DE102007019391A1 - Electrical and/or electronic components testing device, has holding-down units fixing electrical and/or electronic components to contact units, where each holding-down unit is fixable in two positions spaced from contact units differently - Google Patents

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Abstract

The device has a set of contact units (4) i.e. partial spring contacts, for producing electrical contacts with electrical and/or electronic components (2). Holding-down units (7) are used for fixing the electrical and/or electronic components to the contact units. Each holding-down unit is fixable in two positions spaced from the contact units differently. The holding-down units are spaced from the contact units by a spacer unit (11), where the spacer unit includes a frame (9). Probe tips of the contact units are distant from an electrical/electronic circuit. An independent claim is also included for a method for examining circuits.

Description

Die vorliegende Erfindung befasst sich mit einer Vorrichtung zum Prüfen von elektrischen Schaltungen und/oder elektronischen Bauteilen umfassend eine Mehrzahl an Kontaktmitteln um elektrischen Kontakt mit dem elektrischen und/oder elektronischen Bauteil herzustellen und ein oder mehrere Niederhaltermittel um das elektrische und/oder elektronische Bauteil an den Kontaktmitteln zu fixieren nach dem Oberbegriff des ersten unabhängigen Anspruchs.The The present invention relates to a device for testing comprising electrical circuits and / or electronic components a plurality of contact means for electrical contact with the produce electrical and / or electronic component and a or more hold-down means around the electrical and / or electronic To fix the component to the contact means according to the preamble of first independent Claim.

Im Stand der Technik werden Schaltungen mit einer Vorrichtung zum Prüfen auf ihre Funktionalität geprüft. Dabei werden an vorbestimmten Stellen der zu prüfenden Schaltung bestimmte elektrische Signale an die Schaltung abgegeben, wobei diese Signale an der selben Stelle zeitverzögert oder an einer weiteren Stelle gemessen werden. Durch den Vergleich zwischen dem angelegten Signal und dem gemessenen Signal kann ersehen werden, ob die Schaltung ordnungsgemäß funktioniert oder einen Defekt aufweist.in the The prior art circuits with a device for testing their functionality checked. It will be determined at predetermined locations of the circuit to be tested electrical signals are delivered to the circuit, these signals delayed in the same place or be measured at another location. By comparison between the applied signal and the measured signal can be seen whether the circuit is working properly or a defect having.

In der Regel werden eine Vielzahl solcher elektrischer Kontakte zur Prüfung der Schaltung an eine Schaltung angelegt. Dazu werden im Stand der Technik Prüfnadeln verwendet, die in einer bestimmten Weise angeordnet sind, so dass die Schaltung auf die Prüfnadeln gelegt werden kann und die Prüfnadeln dann mit ihrer Spitze bestimmte Prüfpunkte der Schaltung elektrisch kontaktieren. Damit dieser Kontakt zuverlässig zu Stande kommt, sind die Prüfnadeln und die Schaltung von einem Rahmen umgeben, in dem eine Niederhalterplatte verschiebbar beweglich ist. Die Niederhalterplatte schließt dabei mit dem Rahmen nahezu luftdicht ab. Die Niederhalterplatte kann nun durch Anlegen eines Unterdrucks in Richtung der Kontaktnadeln verschoben werden, so dass der Raum, der durch den Rahmen und die Niederhalterplatte eingeschlossen ist, sich verkleinert. Dadurch wird durch Niederhalter, die an der Niederhalterplatte angebracht sind und auf die Schaltung wirken die Schaltung an die Kontaktnadeln gepresst und so der elektrische Kontakt zwischen den Prüfstellen der Schaltung und den Spitzen der Kontaktnadeln zuverlässig hergestellt.In usually a variety of such electrical contacts to exam the circuit is applied to a circuit. These are in the prior art probes used, which are arranged in a certain way, so that the circuit on the test pins can be placed and the test pins then with its tip certain test points of the circuit electrically to contact. So that this contact comes reliably, are the test pins and the circuit surrounded by a frame in which a hold-down plate is movable movable. The hold-down plate closes with the frame almost airtight. The hold-down plate can now by applying a negative pressure in the direction of the contact pins be moved so that the space through the frame and the Retainer plate is included, downsized. Thereby is made by hold-down, which attaches to the hold-down plate are and act on the circuit the circuit to the contact pins pressed and so the electrical contact between the test centers the circuit and the tips of the contact pins made reliable.

Jedoch sind nicht immer alle Kontaktnadeln zur gleichen Zeit an einer Prüfung beteiligt. Da alle Nadeln im Stand der Technik die Schaltung kontaktieren entstehen durch die nicht benötigten, jedoch kontaktierenden Nadeln elektrische Effekte, wie Kapazitäten und/oder Induktivitäten, die bei der Prüfung und der Beurteilung der Prüfergebnisse unerwünscht sind.however Not all contact pins are involved in an exam at the same time. Since all needles in the prior art contact the circuit arise through the unneeded, however, contacting needles have electrical effects such as capacitances and / or inductances during the exam and the assessment of the test results are undesirable.

Um dies zu vermeiden kann die Prüfung in mehreren Schritten durchgeführt werden, indem zuerst mit einer ersten Anzahl von Nadeln die Prüfung durchgeführt wird und anschließend weitere Nadeln in die Prüfvorrichtung eingebracht werden. Nach der Anordnung der weiteren Prüfnadeln wird dann ein zweiter Prüfvorgang durchgeführt. Dies ist jedoch sehr aufwendig, da zuerst die ersten Nadeln in das Prüfraster eingegeben werden müssen, dann die Schaltung und die Niederhalterplatte angeordnet werden muss und erst anschließend ein Test durchgeführt werden kann. Anschließend muss der Unterdruck wieder aus der Prüfvorrichtung entlassen werden, die Niederhalterplatte und die Schaltung entfernt werden, weitere zusätzliche oder andere Kontaktnadeln hinzugefügt werden und die Prüfvorrichtung wieder aufgebaut werden.Around This can avoid the test carried out in several steps by first testing with a first number of needles and subsequently more needles in the tester be introduced. After the arrangement of the other test needles then becomes a second inspection process carried out. However, this is very expensive, because first the first needles in the test grid must be entered then the circuit and the hold-down plate are arranged must and then afterwards carried out a test can be. Subsequently the vacuum must be released from the test device again, the hold-down plate and the circuit are removed, more additional or other contact pins are added and the tester be rebuilt.

