DE102009041905A1 - Serielle Verschaltung von Dünnschichtsolarzellen - Google Patents
Serielle Verschaltung von Dünnschichtsolarzellen Download PDFInfo
- Publication number
- DE102009041905A1 DE102009041905A1 DE102009041905A DE102009041905A DE102009041905A1 DE 102009041905 A1 DE102009041905 A1 DE 102009041905A1 DE 102009041905 A DE102009041905 A DE 102009041905A DE 102009041905 A DE102009041905 A DE 102009041905A DE 102009041905 A1 DE102009041905 A1 DE 102009041905A1
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- trench
- thin
- film solar
- layer
- solar cells
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 239000010409 thin film Substances 0.000 title claims abstract description 32
- 238000000034 method Methods 0.000 claims abstract description 20
- 210000004027 cell Anatomy 0.000 claims description 43
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 27
- 238000011049 filling Methods 0.000 claims description 23
- 229920000642 polymer Polymers 0.000 claims description 21
- 229920001940 conductive polymer Polymers 0.000 claims description 16
- 239000006096 absorbing agent Substances 0.000 claims description 14
- 238000001771 vacuum deposition Methods 0.000 claims description 6
- 238000004070 electrodeposition Methods 0.000 claims description 5
- 239000004020 conductor Substances 0.000 claims description 4
- 238000007639 printing Methods 0.000 claims description 3
- 238000007650 screen-printing Methods 0.000 claims description 3
- NIXOWILDQLNWCW-UHFFFAOYSA-M Acrylate Chemical compound [O-]C(=O)C=C NIXOWILDQLNWCW-UHFFFAOYSA-M 0.000 claims description 2
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- 239000012777 electrically insulating material Substances 0.000 claims description 2
- 229920001296 polysiloxane Polymers 0.000 claims description 2
- 229910052814 silicon oxide Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 238000005507 spraying Methods 0.000 claims description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 abstract description 10
- XLOMVQKBTHCTTD-UHFFFAOYSA-N Zinc monoxide Chemical compound [Zn]=O XLOMVQKBTHCTTD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 14
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 7
- 239000011787 zinc oxide Substances 0.000 description 7
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 6
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 5
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 5
- 229920001721 polyimide Polymers 0.000 description 5
- 238000007605 air drying Methods 0.000 description 4
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 4
- 230000008021 deposition Effects 0.000 description 4
- 239000000463 material Substances 0.000 description 4
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 4
- 229910052750 molybdenum Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000011733 molybdenum Substances 0.000 description 4
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 4
- 229910052980 cadmium sulfide Inorganic materials 0.000 description 3
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 3
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 3
- 239000011669 selenium Substances 0.000 description 3
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 3
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 3
- WUPHOULIZUERAE-UHFFFAOYSA-N 3-(oxolan-2-yl)propanoic acid Chemical compound OC(=O)CCC1CCCO1 WUPHOULIZUERAE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N Molybdenum Chemical compound [Mo] ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000004642 Polyimide Substances 0.000 description 2
- BUGBHKTXTAQXES-UHFFFAOYSA-N Selenium Chemical compound [Se] BUGBHKTXTAQXES-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- NINIDFKCEFEMDL-UHFFFAOYSA-N Sulfur Chemical compound [S] NINIDFKCEFEMDL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- KTSFMFGEAAANTF-UHFFFAOYSA-N [Cu].[Se].[Se].[In] Chemical compound [Cu].[Se].[Se].[In] KTSFMFGEAAANTF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 2
- 239000000969 carrier Substances 0.000 description 2
- 239000002800 charge carrier Substances 0.000 description 2
- 238000010924 continuous production Methods 0.000 description 2
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 2
- 238000001312 dry etching Methods 0.000 description 2
- 239000010408 film Substances 0.000 description 2
- 239000011888 foil Substances 0.000 description 2
- 238000005755 formation reaction Methods 0.000 description 2
- 229910052733 gallium Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910052738 indium Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000013528 metallic particle Substances 0.000 description 2
- 150000002751 molybdenum Chemical class 0.000 description 2
- 238000005457 optimization Methods 0.000 description 2
- 238000000059 patterning Methods 0.000 description 2
- 238000002360 preparation method Methods 0.000 description 2
- 229910052711 selenium Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 2
- BUHVIAUBTBOHAG-FOYDDCNASA-N (2r,3r,4s,5r)-2-[6-[[2-(3,5-dimethoxyphenyl)-2-(2-methylphenyl)ethyl]amino]purin-9-yl]-5-(hydroxymethyl)oxolane-3,4-diol Chemical compound COC1=CC(OC)=CC(C(CNC=2C=3N=CN(C=3N=CN=2)[C@H]2[C@@H]([C@H](O)[C@@H](CO)O2)O)C=2C(=CC=CC=2)C)=C1 BUHVIAUBTBOHAG-FOYDDCNASA-N 0.000 description 1
- MARUHZGHZWCEQU-UHFFFAOYSA-N 5-phenyl-2h-tetrazole Chemical compound C1=CC=CC=C1C1=NNN=N1 MARUHZGHZWCEQU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- JBRZTFJDHDCESZ-UHFFFAOYSA-N AsGa Chemical compound [As]#[Ga] JBRZTFJDHDCESZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- GYHNNYVSQQEPJS-UHFFFAOYSA-N Gallium Chemical compound [Ga] GYHNNYVSQQEPJS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910001218 Gallium arsenide Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 1
- 229910021417 amorphous silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000010923 batch production Methods 0.000 description 1
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- RPPBZEBXAAZZJH-UHFFFAOYSA-N cadmium telluride Chemical compound [Te]=[Cd] RPPBZEBXAAZZJH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000010549 co-Evaporation Methods 0.000 description 1
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 1
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 1
- CDZGJSREWGPJMG-UHFFFAOYSA-N copper gallium Chemical compound [Cu].[Ga] CDZGJSREWGPJMG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- HVMJUDPAXRRVQO-UHFFFAOYSA-N copper indium Chemical compound [Cu].[In] HVMJUDPAXRRVQO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000006735 deficit Effects 0.000 description 1
- 238000005137 deposition process Methods 0.000 description 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- ZZEMEJKDTZOXOI-UHFFFAOYSA-N digallium;selenium(2-) Chemical compound [Ga+3].[Ga+3].[Se-2].[Se-2].[Se-2] ZZEMEJKDTZOXOI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 1
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- 230000001771 impaired effect Effects 0.000 description 1
- APFVFJFRJDLVQX-UHFFFAOYSA-N indium atom Chemical compound [In] APFVFJFRJDLVQX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- AMGQUBHHOARCQH-UHFFFAOYSA-N indium;oxotin Chemical compound [In].[Sn]=O AMGQUBHHOARCQH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 1
- 238000007735 ion beam assisted deposition Methods 0.000 description 1
- 238000002955 isolation Methods 0.000 description 1
- 238000001459 lithography Methods 0.000 description 1
- 238000001755 magnetron sputter deposition Methods 0.000 description 1
- 230000007257 malfunction Effects 0.000 description 1
- 230000008018 melting Effects 0.000 description 1
- 238000002844 melting Methods 0.000 description 1
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 description 1
- 229910021424 microcrystalline silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 1
- 238000001552 radio frequency sputter deposition Methods 0.000 description 1
- 125000003748 selenium group Chemical group *[Se]* 0.000 description 1
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000004332 silver Substances 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
- 229910052717 sulfur Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011593 sulfur Substances 0.000 description 1
- 238000009281 ultraviolet germicidal irradiation Methods 0.000 description 1
- 238000003631 wet chemical etching Methods 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L31/00—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L31/02—Details
- H01L31/0224—Electrodes
- H01L31/022408—Electrodes for devices characterised by at least one potential jump barrier or surface barrier
- H01L31/022425—Electrodes for devices characterised by at least one potential jump barrier or surface barrier for solar cells
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L31/00—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L31/04—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof adapted as photovoltaic [PV] conversion devices
- H01L31/042—PV modules or arrays of single PV cells
- H01L31/0445—PV modules or arrays of single PV cells including thin film solar cells, e.g. single thin film a-Si, CIS or CdTe solar cells
- H01L31/046—PV modules composed of a plurality of thin film solar cells deposited on the same substrate
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L31/00—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L31/04—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof adapted as photovoltaic [PV] conversion devices
- H01L31/042—PV modules or arrays of single PV cells
- H01L31/0445—PV modules or arrays of single PV cells including thin film solar cells, e.g. single thin film a-Si, CIS or CdTe solar cells
- H01L31/046—PV modules composed of a plurality of thin film solar cells deposited on the same substrate
- H01L31/0465—PV modules composed of a plurality of thin film solar cells deposited on the same substrate comprising particular structures for the electrical interconnection of adjacent PV cells in the module
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
- Y02E10/00—Energy generation through renewable energy sources
- Y02E10/50—Photovoltaic [PV] energy
Abstract
Description
- Die Erfindung betrifft eine Verschaltung von Dünnschichtsolarzellen zur Herstellung von Solarmodulen.
