DE102006043668A1 - Controller for controlling semiconductor memory chip of semiconductor memory module, has control device for generating control signals, for controlling reading-and writing access to semiconductor memory chip - Google Patents

Controller for controlling semiconductor memory chip of semiconductor memory module, has control device for generating control signals, for controlling reading-and writing access to semiconductor memory chip Download PDF

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Abstract

The controller (SB) has a control device for generating control signals, for controlling a reading-and writing access to a semiconductor memory chip (HB), for generating address signals for addressing memory cells of the semiconductor memory chip for reading-and writing access. An address signal is produced by multiple address connections. The control device has a selector switch, with the address connections that is supplied by the selector switch selectively of an address signal or a control signal. Independent claims are also included for the following: (1) a semiconductor memory module with a controller, which has several semiconductor memory components (2) a method for operating a semiconductor memory module, which involves making a semiconductor memory module.

Description

Die Erfindung betrifft einen Steuerbaustein zur Steuerung eines Halbleiterspeicherbausteins eines Halbleiterspeichermoduls, wobei der Steuerbaustein über verschiedene Busse zur Übertragung von Steuer- und Adresssignalen mit Halbleiterspeicherbausteinen des Halbleiterspeichermoduls verbunden ist. Des weiteren betrifft die Erfindung ein Halbleiterspeichermodul, bei dem ein Steuerbaustein über verschiedene Busse zur Übertragung von Steuer- und Adresssignalen mit Halbleiterspeicherbausteinen verbunden ist. Die Erfindung betrifft auch ein Verfahren zum Betreiben eines derartigen Halbleiterspeichermoduls.The The invention relates to a control module for controlling a semiconductor memory module a semiconductor memory module, wherein the control module via various Buses for transmission of control and address signals with semiconductor memory devices the semiconductor memory module is connected. Furthermore it concerns The invention relates to a semiconductor memory module in which a control module via various Buses for transmission of control and address signals connected to semiconductor memory devices is. The invention also relates to a method for operating a such semiconductor memory module.

Bei einem Halbleiterspeichermodul sind auf einer Modulplatine mehrere Halbleiterspeicherbausteine angeordnet, die über einen Steuerbaustein mit der Umgebung des Speichermoduls kommunizieren. 1 zeigt eine Modulplatine MP, auf der ein Steuerbaustein SB angeordnet ist. Der Steuerbaustein SB ist auf einer mittleren Position auf einer Oberseite der Modulplatine platziert. Zu seiner linken und rechten Seite sind auf der Oberseite der Modulplatine Halbleiterspeicherbausteine HB und auf der Unterseite der Modulplatine weitere Halbleiterspeicherbausteine HB angeordnet. Die Halbleiterspeicherbausteine sind über verschiedene Busse zur Übertragung von Takt-, Steuer-, Adress- und Datensignalen mit dem Steuerbaustein verbunden. Der Steuerbaustein weist dazu eine Anzahl von Takt-, Steuer-, Adress- und Datenanschlüssen auf.In a semiconductor memory module, a plurality of semiconductor memory modules are arranged on a module board, which communicate via a control module with the environment of the memory module. 1 shows a module board MP on which a control block SB is arranged. The control module SB is placed in a middle position on an upper side of the module board. On its left and right side semiconductor memory devices HB and on the underside of the module board further semiconductor memory devices HB are arranged on the top of the module board. The semiconductor memory modules are connected via different buses for the transmission of clock, control, address and data signals to the control module. The control module has for this purpose a number of clock, control, address and data connections.

Jeder der Halbleiterspeicherbausteine HB enthält einen oder mehrere Speicherchips C. 2A zeigt einen Halbleiterspeicherbaustein HB, in dem vier Speicherchips C in einer Stapelanordnung platziert sind. Jeder der Speicherchips umfasst ein Speicherzellenfeld, in dem eine Vielzahl von Speicherzellen enthalten ist. 2B zeigt einen Speicherchip mit einem Speicherzellenfeld in vergrößerter Darstellung. Die Speicherzellen sind entlang von Wortleitungen WL zur Aktivierung einer der Speicherzellen und Bitleitungen BL zum Einschreiben eines Speicherzustandes in eine der Speicherzellen oder zum Auslesen eines Speicherzustandes aus einer der Speicherzellen angeordnet.Each of the semiconductor memory devices HB contains one or more memory chips C. 2A shows a semiconductor memory device HB, in which four memory chips C are placed in a stack arrangement. Each of the memory chips comprises a memory cell array in which a plurality of memory cells are contained. 2 B shows a memory chip with a memory cell array in an enlarged view. The memory cells are arranged along word lines WL for activating one of the memory cells and bit lines BL for writing a memory state into one of the memory cells or for reading out a memory state from one of the memory cells.

Im Falle von DRAM (Dynamic Random Access Memory)-Speicherzellen umfasst eine Speicherzelle einen Auswahltransistor AT und einen Speicherkondensator SC. Der Speicherkondensator SC lässt sich über ein entsprechendes Steuersignal auf der Wortleitung WL leitend mit der Bitleitung BL für einen Speicherzugriff verbinden. Zur Verbesserung der Signalintegrität bei einem Schreibzugriff wird auf dem Speicherchip ein Terminierungswiderstand (On-Die Termination Resistor) ODTW, über den ein Datenbus zur Übertragung der Daten aus dem Speicherchip terminiert wird, aktiv geschaltet.in the Case of Dynamic Random Access Memory (DRAM) memory cells a memory cell, a selection transistor AT and a storage capacitor SC. The storage capacitor SC leaves over a corresponding control signal on the word line WL conductive with the bit line BL for connect a memory access. To improve the signal integrity at a Write access becomes a termination resistor on the memory chip (On-The Termination Resistor) ODTW, over which a data bus is for transmission the data from the memory chip is terminated, switched active.

Zur Aktivierung des Terminierungswiderstandes wird der entsprechende Halbleiterspeicherbaustein beziehungsweise der darin enthaltene Speicherchip von dem Steuerbaustein SB mit einem Steuersignal ODTS (On-Die-Termination Signal) angesteuert. Des weiteren werden die Halbleiterspeicherbausteine zur Auswahl eines der darin enthaltenen Speicherchips mit einem Steuersignal CS (Chip Select Signal) angesteuert. Adresssignale werden an Adressanschlüssen des Steuerbausteins SB erzeugt und über Adressbusse den Speicherchips zur Auswahl ei ner der Speicherzellen des Speicherzellenfeldes für den Speicherzugriff zugeführt.to Activation of the termination resistor will be the corresponding one Semiconductor memory module or contained therein Memory chip from the control block SB with a control signal ODTS (On-the-termination signal) controlled. Furthermore, the Semiconductor memory modules for selecting one of them Memory chips with a control signal CS (Chip Select Signal) driven. Address signals are generated at address terminals of the control block SB and over Address busses the memory chips for selecting egg ner memory cells of the memory cell array for the memory access supplied.

Bei einem Speichermodul der Modulkonfiguration 2Rx4 befinden sich auf einem Halbleiterspeichermodul insgesamt 36 Speicherchips. Ein Rank gibt die Anzahl an Speicherbausteinen an, die notwendig ist, um die Busbreite zu dem Steuerbaustein bereitzustellen. Da die Busbreite im Allgemeinen 72 Bits umfasst gehören bei einer Organisationsform x4 des Halbleiterspeichers zu einem Rank 18 Speicherchips. Wenn das Halbleiterspeichermodul der 1 in einer Konfiguration 2Rx4 betrieben wird, sind in jedem der Halbleiterspeicherbausteine zwei Speicherchips angeordnet, so dass sich insgesamt 36 Speicherchips auf der Modulplatine befinden.For a memory module of the 2Rx4 module configuration, there are a total of 36 memory chips on a semiconductor memory module. A rank indicates the number of memory blocks necessary to provide the bus width to the control block. Since the bus width generally comprises 72 bits, an organization form x4 of the semiconductor memory belongs to a rank 18 memory chips. If the semiconductor memory module of 1 is operated in a configuration 2Rx4, two memory chips are arranged in each of the semiconductor memory devices, so that a total of 36 memory chips are located on the module board.

Da insbesondere die Steuerbausteine SB einen hohen Stromverbrauch aufweisen, ist man bestrebt die Anzahl der Halbleiterspeichermodule zur Realisierung eines Speichers mit einer bestimmten Kapazität zu reduzieren. Mit einem Halbleiterspeichermodul der Modulkonfiguration 4Rx4, das Halbleiterspeicherbausteine mit jeweils zwei gestapelt angeordneten Speicherchips der Speicherdichte 1 Gbit enthält, lässt sich beispielsweise eine Speicherkapazität von 8 GB realisieren, während sich mit einem Halbleitespeichermodul der Modulkonfiguration 2Rx4, das Halbleiterspeicherbausteine mit jeweils zwei gestapelt angeordneten Speicherchips der Speicherdichte 1 Gbit enthält, lediglich eine Speicherkapazität von 4 GB erreichen lässt. Somit lässt sich bei einem Speicher der Stromverbrauch um circa die Hälfte reduzieren, wenn anstelle der Verwendung von Speichermodulen der Konfiguration 2Rx4 Speichermodule der Konfiguration 4Rx4 verwendet werden. In diesem Fall sind beispielsweise zum Aufbau eines Speichers mit einer Speicherkapazität von 64 GB lediglich acht Speichermodule der Konfiguration 4Rx4 erforderlich, wohingegen zum Aufbau eines solchen Speichers sechzehn Halbleiterspeichermodule der Konfiguration 2Rx4 erforderlich wären. Da somit auch die Anzahl der Steuerbausteine um die Hälfte reduziert ist, lässt sich durch die Verwendung von acht Halbleiterspeichermodulen der Konfiguration 4Rx4 auch der Stromverbrauch gegenüber der Verwendung von sechzehn Speichermodulen in der Modulkonfiguration 2Rx4 um die Hälfte reduzieren.Since, in particular, the control components SB have a high power consumption, it is endeavored to reduce the number of semiconductor memory modules for realizing a memory with a specific capacity. For example, a memory capacity of 8 GB can be realized with a semiconductor memory module of the module configuration 4Rx4, which contains semiconductor memory components with two memory chips of 1 Gbit stacked, while a memory module of the module configuration 2Rx4, the semiconductor memory modules with two memory chips stacked in each case, the memory density 1 Gbit, can only reach a storage capacity of 4 GB. This reduces the power consumption of a memory by about half if instead of using memory modules of the configuration 2Rx4 memory modules of the configuration 4Rx4 are used. In this case, for example, to build up a 64 GB memory, only eight memory modules of the 4Rx4 configuration are required, whereas to build such a memory, sixteen 2Rx4 semiconductor memory modules would be required. Since the number of control modules is thus reduced by half, the use of eight 4Rx4 semiconductor memory modules also reduces power consumption compared with the use of sixteen memory modules reduce the module configuration 2Rx4 by half.

