-
Die
Erfindung betrifft ein faseroptisches Interferometer mit einer zu
einer Faserspule aufgewickelten Lichtleitfaser, in die zwei Teillichtstrahlen
einer ersten Lichtquelle einkoppelbar sind. Die Erfindung betrifft
ferner ein Verfahren zur Ermittlung physikalischer Zustandsgrößen im Innern
einer Faserspule eines faseroptischen Interferometers, bei dem zwei
Teillichtstrahlen in eine zur Faserspule aufgewickelte Lichtleitfaser
eingekoppelt werden.
-
Faseroptische
Interferometer werden beispielsweise dazu verwendet, Drehgeschwindigkeiten zu
messen. Dazu wird ein Lichtstrahl in zwei Teilstrahlen aufgeteilt,
die jeweils in entgegengesetzter Richtung im Kreis geführt werden
und nach einem bzw. mehreren Umläufen
wieder aufeinander treffen. Das Interferenzmuster der beiden überlagerten
Teilstrahlen verändert
sich, wenn das faseroptische Interferometer um eine Achse senkrecht
zur Strahlebene gedreht wird, da der optische Weg für beide
Teilstrahlen dann nicht mehr gleich lang ist. Das sich ergebende
Interferenzmuster der beiden sich überlagernden Strahlen ist jedoch
nicht nur eine Funktion der Drehgeschwindigkeit, sondern kann auch
von äußeren Parametern
wie beispielsweise der Temperatur abhängen. Da faseroptische Interferometer
heute weltweit in den unterschiedlichsten Anwendungsbereichen eingesetzt
werden, müssen
sie unter anspruchsvollen Bedingungen wie beispielsweise über einen
Temperaturbereich von –55°C bis 90°C ein konstantes
Betriebsverhalten aufweisen. Dies ist nur möglich, indem die einzelnen
Sensoren über
den operativ geforderten Temperaturbereich kalibriert werden. Bei
der Kalibrierung werden die Ausgangssignale des faseroptischen Interferometers,
die eine Funktion der Phasenverschiebung der beiden gegensinnig
laufenden Lichtstrahlen sind, unter hinreichend bekannten äußeren Parametern
erfaßt.
Anschließend
wird ein geeignetes mathematisches Modell abhängig von einer Eingangsgröße, zum
Beispiel der aktuell herrschenden Umgebungstemperatur, ermittelt
und in einem Speicher der Signalverarbeitung des faseroptischen
Interferometers abgelegt. Während
des Betriebs des faseroptischen Interferometers werden dann die
gemessenen Daten abhängig
von dieser Eingangsgröße ausgewertet.
-
Dies
kann jedoch nur eine Näherung
darstellen, da die Eigenschaften des faseroptischen Interferometers
nicht nur von einer einzigen Eingangsgröße wie der Temperatur abhängen, sondern
vielmehr von einer Vielzahl von Parametern, die (in erster Näherung)
physikalisch unabhängig
voneinander sind oder miteinander Wechselwirken, wie zum Beispiel Temperatur
und Dehnung aufgrund einer temperaturbedingten Längenänderung der Faser. Auch hängen die
Eigenschaften des faseroptischen Interferometers von zeitlichen
Verläufen
der Temperatur am glei chen Ort, i. e. den Temperaturtransienten,
oder auch den unterschiedlichen Temperaturen an verschiedenen Orten
zur gleichen Zeit, i. e. den Temperaturgradienten, ab. Am Beispiel
der Temperatur kann dies auf einfache Weise näher erläutert werden: die Laufzeit
des Lichts im Kern der Lichtleitfaser ist abhängig von der Länge der
Lichtleitfaser, die sich aufgrund von Materialausdehnung mit zunehmender
Temperatur ändert.
Sie ist jedoch auch abhängig
vom Brechungsindex n innerhalb der Lichtleitfaser. Der Brechungsindex
wiederum hängt
sowohl direkt von der Temperatur ab aufgrund der Materialeigenschaft
der Faser, als auch indirekt von der Temperatur, da eine durch die Änderung
der Temperatur bedingte Längenänderung
der Faser mit variierenden, räumlich
lokal verteilten mechanischen Spannungen σ im inneren Faserkern der aufgewickelten
Faser einhergeht und damit zu einem veränderten Brechungsindex n führen kann.
Bei Verstärkung
der lokalen mechanischen Spannungen auf die Faser kann es auch zu
Kreuzkopplungen zwischen der schnellen und der langsamen Achse einer
polarisationserhaltenden optischen Faser kommen, was sich ebenfalls
in erheblichen Laufzeitänderungen
auswirken kann.
