DE102005051604A1 - Verfahren zum Herstellen eines Ultraschallwandlers - Google Patents
Verfahren zum Herstellen eines Ultraschallwandlers Download PDFInfo
- Publication number
- DE102005051604A1 DE102005051604A1 DE102005051604A DE102005051604A DE102005051604A1 DE 102005051604 A1 DE102005051604 A1 DE 102005051604A1 DE 102005051604 A DE102005051604 A DE 102005051604A DE 102005051604 A DE102005051604 A DE 102005051604A DE 102005051604 A1 DE102005051604 A1 DE 102005051604A1
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- polymer
- conductor
- based material
- substrate
- island
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Ceased
Links
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims description 24
- 238000000034 method Methods 0.000 claims abstract description 121
- 229920000642 polymer Polymers 0.000 claims abstract description 71
- 239000000463 material Substances 0.000 claims abstract description 63
- 239000004020 conductor Substances 0.000 claims abstract description 48
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 36
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 claims abstract description 13
- 238000000576 coating method Methods 0.000 claims abstract description 13
- 238000005530 etching Methods 0.000 claims abstract description 12
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims description 10
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims description 10
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 claims description 5
- 229920001486 SU-8 photoresist Polymers 0.000 claims description 4
- 238000001039 wet etching Methods 0.000 claims description 3
- BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N platinum Chemical compound [Pt] BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 2
- 229910052697 platinum Inorganic materials 0.000 claims 1
- 239000012528 membrane Substances 0.000 description 11
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 229920002120 photoresistant polymer Polymers 0.000 description 4
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 4
- 238000004528 spin coating Methods 0.000 description 4
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 229910021417 amorphous silicon Inorganic materials 0.000 description 3
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 3
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 3
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 3
- 238000002604 ultrasonography Methods 0.000 description 3
- 239000004642 Polyimide Substances 0.000 description 2
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 2
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000001312 dry etching Methods 0.000 description 2
- 239000000428 dust Substances 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 2
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 2
- 150000004767 nitrides Chemical class 0.000 description 2
- 238000001020 plasma etching Methods 0.000 description 2
- 229920001721 polyimide Polymers 0.000 description 2
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 2
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 2
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 235000019687 Lamb Nutrition 0.000 description 1
- 229910052581 Si3N4 Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000006978 adaptation Effects 0.000 description 1
- 238000010009 beating Methods 0.000 description 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 238000005467 ceramic manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 238000005229 chemical vapour deposition Methods 0.000 description 1
- 238000009675 coating thickness measurement Methods 0.000 description 1
- 230000002860 competitive effect Effects 0.000 description 1
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 1
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 1
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 description 1
- 238000013461 design Methods 0.000 description 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 238000011161 development Methods 0.000 description 1
- 238000002059 diagnostic imaging Methods 0.000 description 1
- 239000003814 drug Substances 0.000 description 1
- 230000005284 excitation Effects 0.000 description 1
- 210000003754 fetus Anatomy 0.000 description 1
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 1
- 238000001459 lithography Methods 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000000059 patterning Methods 0.000 description 1
- 238000007747 plating Methods 0.000 description 1
- 239000000377 silicon dioxide Substances 0.000 description 1
- HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N silicon nitride Chemical compound N12[Si]34N5[Si]62N3[Si]51N64 HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052814 silicon oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002210 silicon-based material Substances 0.000 description 1
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 1
- 238000004381 surface treatment Methods 0.000 description 1
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 1
- PMTRSEDNJGMXLN-UHFFFAOYSA-N titanium zirconium Chemical compound [Ti].[Zr] PMTRSEDNJGMXLN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 1
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01Q—SCANNING-PROBE TECHNIQUES OR APPARATUS; APPLICATIONS OF SCANNING-PROBE TECHNIQUES, e.g. SCANNING PROBE MICROSCOPY [SPM]
- G01Q70/00—General aspects of SPM probes, their manufacture or their related instrumentation, insofar as they are not specially adapted to a single SPM technique covered by group G01Q60/00
- G01Q70/16—Probe manufacture
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B81—MICROSTRUCTURAL TECHNOLOGY
- B81B—MICROSTRUCTURAL DEVICES OR SYSTEMS, e.g. MICROMECHANICAL DEVICES
- B81B7/00—Microstructural systems; Auxiliary parts of microstructural devices or systems
- B81B7/0009—Structural features, others than packages, for protecting a device against environmental influences
- B81B7/0012—Protection against reverse engineering, unauthorised use, use in unintended manner, wrong insertion or pin assignment
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B06—GENERATING OR TRANSMITTING MECHANICAL VIBRATIONS IN GENERAL
- B06B—METHODS OR APPARATUS FOR GENERATING OR TRANSMITTING MECHANICAL VIBRATIONS OF INFRASONIC, SONIC, OR ULTRASONIC FREQUENCY, e.g. FOR PERFORMING MECHANICAL WORK IN GENERAL
- B06B1/00—Methods or apparatus for generating mechanical vibrations of infrasonic, sonic, or ultrasonic frequency
- B06B1/02—Methods or apparatus for generating mechanical vibrations of infrasonic, sonic, or ultrasonic frequency making use of electrical energy
- B06B1/0292—Electrostatic transducers, e.g. electret-type
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B81—MICROSTRUCTURAL TECHNOLOGY
- B81C—PROCESSES OR APPARATUS SPECIALLY ADAPTED FOR THE MANUFACTURE OR TREATMENT OF MICROSTRUCTURAL DEVICES OR SYSTEMS
- B81C1/00—Manufacture or treatment of devices or systems in or on a substrate
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01Q—SCANNING-PROBE TECHNIQUES OR APPARATUS; APPLICATIONS OF SCANNING-PROBE TECHNIQUES, e.g. SCANNING PROBE MICROSCOPY [SPM]
- G01Q90/00—Scanning-probe techniques or apparatus not otherwise provided for
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04R—LOUDSPEAKERS, MICROPHONES, GRAMOPHONE PICK-UPS OR LIKE ACOUSTIC ELECTROMECHANICAL TRANSDUCERS; DEAF-AID SETS; PUBLIC ADDRESS SYSTEMS
- H04R19/00—Electrostatic transducers
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B81—MICROSTRUCTURAL TECHNOLOGY
- B81C—PROCESSES OR APPARATUS SPECIALLY ADAPTED FOR THE MANUFACTURE OR TREATMENT OF MICROSTRUCTURAL DEVICES OR SYSTEMS
- B81C2201/00—Manufacture or treatment of microstructural devices or systems
- B81C2201/01—Manufacture or treatment of microstructural devices or systems in or on a substrate
- B81C2201/0101—Shaping material; Structuring the bulk substrate or layers on the substrate; Film patterning
- B81C2201/0102—Surface micromachining
- B81C2201/0105—Sacrificial layer
- B81C2201/0108—Sacrificial polymer, ashing of organics
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10T—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
- Y10T29/00—Metal working
- Y10T29/43—Electric condenser making
- Y10T29/435—Solid dielectric type
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10T—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
- Y10T29/00—Metal working
- Y10T29/49—Method of mechanical manufacture
- Y10T29/49002—Electrical device making
- Y10T29/49005—Acoustic transducer
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10T—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
- Y10T29/00—Metal working
- Y10T29/49—Method of mechanical manufacture
- Y10T29/49002—Electrical device making
- Y10T29/4902—Electromagnet, transformer or inductor
- Y10T29/4908—Acoustic transducer
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10T—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
- Y10T29/00—Metal working
- Y10T29/49—Method of mechanical manufacture
- Y10T29/49002—Electrical device making
- Y10T29/49117—Conductor or circuit manufacturing
- Y10T29/49169—Assembling electrical component directly to terminal or elongated conductor
- Y10T29/49171—Assembling electrical component directly to terminal or elongated conductor with encapsulating
- Y10T29/49172—Assembling electrical component directly to terminal or elongated conductor with encapsulating by molding of insulating material
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10T—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
- Y10T29/00—Metal working
- Y10T29/49—Method of mechanical manufacture
- Y10T29/49002—Electrical device making
- Y10T29/49117—Conductor or circuit manufacturing
- Y10T29/49194—Assembling elongated conductors, e.g., splicing, etc.
