DE102008030723A1 - Vorrichtung und Verfahren zur Übertragung von elektronischen Bauteilen - Google Patents

Vorrichtung und Verfahren zur Übertragung von elektronischen Bauteilen Download PDF

Info

Publication number
DE102008030723A1
DE102008030723A1 DE200810030723 DE102008030723A DE102008030723A1 DE 102008030723 A1 DE102008030723 A1 DE 102008030723A1 DE 200810030723 DE200810030723 DE 200810030723 DE 102008030723 A DE102008030723 A DE 102008030723A DE 102008030723 A1 DE102008030723 A1 DE 102008030723A1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
electronic components
component
unit
receiving
transmission
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Ceased
Application number
DE200810030723
Other languages
English (en)
Inventor
Heike Rieck
Sven Rzitki
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Muehlbauer GmbH and Co KG
Original Assignee
Muehlbauer GmbH and Co KG
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Muehlbauer GmbH and Co KG filed Critical Muehlbauer GmbH and Co KG
Priority to DE200810030723 priority Critical patent/DE102008030723A1/de
Publication of DE102008030723A1 publication Critical patent/DE102008030723A1/de
Ceased legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67005Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67242Apparatus for monitoring, sorting or marking
    • H01L21/67271Sorting devices
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67005Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67011Apparatus for manufacture or treatment
    • H01L21/67144Apparatus for mounting on conductive members, e.g. leadframes or conductors on insulating substrates
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/673Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere using specially adapted carriers or holders; Fixing the workpieces on such carriers or holders
    • H01L21/67333Trays for chips

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)

Abstract

Es werden eine Vorrichtung und ein Verfahren zur Übertragung einer Mehrzahl elektronischer Bauteile (5, 5a-d), insbesondere RFID-Chips, von mindestens einem Bauteilträger (4), insbesondere Wafer, an mindestens eine bauteilverarbeitende Einheit (6, 7), gezeigt mit mindestens einer Übertragungseinheit (8, 9) zum vereinzelten Übertragen der elektronischen Bauteile (5, 5a, 5b) in einer vorbestimmbaren ersten Anzahl (12, 13) von dem Bauteilträger (4) auf mindestens ein bewegbares erstes Transportelement (10, 11) in mindestens einem ersten Übertragungsbereich (1) und mindestens einer Aufnahme- und Ablegeeinheit (20-25; 26-31) zum Aufnehmen der ersten Anzahl (12a, 13a) an elektronischen Bauteilen (5c, 5d) von dem Transportelement (10, 11, 16, 17) und zum Ablegen der elektronischen Bauteile (5c, 5d) in der ersten Anzahl (12, 13) auf die bauteilverarbeitende Einheit (6, 7) in mindestens einem zweiten Übertragungsbereich (2, 3), wobei in der Aufnahme- und Ablegeeinheit (20-25; 26-31) mindestens ein zusätzliches, fehlerfreies, elektronisches Bauteil angeordnet ist.

