DE102007039758B4 - Device and method for generating a plasma by low-frequency inductive excitation - Google Patents

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Abstract

Einrichtung (10) zur Erzeugung eines Plasmas durch induktive Anregung, umfassend einen Behälter (12) mit einem Gas, in welchem ein Plasma zu erzeugen ist, und eine Induktivität (18), die mit dem Gas induktiv gekoppelt ist, sowie eine Leistungsquelle, die geeignet ist, in der Induktivität (18) ein Wechselstromsignal mit einer Anregungsfrequenz ν von unter 200 kHz zu erzeugen, wobei der Behälter (12) sphärisch oder näherungsweise sphärisch ist und die Induktivität (18) durch eine Spule gebildet wird, die den Behälter (12) umgibt, wobei ferner der Behälter (12) einen Äquatorbereich (42) umfaßt, in dem seine Querschnittsfläche in einer Ebene senkrecht zum induzierten Magnetfeld von einem Maximalwert Amax auf einen Wert von Amax/2 abfällt, und zwei Polbereiche (44) umfaßt, in denen die Querschnittsfläche von Amax/2 auf Null abfällt, wobei mindestens eine Windung (18b, 18c) der Spule den Behälter (12) zumindest teilweise in dessen Äquatorbereich (42) umgibt und mindestens jeweils eine Windung...Device (10) for generating a plasma by inductive excitation, comprising a container (12) with a gas in which a plasma is to be generated, and an inductance (18) which is inductively coupled to the gas, and a power source which is suitable to generate an alternating current signal with an excitation frequency ν of less than 200 kHz in the inductance (18), the container (12) being spherical or approximately spherical and the inductance (18) being formed by a coil which the container (12 ), the container (12) further comprising an equatorial region (42) in which its cross-sectional area in a plane perpendicular to the induced magnetic field drops from a maximum value Amax to a value of Amax / 2, and comprises two pole regions (44) in which the cross-sectional area of Amax / 2 drops to zero, with at least one turn (18b, 18c) of the coil at least partially surrounding the container (12) in its equatorial region (42) and at least one turn each G...

Description

Die vorliegende Erfindung betrifft eine Einrichtung zur Erzeugung eines Plasmas durch induktive Anregung nach dem Oberbegriff des Anspruchs 1 sowie ein Verfahren zur Erzeugung eines Plasmas durch induktive Anregung nach dem Oberbegriff des Anspruchs 22.The present invention relates to a device for generating a plasma by inductive excitation according to the preamble of claim 1 and a method for generating a plasma by inductive excitation according to the preamble of claim 22.

Induktiv gekoppelte Plasmen wurden seit mindestens 100 Jahren erzeugt und untersucht, wie beispielsweise bei J. Hopwood, „Review of inductively coupled plasmas for plasma processing”, Plasma Sources Science and Technology, 1 (1992) 109–116 beschrieben ist. Ein besonderer Vorteil der Erzeugung eines Plasmas durch induktive Kopplung besteht darin, daß keine Elektroden in direktem Kontakt mit dem Plasma stehen müssen. Eine Einrichtung der eingangs genannten Art umfaßt ein Behälter mit einem Gas, in welchem ein Plasma zu erzeugen ist, und eine Induktivität, z. B. eine Spule, die mit dem Gas induktiv gekoppelt ist. Bei der induktiven Kopplung kann man die Induktivität als Primärwicklung eines Transformators auffassen, die in dem Gas ein magnetisches Wechselfeld erzeugt. Der sich zeitlich ändernde magnetische Fluß induziert in dem Gas eine elektromotorische Kraft, die bei ausreichender Stärke ein Plasma zünden und aufrechterhalten kann. Die Entladung im Gas stellt dabei ein elektrisch leitendes Fluid dar, und der Ladungsfluß im Plasma kann als eine einzelne Sekundärwicklung angesehen werden, die mit der Induktivität als Primärwicklung effektiv einen Transformator bildet.Inductively coupled plasmas have been produced and studied for at least 100 years, as described, for example, in J. Hopwood, "Review of inductively coupled plasma for plasma processing", Plasma Sources Science and Technology, 1 (1992) 109-116. A particular advantage of generating a plasma by inductive coupling is that no electrodes must be in direct contact with the plasma. A device of the type mentioned comprises a container with a gas in which a plasma is to be generated, and an inductance, for. B. a coil which is inductively coupled to the gas. In the case of inductive coupling, the inductance can be regarded as the primary winding of a transformer which generates an alternating magnetic field in the gas. The time-varying magnetic flux induces in the gas an electromotive force which, with sufficient strength, can ignite and maintain a plasma. The discharge in the gas thereby constitutes an electrically conductive fluid, and the charge flow in the plasma can be regarded as a single secondary winding, which effectively forms a transformer with the inductance as the primary winding.

Gegenwärtig werden induktiv gekoppelte Plasmen üblicherweise im Hochfrequenzspektrum angeregt. Dabei werden in den meisten Fällen kommerziell erhältliche 13,56 MHz Anregungsquellen verwendet.At present inductively coupled plasmas are usually excited in the high frequency spectrum. In this case, commercially available 13.56 MHz excitation sources are used in most cases.

Die Anmeldeschriften EP 0 849 766 A2 und WO 2003/030207 A1 offenbaren Plasmaerzeugungseinrichtungen zur Verwendung vornehmlich in der Halbleiterherstellung, bei denen ein Plasma in einem zylindrischen, von einer Spule umwickelten Behälter induktiv mit Wechselstrom angeregt wird. Als Anregungsfrequenz nennt die EP 0 849 766 A2 den Bereich von 100 kHz bis 100 MHz, vorzugsweise 300 kHz bis 3 MHz, die Anmeldeschrift WO 2003/030207 A1 ein Spektrum von 10 kHz bis 3 GHz, vorzugsweise aber 400 kHz bis 2 MHz.The registration forms EP 0 849 766 A2 and WO 2003/030207 A1 disclose plasma generating devices for use primarily in semiconductor manufacturing in which a plasma is inductively AC-energized in a cylindrical coil-wound container. As excitation frequency calls the EP 0 849 766 A2 the range of 100 kHz to 100 MHz, preferably 300 kHz to 3 MHz, the application letter WO 2003/030207 A1 a spectrum of 10 kHz to 3 GHz, but preferably 400 kHz to 2 MHz.

Die Patentschrift DE 198 25 056 C1 offenbart eine Schaltungsanordnung zum induktiven Einspeisen von Elektroenergie in ein Plasma im Frequenzbereich von 20 kHz bis 100 kHz. Die Anregung erfolgt über eine Ansteuerelektronik mit einem Endstufentreiber und einer Folgestufe aus zwei MOSFET und einem Hochspannungs-IGBT. Mit geeigneten Pulsmustern wird Energie in Form gepulster Gleichspannung oder Wechselspannung in die Plasmaquelle eingespeist.The patent DE 198 25 056 C1 discloses a circuit arrangement for inductively feeding electrical energy into a plasma in the frequency range from 20 kHz to 100 kHz. The excitation occurs via an electronic control unit with an output stage driver and a subsequent stage consisting of two MOSFETs and one high-voltage IGBT. With suitable pulse patterns, energy is fed into the plasma source in the form of pulsed DC voltage or AC voltage.

Die US 5,521,351 A zeigt eine Vorrichtung und ein Verfahren zum Behandeln des Innenraums eines Hohlkörpers mit Plasma. Der Innenraum des zu behandelnden Körpers wird zuerst evakuiert und dann mit einem Plasmagas gefüllt, so dass der Druck im Inneren des Hohlkörpers höher ist als außerhalb. Der hohle Körper ist von einer Induktionsspule umgeben, die an die Außenform des Körpers angepasst ist. Die Körper können insbesondere sphärisch sein. Durch Anlegen eines Wechselstromsignals an die Induktionsspule wird im Inneren des Körpers ein Plasma erzeugt. Die Anregungsfrequenzen liegen bei 450 kHz bis 27,1 MHz und beträgt im bevorzugten Ausführungsbeispiel bei 13,56 MHz.The US 5,521,351 A shows a device and a method for treating the interior of a hollow body with plasma. The interior of the body to be treated is first evacuated and then filled with a plasma gas, so that the pressure inside the hollow body is higher than outside. The hollow body is surrounded by an induction coil, which is adapted to the outer shape of the body. In particular, the bodies can be spherical. By applying an AC signal to the induction coil, a plasma is generated inside the body. The excitation frequencies are 450 kHz to 27.1 MHz and in the preferred embodiment is 13.56 MHz.

Der weitere Fortschritt bei der Erzeugung von induktiv angeregten Niederdruck-Entladungsplasmen wird vor allen Dingen von den zukünftig erreichbaren Elektronendichten abhängig sein. Obwohl die anteilsmäßige Ionisierung bei herkömmlichen induktiv gekoppelten Plasmen höher ist als bei kapazitiv gekoppelten Plasmen, ist sie doch insgesamt relativ niedrig. Gegenwärtig läßt sich durch induktive Anregung nur ein Bruchteil von 0,01 bis 0,1 der Gasatome im Plasma ionisieren. Wenn beispielsweise Entladungsplasmen für Belichtungsanwendungen mit einer Komponente im UV-Spektrum verwendet werden soll, wäre ein höheres Verhältnis von Ionen zu neutralen Atomen von großem Vorteil, da das Emissionsspektrum der angeregten Ionen im Vergleich zu demjenigen der angeregten neutralen Atome bei höheren Energien liegt. Im allgemeinen ist ein höherer Ionisationsgrad auch deshalb von Vorteil, weil sich dann bei gegebenem Gasdruck höherer Elektronendichten ergeben.The further progress in the generation of inductively excited low-pressure discharge plasmas will be dependent above all on the future achievable electron densities. Although the proportionate ionization is higher in conventional inductively coupled plasmas than in capacitively coupled plasmas, it is overall relatively low. At present, only a fraction of 0.01 to 0.1 of the gas atoms in the plasma can be ionized by inductive excitation. For example, if discharge plasmas are to be used for UV component imaging applications, a higher ion to neutral ratio would be of great benefit since the emission spectrum of the excited ions is higher than that of the excited neutral atoms at higher energies. In general, a higher degree of ionization is also advantageous because then arise at a given gas pressure higher electron densities.

Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, eine Vorrichtung und ein Verfahren zum Erzeugen eines Plasmas durch induktive Anregung anzugeben, mit denen sich höhere Elektronendichten im Plasma erreichen lassen.The invention has for its object to provide an apparatus and a method for generating a plasma by inductive excitation, which can be achieved with higher electron densities in the plasma.

Diese Aufgabe wird durch eine Einrichtung mit den Merkmalen des Anspruchs 1 und ein Verfahren mit den Merkmalen des Anspruchs 22 gelöst. Vorteilhafte Weiterbildungen sind in den abhängigen Ansprüchen angegeben.This object is achieved by a device having the features of claim 1 and a method having the features of claim 22. Advantageous developments are specified in the dependent claims.

Gemäß der Erfindung wird bei der Einrichtung zur Erzeugung eines Plasmas eine Leistungsquelle verwendet, die geeignet ist, in der Induktivität ein Wechselstromsignal mit einer Anregungs-Frequenz ν von unter 200 kHz, vorzugsweise unter 100 kHz, besonders vorzugsweise von 1 kHz bis 50 kHz und insbesondere von 10 kHz bis 30 kHz zu erzeugen. Dabei weist der Begriff „Wechselstromsignal” darauf hin, daß der Anregungsstrom in der Induktivität nicht notwendigerweise ein CW-Signal sein muß, sondern es kann sich auch beispielsweise um eine gedämpfte Schwingung mit nur einigen wenigen Nulldurchgängen handeln. According to the invention, a power source is used in the device for generating a plasma, which is suitable in the inductance, an AC signal with an excitation frequency ν of less than 200 kHz, preferably less than 100 kHz, particularly preferably from 1 kHz to 50 kHz and in particular from 10 kHz to 30 kHz. In this case, the term "AC signal" indicates that the excitation current in the inductance does not necessarily have to be a CW signal, but it may also be, for example, a damped oscillation with only a few zero crossings.