- Es ist bereits bekannt, Dünnschichtsolarzellen unterschiedlichen Aufbaus herzustellen. Sie können auf starre Träger, beispielsweise Glas, aber auch auf Folien, also dünne, flexible Träger aus Metall oder Polymer, abgeschieden werden. Der prinzipielle Aufbau einer Dünnschichtsolarzelle ist in
1 ), die metallische Rückkontaktschicht (2 ), der im Beispiel im Wesentlichen eine Molybdänschicht umfasst, die Absorberschicht aus zum Beispiel CIGS (3 ), eine Pufferschicht aus zum Beispiel Cadmiumsulfid (4 ), einen Tunnelkontakt aus zum Beispiel intrinsischem Zinkoxid und die transparente Vorderseitenelektrode, die aus einem transparenten oxidischen Leiter wie beispielsweise Indiumzinnoxid (ITO – indium tin oxide) oder aluminiumdotiertes Zinkoxid besteht. Der Tunnelkontakt und die Vorderseitenelektrode (auch als transparente Frontkontaktschicht bezeichnet) werden gemeinsam als eine Schicht dargestellt (5 ). Vorteilhaft zur Herstellung von Dünnschichtsolarzellen ist die kontinuierliche Prozessführung bei der Schichtabscheidung. - Es ist weiterhin bekannt eine serielle Verschaltung von Dünnschichtsolarzellen in Form einer monolithischen Integration zu erreichen. Verfahren hierfür sind z. B. in
US 5,593,901 zu finden. Für eine monolithisch integrierte Verschaltung müssen, wie beschrieben beim Aufbau der Dünnschichtsolarzellen und deren Verschaltung alternierend Beschichtungs- und Strukturierungsschritte durchgeführt werden. Die Abscheidung der einzelnen Schichten der Dünnschichtsolarzelle wird also durch mehrere Strukturierungsschritte unterbrochen. - Um ein Unterbrechen der Abscheideprozesse zu vermeiden wird in
WO 2008/157807 A2 1 ), Rückkontaktschicht (2 ), photoaktiver Schicht (3 ), Pufferschichten (4 ) und transparenter Frontkontaktschicht (5 ). Dieses Schichtpaket wird nun, wie in5 ) vollständig auf, sodass die Pufferschichten (4 ) bzw. die Absorberschicht (3 ) sichtbar werden. Strukturierung B trennt alle Schichten oberhalb der Rückkontaktschicht (2 ) auf und legt diesen somit frei. Mit der Strukturierung C wird das komplette Schichtpaket inklusive der Rückkontaktschicht oberhalb des Substrates aufgetrennt. Um eine Reihenschaltung zwischen den durch die Strukturierung definierten Einzelsegmenten zu erreichen, muss eine Verbindung von der Rückkontaktschicht eines Segmentes zur Frontkontaktschicht eines folgenden Segmentes erreicht werden. Diese Verbindung wird beim Stand der Technik mittels einer elektrisch leitfähigen Polymerpaste erzeugt, welche in den strukturierten Graben B gefüllt wird (s. - Die bekannten technischen Lösungen haben eine Reihe von Nachteilen, die sich in zwei Aspekte unterteilen lassen.
- Aspekt A:
- Alle 3 in
- In der Regel ist die Haftung der transparenten Frontkontaktschicht (
5 ) auf den Pufferschichten (4 ) bzw. auf der Absorberschicht (3 ) höher als die Haftung der Absorberschicht (3 ) auf der Rückkontaktschicht (2 ). Es ist somit technisch höchst anspruchsvoll z. B. mittels Reißnadel die transparente Frontkontaktschicht oberhalb der Pufferschichten zu entfernen. - Ähnlich problematisch ist die Entfernung der transparenten Frontkontaktschicht mittels Laserstrahlung. Wird z. B. ein Laser mit einer Wellenlänge von 532 nm verwendet, kann in die transparente Frontkontaktschicht nahezu keine Energie deponiert werden, da die transparenten Frontkontaktschichten bei diesen Wellenlängen in der Regel eine hohe Transmission aufweisen. Der Großteil der vom Laser eingestrahlten Energie wird dann in den Pufferschichten und in der Absorberschicht deponiert und führt dort z. B. zum Aufschmelzen dieser Schichten, was mit einer Funktionsstörung durch beispielsweise Kurzschlüsse in diesen Schichten verbunden ist.
- Um dieses Problem zu umgehen, könnten Laser mit geringerer Wellenlänge gewählt werden. Beispielsweise zeigen die gängigen transparenten Frontkontaktschichten bei einer Wellenlänge von 266 nm ein hohes Absorptionsvermögen, wodurch die von diesem Laser emittierte Strahlung gut in der transparenten Frontkontaktschicht deponiert werden kann. Diese kurzen Wellenlängen dieser Laser werden mittels „frequency conversion” aus Lasern mit größeren Wellenlängen erzeugt. Solch ein „frequency conversion” setzt kostenintensive optische Geräte mit zum Teil begrenzter Lebensdauer voraus. Zum anderen ist solch ein „frequency conversion” immer mit einer Verminderung der Laserintensitäten und somit einer Verringerung der Durchsätze im Rahmen einer Massenfertigung verbunden.