-
Für eine genaue
Kalibrierung des faseroptischen Interferometers ist es deshalb wünschenswert, unter
Verwendung herkömmlicher
Messmethoden einen messtechnischen Zugang zu den Zustandsgrößen im Innern
der Lichtleitfaser zu erhalten.
-
Eine
dem Betrieb des Sensors vorausgehende Kalibrierung hat außerdem den
Nachteil, dass vorab festgelegt werden muss, unter welchen Bedingungen
der Sensor eingesetzt werden soll. Die Kalibrierung ist dann auch
nur unter diesen vorab definierten Bedingungen gültig.
-
Um
das temperaturabhängige
Verhalten eines faseroptischen Interferometers zu bestimmen, ist es
aus dem Stand der Technik bekannt, einen oder mehrere Temperatursensoren,
die meistens auf Halbleitern basieren, einzeln oder gleichzeitig
im Verbund einzusetzen. Diese werden häufig in der Nähe des Interferometers
oder des Phasenmodulators angeordnet, oder auch direkt auf der obersten
Lage der zu einer Spule aufgewickelten Lichtleitfasern. Bei einer
derartigen Anordnung gelingt es jedoch nicht, den momentanen Zustand
direkt im Innern der Lichtleitfaser selbst zu messen. So ist die
gemessene Temperatur nicht unbedingt die Temperatur im Innern der
Lichtleitfaser, da aufgrund der unterschiedlichen Wärmekapazitäten der
eingesetzten Materialien im faseroptischen Interferometer sich komplexe
Verhältnisse
des Wärmetransports
von der Umgebung der Faser bis ins Innere der Faser ergeben. Eine äußere Änderung
der Umgebungstemperatur wird sich erst einige Zeit später im Innern
der Lichtleitfaser auswirken, wobei diese Zeit von vie len, meist
unbekannten Größen zeitlich
und räumlich
abhängig
ist und folglich nur näherungsweise
bestimmt werden kann. Hinzu kommt, dass eine gleiche Temperatur
nicht unbedingt die gleiche Laufzeit des Lichtstrahls zur Folge hat,
da sich beispielsweise durch Hystereseeffekte, wenn sich eine bestimmte
Temperatur nach einem Abkühl-
bzw. Aufheizvorgang einstellt, bei gleichen Temperaturverhältnissen
andere innere Zustände
am Kern der Lichtleitfaser einstellen können. In diesem Fall liegt
dann die gleiche Temperatur vor und es wird in beiden Fällen in
gleichem Maß kompensiert,
auch wenn die tatsächlichen
Laufzeiten der Lichtstrahlen unterschiedlich sind.
-
Eine
denkbare Methode, um diese Nachteile zu beheben, wäre beispielsweise
herkömmliche Halbleitertemperatursensoren
und/oder Drucksensoren zusammen mit der Lichtleitfaser zur Faserspule aufzuwickeln.
Bei dieser Methode würden
sich jedoch verfahrenstechnische Schwierigkeiten beim Aufwickeln
der Lichtleitfaser ergeben, wie beispielsweise ein Abspringen der
Lichtleiterfaser durch entstehende Ausbuchtungen innerhalb der Spule
an den Orten der Sensoren. Die Sensoren innerhalb der Spule könnten außerdem zu
lokalen Änderungen mechanischer
Spannungen in den darunter bzw. darüber gewickelten Lichtleitfasern
führen,
was wiederum wegen des Einflusses der mechanischen Spannungen auf
den Brechungsindex des Faserkernmaterials einen Einfluss auf das
Verhalten der Lichtlaufzeiten hätte.
-
Aus
der
WO 2008/003071
A2 ist ein faseroptisches Interferometer mit einer zu einer
Faserspule aufgewickelten Lichtleitfaser bekannt. In einem bevorzugten
Ausführungsbeispiel
ist die zu einer Faserspule aufgewickelte Lichtleitfaser eine sogenannte Bragg-Faser.
Eine Bragg-Faser weist eine einen Kern umgebende Ummantelung auf,
wobei die Grenzschicht zwischem dem Kern und der Ummantelung aus
einer Vielzahl von dünnen
Schichten aus Materialien mit abwechselnd hohem und niedrigem Brechungsindex
besteht. Die dünnen
Schichten aus Materialien mit abwechselnd hohem und niedrigem Brechungsindex
können
als eine Vielzahl von ringförmigen
Schichten ausgebildet sein, die den Kern konzentrisch umgeben. Somit
weist die in der
WO 2008/003071
A2 gezeigte Bragg-Struktur eine Lichtleitfaser mit in Querrichtung
der Lichtleitfaser periodisch variierendem Brechungsindex auf.
