Die Intensität kann in allen Richtungen gleichmäßig abnehmen – in diesem Fall liegt ein rundes Querschnittsprofil vor. In allen anderen Fällen gibt es mindestens eine Richtung, in der der Intensitätsgradient am größten ist und mindestens eine Richtung, in der der Intensitätsgradient am kleinsten ist. Im Folgenden wird unter der Strahlbreite derjenige Abstand vom Zentrum des Querschnittsprofils in Richtung des kleinsten Intensitätsgradienten verstanden, bei dem die Intensität auf die Hälfte seines Wertes im Zentrum gesunken ist. Weiterhin wird unter der Strahldicke derjenige Abstand vom Zentrum des Querschnittsprofils in Richtung des höchsten Intensitätsgradienten verstanden, bei dem die Intensität auf die Hälfte seines Wertes im Zentrum gesunken ist. Unter einem linienförmigen Strahlprofil wird ein Strahlprofil bezeichnet, bei dem die Strahlbreite um einen Faktor von mehr als 10 größer ist als die Strahldicke. Bevorzugt ist die Strahlbreite um einen Faktor von mehr als 50 größer als die Strahldicke, besonders bevorzugt um einen Faktor von mehr als 100 und ganz besonders bevorzugt um einen Faktor von mehr als 150.A linear beam profile is defined here as follows: Usually, the intensity in the cross-sectional center of the radiation is highest and decreases toward the outside. The intensity can decrease evenly in all directions - in this case there is a round cross-sectional profile. In all other cases there is at least one direction in which the intensity gradient is greatest and at least one direction in which the intensity gradient is smallest. In the following, the beam width is understood to mean the distance from the center of the cross-sectional profile in the direction of the smallest intensity gradient, at which the intensity has dropped to half of its value in the center. Furthermore, the beam thickness is understood to be the distance from the center of the cross-sectional profile in the direction of the highest intensity gradient, at which the intensity has dropped to half of its value in the center. A linear beam profile refers to a beam profile in which the beam width is greater than the beam thickness by a factor of more than 10. Preferably, the beam width is larger by a factor of more than 50 than the beam thickness, more preferably by a factor of more than 100, and most preferably by a factor of more than 150.

Vorzugsweise liegt die Strahldicke im Bereich der mittleren Rillenbreite der vorliegenden Oberfläche (zur Definition der mittleren Rillenbreite siehe DIN EN ISO 4287:1998 ).Preferably, the beam thickness is in the range of the mean groove width of the present surface (for definition of the mean groove width, see DIN EN ISO 4287: 1998 ).

Für eine Vielzahl an Gegenständen, insbesondere für Gegenstände aus Papier, haben sich die folgenden Strahldicken und -breiten als geeignet erwiesen:
Strahlbreiten im Bereich von 2 mm bis 7 mm, bevorzugt im Bereich von 3 mm bis 6,5 mm, besonders bevorzugt im Bereich 4 mm bis 6 mm und ganz besonders bevorzugt im Bereich 4,5 mm bis 5,5 mm.
Strahldicken im Bereich von 5 μm bis 35 μm, bevorzugt im Bereich von 10 μm bis 30 μm, besonders bevorzugt im Bereich von 15 μm bis 30 μm, ganz besonders bevorzugt im Bereich von 20 μm bis 27 μm.
For a variety of articles, especially articles of paper, the following beam thicknesses and widths have been found to be suitable:
Beam widths in the range of 2 mm to 7 mm, preferably in the range of 3 mm to 6.5 mm, more preferably in the range 4 mm to 6 mm and most preferably in the range 4.5 mm to 5.5 mm.
Beam thicknesses in the range of 5 microns to 35 microns, preferably in the range of 10 microns to 30 microns, more preferably in the range of 15 microns to 30 microns, most preferably in the range of 20 microns to 27 microns.

Dem Fachmann der Optik ist bekannt, wie ein entsprechendes Strahlprofil mittels optischer Elemente erzeugt werden kann. Optische Elemente dienen der Strahlformung und Fokussierung. Als optische Elemente werden insbesondere Linsen, Blenden, diffraktive optische Elemente und dergleichen bezeichnet.It is known to the expert in optics how a corresponding beam profile can be generated by means of optical elements. Optical elements are used for beam shaping and focusing. In particular, lenses, diaphragms, diffractive optical elements and the like are referred to as optical elements.

Mit abnehmender Größe des Querschnittsprofils des Abtaststrahls im Fokuspunkt nimmt das Signal-Rausch-Verhältnis zu, da die Intensität auf eine kleinere Fläche verteilt wird. Empirisch wurde gefunden, dass es mit abnehmender Größe des Querschnittsprofils im Fokuspunkt zunehmend schwieriger wird, reproduzierbare Signale zu erzielen. Anscheinend liegt dies daran, dass die Oberfläche des zu authentifizierenden Gegenstands nicht mehr hinreichend genau gegenüber dem kleiner werdenden Querschnittsprofil positioniert werden kann. Anscheinend wird es zunehmend schwieriger, den Bereich bei einer erneuten Authentifizierung hinreichend genau zu treffen.As the cross-sectional profile of the scanning beam at the focal point decreases in size, the signal-to-noise ratio increases because the intensity is distributed over a smaller area. Empirically, it has been found that with decreasing size of the cross-sectional profile at the focal point, it becomes increasingly difficult to obtain reproducible signals. Apparently, this is because the surface of the object to be authenticated can no longer be positioned sufficiently accurately with respect to the decreasing cross-sectional profile. Apparently, it becomes increasingly difficult to make the area sufficiently accurate on re-authentication.

