DE102008011256A1 - Messverfahren und Messanordnung - Google Patents

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Abstract

Bei einem Messverfahren für eine Messschaltung (MC) mit einem Schaltelement (SW), einem Sensorelement (SNS) und einem damit verbundenen Messanschluss (M) wird eine Versorgungsspannung an einem ersten oder zweiten Versorgungsanschluss (VCC, GND) gemessen. Das Schaltelement (SW) wird in einen leitenden Zustand gesteuert und eine Hilfsspannung am Messanschluss (M) in einem ersten Betriebszustand des Sensorelements (SNS) gemessen. In Abhängigkeit der Hilfsspannung und der Versorgungsspannung wird ein Referenzwert eines Spannungsabfalls über das Schaltelement (SW) ermittelt. Am Messanschluss (M) werden in einem zweiten Betriebszustand des Sensorelements (SNS) eine Messung einer ersten Messspannung während eines nicht-leitend-gesteuerten Zustands des Schaltelements (SW) und eine Messung einer zweiten Messspannung während eines leitend-gesteuerten Zustands des Schaltelements (SW) durchgeführt. In Abhängigkeit des Referenzwerts und der ersten und zweiten Messspannung wird ein Impedanzwert des Sensorelements (SNS) ermittelt.

Description

  • Die Erfindung betrifft ein Messverfahren für eine Messschaltung mit einem Sensorelement, bei dem ein Impedanzwert des Sensorelements ermittelt wird. Die Erfindung betrifft ferner eine Messanordnung mit einer solchen Messschaltung.
  • Beim Betrieb von Verbrennungskraftmaschinen werden für die Einhaltung von gesetzlich festgelegten Emissionsgrenzwerten in der Regel Abgassensoren verwendet, deren Signal zur Emissionsregelung weiter verarbeitet wird. Als typischerweise verwendete Gassensoren sind binäre und lineare Lambdasonden und Stickoxid- oder NOx-Sensoren bekannt, deren Gemeinsamkeit in einem üblicherweise beheizten Festkörperelektrolyten aus Yttrium-stabilisierter Zirkondioxid-Keramik liegt.
  • Um bei Sensoren auf Basis von Zirkondioxid die Sauerstoff- oder Stickstoffkonzentration in Form eines Sauerstoffionenstroms durch den Festkörperelektrolyten messen zu können, ist üblicherweise eine Beheizung der Keramik vorgesehen, wobei die Zieltemperatur entweder geregelt oder betriebspunktabhängig vorgesteuert wird. Für den Betrieb einer derartigen Sonde ist es notwendig, dass diese Temperatur erreicht beziehungsweise möglichst genau eingehalten wird. Beispielsweise aus Diagnosegründen oder für die Emissionsregelung sollte somit eine ausreichende Beheizung des Gassensors systemseitig sichergestellt werden. Alternativ sollte im Falle einer zu schwachen Heizung, die zu einem Auskühlen des Sensors führen würde, diese als fehlerhaft erkannt werden und über ein Fehlersignal angezeigt werden. Diese Maßnahmen erfordern die Kenntnis der Sondentemperatur mit ausreichender Genauigkeit.
  • Am Beispiel von Lambdasonden kann die Temperaturbestimmung durch Ermitteln der Impedanz der enthaltenen Nernst-Zelle erfolgen, da die Impedanz von Zirkondioxid, ZrO2 mit dessen Temperatur korreliert. Eine entsprechende Umrechnung ist üb licherweise in einem Kennfeld in der Motorsteuerung abgelegt. Die Präzision der Temperaturbestimmung ist unter anderem durch die Toleranzen der elektronischen Bauteile beeinflusst, welche für die Ermittlung der Impedanz der Zelle beziehungsweise der Sondentemperatur notwendig sind.
  • Es ist Aufgabe der Erfindung, ein Messverfahren für eine Messschaltung und eine Messanordnung mit der Messschaltung anzugeben, mit denen ein Impedanzwert eines Sensorelements der Messschaltung mit verbesserter Genauigkeit bestimmt werden kann.
  • Diese Aufgabe wird mit den Gegenständen der unabhängigen Patentansprüche gelöst. Ausgestaltungsformen und Weiterbildungen der Erfindung sind Gegenstand der Unteransprüche.
  • Eine Messschaltung weist beispielsweise einen ersten Widerstand, der zwischen einen ersten Versorgungsanschluss und einen Messanschluss geschaltet ist, und einen zweiten Widerstand auf, der zwischen den Messanschluss und einen zweiten Versorgungsanschluss geschaltet ist. Ferner ist in der Messschaltung ein Sensorelement vorgesehen, das parallel zum zweiten Widerstand geschaltet ist, sowie eine Reihenschaltung eines Schaltelements und eines dritten Widerstands, die parallel zum ersten Widerstand geschaltet ist.
