DE102006009016A1 - Integrated semiconductor circuit comprises two supply pads with same direct-current voltage potential, where two supply pads are connected to supply and capacitor strip - Google Patents

Integrated semiconductor circuit comprises two supply pads with same direct-current voltage potential, where two supply pads are connected to supply and capacitor strip Download PDF

Info

Publication number
DE102006009016A1
DE102006009016A1 DE102006009016A DE102006009016A DE102006009016A1 DE 102006009016 A1 DE102006009016 A1 DE 102006009016A1 DE 102006009016 A DE102006009016 A DE 102006009016A DE 102006009016 A DE102006009016 A DE 102006009016A DE 102006009016 A1 DE102006009016 A1 DE 102006009016A1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
supply
capacitor
pads
strip
supply pads
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
DE102006009016A
Other languages
German (de)
Inventor
Rainer Gschwind-Schilling
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Robert Bosch GmbH
Original Assignee
Robert Bosch GmbH
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Robert Bosch GmbH filed Critical Robert Bosch GmbH
Priority to DE102006009016A priority Critical patent/DE102006009016A1/en
Priority to PCT/EP2006/067976 priority patent/WO2007073965A1/en
Publication of DE102006009016A1 publication Critical patent/DE102006009016A1/en
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/52Arrangements for conducting electric current within the device in operation from one component to another, i.e. interconnections, e.g. wires, lead frames
    • H01L23/522Arrangements for conducting electric current within the device in operation from one component to another, i.e. interconnections, e.g. wires, lead frames including external interconnections consisting of a multilayer structure of conductive and insulating layers inseparably formed on the semiconductor body
    • H01L23/5222Capacitive arrangements or effects of, or between wiring layers
    • H01L23/5223Capacitor integral with wiring layers
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/52Arrangements for conducting electric current within the device in operation from one component to another, i.e. interconnections, e.g. wires, lead frames
    • H01L23/522Arrangements for conducting electric current within the device in operation from one component to another, i.e. interconnections, e.g. wires, lead frames including external interconnections consisting of a multilayer structure of conductive and insulating layers inseparably formed on the semiconductor body
    • H01L23/528Geometry or layout of the interconnection structure
    • H01L23/5286Arrangements of power or ground buses
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/02Bonding areas ; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/04Structure, shape, material or disposition of the bonding areas prior to the connecting process
    • H01L24/06Structure, shape, material or disposition of the bonding areas prior to the connecting process of a plurality of bonding areas
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/10Details of semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/11Device type
    • H01L2924/13Discrete devices, e.g. 3 terminal devices
    • H01L2924/1304Transistor
    • H01L2924/1306Field-effect transistor [FET]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/10Details of semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/11Device type
    • H01L2924/13Discrete devices, e.g. 3 terminal devices
    • H01L2924/1304Transistor
    • H01L2924/1306Field-effect transistor [FET]
    • H01L2924/13063Metal-Semiconductor Field-Effect Transistor [MESFET]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/10Details of semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/11Device type
    • H01L2924/13Discrete devices, e.g. 3 terminal devices
    • H01L2924/1304Transistor
    • H01L2924/1306Field-effect transistor [FET]
    • H01L2924/13064High Electron Mobility Transistor [HEMT, HFET [heterostructure FET], MODFET]

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Geometry (AREA)
  • Semiconductor Integrated Circuits (AREA)

Abstract

The integrated semiconductor circuit (10) comprises supply pads (11-14) with the same direct-current voltage potential. The two supply pads are connected to one supply and capacitor strip (15,16). The supply or capacitor strips are directed at an area (17) with increased current consumption.

Description

Stand der TechnikState of technology

Die Erfindung betrifft einen integrierten Halbleiterschaltkreis nach der Gattung des unabhängigen Patentanspruchs.The The invention relates to a semiconductor integrated circuit according to the genus of the independent claim.

