DE102009000571A1 - Sensorvorrichtung - Google Patents

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Abstract

Die Erfindung betrifft eine Sensorvorrichtung, aufweisend einen Gehäusegrundkörper (110; 111; 112) mit Kontaktelementen (120), ein elastisch mit dem Gehäusegrundkörper (110; 111; 112) verbundenes Bodenteil (140; 141; 211; 221), und eine auf dem Bodenteil (140; 141; 211; 221) angeordnete Chipstruktur (150), welche elektrisch mit den Kontaktelementen (120) des Gehäusegrundkörpers (110; 111; 112) verbunden ist. Die Sensorvorrichtung weist des weiteren eine flexible Leiterplatte (200; 210; 220; 222; 230) auf, über welche wenigstens ein Teil der elektrischen Verbindung zwischen der Chipstruktur (150) und den Kontaktelementen (120) des Gehäusegrundkörpers (110; 111; 112) hergestellt ist. Die Erfindung betrifft ferner ein Gehäuse für eine Sensorvorrichtung.

Description

  • Die vorliegende Erfindung betrifft eine Sensorvorrichtung aufweisend einen Gehäusegrundkörper mit Kontaktelementen, ein elastisch mit dem Gehäusegrundkörper verbundenes Bodenteil, und eine auf dem Bodenteil angeordnete Chipstruktur, welche elektrisch mit den Kontaktelementen des Gehäusegrundkörpers verbunden ist. Die Erfindung betrifft ferner ein Gehäuse für eine Sensorvorrichtung.
  • Stand der Technik
  • Sensorvorrichtungen, welche beispielsweise in Sicherheitssystemen von Kraftfahrzeugen eingesetzt werden, weisen üblicherweise eine Chipstruktur mit einem Sensorchip sowie einem mit dem Sensorchip elektrisch verbundenen Auswertechip auf. Der Sensorchip ist in Form eines mikromechanischen Bauelements (MEMS, Micro electro mechanical system) ausgebildet, um eine physikalische Messgröße wie zum Beispiel eine Beschleunigung oder eine Drehrate zu erfassen. Der Auswertechip dient zur Steuerung des Sensorchips und zur Auswertung bzw. Weiterverarbeitung von Messsignalen des Sensorchips.
  • In einer bekannten Ausführungsform einer Sensorvorrichtung ist die Chipstruktur auf einem Bodenteil vorgesehen, welches innerhalb eines rahmenförmigen Gehäusegrundkörpers angeordnet ist. Das Bodenteil ist über ein elastisches Material mit dem Gehäusegrundkörper verbunden, so dass das Bodenteil gegenüber dem Gehäusegrundkörper auslenkbar ist und eine Dämpfung der Chipstruktur gegenüber äußeren mechanischen Einflüssen wie zum Beispiel Stößen oder Vibrationen ermöglicht wird. Der Gehäusegrundkörper weist Kontaktelemente auf, über welche die Sensorvorrichtung von extern kontaktierbar ist. Die Kontaktelemente sind innerhalb des Gehäusegrundkörpers weiter über Bonddrähte elektrisch mit dem Auswertechip verbunden.
  • Dieser Aufbau der Sensorvorrichtung kann jedoch zu einer Beeinträchtigung bzw. Unterbrechung der elektrischen Verbindung führen. Stöße oder Beschleunigungen, welche beispielsweise bei einem Falltest oder einem unsachgemäßen Handling der Sensorvorrichtung bei der Montage vorkommen können, haben eine relativ große Auslenkung des Bodenteils gegenüber dem Gehäusegrundkörper zur Folge. Dadurch entsteht eine entsprechende Relativbewegung in den Bonddrähten, die sowohl an dem Auswertechip als auch an dem Gehäusegrundkörper befestigt sind. Als Folge können die Bonddrähte gestaucht und plastisch verformt werden, was zu Berührungen zwischen den Bonddrähten und damit zu unerwünschten Kurzschlüssen im Betrieb der Sensorvorrichtung führen kann. Möglich ist auch ein Reißen der Bonddrähte bzw. ein Ablesen der Bonddrähte von ihren Kontaktstellen, wodurch die elektrische Verbindung unterbrochen wird.
  • Offenbarung der Erfindung
  • Die Aufgabe der vorliegenden Erfindung besteht darin, eine verbesserte Sensorvorrichtung bereitzustellen, welche einen robusteren bzw. stoßunempfindlicheren Aufbau aufweist. Es ist ferner Aufgabe der Erfindung, ein verbessertes Gehäuse für eine Sensorvorrichtung anzugeben.
  • Diese Aufgabe wird durch eine Sensorvorrichtung gemäß Anspruch 1 und durch ein Gehäuse für eine Sensorvorrichtung gemäß Anspruch 10 gelöst. Weitere vorteilhafte Ausführungsformen der Erfindung sind in den abhängigen Ansprüchen angegeben.
  • Erfindungsgemäß wird eine Sensorvorrichtung vorgeschlagen, welche einen Gehäusegrundkörper mit Kontaktelementen, ein elastisch mit dem Gehäusegrundkörper verbundenes Bodenteil, und eine auf dem Bodenteil angeordnete Chipstruktur aufweist. Die Chipstruktur ist elektrisch mit den Kontaktelementen des Gehäusegrundkörpers verbunden. Die Sensorvorrichtung weist des weiteren eine flexible Leiterplatte auf, über welche wenigstens ein Teil der elektrischen Verbindung zwischen der Chipstruktur und den Kontaktelementen des Gehäusegrundkörpers hergestellt ist.
