DE102006017892A1 - Body temperature measuring method for use during thermal process, involves subjecting body to radiation by electrically heated radiant emitter, and compensating error through additional measurement of electrical characteristics of emitter - Google Patents
Body temperature measuring method for use during thermal process, involves subjecting body to radiation by electrically heated radiant emitter, and compensating error through additional measurement of electrical characteristics of emitter Download PDFInfo
- Publication number
- DE102006017892A1 DE102006017892A1 DE200610017892 DE102006017892A DE102006017892A1 DE 102006017892 A1 DE102006017892 A1 DE 102006017892A1 DE 200610017892 DE200610017892 DE 200610017892 DE 102006017892 A DE102006017892 A DE 102006017892A DE 102006017892 A1 DE102006017892 A1 DE 102006017892A1
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- radiation
- temperature
- measurement
- heater
- measuring
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Withdrawn
Links
- 230000005855 radiation Effects 0.000 title claims abstract description 80
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 77
- 238000005259 measurement Methods 0.000 title claims abstract description 39
- 230000008569 process Effects 0.000 title claims description 29
- 230000036760 body temperature Effects 0.000 title description 2
- 238000009529 body temperature measurement Methods 0.000 claims abstract description 8
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 claims description 30
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 9
- 238000000576 coating method Methods 0.000 claims description 7
- 230000008878 coupling Effects 0.000 claims description 7
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 claims description 7
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 claims description 7
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 claims description 4
- 239000011521 glass Substances 0.000 claims description 3
- 230000000737 periodic effect Effects 0.000 claims description 2
- 238000004886 process control Methods 0.000 claims description 2
- WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N tungsten Chemical compound [W] WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- 239000002241 glass-ceramic Substances 0.000 claims 2
- 238000011065 in-situ storage Methods 0.000 claims 2
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- 230000006978 adaptation Effects 0.000 claims 1
- 229910002804 graphite Inorganic materials 0.000 claims 1
- 239000010439 graphite Substances 0.000 claims 1
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims 1
- 229910052721 tungsten Inorganic materials 0.000 claims 1
- 239000010937 tungsten Substances 0.000 claims 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 11
- 230000002452 interceptive effect Effects 0.000 description 8
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 7
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 7
- 238000004616 Pyrometry Methods 0.000 description 6
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 4
- 230000008859 change Effects 0.000 description 4
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 3
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 3
- 239000000463 material Substances 0.000 description 3
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 2
- 230000003750 conditioning effect Effects 0.000 description 2
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 description 2
- 238000013461 design Methods 0.000 description 2
- 230000002349 favourable effect Effects 0.000 description 2
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 2
- 238000004861 thermometry Methods 0.000 description 2
- 229910000805 Pig iron Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000002411 adverse Effects 0.000 description 1
- WUKWITHWXAAZEY-UHFFFAOYSA-L calcium difluoride Chemical compound [F-].[F-].[Ca+2] WUKWITHWXAAZEY-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 1
- 229910001634 calcium fluoride Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 239000006185 dispersion Substances 0.000 description 1
- 238000009429 electrical wiring Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 238000001914 filtration Methods 0.000 description 1
- 238000009499 grossing Methods 0.000 description 1
- 239000003779 heat-resistant material Substances 0.000 description 1
- 238000003780 insertion Methods 0.000 description 1
- 230000037431 insertion Effects 0.000 description 1
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 235000015097 nutrients Nutrition 0.000 description 1
- 238000002310 reflectometry Methods 0.000 description 1
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 1
- 238000004381 surface treatment Methods 0.000 description 1
- 230000009897 systematic effect Effects 0.000 description 1
- 230000002123 temporal effect Effects 0.000 description 1
- 239000012780 transparent material Substances 0.000 description 1
- 239000011043 treated quartz Substances 0.000 description 1
- 230000000007 visual effect Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J5/00—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
- G01J5/0003—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry for sensing the radiant heat transfer of samples, e.g. emittance meter
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J5/00—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
- G01J5/02—Constructional details
- G01J5/06—Arrangements for eliminating effects of disturbing radiation; Arrangements for compensating changes in sensitivity
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Radiation Pyrometers (AREA)
Abstract
Description
Anwendungsgebietfield of use
Die Erfindung betrifft ein Verfahren entsprechend dem Oberbegriff des Anspruchs 1, sowie eine Vorrichtung entsprechend dem Oberbegriff des Anspruchs 16.The The invention relates to a method according to the preamble of Claim 1, and a device according to the preamble of claim 16.