Die Aufgabe der vorliegenden Erfindung ist es eine Vorrichtung und ein Verfahren zum Prüfen von Schaltungen zu schaffen, die es erleichtert eine Prüfung durchzuführen wobei in einem ersten Schritt nur ein Teil der Prüfmittel die Prüfkontakte kontaktiert.The Object of the present invention is a device and a Method for testing Creating circuits that makes it easier to perform an audit in a first step, only a part of the test equipment the Prüfkontakte contacted.

Gelöst wird diese Aufgabe durch eine Vorrichtung nach dem ersten unabhängigen Anspruch 1 und dem unabhängigen Anspruch 12, insbesondere durch eine Vorrichtung zum Prüfen von elektrischen und/oder elektronischen Bauteilen mit einer Mehrzahl an Kontaktmitteln um elektrischen Kontakt mit dem elektrischen und/oder elektronischen Bauteil herzustellen und ein oder mehrere Niederhaltermittel um das elektrische und/oder elektronische Bauteil an den Kontaktmitteln zu fixieren, wobei das mindestens eine Niederhaltermittel in mindestens zwei Messstellungen unterschiedlich beabstandet von den Kontaktmitteln fixiert werden kann.Is solved this object by a device according to the first independent claim 1 and the independent Claim 12, in particular by a device for testing electrical and / or electronic components with a plurality on contact means for electrical contact with the electrical and / or produce electronic component and one or more Niederhaltermittel order the electrical and / or electronic component on the contact means to fix, wherein the at least one holddown agent in at least two measuring positions differently spaced from the contact means can be fixed.

So ist es möglich Kontaktmittel zu verwenden, deren Messspitze unterschiedlich weit von dem Niederhaltermittel entfernt sind. Befindet sich das Niederhaltermittel in einer ersten Messstellung, so kontaktieren die Kontaktmittel deren Messspitze sich näher an dem Niederhaltermittel befinden die Schaltung, bzw. deren Messpunkte. Eine Messung durch diese Messpunkte kann anschließend durchgeführt werden. Die Messspitzen der weiteren Kontaktmittel sind dabei von der Schaltung entfernt, so dass hier kein Kontakt zwischen der Schaltung und den Kontaktmittel hergestellt ist. Durch diesen fehlenden elektrischen Kontakt zwischen den Kontaktmitteln und der Schaltung können unerwünschte elektrische und/oder auch mechanische Effekte durch den Kontakt zwischen den Kontaktmitteln und der Schaltung vermieden werden. Insbesondere können kapazitive und/oder induktive Effekte ausgeschlossen oder vermindert werden. In einer zweiten Messstellung des Niederhaltermittels, in der das Niederhaltermittel eine geringere Entfernung zu den Spitzen der Kontaktmittel aufweist, können nun weitere Kontaktmittel die Messpunkte der Schaltung kontaktieren. In dieser Messstellung des Niederhaltermittels kann dann eine Messung durch diese weiteren Kontaktpunkte der Schaltung mittels der weiteren Kontaktmittel durchführt werden.It is thus possible to use contact means whose measuring tips are at different distances from the hold-down means. If the hold-down means is in a first measuring position, the contact means, whose measuring tip is located closer to the hold-down means, contact the circuit or its measuring points. A measurement through these measuring points can then be carried out. The measuring tips of the further contact means are removed from the circuit, so that no contact between the circuit and the contact means is made here. This lack of electrical contact between the contact means and the circuit undesirable electrical and / or mechanical effects can be avoided by the contact between the contact means and the circuit. In particular, capacitive and / or inductive effects can be excluded or reduced. In a second measuring position of the hold-down means, in which the hold-down means has a smaller distance to the tips of the contact means, further contact means can now contact the measuring points of the circuit. In this measuring position of the holddown agent can then a Measurement be performed by these other contact points of the circuit by means of the further contact means.

Die Erfindung ist dabei nicht auf zwei Messstellungen beschränkt. Vielmehr sind eine Vielzahl an Messstellungen denkbar, so dass sich die Anzahl der Messkontakte in verschiedenen Schritten erhöht.The The invention is not limited to two measuring positions. Much more are a variety of measurement positions conceivable, so that the number the measuring contacts in different steps increased.

Vorteilhafterweise kann in der ersten Messstellung des Niederhaltermittels eine erste Grundmessung durchgeführt werden, bei der unter anderem die Versorgungsanschlüsse der Schaltung an die Spannungs- und Stromversorgung angeschlossen wird und ein erster Vergleich zwischen eingespeisten Signalen und den sich daraus ergebenden Siganlen gezogen wird.advantageously, can in the first measuring position of Niederhaltermittels a first Basic measurement performed Among other things, the supply connections of the Circuit is connected to the voltage and power supply and a first comparison between input signals and the resulting Siganlen is drawn.

Bevorzugt weisen mindestens zwei verschiedene Kontaktmittel verschiedene Längen auf. Obwohl die Erfindung auch realisierbar ist mit Kontaktmitteln die eine einheitliche Länge aufweisen, deren Messspitze jedoch verschieden weit von dem Niederhaltermittel und in einer Grundposition von der Schaltung entfernt ist, so ist es doch bevorzugt, Kontaktmittel 'zu verwenden, die verschiedene Längen aufweisen. So können die Kontaktmittel in eine einheitliche Halterung eingebracht werden und durch die Länge der Kontaktmittel kann bestimmt werden, ob die Kontaktspitze der Kontaktmittel in der ersten oder der weiteren Messposition die Messpunkte der Schaltung kontaktieren soll. Dies erlaubt die Halterung der Kontaktmittel einheitlich zu gestalten, so dass sie für verschiedene Schaltungen verwendet werden kann und durch die Länge der Kontaktmittel vorher zu bestimmen, ob die Kontaktmittel in einer ersten oder in einer zweiten Stellung die Schaltung kontaktieren.Prefers At least two different contact means have different lengths. Although the invention is also feasible with contact means the a uniform length However, their measuring tip different from the hold-down means and is in a home position away from the circuit, so is it is still preferable to use contact means having different lengths. So can the contact means are introduced into a single holder and by the length the contact means can be determined whether the contact tip of the Contact means in the first or the further measuring position the measuring points to contact the circuit. This allows the holder of the Make contact agents uniform, so that they can be used for different purposes Circuits can be used and by the length of the Contact means before to determine whether the contact means in a first or contact the circuit in a second position.