Der wesentliche Unterschied der Erfindung gegenüber bekannten Einrichtungen und Verfahren zur Erzeugung induktiv gekoppelter Plasmen besteht in den vergleichsweise sehr niedrigen Anregungsfrequenzen im kHz-Bereich. Der Erfindung liegt die Erkenntnis zugrunde, daß sich höhere Elektronendichten als in bisherigen Einrichtungen und Verfahren durch Absenken der Anregungsfrequenz erreichen lassen. Der Zusammenhang zwischen der Anregungsfrequenz und der erreichbaren Elektronendichte ergibt sich wie folgt.The essential difference of the invention over known devices and methods for producing inductively coupled plasmas consists in the comparatively very low excitation frequencies in the kHz range. The invention is based on the finding that higher electron densities than in previous devices and methods can be achieved by lowering the excitation frequency. The relationship between the excitation frequency and the achievable electron density is as follows.

Im allgemeinen wird bei einer induktiv gekoppelten Plasmaentladung die Leistung des anliegenden elektrischen Feldes innerhalb einer gewissen Skintiefe δ übertragen, siehe z. B. J. T. Gudmundsson and M. A. Liebermann: „Magnetic induction and plasma impedance in a planar inductive discharge”, Plasma Sources Science and Technology, 7 (1998) 83–95. Bei einem stoßdominierten Plasma, d. h. bei einem Plasma, bei dem die Frequenz νc der Kollisionen zwischen Elektronen und Neutralgasteilchen sehr viel größer als die Anregungsfrequenz ν ist, wurde gezeigt, daß eine maximale Effizienz der Einkopplung von Energie bei einer Skintiefe von δ = 0,57rp (1) auftritt, wobei rp der Radius des Plasmas ist, der in guter Näherung mit dem Radius des Entladungsbehälters gleichgesetzt werden kann. Die obige Gleichung (1) ist bei M. A. Lieberman und A. J. Lichtenberg: „Principles of Plasma Discharges and Materials Processing”, Wiley & Sons, New Jersey, 2005 und bei J. Reece Roth: „Industrial Plasma Engineering Volume 1”, IoP (Institute of Physics Publishing), 2003 hergeleitet. Dies bedeutet, daß die Skintiefe durch den konstrutiven Aufbau bereits im wesentlichen festgelegt ist. Für die Dichte der von dem Plasma absorbierten Leistung ẇabs gilt folgende Beziehung:

Figure 00040001
wobei E die elektrische Feldstärke und σp die räumlich und zeitlich gemittelte Leitfähigkeit des Plasmas ist, für die gilt
Figure 00040002
In general, the power of the applied electric field is transmitted within a certain skin depth δ in an inductively coupled plasma discharge, see, for. BJT Gudmundsson and MA Lieberman: "Magnetic induction and plasma impedance in a planar inductive discharge", Plasma Sources Science and Technology, 7 (1998) 83-95. In a shock-dominated plasma, ie, a plasma in which the frequency ν c of the collisions between electrons and neutral gas particles is much larger than the excitation frequency ν, it has been shown that a maximum efficiency of coupling energy at a skin depth of δ = 0.57r p (1) occurs, where r p is the radius of the plasma, which can be equated to a good approximation with the radius of the discharge vessel. Equation (1) above is described by MA Lieberman and AJ Lichtenberg: "Principles of Plasma Discharge and Materials Processing", Wiley & Sons, New Jersey, 2005 and J. Reece Roth: "Industrial Plasma Engineering Volume 1", IoP (Instit of Physics Publishing), 2003. This means that the skin depth is already essentially determined by the construtive structure. The density of the power absorbed by the plasma ẇ abs is as follows:
Figure 00040001
where E is the electric field strength and σ p is the spatially and temporally averaged conductivity of the plasma, for which applies
Figure 00040002

Durch Einsetzen der Gleichungen (1) und (3) in die Gleichung (2) ergibt sich folgende Beziehung:

Figure 00050001
Substituting equations (1) and (3) into equation (2) gives the following relationship:
Figure 00050001

Aus Gleichung (4) erkennt man, daß die vom Plasma absorbierte Leistungsdichte invers proportional zur Anregungsfrequenz ν ist. Dies bedeutet also, daß sich unter sonst gleichen Bedingungen, wie induzierte Feldstärke Eeff und Plasmaradius rp mit niederfrequent angeregten Plasmen höhere Leistungsdichten erzielen lassen. Da wie eingangs erwähnt bei herkömmlichen induktiv gespeisten Plasmen Anregungsfrequenzen im MHz-Bereich verwendet werden, sollte sich die absorbierte Leistungsdichte wesentlich erhöhen lassen, wenn die Anregungsfrequenz gemäß der Erfindung abgesenkt wird, und insbesondere eine Anregungsfrequenz von unter 200 kHz verwendet wird. Dies wurde in ersten Experimenten auch bestätigt.It can be seen from equation (4) that the power density absorbed by the plasma is inversely proportional to the excitation frequency ν. This means that higher power densities can be achieved under otherwise identical conditions, such as induced field strength E eff and plasma radius r p with low-frequency excited plasmas. Since excitation frequencies in the MHz range are used in conventional inductively supplied plasmas as mentioned above, the absorbed power density should be substantially increased when the excitation frequency is lowered according to the invention, and in particular an excitation frequency below 200 kHz is used. This was also confirmed in first experiments.

Das Ergebnis von Gleichung (4) erlaubt auch eine Abschätzung der erreichbaren Elektronendichten. Im Geltungsbereich der Gleichung (1) skaliert die Elektronendichte ne linear mit der eingespeisten Leistung, wie beispielsweise von Hopwood et al. experimentell bestätigt wurde, siehe J. Hopwood et al.: J. Vac. Sci. Technol. All: 152, (1993). Für die im Plasma dissipierte Leistung gilt dann: diss = neuBAeffWT, (5) wobei uB die Bohm'sche Geschwindigkeit ist, Aeff die effektive Oberfläche des Entladungsbehälters und WT der totale Energieverlust pro erzeugtem Ladungsträgerpaar nach Liebermann und Lichtenberg (siehe oben), der sich aus Strahlungsverlusten und Verlusten an kinetischer Energie zusammensetzt, die auftritt, wenn die Ladungsträger die Gefäßwand erreichen. Die „effektive Oberfläche” Aeff entspricht bei sphärischen Behältern der geometrischen Oberfläche, kann jedoch bei anderen Gefäßformen, beispielsweise zylindrischen Gefäßen, ungefähr 10% geringer als die geometrische Oberfläche sein.The result of equation (4) also allows an estimation of the achievable electron densities. Within the scope of equation (1), the electron density n e scales linearly with the injected power, as described, for example, by Hopwood et al. was experimentally confirmed, see J. Hopwood et al .: J. Vac. Sci. Technol. All: 152, (1993). For the power dissipated in the plasma then: diss = n e u B A eff W T , (5) where u B is Bohm's velocity, A eff is the effective surface area of the discharge vessel and W T is the total energy lost per Liebermann and Lichtenberg charge carrier pair (see above), which is composed of radiation losses and kinetic energy losses that occurs when the charge carriers reach the vessel wall. The "effective surface" A eff corresponds to spherical containers the geometric surface, however, may be about 10% less than the geometric surface for other vessel shapes, such as cylindrical vessels.

Die dissipierte Leistung Ẇdiss nach Gleichung (5) muß aufgrund der Energieerhaltung der insgesamt im Plasma absorbierten Leistung entsprechen. Die insgesamt absorbierte Leistung Ẇabs entspricht dem Volumintegral über die Leistungsdichte von Gleichung (4), die in einer qualitativen Betrachtung jedoch approximiert werden kann, indem die Leistungsdichte von Gleichung (4) mit dem Volumen Vp des Plasmas multipliziert wird, wodurch man erhält:

Figure 00060001
The dissipated power Ẇ diss according to equation (5) must correspond to the total power absorbed in the plasma due to the energy conservation. The total absorbed power Ẇ abs corresponds to the volume integral over the power density of equation (4), which can be qualitatively approximated by multiplying the power density of equation (4) by the volume V p of the plasma, yielding
Figure 00060001

Durch Gleichsetzen von Gleichungen (5) und (6) (Energieerhaltung) erhalten wir folgenden genäherten Ausdruck für die Elektronendichte:

Figure 00060002
By equating equations (5) and (6) (conserving energy) we obtain the following approximated expression for the electron density:
Figure 00060002

Wie Gleichung (7) zu entnehmen ist, ist die Elektronendichte ne in der Tat invers proportional zur Anregungsfrequenz ν, was wiederum bedeutet, daß sich höhere Elektronendichten ne bei niedrigeren Anregungsfrequenzen erhalten lassen. Daher löst die Erfindung die oben genannte Aufgabe durch die Verwendung niedrigerer Anregungsfrequenzen als im Stand der Technik.As can be seen from equation (7), the electron density n e is indeed inversely proportional to the excitation frequency ν, which in turn means that higher electron densities n e can be obtained at lower excitation frequencies. Therefore, the invention achieves the above object by using lower excitation frequencies than in the prior art.

Ferner erkennt man, daß die Elektronendichte ne proportional zum Verhältnis zwischen dem Volumen Vp und der effektiven Oberfläche Aeff ist. Dies bedeutet erstens, daß sich höhere Elektronendichten bei größeren Behältern erreichen lassen. Zweitens bedeutet dies, daß eine kugelförmige, d. h. sphärische Behältergeometrie, bei der das Verhältnis von Volumen zu Oberfläche maximal ist, ebenfalls für das Erreichen einer hohen Elektronendichte ne vorteilhaft ist.Furthermore, it can be seen that the electron density n e is proportional to the ratio between the volume V p and the effective surface A eff . This means, firstly, that higher electron densities can be achieved with larger containers. Second, this means that a spherical, ie spherical, vessel geometry in which the ratio of volume to surface is maximal, is also advantageous for achieving a high electron density n e .

Da im Rahmen der vorliegenden Erfindung Anregungsfrequenzen ν verwendet werden sollen, die rund drei Größenordnungen unter denjenigen liegen, die bei herkömmlichen induktiv gekoppelten Plasmen verwendet werden, wird eine vollständig neue Elektronik zum Antreiben der Induktivität benötigt. Eine Schwierigkeit liegt darin, daß zum Zünden und Aufrechterhalten des Plasmas eine gewisse induzierte elektrische Feldstärke notwendig ist. Mit anderen Worten muß die effektive Feldstärke Eeff aus der obigen Gleichung (4) einen minimalen Wert übersteigen, damit es überhaupt zur Zündung und Aufrechterhaltung des Plasmas kommt. Die induzierte Feldstärke ist ihrerseits abhängig von der Höhe der zeitlichen Ableitung des magnetischen Flusses im Plasmabehälter, der wiederum proportional zur zeitlichen Ableitung der Stromstärke in der Induktivität ist. Man kann also davon ausgehen, daß gewisse Stromanstiegsraten in der Induktivität nicht unterschritten werden dürfen, damit es zum Zünden und Aufrechterhalten eines Plasmas kommt. Je geringer die Anregungsfrequenz, desto höher muß die Stromamplitude in der Induktivität gewählt werden, um eine ausreichende Stromanstiegsrate zu erhalten. Um die erfindungsgemäßen niedrigen Anregungsfrequenzen vewenden zu können, muß daher also eine Leistungsquelle bereitgestellt werden, die geeignet ist, in der Induktivität ein Wechselstromsignal mit sehr hoher Amplitude zu erzeugen.Since excitation frequencies ν are to be used in the context of the present invention, which are about three orders of magnitude lower than those used in conventional inductively coupled plasmas, completely new electronics are required for driving the inductance. One difficulty is that a certain induced electric field strength is necessary to ignite and maintain the plasma. In other words, the effective field strength E eff from the above equation (4) must exceed a minimum value in order for ignition and maintenance of the plasma to occur at all. The induced field strength is in turn dependent on the magnitude of the time derivative of the magnetic flux in the plasma vessel, which in turn is proportional to the time derivative of the current in the inductor. It can therefore be assumed that certain current rise rates in the inductance must not be exceeded, so that it comes to the ignition and maintenance of a plasma. The lower the excitation frequency, the higher the current amplitude in the inductance must be selected in order to obtain a sufficient current increase rate. In order to be able to use the low excitation frequencies according to the invention, therefore, a power source must be provided which is suitable for generating a very high amplitude alternating current signal in the inductance.