  • Beispielsweise wird an dem ersten Versorgungsanschluss ein Versorgungspotenzial zugeführt, während am zweiten Versorgungsanschluss ein Bezugspotenzial angelegt wird. Alternativ kann auch an dem ersten Versorgungsanschluss das Bezugspotenzial zugeführt werden, während am zweiten Versorgungsanschluss das Versorgungspotenzial angelegt wird.
  • In einem Ausführungsbeispiel eines Messverfahrens für eine derartige Messschaltung wird eine Versorgungsspannung am ersten oder zweiten Versorgungsanschluss gemessen. Das Schaltelement wird in einen leitenden Zustand gesteuert und eine Hilfsspannung am Messanschluss in einem ersten Betriebszu stand des Sensorelements gemessen. In Abhängigkeit der gemessenen Hilfsspannung und der gemessenen Versorgungsspannung wird ein Referenzwert eines Spannungsabfalls über das Schaltelement in dessen leitenden Zustand ermittelt. Das Schaltelement wird in einen nicht-leitenden Zustand gesteuert. In diesem Zustand des Schaltelements wird in einem zweiten Betriebszustand des Sensorelements eine erste Messspannung am Messanschluss gemessen. Das Schaltelement wird nun in einen leitenden Zustand gesteuert, wobei eine Messung einer zweiten Messspannung am Messanschluss erfolgt, wiederum in dem zweiten Betriebszustand des Sensorelements. In Abhängigkeit der ersten und zweiten gemessenen Messspannung und des zuvor ermittelten Referenzwerts wird ein Impedanzwert des Sensorelements ermittelt.
  • Da der Impedanzwert des Sensorelements nicht nur aus der ersten und zweiten Messspannung sondern auch in Abhängigkeit des Referenzwerts ermittelt wird, ist es für eine genaue Bestimmung des Impedanzwerts erforderlich, dass auch der Referenzwert in ausreichender Genauigkeit vorliegt. In realen Messschaltungen sollte zur Einhaltung einer gewissen Messgenauigkeit nicht mit den Eigenschaften eines idealen Schalters gerechnet werden, an dem im geschlossenen Zustand kein Spannungsfall auftritt. Vielmehr sollte der Spannungsabfall über das in der Messschaltung eingesetzte Schaltelement im leitenden Zustand bei Berechnungen berücksichtigt werden. Bei konventionellen Messverfahren wird hierbei ein Referenzwert für diesen Spannungsabfall, beispielsweise aus einem Datenblatt für eine Vielzahl gleichartiger Schaltelemente, entnommen und für die Berechnung des Impedanzwerts des Sensorelements verwendet. Jedoch kann ein realer Wert für den Spannungsabfall über das Schaltelement wegen produktionstechnischer Bauteilschwankungen aber auch wegen Alterungsprozessen von einem derart pauschal angenommenen Referenzwert abweichen.
  • Bei dem hier beschriebenen Verfahren wird deshalb vor der eigentlichen Messung der Messspannungen, die zum Impedanzwert führen, durch einen Kalibrierschritt ein Referenzwert für den Spannungsabfall des Schaltelements im leitend gesteuerten Zustand messtechnisch ermittelt. Abweichungen des Referenzwerts von einem Wert, der einem Datenblatt entnommen ist, haben somit bei der Berechnung des Impedanzwerts keine Bedeutung, da jeweils mit einem aktuellen, realen Referenzwert für den Spannungsabfall des Schaltelements gerechnet wird. Die Genauigkeit bei der Bestimmung des Impedanzwerts des Sensorelements ist somit bei dem beschriebenen Verfahren erhöht.
  • Eine Kalibrierung der Messschaltung, die unter anderem das Bestimmen des realen Referenzwerts umfasst, findet dabei vorzugsweise in einem ersten Betriebszustand des Sensorelements statt, der beispielsweise dadurch ausgedrückt ist, dass das Sensorelement eine Normaltemperatur wie zum Beispiel eine Umgebungstemperatur aufweist. Der zweite Betriebszustand, in dem die Messung der Messspannungen erfolgt, zeichnet sich vorzugsweise dadurch aus, dass die Temperatur des Sensorelements von der Normaltemperatur abweicht und beispielsweise einer Betriebstemperatur des Sensorelements entspricht. Alternativ können die Betriebszustände des Sensorelements auch durch jeweilige Betriebszustände der Messschaltung vorgegeben sein, wie zum Beispiel einem Einschaltbetriebszustand und einem Arbeitsbetriebszustand, wobei die Kalibrierung hierbei im Einschaltbetriebszustand erfolgt.
