DE102004020734A1 - Winkelmeßsystem auf Magnetbasis mit hoher Meßgenauigkeit und Verfahren zur Bestimmung der Offset-Korrekturen bei einem solchen Winkelmeßsystem - Google Patents

Winkelmeßsystem auf Magnetbasis mit hoher Meßgenauigkeit und Verfahren zur Bestimmung der Offset-Korrekturen bei einem solchen Winkelmeßsystem Download PDF

Info

Publication number
DE102004020734A1
DE102004020734A1 DE102004020734A DE102004020734A DE102004020734A1 DE 102004020734 A1 DE102004020734 A1 DE 102004020734A1 DE 102004020734 A DE102004020734 A DE 102004020734A DE 102004020734 A DE102004020734 A DE 102004020734A DE 102004020734 A1 DE102004020734 A1 DE 102004020734A1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
sensor
offset
permanent magnet
measuring system
angle measuring
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
DE102004020734A
Other languages
English (en)
Inventor
Martin Dr. Grönefeld
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
WINDHORST BETEILIGUNGSGESELLSCHAFT MBH
WINDHORST BETEILIGUNGSGMBH
Original Assignee
WINDHORST BETEILIGUNGSGESELLSCHAFT MBH
WINDHORST BETEILIGUNGSGMBH
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by WINDHORST BETEILIGUNGSGESELLSCHAFT MBH, WINDHORST BETEILIGUNGSGMBH filed Critical WINDHORST BETEILIGUNGSGESELLSCHAFT MBH
Priority to DE102004020734A priority Critical patent/DE102004020734A1/de
Publication of DE102004020734A1 publication Critical patent/DE102004020734A1/de
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01DMEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01D5/00Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable
    • G01D5/12Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable using electric or magnetic means
    • G01D5/14Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable using electric or magnetic means influencing the magnitude of a current or voltage
    • G01D5/142Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable using electric or magnetic means influencing the magnitude of a current or voltage using Hall-effect devices
    • G01D5/145Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable using electric or magnetic means influencing the magnitude of a current or voltage using Hall-effect devices influenced by the relative movement between the Hall device and magnetic fields
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01DMEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01D18/00Testing or calibrating apparatus or arrangements provided for in groups G01D1/00 - G01D15/00
    • G01D18/001Calibrating encoders
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01DMEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01D5/00Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable
    • G01D5/12Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable using electric or magnetic means
    • G01D5/244Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable using electric or magnetic means influencing characteristics of pulses or pulse trains; generating pulses or pulse trains
    • G01D5/24471Error correction
    • G01D5/2448Correction of gain, threshold, offset or phase control
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01DMEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01D5/00Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable
    • G01D5/12Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable using electric or magnetic means
    • G01D5/244Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable using electric or magnetic means influencing characteristics of pulses or pulse trains; generating pulses or pulse trains
    • G01D5/24471Error correction
    • G01D5/2449Error correction using hard-stored calibration data

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Transmission And Conversion Of Sensor Element Output (AREA)
  • Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)

Abstract

Die Erfindung betrifft ein Winkelmesssystem auf Magnetbasis, bei dem ein magnetoresistiver Sensor zwei Feldkomponenten von Dauermagneten in zueinander verdrehten Brückenschaltungen erfasst und diese zwei Signale verstärkt und in Bezug auf Amplitude und Nullpunktverschiebung angeglichen werden. In diesen Messsystemen entstehen Winkelmessfehler sowohl durch die Sensoreinheit mit Auswerte-Elektronik als auch durch die Inhomogenität des Magnetfeldes des Gebermagneten am Sensorort. Erfindungsgemäß kann der Messfehler, der von der Inhomogenität des oder der Dauermagneten herrührt, dadurch zum größten Teil reduziert werden, dass die in diesen Anwendungen typischerweise nötige Nullpunktverschiebung der beiden Sensorsignale um einen Wert korrigiert wird, der sich aus der geometrisch bedingten Inhomogenität des Dauermagneten ergibt. Dieses wird bei magnetoresistiven Sensoren auf Basis des AMR-Effektes idealerweise dadurch erzielt, dass die Bedingung DOLLAR A (DELTAW¶1pos¶ + DELTAW¶2pos¶)/2 = (DELTAW¶1neg¶ + DELTAW¶2neg¶)/2 mit den Winkelbreiten in Figur 8 erfüllt ist.