Bevorzugt sind die Kontaktmittel zumindest teilweise Federkontakte. Solche Federkontakte können zum Beispiel jeweils aus einer elektrisch leitenden Hülse bestehen, in die gleitend eine Kontaktnadel geführt ist. Die Kontaktnadel wird dabei in der Hülse durch eine Feder in eine Ausgangsstellung gedrückt, so dass das Kontaktmittel in einer entspannten Lage seine maximale Länge aufweist. Werden nun Federkontakte verschiedener Länge an einer Nadelträgerplatte befestigt, zum Beispiel indem die Hülsen der Federkontakte in schon vorbebohrte Öffnungen in der Nadelträgerplatte eingeführt werden, so können, wenn das Niederhaltermittel in die erste Messposition gefahren wird, zuerst ein Teil der Federkontakte, insbesondere solche die eine größere Länge aufweisen, die ersten vorgesehenen Messpunkte an der Schaltung kontaktieren. Wird nun das Niederhaltermittel in eine zweite Messposition gefahren, also noch näher an die Kontaktmittel, so drückt der Druck, der von dem Niederhaltermittel auf die Schaltung ausgeübt wird, den Teil der Kontaktmittel zusammen, die schon die Schaltung kontaktieren. Dabei wird die Kontaktnadel gegen den Federdruck in die Hülse gedrückt. Die gesamte Länge dieser Kontaktmittel wird dadurch geringer und die Schaltung nähert sich weiter an die weiteren Kontaktmittel an. Befindet sich das Niederhaltermittel in der zweiten Messposition, so sind bevorzugt die Kontaktmittel, die bereits in einer ersten Messposition die Schaltung kontaktiert haben weiter zusammengedrückt und die zweite Gruppe weist somit die selbe Länge auf, wie die erste Gruppe.Prefers the contact means are at least partially spring contacts. Such Spring contacts can for example, each consist of an electrically conductive sleeve, in the sliding a contact pin is guided. The contact needle is while in the sleeve pressed by a spring into a starting position, so that the contact means in a relaxed position has its maximum length. Become spring contacts now different length on a needle carrier plate fastened, for example by the sleeves of the spring contacts in already pre-drilled openings in the needle carrier plate introduced be, so, when the hold-down means is moved to the first measuring position, First, a part of the spring contacts, especially those the one have greater length, Contact the first intended measuring points on the circuit. If now the holddown agent is moved to a second measuring position, so even closer to the contact means, the presses Pressure exerted by the hold-down means on the circuit, the part of the contact means that already contact the circuit. there the contact needle is pressed against the spring pressure in the sleeve. The whole length This contact means is thereby reduced and the circuit is approaching continue to the other contact means. Is the holddown agent in the second measuring position, the contact means, which already contacted the circuit in a first measuring position have further compressed and the second group thus has the same length as the first group.

Weiter bevorzugt ist das mindestens eine Niederhaltermittel von dem Kontaktmitteln über mindestens ein Abstandmittel beabstandet. Dieses Abstandsmittel kann bevorzugt so angeordnet sein, dass das Niederhaltermittel dadurch geführt wird und das Mittel zur Platzierung und Befestigung der Kontaktmittel, insbesondere die Nadelträgerplatte relativ zu dem Abstandsmittel fest ist. Das Abstandsmittel gibt so den Abstand zwischen dem Niederhaltermittel und den Kontaktmittel an. Insbesondere kann das Abstandsmittel einen Vorsprung aufweisen, auf dem das Niederhaltermittel ruht.Further Preferably, the at least one hold-down agent of the contact means via at least a distance means spaced. This spacing agent may be preferred be arranged so that the hold-down means is guided thereby and the means for placing and securing the contact means, in particular the needle carrier plate is fixed relative to the spacer means. The spacer gives so the distance between the hold-down means and the contact means at. In particular, the spacing means may have a projection, on which the hold-down means rests.

Insbesondere umfasst das Abstandsmittel einen Rahmen. Dieser Rahmen kann die Schaltung, das Niederhaltermittel und die Kontaktmittel umschließen. Insbesondere kann der Rahmen nahezu luftdicht sein und durch das Niederhaltermittel und eine weitere Bodenplatte einen Raum einschließen, in dem sich auch die zu prüfende Schaltung befindet. In diesem Raum kann zu Beispiel ein Unterdruck erzeugt werden, so dass die Niederhaltermittel in Richtung der Kontaktmittel bewegen lasst. Insbesondere kann der Rahmen einen oder mehrere Vorsprünge aufweisen, die die Bewegung des Niederhalters begrenzen und so die Messpositionen des Niederhaltermittels definieren.Especially the spacer means comprises a frame. This frame can be the Circuit, the hold-down means and the contact means enclose. Especially The frame can be almost airtight and by the hold-down means and another floor slab to enclose a room in which also has to be tested Circuit is located. In this room, for example, a negative pressure be generated, so that the hold-down means in the direction of the contact means let move. In particular, the frame may have one or more projections, which limit the movement of the hold-down and thus the measuring positions Define the Niederhaltermittels.

Insbesondere kann das Abstandsmittel ein verschiebbares Abstandsmittel umfassen. Dieses Abstandsmittel kann auf dem Vorsprung des Rahmens ruhen und durch die Verschiebung den Abstand zwischen dem Rahmenvorsprung und dem Niederhalter verändern. Dieses Abstandsmittel kann bevorzugt auch als Rahmen ausgebildet sein und so die Niederhalterstifte, die zusammen mit einer Niederhalterplatte das Niederhaltemittel bilden können, freilassen, damit die Niederhalterstifte auf die Schaltung drücken können und so die Schaltung in Richtung der Kontaktmittel niederhalten können.Especially the spacer means may comprise a displaceable spacer means. This spacer means can rest on the projection of the frame and by shifting the distance between the frame projection and change the hold down. This spacing means may also be designed as a frame and so are the hold-down pins, along with a hold-down plate the depressant can form, release, so that the hold-down pins can press on the circuit and so can hold down the circuit in the direction of the contact means.