Description

  • Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung und ein Verfahren zur Übertragung von elektronischen Bauteilen, insbesondere RFID-Chips, von mindestens einem Bauteilträger, insbesondere Wafer, an mindestens eine bauteilverarbeitende Einheit gemäß den Oberbegriffen der Patentansprüche 1, 8 und 13.
  • Häufig sind in Vorrichtungen, die dafür vorgesehen sind, elektronische Bauteile wie RFID-Chips, von einem Bauteilträger, wie einem Wafer in einem fortlaufenden Prozess auf eine bauteilverarbeitende Einheit zu übertragen, welche die RFID-Chips beispielsweise in Chipkarten, Inlays, Smartcards oder jegliche Art von Transpondern einbaut, ein hoher Durchsatz gefragt. Die Chips werden von dem Wafer im Einzelnen, beispielsweise mittels einer Vakuumpipette, abgenommen und auf bewegbare Transportelemente gruppenweise in einer bestimmten Anzahl einzeln nebeneinander, hintereinander, oder in einer Kombination hiervon darauf angeordnet. Dies geschieht in einem ersten Übertragungsbereich. Das Transportelement wird anschließend von diesem ersten Übertragungsbereich in einen zweiten Übertragungsbereich, der auch als Montagebereich ausgebildet sein kann, bewegt. Bei diesem zweiten Übertragungsbereich kann es sich beispielsweise um einen Bereich handeln, in dem die Chips zum nachfolgenden Bonden auf RFID-Antennen abgelegt werden.
  • Bisher sind die elektronischen Bauteile, insbesondere Chips, einzeln in dem Montagebereich montiert und weiterverarbeitet worden, wobei zuvor mittels einer Erkennungseinrichtung die Chips auf ihre Fehlerfreiheit, insbesondere ihre Funktionsfähigkeit, überprüft wurden. Bei Vorliegen eines fehlerhaften Chips musste dann ein separater Bauteilespeicher dafür angeordnet sein, dass er separat geladene zusätzliche Bauteile im Falle eines Aufkommens eines fehlerhaften Chips einzeln zur Verfügung stellt. Dieser Bauteilespeicher musste separat, also unabhängig von den Transportelementen, bestückt werden.
  • Alternativ ist bei Auftreten des fehlerhaften Chips dieser entweder mitverarbeitet und anschließend die dazugehörige Transpondereinheit aussortiert worden, oder der Chip bereits vor dessen Verarbeitung aussortiert worden, welches dazu führt, dass die Transponder, welche beispielsweise fortlaufend auf einem Band angeordnet sind und nacheinander mit den Chips bestückt werden, mindestens einen Transponder mitbeinhalten, der nicht mit einem Chip bestückt worden ist.
  • Alternativ ist der gesamte Ablauf der Vorrichtung gestoppt worden, um in einem ersten Schritt den fehlerhaften Chip auszusortieren und in einem zweiten Schritt einen fehlerlosen Chip erneut aus dem ersten Übertragungsbereich mit dem gleichen oder einem weiteren Transportelement anzuliefern und in dem Montagebereich auf die Transponderantenne zu übertragen. Anschließend konnte der normale Ablauf weitergeführt werden.
  • Sämtliche oben aufgeführten Ablaufvarianten haben zur Folge, dass in derartigen Vorrichtungen zur Übertragung von elektronischen Bauteilen von einem Bauteilträger auf eine Bauteil verarbeitende Einheit bei Auftreten von fehlerhaften elektronischen Bauteilen ein geringerer Durchsatz erhalten wird.
  • Demzufolge ist es Aufgabe der Erfindung, eine Vorrichtung und ein Verfahren zur Übertragung einer Mehrzahl an elektronischen Bauteilen von mindestens einem Bauteilträger an mindestens eine bauteilverarbeitende Einheit zur Verfügung zu stellen, die/das selbst bei Auftreten von fehlerhaften elektronischen Bauteilen einen hohen Durchsatz der Verarbeitung der Bauteile sicherstellt.
  • Diese Aufgabe wird vorrichtungsseitig durch die Merkmale des Patentanspruches 1, verfahrensseitig durch die Merkmale der Patentansprüche 8 und 13 gelöst.
  • Ein wesentlicher Punkt der Erfindung liegt darin, dass bei einer Vorrichtung zur Übertragung einer Mehrzahl an elektronischen Bauteilen, insbesondere RFID-Chips von mindestens einem Bauteilträger, insbesondere Wafer, an mindestens eine bauteilverarbeitende Einheit sowohl mindestens eine Übertragungseinheit zum vereinzelten Übertragen der elektronischen Bauteile in einer vorbestimmbaren ersten Anzahl von den Bauteilträger auf mindestens ein bewegbares erstes Transportelement in mindestens einem ersten Übertragungsbereich als auch mindestens eine Aufnahme- und Ablegeeinheit zum Aufnehmen der ersten Anzahl an elektronischen Bauteilen von dem Transportelement