Stand der Technik und deren NachteileState of Technology and its disadvantages
Ein Körper soll einem thermischen Prozess unterzogen werden. Zwecks Prozesskontrolle wird seine Temperatur fortlaufend gemessen. Es ist bekannt, dass die Temperatur des Körpers berührungslos mittels Messung seiner emittierten Strahlung, d.h. durch Pyrometrie, gemessen werden kann. Bei dieser Messung sind Störeinflüsse von anderen Strahlungsquellen möglichst zu vermeiden, weil deren Strahlung am Körper teilweise reflektiert wird und der vom Körper emittierten Strahlung überlagert wird, was schließlich zu einem inakzeptablen Messfehler führen kann. Quellen für diese Störstrahlung sind oft elektrische Heizelemente, mit denen der zu behandelnde Körper erwärmt werden soll oder auch andere elektrisch beheizte Anlagenteile, wie z.B. Verdampferschiffchen, die dann typischerweise ein höhere Temperatur haben als der zu messende Körper und die störende Strahlung in Form von Wärmestrahlung emittieren. Die Störquelle wird deshalb im Folgenden auch „Wärmestrahler" oder „Heizer" genannt, wobei eine Anwendung der Erfindung voraussetzt, dass es sich um elektrische Widerstandsheizer handelt, d.h. die Heizer Erwärmen sich durch Kontaktieren mit einer Spannnungsquelle aufgrund von Joule'scher Wärme.One body should be subjected to a thermal process. For the purpose of process control its temperature is continuously measured. It is known that the temperature of the body contactless by measuring its emitted radiation, i. by pyrometry, can be measured. In this measurement are interference from other sources of radiation preferably to avoid, because their radiation on the body partially reflected and the body superimposed emitted radiation will be what finally can lead to an unacceptable measurement error. Sources for this Radiated are often electrical heating elements with which the person to be treated body heated should be or other electrically heated system parts, such as e.g. Evaporator boats, which then typically have a higher temperature have as the body to be measured and the disturbing Emit radiation in the form of heat radiation. The source of interference is therefore also referred to below as "heat radiator" or "heater", wherein an application of the invention assuming that they are electrical resistance heaters, i.e. heating the heaters by contacting with a voltage source due to Joule's warmth.
Nahe liegend ist es, für den Messfleck eine Stelle am Körper zu wählen, wo keine oder nur geringe Störstrahlung auftritt. Dies kann u. a. dadurch geschehen, dass der Messfleck innerhalb einer Vertiefung des Körpers positioniert wird, vgl. [Theory and practice of radiation thermometry, D. P. DeWitt, G. D. Nutter (Hrsg.), Wiley, New York, (1988), Seite 84-86]. Innerhalb der Vertiefung erfolgt eine weitgehende Abschattung der Störstrahlung.Near it is lying, for the measuring spot a spot on the body to choose, where no or only little interference occurs. This can u. a. by doing that, the measuring spot within a depression of the body is positioned, cf. [Theory and practice of radiation thermometry, D.P. DeWitt, G.D. Nutter (ed.), Wiley, New York, (1988), p 84-86]. Within the depression there is a large amount of shading the interfering radiation.
Sind am Körper keine Vertiefungen vorhanden bzw. erwünscht, so steht das Bestreben einer homogenen Beheizung meist der Forderung nach einem störstrahlungsfreien Messfleck entgegen. Aber auch aus anderen Gründen ist eine pyrometrische Temperaturmessung im Bereich der Störstrahlung oft unumgänglich.are on the body no depressions present or desired, so is the endeavor a homogeneous heating usually the demand for a Störstrahlungsfreien Measuring spot contrary. But for other reasons is a pyrometric temperature measurement in the field of interfering radiation often inevitable.
So ist oft nur die dem Heizer zugewandte Oberfläche des Körpers für die Messung geeignet, z.B. weil auf den anderen Oberflächen eine Prozesskammer den strahlungsoptischen Zugang behindert ist oder weil sich die anderen Oberflächen des Körpers infolge eines Beschichtungsprozesses derart verändern, dass dort der Emissionsgrad während der Messung nicht bekannt ist.So Often, only the heater-facing surface of the body is suitable for measurement, e.g. because on the other surfaces a process chamber is obstructed the radiation optical access or because the other surfaces of the body as a result of a coating process change that way that there the emissivity during the measurement is not known.