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Mechanical Engineering (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Nuclear Medicine, Radiotherapy & Molecular Imaging (AREA)
- Toxicology (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Radiology & Medical Imaging (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Acoustics & Sound (AREA)
- Transducers For Ultrasonic Waves (AREA)
- Ultra Sonic Daignosis Equipment (AREA)
- Micromachines (AREA)
- Electrostatic, Electromagnetic, Magneto- Strictive, And Variable-Resistance Transducers (AREA)
Abstract
Es wird ein Verfahren zum Herstellen eines polymerbasierenden kapazitiven Ultraschallwandlers vorgeschlagen, welches zumindest folgende Verfahrensschritte umfasst: (a) Vorsehen eines Substrates; (b) Bilden eines ersten Leiters auf dem Substrat; (c) Beschichten des Substrates mit einer Opferschicht, um den ersten Leiter durch die Schicht zu bedecken; (d) Ätzen der Opferschicht, um eine Insel zu bilden, welche es ermöglicht, dass die Insel mit dem ersten Leiter in Kontakt steht; (e) Beschichten des Substrates mit einem ersten polymerbasierenden Material, um die Insel durch dasselbe zu bedecken; (f) Bilden eines zweiten Leiters auf dem ersten polymerbasierenden Material; (g) Bilden einer Durchtrittsöffnung auf dem ersten polymerbasierenden Material, um es der Durchtrittsöffnung zu ermöglichen, zu der Insel geführt zu werden; und (h) Verwenden der Durchtrittsöffnung, um die Insel wegzuätzen und zu entfernen, wodurch ein Hohlraum gebildet wird.
Description
- Die vorliegende Erfindung betrifft ein Verfahren zum Herstellen eines Ultraschallwandlers.
- Ultraschallbilder haben eine weit verbreitete Anwendung in der Industrie und der Medizin gefunden. Fehlererkennung, Schichtdickenmessung und diagnostische Bilder sind nur einige wenige Anwendungsbeispiele dieser Technologie. Sämtliche erworbenen Informationen des Ultraschallsystems passieren den Wandler, bevor sie verarbeitet und sie dem Bediener präsentiert werden. Deshalb können die Leistungseigenschaften des Wandlers signifikant die Systemleistung beeinflussen, insbesondere wenn die im Trend der zukünftigen Entwicklung liegenden miniaturisierten Ultraschallwandler verwendet werden. Diese Technik hat gegenüber anderen Techniken, wie z.B. Röntgenstrahlen oder magnetische Resonanzbilder (MRI), eine Vielzahl von Vorteilen, umfassend nicht invasiv, relativ kostengünstig, tragbar und in der Lage, ein tomographisches Bild zu erzeugen, also ein Bild eines zweidimensionalen Teiles des Körpers. Andere weitere wichtige Vorteile liegen darin, dass durch Ultraschall schnell Bilder erzeugt werden, um somit Bewegungen von Strukturen in dem Körper auf einem Monitor darzustellen, wie z.B. ein Fötus oder ein schlagendes Herz. Wert sollte auf die Ausgestaltung und die Herstellung eines einwandfreien Wandlers für die Anwendung gelegt werden; unter Betracht der Leistung des Bildsystems als ein ganzes.
- Gegenwärtig sind die meisten verwendeten Ultraschallwandler piezoelektrische Ultraschallwandler, welche einen keramischen Herstellungsprozess benötigen und eine akustische Impedanz haben, ähnlich zu einem Festkörper, der nicht geeignet ist, in einer gasförmigen oder flüssigen Umgebung verwendet zu werden. Deshalb werden kapazitive mikromaschinell bearbeitete Ultraschallwandler (CMUTs) als eine attraktive Alternative zu den konventionellen piezoelektrischen Wandlern in vielen Bereichen der Anwendungen betrachtet, da die akustische Impedanz eines CMUT, bezogen auf Luft oder Wasser, näher ist, als die der piezoelektrischen Ultraschallwandler, in Folge der kleinen mechanischen Impedanz der dünnen Wandlermembran. Gemäß
29 wird eine quergeschnittene Ansicht eines bekannten piezoelektrischen Ultraschallwandlers gezeigt. Ein Ultraschallwandler gemäß29 umfasst eine Schicht eines aktiven Elementes32 , welches ein Piezoelement oder ein ferroelektrisches Material ist, eine Unterschicht30 und eine Trägerplatte36 zum Schützen des Wandlers vor der zu testenden Umgebung, wobei eine Anpassungsschicht34 in Sandwichbauweise zwischen der Schicht des aktiven Elementes32 und der Trägerplatte36 zum Erweitern der Wellenemissionswirksamkeit angeordnet ist. - Neben der längeren Betriebsdauer, der besseren Sensitivität, der bevorzugten Auslösung weisen die CMUT folgende weitere Vorteile gegenüber piezoelektrischen Wandlern auf: die CMUTs können schubweise mit einem Standard IC feste Parameter Spezifikationen verarbeiten, welche schwer mit den Zirkonium Titan Wandlern (PZTs) zu überführen sind. Diese Mittel der Elektronik (near-electronics) kann mit dem Wandler integriert werden. Es ist einfacher Strahlen von CMUTs als von PZTs umzuwandeln. Darüber hinaus kann ein CMUT in einen größeren Temperaturbereich als eine PZT-Einrichtung [3] betrieben werden. Ferner ist die akustische Impedanz eines CMUTs zu Luft näher als die der PZT-Wandler, in Folge der kleineren mechanischen Impedanz der dünnen Umwandlungsmembran. Dies ist, wenn beide in Luft betrieben werden, die Betriebsfrequenz eines CMUT im Bereiche von 200 KHz bis 5 MHz, während die Betriebsfrequenz eines PZT-Wandlers nur im Bereich von 50 KHz bis 200 KHz liegt, wobei der Unterschied zwischen den Betriebsfrequenzen der beiden Wandler Probleme und Beschränkungen bezüglich der Anwendung ergeben.