Wenn das Halbleiterspeichermodul der 1 in einer Modulkonfiguration 4Rx4 aufgebaut ist, sind auf der Modulplatine insgesamt 72 Speicherchips vorhanden. In jedem der Halbleiterspeicherbausteine sind, wie in 2A dargestellt, jeweils vier Speicherchips in einer Stapelanordnung angeordnet. Zur Steuerung eines derartigen Halbleiterspeichermoduls müssen von dem Steuerbaustein SB im Vergleich zu einem Halbleiterspeichermodul der Konfiguration 2Rx4 weitere Steuersignale erzeugt werden. So sind insbesondere zur Ansteuerung der beiden zusätzlichen Ranke weitere Steuersignale CS (Chip Select) zur Auswahl der Speicherchips der zusätzlichen Ranke sowie zusätzliche Steuersignale ODTS zur Aktivierung der Terminierungswiderstände für die Speicherchips der zusätzlichen Ranke erforderlich. Das Vorsehen von zusätzlichen Ausgangsanschlüssen zur Bereitstellung der zusätzlichen Steuersignale ist allerdings mit einer Erhöhung der Chipgröße des Steuerbausteins und einer Erhöhung des Strombedarfs des Steuerbausteins verbunden.If the semiconductor memory module of 1 In a 4Rx4 module configuration, a total of 72 memory chips are present on the module board. In each of the semiconductor memory devices, as in 2A represented, each four memory chips arranged in a stack arrangement. In order to control such a semiconductor memory module, further control signals must be generated by the control component SB in comparison to a semiconductor memory module of the configuration 2Rx4. Thus, in particular for controlling the two additional tendrils, further control signals CS (chip select) for selecting the memory chips of the additional tendrils and additional control signals ODTS for activating the termination resistors for the memory chips of the additional tendrils are required. However, the provision of additional output terminals for providing the additional control signals is associated with an increase in the chip size of the control module and an increase in the power consumption of the control module.

Die Aufgabe der vorliegenden Erfindung ist es, einen Steuerbaustein zur Steuerung eines Halbleiterspeicherbausteins eines Halbleiterspeichermoduls anzugeben, bei dem bei einer Erhöhung der Speicherkapazität des Halbleiterspeichermoduls die Anzahl von Steueranschlüssen zur Erzeugung von Steuersignalen zur Steuerung des Halbleiterspeicherbausteins unverändert bleibt. Eine weitere Aufgabe der vorliegenden Erfindung ist es, ein Halbleiterspeichermodul mit einem derartigen Steuerbaustein anzugeben, bei dem bei einer Erhöhung der Speicherkapazität des Halbleiterspeichermoduls die Anzahl der Steueranschlüsse zur Erzeugung von Steuersignalen zur Steuerung des Halbleiterspeicherbausteins unverändert bleibt. Eine weitere Aufgabe der vorliegenden Erfindung ist es, ein Verfahren zum Betreiben eines derartigen Halbleiterspeichermoduls anzugeben, bei dem die Anzahl an Steueranschlüssen eines Steuerbausteins zur Steuerung eines Halbleiterspeicherbausteinen des Halbleiterspeichermoduls bei einer Erhöhung der Speicherkapazität des Halbleiterspeichermoduls unverändert bleibt.The The object of the present invention is a control module for controlling a semiconductor memory module of a semiconductor memory module indicate that at an increase the storage capacity of the semiconductor memory module, the number of control terminals for Generation of control signals for controlling the semiconductor memory device unchanged remains. Another object of the present invention is a semiconductor memory module with such a control module indicate that at an increase the storage capacity of the semiconductor memory module, the number of control connections to Generation of control signals for controlling the semiconductor memory device unchanged remains. Another object of the present invention is a method of operating such a semiconductor memory module specify the number of control connections of a control block for controlling a semiconductor memory device of the semiconductor memory module at an increase the storage capacity the semiconductor memory module remains unchanged.

Die Erfindung in Bezug auf den Steuerbaustein wird gelöst durch einen Steuerbaustein zur Steuerung eines Halbleiterspeicherbausteins eines Halbleiterspeichermoduls mit einer Steuereinrichtung zur Erzeugung von Steuersignalen zur Steuerung eines Lese- und Schreibzugriffs auf den Halbleiterspeicherbaustein und zur Erzeugung von Adresssignalen zur Adressierung von Speicherzellen des Halbleiterspeicherbausteins für einen Lese- und Schreibzugriff. Der Steuerbaustein weist des Weiteren mehrere Adressanschlüsse zum Bereitstellen der Adresssignale auf. Die Steuereinrichtung weist mindestens eine Auswahlschaltung auf. Mittels der mindestens einen Auswahlschaltung ist dem mindestens einen der Adressanschlüsse wahlweise eines der Adresssignale oder eines der Steuersignale zuführbar.The Invention with respect to the control module is solved by a control block for controlling a semiconductor memory device a semiconductor memory module with a control device for generating control signals for controlling a read and write access on the semiconductor memory device and for generating address signals for addressing memory cells of the semiconductor memory device for one Read and write access. The control module also has several address connections for providing the address signals. The control device has at least one selection circuit. By means of at least one Selection circuit is the at least one of the address terminals optional one of the address signals or one of the control signals can be fed.

In Abhängigkeit davon, ob das Halbleiterspeichermodul in einer Konfiguration 2Rx4 oder in einer Konfiguration 4Rx4 betrieben wird, lassen sich somit an einem Adressanschluss unterschiedliche Signale erzeugen. Dadurch wird es ermöglicht, den Steuerbaustein sowohl bei einem Halbleiterspeichermodul der Konfiguration 2Rx4 als auch bei einem Halbleiterspeichermodul der Konfiguration 4Rx4 zu verwenden. Obwohl zum Betreiben eines Halbleiterspeichermoduls in der Konfiguration 4Rx4 zusätzliche Steuersignale (Chip-Select-Signale) zur Auswahl von Speicherchips, die den beiden zusätzlichen Ranken angehören, und des weiteren mindestens ein weiteres Steuersignal (On-Die-Termination-Signal) zur Aktivierung der On-Die-Termininierungswiderstände der Speicherchips der beiden zusätzlichen Ranke erforderlich sind, wird die Anzahl an Steuerausgängen zur Erzeugung dieser Signale an dem Steuerbaustein nicht erhöht. Somit kann beispielsweise ein Steuerbaustein, der bisher nur für eine 2 Ranke Unterstützung vorgesehen war, auch für ein Halbleiterspeichermodul mit 4 Ranken verwendet werden.In dependence of whether the semiconductor memory module in a configuration 2Rx4 or in a configuration 4Rx4 is operated, can thus be generate different signals at an address port. Thereby it is possible to use the control module both with a 2Rx4 configuration memory module as well as with a semiconductor memory module of the configuration 4Rx4 to use. Although to operate a semiconductor memory module in the configuration 4Rx4 additional Control signals (chip select signals) for selecting memory chips, the two additional ones Belong to tendrils, and further at least one further control signal (on-the-termination signal) for Activation of on-die termination resistors of Memory chips of the two additional tendrils are required, the number of control outputs for generating these signals not increased at the control block. Thus, for example, a control module, the only previously for a 2 tendril support was provided, even for a 4-rank semiconductor memory module can be used.

Gemäß einer Weiterbildung des Steuerbausteins weist der Halbleiterspeicherbaustein mehrere Speicherchips auf. Mittels der Steuereinrichtung ist ein erstes der Steuersignale erzeugbar. Mittels des ersten der Steuersignale lässt sich einer der Speicherchips für einen Lese- und Schreibzugriff auswählen.According to one Further development of the control module, the semiconductor memory module several memory chips on. By means of the control device is a first of the control signals can be generated. By means of the first of the control signals let yourself one of the memory chips for select a read and write access.

Gemäß einer weiteren Ausführungsform des Steuerbausteins ist mittels der Steuereinrichtung ein zweites der Steuersignale erzeugbar. Die Speicherchips umfassen jeweils einen aktivierbaren Terminierungswiderstand, der für einen Schreibzugriff auf den jeweiligen Speicherchip aktiviert wird. Mittels des zweiten der Steuersignale ist der Terminierungswiderstand auf einem der mehreren Speicherchips aktivierbar.According to one another embodiment the control module is a second by means of the control device the control signals generated. The memory chips each include an activatable termination resistor suitable for a Write access to the respective memory chip is activated. through the second of the control signals is the termination resistor one of the multiple memory chips activatable.

Der Steuerbaustein umfasst vorzugsweise einen ersten der Adressanschlüsse. Die Steuereinrichtung weist eine erste Auswahlschaltung auf. Mittels der ersten Auswahlschaltung ist dem ersten der Adressanschlüsse eines der Adresssignale oder das erste der Steuersignale zuführbar.Of the Control module preferably comprises a first of the address terminals. The Control device has a first selection circuit. through the first selection circuit is the first of the address terminals of a the address signals or the first of the control signals can be fed.

Gemäß einem weiteren Merkmal des Steuerbausteins weist derselbe einen zweiten der Adressanschlüsse auf. Die Steuereinrichtung umfasst eine zweite Auswahlschaltung. Mittels der zweiten Auswahlschaltung ist dem zweiten der Adressanschlüsse eines der Adresssignale oder das zweite der Steuersignale zuführbar.According to another feature of the control module, it has a second one of the address terminals. The control device comprises a second selection circuit. By means of the second selection circuit is the second of Adressanschlüs se one of the address signals or the second of the control signals supplied.

Gemäß einer weiteren Ausführungsform des Steuerbausteins umfasst der Steuerbaustein mehrere Steueranschlüsse zum Bereitstellen der Steuersignale. Die Steuereinrichtung weist eine dritte Auswahlschaltung auf. Mittels der dritten Auswahlschaltung ist einem ersten der Steueranschlüsse wahlweise das erste der Steuersignale oder das zweite der Steuersignale zuführbar.According to one another embodiment of the control module, the control module comprises a plurality of control terminals for Providing the control signals. The control device has a third selection circuit. By means of the third selection circuit a first of the control terminals is optionally the first of the Control signals or the second of the control signals fed.

In einer bevorzugten Ausführungsform umfasst die Steuereinrichtung eine vierte Auswahlschaltung. Mittels der vierten Auswahlschaltung ist einem zweiten der Steueranschlüsse eines von mehreren der zweiten Steuersignale, mit denen sich jeweils verschiedene der Speicherchips für einen Lese- und Schreibzugriff auswählen lassen, zuführbar.In a preferred embodiment the control device comprises a fourth selection circuit. through the fourth selection circuit is a second of the control terminals of a of several of the second control signals, each of which is different the memory chips for select a read and write access, can be fed.

Im Folgenden wird ein Halbleiterspeichermodul angegeben, das ebenfalls die gestellte Aufgabe löst. Das Halbleiterspeichermodul umfasst einen Steuerbaustein nach einer der oben angegebenen Ausführungsformen. Das Halbleiterspeichermodul umfasst des Weiteren mehrere Halbleiterspeicherbausteine. Des Weiteren ist eine Modulplatine vorgesehen, auf der der Steuerbaustein und die mehreren Halbleiterspeicherbausteine derart angeordnet sind, dass die mehreren Halbleiterspeicherbau steine zu einer linken und rechten Seite des Steuerbausteins angeordnet sind. Die Adressanschlüsse des Steuerbausteins sind jeweils über einen Bus mit den Halbleiterspeicherbausteinen verbunden. Einer der Busse, der an den ersten der Adressanschlüsse angeschlossen ist, verbindet die Halbleiterspeicherbausteine auf der linken und rechten Seite des Steuerbausteins mit dem Steuerbaustein. Die Halbleiterspeicherbausteine werden vorzugsweise in einer Modulkonfiguration 4Rx4 oder 4Rx8 betrieben.in the The following is a semiconductor memory module is also given solves the task. The semiconductor memory module comprises a control module according to a the above embodiments. The semiconductor memory module further comprises a plurality of semiconductor memory devices. Furthermore, a module board is provided, on which the control module and the plurality of semiconductor memory devices are arranged such that the plurality of Halbleiterspeicherbau stones to a left and right Side of the control block are arranged. The address connections of the Control blocks are each about a bus connected to the semiconductor memory devices. one the bus connected to the first of the address terminals connects the semiconductor memory modules on the left and right side of the control module with the control module. The semiconductor memory modules are preferably operated in a module configuration 4Rx4 or 4Rx8.