Aus US-6924562 B2 ist es bekannt, bei elektromagnetischen Störungen einen Entkopplungskondensator zu verwenden. Dieser Entkopplungskondensator ist außerhalb eines Schaltkreises, beispielsweise eines Mikroprozessors, angeordnet.Out US-6924562 B2 it is known in electromagnetic interference a Decoupling capacitor to use. This decoupling capacitor is outside a circuit, such as a microprocessor arranged.

Offenbarung der Erfindungepiphany the invention

Der erfindungsgemäße integrierte Halbleiterschaltkreis mit den Merkmalen des unabhängigen Patentanspruchs hat demgegenüber den Vorteil, dass durch die Verbindung von wenigstens zwei Versorgungspads, die auf einem gleichen gleichspannungsmäßigem Potenzial sind, mit Versorgungs- und/oder Kondensatorstreifen hochfrequente Potenzialunterschiede zwischen diesen Versorgungspads vermindert werden und dass zusätzlich hochfrequente Potenzialunterschiede auf der Fläche des integrierten Halbleiterschaltkreises minimiert werden.Of the Integrated invention Semiconductor circuit having the features of the independent claim has in contrast the advantage that by connecting at least two supply pads, which are at an equal DC potential, with supply and / or Capacitor strip high-frequency potential differences between these supply pads are reduced and that in addition high-frequency Potential differences on the surface of the semiconductor integrated circuit can be minimized.

Als Halbleiterschaltkreis wird hier ein Halbleiterschaltkreis verstanden, der ein abgeschlossenes Bauteil ist und somit zur Außenwelt nur noch Anschlüsse aufweist und selbst in der Regel gekapselt ist.When Semiconductor circuit is understood here as a semiconductor circuit, which is a closed component and thus to the outside world only connections and itself encapsulated in the rule.

Durch die in den abhängigen Ansprüchen aufgeführten Maßnahmen und Weiterbildungen sind vorteilhafte Verbesserungen des im unabhängigen Patentanspruch angegebenen integrierten Halbleiterschaltkreises möglich.By those in the dependent Claims listed measures and further developments are advantageous improvements of the independent claim specified integrated semiconductor circuit possible.

Besonders vorteilhaft ist, dass die Versorgungs- und/oder Kondensatorstreifen vorzugsweise an wenigstens einem Bereich mit einem erhöhten Stromverbrauch vorbeiführen, da hier die Wahrscheinlichkeit für das Auftreten von hochfrequenter Strahlung und damit der Notwendigkeit des Ableitens besonders hoch ist.Especially It is advantageous that the supply and / or capacitor strip preferably at least one area with increased power consumption lead past, because here is the probability for the occurrence of high-frequency radiation and thus the need of dissipation is particularly high.

Weiterhin ist es voreilhaft, den integrierten Halbleiterschaltkreis durch die Versorgungs- und/oder Kondensatorstreifen in eine Mehrzahl von nahezu gleichen Flächen aufzuteilen. Auch dies verbessert bzw. resoziiert das Auftreten von elektromagnetischer Strahlung.Farther is it premature, the semiconductor integrated circuit through the supply and / or To divide capacitor strips into a plurality of nearly equal areas. This also improves or resociates the occurrence of electromagnetic Radiation.

Es ist weiterhin vorteilhaft, in Abhängigkeit von der Stromdichte die Versorgungs- und Kondensatorstreifen anzuordnen, denn Bereiche hoher Stromdichte oder bzw. eines hohen Stromverbrauchs sind für die Erzeugung von elektromagnetischer Strahlung Entstehungspunkte. Dabei ist die Stromdichte selbst bereits hochfrequent. Hochfrequent heisst hier, was gemäß Lehrbüchern als hochfrequent anzusehen ist.It is also advantageous, depending on the current density to arrange the supply and capacitor strips, because areas high current density or or a high power consumption are for the production of electromagnetic radiation origins. It is the Current density itself already high frequency. High frequency means here what according to textbooks as is high-frequency view.

Es ist weiterhin vorteilhaft, dabei die Kondensatorstreifen sowohl im Stromzufluss als auch im Stromabfluss anzuordnen.It is also advantageous, while the capacitor strip both to be arranged in the power supply as well as in the power drain.