  • Der Einsatz der flexiblen Leiterplatte macht es möglich, die Sensorvorrichtung mit einem stoßunempfindlicheren Aufbau auszustatten. Die flexible Leiterplatte kann hierbei in einer gefalteten Form in der Sensorvorrichtung vorliegen, so dass Abstandsänderungen zwischen dem Bodenteil bzw. der Chipstruktur und dem Gehäusegrundkörper, welche bei Auslenkungen des Bodenteils auftreten, entsprechend ausgeglichen werden können. Auf diese Weise werden elektrische Kurzschlüsse und ein Unterbrechen der elektrischen Verbindung zwischen der Chipstruktur und den Kontaktelementen des Gehäusegrundkörpers vermieden.
  • In einer bevorzugten Ausführungsform ist die flexible Leiterplatte an dem Gehäusegrundkörper und an dem Bodenteil befestigt, wobei die Chipstruktur elektrisch mit der flexiblen Leiterplatte verbunden ist. Zur elektrischen Verbindung zwischen der Chipstruktur und der flexiblen Leiterplatte können beispielsweise Bonddrähte zum Einsatz kommen. Da Auslenkungen des Bodenteils gegenüber dem Gehäusegrundkörper über die flexible Leiterplatte ausgeglichen werden können, besteht keine Gefahr eines Stauchens bzw. Abreißens der Bonddrähte.
  • In einer weiteren bevorzugten Ausführungsform ist die flexible Leiterplatte an dem Gehäusegrundkörper befestigt und weist eine Oberseite und eine der Oberseite gegenüberliegende Unterseite auf. Auf der Unterseite der flexiblen Leiterplatte ist ein Gehäuseteil aus einem starren Material angeordnet, wodurch das Bodenteil gebildet wird. Die Chipstruktur ist im Bereich des Bodenteils auf der Oberseite der flexiblen Leiterplatte angeordnet und elektrisch mit der flexiblen Leiterplatte, zum Beispiel über Bonddrähte, verbunden.
  • In einer weiteren bevorzugten Ausführungsform weist die Sensorrichtung eine an dem Gehäusegrundkörper befestigte Leiterplatte auf. Die Leiterplatte umfasst einen starren Leiterplattenabschnitt zum Bilden des Bodenteils und zwischen dem starren Leiterplattenabschnitt und dem Gehäusegrundkörper einen flexiblen Leiterplattenabschnitt. Eine derartige „Kombinationsleiterplatte” kann beispielsweise durch Laminieren unterschiedlich elastischer Leiterplattenmaterialien hergestellt werden. Die auf dem Bodenteil bzw. dem starren Leiterplattenabschnitt angeordnete Chipstruktur ist elektrisch mit der Leiterplatte, beispielsweise über Bonddrähte, verbunden.
  • Anstelle die flexible Leiterplatte an einem Bodenteil zu befestigen oder das Bodenteil als (integralen) Bestandteil einer Leiterplatte auszubilden, ist gemäß einer weiteren bevorzugten Ausführungsform vorgesehen, dass die flexible Leiterplatte an dem Gehäusegrundkörper und an der auf dem Bodenteil angeordneten Chipstruktur befestigt ist.
  • In einer weiteren bevorzugten Ausführungsform umfasst die Chipstruktur einen Sensorchip und einen Auswertechip, wobei der Sensorchip und der Auswertechip auf unterschiedlichen Seiten des Bodenteils angeordnet sind. In dieser Ausgestaltung kann die Sensorvorrichtung mit einem relativ geringen (lateralen) Platzbedarf verwirklicht werden, wodurch sich ferner eine Kostenersparnis ergibt.
  • In einer weiteren bevorzugten Ausführungsform ist der Gehäusegrundkörper rahmenförmig ausgebildet, wobei das Bodenteil innerhalb des Gehäusegrundkörpers angeordnet und mit dem Gehäusegrundkörper über ein zwischen dem Gehäusegrundkörper und dem Bodenteil angeordnetes elastisches Material verbunden ist. Vorzugsweise ist im Bereich der flexiblen Leiterplatte zwischen dem Gehäusegrundkörper und dem Bodenteil eine Aussparung ohne das elastische Material vorgesehen. Auch durch diese Ausgestaltung wird ein platzsparender Aufbau der Sensorvorrichtung begünstigt.
  • Erfindungsgemäß wird ferner ein Gehäuse für eine Sensorvorrichtung vorgeschlagen, welches einen Gehäusegrundkörper mit Kontaktelementen und ein elastisch mit dem Gehäusegrundkörper verbundenes Bodenteil zum Tragen einer Chipstruktur aufweist. Das Gehäuse weist des weiteren eine flexible Leiterplatte zum Herstellen wenigstens eines Teils einer elektrischen Verbindung zwischen der Chipstruktur und den Kontaktelementen des Gehäusegrundkörpers auf, wodurch eine zuverlässige elektrische Verbindung gewährleistet ist.
