DE102009046740B3 - Vorrichtung und Verfahren zum Lokalisieren von modulierten, optischen Strahlungsquellen - Google Patents

Vorrichtung und Verfahren zum Lokalisieren von modulierten, optischen Strahlungsquellen Download PDF

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Abstract

Es wird eine Vorrichtung zum Lokalisieren modulierten, optischen von Strahlungsquellen, die eine Blendeneinrichtung (9; 12, 13) und eine Detektoreinrichtung (2, 3) umfaßt, die bezogen auf längs einer Haupteinfallsachse einfallender Strahlung hinter der Blendenöffnung (5, 7) liegt, beschrieben, wobei die Detektoreinrichtung (2, 3) mindestens drei Detektorelemente (4a–d; 6a–d) aufweist, die um ein Zentrum (Z2, Z3; Z) herum angeordnet sind, und die Blendenöffnung (5, 7) der Blendeneinrichtung aufweist, die mittig über dem Zentrum (Z1, Z2; Z) und längst der Haupteinfallsachse (A2, A3; A) vom Zentrum (Z2, Z3; Z) beabstandet angeordnet ist und alle Detektorelemente (4a–d; 6a–d) in Sicht längs der Haupteinfallsachse (A2, A3; A) nur teilweise überdeckt.

Description

  • Die Erfindung bezieht sich auf eine Vorrichtung zum Lokalisieren von modulierten, optischen Strahlungsquellen, die eine Blendeneinrichtung, welche eine Blendenöffnung hat, und eine Detektoreinrichtung umfaßt, die bezogen auf längs einer Haupteinfallsachse einfallender Laserstrahlung hinter der Blendenöffnung liegt, wobei die Detektoreinrichtung mindestens drei Detektorelemente aufweist, die um ein Zentrum herum angeordnet sind, und die Blendeneinrichtung eine Blendenöffnung aufweist, die mittig über dem Zentrum und längs der Haupteinfallsachse vom Zentrum beabstandet angeordnet ist und alle Detektorelemente in Sicht längs der Haupteinfallsachse nur teilweise überdeckt. Die Erfindung bezieht sich weiter auf ein Verfahren zum Lokalisieren von modulierten, optischen Strahlungsquellen, bei dem eine solche Vorrichtung verwendet wird.
  • Eine solche Vorrichtung ist aus der DE 69610023 T2 bekannt.
  • Sowohl im militärischen als auch im zivilen Bereich werden verstärkt Warnsysteme bzw. Erkennungssysteme zur Detektion von modulierter optischer Strahlung, insbesondere Laserstrahlung, und zur Lokalisierung der Strahlungsquellen eingesetzt. Pulslaserstrahlungsquellen dienen bevorzugt für Zielbeleuchter, Blendlaser oder für die Entfernungsmessung. Die Wellenlänge dieser Strahlung sowohl im zivilen als auch im militärischen Bereich liegt in der Regel im nahen Infrarotbereich, der für das menschliche Auge nicht direkt sichtbar ist.
  • Aus den Patentschriften DE 3323828 C2 und DE 3525518 C2 sind Vorrichtungen und Verfahren zur Detektion und Lokalisierung von Pulslaserstrahlungsquellen bekannt.
  • Außer der Identifizierung von Laserstrahlungspulsen ist vor allem die Richtungserkennung einfallender, modulierter Laserstrahlung von Bedeutung. Lösungen hierzu sind in der Patentliteratur beschrieben, z. B. in der DE 3525518 C2 . Dort werden Glasfasern unterschiedlicher Länge mit sehr schnellen Photoempfängern in sehr aufwendigen Sensoranordnungen eingesetzt. Die damit erreichbare Winkelauflösung im Gradbereich ist für viele Anforderungen aber dennoch nicht ausreichend.
  • In der US-Patentschrift 5428215 ist ein sogenannter Digital High Angular Resolution Laser Irradiation Detector (HARLID) bekannt, bei dem zur Richtungserkennung ein mit vielen Einzeldioden versehenes lineares Diodenarray hinter einer Lochmaskenzeile vorgesehen ist. Dieses Prinzip erlaubt nur eine begrenzte Auflösung (Graycode mit 2 hoch 6 Werten) und keine Aussage über die Wellenlänge. Aufgrund der sehr geringen Fläche der Einzeldioden ist die Empfindlichkeit zudem sehr gering. Daneben kann ein HARLID-Sensor die Strahlung nur bezüglich einer Richtungsebene detektieren.
  • Die Offenlegungsschrift DE 10 2007 024 051 A1 beschreibt eine Vorrichtung und ein Verfahren zur Detektion und Lokalisierung von Laserstrahlungsquellen unter Verwendung einer Beugungsoptik vor einer CCD- oder CMOS-Kamera. Dabei werden sehr hohe Anforderungen an den Dynamikbereich der Kameras gestellt und, um eine hohe Winkelauflösung zu erreichen, sind auch hoch auflösende Spezialkameras mit speziellen Kennlinien erforderlich.