Eine weitere vorteilhafte Anordnung der Versorgungs- und Kondensatorstreifen ist diese an den Versorgungspads und Punkten oder Bereichen hohen Stromverbrauchs sternförmig anzuordnen. Dies führt dann zu einer Struktur wie eine Wurzel bei einem Baum und hat sich für die Verminderung von elektromagnetischer Strahlung als besonders vorteilhaft erwiesen.A further advantageous arrangement of the supply and capacitor strip this is high at the supply pads and points or areas Power consumption star-shaped to arrange. this leads to then to a structure like a root in a tree and has become for the Reduction of electromagnetic radiation as particularly advantageous proved.

Zeichnungdrawing

Ausführungsbeispiele der Erfindung sind in der Zeichnung dargestellt und werden in der nachfolgenden Beschreibung näher erläutert. 1 zeigt eine erste Variante des erfindungsgemäßen integrierten Halbleiterschaltkreises, 2 eine zweite Variante, 3 zeigt einen schematischen Aufbau eines Kondensatorstreifens, 4 zeigt einen schematischen Aufbau einer Versorgungsleitung mit Kondensatorstreifen, 5 zeigt einen Kondensator, der monolithisch hergestellt wird, 6 eine dritte Variante, 7 eine vierte Variante, 8 eine fünfte Variante, 9 eine sechste Variante und 10 eine siebte Variante der Erfindung.Embodiments of the invention are illustrated in the drawings and are explained in more detail in the following description. 1 shows a first variant of the semiconductor integrated circuit according to the invention, 2 a second variant, 3 shows a schematic structure of a capacitor strip, 4 shows a schematic structure of a supply line with capacitor strip, 5 shows a capacitor which is produced monolithically, 6 a third variant, 7 a fourth variant, 8th a fifth variant, 9 a sixth variant and 10 a seventh variant of the invention.

Beschreibungdescription

EMV (elektromagnetische Verträglichkeit)-Probleme sind zunehmend, insbesondere bei sicherheitskritischen Anwendungen wie Personenschutzsystemen in Fahrzeugen, beim Design von elektronischen Schaltungen zu beachten. Insbesondere der Mikrocontroller in einem Airbag-Steuergerät kann durch Frequenzvervielfachung und Intermodulationsprodukte bis in den Gigahertz-Bereich Störstrahlungen erzeugen. Zur Bekämpfung solcher Hochfrequenzsignale werden in Schaltungen Kondensatoren verwendet, um die Hochfrequenzstrahlung gegen Masse kurzzuschließen. Erfindungsgemäß wird vorgeschlagen, die Versorgungspads, die auf gleichem gleichspannungsmäßigem Potenzial sind, mittels Versorgungs- und/oder Kondensatorstreifen zu verbinden.EMC (electromagnetic compatibility) problems are increasing, especially in safety-critical applications such as personal protection systems in vehicles, in the design of electronic To observe circuits. In particular, the microcontroller in one Airbag control unit can through frequency multiplication and intermodulation products up to the gigahertz range interfering radiation produce. For fighting Such high-frequency signals are used in circuits capacitors used to short the high frequency radiation to ground. According to the invention, it is proposed the supply pads, which are at the same DC potential, connect by means of supply and / or capacitor strip.

1 zeigt in einem ersten Ausführungsbeispiel dieses erfindungsgemäße Merkmal. Auf einem Substrat eines Halbleiterschaltkreises 10 sind vier Versorgungspads 11 bis 14 jeweils mittig angeordnet. Gegenüberliegende Versorgungspads sind auf gleichem gleichspannungsmäßigem Potenzial. Sie sind durch Versorgungsleitungen 16 und 15 jeweils miteinander verbunden. Damit kann eine EMV-Störung über die Versorgungsleitungen abgeleitet werden. Insbesondere sind die Leitungen an einem Bereich 17 mit hohem Stromverbrauch bzw. hoher Stromdichte geführt, da dies eine Quelle für elektromagnetische Strahlung ist. Versorgungsleitungen können auch als Kondensatorstreifen ausgeführt werden oder zusätzlich Kondensatorstreifen aufweisen. 1 shows in a first embodiment of this feature of the invention. On a substrate of a semiconductor circuit 10 are four supply pads 11 to 14 each centered. Opposing supply pads are at the same DC potential. They are through supply lines 16 and 15 each with connected to each other. This can be used to derive an EMC fault via the supply lines. In particular, the lines are at one area 17 with high power consumption or high current density, since this is a source of electromagnetic radiation. Supply lines can also be designed as capacitor strips or additionally have capacitor strips.