  • Das Schaltelement der Messschaltung kann beispielsweise als Transistor ausgeführt sein, wobei beim Ansteuern des Schaltelements beziehungsweise des Transistors ein Steuersignal, wie zum Beispiel eine Steuerspannung oder ein Steuerstrom, an einen Steueranschluss des Transistors zugeführt wird. Als Transistoren für derartige Messschaltungen können sowohl Bipolartransistoren als auch Feldeffekttransistoren eingesetzt werden.
  • Der Referenzwert für den Spannungsabfall über das als Transistor ausgeführte Schaltelement resultiert beispielsweise aus einem Sättigungszustand des Transistors. Bei einem Bipolartransistor, bei dem die gesteuerte Strecke zwischen Kol lektor und Emitter über eine Steuerspannung oder einen Steuerstrom am Basisanschluss gesteuert wird, kann dieser derart aufgesteuert werden, dass er in einen Sättigungszustand gelangt. Die Referenzspannung ergibt sich somit beispielsweise als Spannung zwischen Kollektor und Emitter des Transistors im Sättigungszustand. In ähnlicher Weise kann beim Einsatz eines Feldeffekttransistors eine Spannung am Gateanschluss des Transistors so gewählt werden, dass sich eine kleinstmögliche Spannung zwischen Drain- und Sourceanschluss des Transistors ergibt, das heißt, dass sich der Transistor wiederum im Sättigungszustand befindet.
  • Beim Kalibrieren der Messschaltung im ersten Betriebszustand des Sensorelements lässt sich somit eine derartige Sättigungsspannung des verwendeten Transistors bestimmen, wobei produktionstechnische Abweichungen oder Alterungsprozesse beim Ermitteln des Referenzwerts folglich automatisch mit berücksichtigt sind.
  • Das Sensorelement kann beispielsweise ein temperaturabhängiger Sensor in einem Gassensor sein. Hierbei weist das Sensorelement vorzugsweise einen temperaturabhängigen Impedanzwert auf, wobei in einem Ausführungsbeispiel des Messverfahrens eine Temperatur in Abhängigkeit des Impedanzwerts ermittelt wird. Somit kann mit dem Messverfahren eine Temperatur beispielsweise eines Gassensors mit erhöhter Genauigkeit bestimmt werden.
  • Das Ansteuern des Schaltelements und das jeweilige Messen der ersten und zweiten Messspannung kann auch mehrmals, beispielsweise periodisch durchgeführt werden. Das Kalibrieren beziehungsweise Bestimmen des Referenzwerts wird vorzugsweise lediglich zu Beginn eines Messzyklus durchgeführt. Beispielsweise bei einem Einsatz mit einem Gassensor wird der Referenzwert bei kaltem, unbeheiztem Gassensor bestimmt. Die Messung der Messspannungen und das Ermitteln des Impedanzwerts des Sensorelements beziehungsweise der Temperatur des Gassensors erfolgt üblicherweise im Betrieb des Gassensors, in dem dieser beheizt und dadurch erwärmt wird. Der Referenzwert, der im ersten Betriebszustand des Sensorelements ermittelt wird, kann somit gespeichert werden und steht für das Ermitteln jeweiliger Impedanzwerte im zweiten Betriebszustand des Sensorelements zur Verfügung.
  • In einem Ausführungsbeispiel des Messverfahrens wird der Betriebszustand des Sensorelements messtechnisch ermittelt. Beispielsweise kann mit Hilfe anderer Messungen festgestellt werden, ob das Sensorelement sich in einem ausgekühlten, unbeheizten Zustand befindet, also einem gewünschten ersten Betriebszustand, in dem der Referenzwert bestimmt wird.
  • Bei einem Einsatz des Sensorelements beziehungsweise der Messschaltung mit einem Gassensor in einem Fahrzeug kann beispielsweise durch Auswertung der Kühlwassertemperatur und einer Temperatur im Motorblock festgestellt werden, ob das Fahrzeug aus einem völlig ausgekühlten Zustand heraus in Betrieb genommen wird, also ein Kaltstart durchgeführt wird. Wenn diese Bedingung erfüllt ist, kann angenommen werden, dass sich das Sensorelement im ersten Betriebszustand befindet.
  • Bei einem Warmstart des Fahrzeugs, bei dem sich Kühlwassertemperatur und Temperatur im Motorblock beispielsweise unterscheiden, ist es zweckmäßig die Kalibrierung beziehungsweise Messung des Referenzwerts nicht vorzunehmen, sondern beispielsweise einen zuvor gespeicherten Referenzwert für die Ermittlung des Impedanzwerts des Sensorelements zu verwenden.