  • Ein großer spektraler Empfindlichkeitsbereich kann beim Ansatz der DE 10 2007 024 051 A1 nur mit unterschiedlichen Kamerasystemen abgedeckt werden, die parallel zu betreiben sind. So werden für den Bereich 800 nm bis 1100 nm CMOS Kameras, für den Wellenlängenbereich 1100 nm bis 1700 nm InGaAs-Kameras und für den Wellenlängenbereich 3–5 μm Infrarotkameras mit Platin-Silizid-Detektoren vorgeschlagen. Um größere Spektralbereiche abzudecken, sind diese unterschiedlichen Kamerasysteme jeweils mit gesonderten Optiken zu verwenden. Das treibt nicht nur die Kosten in die Höhe, sondern auch das Gewicht und benötigt einen nicht unerheblichen Bauraum. Außerdem sind CCD- und CMOS-Kameras prinzipiell nicht für die zeitaufgelöste Messung kurzer Laserimpulse geeignet.
  • Der Erfindung liegt deshalb die Aufgabe zugrunde, eine Vorrichtung und ein Verfahren zum Lokalisieren von modulierten, optischen Strahlungsquellen anzugeben, die bei einfacher Bauweise eine exakte Richtungsangabe über die Lage der Strahlungsquelle liefern. Zudem sollte die Vorrichtung und das Verfahren einfach auf einen breiten Spektralbereich applizierbar sein.
  • Diese Aufgabe wird gelöst mit einer Vorrichtung zum Lokalisieren von modulierten, optischen Strahlungsquellen gemäß der eingangs genannten Art, wobei längs der Haupteinfallsachse der Strahlung eine erste Blendenöffnung, ein erster Satz von mindestens drei um ein Zentrum herum angeordneten Detektorelemente, eine zweite Blendenöffnung und ein zweiter Satz von mindestens drei um ein Zentrum herum angeordneten Detektorelementen aufgereiht sind, wobei in einer Projektion längs der Haupteinfallsachse die Blendenöffnungen und Sätze von Detektorelementen konzentrisch angeordnet sind und die erste Blendenöffnung und der erster Satz in der Projektion längs der Haupteinfallsachse die zweite Blendenöffnung und den zweiten Satz außen umgeben und wobei die Detektorelemente der zwei Sätze unterschiedliche spektrale Empfindlichkeit aufweisen.
  • Die Aufgabe wird ebenfalls gelöst mit einem Verfahren zum Erkennen und Lokalisieren von Strahlungsquellen, wobei die genannte Vorrichtung in einer Ausführung mit vier Detektorelementen verwendet wird und ein Wert für einen ersten Winkel einfallender Strahlung gemäß der Gleichung A = (Sa + Sd – Sb – Sc)/(Sa + Sb + Sc + Sd) und ein Wert für einen zweiten Winkel einfallender Strahlung gemäß der Gleichung E = (Sa + Sc – Sb – Sd)/(Sa + Sb + Sc + Sd) berechnet, wobei Sa–Sd die Signale der einzelnen Detektorelemente sind. Der erste Winkel kann der Azimut-, der zweite der Elevationswinkel sein.
  • Erfindungsgemäß werden also mindestens drei Detektorelemente verwendet, die um ein Zentrum herum angeordnet sind. Über dem Zentrum liegt die Blendenöffnung der Blendeneinrichtung, wobei die Blendenöffnung längs der Haupteinfallsachse die Detektorelemente nur teilweise überdeckt. Da zugleich ein Abstand zwischen der Blendenöffnung und dem Detektorelementen besteht, hängt die Fläche, welche die Blendenöffnung über einem Detektorelement frei läßt, vom Winkel der Projektion und damit von der aktuellen Einfallsrichtung der Laserstrahler ab. Je schräger die Strahlung einfällt, desto mehr wird ein gegebenes Detektorelement mit Strahlung beaufschlagt und desto weniger Strahlung erhält das bezogen auf das Zentrum gegenüberliegende Detektorelement. Die Detektorelemente haben vorzugsweise keine Ortsauflösung, da diese für das Konzept gar nicht benötigt wird. Ihr strahlungsempfindlicher, nicht ortsauflösender Empfangsbereich wird je nach Richtung eintreffender Strahlung mehr oder weniger von der Blende abgeschattet, wodurch sich ein richtungsabhängiges Signal ergibt.
  • Sowie diese Beschreibung von Detektorelementen spricht, ist damit die strahlungsempfindliche Fläche eines strahlungsdetektierenden Elementes gemeint. Dies gilt insbesondere für die in dieser Beschreibung zu findenden Lageangaben, die sich jeweils auf die strahlungsempfindliche Fläche beziehen.
  • Die Detektorelemente liegen vorzugsweise im Rahmen der Justiergenauigkeit in einer Ebene. Die Haupteinfallsachse ist dann die Achse, welche auf der Ebene senkrecht steht, und das Zentrum wird definiert durch den Durchstoßpunkt der Haupteinfallsachse durch die Ebene, in welcher die Detektorelemente angeordnet sind.