2 zeigt ein weiteres Ausführungsbeispiel des erfindungsgemäßen integrierten Halbleiterschaltkreises. Auch hier sind gegenüberliegende Pads 21 und 23 und 22 und 24 jeweils über Versorgungs- und/oder Kondensatorstreifen miteinander verbunden. Es ist möglich, dass auch alle vier Pads auf dem gleichen Potenzial liegen, sodass diese alle durchverbunden sind. Wiederum ist der Versorgungsstreifen 26 in der Nähe eines Bereichs 25 angeordnet, der eine hohe Stromdichte bzw. einen erhöhten Stromverbrauch im Vergleich zu der Umgebung aufweist. Dieser Bereich kann im Voraus identifiziert werden, da hier beispielsweise der Rechenkern eines Mikrocontrollers ist. Bei dem integrierten Halbleiterschaltkreis kann es sich um einen Siliziumhalbleiterschaltkreis handeln, aber auch andere Halbleitermaterialien wie Galliumarsenid und andere Verbindungshalbleiter sind hier möglich. 2 shows a further embodiment of the semiconductor integrated circuit according to the invention. Again, there are opposing pads 21 and 23 and 22 and 24 each connected to each other via supply and / or capacitor strip. It is possible that all four pads are at the same potential, so they are all interconnected. Again, the supply strip 26 near an area 25 arranged, which has a high current density or an increased power consumption compared to the environment. This area can be identified in advance since, for example, here is the arithmetic kernel of a microcontroller. The semiconductor integrated circuit may be a silicon semiconductor circuit, but other semiconductor materials such as gallium arsenide and other compound semiconductors are possible.

3 erläutert in einem einfachen Schaltbild den Aufbau eines Kondensatorstreifens. Eine Leitung 30, die von Pad zu Pad führt, die auf gleichem Potenzial liegen, weist gegen Masse eine Parallelschaltung von einer Vielzahl von Kondensatoren 31 auf. Da die Versorgungspads auf gleichem elektrischem Potenzial liegen, kommt es zu keinem Kurzschluss durch die Leitung 30. 3 explains in a simple circuit diagram the structure of a capacitor strip. A line 30 , which leads from pad to pad, which are at the same potential, has in parallel with ground a parallel connection of a plurality of capacitors 31 on. Since the supply pads are at the same electrical potential, there is no short circuit through the line 30 ,

4 zeigt einen modifizierten Versorgungsstreifen 40, unter den unterhalb ein Kondensatorstreifen mit der Leitung 41 und den Kondensatoren 42 angeordnet ist. Damit sind in mehreren Ebenen im Halbleitersubstrat der Versorgungsstreifen und der Kondensatorstreifen angeordnet. Alternativ ist es möglich, dass unterhalb des Versorgungsstreifens 40 Flächen angeordnet sind, um mit dem Versorgungsstreifen 40 Kondensatoren zu bilden. Die Leitungen 30, 41 oder 40 können durch Metalle oder auch Polysilizium gebildet werden. 4 shows a modified supply strip 40 , under the below a capacitor strip with the line 41 and the capacitors 42 is arranged. Thus, the supply strip and the capacitor strip are arranged in several levels in the semiconductor substrate. Alternatively, it is possible that below the supply strip 40 Plains are arranged to match the supply strip 40 To form capacitors. The wires 30 . 41 or 40 can be formed by metals or polysilicon.