  • Das Messen der ersten und zweiten Messspannung kann in einem Ausführungsbeispiel des Messverfahrens im getakteten Betrieb erfolgen, so dass das Schaltelement vorzugsweise überwiegend im nicht-leitenden Zustand ist, in dem die erste Messspannung gemessen wird, und für einen kurzen Zeitraum in einem leitenden Zustand, in dem die zweite Messspannung gemessen werden kann. Dabei wird beispielsweise zur Ansteuerung des Schaltelements ein getaktetes Steuersignal verwendet.
  • In einem Ausführungsbeispiel einer Messanordnung umfasst diese eine Messschaltung gemäß einem der zuvor beschriebenen Ausführungsbeispiele. Ferner ist ein Analog-Digital-Wandler vorgesehen, der an einem ersten Eingang mit dem Messanschluss und einem zweiten Eingang mit dem ersten oder zweiten Versorgungsanschluss gekoppelt ist. Die Messanordnung weist zudem eine Steuerschaltung auf, die zum Steuern mit dem Analog-Digital-Wandler und dem Schaltelement gekoppelt ist. Die Steuerschaltung ist dabei dazu eingerichtet, während eines leitend gesteuerten Zustand des Schaltelements eine Messung einer Hilfsspannung am Messanschluss in einem ersten Betriebszustand des Sensorelements durch den Analog-Digital-Wandler auszulösen und einen Referenzwert eines Spannungsabfalls über das Schaltelements in dessen leitenden Zustand in Abhängigkeit der Hilfsspannung und einer am ersten oder zweiten Versorgungsanschluss anliegenden Versorgungsspannung zu ermitteln.
  • Mit der Messanordnung kann somit ein Referenzwert für den Spannungsabfall über das Schaltelement ermittelt werden, der für weitere Messungen mit der Messschaltung beziehungsweise der Messanordnung verwendet werden kann. Die Genauigkeit der Messanordnung ist dadurch gegenüber einer herkömmlichen Messanordnung dieser Art erhöht, bei der ein derartiger Referenzwert lediglich mit verringerter Genauigkeit aus einem Datenblatt beziehungsweise einer Nachschlagetabelle benutzt wird.
  • In einer weiteren Ausführungsform der Messanordnung ist die Steuerschaltung ferner dazu eingerichtet, eine Messung einer ersten Messspannung am Messanschluss in einem zweiten Betriebszustand des Sensorelements durch den Analog-Digital-Wandler während eines nicht-leitend gesteuerten Zustands des Schaltelements auszulösen. Ferner wird eine Messung an der zweiten Messspannung am Messanschluss in dem zweiten Betriebszustand des Sensorelements durch den Analog-Digital-Wandler während eines leitend gesteuerten Zustands des Schaltelements durch die Steuerschaltung ausgelöst. Die Steu erschaltung ist weiterhin dazu eingerichtet, einen Impedanzwert des Sensorelements in Abhängigkeit des Referenzwerts und der ersten und zweiten Messspannung zu ermitteln.
  • Vorzugsweise ist das Schaltelement der Messschaltung als Transistor ausgeführt. Weiterhin vorzugsweise ist der Impedanzwert des Sensorelements temperaturabhängig. Das Sensorelement kann beispielsweise von einem Gassensor umfasst sein.
  • In weiteren Ausführungsbeispielen ist die Messanordnung beziehungsweise die Steuerschaltung der Messanordnung dazu eingerichtet, die zuvor beschriebenen Messverfahren auszuführen.
  • Im Folgenden wird die Erfindung an mehreren Ausführungsbeispielen anhand der Figuren näher erläutert. Funktions- beziehungsweise wirkungsgleiche Elemente tragen dabei gleiche Bezugszeichen.
  • Es zeigen:
  • 1 ein Ausführungsbeispiel einer Messanordnung,
  • 2A und 2B Ausführungsbeispiele eines Schaltelements, und
  • 3 ein beispielhaftes Signal-Zeit-Diagramm für ein Steuersignal eines Schaltelements.
