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Die
vorliegende Erfindung betrifft einen optischen Sensor sowie ein
Verfahren zum Prüfen
eines optischen Sensors. Der Sensor ist zum Aussenden einer elektromagnetischen
Strahlung und zum Erfassen eines reflektierten Anteils der Strahlung
ausgebildet, um ein Maß an
Feuchtigkeit zu bestimmen.
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Stand der Technik
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Optische
Sensoren, welche in modernen Kraftfahrzeugen zum Erfassen von Regenbelag
auf einer Scheibe eingesetzt werden, basieren auf einem optoelektronischen
Funktionsprinzip. Die Sensoren, welche an einer Innenseite einer
Scheibe befestigt sind, weisen einen Sender auf, um eine elektromagnetische
Strahlung in die Scheibe einzustrahlen. Die Strahlung wird abhängig von
der Feuchtigkeitsmenge an einer Außenseite der Scheibe reflektiert,
wobei der reflektierte Anteil der Strahlung mithilfe eines Empfängers erfasst
wird. Hierbei wird ausgenutzt, dass mit zunehmender Feuchtigkeit
auf der Scheibe der Reflexionsgrad abnimmt. Durch Messen des reflektierten
Strahlungsanteils kann daher auf die Feuchtigkeitsbelegung der Scheibe
geschlossen werden. Zur optischen Ankopplung der Sensoren an eine
Scheibe ist üblicherweise
eine elastische Koppelschicht vorgesehen, mit deren Hilfe die Strahlung in
die Scheibe eingekoppelt und nach der Reflexion aus der Scheibe
aus- und in den betreffenden Sensor eingekoppelt werden kann.
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Nach
der Herstellung bzw. vor dem Einbau in ein Kraftfahrzeug werden
derartige Sensoren üblicherweise
einer Funktionsprüfung
unterzogen, um beispielsweise eine Kalibrierung vorzunehmen. Hierbei
werden die Sensoren mechanisch an eine Testscheibe angekoppelt und
in Betrieb genommen, um Eigenschaften wie insbesondere das Intensitätsverhältnis von
emittierter zu reflektierter Strahlung zu ermitteln. Zum Ankoppeln
werden die Sensoren mit einer mechanisch oder pneumatisch bewegbaren
Halteeinrichtung an die Testscheibe angepresst.
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Durch
das Anpressen soll insbesondere vermieden werden, dass zwischen
der Testscheibe und der Koppelschicht der Sensoren die Prüfung beeinträchtigende
Luftspalte vorliegen.
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Dieses
Verfahren ist jedoch relativ aufwändig, zeit- und wartungsintensiv,
und ist daher für
eine taktzeitkompatible Bandendeprüfung nur wenig geeignet. Insbesondere
ist es erforderlich, den Anpressdruck zu kontrollieren, sowie die
Prüfscheibe regelmäßig nach
einem Test (beispielsweise mindestens einmal pro Schicht) zu reinigen.
Auch werden abhängig
vom Sensortyp gegebenenfalls unterschiedliche Anpressmechaniken
eingesetzt, wodurch sich der Aufwand weiter erhöht. Auch die Sensoren bzw.
deren Koppelschichten bedürfen
nach dem Funktionstest einer Reinigung, um Staub oder Schmutz zu
entfernen. Für
Transportzwecke wird des weiteren eine Schutzhaube auf den Sensoren
angebracht, welche beim bzw. vor dem späteren Einbau in einem Kraftfahrzeug
entsorgt wird.
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Offenbarung der Erfindung
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Die
Aufgabe der Erfindung besteht darin, ein verbessertes Verfahren
zum Prüfen
eines optischen Sensors anzugeben. Es ist weiterhin Aufgabe der
Erfindung, einen optischen Sensor bereitzustellen, welcher einer
verbesserten Prüfung
zugänglich
ist.
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Diese
Aufgabe wird durch ein Verfahren gemäß Anspruch 1 und durch einen
optischen Sensor gemäß Anspruch
8 gelöst.
