DE102005055083B4 - Thermoelectric sensor and method of manufacture - Google Patents
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- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 17
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims description 7
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 100
- 239000010410 layer Substances 0.000 claims description 36
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 claims description 12
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims description 9
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims description 9
- 238000000151 deposition Methods 0.000 claims description 8
- 239000002346 layers by function Substances 0.000 claims description 8
- 238000005530 etching Methods 0.000 claims description 4
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 claims description 3
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 238000001465 metallisation Methods 0.000 claims description 3
- 238000007670 refining Methods 0.000 claims description 3
- 239000012528 membrane Substances 0.000 description 8
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 7
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 4
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000009530 blood pressure measurement Methods 0.000 description 2
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 description 2
- 238000005304 joining Methods 0.000 description 2
- 239000000463 material Substances 0.000 description 2
- 239000002131 composite material Substances 0.000 description 1
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 1
- 230000008878 coupling Effects 0.000 description 1
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 description 1
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000008030 elimination Effects 0.000 description 1
- 238000003379 elimination reaction Methods 0.000 description 1
- 239000011810 insulating material Substances 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 1
- 238000000059 patterning Methods 0.000 description 1
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 1
- 229910021426 porous silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 1
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 235000012239 silicon dioxide Nutrition 0.000 description 1
- 239000000377 silicon dioxide Substances 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01K—MEASURING TEMPERATURE; MEASURING QUANTITY OF HEAT; THERMALLY-SENSITIVE ELEMENTS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01K7/00—Measuring temperature based on the use of electric or magnetic elements directly sensitive to heat ; Power supply therefor, e.g. using thermoelectric elements
- G01K7/16—Measuring temperature based on the use of electric or magnetic elements directly sensitive to heat ; Power supply therefor, e.g. using thermoelectric elements using resistive elements
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B81—MICROSTRUCTURAL TECHNOLOGY
- B81B—MICROSTRUCTURAL DEVICES OR SYSTEMS, e.g. MICROMECHANICAL DEVICES
- B81B7/00—Microstructural systems; Auxiliary parts of microstructural devices or systems
- B81B7/0032—Packages or encapsulation
- B81B7/0035—Packages or encapsulation for maintaining a controlled atmosphere inside of the chamber containing the MEMS
- B81B7/0041—Packages or encapsulation for maintaining a controlled atmosphere inside of the chamber containing the MEMS maintaining a controlled atmosphere with techniques not provided for in B81B7/0038
-
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01L—MEASURING FORCE, STRESS, TORQUE, WORK, MECHANICAL POWER, MECHANICAL EFFICIENCY, OR FLUID PRESSURE
- G01L21/00—Vacuum gauges
- G01L21/10—Vacuum gauges by measuring variations in the heat conductivity of the medium, the pressure of which is to be measured
- G01L21/12—Vacuum gauges by measuring variations in the heat conductivity of the medium, the pressure of which is to be measured measuring changes in electric resistance of measuring members, e.g. of filaments; Vacuum gauges of the Pirani type
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- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10N—ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10N15/00—Thermoelectric devices without a junction of dissimilar materials; Thermomagnetic devices, e.g. using the Nernst-Ettingshausen effect
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- Physics & Mathematics (AREA)
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- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
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- Investigating Or Analyzing Materials Using Thermal Means (AREA)
Abstract
Thermoelektrischer Sensor mit einem ersten Substrat (1) und einem zweiten Substrat (2), wobei zwischen dem ersten Substrat (1) und dem zweiten Substrat (2) ein Hohlraum (3) gebildet ist, dadurch gekennzeichnet, dass eine erste leitfähige Struktur (4) des ersten Substrats (1) und eine zweite leitfähige Struktur (5) des zweiten Substrats (2) in dem Hohlraum (3) angeordnet sind und wobei der Hohlraum (3) mindestens eine Öffnung (6) aufweist. Thermoelectric sensor having a first substrate (1) and a second substrate (2), wherein a cavity (3) is formed between the first substrate (1) and the second substrate (2), characterized in that a first conductive structure (4 ) of the first substrate (1) and a second conductive structure (5) of the second substrate (2) are arranged in the cavity (3) and wherein the cavity (3) has at least one opening (6).