5 zeigt ein Beispiel für eine monolithische Herstellung eines Kondensators. Dazu wird hier beispielsweise ein Feldeffekttransistor genommen, wobei Source 51 und Drain 52 miteinander verbunden werden und das Gate 50 die Gegenelektrode zu diesen anderen Elektroden bildet und damit ein Kondensator vorliegt. An den Anschlüssen 53 und 54 kann dann die Kondensatorspannung abgegriffen werden. Das Material des Feldeffekttransistors 55 kann verschieden dotiertes Silizium sein oder ein MESFET oder ein HEMT (High Electron Mobility Transistor) oder andere Feldeffekttransistorstrukturen. Zwischen dem Gate 50 und dem Halbleitermaterial 55 ist üblicherweise eine Oxidschicht als Isolator vorgesehen. Durch eine Vielzahl von solchen Kondensatoren, die derart hergestellt sind, kann eine entsprechende Kapazität im Halbleitersubstrat vorgesehen sein. Es sind auch andere Möglichkeiten der monolithischen Herstellung von Kondensatoren möglich, die dem Fachmann geläufig sind. 5 shows an example of a monolithic production of a capacitor. For this purpose, for example, a field effect transistor is taken here, wherein Source 51 and drain 52 be joined together and the gate 50 forms the counter electrode to these other electrodes and thus a capacitor is present. At the connections 53 and 54 then the capacitor voltage can be tapped. The material of the field effect transistor 55 may be differently doped silicon or a MESFET or a HEMT (High Electron Mobility Transistor) or other field effect transistor structures. Between the gate 50 and the semiconductor material 55 usually an oxide layer is provided as an insulator. By a plurality of such capacitors, which are produced in this way, a corresponding capacitance may be provided in the semiconductor substrate. There are also other possibilities of monolithic production of capacitors possible, which are familiar to the expert.

6 zeigt ein weiteres Ausführungsbeispiel des erfindungsgemäßen Halbleiterschaltkreises. Der Halbleiterschaltkreis 60 weist vier Elektroden 62 bis 65 auf, die auf gleichem elektrischem Potenzial liegen. Diese Pads sind über eine Gitterstruktur 61 aus Versorgungs- und/oder Kondensatorstreifen miteinander verbunden, sodass auf dem Halbleitersubstrat 60 Flächen entstehen, die nahezu gleich sind. Eine dieser Flächen 66 ist ein Bereich mit einem erhöhten Stromverbrauch bzw. einer erhöhten Stromdichte. 6 shows a further embodiment of the semiconductor circuit according to the invention. The semiconductor circuit 60 has four electrodes 62 to 65 that are at the same electrical potential. These pads are over a grid structure 61 from supply and / or capacitor strips connected to each other, so that on the semiconductor substrate 60 Areas are created that are almost equal. One of these surfaces 66 is an area with an increased power consumption or an increased current density.

7 zeigt ein weiteres Ausführungsbeispiel des erfindungsgemäßen Halbleiterschaltkreises. Auf dem Halbleiterschaltkreis 70 sind wiederum vier Elektroden 71, 73, 75 und 78 vorgesehen. Um das Pad 71 ist ein Bereich 72 vorgesehen, der mit Kondensatoren belegt ist. Dies ist auch um das Pad 73 vorgesehen, wobei hier ein Bereich 74 definiert ist. Dieser Bereich 74 ist über eine Strecke 702 mit einem weiteren Kondensatorbereich 701 verbunden, der einen Bereich 700 umgibt, der eine hohe Stromdichte aufweist. Der Kondensatorbereich 701 ist weiterhin über eine Strecke 703 mit einem weiteren Kondensatorbereich 76 verbunden, der den Pad 75 umgibt. Weiterhin ist der Pad 78 durch den Bereich 79, der aus Kondensatoren besteht, umgeben. 7 shows a further embodiment of the semiconductor circuit according to the invention. On the semiconductor circuit 70 again are four electrodes 71 . 73 . 75 and 78 intended. To the pad 71 is an area 72 provided, which is occupied by capacitors. This is also about the pad 73 provided, here an area 74 is defined. This area 74 is over a stretch 702 with another capacitor area 701 connected to an area 700 surrounds, which has a high current density. The capacitor area 701 is still over a stretch 703 with another capacitor area 76 connected to the pad 75 surrounds. Furthermore, the pad 78 through the area 79 surrounded by capacitors.