und zum Ablegen der elektronischen Bauteile in der ersten Anzahl auf die bauteilverarbeitende Einheit in mindestens einem zweiten Übertragungsbereich angeordnet sind. In der Aufnahme- und Ablegeeinheit ist mindestens ein zusätzliches, fehlerfreies, elektronisches Bauteil angeordnet. Dies ermöglicht, dass bei der Anordnung eines derartig zusätzlichen elektronischen Bauteiles innerhalb der Aufnahme- und Ablegeeinheit, die bereits in einem Montagebereich angeordnet ist, bei Auftreten eines zuvor erkannten fehlerhaften elektronischen Bauteiles sofort das zusätzliche fehlerfreie elektronische Bauteil anstelle des fehlerhaften Bauteiles eingesetzt werden kann. Somit ist keine Unterbrechung des von der Vorrichtung durchgeführten Ablaufes bzw. des bisher bekannten Verfahrens für die Übertragung der elektronischen Bauteile notwendig, wenn ein fehlerhaftes elektronisches Bauteil erkannt wird.
  • Vorgesehen ist hierfür eine erste Steuereinheit zum Steuern des Ablegevorganges der Aufnahme- und Ablegeeinheit, um bei Erkennen eines fehlerhaften elektronischen Bauteiles mittels einer Erkennungseinheit anstelle des fehlerhaften elektronischen Bauteiles, das zusätzliche, fehlerfreie Bauteil auf der bauteilverarbeitenden Einheit abzulegen.
  • Eine zweite Steuereinheit zum Steuern des Übertragungsvorganges der Übertragungseinheit ist vorgesehen, um bei Erkennen eines fehlerhaften elektronischen Bauteiles mittels der Erkennungseinheit anstelle der ersten Anzahl eine zweite Anzahl an elektronischen Bauteilen zu übertragen, wobei die zweite Anzahl gegenüber der ersten Anzahl mindestens ein zusätzliches elektronisches Bauteil beinhaltet. Dies kann beispielsweise dadurch geschehen, dass das Transportelement ein zusätzliches Bauteil zu der ohnehin angeordneten Gruppe an Bauteilen mitbefördert und dieses in dem zweiten Übertragungsbereich von der Aufnahme- und Ablegeeinheit mitaufnehmen Isst, um wiederum ein zusätzliches elektronisches Bauteil innerhalb der Aufnahme- und Ablegeeinheit ständig in Reserve zu haben.
  • Bei den Transportelementen handelt es sich beispielsweise um zwei bewegbare erste Transportelemente, mindestens ein bewegbares zweites Transportelement und mindestens ein bewegbares drittes Transportelement, wobei die Transportelemente beispielsweise derart verteilt sein können, dass die zwei ersten Transportelemente in dem ersten Übertragungsbereich angeordnet sind, während das zweite Transportelement in dem zweiten Übertragungsbereich und das dritte Transportelement ebenso in einem weiteren zweiten Übertragungsbereich angeordnet ist. Bei den zweiten Übertragungsbereichen handelt es sich um Montagebereiche, in welchen die elektronischen Bauteile, insbesondere RFID-Chips, von den Transportelementen auf beispielsweise RFID-Antennen übertragen werden, um hierdurch Transponder herstellen zu können.
  • Die Transportelemente sind vorzugsweise als in ihre Längsrichtung verschiebbare Stabelemente ausgebildet, welche oberseitig mit den elektronischen Bauteilen bestückbar sind. Derartige Stabelemente werden auch Schiffchen benannt, die entlang von Schienen zwischen den einzelnen Übertragungsbereichen hin- und hervorgeschoben werden können.
  • Die Übertragungseinheit sowie die Aufnahme- und Ablegeeinheit weisen jeweils mindestens ein schienenartig ausgebildetes Halteelement mit mindestens einem Haltekopf zum Aufnehmen, Transportieren und Ablegen der elektronischen Bauteile auf.
  • Das erfindungsgemäße Verfahren zur Übertragung einer Mehrzahl an elektronischen Bauteilen von dem mindestens einen Bauteilträger an die mindestens eine bauteilverarbeitende Einheit, weist die Schritte des vereinzelten Übertragens erster elektronischer Bauteile in einer vorbestimmbaren ersten Anzahl von den Bauteilträgern von mindestens einen bewegbaren ersten Transportelement in mindestens einem ersten Übertragungsbereich und des gleichzeitigen Aufnehmens zweiter elektronischer Bauteile in der ersten Anzahl von mindestens einem bewegbaren zweiten Transportelement sowie des Ablegens der zweiten elektronischen Bauteile in der ersten Anzahl auf die bauteilverarbeitende Einheit mittels einer Aufnahme- und Ablgeeinheit in mindestsens einem zweiten Übertragungsbereich auf, wobei in der Aufnahme- und Ablegeeinheit mindestens ein zusätzliches fehlerfreies elektronisches Bauteil angeordnet ist.