In einer bevorzugten Ausführungsform liegt das verschiebbare Abstandsmittel an dem Rahmen auf. Dabei kann es direkt an dem Rahmen aufliegen oder aber auch an einer Aussparung des Rahmens bzw. einem Vorsprung des Rahmens verschiebbar gelagert werden. Das verschiebbare Abstandsmittel ist dabei so gelagert, dass es annähernd oder genau in einer Richtung parallel zur Niederhalterplatte verschoben werden kann. Auf dem verschiebbaren Abstandsmittel kann die Niederhalterplatte positioniert sein, so dass das Abstandsmittel den Abstand zwischen Niederhalterplatte und der Raststelle des Rahmens, die durch den Vorsprung oder die Aussparung ausgebildet sein kann definiert.In a preferred embodiment, the displaceable spacer means rests against the frame. It may rest directly on the frame or be slidably mounted on a recess of the frame or a projection of the frame. The displaceable spacer means is mounted so that it is approximately or accurate can be moved in a direction parallel to the hold-down plate. The hold-down plate may be positioned on the displaceable spacing means such that the spacing means defines the distance between the hold-down plate and the detent location of the frame which may be formed by the protrusion or the recess.

Das Abstandsmittel kann weiter Aussparungen aufweisen. Diese Aussparungen können sowohl durchgängig, also durch das ganze Abstandsmittel ausgebildet sein, aber auch als Sacklöcher. Dabei ist es vorteilhaft, wenn das Abstandsmittel eine Vielzahl von Aussparungen aufweist.The Spacer may further have recesses. These recesses can both consistently, So be formed by the whole spacing means, but also as blind holes. It is advantageous if the spacing means a plurality of Has recesses.

In einer weiteren Ausführung weist das Niederhaltermittel Vorsprünge auf. Diese Vorsprünge sind so ausgebildet, dass die Vorsprünge in die Aussparungen des Abstandsmittel eingebracht werden können.In another embodiment The hold-down means has projections. These projections are designed so that the projections can be introduced into the recesses of the spacer.

In einer weiteren Ausführungsform ist es auch möglich, dass das Abstandsmittel Vorsprünge aufweist und die Niederhalterplatte entsprechende Aussparungen.In a further embodiment it is also possible in that the spacer means has projections and the hold-down plate corresponding recesses.

Vorteilhaft befinden sich in einer ersten Position die Vorsprünge des Niederhaltermittel in den Aussparungen des Abstandsmittels.Advantageous are in a first position, the projections of the Hold-down means in the recesses of the spacer means.

In einer zweiten Position befinden sich die Vorsprünge des Niederhaltermittels zumindest teilweise sich nicht in den Aussparungen des Abstandsmittels. Somit beabstanden die Vorsprünge die Niederhalterplatte von den Vorsprüngen des Rahmens und die Niederhalter drücken die Schaltung weniger weit auf Kontaktmittel, so können nur ein Teil der Kontaktmittel die Schaltung kontaktieren und weniger lange Konatktmittel können auf Abstand zur Schaltung gehalten werden.In a second position are the projections of the hold-down means at least partially not in the recesses of the spacer. Thus, the projections space the hold-down plate from the projections of the frame and the hold-down to press the circuit is less far on contact means, so can only a portion of the contact means contact the circuit and less long Konatktmittel can kept at a distance to the circuit.

Verfahren zum Prüfen von Schaltungen wobei ein Schaltung zumindest auf einer ersten Gruppe von Kontaktelementen platziert wird, ein Niederhaltermittel von der anderen Seite der Schaltung auf die Schaltung gedrückt wird, dadurch gekennzeichnet, dass das Niederhaltermittel durch einen Verschieberahmen von einem Rahmen beabstandet wird und durch das Verschieben des Verschieberahmens der Abstand zwischen dem Niederhaltermittel und den Kontaktelementen verändert wird.method for testing of circuits wherein a circuit is at least on a first group of Contact elements is placed, a hold-down means of the other side of the circuit is pressed onto the circuit characterized in that the hold-down means by a Displacement frame is spaced from a frame and through the Moving the displacement frame, the distance between the hold-down means and changed the contact elements becomes.

Im weiteren wird die Erfindung beispielhaft anhand der Zeichnungen mittels einem Ausführungsbeispiels gezeigt. Dabei zeigtin the Further, the invention by way of example with reference to the drawings by means of an embodiment shown. It shows

1 eine Vorrichtung in einer Schnittdarstellung in einer ersten Messposition, 1 a device in a sectional view in a first measuring position,

2 die Vorrichtung in einer Schnittdarstellung in einer zweiten Messposition, 2 the device in a sectional view in a second measuring position,

3 ein Abstandssmittel von oben und 3 a distance means from above and

4 ein Diagramm des Verfahrens zum Testen von Schaltungen. 4 a diagram of the method for testing circuits.

1 zeigt eine Vorrichtung 1 zum Prüfen von elektrischen und/oder elektronischen Schaltungen 2. Die Schaltung weist dabei elektrisch kontaktierbare Stellen 3 auf, die vorgesehen sind, dass ein elektrischer Strom einer bestimmten Stärke und/oder Spannung an der Schaltung angelegt werden kann und so die Funktionalität der Schaltung geprüft werden kann. 1 shows a device 1 for testing electrical and / or electronic circuits 2 , The circuit has electrically contactable points 3 on, which are provided that an electric current of a certain strength and / or voltage can be applied to the circuit and so the functionality of the circuit can be checked.