Description

  • Die Erfindung betrifft ein Winkelmeßsystem auf Magnetbasis, bei dem der Meßfehler, der durch die Inhomogenität des Dauermagneten am Sensorort hervorgerufen wird, reduziert wird, und bezieht sich ferner auf ein Verfahren zur Bestimmung der Offset-Korrekturen bei einem solchen Winkelmeßsystem.
  • Im Maschinenbau, bei Kraftfahrzeuganwendungen sowie in der Automatisierungstechnik u.a. gewinnen berührungslose Meßsysteme zur Erfassung einer Drehbewegung zunehmend an Bedeutung. Unter den berührungslosen Verfahren haben magnetische Meßverfahren auf Basis eines Dauermagneten in Verbindung mit einem Sensor, der das Magnetfeld des drehenden Magneten erfaßt, gegenüber optischen oder induktiven Methoden den Vorteil, kostengünstig, störunanfällig und relativ genau zu sein.
  • Klassisch erfolgt die Winkelerfassung mithilfe eines Hall-Sensors, der eine Feldkomponente eines mehrpoligen Magnetrades erfaßt. Die Winkellage zwischen zwei Polübergängen kann hierbei durch eine Interpolation aus dem gemessenen Feldwert bestimmt werden. Die Entwicklung von magnetoresistiven Winkelsensoren hat dazu geführt, daß mit diesen Sensoren anstelle der Hall-Sensoren direkt der Drehwinkel eines Magneten durch das resultierende rotierende Magnetfeld am Sensorort erfaßt werden kann. Hierdurch ist der erfaßte Drehwinkel weitgehend unabhängig von den Toleranzen der Lageposition des Sensors, der absoluten Feldstärke des Magneten, der Temperatur und weiteren Störgrößen.
  • Kommerziell sind heute Winkelsensoren auf Basis des AMR-Effektes im Einsatz, bei denen in zwei um 45° zueinander verdrehten Wheatstone-Brücken der Sinus und Cosinus des doppelten Drehwinkels erfaßt wird. In Entwicklung befinden sich GMR-Sensoren, bei denen die Sinus- und Cosinus-Komponente des Winkels direkt erfaßt werden, so daß eine eindeutige Zuordnung des Drehwinkels in einem Bereich von 360° möglich ist, während die Eindeutigkeit bei AMR-Sensoren auf 180° beschränkt ist.
  • Sowohl bei AMR- als auch GMR-Sensoren können damit zwei Feldkomponenten erfaßt werden, die in einer weiteren Elektronik verstärkt werden. Bevor durch die Bildung des Arcus Tangens des Verhältnisses der beiden Größen zueinander der Winkel zurückgerechnet wird, müssen die beiden verstärkten Spannungssignale auf einen Nullwert bezogen werden. Dieser Nullwert bzw. Nullversatz – im weiteren wie in der Technik üblich mit „Offset" bezeichnet – bestimmt sich daraus, daß die Amplituden bei Maximum und Minimum gleiche Stärke mit umgekehrten Vorzeichen haben. Der Offset ist also unter Berücksichtigung des Vorzeichens durch den Mittelwert der Extrema über einen 360° Winkelbereich gegeben (7). Der Offset ist für beide Feldkomponenten und von Sensor zu Sensor individuell zu bestimmen und abzugleichen.
  • Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, den Homogenitätsfehler, den ein Dauermagnet am Sensorort in einem solchen Meßsystem erzeugt, teilweise direkt in der Auswerte-Elektronik zu kompensieren. In der Regel betrifft dies eine spiegelsymmetrische Magnetform, z.B. die Form eines rotationssymmetrischen, quadratischen oder rechteckigen Magneten, der auf der Stirnseite oder am Außenumfang zwei gleich starke Magnetpole aufweist.
  • Erfindungsgemäß wird diese Aufgabe mit einem Winkelmeßsystem gelöst, bestehend aus einem oder mehreren Dauermagneten in Verbindung mit einem magnetoresistiven Winkelsensor, wobei der Sensor in zwei gegeneinander verdrehten Wheatstone-Brücken zwei Feldkomponenten des oder der Dauermagneten als Maß der Winkelstellung erfaßt, und einer Auswerte-Elektronik mit Verstärkern, die die elektrischen Spannungssignale beider Feldkomponenten auf eine einheitliche Amplitude verstärken, vom Sensor bedingte Nullpunktverschiebungen korrigieren (Offset-Korrekturen) und aus diesen beiden Signalen den Winkel bestimmt, wobei die vom Sensor bedingten Offset-Korrekturen in der Auswerte-Elektronik um einen solchen Wert ergänzt werden, daß der Winkelmeßfehler, der aus der Inhomogenität des oder der Dauermagnete resultiert, verringert wird.
  • Bei einem solchen Meßsystem ist es nach einem weiteren Merkmal der Erfindung besonders vorteilhaft, wenn die Offset-Korrekturen so bemessen sind, dass nicht nur die Toleranzen des Sensors und der Verstärker der Auswerte-Elektronik alleine, sondern zusätzlich die Inhomogenität des Dauermagnetfeldes am Sensorort kompensiert werden, indem die Auswerte-Elektronik jeweils den Offset individuell für jede der beiden Einzelkomponenten der Spannungssignale (Sinus und Cosinus) annähernd oder exakt so verschiebt, daß für den Winkelbereich zwischen zwei aufeinander folgenden Winkeln, bei denen die Ausgangsspannung den Offset schneidet, der Mittelwert der Breite der positiven Halbwellen, d.h. jeweils zwischen dem Schnittpunkt der steigenden Flanke zum Schnittpunkt der fallenden Flanke hin, identisch ist zum Mittelwert der Breite der negativen Halbwellen, d.h. jeweils zwischen dem Schnittpunkt der fallenden Flanke zum Schnittpunkt der steigenden Flanke hin.