Überraschend wurde gefunden, dass die oben genannten Bereiche für die Strahldicke und die Strahlbreite sehr gut geeignet sind, um auf der einen Seite die für die Reproduzierbarkeit ausreichend genaue Positionierung zu erzielen, und um auf der anderen Seite ein für eine hinreichend genaue Authentifizierung ausreichendes Signal-Rausch-Verhältnis zu erzielen.Surprisingly, it has been found that the abovementioned ranges for the beam thickness and the beam width are very well suited for achieving the positioning that is sufficiently accurate for reproducibility on the one hand, and for a sufficiently accurate authentication on the other hand. To achieve noise ratio.

Bei einer Abtastung werden die Abtastvorrichtung und der Gegenstand, dessen Oberfläche abgetastet werden soll, in konstantem Abstand relativ zueinander bewegt. Bei der Verwendung eines linienförmigen Strahlprofils zur Abtastung eines Oberflächenbereichs liegt die Strahlbreite quer zur Bewegungsrichtung. Der Winkel zwischen Bewegungsrichtung und Richtung der Strahlbreite beträgt vorzugsweise zwischen 10° und 90°, besonders bevorzugt zwischen 45° und 90°, ganz besonders bevorzugt zwischen 70° und 90°.In one scan, the scanner and the object whose surface is to be scanned are moved at a constant distance relative to each other. When using a linear beam profile for scanning a surface area, the beam width is transverse to the direction of movement. The angle between the direction of movement and the direction of the beam width is preferably between 10 ° and 90 °, more preferably between 45 ° and 90 °, most preferably between 70 ° and 90 °.

Es ist sowohl eine Bewegung der Abtastvorrichtung gegenüber dem Gegenstand als auch eine Bewegung des Gegenstands gegenüber der Abtastvorrichtung denkbar.It is conceivable both a movement of the scanning device relative to the object and a movement of the object relative to the scanning device.

Die Bewegung kann kontinuierlich mit gleichbleibender Geschwindigkeit, beschleunigend oder abbremsend, oder diskontinuierlich, d. h. z. B. schrittweise erfolgen. Bevorzugt erfolgt die Bewegung mit gleichbleibender Geschwindigkeit.The movement may be continuous at a constant rate, accelerating or decelerating, or discontinuous; d. H. z. B. gradually. Preferably, the movement is carried out at a constant speed.

Bei Verwendung eines Abtaststrahls zur Abtastung einer Oberfläche gemäß 1 oder 2 wird die auf mindestens einen Detektor auftreffende Strahlungsintensität als Funktion der Zeit erfasst. Üblicherweise werden mit einer konstanten Messfrequenz Messsignale erfasst und fortgeschrieben. Erfolgt die relative Bewegung zwischen Oberfläche und Detektor mit gleichbleibender Geschwindigkeit, so entspricht die Zeit zwischen zwei aufeinanderfolgend aufgenommenen Messsignalen einer definierten und gleichbleibenden Wegstrecke. In diesem Fall ist eine Transformation der als Funktion der Zeit erfassten Messsignale in eine Funktion des Ortes ohne Weiteres möglich. Bei auftretenden Geschwindigkeitsschwankungen wird vorzugsweise ein mechanischer Kodierer (Encoder) eingesetzt, der dem Fachmann der Signaltechnik bekannt ist.When using a scanning beam for scanning a surface according to 1 or 2 the radiation intensity incident on at least one detector is detected as a function of time. Usually, measuring signals are recorded and updated at a constant measuring frequency. If the relative movement between the surface and the detector takes place at a constant speed, then the time between two consecutively recorded measurement signals corresponds to a defined and constant distance. In this case, it is easily possible to transform the measurement signals acquired as a function of time into a function of the location. When speed fluctuations occur, a mechanical encoder (encoder) is preferably used, which is known to those skilled in signal technology.

Die bevorzugte Abtastung der Oberfläche mit einem linienförmigen Strahlprofil führt zu einem dritten Gegenstand der vorliegende Erfindung, einem Sensor, der vorteilhaft zur Abtastung eingesetzt werden kann:The preferred scanning of the surface with a linear beam profile leads to a third object of the present invention, a sensor which can be advantageously used for scanning:

Sensor zur Abtastung einer OberflächeSensor for scanning a surface

Ein dritter Gegenstand der vorliegenden Erfindung ist ein Sensor zur Abtastung einer Oberfläche eines Gegenstandes.A third object of the present invention is a sensor for scanning a surface of an article.

Der erfindungsgemäße Sensor umfasst mindestens

  • – eine Quelle für elektromagnetische Strahlung, die so angeordnet ist, dass elektromagnetische Strahlung in einem Winkel α in Bezug zur Oberflächennormalen des Gegenstands auf den Gegenstand gesandt werden kann,
  • – mindestens einen Fotodetektor zur Aufnahme reflektierter Strahlung, der so angeordnet ist, dass die von dem Gegenstand unter einem Winkel β in Bezug zur Oberflächennormalen des Gegenstands reflektierte Strahlung erfasst wird.
The sensor according to the invention comprises at least
  • A source of electromagnetic radiation arranged so that electromagnetic radiation can be transmitted to the object at an angle α with respect to the surface normal of the object,
  • At least one photodetector for receiving reflected radiation arranged to detect the radiation reflected from the object at an angle β with respect to the surface normal of the object.