In einer vorteilhaften Ausführungsform der Erfindung umfaßt die Leistungsquelle mindestens einen Kondensator, der auf eine Betriebsspannung aufladbar ist, und mindestens ein Schaltelement, welches in einen leitenden Zustand schaltbar ist und so angeschlossen ist, daß sich der mindestens eine Kondensator im leitenden Zustand des Schaltelementes durch die Induktivität entladen kann. Wie unten anhand von Ausführungsbeispielen näher erläutert wird, lassen sich mit einem derartigen Aufbau unter Verwendung moderner Leistungsschaltelemente ausreichend hohe Stromstärken erzeugen, die selbst bei den sehr niedrigen Anregungsfrequenzen der Erfindung zu einer Zündung des Plasmas führen.In an advantageous embodiment of the invention, the power source comprises at least one capacitor which can be charged to an operating voltage, and at least one switching element, which is switchable to a conductive state and is connected so that the at least one capacitor in the conductive state of the switching element through the Can discharge inductance. As will be explained in more detail below on the basis of exemplary embodiments, sufficiently high current intensities can be generated with such a design using modern power switching elements, which lead to an ignition of the plasma even at the very low excitation frequencies of the invention.

Vorzugsweise bilden der mindestens eine Kondensator und die Induktivität Komponenten eines nicht überdämpften elektrischen Schwingkreises, dessen Eigenfrequenz der genannten Anregungsfrequenz ν entspricht. Nach dieser Weiterbildung wird also das genannte Wechselstromsignal in einem elektrischen Schwingkreis gebildet, der den Kondensator und die Induktivität enthält. Die Induktivität L0 und die Kapazität C0 des Kondensators können dann so abgestimmt werden, daß der Schwingkreis mit der gewünschten Anregungsfrequenz schwingt. Bei der Schwingung des Schwingkreises handelt es sich um eine gedämpfte Schwingung, zum einen aufgrund des ohmschen Widerstands der Induktivität, vor allem aber wegen der induktiven Kopplung mit dem Plasma, die ja gewünscht ist, um Energie aufs Plasma zu übertragen. Durch diese beiden Dämpfungsquellen ergibt sich einerseits eine gegenüber dem ungedämpften Schwingkreis verringerte Eigenfrequenz und zum anderen das bekannte Abklingen der gedämpften Schwingung. Ein solches abklingendes gedämpftes Schwingungssignal ist ein Beispiel des oben genannten „Wechselstromsignals”.The at least one capacitor and the inductance preferably form components of an undamped electrical resonant circuit whose natural frequency corresponds to said excitation frequency v. After this development, therefore, said AC signal is formed in an electrical resonant circuit, which contains the capacitor and the inductor. The inductance L 0 and the capacitance C 0 of the capacitor can then be tuned so that the resonant circuit oscillates at the desired excitation frequency. In the oscillation of the resonant circuit is a damped oscillation, on the one hand due to the ohmic resistance of the inductance, but especially because of the inductive coupling with the plasma that is desired to transfer energy to the plasma. By these two damping sources results on the one hand compared to the undamped resonant circuit reduced natural frequency and on the other hand, the known decay of the damped oscillation. Such a decaying damped oscillation signal is an example of the above-mentioned "AC signal".

Wie eingangs erwähnt wurde, muß die Stromanstiegsrate in der Induktivität ausreichend groß sein, um eine Zündung und Aufrechterhaltung des Plasmas zu ermöglichen. Vorzugsweise wird die Leistungsquelle so konstruiert, daß folgende Beziehung gilt:

Figure 00080001
wobei ν wiederum die Anregungsfrequenz des Wechselstromsignals, I0 die maximale Amplitude des Wechselstromsignals, L0 die Induktivität und b den Umfang des Behälters in einer Ebene senkrecht zum von der Induktivität erzeugten Magnetfeld bezeichnet. Theoretische und experimentelle Untersuchungen des Erfinders haben ergeben, daß für diese Wahl der Parameter in der Tat eine Zündung und Aufrechterhaltung des Plasmas zu erwarten ist. Man beachte wiederum, daß gemäß der obigen Beziehung ein kleinerer Wert der Anregungsfrequenz ν eine um denselben Faktor höhere Stromstärke I0 erforderlich macht. Dies deutet wiederum darauf hin, daß bei den angestrebten sehr kleinen Anregungsfrequenzen hohe Ströme in der Induktivität benötigt werden. Der Erfinder konnte jedoch bestätigen, daß sich ausreichend hohe Ströme mit modernen Leistungsschaltelementen schalten lassen, wie unten anhand mehrerer Ausführungsbeispiele näher erläutert wird.As mentioned above, the rate of current rise in the inductor must be sufficiently large to allow ignition and maintenance of the plasma. Preferably, the power source is constructed so that the following relationship applies:
Figure 00080001
where ν again denotes the excitation frequency of the alternating current signal, I 0 the maximum amplitude of the alternating current signal, L 0 the inductance and b the circumference of the container in a plane perpendicular to the magnetic field generated by the inductance. Theoretical and experimental investigations of the inventor have shown that ignition and maintenance of the plasma are indeed to be expected for this choice of parameters. Note again that, according to the above relationship, a smaller value of the excitation frequency ν requires a current factor I 0 which is higher by the same factor. This in turn indicates that high currents are required in the inductance at the desired very small excitation frequencies. However, the inventor was able to confirm that sufficiently high currents can be switched with modern power switching elements, as will be explained in more detail below with reference to several exemplary embodiments.

Vorzugsweise umfaßt das Schaltelement mindestens einen Thyristor, mindestens einen IGBT (Insulated Gate Bipolar Transistor, Bipolartransistor mit isolierter Gateelektrode) oder mindestens einen Gasentladungsschalter wie beispielsweise ein Ignitron. Der Vorteil von Thyristoren besteht darin, daß sie besonders hohe Ströme schalten können. IGBTs können typischerweise nicht ganz so hohe Ströme schalten wie Thyristoren, haben aber dafür den Vorteil, daß sie gezielt ausgeschaltet werden können. Der Thyristor hingegen wird erst durch Unterschreiten eines Haltestroms in den Sperrzustand versetzt.Preferably, the switching element comprises at least one thyristor, at least one IGBT (insulated gate bipolar transistor, insulated gate bipolar transistor) or at least one gas discharge switch, such as an ignitron. The advantage of thyristors is that they can switch very high currents. IGBTs typically can not switch quite as high currents as thyristors, but have the advantage that they can be selectively switched off. The thyristor, however, is only offset by falling below a holding current in the blocking state.

In einer vorteilhaften Ausführungsform ist das Schaltelement zwischen dem Kondensator und dem Massepotential angeordnet. Bei einer derartigen Anordnung befindet sich die Induktivität vor dem Aktivieren des Schaltelements auf Massepotential, was Vorteile bezüglich der Betriebssicherheit mit sich bringt. In einer alternativen vorteilhaften Ausführungsform befindet sich das Schaltelement zwischen der Induktivität und dem Massepotential. Diese Anordnung ist in sofern vorteilhaft, als sie zur Vermeidung von parasitären Induktivitäten zwischen dem Schaltelement und dem Schwingkreis beiträgt.In an advantageous embodiment, the switching element is arranged between the capacitor and the ground potential. In such an arrangement, the inductance is at ground potential prior to activation of the switching element, which brings advantages in terms of reliability with it. In an alternative advantageous embodiment, the switching element is located between the inductance and the ground potential. This arrangement is advantageous in so far as it contributes to the avoidance of parasitic inductances between the switching element and the resonant circuit.

In einer besonders vorteilhaften Weiterbildung wird das Schaltelement durch eine Vollwegbrücke gebildet, die vier Schalter, insbesondere Thyristoren und/oder IGBTs umfaßt, die paarweise abwechselnd ansteuerbar sind. Solch eine Vollwegbrücke eignet sich insbesondere für einen „Quasi-CW-Betrieb”, insbesondere bei Anwendungen mit sehr hoher Leistung, wie sie beispielsweise bei der Sterilisation von großen Mengen von Trinkwasser durch Plasmaentladungsbestrahlung erforderlich sind. Ein Beispiel einer solchen Vollwegbrücke wird in der folgenden Beschreibung gezeigt.In a particularly advantageous development, the switching element is formed by a full-wave bridge, which comprises four switches, in particular thyristors and / or IGBTs, which can be controlled in pairs alternately. Such a full-wave bridge is particularly suitable for "quasi-CW operation", especially in very high power applications, such as those required in the sterilization of large quantities of drinking water by plasma discharge irradiation. An example of such a full-wave bridge will be shown in the following description.

Vorzugsweise haben der mindestens eine Kondensator oder eine Mehrzahl parallel geschalteter Kondensatoren eine Gesamtkapazität von 1 μF bis 100 μF, und besonders vorzugsweise von 6 μF bis 20 μF. Ferner ist in einer vorteilhaften Weiterbildung die Leistungsquelle dazu ausgelegt, maximale Stromanstiegsraten von 300 A/μs bis 30 kλ/μs, vorzugsweise von 1 kM/μs bis 10 kM/μs zu erzeugen. Ferner beträgt die Induktivität L0 vorzugsweise zwischen 1 μH bis 10 μH, und besonders vorzugsweise 1,5 μH bis 2,5 μH.Preferably, the at least one capacitor or a plurality of capacitors connected in parallel have a total capacitance of 1 μF to 100 μF, and more preferably from 6 μF to 20 μF. Furthermore, in an advantageous development, the power source is designed to generate maximum current rise rates of 300 A / μs to 30 kλ / μs, preferably from 1 kM / μs to 10 kM / μs. Further, the inductance L 0 is preferably between 1 μH to 10 μH, and more preferably 1.5 μH to 2.5 μH.

Wie aus der obigen Beschreibung deutlich wird, muß die Leistungsquelle dazu ausgelegt sein, relativ hohe Ströme mit verhältnismäßig hohen Stromanstiegsraten zu erzeugen. Jedoch zeigen die Parameterbereiche der bevorzugten Ausführungsformen, daß dies mit modernen Leistungselektronikbauteilen durchaus möglich ist, und weitere konkrete Beispiele werden in den nachfolgenden Ausführungsbeispielen gezeigt. Gleichzeitig hat jedoch der hier beschriebene Weg zusätzlich zu der potentiell höheren erreichbaren Elektronendichte auch weitere praktische Vorteile gegenüber herkömmlichen induktiven Plasmaanregungen im MHz-Bereich. Zum einen ist die in den Ausführungsbeispielen beschriebene Leistungsquelle in ihrem Aufbau wesentlich einfacher als HF-Quellen, und die bekannten EMV-Probleme der Hochfrequenztechnologie entfallen nahezu vollständig. Auch ist die kapazitive Kopplung zwischen der Induktivität und dem Plasma im Vergleich zur HF-Anregung vernachlässigbar.As will be apparent from the above description, the power source must be designed to produce relatively high currents at relatively high current rise rates. However, the parameter ranges of the preferred embodiments show that this is entirely possible with modern power electronics components, and further concrete examples are shown in the following embodiments. At the same time, however, the route described here, in addition to the potentially higher achievable electron density, also has other practical advantages over conventional inductive plasma excitations in the MHz range. On the one hand, the power source described in the embodiments is much simpler in construction than HF sources, and the known EMC problems of high-frequency technology are almost completely eliminated. Also, the capacitive coupling between the inductor and the plasma is negligible compared to RF excitation.