- Ein kapazitiver mikromaschineller Ultraschallwandler ist ein Gerät, bei dem zwei plattenähnliche Elektroden gebogen sind, nach einem anliegenden AC-Signal an der Oberseite der DC-Neigung, um harmonisch eine der Platten zu bewegen. Die Hauptelemente eines CMUT sind der Hohlraum, die Membran und die Elektrode.
- 1998 wurde eine oberflächenmikromaschinelle Technik durch Jin, und andere offenbart, welche zur Herstellung eines kapazitiven Ultraschallwandlers verwendet wird, um in der Lage zu sein, in Luft und in Wasser untergetaucht betrieben zu werden. Die mikromaschinelle Oberflächenbearbeitungstechnik umfasst die folgenden Arbeitsschritte: Vorsehen einer hochdotierten Silikonhalbleiterschicht mit bevorzugter Leitfähigkeit als Substrat des Wandlers; Abscheiden einer Schicht amorphen Siliziums (a-Si) als eine Opferschicht; Trockenätzung der Opferschicht, um eine Vielzahl von hexagonalen Inseln zu bilden; Abscheiden einer zweiten Schicht aus Nitrid, um eine Membran und hexagonale Rahmen zu bilden, welche die Membran halten; Trockenätzung der zweiten Nitridschicht, um Durchtrittsöffnungen zu bilden; Entfernen des a-Si durch Zuführen von KOH durch die Durchtrittsöffnungen bei 75 °C, sodass ein Hohlraum gebildet wird; Abscheiden einer Schicht aus Siliziumoxid, um die Durchtrittsöffnungen abzudichten; Plattierung einer Aluminiumschicht; und Musterung der Aluminiumschicht durch Feuchtätzung, sodass eine obere Elektrode gebildet wird.
- 2002 wurde eine Niedrigtemperaturherstellungstechnologie mit einem Härtungsverfahren durch Cianci und andere zum Herstellen eines kapazitiven Ultraschallwandlers entwickelt, um die spannungsbeeinflussende Membran der Leistung eines kapazitiven Umwandlers zu behandeln. Diese Technik umfasst die folgenden Schritte: Vorsehen eines Polymides als eine Opferschicht, Ätzen des Polymides, um eine Vielzahl von hexagonalen Inseln durch Mittel einer reaktiven Ionenätzung (RIE); Dampfabscheidung eines Siliziumoxides, um hexagonale Rahmen zu bilden, wobei jeder die gleiche Höhe aufweist, sodass die Opferschicht zum Halten einer Membran vorgesehen ist; Abscheiden einer Schicht aus Siliziumnitrid, um die Membran bei 380 °C durch eine verbesserte plasmachemische Dampfabscheidung (PECVD) zu bilden; und Härten bei 510 °C für zehn Stunden, um die Kompressionsspannungen der Membran zu eliminieren, während nur eine leichte Zugspannung verbleibt. Ferner wird die obere Elektrode des Umwandlers durch lithographische Musterung gebildet, während die Bodenelektrode an der Rückseite des Siliziumhalbleiters plattiert wird.
- Jedoch haben die beiden vorbenannten Herstellungstechniken die Probleme der hohen Verarbeitungstemperatur, der hohen verbleibenden Spannung, der unkontrollierbaren Merkmale der Herstellung und der hohen Kosten, wobei somit bestimmte korrespondierende Verarbeitungen bei dem Herstellungsverfahren angewendet werden, wie z.B. Vorsehen eines Härtungsverfahrens, um die verbleibende Spannungen zu reduzieren, sodass verhindert wird, dass die Membran durch die Information beschädigt wird. Zusätzlich haben die Hohlräume der meisten bekannten Wandler Erregungen, welche durch das Ätzen eines Silizium basierenden Materials gebildet werden, sodass offensichtlich ein sogenannter Lamb Wave Effekt auftreten kann und somit der Ultraschallwandler in einem unstabilen Zustand sich befinden kann, da der Hohlraum und die Membran aus unterschiedlichen Materialen gefertigt sind, welche unterschiedliche thermische Ausdehnungskoeffizienten haben.
- Somit besteht ein großes Verlangen, einen Polymer basierenden kapazitiven Ultraschallwandler vorzusehen, der in der Lage ist, die Nachteile der bekannten Wandler zu überwinden.
- Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß durch die Merkmale des Patentanspruches 1 bzw. 13 gelöst. Vorteilhafte Ausgestaltungen ergeben sich insbesondere aus den Unteransprüchen.
- Aus Sicht dieses Standes der Technik werden gemäß einer Ausgestaltung der vorliegenden Erfindung Verfahren zum Herstellen eines auf Polymerbasis gebildeten kapazitiven Ultraschallwandlers vorgeschlagen, der die Vorteile eines Polymerwerkstoffes aufweist, wie z.B. geringe Kosten, einfache Herstellung und die Möglichkeit in großen Abmessungen hergestellt zu werden, sodass die Herstellungskosten reduziert werden, während ein unkomplizierter Herstellungsprozess ermöglicht wird.
- Um diese Ausgestaltungen zu erreichen, wird durch die vorliegende Erfindung ein Verfahren zum Herstellen eines auf Polymerbasis ausgebildeten kapazitiven Ultraschallwandlers mit vorzugsweise folgenden Verfahrensschritten vorgeschlagen:
- (a) Vorsehen eines Substrates;
- (b) Bildes eines ersten Leiters auf dem Substrat;
- (c) Beschichten einer Operschicht bzw. Trägerschicht auf dem Substrat, während der erste Leiter durch diese bedeckt wird;
- (d) Ätzen der Opferschicht zum Bilden einer Insel, während ein Kontakt zwischen der Insel und dem ersten Leiter erhalten wird;
- (e) Beschichten des Substrates mit einem auf Polymerbasis vorgesehenen Werkstoffes, während die Insel mit demselben bedeckt wird;
- (f) Bilden eines zweiten Leiters auf dem ersten Polymerbasierenden Materials oder Werkstoffes;
- (g) Bilden einer Durchgangsöffnung auf dem ersten polymerbasierenden Material, während es ermöglicht wird, dass die Durchgangsöffnung zu der Insel kanalisiert wird; und
- (h) Verwenden der Durchgangsöffnung um die Insel zu ätzen und zu entfernen, um einen Hohlraum zu bilden.
- Bei einer bevorzugten Weiterbildung umfasst der Verfahrensschritt (b) des Herstellungsverfahrens gemäß der Erfindung ferner einen Verfahrensschritt: (b1) Beschichten des ersten Leiters auf dem Substrat, um es zu ermöglichen, dass das Substrat komplett durch den ersten Leiter bedeckt ist.
- Ein bevorzugter Aspekt der vorliegenden Erfindung sieht vor, dass der Verfahrensschritt (b) des Herstellungsverfahrens ferner einen Verfahrensschritt umfasst: (b2) Ätzen des ersten Leiters, um diesen zu mustern, wobei der Verfahrensschritt (b1) nach dem Verfahrensschritt (b1) durchgeführt wird.