  • Das mit einer ersten Anzahl von ersten elektronischen Bauteil bestückte Transportelement wird von dem ersten Übertragungsbereich in den zweiten Übertragungsbereich und gleichzeitig wird das zweite unbestückte Transportelement von dem zweiten Übertragungsbereich in den ersten Übertragungsbereich verschoben, sodass eine Synchronsierung der beiden Transportelemente derart möglich ist, dass die Transportelemente in den beiden Übertragungsbereichen zeitgleich zu Übertragungszwecken der elektronischen Bauteile angeordnet sind und ebenso zeitgleich zueinander zwischen den Übertragungsbereichen verschoben werden.
  • Es können ebenso in einem weiteren zweiten Übertragungsbereich bei einem dritten Transportelement dritte elektronische Bauteile aufgenommen und auf eine weitere bauteilverarbeitende Einheit mittels einer weiteren Aufnahme- und Ablegeeinheit gelegt werden, während weitere erste elektronische Bauteile von dem Bauteilträger auf ein weiteres erstes Transportelement mittels der Übertragungseinheit in dem ersten Übertragungsbereich übertragen werden. Auf diese Weise sind in zwei verschiedenen zweiten Übertragungsbereichen Transportelemente zur Übertragung für die elektronischen Bauteile angeordnet und können von den beiden zweiten Übertragungsbereichen in den ersten Übertragungsbereich und umgekehrt zeitgleich verschoben werden.
  • Bei Erkennen eines fehlerhaften elektronischen Bauteiles mittels einer Erkennungseinheit wird das in der Aufnahme- und Ablegeeinheit angeordnete fehlerfreie elektronische Bauteil anstelle des fehlerhaften elektronischen Bauteiles auf der bauteilverarbeitenden Einheit abgelegt, wobei dies ohne Unterbrechung des zeitlichen Ablaufes des Verarbeitungsprozesses der gesamten Vorrichtung stattfinden kann, da das zusätzliche elektronische Bauteil innerhalb der Aufnahme- und Ablegeeinheit, also unmittelbar im Montagebereich, vorliegt.
  • Bei Erkennen eines fehlerhaften elektronischen Bauteiles wird ebenso ein weiteres elektronisches Bauteil von dem Bauteilträger auf das erste Transportelement innerhalb des ersten Übertragungsbereiches zum Weitertransport an diejenige Aufnahme- und Ablegeeinheit, die das darin angeordnete fehlerfreie elektronische Bauteil ablegt, übertragen. Dies dient zur Bildung einer zweiten Anzahl an zu übertragenden ersten elektronischen Bauteilen, während die erste Anzahl den normalen Ablauf der Vorrichtung wiedergibt, also eine normale Anzahl an zu übertragenden elektronischen Bauteile ohne Auftreten eines fehlerhaften Bauteiles.
  • Weitere vorteilhafte Ausführungsformen ergeben sich aus den Unteransprüchen.
  • Vorteile und Zweckmäßigkeiten sind der nachfolgenden Beschreibung in Verbindung mit der Zeichnung zu entnehmen.
  • Hierbei zeigt die einzige Figur in einer schematischen Darstellung eine erfindungsgemäße Vorrichtung zur Übertragung einer Mehrzahl an elektronischen Bauteilen, insbesondere RFID-Chips, von einem Bauteilträger, insbesondere Wafer, an mindestens eine bauteilverarbeitende Einheit, wobei insgesamt drei Übertragungsbereiche, nämlich ein erster Übertragungsbereich 1 und zwei zweite Übertragungsbereiche 2, 3 angeordnet sind.
  • Zwischen den Übertragungsbereichen 1, 2 und 3 können schiffchenartige Transportelemente 10, 11, 16 und 17 hin- und hergleiten, und zwar auf schienenartigen Elementen, die hier nicht näher dargestellt sind. Das Hin- und Hergleiten ist durch Pfeile 14, 15, 18 und 19 wiedergegeben.
  • In dem ersten Übertragungsbereich 1 ist auf einem Bauteilträger 4, der vorzugsweise einen Wafer darstellt, eine Mehrzahl an elektronischen Bauelementen, insbesondere Chips 5 angeordnet.
  • Diese Chips sollen von dem Wafer 4 auf zwei getrennt zueinander angeordneten bauteilverarbeitenden Einheiten 6, 7 übertragen werden.
  • Hierfür wird mittels einer Übertragungseinheit 8, 9, die aus einem schienenartig ausgebildeten Halteelement 8 und mindestens einem Haltekopf 9 zum Aufnehmen, Transportieren und Ablegen der elektronischen Bauteile, insbesondere Chips besteht, die einzelnen Chips 5 von dem Wafer 4 aus über den Haltekopf 9, der entlang des schienenartig ausgebildeten Halteelementes hin- und hergefahren werden kann, auf die einzelnen schiffchenartig ausgebildeten Transportelemente 10, 11 übertragen. Die auf dem schiffchenartigen Transportelement 10 angeordneten Chips 5a werden ebenso wie die auf dem schiffchenartig ausgebildeten Transportelement 11 angeordneten Chips 5b gruppenweise angeordnet, in diesem Fall in Gruppen 12 zu jeweils sieben Chips.