Description
Stand der TechnikState of the art
Die Erfindung geht aus von einem thermoelektrischen Sensor nach der Gattung des Hauptanspruchs. Ein solcher ist beispielsweise aus der Druckschrift
Aus der Schrift
Vorteile der ErfindungAdvantages of the invention
Der erfindungsgemäße, thermoelektrische Sensor mit den Merkmalen des Hauptanspruchs hat demgegenüber den Vorteil, dass der Wärmetransport zwischen der ersten leitfähigen Struktur und der zweiten leitfähigen Struktur über das zwischen den leitfähigen Strukturen befindliche Medium erfolgt. Die erste leitfähige Struktur ist an dem ersten Substrat angeordnet und die zweite leitfähige Struktur ist an dem zweiten Substrat angeordnet, so dass eine gute thermische Entkopplung der leitfähigen Strukturen voneinander in einem kompakten Bauelement möglich ist, ohne dass diese nebeneinander auf einer Membran angeordnet sind. Durch den Wegfall beweglicher, empfindlicher Komponenten erhöht sich vorteilhafterweise die Stabilität des erfindungsgemäßen Sensors. Das erste Substrat und das zweite Substrat bilden einen Hohlraum, der ein Gasvolumen einschließt. Die erste leitfähige Struktur und die zweite leitfähige Struktur sind in dem Hohlraum angeordnet, so dass diese zusätzlich vor Beschädigung geschützt sind. Zum Austausch mit dem umgebenden Medium weist der Hohlraum mindestens eine Öffnung auf, über die ein Druckausgleich erfolgen kann. Der Fachmann versteht, dass der erfindungsgemäße, thermoelektrische Sensor nicht nur zur Gasdruckmessung, sondern auch zur Gasflussmessung einsetzbar ist, wenn der Hohlraum durchströmt wird, also beispielsweise zumindest zwei Öffnungen aufweist. Es besteht ebenfalls die Möglichkeit, bei bekanntem Druck oder bei definierten Strömungsverhältnissen, über die Stoffeigenschaften auf die Art des Gases oder Gasgemisches zu schließen. Ein weiterer Vorteil des erfindungsgemäßen, thermoelektrischen Sensors liegt daher in seiner vielseitigen Verwendbarkeit.The thermoelectric sensor according to the invention with the features of the main claim has the advantage that the heat transfer between the first conductive structure and the second conductive structure via the medium located between the conductive structures takes place. The first conductive structure is arranged on the first substrate and the second conductive structure is arranged on the second substrate, so that a good thermal decoupling of the conductive structures from one another in a compact component is possible, without these being arranged side by side on a membrane. The elimination of movable, sensitive components advantageously increases the stability of the sensor according to the invention. The first substrate and the second substrate form a cavity that encloses a volume of gas. The first conductive structure and the second conductive structure are arranged in the cavity, so that they are additionally protected against damage. For exchange with the surrounding medium, the cavity has at least one opening, via which a pressure compensation can take place. The person skilled in the art understands that the thermoelectric sensor according to the invention can be used not only for gas pressure measurement but also for gas flow measurement when the cavity is flowed through, that is to say for example has at least two openings. It is also possible, with known pressure or defined flow conditions, to conclude the material properties on the type of gas or gas mixture. Another advantage of the thermoelectric sensor according to the invention is therefore its versatility.
Durch die in den Unteransprüchen aufgeführten Maßnahmen sind vorteilhafte Weiterbildungen und Verbesserungen des in den nebengeordneten Ansprüchen angegebenen thermoelektrischen Sensors, sowie des Verfahrens zur Herstellung des thermoelektrischen Sensors möglich.The measures listed in the dependent claims advantageous refinements and improvements of the independent claims thermoelectric sensor, and the method for producing the thermoelectric sensor are possible.