  • Es ist aber auch möglich, die Detektorelemente gezielt schräg zu stellen, z. B. in Form eines Tetraedermantels. Die Haupteinfallsachse ist dann diejenige Achse, die mit den Ebenen aller Detektorelemente im Rahmen der Justiergenauigkeit den gleichen Winkel einschließt. Das Zentrum ist dann definiert durch den Durchstoßpunkt der Haupteinfallsachse durch die Ebene, in welche die Zentren aller Detektorelemente aufspannen.
  • Aus der Vertrimmung, welche die Signale der Detektorelemente gegeneinander zeigen, kann die Richtung der einfallenden Laserstrahlung sehr präzise und mit einer sehr hohen Auflösung ermittelt werden. Im erfindungsgemäßen Verfahren werden dabei die oben erwähnten Winkelgleichungen verwendet, die den Azimutwinkel A und den Elevationswinkel E liefern. Diese Gleichungen addieren die Signale nebeneinanderliegender bzw. gegenüberliegender Detektorelemente und ziehen davon die addierten Signale des verbleibenden Detektorpaares ab. Zur Normierung wird die Gesamtsumme aller Signale herangezogen. Als Signal kann insbesondere die Signalamplitude oder ein daraus abgeleiteter Wert verwendet werden.
  • Die Anordnung der Detektorelemente um das Zentrum herum ist vorzugsweise auf die Form der Blendenöffnung so abgestimmt, daß für alle Detektorelemente in einer Projektion längs der Haupteinfallsachse die von der Blendenöffnung freigelassenen, also nicht überdeckten Flächenbereiche gleich sind, da dann für Strahlung, welche längs der Haupteinfallsrichtung einfällt, alle Detektorelemente mit der gleichen Strahlungsmenge beaufschlagt werden und somit ein Signal gleicher Amplitude oder gleicher Intensität abgeben.
  • Die Anordnung der Detektorelemente um das Zentrum herum kann insbesondere kreisförmig sein. Darunter ist zu verstehen, daß die Zentren der einzelnen Detektorelemente auf einer Kreislinie liegen. Damit ist nicht zwingend verbunden, daß die Randbegrenzungen der Detektorelemente tangential zu einem Kreis angeordnet sind. Eine kreisförmige Anordnung im Sinne dieser Beschreibung ist also insbesondere auch die Anordnung von rechteckigen oder quadratischen Sensorelementen in einem dreieckigen, rechteckigen oder quadratischen Muster (Begrenzungskante der Detektorelemente liegen parallel und Zentren der Detektorelemente liegen auf den Ecken eines Dreieckes, Rechteckes oder Quadrates). Bei einer kreisförmigen Anordnung ist es besonders vorteilhaft, die Blendenöffnung symmetrisch auszubilden und anzuordnen.
  • Die Form der Blendenöffnung kann durchaus anders sein als die Form der Detektorelemente. Insbesondere kann eine fertigungstechnisch einfach herzustellende, runde Blendenöffnung mit rechteckigen oder quadratischen Detektorelementen kombiniert werden.
  • Das erfindungsgemäße Konzept kann bereits bei ausreichend breitbandigen Detektorelementen mit Sätzen von je mindestens drei Detektorelementen und einer Blendenöffnung realisiert werden. Die Richtungsauflösung steigt mit der Zahl an Detektorelementen. Bei vier Detektorelementen können fertigungstechnisch günstige, quadratische Detektorelemente verwendet werden.
  • In bestimmten Applikationen, insbesondere im militärischen Bereich, wird ein sehr breiter Wellenlängenbereich gewünscht, für den die Vorrichtung eine sehr hohe Empfindlichkeit besitzen muß. Der abzudeckende Wellenlängenbereich kann dabei zwischen 500 nm und 1700 nm liegen. Ist zudem das spektrale Rauschen außerhalb der schmalbandigen Laserstrahlung groß, können Detektoren mit einer Bandbreite, die den gesamten Wellenlängenbereich erfassen, mitunter Probleme haben, schmalbandige Strahlung unter anderen breitbandigen Strahlungsquellen der Umgebung zu identifizieren. Für solche Anwendungen ist es gemäß der Erfindung vorgesehen, daß die Detektoreinrichtung mindestens zwei Sätze von erfindungsgemäß angeordneten Detektorelementen umfaßt, wobei jeder Satz mindestens drei um ein Zentrum angeordnete Detektorelemente aufweist. Die Blendeneinrichtung verfügt pro Satz von Detektorelementen über je eine Blendenöffnung. Diese Sätze an Detektorelementen mit darüberliegenden Blendenöffnungen sind nebeneinander angeordnet, so daß jeder Satz an Detektorelementen mit darüberliegender Blendenöffnung um ein eigenes Zentrum gruppiert ist. Dadurch ergibt sich für jeden Satz eine eigene Haupteinfallsachse. Die Sätze unterscheiden sich hinsichtlich der spektralen Empfindlichkeit ihrer Detektorelemente. Damit wird ein großer Spektralbereich hinreichend gut abgedeckt, ohne das Signal-/Rausch-Verhältnis zu mindern. Natürlich können auch mehr als zwei, sich in ihrer spektralen Empfindlichkeit voneinander unterscheidende Arten von Detektorelementen verwendet werden.