Die elektrisch kontaktierbaren Stellen 3 werden durch Kontaktmittel 4 kontaktiert. Diese Kontaktmittel 4 umfassen zum Beispiel Federkontakte. Federkontakte bestehen aus mindestens zwei Bauteilen, einer Kontakthülse 5 und einem Kontaktstift 6, der federnd in der Kontakthülse 5 gelagert ist. Der Kontaktstift weist dabei eine elektrisch leitende Spitze auf, die geeignet ist die Schaltung an den vorgesehenen Prüfstellen zu kontaktieren. Diese Federkontakte sind in verschiedenen Längen erhältlich.The electrically contactable points 3 be through contact means 4 contacted. These contact agents 4 include, for example, spring contacts. Spring contacts consist of at least two components, a contact sleeve 5 and a contact pin 6 , which is springy in the contact sleeve 5 is stored. The contact pin has an electrically conductive tip, which is suitable to contact the circuit at the designated test points. These spring contacts are available in different lengths.

Die Kontaktmittel 4 sind mit einer Vorrichtung elektrisch verbunden, die einen definierten Prüfstrom einerseits hervorbringen kann, andererseits auch messen kann, ob und in welcher Höhe ein solcher Prüfstrom an einem Kontaktmittel 4 anliegt.The contact means 4 are electrically connected to a device that can produce a defined test current on the one hand, on the other hand can measure whether and at what level such a test current to a contact means 4 is applied.

Die Kontaktmittel 4 sind nahezu parallel zueinander angeordnet. Auf einer ersten Gruppe von Kontaktmitteln 4' liegt die Schaltung 2, so dass die erste Gruppe 4' von Kontaktmitteln zumindest teilweise vorgesehene Prüfstellen der Schaltung kontaktieren. Eine zweite Gruppe von Kontaktmitteln 4'' ist so angeordnet, dass ihre elektrisch leitende Spitze sich beabstandet zu der Schaltung 2, bzw. deren Prüfstellen 3 befindet.The contact means 4 are arranged almost parallel to each other. On a first group of contact agents 4 ' is the circuit 2 so the first group 4 ' contacted by contact means at least partially provided test points of the circuit. A second group of contact agents 4 '' is arranged so that its electrically conductive tip is spaced from the circuit 2 or their testing centers 3 located.

Auf der den Kontaktmitteln 4 abgewandten Seite der Schaltung 2 greift ein Niederhaltermittel 7 auf die Schaltung 2 ein. Das Niederhaltermittel 7 umfasst eine Niederhalterplatte 8 und darin befestigte Niederhalter 8', die als Nadeln ausgebildet sind. Die Niederhalterplatte ist in einem Rahmen 9 verschiebbar gelagert und kann so in Richtung der Schaltung 2 verschoben werden. Wird die Niederhalterplatte 8 in Richtung der Schaltung 2 verschoben, so bewegen sich die in der Niederhalterplatte 8 befestigten Niederhalter 8' auf die Schaltung 2 zu um die Schaltung schließlich in Richtung der Kontaktmittel 4 zu drücken und so einen sicheren Kontakt zwischen den Prüfstellen und den Kontaktmitteln herzustellen.On the contact means 4 opposite side of the circuit 2 engages a hold-down agent 7 on the circuit 2 one. The hold-down agent 7 includes a hold-down plate 8th and hold-downs mounted therein 8th' , which are formed as needles. The hold-down plate is in a frame 9 slidably mounted and can be so in the direction of the circuit 2 be moved. Will the hold-down plate 8th in the direction of the circuit 2 moved, so move in the hold-down plate 8th fixed downholder 8th' on the circuit 2 to make the circuit eventually towards the contact means 4 to press and thus establish a secure contact between the test centers and the contact means.

Das Niederhaltermittel 4 wird mittels Unterdruck bewegt. Dazu ist der Rahmen 9 zumindest weitgehend luftdicht ausgebildet. An der Seite der Kontaktmittel ist dabei der Rahmen zum Beispiel durch eine Bodenplatte abgedichtet. Durch diese Bodenplatte und oder durch den Rahmen selbst ist ein Schlauch geführt, durch den die Luft aus dem Raum gesaugt werden kann, der durch den Rahmen, die Bodenplatte und die Niederhalterplatte begrenzt ist. Dies bewirkt einen Zug auf die Niederhalterplatte, so dass sich die Niederhalterplatte auf die Kontaktmittel hin bewegt.The hold-down agent 4 is moved by means of negative pressure. This is the frame 9 at least largely formed airtight. At the side of the contact means while the frame is sealed for example by a bottom plate. Through this bottom plate and or through the frame itself, a hose is passed through which the air can be sucked out of the space bounded by the frame, the bottom plate and the hold-down plate. This causes a pull on the hold-down plate so that the hold-down plate moves toward the contact means.

Der Rahmen weist einen Vorsprung 10 auf, auf dem ein Verschieberahmen 11 aufliegt. Dieser Verschieberahmen 11 weist Distanzstücke 12 auf, die in der ersten Position des Verschieberahmens 11 die Niederhalterplatte von dem Vorsprung 10 beabstanden und somit die Niederhalterplatte auf einer ersten Distanz 13 von dem Vorsprung 10 halten.The frame has a projection 10 on, on which a sliding frame 11 rests. This sliding frame 11 has spacers 12 on that in the first position of the sliding frame 11 the hold-down plate from the projection 10 spaced and thus the hold-down plate at a first distance 13 from the lead 10 hold.

In dieser Position drücken die an der Niederhalterplatte 8 befestigten Niederhalter 8', die zum Beispiel durch die Niederhalterplatte gesteckt sind und dort jeweils durch eine Schraube 14 befestigt sind, auf die Schaltung 2, so dass einer erste Gruppe an Kontaktmitteln 4' die Schaltung an vorbestimmten Stellen 3 der Schaltung 2 mit ihrer elektrisch leitenden Spitze 6 kontaktieren. Eine zweite Gruppe 4' an Kontaktmitteln 4 ist dabei so positioniert, dass sie in dieser Stellung des Niederhaltermittels keinen elektrischen Kontakt zu der Schaltung aufweisen.In this position, press on the hold-down plate 8th fixed downholder 8th' , which are, for example, inserted through the hold-down plate and there each by a screw 14 are attached to the circuit 2 , making a first group of contact agents 4 ' the circuit at predetermined locations 3 the circuit 2 with its electrically conductive tip 6 to contact. A second group 4 ' at contact means 4 is positioned so that they have no electrical contact with the circuit in this position of the hold-down means.