Bevorzugt ist die erste leitfähige Struktur ein Heizelement und die zweite leitfähige Struktur ein Detektorelement, wobei das Heizelement eine Fläche aufweist, die einer Fläche des Detektorelements gegenüberliegend angeordnet ist. Gegenüberliegend im Sinne der Erfindung bedeutet, dass die Flächen in parallelen Ebenen angeordnet sind und sich zumindest teilweise überdecken. Die leitfähigen Strukturen weisen in den sich gegenüberliegenden Flächen vorzugsweise eine größere Erstreckung auf als in der jeweils dritten Raumrichtung, rechtwinklig zu den Flächen. Im Vergleich zu nebeneinander angeordneten Detektor- und Heizelementen, beispielsweise auf einer Membran, hat die gegenüberliegende Anordnung den Vorteil, dass ein Wärmetransport auf direktem Weg über das zwischen den Flächen befindliche Gasvolumen erfolgt.Preferably, the first conductive structure is a heating element and the second conductive structure is a detector element, wherein the heating element has a surface which is arranged opposite a surface of the detector element. Opposite in the sense of the invention means that the surfaces are arranged in parallel planes and at least partially overlap. The conductive structures preferably have a greater extent in the opposing surfaces than in the respective third spatial direction, at right angles to the surfaces. In comparison to adjacent detector and heating elements, for example on a membrane, the opposite arrangement has the advantage that a heat transfer takes place directly over the gas volume located between the surfaces.
Der Fachmann versteht, dass die als Heizelement ausgelegte, elektrisch leitfähige Struktur so ausgelegt ist, dass ein Strom durch die leitfähige Struktur zu einer Temperaturerhöhung führt. Der Detektor reagiert auf Änderungen der Temperatur durch Änderung elektrisch auswertbarer Eigenschaften, wie beispielsweise des Widerstands.The person skilled in the art will understand that the electrically conductive structure designed as a heating element is designed so that a current through the conductive structure leads to an increase in temperature. The detector responds to changes in temperature by changing electrically evaluable properties, such as resistance.
In einer bevorzugten Ausführungsform des thermoelektrischen Sensors ist die erste leitfähige Struktur über eine freitragende Struktur mit dem ersten Substrat verbunden und/oder die zweite leitfähige Struktur über eine weitere freitragende Struktur mit dem zweiten Substrat verbunden. Durch die freitragende Struktur, die das jeweilige Substrat mit der leitfähigen Struktur verbindet, lässt sich vorteilhaft eine thermische Entkopplung der ersten und zweiten leitfähigen Struktur von dem jeweiligen Substrat bei gleichzeitig hoher mechanischer Stabilität erreichen. Freitragend im Sinne der Erfindung bedeutet, dass nur eine Verbindung zwischen der Struktur und dem Substrat besteht, wobei die Querschnittsfläche der Verbindung deutlich kleiner ist, als die Oberfläche der freitragenden Struktur. Die erste und/oder zweite leitfähige Struktur ist beispielsweise eine elektrische Leiterbahn auf der freitragenden Struktur. Die Leiterbahn besteht beispielsweise aus dotierten Bereichen der freitragenden Struktur oder aus einer Metallschicht auf der freitragenden Struktur. Besonders bevorzugt sind die erste leitfähige Struktur und/oder die zweite leitfähige Struktur selbst als freitragende Strukturen ausgeführt, oder anders ausgedrückt, die gesamte, freitragende Struktur ist elektrisch leitfähig.In a preferred embodiment of the thermoelectric sensor, the first conductive structure is connected to the first substrate via a self-supporting structure and / or the second conductive structure is connected to the second substrate via a further self-supporting structure. Due to the cantilever structure, which connects the respective substrate with the conductive structure, can be advantageous achieve thermal decoupling of the first and second conductive structure from the respective substrate while maintaining high mechanical stability. Unsupported in the sense of the invention means that there is only one connection between the structure and the substrate, wherein the cross-sectional area of the compound is significantly smaller than the surface of the cantilevered structure. The first and / or second conductive structure is, for example, an electrical trace on the cantilevered structure. The trace consists for example of doped regions of the cantilevered structure or of a metal layer on the cantilevered structure. Particularly preferably, the first conductive structure and / or the second conductive structure itself are designed as self-supporting structures, or in other words, the entire, self-supporting structure is electrically conductive.