Ein weiterer Vorteil der erfindungsgemäßen Plasmaanregung besteht darin, daß das Plasma bereits aufgrund der verwendeten hohen Ströme eingeschlossen bzw. lokalisiert ist. Diesen Einschluß des Plasmas bezeichnet man in der Literatur oft als „confinement”. Bei HF-Plasmen werden statt dessen zusätzliche Spulen zum Lokalisieren des Plasmas benötigt, die bei der Erfindung wegfallen können. Obwohl also die ursprüngliche Motivation der Erfindung darin bestand, höhere Elektronendichten zu erzeugen, hat die Erfindung auch unabhängig davon eine Reihe konstruktive Vorteile, die bei HF-Anregung fehlen. Another advantage of the plasma excitation according to the invention is that the plasma is already trapped or localized due to the high currents used. This inclusion of the plasma is often called "confinement" in the literature. In RF plasmas, additional coils are needed instead to locate the plasma, which can be eliminated in the invention. Thus, although the original motivation of the invention was to produce higher electron densities, the invention also has a number of constructive advantages that are lacking in RF excitation.

Die Induktivität wird vorzugsweise durch eine Spule gebildet, die den Behälter umgibt. Die Spule hat dabei vorzugsweise eine Windungszahl n0 von zwei bis acht, und besonders vorzugsweise von vier bis sechs. Höhere Windungszahlen, die eine höhere Induktivität L0 mit sich brächten, sind deshalb unvorteilhaft, weil sie eine Erhöhung der Ladespannung des Kondensators erforderlich machen würden, die wiederum unter dem Gesichtspunkt der Einfachheit und Praktikabilität nicht wünschenswert ist. Wie eingangs erwähnt wurde, ähnelt nämlich die Wechselwirkung zwischen der Induktivität und dem Plasma derjenigen zwischen einer Primärspule und einer Sekundärspule eines Transformators, wobei die „Sekundärspule” durch den Ladungsstrom im Plasma gebildet wird und somit, um im Transformatorbild zu bleiben, lediglich eine „Windung” aufweist. Da die an der Induktivität anliegende Spannung gemäß dem Windungsverhältnis heruntertransformiert wird, sind Windungszahlen von weniger als acht im Hinblick auf die im Plasma induzierte Spannung vorteilhaft, weil dann die Primärspannung in einem unter praktischen Gesichtspunkten handhabbaren Bereich bleiben kann, beispielsweise unter 10 kV.The inductance is preferably formed by a coil surrounding the container. The coil preferably has a number of turns n 0 from two to eight, and particularly preferably from four to six. Higher numbers of turns, which would bring about a higher inductance L 0 , are disadvantageous because they would require an increase in the charging voltage of the capacitor, which in turn is undesirable from the point of view of simplicity and practicality. Namely, as mentioned above, the interaction between the inductance and the plasma resembles that between a primary coil and a secondary coil of a transformer, the "secondary coil" being formed by the charge current in the plasma and thus, to remain in the transformer image, only a "turn " having. Since the voltage applied to the inductance is stepped down according to the turns ratio, turns of less than eight are advantageous in terms of the voltage induced in the plasma, because then the primary voltage can remain in a practically manageable range, for example below 10 kV.

Vorzugsweise ist der Behälter, d. h. das Entladungsgefäß sphärisch oder näherungsweise sphärisch. Ein sphärischer, d. h. kugelförmiger Behälter hat den Vorteil, daß er ein großes Verhältnis zwischen Volumen und Oberfläche hat, was nach der obigen Gleichung (7) wiederum eine höhere Elektronendichte erlaubt. Insofern ist ein sphärischer Behälter für die Zwecke der Erfindung ideal. Ein „näherungsweise sphärischer” Behälter ist in der vorliegenden Schrift ein Behälter, dessen Form demjenigen eines sphärischen Behälters zumindest insofern ähnelt, als er ein Verhältnis von Volumen zur Oberfläche hat, das um weniger als 20% von demjenigen eines exakt sphärischen Behälters gleichen Volumens abweicht.Preferably, the container, i. H. the discharge vessel spherical or approximately spherical. A spherical, d. H. Spherical container has the advantage that it has a large volume / surface ratio, which in turn allows higher electron density according to equation (7) above. As such, a spherical container is ideal for the purposes of the invention. An "approximately spherical" container in the present specification is a container whose shape is similar to that of a spherical container, at least insofar as it has a volume to surface ratio that differs by less than 20% from that of an exactly spherical container of equal volume.

Ein sphärischer und ein „näherungsweise sphärischer” Behälter im Sinne der Offenbarung stimmen im übrigen insofern überein, als der Behälter einen Äquatorbereich umfaßt, in dem die Querschnittsfläche in einer Ebene senkrecht zum induzierten Magnetfeld von einem Maximalwert Amax auf einen Wert von Amax/2 abfällt, und zwei Polbereiche aufweist, in denen die Querschnittsfläche von Amax/2 auf Null abfällt. Insofern ist beispielsweise ein zylindrischer Behälter nicht „näherungsweise sphärisch”, weil er keinen Äquatorbereich und keine Polbereiche nach dieser Definition umfaßt.A spherical and an "approximately spherical" container in the sense of the disclosure also agree insofar as the container comprises an equatorial region in which the cross-sectional area in a plane perpendicular to the induced magnetic field from a maximum value A max to a value of A max / 2 decreases, and has two Polbereiche in which the cross-sectional area of A max / 2 drops to zero. As such, for example, a cylindrical container is not "approximately spherical" because it does not include an equatorial region and pole regions as defined herein.

Vorzugsweise umgibt mindestens eine der Windungen der Induktivität den Behälter zumindest teilweise in dessen Äquatorbereich und umgibt mindestens jeweils eine Windung den Behälter zumindest teilweise in dessen Polbereichen. Dabei weist der Begriff „zumindest teilweise” darauf hin, daß die Windung auch auf der Grenze zwischen dem Äquatorbereich und einem Polbereich liegen kann, was aufgrund der verhältnismäßig großen Breite der Leiterbänder der Induktivität durchaus den Fall sein kann. Gemäß dieser Weiterbildung gibt es also mindestens eine Windung im Äquatorbereich, die die Wirkung einer herkömmlichen Zylinderspule hat, und mindestens jeweils eine Windung in jedem der Polbereiche, die ihrer Wirkung nach einer planaren Spule ähnlich sind, die in der Fachliteratur auch als „pancake coil” bezeichnet wird.At least one of the turns of the inductance preferably surrounds the container at least partially in its equatorial region, and at least one turn in each case surrounds the container at least partially in its pole regions. The term "at least partially" indicates that the winding can also lie on the boundary between the equatorial region and a pole region, which may well be due to the relatively large width of the conductor strips of the inductance. According to this development, there is thus at least one winding in the equatorial region, which has the effect of a conventional cylindrical coil, and at least one turn in each of the pole regions, which are similar in effect to a planar coil, which in the literature as "pancake coil" referred to as.

Planare Spule haben den Vorteil, daß sie Streuflüsse verringern und dadurch eine erhöhte Kopplungseffizienz erlauben. In der hier beschriebenen vorteilhaften Weiterbildung kann die Spulenanordnung als Kombination einer herkömmlichen Zylinderspule und einer herkömmlichen Planarspule aufgefaßt werden, die die Vorteile beider Anordnungen vereint. Tatsächlich führt der hier beschriebene Aufbau dazu, daß ein ausreichender Teil der Streuflüsse in dem Plasma enthalten ist, wodurch eine erhöhte magnetische Kopplung und somit eine erhöhte Effizienz des Energietransfers zwischen der Induktivität und dem Plasma erreicht wird. Gleichzeitig ist die kapazitive Kopplung zwischen der Spule und dem Plasma trotz der Verwendung einer einer planaren Spule ähnlichen Geometrie im Vergleich zu einem HF-Betrieb vernachlässigbar.Planar coil have the advantage that they reduce leakage flux and thereby allow increased coupling efficiency. In the advantageous development described here, the coil arrangement can be understood as a combination of a conventional cylindrical coil and a conventional planar coil, which combines the advantages of both arrangements. In fact, the structure described here results in that a sufficient part of the leakage fluxes is contained in the plasma, whereby an increased magnetic coupling and thus an increased efficiency of the energy transfer between the inductance and the plasma is achieved. At the same time, despite the use of a planar coil-like geometry, the capacitive coupling between the coil and the plasma is negligible compared to RF operation.

Vorzugsweise umfaßt die Einrichtung eine Steuerung, die geeignet ist, das mindestens eine Schaltelement periodisch mit einer Pulsfrequenz so anzusteuern, daß es in seinen leitfähigen Zustand schaltet. Dadurch wird ein gepulster Betrieb der Einrichtung erreicht. Die Pulsfrequenz beträgt dabei mindestens 1 Hz, vorzugsweise mindestens 10 Hz und besonders vorzugsweise mindestens 50 Hz. Wenn das Wechselstromsignal beispielsweise innerhalb von 150 bis 200 μs abfällt, sind bei solchen Pulsfrequenzen die Anregungspulse bezogen auf ihre Länge jedoch immer noch zeitlich relativ weit voneinander entfernt, oder mit anderen Worten ist das Tastverhältnis verhältnismäßig niedrig. Durch Einstellen des Tastverhältnisses kann die Leistung der Einrichtung vorgegeben werden. Die Leistung kann erhöht werden, indem die Pulsfrequenz erhöht wird, bis im Extremfall ein „quasikontinuierlicher”, d. h. ein „Quasi-CW”-Betrieb erreicht wird. Ein echter CW-Betrieb scheidet für die meisten Anwendungen sicherlich aus, weil Stromstärken im Bereich von kA und Spannungen im Bereich von kV Spitzenimpulsleistungen im MW-Bereich implizieren. Lediglich in sehr großen Entladungskammern, deren Größenordnung im Bereich von 1 m bis 10 m liegen würde, könnte ein CW-Betrieb in Frage kommen.Preferably, the device comprises a controller which is suitable for periodically activating the at least one switching element at a pulse frequency in such a way that it switches to its conductive state. This achieves pulsed operation of the device. The pulse frequency is at least 1 Hz, preferably at least 10 Hz and particularly preferably at least 50 Hz. If the alternating current signal drops, for example, within 150 to 200 μs, at such pulse frequencies, the excitation pulses are still relatively distant in time relative to their length, or in other words the duty cycle is relatively low. Adjusting the duty cycle can improve performance the institution can be specified. The power can be increased by increasing the pulse rate until, in extreme cases, a "quasicontinuous", ie a "quasi-CW" operation is achieved. A true CW operation is certainly out of the question for most applications because current strengths in the range of kA and voltages in the range of kV imply peak pulse power in the MW range. Only in very large discharge chambers, whose order of magnitude would be in the range of 1 m to 10 m, could a CW operation come into question.

Die hier beschriebene Einrichtung zum Erzeugen eines induktiv gekoppelten Plasmas kann in einer Vielzahl von Anwendungen auf vorteilhafte Weise eingesetzt werden. Eine besonders vorteilhafte Anwendung der Erfindung besteht in einer Einrichtung zum Sterilisieren von Trinkwasser, bei der das zu sterilisierende Wasser in unmittelbarer Nähe einer Plasmaentladungsquelle vorbeigeführt oder durch sie hindurch geleitet wird, wobei die Plasmaentladungsquelle eine Einrichtung zur Plasmaerzeugung nach einer der oben beschriebenen Arten umfaßt. Die erfindungsgemäße Einrichtung zur Plasmaerzeugung ist für die Anwendung der Trinkwasseraufbereitung besonders vorteilhaft, weil sie eine hohe Leistung und hohe Elektronendichten ermöglicht und gleichzeitig aufgrund des Betriebs im kHz- statt im MHz-Bereich technologisch einfacher ist und insbesondere die bekannten EMV-Probleme der Hochfrequenztechnologie umgeht. In dieser Hinsicht eignet sich die erfindungsgemäße Einrichtung in idealer Weise für die Trinkwasseraufbereitung.The inductively coupled plasma generating device described herein may be used to advantage in a variety of applications. A particularly advantageous application of the invention consists in a device for sterilizing drinking water, in which the water to be sterilized is passed or passed through in the immediate vicinity of a plasma discharge source, wherein the plasma discharge source comprises a device for plasma generation according to one of the types described above. The plasma generation device according to the invention is particularly advantageous for the application of drinking water treatment, because it enables high power and high electron densities and at the same time is technologically simpler due to the operation in the kHz instead of in the MHz range and in particular circumvents the known EMC problems of high-frequency technology. In this regard, the device according to the invention is ideally suited for drinking water treatment.