Im Folgenden wird ein Verfahren zum Betreiben eines Halbleiterspeichermoduls angegeben. Das Verfahren sieht das Bereitstellen eines Halbleiterspeichermoduls nach der oben angegeben Ausführungsform vor. Das Halbleiterspeichermodul wird in einer ersten Konfiguration betrieben, wenn das Halbleiterspeichermodul eine erste Anzahl von Ranken aufweist, und in einer zweiten Konfiguration betrieben, wenn das Halbleiterspeichermodul eine zweite Anzahl von Ranken aufweist. Eines der Steuersignale zur Steuerung eines Lese- und Schreibzugriffs auf den Halbleiterspeicherbaustein wird an einem der Adressanschlüsse des Steuerbausteins des Halbleiterspeichermoduls erzeugt, wenn das Halbleiterspeichermodul in der ersten Konfiguration betrieben wird. Eines der Adresssignale, ein floatendes Potential oder ein Bezugspotential wird an dem einem der Adressanschlüsse erzeugt, wenn das Halbleiterspeichermodul in der zweiten Konfiguration betrieben wird.in the The following will be a method of operating a semiconductor memory module specified. The method provides for providing a semiconductor memory module according to the embodiment given above in front. The semiconductor memory module is in a first configuration operated when the semiconductor memory module a first number of Has tendrils, and operated in a second configuration, though the semiconductor memory module has a second number of vines. One of the control signals for controlling a read and write access on the semiconductor memory device is at one of the address terminals of the Control module of the semiconductor memory module generated when the semiconductor memory module is operated in the first configuration. One of the address signals, a floating potential or a reference potential is applied to the one the address connections generated when the semiconductor memory module in the second configuration is operated.

Weitere Ausführungsformen des Steuerbausteins, des Halbleiterspeichermoduls und des Verfahrens zum Betreiben des Halbleiterspeichermoduls sind den Unteransprüchen zu entnehmen.Further embodiments the control module, the semiconductor memory module and the method for operating the semiconductor memory module are the subclaims remove.

Die Erfindung wird im Folgenden anhand von Figuren, die Ausführungsbeispiele der vorliegenden Erfindung zeigen, näher erläutert.The Invention will be described below with reference to figures, the embodiments of the present invention, explained in more detail.

Es zeigen:It demonstrate:

1 eine Ausführungsform eines Halbleiterspeichermoduls mit einem Steuerbaustein und Halbleiterspeicherbausteinen, 1 an embodiment of a semiconductor memory module with a control module and semiconductor memory devices,

2A eine Ausführungsform eines Halbleiterspeicherbausteins mit Speicherchips, 2A an embodiment of a semiconductor memory device with memory chips,

2B eine Ausführungsform eines Speicherchips eines Halbleiterspeicherbausteins, 2 B an embodiment of a memory chip of a semiconductor memory device,

3 eine Ausführungsform eines Steuerbausteins zur Steuerung von Halbleiterspeicherbausteinen eines Halbleiterspeichermoduls, 3 an embodiment of a control module for controlling semiconductor memory devices of a semiconductor memory module,

4 eine erste Ausführungsform einer Steuereinrichtung eines Steuerbausteins zur Steuerung von Halbleiterspeicherbausteinen eines Halbleiterspeichermoduls, 4 A first embodiment of a control device of a control module for controlling semiconductor memory devices of a semiconductor memory module,

5 eine erste Anordnung von Busleitungen zur Übertragung von Steuersignalen von einem Steuerbaustein zu Halbleiterspeicherbausteinen eines Halbleiterspeichermoduls, 5 a first arrangement of bus lines for transmitting control signals from a control module to semiconductor memory modules of a semiconductor memory module,

6 eine zweite Ausführungsform einer Steuereinrichtung eines Steuerbausteins zur Steuerung von Halbleiterspeicherbausteinen eines Halbleiterspeichermoduls, 6 a second embodiment of a control device of a control module for controlling semiconductor memory devices of a semiconductor memory module,

7 eine zweite Anordnung von Busleitungen zur Übertragung von Steuersignalen von einem Steuerbaustein zu Halbleiterspeicherbausteinen eines Halbleiterspeichermoduls, 7 a second arrangement of bus lines for transmitting control signals from a control module to semiconductor memory modules of a semiconductor memory module,

8 eine dritte Ausführungsform einer Steuereinrichtung eines Steuerbausteins zur Steuerung von Halbleiterspeicherbausteinen eines Halbleiterspeichermoduls, 8th A third embodiment of a control device of a control module for controlling semiconductor memory devices of a semiconductor memory module,

9 eine dritte Anordnung von Busleitungen zur Übertragung von Steuersignalen von einem Steuerbaustein zu Halbleiterspeicherbausteinen eines Halbleiterspeichermoduls. 9 a third arrangement of bus lines for transmitting control signals from a control device to semiconductor memory devices of a semiconductor memory module.

3 zeigt eine Ausführungsform eines Steuerbausteins SB zur Steuerung von Halbleiterspeicherbausteinen eines Halbleiterspeichermoduls. Der Steuerbaustein SB weist eine Steuereinrichtung CAD zur Erzeugung von Steuer- und Adresssignalen auf. Die Steuereinrichtung CAD ist mit externen Anschlüssen des Steuerbausteins verbunden. An den externen Anschlüssen CS0, ... CSn lassen sich beispielsweise Steuersignal SCS zur Auswahl von Speicherchips, die in den Halbleiterspeicherbausteinen gestapelt angeordnet sind, erzeugen. Des weiteren lässt sich an externen Anschlüssen ODT0, ..., ODTn, die mit der Steuereinrichtung CAD verbunden sind, jeweils ein Steuersignal ODTS zur Aktivierung eines Terminierungswiderstands der Speicherchips bei einem Schreibzugriff erzeugen. Adresssignale SA lassen sich an Adressanschlüssen A0, ... An erzeugen. 3 shows an embodiment of a control block SB for controlling semiconductor memory devices of a semiconductor memory module. The control module SB has a control device CAD for generating control and address signals. The control device CAD is connected to external terminals of the control module. For example, control signals SCS for selecting memory chips which are arranged stacked in the semiconductor memory modules can be generated at the external terminals CS0,... CSn. Furthermore, a control signal ODTS for activating a termination resistance of the memory chips during a write access can be generated in each case at external connections ODT0,..., ODTn, which are connected to the control device CAD. Address signals SA can be generated at address terminals A0, ... An.

Der Steuerbaustein SB weist darüber hinaus eine Steuereinrichtung DQD auf, die die Erzeugung und den Empfang von Datensignalen steuert, die zu den Halbleiterspeicherbausteinen übertragen werden beziehungsweise von den Halbleiterspeicherbausteinen empfangen werden. Die Steuereinrichtung DQD ist dazu mit Datenanschlüssen DQ0, ..., DQn verbunden. Um ein Übersprechen zwischen den Steuer- und Adresssignalen einerseits und den Datensignalen andererseits zu vermeiden, sind die Steuereinrichtungen DQD und CAD getrennt angeordnet.Of the Control block SB points over it In addition, a control device DQD, the generation and the Reception of data signals controls that transmit to the semiconductor memory devices are received or from the semiconductor memory devices become. The control device DQD is for this purpose with data connections DQ0, ..., DQn connected. To a crosstalk between the control and address signals on the one hand and the data signals On the other hand, to avoid the control devices DQD and CAD arranged separately.

4 zeigt eine Ausführungsform einer Steuereinrichtung CAD eines Steuerbausteins zur Steuerung eines Halbleiterspeichermoduls mit Speicherchips der Speicherdichte 1 Gbit. Die Steuereinrichtung erzeugt ausgangsseitig verschiedene Steuersignale, die an externen Anschlüssen des Steuerbausteins erzeugt werden. Der Steuerbaustein weist externe Adressanschlüsse A0L, ..., A15L zur linken Seite und Adressanschlüsse A0R, ..., A15R zur rechten Seite auf. Des weiteren weist der Steuerbaustein externe Anschlüsse CS0L, CS1L zur linken Seite und CS0R, CS1R zur rechten Seite auf, an denen sich Steuersignale zur Auswahl der Speicherchips des Ranks 0 und des Ranks 1 erzeugen lassen. 4 shows an embodiment of a control device CAD a control module for controlling a semiconductor memory module with memory chips memory density 1 Gbit. On the output side, the control device generates various control signals, which are generated at external terminals of the control module. The control module has external address terminals A0L, ..., A15L to the left and address terminals A0R, ..., A15R to the right. Furthermore, the control module has external connections CS0L, CS1L to the left and CS0R, CS1R to the right, at which control signals for selecting the memory chips of the rack 0 and the rack 1 can be generated.

Ein Steuersignal SCS0L zur Aktivierung der Speicherchips des Ranks 0, die auf der linken Seite der Modulplatine angeordnet sind, wird einem Steueranschluss CS0L zugeführt, an dem ein Bus BCS0L angeordnet ist. Zur Auswahl von Speicherchips des Ranks 0, die auf der rechten Seite des Steuerbausteins platziert sind, wird an einem Steueranschluss CS0R, der mit einem Bus BCS0R auf der rechten Seite des Steuerbausteins verbunden ist, ein Steuersignal SCS0R erzeugt. Zur Auswahl von Speicherchips, die zu dem Rank 1 gehören, wird an einem Steueranschluss CS1L auf der linken Seite ein Steuersignal SCS1L erzeugt, das über einen Bus BCS1L den Speicherchips auf der linken Seite der Modulplatine zugeführt wird. An einem Steueranschluss CS1R auf der rechten Seite des Steuerbausteins wird ein Steuersignal SCS1R erzeugt, das über einen Bus BCS1R den Halbleiterspeicherbausteinen, die auf der rechten Seite des Steuerbausteins platziert sind, zugeführt wird.One Control signal SCS0L for activating the memory chips of the bank 0, which are located on the left side of the module board is supplied to a control terminal CS0L, on which a bus BCS0L is arranged. For selecting memory chips of Ranks 0, which is placed on the right side of the control block are at a control terminal CS0R, which is connected to a bus BCS0R connected to the right side of the control block, a control signal SCS0R generated. To select memory chips that belong to the rank 1 belong, At a control terminal CS1L on the left side, a control signal is generated SCS1L generates that over a bus BCS1L the memory chips on the left side of the module board supplied becomes. At a control connection CS1R on the right side of the control module a control signal SCS1R is generated, which via a bus BCS1R the semiconductor memory devices, which are placed on the right side of the control module, is supplied.

Zur Aktivierung des Terminierungswiderstandes der Speicherchips der Ranke 0 und 1 wird an einem Steueranschluss ODTL auf der linken Seite des Steuerbausteins ein Steuersignal SODT0L erzeugt, das über einen Bus BODT0L den Speicherchips der Ranke 0 und 1 auf der linken Seite des Steuerbausteins zugeführt wird. Ebenso wird auf der rechten Seite des Steuerbausteins an einem Steueranschluss ODTR ein Steuersignal SODT0R erzeugt, das über einen Bus BODT0R den Speicherchips der Ranke 0 und 1 auf der rechten Seite des Steuerbausteins zur Aktivierung des Terminierungswiderstandes zugeführt wird.to Activation of the termination resistance of the memory chips Tanks 0 and 1 will be on a control port ODTL on the left Side of the control block generates a control signal SODT0L, which via a Bus BODT0L the memory chips of tendril 0 and 1 on the left side fed to the control module becomes. Similarly, on the right side of the control block at a Control terminal ODTR generates a control signal SODT0R, which via a Bus BODT0R the memory chips of tendril 0 and 1 on the right side of the control module for activating the termination resistor supplied becomes.