Selbst dann, wenn es gelingt den direkten Anteil der Störstrahlung abzuschirmen, kann die auf indirektem Weg, d.h. z.B. durch Reflexion an den Anlagenwänden, vgl. [Rapid Thermal Processing, R. B. Fair (Hrsg.), Academic Press, Boston, (1993), Seite 369-371], auf den Körper fallende Störstrahlung die Messung verfälschen.Even then, if it is possible to shield the direct portion of the interfering radiation, can indirectly, i. e.g. by reflection at the plant walls, cf. [Rapid Thermal Processing, R.B. Fair (ed.), Academic Press, Boston, (1993), pages 369-371], incident on the body interference falsify the measurement.
Im Folgenden wird es ausschließlich um Verfahren gehen, bei der der Messfleck des zu messende Körpers im Einflussbereich eines Wärmestrahlers liegen muss, und keine vollständige Abschattung der Heizerstrahlung am Messfleck praktikabel ist.in the The following will be exclusive to go to procedures in which the measuring spot of the body to be measured in Influence of a heat radiator lie must, and not complete Shadowing the heater radiation at the spot is practicable.
Einige pyrometrische Verfahren beruhen darauf, dass zwischen Heizer und zu messendem Körper ein Filter angebracht wird, das bei einer gewissen Wellenlänge λ die Heizerstrahlung absorbiert und der Strahlungsdetektor bei dieser Wellenlänge λ misst. Nachteilig ist, dass an ein solches Filter oft hohe Anforderungen gestellt werden müssen. Die Abmessung des Filters muss ausreichend sein um die gesamte Heizerstrahlung zumindest im Bereich des Messfleckes auszufiltern. Aufgrund der Strahlung wird das Filter erhitzt und muss somit hohe Temperaturen aushalten.Some Pyrometric methods are based on that between heater and body to be measured a filter is applied, which at a certain wavelength λ the heater radiation absorbed and the radiation detector at this wavelength λ measures. adversely is that such a filter often made high demands Need to become. The dimension of the filter must be sufficient around the entire heater radiation at least in the area of the measuring spot filter. Due to the Radiation heats the filter and thus has high temperatures withstand.
Einige dieser Verfahrens bestehen darin, die strahlungsfilternden Eigenschaften eines transparenten und hitzebeständigen Werkstoffes wie z.B. Quarzglas auszunutzen, vgl. [Rapid Thermal Processing, R. B. Fair (Hrsg.), Academic Press, Boston, (1993), S. 387-389]. So können als Strahler z.B. Lampen mit einem Kolben aus Quarzglas eingesetzt werden. Misst der Strah lungsdetektor dann bei einer Wellenlänge λ von mehr als 5 μm, so wird die potentiell störende Heizerstrahlung bereits am Kolben herausgefiltert. Störend kann sich in diesem Fall die von den heißen Kolben emittierte Strahlung auswirken, vor allem dann, wenn die Kolben heißer werden als der Körper. Beträchtliche Schwierigkeiten ergeben sich für dieses Verfahren dann, wenn der Körper ebenfalls von Quarzglas umgeben ist, das z.B. als Prozesskammer dient und ein optischer Zugang nur durch die Kammerwand hindurch möglich ist. In diesem Fall ist es erforderlich in die Prozesskammer ein Fenster aus einem für die Messstrahlung λ durchlässigem Material wie z.B. Kalziumfluorid zu integrieren. Da das Fenster im Strahlungsbereich ist, werden hohe thermische Anforderungen gestellt.Some This method consists of the radiation-filtering properties a transparent and heat-resistant material such as e.g. quartz glass to exploit, cf. [Rapid Thermal Processing, R.B. Fair (ed.), Academic Press, Boston, (1993), pp. 387-389]. So can as Radiator e.g. Lamps are used with a quartz glass flask. The radiation detector then measures at a wavelength λ of more than 5 μm, so will the potentially disturbing Heater radiation already filtered out at the piston. Can be disturbing in this case the radiation emitted by the hot pistons especially if the pistons get hotter than the body. considerable Difficulties arise for this method is used when the body is also made of quartz glass surrounded, e.g. serves as a process chamber and an optical Access only through the chamber wall is possible. In this case is it requires in the process chamber a window of a permeable to the measuring radiation λ material such as. To integrate calcium fluoride. Because the window in the radiation area is, high thermal demands are made.