Weitere vorteilhafte Ausführungsformen
der Erfindung sind in den abhängigen
Ansprüchen
angegeben.
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Erfindungsgemäß wird ein
Verfahren zum Prüfen
eines optischen Sensors vorgeschlagen, wobei der Sensor zum Aussenden
einer elektromagnetischen Strahlung und zum Erfassen eines reflektierten
Anteils der Strahlung ausgebildet ist, um ein Maß an Feuchtigkeit zu bestimmen.
Bei dem Verfahren wird eine Prüfeinrichtung
eingesetzt, auf welche die von dem Sensor ausgesendete Strahlung
gerichtet und an welcher die Strahlung reflektiert wird. Das Verfahren
zeichnet sich dadurch aus, dass eine strukturierte Schicht auf dem
Sensor angeordnet wird, um die Strahlung aus dem Sensor auszukoppeln
und nach einer Reflexion in den Sensor einzukoppeln, und dass der
Sensor in einem Abstand zu der Prüfeinrichtung angeordnet wird.
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Durch
den Einsatz der strukturierten Schicht wird ein kontaktloses Prüfen (sowie
gegebenenfalls Kalibrieren) des Sensors ermöglicht. Die strukturierte Schicht
dient hierbei dazu, eine an dem Sensor (ohne die Schicht) auftretende
Totalreflexion aufzuheben, so dass die Strahlung möglichst
verlustfrei aus dem Sensor ausgekoppelt und wieder in den Sensor
eingekoppelt werden kann. Zur Funktionsprüfung kann der Sensor daher
in einem Abstand zu der Prüfeinrichtung
angeordnet werden, anstelle den Sensor an eine Prüfscheibe
anzupressen. Der Abstand kann im Verlauf der Prüfung gegebenenfalls verändert werden.
Durch den Wegfall des Anpressens des Sensors lässt sich das Prüfungsverfahren
mit einem relativ geringen Aufwand und zeitgünstig (taktzeitkompatibel)
durchführen.
Insbesondere entfällt
die herkömmliche
Anpressmechanik und deren regelmäßige Kontrolle.
Des weiteren können
auch mehrere Sensoren mit einem geringen Aufwand parallel geprüft werden. Auch
eine Reinigung der Sensoren nach der Funktionsprüfung ist nicht mehr erforderlich.
Die strukturierte Schicht kann des weiteren als Schutzschicht oder Schutzfolie
fungieren, so dass das übliche
Aufbringen einer Schutzhaube nach der Prüfung ebenfalls entfällt.
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In
einer bevorzugten Ausführungsform
weist der Sensor eine Koppelschicht auf, mit deren Hilfe der Sensor
an einer Scheibe ankoppelbar ist. Die strukturierte Schicht wird
hierbei auf der Koppelschicht angeordnet. Nach der Funktionsprüfung bzw. vor
dem Anbringen des Sensors an einer Scheibe kann die strukturierte
Schicht wieder entfernt werden. Durch die strukturierte Schicht
kann ein Verschmutzen der Koppelschicht vermieden werden.
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Für die strukturierte
Schicht kommen unterschiedlich geformte Strukturelemente in Betracht, welche
insbesondere auf den Sensor bzw. dessen optische Eigenschaften abgestimmt
sind. Die Strukturelemente können
beispielsweise rillenförmig
ausgebildet sein. Alternativ kann die strukturierte Schicht auch
pyramidenförmige
oder noppenförmige
Strukturelemente umfassen. Des Weiteren ist es möglich, dass die strukturierte
Schicht nicht nur Strukturelemente eines Typs oder in einer einheitlichen
Ausgestaltung aufweist, sondern auch unterschiedliche Strukturelemente
umfasst. Hierunter fallen auch Ausgestaltungen, in welchen Strukturelemente
lediglich eines Typs, aber in unterschiedlichen Ausrichtungen vorgesehen
sind.