-
Durch
die vorliegende Erfindung wird ein faseroptisches Interferometer
bereitgestellt, bei dem auf einfache Weise und unter Ausnützung bekannter Messmethoden
Informationen über
physikalische Zustandsgrößen im Innern
der Faserspule des Interferometers gewonnen werden können.
-
Bei
dem erfindungsgemäßen faseroptischen Interferometer
ist eine in die Faserspule integrierte Bragg-Struktur vorgesehen,
die eine Lichtleitfaser mit in Längsrichtung
der Lichtleitfaser periodisch variierendem Brechungsindex umfasst.
Die Reflektionswellenlänge
einer Bragg-Struktur ist eine Funktion der Gitterperiode der Struktur,
die sich mit der Temperatur und der Dehnung der Faser verändert. Da
die Bragg-Struktur in die Faserspule integriert ist, können bei
dem erfindungsgemäßen Interferometer durch
Messung der Reflektionswellenlänge
der Bragg-Struktur unmittelbar Informationen über physikalische Zustandsgrößen direkt
im Innern der Faserspule gewonnen werden. Auf diese Weise können durch
Temperatur- und/oder Änderung
mechanischer Spannungen bedingte Laufzeitunterschiede der beiden
gegensinnig laufenden Teillichtstrahlen genau kompensiert werden.
-
Die
vorliegende Erfindung stellt ferner ein Verfahren bereit, mittels
dem auf einfache Weise und unter Ausnutzung bekannter Messmethoden
physikalische Zustandsgrößen im Innern
der Faser einer Faserspule des faseroptischen Interferometers gewonnen
werden können.
-
Bei
dem erfindungsgemäßen Verfahren
werden anhand der Reflektionswellenlänge einer in die Faserspule
integrierten Bragg-Struktur, die eine Lichtleitfaser mit in Längsrichtung
der Lichtleitfaser periodisch variierendem Brechungsindex umfasst, Informationen über physikalische
Zustandsgrößen im Innern
der Faserspule gewonnen. Eventuelle Änderungen der Temperatur und/oder
mechanischen Spannung der Faser lassen sich durch die Integration der
Bragg-Struktur in die Faserspule des faseroptischen Interferometers
an der Stelle ermitteln, an der es aufgrund dieser Änderungen
zu relativen Laufzeitverschiebungen der beiden gegensinnig laufenden Teillichtstrahlen
kommen kann.
-
Weitere
Einzelheiten, Merkmale und Vorteile der Erfindung ergeben sich aus
der nachfolgenden Beschreibung zweier bevorzugter Ausführungsbeispiele
der Erfindung anhand der Zeichnungen. In diesen zeigen:
-
1 in
schematischer Weise ein erfindungsgemäßes faseroptisches Interferometer
mit einer Anordnung zur Ermittlung physikalischer Zustandsgrößen im Innern
der Faserspule gemäß einer ersten
bevorzugten Ausführungsform,
-
2 in
schematischer Weise ein erfindungsgemäßes faseroptisches Interferometer
gemäß einer
zweiten bevorzugten Ausführungsform, und
-
3 in
schematischer Weise eine eine Lichtleitfaser mit periodisch variierendem
Brechungsindex umfassende Bragg-Struktur.