Eine weitere sehr vorteilhafte Anwendung der Erfindung liegt in der Lithographie von Halbleiterstrukturen. Aufgrund der höheren erreichbaren Elektronendichte ne verschiebt sich das Emissionsspektrum in Richtung kürzerer Wellenlängen, so daß die Erfindung insbesondere für die Erzeugung kurzwelligen UV-Lichts, sogenannter V-UV-Strahlung, geeignet ist, die in der Halbleiterlithographie nützlich ist. Die Einrichtung ist darüber hinaus allgemein als Lichtquelle für kurzwellige UV-Strahlung einsetzbar.Another very advantageous application of the invention is in the lithography of semiconductor structures. Due to the higher achievable electron density n e , the emission spectrum shifts in the direction of shorter wavelengths, so that the invention is particularly suitable for the generation of short-wave UV light, so-called V-UV radiation, which is useful in semiconductor lithography. The device is also generally used as a light source for short-wave UV radiation.

Aufgrund der hohen erzielbaren Elektronendichte eignet sich die Erfindung ferner zur Erzeugung von industriellen Prozeßplasmen, wie sie z. B. in der Halbleiterindustrie bei Ionenätzprozessen (sog. Sputtern) verwendet werden.Due to the high achievable electron density, the invention is also suitable for the production of industrial process plasma, as z. B. in the semiconductor industry in ion etching processes (so-called sputtering) can be used.

Aufgrund der hohen Plasmadichten und Temperaturen eignet sich die erfindungsgemäße Vorrichtung ebenso als Plasmatriebwerk. Hierbei wird durch elektromagnetische Induktion Elektronen-los die Enthalpie eines Arbeitsgases erhöht und diese dann durch Gasexpansion über eine Düse zur Erzeugung eines Rückstoßes nutzbar gemacht.Due to the high plasma densities and temperatures, the device according to the invention is also suitable as a plasma engine. In this case, the enthalpy of a working gas is increased by electromagnetic induction electron-free and then made usable by gas expansion via a nozzle to generate a recoil.

Zum Besseren Verständnis der vorliegenden Erfindung wird im folgenden auf die in den Zeichnungen dargestellten bevorzugten Ausführungsbeispiele Bezug genommen, die anhand spezifischer Terminologie beschrieben sind. Es sei jedoch darauf hingewiesen, daß der Schutzumfang der Erfindung dadurch nicht eingeschränkt werden soll, da derartige Veränderungen und weitere Modifizierungen an der gezeigten Einrichtung und dem gezeigten Verfahren sowie derartige weitere Anwendungen der Erfindung, wie sie darin aufgezeigt sind, als übliches derzeitiges oder künftiges Fachwissen eines zuständigen Fachmanns angesehen werden. Die Figuren zeigen Ausführungsbeispiele der Erfindung nämlich:For a better understanding of the present invention, reference will be made below to the preferred embodiments illustrated in the drawings, which are described in terms of specific terminology. It should be understood, however, that the scope of the invention should not be so limited since such changes and other modifications to the illustrated apparatus and method, as well as such other uses of the invention as set forth herein, are to be considered as current or future knowledge a competent person. The figures show embodiments of the invention namely:

1 eine geschnittene Seitenansicht einer Plasmaerzeugungseinrichtung; 1 a sectional side view of a plasma generating device;

2 eine Vorderansicht einer Plasmaerzeugungseinrichtung; 2 a front view of a plasma generating device;

3 eine Hinteransicht einer Plasmaerzeugungseinrichtung; 3 a rear view of a plasma generating device;

4 eine Hinteransicht einer alternativen Plasmaerzeugungseinrichtung, bei der das Schaltelement durch Thyristoren gebildet ist; 4 a rear view of an alternative plasma generating device, wherein the switching element is formed by thyristors;

5 eine Querschnittsansicht des Plasmabehälters und der ihn umgebenden Spule; 5 a cross-sectional view of the plasma container and the surrounding coil;

6 ein Ersatzschaltbild der Plasmaerzeugungseinrichtung von 1 bis 3; 6 an equivalent circuit diagram of the plasma generating device of 1 to 3 ;

7 ein Ersatzschaltbild der Plasmaerzeugungseinrichtung von 4; 7 an equivalent circuit diagram of the plasma generating device of 4 ;

8 ein Ersatzschaltbild einer alternativen Ausführung einer Plasmaerzeugungseinrichtung; 8th an equivalent circuit diagram of an alternative embodiment of a plasma generating device;

9 ein Ersatzschaltbild einer alternativen Ausführung einer Plasmaerzeugungseinrichtung, die eine Vollwegbrückenschaltung mit Thyristoren verwendet; 9 an equivalent circuit diagram of an alternative embodiment of a plasma generating device using a full-wave bridge circuit with thyristors;

10 ein Ersatzschaltbild einer alternativen Ausführung einer Plasmaerzeugungseinrichtung, die einen IGBT als Schaltelement verwendet; und 10 an equivalent circuit diagram of an alternative embodiment of a plasma generating device using an IGBT as a switching element; and

11 ein Ersatzschaltbild einer alternativen Ausführungsform einer Plasmaerzeugungseinrichtung, die eine Vollwegbrückenschaltung mit vier IGBTs verwendet. 11 an equivalent circuit diagram of an alternative embodiment of a plasma generating device that uses a full-wave bridge circuit with four IGBTs.

1 zeigt eine schematische Schnittansicht einer ersten Ausführungsform 10 einer Einrichtung zur Erzeugung eines Plasmas durch induktive Anregung nach einer Weiterbildung der Erfindung. 2 zeigt eine Vorderansicht der Einrichtung 10 von 1 und 3 eine Hinteransicht. 1 shows a schematic sectional view of a first embodiment 10 a device for generating a plasma by inductive excitation according to a development of the invention. 2 shows a front view of the device 10 from 1 and 3 a rear view.

Die Einrichtung 10 von 1 bis 3 umfaßt einen sphärischen Behälter 12, in dem sich ein Edelgas, beispielsweise Argon bei einem geringen Druck von beispielsweise 12 Pa befindet. Der Behälter 12, der auch als Entladungsgefäß bezeichnet wird, hat an seinem oberen und seinem unteren Ende je einen sogenannten CF-35-Flansch 14. Ferner ist der Behälter 12 mit einer Gaszufuhr 16 verbunden, durch die das Edelgas in den Behälter 12 einführbar ist.The device 10 from 1 to 3 comprises a spherical container 12 in which a noble gas, for example argon, is at a low pressure of, for example, 12 Pa. The container 12 , which is also referred to as a discharge vessel, has at its upper and its lower end a so-called CF-35 flange 14 , Further, the container 12 with a gas supply 16 connected, through which the noble gas into the container 12 is insertable.

Der Behälter 12 ist von vier Windungen 18a bis 18d einer Induktionsspule 18 umgeben, die von einer Spulenhalterung 20 aus einem elektrisch isolierenden Material (z. B. DURATEC) besteht. Die Windungen 18a bis 18d sind untereinander durch elektrisch leitende Verbindungselemente 22 verbunden, die in 1 im Detail und in 3 schematisch gezeigt sind. Die vier Windungen oder Segmente 18a bis 18d bilden zusammen eine Spule mit einer Gesamtinduktivität von 2,1 μH.The container 12 is of four turns 18a to 18d an induction coil 18 surrounded by a coil holder 20 made of an electrically insulating material (eg DURATEC). The turns 18a to 18d are interconnected by electrically conductive fasteners 22 connected in 1 in detail and in 3 are shown schematically. The four turns or segments 18a to 18d together form a coil with a total inductance of 2.1 μH.

Wie insbesondere in 3 zu erkennen ist, sind auf der Rückseite der Einrichtung 10 zwei Kondensatoren 24 vorgesehen, die parallel geschaltet sind und gemeinsam eine sogenannte Kondensatorbank bilden. Die Kondensatoren 24 haben jeweils einen ersten Anschluß 26, der über eine Stromzufuhr 28 mit einer Spannungsversorgung (nicht gezeigt) verbunden ist. Die Kondensatoren 24 haben jeweils eine Kapazität von 6 μF, also gemeinsam eine Gesamtkapazität von C0 = 12 μF. Über die Stromzufuhr 28 werden die Kondensatoren 24 mit einer Vorladespannung von 4100 V aufgeladen.As in particular in 3 It can be seen on the back of the device 10 two capacitors 24 provided, which are connected in parallel and together form a so-called capacitor bank. The capacitors 24 each have a first connection 26 that has a power supply 28 is connected to a power supply (not shown). The capacitors 24 each have a capacity of 6 μF, so together a total capacity of C 0 = 12 μF. About the power supply 28 become the capacitors 24 charged with a precharge voltage of 4100V.

Die Kondensatoren 24 haben ferner jeweils einen zweiten Anschluß 30, die beide mit einem ersten Ende 32 der Spule 18, d. h. in der Darstellung von 1 bis 3 oberen Ende der Spule 18, verbunden sind. Ein zweites, in der Darstellung von 1 bis 3 unteres Ende 34 der Spule 18 ist mit einem Schaltelement 36 verbunden, bei dem es sich in der Darstellung von 1 bis 3 um einen Gasentladungsschalter, ein sogenanntes Ignitron handelt.The capacitors 24 also each have a second connection 30 , both with a first end 32 the coil 18 ie in the representation of 1 to 3 upper end of the coil 18 , are connected. A second, in the presentation of 1 to 3 lower end 34 the coil 18 is with a switching element 36 connected, in which it is in the representation of 1 to 3 is a gas discharge switch, a so-called Ignitron.

In 5 ist ein Ersatzschaltbild der ersten Ausführungsform von 1 bis 3 gezeigt, wobei sich die Bezugszeichen auf die Komponenten von 1 bis 3 beziehen. In dem Schaltbild von 6 ist die Spule 18 durch eine Reihenschaltung einer Induktivität L0 von 2,1 μH und eines Widerstands R0 von 8 mΩ repräsentiert.In 5 is an equivalent circuit diagram of the first embodiment of 1 to 3 shown, wherein the reference numerals to the components of 1 to 3 Respectively. In the diagram of 6 is the coil 18 represented by a series connection of an inductance L 0 of 2.1 μH and a resistance R 0 of 8 mΩ.

Im folgenden wird die Funktion der Plasmaerzeugungseinrichtung 10 von 1 bis 3 und 5 erläutert. Zu einem gewissen Zeitpunkt t = 0 ist der Kondensator 24 mit Kapazität Co mit der Ladespannung von 4100 V aufgeladen. Ferner wird zum Zeitpunkt t = 0 ein Steuersignal am Steuereingang 38 des Ignitrons 36 (siehe 5) angelegt, woraufhin das Ignitron 36 in einen leitenden Zustand geschaltet wird. Der Kondensator 24 entlädt sich durch die Spule 18 hindurch mit einem maximalen Strom I0 von 9,6 kA und mit einer Stromanstiegsrate von über 1 kA/μs (im gezeigten Ausführungsbeispiel konkret 1,8 kA/μs). Durch den rapiden Stromanstieg wird im Gas innerhalb des Behälters 12 ein sich zeitlich stark ändernder magnetischer Fluß erzeugt, der seinerseits ein elektrisches Feld induziert, welches zum Zünden eines Plasmas ausreicht.In the following, the function of the plasma generating device will be described 10 from 1 to 3 and 5 explained. At a certain time t = 0 is the capacitor 24 charged with capacity Co with the charging voltage of 4100V. Furthermore, at the time t = 0, a control signal at the control input 38 of the Ignitron 36 (please refer 5 ), whereupon the Ignitron 36 is switched to a conductive state. The capacitor 24 discharges through the coil 18 through with a maximum current I 0 of 9.6 kA and with a current increase rate of about 1 kA / μs (in the embodiment shown, specifically 1.8 kA / μs). Due to the rapid increase in current is in the gas inside the container 12 generates a temporally strong magnetic flux, which in turn induces an electric field, which is sufficient to ignite a plasma.