- Bei einer bevorzugten Ausführungsform der vorliegenden Erfindung umfasst das Verfahren zum Herstellen eines auf Polymerbasis vorgesehenen kapazitiven Ultraschallwandlers ferner einen Verfahrensschritt: (i) Komplettes Bedecken des zweiten Leiters durch ein zweites auf Polymerbasis vorgesehenes Material.
- Eine andere bevorzugte Ausführungsform der Erfindung kann vorsehen, dass das Verfahren zum Herstellen eines auf Polymerbasis vorgesehenen kapazitiven Ultraschallwandlers ferner einen Verfahrensschritt umfasst: (i') Komplettes Bedecken des zweiten Leiters durch ein zweites polymerbasierendes Material, um die Durchgangsöffnung abzudichten.
- Vorzugsweise ist das Substrat aus Silizium gefertigt.
- Vorzugsweise ist der erste Leiter aus einem Metall hergestellt.
- Vorzugsweise wird der erste Leiter gemäß des Verfahrensschrittes (b) auf dem Substrat durch Sputtern (sputtering)gebildet.
- Bevorzugt ist der zweite Leiter aus Metall gefertigt.
- Vorzugsweise wird der zweite Leiter gemäß des Verfahrensschrittes (f) auf dem ersten polymerbasierenden Material durch Sputtern (sputtering) gebildet.
- Vorzugsweise ist die Opferschicht aus Metall gefertigt, welches Kupfer sein kann.
- Bevorzugt ist das bei dem Verfahrensschritt (h) durchgeführte Ätzen eine Nassätzung.
- Vorzugsweise ist das erste polymerbasierende Material der SU-8 Fotolack, produziert durch MicroChem Corp (MCC).
- Andere Aspekte und Vorteile der vorliegenden Erfindung werden aus der folgenden detaillierten Beschreibung ersichtlich, welche unter Hinzunahme der dazugehörigen Zeichnungen beschrieben wird, welche ein Beispiel der Prinzipien der vorliegenden Erfindung zeigen.
- Nachfolgend wird die vorliegende Erfindung anhand der dazugehörigen Zeichnungen erläutert. Es zeigen:
-
1 bis9 sind schematische geschnittene Ansichten, welche die Verfahrensschritte eines Verfahrens zum Herstellen eines polymerbasierenden kapazitiven Ultraschallwandlers gemäß einer ersten bevorzugten Ausführungsform der Erfindung zeigen; -
10 bis16 sind geschnittene Ansichten von Verfahrensschritten eines Verfahrens zum Herstellen eines polymerbasierenden kapazitiven Ultraschallwandlers gemäß eines zweiten Ausführungsbeispiels der vorliegenden Erfindung; -
17 bis28 sind schematische geschnittene Ansichten, welche Verfahrensschritte eines Verfahrens zum Herstellen eines polymerbasierenden kapazitiven Ultraschallwandlers gemäß eines dritten bevorzugten Ausführungsbeispiels der Erfindung zeigen; -
29 ist eine quergeschnittene Ansicht eines bekannten piezoelektrischen Ultraschallwandlers. - Zum besseren Verständnis und Nachvollziehen der Funktionen und der strukturellen Merkmale der vorliegenden Erfindung sind verschiedene bevorzugte Ausführungsbeispiele nachfolgend im Detail beschrieben.
- Gemäß der
1 bis9 werden schematische geschnittene Ansichten zum Illustrieren eines Ablaufes eines Verfahrens zum Herstellen eines polymerbasierenden kapazitiven Ultraschallwandlers gemäß eines ersten Ausführungsbeispiels der vorliegenden Erfindung gezeigt. Das Verfahren beginnt mit einem Verfahrensschritt, wie er in1 gezeigt, wobei ein Substrat10 abgeschieden wird, und danach führt das Verfahren den in2 gezeigten Verfahrensschritt durch. In2 wird die Leiterschicht12 geätzt, um ein spezifisches Muster zu bilden und danach führt das Verfahren den Verfahrensschritt durch, der in3 gezeigt ist. In3 wird das Substrat10 mit einer Trägerschicht bzw. Opferschicht14 beschichtet, um es dem gemusterten Leiter12 zu erlauben, das Substrat10 zu bedecken, und danach führt das Verfahren den Verfahrensschritt durch, der in4 gezeigt ist. In4 wird die Opferschicht14 geätzt, um eine Insel16 zu bilden, welche in Kontakt mit dem gemusterten Leiter12 steht, und danach führt das Verfahren den Verfahrensschritt durch, der in5 gezeigt ist. In5 wird eine Schicht eines polymerbasierenden Materials18 auf dem Substrat10 gebildet, um es der Insel16 zu erlauben, komplett bedeckt zu sein, und danach führt das Verfahren den Verfahrensschritt durch, der in6 gezeigt. In6 wird eine weitere Leiterschicht auf der polymerbasierenden Materialschicht18 gebildet und danach führt das Verfahren den Verfahrensschritt durch, der in7 gezeigt ist. In7 werden zwei Durchgangsöffnungen22 auf der Schicht aus polymerbasierenden Material18 gebildet, um es den Durchgangsöffnungen22 zu erlauben, zu der Insel16 geführt zu werden, ferner wird die Anzahl der Durchtrittsöffnungen nicht durch zwei limitiert, das heißt es kann jede Anzahl von Durchtrittsöffnungen auf der Schicht auf polymerbasierenden Material18 gebildet werden und danach wird das Verfahren den Verfahrensschritt durchführen, der in8 gezeigt ist. In8 wird die Insel16 feucht geätzt und entfernt durch die Verwendung der Durchtrittsöffnungen22 , sodass ein Hohlraum geformt wird, und danach führt das Verfahren den Verfahrensschritt durch der in9 gezeigt ist. In9 wird eine Schicht eines weiteren polymerbasierenden Materials24 auf dem Leiter20 gebildet, um die Durchtrittsöffnungen23 durch die Schicht abzudichten, sodass der Leiter12 ,20 vor Beschädigungen von Schmutz und Staub geschützt wird und somit das Verfahren vollständig ist. - Gemäß der
10 bis16 sind schematische geschnittene Ansichten gezeigt, welche einen Ablauf eines Verfahrens zum Herstellen eines polymerbasierenden kapazitiven Ultraschallwandlers gemäß eines zweiten Ausführungsbeispiels der vorliegenden Erfindung darstellen. Das Verfahren beginnt mit einem Verfahrensschritt, der in10 gezeigt ist, wobei ein Substrat10 eine Leiterschicht12 aufweist, welche darauf abgeschieden ist, wobei danach das Verfahren den Verfahrensschritt durchführt, der in11 gezeigt ist. In11 wird eine Insel auf dem Leiter12 gebildet und danach führt das Verfahren den Verfahrensschritt durch, der in12 gezeigt ist. In12 wird eine Schicht aus einem polymerbasierenden Material18 auf der Leiterschicht12 gebildet, um es der Insel16 zu ermöglichen, von dieser bedeckt zu sein und danach wird das Verfahren den Verfahrensschritt durchführen, der in13 gezeigt ist. In13 wird ein weiterer Leiter20 auf der Schicht aus polymerbasierenden Material18 gebildet und danach führt das Verfahren den Verfahrensschritt durch, der in14 gezeigt ist. In14 werden zwei Durchtrittsöffnungen22 