Wie in 2 gezeigt, kann nun der Verschieberahmen mittels Motor oder manuell mittels eines Schiebebügels oder Drehknopfs, der aus dem Rahmen 10 herausragt, verschoben werden, so dass die Distanzstücke 12 in den Aussparungen 15 der Niederhalterplatte 8 zu liegen kommen.As in 2 Now, the sliding frame can be shown by means of motor or manually by means of a push handle or knob, which is out of the frame 10 sticking out, be moved, leaving the spacers 12 in the recesses 15 the hold-down plate 8th to come to rest.

Dazu wird zuerst der Unterdruck aus dem Raum innerhalb des Rahmens 9 entfernt, so dass auch das Niederhaltemittel 7 nicht weiter in Richtung Schaltung 2 gedrückt wird. Nun wird mittels eines Stiftes, der durch die Niederhalterlatte geführt ist und an deren Ende exzentrisch ein Nocken angeordnet ist, der Verschieberahmen verschoben. Dafür greift der Nocken in ein Loch des Verschieberahmens ein und durch die Drehung des Stiftes wird der Verschieberahmen so in eine Richtung bewegt, dass die Vorsprünge des Verschieberahmens in den Aussparungen der Niederhalterplatte zu liegen kommen.For this, first the negative pressure from the space within the frame 9 removed, so that also the hold-down 7 not further towards the circuit 2 is pressed. Now, by means of a pin which is guided by the hold-down bar and at the end of which a cam is arranged eccentrically, the displacement frame is displaced. For the cam engages in a hole of the sliding frame and by the rotation of the pin, the sliding frame is moved in a direction that the projections of the sliding frame come to lie in the recesses of the hold-down plate.

Dadurch verringert sich die Distanz 13 zwischen der Unterseite der Niederhalterplatte 8 und dem Vorsprung 10. Die Niederhalterplatte wird durch Unterdruck weiter in Richtung der Kontaktmittel geschoben und somit drücken die Niederhalter 8' die Schaltung weiter auf die Kontaktmittel. Die Kontaktstifte der ersten Gruppe von Kontaktmitteln 4 werden weiter in die Hülse geschoben, so dass sich die Gesamtlänge der ersten Gruppe an Kontaktmittel verkleinert. Durch diese geringere Distanz zwischen Schaltung und Bodenplatte gelangen auch die zweite Gruppe an Kontaktmitteln 4'' mit ihren elektrisch leitenden Spitzen an die vorbestimmten Prüfstellen der Schaltung 2. Nun kann auch durch diese Prüfkontakte Strom geleitet werden und die Schaltung hier geprüft werden.This reduces the distance 13 between the bottom of the hold-down plate 8th and the lead 10 , The hold-down plate is pushed by vacuum further in the direction of the contact means and thus press down 8th' the circuit continues on the contact means. The contact pins of the first group of contact means 4 are further pushed into the sleeve, so that the total length of the first group decreases in contact means. Due to this smaller distance between the circuit and the bottom plate, the second group of contact means also arrives 4 '' with their electrically conductive tips to the predetermined test points of the circuit 2 , Now, current can also be conducted through these test contacts and the circuit tested here.

Wird nun der Unterdruck aus dem, durch den Rahmen umschlossenen Raum entlassen, so kann die Niederhalterplatte leicht abgenommen werden und die Schaltung kann aus der Prüfvorrichtung entnommen werden.Becomes now the vacuum from the space enclosed by the frame discharged, so the hold-down plate can be easily removed and the circuit can be out of the tester be removed.

Der Verschieberahmen (11) ist in 3 gezeigt. es handelt sich hierbei um ein Rechteck aus Kunststoff, wie GFK3, CEM1. Die Dicke des Rahmens beläuft sich auf ca. 3–5 mm. Entlang des Rahmens sind auf einer Seite nahezu oder gleichmäßig Distanzstücke (12) angebracht. Diese Distanzstücke (12) haben ca. eine Höhe von weiteren 3 bis 5 mm. Der Verschieberahmen weist weiter längliche Aussparungen 16, in denen Führungen eingebracht werden, die am Rahmen fixiert sind und so den Verschieberahmen und die Niederhalterplatte führen. Die Führungen füllen jedoch die Aussparungen nicht vollständig aus, sondern lassen genügend Platz, damit der Verschieberahmen um eine bestimmte Strecke verschoben werden kann.The sliding frame ( 11 ) is in 3 shown. This is a rectangle made of plastic, such as GFK3, CEM1. The thickness of the frame amounts to approx. 3-5 mm. Along the frame are on one side almost or even spacers ( 12 ) appropriate. These spacers ( 12 ) have a height of another 3 to 5 mm. The sliding frame further has elongated recesses 16 in which guides are introduced, which are fixed to the frame and so lead the sliding frame and the hold-down plate. However, the guides do not fill the recesses completely, but leave enough space for the transfer frame to be moved a certain distance.

Weiter weist der Verschieberahmen 11 ein Loch 17 auf, in die ein Nocken eingeführt werden kann. Der Nocken ist exzentrisch am Ende eines Stabes befestigt. Der Stab kann durch eine Hülse, die in der Niederhalterplatte angeordnet ist, an den Verschieberahmen herangeführt werden, so dass der Nocken in dem Loch 17 zu liegen kommt. Der Nocken hat dabei ein kleineres Außenmaß als das Loch. Wird der Stab nun gedreht, so schiebt der Nocken das Loch in eine Richtung und somit den Verschieberahmen in Relation zur Niederhalterplatte.Next, the sliding frame 11 a hole 17 on, in which a cam can be inserted. The cam is eccentrically attached to the end of a rod. The rod can be guided by a sleeve, which is arranged in the hold-down plate, to the sliding frame, so that the cam in the hole 17 to come to rest. The cam has a smaller external dimension than the hole. If the rod is now rotated, the cam pushes the hole in one direction and thus the transfer frame in relation to the hold-down plate.