Da die Plasmaentladung als elektrisch leitfähiges Fluid betrachtet werden kann, welches von der Spule 18 umgeben ist, bildet sie gewissermaßen eine einzelne Sekundärwindung eines gedachten Transformators mit einer Induktivität Lp und einem ohmschen Plasmawiderstand Rp. Der Kondensator 24 mit Kapazität Co und die Spule 18 mit der Widerstand R0 und Induktivität L0 bilden einen gedämpften elektrischen Serienschwingkreis, so daß die Spannung am Kondensator 24 mit einer Frequenz ν oszilliert und der Strom mit derselben Frequenz in der Spule 18 hin und her läuft. Die Frequenz ν des Schwingkreis ergibt sich aus den Parametern C0, R0 und L0, wobei als weitere und weitaus wesentlichere Dämpfungskomponente noch die Dämpfung durch das angekoppelte Plasma hinzukommt. Bei der hier beschriebenen Ausführungsform ergibt sich eine Frequenz von ν = 29 kHz, die gleichzeitig die Anregungsfrequenz des Plasmas ist. Die Oszillation des Schwingkreises dauert für rund 150 bis 200 μs an, während derer das Plasma gezündet und aufrechterhalten wird, danach erlischt es.Since the plasma discharge can be considered as an electrically conductive fluid coming from the coil 18 is surrounded, it effectively forms a single secondary winding of an imaginary transformer with an inductance L p and a resistive plasma resistance R p . The capacitor 24 with capacity Co and the coil 18 with the resistor R 0 and inductance L 0 form a damped electrical series resonant circuit, so that the voltage across the capacitor 24 with a frequency ν oscillates and the current at the same frequency in the coil 18 runs back and forth. The frequency ν of the resonant circuit results from the parameters C 0 , R 0 and L 0 , with the attenuation by the coupled plasma being added as a further and much more substantial damping component. In the embodiment described here results in a frequency of ν = 29 kHz, which is also the excitation frequency of the plasma. The oscillation of the resonant circuit lasts for around 150 to 200 μs, during which the plasma is ignited and maintained, then it goes out.

Durch den beschriebenen Aufbau läßt sich also ein Plasma durch induktive Kopplung mit einer Anregungsfrequenz erzeugen, die mit lediglich 29 kHz um rund drei Größenordnungen unter den üblichen Anregungsfrequenzen liegt. Wie eingangs erwähnt wurde, läßt sich bei derart niedrigen Anregungsfrequenzen eine höhere Elektronendichte im Plasma erzeugen. Erste spektroskopische Untersuchungen des Plasmas weisen in der Tat auf eine deutlich erhöhte Elektronendichte hin. As a result of the construction described, a plasma can be produced by inductive coupling with an excitation frequency which is only about three orders of magnitude below the usual excitation frequencies at only 29 kHz. As mentioned at the beginning, a higher electron density in the plasma can be generated at such low excitation frequencies. First spectroscopic investigations of the plasma indicate indeed a significantly increased electron density.

Nach dem Erlöschen des Plasmas wird der Kondensator 14 wieder aufgeladen, bis das Ignitron 36 durch ein weiteres Steuersignal für eine erneute Entladung des Kondensators in den leitfähigen Zustand geschaltet wird. Es ergibt sich also ein gepulster Betrieb mit einer Entladungsphase von rund 150 bis 200 μs und einer Dunkelphase bis zum nächsten Steuersignal. Das Steuersignal wird von einer Steuerung (nicht gezeigt) mit einer periodischen Pulsfrequenz ausgegeben, die ihrerseits das Tastverhältnis bzw. die zeitlich gemittelte Leistung der Einrichtung vorgibt. Die Pulsfrequenz kann beispielsweise 50 Hz betragen. Da die Leistung während der Pulsspitzen im MW-Bereich liegt, wird die Periodendauer der Pulsfrequenz im allgemeinen deutlich unter der Dauer der Entladungsphase liegen, jedoch kann bei sehr großen und leistungsstarken Anlagen, beispielsweise solchen zur Trinkwasseraufbereitung, die Pulsfrequenz so hoch gewählt werden, daß sich ein quasi-kontinuierlicher Betrieb ergibt.After the plasma has gone out, the capacitor becomes 14 recharged until the Ignitron 36 is switched to the conductive state by another control signal for a re-discharge of the capacitor. This results in a pulsed operation with a discharge phase of about 150 to 200 microseconds and a dark phase until the next control signal. The control signal is output by a controller (not shown) at a periodic pulse rate, which in turn dictates the duty cycle of the device. The pulse frequency can be 50 Hz, for example. Since the power is during the pulse peaks in the MW range, the period of the pulse rate will generally be well below the duration of the discharge phase, however, in very large and powerful plants, such as those for drinking water treatment, the pulse rate can be so high that a quasi-continuous operation results.

4 zeigt eine abgewandelte Ausführungsform und 7 das zugehörige Schaltbild. Die Abwandlung besteht lediglich darin, daß anstelle des Ignitrons 36 ein Thyristorpaar 40 vorgesehen ist, das man auch als „Presspack” bezeichnet. 4 shows a modified embodiment and 7 the associated circuit diagram. The modification consists only in that instead of the Ignitrons 36 a thyristor pair 40 is provided, which is also referred to as a "Press Pack".

In 5 ist der Behälter 12 mit der umgebenden Induktionsspule 18, wie sie in den Ausführungsformen von 1 bis 4 verwendet werden, separat dargestellt. Der Behälter 12 hat einen Durchmesser von 20,3 cm und eine sphärische Gestalt. Die Windungen 18a bis 18d der Induktionsspule 18 bestehen aus Kupfer und haben einen rechteckigen Querschnitt von 2 mm × 20 mm.In 5 is the container 12 with the surrounding induction coil 18 as used in the embodiments of 1 to 4 used, shown separately. The container 12 has a diameter of 20.3 cm and a spherical shape. The turns 18a to 18d the induction coil 18 are made of copper and have a rectangular cross-section of 2 mm × 20 mm.

Der Behälter 12 von 5 läßt sich in einen Äquatorbereich 42 und zwei Polbereiche 44 unterteilen. Der Äquatorbereich 42 ist hier definiert als der Bereich, der eine Äquatorebene 46 enthält, d. h. eine Ebene, in der die Querschnittsfläche in einer Ebene senkrecht zur Richtung des induzierten Magnetfeldes B → seinen Maximalwert annimmt. Innerhalb des Äquatorbereichs 42 nimmt die Querschnittsfläche des Behälters 12 nach oben und nach unten kontinuierlich ab, bis die Grenze zum jeweilig benachbarten Polbereich 44 erreicht wird. Die Grenze zum Polbereich ist in der vorliegenden Beschreibung definiert als der Breitengrad, bei dem die Querschnittsfläche auf die Hälfte abgesunken ist, d. h. sie liegt bei einem Breitengrad von 45° bzw. 135°°.The container 12 from 5 settles in an equatorial area 42 and two pole areas 44 divide. The equatorial area 42 is here defined as the area that is an equatorial plane 46 contains, ie a plane in which the cross-sectional area in a plane perpendicular to the direction of the induced magnetic field B → assumes its maximum value. Within the equatorial area 42 takes the cross-sectional area of the container 12 upwards and downwards continuously until the boundary to the respective adjacent pole area 44 is reached. The boundary to the pole region is defined in the present specification as the latitude at which the cross-sectional area has fallen to half, ie it is at a latitude of 45 ° or 135 °°.

Wesentlich für die besonders gute Kopplung zwischen der Induktionsspule 18 und dem Plasma bei der hier gezeigten Ausführungsform ist, daß zwei Spulensegmente 18b und 18c im Äquatorbereich 42 liegen und zwei Spulensegmente 18a, 18d zumindest teilweise in je einem Polbereich 44 liegen. Obwohl sämtliche Windungen 18a bis 18d bzw. Segmente zur Erzeugung des Magnetfeldes beitragen, gibt es qualitative Unterschiede in ihrer Wirkung. Die mittleren Spulensegmente 18b und 18c wirken wie eine herkömmliche Zylinderspule. Die äußeren Spulensegmente 18a und 18d, die zumindest teilweise in den Polbereichen 44 liegen, haben eine Wirkung, die ähnlich derjenigen von bekannten Flachspulen, sogenannten „pancake coils” ist. Der Vorteil solcher Flachspulen besteht darin, daß der Magnetstreufluß im allgemeinen geringer ist, jedoch wird gemeinhin angenommen, daß ihre im Vergleich zu einer Zylinderspule erhöhte kapazitive Kopplung mit dem Plasma problematisch ist. Bei den hier verwendeten niedrigen Anregungsfrequenzen spielt jedoch die kapazitive Kopplung eine vergleichsweise untergeordnete Rolle. Mit dem in 5 gezeigten Aufbau lassen sich die Vorteile beider Spulenanordnungen, d. h. einer herkömmlichen Zylinderspule einerseits und einer Flachspule andererseits vereinbaren. Tatsächlich führt die in 5 gezeigte Geometrie in den durchgeführten Experimenten zu einem Kopplungswirkungsgrad von 0,8, d. h. es wird 80% der Energie des Kondensators auf das Plasma übertragen, und es sind mit einem leicht abgewandelten Aufbau sogar Kopplungswirkungsgrade von 0,9 erreichbar.Essential for the particularly good coupling between the induction coil 18 and the plasma in the embodiment shown here is that two coil segments 18b and 18c in the equatorial area 42 lie and two coil segments 18a . 18d at least partially in each pole area 44 lie. Although all turns 18a to 18d or segments contribute to the generation of the magnetic field, there are qualitative differences in their effect. The middle coil segments 18b and 18c act like a conventional cylindrical coil. The outer coil segments 18a and 18d at least partially in the pole areas 44 lie, have an effect similar to that of known flat coils, so-called "pancake coils". The advantage of such pancake coils is that the flux leakage is generally lower, but it is commonly believed that their increased capacitive coupling with the plasma compared to a solenoid is problematic. At the low excitation frequencies used here, however, the capacitive coupling plays a relatively minor role. With the in 5 The construction shown, the advantages of both coil arrangements, ie a conventional cylindrical coil on the one hand and a flat coil on the other hand agree. In fact, the leads in 5 geometry shown in the experiments carried out to a coupling efficiency of 0.8, that is, 80% of the energy of the capacitor is transferred to the plasma, and it can be achieved with a slightly modified structure even coupling efficiencies of 0.9.

Ein weiterer Grund für die sehr hohe Kopplungseffizienz liegt darin, daß die Spulensegmente 18a bis 18d sehr dicht an den Behälter 12 anliegen, mit einem maximalen Zwischenraum von 3 mm. Ein weiterer Vorteil der sphärischen Geometrie des Behälters 12 liegt darin, daß bei ihr das Verhältnis zwischen Volumen und Oberfläche maximal ist, was gemäß der obigen Gleichung (7) eine erhöhte Elektronendichte erlaubt.Another reason for the very high coupling efficiency is that the coil segments 18a to 18d very close to the container 12 abut, with a maximum gap of 3 mm. Another advantage of the spherical geometry of the container 12 is because it has a maximum volume / surface ratio, which allows for increased electron density according to equation (7) above.

Die hier konkret beschriebene Ausführungsform dient vor allem zum Demonstrieren der Prinzipien der Erfindung, und viele Abwandlungen sind möglich. Vielversprechend sind insbesondere Anwendungen mit größeren Behältern und Kondensatoren höherer Kapazitäten. Im folgenden werden einige Abwandlungen hinsichtlich der Leistungsquelle bzw. der Schaltung der Komponenten diskutiert.The embodiment specifically described here above all serves to demonstrate the principles of the invention, and many modifications are possible. Particularly promising are applications with larger containers and capacitors of higher capacities. In the following, some modifications regarding the power source and the circuit of the components will be discussed.