auf der Schicht aus polymerbasierenden Material18 gebildet, um es den Durchtrittsöffnungen22 zu erlauben, zu der Insel16 geführt zu werden, wobei die Anzahl der Durchtrittsöffnung nicht durch zwei limitiert ist, das heißt es kann jede andere Anzahl von Durchtrittsöffnungen auf der Schicht aus polymerbasierenden Material18 gebildet werden, und danach führt das Verfahren den Verfahrensschritt durch, der in15 gezeigt ist. In15 wird die Insel16 feucht geätzt und entfernt durch Verwenden der Durchtrittsöffnungen22 , sodass ein Hohlraum gebildet wird und danach führt das Verfahren den Verfahrensschritt durch, der in16 gezeigt ist. In16 wird eine Schicht aus einem polymerbasierenden Material24 auf dem Leiter20 gebildet, um die Durchtrittsöffnungen22 durch dieselbe abzudichten, sodass die Leiter12 ,20 vor Beschädigungen durch Schmutz und Staub geschützt sind und das Verfahren komplett ist. Des weiteren, um die Schicht aus polymerbasierenden Material24 , wie in16 gesehen, zu bilden, wird durch Auswahl eines geeigneten polymerbasierenden Materials und durch Durchführen der Bildung der Schicht aus polymerbasierenden Material24 durch Rotationsbeschichtung die Kohäsion zwischen Molekülen des polymerbasierenden Materials24 größer als die wirkende Erdanziehungskraft darauf, sodass das polymerbasierende Material24 nicht in die Durchtrittsöffnungen22 tropft und fließt, sodass die Durchtrittsöffnungen22 nicht durch das polymerbasierende Material gefüllt werden. - Gemäß den
17 bis28 werden schematische geschnittene Ansichten zum Illustrieren eines Ablaufes eines Verfahrens zum Herstellen eines polymerbasierenden kapazitiven Ultraschallwandlers gemäß eines dritten Ausführungsbeispieles der Erfindung gezeigt. Das Verfahren beginnt mit dem Verfahrensschritt, der in17 gezeigt ist, wobei ein Substrat40 mit einer Leiterschicht42 vorgesehen ist, die auf diesem abgeschieden ist und danach führt das Verfahren den Verfahrensschritt durch, der in18 gezeigt ist. In18 wird durch Rotationsbeschichtung ein polymerbasierendes Material44 auf dem Leiter42 aufgebracht, um dem Leiter42 es zu ermöglichen, durch das Material bedeckt zu werden und danach führt das Verfahren den Verfahrensschritt durch, der in19 gezeigt ist. In19 wird das polymerbasierende Material44 geätzt, sodass zwei freigelegte Bereiche46a ,46b gebildet werden und danach führt das Verfahren den Verfahrensschritt durch, der in20 gezeigt ist. In20 werden zwei Opferschichten48a ,48b jeweils an den beiden freigelegten Bereichen46 ,46a gebildet und danach führt das Verfahren den Verfahrensschritt durch, der in21 gezeigt ist. In21 werden ein Fotolack50 durch Rotationsbeschichtung auf dem polymerbasierenden Material aufgebracht und die beiden Opferschichten48a ,48b gebildet und danach führt das Verfahren den Verfahrensschritt durch, der in22 gezeigt ist. In22 wird ein Bereich des Fotolacks50 entfernt, um es dem anderen Bereich des Fotolacks50 zu ermöglichen, die Opferschicht48a zu überlagern, und danach führt das Verfahren den Verfahrensschritt durch, der in23 gezeigt ist. In23 wird die Opferschicht48b verdickt und danach führt das Verfahren den Verfahrensschritt durch, der in24 gezeigt ist. In24 wird die der verbleibende Fotolack50 entfernt und danach eine Schicht aus polymerbasierenden Material44 durch Rotationsbeschichtung auf den beiden Opferschichten48a ,48b aufgebracht, um es den beiden Opferschichten48a ,48b zu erlauben, komplett mit diesen bedeckt zu sein, und danach führt das Verfahren den Verfahrensschritt durch, der in25 gezeigt ist. In25 werden zwei Durchtrittsöffnungen52a ,52b jeweils auf der Schicht aus polymerbasierenden Material44 gebildet, um es den Durchtrittsöffnungen52a ,52b zu ermöglichen, jeweils zu den beiden Opferschichten48a ,48b geführt zu werden, und danach führt das Verfahren den Verfahrensschritt aus, der in26 gezeigt ist. In26 sind jeweils zwei Leiter54a ,54b auf den beiden Opferschichten48a ,48b jeweils gebildet und danach führt das Verfahren den Verfahrensschritt durch, der in27 gezeigt ist. In27 werden die beiden Leiter54a ,54b durch eine Schicht aus polymerbasierenden Material44 bedeckt und danach führt das Verfahren den Verfahrensschritt durch, der in28 gezeigt ist. In28 werden die beiden Opferschichten48a ,48b geätzt und entfernt durch die Verwendung der Durchtrittsöffnungen52a ,52b , sodass ein Hohlraum gebildet wird. Durch diese Wirkung kann ein polymerbasierender kapazitiver Ultraschallwandler mit zwei Hohlräumen mit unterschiedlichen Luftzwischenräumen erhalten werden, wie es aus28 ersichtlich ist. - Bei einer bevorzugten Ausführungsform der vorliegenden Erfindung kann das Substrat ein Siliziumhalbleiter sein; die Vielzahl der Leiter können durch Metallsputtern auf dem Substrat oder Schicht aus polymerbasierenden Material gebildet werden; die Opferschicht kann aus einem Metall gefertigt sein, welches z.B. Kupfer oder der gleichen sein kann; das polymerbasierende Material kann der SU-8 Fotolack sein, der durch MicroChem Corp (MCC) produziert wird.
- Aus der oberen Beschreibung ist ersichtlich, dass durch Verwenden des kostengünstigen leicht zu produzierenden, in großen Abmessungen zu fertigenden, bei niedrigen Temperaturen zu verarbeitenden, polymerbasierenden Material den komplizierten Herstellungsprozess bei hohen Temperaturen entsprechend des Standes der Technik vermieden werden kann, um somit das Verfahren zu verkürzen, um die benötigten angepassten Schichten zu erzeugen, sodass der kapazitive Ultraschallwandler gemäß der Erfindung ein hoch konkurrenzfähiges Erzeugnis mit hoher Leistung, mit hoher Ausrichtungsfähigkeit, mit verbesserter Empfindlichkeit und größeren dynamischen Inspektionsbereichen ist, welcher zur medizinischen Abbildung, zerstörungsfreien Inspektion von Veränderungen, zur Durchflussmessung zur Füllstandsmessung oder dergleichen verwendet werden kann.
- Während die bevorzugte Ausführung der vorliegenden Erfindung zum Ziel der Offenbarung beschrieben worden ist, sind Modifikationen des offenbarten Ausführungsbeispiels der vorliegenden Erfindung sowie andere Ausführungen davon möglich. Dementsprechend decken die Ansprüche sämtliche Ausführungsformen ab, ohne dass dabei der Umfang der Erfindung verlassen wird.