  • Die Erfindung wird im Folgenden anhand der Figuren näher erläutert. Es zeigen:
  • 1a und 1b eine Sensorvorrichtung in einer schematischen Aufsichtsdarstellung und in einer schematischen seitlichen Darstellung;
  • 2a und 2b eine weitere Sensorvorrichtung in einer schematischen Aufsichtsdarstellung und in einer schematischen seitlichen Darstellung;
  • 3a und 3b eine weitere Sensorvorrichtung in einer schematischen Aufsichtsdarstellung und in einer schematischen seitlichen Darstellung;
  • 4 und 5 schematische seitliche Darstellungen von weiteren Sensorvorrichtungen; und
  • 6a und 6b eine weitere Sensorvorrichtung in einer schematischen Aufsichtsdarstellung und in einer schematischen seitlichen Darstellung.
  • Die folgenden Figuren zeigen mögliche Ausführungsformen von Sensorvorrichtungen, welche auch als „Sensormodul” oder „Sensorpackage” bezeichnet werden. Als Anwendungsgebiete der gezeigten Sensorvorrichtungen kommen beispielsweise Sicherheitssysteme von Kraftfahrzeugen wie zum Beispiel ESP (elektronisches Stabilitätsprogramm) in Betracht.
  • 1a zeigt eine Sensorvorrichtung 100 in einer schematischen Aufsichtsdarstellung. Eine entsprechende seitliche Ansicht der Sensorvorrichtung 100 ist in 1b dargestellt. Die Sensorvorrichtung 100 weist einen rahmenförmigen Gehäusegrundkörper 110 auf, welcher einen Innenraum umschließt. Bei dem Gehäusegrundkörper 110 handelt es sich beispielsweise um einen sogenannten „Premold-Rahmen”, welcher ein Kunststoffmaterial wie zum Beispiel Polyetheretherketon (PEEK) aufweist. Der Gehäusegrundkörper 110 weist ferner Kontaktelemente 120 auf, welche an der Oberseite von zwei innenraumseitig angeordneten und sich gegenüberliegenden stufenförmigen Absätzen 119 ausgebildet sind. Die Kontaktelemente 120 sind zum Beispiel als Bestandteil eines als „lead frame” bezeichneten und sich durch den Gehäusegrundkörper 110 erstreckenden Leitungsrahmens ausgebildet, welcher außenseitig Anschlusspins zur externen Kontaktierung der Sensorvorrichtung 100 aufweist (nicht dargestellt).
  • Als weitere Gehäusekomponente umfasst die Sensorvorrichtung 100 ein Bodenteil zum Tragen einer Chipstruktur, welches in Form einer rechteckförmigen Bodenplatte 140 ausgebildet ist. Die Bodenplatte 140 besteht beispielsweise aus Stahl und ist in dem von dem Gehäusegrundkörper 110 umschlossenen Innenraum angeordnet. Über ein elastisches Material 180 ist die Bodenplatte 140 an Innenwänden des Gehäusegrundkörpers 110 befestigt, welche der Bodenplatte 140 gegenüberliegen bzw. die Bodenplatte 140 umgeben. Bei dem elastischen Material 180 handelt es sich beispielsweise um Flüssigsilikonkautschuk (LSR, liquid silicone rubber), welches in den Zwischenraum zwischen der Bodenplatte 140 und dem Gehäusegrundkörper 110 eingespritzt wird und den Rand der Bodenplatte 140 bzw. einen Teil hiervon umgreift. Durch die Befestigung über das elastische Material 180 ist die Bodenplatte 140 gegenüber dem Gehäusegrundkörper 110 elastisch auslenkbar, wodurch eine Dämpfung bzw. Entkopplung der Chipstruktur gegenüber äußeren mechanischen Einflüssen wie zum Beispiel Stößen oder Vibrationen erzielt wird.
  • Als Chipstruktur weist die Sensorvorrichtung 100 einen Auswertechip 150 und einen mikromechanischen Sensorchip 160 auf, welche auf einer Oberseite der Bodenplatte 140 angeordnet sind. Hierbei können beide Chips 150, 160 über zugehörige Klebstoffschichten auf der Bodenplatte 140 fixiert sein (nicht dargestellt). Zum Schutz der Chipstruktur, beispielsweise bei der Montage oder gegenüber äußeren Einflüssen wie zum Beispiel Staub- oder Schmutzpartikeln, ist oberhalb der Chips 150, 160 ein mit dem Gehäusegrundkörper 110 verbundener Deckel 130 vorgesehen (1b). Der Auswertechip 150, welcher insbesondere als anwendungsspezifische integrierte Schaltung (ASIC, application specific integrated circuit) ausgebildet sein kann, dient zum Steuern des Sensorchips 160 und zum Auswerten bzw. Weiterverarbeiten von Messsignalen des Sensorchips 160. Zu diesem Zweck sind beide Chips 150, 160 über Bonddrähte 170 elektrisch miteinander verbunden, welche zugehörige Kontaktflächen („Bondpads”) der Chips 150, 160 kontaktieren (nicht dargestellt). Der mikromechanische Sensorchip 160 ist beispielsweise zum Erfassen einer Beschleunigung oder zum Erfassen einer Drehrate ausgebildet und weist ein oder mehrere beweglich gelagerte Funktionselemente wie zum Beispiel Schwingerstrukturen auf (nicht dargestellt), deren Auslenkung zum Beispiel auf kapazitive Weise erfasst wird. Insbesondere der mikromechanische Sensorchip 160 wird durch die gedämpfte Befestigung der Bodenplatte 140 an dem Gehäusegrundkörper 110 vor Stößen bzw. Störbeschleunigungen geschützt, wodurch Fehlfunktionen oder Beschädigungen vermieden werden können.