Es ist denkbar, dass die Winkel α und β gleich groß sind. Ebenso ist es denkbar, dass die Winkel α und β verschieden groß sind. Bevorzugt sind die Beträge der Winkel α und β gleich (|α| = |β|).It is conceivable that the angles α and β are equal. It is also conceivable that the angles α and β are different. Preferably, the amounts of the angles α and β are equal to (| α | = | β |).

Die Beträge der Winkel α und β liegen im Bereich von 5° bis 90°, bevorzugt im Bereich 20° bis 80°, besonders bevorzugt im Bereich 30° bis 70°, ganz besonders bevorzugt im Bereich 40° bis 60°.The amounts of the angles α and β are in the range of 5 ° to 90 °, preferably in the range 20 ° to 80 °, more preferably in the range 30 ° to 70 °, most preferably in the range 40 ° to 60 °.

Als Quelle für elektromagnetische Strahlung können in dem erfindungsgemäßen Sensor prinzipiell alle Quellen für elektromagnetische Strahlung verwendet werden, die Strahlung emittieren, die von der Oberfläche des abzutastenden Gegenstandes zumindest teilweise reflektiert wird. Im Hinblick auf eine kompakte und kostengünstige Bauform des erfindungsgemäßen Sensors werden LEDs oder (vorzugsweise Speckle-reduzierte) Laserdioden bevorzugt. Vorzugsweise werden Strahlungsquelle verwendet, die monochromatische oder weitgehend monochromatische, für den Menschen sichtbare Strahlung emittieren; besonders bevorzugt wird eine Strahlungsquelle mit einer Wellenlänge zwischen 600 nm und 780 nm verwendet.In principle, all sources of electromagnetic radiation which emit radiation which is at least partially reflected by the surface of the object to be scanned can be used as the source of electromagnetic radiation in the sensor according to the invention. With regard to a compact and cost-effective design of the sensor according to the invention, LEDs or (preferably speckle-reduced) laser diodes are preferred. Preferably, radiation sources are used which emit monochromatic or largely monochromatic radiation visible to human radiation; Particularly preferably, a radiation source with a wavelength between 600 nm and 780 nm is used.

Bevorzugt werden in dem erfindungsgemäßen Sensor 1 bis 6 Fotodetektoren, besonders bevorzugt 1 bis 3 Fotodetektoren eingesetzt.1 to 6 photodetectors, more preferably 1 to 3 photodetectors are preferably used in the sensor according to the invention.

Als Fotodetektoren können in dem erfindungsgemäßen Sensor prinzipiell alle elektronischen Bauteile verwendet werden, die elektromagnetische Strahlung in ein elektrisches Signal umwandeln. Im Hinblick auf eine kompakte und kostengünstige Bauform des erfindungsgemäßen Sensors werden Fotodioden oder Fototransistoren bevorzugt. Fotodioden sind Halbleiter-Dioden, die elektromagnetische Strahlung an einem p-n-Übergang oder pin-Übergang durch den inneren Fotoeffekt in einen elektrischen Strom umwandeln. Ein Fototransistor ist ein Bipolartransistor mit pnp- oder npn-Schichtenfolge, dessen pn-Übergang der Basis-Kollektor-Sperrschicht für elektromagnetische Strahlung zugänglich ist. Er ähnelt einer Fotodiode mit angeschlossenem Verstärkertransistor.In principle, all electronic components which convert electromagnetic radiation into an electrical signal can be used as photodetectors in the sensor according to the invention. With regard to a compact and cost-effective design of the sensor according to the invention, photodiodes or phototransistors are preferred. Photodiodes are semiconductor diodes that convert electromagnetic radiation at a p-n junction or pin transition through the internal photoelectric effect into an electrical current. A phototransistor is a bipolar transistor with a pnp or npn layer sequence whose pn junction is accessible to the base-collector barrier layer for electromagnetic radiation. It resembles a photodiode with connected amplifier transistor.

Der erfindungsgemäße Sensor verfügt über optische Elemente, welche ein linienförmiges Strahlprofil erzeugen.The sensor according to the invention has optical elements which generate a linear beam profile.

Das linienförmige Strahlprofil des erfindungsgemäßen Sensors ist dadurch gekennzeichnet, dass die Strahlbreite um ein Vielfaches größer ist als die Strahldicke. Bevorzugt beträgt die Strahlbreite mindestens das 50fache der Strahldicke, besonders bevorzugt beträgt sie mindestens das 100fache und ganz besonders bevorzugt mindestens das 150fache.The linear beam profile of the sensor according to the invention is characterized in that the beam width is greater by a multiple than the beam thickness. Preferably, the beam width is at least 50 times the beam thickness, more preferably at least 100 times and most preferably at least 150 times.

Die Strahlbreite liegt im Bereich von 2 mm bis 7 mm, bevorzugt im Bereich von 3 mm bis 6,5 mm, besonders bevorzugt im Bereich 4 mm bis 6 mm und ganz besonders bevorzugt im Bereich 4,5 mm bis 5,5 mm.The jet width is in the range of 2 mm to 7 mm, preferably in the range of 3 mm to 6.5 mm, more preferably in the range 4 mm to 6 mm and most preferably in the range 4.5 mm to 5.5 mm.