- Es wird also ein Verfahren zum Herstellen eines polymerbasierenden kapazitiven Ultraschallwandlers vorgeschlagen, welches zumindest folgende und/oder auch andere Verfahrensschritte umfasst: (a) Vorsehen eines Substrates; (b) Bilden eines ersten Leiters auf dem Substrat; (c) Beschichten des Substrates mit einer Opferschicht, um den ersten Leiter durch die Schicht zu bedecken; (d) Ätzen der Opferschicht um eine Insel zu bilden, welche es ermöglicht, die Insel mit dem ersten Leiter in Kontakt zu bringen; (e) Beschichten des Substrates mit einem ersten polymerbasierenden Material, um die Insel durch dasselbe zu bedecken; (f) Bilden eines zweiten Leiters auf dem ersten polymerbasierenden Material; (g) Bilden einer Durchtrittsöffnung auf dem ersten polymerbasierenden Material, um es der Durchtrittsöffnung zu ermöglichen, zu der Insel geführt zu werden; und (h) Verwenden der Durchtrittsöffnung um die Insel weg zu ätzen und zu entfernen, wodurch ein Hohlraum gebildet wird.
Claims (18)
- Verfahren zum Herstellen eines polymerbasierenden kapazitiven Ultraschallwandlers, umfassend folgende Verfahrensschritte: (a) Vorsehen eines Substrates (
10 ,40 ); (b) Bilden zumindest eines ersten Leiters (12 ,42 ) auf dem Substrat (10 ,40 ); (c) Beschichten des Substrates (10 ,40 ) mit zumindest einer Opferschicht (14 ,48a ,48b ), um den ersten Leiter (12 ,42 ) mit dieser zu bedecken; (d) Ätzen der Opferschicht (14 ,48a ,48b ) zum Bilden einer Insel (16 ), um einen Kontakt zwischen der Insel (16 ) und dem ersten Leiter (12 ,42 ) zu erhalten; (e) Beschichten des Substrates (10 ,40 ) mit einem ersten polymerbasierenden Material (18 ,44 ), um die Insel (16 ) komplett mit diesem zu bedecken; (f) Bilden eines zweiten Leiters (20 ) auf dem ersten polymerbasierenden Material (18 ,44 ); (g) Bilden zumindest einer Durchgangsöffnung (22 ,52a ,52b ) auf den ersten polymerbasierenden Material (18 ,44 ), um es der Durchgangsöffnung (22 ,52a ,52b ) zu ermöglichen zu der Insel (16 ) geführt zu werden; und (h) Verwenden der Durchgangsöffnung (22 ,52a ,52b ), um die Insel (16 ) zu ätzen und zu entfernen, um einen Hohlraum zu bilden. - Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass der Verfahrensschritt (b) ferner zumindest folgenden Verfahrensschritt umfasst: (b1) Beschichten des Substrates (
10 ,40 ) mit dem ersten Leiter (12 ,42 ), um es den Substrat (10 ,40 ) zu erlauben, vollständig mit dem ersten Leiter (12 ,40 ) bedeckt zu sein. - Verfahren nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, dass der Verfahrensschritt (b1) ferner zumindest folgenden Verfahrensschritt umfasst: (b2) Ätzen des ersten Leiters (
12 ,42 ), um denselben zu mustern, wobei der Verfahrensschritt (b1) nach dem Verfahrensschritt (b1) durchgeführt wird. - Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass zumindest folgende Verfahrensschritte vorgesehen sind: (i) Komplettes Bedecken des zweiten Leiters (
20 ) durch ein zweites polymerbasierenden Material (24 ). - Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass zumindest folgender Verfahrensschritt umfasst wird: (i') Komplettes Bedecken des zweiten Leiters (
20 ) durch ein zweites polymerbasierenden Materials (24 ) um die Durchgangsöffnung (22 ) durch dasselbe abzudichten. - Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass der erste Leiter (
12 ,42 ) aus Metall gefertigt ist. - Verfahren nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, dass der erste Leiter gemäß des Verfahrensschrittes (b) auf dem Substrat (
10 ,40 ) durch Sputtern gebildet wird. - Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass der zweite Leiter (
20 ) aus Metall gefertigt ist. - Verfahren nach Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet, dass der zweite Leiter (
20 ) gemäß des Verfahrensschrittes (f) auf dem ersten polymerbasierenden Material durch Sputtern gebildet wird. - Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass die Opferschicht (
14 ,48a ,48b ) aus Metall gefertigt wird. - Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass das in dem Verfahrensschritt (h) durchgeführte Ätzen Nassätzen ist.
- Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass das erste polymerbasierende Material (
18 ,44 ) der SU-8 Fotolack (50 ) ist, welcher durch die MicroChem Corp (MCC) hergestellt wird. - Verfahren zum Herstellen eines polymerbasierenden kapazitiven Ultraschallwandlers, umfassend folgende Verfahrensschritte: (a) Vorsehen eines Substrates (
10 ,40 ); (b) Bilden eines ersten Leiters (12 ,42 ) auf dem Substrat (10 ,40 ); (c) Beschichten des ersten Leiters (12 ,42 ) mit einem ersten polymerbasierenden Material (18 ,44 ), um den ersten Leiter (12 ,42 ) durch dasselbe zu bedecken; (d) Ätzen des ersten polymerbasierenden Materials zum Bilden zumindest eines freigelegten Bereiches (46a ,46b ); (e) Bilden einer Opferschicht (48a ,48b ) auf den freigelegten Bereichen (46a ,46b ); (f) Beschichten der Opferschicht (48a ,48b ) mit einem zweiten polymerbasierenden Material (44 ), um die Opferschicht (48a ,48b ) komplett durch das Material (44 ) zu bedecken; (g) Bilden zumindest einer Durchtrittsöffnung (52a ,52b ) auf den zweiten polymerbasierenden Material (44 ), um es der Durchtrittsöffnung (52a ,52b ) zu ermöglichen, zu der Opferschicht (48a ,48b ) geführt zu werden; (h) Bilden eines zweiten Leiters (20 ,42 ) auf dem zweiten polymerbasierenden Material (24 ,44 ); (i) Beschichten des zweiten polymerbasierenden Materials (24 ,44 ) durch ein drittes polymerbasierenden Material; und (j) Verwenden der Durchtrittsöffnung (48a ,48b ) um die Opferschicht (48a ,48b ) zu ätzend und zu entfernen, um einen Hohlraum zu bilden. - Verfahren nach Anspruch 13, dadurch gekennzeichnet, dass der erste Leiter (
12 ,42 ) aus Platin gefertigt wird. - Verfahren nach Anspruch 13, dadurch gekennzeichnet, dass die Opferschicht (
48a ,48b ) aus Metall gefertigt ist. - Verfahren nach Anspruch 13, dadurch gekennzeichnet, dass das erste polymerbasierende Material (
18 ,44 ) und/oder das zweite polymerbasierende Material (24 ) und/oder das dritte polymerbasierende Material der SU-8 Fotolack (50 ) ist. - Verfahren nach Anspruch 13, dadurch gekennzeichnet, dass der zweite Leiter (
20 ) aus Metall gefertigt ist. - Verfahren nach Anspruch 13, dadurch gekennzeichnet, dass als Ätzen bei dem Verfahrensschritt (j) Nassätzen durchgeführt wird.