  • Bei diesem Meßsystem werden die Offsetwerte also nicht mehr aus dem Mittelwert der Extrema (Maxima und Minima) des Spannungssignales bestimmt, sondern für beide Feldkomponenten separat so eingestellt, daß der Winkelbereich zwischen zwei aufeinander folgenden Winkeln, bei denen die Ausgangsspannung den Offset schneidet, im Mittelwert der Breite der positiven Halbwellen, d.h. jeweils zwischen dem Schnittpunkt der steigenden Flanke zum Schnittpunkt der fallenden Flanke hin identisch ist zum Mittelwert der Breiten der negativen Halbwellen, d.h. jeweils zwischen dem Schnittpunkt der fallenden Flanke zum Schnittpunkt der steigenden Flanke hin. Im Falle der AMR-Sensoren, bei denen auf eine Umdrehung von 360° jeweils zwei positive und zwei negative Halbwellen für jede Sensorkomponente auftreten, ist die erfindungsgemäße Definition des Offset-Wertes in 8 dargestellt und läßt sich durch die Formel (ΔW1pos + ΔW2pos)/2 = (ΔW1neg + ΔW2neg)/2mit den Breiten der positiven Halbwellen ΔW1pos und ΔW2pos sowie den Breiten der negativen Halbwellen ΔW1neg und ΔW2neg ausdrücken. Im Falle eines GMR-Sensorelementes kommen auf 360° nur jeweils eine positive und eine negative Halbwelle, so daß sich die Bedingung der Breiten reduziert auf ΔWpos = ΔWneg mit der Breite der positiven Halbwellen ΔWpos sowie der Breite der negativen Halbwellen ΔWneg.
  • Insbesondere bei spiegelsymmetrischen Magneten wird durch dieses Verfahren der Winkelfehler aufgrund der Inhomogenität des Magnetfeldes durch diese Kompensation zum Großteil kompensiert, kleine Abweichungen von der Spiegelsymmetrie beispielsweise durch Inhomogenitäten im Magnetmaterial, Nestkennzeichnungen, Verrippungen etc., die vom Volumenanteil gegenüber dem Gesamtmagneten untergeordnet sind, beeinflussen hierbei nicht die Anwendbarkeit.
  • Die beiden ermittelten Offsetwerte können vorteilhafterweise individuell für jedes System aus Dauermagneten und Sensor dauerhaft in der Auswerte-Elektronik eingestellt, eingespeichert, hinterlegt oder eingebrannt werden. Es ist aber auch möglich, daß die beiden ermittelten Offsetwerte individuell für den Sensor, ggf. mit Verstärkung und Auswerte-Elektronik, aber ohne Dauermagneten, bestimmt werden, und diese Offsetwerte mit zwei zusätzlichen Faktoren korrigiert und dauerhaft in der Auswerte-Elektronik eingestellt, eingespeichert, hinterlegt oder eingebrannt werden, wobei die beiden Faktoren für den Dauermagneten in Bezug auf die geometrisch bedingte Feldinhomogenität zuvor einmalig gemessen oder berechnet sind.
  • Bei dem Sensor kann es sich je nach den Einsatzbedingungen um einen Sensor auf Basis des AMR-Effektes oder um einen Sensor auf Basis des GMR-Effektes handeln.
  • Der Dauermagnet kann sich stirnseitig koaxial zum Sensor an der Drehwelle oder in einem daran befestigten Magnethalter befinden und relativ zum Sensor drehen, wobei der Dauermagnet auf der Stirnseite zum Sensor hin zwei gleich starke gegensinnige Pole N und S aufweist und der Sensor mit der Oberseite seines Chipgehäuses gegenüber der Stirnseite des Dauermagneten montiert ist.
  • Der Dauermagnet kann aber auch senkrecht zur Drehrichtung geradlinig magnetisiert sein und der Sensor ebenfalls mit der Oberseite seines Chipgehäuses gegenüber der Stirnseite des Dauermagneten montiert sein.
  • Ein besonders vorteilhaftes Verfahren zur Bestimmung der Offset-Korrekturen für ein solches Winkelmeßsystem zeichnet sich dadurch aus, daß für beide Sensorkomponenten einzeln das Ausgangssignal nach Verstärkung gemeinsam mit dem Offset auf einen Komparator gegeben wird, wobei der Komparator je nach Vorzeichen der Differenz der beiden Eingangssignale ein gleich starkes positives oder negatives Ausgangssignal abgibt, und der Ausgang des Komparators bei konstanter Drehgeschwindigkeit über die Zeit elektronisch integriert wird, und der Offset kontinuierlich soweit angepaßt wird, bis das Integral über eine volle Umdrehung verschwindet.
  • Dieses Ergebnis kann in einer abgewandelten Form des Verfahrens aber auch dadurch erreicht werden, daß der Ausgang des Komparators statt bei konstanter Drehgeschwindigkeit über die Zeit über die Anzahl der Drehschritte eines an der Drehachse befestigten sehr präzisen Drehgebers elektronisch integriert wird, und die Offsetwerte kontinuierlich soweit angepaßt werden, bis auch hierbei das Integral über eine volle Umdrehung verschwindet.
