DE102007062966A1 - Methode zur Kalibrierung von Schichtdickennormalen - Google Patents

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Abstract

Eine Methode zur Kalibrierung von Schichtdickennormalen ermöglicht bei der Kalibrierung der Normalen die Messung der Schichtdicke, die einer Definition der Schichtdicke entspricht, d. h. sie ermöglicht die Messung des Abstandes zwischen der unteren und oberen Grenzfläche der Schicht. Hierbei ist es möglich, die Schichtdicke entsprechend der Anforden den vorgegebenen Punkten der Oberfläche des Schichtdickennormales oder als arithmetische mittlere Schichtdicke oder als geometrische mittlere Schichtdicke auf der vorgegebenen Fläche des Substrates, weil die Methode auf Grund der Messdaten ermöglicbstrat als auch zwischen Schicht und Umkreisung topographisch zu bestimmen. Die entsprechend der Definition der Schichtdicke übereinstimmende direkte Messung der Schichtdicke in der vorgeschlagenen Methode wird mit dem Erhalten der die Topographie der Substratoberfläche und der Oberfläche der gesamten Schicht charakterisierten Messdaten durch ein berührungsloses oder berührendes Abtasten der Flächen in bedeutendem Ausmaß die Genauigkeit der Kalibrierung von Schichtdickennormalen erhöhen.

Description

  • Die Erfindung gehört zu dem Bereich des Messwesens und kann zum Kalibrieren der Schichtdickennormale angewendet werden.
  • Die Schichtdickennormale ist zur Verkörperung, Aufbewahrung und Reproduzierung des bestimmten Wertes der Schichtdicke vorgesehen. Als Konstruktion stellen diejenige aus vorgegebenem Material gewöhnlich Parallelepipeden oder anderen Grundlagen dar, wobei die Schicht, deren Dicke genau gemessen wird, in die Mitte deren Oberfläche oder in die auf der Oberfläche gebildete rechteckige Nut Substrate vorgegebenem Material aufgetragen ist.
  • Die Schichtdickennormale ist als die Arbeitsnormale zur Kalibrierung von Geräten mit unterschiedlichem Arbeitsprinzip zur zerstörungsfreien Messung der Dicke dünner Schichten vorgesehen. Nur mit dem kalibrierten Schichtdickenmessgerät kann ein rückverfolgbares und zuverlässiges Messergebnis der Schichtdicke gewährleistet werden.
  • Die Schichtdickennormale als Glied einer Rückverfolgbarkeitskette muss auch kalibriert sein.
  • Bekannt ist die Methode zur Kalibrierung von Schichtdickennormalen mit einer Nut (SU 813129), die darin besteht, dass die Oberfläche des Substrates und die Grundfläche der auf der Ober fläche gebildeten rechteckigen Nut der Schichtdickennormalen mit Hilfe eines Schleifsteines möglichst eben und spiegelglatt bearbeitet sind. Eine solche Bearbeitung ermöglicht, die Tiefe der auf der Oberfläche gebildeten Nut von der Oberfläche der bis zum Boden der Nut z. B. mit Hilfe der Interferenzmethode mit hoher Genauigkeit zu messen. Nach der Tiefemessung der Nut wird die auf ein Normal formierte Nut mit vorgegebenem Material so beschichtet, dass die Oberfläche der Schicht im Vergleich mit der Oberfläche des Substrats zusammengefallen ist. Dann wird die Übereinstimmung der Oberflächen des Substrats und der Schicht kontrolliert. Auf diese Weise wird durch die Beschichtung der Nut auch das Schichtdickennormal durch das Messergebnis der Tiefe der Nut kalibriert.
  • Die Lückenhaftigkeit dieser Methode besteht darin, dass die Fertigungstechnologie für die Übereinstimmung der Oberfläche der in die Nut beschichtete Schicht und der Oberfläche des Substrats sehr arbeitsaufwendig und problematisch wird. Dieses aber wirkt gerade auf die Genauigkeit der Kalibrierung aus. Ebenso kann man diese Methode nur bei derartigen Schichtdickennormalen benutzt werden, bei denen die Schicht in die auf der Oberfläche des Schichtdickenormales formierte Nut, deren Tiefe vorher gemessen ist, aufgetragen wird.