- Der Strukturierungsschritt A separiert die Frontkontaktschichten zweier benachbarter Segmente. Beim Stand der Technik sind die Puffer- und Absorberschichten nicht aufgetrennt. Bei den Absorberschichten handelt es sich in der Regel um Halbleitermaterialien, welche ebenfalls elektrisch leitfähig sind. Zwar sind in der Regel die Querleitfähigkeiten dieser Halbleiterschichten deutlich niedriger als die Querleitfähigkeiten der transparenten Frontkontaktschicht und der Rückkontaktschicht, aber dennoch nicht verschwindend gering. Erschwerend kommt hinzu, dass moderne Absorber-Halbleiterschichten zunehmend niederohmig ausgeführt werden, wodurch auch deren Querleitfähigkeit zunimmt. Offensichtlich liegt hier der Irrglaube vor, dass die Isolierung durch ein Auftrennen der transparenten Frontkontaktschicht ausreichend ist. Es ist aber durchaus möglich, dass trotz Auftrennen der transparenten Frontkontaktschicht nach wie vor eine elektrische Verbindung zwischen den transparenten Frontkontaktschichten zweier benachbarter Einzelsegmente über die Absorberschicht und die im strukturierten Graben B gefüllte elektrisch leitfähige Polymerpaste besteht (vgl.
- Aspekt B:
- Beim Stand der Technik wird zuerst die Strukturierung des Schichtpaketes und anschließend, wie oben beschrieben, die Verfüllung der erzeugten Gräben mittels elektrisch isolierender und elektrisch leitfähiger Polymerpasten vorgenommen. Sowohl die Positioniergenauigkeit beim Auftragen der elektrisch leitfähigen und elektrisch isolierenden Polymerpasten als auch das Verlaufen dieser Polymerpasten nach dem Auftragen machen es notwendig, beim Herstellen der Strukturierungen diese Aspekte bei der Festlegung der Abstände der Strukturierungsgräben zu berücksichtigen. Unter Beachtung aller Toleranzen werden die Abstände der einzelnen Strukturierungsschritte untereinander aus Sicht der Prozesssicherheit eher größer gewählt werden. Die Bereiche der Strukturierungen und die Verfüllungen dieser Gräben tragen nicht zur Erzeugung von Ladungsträgern bei. Somit wird beim Stand der Technik wertvolle aktive Solarzellfläche bei der Erzeugung der Ladungsträger verschenkt und damit der Wirkungsgrad der Solarzelle verringert.
- Es ist Aufgabe der Erfindung die Strukturierungen so zu gestalten, dass zum einen die Prozesse vereinfacht und damit preiswertere werden und zum anderen Kurzschlüsse an den Verbindungsstellen der Einzelsegmente vermieden werden (Aspekt A). Es ist weiterhin Aufgabe der Erfindung die durch die Verbindung der Einzelsegmente erzeugte inaktive Solarzellefläche auf ein Minimum zu reduzieren und damit den Wirkungsgrad der Solarzelle zu erhöhen (Aspekt B).
- Aspekt A:
- Die Aufgabe wird erfindungsgemäß derart gelöst, dass im Strukturierungsschritt A nicht nur die transparente Frontkontaktschicht, sondern alle über der metallischen Rückkontaktschicht liegenden Schichten durchstoßen werden (vgl.
3 ) vermieden. Die Verschaltung der einzelnen Solarzellensegmente erfolgt bekanntermaßen durch Verwendung einer elektrisch leitfähigen Polymerpaste in dem strukturierten Graben B, wohingegen die strukturierten Gräben A und C mit einer elektrisch isolierenden Polymerpaste aufgefüllt werden. - Aspekt B:
- Zur Minimierung der inaktiven Flächen der Solarzelle wird eine Abänderung der Prozessabfolge erfindungsgemäß vorgeschlagen. Die Strukturierung A wird erst nach der Verfüllung der mit B und C strukturierten Gräben durchgeführt. Somit lässt sich z. B. unter Verwendung eines Kamerasystems die Kontur der in den Graben B gefüllten leitfähigen Polymerpaste erkennen. Dadurch lässt sich die Strukturierung A beliebig dicht an die Kante der elektrisch leitfähigen Polymerpaste setzen. Eine Verfüllung des strukturierten Grabens A mit einer elektrisch isolierenden Paste ist dann nicht mehr nötig. Mit dem in Aspekt B genannten Weg wird somit einerseits der Anteil inaktiver Flächen minimiert und zum anderen elektrisch isolierende Polymerpaste eingespart (vgl.
- Prozessabfolge für erfindungsgemäße serielle Verschaltung
- Aspekt A:
- Ausgangspunkt ist ein Substrat beschichtet mit den für eine Dünnschichtsolarzelle notwendigen Einzelschichten (vgl.
3 ,4 und5 vollständig auf, sodass Schicht2 sichtbar wird. Strukturierung C trennt die Schicht2 ,3 ,4 und5 vollständig auf, sodass das Substrat (1 ) sichtbar wird. Das Auftrennen der Schichten kann dabei z. B. mechanisch mit einer Reißnadel erfolgen. Es gilt hier die optimalen Parameter zum Abtragen der einzelnen Schichten zu finden. So können z. B. die Kraft der Nadel, die Verfahrgeschwindigkeit der Nadel, Radius der Nadelspitze oder Anzahl der Überfahrten der Nadel angepasst werden. Die Parameter für die Strukturierung A und B sind dabei so zu wählen, dass eine Beschädigung der Schicht2 vermieden wird aber dennoch ein vollständiges Entfernen der Schichten3 ,4 und5 gewährleistet wird. Die Parameter der Strukturierung C sind so zu wählen, dass ein vollständiges Auftrennen der Schicht2 gewährleistet wird ohne das das Substrat (1 ) in seiner Funktion beeinträchtigt wird. Idealerweise sollte bei der Strukturierung C das Substrat oberflächlich nicht abgetragen werden. Ein oberflächliches Abtragen des Substrates ist allerdings solange unproblematisch, solange die Stabilität des Substrates nicht beeinflusst wird. Die Freilegung der Gräben A, B und C kann erfindungsgemäß auch unter Verwendung eines Laserstrahls oder durch die Kombination von Lithographie und nasschemischer Ätzung bzw. vakuumbasierender Trocken-Ätztechniken erfolgen. Der Abstand der 3 Strukturierungen eines Segmentes untereinander wird im wesentlichen durch die Positioniergenauigkeit beim Befüllen der strukturierten Gräben und dem Verlaufen der elektrisch leitfähigen und elektrisch isolierenden Polymerpasten bestimmt und sollte hinsichtlich Minimierung der solarinaktiven Flächen optimiert werden. - Im Anschluss an die Strukturierungen A bis C erfolgt die Verfüllung der erzeugten Gräben mittels elektrisch isolierender Polymerpaste (Graben A und C) und elektrisch leitfähiger Polymerpaste (Graben B). Für die Verfüllung der Gräben kann ein Dispenser entweder mit druckbeaufschlagter Kartusche oder einem Dispenser mit Spindelventil oder einem Dispenser mit einem Jetventil eingesetzt werden, wobei letzteres System höhere Durchsätze im Rahmen einer Massenfertigung gewährleistet. Erfinderisch kann jedoch ebenso eine Siebdrucktechnologie oder Artverwandte Technologien eingesetzt werden. Die elektrisch isolierende Polymerpaste verfüllt dabei die Gräben A und C (vgl.