  • Die Erfindung wird anhand von bevorzugten Ausführungsbeispielen näher erläutert. Es zeigen:
  • 1 eine teilweise geschnittene Seitenansicht einer Einrichtung mit einem Sensor, der an einem Träger stirnseitig vor einem zweipolig auf der zum Sensor gerichteten Fläche magnetisierten Dauermagneten angeordnet ist,
  • 2 einen Schnitt durch den Dauermagneten gemäß Schnittlinie II-II von 1,
  • 3 den Sensor von 1 in einer vergrößerten Seitenansicht,
  • 4 ein Schaltbild des Sensors von 1 und 3 mit zwei um 45° gegeneinander verdrehten Wheatstone-Brücken,
  • 5 eine teilweise geschnittene Seitenansicht einer zweiten Einrichtung mit dem Sensor von 3 und 4 stirnseitig vor einem zweipolig linear quer zur Drehachse magnetisierten Dauermagneten,
  • 6 einen Schnitt durch den Dauermagneten gemäß Schnittlinie VI-VI von 5,
  • 7 die Darstellung eines Offsetwertes zur Korrektur der vom Sensor bedingten Nullpunktverschiebung in Form einer graphischen Darstellung der elektrischen Spannungssignale einer verstärkten Sensorkomponente und des dazugehörigen Offsetwertes für einen Dauermagneten in Bezug auf Spannungsverlauf und Drehwinkel,
  • 8 die erfindungsgemäße Bedingung zum Einstellen von jedem der beiden Offsetwerte, bei der ein vom Dauermagneten herrührender Fehler weitgehend kompensiert wird, am Beispiel für einen AMR-Sensor, ebenfalls in Form einer solchen graphischen Darstellung,
  • 9 eine Meßkurve des Winkelmeßfehlers, der von dem Sensor und dem Dauermagneten im Ausführungsbeispiel von 7 bewirkt wird,
  • 10 die Meßkurve aus dem Beispiel von 9, wenn die Offsetwerte erfindungsgemäß nach 8 eingestellt werden,
  • 11 eine graphische Zuordnung der elektrischen Spannungssignale, bestehend aus einem verstärkten Ausgang der Sensorkomponente, Offset, dem Ausgang eines Komparators, auf dessen Eingang Sensorkomponente und Offset gegeben werden, und dem Integral des Komparatorsignales über den Drehwinkel, und
  • 12 ein Blockschaltbild für den Abgleich des Offsetwertes, bestehend aus Sensor mit Auswerte-Elektronik, zu dem ein Komparator, ein elektronischer Integrator und ein hochpräziser Drehwinkelgeber zugeschaltet werden.
  • In 1 und 2 ist eine Anordnung für ein Winkelmeßsystem auf Magnetbasis gezeigt, bei der ein Dauermagnet 1 ggf. mithilfe eines Magnethalters 2 auf einer Drehwelle 3 befestigt ist, die sich um eine Drehachse 4 dreht. Stirnseitig gegenüber dem Dauermagneten 1 mittig zur Drehachse 4 befindet sich ein Sensor 5. Der Sensor 5 ist in einem Chipgehäuse 8 mit zwei Wheatstone-Brücken 6 und 7 zur Erfassung der beiden Feldkomponenten als Maß der Winkelstellung des Dauermagneten 1 in 3 und 4 dargestellt.
  • Wie in 5 und 6 gezeigt ist, kann statt eines an der Stirnseite zweipolig magnetisierten Dauermagneten auch ein diametral magnetisierter Dauermagnet 1 mit jeweils einem Nord- und einem Südpol am Außenumfang zum Einsatz kommen. Anstatt scheibenförmiger Dauermagnete 1 können auch Magnetringe sowie nicht rotationssymmetrische Teile, z.B. Magnetquader, zum Einsatz kommen. Die Genauigkeit der Felderfassung wird hierbei je nach Größe des Dauermagneten durch die Inhomogenität des Magnetfeldes begrenzt. Durch die Symmetrie des Dauermagneten ist das Feld auf der Drehachse konkav oder konvex verzerrt.
  • Der gemäß 1 und 2 stirnseitig mit zwei gegensätzlichen Polen zum Sensor 5 angebrachte Dauermagnet 1 besteht aus einem kunststoffgebundenen Seltenerdwerkstoff, hat einen Durchmesser 10 mm und Stärke von 3 mm und ist mit 1,5 mm Abstand zu dem sensitiven Element eines AMR-Winkelsensors Typ KMZ43 der Firma Philips angeordnet. Die Sensormitte liegt zur Berücksichtigung von Fertigungstoleranzen 1,0 mm außerhalb der Drehachse 4.
  • Die beiden Signale des Sensors 5 werden getrennt mit einem Instrumentenverstärker INA114 um ca. den Faktor 30 verstärkt, wobei die Verstärkung und der Offset gemäß 7 jeweils einzeln so eingestellt werden, daß die Amplituden ΔU des Spannungssignals 12 zu positiver und negativer Richtung die gleiche Stärke haben. Der vom Sensor 5 detektierte Winkel wird aus dem Arcus Tangens des Verhältnisses beider Spannungssignale 12 und 13 berechnet und mit dem tatsächlichen Winkel, der über einen hoch-präzisen optischen Drehgeber erfaßt wird, verglichen.
  • Der hierbei beobachtete Winkelfehler, der sich aus dem Fehler des Sensorelementes und dem Fehler Δ zwischen dem von der Auswerte-Elektronik des Sensors 5 berechneten und dem tatsächlichen Drehwinkel, gegen den Drehwinkel gemessen, aufgrund der Inhomogenität des Dauermagneten 1 ergibt, ist in 9 gezeigt. Der Winkelfehler beträgt gemäß Kurve 14 Geometrie-bedingt ca. ± 1,0°.