Zur Auswahl von Speicherchips der Ranke 2 und 3 sind weitere Steuersignale SCS2 und SCS3 erforderlich, die von der Steuereinrichtung CAD erzeugt werden müssen. Erfindungsgemäß wird das Steuersignal SCS2 zur Auswahl von Speicherchips des Ranks 2 sowie das Steuersignal SCS3 zur Auswahl von Speicherchips des Rank 3 an einem Adressanschluss A15L und einem Adressanschluss A15R erzeugt, die zur Erzeugung von Adresssignalen SA15L und SA15R vorgesehen sind, insbesondere bei einem Halbleiterspeichermodul mit Speicherchips der Speicherdichte 1 Gbit aber nicht verwendet werden.to Selection of memory chips of tendrils 2 and 3 are further control signals SCS2 and SCS3 required generated by the control device CAD Need to become. According to the invention, the control signal SCS2 for selecting memory chips of rank 2 and the control signal SCS3 for selecting Rank 3 memory chips at an address port A15L and an address terminal A15R generated for generating Address signals SA15L and SA15R are provided, in particular at a semiconductor memory module with memory chips of memory density 1 Gbit but not used.

Dem Adressanschluss A15L lassen sich über eine Auswahlschaltung M1A das Steuersignal SCS2 oder das Adresssignal SA15L zuführen. Dem Adressanschluss A15R lassen sich über eine Auswahlschaltung M2A das Steuersignal SCS3 oder das Adresssignal SA15R zuführen. Wenn dem Adressanschluss A15L beziehungsweise dem Adressanschluss A15R die Steuersignale SA15L oder SA15R zugeführt werden, ist an die Ausgangsanschlüsse A15L beziehungsweise A15R ein Bus BA15L, der zu den Speicherchips auf der linken Seite der Modulplatine führt, beziehungsweise ein Bus BA15R, der zu den Speicherchips auf der rechten Seite der Modulplatine führt, angeschlossen. Wenn dem Adressanschluss A15L das Steuersignal SCS2 zugeführt wird, ist an den Adressanschluss A15L ein Bus BCS2 angeschlossen, der das Steuersignal SCS2 zur Auswahl der Speicherchips des Ranks 2 den Speicherchips auf der linken und rechten Seite des Steuerbausteins zuführt. Wenn dem Adressanschluss A15R das Steuersignal SCS3 zugeführt wird, ist an den Adressanschluss A15R ein Bus SCS3 angeschlossen, der das Steuersignal SCS3 zur Auswahl von Speicherchips des Ranks 3 zu den Speicherchips auf der linken und rechten Seite des Steuerbausteins führt.the Address connection A15L can be via a selection circuit M1A supply the control signal SCS2 or the address signal SA15L. The address connection A15R can be over a selection circuit M2A the control signal SCS3 or the address signal Feed SA15R. When the address terminal A15L or the address terminal A15R, the control signals SA15L or SA15R are supplied to the output terminals A15L or A15R a BA15L bus leading to the memory chips on the leads left side of the module board, or a bus BA15R, which connects to the memory chips on the right side of the module board, connected. When the address terminal A15L, the control signal SCS2 supplied if a bus BCS2 is connected to the address connection A15L, the control signal SCS2 for selecting the memory chips of the rank 2 the memory chips on the left and right side of the control module supplies. When the control signal SCS3 is supplied to the address terminal A15R, is connected to the address terminal A15R, a bus SCS3, the the control signal SCS3 for selecting memory chips of the ranks 3 leads to the memory chips on the left and right side of the control module.

Bei einem Halbleiterspeichermodul mit Speicherchips der Speicherdichte 1 Gbit wird auch der Adressanschluss A14L, der auf der linken Seite des Steuerbausteins SB angeordnet ist, und der Adressanschluss A14R, der auf der rechten Seite des Steuerbausteins angeordnet ist, nicht verwendet. Daher werden an diesen Adressanschlüssen erfindungsgemäß die Steuersignale SODT1L und SODT1R zur Aktivierung der Terminierungswiderstände der Speicherchips des Ranks 2 und des Ranks 3 erzeugt. Das Adresssignal SA14L und das Steuersignal SODT1 lassen sich über eine Auswahlschaltung M3A dem Adressanschluss A14L zuführen, an dem ein Adressbus BA14L zur Übertragung des Adresssignals SA14L oder ein Steuerbus BODT1L zur Übertragung des Steuersignals SODT1L angeschlossen ist.In a semiconductor memory module with Spei Also, the memory chips 1 Gbit, the address terminal A14L, which is arranged on the left side of the control block SB, and the address terminal A14R, which is arranged on the right side of the control block, not used. Therefore, according to the invention, the control signals SODT1L and SODT1R for activating the termination resistances of the memory chips of the ranks 2 and 3 are generated at these address terminals. The address signal SA14L and the control signal SODT1 may be supplied via a selection circuit M3A to the address terminal A14L to which an address bus BA14L for transmitting the address signal SA14L or a control bus BODT1L for transmitting the control signal SODT1L is connected.

Ebenso ist der Adressanschluss A14R auf der rechten Seite des Steuerbausteins mit einer Auswahlschaltung M4A verbunden. Über die Auswahlschaltung M4A lassen sich dem Adressanschluss A14R entweder das Adresssignal SA14R zuführen, das über einen Bus BA14R den Speicherchips auf der rechten Seite des Steuerbausteins zugeführt wird, oder das Steuersignal SODT1R zufüh ren. Im letzteren Fall ist an den Adressanschluss A14R ein Steuerbus BODT1R zur Übertragung des Steuersignals SODT1R an die Speicherchips des Ranks 2 und des Ranks 3 auf der rechten Seite des Steuerbausteins angeschlossen.As well is the address connection A14R on the right side of the control module connected to a selection circuit M4A. Via selection circuit M4A can be the address terminal A14R either the address signal SA14R feed that over one Bus BA14R the memory chips on the right side of the control block is fed or feed the control signal SODT1R. In the latter case, a control bus is to the address terminal A14R BODT1R for transmission the control signal SODT1R to the memory chips of the ranks 2 and Ranks 3 connected to the right side of the control block.

Die Steuerung der Auswahlschaltungen, die als Multiplexer ausgebildet sein können, erfolgt über eine Steuerschaltung CTR. In einer möglichen Ausführungsform liest die Steuerschaltung CTR bei einem Aktivieren des Halbleiterspeichermoduls eine Speicherschaltung EP, die auf dem Speicherchip angeordnet ist, aus. Ein Speicherzustand, der in der Speicherschaltung EP abgespeichert ist, kennzeichnet, ob der Steuerbaustein SB in einer Modulkonfiguration 2Rx4 oder in einer Modulkonfiguration 4Rx4 beziehungsweise 4Rx8 betrieben wird.The Control of the selection circuits, which are designed as multiplexers could be, done via a Control circuit CTR. In a possible embodiment reads the control circuit CTR upon activation of the semiconductor memory module a memory circuit EP arranged on the memory chip, out. A memory state stored in the memory circuit EP indicates whether the control block SB in a module configuration 2Rx4 or in a module configuration 4Rx4 or 4Rx8 is operated.

Im letzteren Fall werden die Auswahlschaltungen M1A, M2A, M3A und M4A derart angesteuert, dass das Steuersignal SCS2 dem Adressanschluss A15L, das Steuersignal SCS3 dem Adressanschluss A15R und das Steuersignal SODT1L dem Adressanschluss A14L sowie das Steuersignal SODT1R dem Adressanschluss A14R zugeführt wird. Wenn das Halbleiterspeichermodul in einer Konfiguration mit zwei Ranken betrieben wird, werden stattdessen die Adresssignale SA14L, SA14R, SA15L oder SA15R den Adressanschlüssen A14L, A14R, A15L und A15R zugeführt. Wenn diese Adresssignale aufgrund der geringen Speicherkapazität des Halbleiterspeichermoduls nicht verwendet werden, werden die Adressanschlüsse A14L, A14R, A15L und A15R auf ein floatendes Potenzial oder ein Bezugspotenzial, beispielsweise ein Massepotenzial, gelegt.in the the latter case becomes the selection circuits M1A, M2A, M3A and M4A controlled such that the control signal SCS2 the address terminal A15L, the control signal SCS3 to the address terminal A15R and the control signal SODT1L the address terminal A14L and the control signal SODT1R the address terminal Fed to A14R becomes. If the semiconductor memory module in a configuration with two Tendrils, the address signals SA14L, SA14R, SA15L or SA15R address terminals A14L, A14R, A15L and A15R fed. If these address signals due to the small storage capacity of the semiconductor memory module not used, the address terminals A14L, A14R, A15L and A15R become on a floating potential or a reference potential, for example a ground potential, laid.

5 zeigt eine erste Anordnung von Busleitungen zur Übertragung der Steuersignale SCS zur Auswahl von Speicherchips verschiedener Ranke. Die Busse BCS0L und BCS1L verlaufen von dem Steuerbaustein zu den Halbleiterspeicherbausteinen auf der linken Seite des Steuerbausteins und sind jeweils an ihren Enden mit einem Abschlusswiderstand AW abgeschlossen. Die Busse BCS0R und BCS1R verlaufen von dem Steuerbaustein zu Halbleiterspeicherbausteinen, die auf der rechten Seite des Steuerbausteins platziert sind. Sie sind jeweils mit einem Abschlusswiderstand abgeschlossen. Die Busse BCS2 und BCS3 verlaufen von den Adressanschlüssen A15L und A15R des Steuerbausteins zu Halbleiterspeicherbausteinen, die auf der linken und rechten Seite des Steuerbausteins angeordnet sind. Die Busse BCS2 und BCS3 sind jeweils an ihren beiden Enden mit einem Abschlusswiderstand AW abgeschlossen. 5 shows a first arrangement of bus lines for transmitting the control signals SCS to select memory chips of different tendril. The buses BCS0L and BCS1L run from the control module to the semiconductor memory modules on the left side of the control module and are each terminated at their ends with a terminating resistor AW. Buses BCS0R and BCS1R run from the control block to semiconductor memory blocks, which are located on the right side of the control block. They are each terminated with a terminator. The buses BCS2 and BCS3 run from the address terminals A15L and A15R of the control module to semiconductor memory modules, which are arranged on the left and right side of the control module. The buses BCS2 and BCS3 are each terminated at their two ends with a terminating resistor AW.

Die Busse BODT0L und BODT1L verbinden die Halbleiterspeicherbausteine auf der linken Seite des Steuerbausteins mit dem Steuerbaustein. Die Busse BODT0R und BODT1R sind an die Halbleiterspeicherbausteine, die rechts von dem Steuerbaustein angeordnet sind, angeschlossen. Sämtliche Busse BODT0L, BODT0R, BODT1L und BODT1R sind jeweils mit einem Abschlusswiderstand abgeschlossen.The Buses BODT0L and BODT1L connect the semiconductor memory devices on the left side of the control block with the control block. The buses BODT0R and BODT1R are connected to the semiconductor memory devices, which are arranged to the right of the control block, connected. All buses BODT0L, BODT0R, BODT1L and BODT1R are each terminated completed.