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In
einer weiteren bevorzugten Ausführungsform
weist die Prüfeinrichtung
eine Anordnung von verkippbaren Mikrospiegeln auf, an welchen die Strahlung
reflektiert wird. Auf diese Weise können relativ komplexe und insbesondere
auch zeit lich veränderliche
Feuchtigkeitsstrukturen bzw. Regenmuster simuliert werden. Eine
mit Feuchtigkeit bzw. einem Feuchtigkeitsmuster belegte Scheibe
kann hierbei über
die strukturierte Schicht, die Mikrospiegelanordnung und die zwischen
der strukturierten Schicht und der Mikrospiegelanordnung vorliegende
Luft simuliert werden.
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Erfindungsgemäß wird des
Weiteren ein optischer Sensor vorgeschlagen, welcher einen Sender zum
Aussenden einer elektromagnetischen Strahlung und einen Empfänger zum
Erfassen eines reflektierten Anteils der Strahlung aufweist, um
ein Maß an
Feuchtigkeit zu bestimmen. Der Sensor zeichnet sich durch eine auf
dem Sensor angeordnete strukturierte Schicht aus, welche ausgebildet
ist, um die Strahlung aus dem Sensor auszukoppeln und nach einer
Reflexion in den Sensor einzukoppeln. In entsprechender Weise ermöglicht der
Sensor eine kontaktlose und infolgedessen eine einfache und zeitgünstige Funktionsprüfung.
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Die
Erfindung wird im Folgenden anhand der Figuren näher erläutert. Es zeigen:
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1 eine
schematische Darstellung eines optischen Sensors bei einer kontaktlosen
Funktionsprüfung;
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2 eine
schematische Darstellung einer bei der Funktionsprüfung eingesetzten
Mikrospiegelanordnung;
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3 bis 5 mögliche Strukturelemente einer
auf dem Sensor eingesetzten strukturierten Schicht; und
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6 eine
schematische Darstellung eines weiteren Sensors.
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1 zeigt
in einer schematischen Darstellung einen optischen Sensor 100 bei
einer Funktionsprüfung
in Zusammenspiel mit einer Prüfeinrichtung 190.
Der Sensor 100 kann dazu verwendet werden, ein Maß an Feuchtigkeit
auf einer Scheibe eines Kraftfahrzeugs zu erfassen, und wird daher
im Folgenden als Regensensor 100 bezeichnet. Eine andere
gängige
Bezeichnung des Sensors 100 ist „Regensensormodul” bzw. „rain sensor
module” (RSM).
Bei der Prüfeinrichtung 190 handelt
es sich um eine in 2 detaillierter dargestellte
Mikrospiegelanordnung 190, welche weiter unten näher beschrieben wird.
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Der
Regensensor 100 weist einen Sender 110 zum Aussenden
einer (gerichteten) elektromagnetischen Strahlung, dargestellt über den
Lichtstrahl 170, und einen Empfänger 120 zum Erfassen
eines reflektierten Anteils der Strahlung 170 auf. Der
Sender 110 kann zum Beispiel eine Leuchtdiode umfassen,
welche Strahlung 170 beispielsweise im Bereich des infraroten
Wellenspektrums aussendet. Der Empfänger 120 ist beispielsweise
eine in diesem Wellenlängenbereich
sensitive Fotodiode. Sender 110 und Empfänger 120 können auf
einer in 1 nicht dargestellten Leiterplatte
bzw. Platine des Regensensors 100 angeordnet sein.