  • 1 zeigt ein Ausführungsbeispiel einer Messanordnung mit einer Messschaltung MC, einer Steuerschaltung CTRL und einem Analog-Digital-Wandler ADC. Die Messschaltung MC weist einen ersten Widerstand R1 auf, der zwischen einen ersten Versorgungsanschluss VCC und einen Messanschluss M geschaltet ist. Ein zweiter Widerstand R2 ist zwischen den Messanschluss M und einen zweiten Versorgungsanschluss GND geschaltet. Die Messschaltung MC weist ferner eine Serienschaltung eines Schaltelements SW und eines dritten Widerstands RP auf, die zwischen dem ersten Versorgungsanschluss VCC und dem Messan schluss M verschaltet ist. Ein Sensorelement SNS ist parallel zum zweiten Widerstand R2 zwischen den Messanschluss M und den zweiten Versorgungsanschluss GND gekoppelt. Das Sensorelement SNS ist symbolisch mit einer Spannungsquelle und einem Innenwiderstand RS dargestellt.
  • Die Steuerschaltung CTRL ist zur Steuerung und vorzugsweise auch zum Datenaustausch mit dem Analog-Digital-Wandler ADC gekoppelt. Ferner ist die Steuerschaltung CTRL auch mit einem Steueranschluss 3 des Schaltelements SW verbunden, um dessen Anschlüsse 1, 2 leitend ansteuern zu können. Der Analog-Digital-Wandler ADC weist einen ersten Eingang I1 auf, der über einen Eingangswiderstand R4 mit dem Messanschluss M verbunden ist, sowie einen zweiten Eingang I2, der mit dem ersten Versorgungsanschluss VCC gekoppelt ist. Alternativ oder zusätzlich kann auch der zweite Versorgungsanschluss GND mit dem Analog-Digital-Wandler ADC elektrisch verbunden sein. An einem Ausgang OUT des Analog-Digital-Wandlers ADC können digitalisierte Ausgangsdaten abgegeben werden.
  • Das Sensorelement SNS kann beispielsweise eine Nernst-Zelle einer Lambdasonde in einer Verbrennungskraftmaschine sein. Das Sensorelement weist vorzugsweise eine temperaturabhängige Impedanz auf. Beispielsweise kann der Widerstand des Sensorelements als Widerstand mit negativen Temperaturkoeffizienten, NTC mit exponentiellem Verlauf ausgeführt sein. Der jeweilige Impedanzwert des Sensorelements SNS kann messtechnisch von der Steuerschaltung CTRL bestimmt werden, um daraus, beispielsweise mittels einer Wertetabelle, eine entsprechende Temperatur des Sensorelements ableiten zu können.
  • Die Messung des Impedanzwerts des Sensorelements kann durch Aufbringen eines alternierenden oder schaltenden Stroms erfolgen. Beispielsweise wird über das Schaltelement SW ein Spannungsteiler für die Signalerfassung des Sensorelements kurzzeitig leitend geschaltet, so dass parallel zu einem üblicherweise hochohmigen Widerstand R1 ein vergleichsweise niederohmiger Signalpfad über den dritten Widerstand RP ge schlossen wird. Über den Widerstand R2 und das dazu parallel geschaltete Sensorelement SNS ergibt sich eine Messspannung am Messanschluss M, die über den Widerstand R4 dem Analog-Digital-Wandler ADC zugeführt wird. Des Weiteren kann in einem geöffneten Zustand des Schaltelements SW, also bei offener Verbindung der Punkte 1 und 2 eine weitere Messspannung am Messanschluss M gemessen werden. Aus der ersten und zweiten Messspannung, insbesondere einem Spannungshub zwischen erster und zweiter Messspannung können im Analog-Digital-Wandler beziehungsweise in der Steuerschaltung eine Impedanz des Sensorelements und eine daraus abgeleitete Temperatur ermittelt werden. Dabei ist der Impedanzwert des Sensorelements zusätzlich von einem Spannungsabfall über das Schaltelement SW zwischen den Punkten 1, 2 abhängig.
  • Toleranzen oder Ungenauigkeiten für die Messung der Impedanz ergeben sich aus den Widerstandstoleranzen der Widerstände R1, R2, RP und aus einer Ungenauigkeit für den Wert des Spannungsabfalls zwischen den Punkten 1, 2 im leitenden Zustand des Schaltelements SW.
  • Mit Verweis auf die 2A und 2B kann das Schaltelement SW als Bipolartransistor oder als Feldeffekttransistor ausgeführt sein. 2A zeigt eine Ausführungsform als Bipolartransistor, bei dem der Kollektoranschluss des Transistors mit dem Punkt 1, der Emitteranschluss mit dem Punkt 2 und der Basisanschluss oder Steueranschluss des Transistors mit dem Punkt 3 verbunden ist. In ähnlicher Weise sind in 2B ein Source- und Drainanschluss eines Feldeffekttransistors mit den Punkten 1, 2 verbunden, während ein Gateanschluss oder Steueranschluss mit dem Punkt 3 gekoppelt ist.