6 zeigt eine Ausführungsform einer Steuereinrichtung CAD eines Steuerbausteins zur Steuerung eines Halbleiterspeichermoduls mit Speicherchips der Speicherdichte 2 Gbit. Aufgrund der gegenüber der Ausführungsform in 4 doppelten Speicherdichte stehen die bei einem Halbleiterspeichermodul mit Speicherchips der Speicherdichte 1 Gbit nicht benutzten Adressanschlüsse A14L, A14R, A15L und A15R bei einem Speichermodul mit Speicherchips der Speicherdichte 2 Gbit in der Konfiguration 4Rx4 beziehungsweise 4Rx8 nicht sämtlich zur Verfügung. Bei einem Halbleiterspeichermodul mit Speicherchips der Speicherdichte 2 Gbit und der Modulkonfiguration 4Rx4 beziehungsweise 4Rx8 werden lediglich die Adressanschlüsse A15L und A15R nicht verwendet. 6 shows an embodiment of a control device CAD a control module for controlling a semiconductor memory module with memory chips memory density 2 Gbit. Due to the opposite to the embodiment in 4 With double storage density, the address connections A14L, A14R, A15L and A15R not used in a semiconductor memory module with memory chips of the memory density 1 Gbit are not all available for a memory module with memory chips of the memory density 2 Gbit in the configuration 4Rx4 or 4Rx8. In a semiconductor memory module with memory chips of memory density 2 Gbit and the module configuration 4Rx4 or 4Rx8 only the address terminals A15L and A15R are not used.

Erfindungsgemäß werden Auswahlschaltungen M1B, ..., M6B an die Steueranschlüsse CS0L, CS1L, CS0R und CS1R sowie an die beiden Adressanschlüsse A15L und A15R angeschlossen, mittels denen sich wahlweise zwei verschiedene Signale den Steuer- und Adressanschlüssen zuführen lassen.According to the invention Selection circuits M1B, ..., M6B to the control terminals CS0L, CS1L, CS0R and CS1R and connected to the two address terminals A15L and A15R, by means of which either two different signals can be fed to the control and address terminals.

Ähnlich wie bei einem Halbleiterspeichermodul der Konfiguration 4Rx4 beziehungsweise 4Rx8 mit Speicherchips der Speicherkapazität 1 Gbit wird bei einem Halbleiterspeichermodul der Konfiguration 4Rx4 beziehungsweise 4Rx8 mit Speicherchips der Speicherkapazität 2 Gbit an dem Adressanschluss A15L wahlweise das Adresssignal SA15L oder das Steuersignal SCS2 zur Auswahl der Speicherchips, die dem Rank 2 angehören, ausgewählt. Wenn dem Adressanschluss A15L das Adresssignal SA15L zugeführt wird, ist an den Adressanschluss A15L eine Busleitung BA15L angeschlossen, über die die Speicherchips auf der linken Seite des Steuerbausteins mit dem Adresssignal SA15L angesteuert werden. Wenn dem Adressanschluss A15L beim Betrieb des Halbleiterspeichermoduls in der Speicherkonfiguration 4Rx4 das Steuersignal SCS2 zugeführt wird, ist an den Adressanschluss A15L eine Busleitung BCS2 angeschlossen, die das Steuersignal SCS2 sowohl den Speicherchips auf der linken Seite des Steuerbausteins als auch den Speicherchips auf der rechten Seite des Steuerbausteins zuführt.Similar to a semiconductor memory module of configuration 4Rx4 or 4Rx8 with memory chips of memory capacity 1 Gbit is in a semiconductor memory module of the configuration 4Rx4 or 4Rx8 with memory chips of the Storage Capacity 2 Gbit at the address terminal A15L optionally the address signal SA15L or the control signal SCS2 for selecting the memory chips belonging to the rank 2 selected. When the address signal SA15L is supplied to the address terminal A15L, a bus line BA15L is connected to the address terminal A15L, via which the memory chips on the left side of the control module are driven with the address signal SA15L. When the control signal SCS2 is supplied to the address terminal A15L during operation of the semiconductor memory module in the memory configuration 4Rx4, a bus line BCS2 which connects the control signal SCS2 to both the memory chips on the left side of the control module and the memory chips on the right side of the controller is connected to the address terminal A15L Feeds control module.

Dem Adressanschluss A15R wird in Abhängigkeit von der Speicherkonfiguration 2Rx4 oder 4Rx4 beziehungsweise 4Rx8 entweder das Adresssignal SA15R oder das Steuersignal SCS3 zur Auswahl der Speicherchips, die dem Rank 3 angehören, zugeführt. Der Adressanschluss A15R ist im ersten Fall mit einem Bus BA15R zur Übertragung des Adresssignals SA15R verbunden, der an die Speicherchips auf der rechten Seite des Steuerbausteins angeschlossen ist. Im zweiten Fall ist der Adressanschluss A15R mit einem Bus BCS3 verbunden, der das Steuersignal SCS3 sowohl den Speicherchips auf der linken als auch den Speicherchips auf der rechten Seite des Steuerbausteins, die dem Rank 3 angehören, zuführt.the Address connection A15R is dependent from the memory configuration 2Rx4 or 4Rx4 or 4Rx8 either the address signal SA15R or the control signal SCS3 for selection the memory chips belonging to the Rank 3, supplied. The address connection A15R is in the first case with a bus BA15R for the transmission of the address signal SA15R connected to the memory chips on the right of the control module is connected. In the second case is the address connection A15R is connected to a bus BCS3 which receives the control signal SCS3 both the memory chips on the left as well as the memory chips on the right side of the control block, which belong to the rank 3 supplies.

Den Steueranschlüssen CS1L und CS1R lässt sich über die Auswahlschaltungen M3B und M4B wahlweise das Steuersignal SCS1L zur Auswahl von Speicherchips des Rank 1, die auf der linken Seite des Steuerbausteins liegen, oder das Steuersignal SCS0 zur Auswahl von Speicherchips des Rank 0, die sowohl auf der linken als auch auf der rechten Seite des Steuerbausteins liegen, zuführen. Wenn dem Steueranschluss CS1L das Steuersignal SCS1L zugeführt wird, ist an den Steueranschluss CS1L ein Bus BCS1L angeschlossen, der das Steuersignal SCS1L den Speicherchips des Rank 1 zuführt, die auf der linken Seite des Steuerbausteins platziert sind. Wenn das Halbleiterspeichermodul in der Konfiguration 4Rx4 beziehungsweise 4Rx8 betrieben wird, wird das Steuersignal SCS0, mit dem sich die Speicherchips des Rank 0 auswählen lassen, dem Steueranschluss CS1L zugeführt. In diesem Fall ist an den Steueranschluss CS1L ein Bus BCS0 angeschlossen, der mit sämtlichen Speicherchips des Rank 0 auf der linken und rechten Seite des Steuerbausteins verbunden ist.The control terminals CS1L and CS1R leaves over the selection circuits M3B and M4B optionally the control signal SCS1L to select memory chips of Rank 1, which is on the left of the control module, or the control signal SCS0 for selection of memory chips of rank 0, both on the left and on the right side of the control module. If the control terminal CS1L is supplied with the control signal SCS1L, is connected to the control terminal CS1L a bus BCS1L, the the control signal SCS1L supplies the memory chips of rank 1, the are placed on the left side of the control block. If that Semiconductor memory module in configuration 4Rx4 respectively 4Rx8 is operated, the control signal SCS0, with which the Select Memory Chips of Rank 0 let, the control terminal CS1L supplied. In this case is on the control terminal CS1L a bus BCS0 connected to all Memory chips of rank 0 on the left and right side of the control module connected is.

Beim Betrieb des Halbleiterspeichermoduls in der Konfiguration 2Rx4 wird dem Steueranschluss CS1R das Steuersignal SCS1R zugeführt, das über den Bus BCS1R den Speicherchips auf der rechten Seite des Steuerbausteins zugeführt wird, die dem Rank 1 angehören. Beim Betrieb des Halbleiterspeichermoduls in der Konfiguration 4Rx4 beziehungsweise 4Rx8 wird dem Steu eranschluss CS1R das Steuersignal SCS1 zugeführt, mit dem sich sämtliche Speicherchips des Rank 1 auswählen lassen. In diesem Fall ist an den Steueranschluss CS1R ein Bus BCS1 angeschlossen, der mit allen Halbleiterspeicherbausteinen des Rank 1 auf der linken und rechten Seite des Steuerbausteins verbunden ist.At the Operation of the semiconductor memory module in the configuration 2Rx4 the control terminal CS1R, the control signal SCS1R supplied via the Bus BCS1R the memory chips on the right side of the control block supplied that belongs to Rank 1. When operating the semiconductor memory module in the configuration 4Rx4 or 4Rx8, the control connection CS1R becomes the control signal Supplied to SCS1, with which all memory chips of Rank 1 to let. In this case, a bus BCS1 is connected to the control terminal CS1R connected to all the semiconductor memory devices of the Rank 1 connected on the left and right side of the control block is.

Dem Steueranschluss CS0L, dem beim Betreiben des Halbleiterspeichermoduls in der Speicherkonfiguration 2Rx4 das Steuersignal SCS0L zugeführt wird, mit dem sich die Speicherchips des Rank 0, die auf der linken Seite des Steuerbausteins liegen, auswählen lassen, wird über die Auswahlschaltung M1B das Steuersignal SODT1L zugeführt, wenn das Halbleiterspeichermodul in der Konfiguration 4Rx4 beziehungsweise 4Rx8 betrieben wird. Mittels des Steuersignals SODT1L lassen sich die Terminierungswiderstände der Speicherchips des Rank 2 und des Rank 3 aktivieren, die auf der linken Seite des Steuerbausteins angeschlossen sind. In diesem Fall ist an den Steueranschluss CS0L ein Bus BODT1L angeschlossen, der mit den Speicherchips des Rank 0 und des Rank 1 auf der linken Seite des Steuerbausteins verbunden ist. Wenn dem Steueranschluss CS0L mittels einer geeigneten Ansteuerung der Auswahlschaltung M1B das Steuersignal SCS0L zugeführt wird, ist an den Steueranschluss CS0L ein Bus BCS0L angeschlossen, der an die Speicherchips des Rank 0, die auf der linken Seite des Steuerbausteins liegen, angeschlossen ist.the Control connection CS0L, when operating the semiconductor memory module in the memory configuration 2Rx4 the control signal SCS0L is supplied, with the memory chips of rank 0, which is on the left of the control module let, be over the selection circuit M1B supplies the control signal SODT1L when the semiconductor memory module in configuration 4Rx4 respectively 4Rx8 is operated. By means of the control signal SODT1L can be the termination resistors the memory chips of Rank 2 and Rank 3 activate on the left side of the control module are connected. In this case is connected to the control terminal CS0L a bus BODT1L, the with the memory chips of Rank 0 and Rank 1 on the left the control module is connected. When the control terminal CS0L by means of a suitable control of the selection circuit M1B the Control signal SCS0L supplied If a bus BCS0L is connected to the control terminal CS0L, to the memory chips of Rank 0, which is on the left side of the Control blocks are connected, is connected.

Dem Steueranschluss CS0R wird das Steuersignal SCS0R über die Auswahlschaltung M2B zugeführt, wenn das Halbleiterspeichermodul in der Konfiguration 2Rx4 betrieben wird. Mittels des Steuersignals SCS0R, das über den Bus BCS0R den Speicherchips auf der linken Seite des Steuerbausteins zugeführt wird, lassen sich die Speicherchips des Rank 0 für einen Lese- oder Schreibzugriff auswählen. Wenn das Halbleiterspeichermodul in der Konfiguration 4Rx4 beziehungsweise 4Rx8 betrieben wird, wird dem Steueranschluss CS0R das Steuersignal SODT1R über die Auswahlschaltung M2B zugeführt. Mittels des Steuersignals SODT1R lassen sich die Terminierungswiderstände der Speicherchips des Rank 2 und des Rank 3, die auf der rechten Seite des Steuerbausteins platziert sind, aktivieren.the Control terminal CS0R is the control signal SCS0R on the Selection circuit M2B supplied, if the semiconductor memory module in the configuration 2Rx4 operated becomes. By means of the control signal SCS0R, via the bus BCS0R the memory chips on the left side of the control module, the memory chips of the Rank 0 for select a read or write access. If the semiconductor memory module in the configuration 4Rx4 or 4Rx8 is, is the control terminal CS0R, the control signal SODT1R on the Selection circuit M2B supplied. By means of the control signal SODT1R, the termination resistances of the Memory chips of Rank 2 and Rank 3, those on the right of the control module are activated.