-
Bei
dem in der 1 gezeigten faseroptischen Interferometer
handelt es sich um ein sogenanntes Sagnac-Interferometer, mittels
dem eine auf die Anordnung wirkende Rotationsgeschwindigkeit ermittelt
werden kann. Das faseroptische Interferometer weist eine erste Lichtquelle 10 auf,
deren Lichtstrahl an einen Koppler 12 geleitet wird, der
je nach der Richtung, in den ihn ein Lichtstrahl durchläuft, als Strahlteiler
und als Koppler wirken kann. Im Koppler 12 wird der von
der ersten Lichtquelle 10 kommende Lichtstrahl in zwei
Teillichtstrahlen aufgeteilt, die jeweils in entgegengesetzten Richtungen
in eine Lichtleitfaser 14 des faseroptischen Interferometers
eingestrahlt werden. Die Lichtleitfaser 14 des faseroptischen
Interferometers ist (auf einem hier nicht abgebildeten) Träger zu einer
Faserspule 16 aufgewickelt. Die zwei gegensinnig laufenden
Teillichtstrahlen werden nach Durchlaufen der Lichtleitfaser 14 im
Koppler 12 wieder zu einem Lichtstrahl vereinigt. Der durch Überlagerung
der beiden Teillichtstrahlen entstandene Lichtstrahl wird an einen
ersten Photodetektor 18 geleitet, dessen Ausgangssignal
ein Maß für die Lichtintensität des auf
den Photodetektor 18 auftreffenden Lichtstrahls ist. Das
Ausgangssignal des Photodetektors 18 wird an eine Signalverarbeitungseinrichtung 20, 22 des
faseroptischen Interferometers weitergeleitet. Die Signalverarbeitungseinrichtung 20, 22 weist
eine analoge Einheit 20 und eine digitale Einheit 22 auf.
-
Mit
dem beschriebenen Aufbau lassen sich in bekannter Weise Drehgeschwindigkeiten
bestimmen. Durch Drehung der Faserspule 16 um eine Achse
senkrecht zur Strahlebene ergeben sich unterschiedliche Laufzeiten
für die
beiden die Lichtleitfaser 14 gegensinnig durchlaufenden
Teillichtstrahlen. Die unterschiedlichen Laufzeiten resultieren
in einer Phasenverschiebung der beiden Teillichtstrahlen zueinander
am Ausgang der Faserspule 16, wobei die Größe der Phasenverschiebung
eine Funktion der Umdrehungsgeschwindigkeit ist. Sich ändernde
Phasenverschiebungen führen
zu sich ändernden
Interferenzmustern der beiden im Koppler 12 überlagerten
Teillichtstrahlen, was sich in unterschiedlichen Intensitäten am Photodetektor 18 widerspiegelt.
-
Gemäß der Erfindung
ist eine in die Faserspule integrierte Bragg-Struktur vorgesehen,
die eine Lichtleitfaser mit periodisch variierendem Brechungsindex
umfasst. Eine solche Bragg-Struktur 50 ist schematisch
in 3 gezeigt. Die Bragg-Struktur 50 umfaßt eine
Lichtleitfaser 52, deren Kern 54 aus einem Material
mit einem periodisch modulierten Brechungsindex n2,
n3 gebildet ist.
-
Bei
dem in der 1 gezeigten Ausführungsbeispiel
ist parallel zur Lichtleitfaser 14 des optischen Interferometers
eine zusätzliche
Lichtleitfaser 30 auf den Träger aufgewickelt und bildet
einen Teil der Faserspule 16. Die Lichtleitfaser 52 der Bragg-Struktur 50 bildet
einen Abschnitt der zusätzlichen
Lichtleitfaser 30, das heißt, dass ein Abschnitt der
Lichtleitfaser 30 ein Kernmaterial aufweist, dessen Brechungsindex
periodisch variiert. Die Lichtleitfaser 30 ist mit einer
zweiten Lichtquelle 32 so gekoppelt, dass das Licht der
zweiten Lichtquelle 32 in die Lichtleitfaser 30 eintritt
und diese in einer der beiden Richtungen durchläuft. Das die Lichtleitfaser 30 durchlaufene
Licht wird einem zweiten Photodetektor 34 beaufschlagt.
Das Ausgangssignal des zweiten Photodetektors 34 wird ebenfalls
der Signalverarbeitungseinrichtung 20, 22 des
faseroptischen Interferometers zugeführt.
-
Durch
den periodisch modulierten Brechungsindex des Kernmaterials in mindestens
einem Abschnitt der Lichtleitfaser 30 wird ein Teil des
die Lichtleitfaser 30 durchlaufenen Lichtes innerhalb eines
schmalen Wellenlängenbereiches
reflektiert. Die Reflexionswellenlänge λB, bei
der ein Fiber-Bragg-Grating als Bragg-Struktur 50 reflektierend wirkt,
ist durch die Beziehung λB = 2neffΛ gegeben,
wo bei neff die mittlere Brechzahl die Faserkerns und Λ die Periode
der modulierten Struktur ist. Die Gitterperiode Λ ist eine Funktion der Temperatur
und Dehnung der Lichtleitfaser am Ort des Fiber-Bragg-Gratings.
Durch die Veränderung
der Reflexionswellenlänge λB lässt sich
somit auf Änderungen
der Temperatur und/oder der Spannung am Ort des Fiber-Bragg-Gratings
schließen.