8 zeigt ein alternatives Ersatzschaltbild, welches demjenigen von 7 grundsätzlich ähnlich ist. Der wesentliche Unterschied besteht darin, daß der Thyristor 40 hier nicht zwischen der Spule 18 und dem Massepotential, sondern zwischen dem Kondensator und dem Massepotential angeordnet ist. Man beachte, daß in der Darstellung von 8 der Thyristor mit Durchlaß in Gegenrichtung der Einfachheit halber weggelassen wurde. Diese Anordnung hat den Vorteil, daß die Spule während des Ladevorgangs des Kondensators auf Massepotential liegt, und nicht, wie in der Anordnung von 7, auf Hochspannung. Die Anordnung von 7 hat jedoch den Vorteil, daß die parasitäre Induktivität zwischen dem Schaltelement 14 und dem Schwingkreis geringer ist. 8th shows an alternative equivalent circuit diagram, which corresponds to that of 7 is basically similar. The main difference is that the thyristor 40 not here between the coil 18 and the ground potential, but is disposed between the capacitor and the ground potential. Note that in the illustration of 8th the thyristor with passage in the opposite direction has been omitted for the sake of simplicity. This arrangement has the advantage that the coil is at ground potential during the charging of the capacitor, and not, as in the arrangement of 7 , on high voltage. The arrangement of 7 However, has the advantage that the parasitic inductance between the switching element 14 and the resonant circuit is lower.

9 zeigt ein weiteres Ersatzschaltbild, bei der das Schaltelement durch eine Vollwegbrücke aus vier Thyristoren TH1 bis TH4 gebildet wird. Bei dieser Brückenschaltung werden die Thyristoren TH1 und TH3 bzw. TH2 und TH4 abwechselnd angesteuert, so daß der Serienschwingkreis wechselseitig mit der Ladespannung von einer Stromquelle CL angesteuert wird. Diese Thyristor-Vollwegbrücke eignet sich besonders gut für einen „Quasi-CW-Betrieb”. 9 shows a further equivalent circuit diagram in which the switching element is formed by a full-wave bridge of four thyristors TH1 to TH4. In this bridge circuit, the thyristors TH1 and TH3 or TH2 and TH4 are alternately driven, so that the series resonant circuit is driven alternately with the charging voltage from a current source C L. This thyristor full-wave bridge is particularly well suited for "quasi-CW operation".

Die Ersatzschaltbilder von 10 und 11 entsprechen denjenigen von 8 und 9, außer daß die Thyristoren durch IGBTs ersetzt sind.The equivalent circuit diagrams of 10 and 11 correspond to those of 8th and 9 except that the thyristors are replaced by IGBTs.

Obgleich in den Zeichnungen und der vorherigen Beschreibung bevorzugte Ausführungsbeispiele aufgezeigt und detailliert beschrieben sind, sollte dies als rein beispielhaft und die Erfindung nicht einschränkend angesehen werden. Es wird darauf hingewiesen, daß nur die bevorzugten Ausführungsbeispiele dargestellt und beschrieben sind und sämtliche Veränderungen und Modifizierungen, die derzeit und künftig im Schutzumfang der Erfindung liegen, geschützt werden sollen.Although preferred embodiments have been shown and described in detail in the drawings and the foregoing specification, this should be considered as illustrative and not restrictive of the invention. It should be understood that only the preferred embodiments are shown and described and all changes and modifications that are presently and in the future within the scope of the invention should be protected.

BezugszeichenlisteLIST OF REFERENCE NUMBERS

1010
Einrichtung zur PlasmaerzeugungDevice for plasma generation
1212
Behältercontainer
1414
Flanschflange
1616
Gaszufuhrgas supply
1818
Induktionsspuleinduction coil
2020
Spulenhalterungcoil holder
2222
Verbindungselemente zwischen SpulensegmentenConnecting elements between coil segments
2424
Kondensatorcapacitor
2626
erster Anschluß des Kondensators 24 first connection of the capacitor 24
2828
Stromzufuhrpower
3030
zweiter Anschluß des Kondensators 24 second connection of the capacitor 24
3232
erstes Ende der Spule 18 first end of the coil 18
3434
zweites Ende der Spule 18 second end of the coil 18
3636
Ignitronignitron
3838
Steuereingang des IgnitronsControl input of the Ignitrons
4040
Thyristorpaarthyristor
4242
Äquatorbereichequatorial region
4444
Polbereichepole areas
4646
Äquatorebeneequatorial plane

Claims (26)