  • Bekannt ist auch die Kalibriermethode von Stufen-Schichtdickennormalen (SU 1337646), bei den die Schicht in der Mitte der Oberfläche des Substrats der Schichtdickennormalen aufgetragen wird. Diese Methode basiert auf der Anwendung des Tastschnittgerätes „Profilometer-Profilograf". Bei dieser Methode wird neben der Stufen-Schichtdickennormalen auf der Grundlage des analogischen Normalelementes, dessen Oberfläche vorher kalibriert wurde, so aufgetragen, dass die Oberfläche des Elements und der Schichtdickennormalen gleich hoch und die Oberfläche des Elements die Verlängerung für die Oberfläche der Schichtdickennormalen ist. Mit Hilfe der Kontaktmethode wird mit dem empfindlichen Taster des Tastschnittgerätes die Oberfläche der Grundlage und der Schicht der Stufen- Schichtdickennormalen mit einem bestimmten Schritt von der Oberfläche des seitlich gelegenen Elements als Basis hin und her getastet. Durch die Auswertung der Messdaten wird die mittlere Schichtdicke des Schichtdickennormales berechnet und ableitend daraus bekommt man das Kalibrierergebnis.
  • Die Lückenhaftigkeit dieser Methode besteht darin, dass diese Methode nur die Kalibrierung von Stufen-Schichtdickennormalen ermöglicht. Gleichzeitig erfordert diese Methode die Existenz der sehr genauen und zusätzlichen Substratfläche, von der ausgehend die Schichtdicke der Schichtdickennormalen bei der Kalibrierung berechnet wird.
  • Ebenso ist die Kalibriermethode zur Kalibrierung von Stufen-Schichtdickennormalen (EVS Teataja, 1999. N 7, 8. S. 13–17, 3) bekannt, bei der die Oberfläche ohne Schicht und die Oberfläche der Schicht der Schichtdickennormalen mit dem Taster des Tastschnittgerätes abgetastet wird. Es wird in einem bestimmten Umfang in drei oder mehr voneinander unabhängigen bestimmten Abständen in den Querrichtungen getastet und danach die Schichtdicke aus den verschiedenen Profillinien berechnet.
  • Die Lückenhaftigkeit dieser technischen Lösung besteht darin, dass diese Methode nur für die Kalibrierung in den bestimmten Schnittflächen der Stufen-Schichtdickennormale gebraucht werden kann. Gleichfalls findet Abschätzen der Schichtdicke aus den von Oberflächen der Schichtdickennormalen erhaltenen Profillinien von dem anliegenden Substrat statt.
  • Bekannt ist auch die Methode zur Kalibrierung von Stufen-Schichtdickennormalen (Hoffmann, et al Surface and Coating Technology 169-170 (2003) pp 732-734), die darin besteht, dass die Oberfläche der Schichtdickennormalen topographisch getastet wird. Aus der resultierenden topographischen Abbildung wird die Schichtdicke abgeschätzt.
  • Die beschriebene technische Lösung ist die nächstliegende Lösung zu hier vorgeschlagen Erfindung und wird deshalb als gattungsgemäße Lösung gewählt.
  • Die Lückenhaftigkeit der beschriebenen technischen Lösung besteht darin, dass diese Methode zur Kalibrierung der Stufen-Schichtdickennormale gebraucht werden kann. Diese Lösung ermöglicht die Messung der Schichtdicke nur ausgehend von der topographischen Abbildung des anliegenden Substrats, gesetzt den Fall, dass diese topographische Abbildung der anliegenden Substratfläche unterhalb der Schicht entsteht. Weil die Schichtdicke als Abstand zwischen der oberen und unteren Grenzfläche der Schicht definiert ist, geht mit der angebenen Methode das erhaltene Kalibrierergebnis nicht von der unteren Grenzfläche der Schicht, sondern von der anliegenden Substratfläche und deren topographischer Abbildung aus, welche die Genauigkeit aber markant vermindert.
  • Ziel für die als Erfindung der vorgeschlagenen Kalibriermethode ist eine Allgemeingültigkeit von Kalibriermöglichkeiten für die konstruktiv verschiedenen Schichtdickennormalen und eine Erhöhhung der Genauigkeit der Kalibrierung von Schichtdickennormalen.