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Der
Regensensor 100 weist des Weiteren oberhalb von Sender 110 und
Empfänger 120 ein
in 1 nicht dargestelltes Lichtleitelement mit geeignet
geformten Linsenstrukturen auf, mit dessen Hilfe die von dem Sender 110 schräg ausgesendete
Strahlung 170 fokussiert und auch deren reflektierter Anteil auf
den Empfänger 120 fokussiert
werden kann. Das Lichtleitelement, welches aus einem für die Strahlung 170 transparenten
Kunststoff wie zum Beispiel PMMA (Polymethylmethacrylat) besteht,
bildet hierbei eine obere Grundfläche 105 des Regensensors 100 bzw.
einen Teil hiervon. Auf der Grundfläche 105 weist der
Regensensor 100 ferner eine Koppelschicht 130 auf,
mit deren Hilfe der Regensensor 100 optisch an einer Scheibe
ankoppelbar ist, so dass die Strahlung 170 möglichst
verlustfrei in die Scheibe eingekoppelt und aus dieser wieder zurück in den Regensensor 100 eingekoppelt
werden kann. Die Koppelschicht 130, welche auch als „Koppelkissen” bezeichnet
wird, weist ein elastisches und für die Strahlung 170 transparentes
Material wie insbesondere Silikon auf.
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Wie
in 1 dargestellt sind die Mikrospiegelanordnung 190 und
der Regensensor 100 (d. h. dessen Grundfläche 105 bzw.
Koppelschicht 130) im Wesentlichen parallel zueinander
orientiert. Die von dem Sender 110 schräg ausgesendete Strahlung 170 trifft
hierbei unter einem schrägen
bzw. spitzen Winkel auf der Mikrospiegelanordnung 190 auf.
An der Mikrospiegelanordnung 190 wird die Strahlung 170 reflektiert
und gelangt nachfolgend zu dem Empfänger 120. Beim Einsatz
an einer Scheibe eines Kraftfahrzeugs ergibt sich ein vergleichbarer
Strahlenverlauf (nicht dargestellt). Der Regensensor 100 wird
hierbei mit der Koppelschicht 130 mit einer geeigneten
Halte- oder Rahmenvorrichtung an eine Innenseite der Scheibe angepresst,
so dass die Strahlung 170 über das Lichtleitelement, die
Koppelschicht 130 in die Scheibe gelangen, an einer Außenseite der
Scheibe reflektiert und wieder in den Sensor 100 bzw. zu
dem Empfänger 120 gelangen
kann. Sofern die Scheibe trocken ist, wird die Strahlung im We sentlichen
total reflektiert. Je mehr Feuchtigkeit sich auf der Außenseite
der Scheibe befindet, desto geringer ist auch der Anteil der reflektierten
Strahlung. Diese Eigenschaft kann dazu eingesetzt werden, die Niederschlagsbelegung
der Scheibe zu ermitteln, und hierauf basierend beispielsweise einen
Scheibenwischer ein- und auszuschalten sowie die Wischfrequenz zu
steuern.
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Zum
Zwecke der Funktionsprüfung
ist der Regensensor 100 wie in 1 dargestellt
ferner mit einer auf der Koppelschicht 130 angeordneten
strukturierten Schicht 200 versehen, welche für die eingesetzte
Strahlung 170 transparent ist und eine Vielzahl an Strukturelementen
aufweist. Die strukturierte Schicht 200 wird dazu eingesetzt,
eine (ohne die Schicht 200) an einer Außenseite der Koppelschicht 130 auftretende
Totalreflexion zu unterbinden. Die unter einem schrägen Winkel
ausgesendete Strahlung 170 kann daher über die strukturierte Schicht 200 aus
dem Regensensor 110 ausgekoppelt und unter demselben Winkel
wie beim Austritt aus der Schicht 200 wieder in den Regensensor 100 eingekoppelt
werden. Auf diese Weise ist die Möglichkeit gegeben, eine Funktionsprüfung und
eine Kalibrierung des Regensensors 100 kontaktlos und in
Zusammenspiel mit der Mikrospiegelanordnung 190 durchzuführen, anstelle
den Regensensor 100 an eine Testscheibe anzupressen. Gegebenenfalls
kann bei der Funktionsprüfung
zusätzlich
ein von dem Regensensor 100 getrennter Sender bzw. eine
externe Lichtquelle eingesetzt werden, um eine zusätzliche Strahlung
in den Empfänger 120 zu
Testzwecken einzustrahlen (nicht dargestellt).