  • Die Sensorvorrichtung 100 weist des weiteren zwei flexible Leiterplatten 200 auf, mit deren Hilfe der Auswertechip 150 auf zuverlässige Weise elektrisch mit den Kontaktelementen 120 des Gehäusegrundkörpers 110 verbunden ist. Eine flexib le Leiterplatte 200 umfasst beispielsweise ein Band oder eine Folie aus einem flexiblen Kunststoffmaterial wie zum Beispiel Polyimid, auf welcher Kontakte und Leiterbahnen aus einem elektrisch leitfähigen bzw. metallischen Material angeordnet sind (nicht dargestellt). Möglich ist auch der Einsatz von zwei Polyimidfolien und einer zwischen den Polyimidfolien angeordneten Leiterbahnstruktur, oder einer Mehrlagenleiterplatte mit mehreren durch Polyimidfolien getrennten Leiterbahnebenen, welche durch eine entsprechende Verdrahtungsstruktur elektrisch verbunden sein können. Anstelle des Polyimids kann alternativ auch ein anderes flexibles bzw. formbares Kunststoffmaterial zum Einsatz kommen.
  • Die beiden Leiterplatten 200 weisen wie in 1a dargestellt jeweils zwei streifenförmige Befestigungsabschnitte 205, 206 auf, mit denen die Leiterplatten 200 auf den Absätzen 119 des Gehäusegrundkörpers 110 und auf der Oberseite der Bodenplatte 140 an den den Absätzen 119 gegenüberliegenden Seiten befestigt sind. Der Befestigungsabschnitt 205 einer Leiterplatte 200 weist mit den Leiterbahnen der Leiterplatte 200 verbundene und auf die Kontaktelemente 120 des Gehäusegrundkörpers 110 abgestimmte Kontaktelemente bzw. Kontaktflächen auf (nicht dargestellt). Hierbei ist der Befestigungsabschnitt 205 beispielsweise über einen elektrisch leitfähigen Klebstoff oder ein Lötmittel derart an dem Gehäusegrundkörper 110 befestigt, dass Kontaktflächen des Befestigungsabschnitts 205 zugehörige Kontaktelemente 120 kontaktieren. Der weitere Befestigungsabschnitt 206 einer Leiterplatte 200 ist beispielsweise über einen Klebstoff auf der Oberseite der Bodenplatte 140 befestigt und weist ebenfalls mit den Leiterbahnen der Leiterplatte 200 verbundene Kontaktflächen auf, welche über Bonddrähte 170 elektrisch mit Kontaktflächen des Auswertechips 150 verbunden sind (nicht dargestellt).
  • Der Abschnitt einer Leiterplatte 200 zwischen den Befestigungsabschnitten 205, 206 liegt wie in 1b dargestellt in einer gewellten oder „zick-zack-artig” gefalteten Form vor. Abstandsänderungen zwischen der Bodenplatte 140 und dem Gehäusegrundkörper 110, welche bei gedämpften Auslenkungen der Bodenplatte 140 aufgrund von beispielsweise Stößen oder Vibrationen auftreten, können folglich ausgeglichen werden, ohne dass die elektrische Verbindung zwischen dem Auswertechip 150 und den Kontaktelementen 120 des Gehäusegrundkörpers unterbrochen oder beeinträchtigt würde. Da die zur Kontaktierung des Auswertechips 150 mit der Leiterplatte 120 eingesetzten Bonddrähte 170 lediglich im Bereich der Bodenplatte 140 vorgesehen sind bzw. an der Bodenplatte 140 (über den Befestigungsabschnitt 206) befestigt sind, wird eine stoßbedingte Belastung der Bonddrähte 170 und ein hiermit verbundenes Stauchen oder Abreißen vermieden. Um einen platzgünstigen Aufbau zu erzielen, weist die Sensorvorrichtung 100 wie in 1a dargestellt im Bereich des gefalteten Abschnitts der Leiterplatten 200 zwischen dem Bodenteil 140 und dem Gehäusegrundkörper 110 jeweils eine Aussparung 190 ohne das elastische Material 180 auf, innerhalb derer der gefaltete Leiterplattenabschnitt bzw. ein Teil hiervon aufgenommen wird.
  • Anhand der folgenden Figuren werden weitere Ausführungsformen von Sensorvorrichtungen erläutert, welche einen ähnlichen Aufbau besitzen wie die in den 1a und 1b dargstellte Sensorvorrichtung 100. Im Hinblick auf Details zu gleichartigen oder übereinstimmenden Komponenten dieser Sensorvorrichtungen wird daher auf die vorstehenden Ausführungen Bezug genommen.
  • Die 2a und 2b zeigen eine Sensorvorrichtung 101 in einer schematischen Aufsichtsdarstellung und in einer seitlichen Darstellung, welche anstelle von zwei separaten flexiblen Leiterplatten 200 eine einzelne flexible Leiterplatte 210 aufweist. Die flexible Leiterplatte 210 weist in der Mitte einen rechteckförmigen Abschnitt zum Tragen einer Chipstruktur auf, welcher im Folgenden als Bodenteilabschnitt 211 bezeichnet wird. Zum Bereitstellen eines Bodenteils ist zur Versteifung auf der Unterseite der Leiterplatte 210 bzw. des Bodenteilabschnitts 211 eine rechteckige Bodenplatte 141 aus einem starren Material wie zum Beispiel Stahl angeordnet, welche die gleiche laterale Grundfläche aufweist wie der Bodenteilabschnitt 211. Zur Fixierung von Leiterplatte 210 und Bodenplatte 241 kann beispielsweise ein Klebstoff eingesetzt werden.