  • Im Vergleich hierzu werden nun beide Offsetwerte erfindungsgemäß nach 8 für beide Spannungssignale 12 und 13 eingestellt. Bei ansonsten identischer Anordnung und Auswertung ergibt sich hierdurch die sehr viel geringere Fehlerkurve 14 aus
  • 10. In diesem Fehler ist in der Hauptsache die Nichtlinearität des AMR-Winkelsensors zu erkennen, die alle 45° ein Maximum und ein Minimum aufweist. Der größte Winkelfehler beträgt nunmehr nur noch ca. ±. 0,15°.
  • Rechnerisch können diese beiden Offsetwerte durch die Erfassung der Ausgangsspannung beider Feldkomponenten über einen 360°-Drehbereich und gleichzeitige Erfassung des genauen Winkels mithilfe eines optischen Drehgebers erfolgen. Die Offsetwerte können somit in der Verstärkereinheit direkt eingestellt werden. Es ist dabei vorteilhaft, die eingestellten Werte dauerhaft durch Potentiometer, durch Programmieren eines Speicher-arrays oder durch gezieltes Einschießen von Widerstandsnetzwerken festzulegen.
  • Neben der Rechnerischen Ermittlung können die beiden Offsetwerte erfindungsgemäß auch dadurch eingestellt werden, daß für beide Sensorkomponenten einzeln das Ausgangssignal nach Verstärkung gemeinsam mit dem Offset auf einen Komparator gegeben wird. Der Komparator gibt hierfür je nach Vorzeichen der Differenz der beiden Eingangssignale ein gleich starkes positives oder negatives Ausgangssignal. Der Ausgang des Komparators wird bei konstanter Drehgeschwindigkeit über die Zeit integriert. Alternativ kann während der Einstellung des Offset auch an die Drehachse ein sehr präziser Drehgeber angeschlossenen werden und der Komparatorausgang über den Drehwinkel integriert werden. Hierbei kann nun jeder der beiden Offsetwerte kontinuierlich angepaßt werden, bis das Integral über eine volle Umdrehung verschwindet. Dies ist in 11 dargestellt, und ein Blockschaltbild zur Verarbeitung der Signale zeigt 12.
  • Im oberen Teil des Diagramms von 11 ist die Kurve für das elektrische Spannungssignal 12 einer verstärkten Sensorkomponente in Bezug auf das elektrische Spannungssignal 13 für den Offset gezeigt. Darunter ist der rechteckförmige Verlauf des Ausgangssignals 15 eines elektronischen Komparators dargestellt, auf dessen Eingänge die Spannungssignale 12 und 13 gegeben werden, und im unteren Teil des Diagramms erscheint die Kurve 16 für den Spannungswert am Ausgang eines elektronischen Integrators, der das Ausgangssignal 15 des Komparators integriert.
  • Das Blockschaltbild von 12 zeigt ein Beispiel für eine Auswerte-Elektronik 20 mit zwei Differenzverstärkern 21 zur Einstellung eines Offsetwertes durch Abgriff eines Dauermagneten 1 mit einem Sensor 5. Die beiden Differenzverstärker 21 sind mit den Ausgängen 22 des Sensors 5 verbunden und an die zentrale Auswerteeinheit 20a der Auswerte-Elektronik 20 angeschlossen. Von der Auswerteeinheit 20a werden das elektrische Spannungssignal 12 einer verstärkten Sensorkomponente und das elektrische Spannungssignal Offset zu einem elektronischen Komparator 23 geführt und dort verglichen. Das Ausgangssignal 15 des Komparators 23 wird zu einem elektronischen Integrator 24 geführt, der das Ausgangssignal 15 integriert und unter Zuschaltung eines hochpräzisen Drehwinkelgebers 25 einen als Messwert dienenden Spannungswert ausgibt.
  • 1
    Dauermagnet
    2
    Magnethalter
    3
    Drehwelle
    4
    Drehachse
    5
    Sensor, Winkelsensor
    6
    Wheatstone-Brücke
    7
    Wheatstone-Brücke
    8
    Chipgehäuse
    9
    Halteplatine für Chip-Gehäuse
    10
    Pfeil für Magnetisierungsrichtung
    11
    Doppelpfeil für Drehrichtung
    12
    Elektrisches Spannungssignal einer verstärkten Sensorkomponente
    13
    Elektrisches Spannungssignal Offset
    14
    Kurve für den Fehler Δ zwischen dem von der Auswerte-Elektronik des
    Sensors berechneten und dem tatsächlichen Drehwinkel gegen den
    Drehwinkel gemessen.
    15
    Ausgangssignal eines elektronischen Komparators, auf dessen Eingänge die
    Spannungssignale 12 und 13 gegeben werden
    16
    Spannungswert am Ausgang eines elektronischen Integrators, der das
    Ausgangssignal 15 des Komparators integriert.
    20
    Auswerte-Elektronik
    20a
    Auswerteeinheit
    21
    Differenzverstärker
    22
    Ausgang Sensor
    23
    Komparator
    24
    Elektronischer Integrator
    25
    Drehwinkelgeber (optional)
    ΔW1pos
    Breite der positiven Halbwelle in 8
    ΔW2pos
    Breite der positiven Halbwelle in 8
    ΔW1neg
    Breite der negativen Halbwelle in 8
    ΔW2neg
    Breite der negativen Halbwelle in 8