  • Das Ziel wird dadurch erreicht, dass die Oberfläche des Substrats oder die Oberfläche mit der in die Oberfläche gebildeten rechteckigen Nut der Schichtdickennormalen vor der Beschichtung und die Oberfläche der Schichtdickennormalen nach der Beschichtung dreidimensional (topographisch) vermessen und aus diesen Messergebnissen mit der Hilfe des Messmodells die Schichtdicke des Schichtdickennormales berechnet wird. Dabei wird die Messung der oben genannten Flächen über das gesamte vorgegebene Gebiet mit Hilfe des Abtastens der Oberflächen durchgeführt. Die topographische Messdaten (topographische Abbildungen) werden gespeichert und auf dem Bildschirm des Rechners angezeigt. Danach werden die gleichen Bereiche der topografischen Abbildungen, die vor und nach der Beschichtung mit Hilfe des Abtastens der Oberflächen erhalten sind, miteinander angepasst und in einem Messmodell erfasst. Das Kalibrierergebnis wird durch die Benutzung des Messmodells berechnet und erscheint mit der Messunsicherheit auf dem Bildschirm. Dabei kann man als Messmo dell die mathematischen Zusammenhänge der Dicke in bestimmten Punkten oder der mittleren Dicke oder der geometrischen Dicke und der Messunsicherheiten von Messergebnissen der Schicht, die sich zwischen den beiden Abbildungen bildet, nutzen. Als Messmodell kann man auch die Zusammenhänge des Abstandes zwischen beiden Abbildungen in beliebigen Punkten des Substrats mit Koordinaten X und Y nutzen. Bei der vorgeschlagenen Methode kann man die Messdaten der topographischen Abbildungen des Schichtdickennormales auf dem Datenträger speichern, genannten Daten auf dem Bildschirm des Rechners anführen, die gleichen Bereiche der topographischen Abbildungen, die vor und nach der Beschichtung des Schichtdickennormales erhalten sind, übereinstimmend machen und dadurch das Messmodell verfassen. Auf Grund von oben genannter Beschreibung kann man die Dicke im bestimmten Punkt oder die mittlere Dicke oder die geometrische Dicke und die Messunsicherheit von Messergebnissen berechnen und auf dem Bildschirm des Rechners zeigen.
  • Zur Erklärung der beschriebenen Methode sind die folgenden Figuren vorgelegt:
  • In der 1 ist die Nachbildung der vorgezeigten topographischen Abbildung auf dem Bildschirm des Rechners bei der topographischen Messung der Grundlage des Stufen-Schichtdickennormales und auf Grund der bekommenden Messdaten dargestellt.
  • In der 2 ist die Nachbildung der vorgezeigten topographischen Abbildung auf dem Bildschirm des Rechners bei der topographischen Messung der Grundlage der Schichtdickennormalen mit der Nut und auf Grund der erhaltenen Messdaten dargestellt.
  • In der 3 ist die Nachbildung der vorgezeigten topographischen Abbildung auf dem Bildschirm des Rechners bei der topographischen Messung der Oberfläche des Stufen-Schichtdickennormales nach der Beschichtung und auf Grund der erhaltenen Messdaten dargestellt.
  • In der 4 ist die Nachbildung der vorgezeigten topographischen Abbildung auf dem Bildschirm des Rechners bei der topographischen Messung der Oberfläche des Schichtdickennormales mit der Nut nach der Beschichtung und auf Grund der erhaltenen Messdaten dargestellt.
  • In der 5 ist auf dem Bildschirm des Rechners eine auf Grund der Zusammensetzung von der in den 1 und 3 gezeigten Abbildungen erhaltene Nachbildung, wo die gleichen Bereiche der topografischen Abbildungen übereinstimmend gemacht sind, dargestellt.
  • In der 6 wird auf dem Bildschirm des Rechners eine auf Grund der Zusammensetzung von den in den 2 und 4 gezeigten Abbildungen erhaltene Nachbildung, wo die gleichen Bereiche der topografischen Abbildungen übereinstimmend gemacht sind, dargestellt.