4 zeigt das verfahren zum Verwenden der Vorrichtung zum Prüfen von Schaltungen. Dabei werden zuerst Kontaktmittel in einer Fixierung fixiert, so dass die Enden der Kontaktmittel in verschiedenem Abstand zu der Fixierung sind. Nun wird auf die Kontaktmittel die Schaltung aufgelegt, der Verschieberahmen 11 in einen Rahmen 9 eingebracht, der die Schaltung 2 und die Kontaktmittel 4 umfasst. Die Niederhalterplatte 8, an die stiftförmige Niederhalter 8' mittels Schrauben 14 befestigt sind, wird auf den Verschieberahmen 11 gelegt. Dabei wird sowohl der Verschieberahmen als auch die Niederhalterplatte durch eine am Rahmen 9 befestigte Führung geführt. Der Verschieberahmen ist dabei so geführt, dass die Distanzstücke 12 des Verschieberahmens 11 nicht in den Aussparungen der Niederhalterplatte zu liegen kommen. Über eine Druckpumpe wird nun die Luft aus dem Rahmen 9 gesaugt. Der Innenraum des Rahmens ist dabei einerseits durch den Rahmen 9, die Niederhalterplatte 8 und die Fixierung der Kontaktmittel 4 abgedichtet. So zieht der Unterdruck die Niederhalterplatte 8 in Richtung des Verschieberahmens und die Niederhalter drücken die Schaltung auf die Kontaktmittel 4. dabei kontaktieren die längeren Kontaktmittel die Prüfstellen 3 der Schaltung 2. Nun kann Spannung und Strom an die Prüfstellen 3 appliziert werden und so die Gesamtfunktionalität der Schaltung 2 geprüft werden. Die kürzeren Kontaktmittel 4'' kontaktieren dabei die Prüfstellen 3 nicht. 4 shows the method for using the device for testing circuits. In this case, first contact means are fixed in a fixation, so that the ends of the contact means are at different distances from the fixation. Now the circuit is placed on the contact means, the sliding frame 11 in a frame 9 introduced the circuit 2 and the contact means 4 includes. The hold-down plate 8th , to the pin-shaped hold-down 8th' by means of screws 14 are fixed, is on the sliding frame 11 placed. In this case, both the sliding frame and the hold-down plate by a frame 9 guided guided tour. The sliding frame is guided so that the spacers 12 of the transfer frame 11 do not come to lie in the recesses of the hold-down plate. About a pressure pump is now the air from the frame 9 sucked. The interior of the Frame is on the one hand by the frame 9 , the hold-down plate 8th and the fixation of the contact means 4 sealed. So the negative pressure pulls the hold-down plate 8th in the direction of the shifting frame and the hold-down press the circuit on the contact means 4 , The longer contact means contact the test centers 3 the circuit 2 , Now voltage and current can be sent to the test centers 3 be applied and so the overall functionality of the circuit 2 being checked. The shorter contact means 4 '' Contact the test centers 3 Not.

Ist diese Prüfung zuende, so wird der Unterdruck im Innenraum des Rahmens in Richtung Normaldruck verändert. Der Druck der Niederhalterplatte durch die Niederhalter auf die Schaltung 2 wird dadurch verringert. Ein durch die Niederhalterplatte geführter Stift, der an seinem Ende einen exzentrisch angeordneten Vorsprung aufweist, wird nun so gedreht, dass dieser Vorsprung, der in das Loch 17 des Verschieberahmens eingreift, den Verschieberahmen 11 seitlich, parallel zur Niederhalterplatte 8 verschiebt. Die Führung bewegt sich dabei in den länglichen Führungslöchern 16 des Verschieberahmens 11. Die Distanzstücke 12 sind dann unter den Aussparungen 15 der Niederhalterplatte platziert. Wird nun wiederum ein Unterdruck in dem Innenraum des Rahmens 9 appliziert, so drückt die Niederhalterplatte in Richtung des Verschieberahmens 11 und die Distanzstücke 12 kommen in den Aussparungen 15 zu liegen. Die Endposition der Niederhalterplatte ist somit näher an der Fixierung der Kontaktmittel als in der ersten Endposition. Die erste längere Gruppe an Kontaktmitteln 4' werden nun zusammengedrückt, so dass ihre Kontaktnadeln weiter in die Kontakthüllen gedrückt werden. Die zweite Gruppe an Kontaktmitteln 4'' kontaktieren nun ebenfalls die entsprechenden Prüfpunkte 3, so dass die einzelnen Bauteile der Schaltung 2 geprüft werden können.If this test is over, the negative pressure in the interior of the frame is changed in the direction of normal pressure. The pressure of the hold-down plate through the hold-down on the circuit 2 is reduced by this. A led through the hold-down plate pin having an eccentrically arranged projection at its end is now rotated so that this projection, which in the hole 17 engages the transfer frame, the transfer frame 11 laterally, parallel to the hold-down plate 8th shifts. The guide moves in the elongated guide holes 16 of the transfer frame 11 , The spacers 12 are then under the recesses 15 placed the hold-down plate. Now again a negative pressure in the interior of the frame 9 applied, so presses the hold-down plate in the direction of the sliding frame 11 and the spacers 12 come in the recesses 15 to lie. The end position of the hold-down plate is thus closer to the fixation of the contact means than in the first end position. The first longer group of contact agents 4 ' are now compressed so that their contact pins are pressed further into the contact sheaths. The second group of contact agents 4 '' now also contact the corresponding checkpoints 3 so that the individual components of the circuit 2 can be tested.

Dem Fachmann ist es dabei klar, dass die beiden Prüfschritte auch in einer umgekehrten Reihenfolge erfolgen können, so dass zuerst die einzelnen Bauteile mit einem minimalen Strom geprüft werden um dann anschliessend die Gesamtfunktionalität mit einer geringeren Anzahl an Prüfnadeln durchzuführen. So kann verhindert werden, dass durch ein defektes Bauteil oder einen Kurzschluß ein großer Strom, der für den Funktionalitätstest notwendig ist, die restlichen Bauteile zerstört.the It is clear to the expert that the two test steps are also reversed Order can be made, so that first the individual components with a minimum current checked Then, then, the overall functionality with a less number of probes perform. This can be prevented by a defective component or a short circuit big stream, the for the functionality test is necessary, the remaining components destroyed.