Die Steuersignale SODT0L und SODT0R, die zur Aktivierung der Terminierungswiderstände der Speicherchips, die den Ranken 0 und 1 angehören, vorgesehen sind, werden weiterhin Steueranschlüssen ODTL und ODTR zugeführt, an die die Busse BODT0L und BODT0R angeschlossen sind. Die Steueranschlüsse ODTL und ODTR sind somit ausschließlich für die Erzeugung der ODT-Steuersignale vorgesehen. Über den Bus BODT0L wird das Steuersignal SODT0L an die Speicherchips des Rank 0 und des Rank 1 weitergeleitet, die zur linken Seite des Steuerbausteins angeordnet sind. Über den Bus BODT0R wird das Steuersignal SODT0R an sämtliche Halbleiterspeicherbausteine des Rank 0 und des Rank 1 weitergeleitet, die auf der rechten Seite des Steuerbausteins platziert sind.The control signals SODT0L and SODT0R, which are provided for activating the termination resistors of the memory chips belonging to the 0 and 1 tendrils, are further supplied to control terminals ODTL and ODTR to which the buses BODT0L and BODT0R are connected. The control connections ODTL and ODTR are thus intended exclusively for the generation of the ODT control signals. The control signal SODT0L is forwarded via the bus BODT0L to the memory chips of rank 0 and rank 1, which are arranged to the left of the control module. Via the bus BODT0R the control signal SODT0R is forwarded to all semiconductor memory modules of the rank 0 and the rank 1, which are placed on the right side of the control module.

Die Konfigurationsart, in der das Halbleiterspeichermodul betrieben wird, ist in einer Speicherschaltung EP, die auf der Modulplatine MP angeordnet ist gespeichert. Die Speicherschaltung EP kann beispielsweise als eine elektrisch programmierbare Speicherschaltung (EPROM-Speicherschaltung) ausgebildet sein. Bei der Aktivierung des Halbleiterspeichermoduls liest eine Steuerschaltung CTR den Speicherzustand der Speicherschaltung EP aus. Wenn das Halbleiterspeichermodul in der Konfiguration 4Rx4 beziehungsweise 4Rx8 betrieben wird, werden die Auswahlschaltungen M1B, ..., M6B daraufhin derart von der Steuerschaltung CTR gesteuert, dass das Steuersignal SODT1L dem Steueranschluss CS0L, das Steuersignal SODT1R dem Steueranschluss CS0R, das Steuersignal SCS0 dem Steueranschluss CS1L, das Steuersignal SCS1 dem Steueranschluss CS1R und die Steuersignale SCS2 und SCS3 den Adressanschlüssen A15L und A15R zugeführt werden.The Type of configuration in which the semiconductor memory module operates is in a memory circuit EP, which is on the module board MP is stored. The memory circuit EP can, for example as an electrically programmable memory circuit (EPROM memory circuit) is formed be. When activating the semiconductor memory module reads a Control circuit CTR the memory state of the memory circuit EP out. If the semiconductor memory module in the configuration 4Rx4 or 4Rx8 is operated, the selection circuits M1B, ..., M6B then controlled by the control circuit CTR, that the control signal SODT1L the control terminal CS0L, the control signal SODT1R the control terminal CS0R, the control signal SCS0 the control terminal CS1L, the control signal SCS1 the control terminal CS1R and the control signals SCS2 and SCS3 address connections Fed to A15L and A15R become.

Wenn das Halbleiterspeichermodul mit Speicherchips einer Speicherkapazität von 2 Gbit in der Konfigurationsart 2Rx4 betrieben wird, werden die Auswahlschaltungen M1B, ..., M6B nach dem Auslesen des Speicherzustands der Speicherschaltung EP von der Steuerschaltung CTR derart angesteuert, dass das Steuersignal SCS0L dem Steueranschluss CS0L, das Steuersignal SCS0R dem Steueranschluss CS0R, das Steuersignal SCS1L dem Steueranschluss CS1L und das Steuersignal SCS1R dem Steueranschluss CS1R zugeführt wird. Bei einem Halbleiterspeichermodul der Konfiguration 2Rx4 mit Speicherchips der Speicherkapazität 2 Gbit werden die Adresssignale SA15L und SA15R nicht benötigt. In diesem Fall liegen die Adressanschlüsse A15L und A15R auf einem floatenden Potenzial oder einem Massepotenzial. Derartige Potenziale lassen sich beispielsweise ebenfalls über die Auswahlschaltungen den Adressanschlüssen zuführen. Wenn die Speicherkapazität des Halbleiterspeichermoduls in der Konfigurationsart 2Rx4 erhöht ist, lassen sich die Adresssignale SA15L und SA15R den Adressanschlüssen A15L und A15R zuführen.If the semiconductor memory module with memory chips of a storage capacity of 2 Gbit is operated in the configuration type 2Rx4, the selection circuits M1B, ..., M6B after reading the memory state of the memory circuit EP controlled by the control circuit CTR such that the control signal SCS0L the control terminal CS0L, the control signal SCS0R the control terminal CS0R, the control signal SCS1L the control terminal CS1L and the control signal SCS1R is supplied to the control terminal CS1R. In a semiconductor memory module 2Rx4 configuration with memory chips of 2 Gbit storage capacity the address signals SA15L and SA15R are not needed. In In this case, the address terminals A15L and A15R are on one floating potential or a ground potential. Such potentials can also be, for example, via the selection circuits the address connections respectively. If the storage capacity of the semiconductor memory module is increased in the configuration type 2Rx4, address signals SA15L and SA15R can be applied to address terminals A15L and A15R.

7 zeigt die Busleitungen zur Übertragung der Steuersignale SCS und SODT zu den Halbleiterspeicherbausteinen, die links und rechts des Steuerbausteins angeordnet sind. Ausgehend von den Steueranschlüssen CS1L, CS1R, A15L und A15R verbinden die Busse BCS0, BCS1, BCS2 und BCS3 jeweils Halbleiterspeicherbausteine auf der linken und rechten Seite des Steuerbausteins. Jede der Busleitungen ist an ihren beiden Enden mit einem Abschlusswiderstand AW abgeschlossen. Des Weiteren zeigt 7 den Verlauf der Busleitungen BODT0L, BODT0R, BODT1L und BODT1R, der dem Verlauf wie in 5 beschrieben, entspricht. 7 shows the bus lines for transmitting the control signals SCS and SODT to the semiconductor memory devices, which are arranged on the left and right of the control module. Starting from the control connections CS1L, CS1R, A15L and A15R, the buses BCS0, BCS1, BCS2 and BCS3 each connect semiconductor memory modules on the left and right side of the control module. Each of the bus lines is terminated at its two ends with a terminating resistor AW. Further shows 7 the course of the bus lines BODT0L, BODT0R, BODT1L and BODT1R, the course as in 5 described, corresponds.

8 zeigt eine weitere Ausführungsform eines Steuerbaustein SB, an dem Steuersignale SCS zur Auswahl von Speicherchips verschiedener Ranke und Steuersignale SODT zur Aktivierung von Terminierungswiderständen für die Speicherchips erzeugt werden. Im Gegensatz zu den in den 4 bis 7 dargestellten Ausführungsformen werden für jeden Rank eigene Steuersignal SODT0, ..., SODT3 zur Aktivierung der jeweiligen Terminierungswiderstände erzeugt. Die Steueranschlüsse CS0L, CS0R, CS1L, CS1R, ODTL, ODTR, A15L und A15R sind jeweils mit Auswahlschaltungen M1C, ..., M8C verbunden, an denen sich wahlweise verschiedene Signale in Abhängigkeit davon, ob das Halbleiterspeichermodul in einer Konfiguration 2Rx4 oder 4Rx4 beziehungsweise 4Rx8 betrieben wird, den Steuer- und Adressanschlüssen zuführen lassen. 8th shows a further embodiment of a control block SB, are generated at the control signals SCS for selecting memory chips of various tendrils and control signals SODT for activating termination resistors for the memory chips. Unlike in the 4 to 7 For each rank, own control signals SODT0,..., SODT3 are generated for activating the respective termination resistors. The control connections CS0L, CS0R, CS1L, CS1R, ODTL, ODTR, A15L and A15R are each connected to selection circuits M1C,..., M8C, to which different signals can be applied, depending on whether the semiconductor memory module is in a configuration 2Rx4 or 4Rx4 or 4Rx8, to the control and address terminals.

Wenn das Halbleiterspeichermodul in einer Konfiguration 2Rx4 betrieben wird, sind die beispielsweise als Multiplexerschaltungen ausgebildeten Auswahlschaltungen M1C, ..., M8C derart geschaltet, dass das Steuersignal SCS0L dem Steueranschluss CS0L, das Steuersignal SCS0R dem Steueranschluss CS0R, das Steuersignal SCS1L dem Steueranschluss CS1L, das Steuersignal SCS1R dem Steueranschluss CS1R, das Steuersignal SODTL dem Steueranschluss ODTL, das Steuersignal SODTR dem Steueranschluss ODTR und die Adresssignale SA15L und SA15R den Steueranschlüsssen A15L und A15R zugeführt werden.If the semiconductor memory module is operated in a 2Rx4 configuration are, for example, which are designed as multiplexer circuits Selection circuits M1C, ..., M8C switched such that the control signal SCS0L the control terminal CS0L, the control signal SCS0R the control terminal CS0R, the control signal SCS1L the control terminal CS1L, the control signal SCS1R the control terminal CS1R, the control signal SODTL the control terminal ODTL, the control signal SODTR the control terminal ODTR and the address signals SA15L and SA15R the control terminals Fed to A15L and A15R become.

Wenn das Halbleiterspeichermodul in einer Konfiguration 4Rx4 beziehungsweise 4Rx8 betrieben wird, sind die Multiplexer schaltungen M1C, ..., M8C derart geschaltet, dass das Steuersignal SCS0 dem Steueranschluss CS0L, das Steuersignal SCS2 dem Steueranschluss CS0R, das Steuersignal SCS1 dem Steueranschluss CS1L, das Steuersignal SCS3 dem Steueranschluss CS1R, das Steuersignal SODT0 dem Steueranschluss ODTL, das Steuersignal SODT2 dem Steueranschluss ODTR und die Steuersignale SODT1 und SODT3 den Steueranschlüsssen A15L und A15R zugeführt werden. Über die Steuersignale SCS1, ..., SCS3 lassen sich jeweils die Speicherchips der Ranke 0, ..., 3 auswählen. Über die Steuersignale SODT0, ..., SODT3 lassen sich jeweils die Terminierungswiderstände der Speicherchips aktivieren, die zu den Ranken 0, ..., 3 gehören.If the semiconductor memory module in a configuration 4Rx4 respectively 4Rx8 is operated, the multiplexer circuits M1C, ..., M8C are such switched, that the control signal SCS0 the control terminal CS0L, the control signal SCS2 the control terminal CS0R, the control signal SCS1 the control terminal CS1L, the control signal SCS3 the control terminal CS1R, the control signal SODT0 the control terminal ODTL, the control signal SODT2 the control terminal ODTR and the control signals SODT1 and SODT3 the Control terminals A15L and fed to A15R become. about the control signals SCS1, ..., SCS3 are each the memory chips the tendril 0, ..., 3 select. About the control signals SODT0, ..., SODT3 let each of the termination resistors of Enable memory chips that belong to the vines 0, ..., 3.