In
einem dieser Verfahren wird deshalb zusätzlich eine Quarzglasplatte
als Filter eingefügt,
die so präpariert
ist, dass sie bei ca. 2,7 μm
eine starke Absorptionsbande aufweist, bei der dann gemessen wird,
vgl. [Patent
Andere pyrometrische Verfahren beruhen darauf, dass zur Bestimmung der Störstrahlung ein zweiter Detektor installiert wird. So ist z.B. in [Theory and practice of radiation thermometry, D. P. DeWitt, G. D. Nutter (Hrsg.), Wiley, New York, (1988), Seite 892] beschrieben, wie ein zusätzlicher Detektor auf einen kalten Reflektor gerichtet wird, an dem die Strahlung des Heizers (in diesem Fall ein Brenner) reflektiert wird. Im Idealfall ist die am Reflektor gestreute Strahlungsintensität exakt gleichgroß wie die am Körper (in diesem Fall ein Roheisenblock) gestreute Intensität, so das sich nach Subtraktion exakt die emittierte Intensität des Körpers ergibt. Problematisch sind Inhomogenitäten hinsichtlich Strahlung des Heizers, weil dann der Reflektor und der Körper unterschiedlichen Strahlungsintensitäten ausgesetzt sind.Other Pyrometric methods are based on the fact that for the determination of Radiated a second detector is installed. For example, e.g. in [Theory and practice of radiation thermometry, D.P. DeWitt, G.D. Nutter (ed.), Wiley, New York, (1988), page 892], as an additional Detector is aimed at a cold reflector, where the radiation of the heater (in this case a burner) is reflected. Ideally is the radiation intensity scattered at the reflector exactly same as the on the body (in this case a pig iron block) scattered intensity, so that Subtraction gives exactly the emitted intensity of the body. The problem is inhomogeneities in terms of radiation of the heater, because then the reflector and the body different radiation intensities are exposed.
Speziell bei Systemen mit Lampenheizern wurde deshalb ein „Ripple Pyrometry"-Verfahren [Silicon rapid thermal processing with ripple pyrometry, A. T. Fiory, Conference-paper Symposium Mater. Soc, Warrendale (1998), Seite 105 bis 115] entwickelt, das auf der zusätzlichen Auswertung der Wechselanteile im Signal der Strahlungsintensitäten beruht. Im Gegensatz zu den bereits besprochenen Verfahren wird keine genaue Kenntnis des Emissionsgrad des Körpers vorausgesetzt. Bei dem Verfahren wird ein Detektor („WAFER") auf den Körper gerichtet, und ein weiterer Detektor („LAMP") auf die Lampenheizer. Die Lampen werden mit Wechselstrom bei der Versorgungsnetzfrequenz von ca. 50-60 Hz betrieben, so dass die von den Lampen emittierte Strahlung einen Wechselanteil hat. Aus dem Quotienten der Wechselanteile der Signale von („WAFER") und („LAMP") werden die Reflektivität des Körpers und daraus der Störstrahlungsanteil bestimmt. Ein Nachteil des Verfahrens ist, dass der Wechselanteil aufgrund der Netzfrequenz wegen der thermischen Trägheit des Lampenheizers nur wenige Prozent des Gesamtsignals ausmacht. Für eine brauchbare Messung sind deshalb eine äußerst präzise Messung der Signale bei hoher Messfrequenz und eine aufwendige Signalaufbereitung notwendig. Die Präzision und die hohe Messfrequenz stellen hohe Anforderungen an die Strahlungsdetektoren und die Signalaufbereitungselektronik, die zudem jeweils noch mindestens zweifach vorhanden sein müssen.specially For systems with lamp heaters, therefore, a "ripple Pyrometry "method [Silicon rapid thermal processing with ripple pyrometry, A.T. Conference-paper Symposium Mater. Soc, Warrendale (1998), p 105 to 115], which is based on the additional evaluation of the alternating parts based in the signal of the radiation intensities. In contrast to the methods already discussed no exact Knowledge of the emissivity of the body provided. In the method, a detector ("WAFER") is aimed at the body, and another detector ("LAMP") on the lamp heaters. The lamps are powered by AC at the mains supply frequency operated by about 50-60 Hz, so that emitted by the lamps Radiation has an alternating component. From the quotient of the alternating shares The signals of ("WAFER") and ("LAMP") are the reflectivity of the body and from this the Störstrahlungsanteil certainly. A disadvantage of the method is that the alternating component due to the mains frequency due to the thermal inertia of the Lamp heater only a few percent of the total signal. For a usable one Measurement is therefore an extremely accurate measurement the signals at high measuring frequency and a complex signal conditioning necessary. The precision and the high measurement frequency make high demands on the radiation detectors and the signal conditioning electronics, which also still at least each must be present twice.