  • Das aus dem Bodenteilabschnitt 211 und der Bodenplatte 141 gebildete Bodenteil ist innerhalb eines rahmenförmigen Gehäusegrundkörpers 110 angeordnet und an dem Gehäusegrundkörper 110 über ein elastisches Material 180 befestigt, wodurch eine gedämpfte Auslenkung des Bodenteils ermöglicht wird. Auf einer Oberseite der Leiterplatte 210 bzw. des Bodenteilabschnitts 211 ist eine Chipstruktur umfassend einen Auswertechip 150 und einen Sensorchip 160 angeordnet. Die beiden Chips 150, 160 sind mithilfe von Bonddrähten 170 elektrisch miteinander verbunden. Über Bonddrähte 170 ist auch der Auswertechip 150 elektrisch an die Leiterplatte 210 bzw. deren Leiterbahnen angeschlossen, wobei die Bondrähte 170 Kontaktflächen des Auswertechips 150 und Kontaktflächen der Leiterplatte 210 auf deren Bodenteilabschnitt 211 kontaktieren (nicht dargestellt).
  • Die flexible Leiterplatte 210 der Sensorvorrichtung 101 weist angrenzend an den Bodenteilabschnitt 211 zwei in einer gefalteten Form vorliegende Abschnitte, und hieran angrenzend zwei streifenförmige Befestigungsabschnitte 215 auf (2a). Über die Befestigungsabschnitte 215 ist die Leiterplatte 210 an gegenüberliegenden Absätzen 119 des Gehäusegrundkörpers 110 befestigt, wobei an der Oberseite der Absätze 119 ausgebildete Kontaktelemente 120 des Gehäusegrundkörpers 110 kontaktiert werden. Durch die gefalteten Abschnitte der Leiterplatte 210 ist es möglich, Abstandsänderungen zwischen dem aus dem Bodenteilabschnitt 211 und der Bodenplatte 141 gebildeten Bodenteil gegenüber dem Gehäusegrundkörper 110 auszugleichen, ohne die elektrische Verbindung zwischen dem Auswertechip 150 und den Kontaktelementen 120 zu beeinträchtigen. Für einen platzsparenden Aufbau weist die Sensorvorrichtung 101 im Bereich der gefalteten Leiterplattenabschnitte Aussparungen 190 ohne das elastische Material 180 auf.
  • Die 3a und 3b zeigen eine weitere Sensorvorrichtung 102 in einer schematischen Aufsichtsdarstellung und in einer seitlichen Darstellung, welche eine einzelne Leiterplatte 220 umfasst. Die Leiterplatte 220 weist hierbei einen starren Leiterplattenabschnitt 221 zum Bilden eines Bodenteils für eine Chipstruktur, und angrenzend an den starren Leiterplattenabschnitt 221 zwei flexible, gefaltete Leiterplattenabschnitte 222 auf. Eine derartige, unterschiedlich elastische oder starre Abschnitte 221, 222 aufweisende Leiterplatte 220 kann beispielsweise durch Laminieren einer Folie eines flexiblen Materials (zum Beispiel Polyimid) mit einer Schicht eines aushärtbaren Materials (zum Beispiel eines Harz-Glasfasergewebes) hergestellt werden.
  • Das Bodenteil bzw. der starre Leiterplattenabschnitt 211 ist über ein elastisches Material 180 an Innenwänden eines rahmenförmigen Gehäusegrundkörpers 110 befestigt, wobei im Bereich der flexiblen Leiterplattenabschnitte 222 Aussparungen 190 vorgesehen sind (3a). Auf dem starren Leiterplattenabschnitt 221 ist eine Chipstruktur bestehend aus einem Auswertechip 150 und einem Sensorchip 160 angeordnet. Die Kontaktierung der Chips 150, 160 untereinander und mit der Leiterplatte 220 erfolgt über Bonddrähte 170, welche an Kontaktflächen der Chips 150, 160 und der Leiterplatte 220 bzw. des starren Leiterplattenabschnitts 221 angeschlossen sind (nicht dargestellt). An den äußeren Enden der flexiblen Leiterplattenabschnitte 222 sind streifenförmige Befestigungsabschnitte 225 vorgesehen, mit denen die Leiterplatte 220 des weiteren an gegenüberliegenden Absätzen 119 des rahmenförmigen Gehäusegrundkörpers 110 befestigt ist und Kontaktelemente 120 des Gehäusegrundkörpers 110 kontaktiert.
  • Die Verwendung einer Leiterplatte im Bereich des Bodenteils einer Sensorvorrichtung bietet die Möglichkeit, die Chips einer Chipstruktur auf verschiedenen Seiten der Leiterplatte bzw. des Bodenteils anzuordnen, wodurch die Sensorvorrichtung mit einem geringeren lateralen Platzbedarf ausgebildet werden kann. Zur Veranschaulichung zeigt 4 eine weitere Sensorvorrichtung 103 in einer schematischen seitlichen Darstellung, welche wie die Sensorvorrichtung 102 der 3a und 3b eine Leiterplatte 220 mit einem starren Leiterplattenabschnitt 221 und zwei flexiblen (gefalteten) Abschnitten 222 aufweist. Der starre Leiterplattenabschnitt 221 ist über ein elastisches Material 180 mit einem rahmenförmigen Gehäusegrundkörper 111 verbunden. Die flexiblen Leiterplattenabschnitte 222, an deren äußeren Enden streifenförmige Befestigungsabschnitte 215 entsprechend der in 3a dargestellten Sensorvorrichtung 102 vorliegen können, sind an zwei gegenüberliegenden Absätzen 119 des Gehäusegrundkörpers 111 befestigt, und kontaktieren an den Absätzen 119 vorgesehene Kontaktelemente des Gehäusegrundkörpers 111 (nicht dargestellt). Im Bereich der flexiblen Leiterplattenabschnitte 222 können erneut Aussparungen 190 ohne das elastische Material 180 vorgesehen sein (nicht dargestellt).