  • Die Realisierung der Methode wird folgend abgehandelt. Das Substrat der Schichtdickennormalen, deren Oberfläche mit einer bestimmten Methode möglichst eben und spiegelglatt verarbeitet wurde, oder des Substrats mit ebener und glatter Oberfläche und mit in der Oberfläche des Substrats gebildeter, rechteckiger Nut, deren Grundfläche eben, glatt und parallel mit der Oberfläche des Substrats ist, wird auf dem Messtisch des Messgerätes befestigt, z. B. auf einem Messtisch des Messkomplexes „Perthometer Concepts" zur Messung der Rauheit und der Form von Oberflächen. Dabei ist die Steuerschraube des Messtisches in der Querrichtung mit einem Schrittmotor fest gekoppelt, z. B. mit dem Schrittmotor „Stepper motor for crosstable PKT range adjustemnt 0,24-17,5 mm", wobei der Schrittmotor mit einem Steuerprogramm, z. B. mit „Perthometer concept Option. Topography", gesteuert wird. Mit einem Messgerät, z. B. mit dem Messkomlpex „Perthometer Concept", wird oben genannte Oberfläche oder werden oben genannte Oberflächen des Substrates der Schichtdickennormalen mit dem entsprechenden Sensor berührungslos oder berührend abgetastet oder gescannt. Die erhaltenen Messdaten werden auf einem Datenträger gespeichert, z. B. in dem Datenspeicher des Rechners des Messkomplexes. Auf Grund der Messdaten wird danach auf dem Bildschirm des Rechners, abhängig von dem Typ der Schichtdickennormalen, eine topographische Abbildung der Oberfläche ähnlich der entweder in 1 oder in 2 gezeigten Nachbildung angezeigt. Die Messdaten der topografischen Abbildung werden für die weitere Verwendung im Rechner oder in separaten Datenträgern, z. B. in Memorysticks, gespeichert. Danach wird das Substrat der Schichtdickennormalen von dem Messtisch genommen. Mit der abgestimmten Methode, abhängig von benötigten Materialien der Schicht und des Substrats, wird die Schicht entweder auf die Mitte der Oberfläche des Substrats oder auf die Grundfläche der auf die Oberfläche der Grundlage gebildeten rechteckigen Nut aufgetragen, wobei die Schichtdickennormale fertiggestellt ist. Als nächstens wird die Schichtdickennormale wieder auf demselben Messtisch des Messgerätes, hier des Messkomplexes „Perthometer Concept", befestigt. Die Messung der Oberfläche der Schichtdickennormalen wird mit Hilfe eines berührungslosen oder berührenden Sensors nahezu von derselben Stelle (Punkt), aus begonnen, von der auch die Messung der Oberfläche der Schichtdickennormalen vor die Beschichtung gestartet wurde. Auf Grund des Abtastens (des Scannens) der Oberfläche der Schichtdickennormalen werden, abhängig von dem Typ der Schichtdickennormalen, topografische Abbildungen der Oberflächen ähnlich der entweder in 3 oder in 4 gezeigten Nachbildungen angezeigt.
  • Abhängig von dem Typ des Schichtdickennormales, werden dann mit den topographischen Daten oder von dem Bildschirm des Rechners gemeinsame Bereiche der topografischen Abbildungen der Oberfläche des Substrates, die vor und nach der Beschichtung gemessen wurde, zueinander angepasst. Das heißt, die in den 1, 2, 3 und 4 dargestellten topographischen Bereiche 1 und 2 oder 3 und 4, die mit Hilfe der Zusammenstellung der obengenanten Abbildungen auf dem Bildschirm des Rechners erhältlichen Nachbildungen der Abbildungen sind in den 5 und 6 gezeigt. Dabei sind als Ergebnis der Übereinstimmung der gemeinsamen Bereichen 1 und 2 oder 3 und 4 der in den 1 und 2 oder in den 3 und 4 gezeigten Abbildungen die zusammengestellten topographischen Bereiche 5 und 6 herausgekommen.
  • Als Ergebnis der Kalibrierung der Schichtdickennormalen wird jetzt das Messmodell zur Errechnung des Wertes der Schichtdicke in einem beliebigen Punkt oder der mittleren Schichtdicke oder der geometrischen Schichtdicke des Schichtdickennormales und der Messunsicherheiten dieser Werte brauchbar. Das Messmodell ist abhängig von den Messdaten der Zwischenschicht, von topographischen Abbildungen, von der Kalibrieraufgabe (welche Schichtdicke, die Schichtdicke in dem vorgegebenen Punkt, die mittlere Schichtdicke usw.) und von dem vorgegebenen Berechnungszusammenhang zusammengestellt. Auf dem Bildschirm des Rechners wird diese Zwischenschicht durch die in den 5 und 6 gezeigten Teilen 7 und 8 charakterisiert.
  • Bei der Kalibrierung registrierte Messdaten, die die Gestalt der in den 5 und 6 gezeigten topographischen Abbildungen annehmen, ist es möglich, den Standort des beliebigen Punktes der Abbildung in dem Querkoordinatensystem auf der Oberfläche der Schichtdickennormalen festzusetzen. Jeder Punkt auf der Oberfläche der Schicht wird mit dem Abstand von diesem Punkt bis dem Punkt, der auf der Oberfläche des Subtrats oder der Grundfläche der Nut unterhalb dieses Punktes liegt, definiert, d. h. als Schichtdicke definiert.