Aufgabe der ErfindungTask of invention
Aufgabe der Erfindung ist es, ein Verfahren und eine Vorrichtung zur pyrometrischen Temperaturmessung eines Körpers, während dieser dem Einfluss eines elektrisch erhitzten Wärmestrahlers ausgesetzt ist, zu schaffen, insbesondere für den Fall, dass der Wärmestrahler dazu dient, den Körper zu beheizen. Ein Messfehler, der durch die am Körper reflektierte Einstrahlung des Wärmestrahlers verursacht wird, soll möglichst vermieden werden. Der zur Messung notwendige Eingriff in das System, bestehend aus Wärmestrahler und Körper, soll gering sein. D.h. zur Messung soll möglichst nur an der beliebigen zu messenden Stelle an der Oberfläche des Körpers ein strahlungsoptischer Zugang benötigt werden.task The invention is a process and a device for pyrometric Temperature measurement of a body, while this is exposed to the influence of an electrically heated radiant heat, to create, in particular for the case of the heat radiator this serves the body to heat. A measurement error caused by the radiation reflected on the body the heat radiator is caused, should be possible be avoided. The necessary intervention in the system, consisting of heat radiator and body, should be low. That for the measurement should be possible only at the arbitrary measuring point on the surface of the body Radiation-optical access required become.
Lösung der AufgabeSolution of task
Diese Aufgabe wird durch ein Verfahren mit Merkmalen des Anspruch 1 bzw. durch eine Vorrichtung nach Anspruch 16 gelöst.These The object is achieved by a method with features of claim 1 or solved by a device according to claim 16.
Vorteile der ErfindungAdvantages of invention
Im Vergleich zu den Verfahren, die auf einer Vermeidung bzw. Abschattung der Störstrahlung beruhen, sind keine Einschränkungen der zu messenden Stelle hinsichtlich Abschirmung der Störstrahlung notwendig. D.h. der Körper muss über keine geeignete Vertiefung verfügen und die Auswahl der zu messenden Stelle ist beliebig.in the Comparison to the methods based on avoidance or shadowing the interfering radiation are no restrictions the point to be measured in terms of shielding the interference necessary. That the body must over do not have a suitable recess and the choice of the place to be measured is arbitrary.
Die Auswahl der zu messenden Stelle kann somit an der für einen thermischen Prozess vorteilhaftesten Stelle gewählt werden, wie z.B. Messung der heißesten Stelle des Körpers oder dort, wo sein Emissionsgrad jederzeit bekannt ist oder dort, wo ein strahlungsoptischer Zugang keine Probleme bereitet.The Selection of the point to be measured can thus at the for a thermal process most advantageous location are chosen, such. measurement of heißesten Body of the body or where its emissivity is known at all times or there, where a radiation-optical access causes no problems.
Die Tatsache, dass zur Messung nur ein strahlungsoptischer an einer beliebigen Stelle des Körpers erforderlich ist, ermöglicht die Integration auch in Systeme, bei denen der Zugang durch prozesstechnische Erfordernisse vielfältig verbaut ist. Während ein Zugang im Einflussbereichbereich des Heizers meist bereitgestellt werden kann, sind andere Bereiche oft durch Anlagenteile wie z. B. Prozesskammern oder Nährmaterialzuführungssysteme blockiert. Ein zusätzlicher Zugang zur elektrischen Verdrahtung des Wärmestrahlers, wie er in der Erfindung benötigt wird, ist dagegen in den meisten Fällen problemlos, weil die Verdrahtung des Wärmestrahlers mit der Spannungsquelle oft ohnehin in einem Schaltschrank realisiert ist, wo die Installation des Messprozessors und eventueller zusätzlicher Sensoren selten Probleme bereitet. Es ist somit problemlos möglich diese Zusatzkomponenten bestehend aus Messprozessor und zusätzlicher Sensoren auch nachzurüsten. In der ersten Stufe wird nur ein Strahlungsdetektor, d.h. ohne Störstrahlungskompensation, installiert. Stellt sich im laufenden Betrieb dann heraus, dass eine Kompensation der Störstrahlung erforderlich ist, so werden diese Komponenten dann nachgerüstet. Die Umbauarbeiten beschränken sich auf den Bereich des Schaltschranks.The fact that only a radiation-optical element is required at any point in the body for the measurement, allows the integration in systems in which the access is built in diverse by process requirements. While access in the area of influence of the heater can usually be provided, other areas are often replaced by equipment such. B. process chambers or Nährmaterialzuführungssysteme blocked. An additional access to the electrical wiring of the heat radiator, as required in the invention, however, is in most cases without problems, because the wiring of the heat radiator with the voltage source is often realized anyway in a cabinet, where the installation of the measuring processor and any additional sensors rarely causes problems. It is thus easily possible to retrofit these additional components consisting of measuring processor and additional sensors. In the first stage, only one radiation detector, ie without interference radiation compensation, is installed. If, during operation, it turns out that a compensation of the interfering radiation is required Lich, these components are then retrofitted. The conversion work is limited to the area of the control cabinet.