Die Strahldicke liegt im Bereich von 5 μm bis 35 μm, bevorzugt im Bereich von 10 μm bis 30 μm, besonders bevorzugt im Bereich von 15 μm bis 30 μm, ganz besonders bevorzugt im Bereich von 20 μm bis 27 μm.The jet thickness is in the range of 5 μm to 35 μm, preferably in the range of 10 μm to 30 μm, particularly preferably in the range of 15 μm to 30 μm, very particularly preferably in the range of 20 μm to 27 μm.

Der erfindungsgemäße Sensor ist dadurch gekennzeichnet, dass die Strahlbreite quer zu der Richtung liegt, in der der erfindungsgemäße Sensor zur Abtastung über die Oberfläche eines Gegenstandes geführt wird.The sensor according to the invention is characterized in that the beam width is transverse to the direction in which the sensor according to the invention for scanning over the surface of an object is guided.

Der erfindungsgemäße Sensor verfügt optional über Mittel zur Verbindung mehrerer Sensoren oder zur Verbindung eines Sensors mit einer Halterung. Diese Mittel gestatten es, zwei oder mehrere Sensoren in vorgegebener Weise miteinander zu verbinden. Die Verbindung von zwei oder mehreren Sensoren erfolgt reversibel, d. h. sie ist lösbar. The sensor according to the invention optionally has means for connecting a plurality of sensors or for connecting a sensor to a holder. These means make it possible to connect two or more sensors in a predetermined manner. The connection of two or more sensors is reversible, ie it is solvable.

Die Verbindungsmittel können auch dazu verwendet werden, den erfindungsgemäßen Sensor an einer Halterung anzubringen.The connecting means can also be used to attach the sensor according to the invention to a holder.

3 zeigt beispielhaft eine bevorzugte Ausführungsform eines erfindungsgemäßen Sensors ohne Strahlungsquelle und Fotodetektoren im Querschnitt von der Seite. Der Sensor umfasst einen Block 10 mit einer ausgewiesenen Außenfläche 15. Diese ausgewiesene Außenfläche – im Folgenden kurz Außenfläche genannt – ist bei der Abtastung auf die Oberfläche des entsprechenden Gegenstands gerichtet. 3 shows by way of example a preferred embodiment of a sensor according to the invention without radiation source and photodetectors in cross-section from the side. The sensor includes a block 10 with a designated outer surface 15 , This designated outer surface - hereafter referred to as outer surface - is directed at the scanning of the surface of the corresponding object.

Der Block 10 dient der Aufnahme aller optischen Komponenten des erfindungsgemäßen Sensors. Er weist mindestens zwei Durchführungen 11, 12, auf, die in Richtung auf die ausgewiesene Außenfläche aufeinander zulaufen.The block 10 serves to accommodate all optical components of the sensor according to the invention. He has at least two bushings 11 . 12 , which converge toward the designated outer surface.

Die erste Durchführung 11 verläuft in einem Winkel γ in Bezug zur Normalen 16 der Außenfläche (kurz Außenflächennormale) und dient der Aufnahme der Quelle für elektromagnetische Strahlung.The first implementation 11 runs at an angle γ with respect to the normal 16 the outer surface (short outer surface normal) and serves to accommodate the source of electromagnetic radiation.

Eine zweite Durchführung 12 verläuft in einem Winkel δ in Bezug zur Außenflächennormalen 16 und dient der Aufnahme eines Fotodetektors.A second implementation 12 is at an angle δ with respect to the outer surface normal 16 and serves to receive a photodetector.

Die Beträge der Winkel γ und δ sind vorzugsweise gleich.The amounts of the angles γ and δ are preferably the same.

Die Beträge der Winkel γ und δ liegen im Bereich von 5° bis 90°, bevorzugt im Bereich 20° bis 80°, besonders bevorzugt im Bereich 30° bis 70°, ganz besonders bevorzugt im Bereich 40° bis 60°.The amounts of the angles γ and δ are in the range of 5 ° to 90 °, preferably in the range 20 ° to 80 °, more preferably in the range 30 ° to 70 °, most preferably in the range 40 ° to 60 °.

In einer bevorzugten Ausführungsform des erfindungsgemäßen Sensors sind ein oder zwei weitere Durchführungen 13, 14 vorhanden, die zur Aufnahme eines oder zweier weiterer Fotodetektoren dienen. Diese sind in einem Winkel ε1 und/oder ε2 zur zweiten Durchführung 12 angeordnet. Die Größe der Winkel ε1 und/oder ε2 beträgt 1° bis 20°, vorzugsweise 5° bis 15°.In a preferred embodiment of the sensor according to the invention are one or two further feedthroughs 13 . 14 present, which serve to receive one or two other photodetectors. These are at an angle ε 1 and / or ε 2 for the second implementation 12 arranged. The size of the angle ε 1 and / or ε 2 is 1 ° to 20 °, preferably 5 ° to 15 °.

Vorzugsweise liegen alle Durchführungen in einer Ebene, um eine kompakte Bauform des Sensors zu ermöglichen.Preferably, all bushings are in one plane to allow a compact design of the sensor.