  • Auch können zur Verbesserung der Richtungsauflösung mehrere nebeneinanderliegende Sätze von Detektorelementen gleicher spektraler Empfindlichkeit gegeneinander verdreht werden, wobei der Drehwinkel vorzugsweise geringer ist, als ein auf das Zentrum bezogener Winkelabstand zwischen zwei im Satz benachbarten Detektorelementen. Besonders günstig ist ein Drehwinkel der ein n-tel des Winkelabstands zwischen zwei im Satz benachbarten Detektorelementen beträgt, wobei n die Zahl der in verschiedener Drehlage vorgesehenen Sätze ist.
  • Zur Auswertung können die Mittelwerte der für jeden Satz getrennt berechneten Winkel E und A ermittelt werden. Alternativ kann der Satz mit dem höchsten Summensignal ausgewählt werden. Es ist auch eine Gewichtung der Winkel E und A mit dem Summensignal des jeweiligen Satzes möglich.
  • Justieraufwand ist vermieden, da zwei Sätze von jeweils um ein Zentrum herum angeordneten Detektorelementen mit zugehöriger Blendenöffnung in Sicht längs der Haupteinfallsachse verschachtelt werden. Es werden also längs der Haupteinfallsachse der Strahlung eine erste Blendenöffnung, dahinter ein erster Satz von mindestens drei kreisförmig angeordneten Detektorelementen, dahinter eine zweite Blendenöffnung und schließlich ein zweiter Satz von mindestens drei um ein Zentrum herum angeordneten Detektorelementen aufgereiht. In einer Projektion längs der Haupteinfallsachse sind die Blendenöffnungen und die Sätze von Detektorelementen in dem Sinne konzentrisch angeordnet, daß die Zentren auf der Haupteinfallsachse hintereinander liegen. Die erste Blendenöffnung und der erste Satz umgibt dabei in dieser Projektion die zweite Blendenöffnung und den zweiten Satz, d. h. die zweite Blendenöffnung und der zweite Satz liegen in einem frei gelassenen Bereich zwischen dem ersten Satz der Detektorelemente. Verwendet man für die beiden Sätze Detektorelemente unterschiedlicher spektraler Empfindlichkeit, sorgt die längs der dann nur noch einzigen Haupteinfallsachse verschachtelte Anordnung automatisch dafür, daß ein spektraler Fehler bei der Richtungsangabe minimiert ist. Zudem ist ein kompakter Aufbau erzielt, der beispielsweise in ein bekanntes TO-Gehäuse paßt.
  • Eine Aussage über die spektrale Zusammensetzung der detektierten Strahlung erhält man, wenn die Signale der spektral unterschiedlichen Photoempfänger zueinander ins Verhältnis gesetzt werden.
  • Eine besonders große spektrale Bandbreite erreicht man, wenn man für einen der Sätze Silizium-Photoempfänger und für den anderen der Sätze Indium-Gallium-Arsenid-Photoempfänger verwendet. Dann kann vorteilhafterweise auch ausgenutzt werden, daß Indium-Gallium-Arsenid-Photoempfänger bei gleicher Empfindlichkeit kleiner als Silizium-Photoempfänger ausgelegt werden können und somit gut die Lücke zwischen den Silizium-Photoempfängern abdecken können.
  • Eine besonders gute Winkelauflösung ergibt sich, wenn die Blendenöffnung in einem Abstand zur Ebene der Detektorelemente liegt, die der halben Breite der Detektorelemente mal dem Arkussinus des halben Soll-Winkelmeßbereichs, der erfaßt werden soll, entspricht. Bei der Verwendung von optisch brechendem Flächenaufbau, z. B. zwischen Blendenöffnung und Detektorelementen, ist die Brechungswirkung entsprechend zu berücksichtigen, was durch einen entsprechenden Zuschlag in der Höhe erfolgen kann.
  • Es versteht sich, daß die vorstehend genannten und die nachstehend noch zu erläuternden Merkmale nicht nur in den angegebenen Kombinationen, sondern soweit technisch möglich auch in anderen Kombinationen oder in Alleinstellung einsetzbar sind, ohne den Rahmen der vorliegenden Erfindung zu verlassen. Auch ist eine Beschreibung der Erfindung in Verbindung mit Laserstrahlung nur exemplarisch und nicht einschränkend zu verstehen.