Dazu wird das Licht, das aus der das Fiber-Bragg-Grating enthaltenden
Lichtleitfaser austritt, hochaufgelöst spektral analysiert.
-
Bei
der in der 1 gezeigten Anordnung wird das
aus der Lichtleitfaser 30 ausgetretene Licht im zweiten
Photodetektor 34 spektral analysiert. Dabei kann entweder
der transmittierte Anteil des Fiber-Bragg-Gratings, d. h. der Anteil,
der den Wellenlängenbereich
des von der zweiten Lichtquelle emittierten Lichts mit Ausnahme
der Reflektionswellenlänge λB des
Fiber-Bragg-Gratings enthält,
untersucht werden, oder der reflektierte Anteil des Fiber-Bragg-Gratings,
der den Wellenlängenbereich der
Reflektionswellenlänge λB beinhaltet.
Da die beiden Anteile eine unterschiedliche Laufzeit durch die Lichtleitfaser 30 aufweisen
und somit zeitverzögert aus
der Lichtleitfaser 30 austreten, lassen sich die beiden
Signale getrennt voneinander spektral analysieren. Auf diese Weise
kann eine Änderung
der Reflexionswellenlänge λB,
bedingt durch Temperaturänderungen
und/oder Änderung
mechanischer Spannungen am Ort des Fiber-Bragg-Gratings, ermittelt werden.
Die im Photodetektor 34 gewonnenen Informationen werden
der Signalverarbeitungseinrichtung 20, 22 zugeführt und
dort verarbeitet.
-
Die
Informationen über
physikalische Zustandsgrößen wie
Temperatur und mechanische Spannung im Innern der Faserspule 16 können dazu verwendet
werden, die Meßdaten
des faseroptischen Interferometers an die ermittelten Zustandsgrößen anzupassen,
um eventuelle Verfälschungen
des Messsignals durch Änderungen
der Temperatur und/oder mechanischer Spannung im Innern der Faserspule
zu berücksichtigen.
Da die relativen Laufzeiten der Teillichtstrahlen zueinander nicht
nur eine Funktion der Umdrehungsgeschwindigkeit sind, sondern auch
Temperaturänderungen, Änderung
mechanischer Spannungen und/oder Brechzahländerungen zu unterschiedlichen
Laufzeiten der beiden Teillichtstrahlen relativ zueinander führen können, müssen Phasenverschiebungen,
die durch Änderungen
dieser Parameter bedingt sind, bei der Auswertung des Messsignals
berücksichtigt
werden. Dies kann beispielsweise über eine entsprechende Phasenmodulation
eines der gegensinnig laufenden Teillichtstrahlen am Ausgang der
Lichtleitfaser 14 geschehen, die eine durch Temperatur-
und/oder Änderung
mechanischer Spannungen bedingte Laufzeitänderung kompensiert. Dazu ist
der Koppler 12 vorzugsweise Bestandteil eines integriert
optischen Bauelements 36, der neben dem Koppler 12 einen Phasenmodulator 38 umfaßt.
-
In
der 2 sind der 1 entsprechende technische
Merkmale durch gleiche Bezugszeichen, jeweils um 100 erhöht, angegeben.
Das in der 2 gezeigte Ausführungsbeispiel
unterscheidet sich von dem in der 1 gezeigten
Ausführungsbeispiel
dadurch, dass die Lichtleitfaser 52 der Bragg-Struktur 50 nicht
Abschnitte einer separat zu der Lichtleitfaser 14 auf den
Träger
aufgewickelten Lichtleitfaser 30 bildet, sondern Abschnitte
der Lichtleitfaser 114 selbst bildet. In diesem Ausführungsbeispiel
durchläuft
somit sowohl das von der ersten Lichtquelle 110 als auch
das von der zweiten Lichtquelle 132 emittierte Licht eine
gemeinsame Lichtleitfaser 114, die abschnittsweise mit
mindestens einem Fiber-Bragg-Grating versehen ist. Der Wellenlängenbereich
des von der zweiten Lichtquelle 132 emittierten Lichts überlappt
nicht mit dem Wellenbereich des von der ersten Lichtquelle 110 emittierten
Lichts, damit das von der Faserspule 116 rücklaufende
Licht vor dem ersten Photodetektor 118 und dem zweiten Photodetektor 134 spektral
selektiert und dem entsprechendem Detektor 118 bzw. 134 zugeordnet werden
kann. Zu diesem Zweck ist ein wellenlängenselektives Bauelement 140 wie
beispielsweise ein faseroptischer Filter vorgesehen, in dem der
vom Koppler 112 kommende Lichtstrahl nach Wellenlängenbereichen
getrennt wird. Wie schon im ersten Ausführungsbeispiel wird sowohl
das Ausgangssignal des zweiten Photodetektors 134, der
zur Auswertung der gegensinnig umlaufenden Teillichtstrahlen und
damit zur Bestimmung der Umdrehungsgeschwindigkeit, als auch das
Ausgangssignal des ersten Photodetektors 118, der zur Ermittlung
physikalischer Zustandsgrößen im Innern
der Faser 114 dient, der Signalverarbeitungseinrichtung 120, 122 des
faseroptischen Interferometers zugeführt.