- Im Anschluss wird die elektrisch leitfähige Paste in Graben B und über Graben C hinaus aufgetragen (vgl.
- Beispiel für Aspekt A:
- Das Beispiel wird anhand der
- Anwendung der Prozessabfolge zum Bau einer 5 cm × 5 cm großen Einheit aus untereinander verschalteten Dünnschichtsolarzellen. Es soll erwähnt werden, dass die Größe der verschalteten Dünnschichtsolarzellen beispielhaft ist; erfindungsgemäß können beliebige Größen Anwendung finden.
- Ausgangspunkt ist eine 15–75 μm dicke Polyimidfolie als Substrat (
1 ). Diese wird mittels Magnetron-Sputtern ganzflächig etwa 0,2 bis 2 μm dick beispielhaft mit Molybdän beschichtet. Diese Molybdänschicht dient als Rückkontaktschicht (2 ) der Solarzelle. Es können jedoch auch verschiedene Metalle oder Metallschichten als Rückkontaktschicht dienen. Auf dieser Molybdänschicht werden anschließend die Elemente Kupfer, Indium, Gallium und Selen mittels Koverdampfung im Vakuum abgeschieden. Es können jedoch auch andere bekannte Technologien zur Abscheidung der CIGS-Schicht verwendet werden. Dazu gehören u. a. sequentielle Abscheidung, galvanische Abscheidung, Drucktechnologien oder ionenstrahlunterstützte Abscheidung. Auf dieser etwa 1 bis 2 μm dicken Cu(In,Ga)Se2-Schicht (Absorberschicht, photoaktive Schicht (3 )) wird dann eine dünne (10 bis 100 nm) Cadmiumsulfidschicht nasschemisch aufgetragen. Die CdS Schicht kann auch durch einen Vakuumbasierende Technologie dargestellt werden. Ebenso ist es erfinderisch mögliche Cd-freie Pufferschichten zu verwenden. Auf der Pufferschicht folgt ein dünne (10 bis 100 nm) intrinsische Zinkoxidschicht (i-ZnO) aufgetragen mittels RF-Sputtern (4 ). Als Abschluss wird dann eine etwa 0,5 bis 3 μm dicke mit Aluminium dotierte Zinkoxidschicht (Al:ZnO) aufgesputtert. Die i-ZnO Schicht und die Al:ZnO Schicht werden zur Vereinfachung gemeinsam als Frontkontaktschicht (5 ) dargestellt. Die Al:ZnO Schicht kann auch aus ITO bestehen. Die Darstellung der einzelnen Schichten kann sowohl in einem Batch-Prozess als auch in einem kontinuierlichen Prozess (beispielsweise Rolle-zu-Rolle) abgeschieden werden. - Das mit den oben genannten Beschichtungen versehene Polyimidband wird beispielhaft auf eine Größe von 5 cm × 5 cm zurechtgeschnitten und ist nun Ausgangspunkt für die Strukturierung der Schichten und die anschließende Reihenverschaltung (vgl.
- Die 5 cm × 5 cm große beschichte Polyimidfolie wird wie in
3 ,4 und5 werden die Bearbeitungsparameter der Reißnadel (wie z. B. Radius der Nadelspitze, Anpresskraft der Nadelspitze, Verfahrgeschwindigkeit der Spitze und Anzahl der Überfahrten der Spitze) so angepasst dass die Schichten3 ,4 und5 vollständig entlang der Strukturierungslinie entfernt werden ohne die Schicht2 dabei zu zerstören. Die Länge der Strukturierungslinie beträgt in diesem Fall 5 cm (Länge des beschichteten Substrates). Die Breite der Linie wird im Wesentlichen durch den Radius der Nadelspitze bestimmt. In dem Beispiel lag die Linienbreite bei 70 μm; andere typische Linienbreiten liegen bei etwa 10 bis 100 μm. Nachdem die erste Strukturierung A abgeschlossen ist, erfolgt die Strukturierung B. Diese liegt parallel zur Strukturierung A um etwa 300 μm versetzt. Die Versetzung kann jedoch auch bei 50–500 μm liegen. Da Strukturierung A und B technologisch identisch sind, erfolgt die Strukturierung B nach dem Schema der Strukturierung A. Nach Abschluss der Strukturierung B erfolgt die Strukturierung C. Diese erfolgt parallel zur Strukturierung B um 300 μm versetzt. Die Versetzung kann jedoch auch bei 50–500 μm liegen. - Strukturierung C wird in dem dargestellten Beispiel mittels Reißnadel durchgeführt. Abweichend zu den Strukturierungen A und B wurden die Parameter so angepasst, dass zusätzlich zu den Schichten
3 ,4 und5 auch die Schicht2 durchtrennt wird. - Ist Strukturierungsschritt C beendet, werden die soeben beschriebenen Strukturierungsschritte A, B und C wiederholt, wobei diese nächste Strukturierungsgruppe parallel zur ersten Gruppe beispielhaft um etwa 7 mm versetzt durchgeführt wird. Die dritte Strukturierungsgruppe wird dann wiederum um 7 mm gegenüber der zweiten Gruppe versetzt und so weiter. Insgesamt werden 6 Gruppen mit je 3 Strukturierungslinien gesetzt (vgl.
- Nach Abschluss aller Strukturierungslinien erfolgt die Verfüllung der erzeugten Gräben. Zunächst werden die Gräben A und C mit einer elektrisch isolierenden Polymerpaste unter Zuhilfenahme eines computergesteuerten Dispensers auf einem x-y-z Tisch verfüllt (vgl.
- Nach dem Aushärten der isolierenden Paste kann die Verfüllung aller Gräben B mit einer elektrisch leitfähigen Paste unter Zuhilfenahme eines Dispensers erfolgen (vgl.
- Aspekt B:
- Abweichend zur Prozessabfolge in Aspekt A, werden zunächst im Schichtpaket (vgl.
- Beispiel für Aspekt B:
- Das Beispiel wird anhand der
- Anwendung der Prozessabfolge zum Bau einer beispielhaft 5 cm × 5 cm großen Einheit aus untereinander verschalteten Dünnschichtsolarzellen.
- Ausgangspunkt ist der in der Beispielbeschreibung zu Aspekt A erläuterte Schichtaufbau und Schichtherstellung.