  • Nachfolgend wird die Erfindung beispielsweise anhand der beigefügten Zeichnungen, die auch erfindungswesentliche Merkmale offenbaren, noch näher erläutert. Es zeigen:
  • 1 schematisch eine Draufsicht auf einen Laserstrahldetektor 1 in einer ersten Bauweise,
  • 2 eine Schnittdarstellung entlang der Linie A-A der 1,
  • 3 eine zweite Bauweise eines Laserstrahldetektors,
  • 4 eine Schnittdarstellung entlang der Linie B-B der 3 und
  • 5 eine Draufsicht auf einen Laserstrahldetektor 1 in einer dritten Bauweise.
  • 1 zeigt schematisch eine Draufsicht auf einen Laserstrahlungsdetektor 1. Dieser umfaßt zwei Detektorgruppen 2 und 3, nämlich eine Silizium-Detektorgruppe 2 und eine Indium-Gallium-Arsenid-(InGaAs)-Detektorgruppe. Jede Detektorgruppe umfaßt vier einzelne Detektoren, wobei sowohl die Zahl der Detektoren, als auch deren geometrische Ausbildung rein exemplarisch ist. Die Silizium-Detektorgruppe 2 weist vier Silizium-Photoempfänger 4a–d auf, die um ein Zentrum Z2 herum kreisförmig angeordnet sind. In einer gleichen Anordnung um ein Zentrum Z3 liegen die vier InGaAs-Photoempfänger der InGaAs-Detektorgruppe 3. Jede Detektorgruppe stellt eine Detektoreinrichtung dar, deren Detektorelemente die Detektoren sind.
  • Diese Kombination ist für eine Wellenlängenanalyse vorteilhaft, aber nicht per se zwingend. Es kann auch nur mit einer Detektorgruppe gearbeitet werden.
  • Über der Silizium-Detektorgruppe 2 befindet sich eine Blende, die eine Blendenöffnung 5 hat, welche in 1 durch eine gestrichelte Linie schematisch verdeutlicht ist. Die Blendenöffnung 5 liegt mittig über dem Zentrum Z2 und läßt in senkrechter Draufsicht, wie sie die 1 zeigt, nur einen Teil jedes darunter liegenden Silizium-Photoempfängers 4a–d frei.
  • Auf gleiche Weise befindet sich auch über der InGaAs-Detektorgruppe 3 eine Blende mit einer Blendenöffnung 7, die zentral zum Zentrum Z3 angeordnet ist.
  • Die Lage der Blendenöffnungen zu den Photoempfängern ist in 2 gut zu erkennen, die eine Schnittdarstellung durch die Linie A-A der 1 zeigt. Da in allen Figuren sich strukturell oder funktionell entsprechende Bauteile mit denselben Bezugszeichen versehen sind, kann auf eine Wiederholung der entsprechenden Beschreibung verzichtet werden.
  • In 2 ist zusätzlich noch für jede Detektorgruppe eine Hauptachse A2 bzw. A3 zu sehen, die durch das jeweilige Zentrum Z2, Z3 läuft. Die Hauptachsen und Zentren sind in 2 eingetragen, obwohl sie eigentlich nicht in der Schnittlinie A-A liegen. Die Eintragung soll das Verständnis der Funktionsweise des Laserstrahldetektors 1 erleichtern.
  • 2 zeigt weiter, daß die Blendeneinrichtung 9, welche die Blendenöffnungen 5 und 7 bereitstellt, längs der Haupteinfallsachsen im Abstand zu den Detektorgruppen 2 und 3 liegt. Dabei ist in 2 schematisch der Abstand für beide Detektorgruppen gleich. Dies ist jedoch nicht zwingend der Fall, vielmehr kann es vorteilhaft sein, die Höhe der Blende über der jeweiligen Detektorgruppe so zu wählen, daß sie dem Produkt aus halber Breite eines einzelnen Photoempfängers und dem Cotangens des halben gewünschten Winkelmeßbereichs für die Richtung einer Laserstrahlungsquelle entspricht.
  • Zur Verdeutlichung der Funktion des Laserstrahlungsdetektors 1 ist in 2 schematisch eine Einfallsrichtung 10 für eine zu detektierende, modulierte Laserstrahlung eingetragen. Die Einfallsrichtung 10 führt dazu, daß sich die Schattenkanten der Blendenöffnung 5 über den darunterliegenden Photoempfängern (in 2 sind hier exemplarisch die Photoempfänger 4c, 4d eingezeichnet) verschieben. Der Photoempfänger 4d wird aufgrund der schräg einfallenden Laserstrahlung geringer beleuchtet, der Photoempfänger 4c stärker. Durch die derart bewirkte Verschiebung eines ausgeleuchteten Feldes 11 tritt eine Verstimmung der Photoempfänger 4a4d auf. Durch Auswertung dieser Verstimmung kann die Einfallsrichtung 10 präzise bestimmt werden.
  • Dazu werden die Signale der Photoempfänger 4a4d geeignet ausgewertet. Ein Wert für den Azimutwinkel ergibt sich aus der Differenz der Signalamplitudensummen gegenüberliegender Photoempfänger. Ein Wert für den Elevationswinkel ergibt sich aus der Differenz der Amplitudensummen benachbarter Photoempfänger. Zweckmäßigerweise wird man beide Werte durch die Gesamtsumme der Signalamplituden normieren.