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Da
der Regensensor 100 kontaktlos auf seine Funktionsfähigkeit
getestet werden kann, lässt sich
die Prüfung
mit einem relativ geringen Aufwand und insbesondere zeitgünstig bzw.
taktzeitkompatibel durchführen.
Der Regensensor 100 kann hierbei beispielsweise von einer
relativ einfachen Haltevorrichtung gehalten werden, welche den Regensensor 100 an
die Mikrospiegelanordnung 190 heranführt. Auch können mehrere derartiger Sensoren 100 mit einem
geringen Aufwand parallel geprüft
werden. Aufgrund der Kontaktlosigkeit ist darüber hinaus weder eine Reinigung
des Sensors 100 noch der Prüfeinrichtung 190 im
Anschluss an eine Funktionsprüfung
erforderlich. Auch wird eine gegebenenfalls falsche Kalibrierung,
welche bei einer verschmutzten Testscheibe auftreten kann, vermieden.
Neben dem Ein- und Auskoppeln von Strahlung 170 kann die strukturierte
Schicht 200 ferner als Schutzfolie fungieren, um eine Anlagerung
von Staub und Schmutz auf der Koppelschicht 130 zu verhindern.
Die Schicht 200 kann hierbei gegebenenfalls für weitere
Prüfungen
und für
einen Transport auf der Koppelschicht 130 belassen, und
erst kurz vor einer Befestigung des Sensors 100 an einer
Scheibe entfernt werden.
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2 zeigt
in einer schematischen Ansicht die Mikrospiegelanordnung 190,
welche eine Anordnung von verkippbaren Mikrospiegeln 195 umfasst. Die
Mikrospiegel 195, welche beispielsweise matrixförmig in
Form von (adressierbaren) Zeilen und Spalten zueinander angeordnet
sind, können
wie in 2 angedeutet beispielsweise zwischen zwei unterschiedliche
Stellungen verkippt werden. In einer ersten Stellung wird ein Lichtstrahl 170 an
einem Mikrospiegel 195 (total) reflektiert, so dass der
Lichtstrahl 170 zu dem Empfänger 120 gelangt.
In einer zweiten Stellung, dargestellt anhand des Mikrospiegels 195', wird der betreffende
Lichtstrahl 170' von dem
Mikrospiegel 195' durchgelassen
bzw. strahlt an diesem vorbei, oder wird in einer solchen Richtung reflektiert,
dass der Empfänger 120 den
Lichtstrahl 170' nicht
erfasst. Möglich
ist es auch, einen Mikrospiegel 195 gegebenenfalls (stufenlos)
in eine Position zwischen diese beiden Extremstellungen zu bringen.
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Mit
Hilfe der Mikrospiegelanordnung 190 kann durch selektives
Verkippen der Mikrospiegel 195 eine mit einem komplexen
Regenmuster belegte Scheibe für
die Funktionsprüfung
des Regensensors 100 simuliert werden. Insbesondere besteht
die Möglichkeit,
ein zeitlich veränderliches
Regenmuster durch entsprechendes Verkippen der Mikrospiegel 195 zu
erzeugen. Das Reflexionsverhalten einer mit Feuchtigkeit bzw. einem
Feuchtigkeitsmuster belegten Scheibe wird hierbei über die
strukturierte Schicht 200, die Mikrospiegelanordnung 190 und
die zwischen der strukturierten Schicht 200 und der Mikrospiegelanordnung 190 vorliegende
Luft bzw. den Abstand zwischen der Schicht 200 und der
Anordnung 190 simuliert. Der Abstand zwischen Schicht 200 und Anordnung 190 kann
bei der Funktionsprüfung
auch durch entsprechendes Verschieben des Regensensors 100 verändert werden.