- Das mit den oben genannten Beschichtungen versehene Polyimidband wird beispielhaft auf eine Größe von 5 cm × 5 cm zurechtgeschnitten und ist nun Ausgangspunkt für die Strukturierung der Schichten und die anschließende Reihenverschaltung. Die 5 cm × 5 cm große beschichte Polyimidfolie wird wie in
3 ,4 und5 werden die Bearbeitungsparameter der Reißnadel (wie z. B. Radius der Nadelspitze, Anpresskraft der Nadelspitze, Verfahrgeschwindigkeit der Spitze und Anzahl der Überfahrten der Spitze) so angepasst dass die Schichten3 ,4 und5 vollständig entlang der Strukturierungslinie entfernt werden ohne die Schicht2 dabei zu zerstören. Die Länge der Strukturierungslinie beträgt in diesem Fall 5 cm (Länge des beschichteten Substrates). Die Breite der Linie wird im Wesentlichen durch den Radius der Nadelspitze bestimmt. In diesem Beispiel lag die Linienbreite bei 70 μm; andere typische Linienbreiten liegen bei etwa 10 bis 100 μm. - Nach Abschluss der Strukturierung B erfolgt die Strukturierung C. Diese erfolgt parallel zur Strukturierung B um 300 μm versetzt. Die Versetzung kann jedoch auch bei 50–500 μm liegen. Strukturierung C wird beispielhaft ebenfalls mittels Reißnadel durchgeführt. Abweichend zur Strukturierung B wurden die Parameter nun so angepasst, dass zusätzlich zu den Schichten
3 ,4 und5 auch die Schicht2 durchtrennt wird. - Ist Strukturierungsschritt C beendet, werden die soeben beschriebenen Strukturierungsschritte B und C wiederholt, wobei diese nächste Strukturierungsgruppe parallel zur ersten Gruppe um etwa 7,5 mm versetzt durchgeführt wird. Die dritte Strukturierungsgruppe wird dann wiederum um 7 mm gegenüber der zweiten Gruppe versetzt und so weiter. Insgesamt werden 6 Gruppen mit je 2 Strukturierungslinien gesetzt (vgl.
- Nach Abschluss aller Strukturierungslinien erfolgt die Verfüllung der erzeugten Gräben.
- Zunächst werden die Gräben C mit einer elektrisch isolierenden Polymerpaste unter Zuhilfenahme eines computergesteuerten Dispensers auf einem x-y-z Tisch verfüllt (vgl.
- Nach dem Aushärten der isolierenden Paste kann die Verfüllung aller Gräben B mit einer elektrisch leitfähigen Paste unter Zuhilfenahme eines Dispensers erfolgen (vgl.
- Ist die elektrisch leitfähige Paste ausgehärtet, kann die Strukturierung A erfolgen. Strukturierung A wird dabei links (
- Abwandlungen zur erfindungsgemäßen Prozessabfolge
- Alle Strukturierungen können auch mittels Laser oder photolithographisch in Kombination mit einer Ätztechnologie (nasschemisch oder vakuum-basierende Trockenätzverfahren) erfolgen. Ebenso ist eine Kombination aller genannten Methoden möglich.
- Generell können Schichtpakete mit der erfindungsgemäßen Methode verschaltet werden, die sich sowohl auf starren als auch auf flexiblen Substraten befinden. Das Substrat kann dabei elektrisch isolierend oder elektrisch leitend sein.
- Im Falle eines elektrisch leitfähigen Substrates (z. B. Metallfolie) muss auf diesem Substrat eine elektrisch isolierende Schicht (also zwischen Substrat (
1 ) und Rückkontaktschicht (2 )) aufgetragen werden um eine Kurzschluss der Einzelsegmente über deren Rückkontaktschichten zu vermeiden, was zu einer erheblichen Beeinträchtigung der Funktion der späteren Verschaltung führen würde. Die Parameter der Strukturierung C können hier so gewählt werden, dass die elektrisch isolierende Schicht abgetragen wird oder auf dem Substrat verbleibt, entscheidend ist, dass die Rückkontaktschicht vollständig durchtrennt wird. - Das Verfüllen der Gräben A und C mit elektrisch isolierender Polymerpaste kann auch durch eine Beschichtung mit einem elektrisch isolierenden Material (z. B. SiOx) mittels Vakuumabscheidung oder galvanischer Abscheidung ersetzt werden.
- Das Verfüllen des Grabens B mit elektrisch leitfähiger Polymerpaste kann auch durch Beschichtung mit einem elektrisch leitfähigen Material (z. B. Silber) mittels Vakuumabscheidung oder galvanischer Abscheidung ersetzt werden.
- Generell ist es auch möglich, zum Verfüllen der Gräben A, B und C die Verfahren zum Auftragen einer Polymerpaste mit den Methoden der Vakuumabscheidung und der galvanischen Abscheidung zu kombinieren.
- Die Strukturierungsschritte A, B und C können prinzipiell so dicht gesetzt werden, das zwischen den strukturierten Gräben keine Schichtpakete mehr vorhanden sind (vgl.
10(i) ). In dieser erfindungsgemäßen Ausführung wird der Strukturierungsschritt für den Graben A und den Graben B durch einen einzigen Strukturierungsschritt ersetzt. Dies hat neben der Reduzierung der Herstellkosten auch den Vorteil, dass die inaktive Fläche der Solarzelle verringert wird und damit der Wirkungsgrad der Solarzelle vergrößert wird. - Ebenfalls ist es auch hier möglich, einen weiteren Produktionsschritt zu Verfüllungen mit elektrisch isolierender Polymerpaste wegzulassen (vgl.
- Die Verfüllung der Gräben mit elektrisch isolierender und elektrisch leitfähiger Paste kann außer mit einem Dispenser auch mittels Siebdruck, Schablonendruck, Ink-Jet oder Aufsprüh-Verfahren (unter der Verwendung von Masken) durchgeführt werden. Generell ist auch eine Kombination der einzelnen genannten Verfahren denkbar.
- Neben elektrisch isolierenden und elektrisch leitfähigen Pasten auf Polymerbasis können auch Pastensysteme auf der Basis von Silikon oder Acrylat verwendet werden.
- Zusätzlich zur Verfüllung der Strukturierung B mit elektrisch leitfähiger Polymerpaste kann diese z. B. in Form von einzelnen Kontaktfingern weiter auf die aktive Solarzellfläche aufgetragen werden um somit die Leitfähigkeit der Frontkontaktschicht zu unterstützen, wodurch die Abstände der Einzelsegmente untereinander vergrößert werden können und somit nach einer Optimierung aus Serienwiderstandsverlusten und Abschattung solaraktiver Flächen ein Maximum an solaraktiver Fläche erreicht werden kann (vgl.