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
TW094120108 | 2005-05-17 | ||
TW094120108A TWI260940B (en) | 2005-06-17 | 2005-06-17 | Method for producing polymeric capacitive ultrasonic transducer |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE102005051604A1 true DE102005051604A1 (de) | 2006-11-23 |
Family
ID=35249173
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE102005051604A Ceased DE102005051604A1 (de) | 2005-05-17 | 2005-10-27 | Verfahren zum Herstellen eines Ultraschallwandlers |
Country Status (7)
Country | Link |
---|---|
US (2) | US7673375B2 (de) |
JP (1) | JP4142040B2 (de) |
KR (1) | KR100634994B1 (de) |
DE (1) | DE102005051604A1 (de) |
FR (1) | FR2887242A1 (de) |
GB (1) | GB2427321B (de) |
TW (1) | TWI260940B (de) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP1955783A2 (de) * | 2007-02-07 | 2008-08-13 | Industrial Technology Research Institute | Flexibler kapazitiver Ultraschallwandler und Herstellungsverfahren dafür |
WO2008134909A1 (de) * | 2007-05-07 | 2008-11-13 | Baumer Electric Ag | Akustischer wandler |
US8428286B2 (en) | 2009-11-30 | 2013-04-23 | Infineon Technologies Ag | MEMS microphone packaging and MEMS microphone module |
WO2020187890A1 (de) * | 2019-03-20 | 2020-09-24 | Vitesco Technologies GmbH | Verfahren zum herstellen einer fluidsensorvorrichtung und fluidsensorvorrichtung |
Families Citing this family (23)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
TWI268183B (en) | 2005-10-28 | 2006-12-11 | Ind Tech Res Inst | Capacitive ultrasonic transducer and method of fabricating the same |
US7956510B2 (en) * | 2006-04-04 | 2011-06-07 | Kolo Technologies, Inc. | Modulation in micromachined ultrasonic transducers |
GB2452941B (en) | 2007-09-19 | 2012-04-11 | Wolfson Microelectronics Plc | Mems device and process |
US7856883B2 (en) * | 2008-03-24 | 2010-12-28 | Industrial Technology Research Institute | Capacitive ultrasonic sensors and display devices using the same |
GB2459866B (en) * | 2008-05-07 | 2011-08-31 | Wolfson Microelectronics Plc | Mems transducer |
US8402831B2 (en) * | 2009-03-05 | 2013-03-26 | The Board Of Trustees Of The Leland Standford Junior University | Monolithic integrated CMUTs fabricated by low-temperature wafer bonding |
JP5377066B2 (ja) | 2009-05-08 | 2013-12-25 | キヤノン株式会社 | 静電容量型機械電気変換素子及びその製法 |
JP2011244425A (ja) * | 2010-04-23 | 2011-12-01 | Canon Inc | 電気機械変換装置及びその作製方法 |
EP2654196B1 (de) * | 2011-10-11 | 2017-06-14 | Sumitomo Riko Company Limited | Wandler |
FR2982414B1 (fr) | 2011-11-09 | 2014-08-22 | Commissariat Energie Atomique | Procede ameliore de realisation d'un dispositif a cavite formee entre un element suspendu reposant sur des plots isolants semi-enterres dans un substrat et ce substrat |
CN102538850A (zh) * | 2012-01-04 | 2012-07-04 | 无锡智超医疗器械有限公司 | 一种电容式微机电超声传感器及其制作方法 |
US8586455B1 (en) * | 2012-05-15 | 2013-11-19 | International Business Machines Corporation | Preventing shorting of adjacent devices |
JP6057571B2 (ja) * | 2012-07-06 | 2017-01-11 | キヤノン株式会社 | 静電容量型トランスデューサ |
JP6071285B2 (ja) * | 2012-07-06 | 2017-02-01 | キヤノン株式会社 | 静電容量型トランスデューサ |
US9364862B2 (en) * | 2012-11-02 | 2016-06-14 | University Of Windsor | Ultrasonic sensor microarray and method of manufacturing same |
CN103217228B (zh) * | 2013-03-15 | 2015-04-29 | 西安交通大学 | 一种基于cmut的温度传感器及制备和应用方法 |
US20150109889A1 (en) * | 2013-10-17 | 2015-04-23 | Merry Electronics (Shenzhen) Co., Ltd. | Acoustic transducer with membrane supporting structure |
WO2015156859A2 (en) * | 2014-01-13 | 2015-10-15 | Board Of Regents, The University Of Texas System | Surface micromachined microphone with broadband signal detection |
MY167930A (en) * | 2014-05-07 | 2018-10-04 | Mimos Berhad | An etch-free method for conductive electrode formation |
KR20200100112A (ko) * | 2017-12-19 | 2020-08-25 | 더 유니버시티 오브 브리티쉬 콜롬비아 | 층상 구조물 및 이를 제조하는 방법 |
CN108918662B (zh) * | 2018-05-16 | 2020-10-27 | 西安交通大学 | 一种CMUTs流体密度传感器及其制备方法 |
US11219913B2 (en) * | 2019-03-20 | 2022-01-11 | William Allen Smith | Wheel guard to shield wheels from tire dressing |
TWI750862B (zh) * | 2020-10-23 | 2021-12-21 | 友達光電股份有限公司 | 電容式超音波換能器及其製造方法 |
Family Cites Families (17)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5287331A (en) * | 1992-10-26 | 1994-02-15 | Queen's University | Air coupled ultrasonic transducer |
FR2697675B1 (fr) | 1992-11-05 | 1995-01-06 | Suisse Electronique Microtech | Procédé de fabrication de transducteurs capacitifs intégrés. |
US5619476A (en) * | 1994-10-21 | 1997-04-08 | The Board Of Trustees Of The Leland Stanford Jr. Univ. | Electrostatic ultrasonic transducer |
US6316796B1 (en) | 1995-05-24 | 2001-11-13 | Lucas Novasensor | Single crystal silicon sensor with high aspect ratio and curvilinear structures |
US5704105A (en) * | 1996-09-04 | 1998-01-06 | General Electric Company | Method of manufacturing multilayer array ultrasonic transducers |
US6295247B1 (en) * | 1998-10-02 | 2001-09-25 | The Board Of Trustees Of The Leland Stanford Junior University | Micromachined rayleigh, lamb, and bulk wave capacitive ultrasonic transducers |
US6271620B1 (en) | 1999-05-20 | 2001-08-07 | Sen Corporation | Acoustic transducer and method of making the same |
US6246158B1 (en) | 1999-06-24 | 2001-06-12 | Sensant Corporation | Microfabricated transducers formed over other circuit components on an integrated circuit chip and methods for making the same |
US6430109B1 (en) * | 1999-09-30 | 2002-08-06 | The Board Of Trustees Of The Leland Stanford Junior University | Array of capacitive micromachined ultrasonic transducer elements with through wafer via connections |
US6867535B1 (en) * | 1999-11-05 | 2005-03-15 | Sensant Corporation | Method of and apparatus for wafer-scale packaging of surface microfabricated transducers |