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Die
strukturierte Schicht 200 ist vorzugsweise als transparente,
elastische Kunststofffolie ausgebildet, welche beispielsweise auf
die Koppelschicht 130 aufgeklebt wird. Hierbei sind die
Strukturelemente der Schicht 200 derart auf den Regensensor 100 bzw.
dessen optische Eigenschaften (in Zusammenspiel mit der Mikrospiegelanordnung 190)
abgestimmt, dass die Strahlung 170 wie oben beschrieben möglichst
verlustfrei und unter einem schrägen
Winkel aus dem Regensensor 100 (bzw. der Koppelschicht 130)
ausgekoppelt und wieder in den Regensensor 100 (bzw. die
Koppelschicht 130) eingekoppelt werden kann. Hin sichtlich
der Strukturelemente der Schicht 200 kommen eine Reihe
unterschiedlicher Ausgestaltungen in Betracht. Anhand der folgenden 3 bis 5 werden
mögliche
Ausführungsformen
veranschaulicht.
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3 zeigt
in einer Draufsicht eine Rillenstruktur 210, welche eine
Anzahl an parallel zueinander angeordneten, prismen- oder dreieckförmigen Rillen 211 umfasst.
Eine einzelne Rille 211 ist hierbei perspektivisch (rechts
neben der Rillenstruktur 210) dargestellt. Die Rillen 211 können hierbei
derart ausgebildet sein, dass die von dem Sender 110 ausgesendete
Strahlung 170 sowie die zu dem Empfänger 120 reflektierte
Strahlung 170 die Seitenflächen der Rillen 211 im
Wesentlichen senkrecht durchdringt, um Streuungs- bzw. Brechungseffekte
zu unterdrücken
und einen möglichst „homogenen” Strahlungsverlauf
zu erhalten.
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4 zeigt
als weitere mögliche
Ausgestaltung in einer Draufsicht eine Pyramidenstruktur 220 mit
einer Anzahl an Tetraedern bzw. Pyramiden 221. Eine einzelne
Pyramide 221 ist ferner perspektivisch dargestellt. Auch
hierbei können
die Pyramiden 221 derart gestaltet sein, dass die ausgesendete
und reflektierte Strahlung 170 Seitenflächen der Pyramiden 221 im
Wesentlichen senkrecht durchdringt.
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5 zeigt
als weitere mögliche
Ausführungsform
in einer Draufsicht eine Noppenstruktur 230 mit einer Anzahl
an Noppen 231. Eine der Noppen 231 ist ferner
perspektivisch dargestellt. Die Noppen 231 können hierbei
eine im Wesentlichen kreisförmige
Grundfläche
und eine halbelliptische oder halbkreisförmige Querschnittsform aufweisen. Auch
durch eine noppenförmige
Ausgestaltung der strukturierten Schicht 200 besteht die
Möglichkeit, Strahlung 170 aus
dem Regensensor 100 aus- und wieder in diesen einzukoppeln,
um einen kontaktlose Funktionsprüfung
des Sensors 100 durchzuführen. Die konkrete Ausgestaltung
der Noppen 231 ist hierbei wiederum auf die optischen Eigenschaften
des Regensensors 100 abgestimmt. Die Noppenform macht es
beispielsweise möglich,
eine durch den Sender 110 in einem Winkelbereich abgestrahlte Strahlung 170 in
eine parallele Strahlung 170 „umzuwandeln”.
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Die
in den 3 bis 5 dargestellten Strukturelemente
stellen lediglich beispielhafte Ausgestaltungen für Strukturelemente
der strukturierten Schicht 200 dar. Anstelle der gezeigten
Strukturelemente 211, 221, 231 können auch
andere Strukturelemente zum Einsatz kommen, deren Form auf den betreffenden
Regensensor 100 abgestimmt wird. Möglich ist es auch, dass die
strukturierte Schicht 200 nicht nur Strukturelemente eines
Typs oder in einer einheitlichen Ausgestaltung aufweist, sondern auch
unterschiedliche Strukturelemente umfasst. Beispielsweise kann die
Schicht 200 verschiedene Bereiche aufweisen, in welchen
die unterschiedlichen Strukturelemente jeweils angeordnet sind.