- Das erfindungsgemäße Verfahren lässt sich prinzipiell auf jeden Typ der Dünnschichtsolarzellen auf flexiblem Substrat anwenden. Folgende Typen dienen als Beispiel
- • Kupfer-Indium-Gallium-Diselenid, Kupfer-Indium-Diselenid, Kupfer-Gallium-Diselenid (bzw. Selen substituiert durch Schwefel)
- • Amorphes Silizium
- • Cadmium-Tellurid
- • Mikrokristallines Silizium
- • Gallium-Arsenid
- Bezugszeichenliste
-
- 1
- Substrat, Träger
- 2
- Rückkontakt (z. B. metallische Schicht)
- 3
- photoaktive Schicht, Absorberschicht
- 4
- Pufferschichten
- 5
- Tunnelkontakt und transparente Vorderseitenelektrode (z. B. elektrisch leitfähiges Oxid)
- 6
- elektrisch isolierende Schicht (z. B. elektrisch isolierende Polymerpaste)
- 7
- elektrisch leitfähige Schicht (z. B. Polymerpaste gefüllt mit metallischen Partikeln)
- 8
- Kontaktfinger
- ZITATE ENTHALTEN IN DER BESCHREIBUNG
- Diese Liste der vom Anmelder aufgeführten Dokumente wurde automatisiert erzeugt und ist ausschließlich zur besseren Information des Lesers aufgenommen. Die Liste ist nicht Bestandteil der deutschen Patent- bzw. Gebrauchsmusteranmeldung. Das DPMA übernimmt keinerlei Haftung für etwaige Fehler oder Auslassungen.
- Zitierte Patentliteratur
-
- US 5593901 [0003]
- WO 2008/157807 A2 [0004]
Claims (17)
- Serielle Verschaltung von Dünnschichtsolarzellen, diese bestehend aus Substrat, Rückkontaktschicht, Absorberschicht, Pufferschichten, transparenter Frontkontaktschicht durch Einbringen von Gräben in dieses Schichtpaket und dem Herstellen eines elektrisch Kontaktes, dadurch gekennzeichnet, dass das auf starrem oder flexiblem Substrat aufgebrachte Schichtpaket entsprechend
- Serielle Verschaltung von Dünnschichtsolarzellen nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass zur Strukturierung des Schichtpaketes der Dünnschichtsolarzelle bezüglich der Gräben A und B dieselben Parametersätze verwendet werden.
- Serielle Verschaltung von Dünnschichtsolarzellen nach Anspruch 1 und 2, dadurch gekennzeichnet, dass die Strukturierung mit einer Reißnadel, mit Laserstrahlen oder photolithographisch erfolgt.
- Serielle Verschaltung von Dünnschichtsolarzellen nach Anspruch 1 bis Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, dass die Gräben mit elektrisch leitender oder elektrisch isolierender Paste verfüllt werden.
- Serielle Verschaltung von Dünnschichtsolarzellen nach Anspruch 1 und 4, dadurch gekennzeichnet, dass Pastensysteme auf Polymerbasis oder auf der Basis von Silikon oder Acrylat eingesetzt werden.
- Serielle Verschaltung von Dünnschichtsolarzellen nach Anspruch 1, 4 und 5, dadurch gekennzeichnet, dass zum Verfüllen der erzeugten Gräben mit elektrisch leitfähiger oder elektrisch isolierender Paste ein Dispenser mit druckbeaufschlagter Kartusche oder mit Spindelventil oder mit Jetventil eingesetzt wird.
- Serielle Verschaltung von Dünnschichtsolarzellen nach Anspruch 1, 4 und 5 dadurch gekennzeichnet, dass das Verfüllen der Gräben mittels Siebdruck, Schablonendruck, Ink-Jet oder Aufsprühverfahren unter Verwendung einer Maske vorgenommen wird.
- Serielle Verschaltung von Dünnschichtsolarzellen nach Anspruch 1, 4 und 5 dadurch gekennzeichnet, dass die isolierende Wirkung eines Grabens durch Vakuumabscheidung oder galvanische Abscheidung eines elektrisch isolierenden Materials erreicht wird.
- Serielle Verschaltung von Dünnschichtsolarzellen nach Anspruch 1, 4, 5 und 8, dadurch gekennzeichnet, dass die Methoden zur Einbringung einer isolierenden Schicht in die zwei zu verfüllenden Gräben kombiniert werden, indem Graben A mit Pastenauftrag mittels Dispenser, Graben C mit SiOx mittels Vakuumabscheidung behandelt werden.
- Serielle Verschaltung von Dünnschichtsolarzellen nach Anspruch 1, 4 und 5, dadurch gekennzeichnet, dass die elektrische Verbindung im Graben, die die Rückkontaktschicht eines Segmentes mit der Frontkontaktschicht eines folgenden Segmentes verbindet, durch Vakuumabscheidung oder galvanische Abscheidung eines elektrisch leitfähigen Materials erreicht wird.
- Serielle Verschaltung von Dünnschichtsolarzellen nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass die elektrisch leitfähige Polymerpaste so weit über die nicht leitfähige Verfüllung des Grabens C hinausreicht, dass eine elektrische Kontaktierung der Frontkontaktschicht möglich ist.
- Serielle Verschaltung von Dünnschichtsolarzellen nach Anspruch 1 bis 11, dadurch gekennzeichnet, dass die elektrisch leitfähige Polymerpaste als Kontaktfinger auf die aktive Solarzellenfläche aufgetragen wird.
- Serielle Verschaltung von Dünnschichtsolarzellen nach Anspruch 12, dadurch gekennzeichnet, dass die Kontaktfinger aus einem anderen leitfähigen Material als die elektrische leitfähige Polymerpaste besteht.
- Serielle Verschaltung von Dünnschichtsolarzellen, diese bestehend aus Substrat, Rückkontaktschicht, Absorberschicht, Pufferschichten, transparenter Frontkontaktschicht durch Einbringen von Gräben in dieses Schichtpaket und dem Herstellen eines elektrisch Kontaktes, dadurch gekennzeichnet, dass das Schichtpaket entsprechend
- Serielle Verschaltung von Dünnschichtsolarzellen, diese bestehend aus Substrat, Rückkontaktschicht, Absorberschicht, Pufferschichten, transparenter Frontkontaktschicht durch Einbringen von Gräben in dieses Schichtpaket und dem Herstellen eines elektrisch Kontaktes, dadurch gekennzeichnet, dass das Schichtpaket entsprechend
- Serielle Verschaltung von Dünnschichtsolarzellen nach Anspruch 15, dadurch gekennzeichnet, dass die linke Seite des Grabens B zusätzlich mit einer isolierenden Paste befüllt wird.
- Serielle Verschaltung von Dünnschichtsolarzellen nach Anspruch 15, dadurch gekennzeichnet, dass nachträgliche ein Graben A durch das Schichtpaket bis zum Rückkontakt eingebracht wird.