Die Verwendung eines Blocks mit zwei bis vier Durchführungen zur Aufnahme einer Strahlungsquelle und von einem oder von mehreren Fotodetektoren bietet den Vorteil, dass die optischen Komponenten einfach aber dennoch in einer definierten Weise zueinander angeordnet werden können. Bevorzugt befindet sich in der Durchführung für die Strahlungsquelle ein Anschlag. Gegen diesen Anschlag wird die Strahlungsquelle des Sensors in die Durchführung geschoben, so dass sie eine vorgegebene feste Position in Bezug zum Block und den Fotodetektoren einnimmt. Verfügt die Strahlungsquelle über bereits mit dieser verbundene optische Elemente zur Strahlformung und Fokussierung, was beispielsweise bei vielen heute kommerziell erhältlichen Strahlungsquellen üblich ist, so liegt durch die Fixierung der Strahlungsquelle zugleich der Fokuspunkt der Strahlungsquelle eindeutig fest. Die weiteren Durchführungen zur Aufnahme von Fotodetektoren können ebenfalls mit einem Anschlag versehen werden, wobei die Position der Fotodetektoren weniger genau sein muss als die Position der Strahlungsquelle.The use of a block with two to four feedthroughs for receiving a radiation source and one or more photodetectors offers the advantage that the optical components can be arranged in a simple manner but nevertheless in a defined manner relative to one another. Preferably, there is a stop in the passage for the radiation source. Against this stop, the radiation source of the sensor is pushed into the bushing, so that it assumes a predetermined fixed position with respect to the block and the photodetectors. If the radiation source already has optical elements for beam shaping and focusing connected to it, which is customary, for example, in many radiation sources commercially available today, the focus point of the radiation source is at the same time clearly fixed due to the fixation of the radiation source. The further feedthroughs for receiving photodetectors can also be provided with a stop, wherein the position of the photodetectors must be less accurate than the position of the radiation source.

Der Block kann in einfacher Weise z. B. mittels Spritzgussverfahren aus Kunststoff ein- oder zweistückig gefertigt werden. Mittels Spritzgussverfahren lassen sich Bauteile mit hoher Genauigkeit in großer Stückzahl und in kurzer Zeit herstellen. Dies ermöglicht eine kostengünstige Serienfertigung von hinreichend präzisen Bauteilen. Die Durchführungen können in dem Spritzgusswerkzeug bereits vorgesehen sein oder in den Block nachträglich mittels z. B. Bohrungen eingebracht werden. Bevorzugt werden alle Bestandteile des Blocks bereits im Spritzgussverfahren in einem Schritt gefertigt. Ebenso ist es denkbar, den Block beispielsweise aus Aluminium oder Kunststoff zu fräsen und die Durchführungen z. B. mittels Bohrungen zu realisieren. Weitere dem Fachmann bekannte Methoden zur Fertigung eines Blocks mit definierten Durchführungen sind denkbar.The block can be easily z. B. by injection molding of plastic one or two pieces are made. By means of injection molding, components can be produced with high accuracy in large quantities and in a short time. This allows cost-effective mass production of sufficiently precise components. The passages may already be provided in the injection molding tool or in the block subsequently by means of z. B. holes are introduced. Preferably, all components of the block are already manufactured by injection molding in one step. It is also conceivable to mill the block, for example made of aluminum or plastic and the bushings z. B. to realize by means of holes. Further methods known to the person skilled in the art for producing a block with defined passages are conceivable.

Der Sensor kann über ein Gehäuse verfügen, in das der Block eingebracht ist. In das Gehäuse des Sensors werden vorzugsweise weitere Komponenten eingebracht, z. B. die Steuerungselektronik für die Strahlungsquelle, Signalvorverarbeitungselektronik, komplette Auswerteelektronik und Ähnliches. Das Gehäuse dient bevorzugt auch der Verankerung eines Verbindungskabels, mit dem der erfindungsgemäße Sensor mit einer Steuereinheit und/oder eine Datenerfassungseinheit zur Steuerung des Sensors und/oder zum Erfassen und Weiterverarbeiten der charakteristischen Reflexionsmuster verbunden werden kann.The sensor may have a housing into which the block is inserted. In the housing of the sensor preferably further components are introduced, for. B. the control electronics for the radiation source, signal preprocessing electronics, complete evaluation and the like. The housing preferably also serves to anchor a connection cable with which the sensor according to the invention can be connected to a control unit and / or a data acquisition unit for controlling the sensor and / or for detecting and further processing the characteristic reflection patterns.

Der Sensor kann optional über ein Fenster verfügen, das vor, hinter oder in der Außenfläche angebracht ist und die optischen Komponenten vor Beschädigung und Verschmutzung schützt. Bevorzugt bildet das Fenster die Außenfläche des Sensors. Das Fenster ist zumindest für die Wellenlänge der verwendeten Strahlungsquelle zumindest teilweise transparent.Optionally, the sensor may have a window located in front of, behind or in the outer surface protecting the optical components from damage and contamination. Preferably, the window forms the outer surface of the sensor. The window is at least for the wavelength the radiation source used at least partially transparent.

Der erfindungsgemäße Sensor in 3 ist weiterhin dadurch charakterisiert, dass sich die Mittelachsen der Durchführungen in einem Punkt 18 schneiden, der außerhalb des Blocks liegt. Überraschend wurde gefunden, dass es für die erfindungsgemäße Identifizierung und/oder Authentifizierung vorteilhaft ist, wenn der Schnittpunkt der Mittelachsen gleichzeitig der Fokuspunkt der Strahlungsquelle ist und in einem Abstand von 2 bis 10 mm von der Außenfläche liegt.The inventive sensor in 3 is further characterized by the fact that the central axes of the bushings are in one point 18 cut outside the block. Surprisingly, it has been found that it is advantageous for the identification and / or authentication according to the invention if the point of intersection of the central axes is at the same time the focal point of the radiation source and lies at a distance of 2 to 10 mm from the outer surface.