Gegenüber Verfahren die ein Filter für die Störstrahlung verwenden, ist der Vorteil, dass kein Filter in das System eingebracht werden muss, das einen Teil der Wärmestrahlung absorbiert, sich deshalb erhitzt und somit entweder temperaturbeständig sein muss oder aber gekühlt werden muss.Opposite procedure which is a filter for the interfering radiation The advantage is that no filter is introduced into the system must be, which absorbs a part of the heat radiation, itself therefore heated and thus be either temperature resistant must or chilled must become.
Gegenüber dem Ripple Pyrometry-Verfahren bietet die Erfindung den Vorteil, dass die Anforderungen hinsichtlich Präzision und Messfrequenz an den Detektor und die Signalaufbereitungselektronik wesentlich geringer sind. Hierdurch ist eine kostengünstigere Realisierung möglich. Außerdem kann die Erfindung im Gegensatz zur Ripple Pyrometry auch mit relativ trägen Heizern realisiert werden, bei denen eine Wechselspannung mit Netzfrequenz keinen ausreichenden Wechselanteil der Strahlungsintensität bewirkt.Compared to the Ripple pyrometry method, the invention offers the advantage that the requirements regarding precision and measuring frequency the detector and the signal processing electronics much lower are. This is a cheaper Realization possible. Furthermore the invention can in contrast to Ripple Pyrometry also with relative sluggish Heaters are realized in which an AC voltage with mains frequency does not cause a sufficient change of the radiation intensity.
Eine Variante der Erfindung erlaubt die Bestimmung der Emissionsgrad des zu messenden Körpers. Dies stellt einen beträchtlichen Vorteil gegenüber den beschriebenen Verfahren (außer der Ripple Pyrometry) dar, bei der die Emissionsgrad des Körpers bekannt sein muss, bzw. jeweils durch zusätzliche Installation eines nicht berührungslosen Messverfahrens, wie z.B. Thermoelement, für jeden Körper mit unbekannter Emissionsgrad separat ermittelt werden muss. Aufgrund der Emissionsgradbestimmung können auch gleichartige Körper prob lemlos prozessiert werden, die hinsichtlich Emissionsgrad eine große statistische Streuung aufweisen.A Variant of the invention allows the determination of the emissivity of the body to be measured. This represents a considerable advantage over the described method (except the ripple pyrometry), in which the emissivity of the body is known must be, or in each case by additional installation of a non-contact measuring method, such as. Thermocouple, for every body must be determined separately with unknown emissivity. by virtue of the emissivity determination can also similar bodies be easily processed, which in terms of emissivity one size have statistical dispersion.
In einer weiteren Variante der Erfindung kann die räumliche Verteilung der Temperatur auf dem Körper gemessen werden. In Kombination mit der Bestimmung einer räumlichen Verteilung des Emissionsgrad können auch strukturierte Körper d.h. insbesondere auch mit inhomogenem Emissionsgrad gemessen werden.In According to a further variant of the invention, the spatial distribution of the temperature on the body be measured. In combination with the determination of a spatial Distribution of the emissivity can also structured bodies i.e. In particular, be measured with inhomogeneous emissivity.