  • Nach einer derartigen Übertragung der Chips von dem Wafer auf die ersten Transportelemente 10, 11 findet ein Verschieben der ersten Transportelement 10, 11, mit den darauf angeordneten Gruppen 12, 13 an RFID-Chips 5a und 5b in Richtung der Pfeile 14, 15 statt, um das erste Transportelement 10 in dem zweiten Übergangsbereich 3 und das Transportelement 11 in dem zweiten Übergangsbereich 2 anzuordnen. Zeitgleich wird das Transportelement 16 entlang des Pfeiles 18 aus dem zweiten Übergangsbereich 2 und das Transportelement 17 entlang des Pfeiles 19 aus dem zweiten Übertragungsbereich 3 in den ersten Übertragungsbereich 1 verschoben.
  • In den zweiten Übertragungsbereichen 2, 3 werden die Gruppen 12a und 13a an Chips 5c und 5d unterhalb von schienenartig ausgebildeten Haltelementen 20, 21 und 22 bzw. 26, 27 und 28 angeordnet, um mittels weiterer entlang der Halteelemente verschiebbarer Halteköpfe 23, 24 und 25 bzw. 29, 30 und 31 die Chips 5c und 5d von den Transportelementen 16, 17 auf die bauteilverarbeitenden Einheiten 6, 7 zu übertragen. Dies geschieht im Bezug auf die Transportelemente 16, 17 bevor ein Verschieben derjenigen zu dem ersten Übertragungsbereich 1 stattfindet, um dort dann diese Transportelemente 16 und 17 wiederum mit neuen Chips 5 von dem Wafer 4 zu bestücken.
  • In den Halteelementen 20, 21 und 22 bzw. 26, 27, 28 ist jeweils hier nicht näher dargestellter Reserve-Chip angeordnet, der als zusätzlicher fehlerfreier Chip dann eingesetzt wird, wenn ein fehlerhafter Chip mittels einer hier nicht näher dargestellten Erkennungseinrichtung erkannt wird. Idealerweise ist der zusätzliche fehlerfreie Chip innerhalb des Übertragungskopfes bzw. Haltekopfes 2325 und 2931 angeordnet.
  • Durch ein derartiges erfindungsgemäßes Verfahren und mittels einer derartigen erfindungsgemäßen Vorrichtung können Chips wechselweise in dem ersten Übertragungsbereich auf die Transportelemente übertragen und in dem zweiten Übertragungsbereich von den Transportelementen auf die Einheiten 6, 7 übertragen werden. Diese geschieht vorzugsweise gruppenweise in Gruppen 12, 13, 13a und 12b mit einer ersten Anzahl von beispielsweise sieben Chips.
  • Sobald nun in einem der Montagevorrichtungsabschnitte darstellenden zweiten Übertragungsbereiche 2, 3 ein beschädigtes oder verlorenes Bauteil bzw. einen Chip ersetzt werden muss, kann dieses Bauteil durch das in den Halteelementen angeordnete Reserve-Bauteil mitübergeben werden, sodass eine lückenlose Übertragung von insgesamt sieben Chips auf die Einheiten 6, 7 möglich ist. Eine erste Steuereinheit stellt dies fest.
  • Eine zweite Steuereinheit bewirkt, dass, sobald das Reserve-Bauteil in einem der Übertragungsbereiche 2, 3 genutzt worden ist und somit nicht mehr in eine der Halteeinrichtungen vorliegt, bei der im ersten Übertragungsbereich 1 stattfindenden Übertragung ein zusätzliches Bauteil von dem Wafer 4 übertragen wird und somit eine Gruppe von insgesamt acht Bauteilen mit dem Transportelement an dasjenige Halteelement transportiert wird, welches momentan kein Reserve-Bauteil beinhaltet. Somit kann bereits bei dem darauffolgenden Transportschritt ein zusätzliches Reserve-Bauteil innerhalb des Halteelementes wieder zur Verfügung gestellt werden, nachdem das vorhandene Reserve-Bauteil an die Einheit 6 oder 7 abgegeben worden ist. Dies hat einen zeitlich gesehenen lückenlosen Ablauf der zur Verfügungstellung von jeweils sieben fehlerfreien Bauteilen bzw. Chips innerhalb einer derartigen Vorrichtung zur Folge. Dies stellt einen stetigen Durchsatz der Vorrichtung sicher.
  • Sämtliche in den Anmeldungsunterlagen offenbarten Merkmale werden als erfindungswesentlich beansprucht, sofern sie einzeln oder in Kombination gegenüber dem Stand der Technik neu sind.
  • 1
    Übertragungsbereich
    2, 3
    Übertragungsbereich
    4
    Bauteilträger
    5, 5a–d
    Bauteile
    6, 7
    bauteilverarbeitende Einheit
    8, 9
    Übertragungseinheit
    8, 20–22; 26–28
    schienenartig ausgebildetes Halteelement
    18
    Pfeil
    9, 23–25; 29–31
    Haltekopf
    10, 11, 16, 17
    Transportelement
    12, 13
    vorbestimmbare erste Anzahl
    12a, 13a
    erste Anzahl
    14, 15, 18, 19
    Längsrichtung
    20–25, 26–31
    Aufnahme- und Ablegeeinheit