  • Die erhaltenen topographischen Messdaten oder diese Daten in Form der topographischen Abbildungen werden mit zwei dreidimensionalen Matrixen vorgelegt, die die Fläche der Oberfläche der Schicht und die unter der Schicht gelegenen Oberfläche des Substrats beschreiben. Die Koordinaten der Punkte beider Flächen werden gewöhnlich in der Form (X, Y, Z) angegeben, wobei die Koordinaten X und Y die horizontale Position des Punktes bestimmen und die Koordinate Z die vertikale Höhe von dem Punkt der horizontalen Position, d. h. die Schichtdicke, bestimmt.
  • Bei der Berechnung der mittleren Schichtdicke werden die Z-Koordinaten der Punkte der gefundenen topographischen Abbildungen auf die zwei Ebenen, d. h. auf die vorstellbare Ebene der Grundfläche der Schicht und auf die vorstellbare Ebene der Oberfläche der Schicht, unter Nutzung der in Mathematik bekannten Methode der kleinsten Quadrate untergebracht und auf Grund derselben wird das Messmodell verfasst. Der erhaltene Abstand zwischen den zwei Ebenen wird in dem Messmodell an der gegebenen Schichtdickennormalen die mittlere arithmetische Schichtdicke oder von der Aufstellung der Übung, die geometrische Schichtdicke bestimmt.
  • Für die Berechnung der Schichtdicke in verschiedenen Punkten, d. h. in den Punkten mit den Koordinaten X und Y auf der Oberfläche der Schicht, kann man voraussehen, dass die Z-Koordinaten der Punkte für die Bestimmung der Schichtdicke die vollkommen gleichen Werte der Koordinaten X und Y haben und aus diesen das Messmodell verfasst wird.
  • Bei der weiteren periodischen Kalibrierung der Schichtdickennormalen werden die vor der Beschichtung bei dem Abtasten der Oberfläche des Substrats erhaltene und die mit dem Messgerät fixierten topographischen Messdaten oder auf Grund dieser Daten die topographischen Abbildungen, die ähnlich der in 1 oder 2 dargestellten Abbildung sind, verwendet. Diese topographischen Messdaten kann man auf dem Datenträger, z. B. auf dem Memorystick, das bei dem Satz der Schichtdickennormale zum Bestand gehört, speichern.
  • Bei der nächsten Kalibrierung des Schichtdickennormales werden vor der Kalibrierung die vor der Beschichtung erhältlichen topographischen Messdaten der Oberfläche des Substrats dieser Schichtdickennormalen in dem Rechner des Messgerätes, z. B. des in der diesen Methode beschriebenen Messgerätes, oder eines ähnlichen Messgerätes, gespeichert. Danach wird das Abtasten (das Scannen) der Oberfläche der Schichtdickennormalen mit Hilfe des oben genannten oder eines ähnlichen Messgerätes durchgeführt und als Ergebnis erhält man die topographischen Messdaten der Oberfläche der Schichtdickennormalen, die auf dem Datenträger, wo die topographischen Messdaten der Oberfläche zuvor gespeichert wurden, gespeichert werden können. Diese Messdaten kann man auch auf dem Bildschirm des Rechners des Messgerätes als Form, die in der 3 oder in der 4 dargestellt ist, vorlegen. Nachfolgend werden mit dem entsprechenden Programm die gemeinsamen topographischen Messdaten übereinstimmend gemacht. Diese gemeinsamen topographischen Daten charakterisieren die gemeinsamen Teilbereiche der Oberfläche des Substrats oder die gemeinsamen Teilbereiche der auf dem Bildschirm des Rechners erhältlichen Abbildungen. Als Ergebnis bekommt man die Teilbereiche 5 und 6 der topographischen Abbildungen, die in den 5 und 6 gezeigt sind. Für das Kalibrierergebnis braucht man die von den topographischen Messdaten gebildete Schicht 7 zwischen Abbildungen, die auf der 5 gezeigt ist, wenn die Stufen-Schichtdickennormale kalibriert wird, oder die von den topographischen Messdaten gebildete Schicht 8 zwischen Abbildungen, die auf der 6 gezeigt ist, wenn die Schichtdickennormale mit der Nut kalibriert wird. Auf Grund der topographischen Daten der Schicht zwischen den Abbildungen fängt das Programm an, auf der Basis des verfassten Messmodells die Schichtdicke und deren Messunsicherheit zu berechnen. Bei der Verwendung des oben beschriebenen Messmodells und des Rechnerprogramms wird durch die Bearbeitung der auf den Datenträger übergetragenen Messdaten oder der auf dem Bildschirm des Rechners das Kalibrierergebnis der Schichtdickennormalen, d. h. das Messergebnis der Schichtdicke nach Bedarf, das Messergebnis der Schichtdicke in einem vorgegebenen (gewissen) Punkt oder mittlere Schichtdicke oder geometrische Schichtdicke der Schichtdickennormalen mit der das erhaltene Ergebnis charakterisierten Messunsicherheit, das als Ergebnis der Wiederholungskalibrierung ist, erzielt. Entsprechend wird die Kalibrierung der Schichtdickennormalen jedes Mal bei der Wiederholungskalibrierung durchgeführt.