11
Vorrichtung zum Prüfencontraption for testing
22
Schaltungcircuit
33
Kontaktstellencontact points
44
Kontaktmittelcontact means
4'4 '
erste Gruppe an Kontaktmittelnfirst Group of contact agents
4''4 ''
zweite Gruppe an Kontaktmittelnsecond Group of contact agents
55
Kontakthülsecontact sleeve
66
Kontaktstiftpin
77
NiederhaltermittelHold-down means
88th
NiederhalterplatteDown plate
8'8th'
NiederhalterStripper plate
99
Rahmenframe
1010
Vorsprunghead Start
1111
Verschieberahmensliding frame
1212
Distanzstückspacer
1313
Distanzdistance
1414
Schraubescrew
1515
Aussparungrecess

Claims (12)

Vorrichtung (1) zum Prüfen von elektrischen und/oder elektronischen Bauteilen (2) umfassend eine Mehrzahl an Kontaktmitteln (4) um elektrischen Kontakt mit dem elektrischen und/oder elektronischen Bauteil (2) herzustellen und ein oder mehrere Niederhaltermittel (7) um das elektrische und/oder elektronische Bauteil (2) an den Kontaktmitteln (4) zu fixieren, dadurch gekennzeichnet, dass das mindestens eine Niederhaltermittel (7) in mindestens zwei Stellungen unterschiedlich beabstandet von den Kontaktmitteln (4) fixiert werden kann.Contraption ( 1 ) for testing electrical and / or electronic components ( 2 ) comprising a plurality of contact means ( 4 ) for electrical contact with the electrical and / or electronic component ( 2 ) and one or more hold-down agents ( 7 ) around the electrical and / or electronic component ( 2 ) at the contact means ( 4 ), characterized in that the at least one holddown means ( 7 ) in at least two positions differently spaced from the contact means ( 4 ) can be fixed. Vorrichtung nach dem vorhergehenden Anspruch, dadurch gekennzeichnet, dass mindestens zwei verschiedene Kontaktmittel (4) verschiedene Längen aufweisen.Device according to the preceding claim, characterized in that at least two different contact means ( 4 ) have different lengths. Vorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass die Kontaktmittel (4) zumindest teilweise Federkontakte sind.Device according to one of the preceding claims, characterized in that the contact means ( 4 ) are at least partially spring contacts. Vorrichtung nach einem der vorangehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass das mindestens eine Niederhaltermittel (7) von dem Kontaktmitteln (4) über mindestens ein Abstandmittel (9; 11) beabstandet ist.Device according to one of the preceding claims, characterized in that the at least one hold-down means ( 7 ) of the contact agent ( 4 ) via at least one distance means ( 9 ; 11 ) is spaced. Vorrichtung nach dem vorhergehenden Anspruch, dadurch gekennzeichnet, dass das Abstandsmittel (9; 11) einen Rahmen (9) umfasst.Device according to the preceding claim, characterized in that the spacing means ( 9 ; 11 ) a frame ( 9 ). Vorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche 4 und 5, dadurch gekennzeichnet, dass das Abstandsmittel (9; 11) ein verschiebbares Abstandsmittel (11) umfasst.Device according to one of the preceding claims 4 and 5, characterized in that the spacing means ( 9 ; 11 ) a displaceable spacer means ( 11 ). Vorrichtung nach dem vorhergehenden Anspruch, dadurch gekennzeichnet, dass das verschiebbare Abstandsmittel (11) an dem Rahmen (9) aufliegt.Device according to the preceding claim, characterized in that the displaceable spacing means ( 11 ) on the frame ( 9 ) rests. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 4 bis 7, dadurch gekennzeichnet, dass das Abstandsmittel (11) Distanzmittel (12) aufweist.Device according to one of claims 4 to 7, characterized in that the spacing means ( 11 ) Distance means ( 12 ) having. Vorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass das Niederhaltermittel (8) Aussparungen (15) aufweist.Device according to one of the preceding Claims, characterized in that the hold-down means ( 8th ) Recesses ( 15 ) having. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 8 und 9, dadurch gekennzeichnet, dass in einer ersten Position sich die Distanzmittel (12) des Abstandsmittels (11) sich in den Aussparungen (15) des Niederhaltermittels (8) befinden.Device according to one of claims 8 and 9, characterized in that in a first position, the spacer means ( 12 ) of the spacer agent ( 11 ) in the recesses ( 15 ) of the holddown agent ( 8th ) are located. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 8 bis 10 dadurch gekennzeichnet, dass in einer zweiten Position die Distanzmittel (12) des Abstandsmittels (11) zumindest teilweise sich nicht in den Aussparungen (15) des Niederhaltermittels (8) befinden.Device according to one of claims 8 to 10, characterized in that in a second position, the spacer means ( 12 ) of the spacer agent ( 11 ) at least partially not in the recesses ( 15 ) of the holddown agent ( 8th ) are located. Verfahren zum Prüfen von Schaltungen wobei eine Schaltung (2) zumindest auf einer ersten Gruppe von Kontaktelementen (4) platziert wird, ein Niederhaltermittel (7) von der anderen Seite der Schaltung auf die Schaltung gedrückt wird, dadurch gekennzeichnet, dass das Niederhaltermittel (7) durch ein Abstandsmittel (11) von einem Rahmen (9) beabstandet wird und durch das Verschieben des Abstandsmittels (11) der Abstand zwischen dem Niederhaltermittel (7) und den Kontaktelementen (4) verändert wird.Method for testing circuits, wherein a circuit ( 2 ) at least on a first group of contact elements ( 4 ), a hold-down means ( 7 ) is pressed onto the circuit from the other side of the circuit, characterized in that the hold-down means ( 7 ) by a spacer ( 11 ) of a frame ( 9 ) and by moving the spacing means ( 11 ) the distance between the hold-down means ( 7 ) and the contact elements ( 4 ) is changed.
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Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3529207C1 (en) * 1985-08-14 1987-03-26 Genrad Gmbh Test device for electrical circuit boards
DE3637406C1 (en) * 1986-11-03 1988-05-05 Genrad Gmbh Test device for circuit boards

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3529207C1 (en) * 1985-08-14 1987-03-26 Genrad Gmbh Test device for electrical circuit boards
DE3637406C1 (en) * 1986-11-03 1988-05-05 Genrad Gmbh Test device for circuit boards

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