Claims (13)

  1. Vorrichtung zur Übertragung einer Mehrzahl an elektronischen Bauteilen (5, 5a–d), insbesondere RFID-Chips, von mindestens einem Bauteilträger (4), insbesondere Wafer, an mindestens eine bauteilverarbeitende Einheit (6, 7), gekennzeichnet durch – mindestens eine Aufnahme- und Ablegeeinheit (2025; 2631) zum Aufnehmen einer ersten Anzahl (12a, 13a) an elektronischen Bauteilen (5c, 5d) von mindestens einem ersten Transportelement (10, 11, 16, 17) und zum Ablegen der elektronischen Bauteile (5c, 5d) in der ersten Anzahl (12, 13) auf die bauteilverarbeitende Einheit (6, 7) in mindestens einem Übertragungsbereich (2, 3), wobei in der Aufnahme- und Ablegeeinheit (2025; 2631) mindestens ein zusätzliches, fehlerfreies, elektronisches Bauteil angeordnet ist.
  2. Vorrichtung nach Anspruch 1, gekennzeichnet durch – mindestens eine Übertragungseinheit (8, 9) zum vereinzelten Übertragen der elektronischen Bauteile (5, 5a, 5b) in der vorbestimmbaren ersten Anzahl (12, 13) von dem Bauteilträger (4) auf das bewegbare erste Transportelement (10, 11) in mindestens einem ersten Übertragungsbereich (1), wobei die Aufnahme- und Ablegeeinheit (2025; 2631) im zweiten Übertragungsbereich (2, 3) angeordnet ist.
  3. Vorrichtung nach Anspruch 1 oder 2, gekennzeichnet durch eine erste Steuereinheit zum Steuern des Ablegevorgangs der Aufnahme- und Ablegeeinheit (2025; 2631), um bei Erkennen eines fehlerhaften elektronischen Bauteiles mittels einer Erkennungseinheit anstelle des fehlerhaften elektronischen Bauteiles das zusätzliche, fehlerfreie Bauteil auf der bauteilverarbeitenden Einheit (6, 7) abzulegen.
  4. Vorrichtung nach einem der vorangegangenen Ansprüche, gekennzeichnet durch eine zweite Steuereinheit zum Steuern des Übertragungsvorganges der Übertragungseinheit (8, 9), um bei Erkennen eines fehlerhaften elektronischen Bauteiles mittels einer Erkennungseinheit anstelle der ersten Anzahl (12, 13) eine zweite Anzahl an elektronischen Bauteilen (5a, 5b) zu übertragen, wobei die zweite Anzahl gegenüber der ersten Anzahl (12, 13) mindestens ein zusätzliches elektronisches Bauteil beinhaltet.
  5. Vorrichtung nach einem der vorangegangenen Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass zwei bewegbare erste Transportelemente (10, 11), mindestens ein bewegbares zweites Transportelement (16) und mindestens ein bewegbares drittes Transportelement (17) angeordnet sind.
  6. Vorrichtung nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, dass die Transportelemente (10, 11, 16, 17) in ihrer Längsrichtung (14, 15, 18, 19) verschiebbare Stabelemente sind, welche oberseitig mit den elektronischen Bauteilen (5a–d) bestückbar sind.
  7. Vorrichtung nach einem der vorangegangenen Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass die Übertragungseinheit (8, 9) sowie die Aufnahme- und Ablegeeinheit (2025; 2631) jeweils mindestens ein schienenartig ausgebildetes Halteelement (8; 2022; 2628) mit mindestens einem Haltekopf (9; 2325; 2931) zum Aufnehmen, Transportieren und Ablegen der elektronischen Bauteile (5a, 5b, 5c, 5d) aufweist.