  • Die Transistoren können über eine entsprechende Steuerspannung beziehungsweise einen Steuerstrom am Steueranschluss 3 derart in einen leitenden Zustand geschaltet werden, dass sich ein Sättigungszustand des Transistors ergibt. Dabei nimmt ein Spannungsabfall V12 zwischen den Punkten 1, 2 einen möglichst kleinen Wert an. Beispielhafte Werte für Sätti gungsspannungen sind üblicherweise in einem Datenblatt des verwendeten Transistors hinterlegt, umfassen dabei jedoch Fertigungstoleranzen für eine Vielzahl hergestellter Transistoren. Zudem kann in dem Datenblatt ein Alterungsprozess des Transistors nicht berücksichtigt werden. Somit ergibt sich bei der Ermittlung des Impedanzwerts des Sensorelements SNS eine Ungenauigkeit für den Fall, dass ein ungenauer Referenzwert für den Spannungsabfall des Schaltelements SW beziehungsweise des Transistors in dessen leitenden Zustand verwendet wird.
  • Die Steuerschaltung CTRL ist deshalb dazu eingerichtet, in einem ersten Betriebszustand des Sensorelements SNS, der vorzugsweise einer abgekühlten Sonde des Gassensors entspricht, das Schaltelement SW in einem leitenden Zustand zu steuern und in diesem Zustand eine Messung der Hilfsspannung am Messanschluss M durch den Analog-Digital-Wandler ADC auszulösen. Vorzugsweise wird das Schaltelement SW also leitend gesteuert, solange die Sonde des Sensorelements SNS noch kalt und damit hochimpedant ist. Dadurch wird ein Stoßstrom durch die kalte Sonde sowie durch den zum Sensorelement SNS geschalteten Widerstand R2 erzeugt, die hier vorzugsweise ebenfalls hochohmig ist. Da somit beide Impedanzen RS, R2 hochohmig sind, ergibt sich ein Spannungsabfall über diese Impedanzen derart, dass nahezu ein Maximalwert am angeschlossenen Analog-Digital-Wandler ADC gemessen werden kann. Insbesondere bei Einsatz eines Transistors als Schaltelement führt das Sättigungsverhalten des verwendeten Transistors dazu, dass der Stromfluss bei Erreichen der Sättigungsspannung des Transistors abgeschnürt wird. Dadurch ergibt sich ein stabiler Arbeitspunkt des Transistors, der dadurch gekennzeichnet ist, dass ein Spannungsabfall zwischen den Punkten 1, 2 die gemessene Spannung am Messanschluss M beeinflusst.
  • Die Versorgungsspannung am ersten Versorgungsanschluss VCC, die dem Analog-Digital-Wandler ADC über den zweiten Eingang E2 zugeführt wird kann nun dazu verwendet werden, um den Spannungsabfall V12 als Referenzwert zu ermitteln. Dies kann beispielsweise über die Steuerschaltung CTRL erfolgen, welche vorzugsweise einen Mikrocontroller umfasst.
  • Somit kann durch diese Kalibrierung bei der Berechnung des Impedanzwerts des Sensorelements im zweiten Betriebszustand des Sensorelements ein realer, genau ermittelter Referenzwert verwendet werden, anstelle eines ungenauen, beispielsweise aus einem Datenblatt entnommenen Referenzwerts. Die Genauigkeit der Anordnung für die Bestimmung des Impedanzwerts und einer daraus abgeleiteten Temperatur ist somit im Vergleich zu herkömmlichen Anordnungen dieser Art erhöht.
  • Wenn im Betrieb der Anordnung bei warmen Sensorelement SNS entsprechende Messungen durchgeführt werden, ergeben sich bei nicht-leitend gesteuertem Zustand des Schaltelements SW eine erste Messspannung VM1 am Messanschluss M sowie eine zweite Messspannung VM2 an dem Messanschluss M in einem leitend gesteuerten Zustand des Schaltelements SW. Mit einer Spannung V12 als Referenzwert für den Spannungsabfall des Schaltelements SW zwischen den Punkten 1, 2, einer Versorgungsspannung Vcc am ersten Versorgungsanschluss VCC und Widerstandswerten R1, R2, RP für die Widerstände R1, R2, RP ergibt sich ein Impedanzwert Rs für das Sensorelement SNS als
    Figure 00120001
  • Beim Einsatz eines Bipolartransistors gemäß 2A entspricht die Spannung V12 beispielsweise der Sättigungsspannung zwischen Kollektor und Emitter VCE,SAT, die üblicherweise mit Werten zwischen 0 mV und 300 mV spezifiziert wird, was die komplette Streubreite über die Produktion, über unterschiedliche Betriebstemperaturen sowie über unterschiedliche Strombereiche mit den seitens des Hersteller erforderlichen Sicherheitsbereiche abdeckt. Durch die messtechnische Bestimmung der Spannung V12 beziehungsweise für den Bipolartransistor VCE,SAT kann die Toleranz des Parameters in der oben stehenden Gleichung auf wenige Millivolt eingegrenzt werden. Diese Toleranz hängt dabei unter anderem von den elektrischen Parametern und der Auflösung des Analog-Digital-Wandlers ab.