9 zeigt den Verlauf der Busleitung BODT0, die an den Steueranschluss ODTL angeschlossen ist, den Verlauf der Busleitung BODT1, die an den Steueranschluss A15L angeschlossen ist, den Verlauf der Busleitung BODT2, die an den Steueranschluss ODTR angeschlossen ist, und den Verlauf der Busleitung BODT3, die an den Steueranschluss A15R angeschlossen ist. Alle Busse BODT0, BODT1, BODT2 und BODT2 verbinden sowohl Halbleiterspeicherbausteine auf der linken als auch auf der rechten Seite des Steuerbausteins und sind an ihren Enden jeweils mit einem Abschlusswiderstand abgeschlossen. 9 shows the course of the bus line BODT0, which is connected to the control terminal ODTL, the profile of the bus line BODT1, which is connected to the control terminal A15L, the profile of the bus line BODT2, which is connected to the control terminal ODTR, and the course of the bus line BODT3, which is connected to the control terminal A15R connected. All buses BODT0, BODT1, BODT2 and BODT2 connect both semiconductor memory devices on the left and on the right side of the control module and are each terminated at their ends with a terminating resistor.

Mit den in den 4 bis 9 angegebenen Ausführungsformen des Steuerbausteins lässt sich der Steuerbaustein SB sowohl in der Speicherkonfiguration 2Rx4 als auch in den Speicherkonfiguration 4Rx4 beziehungsweise auch 4Rx8 betreiben, ohne dass zusätzliche Steueranschlüsse zur Erzeugung von Steuersignale zur Auswahl der Speicherchips des Rank 2 und des Rank 3 und zusätzliche Steueranschlüsse zur Erzeugung der Steuersignale zur Aktivierung der Terminierungswiderstände für die Speicherchips der Ranke 2 und 3 vorgesehen werden müssen.With the in the 4 to 9 According to embodiments of the control module, the control module SB can be operated both in the memory configuration 2Rx4 and in the memory configuration 4Rx4 or also 4Rx8 without additional control connections for generating control signals for selecting the memory chips of rank 2 and rank 3 and additional control connections for generating the Control signals for activating the termination resistors for the memory chips of tendrils 2 and 3 must be provided.

Das Multiplexing der Steuersignale SCS und SODT erfolgt ausschließlich in der Steuereinrichtung CAD und somit innerhalb der CA-Domäne des Steuerbausteins. Dadurch wird ein Übersprechen in die DQ-Dömane, die von der Steuereinrichtung DQD gebildet wird und von dieser getrennt ist, verhindert.The Multiplexing of the control signals SCS and SODT takes place exclusively in the control device CAD and thus within the CA domain of the control module. This will cause crosstalk into the DQ-Dömane, which is formed by the control device DQD and separated from it is prevented.

HMHM
HalbleiterspeichermodulSemiconductor memory module
SBSB
Steuerbausteincontrol module
MPMP
Modulplatinemodule board
HBHB
HalbleiterspeicherbausteinSemiconductor memory device
CADCAD
Steuereinrichtung zur Erzeugung von Steuersignalencontrol device for generating control signals
DQDDQD
Steuereinrichtung zur Erzeugung von Datensignalencontrol device for generating data signals
ODTODT
Steuersignal zur Aktivierung von Widerständencontrol signal to activate resistors
CSCS
Steuersignal zur Auswahl von Speicherchipscontrol signal for selecting memory chips
CTRCTR
Steuerschaltungcontrol circuit
EPEP
Speicherschaltungmemory circuit
A14, A15A14, A15
Adressanschlüsseaddress connections
BODTBodt
Bus zur Übertragung des Steuersignals ODTbus for transmission the control signal ODT
BCSBCS
Bus zur Übertragung des Steuersignals CSbus for transmission the control signal CS

Claims (20)