Hierunter fallen auch Ausgestaltungen, in welchen zwar Strukturelemente
mit den gleichen Abmessungen, aber in unterschiedlichen Orientierungen
oder Ausrichtungen zueinander vorgesehen sind.
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Des
weiteren kann die strukturierte Schicht 200 Strukturelemente
nur an bestimmten Abschnitten aufweisen, wohingegen andere Bereiche
keine Strukturelemente umfassen. Bei diesen bestimmten Abschnitten
kann es sich insbesondere um die sensitiven Flächen eines Sensors 100 handeln,
d. h. Bereiche, in welchen Strahlung 170 aus dem Sensor 100 ausgekoppelt,
reflektiert und wieder in den Sensor 100 eingekoppelt wird.
Ein weiteres mögliches
Beispiel wird im Folgenden anhand von 6 beschrieben.
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6 zeigt
in einer schematischen Darstellung einen weiteren optischen Sensor 101,
welcher mit dem Sensor 100 von 1 im Wesentlichen übereinstimmt.
Im Hinblick auf Details zu übereinstimmenden
Komponenten wird daher auf die vorstehenden Ausführungen Bezug genommen. Auch
auf dem Sensor 101 bzw. dessen Koppelschicht 130 ist erneut
eine strukturierte Schicht 201 mit einer Anzahl an Strukturelementen
vorgesehen, um einen kontaktlosen Funktionstest an einer Mikrospiegelanordnung 190 durchzuführen.
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Im
Unterschied zu dem Sensor 100 weist der Sensor 101 zwischen
dem Sender 110 und dem Empfänger 120 wenigstens
einen weiteren Empfänger 140 zum
Erfassen eines Umgebungslichts auf (ALS, „ambient light sensor”). Hierauf
basierend kann das Ein- und Ausschalten von Scheinwerfern eines Kraftfahrzeugs,
beispielsweise bei Nacht- oder Tunnelfahrten, gesteuert werden.
Auch der weitere Empfänger 140 kann
bei einer Funktionsprüfung
des Sensors 101 auf seine Funktionsfähigkeit überprüft werden, indem mit einer
entsprechenden Lichtquelle Licht in den Empfänger 140 eingestrahlt
wird (nicht dargestellt). Damit das Licht unverfälscht zu dem Empfänger 140 gelangen
kann und infolgedessen ein einwandfreier Test des Empfängers 140 ermöglicht wird,
weist die strukturierte Schicht 201 im Bereich des bzw.
oberhalb des weiteren Empfängers 140 einen
Abschnitt 205 ohne Strukturelemente auf. Die Funktionsprüfung des
Empfängers 140 kann
parallel zum Testen der „Regensensorfunktionalität” mittels
Sender 110 und Empfänger 120 durchgeführt werden.
Da ein Anpressen an eine Testscheibe entfällt, wird die Gefahr einer
falschen Kalibrierung des Empfängers 140,
wie es bei einer verschmutzten Testscheibe auftreten kann, vermieden.
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Die
anhand der Figuren erläuterten
Ausführungsformen
stellen bevorzugte bzw. beispielhafte Ausführungsformen der Erfindung
dar. Darüber
hinaus sind weitere Ausführungsformen
vorstellbar, welche weitere Abwandlungen oder Kombinationen der beschriebenen
Ausführungsformen
umfassen. Insbesondere können
durch Einsatz einer strukturierten Schicht bzw. Folie auch solche
optischen Sensoren einem kontaktlosen Funktionstest unterzogen werden,
welche einen anderen Aufbau als die in den 1 und 6 dargestellten
Sensoren 100, 101 aufweisen. In Betracht kommen
hierbei beispielsweise Sensoren, welche mehrere Sender und Empfänger zum
Erfassen einer Feuchtigkeitsbelegung auf einer Scheibe umfassen.