  • Das anhand der Silizium-Detektorgruppe 2 erläuterte Vorgehen gilt natürlich gleichermaßen auch für die InGaAs-Detektorgruppe 3.
  • Die Verwendung zweier unterschiedlicher Detektorgruppen 2, 3 hat nicht nur den Vorteil, daß eine größere spektrale Bandbreite erreicht werden kann, es ist auch möglich, eine Aussage über die spektrale Zusammensetzung der detektierten Laserstrahlung zu treffen. Dazu werden die jeweils für sich detektierten Signale der zwei Detektorgruppen zueinander ins Verhältnis gesetzt. Zweckmäßigerweise wird man dazu die Signalamplituden der jeweiligen Detektorgruppen aufsummieren, jedoch sind auch andere Vergleiche möglich.
  • 3 zeigt ein Ausführungsbeispiel der Erfindung für einen Laserstrahldetektor 1. In der Bauweise der 3 sind die zwei Detektorgruppen 2, 3 und ihre zugehörigen Blendenöffnungen 5, 7, die in 1 nebeneinander angeordnet waren, konzentrisch um ein gemeinsames Zentrum Z angeordnet. Diese Bauweise nutzt zum einen vorteilhaft aus, daß die InGaAs-Photoempfänger 6a–d sehr viel kleiner sind, als die Silizium-Photoempfänger 4a–d. Zum anderen erreicht die Bauweise der 3 einen kompakteren Aufbau, der in ein TO-Gehäuse paßt, wie es die Schnittdarstellung der 4 zeigt.
  • Die Schnittdarstellung läßt weiter erkennen, daß die zwei Detektorgruppen mit den zugehörigen Blendenöffnungen längs der Haupteinfallsrichtung A verschachtelt sind. In Richtung der einfallenden Strahlung liegt zuerst eine Blende 12, die die Blendenöffnung 5 bereitstellt. Daran schließt in Einfallsrichtung die Silizium-Detektorgruppe an, von der in der Schnittdarstellung die Silizium-Photoempfänger 4c, 4d eingezeichnet sind. Die Photoempfänger selbst können dabei bereits als Blende für die nochmals tiefer liegende InGaAs-Detektorgruppe dienen, von der in der Schnittdarstellung der 4 die InGaAs-Photoempfänger 6c, d dargestellt sind. Wie die Draufsicht der 3 zeigt, ist jedoch noch eine zusätzliche Blende 13 erforderlich, um die Blendenöffnung 7 vollständig zu begrenzen.
  • Im Aufbau der 4 ist die Blende 12 als strukturierte Metallschicht auf der Oberseite eines ersten Glasträgers 14 realisiert. Die vier Photoempfänger 4a–d der Silizium-Detektorgruppe 2 sind auf der Unterseite eines zweiten Glasträgers 15 angebracht. Die Unterseite dieses zweiten Glasträgers 15 ist dabei mit einer strukturierten Metallschicht versehen, welche die zweite Blende 13 realisiert und zugleich über den aktiven Flächen der Photoempfänger 4a–d geöffnet ist. Zudem bildet diese auf dem zweiten Glasträger 15 ausgebildete Blende 13 die zweite Blendenöffnung 7.
  • Der Abstand zwischen erster Blendenöffnung 5 und Silizium-Detektorgruppe 2 (Silizium-Photoempfänger 4a–d) wird über die Dicke der Glasträger 14, 15 eingestellt. Bei der Wahl der Dicke wird ein Brechungseffekt, der an den Glasträgeroberflächen auftritt, berücksichtigt, um einen gewünschten optischen Abstand zu realisieren.
  • Die InGaAs-Photoempfänger 6a–d sind ihrerseits auf einer Leiterplatte 16 angeordnet, die zudem die elektrischen Kontakte aller Photoempfänger sammelt. Die Leiterplatte 16 ist auf einem TO-Boden 18 befestigt, durch den Signalleitungen 19 nach außen geführt werden. Insgesamt sind neun Signalleitungen vorhanden, um die Signale von den vier Silizium-Photoempfängern 4a–d, den vier InGaAs-Photoempfängern 6a–d sowie eine gemeinsame Rückleitung bereitzustellen.
  • Der Abstand zwischen den InGaAs-Photoempfängern und der Blendenöffnung 7 ist durch Abstandshalter 17 eingestellt. Weitere Abstandshalter 9 realisieren einen Abstand zwischen der Unterseite der Leiterplatte 16 und dem TO-Boden 18. Der gesamte Aufbau ist mittels eines Vergusses 21 in eine Gehäusewand 22 eingesetzt, die über den TO-Boden 18 gesetzt ist.
  • Die Funktionsweise des Aufbaus der 3, 4 entspricht dem der 1 und 2, mit dem Unterschied, daß es nur eine einzige Haupteinfallsachse A gibt. Etwaige örtliche Fluktuationen der einfallenden Laserstrahlung haben deshalb ggf. geringere Auswirkungen.