Einrichtung (10) zur Erzeugung eines Plasmas durch induktive Anregung, umfassend einen Behälter (12) mit einem Gas, in welchem ein Plasma zu erzeugen ist, und eine Induktivität (18), die mit dem Gas induktiv gekoppelt ist, sowie eine Leistungsquelle, die geeignet ist, in der Induktivität (18) ein Wechselstromsignal mit einer Anregungsfrequenz ν von unter 200 kHz zu erzeugen, wobei der Behälter (12) sphärisch oder näherungsweise sphärisch ist und die Induktivität (18) durch eine Spule gebildet wird, die den Behälter (12) umgibt, wobei ferner der Behälter (12) einen Äquatorbereich (42) umfaßt, in dem seine Querschnittsfläche in einer Ebene senkrecht zum induzierten Magnetfeld von einem Maximalwert Amax auf einen Wert von Amax/2 abfällt, und zwei Polbereiche (44) umfaßt, in denen die Querschnittsfläche von Amax/2 auf Null abfällt, wobei mindestens eine Windung (18b, 18c) der Spule den Behälter (12) zumindest teilweise in dessen Äquatorbereich (42) umgibt und mindestens jeweils eine Windung (18a, 18d) der Spule den Behälter (12) zumindest teilweise in dessen Polbereichen (44) umgibt, und eine Querschnittsfläche aufweist, die geringer als Amax ist.Facility ( 10 ) for generating a plasma by inductive excitation, comprising a container ( 12 ) with a gas in which a plasma is to be generated, and an inductance ( 18 ), which is inductively coupled to the gas, and a power source which is suitable in the inductance ( 18 ) to generate an AC signal with an excitation frequency ν of less than 200 kHz, wherein the container ( 12 ) is spherical or approximately spherical and the inductance ( 18 ) is formed by a coil, the container ( 12 ), further comprising the container ( 12 ) an equatorial area ( 42 ) in which its cross-sectional area in a plane perpendicular to the induced magnetic field decreases from a maximum value A max to a value of A max / 2, and two pole regions ( 44 ) in which the cross-sectional area of A max / 2 drops to zero, wherein at least one turn ( 18b . 18c ) of the coil Container ( 12 ) at least partially in its equatorial region ( 42 ) and at least one turn ( 18a . 18d ) of the bobbin the container ( 12 ) at least partially in its pole regions ( 44 ) and has a cross-sectional area that is less than A max . Einrichtung (10) nach Anspruch 1, bei der die Leistungsquelle geeignet ist, in der Induktivität (18) ein Wechselstromsignal mit einer Anregungsfrequenz ν von unter 100 kHz, vorzugsweise von 1 kHz bis 50 kHz und insbesondere von 10 kHz bis 30 kHz zu erzeugen.Facility ( 10 ) according to claim 1, wherein the power source is suitable in the inductance ( 18 ) to generate an AC signal having an excitation frequency ν of less than 100 kHz, preferably from 1 kHz to 50 kHz and in particular from 10 kHz to 30 kHz. Einrichtung (10) nach Anspruch 1 oder 2, bei der die Leistungsquelle mindestens einen Kondensator (24) umfaßt, der auf eine Betriebsspannung aufladbar ist, und mindestens ein Schaltelement (36, 40) umfaßt, welches in einen leitenden Zustand schaltbar ist und so angeschlossen ist, daß sich der mindestens eine Kondensator (24) im leitenden Zustand des Schaltelements (36, 40) durch die Induktivität (18) hindurch entladen kann.Facility ( 10 ) according to claim 1 or 2, wherein the power source comprises at least one capacitor ( 24 ), which is rechargeable to an operating voltage, and at least one switching element ( 36 . 40 ) which is switchable to a conductive state and is connected so that the at least one capacitor ( 24 ) in the conductive state of the switching element ( 36 . 40 ) by the inductance ( 18 ) can discharge through. Einrichtung (10) nach Anspruch 3, bei der der mindestens eine Kondensator (24) und die Induktivität (18) Komponenten eines nicht überdämpften elektrischen Schwingkreises bilden, dessen Eigenfrequenz der genannten Anregungsfrequenz (ν) entspricht.Facility ( 10 ) according to claim 3, wherein the at least one capacitor ( 24 ) and the inductance ( 18 ) Form components of an undamped electrical resonant circuit whose natural frequency corresponds to said excitation frequency (ν). Einrichtung (10) nach einem der vorhergehenden Ansprüche, bei der für – die Amplitude I0 des Wechselstromsignals, – die Anregungsfrequenz ν des Wechselstromsignals, – die Induktivität L0 der Induktivität (18) und – einen Umfang b des Behälters (12) in einer Ebene senkrecht zum von der Induktivität (18) erzeugten Magnetfeld folgende Beziehung gilt:
Figure 00240001
Facility ( 10 ) according to one of the preceding claims, wherein - the amplitude I 0 of the alternating current signal, - the excitation frequency ν of the alternating current signal, - the inductance L 0 of the inductance ( 18 ) and - a circumference b of the container ( 12 ) in a plane perpendicular to the inductance ( 18 ), the following relationship applies:
Figure 00240001
Einrichtung (10) nach einem der vorhergehenden Ansprüche, bei der das Schaltelement mindestens einen Thyristor (40), mindestens einen IGBT oder mindestens einen Gasentladungsschalter (36) umfaßt.Facility ( 10 ) according to one of the preceding claims, in which the switching element comprises at least one thyristor ( 40 ), at least one IGBT or at least one gas discharge switch ( 36 ). Einrichtung (10) nach einem der Ansprüche 3 bis 6, bei der das Schaltelement (36, 40) zwischen dem Kondensator (24) und dem Massepotential angeordnet ist.Facility ( 10 ) according to one of claims 3 to 6, in which the switching element ( 36 . 40 ) between the capacitor ( 24 ) and the ground potential is arranged. Einrichtung (10) nach einem der Ansprüche 3 bis 6, bei der das Schaltelement (36, 40) zwischen der Induktivität (18) und dem Massepotential angeordnet ist.Facility ( 10 ) according to one of claims 3 to 6, in which the switching element ( 36 . 40 ) between the inductance ( 18 ) and the ground potential is arranged. Einrichtung (10) nach einem der vorhergehenden Ansprüche, bei der das Schaltelement (36, 40) durch eine Vollwegbrücke gebildet wird, die vier Schalter umfaßt, die paarweise abwechselnd ansteuerbar sind.Facility ( 10 ) according to one of the preceding claims, in which the switching element ( 36 . 40 ) is formed by a full-wave bridge, which includes four switches, which are controlled in pairs alternately. Einrichtung (10) nach Anspruch 9, bei der die Schalter durch Thyristoren und/oder IGBTs gebildet sind.Facility ( 10 ) according to claim 9, wherein the switches are formed by thyristors and / or IGBTs. Einrichtung (10) nach einem der Ansprüche 3 bis 10, bei der der mindestens eine Kondensator (24) oder eine Mehrzahl parallelgeschalteter Kondensatoren (24) eine Gesamtkapazität von 1 μF bis 100 μF, insbesondere von 6 μF bis 20 μF aufweist bzw. aufweisen.Facility ( 10 ) according to one of claims 3 to 10, in which the at least one capacitor ( 24 ) or a plurality of parallel connected capacitors ( 24 ) has or have a total capacity of 1 μF to 100 μF, in particular of 6 μF to 20 μF. Einrichtung (10) nach einem der vorhergehenden Ansprüche, bei der das Wechselstromsignal maximale Stromanstiegsraten von 300 A/μs bis 30 kA/μs, insbesondere von 1 kA/μs bis 10 kA/μs aufweist.Facility ( 10 ) according to one of the preceding claims, in which the alternating current signal has maximum current rise rates of 300 A / μs to 30 kA / μs, in particular from 1 kA / μs to 10 kA / μs. Einrichtung (10) nach einem der vorhergehenden Ansprüche, bei der die Induktivität L0 der Induktivität (18) 1 μH bis 10 μH, insbesondere 1,5 μH bis 2,5 μH beträgt.Facility ( 10 ) according to one of the preceding claims, in which the inductance L 0 of the inductance ( 18 ) Is 1 μH to 10 μH, in particular 1.5 μH to 2.5 μH. Einrichtung (10) nach einem der vorhergehenden Ansprüche, bei der die Spule eine Windungszahl von zwei bis acht, insbesondere von vier bis sechs hat.Facility ( 10 ) according to one of the preceding claims, wherein the coil has a number of turns of two to eight, in particular from four to six. Einrichtung zum Sterilisieren von Trinkwasser mit einer Plasmaentladungsquelle, die eine Einrichtung (10) zur Plasmaerzeugung nach einem der vorhergehenden Ansprüche aufweist und bei der zu sterilisierendes Wasser in unmittelbarer Nähe der Plasmaentladungsquelle vorbeigeführt oder durch sie hindurchgeführt wird.Device for sterilizing drinking water with a plasma discharge source, comprising a device ( 10 ) for generating plasma according to any one of the preceding claims and is passed in the water to be sterilized in the immediate vicinity of the plasma discharge source or passed through them. Einrichtung zur Lithographie von Halbleiterstrukturen mit einer Einrichtung zur Erzeugung eines Plasmas nach einem der vorhergehenden Ansprüche.Device for lithography of semiconductor structures with a device for generating a plasma according to one of the preceding claims. Verwendung einer Einrichtung (10) zur Erzeugung eines Plasmas nach einem der vorhergehenden Ansprüche zur Sterilisation von Trinkwasser oder zur Belichtung in der Halbleiterlithographie. Use of a device ( 10 ) for producing a plasma according to any one of the preceding claims for the sterilization of drinking water or for exposure in semiconductor lithography. Verfahren zur Erzeugung eines Plasmas durch induktive Anregung, bei dem in einer Induktivität (18), die mit einem Gas, in welchem ein Plasma zu erzeugen ist, induktiv gekoppelt ist, ein Wechselstromsignal mit einer Anregungsfrequenz v erzeugt wird, die unter 200 kHz beträgt, wobei die Induktivität (18) durch eine Spule gebildet wird, die einen sphärischen oder näherungsweise sphärischen Behälter (12) umgibt, wobei der Behälter (12) einen Äquatorbereich (42) umfaßt, in dem seine Querschnittsfläche in einer Ebene senkrecht zum induzierten Magnetfeld von einem Maximalwert Amax auf einen Wert von Amax/2 abfällt, und zwei Polbereiche (44) umfaßt, in denen die Querschnittsfläche von Amax/2 auf Null abfällt, wobei mindestens eine Windung (18b, 18c) der Spule den Behälter (12) zumindest teilweise in dessen Äquatorbereich (42) umgibt und mindestens jeweils eine Windung (18a, 18d) der Spule den Behälter (12) zumindest teilweise in dessen Polbereichen (44) umgibt, und eine Querschnittsfläche aufweist, die geringer als Amax ist.Method for producing a plasma by inductive excitation, in which in an inductance ( 18 ) which is inductively coupled to a gas in which a plasma is to be generated, an AC signal having an excitation frequency v is generated which is below 200 kHz, wherein the inductance ( 18 ) is formed by a coil having a spherical or approximately spherical container ( 12 ), the container ( 12 ) an equatorial area ( 42 ) in which its cross-sectional area in a plane perpendicular to the induced magnetic field decreases from a maximum value A max to a value of A max / 2, and two pole regions ( 44 ) in which the cross-sectional area of A max / 2 drops to zero, wherein at least one turn ( 18b . 18c ) of the bobbin the container ( 12 ) at least partially in its equatorial region ( 42 ) and at least one turn ( 18a . 18d ) of the bobbin the container ( 12 ) at least partially in its pole regions ( 44 ) and has a cross-sectional area that is less than A max . Verfahren nach Anspruch 18, bei dem die Anregungsfrequenz unter 100 kHz, vorzugsweise zwischen 1 kHz und 50 kHz und insbesondere zwischen 10 kHz und 30 kHz beträgt.Method according to Claim 18, in which the excitation frequency is below 100 kHz, preferably between 1 kHz and 50 kHz and in particular between 10 kHz and 30 kHz. Verfahren nach Anspruch 19, bei dem das Wechselstromsignal erzeugt wird, indem ein Kondensator (24) auf eine Betriebsspannung aufgeladen wird und mindestens ein Schaltelement (36, 40) in einen leitenden Zustand geschaltet wird, so daß sich der Kondensator (24) durch die Induktivität entlädt.The method of claim 19, wherein the AC signal is generated by applying a capacitor ( 24 ) is charged to an operating voltage and at least one switching element ( 36 . 40 ) is switched into a conductive state, so that the capacitor ( 24 ) discharges through the inductance. Verfahren nach Anspruch 20, bei dem der mindestens eine Kondensator (24) und die Induktivität (18) Komponenten eines nicht überdämpften elektrischen Schwingkreises bilden, dessen Eigenfrequenz der genannten Anregungsfrequenz ν entspricht.The method of claim 20, wherein the at least one capacitor ( 24 ) and the inductance ( 18 ) Form components of an undamped electrical resonant circuit whose natural frequency corresponds to said excitation frequency ν. Verfahren nach einem der Ansprüche 19 bis 21, bei dem für – die Amplitude I0 des Wechselstromsignals, – die Anregungsfrequenz ν des Wechselstromsignals, – die Induktivität L0 der Induktivität (18) und – einen Umfang b des Behälters (12) in einer Ebene senkrecht zum von der Induktivität (18) erzeugten Magnetfeld folgende Beziehung gilt:
Figure 00260001
Method according to one of Claims 19 to 21, in which - the amplitude I 0 of the alternating current signal, - the excitation frequency ν of the alternating current signal, - the inductance L 0 of the inductance ( 18 ) and - a circumference b of the container ( 12 ) in a plane perpendicular to the inductance ( 18 ), the following relationship applies:
Figure 00260001
Verfahren nach einem der Ansprüche 19 bis 22, bei dem das Schaltelement mindestens einen Thyristor (40), mindestens einen IGBT oder mindestens einen Gasentladungsschalter (36) umfaßt.Method according to one of Claims 19 to 22, in which the switching element comprises at least one thyristor ( 40 ), at least one IGBT or at least one gas discharge switch ( 36 ). Verfahren nach einem der Ansprüche 19 bis 23, bei dem die Spule (18) eine Windungszahl von zwei bis acht, vorzugsweise von vier bis sechs hat.Method according to one of claims 19 to 23, wherein the coil ( 18 ) has a number of turns of two to eight, preferably from four to six. Verfahren nach einem der Ansprüche 19 bis 24, bei dem das mindestens eine Schaltelement (36, 40) periodisch mit einer Pulsfrequenz so angesteuert wird, dass es in seinen leitfähigen Zustand schaltet.Method according to one of claims 19 to 24, wherein the at least one switching element ( 36 . 40 ) is periodically driven at a pulse rate to switch to its conductive state. Verfahren nach Anspruch 25, bei dem die Pulsfrequenz mindestens 1 Hz, vorzugsweise mindestens 10 Hz und besonders vorzugsweise mindestens 50 Hz beträgt.Method according to Claim 25, in which the pulse frequency is at least 1 Hz, preferably at least 10 Hz and particularly preferably at least 50 Hz.
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Families Citing this family (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
MD3907C2 (en) * 2008-05-27 2009-12-31 Институт Электронной Инженерии И Промышленных Технологий Академии Наук Молдовы Device for plasma sterilization of medical instruments
DE102008052217B3 (en) * 2008-10-17 2011-03-10 Johann Wolfgang Goethe-Universität Electrostatic ion compressor
DE102008052216B3 (en) 2008-10-17 2010-05-20 Johann Wolfgang Goethe-Universität Plasma induction switch and method for switching high voltages
RU2454749C2 (en) * 2010-04-13 2012-06-27 Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Институт оптики атмосферы им. В.Е. Зуева Сибирского отделения Российской академии наук (ИОА СО РАН) Method of generating plasma of gaseous medium and apparatus for realising said method
RU2580513C1 (en) * 2014-12-11 2016-04-10 Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Институт общей физики им. А.М. Прохорова Российской академии наук Pulse source of tubular plasma with controlled radius in magnetic field
CN105753107B (en) * 2016-05-17 2018-06-19 南京苏曼等离子科技有限公司 A kind of underwater pulse rotation sliding arc low-temperature plasma sewage-treatment plant
CN107331497B (en) * 2017-06-19 2018-10-26 西北核技术研究所 Primary discharge cell of fast pulse straight line transformer and preparation method thereof and transformer

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5521351A (en) * 1994-08-30 1996-05-28 Wisconsin Alumni Research Foundation Method and apparatus for plasma surface treatment of the interior of hollow forms
EP0849766A2 (en) * 1992-01-24 1998-06-24 Applied Materials, Inc. Etch process
DE19825056C1 (en) * 1998-06-04 2000-01-13 Fraunhofer Ges Forschung Circuit for supplying electrical energy to plasma can feed high power to unipolar or bipolar pulsed plasma with switching region in range 20 to 100 kHz with conventional IGBT switch
JP2001143896A (en) * 1999-11-18 2001-05-25 Fuji Electric Co Ltd Plasma generator and method of operating it
WO2003030207A1 (en) * 2001-09-28 2003-04-10 Unaxis Balzers Aktiengesellschaft Method and device for producing a plasma
DE10161743A1 (en) * 2001-12-15 2003-07-10 Huettinger Elektronik Gmbh High-frequency excitation system
DE10312549B3 (en) * 2003-03-21 2004-08-26 Hüttinger Elektronik Gmbh + Co. Kg Power supply for direct current gas discharge equipment has three-phase supply with full-wave rectifier followed by inverter, transformer, second rectifier and second voltage reduction stage

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4957606A (en) * 1987-07-28 1990-09-18 Juvan Christian H A Separation of dissolved and undissolved substances from liquids using high energy discharge initiated shock waves
EP1126504A1 (en) * 2000-02-18 2001-08-22 European Community Method and apparatus for inductively coupled plasma treatment
TW584902B (en) * 2000-06-19 2004-04-21 Applied Materials Inc Method of plasma processing silicon nitride using argon, nitrogen and silane gases
JP3903730B2 (en) * 2001-04-04 2007-04-11 松下電器産業株式会社 Etching method
US7230258B2 (en) * 2003-07-24 2007-06-12 Intel Corporation Plasma-based debris mitigation for extreme ultraviolet (EUV) light source

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0849766A2 (en) * 1992-01-24 1998-06-24 Applied Materials, Inc. Etch process
US5521351A (en) * 1994-08-30 1996-05-28 Wisconsin Alumni Research Foundation Method and apparatus for plasma surface treatment of the interior of hollow forms
DE19825056C1 (en) * 1998-06-04 2000-01-13 Fraunhofer Ges Forschung Circuit for supplying electrical energy to plasma can feed high power to unipolar or bipolar pulsed plasma with switching region in range 20 to 100 kHz with conventional IGBT switch
JP2001143896A (en) * 1999-11-18 2001-05-25 Fuji Electric Co Ltd Plasma generator and method of operating it
WO2003030207A1 (en) * 2001-09-28 2003-04-10 Unaxis Balzers Aktiengesellschaft Method and device for producing a plasma
DE10161743A1 (en) * 2001-12-15 2003-07-10 Huettinger Elektronik Gmbh High-frequency excitation system
DE10312549B3 (en) * 2003-03-21 2004-08-26 Hüttinger Elektronik Gmbh + Co. Kg Power supply for direct current gas discharge equipment has three-phase supply with full-wave rectifier followed by inverter, transformer, second rectifier and second voltage reduction stage

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