In einer anderen, bevorzugten Ausführungsform der Erfindung weist das erste Substrat und/oder das zweite Substrat mindestens eine thermisch isolierende Schicht auf. Eine thermisch und vorzugsweise auch elektrisch isolierende Schicht ist beispielsweise aus Glas, Oxid oder porösem Silizium vorgesehen. Die Schicht aus einem Material geringer Wärmeleitfähigkeit entkoppelt thermisch das erste Substrat von dem zweiten Substrat, so dass die thermische Kopplung der ersten leitfähigen Struktur mit der zweiten leitfähigen Struktur über die Substrate vorteilhafterweise verringert wird. Es ist denkbar, dass das erste und/oder zweite Substrat vollständig aus dem thermisch isolierenden Material besteht, beispielsweise als reiner Glaswafer. Ebenso kann es sich um einen Kompositwafer aus Glas und Silizium handeln. Die erste leitfähige Struktur und/oder die zweite leitfähige Struktur können besonders bevorzugt auf der thermisch isolierenden Schicht aufgebracht sein, beispielsweise als strukturierte Metallschicht. Bei dieser Ausführungsform ist eine besonders gute thermische Entkopplung der ersten bzw. zweiten leitfähigen Struktur gegeben.In another preferred embodiment of the invention, the first substrate and / or the second substrate has at least one thermally insulating layer. A thermally and preferably also electrically insulating layer is provided, for example, of glass, oxide or porous silicon. The low thermal conductivity layer of material thermally decouples the first substrate from the second substrate such that the thermal coupling of the first conductive pattern to the second conductive pattern over the substrates is advantageously reduced. It is conceivable that the first and / or second substrate consists entirely of the thermally insulating material, for example as a pure glass wafer. Likewise, it may be a composite wafer of glass and silicon. The first conductive structure and / or the second conductive structure may particularly preferably be applied to the thermally insulating layer, for example as a structured metal layer. In this embodiment, a particularly good thermal decoupling of the first and second conductive structure is given.
Ebenfalls besonders bevorzugt weist die thermisch isolierende Schicht des zweiten Substrats einen Verbindungsbereich auf, der durch anodisches Bonden mit dem ersten Substrat verbunden ist. Der Verbindungsbereich ist beispielsweise ein umlaufender, sogenannter Bondsteg. Dieser kann durchgehend sein, so dass keine Öffnung des Hohlraums über den Bondsteg besteht oder er kann mit Öffnungen versehen sein. Der Fachmann versteht, dass auch die jeweiligen, thermisch isolierenden Schichten des ersten und des zweiten Substrats jeweils einen Verbindungsbereich aufweisen können, die durch anodisches Bonden verbunden werden.Also particularly preferably, the thermally insulating layer of the second substrate on a connection region which is connected by anodic bonding with the first substrate. The connection region is for example a peripheral, so-called bonding web. This may be continuous, so that there is no opening of the cavity over the bonding bar or it may be provided with openings. The person skilled in the art will understand that the respective thermally insulating layers of the first and second substrates can each have a connection region that is connected by anodic bonding.
Die zweite leitfähige Struktur ist vorzugsweise elektrisch leitend mit dem ersten Substrat verbunden. Beispielsweise ist eine elektrische Kontaktierung im Bereich der Bondverbindung angeordnet und wird durch diese vorteilhaft gesichert.The second conductive structure is preferably electrically conductively connected to the first substrate. For example, an electrical contact is arranged in the region of the bond connection and is advantageously secured by this.
In einer bevorzugten Ausführung sind Kontakte zum Anschluss der ersten leitfähigen Struktur und/oder der zweiten leitfähigen Struktur durch das erste Substrat hindurch zu einer Rückseite des ersten Substrats geführt. Alle Anschlüsse des erfindungsgemäßen Sensors können so in vorteilhafter Weise auf der Rückseite des ersten Substrats kontaktiert werden.In a preferred embodiment, contacts for connecting the first conductive structure and / or the second conductive structure are guided through the first substrate to a rear side of the first substrate. All terminals of the sensor according to the invention can be contacted in an advantageous manner on the back of the first substrate.