Zur Abtastung der Oberfläche eines Gegenstandes wird der erfindungsgemäße Sensor entsprechend in einem Abstand über diesen Gegenstand geführt, so dass der Fokuspunkt und Schnittpunkt der Mittelachsen auf der Oberfläche des Gegenstandes liegt.For scanning the surface of an object, the sensor according to the invention is correspondingly guided at a distance above this object, so that the focal point and intersection of the central axes lie on the surface of the object.

Bei dem genanntem Abstandsbereich von 2 bis 10 mm ist die Positionierung der abzutastenden Oberfläche eines Gegenstands gegenüber der Strahlungsquelle und den Fotodetektoren einfach und hinreichend genau möglich. Bei einem zunehmenden Abstand zwischen Sensor und Gegenstand muss der Winkel des Sensors gegenüber der Oberfläche des Gegenstandes zunehmend genau eingehalten werden, um einen vorgegebenen Bereich der Oberfläche erfassen zu können, so dass die Anforderungen an die Positionierung steigen.In the mentioned distance range of 2 to 10 mm, the positioning of the surface to be scanned of an object with respect to the radiation source and the photodetectors is simple and sufficiently accurate. As the distance between the sensor and the object increases, the angle of the sensor with respect to the surface of the object must be increasingly accurately maintained in order to be able to detect a predetermined area of the surface so that the positioning requirements increase.

Weiterhin nimmt die Strahlungsintensität mit zunehmendem Abstand von der Strahlungsquelle ab, so dass bei einem zunehmenden Abstand zwischen Sensor und Gegenstand die entsprechend verringerte am Gegenstand ankommende Strahlungsintensität durch eine höhere Leistung der Strahlungsquelle kompensiert werden müsste.Furthermore, the radiation intensity decreases with increasing distance from the radiation source, so that with an increasing distance between sensor and object the correspondingly reduced radiation intensity arriving at the object would have to be compensated by a higher power of the radiation source.

Der erfindungsgemäße Sensor lässt sich in einer Serienfertigung im industriellen Maßstab kostengünstig fertigen, verfügt über eine kompakte Bauform, ist intuitiv und einfach zu handhaben, ist flexibel einsetzbar und erweiterbar und liefert reproduzierbare und übertragbare Ergebnisse.The sensor according to the invention can be manufactured inexpensively in mass production on an industrial scale, has a compact design, is intuitive and easy to handle, can be flexibly used and expanded and provides reproducible and transferable results.

4a, 4b und 4c zeigen Abtastsignale, die aus der Abtastung eines Gegenstands mit einem linienförmigen Strahlprofil resultieren. Das Abtastsignal wurde jeweils mit einem Sensor gemäß 3 aufgenommen. Die Ordinate zeigt jeweils das Spannungssignal I (in willkürlichen Einheiten) des verwendeten Fotodetektors, das proportional zur Intensität der eintreffenden Strahlung ist. Auf der Abszisse ist der bei der Abtastung entlang einer einzigen Linie zurückgelegte Weg X in cm aufgetragen. Es wurde in allen Fällen ein einzelner Fotodetektor in der zweiten Durchführung (12) verwendet. Der abgetastete Gegenstand war ein Verbundmaterial bestehend aus dem Spezialpapier 7110 der Firma 3M (3M 7110 Lithopapier, weiß) und einer auflaminierten Schutzfolie PET Overlam RP35 der Firma UPM Raflatac. Als Strahlungsquelle wurde eine Speckle-reduzierte Laserdiode verwendet (Flexpoint Linienmodul FP-HOM-SLD, Laser Components GmbH). Das Strahlprofil war linienförmig, mit einer Strahlbreite von 5 mm und einer Strahldicke von 25 μm. 4a . 4b and 4c show scanning signals resulting from the scanning of an object with a linear beam profile. The scanning signal was in each case with a sensor according to 3 added. The ordinate in each case shows the voltage signal I (in arbitrary units) of the photodetector used, which is proportional to the intensity of the incident radiation. The abscissa shows the distance X traveled in the scan along a single line in cm. In all cases, a single photodetector in the second feedthrough ( 12 ) used. The scanned article was a composite consisting of the special paper 7110 from 3M (3M 7110 litho paper, white) and a laminated protective film PET Overlam RP35 from UPM Raflatac. The radiation source used was a speckle-reduced laser diode (Flexpoint line module FP-HOM-SLD, Laser Components GmbH). The beam profile was linear, with a beam width of 5 mm and a beam thickness of 25 μm.

Im Fall der 4a und 4b wurde derselbe Bereich abgetastet. Die Signale sind sehr ähnlich. Im Fall der 4c wurde ein anderer Bereich als in den Fällen der 4a und 4b abgetastet. Das Signal der 4c ist eindeutig verschieden von den Signalen der 4a und 4b. Ein Vergleich der Signale aus den 4a und 4b erbrachte einen Korrelationskoeffizienten von 0,98, während der Vergleich der Signale aus den 4a und 4c einen Korrelationskoeffizienten von 0,6 brachte. Die Abtastsignale ließen sich auch nach längerer Zeit noch sehr gut reproduzieren.In the case of 4a and 4b the same area was scanned. The signals are very similar. In the case of 4c was another area than in the cases of 4a and 4b sampled. The signal of 4c is clearly different from the signals of the 4a and 4b , A comparison of the signals from the 4a and 4b yielded a correlation coefficient of 0.98, while comparing the signals from the 4a and 4c brought a correlation coefficient of 0.6. The scanning signals could still be reproduced very well even after a long time.