Claims (10)

  1. Winkelmeßsystem, bestehend aus einem oder mehreren Dauermagneten (1) in Verbindung mit einem magnetoresistiven Winkelsensor (5), wobei der Sensor (5) in zwei gegeneinander verdrehten Wheatstone-Brücken (6, 7) zwei Feldkomponenten des oder der Dauermagneten als Maß der Winkelstellung erfaßt, und einer Auswerte-Elektronik (20) mit Verstärkern (21), die die elektrischen Spannungssignale (12) beider Feldkomponenten auf eine einheitliche Amplitude verstärken, vom Sensor (5) bedingte Nullpunktverschiebungen korrigieren (Offset-Korrekturen) und aus diesen beiden Signalen den Winkel bestimmt, wobei die vom Sensor (5) bedingten Offset-Korrekturen in der Auswerte-Elektronik (20) um einen solchen Wert ergänzt werden, daß der Winkelmeßfehler, der aus der Inhomogenität des oder der Dauermagnete (1) resultiert, verringert wird.
  2. Winkelmeßsystem nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Offset-Korrekturen so bemessen sind, daß nicht nur die Toleranzen des Sensors (5) und der Verstärker (21) in der Auswerte-Elektronik (20) alleine, sondern zusätzlich die Inhomogenität des Dauermagnetfeldes am Sensorort kompensiert werden, indem die Auswerte-Elektronik (20) jeweils den Offset individuell für jede der beiden Einzelkomponenten der Spannungssignale (Sinus und Cosinus) annähernd oder exakt so verschiebt, daß für den Winkelbereich zwischen zwei aufeinander folgenden Winkeln, bei denen die Ausgangsspannung den Offset schneidet, der Mittelwert der Breite der positiven Halbwellen, d.h. jeweils zwischen dem Schnittpunkt der steigenden Flanke zum Schnittpunkt der fallenden Flanke hin, identisch ist zum Mittelwert der Breite der negativen Halbwellen, d.h. jeweils zwischen dem Schnittpunkt der fallenden Flanke zum Schnittpunkt der steigenden Flanke hin.
  3. Winkelmeßsystem nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß die beiden ermittelten Offsetwerte individuell für jedes System aus Dauermagneten (1) und Sensor (5) dauerhaft in der Auswerte-Elektronik (20) eingestellt, eingespeichert, hinterlegt oder eingebrannt ist.
  4. Winkelmeßsystem nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß die beiden ermittelten Offsetwerte individuell für den Sensor (5), ggf. mit Signalverstärkung und Auswerte-Elektronik, aber ohne Dauermagneten (1), bestimmt werden, und diese Offsetwerte mit zwei zusätzlichen Faktoren korrigiert und dauerhaft in der Auswerte-Elektronik (20) eingestellt, eingespeichert, hinterlegt oder eingebrannt werden, wobei die beiden Faktoren für den Dauermagneten (1) in Bezug auf die geometrisch bedingte Feldinhomogenität zuvor einmalig gemessen oder berechnet werden.
  5. Winkelmeßsystem nach einem der Ansprüche 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet, daß es sich bei dem Sensor (5) um einen Sensor auf Basis des AMR-Effektes handelt.
  6. Winkelmeßsystem nach einem der Ansprüche 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet, daß es sich bei dem Sensor (5) um einen Sensor auf Basis des GMR-Effektes handelt.
  7. Winkelmeßsystem nach einem der Ansprüche 1 bis 6, dadurch gekennzeichnet, daß sich der Dauermagnet (1) stirnseitig koaxial zum Sensor (5) an der Drehwelle (3) oder in einem daran befestigten Magnethalter (2) befindet und relativ zum Sensor dreht, wobei der Dauermagnet (1) auf der Stirnseite zum Sensor (5) hin zwei gleich starke gegensinnige Pole N und S aufweist und der Sensor (5) mit der Oberseite seines Chipgehäuses (8) gegenüber der Stirnseite des Dauermagneten (1) montiert ist.
  8. Winkelmeßsystem nach einem der Ansprüche 1 bis 6, dadurch gekennzeichnet, daß sich der Dauermagnet (1) stirnseitig koaxial zum Sensor (5) an der Drehwelle (3) oder in einem daran befestigten Magnethalter (2) befindet und relativ zum Sensor dreht, wobei der Dauermagnet (1) senkrecht zur Drehrichtung (11) geradlinig magnetisiert ist und der Sensor (5) mit der Oberseite seines Chipgehäuses (8) gegenüber der Stirnseite des Dauermagneten (1) montiert ist.
  9. Verfahren zur Bestimmung der Offset-Korrekturen für ein Winkelmeßsystem nach einem der Ansprüche 1 bis 8, dadurch gekennzeichnet, daß für beide Sensorkomponenten einzeln das Ausgangssignal nach Verstärkung gemeinsam mit dem Offset auf einen Komparator gegeben wird, wobei der Komparator je nach Vorzeichen der Differenz der beiden Eingangssignale ein gleich starkes positives oder negatives Ausgangssignal abgibt, und der Ausgang des Komparators bei konstanter Drehgeschwindigkeit über die Zeit elektronisch integriert wird, und der Offset kontinuierlich soweit angepaßt wird, bis das Integral über eine volle Umdrehung verschwindet.
  10. Verfahren zur Bestimmung der Offset-Korrekturen für ein Winkelmeßsystem nach einem der Ansprüche 1 bis 8, dadurch gekennzeichnet, daß für beide Sensorkomponenten einzeln das Ausgangssignal nach Verstärkung gemeinsam mit dem Offset auf einen Komparator gegeben wird, wobei der Komparator je nach Vorzeichen der Differenz der beiden Eingangssignale ein gleich starkes positives oder negatives Ausgangssignal abgibt, und der Ausgang des Komparators über die Anzahl der Drehschritte eines an der Drehachse befestigten sehr präzisen Drehgebers elektronisch integriert wird, und der Offset kontinuierlich soweit angepaßt wird, bis das Integral über eine volle Umdrehung verschwindet.
DE102004020734A 2004-04-27 2004-04-27 Winkelmeßsystem auf Magnetbasis mit hoher Meßgenauigkeit und Verfahren zur Bestimmung der Offset-Korrekturen bei einem solchen Winkelmeßsystem Withdrawn DE102004020734A1 (de)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE102004020734A DE102004020734A1 (de) 2004-04-27 2004-04-27 Winkelmeßsystem auf Magnetbasis mit hoher Meßgenauigkeit und Verfahren zur Bestimmung der Offset-Korrekturen bei einem solchen Winkelmeßsystem