  • Das Ansteuern des Schaltelements SW kann in einem getakteten und/oder periodischen Betrieb erfolgen. 3 zeigt ein beispielhaftes Signal-Zeit-Diagramm eines Steuersignals S3 zur Ansteuerung des Schaltelements SW. Dabei wird während eines Zeitraums TON das Schaltelement in einen leitenden Zustand geschaltet und während eines Zeitabschnitts TÖFF in einen nicht-leitenden Zustand. Die Einschaltphasen des Schaltelements SW wiederholen sich beispielsweise mit einer Periodendauer TREF. In einem Ausführungsbeispiel für das Messverfahren beträgt die Periodendauer TREF etwa eine Sekunde, während die Einschaltdauer TON einen Wert von etwa 5 ms aufweist.
  • Das in den Ausführungsbeispielen beschriebene Messverfahren ist sowohl für lineare als auch binäre Lambdasonden und Stickoxidsensoren verwendbar, bei denen eine Impedanzmessung beziehungsweise Temperaturbestimmung mit einer Messschaltung wie beschrieben erfolgt.
  • Durch die beschriebenen Verfahren kann die Genauigkeit der Berechnung der Impedanz einer Zelle angeschlossener elektrochemischer Zellen erhöht werden. Da diese Zellenimpedanz ein gutes Maß für die Temperaturbestimmung der elektrochemischen Zellen darstellt, kann durch das Verfahren die Betriebsbereitschaft eines Lambdasensors oder Stickoxidsensors genauer erkannt werden, wodurch sich die Zeit zwischen Beginn der Aufheizphase und Aufnahme des normalen Betriebs nach Erkennung der elektrischen Betriebsbereitschaft verkürzt. Das wiederum reduziert die im ungeregelten Betrieb des Verbrennungsmotors entstehenden Schadstoffe, da zu einem viel früheren Zeitpunkt in einem geregelten Betrieb des entsprechenden Sensors übergegangen werden kann.
  • Zudem ist die Robustheit von Heizer-Plausibilisierungsdiagnosen verbessert, da ein Grenzwert für eine Gut- beziehungsweise Schlecht-Beurteilung des Lambdasondenheizers mit weniger Toleranzverhalten ausgelegt werden kann und somit die Fehleranfälligkeit im Betrieb reduziert wird. Des Weiteren ergibt sich bei Verwendung der präziseren Temperaturinformationen, die durch das Messverfahren ermittelt werden können, für die Temperaturregelung die Möglichkeit, einen Temperatursollwert genauer einzuhalten.
  • Weiterhin werden für das beschriebene Verfahren mit einer Messschaltung, die für den Messbetrieb ohnehin erforderlich ist, keine zusätzlichen elektronischen Bauteile benötigt, da das Messverfahren lediglich verfahrenstechnisch umgesetzt wird. Eine Anpassung beziehungsweise Umsetzung des Funktionsalgorithmus verursacht jedoch deutlich weniger Kosten als etwaige Schaltungskomponenten, die für eine verbesserte Messgenauigkeit eingesetzt werden könnten.

Claims (12)

  1. Messverfahren für eine Messschaltung (MC), die Messschaltung (MC) aufweisend – einen ersten Widerstand (R1), der zwischen einen ersten Versorgungsanschluss (VCC) und einen Messanschluss (M) geschaltet ist; – einen zweiten Widerstand (R2), der zwischen den Messanschluss (M) und einen zweiten Versorgungsanschluss (GND) geschaltet ist; – ein Sensorelement (SNS), das parallel zum zweiten Widerstand (R2) geschaltet ist; und – eine Reihenschaltung eines Schaltelements (SW) und eines dritten Widerstands (RP), die parallel zum ersten Widerstand (R1) geschaltet ist; das Messverfahren umfassend die Schritte: – Messen einer Versorgungsspannung am ersten oder zweiten Versorgungsanschluss (VCC, GND); – Ansteuern des Schaltelements (SW) in einen leitenden Zustand; – Messen einer Hilfsspannung am Messanschluss (M) in einem ersten Betriebszustand des Sensorelements (SNS); – Ermitteln eines Referenzwerts eines Spannungsabfalls über das Schaltelement (SW) in dessen leitenden Zustand in Abhängigkeit der Hilfsspannung und der Versorgungsspannung; – Ansteuern des Schaltelements (SW) in einen nichtleitenden Zustand; – Messen einer ersten Messspannung am Messanschluss (M) in einem zweiten Betriebszustand des Sensorelements (SNS); – Ansteuern des Schaltelements (SW) in einen leitenden Zustand; – Messen einer zweiten Messspannung am Messanschluss (M) in dem zweiten Betriebszustand des Sensorelements (SNS); und – Ermitteln eines Impedanzwerts des Sensorelements (SNS) in Abhängigkeit des Referenzwerts und der ersten und zweiten Messspannung.