Die Abtastsignale in den 4a, 4b und 4c weisen eine Vielzahl von charakteristischen Merkmalen auf, die zur Erzeugung einer Signatur zum Zweck der Identifizierung und/oder Authentifizierung verwendet werden können. Es ist somit eine Unterscheidung von verschiedenen Gegenständen als auch eine spätere Wiedererkennung von identischen Gegenständen möglich.The scanning signals in the 4a . 4b and 4c have a variety of characteristics that can be used to generate a signature for the purpose of identification and / or authentication. It is thus possible to distinguish between different objects as well as later to recognize identical objects.

Ein analoger Versuch mit einer einem High-Power-LED-Array der Fa. Blau Optoelektronik GmbH (FP-65/0,5LF-LED, Strahlbreite 10 mm, Strahldicke 60 μm) brachte ein ähnliches Ergebnis, wobei das Signal-Rauschverhältnis geringer war.An analogous experiment with a high-power LED array from the company Blau Optoelectronics GmbH (FP-65 / 0.5LF-LED, beam width 10 mm, beam thickness 60 μm) produced a similar result, whereby the signal-to-noise ratio was lower ,

BezugszeichenlisteLIST OF REFERENCE NUMBERS

11
Oberflächesurface
22
Quelle für elektromagnetische StrahlungSource of electromagnetic radiation
33
Abtaststrahlscanning beam
44
reflektierter Strahlreflected beam
55
Fotodetektorphotodetector
66
linienförmiges Strahlprofillinear beam profile
77
abgetasteter Bereichscanned area
1010
Blockblock
1111
erste Durchführung zur Aufnahme einer Strahlenquellefirst implementation for receiving a radiation source
1212
zweite Durchführung zur Aufnahme eines Fotodetektorssecond passage for receiving a photodetector
1313
weitere Durchführung zur Aufnahme eines Fotodetektorsfurther implementation for receiving a photodetector
1414
weitere Durchführung zur Aufnahme eines Fotodetektorsfurther implementation for receiving a photodetector
1515
Außenflächeouter surface
1616
AußenflächennormaleOuter surface normal
1818
Fokuspunktfocus point

ZITATE ENTHALTEN IN DER BESCHREIBUNG QUOTES INCLUDE IN THE DESCRIPTION

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  • J. Rosenbaum, Barcode, Verlag Technik Berlin, 2000, S. 84 ff [0068] J. Rosenbaum, Barcode, Verlag Technik Berlin, 2000, p. 84 ff. [0068]
  • DIN EN ISO 4287:1998 [0093] DIN EN ISO 4287: 1998 [0093]

Claims (14)