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE102004020734A DE102004020734A1 (de) 2004-04-27 2004-04-27 Winkelmeßsystem auf Magnetbasis mit hoher Meßgenauigkeit und Verfahren zur Bestimmung der Offset-Korrekturen bei einem solchen Winkelmeßsystem

Publications (1)

Publication Number Publication Date
DE102004020734A1 true DE102004020734A1 (de) 2005-11-24

Family

ID=35219855

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE102004020734A Withdrawn DE102004020734A1 (de) 2004-04-27 2004-04-27 Winkelmeßsystem auf Magnetbasis mit hoher Meßgenauigkeit und Verfahren zur Bestimmung der Offset-Korrekturen bei einem solchen Winkelmeßsystem

Country Status (1)

Country Link
DE (1) DE102004020734A1 (de)

Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2007104517A1 (de) * 2006-03-11 2007-09-20 Kracht Gmbh Volumenmessvorrichtung mit sensor
DE102008052804A1 (de) 2008-10-22 2010-04-29 Windhorst Beteiligungsgesellschaft Mbh Magnetischer Drehgeber und Verfahren zu seiner Herstellung
EP2000781B2 (de) 2007-06-04 2013-03-13 Magneti Marelli S.p.A. Welle mit Magnet für ein durchflussregelendes Ventil eines Verbrennungsmotors
EP2084496B1 (de) * 2006-11-28 2018-01-03 Moving Magnet Technologies (MMT) Dreh- oder linearpositionssensor mit einem variablen magnetprofil
DE102005059538B4 (de) 2005-12-13 2018-08-23 Asm Automation Sensorik Messtechnik Gmbh Scharnier-Sensor
DE102017204879A1 (de) * 2017-03-23 2018-09-27 Robert Bosch Gmbh Linearwälzlager mit magnetoresistivem Positionsmesssystem
DE102007018758B4 (de) * 2007-01-08 2019-05-29 Asm Automation Sensorik Messtechnik Gmbh Winkelsensor
DE102007018759B4 (de) * 2007-01-08 2021-02-11 Asm Automation Sensorik Messtechnik Gmbh Winkelsensor
DE102021205720A1 (de) 2021-06-07 2022-12-08 Infineon Technologies Ag Magnetisches Winkelsensorsystem mit Streufeldkompensierung