Die zumindest eine Öffnung des Hohlraums erstreckt sich vorzugsweise durch das erste Substrat und/oder durch das zweite Substrat und/oder durch den Verbindungsbereich. Die Anzahl und Lage der Öffnungen hängt von der jeweiligen Anwendung des erfindungsgemäßen, thermoelektrischen Sensors ab.The at least one opening of the cavity preferably extends through the first substrate and / or through the second substrate and / or through the connection region. The number and position of the openings depends on the particular application of the thermoelectric sensor according to the invention.
Ein weiterer Gegenstand der Erfindung ist ein Verfahren zur Herstellung eines thermoelektrischen Sensors. Das erfindungsgemäße Verfahren mit den Merkmalen des nebengeordneten Verfahrensanspruchs hat den Vorteil, dass die erste leitfähige Struktur und die zweite leitfähige Struktur sich gegenüberliegend, stabil und trotzdem thermisch entkoppelt in einem Hohlraum angeordnet werden. Zunächst werden ein erstes und ein zweites Substrat entsprechend mit einer ersten und zweiten leitfähigen Struktur versehen, wobei das erste und zweite Substrat so zusammengefügt werden, dass sie einen Hohlraum bilden, in dem die erste und die zweite leitfähige Struktur gegenüberliegend angeordnet sind. Die Herstellung einer Öffnung des Hohlraums erfolgt beispielsweise durch einen Trenchprozess durch das erste oder zweite Substrat hindurch. Der Fachmann erkennt, dass das Trenchen einer Öffnung vor dem Zusammenfügen der Substrate und auch vor dem Prozessieren der ersten und zweiten leitfähigen Strukturen erfolgen kann.Another object of the invention is a method for producing a thermoelectric sensor. The method according to the invention with the features of the independent method claim has the advantage that the first conductive structure and the second conductive structure are arranged opposite each other, stable and nevertheless thermally decoupled in a cavity. First, first and second substrates are respectively provided with first and second conductive patterns, and the first and second substrates are joined together to form a cavity in which the first and second conductive patterns are opposed. The production of an opening of the cavity takes place, for example, through a trench process through the first or second substrate. The person skilled in the art realizes that the trenches of an opening can occur before the joining of the substrates and also before the processing of the first and second conductive structures.
In einer bevorzugten Ausführungsform wird eine freitragende Struktur an dem ersten Substrat und/oder an dem zweiten Substrat erzeugt, vorzugsweise durch das Abscheiden einer Opferschicht, Abscheiden einer Funktionsschicht, Strukturieren der Funktionsschicht und Ätzen der Opferschicht, wobei die erste leitfähige Struktur und/oder die zweite leitfähige Struktur auf der freitragenden Struktur aufgebracht wird. Dies geschieht vorzugsweise durch Dotieren der Funktionsschicht vor dem Strukturieren oder durch Aufbringen einer Metallschicht. Die jeweilige freitragende Struktur kann auch selbst, also vollständig, als erste oder zweite leitfähige Struktur ausgebildet werden.In a preferred embodiment, a self-supporting structure is produced on the first substrate and / or on the second substrate, preferably by depositing a sacrificial layer, depositing a functional layer, structuring the functional layer and etching the sacrificial layer, wherein the first conductive structure and / or the second conductive structure is applied to the cantilevered structure. This is preferably done by doping the functional layer before structuring or by applying a metal layer. The respective self-supporting structure can also itself, ie completely, be formed as a first or second conductive structure.
In einer anderen Ausführungsform wird auf einer thermisch isolierenden Schicht des ersten Substrats die erste leitfähige Struktur und/oder auf einer thermisch isolierenden Schicht des zweiten Substrats die zweite leitfähige Struktur erzeugt, vorzugsweise durch Abscheiden und Strukturieren einer Metallschicht. Ein Verbindungsbereich der thermisch isolierenden Schicht des zweiten Substrats wird anschließend vorzugsweise durch anodisches Bonden mit dem ersten Substrat verbunden. Besonders bevorzugt wird die zweite leitfähige Struktur bei diesem Schritt elektrisch leitend mit dem ersten Substrat verbunden.In another embodiment, on a thermally insulating layer of the first substrate, the first conductive structure and / or on a thermally insulating layer of the second substrate generates the second conductive structure, preferably by depositing and patterning a metal layer. A connecting region of the thermally insulating layer of the second substrate is then connected to the first substrate preferably by anodic bonding. Particularly preferably, the second conductive structure is electrically conductively connected to the first substrate in this step.