Priority Applications (6)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE102009041905A DE102009041905B4 (de) | 2009-09-20 | 2009-09-20 | Verfahren zur seriellen Verschaltung von Dünnschichtsolarzellen |
BR112012006222A BR112012006222A2 (pt) | 2009-09-20 | 2010-09-17 | conexão seriada de células solares de camadas finas |
CN2010800474614A CN102598268A (zh) | 2009-09-20 | 2010-09-17 | 薄层太阳能电池的串接方法 |
PCT/EP2010/005718 WO2011032717A2 (de) | 2009-09-20 | 2010-09-17 | Serielle verschaltung von dünnschichtsolarzellen |
EP10760919.0A EP2478559A2 (de) | 2009-09-20 | 2010-09-17 | Serielle verschaltung von dünnschichtsolarzellen |
US13/496,779 US8778723B2 (en) | 2009-09-20 | 2010-09-17 | Serial connection of thin-layer solar cells |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE102009041905A DE102009041905B4 (de) | 2009-09-20 | 2009-09-20 | Verfahren zur seriellen Verschaltung von Dünnschichtsolarzellen |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE102009041905A1 true DE102009041905A1 (de) | 2011-04-28 |
DE102009041905B4 DE102009041905B4 (de) | 2013-08-22 |
Family
ID=43759082
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE102009041905A Expired - Fee Related DE102009041905B4 (de) | 2009-09-20 | 2009-09-20 | Verfahren zur seriellen Verschaltung von Dünnschichtsolarzellen |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US8778723B2 (de) |
EP (1) | EP2478559A2 (de) |
CN (1) | CN102598268A (de) |
BR (1) | BR112012006222A2 (de) |
DE (1) | DE102009041905B4 (de) |
WO (1) | WO2011032717A2 (de) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE102019117215A1 (de) * | 2019-06-26 | 2020-12-31 | Deutsches Zentrum für Luft- und Raumfahrt e.V. | Dünnfilmphotovoltaikmodul, Photovoltaikmembraneinheit und Raumfahrzeugmembraneinheit |
Families Citing this family (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101166456B1 (ko) * | 2011-05-23 | 2012-07-19 | 김병국 | 태양전지 및 그 제조방법 |
DE102012205378A1 (de) * | 2012-04-02 | 2013-10-02 | Robert Bosch Gmbh | Verfahren zur Herstellung von Dünnschichtsolarmodulen sowie nach diesem Verfahren erhältliche Dünnschichtsolarmodule |
DE102012205978A1 (de) * | 2012-04-12 | 2013-10-17 | Robert Bosch Gmbh | Photovoltaische Dünnschichtsolarmodule sowie Verfahren zur Herstellung solcher Dünnschichtsolarmodule |
CN103474485B (zh) * | 2013-09-17 | 2016-08-17 | 北京汉能创昱科技有限公司 | 一种柔性薄膜太阳能电池及其制备方法 |
US20150303326A1 (en) * | 2014-04-18 | 2015-10-22 | Tsmc Solar Ltd. | Interconnect for a thin film photovoltaic solar cell, and method of making the same |
NL2014041B1 (en) * | 2014-12-23 | 2016-10-12 | Stichting Energieonderzoek Centrum Nederland | Method for manufacturing a thin film solar cell arrangement and such a thin film solar cell arrangement. |
FR3060854B1 (fr) * | 2016-12-16 | 2021-05-14 | Armor | Procede de fabrication d'un module photovoltaique et module photovoltaique ainsi obtenu |
FR3082356B1 (fr) | 2018-06-11 | 2020-06-19 | Armor | Procede de fabrication d'un module photovoltaique et module photovoltaique ainsi obtenu |
EP3945589A1 (de) | 2020-07-27 | 2022-02-02 | Armor | Verfahren zur herstellung eines halbleitermoduls und dadurch erhaltenes halbleitermodul |
JP2023517135A (ja) * | 2020-12-28 | 2023-04-21 | 中国科学院蘇州納米技術与納米▲ファン▼生研究所 | 可撓性光電デバイスモジュール及びその作製方法 |
CN115172500B (zh) * | 2022-07-12 | 2023-08-15 | 中国电子科技集团公司第十八研究所 | 一种激光电池组件 |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5593901A (en) | 1989-09-08 | 1997-01-14 | Amoco/Enron Solar | Monolithic series and parallel connected photovoltaic module |
US6690041B2 (en) * | 2002-05-14 | 2004-02-10 | Global Solar Energy, Inc. | Monolithically integrated diodes in thin-film photovoltaic devices |
WO2007044555A2 (en) * | 2005-10-07 | 2007-04-19 | Applied Materials, Inc. | System and method for making an improved thin film solar cell interconnect |
WO2008157807A2 (en) | 2007-06-20 | 2008-12-24 | Ascent Solar Technologies, Inc. | Array of monolithically integrated thin film photovoltaic cells and associated methods |
Family Cites Families (15)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH11214724A (ja) * | 1998-01-21 | 1999-08-06 | Canon Inc | 太陽電池モジュール及びその製造方法と施工方法、及び太陽光発電システム |
JP2000058886A (ja) * | 1998-08-14 | 2000-02-25 | Mitsubishi Heavy Ind Ltd | 太陽電池モジュール及びその製造方法 |
US7507903B2 (en) * | 1999-03-30 | 2009-03-24 | Daniel Luch | Substrate and collector grid structures for integrated series connected photovoltaic arrays and process of manufacture of such arrays |
JP2004260013A (ja) * | 2003-02-26 | 2004-09-16 | Kyocera Corp | 光電変換装置及びその製造方法 |
DE10333960A1 (de) * | 2003-07-25 | 2005-02-10 | Robert Bosch Gmbh | Vorrichtung zur kapazitiven Druckmessung sowie Vefahren zur Herstellung einer kapazitiven Druckmessvorrichtung |
JP2005101384A (ja) * | 2003-09-26 | 2005-04-14 | Sanyo Electric Co Ltd | 光起電力装置及びその製造方法 |
JP2006332453A (ja) * | 2005-05-27 | 2006-12-07 | Sharp Corp | 薄膜太陽電池の製造方法および薄膜太陽電池 |
JP2007123532A (ja) * | 2005-10-27 | 2007-05-17 | Honda Motor Co Ltd | 太陽電池 |
DE102006051556A1 (de) * | 2006-11-02 | 2008-05-08 | Manz Automation Ag | Verfahren zum Strukturieren von Solarmodulen und Strukturierungsvorrichtung |
JP2010514184A (ja) * | 2006-12-21 | 2010-04-30 | ヘリアンソス,ビー.ブイ. | 太陽電池から太陽電池サブセルをつくる方法 |
JP4425296B2 (ja) * | 2007-07-09 | 2010-03-03 | 三洋電機株式会社 | 光起電力装置 |
US20090084425A1 (en) * | 2007-09-28 | 2009-04-02 | Erel Milshtein | Scribing Methods for Photovoltaic Modules Including a Mechanical Scribe |
WO2009067526A2 (en) * | 2007-11-19 | 2009-05-28 | Sheats James R | High-efficiency, high current solar cell and solar module |
KR101119235B1 (ko) * | 2008-07-04 | 2012-03-21 | 가부시키가이샤 아루박 | 태양 전지 셀의 제조 방법 및 태양 전지 셀 |
JP5616887B2 (ja) * | 2008-07-16 | 2014-10-29 | メルク パテント ゲーエムベーハー | 光電池モジュールの作成方法 |
-
2009
- 2009-09-20 DE DE102009041905A patent/DE102009041905B4/de not_active Expired - Fee Related
-
2010
- 2010-09-17 EP EP10760919.0A patent/EP2478559A2/de not_active Withdrawn