Beschreibung von AusführungsbeispielenDescription of exemplary embodiments
Ausführungsbeispiele der Erfindung sind in den Zeichnungen dargestellt und werden im Folgenden näher beschrieben. Es zeigen:embodiments The invention are illustrated in the drawings and are in Following closer described. Show it:
In
Bei
starker Abweichung des Wechselstroms von einer Sinuskurve, wie sie
z. B. bei der Verwendung einer Phasenanschnittssteuerung in der
Stromversorgung
In
vielen Fällen
werden auch geeignete Strom- und Spannungsdaten durch eine Schnittstelle der
Spannungsversorgung bereitgestellt, so dass eine zusätzliche
Installation der Sensoren
Am
Messfleck
In
Im
Schritt S1 werden die Intensität
iD der Strahlung
Im
nächsten
Schritt S4 wird die Intensität
der abgestrahlten Strahlung eines schwarzen Strahlers mit der Temperatur
TH gemäß dem Planck'schen Strahlungsgesetz
bestimmt. Dass der reale Heizer
Die
so gewonnene Temperatur T kann einem (nicht dargestellten) Regler
zugeführt
werden, der durch Stellen z. B. der elektrischen Leistung an der Spannungsversorgung
Der
in S5 benötigte
Koppelungsparameter q wird vor allem bei komplexen Anordnungen vorzugsweise
experimentell bestimmt. D.h. es wird ein Heizprozess zur Kalibrierung
gefahren. Als Beispiele werden im Folgenden einige Kalibriermethoden
beschrieben: eine mittels einer nichtberührungslosen Referenzmessung
und eine Heizleistungsvariationsmethode, bei der die Heizleistung
oder die Heizspannung eine rasche zeitlichen Änderung aufgeprägt wird
und schließlich
eine kombinierte Methode, die die beiden erstgenannten verwendet.
Die zeitlichen Änderungen
von Ueff, R, T, der nicht korregierten pyrometrisch
gemessenen Temperatur Traw, und der mittels
Referenzmessung bestimmte Temperatur Tref bei
einer kombinierten Kalibrierung sind in
Bei
der Kalibrierung mittels Referenzmessung wird am Körper
Bei
Kalibrierung mittels Heizleistungsvariationsmethode wird der Koppelungsparameter
q durch schnelle Änderung
der elektrischen Heizspannung an der Spannungsquelle
Der
Parameter q ist dabei (gemäß Diagramm aus
Der
so ermittelte Kopplungsparameter q ist unabhängig von der Temperatur und
der Emissionsgrad des Körpers
Die
Anwendung einer kombinierten Kalibriermethode ist insbesondere dann
vorteilhaft, wenn kein Kalibrierkörper mit bekannter Emissionsgrad
zur Verfügung
steht, weil z.B. aufgrund der Verwendung von Reflektoren (vgl. hierzu
auch die Detaildarstellung in
In
einer Erweiterung von Ausführungsbeispiel
10 kann das besprochene Verfahren auch verwendet werden, um an mehreren
Stellen der Körperoberfläche gleichzeitig
zu messen. Hierzu können entweder
mehrere Detektoren installiert werden oder es kann ein Detektor
mit räumlicher
Auflösung,
d. h. eine Infrarotkamera eingesetzt werden. Der Koppelungsparameter
q ist in diesem Fall vom Ort (x, y) auf dem Körper
Die
Auswahl einer geeigneten Wellenlänge λ, bei der
die Strahlung
In
Die
Heizung erfolgt gemäß der Detaildarstellung
in
Die
entsprechende elektrische Verschaltung eines Heizkreises
Claims (18)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE200610017892 DE102006017892A1 (en) | 2006-04-13 | 2006-04-13 | Body temperature measuring method for use during thermal process, involves subjecting body to radiation by electrically heated radiant emitter, and compensating error through additional measurement of electrical characteristics of emitter |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE200610017892 DE102006017892A1 (en) | 2006-04-13 | 2006-04-13 | Body temperature measuring method for use during thermal process, involves subjecting body to radiation by electrically heated radiant emitter, and compensating error through additional measurement of electrical characteristics of emitter |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE102006017892A1 true DE102006017892A1 (en) | 2007-10-31 |
Family
ID=38542160
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE200610017892 Withdrawn DE102006017892A1 (en) | 2006-04-13 | 2006-04-13 | Body temperature measuring method for use during thermal process, involves subjecting body to radiation by electrically heated radiant emitter, and compensating error through additional measurement of electrical characteristics of emitter |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE102006017892A1 (en) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN116497443A (en) * | 2023-06-29 | 2023-07-28 | 江西兆驰半导体有限公司 | Epitaxial wafer wavelength yield adjustment method and system and epitaxial wafer |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE4012615C2 (en) * | 1990-04-20 | 1992-07-16 | A.S.T. Elektronik Gmbh, 7900 Ulm, De | |