In einem weiteren bevorzugten Verfahrensschritt werden von einer Rückseite des ersten Substrats Kontakte der ersten leitfähigen Struktur und/oder der zweiten leitfähigen Struktur durch Trenchprozesse hergestellt, wonach vorzugsweise die Rückseite mit einem Rückseiten-Refill-Oxid versehen wird und Bondpadmetallisierungen, vorzugsweise aus Aluminium, mit den Kontakten verbunden werden.In a further preferred method step, contacts of the first conductive structure and / or of the second conductive structure are produced from a rear side of the first substrate by trench processes, according to which the rear side is preferably provided with a backside refining oxide and bond pad metallizations, preferably of aluminum, with the Contacts are connected.
Figurenlistelist of figures
Ein Ausführungsbeispiel eines erfindungsgemäßen, thermoelektrischen Sensors sowie ein Verfahren zur Herstellung des Sensors sind in der Zeichnung dargestellt und in der nachfolgenden Beschreibung näher erläutert.An embodiment of a thermoelectric sensor according to the invention and a method for producing the sensor are shown in the drawing and explained in more detail in the following description.
Es zeigen
-
1 einen thermoelektrischen Gasdrucksensor nach dem Stand der Technik, -
2 einen Querschnitt durch einen erfindungsgemäßen, thermoelektrischen Sensor und -
3 bis9 ein erfindungsgemäßes Verfahren zur Herstellung des in2 dargestellten Sensors.
-
1 a thermoelectric gas pressure sensor according to the prior art, -
2 a cross section through a thermoelectric sensor according to the invention and -
3 to9 an inventive method for producing the in2 represented sensor.
In der
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Die erste leitfähige Struktur
In der
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Die
Die
Claims (12)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE102005055083.5A DE102005055083B4 (en) | 2005-11-18 | 2005-11-18 | Thermoelectric sensor and method of manufacture |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE102005055083.5A DE102005055083B4 (en) | 2005-11-18 | 2005-11-18 | Thermoelectric sensor and method of manufacture |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE102005055083A1 DE102005055083A1 (en) | 2007-05-24 |
DE102005055083B4 true DE102005055083B4 (en) | 2018-10-25 |
Family
ID=37989427
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE102005055083.5A Expired - Fee Related DE102005055083B4 (en) | 2005-11-18 | 2005-11-18 | Thermoelectric sensor and method of manufacture |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE102005055083B4 (en) |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE102007031128A1 (en) | 2007-06-29 | 2009-01-02 | IHP GmbH - Innovations for High Performance Microelectronics/Institut für innovative Mikroelektronik | MEMS microviscometer and method for its production |
US9878899B2 (en) | 2015-10-02 | 2018-01-30 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. | Method and apparatus for reducing in-process and in-use stiction for MEMS devices |
FR3048692B1 (en) * | 2016-03-08 | 2018-04-20 | Fives Stein | FLAT GLASS PRODUCTION FACILITY COMPRISING A CONTINUOUS GLASS TEMPERATURE MEASUREMENT INSTALLATION AND METHOD OF ADJUSTING SUCH A MEASUREMENT INSTALLATION |
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DE602004012590T2 (en) | 2003-10-21 | 2009-04-23 | Honeywell International Inc. | METHOD AND SYSTEMS FOR PROVIDING MEMS DEVICES WITH A TOP CAP AND UPPER RECORD PLATE |
-
2005
- 2005-11-18 DE DE102005055083.5A patent/DE102005055083B4/en not_active Expired - Fee Related
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Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE102005055083A1 (en) | 2007-05-24 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
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R012 | Request for examination validly filed |
Effective date: 20120828 |
|
R016 | Response to examination communication | ||
R018 | Grant decision by examination section/examining division | ||
R020 | Patent grant now final | ||
R079 | Amendment of ipc main class |
Free format text: PREVIOUS MAIN CLASS: H01L0049020000 Ipc: H10N0097000000 |
|
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