Verfahren zur Erzeugung einer Signatur eines Gegenstandes mindestens umfassend die folgenden Schritte: A1: Abtastung eines ersten Bereichs einer Oberfläche des Gegenstandes und Aufnahme eines Abtastsignals, das zumindest einen Teil der Oberflächenstruktur innerhalb dieses ersten Bereichs repräsentiert, A2: Generierung einer Signatur aus dem in Schritt A1 ermittelten Abtastsignal, A3: Verknüpfung der Signatur mit dem Gegenstand, A4: Speicherung der Signatur in einer Form, in der sie für spätere Vergleichszwecke verfügbar ist.A method of generating a signature of an article at least comprising the following steps: A1: scanning a first area of a surface of the object and picking up a scanning signal representing at least a part of the surface structure within this first area, A2: generation of a signature from the scanning signal determined in step A1, A3: linking the signature with the object, A4: storage of the signature in a form in which it is available for later comparison purposes. Verfahren zur Identifizierung und/oder Authentifizierung eines Gegenstands mindestens umfassend die folgenden Schritte: B1: Abtastung eines zweiten Bereichs einer Oberfläche des Gegenstandes und Aufnahme eines Abtastsignals, das zumindest einen Teil der Oberflächenstruktur innerhalb dieses zweiten Bereichs repräsentiert, B2: Generierung einer Signatur aus dem in Schritt B1 ermittelten Abtastsignal, B3: Vergleich der im Schritt B2 ermittelten Signatur mit mindestens einer Referenzsignatur, B4: Generierung einer Mitteilung über die Identität und/oder Authentizität des Gegenstands in Abhängigkeit des Ergebnisses des Vergleichs in Schritt B3.Method for identifying and / or authenticating an article, comprising at least the following steps: B1: scanning a second area of a surface of the object and picking up a scanning signal representing at least a part of the surface structure within this second area, B2: generation of a signature from the sampling signal determined in step B1, B3: comparison of the signature determined in step B2 with at least one reference signature, B4: generation of a notification of the identity and / or authenticity of the object depending on the result of the comparison in step B3. Verfahren nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, dass der zweite Bereich kleiner als der erste Bereich aus Anspruch 1 ist und innerhalb dieses ersten Bereichs liegt.A method according to claim 2, characterized in that the second region is smaller than the first region of claim 1 and lies within this first region. Verfahren nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, dass der zweite Bereich größer als der erste Bereich aus Anspruch 1 ist und diesen ersten Bereich vollständig umfasst.A method according to claim 2, characterized in that the second region is larger than the first region of claim 1 and completely comprises this first region. Verfahren nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, dass der zweite Bereich identisch oder zumindest weitgehend identisch mit dem ersten Bereich aus Anspruch 1 ist.A method according to claim 2, characterized in that the second region is identical or at least substantially identical to the first region of claim 1. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 5, dadurch gekennzeichnet, dass die Abtastung optisch mit nicht-kohärenter Strahlung erfolgt.Method according to one of claims 1 to 5, characterized in that the scanning is carried out optically with non-coherent radiation. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 6, dadurch gekennzeichnet, dass zur Abtastung der Gegenstand und eine Vorrichtung zur Abtastung des Gegenstands in einem konstanten Abstand zueinander bewegt werden und die Abtastung entlang einer einzigen Linie erfolgt.Method according to one of claims 1 to 6, characterized in that for scanning the object and a device for scanning the object are moved at a constant distance from each other and the scanning is carried out along a single line. Verfahren nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, dass die Abtastung mit einem linienförmigen Strahlprofil erfolgt, dessen längere Ausdehnung quer zur Bewegungsrichtung liegt.A method according to claim 7, characterized in that the scanning is carried out with a linear beam profile whose longer extension is transverse to the direction of movement. Verfahren nach Anspruch 8 dadurch gekennzeichnet, dass die Strahlbreite des linienförmigen Strahlprofils um einen Faktor von mehr als 50 größer ist als die Strahldicke.A method according to claim 8, characterized in that the beam width of the linear beam profile by a factor of more than 50 is greater than the beam thickness. Verfahren nach Anspruch 7 oder 8, dadurch gekennzeichnet, dass die Strahldicke des linienförmigen Strahlprofils im Bereich der mittleren Rillenbreite der vorliegenden Oberfläche liegt.A method according to claim 7 or 8, characterized in that the beam thickness of the linear beam profile is in the range of the mean groove width of the present surface. Sensor zur Abtastung einer Oberfläche, mindestens umfassend – einen Block mit einer Außenfläche, einer ersten Durchführung, die in einem Winkel in Bezug zur Normalen der Außenfläche auf die Außenfläche zuläuft, und einer zweiten Durchführung, die in einem Winkel δ in Bezug zur Normalen der Außenfläche auf die Außenfläche zuläuft, wobei die Beträge der Winkel γ und δ gleich sind, – einer Strahlungsquelle, der in der ersten Durchführung angeordnet ist und einen Abtaststrahl in Richtung der Außenfläche senden kann, – optische Elemente zur Formung eines linienförmigen Strahlprofils, – einen Fotodetektor, der in der zweiten Durchführung angeordnet und in Richtung der Außenfläche gerichtet ist.Sensor for scanning a surface, at least comprising A block having an outer surface, a first passage tapering toward the outer surface at an angle relative to the normal of the outer surface, and a second passage tapering toward the outer surface at an angle δ relative to the normal of the outer surface, the amounts the angles γ and δ are equal, A radiation source, which is arranged in the first passage and can send a scanning beam in the direction of the outer surface, Optical elements for forming a linear beam profile, - A photodetector, which is arranged in the second passage and directed towards the outer surface. Sensor nach Anspruch 11, dadurch gekennzeichnet, dass die Strahlbreite im Bereich von 3 mm bis 6,5 mm, bevorzugt im Bereich von 4 mm bis 6 mm, besonders bevorzugt im Bereich von 4,5 mm bis 5,5 mm, und die Strahldicke im Bereich von 10 μm bis 30 μm, bevorzugt im Bereich von 15 μm bis 30 μm, besonders bevorzugt im Bereich von 20 μm bis 27 μm liegt.Sensor according to claim 11, characterized in that the beam width in the range of 3 mm to 6.5 mm, preferably in the range of 4 mm to 6 mm, particularly preferably in the range of 4.5 mm to 5.5 mm, and the beam thickness in the range of 10 microns to 30 microns, preferably in the range of 15 microns to 30 microns, more preferably in the range of 20 microns to 27 microns. Sensor nach einem der Ansprüche 11 oder 12, dadurch gekennzeichnet, dass die Beträge der Winkel γ und δ im Bereich von 5° bis 90°, bevorzugt im Bereich 20° bis 80°, besonders bevorzugt im Bereich 30° bis 70°, ganz besonders bevorzugt im Bereich 40° bis 60° liegen.Sensor according to one of claims 11 or 12, characterized in that the amounts of the angles γ and δ in the range of 5 ° to 90 °, preferably in the range 20 ° to 80 °, particularly preferably in the range 30 ° to 70 °, especially preferably in the range 40 ° to 60 °. Sensor nach einem der Ansprüche 11 bis 13, weiterhin umfasst zwei weitere Durchführungen zur Aufnahme von Fotodetektoren, die in einem Winkel von ε1 bzw. ε2 zur zweiten Durchführung angeordnet sind, wobei die Größe der Winkel ε1 und ε2 1° bis 20°, vorzugsweise 5° bis 15° beträgt.Sensor according to one of claims 11 to 13, further comprising two further feedthroughs for receiving photodetectors, which are arranged at an angle of ε 1 and ε 2 to the second feedthrough, wherein the size of the angle ε 1 and ε 2 1 ° to 20 °, preferably 5 ° to 15 °.
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