  • Als Chipstruktur weist die Sensorvorrichtung 103 einen Auswertechip 150 und einen Sensorchip 160 auf, wobei der Auswertechip 150 auf einer Oberseite der Leiterplatte 220 bzw. des starren Leiterplattenabschnitts 221, und der Sensorchip 160 auf einer der Oberseite gegenüberliegenden Unterseite der Leiterplatte 220 angeordnet ist. Beide Chips 150, 160 sind über Bonddrähte 170 an Kontaktflächen der Leiterplatte 220 auf deren Ober- und Unterseite angeschlossen (nicht dargestellt). Zur Kontaktierung der Chips 150, 160 untereinander ist innerhalb der Leiterplatte 220 eine entsprechende Umverdrahtungsstruktur vorgesehen, über welche Kontaktflächen der Ober- und Unterseite der Leiterplatte 220 elektrisch miteinander verbunden sind (nicht dargestellt). Um beide Chips 150, 160 bei spielsweise bei der Montage oder vor äußeren Einflüssen wie Staub und Schmutz zu schützen, weist die Sensorvorrichtung 103 zwei an dem Gehäusegrundkörper 111 angebrachte Deckel 130 auf, welche die auf den beiden Seiten der Leiterplatte 220 angeordneten Chips 150, 160 abdecken.
  • Der Einsatz einer Leiterplatte im Bereich des Bodenteils bietet darüber hinaus die Möglichkeit, Chips mithilfe von sogenannten SMD-Montagetechniken (surfacemounted device) auf der Leiterplatte zu befestigen und zu kontaktieren. Als ein mögliches Beispiel zeigt 5 eine weitere Sensorvorrichtung 104, welche im Wesentlichen den gleichen Aufbau und dieselben Komponenten aufweist wie die in 4 gezeigte Sensorvorrichtung 103. Im Unterschied zu der Sensorvorrichtung 103 weisen die Chips 150, 160 der Sensorvorrichtung 104 Lötkugeln 171 auf, mit denen die Chips 150, 160 auf der Ober- und Unterseite des Bodenteils bzw. des starren Leiterplattenabschnitts 221 der Leiterplatte 220 befestigt sind, und über welche Anschlüsse der Chips 150, 160 und Kontaktflächen der Leiterplatte 220 miteinander kontaktiert werden (nicht dargestellt). Die Lötkugeln 171 können hierbei in Form einer Kugelgitteranordnung, auch als „ball grid array” (BGA) bezeichnet, auf den Unterseiten der Chips 150, 160 angeordnet sein. Gegebenenfalls kann ein Klebstoff zur zusätzlichen Fixierung zwischen den Chips 150, 160 und der Leiterplatte 220 vorgesehen sein (nicht dargestellt).
  • Alternativ lassen sich andere SMD-Montagetechniken einsetzen. Eine Kontaktierungmöglichkeit besteht beispielsweise darin, auf den Chips 150, 160 und der Leiterplatte 220 aufeinander abgestimmte Anordnungen von Anschlussflächen („land grid array”, LGA) auszubilden, und diese durch ein Lötmittel elektrisch zu verbinden. Statt eines Lötmittels kann auch ein leitfähiger Klebstoff zum Einsatz kommen. Darüber hinaus ist es vorstellbar, die Chips 150, 160 mit seitlichen Anschlusspins auszubilden, welche über ein Lötmitel oder einen leitfähigen Klebstoff zugehörige Kontaktflächen der Leiterplatte 220 kontaktieren.
  • Die 6a und 6b zeigen eine weitere Sensorvorrichtung 105 in einer schematischen Aufsichtsdarstellung und in einer seitlichen Darstellung. Die Sensorvorrichtung 105 weist einen rahmenförmigen Gehäusegrundkörper 112 mit Kontaktelementen 120 auf, welche an der Oberseite von zwei sich gegenüberliegenden stufenförmigen Absätzen 119 ausgebildet sind. Innerhalb des Gehäusegrundkörpers 112 ist ein Bodenteil 140 vorgesehen, welches über ein elastisches Material 180 mit dem Gehäusegrundkörper 112 verbunden ist. Auf einer Oberseite des Bodenteils 140 sind ein Auswertechip 150 und ein Sensorchip 160 angeordnet, welche über Bonddrähte 170 elektrisch miteinander verbunden sind. Zur elektrischen Kontaktierung zwischen dem Auswertechip 150 und den Kontaktelementen 120 des Gehäusegrundkörpers 112 sind zwei flexible Leiterplatten 230 vorgesehen.