8 zeigt eine Variante dazu mit nicht symmetrisch angeordneten Pads. Auf dem Halbleiterschaltkreis 800 sind die Pads 801, 803, 805 und 807 angeordnet. Um den Pad 801 ist der Kondensatorbereich 802 vorgesehen, um den Pad 803 der Kondensatorbereich 804, um den Pad 805 der Kondensatorbereich 806 und um den Pad 807 der Kondensatorbereich 808. Der Kondensatorbereich 808 ist über die Strecke 809 mit einem Kondensatorbereich 810 verbunden, der einen Bereich 811 mit hoher Stromdichte umgibt. 8th shows a variant of this with non-symmetrically arranged pads. On the semiconductor circuit 800 are the pads 801 . 803 . 805 and 807 arranged. To the pad 801 is the capacitor area 802 provided to the pad 803 the capacitor area 804 around the pad 805 the capacitor area 806 and around the pad 807 the capacitor area 808 , The capacitor area 808 is over the track 809 with a capacitor area 810 connected to an area 811 surrounds with high current density.

In einer Weiterbildung ist vorgesehen, dass um die Pads und Bereiche hoher Stromdichte Kondensatorstreifen sternförmig oder zumindest teilsternförmig angeordnet sind. 9 zeigt diese Variante. Auf dem Halbleiterschaltkreis 900 sind wiederum vier Pads symmetrisch angeordnet, die Pads 901, 903, 905 und 908. Um den Pad 901 ist eine halbkreisartige Sternstruktur angeordnet, die mit dem Bezugszeichen 902 bezeichnet ist. Ähnliche Strukturen sind um den Pad 903 mit dem Bezugszeichen 904, um den Pad 905 mit dem Bezugszeichen 906 und um den Pad 908 mit dem Bezugszeichen 907 vorgesehen. Um den Bereich 909 mit hoher Stromdichte ist eine vollkreissternförmige Struktur aus Kondensatorstreifen 910 angeordnet, die sich zum Teil mit der Struktur 907 überlappt.In a development, it is provided that capacitor strips are arranged in a star shape or at least a partial star shape around the pads and areas of high current density. 9 shows this variant. On the semiconductor circuit 900 again four pads are arranged symmetrically, the pads 901 . 903 . 905 and 908 , To the pad 901 is arranged a semicircular star structure, denoted by the reference numeral 902 is designated. Similar structures are around the pad 903 with the reference number 904 to the pad 905 with the reference number 906 and around the pad 908 with the reference number 907 intended. To the area 909 High current density is a full-circle-shaped structure of capacitor strips 910 arranged, in part, with the structure 907 overlaps.

10 zeigt letztlich eine entsprechende Variante mit nicht symmetrisch angeordneten Pads. Auf dem Halbleiterschaltkreis 100 sind die Pads 101 mit der halbkreisförmigen Sternstruktur 102, der Pad 103 mit der halbkreissternförmigen Struktur 104, der Pad 105 mit der halbkreissternförmigen Struktur 106 und der Pad 108 mit der halbkreissternförmigen Struktur 107 vorgesehen. Um den Bereich mit hoher Stromdichte 109 ist wiederum eine vollkreissternförmige Struktur 110 vorgesehen. 10 finally shows a corresponding variant with not symmetrically arranged pads. On the semiconductor circuit 100 are the pads 101 with the semicircular star structure 102 , the pad 103 with the semicircular structure 104 , the pad 105 with the semicircular structure 106 and the pad 108 with the semicircular structure 107 intended. Around the area with high current density 109 again is a full circle-shaped structure 110 intended.

Die Pads können an beliebigen Stellen des Halbleitersubstrats vorgesehen sein. Neben den hier dargestellten Versorgungspads gibt es natürlich noch Anschlüsse für die Signale, die der Halbleiterschaltkreis verarbeiten soll. Diese sind der Einfachheit halber hier weggelassen worden.The Pads can be provided at any point of the semiconductor substrate. Next Of course, the supply pads shown here also have connections for the signals, which should process the semiconductor circuit. These are simplicity half omitted here.