-
Das
in der 1 gezeigte faseroptische Interferometer gemäß einem
ersten bevorzugten Ausführungsbeispiel
hat den Vorteil, dass durch die getrennte Ausgestaltung der Lichtleitfasern 14, 30 des faseroptischen
Interferometers und der Bragg-Struktur
der Vorgang zur Bestimmung physikalischer Zustandsgrößen im Innern
der Faserspule unabhängig vom
Betrieb des faseroptischen Interferometers und damit der eigentlichen
Messeinrichtung erfolgt. Bei der in 1 gezeigten
Ausführungsform
ist allerdings gegenüber
der in der 2 gezeigten Ausführungsform
zusätzlich
eine zweite Lichtleitfaser 30 zusammen mit der Interferometerlichleitfaser 14 zur
Faserspule 16 aufzuwickeln, was zu erhöhten Herstellungskosten, einem
zusätzlichen
Platzbedarf und zusätzlichem
Gewicht führen
kann.
-
Da
nur ein geringer Teil des Lichts an einem Fiber-Bragg-Grating reflektiert
wird, lassen sich ohne störende
Lichtverluste auch mehrere Fiber-Bragg-Gratings an verschiedenen
Orten der Lichtleitfaser 30 bzw. 114 einbringen.
Um eine Verzögerung
der Laufzeit eines der Teillichtstrahlen gegenüber dem anderen, gegensinnig
laufenden Teillichtstrahl durch Brechungsindexänderungen und/oder Änderung mechanischer
Spannungen innerhalb der Faser zu erfassen, gibt es keine bevorzugten
Orte für die
Fiber-Bragg-Gratings in der Lichtleitfaser, da solche nichtreziproken
Laufzeitänderungen
grundsätzlich überall in
der Faser auftreten können.
Um Laufzeitänderungen
aufgrund von Kreuzkopplung zu erfassen, werden die Fiber-Bragg-Gratings
bevorzugt an den Spulenenden und, in geringerem Maße, in der Spulenmitte
vorgesehen, da aufgrund der geringen Kohärenzlänge der Lichtstrahlen nur solche
kreuzgekoppelten Lichter einen Einfluss auf das Interferenzsignal
der Lichtstrahlen hat, die innerhalb ganz bestimmter Orte im optischen
Pfad kreuzgekoppelt haben. Die eindeutige Zuordnung der reflektierten
bzw. transmittierten Lichter zu den Orten der Fiber-Bragg-Gratings
erfolgt durch die sich ergebenden Laufzeitunterschiede der Lichter
von diesen räumlich
distanzierten Bragg-Strukturen zur optischen Ausleseeinheit 34 bzw. 134.
-
Das
erfindungsgemäße faseroptische
Interferometer und das erfindungsgemäße Verfahren ermöglichen
somit, auf das faseroptische Interferometer wirkende physikalische
Zustandsgrößen während des
Betriebs des faseroptischen Interferometers zu ermitteln. Damit
ist es möglich,
das faseroptische Interferometer nicht nur unter vorher festgelegten
Bedingungen zu betreiben, sondern auch auf äußere Einflüsse zu reagieren, die vorab
nicht speziell definiert wurden. Das erfindungsgemäße faseroptische Interferometer
und das erfindungsgemäße Verfahren ermöglichen
ferner, physikalische Zustandsgrößen wie
Temperatur und mechanische Spannung sowie deren zeitlichen und örtlichen
Veränderungen
direkt im Innern der Faserspule zu ermitteln unter Ausnutzung einer
bekannten Meßmethode,
wodurch sehr genau bestimmt werden kann, in welchem Maß das Messsignal
verfälscht
wird.