  • 5 zeigt schematisch eine Draufsicht auf einen Laserstrahldetektor 1 in einer weiteren Bauweise, wobei die Draufsicht der der 1 entspricht.
  • Der Laserstrahlungsdetektor 1 umfaßt mehrere Detektorgruppen 31, 32, 33 und 34, die jeweils der Detektorgruppe 2 der 1 entsprechen. Die Detektorgruppe 3 der 1 ist in der Bauweise der 5 nicht dargestellt. Natürlich können solche weiteren Detektorgruppen ebenfalls im Detektorfeld des Laserstrahlungsdetektors 1 der 5 enthalten sein.
  • Jede Detektorgruppe stellt eine Detektoreinrichtung dar und umfaßt also einen Satz von Detektorelementen, die zueinander einen bestimmten Winkelabstand haben. In der Bauweise der 5 beträgt der Winkelabstand 90° und eine Detektorgruppe wird durch einen Satz von vier Einzeldetektoren gebildet.
  • Der wesentliche Aspekt des Laserstrahlungsdetektors 1 der 5 ist, daß er mehrere Detektorgruppen 31 bis 34 umfaßt, die im Ausführungsbeispiel jeweils vier Detektoren (gekennzeichnet durch die Anfügung .4a bis .4d) aufweisen. Die Detektoren .4a bis .4d entsprechen den Detektoren 4a bis 4d der 1. Wie bereits anhand dieser Figur erläutert, hängt die Signalamplitude jedes einzelnen Detektors davon ab, wie stark dieser Detektor mit Strahlung beleuchtet ist. Ist ein Detektor durch die entsprechende Blende .5 stark abgeschattet, fällt die Strahlung vergleichsweise stark aus den Quadranten ein, in dem der Detektor liegt.
  • Für verbesserte Winkelauflösung sind die vier Detektorgruppen 31 bis 34 gegeneinander verdreht. Der Winkelabstand zwischen hinsichtlich der Verdrehung aufeinanderfolgenden Detektorgruppen beträgt dabei 22,5°, da die Detektoren .4a bis .4d jeder Detektorgruppe 31 bis 34 zueinander einen Winkelabstand von 90° haben.
  • Legt man gedanklich die Detektorgruppen 31 bis 34 über ein gemeinsames Zentrum übereinander, wird die Winkelverschiebung deutlich. Sie bewirkt eine gesteigerte Winkelauflösung.
  • Natürlich ist die Zahl der Detektoren jeder Detektorgruppe in 5 genauso exemplarisch, wie die Zahl der Detektorgruppen. Eine verbesserte Winkelauflösung kann schon bei der Verwendung von nur drei Detektoren je Detektorgruppe und bei zwei Detektorgruppen erreicht werden. Für eine optimale Winkelauflösung mit einer gegebenen Anzahl von Detektorgruppen ist ein Winkelabstand zwischen hinsichtlich der Verdrehung aufeinanderfolgender Detektorgruppen vorzuziehen, der ein n-tel des Winkelabstandes der Detektoren in der Detektorgruppe entspricht.
  • Die Auswertung der Signale der Detektorgruppen kann auf verschiedene Art und Weise erfolgen. In einer einfachen Auswertung wird für jede Detektorgruppe 31 bis 34 der Wert für den Azimutwinkel und den Elevationswinkel gemäß der oben genannten Gleichung berechnet. Die derart erhaltenen mehreren Werte für Azimutwinkel und Elevationswinkel können dann einer Mittelung unterworfen werden.
  • Eine genauere Berechnung erreicht man, wenn die einzelnen Werte für den Azimutwinkel und den Elevationswinkel gewichtet gemittelt werden. Für den Richtungsfaktor kann die Signalsumme, beispielsweise die Amplitudensumme der Detektoren einer jeden Detektorgruppe verwendet werden.
  • Möchte man den damit verbundenen Rechenaufwand vermeiden, genügt es auch, den oder diejenigen Detektorgruppen für die Mittelung (oder gewichtete Mittelung) auszuwählen, die unter den m höchsten Signalsummen (erhalten aus den Signalen der Detektoren) der n Detektorgruppen liegen. In einem einfachsten Fall wird m gleich 1 gesetzt, d. h. es werden Azimut- und Elevationswinkel desjenigen Laserstrahldetektors ausgewählt, der die höchste Signalsumme hat.