Vorliegend wird eine Wurzelstruktur vorgeschlagen, die dicke Leitungen für einen Hauptstrang und für einzelne Schaltungsmodule nach und nach dünnere Leitungen verwendet.present is proposed a root structure, the thick lines for a Main strand and for individual circuit modules gradually thinner lines used.

Claims (6)

Halbleiterschaltkreis mit wenigstens zwei Versorgungspads (1114) auf gleichem gleichspannungsmäßigem Potenzial, wobei die Versorgungspads (1114) mit Versorgungs- und/oder Kondensatorstreifen (15, 16) verbunden sind.Semiconductor circuit having at least two supply pads ( 11 - 14 ) at the same DC potential, the supply pads ( 11 - 14 ) with supply and / or capacitor strips ( 15 . 16 ) are connected. Integrierter Halbleiterschaltkreis nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass der wenigstens eine Versorgungs- und/oder Kondensatorstreifen (15, 16) an wenigstens einem Bereich (17) mit erhöhtem Stromverbrauch vorbeiführt.Semiconductor integrated circuit according to Claim 1, characterized in that the at least one supply and / or capacitor strip ( 15 . 16 ) on at least one area ( 17 ) with increased power consumption passes. Integrierter Halbleiterschaltkreis nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, dass durch eine Mehrzahl von Versorgungs- und/oder Kondensatorstreifen (15, 16) der integrierte Halbleiterschaltkreis in eine Mehrzahl von nahezu gleichen Flächen (66) aufgeteilt ist.Semiconductor integrated circuit according to Claim 1 or 2, characterized in that a plurality of supply and / or capacitor strips ( 15 . 16 ) the semiconductor integrated circuit into a plurality of nearly equal areas ( 66 ) is divided. Halbleiterschaltkreis nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass der wenigstens eine Versorgungs- und/oder Kondensatorstreifen (15, 16) in Abhängigkeit von einer hochfrequenten Stromdichte angeordnet ist.Semiconductor circuit according to one of the preceding claims, characterized in that the at least one supply and / or capacitor strip ( 15 . 16 ) is arranged as a function of a high-frequency current density. Integrierter Halbleiterschaltkreis nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, dass der wenigstens eine Kondensatorstreifen (15, 16) jeweils im Stromzufluss und im Stromabfluss angeordnet ist.Semiconductor integrated circuit according to Claim 4, characterized in that the at least one capacitor strip ( 15 . 16 ) is arranged in each case in the power supply and in the current drain. Integrierter Halbleiterschaltkreis nach Anspruch 4 oder 5, dadurch gekennzeichnet, dass die Mehrzahl von Versorgungs- und/oder Kondensatorstreifen (15, 16) zumindest teilsternförmig um die wenigstens zwei Versorgungspads (1114) und/oder um den wenigstens einen Bereich mit dem erhöhten Stromverbrauch (17) angeordnet sind.A semiconductor integrated circuit according to claim 4 or 5, characterized in that the plurality of supply and / or capacitor strips ( 15 . 16 ) at least partially star-shaped around the at least two supply pads ( 11 - 14 ) and / or around the at least one area with the increased power consumption ( 17 ) are arranged.
DE102006009016A 2005-12-23 2006-02-27 Integrated semiconductor circuit comprises two supply pads with same direct-current voltage potential, where two supply pads are connected to supply and capacitor strip Withdrawn DE102006009016A1 (en)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE102006009016A DE102006009016A1 (en) 2005-12-23 2006-02-27 Integrated semiconductor circuit comprises two supply pads with same direct-current voltage potential, where two supply pads are connected to supply and capacitor strip
PCT/EP2006/067976 WO2007073965A1 (en) 2005-12-23 2006-10-31 Integrated semiconductor circuit