  8. Verfahren zur Übertragung einer Mehrzahl an elektronischen Bauteilen (5; 5a–d), insbesondere RFID-Chips, von mindestens einem Bauteilträger (4), insbesondere Wafer, an mindestens eine bauteilverarbeitende Einheit (6, 7), gekennzeichnet durch – Vereinzeltes Übertragen erster elektronischer Bauteile (5, 5a, 5b) in einer vorbestimmbaren ersten Anzahl (12, 13) von dem Bauteilträger (4) auf mindestens ein bewegbares erstes Transportelement (10, 11) in mindestens einem ersten Übertragungsbereich (1); gleichzeitiges Aufnehmen zweiter elektronischer Bauteile (5c) in der ersten Anzahl (12a) von mindestens einem bewegbaren zweiten Transportelement (16) sowie Ablegen der zweiten elektronischen Bauteile (5c) in der ersten Anzahl (12a) auf die bauteilverarbeitende Einheit (6) mittels einer Aufnahme- und Ablegeeinheit (2025) in mindestens einem zweiten Übertragungsbereich (2), wobei in der Aufnahme- und Ablegeeinheit (2025) mindestens ein zusätzliches fehlerfreies, elektronisches Bauteil angeordnet ist.
  9. Verfahren nach Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet, dass das erste mit ersten elektronischen Bauteilen (5b) bestückte Transportelement (11) von dem ersten Übertragungsbereich (1) in den zweiten Übertragungsbereich (2) und gleichzeitig das zweite unbestückte Transportelement (16) von dem zweiten Übertragungsbereich (2) in den ersten Übertragungsbereich (1) verschoben wird.
  10. Verfahren nach Anspruch 8 oder 9, dadurch gekennzeichnet, dass in einem weiteren zweiten Übertragungsbereich (3) von einem dritten Transportelement (17) dritte elektronische Bauteile (5d) aufgenommen und auf eine weitere bauteilverarbeitende Einheit (7) mittels einer weiteren Aufnahme- und Ablegeeinheit (2631) abgelegt werden, während weitere erste elektronische Bauteile (5) von dem Bauteilträger (4) auf ein weiteres erstes Transportelement (10) mittels der Übertragungseinheit (8, 9) in dem ersten Übertragungsbereich (1) übertragen werden.
  11. Verfahren nach einem der Ansprüche 8–10, dadurch gekennzeichnet, dass bei Erkennen eines fehlerhaften elektronischen Bauteiles mittels einer Erkennungs einheit das in der Aufnahme- und Ablegeeinheit (2025; 2631) angeordnete fehlerfreie elektronische Bauteil anstelle des fehlerhaften elektronischen Bauteiles auf der bauteilverarbeitenden Einheit (6, 7) abgelegt wird.
  12. Verfahren nach Anspruch 11, dadurch gekennzeichnet, dass bei Erkennen eines fehlerhaften elektronischen Bauteiles ein weiteres elektronisches Bauteil von dem Bauteilträger (4) auf das erste Transportelement (10, 11) zum Weitertransport an diejenige Aufnahme- und Ablegeeinheit (2025; 2631), die das darin angeordnete fehlerfreie elektronische Bauteil ablegt, zur Bildung einer zweiten Anzahl an zu übertragenden ersten elektronischen Bauteilen (5a, 5b) überträgt.
  13. Verfahren zur Übertragung einer Mehrzahl an elektronischen Bauteilen (5; 5a5d) insbesondere Chips, von mindestens einem Bauteilträger (4), insbesondere Wafer, an mindestens eine bauteilverarbeitende Einheit (6, 7), dadurch gekennzeichnet, dass die Übertragung erster elektronischer Bauteile (5, 5a, 5d) in einer vorbestimmbaren ersten Anzahl (12, 13) von einem Bauteilträger (4) auf mindestens ein bewegbares erstes Transportelement (10, 11) in mindestens einem ersten Übertragungsbereich (1) erfolgt und die vorbestimmbare Anzahl erster elektronischer Bauteile (5, 5a, 5d) und mindestens ein zusätzliches elektronisches Bauteil umfasst.
DE200810030723 2008-07-01 2008-07-01 Vorrichtung und Verfahren zur Übertragung von elektronischen Bauteilen Ceased DE102008030723A1 (de)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE200810030723 DE102008030723A1 (de) 2008-07-01 2008-07-01 Vorrichtung und Verfahren zur Übertragung von elektronischen Bauteilen