Claims (10)

  1. Vorrichtung zum Lokalisieren von modulierten, optischen Strahlungsquellen, die eine Blendeneinrichtung (9; 12, 13), welche eine Blendenöffnung (5, 7) hat, und eine Detektoreinrichtung (2, 3) umfaßt, die bezogen auf längs einer Haupteinfallsachse einfallende Strahlung hinter der Blendenöffnung (5, 7) liegt, wobei die Detektoreinrichtung (2, 3) mindestens drei Detektorelemente (4a–d; 6a–d) aufweist, die um ein Zentrum (Z2, Z3; Z) herum angeordnet sind, und die Blendenöffnung (5, 7) der Blendeneinrichtung aufweist, die mittig über dem Zentrum (Z1, Z2; Z) und längs der Haupteinfallsachse (A2, A3; A) vom Zentrum (Z2, Z3; Z) beabstandet angeordnet ist und alle Detektorelemente (4a–d; 6a–d) in Sicht längs der Haupteinfallsachse (A2, A3; A) nur teilweise überdeckt, dadurch gekennzeichnet, daß längs der Haupteinfallsachse der Strahlung eine erste Blendenöffnung (5), ein erster Satz von mindestens drei um ein Zentrum herum angeordneten Detektorelemente (4a–d), eine zweite Blendenöffnung (7) und ein zweiter Satz von mindestens drei um ein Zentrum herum angeordneten Detektorelementen (6a–d) aufgereiht sind, wobei in einer Projektion längs der Haupteinfallsachse (A) die Blendenöffnungen (5, 7) und Sätze von Detektorelementen (4a–d; 6a–d) konzentrisch angeordnet sind und die erste Blendenöffnung (5) und der erster Satz (4a–d) in der Projektion längs der Haupteinfallsachse (A) die zweite Blendenöffnung (7) und den zweiten Satz (6a–d) außen umgeben und wobei die Detektorelemente der zwei Sätze unterschiedliche spektrale Empfindlichkeit aufweisen.
  2. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Blendenöffnung (5, 7) quadratisch ist.
  3. Vorrichtung nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Ecken der Blendenöffnung (5, 7) über den Zentren der jeweils darunterliegenden Detektorelementen (4a–d; 6a–d) liegen.
  4. Vorrichtung nach Anspruch 1, 2 oder 3, dadurch gekennzeichnet, daß die Detektorelemente des einen der Sätze (4a–d) Silizium-Photoempfänger und die Detektorelemente des anderen der Sätze (6a–d) Indium-Gallium-Arsenid-Photoempfänger sind.
  5. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet, daß die Detektoreinrichtung mindestens zwei Paare von zwei Sätzen (2, 3) von jeweils mindestens drei, um ein Zentrum herum angeordneten Detektorelemente (4a–d; 6a–d) aufweist, und daß die Blendeneinrichtung (9) pro Satz von mindestens drei um ein Zentrum herum angeordneten Detektorelementen (4a–d; 6a–d) eine Blendenöffnungen (5, 7) umfaßt, wobei die Paare von Sätzen von Detektorelementen gegeneinander um einen Drehwinkel verdreht sind.
  6. Vorrichtung nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, daß der Drehwinkel geringer ist als ein Winkelabstand zwischen zwei hinsichtlich der Verdrehung benachbarten Detektorelementen, wobei vorzugsweise bei n in verschiedenen Drehlagen vorgesehenen Sätzen der Drehwinkel ein n-tel des Winkelabstandes beträgt.
  7. Vorrichtung nach einem der obigen Ansprüche, gekennzeichnet durch eine Ausführung mit vier Detektorelementen und eine Auswerteeinrichtung, die mit den vier Detektorelementen verbunden ist und die ein Wert für einen ersten Winkel einfallender Strahlung gemäß der Gleichung A = (Sa + Sd – Sb – Sc)/(Sa + Sb + Sc + Sd) und ein Wert für einen zweiten Winkel einfallender Strahlung gemäß der Gleichung E = (Sa + Sc – Sb – Sd)/(Sa + Sb + Sc + Sd) berechnet, wobei Sa–Sd die Signalamplituden der vier Detektorelemente (4a bis 4d bzw. 6a bis 6d) sind.
  8. Verfahren zum Lokalisieren von modulierten, optischen Strahlungsquellen, dadurch gekennzeichnet, daß eine Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 6 in einer Ausführung mit vier Detektorelementen verwendet wird und ein Wert für einen ersten Winkel einfallender Strahlung gemäß der Gleichung A = (Sa + Sd – Sb – Sc)/(Sa + Sb + Sc + Sd) und ein Wert für einen zweiten Winkel einfallender Strahlung gemäß der Gleichung E = (Sa + Sc – Sb – Sd)/(Sa + Sb + Sc + Sd) berechnet, wobei Sa–Sd die Signalamplituden der vier Detektorelemente sind.
  9. Verfahren nach Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet, daß eine Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 6 verwendet wird, wobei durch Verhältnisbildung von Signalen von Photoempfängern unterschiedlicher spektraler Empfindlichkeit ein die Wellenlänge der detektierten Strahlung anzeigendes Signal erzeugt wird.
  10. Verfahren nach einem der Ansprüche 8 oder 9, dadurch gekennzeichnet, daß eine Vorrichtung nach Anspruch 5 oder 6 verwendet wird und für jedes Paar von Sätzen die Werte für ersten und zweiten Winkel getrennt berechnet und dann gemittelt werden, wobei vor der Mittelung vorzugsweise eine Selektion oder Wichtung anhand der summierten Signale jedes Paares von Sätzen erfolgt.
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