  2. Messverfahren nach Anspruch 1, bei dem das Schaltelement (SW) der Messschaltung (MC) als Transistor ausgeführt ist und beim Ansteuern des Schaltelements (SW) ein Steuersignal an einen Steueranschluss (3) des Transistors zugeführt wird.
  3. Messverfahren nach Anspruch 2, bei dem der Referenzwert aus einem Sättigungszustand des Transistors resultiert.
  4. Messverfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 3, bei dem der Impedanzwert des Sensorelements (SNS) temperaturabhängig ist und eine Temperatur in Abhängigkeit des Impedanzwerts ermittelt wird.
  5. Messverfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 4, bei dem der Referenzwert gespeichert wird.
  6. Messverfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 5, bei dem der Betriebszustand des Sensorelements (SNS) messtechnisch ermittelt wird.
  7. Messverfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 6, bei dem das Messen der ersten und zweiten Messspannung im getakteten Betrieb erfolgt.
  8. Messanordnung, umfassend – eine Messschaltung (MC) mit einem ersten Widerstand (R1), der zwischen einen ersten Versorgungsanschluss (VCC) und einen Messanschluss (M) geschaltet ist, einem zweiten Widerstand (R2), der zwischen den Messanschluss (M) und einen zweiten Versorgungsanschluss (GND) geschaltet ist, einem Sensorelement (SNS), das parallel zum zweiten Wider stand (R2) geschaltet ist, und einer Reihenschaltung eines Schaltelements (SW) und eines dritten Widerstands (RP), die parallel zum ersten Widerstand (R1) geschaltet ist; – einen Analog-Digital-Wandler (ADC), der an einem ersten Eingang (I1) mit dem Messanschluss (M) und an einem zweiten Eingang (I2) mit dem ersten oder zweiten Versorgungsanschluss (VCC, GND) gekoppelt ist; und – eine Steuerschaltung (CTRL), die zum Steuern mit dem Analog-Digital-Wandler (ADC) und dem Schaltelement (SW) gekoppelt ist und dazu eingerichtet ist, während eines leitend-gesteuerten Zustands des Schaltelements (SW) eine Messung einer Hilfsspannung am Messanschluss (M) in einem ersten Betriebszustand des Sensorelements (SNS) durch den Analog-Digital-Wandler (ADC) auszulösen und einen Referenzwert eines Spannungsabfalls über das Schaltelement (SW) in dessen leitenden Zustand in Abhängigkeit der Hilfsspannung und einer am ersten oder zweiten Versorgungsanschluss (VCC, GND) anliegenden Versorgungsspannung zu ermitteln.
  9. Messanordnung nach Anspruch 8, bei der die Steuerschaltung (CTRL) ferner dazu eingerichtet ist, – eine Messung einer ersten Messspannung am Messanschluss (M) in einem zweiten Betriebszustand des Sensorelements (SNS) durch den Analog-Digital-Wandler (ADC) während eines nichtleitend-gesteuerten Zustands des Schaltelements (SW) auszulösen; – eine Messung einer zweiten Messspannung am Messanschluss (M) in dem zweiten Betriebszustand des Sensorelements (SNS) durch den Analog-Digital-Wandler (ADC) während eines leitend-gesteuerten Zustands des Schaltelements (SW) auszulösen; und – einen Impedanzwert des Sensorelements (SNS) in Abhängigkeit des Referenzwerts und der ersten und zweiten Messspannung zu ermitteln.
  10. Messanordnung nach Anspruch 8 oder 9, bei der das Schaltelement (SW) der Messschaltung (MC) als Transistor ausgeführt ist.
  11. Messanordnung nach einem der Ansprüche 8 bis 10, bei der der Impedanzwert des Sensorelements (SNS) temperaturabhängig ist.
  12. Messanordnung nach einem der Ansprüche 8 bis 11, bei der das Sensorelement (SNS) von einem Gassensor umfasst ist.
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