  • Die Leiterplatten 230 weisen wie in 6a dargestellt jeweils zwei streifenförmigen Befestigungsabschnitte 235, 236 auf, mit denen die Leiterplatten 230 auf den Absätzen 119 des Gehäusegrundkörpers 112 und auf der Oberseite des Auswertechips 150 an den den Absätzen 119 gegenüberliegenden Seiten befestigt sind. Die Befestigung kann beispielsweise über einen elektrisch leitfähigen Klebstoff oder ein Lötmittel erfolgen. Hierbei weisen die Befestigungsabschnitte 235, 236 auf die Kontaktelemente 120 des Gehäusegrundkörpers 112 und auf Kontakte bzw. Kontaktflächen des Auswertechips 150 abgestimmte Kontaktflächen auf, welche über den leitfähigen Klebstoff oder das Lötmittel elektrisch miteinander verbunden werden (nicht dargestellt). Der Abschnitt einer Leiterplatte 230 zwischen den Befestigungsabschnitten 235, 236 liegt wie in 6b dargestellt in einer gefalteten Form vor, wodurch Auslenkungen der Bodenplatte 140 gegenüber dem Gehäusegrundkörper 112 ausgeglichen werden können.
  • Die anhand der Figuren erläuterten Sensorvorrichtungen stellen bevorzugte Ausführungsformen der Erfindung dar. Darüber hinaus sind Ausführungsformen vorstellbar, welche weitere Abwandlungen und Kombinationen der beschriebenen Sensorvorrichtungen umfassen. Beispielsweise ist es möglich, bei den in den 1, 2, 3 und 6 dargestellten Sensorvorrichtungen 100, 101, 102, 105 die Bonddrähte 170 (oder einen Teil der Bondrähte 170), welche für die Kontaktierung der Chips untereinander bzw. zum Kontaktieren von Leiterplatten eingesetzt werden, durch andere Kontaktierungsmittel wie zum Beispiel die in 5 dargestellten Lötkugeln 171 zu ersetzen. Dies setzt voraus, dass die Bodenteile bzw. -platten der Sensorvorrichtungen in Form von (starren) Leiterplatten mit entsprechenden Kontaktflächen und Leiterbahnstrukturen ausgebildet sind. Die Ausgestaltung eines Bodenteils als Leiterplatte macht es ferner möglich, Chips auf unterschiedlichen Seiten des Bodenteils anzuordnen.
  • Neben den dargestellten Komponenten können die Sensorvorrichtungen weitere (aktive oder passive) Bauelemente aufweisen, welche insbesondere bei Verwendung einer Leiterplatte als Bodenteil sowohl auf einer Ober- und einer Unterseite angeordnet sein können. Auch kann eine Sensorvorrichtung anstelle von zwei Chips eine andere Anzahl von Chips umfassen. Ein Beispiel ist eine Sensorvorrichtung mit einem Auswertechip und drei Sensorchips, mit deren Hilfe Beschleunigungen in drei zueinander senkrechten Raumrichtungen erfasst werden.

Claims (10)

  1. Sensorvorrichtung aufweisend einen Gehäusegrundkörper (110; 111; 112) mit Kontaktelementen (120), ein elastisch mit dem Gehäusegrundkörper (110; 111; 112) verbundenes Bodenteil (140; 141; 211; 221), und eine auf dem Bodenteil (140; 141; 211; 221) angeordnete Chipstruktur (150), welche elektrisch mit den Kontaktelementen (120) des Gehäusegrundkörpers (110; 111; 112) verbunden ist, dadurch gekennzeichnet, dass die Sensorvorrichtung eine flexible Leiterplatte (200; 210; 220; 222; 230) aufweist, über welche wenigstens ein Teil der elektrischen Verbindung zwischen der Chipstruktur (150) und den Kontaktelementen (120) des Gehäusegrundkörpers (110; 111; 112) hergestellt ist.
  2. Sensorvorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass die flexible Leiterplatte (200) an dem Gehäusegrundkörper (110) und an dem Bodenteil (140) befestigt ist, wobei die Chipstruktur (150) elektrisch mit der flexiblen Leiterplatte (200) verbunden ist.
  3. Sensorvorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass die flexible Leiterplatte (210) an dem Gehäusegrundkörper (110) befestigt ist und eine Oberseite und eine der Oberseite gegenüberliegende Unterseite aufweist, wobei auf der Unterseite der flexiblen Leiterplatte ein Gehäuseteil (141) aus einem starren Material angeordnet ist, wodurch das Bodenteil (141; 211) gebildet wird, und wobei die Chipstruktur (150) im Bereich des Bodenteils (141; 211) auf der Oberseite der flexiblen Leiterplatte (210) angeordnet und elektrisch mit der flexiblen Leiterplatte (210) verbunden ist.
  4. Sensorvorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass die Sensorvorrichtung eine an dem Gehäusegrundkörper (110; 111) befestigte Leiterplatte (220) aufweist, wobei die Leiterplatte (220) einen starren Leiterplattenabschnitt (221) zum Bilden des Bodenteils und zwischen dem starren Leiterplattenabschnitt (221) und dem Gehäusegrundkörper (110; 111) einen flexiblen Leiterplattenabschnitt (222) umfasst, und wobei die Chipstruktur (150) elektrisch mit der Leiterplatte (220) verbunden ist.
  5. Sensorvorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass die flexible Leiterplatte (230) an dem Gehäusegrundkörper (112) und an der auf dem Bodenteil (140) angeordneten Chipstruktur (150) befestigt ist.