Cited By (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102005059538B4 (de) 2005-12-13 2018-08-23 Asm Automation Sensorik Messtechnik Gmbh Scharnier-Sensor
WO2007104517A1 (de) * 2006-03-11 2007-09-20 Kracht Gmbh Volumenmessvorrichtung mit sensor
EP2084496B1 (de) * 2006-11-28 2018-01-03 Moving Magnet Technologies (MMT) Dreh- oder linearpositionssensor mit einem variablen magnetprofil
DE102007018758B4 (de) * 2007-01-08 2019-05-29 Asm Automation Sensorik Messtechnik Gmbh Winkelsensor
DE102007018759B4 (de) * 2007-01-08 2021-02-11 Asm Automation Sensorik Messtechnik Gmbh Winkelsensor
EP2000781B2 (de) 2007-06-04 2013-03-13 Magneti Marelli S.p.A. Welle mit Magnet für ein durchflussregelendes Ventil eines Verbrennungsmotors
DE102008052804A1 (de) 2008-10-22 2010-04-29 Windhorst Beteiligungsgesellschaft Mbh Magnetischer Drehgeber und Verfahren zu seiner Herstellung
DE102017204879A1 (de) * 2017-03-23 2018-09-27 Robert Bosch Gmbh Linearwälzlager mit magnetoresistivem Positionsmesssystem
DE102021205720A1 (de) 2021-06-07 2022-12-08 Infineon Technologies Ag Magnetisches Winkelsensorsystem mit Streufeldkompensierung
US20220393554A1 (en) * 2021-06-07 2022-12-08 Infineon Technologies Ag Magnetic angle sensor system with stray field compensation

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP0740776B1 (de) Anordnung zur berührungslosen drehwinkelerfassung eines drehbaren elements
DE60203366T2 (de) Amr positionssensor mit geänderter magnetisierung zur linearitätssteigerung
AT510377B1 (de) Verfahren und ausführungsformen zur absoluten positionsbestimmung mittels zweier hallsensoren
DE60016322T2 (de) Drehstellungswandler mit versetztem Magnetsensor und Stabmagnet
DE102005036973B4 (de) Drehwinkel-Messeinrichtung
EP2354769B1 (de) Winkelgeber und Verfahren zur Bestimmung eines Winkels zwischen einer Sensoranordnung und einem Magnetfeld
DE102018103341A1 (de) Winkelsensor mit störfeldunterdrückung
DE102010025170B4 (de) Vorrichtung zum Erzeugen eines Sensorsignals und Verfahren zur Bestimmung der Position eines Gebers
DE112007003469T5 (de) Magnetischer Geber und Verfahren des Erfassens einer absoluten Rotationsposition
EP2620752A2 (de) Magnetfeldsensor
WO2005088259A1 (de) Magnetsensoranordnung
DE112012006270T5 (de) Magnetpositions-Erfassungsvorrichtung
DE10132215A1 (de) Anordnung zum Messen der Winkelposition eines Objektes
WO2005088258A1 (de) Magnetsensoranordnung
EP3601955B1 (de) Störfeldkompensierte winkelsensorvorrichtung und verfahren zur störfeldkompensierten winkelbestimmung
DE102007002705A1 (de) Vorrichtung und Verfahren zum Erfassen einer Richtungsumkehr einer Relativbewegung
DE102017111979A1 (de) Winkelsensor, Korrekturverfahren zur Verwendung mit dem Winkelsensor und Winkelsensorsystem
DE102004020734A1 (de) Winkelmeßsystem auf Magnetbasis mit hoher Meßgenauigkeit und Verfahren zur Bestimmung der Offset-Korrekturen bei einem solchen Winkelmeßsystem
EP1596202B1 (de) Verfahren und System zum Auswuchten eines drehbaren Gegenstands
EP1260787A1 (de) Winkelaufnehmer mit magnetoresistiven Sensorelementen
DE4123131A1 (de) Verfahren und anordnung zur bereitstellung eines, von einem drehwinkel linear abhaengigen, elektrischen ausgangssignals
DE102005008419A1 (de) Schaltungsanordnung zur Magnetfelddetektion und Positionsmesseinrichtung mit einer derartigen Schaltungsanordnung
DE102004063245B4 (de) Magnetischer Detektor
DE4435678A1 (de) Magnetfeldsensor
DE102006046372B3 (de) Entfernungsmessung durch gesteuerte Magnetfelder

Legal Events

Date Code Title Description
R005 Application deemed withdrawn due to failure to request examination

Effective date: 20110428