US5848842A (en) * | 1994-12-19 | 1998-12-15 | Applied Materials, Inc. | Method of calibrating a temperature measurement system |
DE10329107A1 (en) * | 2002-12-23 | 2004-07-01 | Mattson Thermal Products Gmbh | Method for determining the temperature of a semiconductor wafer in a rapid heating system |
-
2006
- 2006-04-13 DE DE200610017892 patent/DE102006017892A1/en not_active Withdrawn
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE4012615C2 (en) * | 1990-04-20 | 1992-07-16 | A.S.T. Elektronik Gmbh, 7900 Ulm, De | |
US5848842A (en) * | 1994-12-19 | 1998-12-15 | Applied Materials, Inc. | Method of calibrating a temperature measurement system |
DE10329107A1 (en) * | 2002-12-23 | 2004-07-01 | Mattson Thermal Products Gmbh | Method for determining the temperature of a semiconductor wafer in a rapid heating system |
Non-Patent Citations (6)
Title |
---|
DeWITT,D.P.,INCROPERA,F.P.:Theory and practice of radiation thermometry, Nutter (Hrsg.),New York, 1988, S.84-86; * |
FAIR,R.B.:Rapid Thermal Processing, Academic Press, Inc., Boston, 1993,S.357,358; * |
FAIR,R.B.:Rapid Thermal Processing, Academic Press, Inc., Boston, 1993,S.369-371; * |
FAIR,R.B.:Rapid Thermal Processing, Academic Press, Inc., Boston, 1993,S.387,389; * |
FIORY,A.T.:Silicon Rapid Thermal Processing With Ripple Pyrometry.In: Mat.Res.Soc.Symp.Proc., Vol.502, 1989,S.105-115; * |
MIHALOW,F.A.:Theory and practice of radiation thermometry, D.P. DeWitt, G.D. Nutter (Hrsg.),Wiley, New York, 1988, S.892; * |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN116497443A (en) * | 2023-06-29 | 2023-07-28 | 江西兆驰半导体有限公司 | Epitaxial wafer wavelength yield adjustment method and system and epitaxial wafer |
CN116497443B (en) * | 2023-06-29 | 2023-09-05 | 江西兆驰半导体有限公司 | Epitaxial wafer wavelength yield adjustment method and system and epitaxial wafer |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE102008046725B4 (en) | Infrared target temperature correction system and method | |
DE4022846C2 (en) | Device for power control and limitation in a heating surface made of glass ceramic or a comparable material | |
EP2026054B1 (en) | Method for optically monitoring the course of physical and/or chemical processes occurring on the surface of a body | |
DE10297622T5 (en) | Temperature measurement as well as methods and systems for heat treatment | |
WO2017012697A1 (en) | Temperature measuring device and heat therapy apparatus having such a measuring device | |
EP1615469A2 (en) | Cooking apparatus with temperature detection and method for detecting temperature in a cooking apparatus | |
DE19832833C2 (en) | Process for thermographic examination of a workpiece and device therefor | |
DE102006017892A1 (en) | Body temperature measuring method for use during thermal process, involves subjecting body to radiation by electrically heated radiant emitter, and compensating error through additional measurement of electrical characteristics of emitter | |
DE102019201330A1 (en) | Microwave device and method for operating a microwave device | |
WO2015018891A1 (en) | Cooking device and method for operating the cooking device | |
DE102018117590B4 (en) | Device for the radiometric calibration of thermal imaging cameras | |
DE102006017655A1 (en) | Method and arrangement for non-contact temperature measurement | |
DE102019107815B4 (en) | Method for operating a cooking appliance and cooking appliance | |
WO2015018890A1 (en) | Cooking device and method for operating a cooking device | |
DE19919961B4 (en) | Pyrometer with compensation heater | |
DE4339267C2 (en) | Method for controlling the heating power of a hotplate with an electronic control with continuous power supply, in particular PureHalogen hotplate | |
EP3031296B1 (en) | Cooking equipement and method to control the said equipement | |
DE102015206437B3 (en) | Device for determining the thermal expansion and / or structural transformations of samples | |
EP3031297B1 (en) | Cooking equipement and method to control the said equipement | |
EP2775786B1 (en) | Cooking device | |
DE102013102107A1 (en) | Cooking device and method of operation | |
WO2012092944A1 (en) | Method and device for determining the radiance of an infrared radiation source | |
EP1672341B1 (en) | Method for the determination of the emissivity coefficient of a surface to be heated | |
DE202009015206U1 (en) | Device for controlling the temperature of an IR radiation source | |
DE19643221B4 (en) | Sensor for radiation pyrometric temperature measurement under conditions of high ambient temperatures |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
OM8 | Search report available as to paragraph 43 lit. 1 sentence 1 patent law | ||
R005 | Application deemed withdrawn due to failure to request examination |
Effective date: 20130416 |