US6249075B1 (en) * | 1999-11-18 | 2001-06-19 | Lucent Technologies Inc. | Surface micro-machined acoustic transducers |
US6443901B1 (en) * | 2000-06-15 | 2002-09-03 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Capacitive micromachined ultrasonic transducers |
WO2003035281A2 (en) * | 2001-10-23 | 2003-05-01 | Schindel David W | Ultrasonic printed circuit board transducer |
US7087023B2 (en) * | 2003-02-14 | 2006-08-08 | Sensant Corporation | Microfabricated ultrasonic transducers with bias polarity beam profile control and method of operating the same |
WO2005077012A2 (en) * | 2004-02-06 | 2005-08-25 | Georgia Tech Research Corporation | Cmut devices and fabrication methods |
WO2005084284A2 (en) * | 2004-02-27 | 2005-09-15 | Georgia Tech Research Corporation | Multiple element electrode cmut devices and fabrication methods |
WO2005087391A2 (en) * | 2004-03-11 | 2005-09-22 | Georgia Tech Research Corporation | Asymmetric membrane cmut devices and fabrication methods |
-
2005
- 2005-06-17 TW TW094120108A patent/TWI260940B/zh not_active IP Right Cessation
- 2005-08-29 US US11/212,611 patent/US7673375B2/en active Active
- 2005-09-21 GB GB0519271A patent/GB2427321B/en not_active Expired - Fee Related
- 2005-10-05 KR KR1020050093337A patent/KR100634994B1/ko active IP Right Grant
- 2005-10-13 FR FR0510463A patent/FR2887242A1/fr not_active Withdrawn
- 2005-10-27 DE DE102005051604A patent/DE102005051604A1/de not_active Ceased
- 2005-11-07 JP JP2005322598A patent/JP4142040B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
2009
- 2009-01-05 US US12/348,452 patent/US20090126183A1/en not_active Abandoned
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP1955783A2 (de) * | 2007-02-07 | 2008-08-13 | Industrial Technology Research Institute | Flexibler kapazitiver Ultraschallwandler und Herstellungsverfahren dafür |
EP1955783A3 (de) * | 2007-02-07 | 2010-04-28 | Industrial Technology Research Institute | Flexibler kapazitiver Ultraschallwandler und Herstellungsverfahren dafür |
WO2008134909A1 (de) * | 2007-05-07 | 2008-11-13 | Baumer Electric Ag | Akustischer wandler |
US8428286B2 (en) | 2009-11-30 | 2013-04-23 | Infineon Technologies Ag | MEMS microphone packaging and MEMS microphone module |
DE102010062149B4 (de) * | 2009-11-30 | 2013-08-08 | Infineon Technologies Ag | MEMS-Mikrophonhäusung und MEMS-Mikrophonmodul |
WO2020187890A1 (de) * | 2019-03-20 | 2020-09-24 | Vitesco Technologies GmbH | Verfahren zum herstellen einer fluidsensorvorrichtung und fluidsensorvorrichtung |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
FR2887242A1 (fr) | 2006-12-22 |
GB2427321A (en) | 2006-12-20 |
KR100634994B1 (ko) | 2006-10-16 |
TWI260940B (en) | 2006-08-21 |
GB0519271D0 (en) | 2005-10-26 |
JP4142040B2 (ja) | 2008-08-27 |
GB2427321B (en) | 2007-05-16 |
JP2006352823A (ja) | 2006-12-28 |
TW200701817A (en) | 2007-01-01 |
US7673375B2 (en) | 2010-03-09 |
US20070013266A1 (en) | 2007-01-18 |
US20090126183A1 (en) | 2009-05-21 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE102005051604A1 (de) | Verfahren zum Herstellen eines Ultraschallwandlers | |
DE69935860T2 (de) | Verfahren zur herstellung eines kapazitiven ultraschallwandlers | |
EP1550349B1 (de) | Membran und verfahren zu deren herstellung | |
DE69032583T2 (de) | Miniaturdruckwandler hoher Empfindlichkeit mit gespannter Membran | |
DE102014204712B4 (de) | MEMS-Akustikwandler | |
DE60312087T2 (de) | Flexible MEMS Wandler und Verfahren zu ihrer Herstellung, und flexible MEMS Mikrophone | |
DE60306367T2 (de) | Ultraschall wandler mit membran | |
DE60313715T2 (de) | Herstellungsverfahren für flexible MEMS-Wandler | |
DE102017215381A1 (de) | Doppelmembran-MEMS-Bauelement und Herstellungsverfahren für ein Doppelmembran-MEMS-Bauelement | |
DE3889440T2 (de) | Geradlinig und linear biegbares Element, hergestellt aus einer einzigen Platte. | |
DE4410631A1 (de) | Kapazitiver Sensor bzw. Wandler sowie Verfahren zu dessen Herstellung | |
DE102004063740A1 (de) | Mikrobearbeitete Ultraschalltransducerzellen mit nachgiebiger Stützstruktur | |
DE102019123077B4 (de) | Verfahren zur Herstellung eines robusten Doppelmembranmikrofons | |
DE102017204006B3 (de) | MEMS-Schallwandler, MEMS-Mikrophon und Verfahren zum Bereitstellen eines MEMS-Schallwandlers | |
DE102013209479B4 (de) | Verfahren zur Verarbeitung eines Wafers an unmaskierten Bereichen und zuvor maskierten Bereichen zur Reduzierung einer Waferdicke | |
DE102020108433B4 (de) | Vorrichtung mit einer Membran und Herstellungsverfahren | |
DE4238571C1 (de) | Verfahren zur Herstellung von durch einen Rahmen aufgespannte Membranen | |
WO2017215809A1 (de) | Mikroelektromechanisches mikrofon | |
DE102017102190A1 (de) | Membranbauteile und Verfahren zum Bilden eines Membranbauteils | |
DE102004006156B4 (de) | Verfahren zum Herstellen eines mikrokapazitiven Ultraschall-Wandlers | |
DE102016125082B3 (de) | Halbleitervorrichtung, mikrofon und verfahren zum herstellen einer halbleitervorrichtung | |
DE10162983B4 (de) | Kontaktfederanordnung zur elektrischen Kontaktierung eines Halbleiterwafers zu Testzwecken sowie Verfahren zu deren Herstellung | |
DE102014221495A1 (de) | Ultraschallwandler, Ultraschalldurchflussmesser und Verfahren zum Herstellen eines Ultraschallwandlers | |
DE102019128767B4 (de) | MEMS-Mikrofon und Herstellungsverfahren | |
DE10221660B4 (de) | Verfahren zur Herstellung eines mikromechanischen, kapazitiven Wandlers |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
OP8 | Request for examination as to paragraph 44 patent law | ||
R016 | Response to examination communication | ||
R002 | Refusal decision in examination/registration proceedings | ||
R003 | Refusal decision now final |
Effective date: 20120804 |