- 2010-09-17 WO PCT/EP2010/005718 patent/WO2011032717A2/de active Application Filing
- 2010-09-17 CN CN2010800474614A patent/CN102598268A/zh active Pending
- 2010-09-17 BR BR112012006222A patent/BR112012006222A2/pt not_active Application Discontinuation
- 2010-09-17 US US13/496,779 patent/US8778723B2/en active Active
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5593901A (en) | 1989-09-08 | 1997-01-14 | Amoco/Enron Solar | Monolithic series and parallel connected photovoltaic module |
US6690041B2 (en) * | 2002-05-14 | 2004-02-10 | Global Solar Energy, Inc. | Monolithically integrated diodes in thin-film photovoltaic devices |
WO2007044555A2 (en) * | 2005-10-07 | 2007-04-19 | Applied Materials, Inc. | System and method for making an improved thin film solar cell interconnect |
WO2008157807A2 (en) | 2007-06-20 | 2008-12-24 | Ascent Solar Technologies, Inc. | Array of monolithically integrated thin film photovoltaic cells and associated methods |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE102019117215A1 (de) * | 2019-06-26 | 2020-12-31 | Deutsches Zentrum für Luft- und Raumfahrt e.V. | Dünnfilmphotovoltaikmodul, Photovoltaikmembraneinheit und Raumfahrzeugmembraneinheit |
DE102019117215B4 (de) | 2019-06-26 | 2022-10-06 | Deutsches Zentrum für Luft- und Raumfahrt e.V. | Raumfahrzeugmembraneinheit |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US8778723B2 (en) | 2014-07-15 |
WO2011032717A2 (de) | 2011-03-24 |
BR112012006222A2 (pt) | 2016-05-31 |
CN102598268A (zh) | 2012-07-18 |
EP2478559A2 (de) | 2012-07-25 |
WO2011032717A3 (de) | 2012-03-08 |
US20120276681A1 (en) | 2012-11-01 |
DE102009041905B4 (de) | 2013-08-22 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE102009041905B4 (de) | Verfahren zur seriellen Verschaltung von Dünnschichtsolarzellen | |
DE102012103243B4 (de) | Verfahren zur zeitlichen Veränderung der Laserintensität während des Ritzens einer Photovoltaikvorrichtung | |
EP2168177A2 (de) | Dünnschichtsolarzellen-modul und verfahren zu dessen herstellung | |
DE3121350A1 (de) | "verfahren zum herstellen einer sonnenbatterie" | |
EP2058870A2 (de) | Kontaktierung und Modulverschaltung von Dünnschichtsolarzellen auf polymeren Trägern | |
DE102011075352A1 (de) | Verfahren zum Rückseitenkontaktieren einer Silizium-Solarzelle und Silizium-Solarzelle mit einer solchen Rückseitenkontaktierung | |
DE102011115581B4 (de) | Verfahren zur Herstellung einer Solarzelle | |
WO2010136166A2 (de) | Teiltransparente flexible dünnschichtsolarzellen und verfahren zu ihrer herstellung | |
DE112009002356T5 (de) | Dünnschicht-Solarzellenreihe | |
DE102010013253B4 (de) | Verfahren zum Strukturieren von CIGS-Dünnschichtsolarzellen | |
DE102009053416A1 (de) | Verfahren zur Herstellung und Verschaltung einer Solarzellanordnung | |
DE102008050332A1 (de) | Photovoltaische Zellen sowie Mehrschichtfolie | |
DE10103114A1 (de) | Herstellen elektrischer Verbindungen in Substratöffnungen von Schaltungseinheiten mittels gerichteter Abscheidung leitfähiger Schichten | |
WO2013189932A2 (de) | Verfahren und herstellungsanlage zur herstellung eines photovoltaikmoduls sowie photovoltaikmodul | |
EP2352171A1 (de) | Solarzellenanordnung und Dünnschichtsolarmodul, sowie Herstellungsverfahren hierfür | |
DE102009035703B4 (de) | Verfahren zur Herstellung von Verbünden flexibler Dünnschichtsolarzellen | |
DE102015114135A1 (de) | Photovoltaische Vorrichtung und Verfahren zur Herstellung einer photovoltaischen Vorrichtung | |
WO2020127142A1 (de) | Schaltungsanordnung zur stromerzeugung mit serienverschalteten solarzellen mit bypass-dioden | |
DE102019129349A1 (de) | Photovoltaisches Element mit verbesserter Effizienz bei Verschattung, und Verfahren zur Herstellung eines solchen photovoltaischen Elements | |
EP2442361A2 (de) | Verfahren zur Herstellung von Verbindungen in einem Dünnschichtfotovoltaikmodul und Dünnschichtfotovoltaikmodul | |
DE102012100184B4 (de) | Verfahren zur Herstellung einer Halbleiterwafer-Solarzelle und eines Solarmoduls | |
AT518892B1 (de) | Verfahren zur Herstellung eines Photovoltaikbauteils und Photovoltaikbaustein | |
EP2442360A2 (de) | Verfahren zur Herstellung von Verbindungen in einem Dünnschichtfotovoltaikmodul und Dünnschichtfotovoltaikmodul | |
DE102021000956A1 (de) | Verfahren zur Metallisierung eines Bauelements sowie auf diese Weise hergestellte Bauelemente | |
KR101765930B1 (ko) | 태양전지 및 그의 제조방법 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
OP8 | Request for examination as to paragraph 44 patent law | ||
R016 | Response to examination communication | ||
R016 | Response to examination communication | ||
R018 | Grant decision by examination section/examining division | ||
R020 | Patent grant now final |
Effective date: 20131123 |
|
R082 | Change of representative |
Representative=s name: RECHTSANWALTSGESELLSCHAFT MBH DR. JUR. PETER N, DE |
|
R081 | Change of applicant/patentee |
Owner name: OC3 AG, DE Free format text: FORMER OWNER: SOLARION AG PHOTOVOLTAIK, 04288 LEIPZIG, DE Effective date: 20140512 Owner name: SOLARION AG, DE Free format text: FORMER OWNER: SOLARION AG PHOTOVOLTAIK, 04288 LEIPZIG, DE Effective date: 20140512 |
|
R082 | Change of representative |
Representative=s name: NENNING, PETER, DIPL.-CHEM. DIPL.-JUR.DR.RER.N, DE Effective date: 20140512 Representative=s name: RECHTSANWALTSGESELLSCHAFT MBH DR. JUR. PETER N, DE Effective date: 20140512 |
|
R082 | Change of representative |
Representative=s name: NENNING, PETER, DIPL.-CHEM. DIPL.-JUR.DR.RER.N, DE Representative=s name: RECHTSANWALTSGESELLSCHAFT MBH DR. JUR. PETER N, DE |
|
R081 | Change of applicant/patentee |
Owner name: OC3 AG, DE Free format text: FORMER OWNER: SOLARION AG, 04442 ZWENKAU, DE |
|
R082 | Change of representative |
Representative=s name: RECHTSANWALTSGESELLSCHAFT MBH DR. JUR. PETER N, DE |
|
R119 | Application deemed withdrawn, or ip right lapsed, due to non-payment of renewal fee |