Steuerbaustein zur Steuerung eines Halbleiterspeicherbausteins eines Halbleiterspeichermoduls – mit einer Steuereinrichtung (CAD) zur Erzeugung von Steuersignalen (SODT1L, SODT1R) zur Steuerung eines Lese- und Schreibzugriffs auf den Halbleiterspeicherbaustein (HB) und zur Erzeugung von Adresssignalen (SA14L, SA14R, SA15L, SA15R) zur Adressierung von Speicherzellen (SZ) des Halbleiterspeicherbausteins für einen Lese- und Schreibzugriff, – mit mehreren Adressanschlüssen (A14L, A14R, A15L, A15R) zum Bereitstellen der Adresssignale (SA14L, ..., SA15R), – bei dem die Steuereinrichtung (CAD) mindestens eine Auswahlschaltung (M1A, M3A) aufweist, – bei dem dem mindestens einen der Adressanschlüsse (A14L, A14R, A15L, A15R) mittels der mindestens einen Auswahlschaltung wahlweise eines der Adresssignale (SA14L) oder eines der Steuersignale (SODT1L) zuführbar ist.Control block for controlling a semiconductor memory module a semiconductor memory module - With a control device (CAD) for generating control signals (SODT1L, SODT1R) for control a read and write access to the semiconductor memory device (HB) and for generating address signals (SA14L, SA14R, SA15L, SA15R) for addressing memory cells (SZ) of the semiconductor memory device for one Read and write access, - With several address connections (A14L, A14R, A15L, A15R) for providing the address signals (SA14L, ..., SA15R), - at the control device (CAD) at least one selection circuit (M1A, M3A), - at the at least one of the address connections (A14L, A14R, A15L, A15R) by means of the at least one selection circuit optionally one of Address signals (SA14L) or one of the control signals (SODT1L) can be fed. Steuerbaustein nach Anspruch 1, – bei dem der Halbleiterspeicherbaustein (HB) mehrere Speicherchips (C) aufweist, – bei dem mittels der Steuereinrichtung (CAD) ein erstes der Steuersignale (SCS0L, SCS2) erzeugbar ist, – bei dem sich mittels des ersten der Steuersignale (SCS2) einer der Speicherchips für einen Lese- und Schreibzugriff auswählen lässt.Control module according to claim 1, - in which the semiconductor memory module (HB) has a plurality of memory chips (C), - in which by means of the control device (CAD), a first of the control signals (SCS0L, SCS2) can be generated, - in which by means of first of the control signals (SCS2) of one of the memory chips for one Select read and write access leaves. Steuerbaustein nach Anspruch 2, – bei dem mittels der Steuereinrichtung (CAD) ein zweites der Steuersignale (SODT1L) erzeugbar ist, – bei dem die Speicherchips jeweils einen aktivierbaren Terminierungswiderstand (ODTW) umfassen, der für einen Schreibzugriff auf den jeweiligen Speicherchip aktiviert wird, – bei dem mittels des zweiten der Steuersignale (SODT1L, SODT1R) der Terminierungswiderstand (ODTW) auf einem der mehreren Speicherchips aktivierbar ist.Control module according to claim 2, - in which by means of the control device (CAD) a second of the control signals (SODT1L) can be generated, - at the memory chips each have an activatable termination resistor (ODTW), which for a write access to the respective memory chip is activated, - in which by means of the second of the control signals (SODT1L, SODT1R) the termination resistor (ODTW) can be activated on one of the several memory chips. Steuerbaustein nach einem der Ansprüche 1 bis 3, – mit einem ersten der Adressanschlüsse (A15L), – bei dem die Steuereinrichtung (CAD) eine erste Auswahlschaltung (M1A) aufweist, – bei dem dem ersten der Adressanschlüsse (A15L) mittels der ersten Auswahlschaltung (M1A) eines der Adresssignale (SA15L) oder das erste der Steuersignale (SCS2) zuführbar ist.Control module according to one of claims 1 to 3, - With a first of the address terminals (A15L) - at the control device (CAD) has a first selection circuit (M1A) having, - at the first of the address ports (A15L) by means of the first selection circuit (M1A) of one of the address signals (SA15L) or the first of the control signals (SCS2) can be fed. Steuerbaustein nach Anspruch 4, – mit einem zweiten der Adressanschlüsse (A14L), – bei dem die Steuereinrichtung (CAD) eine zweite Auswahlschaltung (M3A) aufweist, – bei dem dem zweiten der Adressanschlüsse (A14L) mittels der zweiten Auswahlschaltung (M3A) eines der Adresssignale (SA14L) oder das zweite der Steuersignale (SODT1L) zuführbar ist.Control module according to claim 4, - with a second of the address terminals (A14L) - at the control device (CAD) has a second selection circuit (M3A) having, - at the second of the address terminals (A14L) by means of the second selection circuit (M3A) of one of the address signals (SA14L) or the second of the control signals (SODT1L) can be fed. Steuerbaustein nach einem der Ansprüche 3 bis 5, – mit mehreren Steueranschlüssen (CS0L, CS1L) zum Bereitstellen der Steuersignale, – bei dem die Steuereinrichtung (CAD) eine dritte Auswahlschaltung (M1B) aufweist, – bei dem einem ersten der Steueranschlüsse (CS0L) mittels der dritten Auswahlschaltung (M3B) wahlweise das erste der Steuersignale (SCS0L) oder das zweite der Steuersignale (SODT1L) zuführbar ist.Control module according to one of Claims 3 to 5, - with several control terminals (CS0L, CS1L) for providing the control signals, - in which the control device (CAD) has a third selection circuit (M1B), - in which a first of the control terminals (CS0L) by means of the third selection circuit (M3B) optionally, the first of the control signals (SCS0L) or the second of the control signals (SODT1L) can be fed. Steuerbaustein nach Anspruch 6, – bei dem die Steuereinrichtung (CAD) eine vierte Auswahlschaltung (M3B) aufweist, – bei dem einem zweiten der Steueranschlüsse (CS1L) mittels der vierten Auswahlschaltung eines von mehreren der zweiten Steuersignale (SCS0, SC1L), mit denen sich jeweils verschiedene der Speicherchips für einen Lese- und Schreibzugriff auswählen lassen, zuführbar ist.Control module according to claim 6, - in which the control device (CAD) has a fourth selection circuit (M3B), - in which a second of the control terminals (CS1L) by means of the fourth selection circuit one of several of the second Control signals (SCS0, SC1L), with each of which different the memory chips for select a read and write access, can be supplied. Steuerbaustein nach einem der Ansprüche 1 bis 7, – mit einer Steuerschaltung (CTR), der eingangsseitig ein Konfigurationssignal (KS) zuführbar ist, – bei dem die Auswahlschaltungen (M1A, ..., M6B) in Abhängigkeit von dem Konfigurationssignal (KS) von der Steuerschaltung (CTR) zur Auswahl eines der den Auswahlschaltungen (M1A, M3A, M1B, M3B) zugeführten Signale gesteuert werden.Control module according to one of claims 1 to 7, - With a control circuit (CTR), the input side, a configuration signal (KS) can be fed is - at the selection circuits (M1A, ..., M6B) depending on from the configuration signal (KS) from the control circuit (CTR) for selecting one of the selection circuits (M1A, M3A, M1B, M3B) supplied Signals are controlled. Steuerbaustein nach einem der Ansprüche 1 bis 8, bei dem die Auswahlschaltungen jeweils als ein Multiplexer (M1A, ..., M4A, M1B, ..., M6B) ausgebildet sind.Control module according to one of claims 1 to 8, in which the selection circuits are each represented as a multiplexer (M1A, ..., M4A, M1B, ..., M6B) are formed. Halbleiterspeichermodul – mit einem Steuerbaustein (SB) nach einem der Ansprüche 1 bis 9, – mit mehreren Halbleiterspeicherbausteinen (HB), – mit einer Modulplatine (MP), auf der der Steuerbaustein und die mehreren Halbleiterspeicherbausteine derart angeordnet sind, dass die mehreren Halbleiterspeicherbausteine zu einer linken und rechten Seite des Steuerbausteins angeordnet sind, – bei dem die Adressanschlüsse (A15L, A15R) des Steuerbausteins jeweils über einen Bus (BCS2, BCS3) mit den Halbleiterspeicherbausteinen verbunden sind, – bei dem einer der Busse (BCS2), der an den ersten der Adressanschlüsse (A15L) angeschlossen ist, die Halbleiterspeicherbausteine auf der linken und rechten Seite des Steuerbausteins mit dem Steuerbaustein (SB) verbindet.Semiconductor memory module - with a control block (SB) according to one of the claims 1 to 9, - With several semiconductor memory devices (HB), - with a Module board (MP) on which the control block and the plurality of semiconductor memory devices in such a way are arranged that the plurality of semiconductor memory devices to a left and right side of the control block are arranged - in which the address connections (A15L, A15R) of the control module via a bus (BCS2, BCS3) are connected to the semiconductor memory devices, - in which one of the buses (BCS2) connected to the first of the address ports (A15L) is connected, the semiconductor memory devices on the left and right side of the control block with the control block (SB) combines. Halbleiterspeichermodul nach Anspruch 10, – bei dem die Steueranschlüsse (CS1L, CS1R) des Steuerbausteins über jeweils einen der Busse (BCS0, BCS1) mit den Halbleiterspeicherbausteinen verbunden sind, – bei dem einer der Busse (BCS0), der an den zweiten der Steueranschlüsse (CS1L) angeschlossen ist, die Halbleiterspeicherbausteine auf der linken und rechten Seite des Steuerbausteins mit dem Steuerbaustein verbindet.A semiconductor memory module according to claim 10, - in which the control connections (CS1L, CS1R) of the control module via one of the buses (BCS0, BCS1) are connected to the semiconductor memory devices, - in which one of the buses (BCS0) connected to the second of the control terminals (CS1L) is connected, the semiconductor memory devices on the left and the right side of the control module connects to the control module. Halbleiterspeichermodul nach einem der Ansprüche 10 oder 11, bei dem an einem jeweiligen Ende der Busse (BCS0, BCS2) ein Abschlusswiderstand (AW) angeordnet ist.Semiconductor memory module according to one of claims 10 or 11, in which at a respective end of the buses (BCS0, BCS2) a Terminating resistor (AW) is arranged. Halbleiterspeichermodul nach einem der Ansprüche 10 bis 12, – mit einer Speicherschaltung (EP) zur Speicherung eines Konfigurationszustandes in Abhängigkeit von auf dem Halbleiterspeichermodul angeordneten Ranken, – bei dem die Steuerschaltung (CTR) des Steuerbausteins die Auswahlschaltungen in Abhängigkeit von dem in der Speicherschaltung (EP) gespeicherten Konfigurationszustand zur Auswahl eines der den Auswahlschaltungen zugeführten Signale steuert.Semiconductor memory module according to one of claims 10 to 12 - With a memory circuit (EP) for storing a configuration state dependent on of tendrils arranged on the semiconductor memory module, - in which the control circuit (CTR) of the control module, the selection circuits dependent on from the configuration state stored in the memory circuit (EP) for selecting one of the signals supplied to the selection circuits controls. Halbleiterspeichermodul nach einem der Ansprüche 10 bis 13, bei dem die Halbleiterspeicherbausteine in einer Modulkonfiguration 4Rx4 oder 4Rx8 betrieben werden.Semiconductor memory module according to one of claims 10 to 13, wherein the semiconductor memory devices in a module configuration 4Rx4 or 4Rx8 are operated. Halbleiterspeichermodul nach einem der Ansprüche 13 oder 14, bei dem die Speicherschaltung als ein elektrisch programmierbarer Speicher ausgebildet ist.Semiconductor memory module according to one of claims 13 or 14, wherein the memory circuit as an electrically programmable Memory is formed. Verfahren zum Betreiben eines Halbleiterspeichermoduls, umfassend die folgenden Schritte: – Bereitstellen eines Halbleiterspeichermoduls nach einem der Ansprüche 10 bis 15, – Betreiben des Halbleiterspeichermoduls in einer ersten Konfiguration, wenn das Halbleiterspeichermodul eine erste Anzahl von Ranken aufweist, und betreiben des Halbleiterspeichermoduls in einer zweiten Konfiguration, wenn das Halbleiterspeichermodul eine zweite Anzahl von Ranken aufweist, – Erzeugen eines der Steuersignale (SCS2, SODT1L, SODT1) zur Steuerung eines Lese- und Schreibzugriffs auf den Halbleiterspeicherbaustein an einem der Adressanschlüsse (A14L, A15L) des Steuerbausteins des Halbleiterspeichermoduls, wenn das Halbleiterspeichermodul in der ersten Konfiguration betrieben wird, und erzeugen eines der Adresssignale (SA14L, SA15L), eines floatenden Potenzials oder eines Bezugspotenzials an dem einen der Adressanschlüsse (A14L, A15L), wenn das Halbleiterspeichermodul in der zweiten Konfiguration betrieben wird.Method for operating a semiconductor memory module, comprising the following steps: - Providing a semiconductor memory module according to one of the claims 10 to 15, - operate of the semiconductor memory module in a first configuration when the semiconductor memory module has a first number of tendrils, and operate the semiconductor memory module in a second configuration, if the semiconductor memory module has a second number of tendrils, - Produce one of the control signals (SCS2, SODT1L, SODT1) for controlling a Read and write access to the semiconductor memory device one of the address ports (A14L, A15L) of the control module of the semiconductor memory module when the semiconductor memory module is operated in the first configuration and generate one of the address signals (SA14L, SA15L), one floating potential or a reference potential at one of the address connections (A14L, A15L) when the semiconductor memory module in the second configuration is operated. Verfahren nach Anspruch 16, umfassend die folgenden Schritte: – Erzeugen des ersten der Steuersignale (SCS2) zur Auswahl eines Speicherchips (C) eines Halbleiterspeicherbausteins für einen Lese- oder Schreibzugriff an dem ersten der Adressan schlösse (A15L) des Steuerbausteins des Halbleiterspeichermoduls, wenn das Halbleiterspeichermodul in der ersten Konfiguration betrieben wird, und erzeugen des einen der Adresssignale (SA15L), des floatenden Potenzials oder des Bezugspotenzials an dem ersten der Adressanschlüsse (A15L), wenn das Halbleiterspeichermodul in der zweiten Konfiguration betrieben wird, – Erzeugen des zweiten der Steuersignale (SODT1L) an dem zweiten der Adressanschlüsse (A14L), wenn das Halbleiterspeichermodul in der ersten Konfiguration betrieben wird, und erzeugen eines weiteren der Adresssignale (A14L), des floatenden Potenzials oder des Bezugspotenzials an dem zweiten der Adressanschlüsse (A14L), wenn das Halbleiterspeichermodul in der zweiten Konfiguration betrieben wird.The method of claim 16, comprising the following steps: - generating the first of the control signals (SCS2) for selecting a memory chip (C) of a semiconductor memory block for read or write access to the first of the address latch (A15L) of the control module of the semiconductor memory module when the semiconductor memory module is operated in the first configuration and generate one of the address signals (SA15L), the floating potential or the reference potential at the first one the address terminal (A15L) when the semiconductor memory module is operated in the second configuration, generating the second one of the control signals (SODT1L) at the second of the address terminals (A14L) when the semiconductor memory module is operated in the first configuration, and generating another one of the address signals (A14L), the floating potential or the reference potential at the second of the address terminals (A14L) when the semiconductor memory module is operated in the second configuration. Verfahren nach Anspruch 16, umfassend die folgenden Schritte: – Bereitstellen eines Halbleiterspeichermoduls nach einem der Ansprüche 10 bis 15, – Betreiben des Halbleiterspeichermoduls in einer ersten Konfiguration, wenn das Halbleiterspeichermodul eine erste Anzahl von Ranken aufweist und Betreiben des Halbleiterspeichermoduls in einer zweiten Konfiguration, wenn das Halbleiterspeichermodul eine zweite Anzahl von Ranken aufweist, – Erzeugen des ersten der Steuersignale (SCS2) an dem ersten der Adressanschlüsse (A15L), wenn das Halbleiterspeichermodul in der ersten Konfiguration betrieben wird, und erzeugen eines der Adresssignale (SA15L), eines floatenden Potentials oder eines Bezugspotenzials an dem ersten der Adressanschlüsse (A15L), wenn das Halbleiterspeichermodul in der zweiten Konfiguration betrieben wird, – Erzeugen des zweiten der Steuersignale (SODT1L) an dem ersten der Steueranschlüsse (CS0L), wenn das Halbleiterspeicher modul in der ersten Konfiguration betrieben wird, und erzeugen eines ersten der Steuersignale (SCS0L) an dem ersten der Steueranschlüsse (CS0L), wenn das Halbleiterspeichermodul in der zweiten Konfiguration betrieben wird.The method of claim 16, comprising the following Steps: - Provide A semiconductor memory module according to any one of claims 10 to 15 - operate of the semiconductor memory module in a first configuration when the semiconductor memory module has a first number of vines and operating the semiconductor memory module in a second configuration, if the semiconductor memory module has a second number of tendrils, - Produce the first of the control signals (SCS2) at the first of the address terminals (A15L), when the semiconductor memory module is operated in the first configuration and generate one of the address signals (SA15L) of a floating one Potential or a reference potential at the first of the address terminals (A15L), when the semiconductor memory module is operated in the second configuration becomes, - Produce the second of the control signals (SODT1L) at the first of the control terminals (CS0L), when the semiconductor memory module is operated in the first configuration and generate a first one of the control signals (SCS0L) at the first of the control terminals (CS0L) when the semiconductor memory module in the second configuration is operated. Verfahren zum Betreiben eines Halbleiterspeichermoduls, nach einem der Ansprüche 16 bis 18, umfassend die folgenden Schritte: Ermitteln der Anzahl der Ranke auf dem Halbleiterspeichermodul durch Auswerten eines Speicherzustandes der Speicherschaltung (EP), wobei der Speicherzustand die Anzahl der Ranke auf dem Halbleiterspeichermodul kennzeichnet.Method for operating a semiconductor memory module, according to one of the claims 16 to 18, comprising the following steps: Determine the Number of tendrils on the semiconductor memory module by evaluation a memory state of the memory circuit (EP), wherein the memory state indicates the number of tendrils on the semiconductor memory module. Verfahren nach einem der Ansprüche 16 bis 19, – bei dem das Halbleiterspeichermodul in der ersten Konfiguration betrieben wird, wenn das Halbleiterspeichermodul eine Anzahl von vier Ranken aufweist, – bei dem das Halbleiterspeichermodul in der zweiten Konfiguration betrieben wird, wenn das Halbleiterspeichermodul eine Anzahl von zwei Ranken aufweist.Method according to one of claims 16 to 19, - in which the semiconductor memory module is operated in the first configuration when the semiconductor memory module has a number of four tendrils having, - at the semiconductor memory module is operated in the second configuration when the semiconductor memory module has a number of two tendrils having.
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