  • Der Effekt dieser Methode besteht darin, dass infolgedessen die Kalibrierung der Schichtdickennormalen die Schichtdicke direkt als der Abstand zwischen den zwei Grenzflächen der Schicht der Schichtdickennormalen gemessen werden kann, d. h. dass die Methode der Messprozedur, die genau auf die Definition der Schichtdicke erfüllt, realisiert wird. Ein Ergebnis der Verwendung der beschriebenen Methode ist auch die bedeutend höhere Genauigkeit der Kalibrierung.

Claims (5)

  1. Methode zur Kalibrierung von Schichtdickennormalen, bei der die Topographie eines Teiles eines Substrates ohne Beschichtung und eines beschichteten Teiles der Oberfläche der Schichtdickennormalen gemessen und auf Grund der erhaltenen Messdaten die Dicke der Schichtdickennormalen berechnet wird, dadurch gekennzeichnet, dass die Oberfläche des Substrates vor der Beschichtung und die Oberfläche der Schichtdickennormalen nach der Beschichtung topographisch gemessen werden, auf Grund der erhaltenen topographischen Messdaten und der Anwendung eines Messmodells die Schichtdicke so berechnet wird, dass die Dicke als die Schicht zwischen der aus den topographischen Messdaten vor und nach der Beschichtung erhaltenen Abbildungen definiert wird und diese Schicht aus der zweischichtigen Abbildung bei Überstimmung der gemeinsamen Bereiche der beiden topographischen Abbildungen der Oberfläche des Substrates hervorgeht.
  2. Methode nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass als Messmodell die Berechnungszusammenhänge der arithmetischen mittleren Dicke und deren Messunsicherheit der Schicht zwischen den Abbildungen auf einem vorgegebenen Flächenteil der topographischen Abbildung der Oberfläche des Substrates benutzt werden.
  3. Methode nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass als Messmodell die Berechnungszusammenhänge der geometrischen mittleren Dicke und deren Messunsicherheit der Schicht zwischen den Abbildungen auf dem vorgegebenen Flächenteil der topographischen Abbildung der Oberfläche des Substrates benutzt werden.
  4. Methode nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass als Messmodell die Berechnungszusammenhänge des Abstandes und dessen Messunsicherheit zwischen der Grenzfläche der Schicht zwischen den Abbildungen in den vorgegebenen Punkten der topographischen Abbildung der Oberfläche der Schicht benutzt werden.
  5. Methode nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass die Daten der topographischen Abbildungen auf einem Datenträger gespeichert werden, die Daten von dem Datenträger auf den Bildschirm des Rechners aufgeführt und auf dem Bildschirm des Rechners die gemeinsamen topographischen Bereiche der Oberfläche des Substrates des Normals bei der vor und nach Beschichtung erhaltenen topographischen Abbildungen übereinstimmend gemacht werden, auf der Grundlage derer das Messmodell verfasst und die arithmetische mittlere und geometrische mittlere Schichtdicke berechnet wird und die Werte der Schichtdicken in den vorgegebenen Punkten der Oberfläche der Schicht mit den entsprechenden Messunsicherheiten auf dem Bildschirm des Rechners angezeigt werden.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP2386822A3 (de) * 2010-05-10 2015-09-02 Helmut Fischer GmbH Verfahren und Vorrichtung zur Messung der Dicke dünner Schichten an großflächigen Messoberflächen

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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EP2386822A3 (de) * 2010-05-10 2015-09-02 Helmut Fischer GmbH Verfahren und Vorrichtung zur Messung der Dicke dünner Schichten an großflächigen Messoberflächen

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