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE200810030723 DE102008030723A1 (de) 2008-07-01 2008-07-01 Vorrichtung und Verfahren zur Übertragung von elektronischen Bauteilen

Publications (1)

Publication Number Publication Date
DE102008030723A1 true DE102008030723A1 (de) 2010-01-14

Family

ID=41412504

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE200810030723 Ceased DE102008030723A1 (de) 2008-07-01 2008-07-01 Vorrichtung und Verfahren zur Übertragung von elektronischen Bauteilen

Country Status (1)

Country Link
DE (1) DE102008030723A1 (de)

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0906011A2 (de) * 1997-09-24 1999-03-31 Siemens Aktiengesellschaft Vorrichtung zum Bestücken von flachen Bauelementeträgern mit elektrischen Bauelementen
DE102005061680B3 (de) * 2005-12-21 2007-09-13 Mühlbauer Ag Einrichtung und Verfahren zur gleichzeitigen Übertragung einer Mehrzahl von elektronischen Bauteilen
DE102006002367B3 (de) * 2006-01-17 2007-10-04 Mühlbauer Ag Vorrichtung und Verfahren zur Übertragung einer Mehrzahl von Chips von einem Wafer auf ein Substrat

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0906011A2 (de) * 1997-09-24 1999-03-31 Siemens Aktiengesellschaft Vorrichtung zum Bestücken von flachen Bauelementeträgern mit elektrischen Bauelementen
DE102005061680B3 (de) * 2005-12-21 2007-09-13 Mühlbauer Ag Einrichtung und Verfahren zur gleichzeitigen Übertragung einer Mehrzahl von elektronischen Bauteilen
DE102006002367B3 (de) * 2006-01-17 2007-10-04 Mühlbauer Ag Vorrichtung und Verfahren zur Übertragung einer Mehrzahl von Chips von einem Wafer auf ein Substrat

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP2793275B1 (de) Aufbringen von Leitkleber auf Solarzellen
DE3215800A1 (de) Vorrichtung zur zurueckweisung von produkten in verbindung mit einer pruefeinrichtung
DE102013206138A1 (de) Vorrichtung zum Komplettieren eines Formatsatzes von Produkten
DE19623872A1 (de) Verfahren für die Umsetzung von separierten Gütern sowie Umsetzvorrichtung
DE102017121557A1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Förderung und Positionierung von Werkstücken
DE102018215854A1 (de) Verfahren und Vorrichtung zum Zuführen von Produkten von einem ersten Prozess zu einem zweiten Prozess in einer Verpackungsanlage
DE102008010236B4 (de) Vorrichtung zum Transportieren von Substraten bei einem Bestückautomaten, Bestückungsautomat und Verfahren zum Transportieren von Substraten
DE102005054300B3 (de) Verfahren und Vorrichtung zum simultanen Beschreiben von Datenträgern
WO2014089586A1 (de) Sortieranlage und verfahren zum sortieren von objekten in einer förderanlage
EP1733980A1 (de) Vorrichtung zum Transport von mindestens einer Materialrolle
DE102015005643B4 (de) Verfahren und Vorrichtung zum Bereitstellen von unterschiedlichen Karosseriebauteilvarianten
EP2674769A1 (de) Vorrichtung und Verfahren zum Entnehmen von geprüften Halbleiterbauelementen
DE2125528A1 (de)
DE102006019785B4 (de) Vorrichtung und Verfahren zum aufeinanderfolgenden Transport einer Mehrzahl von GSM-Chipkarten
EP2750809B1 (de) Verfahren und vorrichtung zum sortieren von identifikationsgegenständen
DE102008030723A1 (de) Vorrichtung und Verfahren zur Übertragung von elektronischen Bauteilen
DE19921723A1 (de) Vorrichtung zur Sortierung von gleichförmigen kartenartigen Elementen
DE102014211818B4 (de) Verfahren zum Herstellen eines Kabels mit einer flexiblen Hülse, insbesondere einer Markierungshülse, und Kabelmarkiervorrichtung
DE19653780C2 (de) Verfahren zum Sortieren von IC-Bauelementen
DE102014116879B3 (de) Verfahren zum Bestücken von Leiterplatten
DE102006025170B3 (de) Verfahren zum Transportieren von Substraten in Bestückautomaten und Transportsystemen
DE102015101973B4 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Herstellung von Solarzellsträngen
DE3600700C2 (de)
EP3763448B1 (de) Verfahren und vorrichtung zum erzeugen und aufrechterhalten einer zuordnung von gegenstandsdaten und position eines gegenstands
EP2085178B1 (de) Vorrichtung zur Übergabe und Übernahme von auf Trägern angeordneten Werkstücken und/oder Werkzeugen

Legal Events

Date Code Title Description
OP8 Request for examination as to paragraph 44 patent law
8131 Rejection