  6. Sensorvorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass die Chipstruktur einen Sensorchip (160) und einen Auswertechip (150) umfasst, wobei der Sensorchip (160) und der Auswertechip (150) auf unterschiedlichen Seiten des Bodenteils (221) angeordnet sind.
  7. Sensorvorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass der Gehäusegrundkörper (110; 111; 112) rahmenförmig ausgebildet ist, wobei das Bodenteil (140; 141; 211; 221) innerhalb des Gehäusegrundkörpers (110; 111; 112) angeordnet und mit dem Gehäusegrundkörper (110; 111; 112) über ein zwischen dem Gehäusegrundkörper (110; 111; 112) und dem Bodenteil (140; 141; 211; 221) angeordnetes elastisches Material (180) verbunden ist.
  8. Sensorvorrichtung nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, dass im Bereich der flexiblen Leiterplatte (200; 210; 220; 222) zwischen dem Gehäusegrundkörper (110; 111) und dem Bodenteil (140; 141; 211; 221) eine Aussparung (190) ohne das elastische Material (180) vorgesehen ist.
  9. Sensorvorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass der Gehäusegrundkörper (110; 111; 112) zwei gegenüberliegende Absätze (119) aufweist, wobei die Kontaktelemente (120) des Gehäusegrundkörpers (110; 111; 112) an einer Oberseite der Absätze (119) ausgebildet sind, wobei die Sensorvorrichtung eine oder zwei Leiterplatten (200; 210; 220; 230) aufweist, welche an den Absätzen (119) des Gehäusegrundkörpers (110; 111; 112) befestigt sind.
  10. Gehäuse für eine Sensorvorrichtung aufweisend einen Gehäusegrundkörper (110; 111; 112) mit Kontaktelementen (120) und ein elastisch mit dem Ge häusegrundkörper (110; 111; 112) verbundenes Bodenteil (140; 141; 211; 221) zum Tragen einer Chipstruktur (150), dadurch gekennzeichnet, dass das Gehäuse eine flexible Leiterplatte (200; 210; 220; 222; 230) zum Herstellen wenigstens eines Teils einer elektrischen Verbindung zwischen der Chipstruktur (150) und den Kontaktelementen (120) des Gehäusegrundkörpers (110; 111; 112) aufweist.
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Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102010001023A1 (de) 2010-01-19 2011-07-21 Robert Bosch GmbH, 70469 Sensorvorrichtung
WO2013023813A1 (de) 2011-08-16 2013-02-21 Robert Bosch Gmbh Sensor, sensoreinheit und verfahren zur herstellung einer sensoreinheit
CN104803341A (zh) * 2015-04-17 2015-07-29 北京必创科技股份有限公司 一种压力传感器应力释放装置
DE102016203036A1 (de) * 2016-02-26 2017-08-31 Robert Bosch Gmbh Sensorvorrichtung und Herstellungsverfahren für eine Sensorvorrichtung
EP3419172A1 (de) * 2017-06-21 2018-12-26 Optosys SA Näherungssensor
DE102012201486B4 (de) 2012-02-02 2020-08-06 Robert Bosch Gmbh Dämpfungsvorrichtung für eine mikromechanische Sensoreinrichtung

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4029453B2 (ja) 1998-01-27 2008-01-09 松下電工株式会社 半導体加速度センサ
JP4254016B2 (ja) 2000-05-17 2009-04-15 株式会社デンソー 角速度センサ及びその製造方法
DE202004020714U1 (de) 2003-05-12 2006-01-19 Knorr-Bremse Systeme für Schienenfahrzeuge GmbH Messvorrichtung mit einem Messfühler

Cited By (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102010001023A1 (de) 2010-01-19 2011-07-21 Robert Bosch GmbH, 70469 Sensorvorrichtung
US9263395B2 (en) 2010-01-19 2016-02-16 Robert Bosch Gmbh Sensor having damping
WO2013023813A1 (de) 2011-08-16 2013-02-21 Robert Bosch Gmbh Sensor, sensoreinheit und verfahren zur herstellung einer sensoreinheit
DE102011080971A1 (de) 2011-08-16 2013-02-21 Robert Bosch Gmbh Sensor, Sensoreinheit und Verfahren zur Herstellung einer Sensoreinheit
CN103748434A (zh) * 2011-08-16 2014-04-23 罗伯特·博世有限公司 传感器、传感器单元和用于制造传感器单元的方法
CN103748434B (zh) * 2011-08-16 2016-10-26 罗伯特·博世有限公司 传感器、传感器单元和用于制造传感器单元的方法
US10060940B2 (en) 2011-08-16 2018-08-28 Robert Bosch Gmbh Sensor, sensor unit, and method for producing a sensor unit
DE102012201486B4 (de) 2012-02-02 2020-08-06 Robert Bosch Gmbh Dämpfungsvorrichtung für eine mikromechanische Sensoreinrichtung
CN104803341A (zh) * 2015-04-17 2015-07-29 北京必创科技股份有限公司 一种压力传感器应力释放装置
DE102016203036A1 (de) * 2016-02-26 2017-08-31 Robert Bosch Gmbh Sensorvorrichtung und Herstellungsverfahren für eine Sensorvorrichtung
EP3419172A1 (de) * 2017-06-21 2018-12-26 Optosys SA Näherungssensor
US10779426B2 (en) 2017-06-21 2020-09-15 Optosys Sa Proximity sensor

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