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE102005061885 2005-12-23
DE102005061885.5 2005-12-23
DE102006009016A DE102006009016A1 (en) 2005-12-23 2006-02-27 Integrated semiconductor circuit comprises two supply pads with same direct-current voltage potential, where two supply pads are connected to supply and capacitor strip

Publications (1)

Publication Number Publication Date
DE102006009016A1 true DE102006009016A1 (en) 2007-07-05

Family

ID=38135879

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE102006009016A Withdrawn DE102006009016A1 (en) 2005-12-23 2006-02-27 Integrated semiconductor circuit comprises two supply pads with same direct-current voltage potential, where two supply pads are connected to supply and capacitor strip

Country Status (2)

Country Link
DE (1) DE102006009016A1 (en)
WO (1) WO2007073965A1 (en)

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO1996028848A1 (en) * 1995-03-15 1996-09-19 Hitachi, Ltd. Low-emi device circuit and its structure
DE19947021A1 (en) * 1999-09-30 2001-04-19 Infineon Technologies Ag EMC-optimized on-chip power supply
EP1398834A3 (en) * 2002-09-12 2006-03-22 Infineon Technologies AG Electronic device with voltage supply structure and method of producing it
US6744081B2 (en) * 2002-10-30 2004-06-01 Lsi Logic Corporation Interleaved termination ring
TW594965B (en) * 2003-09-10 2004-06-21 Goyatek Technology Inc Power supply layout structure of integrated circuit
US7037820B2 (en) * 2004-01-30 2006-05-02 Agere Systems Inc. Cross-fill pattern for metal fill levels, power supply filtering, and analog circuit shielding

Also Published As

Publication number Publication date
WO2007073965A1 (en) 2007-07-05

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE69637215T2 (en) Integrated high voltage circuit and level shift unit
DE4124757C2 (en) Semiconductor power module
DE10315176A1 (en) Overvoltage protection circuit for integrated CMOS circuit has potential divider unit, signal generator unit, switch unit mounted on same semiconducting substrate as integrated circuit to be protected
DE2905271A1 (en) INTEGRATED CIRCUIT ARRANGEMENT IN MOS TECHNOLOGY WITH FIELD EFFECT TRANSISTORS
DE4344307A1 (en) Output circuit for complementary MOS integrated logic device
DE3227536A1 (en) DARLINGTON TRANSISTOR CIRCUIT
DE10216015A1 (en) Overvoltage protection circuit for CMOS circuits has potential divider and inverter circuits and switching element formed on same substrate as protected integrated CMOS circuit
DE3872446T2 (en) TENSION DEVICE TO REALIZE A VOLTAGE-FREE CAPACITY.
EP1797514A2 (en) Method for the construction of vertical power transistors with differing powers by combination of pre-defined part pieces
DE102006005674A1 (en) Anti fuse circuit for forming internal connections has gate electrode and field control unit to apply separate electrical fields to two transition regions
DE3309223C2 (en)
DE3238486A1 (en) INTEGRATED SEMICONDUCTOR CIRCUIT
DE112017008005T5 (en) SEMICONDUCTOR RELAY MODULE
EP0905779B1 (en) Device with two integrated circuits
DE102006009016A1 (en) Integrated semiconductor circuit comprises two supply pads with same direct-current voltage potential, where two supply pads are connected to supply and capacitor strip
DE102014104013A1 (en) Power semiconductor device
DE19938403C2 (en) circuit
DE2539967A1 (en) LOGIC BASIC CIRCUIT
DE10335336B4 (en) Field effect devices and capacitors with electrode arrangement in a layer plane
DE102017103476A1 (en) Housing arrangement in source circuit
DE10241086B4 (en) Composite integrated semiconductor device
DE102012019391A1 (en) Conductive semiconductor housing with redundant functionality
EP3788654B1 (en) Protection circuit against electrostatic discharges
DE10111462A1 (en) Thyristor structure and overvoltage protection arrangement with such a thyristor structure
DE19629534B4 (en) CMOS device with hexagonal cells

Legal Events

Date Code Title Description
R005 Application deemed withdrawn due to failure to request examination

Effective date: 20130228